JP2002522198A - 混合装置 - Google Patents
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- G—PHYSICS
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- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
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- G05D11/13—Controlling ratio of two or more flows of fluid or fluent material characterised by the use of electric means
- G05D11/135—Controlling ratio of two or more flows of fluid or fluent material characterised by the use of electric means by sensing at least one property of the mixture
- G05D11/138—Controlling ratio of two or more flows of fluid or fluent material characterised by the use of electric means by sensing at least one property of the mixture by sensing the concentration of the mixture, e.g. measuring pH value
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- B01F23/60—Mixing solids with solids
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- B01F35/80—Forming a predetermined ratio of the substances to be mixed
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Abstract
(57)【要約】
混合装置および必要な均質性を有する混合物を供給する方法を提供する。この混合装置は、複数の材料を混合するための混合デバイス（１；１０１）を包含し、この混合デバイス（１；１０１）は、混合容器（７；１０７）を包含し、また、少なくとも一つの入口ポート（８、９；１０８、１０９、１１０）、出口ポート（１１；１１１）を包含する。混合装置は、さらに、混合デバイスの出口ポート（１１；１１１）に接続した供給ライン（１９；１１９）と、使用時にこの供給ライン（１９；１１９）を通る混合材料の組成を、供給ライン（１９；１１９）内の少なくとも一つのポイントでオンライン測定する少なくとも一つの測定装置（２３、２５、２７；１２３、１２５、１２７）とを包含する。
Description
【０００１】 本発明は、複数の材料、特に粉末材料を混合して必要な均質性を有する混合物
を供給する装置および方法に関する。
を供給する装置および方法に関する。
【０００２】 本発明は、必要な均質性を有する混合物を供給するための混合装置であって、
複数の材料を混合する混合デバイスであって、この混合デバイスは、混合容器を
含み、そして少なくとも一つの入口ポートおよび出口ポートを有するものと、混
合デバイスの出口ポートに接続した供給ラインと、使用時にこの供給ラインを通
る混合材料の組成を、供給ライン内の少なくとも一つのポイントでオンライン測
定するための少なくとも一つの測定装置とを包含する混合装置を提供する。
複数の材料を混合する混合デバイスであって、この混合デバイスは、混合容器を
含み、そして少なくとも一つの入口ポートおよび出口ポートを有するものと、混
合デバイスの出口ポートに接続した供給ラインと、使用時にこの供給ラインを通
る混合材料の組成を、供給ライン内の少なくとも一つのポイントでオンライン測
定するための少なくとも一つの測定装置とを包含する混合装置を提供する。
【０００３】 好ましくは、少なくとも一つの測定装置は、供給ライン内の複数のポイントで
、使用時に供給ラインを通過する混合材料の組成をオンライン測定するように構
成する。 好ましい実施例においては、混合装置は、供給ライン内の複数のポイントで、
使用時に供給ラインを通過する混合材料の組成をオンライン測定する複数の測定
装置を包含する。 好ましくは、一つの測定ポイントは、供給ラインの入口端にある。 好ましくは、一つの測定ポイントは、供給ラインの出口端にある。
、使用時に供給ラインを通過する混合材料の組成をオンライン測定するように構
成する。 好ましい実施例においては、混合装置は、供給ライン内の複数のポイントで、
使用時に供給ラインを通過する混合材料の組成をオンライン測定する複数の測定
装置を包含する。 好ましくは、一つの測定ポイントは、供給ラインの入口端にある。 好ましくは、一つの測定ポイントは、供給ラインの出口端にある。
