JP2002539702A - 高温超伝導体同調可能フイルタ - Google Patents
高温超伝導体同調可能フイルタInfo
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- H01P7/00—Resonators of the waveguide type
- H01P7/08—Strip line resonators
- H01P7/088—Tunable resonators
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- H01G5/16—Capacitors in which the capacitance is varied by mechanical means, e.g. by turning a shaft; Processes of their manufacture using variation of distance between electrodes
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Abstract
(57)【要約】
固定基板(20)と、高温超伝導材料からなる第1および第2のプレート(10,15)とを有する同調可能フイルタは、基板に固定される。可動基板(35)は、固定および可動基板に取り付けられた機械的ドライバ(70)を含む。高温超伝導材料のフローティングプレート(30)は可動基板に取り付けられる。フローティングプレートおよび第1および第2のプレートは、両者間にギャップ(50)を決定するように配列され、そのギャップは、機械的ドライバにより行われた長さの変化により、変わる。
Description
【0001】 (技術分野) この発明は、高温超伝導(HTS)整合可能なフィルタに関する。より詳しくは
、この発明は、微細電子ケミカルキャパシタの変化により同調可能なHTSフイ
ルタに関する。
、この発明は、微細電子ケミカルキャパシタの変化により同調可能なHTSフイ
ルタに関する。
【0002】 (背景技術) 高いクォリティのフイルタ(Q)、低挿入損失の整合可能なフイルタに対する要
求は、例えばレーダー通信およびELINTのごとき軍事、およびセルラーを含
む種々の通信目的のような商業分野の双方にて、広帯域のマイクロウェーブおよ
びRFの利用にひろがっている。シャープに制限される帯域フィルタを受信機ま
アンテナ入力部に設置すると、このような利用において、種々の弊害をしばしば
排除するが、所望の信号周波数に近い周波数で強い干渉信号を生じる。受信機の
アンテナ入力部にフイルタを設置するため、ノイズの形態を損なわないように、
挿入ロスは極めて低くなくてはならない。たいていのフイルタ技術では、低挿入
損失の達成には、フイルタの急峻または選択率で対応する妥協が要求される。こ
の発明では、高温超伝導(HTS)フイルタの極めて低いロス特性が、極めて低い
挿入損失を達成するだけでなく、同時に高い選択率/急峻な帯域特性を可能にす
る、興味ある解決を与える。
求は、例えばレーダー通信およびELINTのごとき軍事、およびセルラーを含
む種々の通信目的のような商業分野の双方にて、広帯域のマイクロウェーブおよ
びRFの利用にひろがっている。シャープに制限される帯域フィルタを受信機ま
アンテナ入力部に設置すると、このような利用において、種々の弊害をしばしば
排除するが、所望の信号周波数に近い周波数で強い干渉信号を生じる。受信機の
アンテナ入力部にフイルタを設置するため、ノイズの形態を損なわないように、
挿入ロスは極めて低くなくてはならない。たいていのフイルタ技術では、低挿入
損失の達成には、フイルタの急峻または選択率で対応する妥協が要求される。こ
の発明では、高温超伝導(HTS)フイルタの極めて低いロス特性が、極めて低い
挿入損失を達成するだけでなく、同時に高い選択率/急峻な帯域特性を可能にす
る、興味ある解決を与える。
【0003】 特に周波数の飛び越えが用いられる多くの応用では、受信機のフイルタは、所
望の周波数を選択するか、干渉信号の周波数を捕捉できるように同調できなくて
はならない。その結果、受信機内の受信アンテナ部と第1の非直線エレメント(
典型的に低ノイズのアンプまたはミキサー)との間に直線性の同調可能なフイル
タの挿入は、挿入ロスが極めて低く、広帯域のRFおよびマイクロウェーブシス
テムにおいて、実質的な有利を与える。例えば、レーダーシステムにおいて、ソ
ース近傍の同種からの、または妨害者からの高い振幅の干渉信号は、受信機を鈍
感にするか、または、高い振幅の乱れた信号レベルを、誤ったターゲットの指示
に変調する。高密度の信号環境では、レーダー警戒システムはしばしば完全に利
用できなくなる。
望の周波数を選択するか、干渉信号の周波数を捕捉できるように同調できなくて
はならない。その結果、受信機内の受信アンテナ部と第1の非直線エレメント(
典型的に低ノイズのアンプまたはミキサー)との間に直線性の同調可能なフイル
タの挿入は、挿入ロスが極めて低く、広帯域のRFおよびマイクロウェーブシス
テムにおいて、実質的な有利を与える。例えば、レーダーシステムにおいて、ソ
ース近傍の同種からの、または妨害者からの高い振幅の干渉信号は、受信機を鈍
感にするか、または、高い振幅の乱れた信号レベルを、誤ったターゲットの指示
に変調する。高密度の信号環境では、レーダー警戒システムはしばしば完全に利
用できなくなる。
【0004】 ひとかたのりのエレメントおよび分散したエレメントのフイルタのいずれもが
、これらおよび他の問題に苦しむ。例えば、分配されたエレメントであるYIG
同調フイルタが用いられたとき、適したYIGフイルタの高レベルの挿入ロス(
一般に10dBより大)が、基本的にノイズの出現による劣化が一般に享受でき
ないときのように、“本当に必要にときにスイッチ”して使用することが要求さ
れる。ひとかたまりのエレメントフイルタも問題に苦しむ。同調されるべきひと
かたまりのエレメントのフイルタに対しては、そのフイルタは、同調できるキャ
パシタまたは同調できる誘導エレメントを要求する。RF同調可能なひとかたま
りのエレメントフィルタの大多数は、バラクタダイオードに使用される。逆バイ
アス電圧の変化により、バラクタダイオードが厚さの減少を変え、その結果PN
接合キャパシタンスを変化させるので、このような設計は、同調可能なキャパシ
タを使うことになる。バラクタは簡単で強靭であるが、Qに限界を持ち、また、
全ての方法を信号周波数に広げ、その結果、高い振幅信号が、生じた非直線性に
より、望ましくない変調生成物やその他を生じる問題に苦しむ。低いQおよび高
い周波数の非直線性の同じ問題は、フェロエレクトリックのような“同調できる
材料”として予想されていることである。
、これらおよび他の問題に苦しむ。例えば、分配されたエレメントであるYIG
同調フイルタが用いられたとき、適したYIGフイルタの高レベルの挿入ロス(
一般に10dBより大)が、基本的にノイズの出現による劣化が一般に享受でき
ないときのように、“本当に必要にときにスイッチ”して使用することが要求さ
れる。ひとかたまりのエレメントフイルタも問題に苦しむ。同調されるべきひと
かたまりのエレメントのフイルタに対しては、そのフイルタは、同調できるキャ
パシタまたは同調できる誘導エレメントを要求する。RF同調可能なひとかたま
りのエレメントフィルタの大多数は、バラクタダイオードに使用される。逆バイ
アス電圧の変化により、バラクタダイオードが厚さの減少を変え、その結果PN
接合キャパシタンスを変化させるので、このような設計は、同調可能なキャパシ
タを使うことになる。バラクタは簡単で強靭であるが、Qに限界を持ち、また、
全ての方法を信号周波数に広げ、その結果、高い振幅信号が、生じた非直線性に
より、望ましくない変調生成物やその他を生じる問題に苦しむ。低いQおよび高
い周波数の非直線性の同じ問題は、フェロエレクトリックのような“同調できる
材料”として予想されていることである。
【0005】 一般のバラクタダイオードの場合を検討する。バラクタでは、電子の挙動は、
同調そのものを実行する。バラクタの接合部への逆バイアス(Vi)が変化したと
き、Poissonの数式に従って、PN接合の空乏領域の幅が変化し、その結果、接
合部のキャパシタンス(Cj)が変化する。バラクタの同調機構が電子的なので、
同調速度は極めて早い。不幸にも、このことが、重大に結びついた欠点、限られ
たダイナミックレンクジ、に導く。Cj(Vr)の関係が殆ど瞬時な応答のため、こ
のことが信号周波数でVrを変化させ、かつ、信号(しばしば共振的に拡大された
波形)が接合バイアス電圧の要素として表れるので、信号そのものがパラメータ
的に接合容量を変調する。バラクタに生じた信号振幅がDCバイアスに比べて極
めて小さいならば、その影響はそれ程深刻ではない。高い信号振幅に対しては不
幸にも、異なる信号間で、高調波発生や他の好ましくない影響のみならず、キャ
パシタンスのパラメータ的な変調が厳しいクロス変調(IM)効果を引き起こす。
このような信号−周波数バラクタ容量の変化は、パラメータアンプ、副高調波発
信器、周波数倍率器、および、通常の受信機における信号径路内の他の有用なマ
イクロウェーブ回路のごとき、有用なデバイスの基礎ではあるが、それらはアン
テナである。この固有な相互変調またはダイナミックレンジの問題は、おそらく
、電界(E)に印加された誘電定数(εr)の変化が回路を同調するために利用され
る、フェロエレクトリックまたは他の材料のごとき、"同調可能な材料"に延長さ
れるであろう。εr(E)の関係が信号周波数に適用される限り、Eの要素とした
信号の存在が、バラクタが持つ同じ相互変調の問題につながる。
同調そのものを実行する。バラクタの接合部への逆バイアス(Vi)が変化したと
き、Poissonの数式に従って、PN接合の空乏領域の幅が変化し、その結果、接
合部のキャパシタンス(Cj)が変化する。バラクタの同調機構が電子的なので、
同調速度は極めて早い。不幸にも、このことが、重大に結びついた欠点、限られ
たダイナミックレンクジ、に導く。Cj(Vr)の関係が殆ど瞬時な応答のため、こ
のことが信号周波数でVrを変化させ、かつ、信号(しばしば共振的に拡大された
波形)が接合バイアス電圧の要素として表れるので、信号そのものがパラメータ
的に接合容量を変調する。バラクタに生じた信号振幅がDCバイアスに比べて極
めて小さいならば、その影響はそれ程深刻ではない。高い信号振幅に対しては不
幸にも、異なる信号間で、高調波発生や他の好ましくない影響のみならず、キャ
パシタンスのパラメータ的な変調が厳しいクロス変調(IM)効果を引き起こす。
このような信号−周波数バラクタ容量の変化は、パラメータアンプ、副高調波発
信器、周波数倍率器、および、通常の受信機における信号径路内の他の有用なマ
イクロウェーブ回路のごとき、有用なデバイスの基礎ではあるが、それらはアン
テナである。この固有な相互変調またはダイナミックレンジの問題は、おそらく
、電界(E)に印加された誘電定数(εr)の変化が回路を同調するために利用され
る、フェロエレクトリックまたは他の材料のごとき、"同調可能な材料"に延長さ
れるであろう。εr(E)の関係が信号周波数に適用される限り、Eの要素とした
信号の存在が、バラクタが持つ同じ相互変調の問題につながる。
【0006】 バラクタの相互変調/ダイナミックレンジの問題に加えて、これらの通常の同
調デバイスも、Qまたき同調選択率に重大な限界を持つ。バラクタは、P―N接
合の空乏領域を変えることにより動作するので、このことは、より小さい逆電圧
(より高いキャパシタンス)で、コンタクトと、AC電流に重要な直列抵抗(Rac)
を与える接合部との間に、未空乏の適度にドープされた半導体領域が実質的にあ
ることを意味する。信号周波数fで接合容量Cjおよび直列抵抗Racのバラクタ
のQは、Q=1/(2fCjRac)で与えられるので、このことは、バラクタQ値
は、特により高い周波数で制限されるこを意味する。例えば、典型的な市販のバ
ラクタは、Vr=−4V、f=1.0GHzでQ=68、または、Vr=−10V
でQ=114(またはそれぞれf=10.0GHz Q値=6.8およびQ=11
.4)に対応して、Vr=4VでRac=1.0ΩでCj=2.35pF、またはVr=
−10VでRac=0.82ΩでCj=1.70pFを持つ。関心のあるX帯域(f=
10GHz)レーダーの応用が、Q=500のクォリティファクタに対応して、
20MHzの帯域(FWHM)を要求することを考慮すると、このような要求に迎
合するには、利用できるバラクタが不十分なQ(あまりにも低い)を持つことがわ
