JPS6117970A - ２つのｘ線エネルギーの検出システム - Google Patents
２つのｘ線エネルギーの検出システムInfo
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- JPS6117970A JPS6117970A JP60132075A JP13207585A JPS6117970A JP S6117970 A JPS6117970 A JP S6117970A JP 60132075 A JP60132075 A JP 60132075A JP 13207585 A JP13207585 A JP 13207585A JP S6117970 A JPS6117970 A JP S6117970A
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 46
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 43
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 claims description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 8
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 6
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 5
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 4
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 3
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 7
- 238000002601 radiography Methods 0.000 description 5
- 230000009102 absorption Effects 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 3
- 238000003491 array Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 235000019589 hardness Nutrition 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 210000001519 tissue Anatomy 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 210000000988 bone and bone Anatomy 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 230000006735 deficit Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000011152 fibreglass Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
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- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、Ｘ線源、延長形検出管及び該Ｘ線源と検出管
の間のスリットダイヤフラムから成り、ダイヤフラムの
スリット形の開口部は検出管の縦軸に平行して延びてお
り、該検出管は検出管の縦軸方向に延びる少なくとも一
個の陰極とこの陰極の反対側に位置しこの陰極と同じよ
うに検出管の縦軸方向に延びている少なくとも一個の陽
極を含み、該検出管は真空化されており操作中陰極と陽
極の間に電界が形成されるシステムに関する。上記のよ
うな延長形Ｘ線検出管はオランダ国特許願第７９．００
８７８号に開示されており、スリットラジオグラフィー
に特に好ましく使用される。
の間のスリットダイヤフラムから成り、ダイヤフラムの
スリット形の開口部は検出管の縦軸に平行して延びてお
り、該検出管は検出管の縦軸方向に延びる少なくとも一
個の陰極とこの陰極の反対側に位置しこの陰極と同じよ
うに検出管の縦軸方向に延びている少なくとも一個の陽
極を含み、該検出管は真空化されており操作中陰極と陽
極の間に電界が形成されるシステムに関する。上記のよ
うな延長形Ｘ線検出管はオランダ国特許願第７９．００
８７８号に開示されており、スリットラジオグラフィー
に特に好ましく使用される。
ジェー・コーマンス等（メディカムンディ）著［コンピ
ュータライズドデュアルーエナジーイメジング：テクニ
カルデスクリプション」第２７巻、Ｎｏ、３（１９８２
） （”Ｃｏｍｐｕｔｅｒｉｚｅｄ ｄｕａｌ−ｅｎｅ
ｒｇｙｊ、ｍａｇｉｎｇ：ａ ｔｅｃｈｎｉｃａｌ ｄ
ｅｓｃｒｉｐｔｉｏｎ” ｂｙ Ｊ、 Ｃｏｕｍａｎｓ
ｅｔ ａｌ ｉｎ Ｍｅｄｉｃａｍｕｎｄｉ、 Ｖｏ
ｌ、２７． Ｎｏ、３．１９８２）の記事により、２種
類の異なった高電圧、例えば７０ｋＶＰと１２０ｋＶｐ
でＸ線源を交互に操作することによりいわゆる２重エネ
ルギーＸ線像を生み出すことは公知である。交互に２種
類の電圧をＸ線源にかけると互いに異なる“高エネルギ
ー重心”、つまり互いに異なる硬さのＸ線ビームが発生
する。
ュータライズドデュアルーエナジーイメジング：テクニ
カルデスクリプション」第２７巻、Ｎｏ、３（１９８２
） （”Ｃｏｍｐｕｔｅｒｉｚｅｄ ｄｕａｌ−ｅｎｅ
ｒｇｙｊ、ｍａｇｉｎｇ：ａ ｔｅｃｈｎｉｃａｌ ｄ
ｅｓｃｒｉｐｔｉｏｎ” ｂｙ Ｊ、 Ｃｏｕｍａｎｓ
ｅｔ ａｌ ｉｎ Ｍｅｄｉｃａｍｕｎｄｉ、 Ｖｏ
ｌ、２７． Ｎｏ、３．１９８２）の記事により、２種
類の異なった高電圧、例えば７０ｋＶＰと１２０ｋＶｐ
でＸ線源を交互に操作することによりいわゆる２重エネ
ルギーＸ線像を生み出すことは公知である。交互に２種
類の電圧をＸ線源にかけると互いに異なる“高エネルギ
