JP2002527756A - 化学品混合物中の化合物を同定する方法 - Google Patents

化学品混合物中の化合物を同定する方法

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Abstract

(57)【要約】 質量分析計データを自動的に分析するための装置および方法は、ＭＳデータファイルのロード（１００）；強度、質量および時間の解析（１１０）；強度閾値未満のシグナルの排除（１２０）；予測された質量リストのロード（１３０）から予測された質量をシフトして（１４０）質量シグナルとの比較（１５０）；ピーク検出パラメータの負荷（１６０）；認識アルゴリズムの使用（１８０）；および構造同定質量の出力（１９０）を含む技術を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】 （技術分野） 本発明は一般に、質量分光分析（Mass Spectrographic analysis）に関し、さ
らに詳細には有機化合物の複雑な混合物中の有機化合物の同定に関する。
【０００２】 （背景技術） 質量分析法（ＭＳ）は、有機化学および無機化学の両者において分子の同定の
ために広範に用いられている技術である。ＭＳは、分子の秤量機械として考える
ことができる。分子の重量は、未知の分子の同定、あるいは分子の未知の混合物
中での既知の分子の同定における重要な情報の１つである。ＭＳを使用する状況
の例としては、医薬品の開発および製造、汚染の制御分析、および化学的品質の
制御が挙げられる。
【０００３】 ＭＳは、しばしばガスクロマトグラフィー（ＧＳ）や液体クロマトグラフィー
（ＬＣ）などの他の分析手段と組み合わせて用いられ、これら手段はＭＳ系への
化学品混合物の個々の成分の到着のタイミングを本質的に分散させることにより
、ＭＳスペクトルの分析を簡単にするのを助ける。それゆえ、いかなる時でも同
時での質量分析計中の異なる分子種の数が低減し、質量スペクトルピークの分離
が簡単になる。この手順は、１０ないし２０程度の異なる分子種を含む化学試料
ではうまく働くが、数千もの異なる分子種を含む試料を分析するには不適切であ
る。
【０００４】 質量分析法は、まず目的とする化学品材料をイオン源でイオン化することによ
り操作する。電子スプレーイオン化（electrospray ionization (ESI)）や大気
圧化学イオン化（atmospheric pressure chemical ionization (ApCI)）などの
当該技術分野でよく知られた多くのイオン源が存在する。上記イオン化法は、一
般に当該技術分野でプロトン化分子[Ｍ＋Ｈ]＋（式中、Ｍは目的分子を表し、Ｈ
は水素イオン（プロトンと同じである）を表す）として知られているものを生成
する（プロトンすなわち水素原子核の付加を意味する）。
【０００５】 幾つかのイオン化法では類似のイオンも産生されるであろう。類似のイオンは
、上記プロトンではなくアルカリ金属カチオンの付加により生じる。典型的な分
子種は[Ｍ＋Ｎａ]＋または[Ｍ＋Ｋ]＋である。イオン化分子の分析は、上記プロ
トン化イオンに関するものであるかアルカリ金属カチオンの付加を取り扱うかに
拘りなく、同じである。主たる相違は、水素イオン（すなわち、プロトン）の場
合、プロトンの付加は１質量単位（典型的に１ダルトンと呼ばれる）を付加し、
ナトリウムの場合は２３ダルトン、あるいはカリウムの場合は３９ダルトンを付
加するということである。これら付加的な重量または質量は目的分子の分子量に
単純に加えられ、ＭＳピークは目的分子の分子量と付加したイオンの重量との合
計のところで生じる。
【０００６】 これらイオン化法はまた、負のイオンをも生じることがある。最も一般的な分
子シグナルは脱プロトン化分子[Ｍ−Ｈ]−であり、この場合、質量は目的分子の
分子量よりも１ダルトン低い。さらに、幾つかのイオン化法では多価に荷電した
イオンを生じるであろう。これらは[Ｍ＋ｎＨ]ｎ＋（式中、小文字のｎは付加し
たさらなるプロトンの数を表す）なる一般的な同定タイプのものである。
【０００７】 上記イオン化法のいずれかで生じたイオンは、イオンの質量並びに各質量レベ
ルでのイオンの数が区別されるように、質量セパレーター（mass separator）、
典型的には磁場型、四重極電磁型、または飛行時間型質量セパレーターを通過す
る。これら質量の分離されたイオンは検出器に入り、イオンの数が記録される。
質量スペクトルは通常、図１（イオン化された炭素の場合を表す）のような図表
として示される。この場合、それぞれ炭素原子の異なる同位元素を表す２つの有
意のピークが存在することがわかる。この図では、相対強度（normalized inten
sity）、または検出したイオンの数は縦のスケールに示され、イオンの質量／電
荷比（ｍ／ｚ、しばしばＤａ／ｅとしても知られる）は水平軸に記録される。単
一のプロトンによってプロトン化されたイオンの場合のように目的イオン上の電
荷が１に等しい場合、この質量／電荷比（ｍ／ｚ）は目的イオンの質量とプロト
ンの質量との合計質量に正確に等しくなる。
【０００８】 （発明の開示） （発明が解決しようとする技術的課題） 状況は図１に示すように単純であるとは限らない。図１７ａ〜ｃは、１〜３個
の臭素原子を含む単一の中位のサイズの有機分子種のスペクトルを示す。スペク
トルに単一の分子種のみが表されている場合ですら、多くの有意の大きなイオン
ピークが存在する。たとえば、質量５５３のピークは、すべての炭素原子がＣ−
１２であり、すべての臭素原子がＢｒ−７９である基本分子を示す。５５５のピ
ークは１つのＢｒ−７９が同位体Ｂｒ−８１で置換されたものであり、５５３と
５５５との間の小さなピークは１つのＣ−１２がＣ−１３で置換されたことによ
るものである。ｍ／ｚ５５６でのピークは１つのＢｒ−８１置換と１つのＣ−１
３置換を表す、等々。一般に、最初の分子の断片化および種々の同位体置換を表
すより低いｍ／ｚピークもまた存在するであろう。それゆえ、炭素、臭素、また
は同位体を有する他のよく知られた多くの元素を含む分子は、常に複数のピーク
を有し、スペクトル分析を困難にするであろう。
【０００９】 あるＭＳシグナルを生成する特定の分子種を、その分子量を識別することによ
り同定することもしばしば可能である。なぜなら、一般に異なる化学種は異なる
分子量を有するからである。ＭＳは、未知の純粋な有機化合物の分析における強
力な手段である。なぜなら、ＭＳは該化合物の分子量または質量を同定すること
ができ、かくしてあり得る化合物の数を制限することによって特定の化合物を同
定することを助けるからである。ＭＳは有用な手段ではあるが、明示するように
、ピークを間違って同定する多くの仕方があり、分析は時間を要し、高価である
。
