JP2002522931A - ブロークン・スタック優先エンコーダ - Google Patents
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Abstract
Description
はリーディングゼロ(「0」)を示す信号を提供する。通常、優先エンコーダは
、バイナリ・ワードの長さ、つまりそのビット数に等しい数の出力ラインを有し
、出力ライン上の電圧がバイナリ・ワードにおけるリーディング1またはリーデ
ィングゼロを示す。たとえば、8ビットのワードにおけるリーディング1を示す
優先エンコーダは、8本の出力ラインを有することになり、多くとも1本の出力
ラインはロジック・ハイを示す「ハイ」電圧を有し(残りはロジック・ローを示
す「ロー」電圧)、「ハイ」電圧を伴う出力ラインがリーディング1のポジショ
ンを表す。
を「ロー」(グラウンド)電圧に引き込む直列接続されたトランジスタからなる
1ないしは複数のグループ(またはスタック)を含むことがある。このトランジ
スタ・スタックは、ノードを「ロー」に放電(またはプル・ダウン)するために
ノードとグラウンドの間に導通パスを構成する。それにより、これらのノードに
接続されている出力回路は、そのワードにおけるリーディングゼロまたはリーデ
ィング1を示す必要な信号を提供することができる。
のプリチャージ状態またはフェーズの間にノードが「ハイ」電圧に充電(プル・
アップ)され、その後、クロック信号の評価状態またはフェーズの間に、各種の
トランジスタ・スタックによってこれらのノードの一部または全部が放電される
。ドミノ優先エンコーダが動作可能な速度は、各種ノードが放電可能な速度によ
って制限される。ある種のテクノロジの場合、トランジスタのスタックの深さ(
つまり、ノードとグラウンドの間の導通パス内に直列接続されているトランジス
タの数)を小さくすると、この速度が増加する(つまり放電時間が短くなる)。
静的タイプの優先エンコーダ回路についても、速度を増すためにはスタックの深
さを抑えることが望ましい。また、CMOS(相補形金属酸化膜半導体)テクノ
ロジの場合には、いわゆるボディ効果からもスタックの深さを抑えることが望ま
しい。
ほうが望ましい。
回路に適している。回路内の任意のポイントについて、「ロー」は2つのブール
・エレメントの一方をマップする電圧のセットを、「ハイ」は、ブール・エレメ
ントの他方をマップする電圧のセットをそれぞれ指すものとする。ブール・エレ
メントをマップする個々の電圧の範囲は、使用するテクノロジに依存し、単一回
路内の部品によってもそれが異なることがある。セットという用語の使用を省略
するため、ここで電圧が「ロー」(「ハイ」)であると言うときには、それが「
ロー」(「ハイ」)のセットに属することとする。また、回路内の任意のノード
について「ロー」電圧は「ハイ」電圧より低いものとする。
」および「ロー」に2つの役割を持たせることにより、つまり「ハイ」および「
ロー」によって2エレメントブール代数の2つのブール・エレメントも表すこと
によって、わずかながら表記の濫用(ただし誤用ではない)を招いている。しか
し、「ハイ」または「ロー」が電圧を表すか、ブールのエレメントを表すかは文
脈から明らかである。「ハイ」をバイナリ・ブール演算の「アンド(論理積)」
用の識別エレメントに、「ロー」をバイナリ・ブール演算の「オア(論理和)」
用の識別エレメントに結びつけることは慣例であり、ここでもこの慣例に従って
いる。この種の同一視は、衒学的に有用であるが、恣意的であり、電圧をブール
・エレメントに結びつけるこの同一視によって本発明が限定されないことを理解
されたい。
は、ワードWのi番目(0番目から)のビットとする。B7はワードWの最上位
ビット、B0はその最下位ビットである。ここでもわずかながら表記を濫用し、
Biにより電圧およびブールのエレメントを表し、一般性を失うことなく、ワー
ドWのi番目のビットが1であればBiは「ハイ」であると言い、ワードWのi
番目のビットが0であればそれが「ロー」であると言うことにする。なお、ここ
で用いている「ワード」とコンピュータ・システムのワード長の混同に注意する
