JP2003100573A - Method for releasing polarization of capacitor and method for measuring and selecting capacitor - Google Patents

Method for releasing polarization of capacitor and method for measuring and selecting capacitor

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JP2003100573A
JP2003100573A JP2001286496A JP2001286496A JP2003100573A JP 2003100573 A JP2003100573 A JP 2003100573A JP 2001286496 A JP2001286496 A JP 2001286496A JP 2001286496 A JP2001286496 A JP 2001286496A JP 2003100573 A JP2003100573 A JP 2003100573A
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Japan
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capacitor
voltage
high frequency
polarization
frequency
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JP2001286496A
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Inventor
Toru Sezaki
徹 瀬崎
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Murata Manufacturing Co Ltd
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Murata Manufacturing Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To solve the problem that a long time and a large-scale device are required in conducting batch processing using an oven to heat a capacitor and thus release the polarization of a dielectric of the capacitor, which has been caused by a withstand voltage test under the impression of DC voltage on the capacitor. SOLUTION: A high frequency voltage is impressed on the capacitor 1 from a high frequency power source 5 through terminal electrodes 3, 4. As a result, the capacitor 1 is allowed to be in the state of self-heating, which then allows to release the polarization of the dielectric 2 in a short time.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、コンデンサの分
極解放方法およびコンデンサの特性選別方法に関するも
ので、特に、分極解放処理をより短時間で行なえるよう
にするための改良に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for depolarizing a capacitor and a method for selecting a characteristic of a capacitor, and more particularly to an improvement for enabling depolarization processing in a shorter time.

【0002】[0002]

【従来の技術】たとえば積層セラミックコンデンサのよ
うなコンデンサを出荷するにあたり、コンデンサの耐電
圧特性を測定する耐電圧試験が実施されている。この耐
電圧試験に際しては、コンデンサに直流電圧が印加され
る。
2. Description of the Related Art Before shipping a capacitor such as a monolithic ceramic capacitor, a withstand voltage test is performed to measure the withstand voltage characteristic of the capacitor. In this withstand voltage test, a DC voltage is applied to the capacitor.

【0003】ところが、上述した直流電圧の印加によっ
て、コンデンサに備える誘電体が分極状態となり、その
ため、コンデンサが与える静電容量の低下を引き起こし
てしまう。
However, the application of the above-mentioned DC voltage causes the dielectric substance provided in the capacitor to be in a polarized state, which causes a decrease in the electrostatic capacitance provided by the capacitor.

【0004】上述したような静電容量の低下を回復する
ためには、誘電体にもたらされた分極状態を解放する必
要がある。
In order to recover the decrease in capacitance as described above, it is necessary to release the polarization state introduced into the dielectric.

【0005】そこで、従来は、耐電圧試験を実施した後
のコンデンサを、オーブンに入れ、バッチ処理によって
加熱し、分極状態を解放するようにしている。オーブン
での熱処理に際しては、誘電体のキュリー点を超える温
度、たとえば150℃程度の温度が、30分間程度付与
される。
Therefore, conventionally, the capacitor after performing the withstand voltage test is put in an oven and heated by batch processing to release the polarized state. During the heat treatment in the oven, a temperature exceeding the Curie point of the dielectric, for example, a temperature of about 150 ° C. is applied for about 30 minutes.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たようなオーブン加熱によって分極解放処理を行なうに
あたっては、たとえば30分間というように、比較的長
時間必要であり、また、オーブンといった比較的大掛か
りな装置を必要とする。
However, when the polarization release treatment is performed by heating in the oven as described above, it takes a relatively long time, for example, 30 minutes, and a relatively large-scale device such as an oven. Need.

【0007】また、特開2000−12369号公報に
は、レーザ光をコンデンサに照射して、短時間で分極状
態を解放する技術が記載されている。しかしながら、こ
の技術を適用する場合には、レーザ光を照射するための
比較的大掛かりな装置を必要とし、しかも、レーザ光を
コンデンサに精度良く照射することが必要である。
Further, Japanese Patent Laid-Open No. 2000-12369 describes a technique of irradiating a condenser with a laser beam to release the polarization state in a short time. However, when this technique is applied, a relatively large-scale device for irradiating laser light is required, and further, it is necessary to irradiate the condenser with laser light with high precision.

