JP2003043325A - 光ケーブル用スペーサの検査方法 - Google Patents
光ケーブル用スペーサの検査方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 スペーサのスロット溝の形成状況を簡便かつ
正確に検出することのできる光ケーブル用スペーサの検
査方法を提供すること。 【解決手段】 本発明の光ケーブル用スペーサの検査方
法は、外周面上に光ファイバを収納する複数の螺旋状の
スロット溝を有する光ケーブル用スペーサ２を検査する
ものである。本発明方法では、繰り出されているスペー
サ２の線速を測定すると共に、繰り出されているスペー
サの近傍にレーザー変位計１５を配設してスペーサ２の
表面との距離を測定し、測定した線速及びスペーサ２と
の距離変化から溝を検知・カウントし、所定の溝数をカ
ウントする時間と線速とに基づいて、スロット溝の形成
ピッチを検出する。この結果、スペーサ２を傷つけるこ
となく、正確な形成ピッチを測定することができる。
正確に検出することのできる光ケーブル用スペーサの検
査方法を提供すること。 【解決手段】 本発明の光ケーブル用スペーサの検査方
法は、外周面上に光ファイバを収納する複数の螺旋状の
スロット溝を有する光ケーブル用スペーサ２を検査する
ものである。本発明方法では、繰り出されているスペー
サ２の線速を測定すると共に、繰り出されているスペー
サの近傍にレーザー変位計１５を配設してスペーサ２の
表面との距離を測定し、測定した線速及びスペーサ２と
の距離変化から溝を検知・カウントし、所定の溝数をカ
ウントする時間と線速とに基づいて、スロット溝の形成
ピッチを検出する。この結果、スペーサ２を傷つけるこ
となく、正確な形成ピッチを測定することができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数の螺旋状のス
ロット溝を備えた光ケーブル用スペーサのスロット溝の
形成状況を検査する検査方法に関する。
ロット溝を備えた光ケーブル用スペーサのスロット溝の
形成状況を検査する検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】図１２に示されるように、光ケーブル１
の内部にはスペーサ２が収納されているのが一般的であ
る。スペーサ２の中心には鋼撚線などの抗張力線３が配
設されると共に、スペーサ２の周囲には被覆４が施され
ている。スペーサ２は、図１３に示されるように、その
周囲に螺旋状の複数のスロット溝５を有している。各ス
ロット溝５内には、複数枚のテープ状光ファイバ６が積
層状態で収納される（図１２参照）。
の内部にはスペーサ２が収納されているのが一般的であ
る。スペーサ２の中心には鋼撚線などの抗張力線３が配
設されると共に、スペーサ２の周囲には被覆４が施され
ている。スペーサ２は、図１３に示されるように、その
周囲に螺旋状の複数のスロット溝５を有している。各ス
ロット溝５内には、複数枚のテープ状光ファイバ６が積
層状態で収納される（図１２参照）。
【０００３】このようなスペーサ２のスロット溝５の形
成状況を検査する装置としては、特公平6-72970号公
報、実用新案登録公報第2534795号、又は、特開平2000-
65558号公報に記載のものなどが知られている。これら
の公報に記載の装置は、繰り出されているスペーサの途
中に、スペーサの繰り出し方向に直角な平面内でスペー
サの中心軸を中心に回転可能なピンを有している。繰り
出されているスペーサのスロット溝内に上述したピンを
挿入させ、スペーサを繰り出しに伴うピンの回転移動を
ロータリエンコーダなどで検出することによって、スロ
ット溝の形成状況を検出している。
成状況を検査する装置としては、特公平6-72970号公
報、実用新案登録公報第2534795号、又は、特開平2000-
65558号公報に記載のものなどが知られている。これら
の公報に記載の装置は、繰り出されているスペーサの途
中に、スペーサの繰り出し方向に直角な平面内でスペー
サの中心軸を中心に回転可能なピンを有している。繰り
出されているスペーサのスロット溝内に上述したピンを
挿入させ、スペーサを繰り出しに伴うピンの回転移動を
ロータリエンコーダなどで検出することによって、スロ
ット溝の形成状況を検出している。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述したスロ
ット溝にピンを挿入することによってスロット溝の形成
状況を検出する方法によると、ピンとスロット溝の内面
とが接触するため、スペーサの繰り出し線速を高速化し
ようとするとスロット溝の内面に傷を付けてしまうおそ
れがあり、思うようにスペーサの繰り出し線速を上げる
ことができないという欠点があった。このようなスロッ
ト溝の検査はスペーサの製造時に同時に行われるのがほ
とんどであり、スペーサの製造効率を向上させる上での
障害となってしまう。
ット溝にピンを挿入することによってスロット溝の形成
状況を検出する方法によると、ピンとスロット溝の内面
とが接触するため、スペーサの繰り出し線速を高速化し
ようとするとスロット溝の内面に傷を付けてしまうおそ
れがあり、思うようにスペーサの繰り出し線速を上げる
ことができないという欠点があった。このようなスロッ
ト溝の検査はスペーサの製造時に同時に行われるのがほ
とんどであり、スペーサの製造効率を向上させる上での
障害となってしまう。
【０００５】また、スロット溝の溝幅が小さい場合など
は、ピンが繰り出し中のスペーサに捻りを与えてしま
い、製造中のスペーサのスロット溝形成ピッチを狂わせ
てしまうということも懸念されていた。さらに、ピンの
幅とスロット溝の溝幅を同じにしてしまうと、両者間の
摩擦が大きくなってスペーサの繰り出しなどに支障が生
じるので、ピンの幅はスロット溝の溝幅に対して多少小
さくする必要がある。このため、ピンとスロット溝の間
には遊びが必然的に生じ、その分精度が向上できないと
いうことも懸念されていた。また、ピンを押さえる治具
などは、スペーサの形状（外径やスロット溝数など）に
応じて複数種類用意しなくてはならなく、また、その設
置・交換などを容易に行えないという欠点もある。
は、ピンが繰り出し中のスペーサに捻りを与えてしま
い、製造中のスペーサのスロット溝形成ピッチを狂わせ
てしまうということも懸念されていた。さらに、ピンの
幅とスロット溝の溝幅を同じにしてしまうと、両者間の
摩擦が大きくなってスペーサの繰り出しなどに支障が生
じるので、ピンの幅はスロット溝の溝幅に対して多少小
さくする必要がある。このため、ピンとスロット溝の間
には遊びが必然的に生じ、その分精度が向上できないと
いうことも懸念されていた。また、ピンを押さえる治具
などは、スペーサの形状（外径やスロット溝数など）に