【０００４】 特に好ましい実施例においては、一つの測定ポイントが、供給ラインの入口端
にあり、別の測定ポイントが、供給ラインの出口端にある。 好ましくは、混合装置は、さらに、必要な均質性を持たないと測定された、使
用時に供給ラインを通過している混合材料を、供給ライン内の少なくとも一つの
ポイントから選択的に逸らせる少なくとも一つの流れ偏向機構を包含する。 より好ましくは、少なくとも一つの偏向ポイントは、最上流側の測定ポイント
の下流側にある。
にあり、別の測定ポイントが、供給ラインの出口端にある。 好ましくは、混合装置は、さらに、必要な均質性を持たないと測定された、使
用時に供給ラインを通過している混合材料を、供給ライン内の少なくとも一つの
ポイントから選択的に逸らせる少なくとも一つの流れ偏向機構を包含する。 より好ましくは、少なくとも一つの偏向ポイントは、最上流側の測定ポイント
の下流側にある。
【０００５】 好ましい実施例においては、必要な均質性を持たないと測定された、使用時に
供給ラインを通過している混合材料を、供給ラインの複数のポイントのうち一つ
またはそれ以上のポイントから選択的に逸らす複数の流れ偏向機構を包含する。 好ましくは、各偏向ポイントは、それぞれの測定ポイントの下流側にある。 特に好ましい実施例においては、各流れ偏向機構が、供給ライン内に配置され
た弁を包含し、この弁は、入口ポートと、供給ラインにおいて接続した第１の出
口ポートと、必要な均質性を持たないと測定された混合材料を、使用時に、逸ら
す第２の出口ポートとを包含する。
供給ラインを通過している混合材料を、供給ラインの複数のポイントのうち一つ
またはそれ以上のポイントから選択的に逸らす複数の流れ偏向機構を包含する。 好ましくは、各偏向ポイントは、それぞれの測定ポイントの下流側にある。 特に好ましい実施例においては、各流れ偏向機構が、供給ライン内に配置され
た弁を包含し、この弁は、入口ポートと、供給ラインにおいて接続した第１の出
口ポートと、必要な均質性を持たないと測定された混合材料を、使用時に、逸ら
す第２の出口ポートとを包含する。
【０００６】 好ましくは、混合装置は、さらに、必要な均質性を持たないと測定された混合
材料を、使用時に、そこに逸らす転送ラインを包含する。 より好ましくは、転送ラインの少なくとも１部は、そこへ逸らされた混合材料
がそこを通る重力流によって流れることができるように構成してある。 好ましくは、各弁の第２の出口ポートは、転送ラインに接続してある。 好ましくは、混合装置は、さらに、混合材料を、供給ラインを通して流動させ
る流れ制御機構を包含する。
材料を、使用時に、そこに逸らす転送ラインを包含する。 より好ましくは、転送ラインの少なくとも１部は、そこへ逸らされた混合材料
がそこを通る重力流によって流れることができるように構成してある。 好ましくは、各弁の第２の出口ポートは、転送ラインに接続してある。 好ましくは、混合装置は、さらに、混合材料を、供給ラインを通して流動させ
る流れ制御機構を包含する。
【０００７】 一実施例においては、流れ制御機構は、供給ラインを通して混合材料を送る送
り機構である。 別の実施例においては、供給ラインは、そこを通る重力流によって混合材料を
流動させることができるように構成してあり、流れ制御機構は、供給ラインを通
して混合材料を選択的に流動させ得る弁である。 好ましくは、供給ラインは、ほぼ垂直方向に向いている。
り機構である。 別の実施例においては、供給ラインは、そこを通る重力流によって混合材料を
流動させることができるように構成してあり、流れ制御機構は、供給ラインを通
して混合材料を選択的に流動させ得る弁である。 好ましくは、供給ラインは、ほぼ垂直方向に向いている。
【０００８】 好ましくは、混合装置は、さらに、混合デバイスの混合容器で混合すべき材料
を別々に収容する複数の供給源容器と、混合した材料の混合物を収容する別の供
給源容器とを包含し、供給源容器は、それぞれの送りラインによって混合デバイ
スの前記少なくとも一つの入口ポートに接続してあり、送りラインの各々が、混
合すべきそれぞれの材料および混合すべき材料の混合物の単位時間あたりの量を
混合デバイスに計量給送するように作動可能な流れ制御機構を包含する。 より好ましくは、混合装置は、さらに、別の供給源容器に接続した送りライン
を使用時に通過している混合材料の組成を測定するための、別の供給源容器に接
続した送りライン内に設けた別の測定装置を包含する。
を別々に収容する複数の供給源容器と、混合した材料の混合物を収容する別の供
給源容器とを包含し、供給源容器は、それぞれの送りラインによって混合デバイ
スの前記少なくとも一つの入口ポートに接続してあり、送りラインの各々が、混
合すべきそれぞれの材料および混合すべき材料の混合物の単位時間あたりの量を
混合デバイスに計量給送するように作動可能な流れ制御機構を包含する。 より好ましくは、混合装置は、さらに、別の供給源容器に接続した送りライン
を使用時に通過している混合材料の組成を測定するための、別の供給源容器に接
続した送りライン内に設けた別の測定装置を包含する。
【０００９】 好ましくは、少なくとも一つの測定装置のうちの少なくとも一つは、分光器式