必要がある。ここでの「ワード」は、単にバイナリ・タプルを指す。
、セット{E0,E1,...E7}であり、それにおいてEiは、文脈に応じ
て電圧またはブール・エレメントのいずれかを表すことになる。図1において、
i≠kのすべてのiについてEiが「ロー」であり、Ekが「ハイ」である値の
セットは、ワードWのリーディングゼロがビットBkであることを示す。すべて
のiについてEiが「ロー」であれば、ワードWにはリーディングゼロがないこ
と、つまりWのすべてのビットが1であることになる。
エレメントを表す。電圧の場合は、それぞれnMOSFET(n−酸化金属半導
体電界効果トランジスタ)114、116、および118のゲート電圧を表す。
ブール・エレメントとして考えた場合、次に示すブール代数式によってA0、A
1、およびA2が与えられる。 A0=B0・B1 A1=B2・B3・B4 A2=B5・B6・B7 ただしこれにおいて、「・」は、論理積(ブール代数の積)を表す。図1にお
いては、A0、A1、およびA2を提供するためにドミノ・ゲート122、12
4、および126が使用されているが、別のタイプの論理ゲートを使用してもよ
い。
されている。記号Niは、ラベルのほかに、文脈に応じてノードNiの電圧また
はブール値として使用される。クロック信号CLKが「ロー」(VSSまたはグ
ラウンド)のとき、pMOSFET 102がオン、nMOSFET 103が
オフになり、その結果、すべてのノードが「ハイ」(VCC)に充電(プル・ア
ップ)される。これがプリチャージ状態(フェーズ)である。評価状態(フェー
ズ)は、CLKが「ハイ」になることによって特徴づけられる。評価フェーズの
間、pMOSFET 102がオフ、nMOSFET 103がオンになり、そ
れにより、Bi(i=0,1,...7)対応の値に応じてノードの一部が「ロ
ー」にプル・ダウンされる。
圧は、それぞれBi(i=1,3,4,6,および7)となり、nMOSFET
114、116、および118のゲート電圧は、それぞれAi(i=0,1,
および2)となる。評価フェーズの間は、図1から、ビット値Bi(i=0,1
,...7)によって表されるノードNi対応の値は、
積はブール積演算を表す。
、評価フェーズの間、ノードが電荷を保持することを前提としている。この仮定
は、ノードのキャパシタンスおよびCLKのスイッチング周波数に依存する。必
要であれば、一部の実施形態においてはノードにハーフ−キーパを使用し、トラ
ンジスタの導通パスを介してグラウンドに放電されない場合にそれらを「ハイ」
に充電された状態に維持することもできる。
スタだけから構成されていることに注意されたい(nMOSFET 103は数
に加えない)。任意のノードの放電時間が、そのノードをグラウンドに放電させ
る直列接続されたトランジスタの数に依存することから、これらのパスを可能な
限り小さく維持することが望ましい。ある意味では、トランジスタのスタック1
04、106、108、110、および112がノードNi(i=0,2,およ
び5)において「分断」されており(ブロークン)、トランジスタ114、11
6、および118の一部または全部がこれらのノードとグラウンドの間にバイパ
ス・パスを形成させる。「ブロークン・スタック」優先エンコーダという名前は
これに由来する。
す。ノードのブール値については、値Eiが、式
iが、式
,Bk+2,...B7がすべて「ハイ」のときに限り、Ekが「ハイ」になる
と述べることに等しい。したがって、図1に示した実施形態は優先エンコーダで
あると考えることができる。
のワードWに関する実施形態の全クラスは、次のように記述することができる。
次式を満たすように、ni≧1とするK+1個の整数のセットI、つまりI={
n0,n1,...nk}を選択する。
トを持たない順序付き整数のセットIk(k=0,1,...K)に分割する。 Ik={Sk,(Sk+1),...(Sk+1−1)} ただし、セットIk内のエレメントの数はnkである。Ik内のエレメントに、
Ik[i]((i=0,1,...(nk−1))としてラベルを付ける。K+