【0008】したがって、分極解放処理を、より短時間
で、より精度良く、かつより簡易な装置によって達成で
きることが望まれる。
Therefore, it is desired that the polarization release treatment can be achieved in a shorter time, with higher accuracy and with a simpler device.

【0009】そこで、この発明の目的は、上述した要望
を満たし得る、コンデンサの分極解放方法、および、こ
の分極解放方法を適用して実施される、コンデンサの測
定選別方法を提供しようとすることである。
Therefore, an object of the present invention is to provide a method for depolarizing a capacitor, which can satisfy the above-mentioned demand, and a method for measuring and selecting a capacitor, which is carried out by applying the method for depolarizing the capacitor. is there.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】この発明に係るコンデン
サの分極解放方法は、上述した技術的課題を解決するた
め、分極状態にある誘電体および誘電体に関連して形成
された静電容量を取り出すための端子電極を備えるコン
デンサを用意する工程と、端子電極を介してコンデンサ
に高周波電圧を印加することによって、コンデンサを自
己発熱させる工程とを備えることを特徴としている。
In order to solve the above-mentioned technical problems, a method of releasing polarization of a capacitor according to the present invention provides a dielectric in a polarized state and a capacitance formed in association with the dielectric. The method is characterized by including a step of preparing a capacitor having a terminal electrode for taking out and a step of causing the capacitor to self-heat by applying a high frequency voltage to the capacitor via the terminal electrode.

【0011】上述したこの発明に係る分極解放方法にお
いて、印加される高周波電圧は、40kHz〜400k
Hzの範囲の周波数領域内の周波数を有することが好ま
しい。
In the polarization releasing method according to the present invention described above, the applied high frequency voltage is 40 kHz to 400 kHz.
It is preferable to have frequencies in the frequency range in the range of Hz.

【0012】また、印加される高周波電圧は、コンデン
サの共振周波数以下の周波数を有することが好ましい。
Further, it is preferable that the applied high frequency voltage has a frequency lower than the resonance frequency of the capacitor.

【0013】この発明に係る分極解放方法は、直流電圧
印加下での耐電圧試験を実施した後のコンデンサに対し
て特に有利に適用される。
The polarization releasing method according to the present invention is particularly advantageously applied to a capacitor after carrying out a withstand voltage test under application of a DC voltage.

【0014】この発明は、また、耐電圧特性を測定し、
その結果に基づいて、コンデンサを選別するための方法
にも向けられる。このコンデンサの測定選別方法は、ま
ず、コンデンサの直流電圧印加下での耐電圧試験を実施
し、次いで、コンデンサに端子電極を介して高周波電圧
を印加することによって、コンデンサを自己発熱させ
る、各工程を備えることを特徴としている。
The present invention also measures withstand voltage characteristics,
Based on the results, it is also directed to a method for screening capacitors. This capacitor measurement / selection method is performed by first performing a withstand voltage test on a capacitor under application of a DC voltage, and then applying a high frequency voltage to the capacitor via a terminal electrode to cause the capacitor to self-heat. It is characterized by having.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】図1は、この発明の一実施形態に
よるコンデンサの分極解放方法を説明するためのもので
ある。
1 is a view for explaining a method of depolarizing a capacitor according to an embodiment of the present invention.

【0016】図1において、コンデンサ1が図示されて
いる。コンデンサ1は、たとえば積層セラミックコンデ
ンサであり、誘電体2ならびに誘電体2に関連して形成
された静電容量を取り出すための端子電極3および4を
備えている。このコンデンサ1は、たとえば、直流電圧
印加下での耐電圧試験を実施した後のものであり、した
がって、誘電体2が分極状態となっている。
In FIG. 1, a capacitor 1 is shown. Capacitor 1 is, for example, a monolithic ceramic capacitor, and includes dielectric 2 and terminal electrodes 3 and 4 for taking out electrostatic capacitance formed in association with dielectric 2. This capacitor 1 is, for example, one that has been subjected to a withstand voltage test under application of a DC voltage, and therefore the dielectric 2 is in a polarized state.

【0017】誘電体2の分極を解放するため、図1に示
すように、高周波電源5が用意される。高周波電源5
は、高周波電圧をコンデンサ1に印加するための出力端
子6および7を備えている。
In order to release the polarization of the dielectric 2, a high frequency power source 5 is prepared as shown in FIG. High frequency power 5
Has output terminals 6 and 7 for applying a high frequency voltage to the capacitor 1.