測定装置である。 より好ましくは、分光器式測定装置は、反射装置、トランスフレクタンス（tr
ansflectance）装置または透過装置のうちの一つである。 一つの好ましい実施例においては、分光器式測定装置は、赤外分光光度計であ
る。 別の好ましい実施例においては、分光器式測定装置は、近赤外分光光度計であ
る。 また別の好ましい実施例においては、分光器式測定装置は、Ｘ線分光光度計で
ある。 さらに別の好ましい実施例においては、分光器式測定装置は、可視光分光光度
計である。 またさらに別の好ましい実施例においては、分光器式測定装置は、ラマン分光
光度計である。 またさらに別の好ましい実施例においては、分光器式測定装置は、マイクロ波
分光光度計である。 またさらに別の好ましい実施例においては、分光器式測定装置は、核磁気共鳴
分光光度計である。
測定装置である。 より好ましくは、分光器式測定装置は、反射装置、トランスフレクタンス（tr
ansflectance）装置または透過装置のうちの一つである。 一つの好ましい実施例においては、分光器式測定装置は、赤外分光光度計であ
る。 別の好ましい実施例においては、分光器式測定装置は、近赤外分光光度計であ
る。 また別の好ましい実施例においては、分光器式測定装置は、Ｘ線分光光度計で
ある。 さらに別の好ましい実施例においては、分光器式測定装置は、可視光分光光度
計である。 またさらに別の好ましい実施例においては、分光器式測定装置は、ラマン分光
光度計である。 またさらに別の好ましい実施例においては、分光器式測定装置は、マイクロ波
分光光度計である。 またさらに別の好ましい実施例においては、分光器式測定装置は、核磁気共鳴
分光光度計である。
【００１０】 好ましくは、少なくとも一つの測定装置のうち少なくとも一つは、偏光計であ
る。 好ましくは、混合デバイスの混合容器は非回転容器である。 一実施例においては、混合デバイスは、連続ミキサである。 別の実施例においては、混合デバイスは、バッチ・ミキサである。
る。 好ましくは、混合デバイスの混合容器は非回転容器である。 一実施例においては、混合デバイスは、連続ミキサである。 別の実施例においては、混合デバイスは、バッチ・ミキサである。
【００１１】 本発明は、また、必要な均質性を有する混合物を供給する方法であって、混合
デバイスの混合容器に混合すべき複数の材料を導入する段階と、混合容器内で複
数の材料を混合する段階と、混合デバイスの出口ポートから供給ラインを通して
混合材料を供給する段階と、供給ライン内の少なく一つのポイントで供給ライン
を通過している混合材料の組成をオンライン測定する段階とを包含することを特
徴とする方法を提供する。
デバイスの混合容器に混合すべき複数の材料を導入する段階と、混合容器内で複
数の材料を混合する段階と、混合デバイスの出口ポートから供給ラインを通して
混合材料を供給する段階と、供給ライン内の少なく一つのポイントで供給ライン
を通過している混合材料の組成をオンライン測定する段階とを包含することを特
徴とする方法を提供する。
【００１２】 好ましい実施例において、本方法は、供給ライン内の複数のポイントで、供給
ラインを通過している混合材料の組成をオンライン測定する段階を包含する。 好ましくは、一つの測定ポイントは、供給ラインの入口端にある。 好ましくは、一つの測定ポイントは、供給ラインの出口端にある。 特に好ましい実施例においては、一つの測定ポイントが、供給ラインの入口端
にあり、別の測定ポイントが、供給ラインの出口端にある。 好ましくは、本方法は、さらに、供給ライン内の少なくとも一つのポイントか
ら、必要な均質性を持たないと測定された、供給ラインを通過している混合材料
を逸らす段階を包含する。 より好ましくは、少なくとも一つの偏向ポイントは、最上流側の測定ポイント
の下流側にある。
ラインを通過している混合材料の組成をオンライン測定する段階を包含する。 好ましくは、一つの測定ポイントは、供給ラインの入口端にある。 好ましくは、一つの測定ポイントは、供給ラインの出口端にある。 特に好ましい実施例においては、一つの測定ポイントが、供給ラインの入口端
にあり、別の測定ポイントが、供給ラインの出口端にある。 好ましくは、本方法は、さらに、供給ライン内の少なくとも一つのポイントか
ら、必要な均質性を持たないと測定された、供給ラインを通過している混合材料
を逸らす段階を包含する。 より好ましくは、少なくとも一つの偏向ポイントは、最上流側の測定ポイント
の下流側にある。
【００１３】 好ましい実施例において、本方法は、供給ライン内の複数のポイントのうち一
つまたはそれ以上から、必要な均質性を持たないと測定された、供給ラインを通
過している混合材料を選択的に逸らす段階を包含する。 好ましくは、各偏向ポイントは、それぞれの測定ポイントの下流側にある。 一実施例においては、混合すべき材料は、混合容器に連続的に導入する。 好ましくは、本方法は、さらに、供給ラインから逸らされた混合材料を別の容
器へ転送する段階を包含する。 より好ましくは、混合デバイスの混合容器に混合すべき材料を導入する段階は
、別の容器からの混合材料およびそれぞれの混合すべき材料の量を、混合デバイ