かる。機構は異なっていても、フェロエレクトリックや他の"同調可能な材料"の
使用に最も適用され勝ちである。電界依存の誘電係数の非直線性(これが同調可
能にする)を示す材料の一点的な特性は、誘電係数(または等価的に損失角)の虚
数部の実質的な値を示す。このことが不幸にも、バラクタにおけるように、これ
らの“同調可能な材料”は、特に高い信号周波数で高いQを達成できそうにない
。
調デバイスも、Qまたき同調選択率に重大な限界を持つ。バラクタは、P―N接
合の空乏領域を変えることにより動作するので、このことは、より小さい逆電圧
(より高いキャパシタンス)で、コンタクトと、AC電流に重要な直列抵抗(Rac)
を与える接合部との間に、未空乏の適度にドープされた半導体領域が実質的にあ
ることを意味する。信号周波数fで接合容量Cjおよび直列抵抗Racのバラクタ
のQは、Q=1/(2fCjRac)で与えられるので、このことは、バラクタQ値
は、特により高い周波数で制限されるこを意味する。例えば、典型的な市販のバ
ラクタは、Vr=−4V、f=1.0GHzでQ=68、または、Vr=−10V
でQ=114(またはそれぞれf=10.0GHz Q値=6.8およびQ=11
.4)に対応して、Vr=4VでRac=1.0ΩでCj=2.35pF、またはVr=
−10VでRac=0.82ΩでCj=1.70pFを持つ。関心のあるX帯域(f=
10GHz)レーダーの応用が、Q=500のクォリティファクタに対応して、
20MHzの帯域(FWHM)を要求することを考慮すると、このような要求に迎
合するには、利用できるバラクタが不十分なQ(あまりにも低い)を持つことがわ
かる。機構は異なっていても、フェロエレクトリックや他の"同調可能な材料"の
使用に最も適用され勝ちである。電界依存の誘電係数の非直線性(これが同調可
能にする)を示す材料の一点的な特性は、誘電係数(または等価的に損失角)の虚
数部の実質的な値を示す。このことが不幸にも、バラクタにおけるように、これ
らの“同調可能な材料”は、特に高い信号周波数で高いQを達成できそうにない
。
【0007】 高いQ値の回路に対するバラクタおよび“同調可能な材料”の双方に対する別
の問題は、これらのは基本的に2端子デバイスであることであり、DCの同調用
の電圧が、信号電圧が印加されるのと同じ2つの電極に印加されなければならな
いことである。その標準の技術は、バイアスポート外の信号パワーのロス(これ
はQを大きく低下させる)を避けるために、高リアクタンスのインピーダンスを
実現するために設計された“バイアス台”の回路を通じて信号周波数にDC同調
用バイアスを印加する。しかしながら、エネルギーロスを数%または僅かな%に
限定するバイアス回路の設計において、僅かな%のロスでさえ、極めて高いQの
回路(HTS共振回路として達成するには例えばQが103から104)に対して
は十分ではない。このような極めて高いQの回路を、同調用電圧が信号が印加さ
れる電極とは別の電極に印加されるタイプ(信号とバイアス用のポート間で固有
の高い絶縁を有する)の3端子または好ましくは4端子(2ポート)の可変キャパ
シタを用いて設計することはより容易である。
の問題は、これらのは基本的に2端子デバイスであることであり、DCの同調用
の電圧が、信号電圧が印加されるのと同じ2つの電極に印加されなければならな
いことである。その標準の技術は、バイアスポート外の信号パワーのロス(これ
はQを大きく低下させる)を避けるために、高リアクタンスのインピーダンスを
実現するために設計された“バイアス台”の回路を通じて信号周波数にDC同調
用バイアスを印加する。しかしながら、エネルギーロスを数%または僅かな%に
限定するバイアス回路の設計において、僅かな%のロスでさえ、極めて高いQの
回路(HTS共振回路として達成するには例えばQが103から104)に対して
は十分ではない。このような極めて高いQの回路を、同調用電圧が信号が印加さ
れる電極とは別の電極に印加されるタイプ(信号とバイアス用のポート間で固有
の高い絶縁を有する)の3端子または好ましくは4端子(2ポート)の可変キャパ
シタを用いて設計することはより容易である。
【0008】 バラクタまたは“同調可能な材料”のアプローチの問題を避ける可変キャパシ
タの一つの新規な形態は、U.S特許第 5,696,662 に開示されているようなマイク
ロ・エレクトロ・メカニカル(MEMS)による可変キャパシタである。複雑な横
方向に組み合わせた電極キャパシタ構造を含む、多数のMEMS可変キャパシタ
デバイス構造が提案されている。簡単な垂直移動で、このデバイスの平行プレー
トの形成の場合、通常の金属プレート(極めて多量にドープされたシリコンから
の通常の金属プレート)を分離する薄い誘電体層がエッチングされ、プレート間
に極めて狭いギャップを残す。薄いトップのプレートは、くい(その領域下では
スペーサの誘電体は除去されない)上で終端される4本のかなり従順な薄いビー
ム上に吊り下げられる。このデバイスは、エァーのブレイクダウン無しに、プレ
ート間の細いギャップに対して実際の電圧が印加されることを可能にするために
、(およびプレートの移動およびノイズに与える影響を排除するために)一般には
、空にしたパッケージ内で動作する。DC同調用電圧がプレート間に印加された
とき、支持ビームの高いコンプライアンスに基づく、小さい静電吸引力が、固定
プレートまたは基板に向けて、可動プレートの実施的な偏向を生じさせ、キャパ
シタンスを増大させる。
タの一つの新規な形態は、U.S特許第 5,696,662 に開示されているようなマイク
ロ・エレクトロ・メカニカル(MEMS)による可変キャパシタである。複雑な横
方向に組み合わせた電極キャパシタ構造を含む、多数のMEMS可変キャパシタ
デバイス構造が提案されている。簡単な垂直移動で、このデバイスの平行プレー
トの形成の場合、通常の金属プレート(極めて多量にドープされたシリコンから
の通常の金属プレート)を分離する薄い誘電体層がエッチングされ、プレート間
に極めて狭いギャップを残す。薄いトップのプレートは、くい(その領域下では
スペーサの誘電体は除去されない)上で終端される4本のかなり従順な薄いビー
ム上に吊り下げられる。このデバイスは、エァーのブレイクダウン無しに、プレ
ート間の細いギャップに対して実際の電圧が印加されることを可能にするために
、(およびプレートの移動およびノイズに与える影響を排除するために)一般には
、空にしたパッケージ内で動作する。DC同調用電圧がプレート間に印加された
とき、支持ビームの高いコンプライアンスに基づく、小さい静電吸引力が、固定
プレートまたは基板に向けて、可動プレートの実施的な偏向を生じさせ、キャパ
シタンスを増大させる。
【0009】 (バラクタや“同調可能な材料”におけるような“瞬間的な”電子移動効果と
は対立するように、)少なくとも金属対金属のプレートのタイプのMEMS可変
キャパシタでのキャパシタンス変化がプレートの全体的な機械的移動によるため
、周波数応答は、プレート重量により、関心ある信号周波数よりかなり下に制限
される。従って、これらのMEMSデバイスは、相互変調や高次歪みの影響また
は他のダイナミックレンジの問題から解放される(バイアスと信号電圧の結合を
、プレート間の狭いギャップに印加すると、非直線性の漏れ電流やブレイクダウ
ン影響につながる)。
は対立するように、)少なくとも金属対金属のプレートのタイプのMEMS可変
キャパシタでのキャパシタンス変化がプレートの全体的な機械的移動によるため
、周波数応答は、プレート重量により、関心ある信号周波数よりかなり下に制限
される。従って、これらのMEMSデバイスは、相互変調や高次歪みの影響また
は他のダイナミックレンジの問題から解放される(バイアスと信号電圧の結合を
、プレート間の狭いギャップに印加すると、非直線性の漏れ電流やブレイクダウ
ン影響につながる)。
【0010】 これらのIM/ダイナミックレンジ問題からの解放に加え、一般の金属プレー
トMEMSの可変キャパシタ構造は、実質的により低いロスとより高いQに対す
る可能性を与える。2つのキャパシタ電極にトップと底のプレートを用いる、平
行プレートのMEMS構造は、可動プレートを支持している柔軟なビームの低下
につながる長く狭い金属リードの表皮効果抵抗Racによる、Q問題を有する。こ
の問題を避けるために別の構造も可能である。もし、トップ(可動)プレートが電
気的に“フローティング”に作製されたなら(信号の見地から、DCバイアスリ
ードをなお含む)、そして、固定の底プレートが2つに等分されたなら、これら
の分離されたプレートは、MEMS可変キャパシタへの信号リードとして用いる
ことができる。(当然、キャパシタンスの値は半分になるが、同調範囲は確保さ
れる。)この“フローティングプレート”の形態では、長く狭いビームリードを
通じて流れるAC電流の通過は、回避され、通常の金属プレートであってもかな
り高いQ値を達成することができる。
トMEMSの可変キャパシタ構造は、実質的により低いロスとより高いQに対す
る可能性を与える。2つのキャパシタ電極にトップと底のプレートを用いる、平
行プレートのMEMS構造は、可動プレートを支持している柔軟なビームの低下
につながる長く狭い金属リードの表皮効果抵抗Racによる、Q問題を有する。こ
の問題を避けるために別の構造も可能である。もし、トップ(可動)プレートが電
気的に“フローティング”に作製されたなら(信号の見地から、DCバイアスリ
ードをなお含む)、そして、固定の底プレートが2つに等分されたなら、これら
の分離されたプレートは、MEMS可変キャパシタへの信号リードとして用いる
ことができる。(当然、キャパシタンスの値は半分になるが、同調範囲は確保さ
れる。)この“フローティングプレート”の形態では、長く狭いビームリードを
通じて流れるAC電流の通過は、回避され、通常の金属プレートであってもかな
り高いQ値を達成することができる。
【0011】 この一般のMEMS可変キャパシタ構造は、改善されたQが可能で、また、バ
ラクタや“同調可能材料”の相互変調問題を回避するが、それ自身にいくつかの
潜在的な問題がある。プレート間の比較的弱い静電吸引力のみが、キャパシタン
スを変えるためにプレートの移動を駆動するために用いられるので、プレート支
持の“くも”構造は、バイアス電圧による支持可能な電圧に十分な移動を可能に
するために、極めて柔軟でなくてはならない。軽量のプレートであっても高い柔
軟性の支持を得るには、デバイスは微小音圧の問題(機械的振動または周囲のノ
イズにより生じるキャパシタンスの変動として表れる)に直面する。(真空)信号
誘電体ギャップ内のプレートを直接駆動する電界を有することが、別の問題を引
き起こす。高い同調速度を達成するために(この場合、最大DCバイアスが印加
されたキャパシタンス対、DCバイアス無しのときのキャパシタンスの比)、最
小のプレート間隔対、ゼロバイアス時のプレート間隔の比は大きくなくてはなら
ない(例えば、10倍が望ましい)。不幸にも、プレート間の最小ギャップ(最大
キャパシタンスでプレート間のブレイクダウンまたは“フラッシュオーバー”事
故の危険が最大)は、まさしく悪いバイアス状態のとき(DCバイアス電圧が最大
)に達成される。
ラクタや“同調可能材料”の相互変調問題を回避するが、それ自身にいくつかの
潜在的な問題がある。プレート間の比較的弱い静電吸引力のみが、キャパシタン
スを変えるためにプレートの移動を駆動するために用いられるので、プレート支
持の“くも”構造は、バイアス電圧による支持可能な電圧に十分な移動を可能に
するために、極めて柔軟でなくてはならない。軽量のプレートであっても高い柔
軟性の支持を得るには、デバイスは微小音圧の問題(機械的振動または周囲のノ
イズにより生じるキャパシタンスの変動として表れる)に直面する。(真空)信号
誘電体ギャップ内のプレートを直接駆動する電界を有することが、別の問題を引
き起こす。高い同調速度を達成するために(この場合、最大DCバイアスが印加
されたキャパシタンス対、DCバイアス無しのときのキャパシタンスの比)、最
小のプレート間隔対、ゼロバイアス時のプレート間隔の比は大きくなくてはなら
ない(例えば、10倍が望ましい)。不幸にも、プレート間の最小ギャップ(最大
キャパシタンスでプレート間のブレイクダウンまたは“フラッシュオーバー”事
故の危険が最大)は、まさしく悪いバイアス状態のとき(DCバイアス電圧が最大
)に達成される。
【0012】 (発明の開示) (発明が解決しようとする技術的課題) それゆえ、極めて高いQ、広い同調範囲、微小音圧およびブレイクダウンか
