JP2003042915A - 排ガスサンプリング装置 - Google Patents

排ガスサンプリング装置

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ダストの付着・堆積がほとんど無く、ダスト
による触媒反応を回避して高いガス分析精度を得ること
ができ、かつフィルタ性能を長時間維持し、そのメンテ
ナンス間隔を大幅に延長することができる排ガスサンプ
リング装置を提供する。 【解決手段】 中空円筒部14aを有する旋回チャンバ
ー14と、中空円筒部の軸線に沿って延び通気性を有し
かつ内部が中空なろ過フィルタ16と、中空円筒部の一
端部に接続され接線方向に排気ガスを導入するガス導入
管18と、中空円筒部の他端部に接続され接線方向に排
気ガスを排出するガス排気管20と、ろ過フィルタの内
側からガスを外部に取り出すガスサンプリング管22と
を備える。ガスサンプリング管22には、測定装置が連
通しており、取り出したガスをガス分析する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、排ガスダクト(煙
道)からダストを除去して排ガスをガスサンプリングす
るための排ガスサンプリング装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図3は、ボイラ設備の一例を示す図であ
る。この図において、1は燃料タンク、2は加熱器、3
はボイラ、4は脱硝装置、5は予熱器、6は集塵器、7
は脱硫装置、8はスタック(煙突)である。
【0003】ボイラ設備やゴミ焼却設備等(以下、ボイ
ラ設備等という)の燃焼排ガスには、硫黄化合物(例え
ばSOx)や窒素化合物(例えばNOx)等の有害成分
が含まれている。そのためボイラ設備等では、これらを
除去するために、脱硫装置7や脱硝装置4が設置されて
いる。また、これらの設備を最適条件で運転するため
に、例えば、図中のa〜eで示す箇所において、燃焼排
ガス中の排ガスをサンプリングし、SOx,NOx等の
濃度をガス分析する必要がある。
【0004】従来、かかる排ガスのサンプリングは、煙
道ガス採取装置が用いられていた。この装置は、一次濾
過器、冷却器、二次濾過器を通過したガスをサンプルビ
ン内に採取し、これをガスクロマトグラフ等で分析する
ものである。一次濾過器は、高温の煙道(排ガスダク
ト)内に挿入するので、濾材(フィルタ)として、耐熱
性の多孔質材が用いられる。また、二次濾過器は、ダス
トを完全に除去するために、フィルタとして、ガラスウ
ール、石英ウール、濾紙、焼結金属等が用いられる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】排ガス中のSO3ガス
は水蒸気と反応して硫酸ミストを形成する。そのため、
例えば硫酸ミストの発生を防止するために、SO3の濃
度の高いダクト部では、排ガス温度を例えば約400℃
以上の高温に保持する必要があり、その分、予熱器5等
のエネルギーロスが大きくなる。
【0006】そのため、エネルギーロスを最小限度に抑
えるためにも、ダクト中のSO3濃度を正確に計測する
必要がある。ところが、排ガス中のSOxは、大部分が
SO 2ガスであり、その10%程度がSO3ガスであるに
すぎない。そのため、SO3ガスの濃度分析を行う場
合、大量のガスをサンプリングする必要がある。
【0007】しかし、従来のようなフィルタを用いた場
合、ダストがフィルタに付着して蓄積され、フィルタ性
能が急速に低下するため、頻繁にメンテナンスする必要
がある問題点があった。また、フィルタで捕獲されるダ
ストは、ほとんどが燃焼灰であり、これに含まれるV2
5(五酸化バナジウム)等の触媒作用によりSO2ガス
がSO3ガスになり、SO3ガスの濃度が増大する問題点
があった。そのため、従来のガス分析では、頻繁にメン
テナンスを必要とするにもかかわらず、ダストの触媒反
応の影響で、ガス分析の精度が低下する問題点があっ
た。
【0008】この問題点を解決するために、本発明の発
明者等は、図4に示すような「排ガスサンプリング装
置」を創案し出願した(特願平11−374101号、
未公開)。この装置は、吸気口10aが燃焼設備の煙道
9の上流側に接続され排気口10bが煙道の下流側に接
続されたダクト10と、ダクトの途中に挿入され内壁が
ダクトと略同一断面形状を有する筒状のフィルタ11
と、フィルタの外側を覆うと共にろ過された排ガスを取
り出す取り出し口12aを有するカバー12とを備え、
ダストがフィルタ内側に付着、堆積せずそのまま煙道に
戻されるようにしたものである。なお、この図で13は
ポンプである。
【0009】しかし、図4の排ガスサンプリング装置の
場合でも、長時間連続的にガスサンプリングを継続する
と、サンプリングガスの流れと共にダストが少しずつフ
