JP2003094279A - 被加工物供給装置、及び被加工物供給方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ティーチングが不要で被加工物の移送を自動
的に行うことができる被加工物供給装置、及び被加工物
供給方法を提供する。 【解決手段】 木箱４１内の任意位置に載置されている
芯取り前レンズを取り上げ、レンズに芯取り加工を施す
ための位置であり位置座標が既知な中間位置Ｐ３へレン
ズを移送して供給し、芯取り加工が完了したレンズを中
間位置Ｐ３から取り上げ、レンズに他の加工を施すため
に収納するヤトイ５１に移送し、ヤトイ５１に設けられ
たヤトイ穴の上に載置させる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、レンズ等の被加工
物をある位置から他の位置へ移送して供給するための被
加工物供給装置、及び被加工物供給方法に関するもので
ある。

【０００２】

【従来の技術】従来、光学素材の加工において、例えば
レンズを作製する場合には、クラウン系ガラス、フリン
ト系ガラス等の光学ガラスを含む光学材料からなる光学
素材に、素材取り、レンズ面加工、レンズ外径加
工の順で加工を施す。素材取り加工は、レンズ１個分の
光学材料を粗成形し、加工を施すべき光学素材を得る工
程である。また、レンズ面加工は、粗加工、スムー
ジング、磨き（ポリッシング）の順で行われる。

【０００３】レンズ外径加工は、「芯取り加工」とも呼
ばれ、上記したレンズ面加工の最後の磨き工程が終了
し、レンズ状に研磨加工された光学素材（以下、「芯取
り前レンズ」という。）を「芯取機」と呼ばれる円筒研
削機の所定位置まで移送した後、所定の治具に装着し、
芯取機における円筒状の研削加工の中心軸とレンズの光
軸とを一致させる「心出し」を行い、心出しされたレン
ズの外径部分のうちの不要部分を砥石等によって削除し
所定の直径のレンズを得るための工程である。したがっ
て、レンズ加工の第１段階である素材取りでは、設計上
の直径値に芯取りのための余裕しろを見込んだ大きな直
径に加工されている。上記の芯取り工程では、レンズの
外径形状を適正な形状に削り出すほか、レンズ外径部の
面取り、正面取りなども併せて行われる。

【０００４】従来は、レンズ面加工の最後の磨き工程が
終了した芯取り前レンズは、木箱等の中の任意の位置
（以下、「第１位置」という。）にランダムな状態で載
置されていた。この状態の芯取り前レンズは、吸着パッ
ド等を有するレンズ供給装置により吸着され、芯取機の
所定位置（以下、「中間位置」という。）に移送され、
芯取機に供給されていた。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】上記の供給装置におい
ては、中間位置の位置座標は、あらかじめ計測され既知
である。しかし、木箱等の中における芯取り前レンズの
第１位置は、その都度異なり、未知である。したがっ
て、従来は、木箱の中の芯取り前レンズの個々につい
て、その位置座標を計測し、レンズ供給装置のデータ入
力装置等に入力して内部の記憶装置等に記憶させる作業
（以下、「ティーチング」という。）を行っていた。し
かし、このティーチング作業は、煩雑であり、手間と時
間のかかる作業であり、レンズの製造コストの低減のた
めにもその改善が望まれていた。

【０００６】本発明は上記した問題を解決するためにな
されたものであり、本発明の解決しようとする課題は、
ティーチングが不要で被加工物の移送を自動的に行うこ
とができる被加工物供給装置、及び被加工物供給方法を
提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明に係る被加工物供給装置は、供給用容器内の
任意位置に載置されている前記被加工物を保持し又は離
脱可能な保持手段と、前記供給用容器内の前記被加工物
の位置である第１位置の座標である第１位置座標を計測
可能な第１測位手段と、前記被加工物に第１加工を施す
第１加工装置の位置である中間位置の位置座標を記憶す
る記憶手段と、前記被加工物に第２加工を施すために収
納する収納用部材に設けられるとともに前記被加工物の
外径よりも小さな内径を有する載置用凹部の位置である
第２位置の座標である第２位置座標を計測可能な第２測
位手段と、前記保持手段又は第１測位手段若しくは第２
測位手段を移動可能な移動手段と、前記移動手段により
前記第１測位手段を前記供給用容器内の前記第１位置の
近傍に移動させて前記第１位置座標を計測させ、前記移
動手段により前記保持手段を前記第１位置に移動させて
前記被加工物を保持させ、前記移動手段により前記保持
手段を前記中間位置に移動させた後に前記被加工物を離
脱させることにより前記被加工物を前記中間位置に載置
させ、前記第１加工が完了した被加工物が前記中間位置
に戻った場合には、前記移動手段により前記第２測位手
段を前記第２位置の近傍に移動させて前記第２位置座標
を計測させ、前記移動手段により前記保持手段を前記中
間位置に移動させて前記被加工物を保持させ、前記移動
手段により前記保持手段を前記第２位置に移動させて前
記被加工物を離脱させることにより前記被加工物を前記
載置用凹部の上に載置させるように制御する制御手段を
備えたことを特徴とする。

【０００８】上記の被加工物供給装置において、好まし
くは、位置座標が既知な位置決め位置に設置され、載置
された前記被加工物の中心位置を前記位置決め位置に一
致させる位置決め手段を備え、前記記憶手段は、前記位
置決め位置の位置座標を記憶し、前記制御手段は、前記
第１加工が完了した被加工物を前記中間位置から前記載
置用凹部へ移動させるに先立ち、前記被加工物を前記移
動手段により前記中間位置から前記位置決め手段の上に
移動させて載置させ、前記位置決め手段により前記被加
工物の中心位置を前記位置決め位置に一致させた後に、
前記載置用凹部へ移動させるよう制御する。

【０００９】また、上記の被加工物供給装置において、
好ましくは、前記保持手段は、吸気により負圧を発生さ
せて前記被加工物を吸着し、又は排気により前記負圧を
解消させて前記被加工物を離脱させる吸着手段である。

【００１０】また、上記の被加工物供給装置において、
好ましくは、前記保持手段は、駆動源により駆動される
把持部材により前記被加工物を把持又は離脱させるチャ
ッキング手段である。

【００１１】また、上記の被加工物供給装置において、
好ましくは、前記第１測位手段は、光波又は音波を含む
第１計測用波を送出する第１送波手段と、前記第１計測
用波が反射されて戻ってきた第１反射波を受けて検出す
る第１受波手段を有し、前記制御手段は、前記移動手段
により前記第１測位手段を前記供給用容器内の前記第１
位置の近傍に移動させた後、前記移動手段により前記第
１測位手段を第１走査線に沿って移動させつつ前記第１
計測用波の送出と前記第１反射波の検出を行う第１走査
を行わせ、前記第１反射波を検出した反射位置と前記第
１反射波を検出しなかった無反射波位置を検出し、次い
で、前記移動手段により前記第１測位手段を前記第１走
査線に直角な方向となる第２走査線に沿って移動させつ
つ前記第１計測用波の送出と前記第１反射波の検出を行
う第２走査を行わせ、前記反射位置と無反射位置を検出
し、これらの位置座標に基づき前記第１位置座標を演算
する。

【００１２】また、上記の被加工物供給装置において、
好ましくは、前記被加工物が凸レンズ状の形状を有する
場合には、前記制御手段は、前記第１走査時には、前記
反射波を検出するまで走査を行い、次いで前記反射波が
検出されなくなった位置を第１無反射位置とし、次いで
前記第１走査線を逆方向に走査し前記反射波が検出され
なくなった位置を第２無反射位置とし、前記第１走査線
上で前記第１無反射位置と前記第２無反射位置の中点で
ある第１中点を求め、前記第２走査時には、前記第１中
点を通る垂直線を前記第２走査線として走査を行い、次
いで前記反射波が検出されなくなった位置を第３無反射
位置とし、次いで前記第２走査線を逆方向に走査し前記
反射波が検出されなくなった位置を第４無反射位置と
し、前記第２走査線上で前記第３無反射位置と前記第４
無反射位置の中点である第２中点を求め、前記第１中点
の位置座標と前記第２中点の位置座標に基づき前記第１
位置座標を設定する。

【００１３】また、上記の被加工物供給装置において、
好ましくは、前記被加工物が凹レンズ状の形状を有する
場合には、前記制御手段は、前記第１走査時には、前記
反射位置と前記無反射位置の組み合わせにより、前記第
１走査線上の前記凹レンズの２つの外縁の位置を検出
し、前記第１走査線上で前記２つの外縁の位置の中点で
ある第３中点を求め、前記第２走査時には、前記第３中
点を通る垂直線を前記第２走査線として走査を行い、次
いで前記反射位置と前記無反射位置の組み合わせによ
り、前記第２走査線上の前記凹レンズの２つの外縁の位
置を検出し、前記第２走査線上で前記２つの外縁の位置
の中点である第４中点を求め、前記第３中点の位置座標
と前記第４中点の位置座標に基づき前記第１位置座標を
設定する。

【００１４】また、上記の被加工物供給装置において、
好ましくは、前記位置決め手段は、前記被加工物の外縁
を拘束可能な拘束用縁を有する１対の移動部材を接近さ
せ前記被加工物を拘束することにより、前記被加工物の
中心位置を前記位置決め位置に一致させる。

【００１５】また、上記の被加工物供給装置において、
好ましくは、前記第２測位手段は、光波又は音波を含む
第２計測用波を送出する第２送波手段と、前記第２計測
用波が反射されて戻ってきた第２反射波を受けて検出す
る第２受波手段を有する凹部検出手段を備え、前記制御
手段は、前記移動手段により前記凹部検出手段を前記収
納用部材の前記載置用凹部の近傍に移動させた後、前記
移動手段により前記凹部検出手段を第３走査線に沿って
移動させつつ前記第２計測用波の送出と前記第２反射波
の検出を行う第３走査を行わせ、前記第２反射波の検出
の有無の境界位置を前記載置用凹部の内縁位置であると
第１次近似判別を行い、２つの内縁位置に基づき前記第
２位置の第１近似位置を演算する。

