JP2003106833A - 測長機 - Google Patents
測長機Info
- Publication number
- JP2003106833A JP2003106833A JP2001302214A JP2001302214A JP2003106833A JP 2003106833 A JP2003106833 A JP 2003106833A JP 2001302214 A JP2001302214 A JP 2001302214A JP 2001302214 A JP2001302214 A JP 2001302214A JP 2003106833 A JP2003106833 A JP 2003106833A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scale
- fixed
- moving
- fixed scale
- groove
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Optical Transform (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 移動スケールと固定スケールの距離と傾きを
簡単且つ微細に調整することができるようにして、精度
を向上させた測長機を提供することにある。 【解決手段】 この測長機においては、ボール２３を、
枠体２０の台座部２０ａの窪み２０ｂと固定スケールホ
ルダ２１の溝２１ａの間に挟み込んでいる。これによ
り、溝２１ａに沿った固定スケールホルダ２１の直線移
動と、ボール２３を中心とした傾きを変更することが可
能となる。この結果、固定スケールホルダ２１に固定さ
れている固定スケールとこれに対向する移動スケールを
精度良く平行かつ一定間隔に設定することができる。
簡単且つ微細に調整することができるようにして、精度
を向上させた測長機を提供することにある。 【解決手段】 この測長機においては、ボール２３を、
枠体２０の台座部２０ａの窪み２０ｂと固定スケールホ
ルダ２１の溝２１ａの間に挟み込んでいる。これによ
り、溝２１ａに沿った固定スケールホルダ２１の直線移
動と、ボール２３を中心とした傾きを変更することが可
能となる。この結果、固定スケールホルダ２１に固定さ
れている固定スケールとこれに対向する移動スケールを
精度良く平行かつ一定間隔に設定することができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、固定スケールに対
する移動スケールの移動量を信号に変換して測長する測
長機に関するものであり、特に、光学式測長機の信号検
出部の調整構造に関するものである。
する移動スケールの移動量を信号に変換して測長する測
長機に関するものであり、特に、光学式測長機の信号検
出部の調整構造に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の測長機を、図１５及び図１６に示
す測長機を例にとって説明する。図１５及び図１６は従
来の測長機の検出部の内部構造を示しており、図１６は
図１５のＡ−Ａ断面図である。枠体１の図中下方にはス
テム２が一体的に取り付けられていて、スピンドル３が
ステム２にガイドされて上下に摺動できるように構成さ
れている。また、スピンドル３には測定子４及び移動ス
ケールホルダ５が一体的に取り付けられている。この移
動スケールホルダ５には移動スケール６が接着され、移
動バネ受け８が止めネジ９により固定されている。この
移動スケールホルダ５はガイド棒７にガイドされて摺動
する。バネ１０は、枠体１と一体となった固定バネ受け
１１に一端が取り付けられ他端が移動バネ受け８に取り
付けられていて、測定時にスピンドル３に測定力を与え
ている。
す測長機を例にとって説明する。図１５及び図１６は従
来の測長機の検出部の内部構造を示しており、図１６は
図１５のＡ−Ａ断面図である。枠体１の図中下方にはス
テム２が一体的に取り付けられていて、スピンドル３が
ステム２にガイドされて上下に摺動できるように構成さ
れている。また、スピンドル３には測定子４及び移動ス
ケールホルダ５が一体的に取り付けられている。この移
動スケールホルダ５には移動スケール６が接着され、移
動バネ受け８が止めネジ９により固定されている。この
移動スケールホルダ５はガイド棒７にガイドされて摺動
する。バネ１０は、枠体１と一体となった固定バネ受け
１１に一端が取り付けられ他端が移動バネ受け８に取り
付けられていて、測定時にスピンドル３に測定力を与え
ている。
【０００３】固定スケールホルダ１２は枠体１の突出し
た台座部上面１ａ及び台座部側面１ｂに密接して止めネ
ジ１３により固定されている。この固定スケールホルダ
１２には、発光素子１７、回路基板１４、固定スケール
１５が接着により一体的に固定されている。その回路基
板１４には電気回路が形成されていて、発光素子１７に
対向する位置に受光素子１６が４個半田付けされてい
る。また、ケーブル１８内には、複数本の信号線１８
ａ、回路用電源線１８ｂ、発光素子用電源線１８ｃがあ
り、信号線１８ａと回路用電源線１８ｂは回路基板１４
に接続され、発光素子用電源線１８ｃは発光素子１７の
電源部１７ａに接続されている（接続状態は図示せ
ず）。このケーブル１８は、ゴム等の弾性部材よりなる