ー重心”、つまり互いに異なる硬さのＸ線ビームが発生
する。
患者の体のような検査しようとしている物体に第一の高
エネルギー重心を有するＸ線及び第二の高エネルギー重
心を有するＸ線を連続的に放射することにより、例えば
コンピュータを用いて結果として生じるＸ線像を、例え
ば骨は映らず組織だけが映像化され、そして例えば肋骨
の影に隠れている組織を映像化するよう処理することが
可能である。このことは、例えば人体中の異なった物質
は、異なった硬さのＸ線に対し異なった吸収を示すこと
による結果である。
エネルギー重心を有するＸ線及び第二の高エネルギー重
心を有するＸ線を連続的に放射することにより、例えば
コンピュータを用いて結果として生じるＸ線像を、例え
ば骨は映らず組織だけが映像化され、そして例えば肋骨
の影に隠れている組織を映像化するよう処理することが
可能である。このことは、例えば人体中の異なった物質
は、異なった硬さのＸ線に対し異なった吸収を示すこと
による結果である。
Ｘ線源の高電圧源として二種類のレベルを使用した場合
、２つの連続する時間で照射を行なわなければならず、
一方ではこの２つの連続する時間の間隔は、あまり長す
ぎると検査中の物体が動き、異なったＸ＃ｌビームによ
って得ら九る映像を処理する際誤差が生じ得るので、あ
まり長過ぎないようにしなければならないという欠点を
伴う。
、２つの連続する時間で照射を行なわなければならず、
一方ではこの２つの連続する時間の間隔は、あまり長す
ぎると検査中の物体が動き、異なったＸ＃ｌビームによ
って得ら九る映像を処理する際誤差が生じ得るので、あ
まり長過ぎないようにしなければならないという欠点を
伴う。
例えばオランダ国特許願第８３．０３１５６号に記載の
スリットラジオグラフィーにおいては、患者の完全な像
を得るためには機械式走査が必要であるが、全映像高さ
０．４ｍに対する走査時間は約１秒である。
スリットラジオグラフィーにおいては、患者の完全な像
を得るためには機械式走査が必要であるが、全映像高さ
０．４ｍに対する走査時間は約１秒である。
この走査時間はあまりに長く、異なるＸ線源電圧におい
て引き続いての２番目の走査において患者の映像の図形
が変化してしまうことは避けられずこの事は好ましくな
い。
て引き続いての２番目の走査において患者の映像の図形
が変化してしまうことは避けられずこの事は好ましくな
い。
本発明の一つの目的は、Ｘ線源の陽極電圧を切り換える
必要のない、いわゆる二重エネルギー映像処理技術のス
リットラジオグラフィーへの適用を可能にする装置を提
供することである。
必要のない、いわゆる二重エネルギー映像処理技術のス
リットラジオグラフィーへの適用を可能にする装置を提
供することである。
ここにおいて、本発明によれば」１記の型のシステムに
おいて、フィルターがＸ線源と検出管の間の経路のスリ
ットダイヤフラムの近くに備えられており、該フィルタ
ーはスリット形開口部の全長に渡って線源より発せられ
たＸ線ビームの一部分を遮断し、該ビーム中の比較的低
エネルギーのＸ線（Ｘ−ｒａｄｉａｔｉｏｎ）を妨害し
、陰極は該検出管の長さ方向に延びている本質的に平行
な２個のストリップから成るＸ線検出層が備えられてお
り、該ストリップの一方は該フィルターを通過した放射
線を受け、他方のスリットはフィルターを通過しない放
射線を受ける。一方のストリップは好ましくは他方のス
１−リップより厚みが非常に厚い。
おいて、フィルターがＸ線源と検出管の間の経路のスリ
ットダイヤフラムの近くに備えられており、該フィルタ
ーはスリット形開口部の全長に渡って線源より発せられ
たＸ線ビームの一部分を遮断し、該ビーム中の比較的低
エネルギーのＸ線（Ｘ−ｒａｄｉａｔｉｏｎ）を妨害し
、陰極は該検出管の長さ方向に延びている本質的に平行
な２個のストリップから成るＸ線検出層が備えられてお
り、該ストリップの一方は該フィルターを通過した放射
線を受け、他方のスリットはフィルターを通過しない放
射線を受ける。一方のストリップは好ましくは他方のス
１−リップより厚みが非常に厚い。
本発明は、スリットラジオグラフィーにおいて、完全な
像を映すための走査時間に比べて局部露出時間が著しく
少ないという知見に基づいている。
像を映すための走査時間に比べて局部露出時間が著しく
少ないという知見に基づいている。
局部露出時間とは平面扇状Ｘ線ビームが患者の一点を通
過する時間のことである。このビームはＸ線源と患者の
間のスリットダイヤフラムによって得られ、スリン１−
ダイヤフラムは、Ｘ線源の焦点から見てストリップ状の
検出器により限定される空間角度内で、患者を通過した
後Ｘ線が検出管に入射するのを可能にする。このスリッ
トダイヤフラムが、二個の狭い同じ長さの重なったスリ
ットに分かれていると考えられる場合、そのスリットは
一般に同じように狭い必要はないが、元のＸ線ビームは
、各々検出管の対応した狭いストリップに入射する２つ
の重なった全く平たい扇状サブビームから構成されてい
るとみなすことができる。
過する時間のことである。このビームはＸ線源と患者の
間のスリットダイヤフラムによって得られ、スリン１−
ダイヤフラムは、Ｘ線源の焦点から見てストリップ状の
検出器により限定される空間角度内で、患者を通過した
後Ｘ線が検出管に入射するのを可能にする。このスリッ
トダイヤフラムが、二個の狭い同じ長さの重なったスリ
ットに分かれていると考えられる場合、そのスリットは
一般に同じように狭い必要はないが、元のＸ線ビームは
、各々検出管の対応した狭いストリップに入射する２つ
の重なった全く平たい扇状サブビームから構成されてい
るとみなすことができる。
機械式走査によりかくして患者の同じ位置が記録される
瞬間と瞬間の時間差が０．１秒未満で２つの像が得られ
る。放射線は、適当な厚みの例えばＰｂ
１又はＣｕの板をＸ線ビーム中に置くことにより硬くな
ることが知られている。このことは低エネルギー放射線
、即ちより小さい振動数の放射線は、高エネルギーの放
射線、即ちより大きい振動数の放射線より減する度合が
大きいことを意味する。
瞬間と瞬間の時間差が０．１秒未満で２つの像が得られ
る。放射線は、適当な厚みの例えばＰｂ
１又はＣｕの板をＸ線ビーム中に置くことにより硬くな
ることが知られている。このことは低エネルギー放射線