【００１６】また、上記の被加工物供給装置において、
好ましくは、前記第２測位手段は、前記載置用凹部の中
に挿入可能な押圧部を有して圧力が検出可能であるとと
もに前記移動手段により移動可能な構成を有する圧力検
出手段を備え、前記制御手段は、前記第１次近似判別の
後、前記移動手段により前記圧力検出手段を前記第２位
置の第１近似位置に移動させた後、前記押圧部により前
記第１近似位置を押圧させ、圧力が検出されない場合に
は、当該位置は凹部であると第２次近似判別を行う。

【００１７】また、上記の被加工物供給装置において、
好ましくは、前記第２測位手段は、円柱状に形成される
とともに、前記載置用凹部の上部で係止可能な円錐部が
前記円柱の下端に形成され、かつ支持部材により支持さ
れる検出部材を有する誤差検出手段と、第１光波を送出
する第１発光部と、前記第１光波を受けて検出する第１
受光部を有する第１光センサと、第２光波を送出する第
２発光部と、前記第２光波を受けて検出する第２受光部
を有するとともに、前記第１光センサに対し前記円柱の
直径より第１微少距離だけ大きな距離だけ離れた位置に
配置されて第１検出対を構成する第２光センサと、第３
光波を送出する第３発光部と、前記第３光波を受けて検
出する第３受光部を有するとともに、前記第１光センサ
の光軸に対し垂直な光軸を有する第３光センサと、第４
光波を送出する第４発光部と、前記第４光波を受けて検
出する第４受光部を有するとともに、前記第３光センサ
に対し前記円柱の直径より第２微少距離だけ大きな距離
だけ離れた位置に配置されて第２検出対を構成する第４
光センサを有する第２位置検出手段を備え、前記制御手
段は、前記第２次近似判別の後、前記移動手段により前
記誤差検出手段を前記第２位置の第１近似位置に移動さ
せた後、前記円錐部を前記載置用凹部の上部で係止さ
せ、前記各検出対のうち、一方の光センサで光波が検出
され他方の光センサで光波が検出されなかった場合に
は、光波が検出されなかった光センサから光波が検出さ
れた光センサに向かう方向に、前記誤差検出手段を第３
微少距離だけ移動させる手順を繰り返し、４つの光セン
サすべてにおいて光波が検出された場合には、当該状態
での誤差検出手段の中心位置の位置座標を前記第２位置
座標と設定する。

【００１８】また、本発明に係る被加工物供給方法は、
供給用容器内の任意位置に載置されている前記被加工物
を保持し又は離脱可能な保持手段と、前記供給用容器内
の前記被加工物の位置である第１位置の座標である第１
位置座標を計測可能な第１測位手段と、前記被加工物に
第１加工を施す第１加工装置の位置である中間位置の位
置座標を記憶する記憶手段と、前記被加工物に第２加工
を施すために収納する収納用部材に設けられるとともに
前記被加工物の外径よりも小さな内径を有する載置用凹
部の位置である第２位置の座標である第２位置座標を計
測可能な第２測位手段と、前記保持手段又は第１測位手
段若しくは第２測位手段を移動可能な移動手段と、制御
手段を設け、前記制御手段を用いて、前記移動手段によ
り前記第１測位手段を前記供給用容器内の前記第１位置
の近傍に移動させて前記第１位置座標を計測させ、前記
移動手段により前記保持手段を前記第１位置に移動させ
て前記被加工物を保持させ、前記移動手段により前記保
持手段を前記中間位置に移動させた後に前記被加工物を
離脱させることにより前記被加工物を前記中間位置に載
置させ、前記第１加工が完了した被加工物が前記中間位
置に戻った場合には、前記移動手段により前記第２測位
手段を前記第２位置の近傍に移動させて前記第２位置座
標を計測させ、前記移動手段により前記保持手段を前記
中間位置に移動させて前記被加工物を保持させ、前記移
動手段により前記保持手段を前記第２位置に移動させて
前記被加工物を離脱させることにより前記被加工物を前
記載置用凹部の上に載置させるように制御することを特
徴とする。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態につい
て、図面を参照しながら詳細に説明する。図１は、本発
明の一実施形態であるレンズ供給装置の全体構成を示す
ブロック図である。

【００２０】図１に示すように、このレンズ供給装置１
００は、制御部１と、移動部２と、保持・センサ部３
と、レンズ供給部４と、レンズ収納部５と、位置決め部
６を備えて構成されている。レンズ供給装置１００は、
特許請求の範囲における被加工物供給装置に相当してい
る。また、このレンズ供給装置１００の近傍には、芯取
機２００が配置されている。

【００２１】このレンズ供給装置１００は、レンズ供給
部４内の任意位置である第１位置Ｐ１に載置されている
芯取り前レンズ（Ｌ１、後述。）を保持・センサ部３の
吸着部（３１、後述。）で取り上げ、この芯取り前レン
ズに芯取り加工を施す芯取機２００の既知の位置である
中間位置Ｐ３へ芯取り前レンズを移送して供給し、芯取
り加工が完了した芯取り後レンズ（Ｌ２、後述。）を、
芯取機２００の中間位置Ｐ３から取り上げ、位置決め部
６に移送して位置決め位置Ｐ４に位置決めし、次いで、
位置決め位置Ｐ４から取り上げ、芯取り後レンズ（Ｌ
２、後述。）にコーティング等の加工を施すために収納
するヤトイ（５１、後述。）の第２位置Ｐ２に設けられ
たヤトイ穴（５１ａ、後述。）へ移送し、ヤトイ穴の上
に載置させるための装置である。

【００２２】ここに、芯取り前レンズ（Ｌ１、後述。）
と芯取り後レンズ（Ｌ２、後述。）は、特許請求の範囲
における被加工物に相当している。また、芯取り加工
は、特許請求の範囲における第１加工に相当している。
また、コーティング等の加工は、特許請求の範囲におけ
る第２加工に相当している。また、ヤトイ（５１、後
述。）は、特許請求の範囲における収納用部材に相当し
ている。また、ヤトイ穴（５１ａ、後述。）は、特許請
求の範囲における載置用凹部に相当している。

【００２３】以下、本装置１００のさらに詳細な構成と
作用について説明する。図２は、このレンズ供給装置１
００における平面的位置関係を示す図である。図２に示
すように、レンズ供給部４には、木箱４１が納められて
いる。木箱４１は、上部が開放された箱形に形成された
部材である。木箱４１の内部の底面上の任意の位置であ
る第１位置Ｐ１には、芯取り前レンズＬ１が載置されて
いる。この第１位置Ｐ１の位置座標は未知である。木箱
４１は、特許請求の範囲における供給用容器に相当して
いる。また、図２において図示はされていないが、レン
ズ供給部４の下方には、レンズ収納部（５、後述。）が
配置されている。

【００２４】芯取機２００は、レンズ供給装置１００に
隣接する位置に配置されており、コンベア２０１が設け
られている。コンベア２０１の上には、搬送用部材２０
２が複数個載置されており、コンベア２０１に駆動され
図の矢印方向に移動するようになっている。搬送用部材
２０２は、例えば、皿状の部材であり、その上に芯取り
前レンズＬ１を載せ、芯取り加工の位置まで搬送するた
めの部材である。図２における位置Ｐ３は、中間位置で
あり、その位置座標は、測定等によって既知となってい
る。また、レンズ供給部４と芯取機２００の近傍位置に
は、位置決め部６が配置されている。位置決め部６の詳
細な構成と作用については後述する。位置決め部６にお
ける位置Ｐ４は、位置決め位置である。

【００２５】なお、レンズ供給部４と芯取機２００の中
間には、移動部２によって駆動される保持・センサ部３
が設けられているが、図２においては、図示が省略され
ている。保持・センサ部３は、移動部２の駆動により、
図２におけるＸ方向又はその逆方向、あるいはＹ方向又
はその逆方向に移動可能な構成となっている。

【００２６】図３は、このレンズ供給装置１００におけ
る移動部２の構成を示す図である。図３の左右方向は、
図２におけるＹ方向となっている。また、図３の紙面の
手前から奥に向かう方向又はその逆方向は、図２におけ
るＸ方向となっている。

【００２７】図３に示すように、移動部２は、レンズ供
給部４とレンズ収納部５の近傍に配置されており、板状
又は骨組状の底部フレーム２０と、底部フレーム２０の
４隅角部に立設された支柱部材２１と、支柱部材２１の
上部を水平に連結する水平部材２２と、２つの水平部材
の上に架設されたビーム部材２３と、ビーム部材２３に
組み込まれてビーム部材２３の長手方向（Ｙ方向）に沿
って移動可能に構成されたアーム部２５を有して構成さ
れている。また、アーム部２５の先端付近には、保持・
センサ部３が取り付けられているが、図３においては図
示が省略されている。

【００２８】ビーム部材２３の図３における左右両端付
近の底部には、走行車輪２４が設けられている。これに
より、ビーム部材２３は、水平部材２２の上をＸ方向
（図３の紙面の手前から奥に向かう方向又はその逆方
向）に走行可能となっている。また、ビーム部材２３を
駆動する駆動源としては、図示はしていないが、走行車
輪２４の車軸を回転駆動可能な電動モータや伝動機構、
ビーム部材２３をＸ方向に直線移動させる直線的移動機
構等が採用可能である。伝動機構としては、歯車機構、
チェーン車機構、ベルト車機構等や、これらの適宜の組
み合わせ等が採用可能である。また、直線的移動機構と
しては、油圧シリンダ、空気圧シリンダ、電磁ソレノイ
ド、リニアモーター、ラック・ピニオン機構、スライダ
・クランク機構、多重ねじ機構等が採用可能である。上
記のような構成により、アーム部２５は、図３における
Ｙ方向の直角方向（Ｘ方向）に移動可能となっている。

【００２９】図４は、このレンズ供給装置１００におけ
るアーム部２５と保持・センサ部３の構成を示す図であ
る。図４（Ａ）に示すように、アーム部２５は、センサ
類取付部２５ａと、スリット挿通部２５ｂと、走行部２
５ｃを有している。

【００３０】センサ類取付部２５ａは、アーム部２５の
先端付近であり、後述する保持・センサ部３が取り付け
られる部分である。また、スリット挿通部２５ｂは、セ
ンサ類取付部２５ａと後述する走行部２５ｃを連結する
部分であり、ビーム部材２３に設けられたスリット（細
長い開口）２３ｂに挿通されている。また、走行部２５
ｃは、ビーム部材２３の内部に設けられた空洞部２３ａ
に収容可能な断面形状を有する部分である。空洞部２３
ａは、ビーム部材２３の長手方向（Ｙ方向）に沿って延
びる空洞である。また、スリット２３ｂは、ビーム部材
２３の長手方向（Ｙ方向）に沿って延びる開口であり、
空洞部２３ａと連通している。