応じて複数種類用意しなくてはならなく、また、その設
置・交換などを容易に行えないという欠点もある。
【０００６】従って、本発明の目的は、スペーサのスロ
ット溝の形成状況を簡便かつ正確に検出することのでき
る光ケーブル用スペーサの検査方法を提供することを目
的とする。
ット溝の形成状況を簡便かつ正確に検出することのでき
る光ケーブル用スペーサの検査方法を提供することを目
的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の光ケー
ブル用スペーサの検査方法は、外周面上に光ファイバを
収納する複数の螺旋状のスロット溝を有する光ケーブル
用スペーサを検査するもので、繰り出されているスペー
サの線速を測定すると共に、繰り出されているスペーサ
の線速を測定すると共に、繰り出されているスペーサの
近傍にレーザー変位計を配設してスペーサ表面との距離
を測定し、スペーサとの距離変化から溝を検知・カウン
トし、所定の溝数をカウントする時間と線速に基づい
て、スロット溝の形成ピッチを検出することを特徴とし
ている。
ブル用スペーサの検査方法は、外周面上に光ファイバを
収納する複数の螺旋状のスロット溝を有する光ケーブル
用スペーサを検査するもので、繰り出されているスペー
サの線速を測定すると共に、繰り出されているスペーサ
の線速を測定すると共に、繰り出されているスペーサの
近傍にレーザー変位計を配設してスペーサ表面との距離
を測定し、スペーサとの距離変化から溝を検知・カウン
トし、所定の溝数をカウントする時間と線速に基づい
て、スロット溝の形成ピッチを検出することを特徴とし
ている。
【０００８】請求項２に記載の光ケーブル用スペーサの
検査方法は、外周面上に光ファイバを収納する複数の螺
旋状のスロット溝を有する光ケーブル用スペーサを検査
するもので、繰り出されているスペーサの長さを測長す
ると共に、繰り出されているスペーサの近傍にレーザー
変位計を配設してスペーサ表面との距離を測定し、スペ
ーサとの距離変化から溝を検知・カウントし、所定の溝
数をカウントした間に測長された長さに基づいて、スロ
ット溝の形成ピッチを検出することを特徴としている。
検査方法は、外周面上に光ファイバを収納する複数の螺
旋状のスロット溝を有する光ケーブル用スペーサを検査
するもので、繰り出されているスペーサの長さを測長す
ると共に、繰り出されているスペーサの近傍にレーザー
変位計を配設してスペーサ表面との距離を測定し、スペ
ーサとの距離変化から溝を検知・カウントし、所定の溝
数をカウントした間に測長された長さに基づいて、スロ
ット溝の形成ピッチを検出することを特徴としている。
【０００９】請求項３に記載の光ケーブル用スペーサの
検査方法は、外周面上に光ファイバを収納する複数の螺
旋状のスロット溝を有する光ケーブル用スペーサを検査
するもので、繰り出されているスペーサの近傍にレーザ
ー変位計を配設してスペーサ表面との距離を測定し、測
定したスペーサとの距離変化に基づいて、スロット溝の
溝深さを検出することを特徴としている。
検査方法は、外周面上に光ファイバを収納する複数の螺
旋状のスロット溝を有する光ケーブル用スペーサを検査
するもので、繰り出されているスペーサの近傍にレーザ
ー変位計を配設してスペーサ表面との距離を測定し、測
定したスペーサとの距離変化に基づいて、スロット溝の
溝深さを検出することを特徴としている。
【００１０】請求項４に記載の光ケーブル用スペーサの
検査方法は、外周面上に光ファイバを収納する複数の螺
旋状のスロット溝を有する光ケーブル用スペーサを検査
するもので、繰り出されているスペーサの近傍にレーザ
ー変位計を配設してスペーサ表面との距離を測定し、測
定したスペーサとの距離変化に基づいて、複数のスロッ
ト溝の間に形成されるリブの倒れを検出することを特徴
としている。
検査方法は、外周面上に光ファイバを収納する複数の螺
旋状のスロット溝を有する光ケーブル用スペーサを検査
するもので、繰り出されているスペーサの近傍にレーザ
ー変位計を配設してスペーサ表面との距離を測定し、測
定したスペーサとの距離変化に基づいて、複数のスロッ
ト溝の間に形成されるリブの倒れを検出することを特徴
としている。
【００１１】請求項５に記載の光ケーブル用スペーサの
検査方法は、外周面上に光ファイバを収納する複数の螺
旋状のスロット溝を有する光ケーブル用スペーサを検査
するもので、繰り出されているスペーサの近傍に複数の
レーザー変位計を配設し、異なる方向からスペーサ表面
との距離を測定し、複数のレーザー変位計によって測定
したスペーサとの距離変化を比較することで、スロット
溝の形成ピッチの局所異常を検出することを特徴として
いる。
検査方法は、外周面上に光ファイバを収納する複数の螺
旋状のスロット溝を有する光ケーブル用スペーサを検査
するもので、繰り出されているスペーサの近傍に複数の
レーザー変位計を配設し、異なる方向からスペーサ表面
との距離を測定し、複数のレーザー変位計によって測定
したスペーサとの距離変化を比較することで、スロット
溝の形成ピッチの局所異常を検出することを特徴として
いる。
【００１２】請求項６に記載の発明は、請求項１〜４の
何れか一項に記載の光ケーブル用スペーサの検査方法に
おいて、繰り出し中のスペーサの繰り出し経路上に一対
のターンホイールを配置し、各ターンホイールに対して
スペーサを順次巻き付け、一対のターンホイール間でレ
ーザー変位計による測定を行うことを特徴としている。
何れか一項に記載の光ケーブル用スペーサの検査方法に
おいて、繰り出し中のスペーサの繰り出し経路上に一対
のターンホイールを配置し、各ターンホイールに対して
スペーサを順次巻き付け、一対のターンホイール間でレ
ーザー変位計による測定を行うことを特徴としている。
【００１３】請求項７に記載の発明は、請求項１〜５の
何れか一項に記載の光ケーブル用スペーサの検査方法に
おいて、レーザー変位計によって測定される周期的な距
離の変化を周波数-電圧変換器によって電圧に変換し、
スペーサ表面との距離を電圧値として扱うことを特徴と
している。
何れか一項に記載の光ケーブル用スペーサの検査方法に
おいて、レーザー変位計によって測定される周期的な距
離の変化を周波数-電圧変換器によって電圧に変換し、
スペーサ表面との距離を電圧値として扱うことを特徴と
している。
【００１４】請求項８に記載の発明は、請求項７に記載
の光ケーブル用スペーサの検査方法において、レーザー
変位計による距離測定と共にスペーサの線速も測定し、
スペーサの線速測定に際してスペーサの繰り出しに伴っ
て回転するロータリエンコーダを用い、ロータリエンコ
ーダの回転に応じて出力されるパルスを周波数-電圧変
換器によって電圧に変換し、スペーサの線速を電圧値と
して扱うことを特徴としている。