ケーブルブッシュ１９を介して枠体１に固定されてい
る。
た台座部上面１ａ及び台座部側面１ｂに密接して止めネ
ジ１３により固定されている。この固定スケールホルダ
１２には、発光素子１７、回路基板１４、固定スケール
１５が接着により一体的に固定されている。その回路基
板１４には電気回路が形成されていて、発光素子１７に
対向する位置に受光素子１６が４個半田付けされてい
る。また、ケーブル１８内には、複数本の信号線１８
ａ、回路用電源線１８ｂ、発光素子用電源線１８ｃがあ
り、信号線１８ａと回路用電源線１８ｂは回路基板１４
に接続され、発光素子用電源線１８ｃは発光素子１７の
電源部１７ａに接続されている（接続状態は図示せ
ず）。このケーブル１８は、ゴム等の弾性部材よりなる
ケーブルブッシュ１９を介して枠体１に固定されてい
る。
【０００４】上記移動スケール６及び固定スケール１５
は透明なガラスからなり、移動スケール６の固定スケー
ル１５に対向する面６ａ上には、移動方向と直角をなす
方向に一定間隔の格子が形成されている。また、固定ス
ケール１５の移動スケール６に対向する面１５ａには、
移動スケール６の面６ａ上の格子と同一ピッチの格子が
４個形成されている。この４個の格子の位相は１／４ピ
ッチずつずれるように設定されている。このような移動
スケール６と固定スケール１５は、決められた間隔を保
って平行に配置されるものであり、次のような手順で配
置されている。
は透明なガラスからなり、移動スケール６の固定スケー
ル１５に対向する面６ａ上には、移動方向と直角をなす
方向に一定間隔の格子が形成されている。また、固定ス
ケール１５の移動スケール６に対向する面１５ａには、
移動スケール６の面６ａ上の格子と同一ピッチの格子が
４個形成されている。この４個の格子の位相は１／４ピ
ッチずつずれるように設定されている。このような移動
スケール６と固定スケール１５は、決められた間隔を保
って平行に配置されるものであり、次のような手順で配
置されている。
【０００５】即ち、まず、固定スケール１５と移動スケ
ール６を密着させて間隔を無くし、この状態を保ちつつ
固定スケール１５を固定スケールホルダ１２に接着す
る。その後、固定スケール１５が接着された固定スケー
ルホルダ１２を図１５中のＸ方向に移動させ、移動スケ
ール６に対して決められた間隔となった位置で止めネジ
１３で固定する。このとき固定スケールホルダ１２の下
面１２ｂ及び下内側面１２ａと枠体１の台座部上面１ａ
と台座部側面１ｂは密着して固定される。
ール６を密着させて間隔を無くし、この状態を保ちつつ
固定スケール１５を固定スケールホルダ１２に接着す
る。その後、固定スケール１５が接着された固定スケー
ルホルダ１２を図１５中のＸ方向に移動させ、移動スケ
ール６に対して決められた間隔となった位置で止めネジ
１３で固定する。このとき固定スケールホルダ１２の下
面１２ｂ及び下内側面１２ａと枠体１の台座部上面１ａ
と台座部側面１ｂは密着して固定される。
【０００６】上記構成からなる測長機において測定を行
うと、スピンドル３がステム２に沿って移動し、これに
伴ってスピンドル３と一体になった移動スケールホルダ
５及び移動スケールホルダ５に固定された移動スケール
６が移動する。発光素子１７より発せられたほぼ平行な
光は、固定スケール１５の面１５ａ上の格子を通過する
際に回折し、移動スケール６の面６ａ上に像を結ぶ。そ
して、移動スケール６を通過するこの光の強弱を受光素
子１６により受光し、このときの信号を信号線１８ａを
通じてアンプ（図示せず）に伝えて測定する。
うと、スピンドル３がステム２に沿って移動し、これに
伴ってスピンドル３と一体になった移動スケールホルダ
５及び移動スケールホルダ５に固定された移動スケール
６が移動する。発光素子１７より発せられたほぼ平行な
光は、固定スケール１５の面１５ａ上の格子を通過する
際に回折し、移動スケール６の面６ａ上に像を結ぶ。そ
して、移動スケール６を通過するこの光の強弱を受光素
子１６により受光し、このときの信号を信号線１８ａを
通じてアンプ（図示せず）に伝えて測定する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術におい
て、固定スケール１５と移動スケール６が厳密に平行に
なるように固定スケール１５を固定スケールホルダ１２
に接着すること、あるいは固定スケール１５の格子と移
動スケール６の格子を確実に同一方向に配置すること等
は、測定精度に大きな影響を与えるため、精度良く行う
ことが必要である。しかしながら、枠体１、ステム２、
スピンドル３、移動スケールホルダ５、移動スケール
６、固定スケールホルダ１２、固定スケール１５等の寸
法精度や取り付け精度の影響を受けるため、部分的な取
り付け精度だけを向上させることは非常に困難であっ
た。このため、受光素子１６から得られる信号波形は、
測長機の固体により大きく異なり、場合によっては固定
スケール１５を接着する段階からやり直すことが必要で
あった。
て、固定スケール１５と移動スケール６が厳密に平行に
なるように固定スケール１５を固定スケールホルダ１２
に接着すること、あるいは固定スケール１５の格子と移
動スケール６の格子を確実に同一方向に配置すること等
は、測定精度に大きな影響を与えるため、精度良く行う
ことが必要である。しかしながら、枠体１、ステム２、