スに対する単位時間につき選択的に計量する段階を包含し、さらに、別の容器か
ら計量した混合材料の組成をオンライン測定し、混合すべきそれぞれの材料の量
を、別の容器から計量した混合材料に加えて混合デバイスに別々に選択的に計量
分配して必要な組成を達成することができるようにする段階を包含する。
つまたはそれ以上から、必要な均質性を持たないと測定された、供給ラインを通
過している混合材料を選択的に逸らす段階を包含する。 好ましくは、各偏向ポイントは、それぞれの測定ポイントの下流側にある。 一実施例においては、混合すべき材料は、混合容器に連続的に導入する。 好ましくは、本方法は、さらに、供給ラインから逸らされた混合材料を別の容
器へ転送する段階を包含する。 より好ましくは、混合デバイスの混合容器に混合すべき材料を導入する段階は
、別の容器からの混合材料およびそれぞれの混合すべき材料の量を、混合デバイ
スに対する単位時間につき選択的に計量する段階を包含し、さらに、別の容器か
ら計量した混合材料の組成をオンライン測定し、混合すべきそれぞれの材料の量
を、別の容器から計量した混合材料に加えて混合デバイスに別々に選択的に計量
分配して必要な組成を達成することができるようにする段階を包含する。
【００１４】 別の実施例において、混合すべき材料は、混合デバイスの混合容器にバッチ導
入する。 好ましくは、混合デバイスの混合容器は、非回転容器である。 以下、本発明の好ましい実施例を、添付図面を参照しながら説明する。 図１、２は、本発明の第１実施例による混合装置あるいはその構成要素を示す
。
入する。 好ましくは、混合デバイスの混合容器は、非回転容器である。 以下、本発明の好ましい実施例を、添付図面を参照しながら説明する。 図１、２は、本発明の第１実施例による混合装置あるいはその構成要素を示す
。
【００１５】 この混合装置は、材料を混合するための混合デバイス１（この実施例において
は、非回転混合容器を有するバッチ・ミキサ、特に旋回スクリュウ・ミキサのよ
うな対流ミキサ）と、混合デバイス１によって混合すべき第１の材料を収容する
第１の供給源容器３と、混合デバイス１によって混合すべき第２の材料を収容す
る第２の供給源容器５とを包含する。混合デバイス１は、混合容器７を包含し、
そして、第１、第２の入口ポート８、９および出口ポート１１を有する。混合デ
バイス１の第１入口ポート８は、第１の送りライン１２によって第１供給源容器
３に接続している。この第１送りライン１２は、混合デバイス１に所定量の第１
材料を計量給送する第１送り機構１３（代表的には空気圧式または機械式装置）
を包含する。混合デバイス１の第２入口ポート９は、第２送りライン１４によっ
て第２供給源容器５に接続しており、この第２送りライン１４は、混合デバイス
１に所定量の第２材料を送るための第２送り機構１５（代表的には、空気圧式ま
たは機械式装置）を包含する。
は、非回転混合容器を有するバッチ・ミキサ、特に旋回スクリュウ・ミキサのよ
うな対流ミキサ）と、混合デバイス１によって混合すべき第１の材料を収容する
第１の供給源容器３と、混合デバイス１によって混合すべき第２の材料を収容す
る第２の供給源容器５とを包含する。混合デバイス１は、混合容器７を包含し、
そして、第１、第２の入口ポート８、９および出口ポート１１を有する。混合デ
バイス１の第１入口ポート８は、第１の送りライン１２によって第１供給源容器
３に接続している。この第１送りライン１２は、混合デバイス１に所定量の第１
材料を計量給送する第１送り機構１３（代表的には空気圧式または機械式装置）
を包含する。混合デバイス１の第２入口ポート９は、第２送りライン１４によっ
て第２供給源容器５に接続しており、この第２送りライン１４は、混合デバイス
１に所定量の第２材料を送るための第２送り機構１５（代表的には、空気圧式ま
たは機械式装置）を包含する。
【００１６】 混合装置は、さらに、処理機器（たとえば、錠剤化機械）に混合材料を供給す
るために混合デバイス１の出口ポート１１に接続した供給ライン１９を包含する
。この実施例においては、供給ライン１９の部分は水平方向に向いており、混合
デバイス１の出口ポート１１を出た混合材料が、重力流によって供給ライン１９
を流れることはできない。供給ライン１９は、そこを通して材料を送るための送
り機構２１（代表的には、空気圧式または機械式装置）を包含する。供給ライン
１９は、さらに、その全長にわたって、混合材料が通過するときに供給ライン１
９内の複数のポイントで混合材料の組成を測定するための複数の測定装置（この
実施例においては、第１、第２、第３の測定装置２３、２５、２７）を包含する
。この実施例においては、第１測定装置２３は、供給ライン１９の入口端に位置
しており、第３測定装置２７は、供給ライン１９の出口端に位置しており、それ
によって、混合材料が供給ライン１９に流入すると直ちに、そして、処理機器に
送られる直前に混合材料を確実に測定することができる。供給ライン１９は、さ
らに、複数の三方向弁（この実施例においては、第１、第２、第３の弁２９、３
１、３３）を包含し、各三方向弁は、第１、第２、第３の測定装置２３、２５、
２７のそれぞれの直ぐ下流側に配置してある。第１、第２、第３の弁２９、３１