【0018】コンデンサ1に備える誘電体2の分極解放
処理を行なうにあたって、出力端子6および7が、それ
ぞれ、コンデンサ1の端子電極3および4に電気的に接
触した状態とされ、この状態において、高周波電源5か
らの高周波電圧が、端子電極3および4を介してコンデ
ンサ1に印加される。そして、この高周波電圧の印加時
においてコンデンサ1に流れる電流とコンデンサ1が有
する等価直列抵抗とによって、コンデンサ1が自己発熱
する。この自己発熱の結果、誘電体2の温度がキュリー
点を超えると、誘電体2にもたらされていた分極状態が
解放され、コンデンサ1の静電容量が回復される。
In performing the polarization release process of the dielectric 2 provided in the capacitor 1, the output terminals 6 and 7 are brought into electrical contact with the terminal electrodes 3 and 4 of the capacitor 1, respectively. A high frequency voltage from the power source 5 is applied to the capacitor 1 via the terminal electrodes 3 and 4. When the high frequency voltage is applied, the capacitor 1 self-heats due to the current flowing through the capacitor 1 and the equivalent series resistance of the capacitor 1. As a result of this self-heating, when the temperature of the dielectric 2 exceeds the Curie point, the polarization state brought to the dielectric 2 is released, and the electrostatic capacitance of the capacitor 1 is restored.

【0019】上述したように印加される高周波電圧は、
たとえば20〜100Vrmsに選ばれる。この場合、
10秒間以内の時間で、コンデンサ1の温度は150℃
程度にまで上昇する。
The high frequency voltage applied as described above is
For example, 20 to 100 Vrms is selected. in this case,
Within 10 seconds, the temperature of capacitor 1 is 150 ℃
Rise to a degree.

【0020】また、印加される高周波電圧は、40kH
z〜400kHzの範囲の周波数領域内の周波数を有し
ていることが好ましい。印加される高周波電圧の周波数
が高くなると、コンデンサ1に流れる電流が大きくな
り、コンデンサ1の温度が急激に上昇し、温度制御が困
難になる。
The applied high frequency voltage is 40 kHz.
It is preferable to have a frequency within the frequency range of z-400 kHz. When the frequency of the applied high-frequency voltage becomes high, the current flowing through the capacitor 1 becomes large and the temperature of the capacitor 1 rapidly rises, which makes temperature control difficult.

【0021】より具体的に、コンデンサ1の温度を15
0℃程度にまで上昇させようとする場合、印加される高
周波電圧の周波数は、40kHz〜400kHzの範囲
の周波数領域内から選ぶことが好ましい。高周波電圧の
周波数が400kHzを超えると、コンデンサ1の温度
制御が困難になり、さらに、700kHz以上となる
と、温度制御がより困難となる。
More specifically, the temperature of the capacitor 1 is set to 15
When increasing the temperature to about 0 ° C., the frequency of the applied high frequency voltage is preferably selected from the frequency range of 40 kHz to 400 kHz. When the frequency of the high frequency voltage exceeds 400 kHz, it becomes difficult to control the temperature of the capacitor 1, and when it becomes 700 kHz or more, the temperature control becomes more difficult.

【0022】また、印加される高周波電圧は、コンデン
サ1の共振周波数以下の周波数を有していることが好ま
しい。これによって、コンデンサ1の自己発熱をより生
じやすくすることができる。
Further, it is preferable that the applied high frequency voltage has a frequency equal to or lower than the resonance frequency of the capacitor 1. Thereby, the self-heating of the capacitor 1 can be more easily generated.

【0023】なお、高周波電圧は、正弦波を有するもの
であっても、矩形波を有するものであってもよい。
The high frequency voltage may have a sine wave or a rectangular wave.

【0024】図2は、この発明の一実施形態によるコン
デンサの測定選別方法を説明するためのもので、測定選
別機8において実施される工程を図解的に示している。
FIG. 2 is for explaining a method for measuring and selecting capacitors according to one embodiment of the present invention, and schematically shows the steps carried out in the measuring and selecting machine 8.

【0025】図2を参照して、測定選別機8において、
まず、測定されるべきコンデンサの取入れ工程9が実施
される。
Referring to FIG. 2, in the measuring and sorting machine 8,
First, the step 9 of taking in the capacitor to be measured is carried out.

【0026】次いで、コンデンサに対して、DC電圧印
加下での耐電圧試験工程10が実施される。
Then, a withstand voltage test step 10 is performed on the capacitor under application of a DC voltage.