【００３１】また、走行部２５ｃの底部には、走行車輪
２５ｄが設けられている。これにより、走行部２５ｃ
は、空洞部２３ａの底面の上をＹ方向（図４（Ａ）の紙
面の手前から奥に向かう方向又はその逆方向）に走行可
能となっている。この走行部２５ｃを駆動する駆動源と
しては、図示はしていないが、走行車輪２５ｄの車軸を
回転駆動可能な電動モータや伝動機構、走行部２５ｃを
Ｙ方向に直線移動させる直線的移動機構等が採用可能で
ある。伝動機構、直線的移動機構としては、ビーム部材
２３において説明したものが採用可能である。

【００３２】上記のような構成により、アーム部２５
は、図３におけるＹ方向に移動可能となっている。上記
した移動部２は、特許請求の範囲における移動手段に相
当している。なお、移動部２において、走行車輪２４や
２５ｄを設けず、単に摺動させるだけの構成としてもよ
い。

【００３３】図４（Ｂ）は、図４（Ａ）におけるＡ−Ａ
方向から見た図である。図４（Ｂ）に示すように、アー
ム部２５の先端付近のセンサ類取付部２５ａには、保持
・センサ部３が取り付けられている。保持・センサ部３
は、吸着部３１と、第２位置検出部３２と、ヤトイ穴検
出部３３と、圧力検出部３４と、第１位置用光センサ部
３５と、第１位置用超音波センサ部３６を有している。

【００３４】上記した吸着部３１と、第２位置検出部３
２と、ヤトイ穴検出部３３と、圧力検出部３４と、第１
位置用光センサ部３５と、第１位置用超音波センサ部３
６は、図５に示すセンサ類移動機構３７を介してアーム
部２５のセンサ類取付部２５ａに取り付けられている。

【００３５】センサ類移動機構３７は、図５に示すよう
に、移動機構本体３７ａと取付部３７ｂを有している。
移動機構本体３７ａには、上記した直線的移動機構と同
様な機構が内蔵されている。取付部３７ｂは、移動機構
本体３７ａをセンサ類取付部２５ａに固定する部分であ
る。

【００３６】上記のような構成により、保持・センサ部
３の吸着部３１と、第２位置検出部３２と、ヤトイ穴検
出部３３と、圧力検出部３４と、第１位置用光センサ部
３５と、第１位置用超音波センサ部３６は、センサ類移
動機構３７により、レンズ供給部４の上方からレンズ供
給部４に接近し、又は遠ざかるような上下移動ができる
ようになっている。

【００３７】図６は、上記のレンズ供給装置１００にお
ける制御部１の構成を示す図である。図６に示すよう
に、制御部１は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅ
ｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ：中央演算処理装置）１１と、Ｒ
ＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ：読出し専用
メモリ）１２と、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ
Ｍｅｍｏｒｙ：随時書込み読出しメモリ）１３と、イン
タフェース１４及び１５と、入力部１６と、出力部１７
を有している。

【００３８】上記したＣＰＵ１１は、このレンズ供給装
置１００の各部と信号線（図示せず）で接続され、これ
らを統括制御し、各種演算やプログラム実行等の処理を
行う部分であり、特許請求の範囲における制御手段に相
当している。また、ＲＯＭ１２は、ＣＰＵ１１の実行す
るプログラムや既知データ等を格納した記憶装置であ
る。上述した既知の中間位置Ｐ３の位置座標、例えばＸ
Ｙ座標系での座標（Ｘ３，Ｙ３）や、位置決め位置Ｐ４
の位置座標、例えばＸＹ座標系での座標（Ｘ４，Ｙ
４）、あるいは、移動部２の座標原点の位置座標、移動
部２における各センサ類等の位置座標等は、ＲＯＭ１２
に記憶されている。このＲＯＭ１２のかわりにハードデ
ィスク又は他の形式の記憶装置（図示せず）を用いても
よく、これらの記憶装置は読出し専用のものだけでなく
１回又は複数回書込み可能なものであってもよい。さら
に他の形態の記憶装置、例えば、他の半導体記憶装置、
磁気ディスク、光ディスク等を記憶装置として用いても
よい。

【００３９】また、ＲＡＭ１３は、ＣＰＵ１１により演
算されたデータ等を一時記憶する記憶装置である。上述
した未知の第１位置Ｐ１の位置座標、例えばＸＹ座標系
での座標（Ｘ１，Ｙ１）や、第２位置Ｐ２の位置座標、
例えばＸＹ座標系での座標（Ｘ２，Ｙ２）は、後述する
センサ類によって計測され、ＲＡＭ１３にデータとして
記憶される。このＲＡＭ１３のかわりにハードディスク
又は他の形式の記憶装置を用いてもよい。ＲＯＭ図６に
おける符号Ｓ１〜Ｓ４は、制御部１における信号の流れ
を示している。上記したＲＯＭ１２とＲＡＭ１３は、特
許請求の範囲における記憶手段に相当している。

【００４０】入力部１６としては、各種スイッチ、キー
ボード、マウス等が採用可能である。また、出力部１７
としては、ＣＲＴ（陰極線管）や液晶表示装置等の画像
表示装置、出力端子等が採用可能である。

【００４１】また、上記した制御部１は、ハードウェ
ア、又はプログラム内のソフトウェアで構成された図示
しないタイマー（計時手段）を有しており、処理のため
の所定期間が経過したか否かを判別することができるよ
うに構成されている。

【００４２】次に、第１位置用光センサ部３５の構成と
作用について説明する。図７は、保持・センサ部３にお
ける第１位置用光センサ部３５の構成と作用を説明する
図である。図７（Ａ）に示すように、第１位置用光セン
サ部３５は、発光部３５ａと受光部３５ｂを有してい
る。発光部３５ａは、発光ダイオード（ＬＥＤ）等を有
しており、レーザ光Ｗ１を発射する。レーザ光Ｗ１は、
例えば芯取り前レンズＬ１によって反射され、レーザ光
Ｗ２となって戻る。受光部３５ｂは、フォト・ダイオー
ド等の光検出器を有しており、受光した光によって電気
信号（以下、「光検出信号」という。）を出力する。こ
こに、第１位置用光センサ３５は、特許請求の範囲にお
ける第１測位手段に相当しており、発光部３５ａは、特
許請求の範囲における第１送波手段に相当しており、受
光部３５ｂは、特許請求の範囲における第１受波手段に
相当している。また、レーザ光Ｗ１は、特許請求の範囲
における第１計測用波に相当しており、レーザ光Ｗ２
は、特許請求の範囲における第１反射波に相当してい
る。

【００４３】次に、第１位置用光センサ部３５を用い
て、芯取り前レンズＬ１のＹ方向の中心位置、すなわ
ち、第１位置のＹ座標Ｙ１を求める方法について、図７
（Ｂ）を参照しながら詳細に説明する。この場合は、芯
取り前レンズＬ１が凸レンズ状の形状をしている場合に
ついて説明している。

【００４４】まず、ＣＰＵ１１は、移動部２に制御信号
を出力して、アーム部２５（図３参照）をＹ方向のある
直線（以下、「第１走査線」という。）に沿って移動さ
せながら、第１位置用光センサ部３５に制御信号を出力
し、レーザ光Ｗ１を発射させる（図７（Ｂ）における
参照）。これにより、レーザ光Ｗ１の照射点が芯取り前
レンズＬ１の中央付近（図７（Ｂ）における点Ｐ１付
近）になると、レンズ表面は、ほぼ平面状となるので、
反射光が受光部３５ｂに戻るため、受光部３５ｂは光検
出信号を出力する。ＣＰＵ１１は、この光検出信号が出
力されたことを判別すると、「現在位置付近に芯取り前
レンズが存在する」と判別する。

【００４５】次に、ＣＰＵ１１は、移動部２に制御信号
を出力して、アーム部２５（図３参照）を第１走査線に
沿って、同じ方向にさらに移動させる（図７（Ｂ）にお
ける参照）。この結果、ある照射点Ｒ１１に到達する
と、レンズ表面は平面状から離れてくるので、反射光は
受光部３５ｂにほとんど戻らなくなる。このため、受光
部３５ｂは光検出信号を出力しなくなる。ＣＰＵ１１
は、光検出信号が出力されないことを判別すると、「現
在位置は第１無反射位置である」と判別し、現在の照射
位置Ｒ１１のＹ座標Ｙ１１を演算し、ＲＡＭ１３に記憶
させる。ＣＰＵ１１は、次に、移動部２に制御信号を出
力して、アーム部２５（図３参照）を、第１走査線の逆
方向に移動させる（図７（Ｂ）における参照）。

【００４６】この結果、点Ｐ１を通過し、さらに戻った
ある照射点Ｒ１２に到達すると、レンズ表面は再び平面
状から離れてくるので、反射光は受光部３５ｂにほとん
ど戻らなくなる。このため、受光部３５ｂは光検出信号
を出力しなくなる。ＣＰＵ１１は、光検出信号が出力さ
れないことを判別すると、「現在位置は第２無反射位置
である」と判別し、現在の照射位置Ｒ１２のＹ座標Ｙ１
２を演算し、ＲＡＭ１３に記憶させる。その後、ＣＰＵ
１１は、第１無反射位置Ｒ１１と第２無反射位置Ｒ１２
の中点（以下、「第１中点」という。）の位置座標、す
なわち、Ｙ座標Ｙ１＝（Ｙ１１＋Ｙ１２）／２を、ＲＡ
Ｍ１３に記憶させる。上記した、、の一連の走査
は、特許請求の範囲における第１走査に相当している。