【００１０】 さらに、目的試料が１を超える化合物を含む（すなわち、異なる物質の混合物
である）なら、質量スペクトルは解釈がさらに一層困難となる。スペクトル中の
どの特定のピークが導入した試料中の特定の化合物に対応するかを同定するのは
容易ではない。それゆえ、これまでに認められてきたように、複雑な混合物の分
析を助けるため、質量分析計に導入するに先立ってガスクロマトグラフィー（Ｇ
Ｃ）や液体クロマトグラフィー（ＬＣ）の使用により混合物を前以て分離するこ
とが従来技術で知られている。たとえば、医薬品開発実験室で医薬品代謝産物の
分析にＬＣ／ＭＳ（液体クロマトグラフィー／質量分析法を意味する）が頻繁に
用いられている（どの化合物が生体において特定の作用を有するかを同定するの
に用いられる）。環境汚染分析においてはＧＣ／ＭＳを用いることも知られてい
る。これは、典型的に揮発性物質、たとえばジオキシンまたはポリ塩化ビフェニ
ルが関与する場合に行われる。目的とする特定の材料、たとえばジオキシンの既
知の質量分光特性、すなわちその重量、その同位体分布、およびクロマトグラフ
ィー保持時間を探し求めることにより、かかる特定の材料を同定することが可能
である。
【００１１】 上記例において、ＬＣおよびＧＣ法は、化学種の既知の混合物の試料を質量分
析計に既知の順序（sequence）で導入させるのに用いる。ただ１つの化合物がＭ
Ｓ系に同時に入るのが好ましいであろう。目的材料がガスクロマトグラフィーを
移動するのにどの位を要するかを知ることにより、該材料がいつ質量分析計に入
るかを知ることができる。ジオキシンについて予期される時間の間に質量分析計
の結果を調べることは、質量スペクトルがジオキシンのものと重なる他の材料に
よってシグナルを混乱されることなくジオキシンのサインを同定する相当良い機
会を与える。それゆえ、化合物のセットを分析するのに質量分析計の始めにガス
クロマトグラフィーまたは液体クロマトグラフィー分離を加えてＭＳを使用する
ことが当該技術分野において知られている。そのような系は、イオンの数を時間
の関数として示す全イオンクロマトグラム（total ion chromatograms (TIC)）
として知られているものを生成する。典型的なＴＩＣを図３に５,０００の異な
る化合物を含む混合物のＬＣ／ＭＳ分析について示す。殆どすべての可能な時点
でシグナルピークが存在し、それゆえデータ点が非常に多数のためＴＩＣデータ
を分析することは困難である。
【００１２】 このデータの問題を解決するのを助けるため、抽出イオンクロマトグラム（ex
tracted ion chromatograms (XIC)）として知られるものを生成することにより
ＧＣ／ＭＳまたはＬＣ／ＭＳスペクトルを分析することが当該技術分野で知られ
ている。これは、データセット中のＴＩＣスペクトルの各質量点を目的成分の質
量に対応するイオンシグナルについて全試料時間にわたって調べるものである。
図４ｂは、図４ａのＴＩＣ中のデータをｍ／ｚ値が９１１.５のイオンについて
プロットして得られたＸＩＣを示す。ＸＩＣは到着時間に加えて質量／電荷情報
も含んでいる。図４ｃは、ｍ／ｚの範囲が９１１.５〜９１０.５のイオンについ
てのＸＩＣである。これらＸＩＣチャートをピークの有無について調べ、それに
よって予期された質量を有する目的イオンの存在を同定するか、または予期され
るイオンの不在が示される。この方法は、２０までの異なる既知の化合物の混合
物を調べるときには使えるが、何百もの化合物の混合物の分析には充分に適して
いるとはいえない。なぜなら、それら何百もの成分または化合物の混合物のうち
の２ないし３が同様のクロマトグラフィー保持時間を有し、それゆえ質量分析計
にほぼ同時に到着する確率が高いからである。非常に複雑な混合物では、いずれ
のｍ／ｚ値であってもイオンを産生する複数の物質が存在するかもしれず、その
うちの幾つかが目的化合物に対応し、あるいはいずれも目的化合物に対応しない
であろう。
【００１３】 ＴＩＣもＸＩＣもともに何百あるいは何千もの分子種を含む化合物の混合物を
調べるときには解釈が困難であることから、図５（時間およびｍ／ｚデータの両
者を示す）のような三次元のグラフを作成することが可能である。ここでも図５
は、ＧＣ／ＭＳまたはＬＣ／ＭＳは５ないし１０の異なる化合物を含む混合物を
調べる場合には有用だが、異なる化合物の数が２０またはそれを超えるとピーク
の数は単純な分析をするには余りにも多すぎることを示している。
【００１４】 当該技術分野において自動質量分析計による分析には問題がある。そのような
問題の１つは、ソフトウエアが特定の問題のセットに限られることである。化合
物の質量分光混合物の一般的な自動分析が可能なソフトウエアパッケージは存在
しない。複雑な混合物の自動分析の問題として、あるイオンが殆どすべてのｍ／
ｚ比（すなわち、質量／電荷比）で実験試料内のどこでも観察されることがある
ことが挙げられる。たとえば、再び図３を参照してみると、これはＬＣ／ＭＳク
ロマトグラムＴＩＣを示し、ほぼ５,０００の異なる成分を含む複雑な混合物か
ら検出したイオンの数を時間に対してプロットして示すものである。図３から、
この範囲ですべての時点でイオンピークが認められることが明らかである。図４
ｂは、ＭＳ操作の間に多くの場所でｍ／ｚ比が９１１.５にて陽性のＸＩＣが存
在することを示すＸＩＣスペクトルである。ピークの数が多いのは、一部、上記
で検討したように同位体のために各化合物が複数のピークを有するためである。
２倍の質量と２倍の電荷を有する多価に荷電された成分に由来するピークもある
かもしれない。種々の化学的な汚染またはノイズに由来するピークもありうる。
電子装置上のノイズまたはシステムの解析限界によるピークもありうる。それゆ
え、自動分析法は前以てプログラムされた（preprogramed）ピークを見出すこと
はできない。なぜなら、ＸＩＣだけからでは目的化合物の予期されたｍ／ｚ比に
あるシグナルが予期された化合物の存在を真実に示しているのか、あるいは異な
る化合物の同位体などのための偽りのシグナルであるのか明らかでないからであ
る。以上の問題はすべて、自動であるか手動であるかに拘りなく質量分光分析の
技術分野で存在する。
【００１５】 当該技術分野の問題を要約すると、上記で検討した同位体パターンの問題は、
典型的に、わずかに異なる質量、典型的には１の質量単位が異なる２またはそれ
以上のピークとして現れる。これは有機合成における殆どの要素が炭素原子を含
むという事実によるものである。それら要素は、炭素の同位体が世界中で全体と
して存在する通常の比率で炭素の同位体を含む。地上における炭素−１２と炭素
−１３との相対的な存在比は、天然に存在するあらゆる炭素の試料においてそれ
ぞれ９８.９％のＣ−１２および１.１％のＣ−１３である。これら異なる炭素同