ら免れ、そして十分に同調入力部が絶縁された、MEMSのようなHTS可変キ
ャパシタ構造を具備した新規な同調可能なフイルタが望まれていた。
ら免れ、そして十分に同調入力部が絶縁された、MEMSのようなHTS可変キ
ャパシタ構造を具備した新規な同調可能なフイルタが望まれていた。
【0013】 (その解決方法) 一つの新規な対応では、本発明は、可変キャパシタを含む同調可能なフイルタ
を含む。その可変キャパシタは、固定基板を含み、その上に固定プレートが配置
される。好ましくは、固定プレートは、高温超伝導材料からなる。固定基板に接
近して、可動基板が設けられ、その上に、一般の金属か、(より高いQのために)
高温超伝導材料からなる第2のプレートが位置する。フイルタ信号電圧は、固定
および可動基板の間に配置され、互いに実質的に平行に位置し、キャパシタのギ
ャップを決定する、固定および第2のプレートに結合される。同調用信号に動作
可能に結合された機械的なドライバは、固定基板上と可動基板に装着され、これ
により、同調用信号の変化に応じたドライバにおける機械的移動が、可動基板と
固定基板を離隔しているギャップの大きさを変える。固定および第2のプレート
がキャパシタを決定するので、このようなギャップの変化はキャパシタンスに影
響し、次いで同調可能フイルタ回路の機能に影響する。その結果、同調用信号の
変化が、同調可能フイルタの周波数応答を変える。
を含む。その可変キャパシタは、固定基板を含み、その上に固定プレートが配置
される。好ましくは、固定プレートは、高温超伝導材料からなる。固定基板に接
近して、可動基板が設けられ、その上に、一般の金属か、(より高いQのために)
高温超伝導材料からなる第2のプレートが位置する。フイルタ信号電圧は、固定
および可動基板の間に配置され、互いに実質的に平行に位置し、キャパシタのギ
ャップを決定する、固定および第2のプレートに結合される。同調用信号に動作
可能に結合された機械的なドライバは、固定基板上と可動基板に装着され、これ
により、同調用信号の変化に応じたドライバにおける機械的移動が、可動基板と
固定基板を離隔しているギャップの大きさを変える。固定および第2のプレート
がキャパシタを決定するので、このようなギャップの変化はキャパシタンスに影
響し、次いで同調可能フイルタ回路の機能に影響する。その結果、同調用信号の
変化が、同調可能フイルタの周波数応答を変える。
【0014】 好ましい実施例では、固定プレートは、分割され、従って、共に高温超伝導材
料からなる第1の固定プレートと第2の固定プレートは固定基板上に位置する。
フローティングプレートも高温超伝導材料からなり、これは可動基板上に位置す
る。固定プレートおよびフローティングプレートは、固定および可動基板の間に
位置し、キャパシタのギャップを形成する。キャパシタギャップ間に結合される
よりも、フイルタ信号は、第1および第2の固定プレートに結合される。これと
は別に、第1および第2の固定プレートおよびフローティングプレートは、一般
の金属(金のごとき)、このような代替は達成できるQを低下させるが、それを含
んでもよい。
料からなる第1の固定プレートと第2の固定プレートは固定基板上に位置する。
フローティングプレートも高温超伝導材料からなり、これは可動基板上に位置す
る。固定プレートおよびフローティングプレートは、固定および可動基板の間に
位置し、キャパシタのギャップを形成する。キャパシタギャップ間に結合される
よりも、フイルタ信号は、第1および第2の固定プレートに結合される。これと
は別に、第1および第2の固定プレートおよびフローティングプレートは、一般
の金属(金のごとき)、このような代替は達成できるQを低下させるが、それを含
んでもよい。
【0015】 機械的ドライバは、可変キャパシタの可動プレートと固定プレートとの間のギ
ャップに、強く、早く、かつよく制御された変化を与える。その機械的ドライバ
は、比較的、高い力を発生し、少なくとも数ミクロン(好ましくは10ミクロン)
のプレートギャップ変化を起こす。その機械的ドライバは、PZT(鉛亜鉛チタ
ン)のような一般の圧電または電歪セラミックアクチュエータの材料で構成して
もよい。このPZTは、10−3のオーダーで長さの変位を与える(PZTアク
チュエータは同調用信号に応答して、全長のほぼ0.1%変化する。)これとは
別に、機械的ドライバは、それの寸法に関してより大きな機械的変位を与える、
高性能の圧電セラミックまたは電歪ポリマー材料のような新規な材料で構成して
もよい。同調用信号に応答して、このような材料は、PZCアクチュエータで生
じる単一長さの変位よりもより複雑なの機械的変位を持つ。しかしながら、機械
的ドライバの幾何学形状は、これらの代替材料が利用されるように変更してもよ
い。
ャップに、強く、早く、かつよく制御された変化を与える。その機械的ドライバ
は、比較的、高い力を発生し、少なくとも数ミクロン(好ましくは10ミクロン)
のプレートギャップ変化を起こす。その機械的ドライバは、PZT(鉛亜鉛チタ
ン)のような一般の圧電または電歪セラミックアクチュエータの材料で構成して
もよい。このPZTは、10−3のオーダーで長さの変位を与える(PZTアク
チュエータは同調用信号に応答して、全長のほぼ0.1%変化する。)これとは
別に、機械的ドライバは、それの寸法に関してより大きな機械的変位を与える、
高性能の圧電セラミックまたは電歪ポリマー材料のような新規な材料で構成して
もよい。同調用信号に応答して、このような材料は、PZCアクチュエータで生
じる単一長さの変位よりもより複雑なの機械的変位を持つ。しかしながら、機械
的ドライバの幾何学形状は、これらの代替材料が利用されるように変更してもよ
い。
【0016】 機械的ドライバがPZTのような長さ変化のアクチュエータ材料を用いた好ま
しい実施例では、機械的ドライバは、同調用信号に結合した、折り重ねた圧電ま
たは電歪構造を含む。 第1の圧電ドライバは固定基板と結合用部材とに取りつけられる。第2の圧電ド
ライバも、結合部材と可動基板とに結合され、第1の圧電ドライバでの長さの減
少および第2の圧電ドライバでの長さの増大が、キャパシタギャップを減少させ
る。同調可能フイルタは、第1および第2のプレート間にHTSインダクタを更
に備えてもよい。好ましくは、HTSインダクタは、このHTSインダクタの基
本共振周波数で共振させるか、基本周波数の高次で共振させるかで選択された電
気的長さを有する。
しい実施例では、機械的ドライバは、同調用信号に結合した、折り重ねた圧電ま
たは電歪構造を含む。 第1の圧電ドライバは固定基板と結合用部材とに取りつけられる。第2の圧電ド
ライバも、結合部材と可動基板とに結合され、第1の圧電ドライバでの長さの減
少および第2の圧電ドライバでの長さの増大が、キャパシタギャップを減少させ
る。同調可能フイルタは、第1および第2のプレート間にHTSインダクタを更
に備えてもよい。好ましくは、HTSインダクタは、このHTSインダクタの基
本共振周波数で共振させるか、基本周波数の高次で共振させるかで選択された電
気的長さを有する。
【0017】 機械的同調プロセスに含まれる質量が、関心ある信号周波数で起きる、キャパ
シタプレートの実質的な移動を許可しないので、本発明は、キャパシタンスに影
響を与える機械的ドライバの使用により、相互変調問題を回避する。加えて、本
発明は、2端子設計に関連した従来技術の問題を回避して、同調用信号およびフ
イルタ信号が結合されることを可能にする。本発明は、同調速度の高速および低
い微小音のために、圧電アクチュエータにより1実施例で駆動される、極めて高
いQを提供する。
シタプレートの実質的な移動を許可しないので、本発明は、キャパシタンスに影
響を与える機械的ドライバの使用により、相互変調問題を回避する。加えて、本
発明は、2端子設計に関連した従来技術の問題を回避して、同調用信号およびフ
イルタ信号が結合されることを可能にする。本発明は、同調速度の高速および低
い微小音のために、圧電アクチュエータにより1実施例で駆動される、極めて高
いQを提供する。
【0018】 (発明を実施するための最良の形態) 図1aおよび1bを参照すると、機械的な動作から独立した、MEMSのよう
なHTSのスプリットプレートの可変キャパシタに基づく、高いQの帯域フィル
タ共振回路の好ましい実施例が示されている。第1の固定されたプレート10お
よび第2の固定されたプレート15は、薄いフイルムのHTS材料(例えばYB
CO)を、例えばMgOを含む固定基板20上に成長させてパターン化された。
このようなエピタキシャルの超導電性の薄いフイルムは一般的に形成され、商業
利用できる。例えば、R.B.Hammond その他による1990,Appl.Phy.Lett,Vol.57,pp
.825-27“高出力かつ77K以上で9.6GHzの低表面抵抗を有するエピタキ
シャル Tl2Ca1Ba2Cu2O8 薄フイルム”を参照。可変できるキャパシタ構造25は
、移動可能な基板35上で成長された薄フイルムHTS材料からパターン化され
た、例えばMgOを含むフローティング構造のプレート30(図1bの平面図で
は、透明で描いている)の追加により完成された。フローティングのプレート3
0は、固定のプレート10および15に実質的に平行にかつ離隔して設置され、
固定のプレート10および15を完全にカバーしてもよい。その結果、HTS可
変キャパシタ構造25は、実際には直列の2つの可変キャパシタを含み(等価回
路を図1cに示す)、通常の平行プレート構造の各アリア毎にキャパシタンスを
2分している。この利点は、フローティングのプレート30への導電性のコンタ
クトが不要であることであり、(特にHTS実行に対して)キャパシタへの極めて
低い直列抵抗のコンタクト(高いQ)の達成を極めて単純化する。このような実施
例では、フイルタ信号は、固定プレート10および15のみに結合される。1実
施例では固定基板20と可動基板35との間に結合している、機械的ドライバー
45は、固定プレート10および15とフローティングプレート30とにより限
定される、キャパシタのギャップ50(好ましくは真空に維持される)を調節する
。これらについての当業者なら数個の別の機械的ドライバー、たとえば、種々の
モードで動作する圧電によるドライバー、または、電気作用するポリマー材料を
含むドライバー、機械的ドライバーに適した変更を加えたものを適用できること
を理解できるであろう。
なHTSのスプリットプレートの可変キャパシタに基づく、高いQの帯域フィル
タ共振回路の好ましい実施例が示されている。第1の固定されたプレート10お
よび第2の固定されたプレート15は、薄いフイルムのHTS材料(例えばYB
CO)を、例えばMgOを含む固定基板20上に成長させてパターン化された。
このようなエピタキシャルの超導電性の薄いフイルムは一般的に形成され、商業
利用できる。例えば、R.B.Hammond その他による1990,Appl.Phy.Lett,Vol.57,pp
.825-27“高出力かつ77K以上で9.6GHzの低表面抵抗を有するエピタキ
シャル Tl2Ca1Ba2Cu2O8 薄フイルム”を参照。可変できるキャパシタ構造25は
、移動可能な基板35上で成長された薄フイルムHTS材料からパターン化され
た、例えばMgOを含むフローティング構造のプレート30(図1bの平面図で
は、透明で描いている)の追加により完成された。フローティングのプレート3
0は、固定のプレート10および15に実質的に平行にかつ離隔して設置され、
固定のプレート10および15を完全にカバーしてもよい。その結果、HTS可
変キャパシタ構造25は、実際には直列の2つの可変キャパシタを含み(等価回
路を図1cに示す)、通常の平行プレート構造の各アリア毎にキャパシタンスを
2分している。この利点は、フローティングのプレート30への導電性のコンタ
クトが不要であることであり、(特にHTS実行に対して)キャパシタへの極めて
低い直列抵抗のコンタクト(高いQ)の達成を極めて単純化する。このような実施
例では、フイルタ信号は、固定プレート10および15のみに結合される。1実
施例では固定基板20と可動基板35との間に結合している、機械的ドライバー
45は、固定プレート10および15とフローティングプレート30とにより限
定される、キャパシタのギャップ50(好ましくは真空に維持される)を調節する
。これらについての当業者なら数個の別の機械的ドライバー、たとえば、種々の
モードで動作する圧電によるドライバー、または、電気作用するポリマー材料を
含むドライバー、機械的ドライバーに適した変更を加えたものを適用できること
を理解できるであろう。