の光ケーブル用スペーサの検査方法において、レーザー
変位計による距離測定と共にスペーサの線速も測定し、
スペーサの線速測定に際してスペーサの繰り出しに伴っ
て回転するロータリエンコーダを用い、ロータリエンコ
ーダの回転に応じて出力されるパルスを周波数-電圧変
換器によって電圧に変換し、スペーサの線速を電圧値と
して扱うことを特徴としている。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下に、本発明に係る光ケーブル
用スペーサの製造装置の実施形態について、図面を参照
しつつ説明する。
用スペーサの製造装置の実施形態について、図面を参照
しつつ説明する。
【００１６】図１に第一実施形態の検査方法を実施する
スペーサ検査装置の構成図を示す。本実施形態で検査さ
れるスペーサ２は、図１２及び図１３に示されるものと
同様のものである。この装置は、図中右側のクロスヘッ
ド７において抗張力線の周囲に樹脂を押し出すと同時
に、この樹脂部分に螺旋状のスロット溝５を形成させ
る。この製造方法は、従来のスペーサ製造方法と同様で
あるため、この部分についての詳しい説明は省略する。
また、図１には、成形後のスペーサの冷却機構などの図
示も省略されている。
スペーサ検査装置の構成図を示す。本実施形態で検査さ
れるスペーサ２は、図１２及び図１３に示されるものと
同様のものである。この装置は、図中右側のクロスヘッ
ド７において抗張力線の周囲に樹脂を押し出すと同時
に、この樹脂部分に螺旋状のスロット溝５を形成させ
る。この製造方法は、従来のスペーサ製造方法と同様で
あるため、この部分についての詳しい説明は省略する。
また、図１には、成形後のスペーサの冷却機構などの図
示も省略されている。
【００１７】スロット溝５が形成されたスペーサ２は、
一対のキャプスタンローラ８ａ，８ｂの外周に巻き付け
られた後、一対のアキュムレーティングローラ９ａ，９
ｂに送られる。キャプスタンローラ８ａ，８ｂは、図示
されない駆動機構によって駆動されており、上流側から
スペーサ２を引っ張りつつ下流側に繰り出している。一
対のアキュムレーティングローラ９ａ，９ｂは、それら
の間の距離を図示されない駆動装置によって変更可能と
されており、繰り出し中のスペーサ２をアキュムレーテ
ィング（蓄線）させておくことができる。一対のアキュ
ムレーティングローラ９ａ，９ｂ間の距離を広げること
によって、スペーサ２をアキュムレーティング（蓄線）
させる。
一対のキャプスタンローラ８ａ，８ｂの外周に巻き付け
られた後、一対のアキュムレーティングローラ９ａ，９
ｂに送られる。キャプスタンローラ８ａ，８ｂは、図示
されない駆動機構によって駆動されており、上流側から
スペーサ２を引っ張りつつ下流側に繰り出している。一
対のアキュムレーティングローラ９ａ，９ｂは、それら
の間の距離を図示されない駆動装置によって変更可能と
されており、繰り出し中のスペーサ２をアキュムレーテ
ィング（蓄線）させておくことができる。一対のアキュ
ムレーティングローラ９ａ，９ｂ間の距離を広げること
によって、スペーサ２をアキュムレーティング（蓄線）
させる。
【００１８】アキュムレート中は、アキュムレーティン
グローラ９ａ，９ｂから下流側へのスペーサ２の繰り出
しを一時停止させることが可能となるため、後述する巻
取機１８におけるドラム交換などを行える。一対のアキ
ュムレーティングローラ９ａ，９ｂのさらに下流側に
は、一対のターンホイール１０ａ，１０ｂが配設されて
いる。一対のターンホイール１０ａ，１０ｂには、順次
スペーサ２がほぼ一回転ずつ巻き付けられている。各タ
ーンホイール１０ａ，１０ｂは、それ自身で回転するこ
とはなく、スペーサ２の繰り出しに伴って回転されるも
のである。
グローラ９ａ，９ｂから下流側へのスペーサ２の繰り出
しを一時停止させることが可能となるため、後述する巻
取機１８におけるドラム交換などを行える。一対のアキ
ュムレーティングローラ９ａ，９ｂのさらに下流側に
は、一対のターンホイール１０ａ，１０ｂが配設されて
いる。一対のターンホイール１０ａ，１０ｂには、順次
スペーサ２がほぼ一回転ずつ巻き付けられている。各タ
ーンホイール１０ａ，１０ｂは、それ自身で回転するこ
とはなく、スペーサ２の繰り出しに伴って回転されるも
のである。
【００１９】そして、この一対のターンホイール１０
ａ，１０ｂの間においては、その上流側に繰り出し中の
スペーサ２に接触して回転する検出ホイール１１が配設
されている。検出ホイール１１によって、スペーサ２の
線速又は繰り出し長さを検出することができる。検出ホ
イール１１の回転はロータリエンコーダ１２で検出され
る。ロータリエンコーダ１２から出力されるパルスは、
周波数−電圧変換器（以下、F/V変換器という）１３を
介してプログラマブル・ロジック・コントローラ（以
下、ＰＬＣという）１４に入力される。即ち、スペーサ
２の繰り出し線速は、最終的には電圧値としてＰＬＣ１
４に入力される。また、スペーサ２の長さは、ロータリ
エンコーダ１２から出力されるパルスをＰＬＣ４に直接
入力することで検出することができる。
ａ，１０ｂの間においては、その上流側に繰り出し中の
スペーサ２に接触して回転する検出ホイール１１が配設
されている。検出ホイール１１によって、スペーサ２の
線速又は繰り出し長さを検出することができる。検出ホ
イール１１の回転はロータリエンコーダ１２で検出され
る。ロータリエンコーダ１２から出力されるパルスは、
周波数−電圧変換器（以下、F/V変換器という）１３を
介してプログラマブル・ロジック・コントローラ（以
下、ＰＬＣという）１４に入力される。即ち、スペーサ
２の繰り出し線速は、最終的には電圧値としてＰＬＣ１
４に入力される。また、スペーサ２の長さは、ロータリ
エンコーダ１２から出力されるパルスをＰＬＣ４に直接
入力することで検出することができる。
【００２０】一対のターンホイール１０ａ，１０ｂの間
における、検出ホイール１１の下流側には、レーザー変
位計１５が配設されている。レーザー変位計１５から
は、測距用のレーザーが繰り出し中のスペーサ２に対し
てほぼ直角に照射されており、反射されたレーザーに基
づいて、スペーサ２の表面との距離を電圧値又は電流値
として出力している。スペーサ２の表面にはスロット溝
５が形成されているので、レーザー変位計１５によって
検出される距離はパルス状になる。
における、検出ホイール１１の下流側には、レーザー変
位計１５が配設されている。レーザー変位計１５から
は、測距用のレーザーが繰り出し中のスペーサ２に対し
てほぼ直角に照射されており、反射されたレーザーに基
づいて、スペーサ２の表面との距離を電圧値又は電流値
として出力している。スペーサ２の表面にはスロット溝
５が形成されているので、レーザー変位計１５によって
検出される距離はパルス状になる。