1個の値(ブールまたは電圧){A0,A1,...Ak}を定義し、それにお
いては
を次のように記述することができる。N+1個のノード{N0,N1,...N
N}、直列接続されたK+1個のnMOSFETからなるバイパス・スタック、
および(N−K)個のnMOSFETのブロークン・スタックがある。このブロ
ークン・スタックは、直列接続されたnMOSFETからなるK+1組のグルー
プGk(k=0,1,...K)を構成する。グループGkは、nk−1個の直
列接続されたnMOSFETからなり、Gk[i](i=1,2,...(nk
−1))とラベル付けされる。nMOSFET Gk[i]のゲート電圧はBI
[k,i]であるが、それにおいては下付き文字がさらに下付き文字を含む表記
を避けるために、I[k,i]=Ik[i]としている。(この最後の記述は、
ワードW=(B NBN−1...B0)からビットBi(i=SN,SN−1
,...S0)を除くことによってブロークン・スタック内のnMOSFETの
ゲート電圧となる値を持つベクトルが得られるという表現によって、おそらくは
より容易に理解が得られよう。)nMOSFET Gk[i]のドレインは、ノ
ードNI[k,i]に接続される(または定義している)。バイパス・スタック
内のK+1のnMOSFETには、H[k](k=0,1,...K)としてラ
ベル付けを行う。nMOSFET H[k]のゲート電圧はAkであり、nMO
SFET H[k]のドレインはノードNI[k,0]を定義し、nMOSFE
T H[k]のソースは、nMOSFET Gk[nk−1]のソースに接続さ
れる。
FETが各ノードに接続され、ゲートがクロック信号CLKによってコントロー
ルされ、さらに、nMOSFETがGk[nk−1]のソースに接続され、ゲー
トがクロック信号CLKによってコントロールされる。N個の出力回路Ci(i
=0,1,...(N−1))があり、それぞれが出力電圧Ei(i=0,1,
...(N−1))を有する。各出力回路Ciは、それぞれCi[0]およびC
i[1]とラベル付けされた、それぞれ電圧Ci[0]およびCi[1]を有す
る入力を有する。(ここでも表記に2とおりの意味を持たせている。)任意の出
力回路Ci(i=0,1,...(N−1))について見ると、その出力電圧は
、
ードNi+1に接続される。この実施形態は、ノードNNの出力電圧として定義
される出力電圧ENを有する。
,Bk+2,...BNがすべて「ハイ」のときに限り、Ekが「ハイ」になる
と述べることに等しい。したがって、上記の形式は優先エンコーダであることが
わかる。
ができる。1つの特定のコスト関数は、Aiに関する各式における項の数を含め
た、各ノードをグラウンドに接続するトランジスタの最大スタックの深さである
。簡略化のためクロックが印加されるトランジスタは、スタックの深さに加えて
いない。Aiに関するブール式における項の数をコスト関数に含めることは、こ
れらの電圧が、適切な項Biに印加される論理積を実行するドミノ論理ゲートに
よって得られ、これらの項の数が、Aiを得るために使用されるこの種のドミノ
論理ゲートのスタックの深さを表すことになる場合に正当化される。
,i],i=1,2,...(nk−1);k=0,1,...K}のスタック
の深さは(nk−i+K−k)である。またノード{NI[k,0],k=0,
1,...K}のスタックの深さは(K+1−k)である。しかしながら、ノー
ド{NI[k,0],k=0,1,...K}のスタックの最大の深さがK+1
、つまりバイパス・スタック内のnMOSFETの総数であることは明らかであ
る。Aiに関するブール式内の項の数は、niである。したがって、コスト関数
を次のように記述することができる。
n0,n1,...nk}であり、それにおいて
つまりN=7)の場合は、上記のコスト評価基準または関数に関するミニマック
ス整数セットが単一であり、図1に示した実施形態の整数セットに等しいI={
2,3,3}となることが検証できる。
小さい回路によって電圧Aiが得られる場合、次に示すコスト関数が有効になる
と見られる。 C(I)=max[(K+1),{(nk−i+K−k),i=1,2,..