【0019】 このフローティングプレートのHTS可変キャパシタによる同調可能なフイル
タ構造25では、広いHTSライン(潜在的に図1bの平面図に示されるものよ
りもより広く)は、極めて高いQ値を達成するために、固定プレート10および
15との間で十分広く結合された、インダクタ40(または選択的に送信ライン
のセグメント)を決定するために使用されてもよい。インダクタ40は、簡単な
LC共振回路となるように、基本共振周波数に対応する1/4波長と実質的に等
しい電気的長さを持つ。これとは別に、インダクタ40は、1/2波長の倍数と
実質的に等しい電気的長さを持ってもよい。更には、インダクタ40は、1/2
波長よりも実質的に短くてもよく、これにより、ひとかたまりの回路エレメント
としてもよい。これによる等価回路を図1cに示す。2つの可変キャパシタ60
および65は、インダクタ40で直列になっている。機械的なドライバー45は
、キャパシティー60および65のキャパシタンスを変更する。
タ構造25では、広いHTSライン(潜在的に図1bの平面図に示されるものよ
りもより広く)は、極めて高いQ値を達成するために、固定プレート10および
15との間で十分広く結合された、インダクタ40(または選択的に送信ライン
のセグメント)を決定するために使用されてもよい。インダクタ40は、簡単な
LC共振回路となるように、基本共振周波数に対応する1/4波長と実質的に等
しい電気的長さを持つ。これとは別に、インダクタ40は、1/2波長の倍数と
実質的に等しい電気的長さを持ってもよい。更には、インダクタ40は、1/2
波長よりも実質的に短くてもよく、これにより、ひとかたまりの回路エレメント
としてもよい。これによる等価回路を図1cに示す。2つの可変キャパシタ60
および65は、インダクタ40で直列になっている。機械的なドライバー45は
、キャパシティー60および65のキャパシタンスを変更する。
【0020】 図1cの等価回路は、そのバランスのとれた構造から得られる重要な結果を持
つ。一般に使用される1/2波長の共振回路は、図2aに示すようなマイクロス
トリップの送信ラインによる開放回路長さを含むことに注目される。その送信ラ
インは、基本共振回路f0に対応する1/2波長に実質的に等しい長さ(dで示す
)を持つ。このような共振回路は、共振回路の端部と大地との間にキャパシタン
スを追加するために、共振回路の一方端に近いカバープレートを通じ、金属の同
調用ネジの使用によりしばしば同調していた。ネジの代わりに、本発明者により
開示された可変キャパシタターCiを使用できる。共振周波数またはこれに近い
周波数に対し、共振回路の端部で見られたインピーダンスZinは、図2bに示し
たような平行に同調された回路のインピーダンスに整合する。与えられたキャパ
シタンス変化ΔCtに対し、いくつかの共振周波数変化Δfoが存在する。
つ。一般に使用される1/2波長の共振回路は、図2aに示すようなマイクロス
トリップの送信ラインによる開放回路長さを含むことに注目される。その送信ラ
インは、基本共振回路f0に対応する1/2波長に実質的に等しい長さ(dで示す
)を持つ。このような共振回路は、共振回路の端部と大地との間にキャパシタン
スを追加するために、共振回路の一方端に近いカバープレートを通じ、金属の同
調用ネジの使用によりしばしば同調していた。ネジの代わりに、本発明者により
開示された可変キャパシタターCiを使用できる。共振周波数またはこれに近い
周波数に対し、共振回路の端部で見られたインピーダンスZinは、図2bに示し
たような平行に同調された回路のインピーダンスに整合する。与えられたキャパ
シタンス変化ΔCtに対し、いくつかの共振周波数変化Δfoが存在する。
【0021】 図2aの1/2波長の共振回路が図1bのインダクタ40に示されるような“
ヘアピン”の形状に曲げられ、そして、Ciが共振回路の開放端に接続されると
、図2cのバランスのとれた構造が得られる。共振回路では、この“ヘアピン”
共振回路の2つの開放端での電位は反対の電位を持ち、そのため、可変のキャパ
シターの端子は、バランスのとれた方法で駆動される。バランスのとれた動作の
ために、ヘアピンの右側に存在するいかなる電位に対しても、共振回路の左側の
対応するポイントで等しくかつ反対の電位が存在する。それゆえ、図2dにしめ
したように、共振回路の中央ラインに仮想の大地が実現される。次に、便宜のた
めに、単一のキャパシターCtがそれぞれが元のキャパシターCtの2倍の容量を
もつ2つのキャパシターで置き変える。図2dに示した回路が図2aのように直
線にされたなら、送信ラインの両端にサイズが2Ctのキャパシターが存在する
。これにより、図2cにおけるキャパシターCtは、図2aで示した構成よりも
同調のために4倍以上も有効的である。
ヘアピン”の形状に曲げられ、そして、Ciが共振回路の開放端に接続されると
、図2cのバランスのとれた構造が得られる。共振回路では、この“ヘアピン”
共振回路の2つの開放端での電位は反対の電位を持ち、そのため、可変のキャパ
シターの端子は、バランスのとれた方法で駆動される。バランスのとれた動作の
ために、ヘアピンの右側に存在するいかなる電位に対しても、共振回路の左側の
対応するポイントで等しくかつ反対の電位が存在する。それゆえ、図2dにしめ
したように、共振回路の中央ラインに仮想の大地が実現される。次に、便宜のた
めに、単一のキャパシターCtがそれぞれが元のキャパシターCtの2倍の容量を
もつ2つのキャパシターで置き変える。図2dに示した回路が図2aのように直
線にされたなら、送信ラインの両端にサイズが2Ctのキャパシターが存在する
。これにより、図2cにおけるキャパシターCtは、図2aで示した構成よりも
同調のために4倍以上も有効的である。
【0022】 本発明は、極めて高いQ値を処理を処理する有用な同調可能なフイルタを提供
する。次の例は、9.70GHzでの本発明の動作を示している。当業者ならば
、このような例は単なる発明を示したものであり、より低いまたはより高い周波
数で動作を示すめたにスケールを容易に偏向できることが理解されよう。図示の
ように、図1に示した、C=5.0pF(実際は直列の2個の10pFのキャパシ
タ、第1および第2の固定プレート10および15は、5.0マイクロmで離れ
ているなら、0.75mm平方である)を有する、タイプの簡単なX帯域のLC共
振回路を考察する。9.70GHzの共振周波数を得るために、インダクタ40
は、L=0.5384μHの値を持つことを要求する。これは、径が1.0mm
なら通常のD=2.0mmの直径を持つループにより与えられる。このことは、
インダクタ40は、外径3.0mm、内径1.0mmとなる。インダクタループ
40を形成するHTSの幅(1mm)が第1および第2の固定キャパシタプレート
10および15の寸法と同じなので、キャパシタおよびインダクタの構成は、ス
ムーズに組み合わされ、Qのロスはほとんどない。一方、コンダクタのエッジで
の電流のこみあい故に、動作周波数f=10GHz、HTS表面抵抗がRs=0
.1mΩ(1×10-4、80°Kでの高品質のYBCOで典型値)、2つの導電用
HTS表面の一つからによるものと考慮して2×電流の込合い率で説明して、D
=2mmおよびw=1mmに対して、AC抵抗RacがRs(長さ/幅)=Rs(πD)
(w)=0.628mΩならば、正確なAC抵抗を測定するのが困難である。それ
ゆえ、10GHzの動作周波数でこの直径2mmのHTSループのインダクタ4
0の計算された未装てんのQは、Q=2πfL/Rac=53,840でQ値はほ
とんどの関心ある設計よりもかなり高い。MgOのHTS成長基板20および3
5のタンジェント損失を十分に低く、放射または他の構造物への結合によるエネ
ルギーロスが最小であると仮定すれば、極めて低い挿入損失を有する簡単な単一
共振回路であっても、1000またはそれ以上のQ値が達成できる。
する。次の例は、9.70GHzでの本発明の動作を示している。当業者ならば
、このような例は単なる発明を示したものであり、より低いまたはより高い周波
数で動作を示すめたにスケールを容易に偏向できることが理解されよう。図示の
ように、図1に示した、C=5.0pF(実際は直列の2個の10pFのキャパシ
タ、第1および第2の固定プレート10および15は、5.0マイクロmで離れ
ているなら、0.75mm平方である)を有する、タイプの簡単なX帯域のLC共
振回路を考察する。9.70GHzの共振周波数を得るために、インダクタ40
は、L=0.5384μHの値を持つことを要求する。これは、径が1.0mm
なら通常のD=2.0mmの直径を持つループにより与えられる。このことは、
インダクタ40は、外径3.0mm、内径1.0mmとなる。インダクタループ
40を形成するHTSの幅(1mm)が第1および第2の固定キャパシタプレート
10および15の寸法と同じなので、キャパシタおよびインダクタの構成は、ス
ムーズに組み合わされ、Qのロスはほとんどない。一方、コンダクタのエッジで
の電流のこみあい故に、動作周波数f=10GHz、HTS表面抵抗がRs=0
.1mΩ(1×10-4、80°Kでの高品質のYBCOで典型値)、2つの導電用
HTS表面の一つからによるものと考慮して2×電流の込合い率で説明して、D
=2mmおよびw=1mmに対して、AC抵抗RacがRs(長さ/幅)=Rs(πD)
(w)=0.628mΩならば、正確なAC抵抗を測定するのが困難である。それ
ゆえ、10GHzの動作周波数でこの直径2mmのHTSループのインダクタ4
0の計算された未装てんのQは、Q=2πfL/Rac=53,840でQ値はほ
とんどの関心ある設計よりもかなり高い。MgOのHTS成長基板20および3
5のタンジェント損失を十分に低く、放射または他の構造物への結合によるエネ
ルギーロスが最小であると仮定すれば、極めて低い挿入損失を有する簡単な単一
共振回路であっても、1000またはそれ以上のQ値が達成できる。
【0023】 多数の別の幾何学構造が本発明で使用される可変キャパシタを構成するために
採用されてもよい。たとえば、図1aに示した好ましい“スプリットのプレート
”を採用するよりは、第1および第2の固定されたプレート10および15を単
一の固定プレート(不図示)に置き変えることができる。この設計では、しかしな
がら、キャパシタギャップ50の一方側上の両プレートが、フイルタ信号に結合
することを要求する。別の幾何学構造に加えて、フローティングプレート30ま
たは第1および第2の固定プレート10および15は、HTS材料からよりは、
選択的に金または同様な低ロス金属から形成してもよい。しかしながらこのよう
な金属は、すべてHTS構成を用いた達成したQ値ほどには高い値を呈しない。
採用されてもよい。たとえば、図1aに示した好ましい“スプリットのプレート
”を採用するよりは、第1および第2の固定されたプレート10および15を単
一の固定プレート(不図示)に置き変えることができる。この設計では、しかしな
がら、キャパシタギャップ50の一方側上の両プレートが、フイルタ信号に結合
することを要求する。別の幾何学構造に加えて、フローティングプレート30ま
たは第1および第2の固定プレート10および15は、HTS材料からよりは、
選択的に金または同様な低ロス金属から形成してもよい。しかしながらこのよう
な金属は、すべてHTS構成を用いた達成したQ値ほどには高い値を呈しない。
【0024】 図1dを参照すると、可動基板が2つの固定基板20および21の間に積層さ
れた本発明の実施例を示している。既述したように、第1および第2の固定基板
10および15は、固定基板20上に固定され、フローティグ基板30は可動基
板35上にある。しかしながら、機械的ドライバ45は、図1aにあった機械的
ドライバ45のように、キャパシタギャップ50を機械的ドライバ45がまたぐ
ことのないように、固定基板21と可動基板35との間で結合されている。これ
とは別に、図1eを参照すると、第1および第2の“固定された”プレート10
および15は、図1dで示したのと類似の同機械的ドライバ45により位置決め
された可動基板35上に位置できる。
れた本発明の実施例を示している。既述したように、第1および第2の固定基板
10および15は、固定基板20上に固定され、フローティグ基板30は可動基
板35上にある。しかしながら、機械的ドライバ45は、図1aにあった機械的
ドライバ45のように、キャパシタギャップ50を機械的ドライバ45がまたぐ
ことのないように、固定基板21と可動基板35との間で結合されている。これ
とは別に、図1eを参照すると、第1および第2の“固定された”プレート10
および15は、図1dで示したのと類似の同機械的ドライバ45により位置決め