、３３は、各々、入口ポート２９ａ、３１ａ、３３ａ、第１出口ポート２９ｂ、
３１ｂ、３３ｂおよび第２出口ポート２９ｃ、３１ｃ、３３ｃを包含し、入口ポ
ート２９ａ、３１ａ、３３ａおよび第１出口ポート２９ｂ、３１ｂ、３３ｂは、
供給ライン１９内にあり、第２出口ポート２９ｃ、３１ｃ、３３ｃは、必要な均
質性を有していない混合材料を廃物容器に移すための廃物ライン３５に接続して
ある。廃物ライン３５は、廃物容器に不均質な混合材料を送るための送り機構３
６を包含する。この実施例においては、廃物ライン３５の、送り機構３６の上流
側の部分は、下向きの構成要素を有し、不均質な混合材料は、重力流によって送
り機構３６に流れる。
るために混合デバイス１の出口ポート１１に接続した供給ライン１９を包含する
。この実施例においては、供給ライン１９の部分は水平方向に向いており、混合
デバイス１の出口ポート１１を出た混合材料が、重力流によって供給ライン１９
を流れることはできない。供給ライン１９は、そこを通して材料を送るための送
り機構２１（代表的には、空気圧式または機械式装置）を包含する。供給ライン
１９は、さらに、その全長にわたって、混合材料が通過するときに供給ライン１
９内の複数のポイントで混合材料の組成を測定するための複数の測定装置（この
実施例においては、第１、第２、第３の測定装置２３、２５、２７）を包含する
。この実施例においては、第１測定装置２３は、供給ライン１９の入口端に位置
しており、第３測定装置２７は、供給ライン１９の出口端に位置しており、それ
によって、混合材料が供給ライン１９に流入すると直ちに、そして、処理機器に
送られる直前に混合材料を確実に測定することができる。供給ライン１９は、さ
らに、複数の三方向弁（この実施例においては、第１、第２、第３の弁２９、３
１、３３）を包含し、各三方向弁は、第１、第２、第３の測定装置２３、２５、
２７のそれぞれの直ぐ下流側に配置してある。第１、第２、第３の弁２９、３１
、３３は、各々、入口ポート２９ａ、３１ａ、３３ａ、第１出口ポート２９ｂ、
３１ｂ、３３ｂおよび第２出口ポート２９ｃ、３１ｃ、３３ｃを包含し、入口ポ
ート２９ａ、３１ａ、３３ａおよび第１出口ポート２９ｂ、３１ｂ、３３ｂは、
供給ライン１９内にあり、第２出口ポート２９ｃ、３１ｃ、３３ｃは、必要な均
質性を有していない混合材料を廃物容器に移すための廃物ライン３５に接続して
ある。廃物ライン３５は、廃物容器に不均質な混合材料を送るための送り機構３
６を包含する。この実施例においては、廃物ライン３５の、送り機構３６の上流
側の部分は、下向きの構成要素を有し、不均質な混合材料は、重力流によって送
り機構３６に流れる。
【００１７】 混合装置は、さらに、混合デバイス１、第１供給源容器３に接続した第１送り
機構１３、第２供給源容器５に接続した第２送り機構１５、供給ライン１９にお
ける送り機構２１、供給ライン１９における第１、第２、第３の測定装置２３、
２５、２７、供給ライン１９における第１、第２、第３の弁２９、３１、３３お
よび廃物ライン３５における送り機構３６の各々の動作を制御するためのコント
ローラ３７（代表的には、コンピュータまたはプログラム可能な論理コントロー
ラ（ＰＬＣ））を包含する。
機構１３、第２供給源容器５に接続した第２送り機構１５、供給ライン１９にお
ける送り機構２１、供給ライン１９における第１、第２、第３の測定装置２３、
２５、２７、供給ライン１９における第１、第２、第３の弁２９、３１、３３お
よび廃物ライン３５における送り機構３６の各々の動作を制御するためのコント
ローラ３７（代表的には、コンピュータまたはプログラム可能な論理コントロー
ラ（ＰＬＣ））を包含する。
【００１８】 図２に示すように、第１、第２、第３の測定装置２３、２５、２７の各々は、
同じ構造の反射測定装置であり、測定プローブ３９（この実施例においては、反
射プローブ）を包含する。この測定プローブ３９は、供給ライン１９の周壁１９
ａを貫通しており、測定プローブ３９の、放射線を発し、受ける遠位端４１は、
供給ライン１９内に向いている。こうして、供給ライン１９を通過している混合
材料からの反射を測定することができる。測定装置２３、２５、２７の各々は、
さらに、電磁放射線を発生するための放射線発生ユニット４３と、供給ライン１
９内の混合材料から乱反射してきた放射線を検出するための検出器ユニット４５
とを包含する。この実施例においては、放射線発生ユニット４３は、以下の順序
で、放射線源４７と、合焦レンズ４９と、フィルタ配置５１と、合焦、濾過され
た放射線を測定プローブ３９の遠位端４１に導くための少なくとも一つのファイ
バ・ケーブル５３とを包含する。この実施例においては、放射線源４７は、赤外
線源に見える広域スペクトル、たとえば、タングステン・ハロゲン・ランプであ
り、４００〜２５００ナノメートルの近赤外線間隔で放射線を放出する。フィル
タ配置５１は、複数のフィルタからなり、各フィルタは、それぞれの単一の周波
数または周波数バンドの放射線の通過を許すようになっている。他の実施例にお
いては、放射線源４７は、可視光源（たとえば、アーク・ランプ）、Ｘ線源、レ
ーザ（たとえば、ダイオード・レーザ）または発光ダイオード（ＬＥＤ）の任意