、即ちより小さい振動数の放射線は、高エネルギーの放
射線、即ちより大きい振動数の放射線より減する度合が
大きいことを意味する。
物質はそれを通過するＸ線に対し高域フィルターとして
の作用をする。Ｘ線に対する低域フィルターは実際問題
として実現不可能である。 本発明によれば、そのよう
な高域フィルターは、平面扇状Ｘ線ビームの一部分、そ
の部分は実際上上記のサブビームの１つを構成している
が、その部分を遮断するようにＸ線ビーム路のスリット
ダイヤフラムのところに配置される。このサブビームが
フィルターを通過すると、フィルターを通過せずにスリ
ットダイヤフラムを通過するサブビームの“高エネルギ
ー重心”に対しより高いエネルギーにパ高エネルギー重
心″がシフトする。更に本発明の好ましい実施態様によ
れば、フィルターを通過しないビームが投射されるスト
リップは主に軟かい放射線を吸収し且つ硬い放射線を最
適に通し。
の作用をする。Ｘ線に対する低域フィルターは実際問題
として実現不可能である。 本発明によれば、そのよう
な高域フィルターは、平面扇状Ｘ線ビームの一部分、そ
の部分は実際上上記のサブビームの１つを構成している
が、その部分を遮断するようにＸ線ビーム路のスリット
ダイヤフラムのところに配置される。このサブビームが
フィルターを通過すると、フィルターを通過せずにスリ
ットダイヤフラムを通過するサブビームの“高エネルギ
ー重心”に対しより高いエネルギーにパ高エネルギー重
心″がシフトする。更に本発明の好ましい実施態様によ
れば、フィルターを通過しないビームが投射されるスト
リップは主に軟かい放射線を吸収し且つ硬い放射線を最
適に通し。
又フィルターを通過したビームが投射されるスト＝８−
リップはフィルターによって硬くされた放射線を最適に
吸収するように検出管が配置される。このようにしてビ
ームが検出管に作用するところの高エネルギー重心間の
空間を更に増大させることができる。
吸収するように検出管が配置される。このようにしてビ
ームが検出管に作用するところの高エネルギー重心間の
空間を更に増大させることができる。
望ましい検出管特性を達成するために、フィルターを通
過したビームが投射される検出管のストリップは他方の
ストリップよりも厚みが著しく厚い。検出管がＸ線スク
リーンを含む場合、スクリーンの厚みに加えて、一つの
ストリップのスクリーン物質も他方のストリップのそれ
よりも異なるように選択することができる。例えば原子
番号の小さい原子から成るスクリーン物質は主に軟かい
放射線を吸収する。
過したビームが投射される検出管のストリップは他方の
ストリップよりも厚みが著しく厚い。検出管がＸ線スク
リーンを含む場合、スクリーンの厚みに加えて、一つの
ストリップのスクリーン物質も他方のストリップのそれ
よりも異なるように選択することができる。例えば原子
番号の小さい原子から成るスクリーン物質は主に軟かい
放射線を吸収する。
以下、図を参照しながら本発明を更に詳細に説明する。
第１図に本発明の基礎をなすアイディアを具体化したス
リットラジオグラフィーのシステムを示す。参照番号１
はＸ線源を示し、Ｘ線源より発せられた放射線はダイヤ
フラム２を通過し、次いで図で示した患者の体を通過し
てＸ線検出管３に入射する。
リットラジオグラフィーのシステムを示す。参照番号１
はＸ線源を示し、Ｘ線源より発せられた放射線はダイヤ
フラム２を通過し、次いで図で示した患者の体を通過し
てＸ線検出管３に入射する。
Ｘ線源１はその軸の回りに回転できるように取り付けら
れ、ダイヤフラム２及び検出管３は、Ｘ線源１．の回転
の間、連続的な直線運動を行なう。
れ、ダイヤフラム２及び検出管３は、Ｘ線源１．の回転
の間、連続的な直線運動を行なう。
これにより、患者の体の一部は図の面の垂直方向に広が
る扇状のＸ線で照射され、通過した放射線は検出管３に
入射する。ダイヤフラムは、直線運動の代わりに、Ｘ線
源の回転軸の回りを回転させることも出来る。図に示さ
れた該システムの操作については、オランダ国特許願第
８３．０３１５６号で更に詳細に説明されている。本発
明では、フィルター４がダイヤフラム２の近くに取り付
けられ、該フィルターはＸ線源１より発せられたＸ線ビ
ームの一部分を遮断して、該ビーム中の比較的低エネル
ギーのＸ線を妨害しより硬い放射線を通過させる゛。原
則的には、該フィルターには、この目的に適するいかな
る既知の物質でも用いることが出来るが、銅や鉛のよう
な物質が好ましい。
る扇状のＸ線で照射され、通過した放射線は検出管３に
入射する。ダイヤフラムは、直線運動の代わりに、Ｘ線
源の回転軸の回りを回転させることも出来る。図に示さ
れた該システムの操作については、オランダ国特許願第
８３．０３１５６号で更に詳細に説明されている。本発
明では、フィルター４がダイヤフラム２の近くに取り付
けられ、該フィルターはＸ線源１より発せられたＸ線ビ
ームの一部分を遮断して、該ビーム中の比較的低エネル
ギーのＸ線を妨害しより硬い放射線を通過させる゛。原
則的には、該フィルターには、この目的に適するいかな
る既知の物質でも用いることが出来るが、銅や鉛のよう
な物質が好ましい。
検出管３は真空化されており、操作中は陰極５と陽極６
の間に電界が形成される。
の間に電界が形成される。
第１ａ図は陰極５の部分拡大図である。該陰極は例えば
ＣｓＩの層８′及び８″で裏面が被覆された陰極支持体
７を含む。Ｘ線は該層８′及び８″中で可視像に変換さ
れ、該可視像は層８′及び８″の裏面に取り付けられた
光電陰極９中の電子を放出し、放出された電子は陽極上
に投射され、それ自体は既知の方法により鮮明な可視像
に変換され得る。ＣｓＩ層を形成しているストリップ形
部分８′−は比較的薄く、ストリップ形部分８″は非常
に厚く、又該システムはフィルター４を通過した放射線
、即ち硬い放射線がＣｓＩ層の厚い方の部分８″−に入
射する様に構成されている。これにより硬いＸ線により
本質的に形成される像はストリップ８″の裏面上に形成
される。形成された像は光重陰極９より電子を発せしめ
、該電子は比較的硬い高エネルギーのＸ線により放出さ
れる。
ＣｓＩの層８′及び８″で裏面が被覆された陰極支持体
７を含む。Ｘ線は該層８′及び８″中で可視像に変換さ
れ、該可視像は層８′及び８″の裏面に取り付けられた