された可動基板35上に位置できる。
【0025】 本発明の趣旨内のHTS可動キャパシタ動作可能フイルタに対する性能の可能
性は、極めて興味深いが、フローティングプレート30の要求される正確な移動
をいかに達成するか、このようなデバイスの組立てを次に詳細に記す。最初に、
“堅く”頑丈な機械的ドライバ45が極めて有利である。アッピールする機械的
ドライバのアプローチは、それの単純さおよひ低コストのため、通常の圧電アク
チュエータを使用する。図3aおよび3bは、圧電デバイスを用いたHTS可変
キャパシタの同調可能フイルタ構造25に対する本発明の1実施例を示す。図3
aおよび3bにおける新規な設計の特徴は、可動基板35の各端部上の“折り重
ねた”圧電ドライバ70構造の使用にある。この一般的でない構造の理由は、電
界の印加により圧電材料に生じた応力は大きいが、それらの弾性体のモジュール
も同様に高く、そのため、実際に得られる“DC”伸長は、材料の長さの10-3 倍のオーダーに過ぎない(共振回路ではより大きい“AC”伸長が達成されるが
、この可変キャパシタ目的には使用できない)。たとえば、5μmの離隔、±5
μmの移動範囲を有し、およそゼロから10μmで可変する正規のプレートを選
択したなら、少なくとも5mm長の圧電材料を必要とする。この圧電材料長を“
折り重ね”て2片(1グループが上で他の1グループが下)とすることにより、合
計の高さを3mm以下に維持でき、圧電材料の現実のCTE(熱膨張係数)から生
じる影響を自動的にキャンセルできる。
性は、極めて興味深いが、フローティングプレート30の要求される正確な移動
をいかに達成するか、このようなデバイスの組立てを次に詳細に記す。最初に、
“堅く”頑丈な機械的ドライバ45が極めて有利である。アッピールする機械的
ドライバのアプローチは、それの単純さおよひ低コストのため、通常の圧電アク
チュエータを使用する。図3aおよび3bは、圧電デバイスを用いたHTS可変
キャパシタの同調可能フイルタ構造25に対する本発明の1実施例を示す。図3
aおよび3bにおける新規な設計の特徴は、可動基板35の各端部上の“折り重
ねた”圧電ドライバ70構造の使用にある。この一般的でない構造の理由は、電
界の印加により圧電材料に生じた応力は大きいが、それらの弾性体のモジュール
も同様に高く、そのため、実際に得られる“DC”伸長は、材料の長さの10-3 倍のオーダーに過ぎない(共振回路ではより大きい“AC”伸長が達成されるが
、この可変キャパシタ目的には使用できない)。たとえば、5μmの離隔、±5
μmの移動範囲を有し、およそゼロから10μmで可変する正規のプレートを選
択したなら、少なくとも5mm長の圧電材料を必要とする。この圧電材料長を“
折り重ね”て2片(1グループが上で他の1グループが下)とすることにより、合
計の高さを3mm以下に維持でき、圧電材料の現実のCTE(熱膨張係数)から生
じる影響を自動的にキャンセルできる。
【0026】 可変キャパシタHTSの同調可能フイルタ25のこの実施例の基本構成は、図
1aおよび1bに関して述べたものと同様である。2つの折り重ねた圧電ドライ
バ構造70を調節するために、および、可変キャパシタHTSの同調可能フイル
タ25と圧電ドライバ構造70との間の寄生の容量性影響を最小にするために、
可動基板は、元の固定基板10および15と実質的に横方向に延在する、横方向
の拡張部80および85を有する。第1の固定プレート10および第2のプレー
ト15は、HTS材料からパターン化され、そして、例えばMgOを含む固定基
板20上に成長される。HTS材料のインダクタ40(不図示)は、第1および第
2の固定プレート10および15に結合される。先に述べたように、このインダ
クタ40は好ましくは、そのインダクタ40が簡単なLC共振回路のように動作
するように選択された電気的長さを有する。図3bに示したように、第1および
第2の固定プレート10および15のそれぞれは、フイルタ信号が可変キャパシ
タHTSの同調可能フイルタ25に結合されるように、リード16を持つ。可変
キャパシタHTS同調可能フイルタ基板25は、例えばMgOを含む可動基板3
5上で薄いフイルムのHTS材料からパターン化された、フローティングプレー
ト30(図3bの平面図では、透明で描く)の追加により、完成された。一対の折
り重ねられた圧電ドライバ70は、以下のように、横方向の伸長部80および8
5に結合される。第1の圧電ドライバ100は、例えば低温インジウム合金半田
(これは残りの要求される圧電体の取り付けにも使用される)を用い、固定基板2
0へ、可動基板35の横方向の伸長部80に接近した位置にて取り付けられる。
第1の圧電ドライバ100は、その反対側の端部にて結合部材110へ取り付け
られる。また、結合部材110には、第2の圧電ドライバ115が取り付けられ
る。結合部材110は、MgOのような適した金属材料から形成されてもよい。
また、結合材料110は、低温インジウム半田ボンドまたは第1および第2の圧
電ドライバ100および115を互いに結合するための同様なものであってもよ
い。第2の圧電ドライバ115は、それの反対側の端部にて可動基板35の横方
向の伸長部80に取り付けられ、一対の折り重ねられた圧電ドライバ構造70の
一方を形成する。第1の圧電ドライバ100および第2の圧電ドライバ115は
、実質的に互いに平行になっている。この構成では、第1の圧電ドライバ100
が短くなり、第2の圧電ドライバ115が長くなったとき、ハャパシティのプレ
ート間のギャップ50は、短くなり、同調可能フイルタ25の周波数応答に影響
を与える。他の折り重ねられた圧電ドライバ構造70は、同様な方法で可動基板
35の横方向の伸長部85に結合される。第3の圧電ドライバ120は、一方の
端部にて、結合部材125の反対側端部に結合される。また、結合部材125に
は第4の圧電ドライバ130が取り付けられる。第4の圧電ドライバ130は、
その反対側の端部にて、固定基板20へ、横方向の伸長部85に接近した個所で
取り付けられ、これにより、第3の圧電ドライバ120および第4の圧電ドライ
バ130は、実質的に互いに平行で、よって、他の圧電ドライバ構造70を形成
する。曲げの振動を抑圧するために、例えばMgOからなる追加的なブリッジ1
40が結合部材110および120の間に掛けられる。
1aおよび1bに関して述べたものと同様である。2つの折り重ねた圧電ドライ
バ構造70を調節するために、および、可変キャパシタHTSの同調可能フイル
タ25と圧電ドライバ構造70との間の寄生の容量性影響を最小にするために、
可動基板は、元の固定基板10および15と実質的に横方向に延在する、横方向
の拡張部80および85を有する。第1の固定プレート10および第2のプレー
ト15は、HTS材料からパターン化され、そして、例えばMgOを含む固定基
板20上に成長される。HTS材料のインダクタ40(不図示)は、第1および第
2の固定プレート10および15に結合される。先に述べたように、このインダ
クタ40は好ましくは、そのインダクタ40が簡単なLC共振回路のように動作
するように選択された電気的長さを有する。図3bに示したように、第1および
第2の固定プレート10および15のそれぞれは、フイルタ信号が可変キャパシ
タHTSの同調可能フイルタ25に結合されるように、リード16を持つ。可変
キャパシタHTS同調可能フイルタ基板25は、例えばMgOを含む可動基板3
5上で薄いフイルムのHTS材料からパターン化された、フローティングプレー
ト30(図3bの平面図では、透明で描く)の追加により、完成された。一対の折
り重ねられた圧電ドライバ70は、以下のように、横方向の伸長部80および8
5に結合される。第1の圧電ドライバ100は、例えば低温インジウム合金半田
(これは残りの要求される圧電体の取り付けにも使用される)を用い、固定基板2
0へ、可動基板35の横方向の伸長部80に接近した位置にて取り付けられる。
第1の圧電ドライバ100は、その反対側の端部にて結合部材110へ取り付け
られる。また、結合部材110には、第2の圧電ドライバ115が取り付けられ
る。結合部材110は、MgOのような適した金属材料から形成されてもよい。
また、結合材料110は、低温インジウム半田ボンドまたは第1および第2の圧
電ドライバ100および115を互いに結合するための同様なものであってもよ
い。第2の圧電ドライバ115は、それの反対側の端部にて可動基板35の横方
向の伸長部80に取り付けられ、一対の折り重ねられた圧電ドライバ構造70の
一方を形成する。第1の圧電ドライバ100および第2の圧電ドライバ115は
、実質的に互いに平行になっている。この構成では、第1の圧電ドライバ100
が短くなり、第2の圧電ドライバ115が長くなったとき、ハャパシティのプレ
ート間のギャップ50は、短くなり、同調可能フイルタ25の周波数応答に影響
を与える。他の折り重ねられた圧電ドライバ構造70は、同様な方法で可動基板
35の横方向の伸長部85に結合される。第3の圧電ドライバ120は、一方の
端部にて、結合部材125の反対側端部に結合される。また、結合部材125に
は第4の圧電ドライバ130が取り付けられる。第4の圧電ドライバ130は、
その反対側の端部にて、固定基板20へ、横方向の伸長部85に接近した個所で
取り付けられ、これにより、第3の圧電ドライバ120および第4の圧電ドライ
バ130は、実質的に互いに平行で、よって、他の圧電ドライバ構造70を形成
する。曲げの振動を抑圧するために、例えばMgOからなる追加的なブリッジ1
40が結合部材110および120の間に掛けられる。
【0027】 一つの実施例では、各圧電ドライバは、電極105を通じて同調用信号電圧V
tを有する同調用信号に結合される。折り重ねられた圧電アクチュエータ構造7
0を実行するために、同調用信号電圧(Vt)の極性と、圧電材料の方位(“極性化
”方向)が必要である。例えば、正のVtを有する一つの実施例では、第1および
第4の圧電ドライバ100および130は、短くなり、第2および第3の圧電ド
ライバ115および120は長くなり、フローティングプレート30を固定プレ
ート10および15へ接近させ、ギャップ50を減少し、キャパシタンスを増大
させる。同様に、同じ実施例において、負のVtは第1および第4の圧電ドライ
バ100および130を長くし、第2および第3の圧電ドライバ115および1
20を短くする。この結果、負のVtでプレート間のギャップ50は増大し、キ
ャパシタンスを低減する。圧電材料(典型的には鉛・ジルコネート・チタン“P
ZT”)の動作のモードは、図3aの左下部に示したように、Vtの極性に応じて
、プレートの薄い“Z”方向にバイアス電圧Vtが印加されると、“X”が短く
なり、“Y”が長くなるか、“X”が長くなり、“Y”が短くなる。このような
実施例では、互いに重なる圧電ドライバ内の個々の電極を有する、対をなす圧電
ドライバの向きが互いに“反対”とされる。
tを有する同調用信号に結合される。折り重ねられた圧電アクチュエータ構造7
0を実行するために、同調用信号電圧(Vt)の極性と、圧電材料の方位(“極性化
”方向)が必要である。例えば、正のVtを有する一つの実施例では、第1および
第4の圧電ドライバ100および130は、短くなり、第2および第3の圧電ド
ライバ115および120は長くなり、フローティングプレート30を固定プレ
ート10および15へ接近させ、ギャップ50を減少し、キャパシタンスを増大
させる。同様に、同じ実施例において、負のVtは第1および第4の圧電ドライ
バ100および130を長くし、第2および第3の圧電ドライバ115および1
20を短くする。この結果、負のVtでプレート間のギャップ50は増大し、キ
ャパシタンスを低減する。圧電材料(典型的には鉛・ジルコネート・チタン“P
ZT”)の動作のモードは、図3aの左下部に示したように、Vtの極性に応じて
、プレートの薄い“Z”方向にバイアス電圧Vtが印加されると、“X”が短く
なり、“Y”が長くなるか、“X”が長くなり、“Y”が短くなる。このような
実施例では、互いに重なる圧電ドライバ内の個々の電極を有する、対をなす圧電
ドライバの向きが互いに“反対”とされる。
【0028】 おおよそ、同様な“反対の”対をなす圧電ドライバ構造(同じ圧電モードおよ
び極性を含む)は、標準の商業的“bimorph”ビームアクチュエータに用いられる
。バイアスが印加され、そしてPZTtの一方側で長くなり、他の側で短くなり
、ビームが曲るように、基本的な相違は、標準のbimorphのビームにおいて、薄
い金属(典型的に5ミルのステンレス鋼)の部材が2つのPZT層(典型的に7.