スピンドル３、移動スケールホルダ５、移動スケール
６、固定スケールホルダ１２、固定スケール１５等の寸
法精度や取り付け精度の影響を受けるため、部分的な取
り付け精度だけを向上させることは非常に困難であっ
た。このため、受光素子１６から得られる信号波形は、
測長機の固体により大きく異なり、場合によっては固定
スケール１５を接着する段階からやり直すことが必要で
あった。
【０００８】また、移動スケール６、移動スケールホル
ダ５、スピンドル３等を交換した場合、移動スケール６
と固定スケール１５の平行度が変化してしまうため、こ
れを修正することが必要であるが、従来の測長機におい
ては、固定スケール１５を接着し直さなければならず、
極めて手間がかかっていた。
ダ５、スピンドル３等を交換した場合、移動スケール６
と固定スケール１５の平行度が変化してしまうため、こ
れを修正することが必要であるが、従来の測長機におい
ては、固定スケール１５を接着し直さなければならず、
極めて手間がかかっていた。
【０００９】本発明は、上記従来技術の課題に鑑みなさ
れたもので、移動スケールと固定スケールの距離と傾き
を簡単且つ微細に調整することができるようにして、精
度を向上させた測長機を提供するものである。
れたもので、移動スケールと固定スケールの距離と傾き
を簡単且つ微細に調整することができるようにして、精
度を向上させた測長機を提供するものである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明の測長機は、請求
項１に示すように、固定スケールに対する移動スケール
の移動量を信号に変換して測長する測長機において、前
記移動スケールの格子作成面とほぼ垂直な面をなす枠体
台座部の面に、円錐状の窪みを形成し、前記枠体台座部
の面と対向する固定スケールホルダの面に前記移動スケ
ールの移動方向とほぼ垂直な方向にＶ溝を形成し、球状
のボールを前記窪みと前記Ｖ溝の間に挟み込み、前記移
動スケールと前記固定スケールの距離を変更可能にする
と共に、前記固定スケールの傾きを自在に変更可能とし
たものである。
項１に示すように、固定スケールに対する移動スケール
の移動量を信号に変換して測長する測長機において、前
記移動スケールの格子作成面とほぼ垂直な面をなす枠体
台座部の面に、円錐状の窪みを形成し、前記枠体台座部
の面と対向する固定スケールホルダの面に前記移動スケ
ールの移動方向とほぼ垂直な方向にＶ溝を形成し、球状
のボールを前記窪みと前記Ｖ溝の間に挟み込み、前記移
動スケールと前記固定スケールの距離を変更可能にする
と共に、前記固定スケールの傾きを自在に変更可能とし
たものである。
【００１１】また、本発明の測長機は、請求項２に示す
ように、固定スケールに対する移動スケールの移動量を
信号に変換して測長する測長機において、前記移動スケ
ールの格子作成面とほぼ垂直な面をなす枠体台座部の面
に、前記移動スケールの移動方向とほぼ垂直な方向にＶ
溝を形成し、前記枠体台座部の面と対向する固定スケー
ルホルダの面に円錐状の窪みを形成し、球状のボールを
前記窪みと前記Ｖ溝の間に挟み込み、前記移動スケール
と前記固定スケールの距離を変更可能にすると共に、前
記固定スケールの傾きを自在に変更可能としたものであ
る。
ように、固定スケールに対する移動スケールの移動量を
信号に変換して測長する測長機において、前記移動スケ
ールの格子作成面とほぼ垂直な面をなす枠体台座部の面
に、前記移動スケールの移動方向とほぼ垂直な方向にＶ
溝を形成し、前記枠体台座部の面と対向する固定スケー
ルホルダの面に円錐状の窪みを形成し、球状のボールを
前記窪みと前記Ｖ溝の間に挟み込み、前記移動スケール
と前記固定スケールの距離を変更可能にすると共に、前
記固定スケールの傾きを自在に変更可能としたものであ
る。
【００１２】請求項３に示すように、この測長機におけ
る前記Ｖ溝に代えてほぼ半円形断面を有する溝を形成し
ても良い。また、請求項４に示すように、この測長機に
おける前記円錐状の窪みに代えてほぼ半球状の窪みを形
成しても良い。更に、請求項５に示すように、この測長
機における前記Ｖ溝又は前記半円形断面を有する溝は、
前記ボールよりも硬い材質よりなる前記枠体台座部又は
前記固定スケールホルダに形成されるものとなってい
る。
る前記Ｖ溝に代えてほぼ半円形断面を有する溝を形成し
ても良い。また、請求項４に示すように、この測長機に
おける前記円錐状の窪みに代えてほぼ半球状の窪みを形
成しても良い。更に、請求項５に示すように、この測長
機における前記Ｖ溝又は前記半円形断面を有する溝は、
前記ボールよりも硬い材質よりなる前記枠体台座部又は
前記固定スケールホルダに形成されるものとなってい
る。
【００１３】
【発明の実施の形態】本発明の測長機においては、球状
のボールを、枠体台座部の窪みと固定スケールホルダの
溝の間に挟み込むか、又は固定スケールホルダの窪みと
枠体台座部の溝の間に挟み込むことにより、溝に沿った
固定スケールの直線移動が可能となる。また、これと同
時に、ボールを中心として固定スケールの傾きを変更す
ることも可能となる。例えば、固定スケールホルダを固
定する止めネジをボールを中心として少なくとも４本設
けると、各ネジのねじ込み量を調整するだけで固定スケ
ールの傾きを自在に変更することができる。このよう
に、固定スケールの正確な直線移動と傾きの自在な変更