光電陰極９中の電子を放出し、放出された電子は陽極上
に投射され、それ自体は既知の方法により鮮明な可視像
に変換され得る。ＣｓＩ層を形成しているストリップ形
部分８′−は比較的薄く、ストリップ形部分８″は非常
に厚く、又該システムはフィルター４を通過した放射線
、即ち硬い放射線がＣｓＩ層の厚い方の部分８″−に入
射する様に構成されている。これにより硬いＸ線により
本質的に形成される像はストリップ８″の裏面上に形成
される。形成された像は光重陰極９より電子を発せしめ
、該電子は比較的硬い高エネルギーのＸ線により放出さ
れる。
フィルターを通過しない放射線は陰極の薄い方のストリ
ップ８′上に入射し、軟らかい放射線は主としてストリ
ップ８′中で吸収され、その結果ストリップ８′中で本
質的に軟らかいＸ線により像が形成される。これによっ
て光電陰極中で電子が放出される。軟らかい放射線によ
りストリップ８′の裏面から発せられる該電子の割合は
軟らかい放射線によりストリップ８″の裏面から発せら
れる電子の割合より非常比高い。
ップ８′上に入射し、軟らかい放射線は主としてストリ
ップ８′中で吸収され、その結果ストリップ８′中で本
質的に軟らかいＸ線により像が形成される。これによっ
て光電陰極中で電子が放出される。軟らかい放射線によ
りストリップ８′の裏面から発せられる該電子の割合は
軟らかい放射線によりストリップ８″の裏面から発せら
れる電子の割合より非常比高い。
上記について第２図及び第３図を参照し説明する。
第２図及び第３図のグラフに示した測定には、Ｘ線源は
１３０ ｋＶｐの一定電圧で操作し、層８′及び８″用
の検出物質としてＣｓＴを用いた。
１３０ ｋＶｐの一定電圧で操作し、層８′及び８″用
の検出物質としてＣｓＴを用いた。
第２図において、カーブＡはＸ線管からの放射、患者の
透過（１５０Ｉｗｍ１１２０）および厚さ０．０５＋ｎ
ｍのＣｓＩ層８′の吸収をＸ線のｋｅＶ値の関数として
示した乗積曲線（Ｐｒｏｄｕｃｔ ’ｃｕｒｖｅ）であ
る。カーブＢは、放射線が厚さ２）の銅でできたフィル
ター４を通過し、厚さ０．３ｍｍのＣｓＩでできた層８
′で吸収を受けるためカーブＡと異なっている。両カー
ブは最大値を１００として示した。 。
透過（１５０Ｉｗｍ１１２０）および厚さ０．０５＋ｎ
ｍのＣｓＩ層８′の吸収をＸ線のｋｅＶ値の関数として
示した乗積曲線（Ｐｒｏｄｕｃｔ ’ｃｕｒｖｅ）であ
る。カーブＢは、放射線が厚さ２）の銅でできたフィル
ター４を通過し、厚さ０．３ｍｍのＣｓＩでできた層８
′で吸収を受けるためカーブＡと異なっている。両カー
ブは最大値を１００として示した。 。
カーブＡの“重心”は５７ ｋｅＶに位置し、カーブＢ
では８５ ｋｅＶに位置する。フィルターを通過しない
比較的軟らかい放射線（Ａ）の放射線収量は、フィルタ
ーを通過した比較的硬い放射線（Ｂ）の放射線収量の約
２．７倍である。もしこの事が現像時に問題を生ずる様
であれば、ストリップ８″が放射線にさらされる時間が
ストリップ８′が放射線にさらされる時間より長くなる
ように、フィルター４の位置を適切に調整し、それに伴
い各Ｘ線が入射するストリップ８′及び８″の位置を変
えることにより該層つの放射ビームの幅の比を修正する
ことができる。 ・ 第３図中のカーブＣ及びＤはまたフィルターの通過がＸ
線のｋｅＶ値に与える影響を表わしており、これらも最
大値を１００として表わした。第３図に示したカーブと
第２図に示したカーブの違いは、フィルターを通過しな
い放射線ＣはＡの場合の厚さ０．０５１１１１ＩのＣｓ
Ｉ層の代りに０．１ｍｍの厚さのＣｓＩ層８′により吸
収されるからであり、又フィルターを通過する放射線り
は、Ｂの場合の厚さ２ｍｍの銅製フィルターの代りに１
ｍｍの厚さの銅製フィルター４を通過するからである。
では８５ ｋｅＶに位置する。フィルターを通過しない
比較的軟らかい放射線（Ａ）の放射線収量は、フィルタ
ーを通過した比較的硬い放射線（Ｂ）の放射線収量の約
２．７倍である。もしこの事が現像時に問題を生ずる様
であれば、ストリップ８″が放射線にさらされる時間が
ストリップ８′が放射線にさらされる時間より長くなる
ように、フィルター４の位置を適切に調整し、それに伴
い各Ｘ線が入射するストリップ８′及び８″の位置を変
えることにより該層つの放射ビームの幅の比を修正する
ことができる。 ・ 第３図中のカーブＣ及びＤはまたフィルターの通過がＸ
線のｋｅＶ値に与える影響を表わしており、これらも最
大値を１００として表わした。第３図に示したカーブと
第２図に示したカーブの違いは、フィルターを通過しな
い放射線ＣはＡの場合の厚さ０．０５１１１１ＩのＣｓ
Ｉ層の代りに０．１ｍｍの厚さのＣｓＩ層８′により吸
収されるからであり、又フィルターを通過する放射線り
は、Ｂの場合の厚さ２ｍｍの銅製フィルターの代りに１
ｍｍの厚さの銅製フィルター４を通過するからである。
カーブＣでは“重心”は５８ ｋｓＶにあり、カーブＤ
では７８ ｋｅＶに存在する。
では７８ ｋｅＶに存在する。
第３図では該層つの“重心”の差が小さくなっているが
、これは主としてフィルター効果が低いことによる。フ
ィルターを通過しない放射線（Ｃ）の放射線収量はフィ
ルターを通過した放射線（Ｄ）の放射線収量の約２倍で
ありまた、カーブＡの場合に用いた厚さＱ、０５ｍｍの
ＣｓＩ製検小検出ストリップ用して得られた放射線収量
の約１．８倍である。
、これは主としてフィルター効果が低いことによる。フ
ィルターを通過しない放射線（Ｃ）の放射線収量はフィ
ルターを通過した放射線（Ｄ）の放射線収量の約２倍で
ありまた、カーブＡの場合に用いた厚さＱ、０５ｍｍの
ＣｓＩ製検小検出ストリップ用して得られた放射線収量
の約１．８倍である。
仮に厚さ０．３ｍｍのＣｓＩ製検小検出ストリップィル
ターを通過しない放射線用に用いると、″重心″は６１
ｋｅＶの位置となり、放射線収量はカーブＤに示した
フィルターを通過した放射線の放射線収量の４倍にも達
する。
ターを通過しない放射線用に用いると、″重心″は６１
ｋｅＶの位置となり、放射線収量はカーブＤに示した
フィルターを通過した放射線の放射線収量の４倍にも達
する。
仮に厚さＩＩＩＩＩＩｌのＣｓＩ製検小検出ストリップ
ィルターを通過した放射線用に用いると、″重心″は８
８ｋｅＶの位置となり、放射線収量は厚さ０ 、３ｍｍ