【００４７】次に、第１位置用超音波センサ部３６の構
成と作用について説明する。図８は、保持・センサ部３
における第１位置用超音波センサ部３６の構成と作用を
説明する図である。図８（Ａ）に示すように、第１位置
用超音波センサ部３６は、送信部３６ａと受信部３６ｂ
を有している。送信部３６ａは、水晶振動子等を有して
おり、超音波Ｗ３を発射する。超音波Ｗ３は、例えば芯
取り前レンズＬ１によって反射され、超音波Ｗ４となっ
て戻る。受信部３６ｂは、水晶振動子等の検出器を有し
ており、受信した超音波によって電気信号（以下、「超
音波検出信号」という。）を出力する。ここに、第１位
置用超音波センサ３６は、特許請求の範囲における第１
測位手段に相当しており、発信部３６ａは、特許請求の
範囲における第１送波手段に相当しており、受信部３６
ｂは、特許請求の範囲における第１受波手段に相当して
いる。また、超音波Ｗ３は、特許請求の範囲における第
１計測用波に相当しており、超音波Ｗ４は、特許請求の
範囲における第１反射波に相当している。

【００４８】次に、第１位置用超音波センサ部３６を用
いて、芯取り前レンズＬ１のＸ方向の中心位置、すなわ
ち、第１位置のＸ座標Ｘ１を求める方法について、図８
（Ｂ）を参照しながら詳細に説明する。この場合は、芯
取り前レンズＬ１が凸レンズ状の形状をしている場合に
ついて説明している。

【００４９】まず、ＣＰＵ１１は、移動部２に制御信号
を出力して、アーム部２５（図３参照）を移動させ、第
１位置用超音波センサ部３６の超音波照射位置のＹ座標
がＹ１となるようにする。次に、移動部２に制御信号を
出力して、アーム部２５（図３参照）を、座標Ｙ１の点
からＸ方向に向かう直線（以下、「第２走査線」とい
う。）に沿って移動させながら、第１位置用超音波セン
サ部３６に制御信号を出力し、超音波Ｗ３を発射させる
（図８（Ｂ）における´参照）。これにより、超音波
Ｗ３の照射点が芯取り前レンズＬ１の中央付近（図８
（Ｂ）における点Ｐ１付近）になると、レンズ表面は、
ほぼ平面状となるので、反射した超音波が受信部３６ｂ
に戻るため、受信部３６ｂは超音波検出信号を出力す
る。

【００５０】次に、ＣＰＵ１１は、移動部２に制御信号
を出力して、アーム部２５（図３参照）を第２走査線に
沿って、同じ方向にさらに移動させる（図８（Ｂ）にお
ける´参照）。この結果、ある照射点Ｒ１３に到達す
ると、レンズ表面は平面状から離れてくるので、反射し
た超音波は受信部３６ｂにほとんど戻らなくなる。この
ため、受信部３６ｂは超音波検出信号を出力しなくな
る。ＣＰＵ１１は、超音波検出信号が出力されないこと
を判別すると、「現在位置は第３無反射位置である」と
判別し、現在の照射位置Ｒ１３のＸ座標Ｘ１３を演算
し、ＲＡＭ１３に記憶させる。ＣＰＵ１１は、次に、移
動部２に制御信号を出力して、アーム部２５（図３参
照）を、第２走査線の逆方向に移動させる（図８（Ｂ）
における´参照）。

【００５１】この結果、点Ｐ１を通過し、さらに戻った
ある照射点Ｒ１４に到達すると、レンズ表面は再び平面
状から離れてくるので、反射した超音波は受信部３６ｂ
にほとんど戻らなくなる。このため、受信部３６ｂは超
音波検出信号を出力しなくなる。ＣＰＵ１１は、超音波
検出信号が出力されないことを判別すると、「現在位置
は第４無反射位置である」と判別し、現在の照射位置Ｒ
１４のＸ座標Ｙ１４を演算し、ＲＡＭ１３に記憶させ
る。その後、ＣＰＵ１１は、第３無反射位置Ｒ１３と第
４無反射位置Ｒ１４の中点（以下、「第２中点」とい
う。）の位置座標、すなわち、Ｘ座標Ｘ１＝（Ｘ１３＋
Ｘ１４）／２を、ＲＡＭ１３に記憶させる。上記した
´、´、´の一連の走査は、特許請求の範囲におけ
る第２走査に相当している。

【００５２】上記の結果、ＣＰＵ１１は、第１位置Ｐ１
の位置座標、例えばＸＹ座標系での座標（Ｘ１，Ｙ１）
を求め、ＲＡＭ１３に記憶させる。

【００５３】次に、上記した第１位置用光センサ部３５
と第１位置用超音波センサ部３６を用いて、凹レンズ状
の芯取り前レンズＬ１´の中心位置、すなわち、第１位
置の位置座標を求める方法について、図９を参照しなが
ら詳細に説明する。

【００５４】この場合には、ＣＰＵ１１は、第１走査時
には、図９（Ａ）に示すように、反射位置と無反射位置
の組み合わせにより、第１走査線上の凹レンズＬ１´の
２つの外縁の位置Ｅ１とＥ２を検出し、第１走査線上で
２つの外縁の位置Ｅ１とＥ２の中点である第３中点ＣＹ
を求める。図示はしていないが、第２走査時には、第１
走査の場合と同様にして、ＣＰＵ１１は、第３中点ＣＹ
を通る垂直線を第２走査線として走査を行い、次いで反
射位置と無反射位置の組み合わせにより、第２走査線上
の凹レンズＬ１´の２つの外縁の位置を検出し、第２走
査線上で２つの外縁の位置の中点である第４中点を求
め、第３中点の位置座標と第４中点の位置座標に基づき
第１位置座標を設定し、ＲＡＭ１３に記憶させる。

【００５５】図９（Ｂ）は、凹レンズＬ１´の外縁位置
Ｅ１を検出する方法を説明する図である。ＣＰＵ１１
は、反射波を検出するまで走査を行い（図９（Ｂ）にお
ける″参照）、次いで同一方向にさらに走査を行い
（図９（Ｂ）における″参照）、反射波が検出されな
くなった位置を第１無反射位置Ｒ１１″とし、次いで第
１走査線を逆方向に走査し（図９（Ｂ）における″参
照）、反射波が検出されなくなった位置を第２無反射位
置Ｒ１２″とし、第１走査線上で第１無反射位置Ｒ１
１″と第２無反射位置Ｒ１２″の中点として一方の外縁
位置Ｅ１の位置座標を求め、ＲＡＭ１３に記憶させるの
である。

【００５６】上記において、第１位置用光センサ部３５
と第１位置用超音波センサ部３６は、第１測位手段に相
当している。

【００５７】上記のようにして、木箱４１内の芯取り前
レンズＬ１の第１位置が得られれば、芯取機２００の中
間位置Ｐ３は既知であるから、ＣＰＵ１１は、吸着部３
１を用いて芯取り前レンズＬ１を第１位置から取り上
げ、中間位置まで保持した後に離脱させ、中間位置Ｐ３
に載置するように制御する。

【００５８】図１０は、保持・センサ部３における吸着
部３１の構成を示す図である。図１０（Ａ）に示すよう
に、吸着部３１は、真空ポンプ３１ａと、制御弁３１ｂ
と、配管３１ｃ１及び３１ｃ２と、パイプ部３１ｄと、
パッド３１ｅと、負圧センサ３１ｆを有している。パッ
ド３１ｅは、図１０（Ｂ）に示すように、シリコンゴム
等からなる漏斗状部材で、中央に開口が設けられてお
り、この開口はパイプ部３１ｄと配管３１ｃ２の内部空
間と連通している。真空ポンプ３１ａは、ＣＰＵ１１に
より制御される電動モータ（図示せず）等の駆動源と、
排気弁（図示せず）を有している。また、制御弁３１ｂ
は、図示しないアクチュエータを有しており、ＣＰＵ１
１によるアクチュエータの駆動制御により、内部の弁が
開閉制御されるように構成されている。負圧センサ３１
ｆは、圧力を検出する圧力センサであり、ＣＰＵ１１に
接続されている。また、吸着部３１のパイプ部３１ｄ
は、センサ類移動機構３７を介してアーム部２５の先端
のセンサ類取付部２５ａに取り付けられている。

【００５９】上記のような構成により、ＣＰＵ１１は、
制御弁３１ｂを閉じた状態にしておき、真空ポンプ３１
ａの駆動源（図示せず）に制御信号を出力して作動さ
せ、配管３１ｃ１の内部の空気を吸気して負圧状態を発
生させる。この状態で、ＣＰＵ１１は、移動部２に制御
信号を出力して、アーム部２５（図３参照）を移動さ
せ、センサ類取付部２５ａを第１位置Ｐ１の上に到達さ
せ、さらにセンサ類移動機構３７の移動機構本体３７ａ
に制御信号を出力して吸着部３１を下降させ、パッド３
１ｅが芯取り前レンズＬ１の直上の微少距離離れた位置
となるように設定する。次に、ＣＰＵ１１は、制御弁３
１ｂのアクチュエータ（図示せず）に制御信号を出力し
て弁を開かせる。これにより、配管３１ｃ２、パイプ部
３１ｄ、パッド３１ｅの内部が負圧状態となり、芯取り
前レンズＬ１はパッド３１ｅにより吸着され保持され
る。

【００６０】この状態で、ＣＰＵ１１は、移動部２に制
御信号を出力して、センサ類移動機構３７を上昇させ、
アーム部２５（図３参照）を移動させ、センサ類取付部
２５ａを中間位置Ｐ３の上に到達させ、さらにセンサ類
移動機構３７の移動機構本体３７ａに制御信号を出力し
て下降させ、パッド３１ｅに吸着された芯取り前レンズ
Ｌ１が中間位置Ｐ３の位置に停止している搬送用部材２
０２（図２参照）の直上の微少距離離れた位置となるよ
うに設定する。次に、ＣＰＵ１１は、排気弁（図示せ
ず）に制御信号を出力して弁を開かせる。これにより、
排気が行われ、配管３１ｃ２、パイプ部３１ｄ、パッド
３１ｅの内部の負圧状態が解消され、芯取り前レンズＬ
１はパッド３１ｅから離脱し、中間位置Ｐ３に位置する
搬送用部材２０２（図２参照）の上に載置される。

【００６１】上記において、吸着部３１は、特許請求の
範囲における保持手段に相当している。なお、負圧セン
サ３１ｆは、負圧状態の有無を検出するものであり、負
圧の有無によって、レンズを吸着したか否かを確認して
いる。負圧センサは、配管３１ｃ２の部分にも設けても
よい。

