JP2003059890A - Method and program for scheduling substrate processing system - Google Patents

Method and program for scheduling substrate processing system

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JP2003059890A
JP2003059890A JP2001243597A JP2001243597A JP2003059890A JP 2003059890 A JP2003059890 A JP 2003059890A JP 2001243597 A JP2001243597 A JP 2001243597A JP 2001243597 A JP2001243597 A JP 2001243597A JP 2003059890 A JP2003059890 A JP 2003059890A
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JP
Japan
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heat treatment
substrate
resource
processing
processing apparatus
Prior art date
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Application number
JP2001243597A
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Japanese (ja)
Inventor
Nagahisa Mukuda
修央 椋田
Atsushi Kawai
淳 河合
Kiyoshi Akao
喜代志 赤尾
Osamu Horiguchi
修 堀口
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enhance throughput and to improve reproducibility of a process by eliminating the waiting time, while suppressing waste of power. SOLUTION: A case where heat treatment work steps S10 and S20 are performed in parallel or continuously can be determined, by scheduling a substrate processing process previously. In such a case, the need for repeating start/stop operation at a high pitch can be eliminated, using branch resources under use continuously in steps S12, S14, S22 and S24. consequently, waste of power can be suppressed and throughput can be enhanced by eliminating the waiting time. Since the waiting time can be eliminated, reproducibility of the process can be improved.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、半導体ウエハや
液晶表示装置用のガラス基板(以下、単に基板と称す
る)に所定の処理を施す基板処理装置のスケジュール作
成方法及びそのプログラムに係り、特に、熱処理に関す
るリソースを使用する場合のスケジューリング技術に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and program for creating a schedule for a substrate processing apparatus for performing a predetermined process on a semiconductor wafer or a glass substrate for a liquid crystal display device (hereinafter simply referred to as a substrate), and more particularly, The present invention relates to a scheduling technique when using resources related to heat treatment.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種の基板処理装置では、複数
個の洗浄処理部などのリソースを使用して、基板に対し
て加熱された純水(温水)による洗浄処理を施す際に
は、例えば次のように行なっている。まず、二台の洗浄
処理部が並行して処理を行なう場合には、温水の使用タ
イミングをずらして直列的に使用する。したがって、先
に温水を使用する洗浄処理部に合わせて温水の準備を開
始し、その使用が終了した時点で温水の準備を停止す
る。そして、次に温水を使用する洗浄処理部に合わせて
再び温水の準備を開始し、その使用が終了した時点で温
水の準備を停止する。
2. Description of the Related Art Conventionally, in this type of substrate processing apparatus, when a substrate is subjected to a cleaning process with heated pure water (warm water) by using a plurality of resources such as cleaning units, For example, it is performed as follows. First, when the two cleaning processing units perform the processing in parallel, the hot water is used in series by shifting the timing of use. Therefore, the preparation of the hot water is started according to the cleaning processing unit that uses the hot water first, and the preparation of the hot water is stopped when the use is finished. Then, the preparation of the hot water is started again in accordance with the cleaning processing unit that uses the hot water, and the preparation of the hot water is stopped when the use is finished.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。すなわち、温水が必要になった時点で温水の準備
を開始し、不要となった時点で温水の準備を停止するの
で、実際に温水を使用した処理までに多くの待機時間が
必要となってスループットが低下するという問題があ
る。
However, the conventional example having such a structure has the following problems. In other words, when hot water is needed, hot water preparation is started, and when it is no longer needed, hot water preparation is stopped. There is a problem that

【0004】また、温水処理のタイミングによっては温
水で実際に処理を開始するまでの待機時間が変動するの
で、プロセスの再現性が悪化するという問題がある。
Further, depending on the timing of the hot water treatment, the waiting time before the actual treatment with hot water varies, which causes a problem that the reproducibility of the process deteriorates.

【0005】さらに、上記の問題を低減するために常時
温水が使えるように準備を継続的に行なっておくことも
考えられるが、この場合には待ち時間はなくなるが無駄
な電力を消費するという別異の問題を生じる。
Furthermore, in order to reduce the above problems, it is possible to continuously make preparations so that hot water can be used at all times, but in this case, there is no waiting time but wasteful power consumption. It creates a different problem.

【0006】この発明は、このような事情に鑑みてなさ
れたものであって、熱処理作業の予定を見越して熱処理
作業に係るブランチリソースをできるだけ連続的に使用
することにより、無駄な電力を抑制しつつも待機時間を
なくしてスループットを向上させることができ、プロセ
スの再現性を良好にすることができる基板処理装置のス
ケジュール作成方法及びそのプログラムを提供すること
を目的とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances and suppresses wasteful power by using branch resources related to heat treatment work as continuously as possible in anticipation of the schedule of heat treatment work. It is an object of the present invention to provide a method of creating a schedule for a substrate processing apparatus and a program thereof that can improve throughput by eliminating waiting time and improve process reproducibility.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】この発明は、このような
目的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、請求項1に記載の発明は、基板に対して複数個のリ
ソースを備えた基板処理装置により、各リソースを使用
しながら処理する際に各々のリソースを使用するタイミ
ングを決定する基板処理装置のスケジュール作成方法に
おいて、実際に基板に対する処理を開始する前に各リソ
ースの使用タイミングを予め作成するとともに、基板に
対しての直接的な処理である熱処理作業に付随する動作
をブランチリソースとして定義し、熱処理作業のリソー
スを使用して基板に対して熱処理作業を行なう場合に
は、熱処理作業のリソースを使用するとともに、その熱
処理作業に付随するブランチリソースを使用し、さらに
複数のリソースで熱処理作業が並行あるいは連続して実
施される場合には、既に使用されているブランチリソー
スを継続的に使用することを特徴とするものである。
The present invention has the following constitution in order to achieve such an object. That is, the invention according to claim 1 is a substrate processing apparatus that includes a plurality of resources for a substrate, and determines the timing of using each resource when processing while using each resource. In the method of creating a schedule, the timing of using each resource is created in advance before actually starting the processing for the substrate, and the operation accompanying the heat treatment work that is the direct processing for the substrate is defined as a branch resource. When performing heat treatment work on a substrate using the heat treatment work resource, the heat treatment work resource is used, the branch resource attached to the heat treatment work is used, and the heat treatment work is performed by a plurality of resources. When it is executed in parallel or consecutively, the branch resources already used are continuously It is characterized in that use.