のＣｓＩを用いて得られた放射線収量の約２倍となる。
ィルターを通過した放射線用に用いると、″重心″は８
８ｋｅＶの位置となり、放射線収量は厚さ０ 、３ｍｍ
のＣｓＩを用いて得られた放射線収量の約２倍となる。
然し現時点では厚さ１ｍｍのＣｓＩ製検出層の製造には
克服出来ない技術」二の問題が存在する。
克服出来ない技術」二の問題が存在する。
本発明のシステムでｊよ、検出層８′及び８″により形
成される像の処理は、おのずと明らかな様に、２つの像
、即ち像を鮮明にする陽極管」二に形成される像の上部
に相当する第１の像及び下部に相当する第２の像を作る
様に行なわねばならない。
成される像の処理は、おのずと明らかな様に、２つの像
、即ち像を鮮明にする陽極管」二に形成される像の上部
に相当する第１の像及び下部に相当する第２の像を作る
様に行なわねばならない。
これは様々な方法により実現可能である。
陽極は異なった蛍光体でできている二つのストリップで
作ることが可能であり、検出層のより厚い方の部分から
発せられる電子が、薄い方の部分から発せられる電子に
より生ずる光と異なった色の光を発するようになってい
る。また、相互に異なったスペクトル透過率を有する二
つのタイプのフィルター材で表面被覆し、た一つの蛍光
体を用いることも可能である。更にまた、二つのストリ
ップより発せられる光の偏波状態を互いに異なった状態
にさせるフィルターを用いることも出来る。
作ることが可能であり、検出層のより厚い方の部分から
発せられる電子が、薄い方の部分から発せられる電子に
より生ずる光と異なった色の光を発するようになってい
る。また、相互に異なったスペクトル透過率を有する二
つのタイプのフィルター材で表面被覆し、た一つの蛍光
体を用いることも可能である。更にまた、二つのストリ
ップより発せられる光の偏波状態を互いに異なった状態
にさせるフィルターを用いることも出来る。
色あるいは偏波状態が異なれば、色感応性または偏波感
応性の分離鏡を用いて光路を分離し、二つの検出器、フ
ィルムまたはいわゆるダイオード ）列に導く
ことが可能である。色の情報の場合には、＝１５− 陽極より提供される情報を更に分離することなく直接カ
ラーフィルム上に記録することも可能である。
応性の分離鏡を用いて光路を分離し、二つの検出器、フ
ィルムまたはいわゆるダイオード ）列に導く
ことが可能である。色の情報の場合には、＝１５− 陽極より提供される情報を更に分離することなく直接カ
ラーフィルム上に記録することも可能である。
更に、従来の陽極を用いることもできるがこの場合光路
は分離鏡を用いて分離し、二うの平行に配置した対物レ
ンズを介して二つのダイオード列または二枚のフィルム
に導くことができる。後者の場合には、検出層の一方の
ストリップのみが各フィルム上に現像されるように該フ
ィルムの前を移動するシールドあるいはナイフェツジを
用いるべきである。
は分離鏡を用いて分離し、二うの平行に配置した対物レ
ンズを介して二つのダイオード列または二枚のフィルム
に導くことができる。後者の場合には、検出層の一方の
ストリップのみが各フィルム上に現像されるように該フ
ィルムの前を移動するシールドあるいはナイフェツジを
用いるべきである。
陽極としては、該陽極の異なった領域を走査するための
ダイオード列を備えたガラス繊維製の陽極を用いること
が出来る。この陽極を第４図に示す。図中参照番号１０
はＸ線による像を鮮明にする管を示し１例えば第１図の
陰極５と同様の構造を持つ陰極１１、及びガラス繊維板
１２上に取り付けられた陽極１３を含む。ガラス繊維板
１２上には更にガラス繊維板素子１４及び１４′が取り
付けられており該素子１４及び１４′は該ガラス繊維板
１２に接していない方の端でダイオード列１５及び１５
′を支持している。陽極をこの様に配置する場合、オラ
ンダ国特許願第８４．０１１０５号に開示された構成も
また更に効果的に用いることが出来る。
ダイオード列を備えたガラス繊維製の陽極を用いること
が出来る。この陽極を第４図に示す。図中参照番号１０
はＸ線による像を鮮明にする管を示し１例えば第１図の
陰極５と同様の構造を持つ陰極１１、及びガラス繊維板
１２上に取り付けられた陽極１３を含む。ガラス繊維板
１２上には更にガラス繊維板素子１４及び１４′が取り
付けられており該素子１４及び１４′は該ガラス繊維板
１２に接していない方の端でダイオード列１５及び１５
′を支持している。陽極をこの様に配置する場合、オラ
ンダ国特許願第８４．０１１０５号に開示された構成も
また更に効果的に用いることが出来る。
ガラス繊維板素子１４及び１４′は図に示されるような
直線形の代りに、図４において素子１４を下側に曲げ、
素子１４′を上側に曲げるようにして、素子１４と１４
′が僅かに曲がった形を有していてもよい。このように
するとダイオード列の該素子１４及び１４′の端部への
取り付けが容易になる。素子１−４及び１４′はガラス
繊維でできているため、曲がった形にしても問題はなく
、またそれにより光の伝達が損われることもない。
直線形の代りに、図４において素子１４を下側に曲げ、
素子１４′を上側に曲げるようにして、素子１４と１４
′が僅かに曲がった形を有していてもよい。このように
するとダイオード列の該素子１４及び１４′の端部への
取り付けが容易になる。素子１−４及び１４′はガラス
繊維でできているため、曲がった形にしても問題はなく
、またそれにより光の伝達が損われることもない。
陰極中のストリップ８′及び８″上の二つの像の分離を
良くするために、Ｘ線に対して完全に非感応な不活性領
域をＣｓＩでできた二つの該ストリップの間に設置する
ことが出来る。
良くするために、Ｘ線に対して完全に非感応な不活性領
域をＣｓＩでできた二つの該ストリップの間に設置する
ことが出来る。
第１図は本発明のＸ線検出システムを示す。
第１ ａ図は第１図の部分拡大図である。
第２図は本発明のシステムの第一の実施態様におけるＸ
線エネルギーと強度の関係を示すグラフである。 第３図は本発明のシステムの第二の実施態様におけるＸ
線エネルギーと強度の関係を示すグラフである。 第４図は本発明のシステムに用いる別のタイプの検出管
の構造図である。 １・・Ｘ線源、２・・スリットダイヤフラム、３・・検
出管、４・・フィルター、５・・陰極、６・・陽極、７