【００２１】レーザー変位計１５の出力は、一旦アンプ
１６を介して増幅された後、F/V変換器１７によって、
上述したパルス状の信号の周波数に対応する電圧値に変
換され、ＰＬＣ１４に入力される。ＰＬＣ１４には、ス
ペーサ２の線速又は長さとスロット溝５の形成状況とが
それぞれ電圧値として入力されることとなる。ＰＬＣ１
４では、この線速又は長さとスロット溝の形成状況から
スロット溝５の形成ピッチを演算によって算出する。
１６を介して増幅された後、F/V変換器１７によって、
上述したパルス状の信号の周波数に対応する電圧値に変
換され、ＰＬＣ１４に入力される。ＰＬＣ１４には、ス
ペーサ２の線速又は長さとスロット溝５の形成状況とが
それぞれ電圧値として入力されることとなる。ＰＬＣ１
４では、この線速又は長さとスロット溝の形成状況から
スロット溝５の形成ピッチを演算によって算出する。
【００２２】具体的には、検出ホイール１１によってス
ペーサ２の線速を検出している場合は、レーザー変位計
１５によって溝を検知・カウントし、その溝数が所定数
（スペーサ２上のスロット溝５の総数）となるまでの時
間と、スペーサ２の線速とから、スロット溝５の形成ピ
ッチを演算によって求める。一方、検出ホイール１１に
よってスペーサ２の長さを測長している場合は、レーザ
ー変位計１５によって溝を検知・カウントし、その溝数
が所定数（スペーサ２上のスロット溝５の総数）となる
までの間に測長されたスペーサ２の長さとから、スロッ
ト溝５の形成ピッチを演算によって求める。
ペーサ２の線速を検出している場合は、レーザー変位計
１５によって溝を検知・カウントし、その溝数が所定数
（スペーサ２上のスロット溝５の総数）となるまでの時
間と、スペーサ２の線速とから、スロット溝５の形成ピ
ッチを演算によって求める。一方、検出ホイール１１に
よってスペーサ２の長さを測長している場合は、レーザ
ー変位計１５によって溝を検知・カウントし、その溝数
が所定数（スペーサ２上のスロット溝５の総数）となる
までの間に測長されたスペーサ２の長さとから、スロッ
ト溝５の形成ピッチを演算によって求める。
【００２３】このとき、繰り出し中のスペーサ２表面と
の距離（即ちスロット溝５の形成状況）の測定は、レー
ザーを用いて非接触で行われるため、高精度の測定を行
うことができる。また、この距離測定はスペーサ２の繰
り出し線速を上げても十分に耐えうるものであるため、
線速高速化も容易に行える。
の距離（即ちスロット溝５の形成状況）の測定は、レー
ザーを用いて非接触で行われるため、高精度の測定を行
うことができる。また、この距離測定はスペーサ２の繰
り出し線速を上げても十分に耐えうるものであるため、
線速高速化も容易に行える。
【００２４】さらに、ここでは、一対のターンホイール
１０ａ，１０ｂ間で測定を行っている。一対のターンホ
イール１０ａ，１０ｂ間では、スペーサ２に捻りが加え
られないため、スロット溝５の正確な形成ピッチを測定
することができる。例えば、スロット溝５を形成させる
クロスヘッド７では、スロット溝５の形成に伴って繰り
出し中のスペーサ２に対して捻りが負荷されてしまうお
それもある。このため、この近傍でレーザー変位計を用
いた測定を行えば、僅かではあっても測定（演算）され
た測定結果にこの捻れの影響が出てしまう。一対のター
ンホイール１０ａ，１０ｂ間では捻れのない測定を行え
るので好ましい。
１０ａ，１０ｂ間で測定を行っている。一対のターンホ
イール１０ａ，１０ｂ間では、スペーサ２に捻りが加え
られないため、スロット溝５の正確な形成ピッチを測定
することができる。例えば、スロット溝５を形成させる
クロスヘッド７では、スロット溝５の形成に伴って繰り
出し中のスペーサ２に対して捻りが負荷されてしまうお
それもある。このため、この近傍でレーザー変位計を用
いた測定を行えば、僅かではあっても測定（演算）され
た測定結果にこの捻れの影響が出てしまう。一対のター
ンホイール１０ａ，１０ｂ間では捻れのない測定を行え
るので好ましい。
【００２５】さらに、ここでは、スペーサ２の線速とス
ロット溝５の形成状況をパルスとしてとらえて、これを
F/V変換器１３，１７によって電圧に変換してから演算
処理を行っている。このようにすることで、スペーサ２
の線速の変動やスロット溝５の形成ピッチの変動を電圧
値の変動としてリニアに検出でき、より正確な検出を行
えると共に、この検出結果に基づく線速制御などを行い
やすくすることができる。なお、このようなF/V変換
は、必ず線速と距離変化との双方で行わなくてはならな
いということではなく、何れか一方のみでF/V変換を行
ってもよいし、どちらもF/V変換を行わなくてもよい。
一対のターンホイール１０ａ，１０ｂ間で線速などを測
定されたスペーサ２は、巻取機１８によってドラムなど
に巻き取られる。
ロット溝５の形成状況をパルスとしてとらえて、これを
F/V変換器１３，１７によって電圧に変換してから演算
処理を行っている。このようにすることで、スペーサ２
の線速の変動やスロット溝５の形成ピッチの変動を電圧
値の変動としてリニアに検出でき、より正確な検出を行
えると共に、この検出結果に基づく線速制御などを行い
やすくすることができる。なお、このようなF/V変換
は、必ず線速と距離変化との双方で行わなくてはならな
いということではなく、何れか一方のみでF/V変換を行
ってもよいし、どちらもF/V変換を行わなくてもよい。
一対のターンホイール１０ａ，１０ｂ間で線速などを測
定されたスペーサ２は、巻取機１８によってドラムなど
に巻き取られる。
【００２６】図２に第二実施形態の検査方法を行う装置
を示す。本実施形態における装置は上述した第一実施形
態の装置に準ずるものであるため、同一又は同等の構成
部分には同一の符号を付してその詳しい説明を省略す
る。以下には、上述した第一実施形態と異なる点につい
てのみ説明する。
を示す。本実施形態における装置は上述した第一実施形
態の装置に準ずるものであるため、同一又は同等の構成
部分には同一の符号を付してその詳しい説明を省略す
る。以下には、上述した第一実施形態と異なる点につい
てのみ説明する。
【００２７】本実施形態においては、上述した検出ホイ
ール１１、ロータリエンコーダ１２、F/V変換器１３，
１７、ＰＬＣ１４、レーザー変位計１５、及び、アンプ
１６が、アキュムレーティングローラ９ａ，９ｂの上流
側に配置されている。即ち、本実施形態においては、ア
キュムレーティングローラ９ａ，９ｂの上流側でスペー
サ２の線速測定やスロット溝５の形成状況が測定され
る。このため、アキュムレーティングローラ９ａ，９ｂ
によるアキュムレーティングの最中であっても、スロッ
ト溝５の形成ピッチを検出することができる。
ール１１、ロータリエンコーダ１２、F/V変換器１３，