【0008】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
の基板処理装置のスケジュール作成方法において、前記
熱処理作業は、処理液を加熱した加熱処理液により基板
を洗浄する洗浄処理部をリソースとして使用し、前記ブ
ランチリソースは、加熱処理液の使用時間制御と、加熱
処理液の温度制御とを含むことを特徴とするものであ
る。
According to a second aspect of the present invention, in the method for creating a schedule of the substrate processing apparatus according to the first aspect, the heat treatment work includes a cleaning processing unit that cleans the substrate with the heat processing liquid that heats the processing liquid as a resource. The branch resource includes a use time control of the heat treatment liquid and a temperature control of the heat treatment liquid.

【0009】請求項3に記載の発明は、請求項2に記載
の基板処理装置のスケジュール作成方法において、前記
処理液は、純水であることを特徴とするものである。
According to a third aspect of the present invention, in the method of creating a schedule of the substrate processing apparatus according to the second aspect, the treatment liquid is pure water.

【0010】請求項4に記載の発明は、請求項2に記載
の基板処理装置のスケジュール作成方法において、前記
使用時間制御は、加熱処理液の使用開始から停止を規定
し、前記温度制御は、加熱処理液の準備開始から準備完
了を経て準備停止を規定することを特徴とするものであ
る。
According to a fourth aspect of the present invention, in the method of creating a schedule of the substrate processing apparatus according to the second aspect, the use time control defines from start of use of the heat treatment liquid to stop, and the temperature control comprises It is characterized in that the preparation stop of the heat treatment liquid is defined after the preparation start and the preparation completion.

【0011】請求項5に記載の発明は、基板に対して複
数個のリソースを備えた基板処理装置により、各リソー
スを使用しながら処理する際に各々のリソースを使用す
るタイミングを決定する基板処理装置のスケジュール作
成プログラムにおいて、実際に基板に対する処理を開始
する前に各リソースの使用タイミングを予め作成すると
ともに、基板に対しての直接的な処理である熱処理作業
に付随する動作をブランチリソースとして定義し、熱処
理作業のリソースを使用して基板に対して熱処理作業を
行なう場合には、熱処理作業のリソースを使用するとと
もに、その熱処理作業に付随するブランチリソースを使
用し、さらに複数のリソースで熱処理作業が並行あるい
は連続して実施される場合には、既に使用されているブ
ランチリソースを継続的に使用するようにコンピュータ
を制御することを特徴とするものである。
According to a fifth aspect of the present invention, a substrate processing apparatus having a plurality of resources for a substrate determines the timing of using each resource when processing while using each resource. In the equipment schedule creation program, the usage timing of each resource is created in advance before actually starting the processing for the substrate, and the operation associated with the heat treatment work that is the direct processing for the substrate is defined as a branch resource. However, when the heat treatment work is performed on the substrate using the heat treatment work resource, the heat treatment work resource is used, and the branch resource associated with the heat treatment work is used. If the branch resources are already used, It is characterized in that to control the computer to continue to use.

【0012】[0012]

【作用】請求項1に記載の発明の作用は次のとおりであ
る。すなわち、熱処理作業を行なう際には、熱処理作業
のリソースを使用するとともに、ブランチリソースを使
用するが、予めスケジュールを作成するので熱処理作業
が並行あるいは連続して実施される場合がわかる。その
ような場合には、既に使用されているブランチリソース
を継続的に使用することで、小刻みな使用開始・停止を
繰り返す必要がなくなる。
The operation of the invention described in claim 1 is as follows. That is, when the heat treatment work is performed, the resource of the heat treatment work is used and the branch resource is used. However, since the schedule is created in advance, it can be seen that the heat treatment work is performed in parallel or continuously. In such a case, by continuously using the branch resource that has already been used, it is not necessary to repeatedly start and stop the use every minute.

【0013】リソースとは、例えば、基板を搬送する搬
送機構、純水を含んだ処理液で基板を洗浄する純水洗浄
処理部、加熱した純水を供給する温水ユニット、薬液を
含んだ処理液で基板を洗浄する薬液処理部、基板を加熱
する加熱処理部などを含むが、本発明においては特に熱
処理作業に関わる処理部のことを示している。
The resources are, for example, a transport mechanism for transporting the substrate, a pure water cleaning processing unit for cleaning the substrate with a processing liquid containing pure water, a hot water unit for supplying heated pure water, a processing liquid containing a chemical liquid. Although it includes a chemical solution processing section for cleaning the substrate, a heat processing section for heating the substrate, etc., in the present invention, the processing section particularly related to the heat treatment work is shown.

【0014】また、ブランチリソースとは、熱処理作業
に付随する動作のことであり、例えば、純水洗浄処理部
に加熱純水を供給するための温水ユニットにおける温水
の使用時間制御、温度制御などのことを示している。
The branch resource is an operation associated with the heat treatment work. For example, hot water usage time control and temperature control in a hot water unit for supplying heated pure water to the pure water cleaning processing section. It is shown that.

【0015】請求項2に記載の発明によれば、加熱処理
液を用いる洗浄処理部をリソースとした場合には、ブラ
ンチリソースとして加熱処理液の使用時間を規定する使
用時間制御と、加熱処理液の温度を規定する温度制御と
を使用する。
According to the second aspect of the present invention, when the cleaning treatment section using the heat treatment liquid is used as a resource, the use time control for defining the use time of the heat treatment liquid as a branch resource and the heat treatment liquid are used. And temperature control that regulates the temperature of.

【0016】請求項3に記載の発明によれば、純水を加
熱した加熱処理液によって基板を処理する。
According to the third aspect of the present invention, the substrate is treated with the heat treatment liquid obtained by heating pure water.

【0017】請求項4に記載の発明によれば、ブランチ
リソースである使用時間制御は、加熱処理液の使用開始
から停止を規定し、温度制御は加熱処理液の準備開始か
ら準備完了を経て準備停止を規定して熱処理作業に付随
する動作を行なう。
According to the fourth aspect of the present invention, the use time control which is a branch resource regulates from the start of use of the heat treatment liquid to the stop, and the temperature control is prepared from the start of preparation of the heat treatment liquid through completion of preparation. The stop is specified to perform the operation associated with the heat treatment work.