・・陰極支持体、８’、８”・・ストリップ、９・・光
電陰極、１２・・ガラス繊維板、１４．１４′・・ガラ
ス繊維板素子 １５．１５′・・ダイオード列。 第１図 咽 ＺＶ、ｔ
線エネルギーと強度の関係を示すグラフである。 第３図は本発明のシステムの第二の実施態様におけるＸ
線エネルギーと強度の関係を示すグラフである。 第４図は本発明のシステムに用いる別のタイプの検出管
の構造図である。 １・・Ｘ線源、２・・スリットダイヤフラム、３・・検
出管、４・・フィルター、５・・陰極、６・・陽極、７
・・陰極支持体、８’、８”・・ストリップ、９・・光
電陰極、１２・・ガラス繊維板、１４．１４′・・ガラ
ス繊維板素子 １５．１５′・・ダイオード列。 第１図 咽 ＺＶ、ｔ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、Ｘ線源、延長形検出管及び該Ｘ線源と検出管の間の
スリットダイヤフラムから成り、ダイヤフラムのスリッ
ト形の開口部は検出管の縦軸に平行して延びており、該
検出管は検出管の長さ方向に延びる少なくとも一個の陰
極とこの陰極の反対側に位置しこの陰極と同じように検
出管の長さ方向に延びている少なくとも一個の陽極を含
み、該検出管は真空化されており、操作中陰極と陽極の
間に電界が形成されるシステムにおいて、該Ｘ線源と該
検出管の間の経路上のスリットダイヤフラムの近くにフ
ィルターが設置され、該フィルターはスリット形開口部
の全長に渡って線源より発せられたＸ線ビームの一部分
を遮断し、該ビーム中の比較的低エネルギーのＸ線を妨
害し、該陰極には該検出管の長さ方向に延びている本質
的に平行な２個のストリップから成るＸ線検出層が備え
られており、該ストリップの一方は該フィルターを通過
した放射線を受け、他方のストリップはフィルターを通
過しない放射線を受けることを特徴とするシステム。 ２、該一方のストリップが他方のストリップよりも非常
に厚いことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載のシ
ステム。 ３、該フィルターが銅製であることを特徴とする特許請
求の範囲第１項又は第２項記載のシステム。 ４、該フィルターが鉛製であることを特徴とする特許請
求の範囲第１項又は第２項記載のシステム。 ５、検出層の一方のより厚いストリップが他方のより薄
いストリップより幅が広いことを特徴とする特許請求の
範囲第１〜４項のいずれか少なくとも一つに記載のシス
テム。 ６、該Ｘ線検出層がＣｓＩであることを特徴とする特許
請求の範囲第１〜５項のいずれか少なくとも一つに記載
のシステム。 ７、ストリップ形領域が検出層のより厚いストリップと
より薄いストリップの間に形成されており、該領域はＸ
線に対し非感応であることを特徴とする特許請求の範囲
第１〜６項のいずれか少なくとも一つに記載のシステム
。 ８、該陽極が２個のストリップから成り、各々のストリ
ップは陰極上の検出層のストリップの一方と本質的に対
応しており、陽極の一個のストリップは第１の色の光を
発するようにされた蛍光体層が備わっており、陽極の他
方のストリップには第２の色の光を発するようにされた
蛍光体層が備わっていることを特徴とする特許請求の範
囲第１〜７項のいずれかに記載のシステム。 ９、該陽極には蛍光体層が備えられており、その蛍光体
層の上には、フィルター物質でできている二つのストリ
ップが、その各々が陰極上の検出層のストリップの一方
と本質的に対応するように設置されていることを特徴と
する特許請求範囲第１〜７項のいずれかに記載のシステ
ム。 １０、該フィルターが偏波フィルターであることを特徴
とする特許請求の範囲第９項記載のシステム。 １１、該陽極が、陰極と向い合っているガラス繊維板の
面の上に設置されており、陰極から離れた方のガラス繊
維板面上に更にガラス繊維素子が備わっており、該素子
を介して検出物質でできている第１ストリップによって
生み出された映像が少なくとも第１ダイオード列へ通さ
れ、検出物質でできている第２ストリップによって生み
出された映像は少なくとも別のダイオード列へ通すこと
ができることを特徴とする特許請求の範囲第１〜７項の
いずれかに記載のシステム。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8401946 | 1984-06-19 | ||
| NL8401946A NL8401946A (nl) | 1984-06-19 | 1984-06-19 | Stelsel voor het detecteren van twee roentgenstralingsenergieen. |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6117970A true JPS6117970A (ja) | 1986-01-25 |
| JPH0569536B2 JPH0569536B2 (ja) | 1993-10-01 |
Family
ID=19844101
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60132075A Granted JPS6117970A (ja) | 1984-06-19 | 1985-06-19 | ２つのｘ線エネルギーの検出システム |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4821306A (ja) |
| EP (1) | EP0168090B1 (ja) |
| JP (1) | JPS6117970A (ja) |
| DE (1) | DE3577630D1 (ja) |
| IL (1) | IL75538A (ja) |
| NL (1) | NL8401946A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04213615A (ja) * | 1990-12-12 | 1992-08-04 | Shinwa Kosan Kk | セメントグラウトを用いた地盤注入工法 |