54ミル厚)の間のフイルムのギャップの間を満たす。本発明では、機械的に2
つのPZTドライバ(結合部材110および125に取り付けられている端部を
除く)を緩和し、そして、(図3aに示した結合部材110および125を横切る
MgOブリッジを置くことにより)PZT材料の曲げを防止し、圧電ドライバの
底端部間の高さの変化に依存してVtにつなぐ。圧電アクチュエータの材料およ
び構造に疎遠な場合、1995年11月、journal of Micromechanical Systems
の4巻第4の230〜237頁の刊行物にT.S.LowおよびW.Guo著の“Modeling
of a Three-Layer Piezoelectric Bimorph Beam with Hysteresis ”が参考にな
る。
び極性を含む)は、標準の商業的“bimorph”ビームアクチュエータに用いられる
。バイアスが印加され、そしてPZTtの一方側で長くなり、他の側で短くなり
、ビームが曲るように、基本的な相違は、標準のbimorphのビームにおいて、薄
い金属(典型的に5ミルのステンレス鋼)の部材が2つのPZT層(典型的に7.
54ミル厚)の間のフイルムのギャップの間を満たす。本発明では、機械的に2
つのPZTドライバ(結合部材110および125に取り付けられている端部を
除く)を緩和し、そして、(図3aに示した結合部材110および125を横切る
MgOブリッジを置くことにより)PZT材料の曲げを防止し、圧電ドライバの
底端部間の高さの変化に依存してVtにつなぐ。圧電アクチュエータの材料およ
び構造に疎遠な場合、1995年11月、journal of Micromechanical Systems
の4巻第4の230〜237頁の刊行物にT.S.LowおよびW.Guo著の“Modeling
of a Three-Layer Piezoelectric Bimorph Beam with Hysteresis ”が参考にな
る。
【0029】 HTS可変キャパシタ構造は、少なくとも垂直方向に、正確な機械的組立てお
よび組立て品を要求する。正確な組立ては、固定プレート10および15とフロ
ーティングプレート30の対向面上で平坦さおよび侵食(隆起高さ)の無い特性と
して基本的に表現される。表面間の平均離隔間隔がμ範囲(またはサブμ範囲)に
減少したとき、対向するキャパシタプレート間が短くなるのを避けるために、プ
レートの対向表面からいかなる実質的な突起があってはならない。一つの実施例
では、表面に対し、成長したHTS表面は、小さなかたまりや他の“隆起”突出
の存在が走査され、あるいは、あまりにも高いものを除去するために他の技術が
使用される。キャパシタプレートでは、導体フイルムにいくつかの穴を持つこと
に性能に大きな害がなく、そのため、表面の杭の成長“再形成”は問題にならず
、“隆起”の除去が有効である。正確な組立て品における臨界問題は、初期(Vt
=0)の高さ(分離)を修正し、そして、キャパシティプレートの平行関係を、好
ましくはわずかなμ(少なくとも平行関係で)で確立することである。一つの実施
例では、この正確な垂直方向の位置合わせは、除去可能な配置したスペーサ技術
の認識タイプに基づいて自己アライメントの手段によって達成されてもよい。例
えば、5μの名目上の離隔が望まれるなら、フォトレジストによる一様に5μ(
杭の発達)の厚の層が予めパターン化されたHTS固定基板20(図2に示したM
gOのような)上に設けておき、露光され、現像され、たとえば5μ高さの6個
の“円盤”(各コーナーと可動基板の長い片の側部に)を置く。可動基板35は次
に整列され、そしてこれらの杭に押下され、圧電ドライバ70は、低温(例えば
インジウム合金)半田で各端部に取り付けられる。同調用バイアスVtが印加され
たとき、回直移動できるように、組立てが完了した後、杭は、適した溶媒で溶解
され、フローティングプレート30をフリーにする。(円盤はフォトレジスト材
料または、フォトレジストを用いパターン化され、より容易に溶解する材料(P
MMのような)を使用してもよい。)
よび組立て品を要求する。正確な組立ては、固定プレート10および15とフロ
ーティングプレート30の対向面上で平坦さおよび侵食(隆起高さ)の無い特性と
して基本的に表現される。表面間の平均離隔間隔がμ範囲(またはサブμ範囲)に
減少したとき、対向するキャパシタプレート間が短くなるのを避けるために、プ
レートの対向表面からいかなる実質的な突起があってはならない。一つの実施例
では、表面に対し、成長したHTS表面は、小さなかたまりや他の“隆起”突出
の存在が走査され、あるいは、あまりにも高いものを除去するために他の技術が
使用される。キャパシタプレートでは、導体フイルムにいくつかの穴を持つこと
に性能に大きな害がなく、そのため、表面の杭の成長“再形成”は問題にならず
、“隆起”の除去が有効である。正確な組立て品における臨界問題は、初期(Vt
=0)の高さ(分離)を修正し、そして、キャパシティプレートの平行関係を、好
ましくはわずかなμ(少なくとも平行関係で)で確立することである。一つの実施
例では、この正確な垂直方向の位置合わせは、除去可能な配置したスペーサ技術
の認識タイプに基づいて自己アライメントの手段によって達成されてもよい。例
えば、5μの名目上の離隔が望まれるなら、フォトレジストによる一様に5μ(
杭の発達)の厚の層が予めパターン化されたHTS固定基板20(図2に示したM
gOのような)上に設けておき、露光され、現像され、たとえば5μ高さの6個
の“円盤”(各コーナーと可動基板の長い片の側部に)を置く。可動基板35は次
に整列され、そしてこれらの杭に押下され、圧電ドライバ70は、低温(例えば
インジウム合金)半田で各端部に取り付けられる。同調用バイアスVtが印加され
たとき、回直移動できるように、組立てが完了した後、杭は、適した溶媒で溶解
され、フローティングプレート30をフリーにする。(円盤はフォトレジスト材
料または、フォトレジストを用いパターン化され、より容易に溶解する材料(P
MMのような)を使用してもよい。)
【0030】 図3aでは、薄く(高速の同調速度が望まれるときは低質量)された可動基板3
5は、HTSフローティングプレート30自身の端部からかなり離れて延在し、
横方向の伸長部80および85を形成している。フローティングプレート309
と第2および第3の圧電ドライバ115および120に対する取り付け点との間
のこれらの実質的なギャップに対する理由は、HTSフローティング基板30と
重ねたPZTドライバ構造70間の浮遊キャパシタンスを最小にして、エネルギ
ーロス/Qのデグラデーション効果を避けるためである。この圧電アクチュエー
タのアプローチは、理想的な同調入力(PZTドライバ上のVt電極)を提供し、
信号径路からの完全に離隔され、フローティングプレート30とPZTドライバ
との間に良いクリアランスを残し、最大のQが実現される。
5は、HTSフローティングプレート30自身の端部からかなり離れて延在し、
横方向の伸長部80および85を形成している。フローティングプレート309
と第2および第3の圧電ドライバ115および120に対する取り付け点との間
のこれらの実質的なギャップに対する理由は、HTSフローティング基板30と
重ねたPZTドライバ構造70間の浮遊キャパシタンスを最小にして、エネルギ
ーロス/Qのデグラデーション効果を避けるためである。この圧電アクチュエー
タのアプローチは、理想的な同調入力(PZTドライバ上のVt電極)を提供し、
信号径路からの完全に離隔され、フローティングプレート30とPZTドライバ
との間に良いクリアランスを残し、最大のQが実現される。
【0031】 図1a、1b、3a、および3bに示したタイプの極めて簡単な同調可能HT
Sフイルタがシステム利用でどのように実行するのかを更に示すために、X帯域
レーダのために、簡単、単一の共振回路の狭帯域帯域のプリセレクタフイルタを
考察した。普通の当業者であれば、このように例は単なる発明の例示であり、そ
の例はより低い温度あるいは高い温度で図示するために容易にスケール変更する
ことは容易であると理解されよう。L2=0.5384nH,C2=0.50pF(fo
=9.70GHzにて)のパラレル“タンク”共振回路(寸法および突き出した未
ロードのQは上述した)を、50Ωのソースに結合した簡単なインダクタンス性
のループで考察し、かつ、50Ω負荷で考察した。その回路の解析は、解析的に
およびSPICE(同じ結果を与える2つのアプローチ)を用いて行われた。未ロ
ードの共振回路のQ(予めの計算ではほぼ50,000)は目的のロードされたQ
よりも更に高いので(fo=10GHzで20MHz[FWHM])の帯域がレーダー用
途に適し、ロードされたQ=fo/Δf=500に対応する) 、L2−C2のRa
cは無視された。この簡単なループ結合の単一共振の同調可能な帯域フイルタは
入力インダクタンスおよび出力結合ループ(L1およびL3、共にL2の20%
を採用)およびそれらの共振インダクタL2への結合係数(K12およびK23、
ともに0.09を採用)により決定された。これらの特殊な値は、20MHzの
帯域で−3dBを与えるように選択された。このようなHTSフイルタの物理的
構成では、これらの入力および出力の結合ループはHTS材料から作製されるこ
と、または冷却されるHTS基板上に位置させることに必要ないことに注目され
る。結合ループを共振基板の上におよび下に設けることは、両者間の直接結合を
最小にするため、および、所望の正確な帯域を選択するために、フイルタがセッ
トアップされたとき、それらの機快適な位置を調整するために、容易である。こ
れらの入力および出力のループを冷却したHTS基板から離して設置することは
、金属導体に関連した熱導電負荷を避ける。(この利点は、共振回路に結合する
容量性プローブにも同様にあてはまり、共振回路を帯域フイルタに作る別の満足
する手段である。)
Sフイルタがシステム利用でどのように実行するのかを更に示すために、X帯域
レーダのために、簡単、単一の共振回路の狭帯域帯域のプリセレクタフイルタを
考察した。普通の当業者であれば、このように例は単なる発明の例示であり、そ
の例はより低い温度あるいは高い温度で図示するために容易にスケール変更する
ことは容易であると理解されよう。L2=0.5384nH,C2=0.50pF(fo
=9.70GHzにて)のパラレル“タンク”共振回路(寸法および突き出した未
ロードのQは上述した)を、50Ωのソースに結合した簡単なインダクタンス性
のループで考察し、かつ、50Ω負荷で考察した。その回路の解析は、解析的に
およびSPICE(同じ結果を与える2つのアプローチ)を用いて行われた。未ロ
ードの共振回路のQ(予めの計算ではほぼ50,000)は目的のロードされたQ
よりも更に高いので(fo=10GHzで20MHz[FWHM])の帯域がレーダー用
途に適し、ロードされたQ=fo/Δf=500に対応する) 、L2−C2のRa
cは無視された。この簡単なループ結合の単一共振の同調可能な帯域フイルタは
入力インダクタンスおよび出力結合ループ(L1およびL3、共にL2の20%