【0018】請求項5に記載の発明によれば、上記の請
求項1と同様の作用を生じる。
According to the invention described in claim 5, the same operation as in claim 1 is produced.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照してこの発明の
一実施例を説明する。図1ないし図3はこの発明の一実
施例に係り、図1は実施例に係る基板処理装置の概略構
成を示した平面図であり、図2はそのブロック図であ
り、図3は純水洗浄処理部の概略構成を示すブロック図
である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. 1 to 3 relate to an embodiment of the present invention, FIG. 1 is a plan view showing a schematic configuration of a substrate processing apparatus according to the embodiment, FIG. 2 is a block diagram thereof, and FIG. 3 is pure water. It is a block diagram showing a schematic structure of a cleaning processing part.

【0020】この基板処理装置は、例えば、基板Wに対
して薬液処理及び純水洗浄処理及び乾燥処理を施すため
の装置である。基板Wは複数枚(例えば25枚)がカセ
ット1に対して起立姿勢で収納されている。未処理の基
板Wを収納したカセット1は、投入部3に載置される。
投入部3は、カセット1を載置される載置台5を二つ備
えている。基板処理装置の中央部を挟んだ投入部3の反
対側には、払出部7が配備されている。この払出部7
は、処理済みの基板Wをカセット1に収納してカセット
1ごと払い出す。このように機能する払出部7は、投入
部3と同様に、カセット1を載置するための二つの載置
台9を備えている。
The substrate processing apparatus is, for example, an apparatus for subjecting the substrate W to chemical treatment, pure water cleaning treatment and drying treatment. A plurality of (e.g., 25) substrates W are stored in the cassette 1 in an upright posture. The cassette 1 containing the unprocessed substrate W is placed on the loading unit 3.
The loading unit 3 includes two mounting tables 5 on which the cassette 1 is mounted. A payout unit 7 is provided on the opposite side of the input unit 3 with the central portion of the substrate processing apparatus sandwiched therebetween. This payout section 7
Stores the processed substrate W in the cassette 1 and dispenses the cassette 1 together. The payout unit 7 functioning in this way is provided with two mounting bases 9 for mounting the cassette 1 similarly to the loading unit 3.

【0021】投入部3と払出部7に沿う位置には、これ
らの間を移動可能に構成された第1搬送機構11が配置
されている。第1搬送機構11は、投入部3に載置され
たカセット1ごと複数枚の基板Wを第2搬送機構13に
対して搬送する。
At a position along the input section 3 and the payout section 7, a first transport mechanism 11 is arranged so as to be movable between them. The first transport mechanism 11 transports a plurality of substrates W together with the cassette 1 placed on the loading unit 3 to the second transport mechanism 13.

【0022】第2搬送機構13は、収納されている全て
の基板Wをカセット1から取り出した後、第3搬送機構
15に対して全ての基板Wを搬送する。また、第3搬送
機構15から処理済みの基板Wを受け取った後に、基板
Wをカセット1に収容して第1搬送機構11に搬送す
る。
The second transfer mechanism 13 takes out all the stored substrates W from the cassette 1 and then transfers all the substrates W to the third transfer mechanism 15. After receiving the processed substrate W from the third transfer mechanism 15, the substrate W is accommodated in the cassette 1 and transferred to the first transfer mechanism 11.

【0023】第3搬送機構15は、基板処理装置の長手
方向に向けて移動可能に構成されており、上述した第2
搬送機構13との間で基板Wの受け渡しを行なう。上記
第3搬送機構15の移動方向における最も手前側には、
複数枚の基板Wを低圧のチャンバ内に収納して乾燥させ
るための乾燥処理部17が配備されている。
The third transfer mechanism 15 is constructed so as to be movable in the longitudinal direction of the substrate processing apparatus, and has the above-mentioned second transfer mechanism.
The substrate W is transferred to and from the transport mechanism 13. On the most front side in the moving direction of the third transport mechanism 15,
A drying processing unit 17 is provided to store a plurality of substrates W in a low-pressure chamber and dry the substrates.

【0024】第3搬送機構15の移動方向であって上記
乾燥処理部17に隣接する位置には、第1処理部19が
配備されている。この第1処理部19は、複数枚の基板
Wに対して純水洗浄処理を施すための純水洗浄処理部2
1を備えているとともに、複数枚の基板Wに対して薬液
処理を施すための薬液処理部23を備えている。この純
水洗浄処理部21は、温水ユニット24から供給される
加熱された純水を加熱処理液として供給されたり、純水
のみを供給されたり、さらにはオゾン水を処理液として
供給されて基板Wに対して洗浄処理を施す。
A first processing unit 19 is provided at a position adjacent to the drying processing unit 17 in the moving direction of the third transport mechanism 15. The first processing unit 19 is a pure water cleaning processing unit 2 for performing a pure water cleaning process on a plurality of substrates W.
1, and a chemical liquid processing unit 23 for performing chemical liquid processing on a plurality of substrates W. The deionized water cleaning processing unit 21 is supplied with heated deionized water supplied from the hot water unit 24 as a heat treatment liquid, only pure water is supplied, and ozone water is supplied as a treatment liquid. W is washed.

【0025】第1副搬送機構25は、縦断面形状がLの
字状で、基板Wを起立姿勢で保持する保持アーム25a
を備えている。第1処理部19内での基板搬送の他に、
第3搬送機構15との間で基板Wを受け渡しする。純水
洗浄処理部21の上方に位置する「非処理位置」では、
第3搬送機構15との間で基板Wを受け渡す動作が行な
われる一方、薬液処理部23の上方に位置する「非処理
位置」では、基板Wの受け渡しは行なわれない。また、
基板Wを処理する際には、純水洗浄処理部21や薬液処
理部23の槽内に位置する「処理位置」にまで下降す
る。
The first sub-transport mechanism 25 has a L-shaped vertical cross section, and a holding arm 25a for holding the substrate W in an upright posture.
Is equipped with. In addition to the substrate transfer in the first processing unit 19,
The substrate W is transferred to and from the third transfer mechanism 15. At the “non-processing position” located above the pure water cleaning processing section 21,
While the operation of transferring the substrate W to and from the third transfer mechanism 15 is performed, the transfer of the substrate W is not performed at the “non-processing position” located above the chemical liquid processing section 23. Also,
When processing the substrate W, the substrate W is lowered to the “processing position” located in the bath of the pure water cleaning processing unit 21 or the chemical liquid processing unit 23.