位体の各々は、同一の化学的な値を有し、１ダルトンだけ異なる質量を有する。
１００個の炭素原子を含む分子では、いずれの部位でも１つのＣ−１３が存在す
る確率は１.１％であり、他のいずれかの部位がＣ−１２またはＣ−１３である
確率はいずれの部位での選択にも影響を受けない。それゆえ、１００個の炭素原
子のうちに１つのＣ−１３が存在する確率は（１００＊１.１％）＝１１０によ
って与えられ、これは１００個の炭素原子がすべて炭素−１２原子である軽いピ
ークと、この第一のピークよりも１１％大きく１ｍ／ｚ単位だけ高く位置する第
二のピークとの２つのピークが存在するであろうことを意味する。たとえば、図
１５を参照。
【００１６】 それゆえ、１００個の炭素原子を有する化合物は１００個のＣ−１２原子のう
ちの１つがＣ−１３原子で置換されている蓋然性が高い。１００個のＣ−１２原
子のうちの１つがＣ−１３原子で置換される結果、該分子のＭＳスペクトルは１
質量単位によって隔てられたほぼ等しい高さの２つのピークを有する蓋然性が高
い。これら２つの同位体のピークがほぼ等しい高さであることは、この化合物の
個々の分子の約半分においてＣ−１２原子のランダムな１つがＣ−１３原子で置
換されていることを示している。１つのピークはすべてＣ−１２原子を含む分子
であることを表し、１ダルトン高い第二のピークはＣ−１２原子と１つのＣ−１
３原子を含む同じ化学分子を表している。さらに、第一のピークの高さの約６１
％である他のピークも存在するであろう。これは２つのランダムなＣ−１２原子
がＣ−１３原子で置換されたものであり、それゆえ基本の同位体分子よりも質量
が２ダルトン高いものである。さらに３つの炭素−１３置換を表し、第一のＣ−
１２ピークの高さの約２２％である炭素同位体の質量スペクトルが存在する、等
々。かくして炭素原子を含む化合物はいずれも常に複数の質量スペクトルピーク
を有し、８０〜１００個の炭素原子を含む大きな有機分子は１ｍ／ｚ単位によっ
て隔てられた２つの比較的大きなピークとして現れ、現在の自動ＭＳ分析手段は
目的の化合物としての同位体ピークを誤って同定するであろう。それゆえ、標準
的なＭＳ分析は大きな有機分子では問題がある、なぜなら種々の炭素原子同位体
ゆえに複数の分子ピークを同定あるいは分離することは困難だからである。
【００１７】 ＭＳデータを分析するに際しての他の問題は、予期された質量比で見出される
ＸＩＣピークがバックグラウンドノイズによる偽りのシグナルであるかもしれな
いことである。ノイズによる汚染は、ＭＳ装置またはＧＣ／ＬＣ装置での電子的
なノイズ、またはＧＣ／ＭＳ系での汚染によって引き起こされ、あるいは分子混
合物を移動させるのに用いた溶媒系に汚染物質が存在するかもしれない。また、
装置の解像レベルに関連して偽陽性表示が存在するかもしれない。 それゆえ、何千もの多くの成分を含む複雑な混合物を分析でき、バックグラウ
ンドノイズ、多価荷電ピークおよび原子同位体ピークについて補正できる、質量
分析計データの自動分析法に対する必要性が当該技術分野に存在する。
【００１８】 （その解決方法） 本発明は、質量分析計データの分析方法であり、対照の試料測定を行ってバッ
クグラウンドノイズのチェックを提供するものである。各ｍ／ｚ比でのピークの
高さおよび幅の値を時間の関数として記憶部（memory）に貯蔵する。分析しよう
とする材料について質量分析計の操作を行い、各ｍ／ｚ比でのピークの高さおよ
び幅の値を時間に対して第二の記憶部に貯蔵する。分析しようとする材料につい
ての質量分析計の操作を所定の回数繰返し、各時間増分（increment）での各ｍ
／ｚ比レベルで貯蔵してある対照試料の値を各操作での対応物の各々から差し引
き、かくして各時間増分での複数の操作の各々についての各質量比での差異の値
を得る。もしもＭＳ値からバックグラウンドノイズを差し引いたものが前以て設
定した値を超えないならｍ／ｚ比データ点の記録を行わず、かくして質量分析計
データからのバックグラウンドノイズ、化学的ノイズおよび擬陽性ピークを排除
する。ついで、複数の操作の各々について貯蔵したデータを各ｍ／ｚ比で前以て
決定した値と比較し、得られた一連のピーク（バックグラウンドを超えるものと
して決定されたもの）をｍ／ｚ点に貯蔵する（これらピークは有意のものである
）。
【００１９】 さらなる態様において、ついでこれらＭＳピークを予期されるＭＳ出力のスペ
クトルのライブラリーと比較することにより、分析すべき混合物中に存在すると
考えられる物質のライブラリーから予期されるｍ／ｚ比を取り、各ｍ／ｚ比で見
出される値と比較することによって調べる。もしもライブラリー中の特定の化学
種について予期される値に対応するｍ／ｚ比にシグナルピークが記憶部に存在す
るなら、予期されたｍ／ｚ比が予期された化合物の予期されたピークを近似する
クロマトグラフィーピークの時間位置および幅を有するか否かチェックすること
によりデータを調べる。このことは、該ピークが試料中に存在が予期される化合
物におそらく適合するのか否かを決定する。
【００２０】 本発明のさらなる態様において、バックグラウンドを超えることが見出された
後の予期された化合物のｍ／ｚ比での値および使用した分離法で予期される近似
のピーク幅の値を、ついで次に高いｍ／ｚ比を有するデータ試料中のピークの値
と比較する。もしも２つのｍ／ｚ比の値を取り、距離を測定し、ついで値を逆に
する（inverting）ことによってピークの間隔がまる１ｍ／ｚ比単位であること
がわかったなら、イオンの電荷は１である。一方、第二のピークが２価に荷電し
たイオンによるものであるなら、これらピークは０.５のｍ／ｚ単位で隔てられ
ていることがわかるであろう。同様に、ｍ／ｚ単位の１／３のｍ／ｚ間隔は、３
価に荷電したイオンを示している。かくして、２価に荷電したおよび３価に荷電
したイオンを明確に（positively）同定することが可能である。
【００２１】 さらなる態様において、原子の同位体置換による擬陽性の排除は、予期された
ｍ／ｚ比ピーク（以前の試験で妥当な強度およびクロマトグラフィーピーク幅（
すなわち、バックグラウンドレベルを超えるもの）を有することが見出され、予
期された質量／電荷比（すなわち、ｍ／ｚ）を有し、正しい電荷を有する（それ
ゆえ正しい質量を有する））を次に低いｍ／ｚ比のピークと、イオン電荷分の１
に等しい値だけ低いスペクトル中の次のピークから目的標的のピーク強度の値を
差し引くことにより比較して行う。それゆえ、もしも以前の試験が荷電状態が１
であることを示したなら、調べた次の低いピークは１ｍ／ｚ単位だけ低いであろ
う。もしも電荷状態が２であることがわかったなら、調べた次の低いピークは０
.５ｍ／ｚ単位だけ低いであろう、等々。この関係の一般式は、ピークの差異＝
Ｉm−Ｉ(m-(1/z))（式中、Ｉｍは考慮しているｍ／ｚ比の強度であり、ｍは考慮