.(nk−1);k=0,1,...K}] このほかのコスト関数は、最大のスタックの深さではなく、平均のスタックの深
さをベースにしていることがある。平均は、一部のノードが残りのノードより放
電しやすいというアプリオリな情報がある場合に、重み付け係数に従ってスタッ
クの深さに重み付けしてもよい。ミニマックス・アプローチは、より保守的なア
プローチであり、多くのコスト関数が使用可能なことは明らかである。
ットを選択すると、K=Nとなり、結果として得られる優先エンコーダは、スタ
ックが1つだけ(Aiを得るためのスタックを除いて、ブロークン・スタックな
しの1つのバイパス・スタックだけ)存在するケースまで後退し、ノードN0の
スタックの深さはN+1となることに注意が必要である。つまり、ブロークン・
スタックを存在させるためには、ni>1となる整数セット内に少なくとも1つ
の整数niが存在する必要がある。
の単一の優先エンコーダに結合してもよい。たとえば、64ビット・ワードの場
合は、ここで説明したN=7用の4つの優先エンコーダを使用して、並列に、6
4ビット・ワードの8つの8ビット・ブロックをエンコードすることができる。
N=7の優先エンコーダからの出力に基づき、比較的簡単な論理ゲートを使用し
て、64ビット・ワードのリーディング1またはゼロを示すことができる。
ートにおいて、そのドミノ論理ゲートと優先エンコーダの間にインバータを使用
し、それからゲート電圧を獲得して、プリチャージ・フェーズの間にすべてのゲ
ート電圧が「ロー」になるようにすれば、クロックが印加されるnMOSFET
が不要になる。その場合、ブロークン・スタック内の最終トランジスタのソース
をグラウンドに接続する。これに対して、電圧Aiがドミノ論理ゲートを介して
得られない場合には、バイパス・スタック内の最終トランジスタのソースに、ク
ロックが印加されるnMOSFETが必要になる。
による潜在的な放電(プル・ダウン)の前に「ハイ」にプリチャージ(プル・ア
ップ)されるという点において、ドミノ(または動的)タイプとされる点を理解
する必要がある。しかしながら別の実施形態として、静的タイプ(デュアル−レ
ール)の回路を含めることができる。
関連ノードごとに1ないしは複数のpMOSFETが並列に接続されて、pMO
SFETがオンになるとそのノードが「ハイ」にプル・アップされる。動的なケ
ースにおいては、すべての関連ノードがプリチャージ・フェーズの間に「ハイ」
にプル・アップされ、評価フェーズの間に関連ノードのサブセットが「ロー」に
プル・ダウンされたのに対して、静的なケースにおいては、すべての関連ノード
が、各種のnMOSFETおよびpMOSFETの現在のゲート電圧に応じて、
(セトリング(settling)または遅延時間の後に)「ハイ」または「ロー」のいず
れかになる。煩わしい用語を回避するために、スタックがノード電圧を「ハイ」
から「ロー」にするとき、またはそのノードがすでに「ロー」であればそれを「
ロー」に維持するとき、nMOSFETのスタックがノードを「ロー」にプル・
ダウンするという表現を用いる。pMOSFETがノードを「ハイ」にプル・ア
ップ(または維持)する場合にも類似の表現を適用する。
易に得ることができる。クロックが印加されるすべてのpMOSFETおよびク
ロックが印加されるすべてのnMOSFETを取り除き、クロックが印加される
nMOSFETに接続されていたトランジスタのソースをグラウンドに接続する
。深さnのトランジスタ・スタックに接続される各Niにn個のpMOSFET
を追加し、それぞれのドレインをNiに接続し、それぞれのソースを「ハイ」電
圧ソースに接続し、それにおいて追加されるpMOSFETに属する各pMOS
FETのゲートは、Niに関するトランジスタ・スタック内のnMOSFETの
ゲートの1つだけに接続する。
図2に示すが、それにおいて図1および図2のそれぞれの対応するエレメントに
は同一のラベルを付している。図2は、nMOSFET 112のソースがグラ
ウンドに接続され、クロックが印加されるすべてのトランジスタが除去され、前
述したようにプル・アップpMOSFETが追加されていることを除けば図1に
類似である。