により、移動スケールの固定スケールに対向する面と固
定スケールの移動スケールに対向する面を精度良く平行
かつ決められた距離となるように調整することができ
る。
のボールを、枠体台座部の窪みと固定スケールホルダの
溝の間に挟み込むか、又は固定スケールホルダの窪みと
枠体台座部の溝の間に挟み込むことにより、溝に沿った
固定スケールの直線移動が可能となる。また、これと同
時に、ボールを中心として固定スケールの傾きを変更す
ることも可能となる。例えば、固定スケールホルダを固
定する止めネジをボールを中心として少なくとも４本設
けると、各ネジのねじ込み量を調整するだけで固定スケ
ールの傾きを自在に変更することができる。このよう
に、固定スケールの正確な直線移動と傾きの自在な変更
により、移動スケールの固定スケールに対向する面と固
定スケールの移動スケールに対向する面を精度良く平行
かつ決められた距離となるように調整することができ
る。
【００１４】
【実施例】以下図面に基づいて本発明の実施例を説明す
る。図１は本発明の一実施例に係る信号検出部の調整機
構が組み込まれた測長機の検出器を示す正面図であり、
図２はこの検出器の裏蓋２４を取り外した状態を示す正
面図である。また、図３、図４及び図５は、それぞれ図
２のＢ−Ｂ断面図、Ｃ−Ｃ断面図及びＤ−Ｄ断面図であ
る。尚、図５は、バネ１０、移動バネ受け８、ケーブル
１８、ケーブルブッシュ１９を取り外した状態を表して
いる。また、この測長機検出部の構成は、その要部を除
いて前述した従来のものとほぼ同一であり、同一部分に
同一の符号が付してある。
る。図１は本発明の一実施例に係る信号検出部の調整機
構が組み込まれた測長機の検出器を示す正面図であり、
図２はこの検出器の裏蓋２４を取り外した状態を示す正
面図である。また、図３、図４及び図５は、それぞれ図
２のＢ−Ｂ断面図、Ｃ−Ｃ断面図及びＤ−Ｄ断面図であ
る。尚、図５は、バネ１０、移動バネ受け８、ケーブル
１８、ケーブルブッシュ１９を取り外した状態を表して
いる。また、この測長機検出部の構成は、その要部を除
いて前述した従来のものとほぼ同一であり、同一部分に
同一の符号が付してある。
【００１５】本実施例における枠体２０にも、その図中
下方にステム２が一体的に取り付けられていて、スピン
ドル３がステム２にガイドされて上下に摺動できるよう
に構成されている。また、スピンドル３には測定子４及
び移動スケールホルダ５が一体的に取り付けられ、この
移動スケールホルダ５には移動スケール６が接着され、
移動バネ受け８が止めネジ９により固定されている。こ
の移動スケールホルダ５はガイド棒７にガイドされて摺
動する。また、バネ１０は、枠体２０と一体となった固
定バネ受け１１に一端が取り付けられ他端が移動バネ受
け８に取り付けられていて、測定時にスピンドル３に測
定力を与えている。
下方にステム２が一体的に取り付けられていて、スピン
ドル３がステム２にガイドされて上下に摺動できるよう
に構成されている。また、スピンドル３には測定子４及
び移動スケールホルダ５が一体的に取り付けられ、この
移動スケールホルダ５には移動スケール６が接着され、
移動バネ受け８が止めネジ９により固定されている。こ
の移動スケールホルダ５はガイド棒７にガイドされて摺
動する。また、バネ１０は、枠体２０と一体となった固
定バネ受け１１に一端が取り付けられ他端が移動バネ受
け８に取り付けられていて、測定時にスピンドル３に測
定力を与えている。
【００１６】また、枠体２０にはその内底部から突出す
る台座部２０ａが設けられており、この台座部２０ａに
固定スケールホルダ２１が取り付けられる。図８乃至１
１にも示す通り、本実施例における固定スケールホルダ
２１の台座部２０ａに対向する面には、移動スケール６
の移動方向（図２及び図３における上下方向）にほぼ垂
直をなす方向（図２における左右方向）にＶ溝２１ａが
形成されている。また、台座部２０の固定スケールホル
ダ２１に対向する面には、円錐状の窪み２０ｂが形成さ
れている。このＶ溝２１ａと円錐状の窪み２０ｂの間に
は、球状のボール２３が挟み込まれている（図３及び図
４）。
る台座部２０ａが設けられており、この台座部２０ａに
固定スケールホルダ２１が取り付けられる。図８乃至１
１にも示す通り、本実施例における固定スケールホルダ
２１の台座部２０ａに対向する面には、移動スケール６
の移動方向（図２及び図３における上下方向）にほぼ垂
直をなす方向（図２における左右方向）にＶ溝２１ａが
形成されている。また、台座部２０の固定スケールホル
ダ２１に対向する面には、円錐状の窪み２０ｂが形成さ
れている。このＶ溝２１ａと円錐状の窪み２０ｂの間に
は、球状のボール２３が挟み込まれている（図３及び図
４）。
【００１７】この固定スケールホルダ２１にも、発光素
子１７、回路基板１４、固定スケール１５が接着により
一体的に固定されている。その回路基板１４には電気回
路が形成されていて、発光素子１７に対向する位置に受
光素子１６ｂ，１６ｃ，１６ｄ，１６ｅが半田付けされ
ている。また、ケーブル１８内にある複数本の信号線１
８ａ、回路用電源線１８ｂ、発光素子用電源線１８ｃ
は、信号線１８ａと回路用電源線１８ｂが回路基板１４
に接続され、発光素子用電源線１８ｃが発光素子１７の
電源部１７ａに接続されている（接続状態は図示せ
ず）。このケーブル１８も、ゴム等の弾性部材よりなる