しているシグナルのｍ／ｚ値であり、ｚはイオンの電荷である）として示される
。同じ結果は、ピークの差し引きの順序を逆にし、０未満の値を探すことによっ
ても得られる。約８０よりも少ない炭素原子を有する大抵の中位のサイズの有機
分子の同位体ピークは、典型的により高いｍ／ｚ値では低下する。２つのピーク
値を差し引いて負の数が得られることは、軽い方のピークがより高い強度のもの
であることを示し、それゆえ調べたピークは予期された分子種ではなく軽い方の
分子種に割り当てることができ、排除される。
【００２２】 本発明を利用できる状況の例は医薬品の試験に見出される。化合物を特定のタ
ンパク質に結合する必要がある場合、タンパク質に結合するリガンドとして知ら
れている多数の異なる小さな化合物を製造することができる。これら異なる化合
物はタンパク質に異なる強度で結合する。関心の持たれる点は、最もよく結合す
るリガンドを見出すことである。タンパク質をおそらくは５,０００もの可能な
多くのリガンド（すなわち、ライブラリー）の浴に入れ、ついで該タンパク質か
らリガンドを洗い落とすと、幾つかのリガンドが該タンパク質に結合する結果と
なるであろう。どのリガンドが最もよく結合するかは、ＬＣ／ＭＳを用いること
によって、使用した既知の５,０００のリガンドのうちのどれが見出されるかを
決定することにより決定することができる。
【００２３】 まず、タンパク質をリガンド中に浴させることなくＬＣ／ＭＳに入れ、バック
グラウンド値を記録する。この工程は、タンパク質の分解産物、混入した溶媒お
よび緩衝液、装置の汚染物、ＬＣ／ＭＳで以前に使用した化学品等の結果生じる
化学的ノイズ並びにシステムの電子ノイズとして知られるものを排除するのに用
いる。つぎに、リガンド中に浴させ洗浄したタンパク質をＬＣ／ＭＳに入れ、結
果を５,０００のリガンドのうちの１つが存在すると計算される各ｍ／ｚ点でバ
ックグラウンドと比較する。予期されたリガンドシグナルが測定したバックグラ
ウンドレベルを超えているなら、的中している可能性があるので記録する。疑わ
しい（suspected）リガンドのシグナルは、特定のリガンドがＬＣ系を通過する
のに予期された時間についてＭＳへの到着時間に対して比較する。
【００２４】 疑わしいリガンドが上記２つの試験を通過しているなら、炭素を含む分子はす
べて複数のｍ／ｚピークを有するという事実を用い、この疑わしいリガンドのｍ
／ｚピークを次の低いピークおよび次の高いｍ／ｚピークと比較する。これらピ
ークがまる１ｍ／ｚ単位で隔てられていることがわかったなら、疑われたピーク
は１価に荷電されたイオンによるものであり、なおリガンドの可能性がある。ピ
ークの分離が１単位の半分であるなら、ピークは２価に荷電したイオンによるも
のである、等々。２価に荷電したイオンはなお有用であるが、当該リガンドの正
しい同定には予期された質量が異なったふうに計算されることが必要であろう。
複数の同位体の状況はまた、疑われたピークが予期されたリガンドであるのかあ
るいは他のあるシグナルの同位体ピークであるのかを系が決定するのを可能にす
る。この場合も近接するピークを調べ、１価にイオン化された分子の場合の１ｍ
／ｚ単位間隔、および２価に荷電されたイオンの場合の１単位の半分の間隔、お
よびこれらピークの相対的なサイズを比較する。８０よりも少ない炭素原子を有
する化合物については、より軽い値のピークはＣ−１３置換したピークよりも大
きいことがわかっているので、この事実を用い、疑われたピークが単に他のある
化合物のより重い同位体であるか否かを決定する。このようにして使用者が調べ
る必要のあるピークの数が非常に少なくなる。
【００２５】 本発明の使用の他の例は薬物代謝の研究に見出される。候補薬物をラットなど
の被験動物に与える。使用者は、ラットの血液中に見出される可能性のある分解
産物（すなわち、代謝産物）のリストを作成する。薬物を与える前にラットの血
液試料を採取し、調べてバックグラウンドレベルを得る。薬物を与えたラットの
血液を、上記方法（バックグラウンドおよび誤った到着時間のシグナルを差し引
き、２価に荷電したイオンおよびピークの高さが異なる化合物の同位体のもので
あることを示すイオンをフラッギングする（flagging））を用いて疑われる代謝
産物の存在について調べる。このようにして薬物の可能な危険代謝副産物の存在
を決定できる。
【００２６】 そのように手配する（arrangement）ことにより、バックグラウンドノイズ、
同位体置換、および多価荷電イオンによるピークをフラッギングすることによっ
て調べる必要のあるＭＳピークの数を自動的に減らすことが可能となる。ＭＳス
ペクトルの迅速かつ正確な分析を可能とするために複雑な混合物の質量分析から
の偽りのピークを排除することは有益であるので、本発明は質量分析法の技術分
野において知られた問題を解決するものである。
【００２７】 本発明の上記に記載したおよび他の目的、特徴および利点は、添付の図面に説
明するように本発明の好ましい態様の下記の一層詳細な記載から明らかであろう
。これら図面において同様の参照特性は異なる概要図でも同じ部分を指すもので
ある。図面は必ずしも一定の縮尺ではなく、本発明の原理を説明するために強調
を施してある。
【００２８】 図１は、炭素の質量スペクトル同位体パターンを示す。１２と表示した線は、
炭素原子の９８.９％が１２.０として（すなわち、Ｃ−１２）水平軸上に示す質
量比で見出されることを示している。また、１３.０と表示した線１３にもより
小さなピークが存在し、天然に存在する炭素原子の１.１％が炭素−１３（Ｃ−
１３）の形態で存在することを示している。この炭素同位体の天然の分布の結果
として、すべての有機分子について第二のＭＳピークおよび第三のピークを探す
ことが有用である。合計分子量（通常、ダルトンとして知られる単位で測定され
る）が分子中のすべての炭素原子がＣ−１２であることによるものである１つの
ピーク、および１つのＣ−１２原子がＣ−１３で置換されたために１質量単位だ
け高い分子量を有する第二のピーク、等々。２つの同位体ピークの相対的な高さ
は、目的とする化合物の元素組成に依存する。たとえば、典型的な中位のサイズ
の有機分子（すなわち、１分子当たり８０またはそれより少ない炭素原子）では
、２つのＭＳピークは常により低いｍ／ｚ値で一層大きなイオン強度を有するで
あろう。なぜならＣ−１３で単一置換された同位体は置換されていない分子より
も頻度が低いであろうからである。このことは、予期されたｍ／ｚ値での特定の
ＭＳピークが正しい分子であるのかあるいは単により軽い分子の同位体ピークに
よる擬陽性であるのかを自動的に決定することを可能にする。
【００２９】 図２は、同様の質量を有する２つの異なる分子についてｍ／ｚ比への相対的な