ィルタ内面に付着し、その一部がフィルタ内に堆積し
て、ダストの触媒作用により、ガス分析精度が低下する
問題があった。
【0010】本発明は、かかる問題点を解決するために
創案されたものである。すなわち、本発明の目的は、ダ
ストの付着・堆積がほとんど無く、ダストによる触媒反
応を回避して高いガス分析精度を得ることができ、かつ
フィルタ性能を長時間維持し、そのメンテナンス間隔を
大幅に延長することができる排ガスサンプリング装置を
提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、中空円
筒部(14a)を有する旋回チャンバー(14)と、該
中空円筒部の軸線に沿って延び通気性を有しかつ内部が
中空なろ過フィルタ(16)と、前記中空円筒部の一端
部に接続され接線方向に排気ガスを導入するガス導入管
(18)と、中空円筒部の他端部に接続され接線方向に
排気ガスを排出するガス排気管(20)と、前記ろ過フ
ィルタの内側からガスを外部に取り出すガスサンプリン
グ管(22)とを備える、ことを特徴とする排ガスサン
プリング装置が提供される。
【0012】本発明の構成によれば、ガス導入管(1
8)が中空円筒部(14a)の一端部に接続され接線方
向に排気ガスを導入し、ガス排気管(20)が中空円筒
部の他端部に接続され接線方向に排気ガスを排出するの
で、排気ガスは中空円筒部で旋回しながら螺旋状に移動
して排出される。従って、排気ガスに含まれるダストは
旋回による遠心力で半径方向外方に移動し、中空円筒部
の軸線に沿った中心部にはダストがほとんど近寄らない
状態となる。また、この中空円筒部の軸線に沿った中心
部に、通気性を有しかつ内部が中空なろ過フィルタ(1
6)が設けられているので、ほとんどダストが浮遊して
いない排気ガスからろ過フィルタの内側にガスを吸引す
ることができる。従って、長時間使用しても、ろ過フィ
ルタの表面(外面)にダストの付着・堆積がほとんど生
じないので、ダストによる触媒反応を回避して高いガス
分析精度を得ることができ、かつフィルタ性能を長時間
維持し、そのメンテナンス間隔を大幅に延長することが
できる。
【0013】本発明の好ましい実施形態によれば、前記
旋回チャンバー(14)は、中空円筒部(14a)の内
面に螺旋状に固定された螺旋板(14b)を有し、該螺
旋板により導入された排気ガスを螺旋状にガイドする。
この構成により、螺旋板(14b)により中空円筒部
(14a)に導入された排気ガスを螺旋状にガイドし
て、排気ガスの中空円筒部での旋回と螺旋状の軸移動を
助長することができる。
【0014】前記ガス導入管(18)は燃焼設備の煙道
(9)に接続され、前記ガス排気管(20)はガス導入
管より下流側の前記煙道に接続され、かつガス排気管
(20)には、煙道から旋回チャンバー内に排気ガスを
吸引しかつ煙道に戻すための吸引ポンプ(13)を備え
る。この構成により、吸引ポンプ(13)により、煙道
(9)から旋回チャンバー内に吸引され、旋回チャンバ
ーで螺旋状に旋回し、更に煙道に戻る排気ガスの流れを
形成することができる。
【0015】本発明の好ましい第1実施形態によれば、
前記中空円筒部(14a)の軸線がほぼ水平である。こ
の構成により、従来の排ガスサンプリング装置(例えば
先行出願)と容易に交換してその性能を向上させること
ができる。
【0016】また、本発明の好ましい第1実施形態によ
れば、前記中空円筒部(14a)の軸線がほぼ鉛直であ
り、前記ガス導入管(18)はその上端部に設けられ、
前記ガス排気管(20)はその下端部に設けられ、更に
ガス排気管より下方に中空円筒部を仕切りダストが下方
に落下可能なダスト分離板(15)を有する。この構成
により、遠心分離したダストをその自重で下方に移動
し、ダスト分離板(15)の下方に落下させて、その再
浮上を防止し、かつその回収を容易化できる。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好ましい実施形態
を図面を参照して説明する。なお、各図において共通す
る部分には同一の符号を付し、重複した説明を省略す
る。
【0018】図1は、本発明の第1実施形態を示す図で
ある。この図において、(A)は排ガスサンプリング装
置の全体構成図、(B)はその主要部の拡大図である。
図1において、本発明の排ガスサンプリング装置は、旋
回チャンバー14、ろ過フィルタ16、ガス導入管1
8、ガス排気管20及びガスサンプリング管22を備え
る。
【0019】旋回チャンバー14は、少なくともその一
部に中空円筒部14aを有する。すなわち、この例で
は、旋回チャンバー14の軸線がほぼ水平であり、全体
が中空円筒形に形成されているが、本発明はこれに限定
されず、中空円筒形以外の形状、例えば従来のサイクロ
ンのようにテーパ部分をその一部に有してもよい。ま