| JP2020034574A (ja) * | 2019-11-20 | 2020-03-05 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出装置、放射線検査システム、及び、放射線検出装置の調整方法 |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL8501795A (nl) | 1985-06-21 | 1987-01-16 | Optische Ind De Oude Delft Nv | Inrichting en werkwijze voor spleetradiografie met verschillende roentgenstralingsenergieen. |
| EP0432730B1 (en) * | 1989-12-14 | 1999-08-04 | Aloka Co. Ltd. | Bone mineral content measuring apparatus |
| EP0449113B1 (en) * | 1990-03-22 | 1994-10-26 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of inspecting a mass content of a target material using a multi-channel X-ray image sensor |
| US5247559A (en) * | 1991-10-04 | 1993-09-21 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Substance quantitative analysis method |
| GB9223818D0 (en) * | 1992-11-13 | 1993-01-06 | De Beers Ind Diamond | Body scanning system |
| CA2373651A1 (en) | 1999-05-10 | 2000-11-16 | Francois Lippens | Energy selective detection systems |
| US6473487B1 (en) | 2000-12-27 | 2002-10-29 | Rapiscan Security Products, Inc. | Method and apparatus for physical characteristics discrimination of objects using a limited view three dimensional reconstruction |
| DE10345175A1 (de) * | 2003-09-29 | 2005-01-13 | Siemens Ag | Verfahren und Röntgenanlage zur Erzeugung einer Röntgenaufnahme |
| CN103718251B (zh) | 2011-06-06 | 2016-09-21 | 皇家飞利浦有限公司 | 多焦斑x射线辐射滤波 |
| DE102014202330B3 (de) * | 2014-02-10 | 2015-06-03 | Siemens Aktiengesellschaft | Single Source DualEnergy mit zwei Filtern zur Röntgenspektrumsdifferenzierung bei Strahlerblenden mit Schlitzplatte |
| DE102014202331B3 (de) * | 2014-02-10 | 2015-08-06 | Siemens Aktiengesellschaft | Strahlerblende zum Erzeugen eines Strahlenfächers, Computertomographiegerät mit einer solchen Strahlerblende sowie Verfahren zum Steuern eines solchen Computertomographiegeräts |
| US11116459B2 (en) * | 2015-05-19 | 2021-09-14 | Protonvda Llc | Proton imaging system for optimization of proton therapy |
| CN111190217B (zh) * | 2020-01-23 | 2022-08-02 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 一种透射带通型辐射流探测器 |
Family Cites Families (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1308948A (en) * | 1969-05-30 | 1973-03-07 | Abrahamsson S | Monitoring occurence of respective events at a plurality of predetermied positions |
| US4206361A (en) * | 1972-05-17 | 1980-06-03 | E M I Limited | Radiography |
| US3944822A (en) * | 1974-09-30 | 1976-03-16 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The U. S. Environmental Protection Agency | Polarization excitation device for X-ray fluorescence analysis |
| JPS522777A (en) * | 1975-06-24 | 1977-01-10 | Jeol Ltd | Radiation detector |
| NL7605253A (nl) * | 1976-05-17 | 1977-11-21 | Optische Ind De Oude Delft Nv | Inrichting voor tomografie. |