存在比を示す典型的なＭＳスペクトルを示す。図１に関連して上記で検討したよ
うに、最も低いｍ／ｚピークである図２Ａ中の４１３および図２Ｂ中の４１４が
最も大きな強度を有することがわかる。両図において１だけ高いｍ／ｚ単位を有
するピークは、１つのＣ−１２原子がＣ−１３で置換された同じ分子を表す。こ
れら同位体のピークは、上記に記載した理由により基本の分子よりも小さい。
【００３０】 この例において、図２Ａはドラッグデザイン実験からの予期されない化合物と
して考えることができる。図２Ｂは同じドラッグデザイン実験からの予期された
リガンドとして考えることができる。ＭＳ分析をリガンド結合実験に対して行っ
たときに、図２Ｂで４１４にｍ／ｚピークを有する予期された分子の存在を調べ
ることになるであろう。図２Ｂ中の予期された分子が本実験でタンパク質に結合
せず、存在しないが、図２Ａ中の該分子は汚染物質であると想定してみよう。図
２Ａ中のｍ／ｚ４１４同位体ピークを図２Ｂからの予期された（しかし認められ
ない）非同位体ピーク４１４として誤って同定する可能性は、図２Ａ中の同位体
ピーク４１４の相対的に大きなサイズによるものである。本発明は、単一の化合
物スペクトル内では最も低いｍ／ｚ値が最大のピークを有するという上記で検討
した事実に基づくことにより、図２Ａに示されたような予期されない化合物の自
動的な同定を可能にするものである。それゆえ、図２Ａ中の予期されない化合物
からの４１４のピークは図２Ｂからの予期された４１４のピークとして誤って同
定されることはないであろう。なぜなら、この系では４１４でのピークを４１３
での最大のピークと比較し、４１４のピークは予期されない化合物の同位体ピー
クとしてフラッギングするからである。
【００３１】 予期されたライブラリー化合物の質量の２倍の質量を有する分子からの２価に
荷電されたイオンピークを間違って同定することはありうる。たとえば、図２Ｂ
のピーク４１４はまた８２８の質量を有する２価にイオン化した化合物によるも
のかもしれない。これら擬陽性の場合の同定、または２価の電荷を有する化合物
を正しく同定することは、上記で検討したように同位体のピークの間隔を調べる
ことにより行う。ライブラリー化合物の予期されたｍ／ｚ値に認められ、それま
でにバックグラウンドレベルを超えることがわかっており、予期された時間にＭ
Ｓに到着したピークは近接するピークと比較される。もしもピークの間隔が図に
示すように４１４、４１５および４１６と表示するように正確に１単位ずつ離れ
ておれば、検出した分子は１価にイオン化されている。もしもピークが０.５単
位で離れているなら、たとえば、もしも第二のピークが４１４.５にあるなら、
このイオンは２価に荷電されている、等々。
【００３２】 図２Ａは、ピークの４１３がその直ぐ上方にあるピーク、４１４よりも大きい
ことを示しており、この４１４は１つの炭素原子が炭素１３で置換された同じ化
合物を表している。それゆえ、図２ａの４１４でのデータは同位体にすぎないと
して無視してよい。ピークの間隔は１ｍ／ｚ単位であるので、測定したイオンは
１価にイオン化されている。これらの例は、本発明の方法が擬陽性のピークを排
除し、特定の医薬代謝産物または汚染物質の同定のために調べる必要のあるデー
タ点の数を減らすことを示している。
【００３３】 図３は、５,０００の異なる分子種を含む可能な化合物のライブラリーのＬＣ
／ＭＳ分析を示す。これは全イオン流（total ion current）またはＴＩＣとし
て知られているもので、検出したイオンの数を時間に対して測定するものである
。この混合物のＭＳの分析は、本発明を用いなければ極めて複雑であろう。なぜ
なら、異なる分子種を互いに容易に分離するには余りにも多くのピークが存在す
るからである。
【００３４】 図４Ａは図３と同様のＴＩＣチャートを示す。図４Ｂも同じデータを示すが、
検出した９１１.５のｍ／ｚ値を有するイオンを時間に対して示したものである
。これは抽出イオンクロマトグラムまたはＸＩＣとして知られている。図４Ｃも
また同じデータを示すが、９１１.５と９１０.５との間ｍ／ｚ比のものを時間に
対して示したものである。擬陽性の同位体ピークを排除する方法は、前以て決定
したライブラリー化合物のｍ／ｚ値に対応するＭＳピークを調べることからなる
。もしもこのピークがバックグラウンドノイズを超えており、対照試料のレベル
を超えているなら、このデータをＸＩＣにプロットする。ＸＩＣは基本的に試料
の全時間を通して１つの特定のｍ／ｚ値に着目するものである。同じ分子質量を
有し、それゆえ同じｍ／ｚ値を有する異なる化学種は、異なる分散速度および異
なるクロマトグラフィー滞留時間を有しやすい。もしもライブラリー化合物が観
察したデータの時間の遅れと適合するなら、正しい同定が存在する。かくしてピ
ーク電荷状態の自動的な決定が得られることになる。もしも電荷が＋１であるな
ら、調べようとしているピークよりも１単位だけ低い値のｍ／ｚ値で同位体試験
を行う。もしも電荷が＋２であるなら、０.５だけ低い値のｍ／ｚ値で同位体試
験を行う。もしも電荷が＋３であるなら、同位体試験は１／３だけ低い値のｍ／
ｚ値に着目する、等々。このようにして、この系では予期された化合物からのも
のでないピークをフラッギングし、それゆえＭＳ分析を極めて簡単にできる。
【００３５】 図５はＭＳデータをグラフ表示するための別の方法を示すものであり、ｍ／ｚ
および時間に対する強度という３つの軸を用い、それゆえＴＩＣグラフとＸＩＣ
グラフとを組み合わせたものである。図５に示すデータは上記の２つの図に比べ
れば理解が容易であるが、それでも５ないし１０を超える化合物の混合物につい
ては正確な分析能を提供することができない。ＸＩＣ分析に伴う問題は、複数の
イオンが同じｍ／ｚ値で検出されたこと（たとえば、ｍ／ｚ値２５０で２つのピ
ーク）を示す一連の垂直のピークによって示される。これらは同じｍ／ｚ値を有
する２つの異なる化合物を示している。これらが異なる化合物を表すことは、ク
ロマトグラフィー系からの異なる到着時間によって示される。
【００３６】 図６は、目的ピークがｍ／ｚ５７４にあり１０と表示した典型的なＸＩＣを示
す。ピーク５７４は１７,８００のイオンのカウントを有する。とりわけｍ／ｚ
５３７付近に認められる遥かに大きなピークと比較したときに、ピーク５７４が
有意であるか否かを決定するため、測定した値をバックグラウンドレベルと比較
することが分析にとって有用である。
【００３７】 図７は、ｍ／ｚ５７４の目的ピーク周辺での図６の拡大図である。たとえば上
記で検討したようにリガンドなしのタンパク質に対して行ったバックグラウンド
のＭＳと比較することにより、この一般的な領域でのバックグラウンド値は図８
に示すように約７４０カウントであることがわかる。それゆえ、ｍ／ｚ５７４で