【0026】温水ユニット24は、第1搬送機構11な
どと同様にリソースの一つである。この温水ユニット2
4は、純水を加熱して加熱処理液を生成する機能を有
し、熱処理作業に付随する動作を規定する「ブランチリ
ソース」として取り扱われる。つまり、加熱処理液の温
度制御を開始して加熱を開始する準備開始から、加熱完
了を示す準備完了を経て、温度制御を停止して加熱制御
を終了する準備停止を規定する温度制御と、加熱処理液
の使用開始から停止を規定する使用時間制御とを含む。
The hot water unit 24 is one of the resources like the first transport mechanism 11 and the like. This hot water unit 2
4 has a function of heating pure water to generate a heat treatment liquid, and is treated as a “branch resource” that defines an operation accompanying a heat treatment operation. That is, from the start of preparation for starting the temperature control of the heat treatment liquid to start heating, through the preparation completion indicating the completion of heating, the temperature control for stopping the temperature control and ending the heating control And a use time control that defines the start and stop of use of the processing liquid.

【0027】純水洗浄処理部21は、保持アーム25a
ごと基板Wを処理液中に浸漬する処理槽27を備え、そ
の底部には処理液を注入する注入管29が配備されてい
る。また、上部の周囲には溢れた処理液を回収して排出
する回収槽31を備えている。注入管29には、純水供
給源31に連通した配管33が接続されている。配管3
3には、開閉弁35とミキシングバルブ37が取り付け
られている。ミキシングバルブ37には、オゾン供給源
39に連通した供給管41が取り付けられており、開閉
弁43の開閉によりオゾン水の注入が制御される。な
お、配管33には、温水ユニット24の制御により純水
を加熱する加熱器45が取り付けられている。
The pure water cleaning processing section 21 includes a holding arm 25a.
A processing tank 27 for immersing the substrate W in the processing liquid is provided, and an injection pipe 29 for injecting the processing liquid is provided at the bottom thereof. Further, a collection tank 31 for collecting and discharging the overflowed processing liquid is provided around the upper part. A pipe 33 communicating with a pure water supply source 31 is connected to the injection pipe 29. Piping 3
An on-off valve 35 and a mixing valve 37 are attached to 3. A supply pipe 41 communicating with an ozone supply source 39 is attached to the mixing valve 37, and the injection of ozone water is controlled by opening / closing the opening / closing valve 43. A heater 45 for heating pure water under the control of the hot water unit 24 is attached to the pipe 33.

【0028】純水を加熱した加熱処理液によって基板W
を洗浄処理するには、開閉弁43を閉止した状態で、開
閉弁35を開放し、加熱器45を介して温水ユニット2
4で目的の温度に調整されると、処理槽27へ供給す
る。このとき、保持アーム25aは処理槽27内の処理
位置にまで下降させた状態である。
The substrate W is heated by a heat treatment liquid obtained by heating pure water.
In order to wash the water, the opening / closing valve 35 is opened while the opening / closing valve 43 is closed, and the hot water unit 2 is supplied via the heater 45.
When the temperature is adjusted to the target temperature in 4, it is supplied to the processing bath 27. At this time, the holding arm 25a is in a state of being lowered to the processing position in the processing tank 27.

【0029】第2処理部47が第1処理部19に隣接し
て配備されている。この第2処理部47は、第1処理部
19と同様の構成である。つまり、純水洗浄処理部49
及び薬液処理部51を備え、さらに第2副搬送機構53
を備えている。この第2副搬送機構53は、保持アーム
53aを備えている。また、純水洗浄処理部49は、上
述した純水洗浄処理部21と同様の構成を採る。つま
り、処理槽55と、注入管57と、回収槽59と、配管
61と、開閉弁63と、ミキシングバルブ65と、供給
管67と、開閉弁69とを備えている。但し、純水供給
源31と、オゾン供給源39と、加熱器45は共用であ
る。
A second processing section 47 is provided adjacent to the first processing section 19. The second processing unit 47 has the same configuration as the first processing unit 19. That is, the pure water cleaning processing unit 49
And a chemical solution processing section 51, and a second sub-transport mechanism 53.
Is equipped with. The second sub transport mechanism 53 includes a holding arm 53a. Further, the pure water cleaning processing unit 49 has the same configuration as the pure water cleaning processing unit 21 described above. That is, the processing tank 55, the injection pipe 57, the recovery tank 59, the pipe 61, the opening / closing valve 63, the mixing valve 65, the supply pipe 67, and the opening / closing valve 69 are provided. However, the pure water supply source 31, the ozone supply source 39, and the heater 45 are shared.

【0030】なお、上述した純水洗浄処理部21,49
が本発明における洗浄処理部に相当する。本実施例で
は、純水を加熱した加熱処理液を例に説明しているが、
例えば、オゾン水等の薬液を加熱した加熱処理液を用い
る場合であっても実施可能である。
The pure water cleaning processing units 21, 49 described above are used.
Corresponds to the cleaning processing unit in the present invention. In this embodiment, the heat treatment liquid obtained by heating pure water is described as an example.
For example, it can be carried out even when a heat treatment liquid obtained by heating a chemical liquid such as ozone water is used.

【0031】第2搬送機構13に付設されているカセッ
ト洗浄部71は、上述した第2搬送機構13が全ての基
板Wを取り出した後、空になったカセット1を洗浄する
機能を有する。
The cassette cleaning unit 71 attached to the second transfer mechanism 13 has a function of cleaning the empty cassette 1 after the second transfer mechanism 13 has taken out all the substrates W.

【0032】上記のように構成されている基板処理装置
は、図2のブロック図に示すように制御部73によって
統括的に制御される。
The substrate processing apparatus configured as described above is comprehensively controlled by the controller 73 as shown in the block diagram of FIG.