【００６２】中間位置Ｐ３の搬送用部材２０２の上に載
置された芯取り前レンズＬ１は、図２に示すように、コ
ンベア２０１に駆動され図の矢印方向に移動し、芯取り
加工の位置まで搬送され、芯取り加工が行われる。芯取
り加工が終了すると、芯取り加工後のレンズは、再びコ
ンベア２０１と搬送用部材２０２によって搬送され、中
間位置Ｐ３へ戻ってくる。芯取り後レンズが中間位置Ｐ
３に戻った場合は、他のセンサ等（図示せず）により検
出され、ＣＰＵ１１に出力される。

【００６３】芯取り後レンズが中間位置Ｐ３に戻れば、
中間位置Ｐ３と位置決め位置Ｐ４は既知であるから、Ｃ
ＰＵ１１は、吸着部３１を用いて芯取り後レンズを中間
位置Ｐ３から取り上げ、位置決め位置Ｐ４まで保持した
後に離脱させ、位置決め位置Ｐ４に載置するように制御
することができる。

【００６４】図１１は、このレンズ供給装置１００にお
ける位置決め部６の構成を示す図である。図１１に示す
ように、この位置決め装置６は、レンズ支持部６０と、
第１移動部材６１と、第２移動部材６２と、移動機構６
３及び６４と、駆動用部材６５及び６６を有している。
移動機構６３、６４は、ビーム部材２３や走行部２５ｃ
において説明した直線的移動機構が採用可能であり、Ｃ
ＰＵ１１により駆動制御されるように構成されている。
また、第１移動部材６１と、第２移動部材６２には、芯
取り後レンズの外縁を拘束可能なレンズ拘束用縁６１ａ
と６２ａ、例えば三角形状の切欠が設けられている。

【００６５】上記のような構成により、まず最初は、Ｃ
ＰＵ１１は、移動機構６３及び６４を作動させて、第１
移動部材６１と第２移動部材６２が離れた状態としてお
き、レンズ拘束用縁６１ａと６２ａとが形成する空間に
芯取り後レンズが収容可能としておく。次に、ＣＰＵ１
１は、吸着部３１を用いて芯取り後レンズを中間位置Ｐ
３から取り上げ、位置決め位置Ｐ４まで保持した後に離
脱させる。これにより、芯取り後レンズは、レンズ拘束
用縁６１ａと６２ａとが形成する空間の中に収容され
る。

【００６６】次に、ＣＰＵ１１は、移動機構６３及び６
４を逆方向に作動させ、第１移動部材６１と第２移動部
材６２が互いに接近するように移動させる。これによ
り、図１１（Ｃ）に示すように、芯取り後レンズＬ２
は、レンズ拘束用縁６１ａと６２ａにより拘束される。
この際、芯取り後レンズＬ２の中心位置は、位置決め位
置Ｐ４と一致する。なお、この場合には、芯取り後レン
ズＬ２に過大な力が加わることを防止するための手段、
例えば第１移動部材６１と第２移動部材６２の間の隙間
距離が所定値になった場合に駆動機構６３及び６４を停
止させる、等の制御がＣＰＵ１１によって行われる。こ
こに、位置決め部６は、特許請求の範囲における位置決
め手段に相当している。また、レンズ拘束用縁６１ａ及
び６２ａは、特許請求の範囲における拘束用縁に相当し
ている。

【００６７】上記のようにして、芯取り後レンズＬ２の
位置が位置決め位置Ｐ４と一致すれば、次に、ヤトイ穴
の位置である第２位置Ｐ２が得られれば、位置決め位置
Ｐ４は既知であるから、ＣＰＵ１１は、吸着部３１を用
いて芯取り後レンズを位置決め位置Ｐ４から取り上げ、
第２位置Ｐ２まで保持した後に離脱させ、第２位置Ｐ２
に載置するように制御することができる。

【００６８】図１２は、このレンズ供給装置１００にお
けるレンズ供給部４及びレンズ収納部５の構成を示す図
である。図１２（Ａ）に示すように、このレンズ供給装
置１００では、レンズ供給部４とレンズ収納部５が、鉛
直上下方向に積層された２段構造に構成されている。

【００６９】また、レンズ供給部４は、上記した木箱４
１を支持する移動台部材４２と、移動台部材４２に設け
られた走行車輪４３と、走行車輪４３が走行するととも
にレンズ供給部４全体を支えるフレーム４４を有してい
る。

【００７０】走行車輪４３は、移動台部材４２の図１２
（Ａ）における左右両端付近の底部に設けられている。
これにより、移動台部材４２は、フレーム４４の上をＸ
方向（図１２（Ａ）の紙面の手前から奥に向かう方向又
はその逆方向）に走行可能となっている。移動台部材４
２を駆動する駆動源としては、上記したビーム部材２３
等で説明した直線的移動機構等が採用可能である。この
直線的移動機構は、ＣＰＵ１１により制御されるように
構成されている。

【００７１】また、図１２（Ａ）に示すように、レンズ
収納部５は、ヤトイ５１と、ヤトイ５１を支持する移動
台部材５２と、ヤトイ５１を移動台部材５２に固定する
固定用部材５３ａ及び５３ｂと、移動台部材５２に設け
られた走行車輪５４と、走行車輪５４が走行するととも
にレンズ収納部５全体を支えるフレーム５５を有してい
る。固定用部材５３ａ及び５３ｂとしては、ボルトとナ
ット等が採用可能である。

【００７２】走行車輪５４は、移動台部材５２の図１２
（Ａ）における左右両端付近の底部に設けられている。
これにより、移動台部材５２は、フレーム５５の上をＸ
方向（図１２（Ａ）の紙面の手前から奥に向かう方向又
はその逆方向）に走行可能となっている。移動台部材５
２を駆動する駆動源としては、上記したビーム部材２３
等で説明した直線的移動機構等が採用可能である。この
直線的移動機構は、ＣＰＵ１１により制御されるように
構成されている。

【００７３】上記のような構成により、レンズ収納部５
の上段に位置するレンズ供給部４は、下段に位置するレ
ンズ収納部５にレンズが出入される場合（第２位置の測
定時も含む）には、その出入作業の障害とならないよう
に退避移動することができるようになっている。なお、
レンズ供給部４の直線的移動機構は、移動部２の移動機
構の駆動源、例えばビーム部材２３（図３参照）の駆動
源と兼用させてもよい。また、同様に、レンズ収納部５
の直線的移動機構は、移動部２の移動機構の駆動源、例
えばビーム部材２３（図３参照）の駆動源と兼用させて
もよい。また、走行車輪４３や５４を設けず、単に摺動
させるだけの構成としてもよい。

【００７４】また、図１２（Ａ）に示すように、ヤトイ
５１は、ヤトイ穴５１ａが設けられた板状の部材であ
る。芯取り後レンズＬ２は、その中心位置が、ヤトイ穴
５１の中心位置（第２位置Ｐ２）と一致する状態となる
ようにして、ヤトイ穴５１の上に載置される。その後、
芯取り後レンズが複数個載置されたヤトイ５１は、コー
ティング、洗浄等の他の加工（第２加工）の場所へ運ば
れて加工が行われる。

【００７５】上記において、ヤトイ５１は、特許請求の
範囲における収納用部材に相当している。また、ヤトイ
穴５１ａの上部の凹部は、特許請求の範囲における載置
用凹部に相当している。

【００７６】次に、ヤトイ穴の位置である第２位置Ｐ２
を検出する方法について説明する。本実施形態のレンズ
供給装置１００においては、まず、保持・センサ部３の
ヤトイ穴検出部３３によりヤトイ穴と考えられるものを
粗い精度で検出する。その後、圧力検出部３４を用い
て、検出されたものが確実に凹部であるか否かを、押圧
時の圧力の有無によって判別する。最後に、第２位置検
出部３２を用いて、ヤトイ穴の中心位置を検出する。こ
こに、ヤトイ穴検出部３３と、圧力検出部３４と、第２
位置検出部３２は、特許請求の範囲における第２測位手
段に相当している。以下、それぞれの方法について、詳
細に説明する。

【００７７】図１３は、保持・センサ部３におけるヤト
イ穴検出部３３と圧力検出部３４の構成を示す図であ
る。図１３（Ａ）に示すように、ヤトイ穴検出部３３
は、発光部３３ａと受光部３３ｂを有しており、その構
成と作用は、上記した第１位置用光センサ部３５と同様
である。ここに、ヤトイ穴検出部３３は、特許請求の範
囲における凹部検出手段に相当しており、発光部３３ａ
は、特許請求の範囲における第２送波手段に相当してお
り、受光部３３ｂは、特許請求の範囲における第２受波
手段に相当している。また、発光部３３ａの発射するレ
ーザ光Ｗ５は、特許請求の範囲における第２計測用波に
相当しており、レーザ光Ｗ５の反射光は、特許請求の範
囲における第２反射波に相当している。

【００７８】上記のような構成により、ＣＰＵ１１は、
移動部２を制御して移動させ、ヤトイ穴検出部３３をヤ
トイ５１のヤトイ穴５１ａの近傍に移動させる。その
後、ＣＰＵ１１は、移動部２により、ヤトイ穴検出部３
３をある直線（以下、「第３走査線」という。）に沿っ
て移動させながら、レーザ光Ｗ５の送出と反射光の検出
を行う走査（以下、「第３走査」という。）を行わせ
る。これにより、反射光が検出された後に、この反射光
が検出されなくなった場合には、ＣＰＵ１１は、「当該
位置はヤトイ穴５１ａの一方の内縁位置である」と判別
する。この判別を、以下、「第１次近似判別」という。
そして、同じ方向に第３走査を続けた場合に、再度反射
光が検出された場合には、ＣＰＵ１１は、「当該位置は
ヤトイ穴５１ａの他方の内縁位置である」と判別する第
１近似判別を行う。すなわち、ＣＰＵ１１は、レーザ光
Ｗ５の反射光（第２反射波）の検出の有無の境界位置を
ヤトイ穴５１ａの内縁位置であると第１次近似判別を行
う。これにより、ＣＰＵ１１は、２つの内縁位置に基づ
き、その中点を第２位置とし、その位置座標を演算した
後、ＲＡＭ１３に記憶させる。この中点の位置は、特許
請求の範囲における第１近似位置に相当する。