のものでよく、フィルタ配置５１の代わりに、フーリエ変換式のモノクロメータ
または分光計を用いてもよい。この実施例においては、検出器ユニット４５は、
以下の順序で、ファイバ・ケーブル５５のアレイ（それぞれの遠位端が、放出さ
れた放射線を通す少なくとも一つのファイバ・ケーブル５３の遠位端まわりに配
置してある）と、ファイバ・ケーブル５５に接続した検出器５７とを包含する。
検出器５７は、好ましくは、積分検出器（たとえば、Ｓｉ、ＰｂＳまたはIｎ−
Ｇａ−Ａｓ積分検出器）、ダイオード・アレイ検出器（たとえば、ＳｉまたはI
ｎ−Ｇａ−Ａｓダイオード・アレイ検出器）あるいは一次元または二次元のアレ
イ検出器（たとえば、ＣＭＯＳチップ、ＣＣＤチップまたは焦点面アレイ）の一
つである。ファイバ・ケーブル５５の遠位端は、好ましくは、少なくとも一つの
ファイバ・ケーブル５３の遠位端から間隔を置いて配置されており、ファイバ・
ケーブル５５に達する正反射または漂遊エネルギの影響を最小限に抑える。使用
に際して、検出器５７は、混合材料の組成および発生した放射線の周波数に応じ
て信号を生成することになる。これらの信号は、増幅、濾過、デジタル化され、
コントローラ３７に送られる。
同じ構造の反射測定装置であり、測定プローブ３９（この実施例においては、反
射プローブ）を包含する。この測定プローブ３９は、供給ライン１９の周壁１９
ａを貫通しており、測定プローブ３９の、放射線を発し、受ける遠位端４１は、
供給ライン１９内に向いている。こうして、供給ライン１９を通過している混合
材料からの反射を測定することができる。測定装置２３、２５、２７の各々は、
さらに、電磁放射線を発生するための放射線発生ユニット４３と、供給ライン１
９内の混合材料から乱反射してきた放射線を検出するための検出器ユニット４５
とを包含する。この実施例においては、放射線発生ユニット４３は、以下の順序
で、放射線源４７と、合焦レンズ４９と、フィルタ配置５１と、合焦、濾過され
た放射線を測定プローブ３９の遠位端４１に導くための少なくとも一つのファイ
バ・ケーブル５３とを包含する。この実施例においては、放射線源４７は、赤外
線源に見える広域スペクトル、たとえば、タングステン・ハロゲン・ランプであ
り、４００〜２５００ナノメートルの近赤外線間隔で放射線を放出する。フィル
タ配置５１は、複数のフィルタからなり、各フィルタは、それぞれの単一の周波
数または周波数バンドの放射線の通過を許すようになっている。他の実施例にお
いては、放射線源４７は、可視光源（たとえば、アーク・ランプ）、Ｘ線源、レ
ーザ（たとえば、ダイオード・レーザ）または発光ダイオード（ＬＥＤ）の任意
のものでよく、フィルタ配置５１の代わりに、フーリエ変換式のモノクロメータ
または分光計を用いてもよい。この実施例においては、検出器ユニット４５は、
以下の順序で、ファイバ・ケーブル５５のアレイ（それぞれの遠位端が、放出さ
れた放射線を通す少なくとも一つのファイバ・ケーブル５３の遠位端まわりに配
置してある）と、ファイバ・ケーブル５５に接続した検出器５７とを包含する。
検出器５７は、好ましくは、積分検出器（たとえば、Ｓｉ、ＰｂＳまたはIｎ−
Ｇａ−Ａｓ積分検出器）、ダイオード・アレイ検出器（たとえば、ＳｉまたはI
ｎ−Ｇａ−Ａｓダイオード・アレイ検出器）あるいは一次元または二次元のアレ
イ検出器（たとえば、ＣＭＯＳチップ、ＣＣＤチップまたは焦点面アレイ）の一
つである。ファイバ・ケーブル５５の遠位端は、好ましくは、少なくとも一つの
ファイバ・ケーブル５３の遠位端から間隔を置いて配置されており、ファイバ・
ケーブル５５に達する正反射または漂遊エネルギの影響を最小限に抑える。使用
に際して、検出器５７は、混合材料の組成および発生した放射線の周波数に応じ
て信号を生成することになる。これらの信号は、増幅、濾過、デジタル化され、
コントローラ３７に送られる。
【００１９】 図３〜５は、上記の混合装置のための変形例の測定装置２３、２５、２７を示
している。これらの変形例の測定装置２３、２５、２７は、構造的に非常に類似
しており、上記の混合装置における測定装置２３、２５、２７と同じ要領で作動
する。それ故、説明を不必要に重複させないために、これら変形例の測定装置２
３、２５、２７の構造上の差異のみを以下に説明する。
している。これらの変形例の測定装置２３、２５、２７は、構造的に非常に類似
しており、上記の混合装置における測定装置２３、２５、２７と同じ要領で作動
する。それ故、説明を不必要に重複させないために、これら変形例の測定装置２
３、２５、２７の構造上の差異のみを以下に説明する。
【００２０】 図３は、トランスフレクティブ（transflective）測定装置として作動する第
１変形例の測定装置２３、２５、２７を示している。この測定装置２３、２５、
２７は、反射面５９（代表的には鏡面）が、少なくとも一つのファイバ・ケーブ
ル５３によって放出される放射線の経路の反対側で、供給ライン１９内（この実
施例においては、供給ライン１９の内側）に配置してあるという点で、最初に述
べた測定装置２３、２５、２７と異なる。使用に際して、少なくとも一つのファ
イバ・ケーブル５３の発した放射線は、供給ライン１９内の材料を通過し、反射
表面５９によってファイバ・ケーブル５５へ反射して戻される。