た、この例では、旋回チャンバー14の中空円筒部14
aの内面に螺旋状に固定された螺旋板14bを有する。
この螺旋板14bは、ガス導入管18から導入された排
気ガスを螺旋状にガイドしてガス排気管20まで導く機
能を有する。なお、この螺旋板14bは必須ではなく、
ガス導入管18から導入される排気ガスの流入速度が十
分に大きく、強い旋回流を形成できる場合には、省略す
ることができる。
【0020】ガス導入管18は、中空円筒部14aの一
端部(この例では左端)に接続され、中空円筒部14a
の接線方向に排気ガスを導入するようになっている。ま
た、このガス導入管18は、図1(A)に示すように燃
焼設備の煙道9に接続される。この煙道9の位置は、例
えば図3のa〜eで示した箇所である。
【0021】ガス排気管20は、中空円筒部14aの他
端部(この例では右端)に接続され、中空円筒部14a
の接線方向に排気ガスを排出する。なお、ガス導入管1
8の接線方向とガス排気管20の接線方向は、排気ガス
が内部でスムースに螺旋状に旋回するように最適位置に
設定する。従って、中空円筒部14aに対して同一方向
の側面(例えば図のように上側)に両方を設置する場合
には、ガス導入管18とガス排気管20は、中空円筒部
14aの直径方向反対側となる。また、逆に、中空円筒
部14aの反対方向の側面(例えば図で上側と下側)に
それぞれを設置する場合には、同一の側となる。
【0022】図1(A)に示すように、ガス排気管20
はガス導入管18より下流側の煙道9に接続される。ま
た、このガス排気管20には吸引ポンプ13が設けら
れ、煙道9から旋回チャンバー14内に排気ガスを吸引
し、旋回チャンバー14内で排気ガスを螺旋状に旋回さ
せ、更に排気ガスを煙道9に戻すようになっている。
【0023】ろ過フィルタ16は、中空のフィルタであ
る。このフィルタは、例えば焼結金属フィルタ又はセラ
ミックスフィルタであり、ガス分析に影響する大きさの
微細なダストが通過できない大きさの空気孔が形成され
ている。また、このろ過フィルタ16は、この例では中
空円筒形であり、中空円筒部14aの軸線に沿って延び
ている。更に、この例では、ろ過フィルタ16の一端
(図で左端)は、中空円筒部14aの側面で閉じられ、
他端(図で右端)はガスサンプリング管22に直接連通
している。
【0024】ガスサンプリング管22は、ろ過フィルタ
16の内側に連通し、その内側からガスを外部に取り出
すようになっている。このガスサンプリング管22は、
図示しない測定装置に連通しており、取り出したガスを
ガス分析するようになっている。かかる測定装置には、
特願平11−374103号(未公開)に開示した「S
O3濃度計」、或いはその他の周知のガス分析装置を用
いることができる。
【0025】図2は、本発明の第2実施形態を示す図で
ある。この例において、中空円筒部14aの軸線はほぼ
鉛直であり、ガス導入管18はその上端部に設けられ、
ガス排気管20はその下端部に設けられている。また、
ガス排気管20より下方に中空円筒部14aを仕切るダ
スト分離板15を有する。このダスト分離板15は、ダ
ストが下方に落下可能な大きさの目(開口)を有する多
孔板又は金網であり、一旦落下したダストの再浮上を防
止するようになっている。その他の構成は図1の第1実
施形態と同様である。なお、このダスト分離板15の代
わりに、又はこれと併用して、旋回チャンバー14の下
方をテーパ状に細くし、その下端から連続的に或いはバ
ッチ的にダストを排出するようにしてもよい。
【0026】上述した本発明の構成によれば、ガス導入
管18が中空円筒部14aの一端部に接続され接線方向
に排気ガスを導入し、ガス排気管20が中空円筒部14
aの他端部に接続され接線方向に排気ガスを排出するの
で、排気ガスは中空円筒部で旋回しながら螺旋状に移動
して排出される。従って、排気ガスに含まれるダストは
旋回による遠心力で半径方向外方に移動し、中空円筒部
の軸線に沿った中心部にはダストがほとんど近寄らない
状態となる。また、この中空円筒部の軸線に沿った中心
部に、通気性を有しかつ内部が中空なろ過フィルタ16
が設けられているので、ほとんどダストが浮遊していな
い排気ガスからろ過フィルタの内側にガスを吸引するこ
とができる。従って、長時間使用しても、ろ過フィルタ
の表面(外面)にダストの付着・堆積がほとんど生じな
いので、ダストによる触媒反応を回避して高いガス分析
精度を得ることができ、かつフィルタ性能を長時間維持
し、そのメンテナンス間隔を大幅に延長することができ
る。
【0027】また、中空円筒部14aの内面に螺旋状に
固定された螺旋板14bにより中空円筒部14aに導入
された排気ガスを螺旋状にガイドして、排気ガスの中空
円筒部での旋回と螺旋状の軸移動を助長することができ
る。