【0033】制御部73は、CPUなどから構成されて
おり、以下に説明するスケジュール作成プログラムに相
当する手順に基づき、レシピに応じて上述した純水洗浄
処理部21などの各リソースの使用タイミングを、実際
に基板Wに対する処理を開始する前に予め決定する。そ
の後、実際に基板Wを処理するにあたり、作成されたス
ケジュールに基づき各リソースを使用してレシピに応じ
た処理を基板Wに対して施す。
The control unit 73 is composed of a CPU and the like, and determines the use timing of each resource such as the pure water cleaning processing unit 21 described above according to the recipe based on the procedure corresponding to the schedule creating program described below. , Is determined in advance before actually starting the processing on the substrate W. After that, when actually processing the substrate W, the processing according to the recipe is performed on the substrate W using each resource based on the created schedule.

【0034】記憶部75には、この基板処理装置のユー
ザによって予め作成され、基板Wをどのようにして処理
するかを規定した複数種類のレシピと、スケジュール作
成プログラムと、作成されたスケジュールを実行する処
理プログラム等が予め格納されている。
The storage unit 75 executes a plurality of types of recipes created in advance by the user of this substrate processing apparatus and defining how to process the substrate W, a schedule creation program, and the created schedule. A processing program and the like are stored in advance.

【0035】制御部73は、スケジュールを作成するた
めに純水洗浄処理部21や温水ユニット24等のリソー
スをどのようなタイミングで制御するかを決定するが、
リソースとして熱処理作業を伴う純水洗浄処理部21,
49を使用する際には、それ自身を使用するのはもちろ
んのこと、熱処理作業に付随するブランチリソースを使
用するとともに、既に使用されているブランチリソース
を継続的に使用するようにする点が特徴的になってい
る。
The control unit 73 determines at what timing the resources such as the pure water cleaning processing unit 21 and the hot water unit 24 are controlled in order to create a schedule.
Pure water cleaning processing unit 21, which involves heat treatment work as a resource,
When using 49, not only is it used by itself, but it also uses branch resources associated with heat treatment work and continuously uses branch resources already used. It has become a target.

【0036】なお、図4に示すタイムチャートを参照し
ながらスケジュール作成プログラムに相当する手順につ
いて説明するが、理解を容易にするためにレシピのうち
の一部だけを例に採って説明する。
The procedure corresponding to the schedule creating program will be described with reference to the time chart shown in FIG. 4. However, in order to facilitate understanding, only a part of the recipe will be described as an example.

【0037】具体的に処理を説明すると、第1のロット
である基板Wが、純水洗浄処理部21にて加熱された純
水(以下、温水と称する)による熱処理作業を含む水洗
処理が施され、わずかに遅れて第2のロットである基板
Wが、純水洗浄処理部49にて同じ処理が施されるとい
うものである。
The process will be described in detail. The first lot of substrates W are subjected to a water washing process including a heat treatment operation using pure water (hereinafter, referred to as warm water) heated in the pure water cleaning unit 21. Then, with a slight delay, the second lot of substrates W are subjected to the same processing in the pure water cleaning processing section 49.

【0038】上記の処理動作について詳細に説明する。
まず、第1のロットに対する処理(図中に白色矩形で示
す)において、時間t0〜t7にわたり、純水洗浄処理
部21のリソースをレシピに応じた時間だけステップS
10で使用する。これにより第1のロットの基板Wに対
して、温水による処理を含む水洗処理が行なわれる。な
お、時間t4〜t5におけるステップS10aは、ステ
ップS10において温水が供給されて基板Wに処理が行
なわれるステップである。
The above processing operation will be described in detail.
First, in the process for the first lot (indicated by a white rectangle in the figure), the resources of the pure water cleaning processing unit 21 are set to the step S for the time corresponding to the recipe from time t0 to t7.
Used in 10. As a result, the washing process including the process with warm water is performed on the substrates W of the first lot. Note that step S10a during the times t4 to t5 is a step in which hot water is supplied and the substrate W is processed in step S10.

【0039】これに並行して、第2のロットに対する処
理(図中にハッチングした矩形で示す)において、温水
による処理が重複しないように、時間t1〜t8にわた
り、純水洗浄処理部49のリソースを使用する。つま
り、時間t5においてステップS10aの終了時とステ
ップS20aの開始時が連続するように配置する。
In parallel with this, in the processing for the second lot (shown by hatched rectangles in the figure), the resources of the pure water cleaning processing section 49 are covered from time t1 to t8 so that the processing by hot water does not overlap. To use. That is, at time t5, the arrangement is such that the end of step S10a and the start of step S20a continue.

【0040】また、第1のロットが処理される純水洗浄
処理部21における温水の使用(ステップS10a)に
あわせて、温水ユニット24の使用時間制御のリソース
を、時間t4〜t5にわたってステップS12で使用す
る。これに続けて、第2のロットが処理される純水洗浄
処理部49における温水の使用(ステップS20a)に
合わせて、ステップS22で同じ温水ユニット24の使
用時間制御のリソースを使用する。
Further, in accordance with the use of hot water in the pure water cleaning processing section 21 in which the first lot is processed (step S10a), the resource for controlling the use time of the hot water unit 24 is set in step S12 over time t4 to t5. use. Following this, in accordance with the use of hot water in the deionized water cleaning processing unit 49 in which the second lot is processed (step S20a), the same resource for use time control of the hot water unit 24 is used in step S22.

【0041】さらに、温水ユニット24の温度制御のリ
ソースを、純水洗浄処理部21において温水が使用され
るステップS10aに合わせて、純水の昇温に必要な時
間を含む所定時間だけ前から使用する。つまり、本実施
例においては、時間t2〜t5にわたってステップS1
4で使用する。これにより時間t2において「準備開
始」命令が発行されて温度制御が開始され、レシピに応
じた目標温度に向けての昇温が行なわれる。温水の温度
が目標温度に達したことを示す「準備完了」命令は、時
間t4に発行され、温度制御は温水の処理が完了する時
間t5まで継続される。
Further, the temperature control resource of the hot water unit 24 is used for a predetermined time including the time required for raising the temperature of the pure water in accordance with step S10a in which the hot water is used in the pure water cleaning processing section 21. To do. That is, in the present embodiment, the step S1 is performed over the time t2 to t5.
Use in 4. As a result, a "preparation start" command is issued at time t2 to start temperature control, and the temperature is raised toward the target temperature according to the recipe. A "ready" command indicating that the temperature of the hot water has reached the target temperature is issued at time t4, and the temperature control is continued until time t5 when the hot water treatment is completed.