ケーブルブッシュ１９を介して枠体２０に固定されてい
る。
子１７、回路基板１４、固定スケール１５が接着により
一体的に固定されている。その回路基板１４には電気回
路が形成されていて、発光素子１７に対向する位置に受
光素子１６ｂ，１６ｃ，１６ｄ，１６ｅが半田付けされ
ている。また、ケーブル１８内にある複数本の信号線１
８ａ、回路用電源線１８ｂ、発光素子用電源線１８ｃ
は、信号線１８ａと回路用電源線１８ｂが回路基板１４
に接続され、発光素子用電源線１８ｃが発光素子１７の
電源部１７ａに接続されている（接続状態は図示せ
ず）。このケーブル１８も、ゴム等の弾性部材よりなる
ケーブルブッシュ１９を介して枠体２０に固定されてい
る。
【００１８】上記移動スケール６及び固定スケール１５
は図６及び図７に示すように透明なガラスからなり、移
動スケール６の固定スケール１５に対向する面６ａ上に
は、移動方向と直角をなす方向に一定間隔の光を遮光す
る格子６ｂが形成されている。また、固定スケール１５
の移動スケール６に対向する面１５ａには、移動スケー
ル６の面６ａ上の格子６ｂと同一ピッチの４個の格子１
５ｂ，１５ｃ，１５ｄ，１５ｅが形成されている。この
格子１５ｂを基準とした場合、格子１５ｃ，１５ｄ，１
５ｅの位相はそれぞれ１／４ピッチ、１／２ピッチ、３
／４ピッチずれるように設定されている。また、移動ス
ケール６の面６ａ上の格子６ｂ以外の部分にある完全遮
光部６ｃと、固定スケール１５の面１５ａ上の格子以外
の部分にある完全遮光部１５ｆは、共に光が通過しない
ように構成されている。
は図６及び図７に示すように透明なガラスからなり、移
動スケール６の固定スケール１５に対向する面６ａ上に
は、移動方向と直角をなす方向に一定間隔の光を遮光す
る格子６ｂが形成されている。また、固定スケール１５
の移動スケール６に対向する面１５ａには、移動スケー
ル６の面６ａ上の格子６ｂと同一ピッチの４個の格子１
５ｂ，１５ｃ，１５ｄ，１５ｅが形成されている。この
格子１５ｂを基準とした場合、格子１５ｃ，１５ｄ，１
５ｅの位相はそれぞれ１／４ピッチ、１／２ピッチ、３
／４ピッチずれるように設定されている。また、移動ス
ケール６の面６ａ上の格子６ｂ以外の部分にある完全遮
光部６ｃと、固定スケール１５の面１５ａ上の格子以外
の部分にある完全遮光部１５ｆは、共に光が通過しない
ように構成されている。
【００１９】このような移動スケール６と固定スケール
１５は、決められた間隔を保って平行に配置され、発光
素子１７から照射された光は固定スケール１５の格子１
５ｂ，１５ｃ，１５ｄ，１５ｅと移動スケール６の格子
６ｂを通過し、対応する受光素子１６ｂ，１６ｃ，１６
ｄ，１６ｅにそれぞれ照射される。
１５は、決められた間隔を保って平行に配置され、発光
素子１７から照射された光は固定スケール１５の格子１
５ｂ，１５ｃ，１５ｄ，１５ｅと移動スケール６の格子
６ｂを通過し、対応する受光素子１６ｂ，１６ｃ，１６
ｄ，１６ｅにそれぞれ照射される。
【００２０】本実施例における移動スケール６と固定ス
ケール１５は、次のような手順で、決められた間隔を保
って平行に配置されている。はじめに、スピンドル３の
一端に移動スケールホルダ５を装着する。そして、スピ
ンドル３を基準として移動スケールホルダ５に移動スケ
ール６を接着する。このように一体化した後、スピンド
ル３を枠体２０内からステム２に挿通し、その先端に測
定子４を螺合することにより取り付ける。
ケール１５は、次のような手順で、決められた間隔を保
って平行に配置されている。はじめに、スピンドル３の
一端に移動スケールホルダ５を装着する。そして、スピ
ンドル３を基準として移動スケールホルダ５に移動スケ
ール６を接着する。このように一体化した後、スピンド
ル３を枠体２０内からステム２に挿通し、その先端に測
定子４を螺合することにより取り付ける。
【００２１】一方、固定スケールホルダ２１には、４個
の受光素子１６ｂ，１６ｃ，１６ｄ，１６ｅが半田付け
された回路基板１４、固定スケール１５、発光素子１７
を接着等により固定する。このように一体化した後、固
定スケールホルダ２１を枠体２０の台座部２０ａにボー
ル２３を挟んで４本の止めネジ２２により固定する。こ
のボール２３は、台座部２０ａの円錐状の窪み２０ｂと
固定スケールホルダ２１のＶ溝２１ａに収まるように挟
み込まれており、このボール２３がほぼ中心となるよう
に配置された止めネジ２２で固定される。このときに、
移動スケール６と固定スケール１５の間に薄板を挟ん
で、スケール間の隙間が希望寸法となるようにすると共
に、ほぼ平行となるように固定スケールホルダ２１の位
置を設定する。その際に、固定スケールホルダ２１のＶ
溝２１ａとボール２３の接触により、容易且つ精度良く
固定スケールホルダ２１を移動させて位置決めすること
ができる。
の受光素子１６ｂ，１６ｃ，１６ｄ，１６ｅが半田付け
された回路基板１４、固定スケール１５、発光素子１７
を接着等により固定する。このように一体化した後、固
定スケールホルダ２１を枠体２０の台座部２０ａにボー
ル２３を挟んで４本の止めネジ２２により固定する。こ
のボール２３は、台座部２０ａの円錐状の窪み２０ｂと
固定スケールホルダ２１のＶ溝２１ａに収まるように挟
み込まれており、このボール２３がほぼ中心となるよう
に配置された止めネジ２２で固定される。このときに、