されたい。たとえば、別のタイプのIGFET(絶縁ゲート電界効果トランジス
タ)またはFET(電界効果トランジスタ)を上記のnMOSFETおよびpM
OSFETに代えて使用することができる。より一般的に述べれば、バイポーラ
・トランジスタ等の別のタイプのトランジスタをnMOSFETおよびpMOS
FETに代えて使用することも考えられる。
がリーディングゼロ・ビットを表す情報を提供する。また、任意のリーディング
ゼロ優先エンコーダは、ワードWの補数を求めることによって、リーディング1
優先エンコーダに容易に変換することができる。したがって、優先エンコーダと
いう用語は、ワードのリーディング1またはリーディングゼロのいずれかを示す
出力信号を提供する回路を包含する。
こに説明した実施形態に対して多くの修正を行うことが可能である。
Claims (28)
- 【請求項1】 第1、第2および第3のnMOSFETを含むバイパス・ス
タック; 第1、第2および第3のグループを構成するnMOSFETのブロークン・ス
タック; を含む優先エンコーダであって: 前記第1のグループは、前記バイパス・スタック内の前記第1のnMOSFE
Tのソースに結合されるソースを有するnMOSFETを含み; 前記第2のグループは、互いに直列に結合される第1および第2のnMOSF
ETを含み、それにおいて前記第2のグループの前記第2のnMOSFETは、
前記バイパス・スタック内の前記第2のnMOSFETのソースに結合されるソ
ースを有し;かつ、 前記第3のグループは、互いに直列に結合される第1および第2のnMOSF
ETを含み、それにおいて前記第3のグループの前記第2のnMOSFETは、
前記バイパス・スタック内の前記第3のnMOSFETのソースに結合されるソ
ースを有することを特徴とする優先エンコーダ。 - 【請求項2】 さらに: 前記第1のグループ内の前記nMOSFETのゲート電圧がB1を示し; 前記第2のグループ内の前記第1のnMOSFETのゲート電圧がB3であり
; 前記第2のグループ内の前記第2のnMOSFETのゲート電圧がB4であり
; 前記第3のグループ内の前記第1のnMOSFETのゲート電圧がB6であり
; 前記第3のグループ内の前記第2のnMOSFETのゲート電圧がB7であり
; 前記バイパス・スタック内の前記第1のnMOSFETのゲート電圧が、論理
積を「・」で表したブール式B0・B1であり; 前記バイパス・スタック内の前記第2のnMOSFETのゲート電圧がブール
式B2・B3・B4であり;かつ、 前記バイパス・スタック内の前記第3のnMOSFETのゲート電圧がブール
式B5・B6・B7であるとき; バイナリ・ワード(B7B6...B0)のリーディングゼロを示す少なくと
も1つの電圧を提供する出力回路を備えることを特徴とする前記請求項1記載の
優先エンコーダ。 - 【請求項3】 さらに: 前記第1のグループ内の前記nMOSFETのゲート電圧がB1であり; 前記第2のグループ内の前記第1のnMOSFETのゲート電圧がB3であり
; 前記第2のグループ内の前記第2のnMOSFETのゲート電圧がB4であり
; 前記第3のグループ内の前記第1のnMOSFETのゲート電圧がB6であり
; 前記第3のグループ内の前記第2のnMOSFETのゲート電圧がB7であり
; 前記バイパス・スタック内の前記第1のnMOSFETのゲート電圧が、論理
積を「・」で表したブール式B0・B1であり; 前記バイパス・スタック内の前記第2のnMOSFETのゲート電圧がブール
式B2・B3・B4であり;かつ、 前記バイパス・スタック内の前記第3のnMOSFETのゲート電圧がブール
式B5・B6・B7を示すとき; バイナリ・ワード(B7B6...B0)のリーディング1を示す少なくとも
1つの電圧を提供する出力回路を備えることを特徴とする前記請求項1記載の優
先エンコーダ。 - 【請求項4】 さらに: クロック信号が第1の状態を示すとき、すべての前記nMOSFETのドレイ
ンを「ハイ」に充電する、クロックが印加される少なくとも1つのトランジスタ
を備え、それにおいて、クロック信号が前記第1の状態の補数となる第2の状態
にあるとき、すべての前記nMOSFETのゲート電圧に基づいて、すべての前