【0042】これに並行して、純水洗浄処理部49にお
いて温水が使用されるステップS20aに合わせ、温水
ユニット24の温度制御のリソースが使用される。つま
り、時間t3〜t6にわたってステップS24で使用さ
れる。これにより時間t3から温度制御が開始されて、
レシピに応じた昇温が行なわれるが、既にそのブランチ
リソースが使用されているので、ここでは再び使用する
のではなく継続的な使用となる。そのため本来はステッ
プS24の時間t3で温度制御の「準備開始」命令が発
行されるが、この命令は発行されない。同様に、ステッ
プS14の時間t5で発行されるはずの温度制御の「準
備停止」命令は発行されない。これにより、温水ユニッ
ト24の温度制御リソースは、時間t2〜t6にわたっ
て継続的に使用されることになる。
In parallel with this, the temperature control resource of the hot water unit 24 is used in accordance with step S20a where hot water is used in the pure water cleaning processing section 49. That is, it is used in step S24 from time t3 to time t6. As a result, temperature control is started from time t3,
Although the temperature is raised according to the recipe, since the branch resource has already been used, it is not used again but is used continuously. Therefore, although the "preparation start" command for temperature control is originally issued at time t3 in step S24, this command is not issued. Similarly, the "stop preparation" command for temperature control, which should have been issued at time t5 in step S14, is not issued. As a result, the temperature control resource of the hot water unit 24 is continuously used for the time t2 to t6.

【0043】このようなスケジュールを予め作成してお
いて、記憶部75に記憶しておく。そして、実際に基板
Wの処理を開始する際に、そのスケジュールを処理プロ
グラムが実行して実際に基板Wを処理してゆく。
Such a schedule is created in advance and stored in the storage unit 75. Then, when the processing of the substrate W is actually started, the processing program executes the schedule to actually process the substrate W.

【0044】上述したように予めスケジュールを作成す
ることで熱処理作業が並行して実施される場合がわかる
ので、既に使用されているブランチリソースを継続的に
使用することにより小刻みな使用開始・停止を繰り返す
必要がなくなる。したがって、無駄な電力の発生を抑制
することができつつも、待機時間をなくしてスループッ
トを高めることができる。また、待機時間をなくすこと
ができるので、プロセスの再現性を向上できる。
Since it is understood that the heat treatment work is performed in parallel by creating the schedule in advance as described above, continuous use of the branch resource that has already been used can be used to start and stop the use in small increments. No need to repeat. Therefore, it is possible to suppress wasteful generation of electric power, and increase the throughput by eliminating the waiting time. Moreover, since the waiting time can be eliminated, the reproducibility of the process can be improved.

【0045】<従来技術との比較><Comparison with Prior Art>

【0046】図5に示すタイムチャートは、本発明(図
5(a))と従来技術(図5(b))とを比較したもの
である。
The time chart shown in FIG. 5 is a comparison between the present invention (FIG. 5 (a)) and the prior art (FIG. 5 (b)).

【0047】このように従来技術(図5(b))では、
純水洗浄処理部21の動作完了を待ってから温水ユニッ
ト24の温度制御を開始させていることから、昇温時間
の間は待機する必要がある。そのため、第1のロット、
第2のロットともに図中に黒塗りの矩形で示した待機時
間が生じていることがわかる。また、第1のロットに対
する処理が完了した時点で、一旦温度制御を停止してい
るので、第2のロットが処理を開始するまでには再び温
度が上昇するまでの待ち時間が必要になる。また、この
待機時間が第1のロットよりも長くなっていることがわ
かる。つまり、温水による処理を開始するまでの待ち時
間がロット毎に大きく変わることがあるので、ロット間
におけるプロセスの再現性が低い。
As described above, in the conventional technique (FIG. 5B),
Since the temperature control of the hot water unit 24 is started after the completion of the operation of the pure water cleaning processing section 21, it is necessary to wait during the temperature rising time. Therefore, the first lot,
It can be seen that in the second lot, the waiting time indicated by the black rectangle in the figure occurs. Further, since the temperature control is temporarily stopped when the processing for the first lot is completed, it is necessary to wait for the temperature to rise again before the second lot starts processing. Also, it can be seen that this waiting time is longer than that of the first lot. That is, the waiting time until the start of treatment with hot water may vary greatly from lot to lot, so the reproducibility of the process between lots is low.

【0048】その一方、本発明によると、図5(a)に
示すように、温水ユニット24のブランチリソースを継
続的に使用することにより、待機時間がなくなってい
る。したがって、温度制御に要する時間も減少し、無駄
な電力が抑制できる。また、待機時間が短くなっている
ので、第1のロットが純水洗浄処理部21の使用を終え
る時間はTA時間だけ早くなり、第2のロットが純水洗
浄処理部49の使用を終える時間はTB時間だけ短くな
る。
On the other hand, according to the present invention, as shown in FIG. 5A, the standby time is eliminated by continuously using the branch resource of the hot water unit 24. Therefore, the time required for temperature control is also reduced and useless power can be suppressed. Further, since the waiting time is short, the time for the first lot to finish using the pure water cleaning processing unit 21 is increased by TA time, and the time for the second lot to finish using the pure water cleaning processing unit 49. Is shortened by TB time.

【0049】なお、上記の説明においては理解の容易の
ために、レシピの一部の処理工程だけを例に採って説明
した。本発明は、予め処理の前にスケジュールを作成し
てから実際の処理を行なうのであれば適用可能である
が、そのなかでも次のようなスケジュール作成方法が好
ましい。
In the above description, for easy understanding, only a part of the processing steps of the recipe has been described as an example. The present invention can be applied if a schedule is created in advance before processing and then the actual processing is performed. Among them, the following schedule creation method is preferable.

【0050】すなわち、基板に処理を施すための処理部
を複数個備えた基板処理装置によって複数のロットを処
理するにあたり、複数の処理工程を含むレシピに基づい
て各々のロットを各処理部で順次に処理するために各ロ
ットの処理順序を決定する基板処理装置のスケジュール
作成方法において、いずれかのロットについて最初の処
理工程を配置した後、各ロットの次なる処理工程のう
ち、各々の前の処理工程における終了予定時刻が最も早
いロットに対する処理工程を次の処理工程として配置す
るのである。
That is, when a plurality of lots are processed by a substrate processing apparatus having a plurality of processing units for processing a substrate, each lot is sequentially processed by each processing unit based on a recipe including a plurality of processing steps. In the method of creating a schedule for a substrate processing apparatus that determines the processing order of each lot for processing, after arranging the first processing step for any lot, the next processing step of each lot The processing step for the lot having the earliest scheduled end time in the processing step is arranged as the next processing step.