【００７９】また、図１３（Ｂ）は、圧力検出部３４の
構成を示している。この圧力検出部３４は、押圧部３４
ａにおける圧力を検出し電気信号（圧力検出信号）とし
て出力するセンサであり、半導体圧力センサ、ストレイ
ンゲージを利用した圧力センサ等、各種のものが採用可
能である。圧力検出部３４は、センサ類移動機構３７に
よって鉛直上下方向に移動可能な構成となっている。ま
た、押圧部３４ａは、例えばテーパー状（コーン状）に
形成されており、ヤトイ穴５１ａの中に挿入可能な構成
となっている。圧力検出部３４は、特許請求の範囲にお
ける圧力検出手段に相当している。

【００８０】上記のような構成により、ＣＰＵ１１は、
上記の第１次近似判別の後、移動部２を駆動制御し、圧
力検出部３４を、上記した第２位置の第１近似位置の直
上に移動させる。次に、ＣＰＵ１１は、センサ類移動以
降３７を制御し、圧力検出部３４の全体を下降させる。
これにより、押圧部３４ａが何かに当たれば圧力が発生
し、圧力検出信号が出力される。一方、圧力検出信号が
出力されない場合には、ＣＰＵ１１は、「当該位置は凹
部である」とする判別（以下、「第２次近似判別」とい
う。）を行う。

【００８１】次に、第２位置検出部３２を用いて、ヤト
イ穴の中心位置を検出する方法について詳細に説明す
る。図１４は、保持・センサ部３における第２位置検出
部３２の構成を示す図である。また、図１５は、第２位
置検出部３２の作用を説明する図である。

【００８２】図１４に示すように、第２位置検出部３２
は、誤差検出部３８（図１４（Ａ））と、光センサ部３
９（図１４（Ｂ））を有している。誤差検出部３８は、
支持部材３８ａと、検出部材３８ｂを有している。検出
部材３８ｂは、全体としては円柱状に形成されている。
検出部材３８ｂは、先端（下端）に円錐部３８ｃが設け
られ、その上方に円柱状の検出軸部３８ｄが接続し、検
出軸部３８ｄの上方には、円錐台形状で外周に向かって
鍔状に突出した円錐台部３８ｅが接続している。また、
円錐台部３８ｅの上方には、円柱状の支持軸部３８ｆが
接続している。検出部材３８ｂの下端の円錐部３８ｃ
は、ヤトイ穴５１ａの上部で係止可能な構成となってい
る。

【００８３】一方、支持部材３８ａは、中空箱状に形成
され、下部に円形の第１開口３８ｇが設けられている。
この第１開口３８ｇの上部の内縁である第１支持縁３８
ｉによって、検出部材３８ｂの円錐台部３８ｅが支持さ
れるようになっている。また、支持部材３８ａの上部に
は、円錐形状の第２開口３８ｈが設けられている。この
第２開口３８ｈの下部の内縁である第２支持縁３８ｋに
よって、検出部材３８ｂの支持軸部３８ｆの周囲が押さ
えられるようになっている。また、支持部材３８ａは、
図示はしていないが、センサ類移動機構３７を介してア
ーム部２５のセンサ類取付部２５ａに取り付けられてい
る。したがって、支持部材３８ａ全体は、ＣＰＵ１１の
制御により、このレンズ供給装置１００のＸ方向、Ｙ方
向、及び鉛直上下方向（Ｚ方向）に移動可能となってい
る。誤差検出部３８は、特許請求の範囲における誤差検
出手段に相当している。

【００８４】次に、光センサ部３９については、検出軸
部３８ｄの近傍に４つの光センサ、すなわち、第１光セ
ンサ３９ａと、第２光センサ３９ｂと、第３光センサ３
９ｃと、第４光センサ３９ｄが配置されている。第１光
センサ３９ａは、第１発光部３９ａ１と第１受光部３９
ａ２を有している。また、第２光センサ３９ｂは、第２
発光部３９ｂ１と第２受光部３９ｂ２を有している。ま
た、第３光センサ３９ｃは、第３発光部３９ｃ１と第３
受光部３９ｃ２を有している。また、第４光センサ３９
ｄは、第４発光部３９ｄ１と第４受光部３９ｄ２を有し
ている。これらの光センサの作用は、上記した第１位置
用光センサ部３５等の場合と同様である。異なる点は、
反射光を検出するのではなく、発光部で発射したレーザ
光がそのまま受光部で検出されるか否か、すなわち検出
軸部３８ｄによる光の遮断の有無を検出する点である。

【００８５】検出部材３８ｂの中心軸線が、第１機構３
８ｇの中心軸線と、第２開口３８ｈの中心軸線と一致す
る場合、上記の第１光センサ３９ａの光軸Ａ１は、検出
軸部３８ｄの側面の非常に近傍位置を通り、検出軸部３
８ｄによって遮断されないように設定されている。ま
た、第２光センサ３９ｂの光軸Ａ２は、光軸Ａ１の場合
に対して反対側となる検出軸部３８ｄの側面の非常に近
傍位置を通り、検出軸部３８ｄによって遮断されないよ
うに設定されている。したがって、光軸Ａ１とＡ２との
距離は、検出軸部３８ｄの直径よりわずかに大きな値と
なっている。光軸Ａ１とＡ２との距離と、検出軸部３８
ｄの直径との差は、特許請求の範囲における第１微少距
離に相当している。また、第１光センサ３９ａと第２光
センサ３９ｂは、特許請求の範囲における第１検出対を
構成している。

【００８６】また、検出部材３８ｂの中心軸線が、第１
機構３８ｇの中心軸線と、第２開口３８ｈの中心軸線と
一致する場合、上記の第３光センサ３９ｃの光軸Ａ３
は、検出軸部３８ｄの側面の非常に近傍位置を通り、検
出軸部３８ｄによって遮断されないように設定されてお
り、かつ、光軸Ａ３は、上記した光軸Ａ１、Ａ２に対し
て垂直になっている。また、第４光センサ３９ｄの光軸
Ａ４は、光軸Ａ３の場合に対して反対側となる検出軸部
３８ｄの側面の非常に近傍位置を通り、検出軸部３８ｄ
によって遮断されないように設定されており、かつ、光
軸Ａ４は、上記した光軸Ａ１、Ａ２に対して垂直になっ
ている。したがって、光軸Ａ３とＡ４との距離は、検出
軸部３８ｄの直径よりわずかに大きな値となっている。
光軸Ａ３とＡ４との距離と、検出軸部３８ｄの直径との
差は、特許請求の範囲における第２微少距離に相当して
いる。また、第３光センサ３９ｃと第４光センサ３９ｄ
は、特許請求の範囲における第２検出対を構成してい
る。

【００８７】このような構成により、この第２位置検出
部３２を用いれば、ヤトイ穴５１ａの中心位置である第
２位置Ｐ２を測定することができる。以下、その方法に
ついて説明する。

【００８８】まず、ＣＰＵ１１は、上記した第２次近似
判別の後、移動部２を駆動制御し、誤差検出部３８全体
を第２位置の第１近似位置に移動させる。その後、移動
部２を駆動制御するとともに、センサ類移動機構３７を
駆動制御し、円錐部３８ｃを、ヤトイ穴５１ａの上部に
当接する。この状態で、支持部材３８ａを正確に鉛直上
方に上昇させる。これにより、図１５（Ａ）に示すよう
に、円錐部３８ｃがヤトイ穴５１ａの上部で係止された
状態となる。この場合、検出部材３８ｂの上部の支持軸
部３８ｆの周囲は、第２開口３８ｈの下部の内縁である
第２支持縁３８ｋによって押さえられている。

【００８９】次に、ＣＰＵ１１は、上記の状態で、光セ
ンサ部の４つの光センサ３９ａ〜３９ｄにより光の発光
と検出を行う。図１５（Ｂ）及び図１５（Ｃ）は、第１
検出対、すなわち第１光センサ３９ａと第２光センサ３
９ｂの場合の例を示したものである。図１５（Ｂ）は、
検出軸部３８ｄが図の右方へ倒れるように傾斜している
場合を示した図である。この場合には、図１５（Ｂ）に
おいて光軸Ａ１で示すように、第１光センサのレーザ光
は、検出軸部３８ｄによって遮断されることはなく、そ
のまま受光される。一方、図１５（Ｂ）において光軸Ａ
２で示すように、第２光センサのレーザ光は、検出軸部
３８ｄが傾斜しているため、検出軸部３８ｄによって遮
断され、受光されない。

【００９０】このような場合には、ＣＰＵ１１は、移動
部２を駆動制御し、光波が検出されなかった第２光セン
サから、光波が検出された第１光センサに向かう方向、
すなわち右から左へ向かう方向に、誤差検出部３８全体
をわずかな距離だけ移動させる。この移動距離は、特許
請求の範囲における第３微少距離に相当している。第２
検出対についても同様である。このようにして、光波が
検出されなかった光センサから光波が検出された光セン
サに向かう方向に誤差検出部３８全体を微少移動させる
手順を繰り返す。

【００９１】その結果、図１５（Ｂ）に示すように、す
べての光センサのレーザ光が検出軸部３８ｄによって遮
断されることがない状態となった場合には、検出部材３
８ｂの中心軸線Ｂが、ヤトイ穴５１ａの中心を通るとと
もに、ヤトイ５１の平面に対して検出部材３８ｂの中心
軸線Ｂが垂直となっている状態であることを示してい
る。この場合には、ＣＰＵ１１は、、当該状態での誤差
検出部３８の中心位置の位置座標を第２位置座標と設定
し、ＲＡＭ１３に記憶させる。

【００９２】上記のようにして、第２位置Ｐ２が検出さ
れる。位置決め位置Ｐ４は既知であるから、これによ
り、ＣＰＵ１１は、吸着部３１を用いて芯取り後レンズ
を位置決め位置Ｐ４から取り上げ、第２位置Ｐ２まで保
持した後に離脱させ、第２位置Ｐ２に載置するように制
御することができる。

【００９３】なお、本発明は、上記実施形態に限定され
るものではない。上記実施形態は、例示であり、本発明
の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同
一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いか
なるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。

【００９４】例えば、上記実施形態においては、被加工
物として、レンズを例に挙げて説明したが、本発明はこ
れには限定されず、他の被加工物、例えば、凸面鏡、又
は凹面鏡等のミラー（鏡）用の素材であってもよい。