移動スケール６と固定スケール１５の間に薄板を挟ん
で、スケール間の隙間が希望寸法となるようにすると共
に、ほぼ平行となるように固定スケールホルダ２１の位
置を設定する。その際に、固定スケールホルダ２１のＶ
溝２１ａとボール２３の接触により、容易且つ精度良く
固定スケールホルダ２１を移動させて位置決めすること
ができる。
【００２２】そして、発光素子１７及び回路基板１４に
電圧を印加し、スピンドル３を移動して移動スケール６
を動かす。これと同時に、４本の止めネジ２２の締め具
合を微妙に変化させることにより、固定スケールホルダ
２１をボール２３を中心として傾斜させ、固定スケール
１５の傾きを調整する。これにより、それぞれの受光素
子から得られる信号が、厳密に適正値となるようにす
る。
電圧を印加し、スピンドル３を移動して移動スケール６
を動かす。これと同時に、４本の止めネジ２２の締め具
合を微妙に変化させることにより、固定スケールホルダ
２１をボール２３を中心として傾斜させ、固定スケール
１５の傾きを調整する。これにより、それぞれの受光素
子から得られる信号が、厳密に適正値となるようにす
る。
【００２３】このようにして移動スケール６と固定スケ
ール１５の位置が設定された測長機による測定は、次の
ようになる。即ち、発光素子１７より発せられたほぼ平
行且つほぼ単波長からなる光は、固定スケール１５の面
１５ａ上の格子を通過する際に回折し、移動スケール６
の面６ａ上に固定スケール１５の面１５ａに作成されて
いる４個の格子の像を結ぶように設定されている。ここ
で、スピンドル３がステム２に沿って移動すると、これ
に伴ってスピンドル３と一体になった移動スケールホル
ダ５及び移動スケールホルダ５に固定された移動スケー
ル６が移動する。このような移動スケール６の移動によ
り、移動スケール６の格子６ｂを通過する光が変化し、
それぞれ４個の受光素子に到達する光も変化する。そし
て、移動スケール６を通過する光の強弱を受光素子１６
により受光し、このときの受光量に応じた信号を信号線
１８ａを通じてアンプ（図示せず）に伝えて測定する。
ール１５の位置が設定された測長機による測定は、次の
ようになる。即ち、発光素子１７より発せられたほぼ平
行且つほぼ単波長からなる光は、固定スケール１５の面
１５ａ上の格子を通過する際に回折し、移動スケール６
の面６ａ上に固定スケール１５の面１５ａに作成されて
いる４個の格子の像を結ぶように設定されている。ここ
で、スピンドル３がステム２に沿って移動すると、これ
に伴ってスピンドル３と一体になった移動スケールホル
ダ５及び移動スケールホルダ５に固定された移動スケー
ル６が移動する。このような移動スケール６の移動によ
り、移動スケール６の格子６ｂを通過する光が変化し、
それぞれ４個の受光素子に到達する光も変化する。そし
て、移動スケール６を通過する光の強弱を受光素子１６
により受光し、このときの受光量に応じた信号を信号線
１８ａを通じてアンプ（図示せず）に伝えて測定する。
【００２４】本実施例においては、固定スケールホルダ
２１にＶ溝を設け台座部２０ａに円錐状の窪みを形成し
ているが、図１２に示すように、Ｖ溝を台座部２０ａに
設け、円錐状の窪みを固定スケールホルダ２１に設けて
も同様の効果を得ることができる。
２１にＶ溝を設け台座部２０ａに円錐状の窪みを形成し
ているが、図１２に示すように、Ｖ溝を台座部２０ａに
設け、円錐状の窪みを固定スケールホルダ２１に設けて
も同様の効果を得ることができる。
【００２５】また、図１３及び図１４に示すように、Ｖ
溝の代わりに、ほぼ半円形断面の溝２１ｂを用いても、
また、円錐状の窪みの代わりに、ほぼ半球状の窪み２０
ｃを用いても同様の効果を得ることができる。
溝の代わりに、ほぼ半円形断面の溝２１ｂを用いても、
また、円錐状の窪みの代わりに、ほぼ半球状の窪み２０
ｃを用いても同様の効果を得ることができる。
【００２６】更に、上記のようなＶ溝又は半円形断面の
溝を、ボール２３よりも固い材質からなる固定スケール
ホルダ２１又は台座部２０ａに設けることにより、固定
スケールホルダ２１を止めネジ２２で台座部２０ａに強
く固定しても、Ｖ溝又は半円形断面の溝にボール２３に
よる塑性変形の跡が残ることがない。従って、止めネジ
２２をゆるめて再び固定スケール１５と移動スケール６
の隙間調整をしても塑性変形跡による精度の低下を防ぐ
ことができる。
溝を、ボール２３よりも固い材質からなる固定スケール
ホルダ２１又は台座部２０ａに設けることにより、固定
スケールホルダ２１を止めネジ２２で台座部２０ａに強
く固定しても、Ｖ溝又は半円形断面の溝にボール２３に
よる塑性変形の跡が残ることがない。従って、止めネジ
２２をゆるめて再び固定スケール１５と移動スケール６
の隙間調整をしても塑性変形跡による精度の低下を防ぐ
ことができる。
【００２７】
【発明の効果】本発明によれば、固定スケールホルダと
枠体の台座部にそれぞれ溝と窪みを形成し、その間にボ
ールを挟み込んでいるので、移動スケールと固定スケー
ルとの距離と傾きを微細に調整することができる。この
ため、厳密に適正な信号を得ることが可能となり、精度
の良い測長機を提供することができる。
枠体の台座部にそれぞれ溝と窪みを形成し、その間にボ
ールを挟み込んでいるので、移動スケールと固定スケー
ルとの距離と傾きを微細に調整することができる。この
ため、厳密に適正な信号を得ることが可能となり、精度