【0027】次いで、耐電圧試験を終えたコンデンサに
対して、高周波電圧印加工程11が実施される。このと
き、コンデンサの端子電極に電気的に接触させる出力端
子は、前の耐電圧試験工程10において直流電圧を印加
するために用いた出力端子を兼ねるようにしてもよい。
Next, a high frequency voltage applying step 11 is carried out on the capacitor which has undergone the withstand voltage test. At this time, the output terminal electrically contacting the terminal electrode of the capacitor may also serve as the output terminal used for applying the DC voltage in the withstanding voltage test step 10 described above.

【0028】次いで、コンデンサを取り出すための取出
し工程12が実施される。この取出し工程12におい
て、耐電圧試験工程10での耐電圧試験の結果、良品と
判定されたものと不良品と判定されたものとを区別しな
がら、コンデンサを取り出すようにされる。
Next, a take-out step 12 for taking out the capacitor is carried out. In the take-out step 12, the capacitors are taken out while distinguishing between those judged as good products and those judged as defective products as a result of the withstand voltage test in the withstand voltage test process 10.

【0029】前述したように、誘電体2の分極の解放の
ためにコンデンサ1を自己発熱させるにあたって印加さ
れる高周波電圧の周波数が、40kHz〜400kHz
の範囲とされることが好ましいことを裏付けるため、以
下の表1に示すようないくつかの条件で高周波電圧を印
加し、150℃になるまでの印加時間を求めるととも
に、図3ないし図5に示すように、各条件下での昇温カ
ーブを求めた。
As described above, the frequency of the high frequency voltage applied when the capacitor 1 self-heats to release the polarization of the dielectric 2 is 40 kHz to 400 kHz.
In order to prove that the range is preferably set to, the high-frequency voltage is applied under some conditions as shown in Table 1 below, and the application time until reaching 150 ° C. is obtained. As shown, the temperature rising curve under each condition was obtained.

【0030】[0030]

【表1】 [Table 1]

【0031】表1において、「周波数」は印加される高
周波電圧の周波数を示し、「電流」は、高周波電圧の印
加中にコンデンサに流れる電流を示している。
In Table 1, "frequency" indicates the frequency of the applied high frequency voltage, and "current" indicates the current flowing through the capacitor during the application of the high frequency voltage.

【0032】また、表1において、「コンデンサに印加
される電圧」と「電源の電圧」とが互いに異なるのは、
高周波電源とコンデンサとの間に昇圧回路を介在させた
ためである。
In Table 1, the "voltage applied to the capacitor" and the "voltage of the power supply" are different from each other.
This is because the booster circuit is interposed between the high frequency power supply and the capacitor.

【0033】また、表1には、「参照図面」の欄が設け
られ、表1に示した各条件下での昇温カーブが、図3
(a)〜(c)、図4(a)および(b)ならびに図5
(a)および(b)のいずれに対応するかが明らかにさ
れている。
Further, Table 1 is provided with a column of "reference drawing", and the temperature rising curve under each condition shown in Table 1 is shown in FIG.
(A)-(c), FIG. 4 (a) and (b), and FIG.
It is clarified which of (a) and (b) corresponds.

【0034】表1および図3ないし図5に示すように、
条件1〜7のいずれにおいても、高周波電圧を印加して
から3秒間以内の時間で、コンデンサの温度は150℃
にまで達している。
As shown in Table 1 and FIGS. 3 to 5,
In any of the conditions 1 to 7, the temperature of the capacitor is 150 ° C within 3 seconds after applying the high frequency voltage.
Has reached.

【0035】しかしながら、特に注目すべきは、図3な
いし図5に示した昇温カーブである。
However, what should be particularly noted is the temperature rising curve shown in FIGS.

【0036】コンデンサに印加される高周波電圧の周波
数が40kHz〜400kHzの範囲にある条件1、
2、3、4および5によれば、それぞれ、図3(a)、
同(b)、同(c)、図4(a)および同(b)に示す
ように、150℃前後で比較的なだらかな形状になって
おり、温度制御を比較的行ないやすい昇温カーブを与え
ている。
Condition 1 in which the frequency of the high frequency voltage applied to the capacitor is in the range of 40 kHz to 400 kHz,
2, 3, 4 and 5, respectively, FIG.
As shown in (b), (c), FIG. 4 (a), and (b), the temperature rise curve has a comparatively gentle shape around 150 ° C., and temperature control is relatively easy to perform. I'm giving.