記nMOSFETのドレインのサブセットが「ロー」に放電されることを特徴と
する前記請求項1記載の優先エンコーダ。 - 【請求項5】 さらに: 前記クロック信号が前記第2の状態にあり; 前記第1のグループ内の前記nMOSFETのゲート電圧がB1であり; 前記第2のグループ内の前記第1のnMOSFETのゲート電圧がB3であり
; 前記第2のグループ内の前記第2のnMOSFETのゲート電圧がB4であり
; 前記第3のグループ内の前記第1のnMOSFETのゲート電圧がB6であり
; 前記第3のグループ内の前記第2のnMOSFETのゲート電圧がB7であり
; 前記バイパス・スタック内の前記第1のnMOSFETのゲート電圧が、論理
積を「・」で表したブール式B0・B1であり; 前記バイパス・スタック内の前記第2のnMOSFETのゲート電圧がブール
式B2・B3・B4であり;かつ、 前記バイパス・スタック内の前記第3のnMOSFETのゲート電圧がブール
式B5・B6・B7を示すとき; バイナリ・ワード(B7B6...B0)のリーディングゼロを示す少なくと
も1つの電圧を提供する出力回路を備えることを特徴とする前記請求項4記載の
優先エンコーダ。 - 【請求項6】 さらに: 前記クロック信号が前記第2の状態にあり; 前記第1のグループ内の前記nMOSFETのゲート電圧がB1であり; 前記第2のグループ内の前記第1のnMOSFETのゲート電圧がB3であり
; 前記第2のグループ内の前記第2のnMOSFETのゲート電圧がB4であり
; 前記第3のグループ内の前記第1のnMOSFETのゲート電圧がB6であり
; 前記第3のグループ内の前記第2のnMOSFETのゲート電圧がB7であり
; 前記バイパス・スタック内の前記第1のnMOSFETのゲート電圧が、論理
積を「・」で表したブール式B0・B1であり; 前記バイパス・スタック内の前記第2のnMOSFETのゲート電圧がブール
式B2・B3・B4であり;かつ、 前記バイパス・スタック内の前記第3のnMOSFETのゲート電圧がブール
式B5・B6・B7を示すとき; バイナリ・ワード(B7B6...B0)のリーディング1を示す少なくとも
1つの電圧を提供する出力回路を備えることを特徴とする前記請求項4記載の優
先エンコーダ。 - 【請求項7】 N+1個のノードのセット{N0,N1,...NN}; 直列接続されたK+1個のIGFET H[k](k=0,1,...K)の
バイパス・スタック;および、 (N−K)のIGFETのブロークン・スタックであって、直列接続されたI
GFETのK+1のグループGk(k=0,1,...K)を構成し、各Gkは
nk−1の直列接続されたIGFET Gk[i](i=1,2,...(nk
−1))を含むものとするブロークン・スタック;を含む優先エンコーダにおい
て: 整数のセットI={n0,n1,...nk}およびKが: ni≧1 【数1】 一部のniについてはni>1 を満たし; 各k=0,1,...K;i=1,2,...(nk−1)について、IGF
ET Gk[i]のドレインは、順序付きのnk個の整数のセット Ik={Sk,(Sk+1),...(Sk+1−1)} のi番目の要素(左から右にゼロからカウントを開始する)をIk[i]とし
、I[k,i]=Ik[i]とするとき、ノードNI[k,i]に接続され、そ
れにおいて、Sk(k=0,1,...K+1)は、 【数2】 を満たし; 各k=0,1,...Kについて、IGFET H[k]のドレインは、ノー
ドNI[k,0]に、IGFET H[k]のソースは、IGFET Gk[n
k−1]のソースにそれぞれ接続されることを特徴とする優先エンコーダ。 - 【請求項8】 前記整数のセットIは、コスト関数を最小にすることを特徴
とする前記請求項7記載の優先エンコーダ。 - 【請求項9】 前記コスト関数は、 【数3】 とすることを特徴とする前記請求項8記載の優先エンコーダ。
- 【請求項10】 さらに: 各k=0,1,...K;i=1,2,...(nk−1)について、nMO
SFET Gk[i]のゲート電圧がBI[k,i]であり; 各k=0,1,...Kについて、nMOSFET H[k]のゲート電圧が 積は論理積を表すものとした 【数4】 で与えられるAkを示すとき、N+1ビットのバイナリ・ワード(BNBN−