【0051】この方法における処理工程とは、例えば、
純水洗浄処理部21における処理と、第3搬送機構15
における処理と、乾燥処理部17における処理とを含む
工程などのことである。
The processing steps in this method are, for example,
Processing in the pure water cleaning processing section 21 and the third transport mechanism 15
And the processing in the drying processing unit 17 and the like.

【0052】この方法によれば、予めスケジュールする
ことで前の処理工程の後作業と、その後の処理工程の前
作業とを重複させて配置することができるとともに、配
置可能な処理工程のうち前の処理工程が早く終わるロッ
トの処理工程を次の処理工程として選択して配置するこ
とで、次の処理工程が終了するまでの時間を短縮するこ
とができる。したがって、基板処理装置の処理部を有効
利用することができるので、待機時間を抑制して稼働率
を向上することができる。
According to this method, it is possible to arrange the post-work of the previous processing step and the pre-work of the subsequent processing step in an overlapping manner by scheduling in advance, and to arrange the pre-processing of the process steps that can be arranged. By selecting and arranging the processing step of the lot whose processing step ends early as the next processing step, the time until the completion of the next processing step can be shortened. Therefore, since the processing unit of the substrate processing apparatus can be effectively used, the standby time can be suppressed and the operating rate can be improved.

【0053】なお、本発明は基板処理装置であればどの
ような処理を施す装置であっても適用することができ
る。例えば、基板に対してフォトレジスト被膜を被着す
る装置や、基板の表面に導電膜を被着するエッチング装
置などであってもよい。このような場合には、熱処理作
業に付随するブランチリソースが、基板を加熱する加熱
処理部におけるプレートを使用する使用時間制御と、プ
レートの温度を制御する温度制御とを含む。
The present invention can be applied to any processing apparatus as long as it is a substrate processing apparatus. For example, an apparatus that deposits a photoresist film on the substrate, an etching apparatus that deposits a conductive film on the surface of the substrate, or the like may be used. In such a case, the branch resources associated with the heat treatment operation include the control of the usage time of using the plate in the heat treatment section for heating the substrate and the temperature control of controlling the temperature of the plate.

【0054】[0054]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
1に記載の発明によれば、予めスケジュールを作成する
ことで熱処理作業が並行あるいは連続して実施される場
合がわかる。そのような場合には、既に使用されている
ブランチリソースを継続的に使用することで、小刻みな
使用開始・停止を繰り返す必要がなくなる。したがっ
て、無駄な電力の発生を抑制することができつつ待機時
間をなくしてスループットを向上させることができる。
また、待機時間をなくすことができるので、プロセスの
再現性を向上させることが可能である。
As is apparent from the above description, according to the invention described in claim 1, it is understood that the heat treatment work is carried out in parallel or continuously by preparing the schedule in advance. In such a case, by continuously using the branch resource that has already been used, it is not necessary to repeatedly start and stop the use every minute. Therefore, it is possible to suppress wasteful generation of electric power, eliminate standby time, and improve throughput.
Moreover, since the waiting time can be eliminated, it is possible to improve the reproducibility of the process.

【0055】請求項2に記載の発明によれば、ブランチ
リソースとして加熱処理液の使用開始及び停止を規定す
る使用時間制御と、加熱処理液の温度制御開始及び停止
を規定する温度制御とを使用することで、熱処理作業を
効率的に施すことができる。
According to the second aspect of the present invention, as the branch resource, the use time control that defines the start and stop of the use of the heat treatment liquid and the temperature control that defines the start and stop of the temperature control of the heat treatment liquid are used. By doing so, the heat treatment work can be efficiently performed.

【0056】請求項3に記載の発明によれば、純水を加
熱した加熱処理液によって基板を処理することで洗浄処
理を施すことができる。
According to the third aspect of the present invention, the cleaning treatment can be performed by treating the substrate with the heat treatment liquid obtained by heating pure water.

【0057】請求項4に記載の発明によれば、ブランチ
リソースである使用時間制御と温度制御が熱処理作業に
付随する動作を規定することで、基板に対する処理を効
率的に行なう。
According to the fourth aspect of the present invention, the use time control and the temperature control, which are the branch resources, define the operations associated with the heat treatment work, so that the substrate is efficiently processed.

【0058】請求項5に記載の発明によれば、プログラ
ムとして上記の請求項1に記載の効果と同様の効果を奏
する。
According to the invention described in claim 5, as a program, the same effect as the effect described in claim 1 can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】実施例に係る基板処理装置の概略構成を示した
平面図である。
FIG. 1 is a plan view showing a schematic configuration of a substrate processing apparatus according to an embodiment.

【図2】実施例に係る基板処理装置の概略構成を示した
ブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing a schematic configuration of a substrate processing apparatus according to an embodiment.

【図3】純水洗浄処理部の概略構成を示すブロック図で
ある。
FIG. 3 is a block diagram showing a schematic configuration of a pure water cleaning processing unit.

【図4】スケジュール例の一部を示すタイムチャートで
ある。
FIG. 4 is a time chart showing a part of a schedule example.