の予期されるピークは、この領域中、このレベルの化学的および電子的ノイズで
バックグラウンドレベルを超えることを自動的に示すことができる。特定のバッ
クグラウンドレベルは、装置およびその修復状態、化合物を移動させるのに用い
た溶媒の清浄さ、等に依存する。許容しうるシグナル／ノイズ比はこれらの因子
や他の因子に依存するが、典型的な系ではシグナル／バックグラウンドノイズレ
ベルは３：１または３：１を超えると予期される。
【００３８】 図９は、本発明の好ましい態様の詳細を示すフローチャートである。Ｃ＋＋な
どのような多くの共通のコンピューター用語のいずれも本発明を実施するために
用いることができる。工程１００において、ＭＳ系により検出したイオンカウン
トを記録する。工程１１０において、ＭＳデータをＴＩＣグラフとＸＩＣグラフ
とに分離する。工程１２０は、図６〜８に関連して上記で検討したように、シグ
ナルを前以て決定した閾値と比較し、ノイズの平均値かまたは使用者が挿入した
値のいずれかよりも低いシグナルは排除する。工程１３０は、調べるべきｍ／ｚ
位置のリストを生成する。このリストは、等しい間隔を有する検索リストかまた
は予期される化合物のライブラリーのいずれかである。典型的に、もしも混合物
中に既知の化合物が存在しないなら検索リストを用い、本発明の好ましい態様で
は質量の０.１ダルトンの間隔を用いる。工程１４０は、従来技術で検討したよ
うに、加えたまたは差し引いたイオンの質量を加えまたは差し引くものである。
質量４１３の分子が単一のプロトンでプロトン化されると該プロトン（すなわち
、水素）について１単位だけ加えられるので、ｍ／ｚ４１４で予期される、もし
もナトリウムイオンが加えられたのであれば加えられた質量は２３ダルトンであ
り、検索はｍ／ｚ４３６で行われる。同じことは水素を除去することによってイ
オンが生成した場合にも当てはまる。この場合の検索はｍ／ｚ４１２で行われる
。
【００３９】 工程１５０ではバックグラウンドを超える測定データを予期された化合物と比
較する記憶部を生成し、適合について検索する。工程１６０は、適合したピーク
を一度に１つ着目し、ＭＳへのピークの到着時間をチェックし、図２〜５に関連
して上記で検討したイオン電荷状態をチェックする。工程１７０は、それまでの
スクリーンを通過したすべてのピークを取り、工程１６０で決定した電荷状態を
用いて同位体ピークを比較して適切なピークを決定して同位体値を調べる。もし
も電荷状態が工程１６０において１と決定されたのなら、図２〜５に関連して上
記で検討したようにピークは１ｍ／ｚ単位で隔てられているであろう。工程１８
０は、ライブラリーに適合する可能性があると該方法によって決定されたピーク
のみを、あるいは検索の場合には上記の基準のすべてに適合し標準的なＭＳ分析
によって同定できるピークのみを使用者に出力するものである。
【００４０】 図１０は、質量ピークの数をさらに減らすために使用者が導入できるピーク検
出パラメータの典型的な入力ファイルフォーマットを示す（オペレーターの手動
の介入を要するであろう）。たとえば、入力２００は少なくとも１０のイオンカ
ウントを有しないピークをすべて排除するであろう。これは、使用した特定のＬ
Ｃ系の解析限界に関する使用者の情報による。図１１もまた、ＬＣまたはＧＣ系
での予期されたピーク幅によるデータ検出を制限する使用者の入力および実験ド
リフト（drift）または検量誤差についての許容度を示す。
【００４１】 図１２は、検索モードで使用するために可能なパラメータを示す。質量は、イ
オンを生成するのに用いた特定のイオン化法に適合するように正しい量によりシ
フトさせてよい。図１３は、予期された化合物のライブラリーを示し、該ライブ
ラリーは使用者によって作成され、たとえば特定の医薬品を与えた実験ラットに
おいて生成されたと予期される特定の化合物に依存するものである。図１４は、
どの特定のピークが該系によって予期化合物データリストに存在すると認められ
たかを示すデータ出力の例示的態様を示す。このようにして、本発明は目的化合
物をより迅速に検出することができる。
【００４２】 該系が化合物を正しく同定できないようなある状況が存在する。図１５は、８
０を超える炭素原子を有する有機分子についてのＭＳを示す。上記で検討したよ
うに、該系は図９の工程１６０で決定した電荷状態で１を除することにより得ら
れるｍ／ｚ値に存在するピークに着目することにより、予期されるｍ／ｚ値に存
在するピークが真のピークであるかあるいは同位体のピークであるかを決定する
ものである。上記で検討したように、８０を超える炭素原子を有する化合物は該
分子の半分以上が１つのＣ−１２がＣ−１３で置換されており、それゆえピーク
３００のピーク高はすべてＣ−１２であるピーク３１０よりも大きい。それゆえ
、該系はピーク３１０の値をピーク３００から差し引いて負の値という結果とな
り、該ピークを同位体にすぎないとして間違ってフラッギングするであろう。
【００４３】 他の起こりうる問題を図１６（スズの同位体パターンを示す）に示す。最も存
在比の高いスズの同位体は最も軽いものではない。この場合も図１５に関連して
上記で記載したのと同じ理由により該系において問題、すなわち最も存在比の高
い同位体は最も重量の低いものではないという問題を引き起こすであろう。スズ
はその触媒としての使用のために有機分子中にしばしば見出される。しかしなが
ら、スズの独特のスペクトル特性は、ピークが２ｍ／ｚ単位で隔てられた増大す
るイオンカウントを検索する簡単なスクリーンを可能とし、それゆえこの潜在的
な問題は予期されたスズ含有化合物にとって有益なものとなる。
【００４４】 図１７は、本発明の使用に関係する他の領域を示す。元素の臭素は有機分子中
にしばしば見出されるものであるが、非典型的な同位体分布を有している。図１
７Ａは１つの臭素原子を有する典型的な有機分子を示す。５５３でのピークは臭
素原子Ｂｒ−７９を有する。５５５でのピークは１つのＢｒ−８１原子が該分子
中に置換されたものである。問題はこれら２つのピークがほぼ同じ高さを有して
いるにも係わらず２ｍ／ｚ単位により隔てられていることである。それゆえ、該
系ではどれが同位体ピークであるかを決定することはできない。図１７Ｂおよび
図１７Ｃに示すように２または３の臭素原子を有する分子では状況はさらに一層
悪くなる。臭素および塩素原子により引き起こされるような特徴的な同位体パタ
ーンが予期される場合には、該系は分子の適切な同定のために２単位の間隔を隔
てた特徴的な二重ピークを探索することに適合できる。
【００４５】 要約すると、本発明は、気体であるか液体であるか、あるいは無機化合物であ
るか有機化合物であるかに拘らず、ガスクロマトグラフィーや液体クロマトグラ
フィーなどのあらゆるＭＳ法を用いて得られる質量クロマトグラフィーデータの