【0037】これに対して、コンデンサに印加される高
周波電圧の周波数が400kHzを超える条件6および
7では、それぞれ、図5(a)および同(b)に示すよ
うに、150℃前後での温度変化が激しく、温度制御を
行ないにくい昇温カーブとなっている。また、これら条
件6および7では、コンデンサの自己発熱が大きすぎる
ため、コンデンサを焼損させるおそれもある。
On the other hand, under the conditions 6 and 7 in which the frequency of the high-frequency voltage applied to the capacitor exceeds 400 kHz, as shown in FIGS. 5 (a) and 5 (b), respectively, the temperature around 150 ° C. The temperature rise curve has a large change and is difficult to control. Further, under these conditions 6 and 7, the self-heating of the capacitor is too large, so that the capacitor may be burnt out.

【0038】なお、コンデンサに印加される高周波電圧
の周波数が40kHz未満になると、コンデンサに10
0Vrmsを超える電圧を印加することになり、コンデ
ンサにダメージを与えるおそれがあり、あまり好ましく
ない。
When the frequency of the high frequency voltage applied to the capacitor is less than 40 kHz, the capacitor 10
A voltage exceeding 0 Vrms is applied, which may damage the capacitor, which is not preferable.

【0039】[0039]

【発明の効果】以上のように、この発明に係るコンデン
サの分極解放方法によれば、コンデンサに高周波電圧を
印加することによって、コンデンサを自己発熱させ、そ
れによって誘電体の分極状態を解放するようにしている
ので、たとえばオーブンを用いた場合のような外部から
の加熱に頼る場合に比べて、短時間で、コンデンサの温
度を所望の温度まで上昇させることができる。したがっ
て、コンデンサの分極解放処理に要する時間を短縮する
ことができる。
As described above, according to the method of depolarizing the capacitor of the present invention, by applying a high frequency voltage to the capacitor, the capacitor self-heats, thereby releasing the polarized state of the dielectric. Therefore, the temperature of the capacitor can be raised to a desired temperature in a shorter time as compared with the case of relying on external heating such as the case of using an oven. Therefore, the time required for the polarization release processing of the capacitor can be shortened.

【0040】また、従来のオーブン等の装置を用いる場
合に比べて、装置の小型化および省スペース化を図るこ
とができる。
Further, it is possible to reduce the size and space of the apparatus as compared with the case of using a conventional apparatus such as an oven.

【0041】また、この発明によれば、コンデンサの自
己発熱を利用するので、たとえばオーブンのような外部
加熱方式の場合に懸念される、発熱による外部周辺環境
への影響を最小限に留めることができる。
Further, according to the present invention, since the self-heating of the capacitor is utilized, it is possible to minimize the influence of the heat generation on the external surrounding environment, which is a concern in the case of an external heating system such as an oven. it can.

【0042】この発明に係るコンデンサの分極解放方法
において、コンデンサに印加される高周波電圧の周波数
を40kHz〜400kHzの範囲に選ぶと、コンデン
サの自己発熱によって上昇される温度の制御を容易に行
なうことができる。したがって、コンデンサの分極解放
処理を実施するにあたっての工程管理を簡素化すること
ができる。
In the capacitor depolarization method according to the present invention, when the frequency of the high frequency voltage applied to the capacitor is selected in the range of 40 kHz to 400 kHz, the temperature raised by the self-heating of the capacitor can be easily controlled. it can. Therefore, it is possible to simplify the process control when performing the polarization release processing of the capacitor.

【0043】この発明に係るコンデンサの測定選別方法
によれば、コンデンサの直流電圧印加下での耐電圧試験
を実施した後に、コンデンサに高周波電圧を印加するこ
とによって、コンデンサを自己発熱させるようにしてい
るので、耐電圧試験から分極解放処理までを一連の工程
で能率的に進めることができ、耐電圧試験と分極解放処
理とを別の工程の流れの下で行なう場合に比べて、時間
の短縮および作業性の向上を図ることができる。
According to the method of measuring and selecting a capacitor according to the present invention, a high-frequency voltage is applied to the capacitor after a withstand voltage test is performed on the capacitor so that the capacitor self-heats. Therefore, it is possible to efficiently proceed from the withstand voltage test to the polarization release process in a series of steps, and the time can be shortened compared to the case where the withstand voltage test and the polarization release process are performed under different process flows. And workability can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の一実施形態によるコンデンサの分極
解放方法を説明するための図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a method of depolarizing a capacitor according to an embodiment of the present invention.