【図5】本発明と従来例を比較するタイムチャートであ
る。
FIG. 5 is a time chart comparing the present invention with a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 … カセット 11 … 第1搬送機構 13 … 第2搬送機構 15 … 第3搬送機構 17 … 乾燥処理部 19 … 第1処理部 21 … 純水洗浄処理部 23 … 薬液処理部 24 … 温水ユニット 25 … 第1副搬送機構 45 … 加熱器 47 … 第2処理部 73 … 制御部 75 … 記憶部 1 ... Cassette 11 ... First transport mechanism 13 ... Second transport mechanism 15 ... Third transport mechanism 17 ... Drying processing section 19 ... First processing unit 21 ... Pure water cleaning unit 23 ... Chemical processing section 24 ... Hot water unit 25 ... First sub-transport mechanism 45 ... Heater 47 ... Second processing unit 73 ... Control unit 75 ... Storage unit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 河合 淳 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天神 北町1番地の1 大日本スクリーン製造株 式会社内 (72)発明者 赤尾 喜代志 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天神 北町1番地の1 大日本スクリーン製造株 式会社内 (72)発明者 堀口 修 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天神 北町1番地の1 大日本スクリーン製造株 式会社内 Fターム(参考) 3B201 AA02 AA03 AB01 BB82 BB89 BB92 BB93 CB15 CC01 3C100 AA05 BB14 EE06 5F043 AA01 AA30 BB27 DD12 DD23 EE10 EE22 EE35 EE36 EE40 GG10    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Jun Kawai             4-chome Tenjin, which runs up to Teranouchi, Horikawa-dori, Kamigyo-ku, Kyoto             1 Kitamachi No. 1 Dai Nippon Screen Manufacturing Co., Ltd.             Inside the company (72) Inventor Kiyoshi Akao             4-chome Tenjin, which runs up to Teranouchi, Horikawa-dori, Kamigyo-ku, Kyoto             1 Kitamachi No. 1 Dai Nippon Screen Manufacturing Co., Ltd.             Inside the company (72) Inventor Osamu Horiguchi             4-chome Tenjin, which runs up to Teranouchi, Horikawa-dori, Kamigyo-ku, Kyoto             1 Kitamachi No. 1 Dai Nippon Screen Manufacturing Co., Ltd.             Inside the company F term (reference) 3B201 AA02 AA03 AB01 BB82 BB89                       BB92 BB93 CB15 CC01                 3C100 AA05 BB14 EE06                 5F043 AA01 AA30 BB27 DD12 DD23                       EE10 EE22 EE35 EE36 EE40                       GG10

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板に対して複数個のリソースを備えた
基板処理装置により、各リソースを使用しながら処理す
る際に各々のリソースを使用するタイミングを決定する
基板処理装置のスケジュール作成方法において、 実際に基板に対する処理を開始する前に各リソースの使
用タイミングを予め作成するとともに、 基板に対しての直接的な処理である熱処理作業に付随す
る動作をブランチリソースとして定義し、 熱処理作業のリソースを使用して基板に対して熱処理作
業を行なう場合には、熱処理作業のリソースを使用する
とともに、その熱処理作業に付随するブランチリソース
を使用し、 さらに複数のリソースで熱処理作業が並行あるいは連続
して実施される場合には、既に使用されているブランチ
リソースを継続的に使用することを特徴とする基板処理
装置のスケジュール作成方法。
1. A method for creating a schedule for a substrate processing apparatus, wherein a substrate processing apparatus having a plurality of resources for a substrate determines the timing of using each resource when processing while using each resource. Before the actual processing of the substrate is started, the usage timing of each resource is created in advance, and the operations associated with the heat treatment work, which is the direct treatment of the substrate, are defined as branch resources. When performing heat treatment work on a substrate by using the heat treatment work, the resources of the heat treatment work are used, and branch resources attached to the heat treatment work are used, and the heat treatment work is performed in parallel or continuously with a plurality of resources. If it is, the branch resource already used is continuously used. Scheduling method of a substrate processing apparatus that.
【請求項2】 請求項1に記載の基板処理装置のスケジ
ュール作成方法において、 前記熱処理作業は、処理液を加熱した加熱処理液により
基板を洗浄する洗浄処理部をリソースとして使用し、 前記ブランチリソースは、加熱処理液の使用時間制御
と、加熱処理液の温度制御とを含むことを特徴とする基
板処理装置のスケジュール作成方法。
2. The method of creating a schedule for a substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the heat treatment operation uses a cleaning processing unit that cleans a substrate with a heat processing liquid obtained by heating a processing liquid as a resource, and the branch resource. Is a method for creating a schedule for a substrate processing apparatus, which includes controlling a use time of the heat treatment liquid and controlling a temperature of the heat treatment liquid.
【請求項3】 請求項2に記載の基板処理装置のスケジ
ュール作成方法において、 前記処理液は、純水であることを特徴とする基板処理装
置のスケジュール作成方法。
3. The method for creating a schedule for a substrate processing apparatus according to claim 2, wherein the processing liquid is pure water.
【請求項4】 請求項2に記載の基板処理装置のスケジ
ュール作成方法において、 前記使用時間制御は、加熱処理液の使用開始から停止を
規定し、 前記温度制御は、加熱処理液の準備開始から準備完了を
経て準備停止を規定することを特徴とする基板処理装置
のスケジュール作成方法。
4. The method of creating a schedule for a substrate processing apparatus according to claim 2, wherein the use time control defines a start of use of the heat treatment liquid and a stop, and the temperature control includes start of preparation of the heat treatment liquid. A method for creating a schedule for a substrate processing apparatus, characterized in that preparation stop is defined after preparation is completed.
【請求項5】 基板に対して複数個のリソースを備えた
基板処理装置により、各リソースを使用しながら処理す
る際に各々のリソースを使用するタイミングを決定する
基板処理装置のスケジュール作成プログラムにおいて、 実際に基板に対する処理を開始する前に各リソースの使
用タイミングを予め作成するとともに、 基板に対しての直接的な処理である熱処理作業に付随す
る動作をブランチリソースとして定義し、 熱処理作業のリソースを使用して基板に対して熱処理作
業を行なう場合には、熱処理作業のリソースを使用する
とともに、その熱処理作業に付随するブランチリソース
を使用し、 さらに複数のリソースで熱処理作業が並行あるいは連続
して実施される場合には、既に使用されているブランチ
リソースを継続的に使用するようにコンピュータを制御
することを特徴とする基板処理装置のスケジュール作成
プログラム。
5. A schedule processing program for a substrate processing apparatus, wherein a substrate processing apparatus having a plurality of resources for a substrate determines the timing of using each resource when processing while using each resource, Before the actual processing of the substrate is started, the usage timing of each resource is created in advance, and the operations associated with the heat treatment work, which is the direct treatment of the substrate, are defined as branch resources. When performing heat treatment work on a substrate by using the heat treatment work, the resources of the heat treatment work are used, and branch resources attached to the heat treatment work are used, and the heat treatment work is performed in parallel or continuously with a plurality of resources. If so, make sure to continue using the branch resource that is already used. Schedule creation program of the substrate processing apparatus and controls the computer.
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