【0028】更に、ガス排気管20に吸引ポンプ13を
備えることにより、煙道9から旋回チャンバー内に吸引
され、旋回チャンバーで螺旋状に旋回し、更に煙道に戻
る排気ガスの流れを形成することができる。
【0029】また、中空円筒部14aの軸線をほぼ水平
にする構成により、従来の排ガスサンプリング装置(例
えば先行出願)と容易に交換してその性能を向上させる
ことができる。
【0030】また、中空円筒部14aの軸線をほぼ鉛直
にし、更に、ダスト分離板15を備える構成により、遠
心分離したダストをその自重で下方に移動し、ダスト分
離板15の下方に落下させて、その再浮上を防止し、か
つその回収を容易化できる。
【0031】なお、本発明は、上述した実施例に限定さ
れず、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々に変更でき
ることは勿論である。
【0032】
【発明の効果】上述したように、本発明は、遠心分離フ
ィルタとろ過フィルタの長所を組み合わせたものであ
る。すなわち、遠心分離方式のフィルタにおける遠心分
離により、ダストの付着を大幅に低減し、かつ焼結金属
タイプの抽出方向を逆にしたろ過フィルタによりガスの
精密ろ過を可能にしたものである。
【0033】従って、本発明の排ガスサンプリング装置
は、ダストの付着・堆積がほとんど無く、ダストによる
触媒反応を回避して高いガス分析精度を得ることがで
き、かつフィルタ性能を長時間維持し、そのメンテナン
ス間隔を大幅に延長することができる、等の優れた効果
を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態を示す図である。
【図2】本発明の第2実施形態を示す図である。
【図3】ボイラ設備の一例を示す図である。
【図4】未公開の先行発明の模式図である。
【符号の説明】
1 燃料タンク、2 加熱器、3 ボイラ、4 脱硝装
置、5 予熱器、6 集塵器、7 脱硫装置、8 スタ
ック(煙突)、9 煙道、10 ダクト、10a 吸気
口、10b 排気口、11 フィルタ、12 カバ
ー、12a 取り出し口、13 吸引ポンプ、14
旋回チャンバー、14a 中空円筒部、14b 螺旋
板、15 ダスト分離板、16 ろ過フィルタ、18
ガス導入管、20 ガス排気管、22 ガスサンプリン
グ管
フロントページの続き (72)発明者 小林 健 東京都江東区豊洲3丁目1番15号 石川島 播磨重工業株式会社東京エンジニアリング センター内 (72)発明者 倉田 孝男 東京都江東区豊洲3丁目1番15号 石川島 播磨重工業株式会社東京エンジニアリング センター内 (72)発明者 小原 正孝 東京都千代田区大手町2丁目2番1号 石 川島播磨重工業株式会社本社内 Fターム(参考) 2G052 AA02 AC25 AD04 AD24 AD42 BA03 BA14 CA03 CA04 CA12 DA21 EA03 EA08 JA10 JA13 JA15

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 中空円筒部(14a)を有する旋回チャ
    ンバー(14)と、該中空円筒部の軸線に沿って延び通
    気性を有しかつ内部が中空なろ過フィルタ(16)と、
    前記中空円筒部の一端部に接続され接線方向に排気ガス
    を導入するガス導入管(18)と、中空円筒部の他端部
    に接続され接線方向に排気ガスを排出するガス排気管
    (20)と、前記ろ過フィルタの内側からガスを外部に
    取り出すガスサンプリング管(22)とを備える、こと
    を特徴とする排ガスサンプリング装置。
  2. 【請求項2】 前記旋回チャンバー(14)は、中空円
    筒部(14a)の内面に螺旋状に固定された螺旋板(1
    4b)を有し、該螺旋板により導入された排気ガスを螺
    旋状にガイドする、ことを特徴とする請求項1に記載の
    排ガスサンプリング装置。
  3. 【請求項3】 前記ガス導入管(18)は燃焼設備の煙
    道(9)に接続され、前記ガス排気管(20)はガス導
    入管より下流側の前記煙道に接続され、かつガス排気管
    (20)には、煙道から旋回チャンバー内に排気ガスを
    吸引しかつ煙道に戻すための吸引ポンプ(13)を備え
    る、ことを特徴とする請求項1に記載の排ガスサンプリ
    ング装置。
  4. 【請求項4】 前記中空円筒部(14a)の軸線がほぼ
    水平である、ことを特徴とする請求項1に記載の排ガス
    サンプリング装置。
  5. 【請求項5】 前記中空円筒部(14a)の軸線がほぼ
    鉛直であり、前記ガス導入管(18)はその上端部に設
    けられ、前記ガス排気管(20)はその下端部に設けら
    れ、更にガス排気管より下方に中空円筒部を仕切りダス