を採用)およびそれらの共振インダクタL2への結合係数(K12およびK23、
ともに0.09を採用)により決定された。これらの特殊な値は、20MHzの
帯域で−3dBを与えるように選択された。このようなHTSフイルタの物理的
構成では、これらの入力および出力の結合ループはHTS材料から作製されるこ
と、または冷却されるHTS基板上に位置させることに必要ないことに注目され
る。結合ループを共振基板の上におよび下に設けることは、両者間の直接結合を
最小にするため、および、所望の正確な帯域を選択するために、フイルタがセッ
トアップされたとき、それらの機快適な位置を調整するために、容易である。こ
れらの入力および出力のループを冷却したHTS基板から離して設置することは
、金属導体に関連した熱導電負荷を避ける。(この利点は、共振回路に結合する
容量性プローブにも同様にあてはまり、共振回路を帯域フイルタに作る別の満足
する手段である。)
【0032】 図4は、0から−35dBにわたり、かつ、9.4GHzから10.0GHz
の周波数レンジにおける一連の挿入ロス対周波数カーブを示す。インダクタンス
値および、結合係数は、かべてのカーブで同じであり、可変キャパシタの値C2 のみ変化させた。そのカーブは、9.4GHz、9.45GHz、9.50GH
z…10.0GHzの公称(未ロード)L2−C2共振周波数に対してプロットし
たものである(かべてのカーブに対しL2=0.568427nHでC2はC2=(
2πfo)2L2から計算)。図5においては、9.59GHzから9.81GH
zの周波数範囲(10MHzで分割)に限定して、同じデータが、0から15dB
の挿入ロスの範囲についてより詳しくプロットされた。図5では、9.7GHz
で−3dBの帯域幅が実に20MHz(f-3dB=fo±10MHz)である。帯域
幅変化は、中心周波数foで変化するが(foに比例して増加または減少)、関心の
ある(図4)のX帯域周波数にわたる変化はそれほど大きくはない。10対1のプ
レート間隔の範囲(例えば1μmから10μm)を与えると、達成できるキャパシ
タンスの同調範囲(縁のキャパシタンスを含む)は少なくとも9:1となり、3:
1の周波数同調範囲を行う。HTS同調できる共振回路が未装填の高いQゆえに
、フイルタの挿入ロスは無視される。当然、単一の共振回路では、与えられた帯
域幅に対して、この帯域外の拒絶は、(帯域中心周波数から干渉への周波数偏差
に応じて)−20dBから−40dBに制限される。レーダーのプリセレクショ
ンフイルタの目的が帯域幅を限定しないことを考察すると、干渉信号の振幅を低
下させるために、または、相互変調またはシステムの性能上の低感度化の影響を
減じるために、帯域外のレベル拒否は、最適である。当然、多数の極を持つ同調
可能なフイルタ内に結合した多数の同調可能共振回路の組み合わせを使用するこ
とにより、帯域外の特性がより高い(帯域内がフラットな応答であるだけでなく)
ものが達成される。
の周波数レンジにおける一連の挿入ロス対周波数カーブを示す。インダクタンス
値および、結合係数は、かべてのカーブで同じであり、可変キャパシタの値C2 のみ変化させた。そのカーブは、9.4GHz、9.45GHz、9.50GH
z…10.0GHzの公称(未ロード)L2−C2共振周波数に対してプロットし
たものである(かべてのカーブに対しL2=0.568427nHでC2はC2=(
2πfo)2L2から計算)。図5においては、9.59GHzから9.81GH
zの周波数範囲(10MHzで分割)に限定して、同じデータが、0から15dB
の挿入ロスの範囲についてより詳しくプロットされた。図5では、9.7GHz
で−3dBの帯域幅が実に20MHz(f-3dB=fo±10MHz)である。帯域
幅変化は、中心周波数foで変化するが(foに比例して増加または減少)、関心の
ある(図4)のX帯域周波数にわたる変化はそれほど大きくはない。10対1のプ
レート間隔の範囲(例えば1μmから10μm)を与えると、達成できるキャパシ
タンスの同調範囲(縁のキャパシタンスを含む)は少なくとも9:1となり、3:
1の周波数同調範囲を行う。HTS同調できる共振回路が未装填の高いQゆえに
、フイルタの挿入ロスは無視される。当然、単一の共振回路では、与えられた帯
域幅に対して、この帯域外の拒絶は、(帯域中心周波数から干渉への周波数偏差
に応じて)−20dBから−40dBに制限される。レーダーのプリセレクショ
ンフイルタの目的が帯域幅を限定しないことを考察すると、干渉信号の振幅を低
下させるために、または、相互変調またはシステムの性能上の低感度化の影響を
減じるために、帯域外のレベル拒否は、最適である。当然、多数の極を持つ同調
可能なフイルタ内に結合した多数の同調可能共振回路の組み合わせを使用するこ
とにより、帯域外の特性がより高い(帯域内がフラットな応答であるだけでなく)
ものが達成される。
【0033】 RF/μW性能の観点から、本発明は、きわだった性能を与える。(より高い
性能のセラミック圧電または電気応動のポリマー材料の使用が以下のことを可能
にしても、極めて小さいギャップを有する場合の動作が可能でなければ)通常の
PZT材料のみを用いた同調速度は、周波数飛躍の応用に適切な5μSから10
μSにすることができるかどうかにいくつかの疑問がある。しかしながら、フイ
ルタ自身が極めて小さく、そのため、冷凍クーラーの断熱容器内のこれらの2つ
のフイルタを設置し、そして連続した飛びにおいて、両者の間で前後することの
不利益はほとんどない。そのため、数ミリセコンドの飛び空間時間で、“オフデ
ューティ”フイルタを次の飛び周波数に同調させるために多くの時間がある。事
実、好ましくない圧電ドライバのヒステリシスまたはドリフト特性が正確な“高
速の投げ”のオープンループの同調を得ることを防止するなら、“オフデューテ
ィ”フイルタの新しいセット周波数をチェックし、そして必要ならば修正するた
めに多くの時間を必要とする。当然、好ましい実施例では、本発明は、高速でオ
ープンループ動作を極めて単純な方法で達成するために、最良の利用可能な“A
FMクォリティ”の圧電アクチュエータ技術を用いる。
性能のセラミック圧電または電気応動のポリマー材料の使用が以下のことを可能
にしても、極めて小さいギャップを有する場合の動作が可能でなければ)通常の
PZT材料のみを用いた同調速度は、周波数飛躍の応用に適切な5μSから10
μSにすることができるかどうかにいくつかの疑問がある。しかしながら、フイ
ルタ自身が極めて小さく、そのため、冷凍クーラーの断熱容器内のこれらの2つ
のフイルタを設置し、そして連続した飛びにおいて、両者の間で前後することの
不利益はほとんどない。そのため、数ミリセコンドの飛び空間時間で、“オフデ
ューティ”フイルタを次の飛び周波数に同調させるために多くの時間がある。事
実、好ましくない圧電ドライバのヒステリシスまたはドリフト特性が正確な“高
速の投げ”のオープンループの同調を得ることを防止するなら、“オフデューテ
ィ”フイルタの新しいセット周波数をチェックし、そして必要ならば修正するた
めに多くの時間を必要とする。当然、好ましい実施例では、本発明は、高速でオ
ープンループ動作を極めて単純な方法で達成するために、最良の利用可能な“A
FMクォリティ”の圧電アクチュエータ技術を用いる。
【0034】 図3aおよび3bは、圧電的に動作する形態のマイクロエレクトロメカニカル
(MEMS)の連続可変キャパシタ構造を示したが、本発明は、他の手段の可変キ
ャパシタ構造の動作を含む。例えば、図6aおよび6bは、高および低のキャパ
シタンス状態にスイッチできる、静電的に動作する形態のMEMSキャパシタ構
造を示す。スイッチされるキャパシタは、基板150(たとえば水晶により形成)
上に形成され、その上に金属電極155が配置される。電極155は、基板15
0と誘電体層160との間に積層される。誘電体層160から離隔されるように
、フレキシブルな金属薄膜170が形成されるか、斜めに設けられ、これにより
、図6aに示すように、低キャパシタンス状態が形成される。適した静電電位が
電極155と薄膜170とに印加された時、フレキシブルな薄膜170は、誘電
体層に対して変形され、図6bに示したように、高キャパシタンス状態を呈する
。好ましくは、双方のフレキシブル金属薄膜170および電極155は金または
適した低損失金属で形成され、そして動作時は低温冷却される。このような低温
による動作の間、スイッチしたキャパシタは1GHzで20000のQを持つ。
(MEMS)の連続可変キャパシタ構造を示したが、本発明は、他の手段の可変キ
ャパシタ構造の動作を含む。例えば、図6aおよび6bは、高および低のキャパ
シタンス状態にスイッチできる、静電的に動作する形態のMEMSキャパシタ構
造を示す。スイッチされるキャパシタは、基板150(たとえば水晶により形成)
上に形成され、その上に金属電極155が配置される。電極155は、基板15
0と誘電体層160との間に積層される。誘電体層160から離隔されるように
、フレキシブルな金属薄膜170が形成されるか、斜めに設けられ、これにより
、図6aに示すように、低キャパシタンス状態が形成される。適した静電電位が
電極155と薄膜170とに印加された時、フレキシブルな薄膜170は、誘電
体層に対して変形され、図6bに示したように、高キャパシタンス状態を呈する
。好ましくは、双方のフレキシブル金属薄膜170および電極155は金または
適した低損失金属で形成され、そして動作時は低温冷却される。このような低温
による動作の間、スイッチしたキャパシタは1GHzで20000のQを持つ。
【0035】 パラレルに整列され、スイッチされるキャパシタのようなNのアレイを考察す
る。Nは整数。そのキャパシタは、第1のキャパシタが与えられたキャパシタン
スを持ち、第2のキャパシタが第1のキャパシタの2倍の値を持ち、以下同様に
なるように形成される。制御回路は、例えば、同調可能なHTSフイルタを同調
し、そして要求されるキャパシタンスに対応するデジタルコマンド信号を発生す
るために、要求されるキャパシタンスの量を決定する。デコーダは、デジタルコ
マンド信号に応答して、スイッチされるキャパシタの一つまたは複数個をスイッ
チする。これにより、アレイは、第1のキャパシタはデジタルコマンド信号の一
つのビットに対応し、第2のキャパシタは、デジタルコマンド信号の2つのビッ
トに対応し、以下同様であり、このようにバイナリーの数値を形成する。このよ
うなキャパシタのアレイは、図6cに示される。HTS共振回路40は、同調可
能なフイルタを完成するために、アレイを横切って結合される。共振回路40は
、共振回路40の基本共振周波数に対応して1/2波長に実質的に等しい電気的
長さを持つか、この1/2波長の倍数に実質的に等しい電気的長さを有する。同
調は、個ビットのシーケンスの個数に依存した段階的に、個別のステップ(デジ
タル同調)で行われる。
る。Nは整数。そのキャパシタは、第1のキャパシタが与えられたキャパシタン
スを持ち、第2のキャパシタが第1のキャパシタの2倍の値を持ち、以下同様に
なるように形成される。制御回路は、例えば、同調可能なHTSフイルタを同調