分析に一般的に適用できる独特の特性を有する。該系は、あらゆる共通のプログ
ラム言語を用い、さらにあらゆる共通のコンピューター装置で実施することがで
きる。同時に検索できる分子の数は実際上制限がなく、結果は現行のシステムに
比べて１０００倍まで迅速に得られる。該システムはイオン電荷状態を自動的に
測定でき、ナトリウムなどの異なるイオン化付加物について自動的に補正できる
。該システムは同位体から多くの分子種を識別でき、臭素や塩素によって引き起
こされるような特有のスペクトルパターンを探索できる。
【００４６】 本発明を好ましい態様に即して記載したが、当業者であれば他の態様も可能で
あることを認識するであろう。それゆえ、本発明は特許請求の範囲に開示の態様
に限定されてはならず、全体の開示の意図および範囲が本発明の範囲に包含され
る。
【図面の簡単な説明】
【図１】 炭素の同位体パターンを示す質量スペクトルである。
【図２】 質量スペクトルを示す図表である。
【図３】 ５,０００成分のライブラリーのＬＣ／ＭＳ分析である。
【図４ａ】 ＸＩＣスペクトルである。
【図４ｂ】 ＸＩＣスペクトルである。
【図４ｃ】 ＸＩＣスペクトルである。
【図５】 三次元質量スペクトルである。
【図６】 ノイズ／シグナルを示す質量スペクトルである。
【図７】 図６の拡大図である。
【図８】 バックグラウンドノイズを示す。
【図９】 本発明によるフローチャートである。
【図１０】 パラメータスクリーンの説明を示す。
【図１１】 コントロールスクリーンを示す。
【図１２】 入力スクリーンを示す。
【図１３】 質量探索リストのスクリーンを示す。
【図１４】 出力ファイルの説明を示す。
【図１５】 大きな炭素含有分子のパターンを示す。
【図１６】 スズのスペクトルを示す。
【図１７】 臭素原子を含む分子の同位体パターンを示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＣＹ， ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，Ｉ Ｔ，ＬＵ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＯＡ(ＢＦ，ＢＪ ，ＣＦ，ＣＧ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＧＷ，ＭＬ， ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ，ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＧＨ，ＧＭ，Ｋ Ｅ，ＬＳ，ＭＷ，ＳＤ，ＳＬ，ＳＺ，ＴＺ，ＵＧ，ＺＷ )，ＥＡ(ＡＭ，ＡＺ，ＢＹ，ＫＧ，ＫＺ，ＭＤ，ＲＵ， ＴＪ，ＴＭ)，ＡＥ，ＡＬ，ＡＭ，ＡＴ，ＡＵ，ＡＺ， ＢＡ，ＢＢ，ＢＧ，ＢＲ，ＢＹ，ＣＡ，ＣＨ，ＣＮ，Ｃ Ｕ，ＣＺ，ＤＥ，ＤＫ，ＥＥ，ＥＳ，ＦＩ，ＧＢ，ＧＤ ，ＧＥ，ＧＨ，ＧＭ，ＨＲ，ＨＵ，ＩＤ，ＩＬ，ＩＮ， ＩＳ，ＪＰ，ＫＥ，ＫＧ，ＫＰ，ＫＲ，ＫＺ，ＬＣ，Ｌ Ｋ，ＬＲ，ＬＳ，ＬＴ，ＬＵ，ＬＶ，ＭＤ，ＭＧ，ＭＫ ，ＭＮ，ＭＷ，ＭＸ，ＮＯ，ＮＺ，ＰＬ，ＰＴ，ＲＯ， ＲＵ，ＳＤ，ＳＥ，ＳＧ，ＳＩ，ＳＫ，ＳＬ，ＴＪ，Ｔ Ｍ，ＴＲ，ＴＴ，ＴＺ，ＵＡ，ＵＧ，ＵＳ，ＵＺ，ＶＮ ，ＹＵ，ＺＡ，ＺＷ (72)発明者 マーク・バーンバウム アメリカ合衆国10024ニューヨーク州ニュ ーヨーク、ウエスト・エイティフォース・ ストリート36番 (72)発明者 セス・エヌ・バーンバウム アメリカ合衆国02111マサチューセッツ州 ボストン、キングストン・ストリート84番 (72)発明者 アンドリュー・エヌ・タイラー アメリカ合衆国01867マサチューセッツ州 リーディング、バークレー・ストリート14 番 Ｆターム(参考） 5C038 HH28

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 質量分析計データの分析方法であって、工程： （ａ）質量分析計の操作を対照試料で行い、その際、該操作により第一の複数の
    出力値が得られ、該第一の複数の出力値の各々は関連するｍ／ｚ比の値を有し、
    （ｂ）質量分析計の操作を分析すべき材料に対して行い、その際、該操作により
    第二の複数の出力値が得られ、該第二の複数の出力値の各々は関連するｍ／ｚ比
    の値を有し、 （ｃ）計算した質量分析計の出力スペクトルの前以て決定したライブラリーから
    第一の予期されたｍ／ｚ比を選択して該第一の予期された出力ｍ／ｚ比での該第
    一の複数の出力値を該第一の予期されたｍ／ｚ比での該第二の複数の出力値から
    差し引き、その際、該差し引きにより該第一の予期されたｍ／ｚ比での差異の値
    が得られ、 （ｄ）該差異の値の関数として、もしも該差異の値が前以て決定した値により０
    を超えるなら、該第一の予期されたｍ／ｚ比および該第二の複数の出力値の該関
    連する値を含むフラッグシグナルを生成し、 （ｅ）該フラッグシグナルを記憶部に貯蔵し、ついで （ｆ）工程（ｃ）〜（ｅ）を、計算した質量分析計の出力スペクトルの該前以て
    決定したライブラリー中の残りの全ての予期されたｍ／ｚ比の個々のものについ
    て繰り返す ことを含む方法。
  2. 【請求項２】 工程（ｄ）が、該予期されたｍ／ｚ比での該差異の値が前以
    て決定した数の該質量分析計の操作の各々における該前以て決定した量により０
    を超える場合にのみ、該フラッグシグナルを生成することをさらに含む、請求項
    １に記載の方法。
  3. 【請求項３】 該質量分析計の操作の該前以て決定した数が４である、請求
    項２に記載の方法。
  4. 【請求項４】 工程（ｄ）が、該第一の予期されたｍ／ｚ比での該第二の複
    数の出力値が予期された化合物のライブラリーからの予期されたピーク幅に近似
    するピーク幅をも有する場合にのみ、該フラッグシグナルを生成することをさら
    に含む、請求項１に記載の方法。
  5. 【請求項５】 さらに、工程： （ｇ）該記憶部に貯蔵した該ｍ／ｚ比の第一の１つを選択し、 （ｈ）該ｍ／ｚ比の該第一の１つの値を、該記憶部に貯蔵した次に高いｍ／ｚ比
    の値から差し引いて質量デルタ値を得、 （ｉ）数字の１を該質量デルタ値で除して電荷値を得、 （ｊ）もしも該電荷値が前以て選択した値未満であるなら、電荷警告シグナルを
    該選択した第一のｍ／ｚ比の記憶部に貯蔵し、ついで （ｋ）工程（ｇ）〜（ｊ）を、該記憶部に貯蔵した残りの全ての該ｍ／ｚ比の個
    々のものについて繰り返す を含む、請求項１に記載の方法。
  6. 【請求項６】 該電荷値の該前以て選択した値が０.５である、請求項５に
    記載の方法。