    トが下方に落下可能なダスト分離板(15)を有する、
    ことを特徴とする請求項1に記載の排ガスサンプリング
    装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013231638A (ja) * 2012-04-27 2013-11-14 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 濃度測定装置及び脱硝装置
JP2015175796A (ja) * 2014-03-17 2015-10-05 中国電力株式会社 レーザ式ガス分析装置
CN108548697A (zh) * 2018-05-07 2018-09-18 中国林业科学研究院 降尘收集器

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS51161882U (ja) * 1975-06-18 1976-12-23
JPS54168894U (ja) * 1978-05-18 1979-11-28
JPS5779429A (en) * 1980-11-05 1982-05-18 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Sampling probe of gas containing solid component
JPH0684350U (ja) * 1993-05-16 1994-12-02 株式会社堀場製作所 ガス分析計におけるサンプリング装置
JPH07280711A (ja) * 1994-04-13 1995-10-27 Mitsubishi Materials Corp ガスサンプリング装置
JPH08254486A (ja) * 1995-03-15 1996-10-01 Chugoku Electric Power Co Inc:The ガスサンプリング装置
JPH10197422A (ja) * 1996-12-28 1998-07-31 Horiba Ltd 空冷式水分分離装置
JP2001183267A (ja) * 1999-12-28 2001-07-06 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd 排ガスサンプリング装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS51161882U (ja) * 1975-06-18 1976-12-23
JPS54168894U (ja) * 1978-05-18 1979-11-28
JPS5779429A (en) * 1980-11-05 1982-05-18 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Sampling probe of gas containing solid component
JPH0684350U (ja) * 1993-05-16 1994-12-02 株式会社堀場製作所 ガス分析計におけるサンプリング装置
JPH07280711A (ja) * 1994-04-13 1995-10-27 Mitsubishi Materials Corp ガスサンプリング装置
JPH08254486A (ja) * 1995-03-15 1996-10-01 Chugoku Electric Power Co Inc:The ガスサンプリング装置
JPH10197422A (ja) * 1996-12-28 1998-07-31 Horiba Ltd 空冷式水分分離装置
JP2001183267A (ja) * 1999-12-28 2001-07-06 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd 排ガスサンプリング装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013231638A (ja) * 2012-04-27 2013-11-14 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 濃度測定装置及び脱硝装置
JP2015175796A (ja) * 2014-03-17 2015-10-05 中国電力株式会社 レーザ式ガス分析装置
CN108548697A (zh) * 2018-05-07 2018-09-18 中国林业科学研究院 降尘收集器
CN108548697B (zh) * 2018-05-07 2024-01-02 中国林业科学研究院 降尘收集器

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