1...B0)のリーディングゼロを示す少なくとも1つの電圧を提供する出力
回路を備えることを特徴とする前記請求項7記載の優先エンコーダ。 - 【請求項11】 さらに: 各k=0,1,...K;i=1,2,...(nk−1)について、nMO
SFET Gk[i]のゲート電圧がBI[k,i]であり; 各k=0,1,...Kについて、nMOSFET H[k]のゲート電圧が 積は論理積を表すものとした 【数5】 で与えられるAkを示すとき、N+1ビットのバイナリ・ワード(BNBN−
1...B0)のリーディング1を示す少なくとも1つの電圧を提供する出力回
路を備えることを特徴とする前記請求項7記載の優先エンコーダ。 - 【請求項12】 さらに: それぞれが電圧Ci[0]を有する第1の入力および電圧Ci[1]を有する
第2の入力を有するN個の出力回路Ci(i=0,1,...(N−1))であ
って、論理積演算を「・」で表し、論理補数演算をオーバーラインを用いて表す
とき、それぞれの第1の入力がノードNiに接続され、その第2の入力がノード
Ni+1に接続されて、 【数6】 を示す出力電圧を提供する出力回路Ciを備えることを特徴とする前記請求項7
記載の優先エンコーダ。 - 【請求項13】 前記整数のセットIは、コスト関数を最小にすることを特
徴とする前記請求項12記載の優先エンコーダ。 - 【請求項14】 前記コスト関数は、 【数7】 とすることを特徴とする前記請求項13記載の優先エンコーダ。
- 【請求項15】 N+1個のノードのセット{N0,N1,...NN}; K+1個のトランジスタH[k](k=0,1,...K);および、 K+1のトランジスタのグループGk(k=0,1,...K)であって、そ
れぞれがnk−1のトランジスタGk[i](i=1,2,...(nk−1)
)を含むグループGk;を含む優先エンコーダにおいて: 整数のセットI={n0,n1,...nk}およびKが: ni≧1 【数8】 一部のniについてはni>1 を満たし; 各k=0,1,...K;i=1,2,...(nk−1)について、トラン
ジスタGk[i]は、順序付きのnk個の整数のセット Ik={Sk,(Sk+1),...(Sk+1−1)} のi番目の要素(左から右にゼロからカウントを開始する)をIk[i]とし
、I[k,i]=Ik[i]とするとき、ノードNI[k,i]に結合されて、
トランジスタ{Gk[j],j=i,(i+1),...(nk−1)}および
{H[j],j=(k+1),(k+2),...K}がオンのとき、ノードN
I[k,i]を「ロー」にプル・ダウンし、 それにおいて、Sk(k=0,1,...K+1)は、 【数9】 を満たし; 各k=0,1,...Kについて、トランジスタH[k]は、ノードNI[k
,0]に結合されて、トランジスタ{H[j],j=k,(k+1),...K
}がオンのとき、ノードNI[k,0]を「ロー」にプル・ダウンすることを特
徴とする優先エンコーダ。 - 【請求項16】 前記整数のセットIは、コスト関数を最小にすることを特
徴とする前記請求項15記載の優先エンコーダ。 - 【請求項17】 前記コスト関数は、 【数10】 とすることを特徴とする前記請求項16記載の優先エンコーダ。
- 【請求項18】 さらに: それぞれが電圧Ci[0]を有する第1の入力および電圧Ci[1]を有する
第2の入力を有するN個の出力回路Ci(i=0,1,...(N−1))であ
って、論理積演算を「・」で表し、論理補数演算をオーバーラインを用いて表す
とき、それぞれの第1の入力がノードNiに結合され、その第2の入力がノード
Ni+1に結合されて、 【数11】 を示す出力電圧を提供する出力回路Ciを備えることを特徴とする前記請求項1
5記載の優先エンコーダ。 - 【請求項19】 前記整数のセットIは、コスト関数を最小にすることを特
徴とする前記請求項18記載の優先エンコーダ。 - 【請求項20】 前記コスト関数は、 【数12】 とすることを特徴とする前記請求項19記載の優先エンコーダ。
- 【請求項21】 さらに: 各k=0,1,...K;i=1,2,...(nk−1)について、トラン