  7. 【請求項７】 さらに、工程： （ｇ）該記憶部に貯蔵した該ｍ／ｚ比の第一の１つおよび該第二の複数の出力値
    の該関連する値を選択し、 （ｈ）該ｍ／ｚ比の該選択した第一の１つの値から１の質量単位を差し引いて中
    間のｍ／ｚ比を得、ついで該中間のｍ／ｚ比に対応する該記憶部に貯蔵した該第
    二の複数の出力値の関連する値を選択し、 （ｉ）該中間のｍ／ｚ比に関連する該第二の複数の出力値の値を、該第一のｍ／
    ｚ比に関連する該第二の複数の出力値の値から差し引いて強度デルタ値を得、 （ｊ）もしも該強度デルタ値が前以て選択した値未満であるなら、同位体警告シ
    グナルを該選択した第一のｍ／ｚ比の記憶部に貯蔵し、ついで （ｋ）工程（ｇ）〜（ｊ）を、該記憶部に貯蔵した残りの全ての該ｍ／ｚ比の個
    々のものについて繰り返す を含む、請求項１に記載の方法。
  8. 【請求項８】 該強度デルタ値の該前以て選択した値が０を超えるものであ
    る、請求項７に記載の方法。
  9. 【請求項９】 質量分析計データの自動分析方法であって、工程： （ａ）質量分析計の操作サイクルを対照試料で行い、その際、該操作サイクルに
    より第一の複数の出力値が得られ、該第一の複数の出力値の各々は関連するｍ／
    ｚ比の値を有しており、ついで該第一の複数の出力値の各々および関連するｍ／
    ｚ比の値を第一の複数の記憶部に貯蔵し、 （ｂ）質量分析計の操作サイクルを分析すべき材料に対して行い、その際、該操
    作サイクルにより第二の複数の出力値が得られ、該第二の複数の出力値の各々は
    関連するｍ／ｚ比の値を有しており、ついで該第二の複数の出力値の各々および
    関連するｍ／ｚ比の値を第二の複数の記憶部に貯蔵し、 （ｃ）計算した質量分析計の出力スペクトルの前以て決定したライブラリーから
    第一の予期された出力ｍ／ｚ比を選択し、その際、該予期された出力ｍ／ｚ比の
    値は関連する化合物を有し、 （ｄ）該対照試料の該第一の複数の出力値の特定の１つを、分析すべき該材料の
    該第二の複数の出力値の特定の１つから差し引き、その際、該複数の出力値の各
    々の該特定の１つは該第一の予期された出力ｍ／ｚ比の値から選ばれ、該差し引
    きにより該ｍ／ｚ比での差異の値が得られ、 （ｅ）該差異の値の関数として、該第一の予期された出力ｍ／ｚ比および該第二
    の複数の出力値の該関連する値を含むフラッグシグナルを生成し、ついで該フラ
    ッグシグナルを第三の複数の記憶部に貯蔵し、 （ｆ）工程（ｃ）〜（ｅ）を、計算した質量分析計の出力スペクトルの該前以て
    決定したライブラリー中の残りの全ての予期されたｍ／ｚ比の個々のものについ
    て繰り返し、ついで （ｇ）該第三の複数の記憶部に貯蔵したすべての出力ｍ／ｚ比のリストを出力す
    る ことを含む方法。
  10. 【請求項１０】 工程（ｅ）が、該予期されたｍ／ｚ比での該差異の値が前
    以て決定した数の該質量分析計の操作の各々における該前以て決定した量により
    ０を超える場合にのみ、該フラッグシグナルを生成すること、および 該第一の予期されたｍ／ｚ比での該第二の複数の出力値が予期された化合物のラ
    イブラリーからの予期されたピーク幅に近似するピーク幅をも有する場合にのみ
    、該フラッグシグナルを生成すること をさらに含む、請求項９に記載の方法。
  11. 【請求項１１】 さらに、工程： （ｈ）該記憶部に貯蔵した該ｍ／ｚ比の第一の１つを選択し、 （ｉ）該ｍ／ｚ比の該第一の１つの値を、該記憶部に貯蔵した次に高いｍ／ｚ比
    の値から差し引いて質量デルタ値を得、 （ｊ）数字の１を該質量デルタ値で除して電荷値を得、 （ｋ）もしも該電荷値が前以て選択した値未満であるなら、電荷警告シグナルを
    該選択した第一のｍ／ｚ比の記憶部に貯蔵し、ついで （ｌ）工程（ｈ）〜（ｋ）を、該記憶部に貯蔵した残りの全ての該ｍ／ｚ比の個
    々のものについて繰り返す を含む、請求項９に記載の方法。
  12. 【請求項１２】 さらに、工程： （ｈ）該記憶部に貯蔵した該ｍ／ｚ比の第一の１つおよび該第二の複数の出力値
    の該関連する値を選択し、 （ｉ）該ｍ／ｚ比の該選択した第一の１つの値から１の質量単位を差し引いて中
    間のｍ／ｚ比を得、ついで該中間のｍ／ｚ比に対応する該記憶部に貯蔵した該第
    二の複数の出力値の関連する値を選択し、 （ｊ）該中間のｍ／ｚ比に関連する該第二の複数の出力値の値を、該第一のｍ／
    ｚ比に関連する該第二の複数の出力値の値から差し引いて強度デルタ値を得、 （ｋ）もしも該強度デルタ値が前以て選択した値未満であるなら、同位体警告シ
    グナルを該選択した第一のｍ／ｚ比の記憶部に貯蔵し、ついで （ｌ）工程（ｈ）〜（ｋ）を、該記憶部に貯蔵した残りの全ての該ｍ／ｚ比の個
    々のものについて繰り返す を含む、請求項９に記載の方法。
  13. 【請求項１３】 質量分析計データの自動分析装置であって、 （ａ）質量分析計の操作サイクルを対照試料で行うための手段であって、該操作
    サイクルにより第一の複数の出力値が得られ、該第一の複数の出力値の各々は関
    連する質量比の値を有しているもの、 （ｂ）質量分析計の操作サイクルを分析すべき材料に対して行うための手段であ
    って、該操作サイクルにより第二の複数の出力値が得られ、該第二の複数の出力
    値の各々は関連する質量比の値を有しているもの、 （ｃ）計算した質量分析計の出力スペクトルの前以て決定したライブラリーから
    第一の予期された出力ｍ／ｚ比を選択するための手段であって、該予期された出
    力質量比の値は関連する化合物を有しているもの、 （ｄ）該対照試料の該第一の複数の出力値の特定の１つを、分析すべき該材料の
    該第二の複数の出力値の特定の１つから差し引くための手段であって、該複数の
    出力値の各々の該特定の１つは該第一の予期された出力ｍ／ｚ比の値から選ばれ
    、該差し引きにより該ｍ／ｚ比での差異の値が得られるもの、 （ｅ）該差異の値が前以て決定された値により０を超えているか否かを決定する
    ための手段、もしも該差異の値が該前以て決定した値により０を超えるなら該第
    一の予期された出力質量比を含むフラッグシグナルを生成し該フラッグシグナル
    を記憶部に貯蔵するための手段、 （ｆ）工程（ｃ）〜（ｅ）を、計算した質量分析計の出力スペクトルの該前以て
    決定したライブラリー中の残りの全ての予期されたｍ／ｚ比の個々のものについ
    て繰り返すための手段、および （ｇ）該記憶部に貯蔵したすべての出力質量比のリストを出力するための手段 を含む装置。
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