１７、ＰＬＣ１４、レーザー変位計１５、及び、アンプ
１６が、アキュムレーティングローラ９ａ，９ｂの上流
側に配置されている。即ち、本実施形態においては、ア
キュムレーティングローラ９ａ，９ｂの上流側でスペー
サ２の線速測定やスロット溝５の形成状況が測定され
る。このため、アキュムレーティングローラ９ａ，９ｂ
によるアキュムレーティングの最中であっても、スロッ
ト溝５の形成ピッチを検出することができる。
【００２８】図３に第三実施形態の検査方法を行う装置
を示す。本実施形態における装置も上述した第一実施形
態の装置に準ずるものであるため、同一又は同等の構成
部分には同一の符号を付してその詳しい説明を省略す
る。以下には、上述した第一実施形態と異なる点につい
てのみ説明する。
を示す。本実施形態における装置も上述した第一実施形
態の装置に準ずるものであるため、同一又は同等の構成
部分には同一の符号を付してその詳しい説明を省略す
る。以下には、上述した第一実施形態と異なる点につい
てのみ説明する。
【００２９】本実施形態においては、上述した第二実施
形態と同様に、アキュムレーティングローラ９ａ，９ｂ
の上流側でスペーサ２の線速測定やスロット溝５の形成
状況が測定される。しかし、スペーサ２の線速測定形態
が異なる。本実施形態では、検出ホイール１１を設けず
に、一方のキャプスタンローラ８ｂを駆動するキャプス
タンモータ１９の回転を検出することなどによって、ス
ペーサ２の線速を検出している。キャプスタンモータ１
９の回転をロータリエンコーダなどによって検出し、ア
ンプ２０などで増幅してからF/V変換器２１によって変
換してＰＬＣ１４に入力している。このようにしても、
スペーサ２の線速を検出することができる。アキュムレ
ーティングの最中であっても、スロット溝５の形成ピッ
チを検出することができる点は上述した第二実施形態の
場合と同様である。
形態と同様に、アキュムレーティングローラ９ａ，９ｂ
の上流側でスペーサ２の線速測定やスロット溝５の形成
状況が測定される。しかし、スペーサ２の線速測定形態
が異なる。本実施形態では、検出ホイール１１を設けず
に、一方のキャプスタンローラ８ｂを駆動するキャプス
タンモータ１９の回転を検出することなどによって、ス
ペーサ２の線速を検出している。キャプスタンモータ１
９の回転をロータリエンコーダなどによって検出し、ア
ンプ２０などで増幅してからF/V変換器２１によって変
換してＰＬＣ１４に入力している。このようにしても、
スペーサ２の線速を検出することができる。アキュムレ
ーティングの最中であっても、スロット溝５の形成ピッ
チを検出することができる点は上述した第二実施形態の
場合と同様である。
【００３０】図４に第四実施形態の検査方法を行う装置
を示す。本実施形態における装置も上述した第一実施形
態の装置に準ずるものであるため、同一又は同等の構成
部分には同一の符号を付してその詳しい説明を省略す
る。以下には、上述した第一実施形態と異なる点につい
てのみ説明する。
を示す。本実施形態における装置も上述した第一実施形
態の装置に準ずるものであるため、同一又は同等の構成
部分には同一の符号を付してその詳しい説明を省略す
る。以下には、上述した第一実施形態と異なる点につい
てのみ説明する。
【００３１】本実施形態においては、スロット溝５の形
成状況を検出するレーザー変位計が二組配設されてお
り、これによって、スロット溝５の局所異常（局所ピッ
チ異常）を検出している。本実施形態においては、上述
したレーザー変位計１５（及びその信号処理系統）に加
えて、レーザー変位計２５、アンプ２６、及び、F/V変
換器２７を有している。レーザー変位計２５の出力信号
は、アンプ２６及びF/V変換器２７を経由してＰＬＣ１
４に送られる。
成状況を検出するレーザー変位計が二組配設されてお
り、これによって、スロット溝５の局所異常（局所ピッ
チ異常）を検出している。本実施形態においては、上述
したレーザー変位計１５（及びその信号処理系統）に加
えて、レーザー変位計２５、アンプ２６、及び、F/V変
換器２７を有している。レーザー変位計２５の出力信号
は、アンプ２６及びF/V変換器２７を経由してＰＬＣ１
４に送られる。
【００３２】レーザー変位計１５ともう一つのレーザー
変位計２５との位置は、スロット溝５の正常なピッチに
対して1/4ピッチ分の距離だけ離れた位置で、かつ、ス
ペーサ２の軸線に直角な平面内で９０°の角度をもって
配設されている（図５参照）。スロット溝５は、上述し
た平面内で１ピッチが３６０°となるので、スロット溝
５が正常に形成されていれば、時間的なズレは別とし
て、レーザー変位計１５ともう一つのレーザー変位計２
５とは同じ出力信号（波形）を出すはずである。即ち、
この二つの信号を比較して異なるようであれば、スロッ
ト溝５に局所異常が生じていると判断できる。
変位計２５との位置は、スロット溝５の正常なピッチに
対して1/4ピッチ分の距離だけ離れた位置で、かつ、ス
ペーサ２の軸線に直角な平面内で９０°の角度をもって
配設されている（図５参照）。スロット溝５は、上述し
た平面内で１ピッチが３６０°となるので、スロット溝
５が正常に形成されていれば、時間的なズレは別とし
て、レーザー変位計１５ともう一つのレーザー変位計２
５とは同じ出力信号（波形）を出すはずである。即ち、
この二つの信号を比較して異なるようであれば、スロッ
ト溝５に局所異常が生じていると判断できる。
【００３３】例えば、スロット溝５の形成状況が、図１
３に示されるように正常であれば、レーザー変位計１
５，２５の出力は、図６に示されるように、等しい波形
を出力する（上段をレーザー変位計１５、下段をレーザ
ー変位計２５とする）。これに対して、スロット溝５の
形成状況が、図７中の矢印Ａによって示された箇所のよ
うに局所異常を生じているようであれば、レーザー変位
計１５，２５の出力は、図８に示されるように、異なる
波形を出力する（上段をレーザー変位計１５、下段をレ
ーザー変位計２５とする）。ここでは、F/V変換を行っ
ているので、実際は異なる周波数が各レーザー変位計１
５，２５から出力されていることを示す電圧差から判定
される。このような場合は、スロット溝５に局所異常が
あると判断することができる。
３に示されるように正常であれば、レーザー変位計１
５，２５の出力は、図６に示されるように、等しい波形
を出力する（上段をレーザー変位計１５、下段をレーザ
ー変位計２５とする）。これに対して、スロット溝５の
形成状況が、図７中の矢印Ａによって示された箇所のよ
うに局所異常を生じているようであれば、レーザー変位
計１５，２５の出力は、図８に示されるように、異なる
波形を出力する（上段をレーザー変位計１５、下段をレ
ーザー変位計２５とする）。ここでは、F/V変換を行っ
ているので、実際は異なる周波数が各レーザー変位計１