ジスタGk[i]がBI[k,i]に応答し; 各k=0,1,...Kについて、トランジスタH[k]が 積は論理積を表すものとした 【数13】 で与えられるAkに応答するとき、N+1ビットのバイナリ・ワード(BNB
N−1...B0)のリーディングゼロを示す少なくとも1つの電圧を提供する
出力回路を備えることを特徴とする前記請求項15記載の優先エンコーダ。 - 【請求項22】 さらに: 各k=0,1,...K;i=1,2,...(nk−1)について、トラン
ジスタGk[i]がBI[k,i]に応答し; 各k=0,1,...Kについて、トランジスタH[k]が 積は論理積を表すものとした 【数14】 で与えられるAkに応答するとき、N+1ビットのバイナリ・ワード(BNB
N−1...B0)のリーディング1を示す少なくとも1つの電圧を提供する出
力回路を備えることを特徴とする前記請求項15記載の優先エンコーダ。 - 【請求項23】 前記整数のセットIは、コスト関数を最小にし、それにお
いてコスト関数は、 【数15】 とすることを特徴とする前記請求項21記載の優先エンコーダ。 - 【請求項24】 前記整数のセットIは、コスト関数を最小にし、それにお
いてコスト関数は、 【数16】 とすることを特徴とする前記請求項22記載の優先エンコーダ。 - 【請求項25】 さらに: クロック信号が第1の状態にあるとき、セット{N0,N1,...NN}内
のすべてのノードをプル・アップする、クロックが印加される少なくとも1つの
トランジスタを備え、それにおいて、前記トランジスタH[k](k=0,1,
...K)およびGk[i](i=1,...(nk−1),k=0,1,..
.K)は、前記クロック信号が前記第1の状態の補となる第2の状態にあるとき
、トランジスタH[k](k=0,1,...K)およびGk[i](i=1,
...(nk−1),k=0,1,...K)のいずれがオンであるかに基づい
て、前記ノードのサブセットを「ロー」にプル・ダウンすべく前記ノードに結合
されることを特徴とする前記請求項15記載の優先エンコーダ。 - 【請求項26】 さらに: 各i=0,1,...Nについて、ノードNiに結合され、前記トランジスタ
H[k](k=0,1,...K)およびGk[i](i=1,...(nk−
1),k=0,1,...K)がノードNiを「ロー」にプル・ダウンしない場
合に限り、ノードNiを「ハイ」にプル・アップする少なくとも1つのトランジ
スタを備えることを特徴とする前記請求項15記載の優先エンコーダ。 - 【請求項27】 バイナリ・ワード(B7B6...B0)のリーディング
ゼロまたは1を示す少なくとも1つの電圧を提供する優先エンコーダにおいて: ブール値(B7B6...B0)の少なくとも1つのサブセットの論理積を示
す少なくとも1つの電圧を提供するトランジスタのバイパス・スタック;および
、 ブール値(B7B6...B0)の少なくとも1つの固有サブセットの論理積
を示す、少なくとも電圧を提供するトランジスタのブロークン・スタック; を含むことを特徴とする優先エンコーダ。 - 【請求項28】 第1、第2および第3のnMOSFETを含むバイパス・
スタック; 第1、第2および第3のグループを構成するnMOSFETのブロークン・ス
タック; を含む優先エンコーダにおいて: 前記第1のグループは、前記バイパス・スタック内の前記第1のnMOSFE
Tのソースに接続されるソースを有するnMOSFETを含み; 前記第2のグループは、互いに直列接続される第1および第2のnMOSFE
Tを含み、それにおいて前記第2のグループの前記第2のnMOSFETは、前
記バイパス・スタック内の前記第2のnMOSFETのソースに接続されるソー
スを有し;かつ、 前記第3のグループは、互いに直列接続される第1および第2のnMOSFE
Tを含み、それにおいて前記第3のグループの前記第2のnMOSFETは、前
記バイパス・スタック内の前記第3のnMOSFETのソースに接続されるソー
スを有することを特徴とする優先エンコーダ。
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