の良い測長機を提供することができる。
【図１】本発明の一実施例に係る信号検出部の調整機構
が組み込まれた測長機の検出器を示す正面図である。
が組み込まれた測長機の検出器を示す正面図である。
【図２】図１に示す検出器の裏蓋を取り外した状態を示
す正面図である。
す正面図である。
【図３】図２のＢ−Ｂ断面図である。
【図４】図２のＣ−Ｃ断面図である。
【図５】図２のＤ−Ｄ断面図である。
【図６】図２等に示す固定スケールの正面図である。
【図７】図２等に示す移動スケールの正面図である。
【図８】図２等に示す固定スケールホルダの側面図であ
る。
る。
【図９】図２等に示す固定スケールホルダの下面図であ
る。
る。
【図１０】図２等に示す固定スケールホルダの正面図で
ある。
ある。
【図１１】図２等に示す固定スケールホルダの上面図で
ある。
ある。
【図１２】Ｖ溝を台座部に設け、円錐状の窪みを固定ス
ケールホルダに設けた変更例を示す断面図である。
ケールホルダに設けた変更例を示す断面図である。
【図１３】Ｖ溝の代わりに半円形断面の溝を設け、円錐
状の窪みの代わりに半球状の窪みを設けた変更例を示す
要部断面図である。
状の窪みの代わりに半球状の窪みを設けた変更例を示す
要部断面図である。
【図１４】図１３に示す固定スケールホルダの側面図で
ある。
ある。
【図１５】従来の測長機の内部構造を示す正面図であ
る。
る。
【図１６】図１５に示す測長機のＡ−Ａ断面図である。
１ 枠体
２ ステム
３ スピンドル
４ 測定子
５ 移動スケールホルダ
６ 移動スケール
６ａ 面
６ｂ 格子
６ｃ 完全遮光部
７ ガイド棒
８ 移動バネ受け
９ 止めネジ
１０ バネ
１１ 固定バネ受け
１２ 固定スケールホルダ
１３ 止めネジ
１４ 回路基板
１５ 固定スケール
１５ａ 面
１５ｂ，１５ｃ，１５ｄ，１５ｅ 格子
１５ｆ 完全遮光部
１６ｂ，１６ｃ，１６ｄ，１６ｅ 受光素子
１７ 発光素子
１７ａ 電源部
１８ ケーブル
１８ａ 信号線
１８ｂ 回路用電源線
１８ｃ 発光素子用電源線
１９ ケーブルブッシュ
２０ 枠体
２０ａ 台座部
２０ｂ 円錐状の窪み
２０ｃ 半球状の窪み
２１ 固定スケールホルダ
２１ａ Ｖ溝
２１ｂ 半円形断面の溝
２２ 止めネジ
２３ ボール
Claims (5)
- 【請求項１】 固定スケールに対する移動スケールの移
動量を信号に変換して測長する測長機において、 前記移動スケールの格子作成面とほぼ垂直な面をなす枠
体台座部の面に、円錐状の窪みを形成し、 前記枠体台座部の面と対向する固定スケールホルダの面
に前記移動スケールの移動方向とほぼ垂直な方向にＶ溝
を形成し、 球状のボールを前記窪みと前記Ｖ溝の間に挟み込み、 前記移動スケールと前記固定スケールの距離を変更可能
にすると共に、前記固定スケールの傾きを自在に変更可
能としたことを特徴とする測長機。 - 【請求項２】 固定スケールに対する移動スケールの移
動量を信号に変換して測長する測長機において、 前記移動スケールの格子作成面とほぼ垂直な面をなす枠
体台座部の面に、前記移動スケールの移動方向とほぼ垂
直な方向にＶ溝を形成し、 前記枠体台座部の面と対向する固定スケールホルダの面
に円錐状の窪みを形成し、 球状のボールを前記窪みと前記Ｖ溝の間に挟み込み、 前記移動スケールと前記固定スケールの距離を変更可能
にすると共に、前記固定スケールの傾きを自在に変更可
能としたことを特徴とする測長機。 - 【請求項３】 前記Ｖ溝に代えてほぼ半円形断面を有す
る溝を形成することを特徴とする請求項１又は２記載の
測長機。 - 【請求項４】 前記円錐状の窪みに代えてほぼ半球状の
窪みを形成することを特徴とする請求項１、２又は３記
載の測長機。 - 【請求項５】 前記Ｖ溝又は前記半円形断面を有する溝
は、前記ボールよりも硬い材質によりなる前記枠体台座
部又は前記固定スケールホルダに形成されていることを
特徴とする請求項１、２又は３記載の測長機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001302214A JP2003106833A (ja) | 2001-09-28 | 2001-09-28 | 測長機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001302214A JP2003106833A (ja) | 2001-09-28 | 2001-09-28 | 測長機 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003106833A true JP2003106833A (ja) | 2003-04-09 |
Family
ID=19122499
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001302214A Pending JP2003106833A (ja) | 2001-09-28 | 2001-09-28 | 測長機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003106833A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010025874A (ja) * | 2008-07-24 | 2010-02-04 | Ono Sokki Co Ltd | リニアゲージ |