５，２５から出力されていることを示す電圧差から判定
される。このような場合は、スロット溝５に局所異常が
あると判断することができる。
【００３４】上述した実施形態は、何れもレーザー変位
計１５（２５）の出力をF/V変換器１７（２７）によっ
て、検出した距離変化をパルスとして変換していた。し
かし、以下に説明する第五実施形態においては、スロッ
ト溝５の形成状況を計測するレーザー変位計１５の出力
に関してはF/V変換器を用いずにＰＬＣ１４に入力す
る。このようにすることによって、レーザー変位計１５
の出力から直接スロット溝５の形状を判別することがで
きたり、これからスロット溝５間のリブ倒れ等を検出す
ることが可能となる。
計１５（２５）の出力をF/V変換器１７（２７）によっ
て、検出した距離変化をパルスとして変換していた。し
かし、以下に説明する第五実施形態においては、スロッ
ト溝５の形成状況を計測するレーザー変位計１５の出力
に関してはF/V変換器を用いずにＰＬＣ１４に入力す
る。このようにすることによって、レーザー変位計１５
の出力から直接スロット溝５の形状を判別することがで
きたり、これからスロット溝５間のリブ倒れ等を検出す
ることが可能となる。
【００３５】図９に第五実施形態の検査方法を行う装置
を示す。本実施形態における装置も上述した第一実施形
態の装置に準ずるものであるため、同一又は同等の構成
部分には同一の符号を付してその詳しい説明を省略す
る。本実施形態における装置は、上述したように、レー
ザー変位計１５の出力をアンプ１６で増幅した後、F/V
変換器を介さずに、ＰＬＣ１４に送出している点のみが
第一実施と異なっている。その他の点は第一実施形態と
同様であるため、詳しい説明を省略する。
を示す。本実施形態における装置も上述した第一実施形
態の装置に準ずるものであるため、同一又は同等の構成
部分には同一の符号を付してその詳しい説明を省略す
る。本実施形態における装置は、上述したように、レー
ザー変位計１５の出力をアンプ１６で増幅した後、F/V
変換器を介さずに、ＰＬＣ１４に送出している点のみが
第一実施と異なっている。その他の点は第一実施形態と
同様であるため、詳しい説明を省略する。
【００３６】本実施形態によれば、レーザー変位計１５
の出力信号から、図６に示されるように、スロット溝５
同士の間の幅Ｔ1やスロット溝５の底部の幅Ｔ2や深さＶ
1を検出することができる。ただし、幅Ｔ1，Ｔ2に関し
ては、スペーサ２の中心軸に沿った幅として検出される
ので、スロット溝５の中心軸に対する幅に換算するには
ＰＬＣ１４内で変換のための演算を行えばよい。さら
に、図１０中の矢印Ｂによって示された箇所のようにス
ロット溝５の間のリブが倒れてしまっているような場
合、レーザー変位計１５の出力波形は図１１に示される
ようなものとなる。このため、レーザー変位計１５の出
力波形からリブ倒れを検出することが可能である。
の出力信号から、図６に示されるように、スロット溝５
同士の間の幅Ｔ1やスロット溝５の底部の幅Ｔ2や深さＶ
1を検出することができる。ただし、幅Ｔ1，Ｔ2に関し
ては、スペーサ２の中心軸に沿った幅として検出される
ので、スロット溝５の中心軸に対する幅に換算するには
ＰＬＣ１４内で変換のための演算を行えばよい。さら
に、図１０中の矢印Ｂによって示された箇所のようにス
ロット溝５の間のリブが倒れてしまっているような場
合、レーザー変位計１５の出力波形は図１１に示される
ようなものとなる。このため、レーザー変位計１５の出
力波形からリブ倒れを検出することが可能である。
【００３７】なお、本実施形態のようにレーザー変位計
１５によって測定された距離変化をF/V変換しない場合
であっても、測定したスペーサ２の線速と併せてスロッ
ト溝５の形成ピッチを検出することは可能であるし、ス
ロット溝５の局所異常を検出することも可能である。
１５によって測定された距離変化をF/V変換しない場合
であっても、測定したスペーサ２の線速と併せてスロッ
ト溝５の形成ピッチを検出することは可能であるし、ス
ロット溝５の局所異常を検出することも可能である。
【００３８】
【発明の効果】請求項１に記載の発明によれば、スロッ
ト溝の形成状況の検出にレーザー変位計を用いるので、
スペーサ（スロット溝内面）に傷を付けてしまう心配が
ない。そして、このレーザー変位計の検出結果に基づい
て所定のスロット溝をカウントした時間と、これと同時
に測定されたスペーサの繰り出し線速とから、スロット
溝の形成ピッチを正確かつ確実に検出することができ
る。また、レーザー変位計を用いて測定するので、スペ
ーサ自体に捻りを与えることがなく、この点からも正確
な検出を行うことが可能となる。さらに、レーザー変位
計を用いて測定するので、スペーサの繰り出し線速をよ
り一層高速化してもスペーサに損傷を与えたり、検出に
際して不具合を生じさせてしまうようなことがない。
ト溝の形成状況の検出にレーザー変位計を用いるので、
スペーサ（スロット溝内面）に傷を付けてしまう心配が
ない。そして、このレーザー変位計の検出結果に基づい
て所定のスロット溝をカウントした時間と、これと同時
に測定されたスペーサの繰り出し線速とから、スロット
溝の形成ピッチを正確かつ確実に検出することができ
る。また、レーザー変位計を用いて測定するので、スペ
ーサ自体に捻りを与えることがなく、この点からも正確
な検出を行うことが可能となる。さらに、レーザー変位
計を用いて測定するので、スペーサの繰り出し線速をよ
り一層高速化してもスペーサに損傷を与えたり、検出に
際して不具合を生じさせてしまうようなことがない。
【００３９】請求項２に記載の発明によれば、スロット
溝の形成状況の検出にレーザー変位計を用いるので、ス
ペーサ（スロット溝内面）に傷を付けてしまう心配がな
い。そして、このレーザー変位計の検出結果に基づいて
所定のスロット溝をカウントした間に測長されたスペー
サの長さから、スロット溝の形成ピッチを正確かつ確実
に検出することができる。また、レーザー変位計を用い
て測定するので、スペーサ自体に捻りを与えることがな
く、この点からも正確な検出を行うことが可能となる。
さらに、レーザー変位計を用いて測定するので、スペー
サの繰り出し線速をより一層高速化してもスペーサに損
傷を与えたり、検出に際して不具合を生じさせてしまう
ようなことがない。
溝の形成状況の検出にレーザー変位計を用いるので、ス
ペーサ（スロット溝内面）に傷を付けてしまう心配がな
い。そして、このレーザー変位計の検出結果に基づいて
所定のスロット溝をカウントした間に測長されたスペー
サの長さから、スロット溝の形成ピッチを正確かつ確実
に検出することができる。また、レーザー変位計を用い
て測定するので、スペーサ自体に捻りを与えることがな
く、この点からも正確な検出を行うことが可能となる。