【００９５】また、載置用凹部は、上記実施形態のよう
なヤトイ穴（貫通孔）でなくてもよく、少なくとも上部
が凹部状となっていればよい。

【００９６】また、第１加工、第２加工については、上
記した実施形態における芯取り加工、コーティング、洗
浄以外の他の加工、あるいは処理であってもよい。

【００９７】また、保持手段は、上記した吸着部以外
に、駆動源により駆動される把持部材により被加工物を
把持又は離脱させるようなチャッキング手段を用いても
よい。

【００９８】また、移動手段は、上記実施形態のよう
に、Ｘ方向に移動する機構と、Ｙ方向に移動する機構を
組み合わせたものに限定されず、他の構成の機構であっ
てもよい。例えば、旋回するロボットアームの先端が伸
縮する構造を有するものなどであってもよい。この場合
には、位置座標は、極座標系となる。

【００９９】また、供給用容器（例えば木箱４１）と、
収納用部材（例えばヤトイ５１）は、上下２段構造では
なく、平面的に並んだ構成であってもよい。また、供給
用容器（例えば木箱４１）と、収納用部材（例えばヤト
イ５１）が、上下２段構造の場合、レンズ収納部５は移
動可能な構成ではなくてもよい。

【０１００】また、光センサ部３９は、検出軸部３８ｄ
の近傍だけでなく、支持軸部３８ｆ、又は円錐台部３８
ｅの近傍に配置されてもよい。

【０１０１】また、上記実施形態において、位置決め部
６は、必ずしも設けなくてもよく、制御手段（例えば、
ＣＰＵ１１）は、第１加工が完了した被加工物（例え
ば、芯取り後レンズＬ２）が中間位置（例えば、Ｐ３）
に戻った場合には、移動手段（例えば、移動部２）によ
り第２測位手段（第２位置検出部３２）を第２位置（Ｐ
２）の近傍に移動させて第２位置座標を計測させ、移動
手段により保持手段（例えば、吸着部３１）を中間位置
に移動させて被加工物を保持させ、移動手段により保持
手段を第２位置に移動させて被加工物を離脱させること
により被加工物を載置用凹部（例えば、ヤトイ穴５１
ａ）の上に載置させるように制御してもよい。また、こ
の場合には、記憶手段（例えば、ＲＯＭ１２）は、位置
決め位置（Ｐ４）の位置座標を記憶しておく必要はな
く、中間位置の位置座標、移動部２の座標原点の位置座
標、移動部２における各センサ類等の位置座標等を記憶
しておけばよい。

【０１０２】また、上記実施形態では、芯取り前レンズ
Ｌ１のＹ方向の中心位置、すなわち、第１位置のＹ座標
Ｙ１を求める場合に、第１計測用波としてレーザ光を用
いる例について説明したが、この場合の第１計測用波と
しては超音波を用いてもよい。また、上記実施形態で
は、芯取り前レンズＬ１のＸ方向の中心位置、すなわ
ち、第１位置のＸ座標Ｘ１を求める場合に、第１計測用
波として超音波を用いる例について説明したが、この場
合の第１計測用波としてはレーザ光を用いてもよい。

【０１０３】また、上記実施形態では、凹部検出手段で
あるヤトイ穴検出部３３が、第２計測用波としてレーザ
光を用いる例について説明したが、この場合の第２計測
用波としては超音波を用いてもよい。

【０１０４】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
供給用容器内の任意位置に載置されている被加工物を取
り上げ、被加工物に第１加工を施すための位置であると
ともに位置座標が既知な中間位置へ被加工物を移送して
供給し、第１加工が完了した被加工物を中間位置から取
り上げ、被加工物に第２加工を施すために収納する収納
用部材に移送し、収納用部材に設けられた載置用凹部の
上に載置させるように構成したので、ティーチングが不
要で被加工物の移送を自動的に行うことができる、とい
う利点を有している。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態であるレンズ供給装置の全
体構成を示すブロック図である。

【図２】図１に示すレンズ供給装置における平面的位置
関係を示す図である。

【図３】図１に示すレンズ供給装置における移動部の構
成を示す図である。

【図４】図１に示すレンズ供給装置におけるアーム部と
保持・センサ部の構成を示す図である。

【図５】図４に示す保持・センサ部におけるセンサ類移
動機構の構成を示す図である。

【図６】図１に示すレンズ供給装置における制御部の構
成を示す図である。

【図７】図４に示す保持・センサ部における第１位置用
光センサ部の構成と作用を説明する図である。

【図８】図４に示す保持・センサ部における第１位置用
超音波センサ部の構成と作用を説明する図である。

【図９】凹レンズの場合の第１位置用光センサ部と第１
位置用超音波センサ部の作用を説明する図である。

【図１０】図４に示す保持・センサ部における吸着部の
構成を示す図である。

【図１１】図１に示すレンズ供給装置における位置決め
部の構成を示す図である。

【図１２】図１に示すレンズ供給装置におけるレンズ供
給部及びレンズ収納部の構成を示す図である。

【図１３】図４に示す保持・センサ部におけるヤトイ穴
検出部と圧力検出部の構成を示す図である。

【図１４】図４に示す保持・センサ部における第２位置
検出部の構成を示す図である。

【図１５】図１４に示す第２位置検出部の作用を説明す
る図である。

【符号の説明】

１ 制御部 ２ 移動部 ３ 保持・センサ部 ４ レンズ供給部 ５ レンズ収納部 ６ 位置決め部 １１ ＣＰＵ １２ ＲＯＭ １３ ＲＡＭ １４、１５ インタフェース １６ 入力部 １７ 出力部 ２０ 底部フレーム ２１ 支柱部材 ２２ 水平部材 ２３ ビーム部材 ２３ａ 空洞部 ２３ｂ スリット ２４ 走行車輪 ２５ アーム部 ２５ａ センサ類取付部 ２５ｂ スリット挿通部 ２５ｃ 走行部 ２５ｄ 走行車輪 ３１ 吸着部 ３１ａ 真空ポンプ ３１ｂ 制御弁 ３１ｃ１、３１ｃ２ 配管 ３１ｄ パイプ部 ３１ｅ パッド ３１ｆ 負圧センサ ３２ 第２位置検出部 ３３ ヤトイ穴検出部 ３３ａ 発光部 ３３ｂ 受光部 ３４ 圧力検出部 ３４ａ 押圧部 ３５ 第１位置用光センサ部 ３５ａ 発光部 ３５ｂ 受光部 ３６ 第１位置用超音波センサ部 ３６ａ 送信部 ３６ｂ 受信部 ３７ センサ類移動機構 ３７ａ 移動機構本体 ３７ｂ 取付部 ３８ 誤差検出部 ３８ａ 支持部材 ３８ｂ 検出部材 ３８ｃ 円錐部 ３８ｄ 検出軸部 ３８ｅ 円錐台部 ３８ｆ 支持軸部 ３８ｇ 第１開口 ３８ｈ 第２開口 ３８ｉ 第１支持縁 ３８ｋ 第２支持縁 ３９ 光センサ部 ３９ａ 第１光センサ ３９ａ１ 第１発光部 ３９ａ２ 第１受光部 ３９ｂ 第２光センサ ３９ｂ１ 第２発光部 ３９ｂ２ 第２受光部 ３９ｃ 第３光センサ ３９ｃ１ 第３発光部 ３９ｃ２ 第３受光部 ３９ｄ 第４光センサ ３９ｄ１ 第４発光部 ３９ｄ２ 第４受光部 ４１ 木箱 ４２ 移動台部材 ４３ 走行車輪 ４４ フレーム ５１ ヤトイ ５１ａ ヤトイ穴 ５２ 移動台部材 ５３ａ、５３ｂ 固定用部材 ５４ 走行車輪 ５５ フレーム ６０ レンズ支持部 ６１ 第１移動部材 ６１ａ レンズ拘束用縁 ６２ 第１移動部材 ６２ａ レンズ拘束用縁 ６３、６４ 移動機構 ６５、６６ 駆動用部材 １００ レンズ供給装置 ２００ 芯取機 ２０１ コンベア ２０２ 搬送用部材 Ａ１〜Ａ４ 光軸 Ｂ 検出部材中心軸線 ＣＸ レンズＸ方向中心 ＣＹ レンズＹ方向中心 Ｅ１、Ｅ２ レンズ外縁位置 Ｌ１、Ｌ１´ 芯取り前レンズ Ｌ２ 芯取り後レンズ Ｐ１ 第１位置 Ｐ２ 第２位置 Ｐ３ 中間位置 Ｐ４ 位置決め位置 Ｓ１〜Ｓ４ 信号 Ｗ１、Ｗ２ レーザ光 Ｗ３、Ｗ４ 超音波 Ｗ５ レーザ光

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｂ２４Ｂ 9/14 Ｂ２４Ｂ 9/14 Ｋ 13/00 13/00 Ｄ Ｇ０２Ｂ 3/00 Ｇ０２Ｂ 3/00 Ｚ (72)発明者 平沼 光宏 茨城県那珂郡大宮町東町字泉4112番地 水 戸富士光機株式会社内 (72)発明者 石井 済 茨城県那珂郡大宮町東町字泉4112番地 水 戸富士光機株式会社内 Ｆターム(参考） 3C029 AA02 AA40 3C033 BB04 BB10 HH12 HH26 HH30 MM01 3C049 AB03 AC02 BA07