１変形例の測定装置２３、２５、２７を示している。この測定装置２３、２５、
２７は、反射面５９（代表的には鏡面）が、少なくとも一つのファイバ・ケーブ
ル５３によって放出される放射線の経路の反対側で、供給ライン１９内（この実
施例においては、供給ライン１９の内側）に配置してあるという点で、最初に述
べた測定装置２３、２５、２７と異なる。使用に際して、少なくとも一つのファ
イバ・ケーブル５３の発した放射線は、供給ライン１９内の材料を通過し、反射
表面５９によってファイバ・ケーブル５５へ反射して戻される。
【００２１】 図４は、透過測定装置として作動する第２変形例の測定装置２３、２５、２７
を示している。この測定装置２３、２５、２７は、ファイバ・ケーブル５５の遠
位端が、供給ライン１９の、少なくとも一つのファイバ・ケーブル５３の放出す
る放射線の経路の反対側（この実施例においては、供給ライン１９の内側）に配
置されているという点で、最初に述べた測定装置２３、２５、２７と異なる。使
用に際して、少なくとも一つのファイバ・ケーブル５３の発した放射線は、供給
ライン１９内の材料を通過し、反対側のファイバ・ケーブル５５によって受け取
られる。
を示している。この測定装置２３、２５、２７は、ファイバ・ケーブル５５の遠
位端が、供給ライン１９の、少なくとも一つのファイバ・ケーブル５３の放出す
る放射線の経路の反対側（この実施例においては、供給ライン１９の内側）に配
置されているという点で、最初に述べた測定装置２３、２５、２７と異なる。使
用に際して、少なくとも一つのファイバ・ケーブル５３の発した放射線は、供給
ライン１９内の材料を通過し、反対側のファイバ・ケーブル５５によって受け取
られる。
【００２２】 図５は、反射測定装置として作動する第３の変形例の測定装置２３、２５、２
７を示している。この測定装置２３、２５、２７は、測定プローブ３９が供給ラ
イン１９中に延びていないという点でのみ、最初に述べた測定装置２３、２５、
２７と異なる。その代わりに、供給ライン１９の周壁１９ａが、測定装置２３、
２５、２７によって使用される放射線にとって透明あるいは少なくとも半透明で
ある窓を包含する。もちろん、図３、４に関連して説明した測定装置２３、２５
、２７もこのように改造できることは了解されたい。
７を示している。この測定装置２３、２５、２７は、測定プローブ３９が供給ラ
イン１９中に延びていないという点でのみ、最初に述べた測定装置２３、２５、
２７と異なる。その代わりに、供給ライン１９の周壁１９ａが、測定装置２３、
２５、２７によって使用される放射線にとって透明あるいは少なくとも半透明で
ある窓を包含する。もちろん、図３、４に関連して説明した測定装置２３、２５
、２７もこのように改造できることは了解されたい。
【００２３】 使用に際して、それぞれ第１、第２供給源容器３、５に接続した第１、第２送
り機構１３、１５は、コントローラ３７によって制御され、第１、第２材料の量
を必要な比率で混合デバイス１の混合容器７に計量給送する。コントローラ３７
の制御の下に、混合デバイス１は、次に、所定時間にわたって作動させられる。
この時間は、混合されつつある材料に依存する。このような混合の後、必要な均
質性を有する第１、第２材料の混合物が得られるはずである。しかしながら、混
合時間が不充分であったり、あるいは、或る種の環境では必ずしもこうはならな
いことがあり、混合材料の大部分が必要な均質性を持っていながらも、必要な均
質性を持たない混合材料内にポケットが存在する可能性がある。コントローラ３
７の制御の下に、供給ライン１９における第１、第２、第３の弁２９、３１、３
３を、それぞれの入口ポート２９ａ、３、３３ａと第１出口ポート２９ｂ、３１
ｂ、３３ｂの間を連通するようにセットした場合、供給ライン１９の送り機構２
１が作動させられて、供給ライン１９を通して混合デバイス１の混合容器７から
混合材料を送る。混合材料が供給ライン１９を通過するにつれて、混合材料は、
まず、第１測定装置２３によって測定される。第１測定装置２３を通過している
混合材料が必要な均質性を有するものとして測定された場合、混合材料は、さら
に、送り機構２１によって供給ライン１９を通して送られる。しかしながら、第
１測定装置２３を通過している混合材料が必要な均質性を持っていないと測定さ
れた場合、コントローラ３７の制御の下に、供給ライン１９の第１弁２９が、入
口ポート２９ａと第２出口ポート２９ｃの間を連通させるようにセットされ、必
要な均質性を持たない混合材料を廃物ライン３５内に逸らす。廃物ライン３５に
おける送り機構３６が、所定時間作動させられ、混合材料を連続的に第１測定装
置２３によって測定する。この時間中に、第１測定装置２３を通過している混合
材料が必要な均質性を有すると測定された場合、コントローラ３７の制御の下に
、廃物ライン３５の送り機構３６が停止させられ、そして、供給ライン１９の第
１弁２９が、供給ライン１９を通る流路を復元するように入口ポート２９ａ、第
１出口ポート２９ｂ間を連絡するようにセットされる。しかしながら、この時間
以後、第１測定装置２３を通過している混合材料が必要な均質性を持たないと測
定された場合には、コントローラ３７の制御の下に、供給ライン１９の送り機構