さらに、レーザー変位計を用いて測定するので、スペー
サの繰り出し線速をより一層高速化してもスペーサに損
傷を与えたり、検出に際して不具合を生じさせてしまう
ようなことがない。
【００４０】請求項３に記載の発明によれば、スロット
溝の形成状況の検出にレーザー変位計を用いるので、ス
ペーサ（スロット溝内面）に傷を付けてしまう心配をし
ないでスロット溝の深さを正確かつ確実に検出すること
ができる。また、レーザー変位計を用いて測定するの
で、スペーサ自体に捻りを与えることがなく、この点か
らも正確な検出を行うことが可能となる。さらに、レー
ザー変位計を用いて測定するので、スペーサの繰り出し
線速をより一層高速化してもスペーサに損傷を与えた
り、検出に際して不具合を生じさせてしまうようなこと
がない。
溝の形成状況の検出にレーザー変位計を用いるので、ス
ペーサ（スロット溝内面）に傷を付けてしまう心配をし
ないでスロット溝の深さを正確かつ確実に検出すること
ができる。また、レーザー変位計を用いて測定するの
で、スペーサ自体に捻りを与えることがなく、この点か
らも正確な検出を行うことが可能となる。さらに、レー
ザー変位計を用いて測定するので、スペーサの繰り出し
線速をより一層高速化してもスペーサに損傷を与えた
り、検出に際して不具合を生じさせてしまうようなこと
がない。
【００４１】請求項４に記載の発明によれば、スロット
溝の形成状況の検出にレーザー変位計を用いるので、ス
ペーサ（スロット溝内面）に傷を付けてしまう心配をし
ないでスロット溝間のリブ倒れを確実に検出することが
できる。また、レーザー変位計を用いて測定するので、
スペーサ自体に捻りを与えることがなく、この点からも
正確な検出を行うことが可能となる。さらに、レーザー
変位計を用いて測定するので、スペーサの繰り出し線速
をより一層高速化してもスペーサに損傷を与えたり、検
出に際して不具合を生じさせてしまうようなことがな
い。
溝の形成状況の検出にレーザー変位計を用いるので、ス
ペーサ（スロット溝内面）に傷を付けてしまう心配をし
ないでスロット溝間のリブ倒れを確実に検出することが
できる。また、レーザー変位計を用いて測定するので、
スペーサ自体に捻りを与えることがなく、この点からも
正確な検出を行うことが可能となる。さらに、レーザー
変位計を用いて測定するので、スペーサの繰り出し線速
をより一層高速化してもスペーサに損傷を与えたり、検
出に際して不具合を生じさせてしまうようなことがな
い。
【００４２】請求項５に記載の発明によれば、スロット
溝の形成状況の検出にレーザー変位計を用いるので、ス
ペーサ（スロット溝内面）に傷を付けてしまう心配をし
ないでスロット溝の局所異常を確実に検出することがで
きる。また、レーザー変位計を用いて測定するので、ス
ペーサ自体に捻りを与えることがなく、この点からも正
確な検出を行うことが可能となる。さらに、レーザー変
位計を用いて測定するので、スペーサの繰り出し線速を
より一層高速化してもスペーサに損傷を与えたり、検出
に際して不具合を生じさせてしまうようなことがない。
溝の形成状況の検出にレーザー変位計を用いるので、ス
ペーサ（スロット溝内面）に傷を付けてしまう心配をし
ないでスロット溝の局所異常を確実に検出することがで
きる。また、レーザー変位計を用いて測定するので、ス
ペーサ自体に捻りを与えることがなく、この点からも正
確な検出を行うことが可能となる。さらに、レーザー変
位計を用いて測定するので、スペーサの繰り出し線速を
より一層高速化してもスペーサに損傷を与えたり、検出
に際して不具合を生じさせてしまうようなことがない。
【００４３】請求項６に記載の発明によれば、一対のタ
ーンホイール間でレーザー変位計を用いた測定を行って
いる。一対のターンホイール間では、スペーサに捻りが
加えられないため、スロット溝の形成状況を正確に検出
することができる
ーンホイール間でレーザー変位計を用いた測定を行って
いる。一対のターンホイール間では、スペーサに捻りが
加えられないため、スロット溝の形成状況を正確に検出
することができる
【００４４】請求項７に記載の発明によれば、レーザー
変位計によって測定される周期的な距離の変化をF/V変
換器によって電圧に変換し、スペーサ表面との距離を電
圧値として扱うことによって、スロット溝の形成状況の
変動を電圧値の変動としてリニアに検出でき、より正確
な検出を行うことができる。
変位計によって測定される周期的な距離の変化をF/V変
換器によって電圧に変換し、スペーサ表面との距離を電
圧値として扱うことによって、スロット溝の形成状況の
変動を電圧値の変動としてリニアに検出でき、より正確
な検出を行うことができる。
【００４５】請求項８に記載の発明によれば、レーザー
変位計による測定と同時にスペーサの線速ロータリエン
コーダを用いて測定し、このロータリエンコーダの回転
に応じて出力されるパルスもF/V変換器によって電圧に
変換して線速を電圧値として扱うことによって、スロッ
ト溝の形成状況とスペーサの線速との双方を電圧値とし
て扱い、よりリニアにかつ正確な検出を行うことができ
る。
変位計による測定と同時にスペーサの線速ロータリエン
コーダを用いて測定し、このロータリエンコーダの回転
に応じて出力されるパルスもF/V変換器によって電圧に
変換して線速を電圧値として扱うことによって、スロッ
ト溝の形成状況とスペーサの線速との双方を電圧値とし
て扱い、よりリニアにかつ正確な検出を行うことができ
る。
【図１】本発明の検査方法の第一実施形態を行う装置の
構成図である。
構成図である。
【図２】本発明の検査方法の第二実施形態を行う装置の
構成図である。
構成図である。
【図３】本発明の検査方法の第三実施形態を行う装置の
構成図である。
構成図である。
【図４】本発明の検査方法の第四実施形態を行う装置の
構成図である。
構成図である。
【図５】図４におけるレーザー変位計とスペーサとの位
置関係を示す断面図である。
置関係を示す断面図である。
【図６】レーザー変位計の出力を示す模式図である。
【図７】局所異常のあるスペーサの斜視図である。
【図８】レーザー変位計の出力を示す模式図である。
【図９】本発明の検査方法の第五実施形態を行う装置の
構成図である。
構成図である。
【図１０】リブ倒れのあるスペーサの断面図である。
【図１１】レーザー変位計の出力を示す模式図である。
【図１２】一般的な光ケーブルの断面図である。
【図１３】一般的なスペーサの斜視図である。
１…光ケーブル、２…スペーサ、３…抗張力線、４…被
覆、５…スロット溝、６…光ファイバ、７…クロスヘッ
ド、８ａ，８ｂ…キャプスタンローラ、９ａ，９ｂ…ア
キュムレーティングローラ、１０ａ，１０ｂ…ターンホ
イール、１１…検出ホイール、１２…ロータリエンコー
ダ、１３，１７，，２１，２７…F/V変換器、１５，２