Claims (12)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 供給用容器内の任意位置に載置されてい
   る前記被加工物を保持し又は離脱可能な保持手段と、 前記供給用容器内の前記被加工物の位置である第１位置
   の座標である第１位置座標を計測可能な第１測位手段
   と、 前記被加工物に第１加工を施す第１加工装置の位置であ
   る中間位置の位置座標を記憶する記憶手段と、 前記被加工物に第２加工を施すために収納する収納用部
   材に設けられるとともに前記被加工物の外径よりも小さ
   な内径を有する載置用凹部の位置である第２位置の座標
   である第２位置座標を計測可能な第２測位手段と、 前記保持手段又は第１測位手段若しくは第２測位手段を
   移動可能な移動手段と、 前記移動手段により前記第１測位手段を前記供給用容器
   内の前記第１位置の近傍に移動させて前記第１位置座標
   を計測させ、前記移動手段により前記保持手段を前記第
   １位置に移動させて前記被加工物を保持させ、前記移動
   手段により前記保持手段を前記中間位置に移動させた後
   に前記被加工物を離脱させることにより前記被加工物を
   前記中間位置に載置させ、前記第１加工が完了した被加
   工物が前記中間位置に戻った場合には、前記移動手段に
   より前記第２測位手段を前記第２位置の近傍に移動させ
   て前記第２位置座標を計測させ、前記移動手段により前
   記保持手段を前記中間位置に移動させて前記被加工物を
   保持させ、前記移動手段により前記保持手段を前記第２
   位置に移動させて前記被加工物を離脱させることにより
   前記被加工物を前記載置用凹部の上に載置させるように
   制御する制御手段を備えたことを特徴とする被加工物供
   給装置。
2. 【請求項２】 請求項１記載の被加工物供給装置におい
   て、 位置座標が既知な位置決め位置に設置され、載置された
   前記被加工物の中心位置を前記位置決め位置に一致させ
   る位置決め手段を備え、 前記記憶手段は、前記位置決め位置の位置座標を記憶
   し、 前記制御手段は、前記第１加工が完了した被加工物を前
   記中間位置から前記載置用凹部へ移動させるに先立ち、
   前記被加工物を前記移動手段により前記中間位置から前
   記位置決め手段の上に移動させて載置させ、前記位置決
   め手段により前記被加工物の中心位置を前記位置決め位
   置に一致させた後に、前記載置用凹部へ移動させるよう
   制御することを特徴とする被加工物供給装置。
3. 【請求項３】 請求項１記載の被加工物供給装置におい
   て、 前記保持手段は、 吸気により負圧を発生させて前記被加工物を吸着し、又
   は排気により前記負圧を解消させて前記被加工物を離脱
   させる吸着手段であることを特徴とする被加工物供給装
   置。
4. 【請求項４】 請求項１記載の被加工物供給装置におい
   て、 前記保持手段は、 駆動源により駆動される把持部材により前記被加工物を
   把持又は離脱させるチャッキング手段であることを特徴
   とする被加工物供給装置。
5. 【請求項５】 請求項１記載の被加工物供給装置におい
   て、 前記第１測位手段は、光波又は音波を含む第１計測用波
   を送出する第１送波手段と、前記第１計測用波が反射さ
   れて戻ってきた第１反射波を受けて検出する第１受波手
   段を有し、 前記制御手段は、前記移動手段により前記第１測位手段
   を前記供給用容器内の前記第１位置の近傍に移動させた
   後、前記移動手段により前記第１測位手段を第１走査線
   に沿って移動させつつ前記第１計測用波の送出と前記第
   １反射波の検出を行う第１走査を行わせ、前記第１反射
   波を検出した反射位置と前記第１反射波を検出しなかっ
   た無反射波位置を検出し、次いで、前記移動手段により
   前記第１測位手段を前記第１走査線に直角な方向となる
   第２走査線に沿って移動させつつ前記第１計測用波の送
   出と前記第１反射波の検出を行う第２走査を行わせ、前
   記反射位置と無反射位置を検出し、これらの位置座標に
   基づき前記第１位置座標を演算することを特徴とする被
   加工物供給装置。
6. 【請求項６】 請求項５記載の被加工物供給装置におい
   て、 前記被加工物が凸レンズ状の形状を有する場合には、 前記制御手段は、前記第１走査時には、前記反射波を検
   出するまで走査を行い、次いで前記反射波が検出されな
   くなった位置を第１無反射位置とし、次いで前記第１走
   査線を逆方向に走査し前記反射波が検出されなくなった
   位置を第２無反射位置とし、前記第１走査線上で前記第
   １無反射位置と前記第２無反射位置の中点である第１中
   点を求め、前記第２走査時には、前記第１中点を通る垂
   直線を前記第２走査線として走査を行い、次いで前記反
   射波が検出されなくなった位置を第３無反射位置とし、
   次いで前記第２走査線を逆方向に走査し前記反射波が検
   出されなくなった位置を第４無反射位置とし、前記第２
   走査線上で前記第３無反射位置と前記第４無反射位置の
   中点である第２中点を求め、前記第１中点の位置座標と
   前記第２中点の位置座標に基づき前記第１位置座標を設
   定することを特徴とする被加工物供給装置。
7. 【請求項７】 請求項５記載の被加工物供給装置におい
   て、 前記被加工物が凹レンズ状の形状を有する場合には、 前記制御手段は、前記第１走査時には、前記反射位置と
   前記無反射位置の組み合わせにより、前記第１走査線上
   の前記凹レンズの２つの外縁の位置を検出し、前記第１
   走査線上で前記２つの外縁の位置の中点である第３中点
   を求め、前記第２走査時には、前記第３中点を通る垂直
   線を前記第２走査線として走査を行い、次いで前記反射
   位置と前記無反射位置の組み合わせにより、前記第２走
   査線上の前記凹レンズの２つの外縁の位置を検出し、前
   記第２走査線上で前記２つの外縁の位置の中点である第
   ４中点を求め、前記第３中点の位置座標と前記第４中点
   の位置座標に基づき前記第１位置座標を設定することを
   特徴とする被加工物供給装置。
8. 【請求項８】 請求項２記載の被加工物供給装置におい
   て、 前記位置決め手段は、前記被加工物の外縁を拘束可能な
   拘束用縁を有する１対の移動部材を接近させ前記被加工
   物を拘束することにより、前記被加工物の中心位置を前
   記位置決め位置に一致させることを特徴とする被加工物
   供給装置。
9. 【請求項９】 請求項１記載の被加工物供給装置におい
   て、 前記第２測位手段は、光波又は音波を含む第２計測用波
   を送出する第２送波手段と、前記第２計測用波が反射さ
   れて戻ってきた第２反射波を受けて検出する第２受波手
   段を有する凹部検出手段を備え、 前記制御手段は、前記移動手段により前記凹部検出手段
   を前記収納用部材の前記載置用凹部の近傍に移動させた
   後、前記移動手段により前記凹部検出手段を第３走査線
   に沿って移動させつつ前記第２計測用波の送出と前記第
   ２反射波の検出を行う第３走査を行わせ、前記第２反射
   波の検出の有無の境界位置を前記載置用凹部の内縁位置
   であると第１次近似判別を行い、２つの内縁位置に基づ
   き前記第２位置の第１近似位置を演算することを特徴と
   する被加工物供給装置。
10. 【請求項１０】 請求項９記載の被加工物供給装置にお
    いて、 前記第２測位手段は、前記載置用凹部の中に挿入可能な
    押圧部を有して圧力が検出可能であるとともに前記移動
    手段により移動可能な構成を有する圧力検出手段を備
    え、 前記制御手段は、前記第１次近似判別の後、前記移動手
    段により前記圧力検出手段を前記第２位置の第１近似位
    置に移動させた後、前記押圧部により前記第１近似位置
    を押圧させ、圧力が検出されない場合には、当該位置は
    凹部であると第２次近似判別を行うことを特徴とする被
    加工物供給装置。
11. 【請求項１１】 請求項１０記載の被加工物供給装置に
    おいて、 前記第２測位手段は、 円柱状に形成されるとともに、前記載置用凹部の上部で
    係止可能な円錐部が前記円柱の下端に形成され、かつ支
    持部材により支持される検出部材を有する誤差検出手段
    と、 第１光波を送出する第１発光部と、前記第１光波を受け
    て検出する第１受光部を有する第１光センサと、 第２光波を送出する第２発光部と、前記第２光波を受け
    て検出する第２受光部を有するとともに、前記第１光セ
    ンサに対し前記円柱の直径より第１微少距離だけ大きな
    距離だけ離れた位置に配置されて第１検出対を構成する
    第２光センサと、 第３光波を送出する第３発光部と、前記第３光波を受け
    て検出する第３受光部を有するとともに、前記第１光セ
    ンサの光軸に対し垂直な光軸を有する第３光センサと、 第４光波を送出する第４発光部と、前記第４光波を受け
    て検出する第４受光部を有するとともに、前記第３光セ
    ンサに対し前記円柱の直径より第２微少距離だけ大きな
    距離だけ離れた位置に配置されて第２検出対を構成する
    第４光センサを有する第２位置検出手段を備え、 前記制御手段は、前記第２次近似判別の後、前記移動手
    段により前記誤差検出手段を前記第２位置の第１近似位
    置に移動させた後、前記円錐部を前記載置用凹部の上部
    で係止させ、前記各検出対のうち、一方の光センサで光
    波が検出され他方の光センサで光波が検出されなかった
    場合には、光波が検出されなかった光センサから光波が
    検出された光センサに向かう方向に、前記誤差検出手段
    を第３微少距離だけ移動させる手順を繰り返し、４つの
    光センサすべてにおいて光波が検出された場合には、当
    該状態での誤差検出手段の中心位置の位置座標を前記第
    ２位置座標と設定することを特徴とする被加工物供給装
    置。
12. 【請求項１２】 供給用容器内の任意位置に載置されて
    いる前記被加工物を保持し又は離脱可能な保持手段と、 前記供給用容器内の前記被加工物の位置である第１位置
    の座標である第１位置座標を計測可能な第１測位手段
    と、 前記被加工物に第１加工を施す第１加工装置の位置であ
    る中間位置の位置座標を記憶する記憶手段と、 前記被加工物に第２加工を施すために収納する収納用部
    材に設けられるとともに前記被加工物の外径よりも小さ
    な内径を有する載置用凹部の位置である第２位置の座標
    である第２位置座標を計測可能な第２測位手段と、 前記保持手段又は第１測位手段若しくは第２測位手段を
    移動可能な移動手段と、 制御手段を設け、 前記制御手段を用いて、 前記移動手段により前記第１測位手段を前記供給用容器
    内の前記第１位置の近傍に移動させて前記第１位置座標
    を計測させ、前記移動手段により前記保持手段を前記第
    １位置に移動させて前記被加工物を保持させ、前記移動
    手段により前記保持手段を前記中間位置に移動させた後
    に前記被加工物を離脱させることにより前記被加工物を
    前記中間位置に載置させ、前記第１加工が完了した被加
    工物が前記中間位置に戻った場合には、前記移動手段に
    より前記第２測位手段を前記第２位置の近傍に移動させ
    て前記第２位置座標を計測させ、前記移動手段により前
    記保持手段を前記中間位置に移動させて前記被加工物を
    保持させ、前記移動手段により前記保持手段を前記第２
    位置に移動させて前記被加工物を離脱させることにより
    前記被加工物を前記載置用凹部の上に載置させるように
    制御することを特徴とする被加工物供給方法。