| US4029963A (en) * | 1976-07-30 | 1977-06-14 | The Board Of Trustees Of Leland Stanford Junior University | X-ray spectral decomposition imaging system |
| US4132895A (en) * | 1976-08-28 | 1979-01-02 | Emi Limited | Radiography |
| US4149081A (en) * | 1976-11-29 | 1979-04-10 | Varian Associates, Inc. | Removal of spectral artifacts and utilization of spectral effects in computerized tomography |
| US4132653A (en) * | 1977-06-29 | 1979-01-02 | Samson James A R | Polarization analyzer for vacuum ultraviolet and x-ray radiation |
| US4247774A (en) * | 1978-06-26 | 1981-01-27 | The United States Of America As Represented By The Department Of Health, Education And Welfare | Simultaneous dual-energy computer assisted tomography |
| CA1136776A (en) * | 1979-03-23 | 1982-11-30 | Brian K. Rutt | Split filter ct |
| US4292538A (en) * | 1979-08-08 | 1981-09-29 | Technicare Corporation | Shaped detector |
| US4445226A (en) * | 1981-05-05 | 1984-04-24 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Multiple-energy X-ray subtraction imaging system |
| DE3275782D1 (en) * | 1981-12-07 | 1987-04-23 | Albert Macovski | Energy-selective x-ray recording and readout system |
| US4626688A (en) * | 1982-11-26 | 1986-12-02 | Barnes Gary T | Split energy level radiation detection |
| US4511799A (en) * | 1982-12-10 | 1985-04-16 | American Science And Engineering, Inc. | Dual energy imaging |
| NL8400845A (nl) * | 1984-03-16 | 1985-10-16 | Optische Ind De Oude Delft Nv | Inrichting voor spleetradiografie. |
-
1984
- 1984-06-19 NL NL8401946A patent/NL8401946A/nl not_active Application Discontinuation
-
1985
- 1985-06-13 US US06/744,792 patent/US4821306A/en not_active Expired - Fee Related
- 1985-06-18 EP EP85200964A patent/EP0168090B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1985-06-18 IL IL75538A patent/IL75538A/xx not_active IP Right Cessation
- 1985-06-18 DE DE8585200964T patent/DE3577630D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1985-06-19 JP JP60132075A patent/JPS6117970A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04213615A (ja) * | 1990-12-12 | 1992-08-04 | Shinwa Kosan Kk | セメントグラウトを用いた地盤注入工法 |
| JPH07111050B2 (ja) * | 1990-12-12 | 1995-11-29 | 株式会社親和テクノ | セメントグラウトを用いた地盤注入工法 |
| JP2020034574A (ja) * | 2019-11-20 | 2020-03-05 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出装置、放射線検査システム、及び、放射線検出装置の調整方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0569536B2 (ja) | 1993-10-01 |
| DE3577630D1 (de) | 1990-06-13 |
| EP0168090A1 (en) | 1986-01-15 |
| EP0168090B1 (en) | 1990-05-09 |
| US4821306A (en) | 1989-04-11 |
| IL75538A (en) | 1989-10-31 |
| IL75538A0 (en) | 1985-10-31 |
| NL8401946A (nl) | 1986-01-16 |
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