【図2】この発明の一実施形態によるコンデンサの測定
選別方法を説明するためのもので、測定選別機8内にお
いて実施される工程を順次示す図である。
FIG. 2 is a view for explaining a method of measuring and sorting capacitors according to an embodiment of the present invention, and is a diagram sequentially showing steps performed in a measuring and sorting machine 8.

【図3】(a)は表1に示した条件1の場合のコンデン
サの昇温カーブを示し、(b)は同じく条件2の場合の
昇温カーブを示し、(c)は同じく条件3の場合の昇温
カーブを示す。
3A is a temperature rise curve of a capacitor under the condition 1 shown in Table 1, FIG. 3B is a temperature rise curve under the condition 2 of FIG. 3, and FIG. The temperature rising curve in the case is shown.

【図4】図3に対応する図であって、(a)は表1に示
した条件4の場合の昇温カーブを示し、(b)は同じく
条件5の場合の昇温カーブを示す。
FIG. 4 is a diagram corresponding to FIG. 3, in which (a) shows a temperature rising curve under the condition 4 shown in Table 1, and (b) shows a temperature rising curve under the same condition 5;

【図5】図3および図4に対応する図であって、(a)
は表1に示した条件6の場合の昇温カーブを示し、
(b)は同じく条件7の場合の昇温カーブを示す。
FIG. 5 is a view corresponding to FIGS. 3 and 4, and (a)
Shows the temperature rise curve under the condition 6 shown in Table 1,
Similarly, (b) shows a temperature rising curve under the condition 7.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 コンデンサ 2 誘電体 3,4 端子電極 5 高周波電源 8 測定選別機 10 耐電圧試験工程 11 高周波電圧印加工程 1 capacitor 2 dielectric 3,4 terminal electrode 5 high frequency power supply 8 measuring and sorting machine 10 Withstanding voltage test process 11 High-frequency voltage application process

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 分極状態にある誘電体および前記誘電体
に関連して形成された静電容量を取り出すための端子電
極を備えるコンデンサを用意する工程と、 前記端子電極を介して前記コンデンサに高周波電圧を印
加することによって、前記コンデンサを自己発熱させる
工程とを備える、コンデンサの分極解放方法。
1. A step of preparing a capacitor having a dielectric in a polarized state and a terminal electrode for taking out a capacitance formed in relation to the dielectric, and a high frequency to the capacitor via the terminal electrode. A method of depolarizing a capacitor, which comprises causing the capacitor to self-heat by applying a voltage.
【請求項2】 印加される前記高周波電圧は、40kH
z〜400kHzの範囲の周波数領域内の周波数を有す
る、請求項1に記載のコンデンサの分極解放方法。
2. The applied high frequency voltage is 40 kH
The method of depolarizing a capacitor according to claim 1, having a frequency within a frequency range of z to 400 kHz.
【請求項3】 印加される前記高周波電圧は、前記コン
デンサの共振周波数以下の周波数を有する、請求項1ま
たは2に記載のコンデンサの分極解放方法。
3. The capacitor depolarization method according to claim 1, wherein the applied high frequency voltage has a frequency equal to or lower than a resonance frequency of the capacitor.
【請求項4】 前記コンデンサは、直流電圧印加下での
耐電圧試験を実施した後のものである、請求項1ないし
3のいずれかに記載のコンデンサの分極解放方法。
4. The method of depolarizing a capacitor according to claim 1, wherein the capacitor is after a withstand voltage test under application of a DC voltage.
【請求項5】 耐電圧特性を測定し、その結果に基づい
て、コンデンサを選別するための方法であって、 まず、前記コンデンサの直流電圧印加下での耐電圧試験
を実施し、 次いで、前記コンデンサに前記端子電極を介して高周波
電圧を印加することによって、前記コンデンサを自己発
熱させる、各工程を備える、コンデンサの測定選別方
法。
5. A method for measuring a withstand voltage characteristic and selecting a capacitor based on the result, wherein first, a withstand voltage test is performed on the capacitor under application of a direct current voltage, and then, A method for measuring and selecting a capacitor, comprising the steps of causing the capacitor to self-heat by applying a high-frequency voltage to the capacitor via the terminal electrode.
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