| JP2014010257A (ja) * | 2012-06-29 | 2014-01-20 | Canon Inc | エンコーダ、レンズ装置、および、カメラ |
| JP2017187491A (ja) * | 2016-04-05 | 2017-10-12 | ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツングＤｒ． Ｊｏｈａｎｎｅｓ Ｈｅｉｄｅｎｈａｉｎ Ｇｅｓｅｌｌｓｃｈａｆｔ Ｍｉｔ Ｂｅｓｃｈｒａｎｋｔｅｒ Ｈａｆｔｕｎｇ | 長さ測定装置 |
-
2001
- 2001-09-28 JP JP2001302214A patent/JP2003106833A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010025874A (ja) * | 2008-07-24 | 2010-02-04 | Ono Sokki Co Ltd | リニアゲージ |
| JP2014010257A (ja) * | 2012-06-29 | 2014-01-20 | Canon Inc | エンコーダ、レンズ装置、および、カメラ |
| JP2017187491A (ja) * | 2016-04-05 | 2017-10-12 | ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツングＤｒ． Ｊｏｈａｎｎｅｓ Ｈｅｉｄｅｎｈａｉｎ Ｇｅｓｅｌｌｓｃｈａｆｔ Ｍｉｔ Ｂｅｓｃｈｒａｎｋｔｅｒ Ｈａｆｔｕｎｇ | 長さ測定装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6606156B1 (en) | Spectrometer | |
| US4773760A (en) | Procedure and means for measuring the thickness of a film-like or sheet-like web | |
| US20040001193A1 (en) | Ranging sensor and electronic device using the same | |
| US6844562B2 (en) | Distance measuring sensor and method for manufacturing the same | |
| US4031595A (en) | High precision incremental distance measuring system | |
| JP2003106833A (ja) | 測長機 | |
| EP0884556A2 (en) | Measuring instrument | |
| JP3817630B2 (ja) | ２次元角度センサ | |
| JP3472897B2 (ja) | 線形測定装置及びこの装置を調整する方法 | |
| JPH04158210A (ja) | 変位検出器 | |
| CN109142787A (zh) | 一种非金属挠性整体摆 | |
| EP0177273B1 (en) | Camera for visual inspection | |
| EP0647835B1 (en) | Displacement detecting system | |
| JPH07110966A (ja) | 基板の反り測定方法及び測定装置 | |
| GB2153995A (en) | Coordinate measuring instrument | |
| JPS62212507A (ja) | レ−ザ干渉計で校正を不要とした触針式表面形状検出器 | |
| JPS62265525A (ja) | 長さの増分の測定装置 | |
| US4685804A (en) | Method and apparatus for the measurement of the location or movement of a body | |
| JP2000112661A (ja) | 光走査型タッチパネルの走査光光軸調整方法 | |
| JPH0486539A (ja) | 光ビーム径の測定装置 | |
| JP2006203374A (ja) | アンテナ設置角度調整装置 | |
| KR0128663Y1 (ko) | 씨.디.피에 장착되는 스핀들 모터 샤프트의 스큐방지장치 | |
| JP2008232970A (ja) | 変位測定器 | |
| US5497228A (en) | Laser bevel meter | |
| CN118565383A (zh) | 双晶单色器平行度动态测量系统、方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040210 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050708 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050801 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20051206 |