５…レーザー変位計、１６，２０，２６…アンプ、１８
…巻取機、１９…キャプスタンモータ。
覆、５…スロット溝、６…光ファイバ、７…クロスヘッ
ド、８ａ，８ｂ…キャプスタンローラ、９ａ，９ｂ…ア
キュムレーティングローラ、１０ａ，１０ｂ…ターンホ
イール、１１…検出ホイール、１２…ロータリエンコー
ダ、１３，１７，，２１，２７…F/V変換器、１５，２
５…レーザー変位計、１６，２０，２６…アンプ、１８
…巻取機、１９…キャプスタンモータ。
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フロントページの続き
(51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考）
Ｇ０１Ｂ 11/26 Ｇ０１Ｂ 11/24 Ｇ
(72)発明者 東海林 登
神奈川県横浜市栄区田谷町１番地 住友電
気工業株式会社横浜製作所内
(72)発明者 齋藤 浩一
神奈川県横浜市栄区田谷町１番地 住友電
気工業株式会社横浜製作所内
(72)発明者 末森 茂
神奈川県横浜市栄区田谷町１番地 住友電
気工業株式会社横浜製作所内
Ｆターム(参考） 2F065 AA02 AA06 AA20 AA22 AA25
AA31 BB05 BB12 BB15 BB18
CC23 DD06 FF33 FF41 FF64
GG04 JJ05 MM03 QQ28 QQ51
2H001 BB09 BB12 DD04 DD09 DD23
MM02
Claims (8)
- 【請求項１】 外周面上に光ファイバを収納する複数の
螺旋状のスロット溝を有する光ケーブル用スペーサの検
査方法であって、 繰り出されている前記スペーサの線速を測定すると共
に、繰り出されている前記スペーサの近傍にレーザー変
位計を配設して前記スペーサ表面との距離を測定し、 前記スペーサとの距離変化から溝を検知・カウントし、
所定の溝数をカウントする時間と線速に基づいて、前記
スロット溝の形成ピッチを検出することを特徴とする光
ケーブル用スペーサの検査方法。 - 【請求項２】 外周面上に光ファイバを収納する複数の
螺旋状のスロット溝を有する光ケーブル用スペーサの検
査方法であって、 繰り出されている前記スペーサの長さを測長すると共
に、繰り出されている前記スペーサの近傍にレーザー変
位計を配設して前記スペーサ表面との距離を測定し、 前記スペーサとの距離変化から溝を検知・カウントし、
所定の溝数をカウントした間に測長された長さに基づい
て、前記スロット溝の形成ピッチを検出することを特徴
とする光ケーブル用スペーサの検査方法。 - 【請求項３】 外周面上に光ファイバを収納する複数の
螺旋状のスロット溝を有する光ケーブル用スペーサの検
査方法であって、 繰り出されている前記スペーサの近傍にレーザー変位計
を配設して前記スペーサ表面との距離を測定し、測定し
た前記スペーサとの距離変化に基づいて、前記スロット
溝の溝深さを検出することを特徴とする光ケーブル用ス
ペーサの検査方法。 - 【請求項４】 外周面上に光ファイバを収納する複数の
螺旋状のスロット溝を有する光ケーブル用スペーサの検
査方法であって、 繰り出されている前記スペーサの近傍にレーザー変位計
を配設して前記スペーサ表面との距離を測定し、測定し
た前記スペーサとの距離変化に基づいて、複数の前記ス
ロット溝の間に形成されるリブの倒れを検出することを
特徴とする光ケーブル用スペーサの検査方法。 - 【請求項５】 外周面上に光ファイバを収納する複数の
螺旋状のスロット溝を有する光ケーブル用スペーサの検
査方法であって、 繰り出されている前記スペーサの近傍に複数のレーザー
変位計を配設し、異なる方向から前記スペーサ表面との
距離を測定し、複数の前記レーザー変位計によって測定
した前記スペーサとの距離変化を比較することで、前記
スロット溝の形成ピッチの局所異常を検出することを特
徴とする光ケーブル用スペーサの検査方法。 - 【請求項６】 繰り出し中の前記スペーサの繰り出し経
路上に一対のターンホイールを配置し、各ターンホイー
ルに対して前記スペーサを順次巻き付け、一対の前記タ
ーンホイール間で前記レーザー変位計による測定を行う
ことを特徴とする請求項１〜５の何れか一項に記載の光
ケーブル用スペーサの検査方法。 - 【請求項７】 前記レーザー変位計によって測定される
周期的な距離の変化を周波数-電圧変換器によって電圧
に変換し、前記スペーサ表面との距離を電圧値として扱
うことを特徴とする請求項１〜６の何れか一項に記載の
光ケーブル用スペーサの検査方法。 - 【請求項８】 前記レーザー変位計による距離測定と共
に前記スペーサの線速も測定し、前記スペーサの線速測
定に際して前記スペーサの繰り出しに伴って回転するロ
ータリエンコーダを用い、前記ロータリエンコーダの回
転に応じて出力されるパルスを周波数-電圧変換器によ
って電圧に変換し、前記スペーサの線速を電圧値として
扱うことを特徴とする請求項７に記載の光ケーブル用ス
ペーサの検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001226336A JP2003043325A (ja) | 2001-07-26 | 2001-07-26 | 光ケーブル用スペーサの検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001226336A JP2003043325A (ja) | 2001-07-26 | 2001-07-26 | 光ケーブル用スペーサの検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003043325A true JP2003043325A (ja) | 2003-02-13 |
Family
ID=19059170
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001226336A Pending JP2003043325A (ja) | 2001-07-26 | 2001-07-26 | 光ケーブル用スペーサの検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003043325A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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-
2001
- 2001-07-26 JP JP2001226336A patent/JP2003043325A/ja active Pending
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