し、そして要求されるキャパシタンスに対応するデジタルコマンド信号を発生す
るために、要求されるキャパシタンスの量を決定する。デコーダは、デジタルコ
マンド信号に応答して、スイッチされるキャパシタの一つまたは複数個をスイッ
チする。これにより、アレイは、第1のキャパシタはデジタルコマンド信号の一
つのビットに対応し、第2のキャパシタは、デジタルコマンド信号の2つのビッ
トに対応し、以下同様であり、このようにバイナリーの数値を形成する。このよ
うなキャパシタのアレイは、図6cに示される。HTS共振回路40は、同調可
能なフイルタを完成するために、アレイを横切って結合される。共振回路40は
、共振回路40の基本共振周波数に対応して1/2波長に実質的に等しい電気的
長さを持つか、この1/2波長の倍数に実質的に等しい電気的長さを有する。同
調は、個ビットのシーケンスの個数に依存した段階的に、個別のステップ(デジ
タル同調)で行われる。
【0036】 上述の詳しい記述および添付した図面は本発明の特定の実施例を示すものであ
り、本発明の範囲を限定するものではない。当業者であれば、上述の実施例に対
し、本発明の本旨から逸脱することなく、様々に変形例を実現できるであろう。
それゆえ、本発明の範囲は以下の請求の範囲のみによって限定される。
り、本発明の範囲を限定するものではない。当業者であれば、上述の実施例に対
し、本発明の本旨から逸脱することなく、様々に変形例を実現できるであろう。
それゆえ、本発明の範囲は以下の請求の範囲のみによって限定される。
【図1a】 本発明の1実施例による可変キャパシタの断面図
【図1b】 本発明の1実施例による同調可能フイルタを形成する共振回路
に組み込まれる可変キャパシタ構造の部分カットの平面図
に組み込まれる可変キャパシタ構造の部分カットの平面図
【図1c】 図1bのフイルタ共振回路の等価回路図
【図1d】 本発明の1実施例による可変キャパシタ構造の断面図
【図1e】 本発明の1実施例による可変キャパシタ構造の断面図
【図2a】 1/2波長の共振回路の平面図
【図2b】 図2aに示した1/2波長の共振回路の等価回路図
【図2c】 1/2波長の共振回路の平面図
【図2d】 図2cに示した1/2波長の共振回路の等価回路図
【図3a】 本発明の1実施例による可変キャパシタの断面図
【図3b】 本発明の1実施例による可変キャパシタ構造の部分カットの平
面図
面図
【図4】 本発明の1実施例による、ループ結合された単一共振回路の同調
可能フイルタにおける、挿入ロス対周波数の関係を示したグラフ
可能フイルタにおける、挿入ロス対周波数の関係を示したグラフ
【図5】 本発明の1実施例による、ループ結合された単一共振回路の同調
可能フイルタにおける、挿入ロス対周波数の関係を示したグラフ
可能フイルタにおける、挿入ロス対周波数の関係を示したグラフ
【図6a】 低キャパシタンス状態の静電動作されるキャパシタの断面図
【図6b】 高キャパシタンス状態の静電動作されるキャパシタの断面図
【図6c】 デジタルで同調可能なHTSフイルタの平面図
10、15 固定プレート、20 固定基板、30 フローティングプレート、
35 可動基板、40 インダクタ、45 機械的ドライバ、50 ギャップ、
60、65 可変キャパシタ
35 可動基板、40 インダクタ、45 機械的ドライバ、50 ギャップ、
60、65 可変キャパシタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 バラム・エイ・ウィレムセン アメリカ合衆国93003カリフォルニア州ベ ンチュラ、シートン・ホール・アベニュー 379番 (72)発明者 ジョージ・エル・マサエイ アメリカ合衆国93111カリフォルニア州サ ンタ・バーバラ、メリダ・ドライブ438番 Fターム(参考) 4M113 AC44 AD37 CA34 5J006 HB01 HB02 HB12 HB13 HB14 HD07 JA01 LA11
Claims (18)
- 【請求項1】 同調可能なフイルタであって、 固定された基板と、 前記固定された基板上の第1のプレートで、高温超伝導材料からなり、第1の
平面を限定する第1のプレートと、 前記固定された基板上の第2のプレートで、高温超伝導材料からなり、前記第
1のプレートにより限定された第1の平面に配置された第2のプレートと、 高温超伝導材料からなるインダクタであり、前記第1の平面に実質的に配置さ
れ、前記第1および第2のプレートに結合しているインダクタと、 可動基板と、 前記可動基板上のフローティングプレートであって、前記第1の平面から離隔
され、かつ実質的に平行にして第2の平面に配置され、第1および第2の端部を
有し、前記フローティングプレートの第1の端部は前記第1のプレートにオーバ
ーラップし、前記フローティングプレートの前記第2の端部は、前記第2のプレ
ートにオーバーラップし、前記第1、第2およびフローティングのプレートは、
前記可動および前記固定の基板にの間に配置され、前記第1、第2および第3の
プレートは、キャパシタのギャップを決定する、フローティングプレートと、 第1の端部および第2の端部を有する第2のドライバであって、前記第2のド
ライバの前記第1の端部は前記可動基板に装着され、前記第2のドライバの前記
第2の端部は第1の結合部材に取り付けられ、第2のドライバーは、前記第1の
ドライバと実質的に平行に配置され、前記第1のドライバの長さの減少および、
前記第2の長さの増大が、前記同調可能なフィルタの周波数応答に影響を与える
、前記キャパシタギャップを減少する、第2のドライバとを備えたことを特徴と
する同調可能なフィルタ。 - 【請求項2】 前記可動基板はフローティングプレートの前記第1および第
2の端部の双方を実質的に通過して延在し、これにより、第1および第2の拡張
部をそれぞれ形成し、そして、前記第2のドライバーの前記第2の端部が、前記
第1の拡張部にて、前記稼動基板上に装着され、前記可変フイルタは、 第1の端部および第2の端部を有する第3のドライバであり、前記第3のドラ
イバの前記第1の端部は前記第2の拡張部に装着され、前記第3のドライバの前
記第2の端部は第2の結合部材に取り付けられている、第3のドライバと、 第1の端部および第2の端部を有する第4のドライバーであり、前記第4のド
ライバの前記第1の端部は前記固定基板上に装着され、前記第4のドライバの前
記第2の端部は前記第2の結合部材に取り付けられ、前記第4のドライバは前記
第3のドライバと実質的に平行に配置され、前記第4のドライバの長さの減少お
よび、前記第3のドライバの長さの増大が、前記同調可能なフィルタの周波数応
答に影響を与える、第4のドライバとを備える請求項1記載の同調可能なフィル
タ。 - 【請求項3】 前記第1、第2、第3および第4のドライバは、圧電アクチ
ュエータを備え、かつ、前記第1、第2、第3および第4のドライバはそれぞれ
操作できるように同調する信号に結合され、前記第1および第4のドライバは第
1の方位を持ち、前記第1および第4のドライバに応答して、同調する信号が実
質的に同じ長さを出力し、前記第2および第3のドライバは第2の方位を持ち、
前記第2および第3のドライバに応答して、同調する信号が実質的に同じ長さを
出力し、前記第1の方位は前記第2の方位と反対である請求項2記載の同調可能
なフィルタ。 - 【請求項4】 前記インダクタは送信ラインを含む請求項3記載の同調可能
なフィルタ。 - 【請求項5】 前記送信ラインは共振回路を形成するように適した電気的長
さを有する請求項4記載の同調可能なフィルタ。 - 【請求項6】 前記可動プレートは通常の金属を含む請求項5記載の同調可
能なフィルタ。 - 【請求項7】 前記可動プレートは高温超伝導材料を含む請求項5記載の同
調可能なフィルタ。 - 【請求項8】 第3の平面内で、第1および第2の平面とら離隔し、かつ実
質的に平行に配置されたブリッジ用部材であり、前記第1および第2の結合部材
に取り付けられ、そして、前記同調可能なフイルタの前記キャパシタギャップが
真空に維持される、ブリッジ用部材を含む請求項3記載の同調可能なフィルタ。 - 【請求項9】 前記第1のプレートに電気的に結合された第1のリードおよ
び、前記第2のプレートに電気的に結合された第2のリードとを更に含む請求項
5記載の同調可能なフィルタ。 - 【請求項10】 同調可能なフィルタであって、 固定された基板と、 前記固定された基板上の第1のプレートと、 可動基板と、 前記可動基板上の第2のプレートであって、前記第2および前記第1のプレー
トは、前記固定および可動の基板の間に配置され、前記第2および第1のプレー
トがキャパシタのギャップを決定する、第2のプレートと、 前記第1のプレートおよび前記第2のプレートに結合したインダクタと、およ
び 第1および第2の端部を有する機械的ドライバであり、前記第1の端部は前記
固定基板に装着され、前記第2の端部は前記可動基板に結合され、前記機械的ド
ライバにおける機械的な配置が、前記同調可能なフイルタの周波数応答に影響す
る前記ギャップを変更する、機械的なドライバとを含むことを特徴とする同調可
能なフイルタ。 - 【請求項11】 前記第1のプレートおよび前記第2のプレートは通常の金
属を含む請求項10記載の同調可能なフィルタ。 - 【請求項12】 前記第1のプレートおよび前記第2のプレートは高温超伝
導材料を含む請求項10記載の同調可能なフィルタ。 - 【請求項13】 前記インダクタは送信ラインを含む請求項10記載の同調
可能なフィルタ。 - 【請求項14】 前記送信ラインは共振回路を形成できるように、適した電
気的長さを有する請求項13記載の同調可能なフィルタ。 - 【請求項15】 同調可能なフイルタであり、 高温超伝導体を含む第1のプレート、 高温超伝導体を含み、前記第2および第1のプレートがキャパシタギャップを
有するキャパシタを決定する、第2のプレートと、 高温超伝導体を含み、前記キャパシタに結合されるインダクタと、 前記同調可能なフイルタの周波数応答が影響する、前記キャパシタのギャップ
を機械的に調節する手段とを備えたことを特徴とする同調可能なフイルタ。 - 【請求項16】 同調可能なフイルタであり、 平行に配置されたスイッチされるキャパシタのアレイを備え、前記スイッチさ
れるキャパシタは、静電電位に応答して低および高キャパシタンス状態にスイッ
チされるように形成され、前記静電電位は、デジタルのコマンド信号に応答して
発生され、前記デジタルのコマンド信号は、前記アレイにより発生された所望の
キャパシタに対応し、前記アレイは第1および第2の電気的リードを有し、そし
てHTSインダクタが前記第1および第2の電気的リードに間に結合されること
を特徴とする同調可能なフィルタ。 - 【請求項17】 前記HTSインダクタが送電ラインを含む請求項14記載
の同調可能なフイルタ。 - 【請求項18】 前記送信ラインは共振回路を形成できるように、適した電
気的長さを有する請求項15記載の同調可能なフィルタ。
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