２１が停止させられ、廃物ライン３５の送り機構３６が停止させられ、入口ポー
ト２９ａ、第１出口ポート２９ｂ間を連絡するように供給ライン１９の第１弁２
９がセットされ、さらなる所定時間にわたって、混合デバイス１が作動させられ
る。このようなさらなる混合の後、上記の段階が繰り返される。第１測定装置２
３を通過している混合材料が必要な均質性を有すると測定されたとき、混合材料
は、送り機構２１によって供給ライン１９を通してさらに送られる。混合材料が
さらに供給ライン１９を通して送られるにつれて、混合材料は、第１測定装置２
３の下流側にある第２測定装置２５によって測定される。第１、第２測定装置２
３、２５を通過している混合材料が必要な均質性を有すると測定された場合、混
合材料は、送り機構２１によって供給ライン１９を通してさらに送られる。しか
しながら、第２測定装置２５を通過している混合材料が、もはや必要な均質性を
持っていないと測定された場合（たとえば、流動中に分離が生じたために時に生
じる可能性がある）、コントローラ３７の制御の下に、供給ライン１９の第２弁
３１が、入口ポート３１ａ、第２出口ポート３１ｃ間を連絡するようにセットさ
れ、必要な均質性を持っていない混合材料を廃物ライン３５に逸らすと共に、廃
物ライン３５の送り機構３６が作動させられ、混合材料を第２測定装置２５によ
って連続的に測定する。第２測定装置２５を通過している混合材料が必要な均質
性を有すると再び測定されたときには、コントローラ３７の制御の下に、廃物ラ
イン３５の送り機構３６が停止させられ、そして、入口ポート３１ａ、第１出口
ポート３１ｂ間を連通させて供給ライン１９を通る流路を復元するように供給ラ
イン１９の第２弁３１がセットされる。第１、第２測定装置２３、２５を通過し
ている混合材料が必要な均質性を有すると測定されたときには、混合材料は、送
り機構２１によって供給ライン１９を通してさらに送られる。混合材料が供給ラ
イン１９を通してさらに送られるにつれて、混合材料は、第２測定装置２５の下
流側にある第３の測定装置２７によって測定される。第１、第２、第３の測定装
置２３、２５、２７を通過している混合材料が必要な均質性を有すると測定され
た場合には、混合材料は、送り機構２１によって供給ライン１９を通してさらに
処理機器に送られる。しかしながら、第３の測定装置２７を通過している混合材
料が必要な均質性をもはや持たないと測定された場合には、コントローラ３７の
制御の下に、供給ライン１９の第３弁３３が、入口ポート３３ａ、第２出口ポー
ト３３ｃ間を連通させて、必要な均質性を持たない混合材料を廃物ライン３５に
逸らせるようにセットされ、そして、廃物ライン３５の送り機構３６が作動させ
られ、混合材料が第３測定装置２７によって連続的に測定される。第３の測定装
置２７を通過している混合材料が必要な均質性を有すると再び測定されたときに
は、コントローラ３７の制御の下に、廃物ライン３５の送り機構３６が停止させ
られ、そして、供給ライン１９の第３の弁３３が、入口ポート３３ａ、第１出口
ポート３３ｂ間を連通させて供給ライン１９を通る流路を復元させるようにセッ
トされる。第１、第２、第３の測定装置２３、２５、２７を通過している混合材
料が必要な均質性を有すると測定されたときには、混合材料は、送り機構２１に
よって供給ライン１９を通して処理機器にさらに送られる。
り機構１３、１５は、コントローラ３７によって制御され、第１、第２材料の量
を必要な比率で混合デバイス１の混合容器７に計量給送する。コントローラ３７
の制御の下に、混合デバイス１は、次に、所定時間にわたって作動させられる。
この時間は、混合されつつある材料に依存する。このような混合の後、必要な均
質性を有する第１、第２材料の混合物が得られるはずである。しかしながら、混
合時間が不充分であったり、あるいは、或る種の環境では必ずしもこうはならな
いことがあり、混合材料の大部分が必要な均質性を持っていながらも、必要な均
質性を持たない混合材料内にポケットが存在する可能性がある。コントローラ３
７の制御の下に、供給ライン１９における第１、第２、第３の弁２９、３１、３
３を、それぞれの入口ポート２９ａ、３、３３ａと第１出口ポート２９ｂ、３１
ｂ、３３ｂの間を連通するようにセットした場合、供給ライン１９の送り機構２
１が作動させられて、供給ライン１９を通して混合デバイス１の混合容器７から
混合材料を送る。混合材料が供給ライン１９を通過するにつれて、混合材料は、
まず、第１測定装置２３によって測定される。第１測定装置２３を通過している
混合材料が必要な均質性を有するものとして測定された場合、混合材料は、さら
に、送り機構２１によって供給ライン１９を通して送られる。しかしながら、第
１測定装置２３を通過している混合材料が必要な均質性を持っていないと測定さ
れた場合、コントローラ３７の制御の下に、供給ライン１９の第１弁２９が、入
口ポート２９ａと第２出口ポート２９ｃの間を連通させるようにセットされ、必
要な均質性を持たない混合材料を廃物ライン３５内に逸らす。廃物ライン３５に
おける送り機構３６が、所定時間作動させられ、混合材料を連続的に第１測定装
置２３によって測定する。この時間中に、第１測定装置２３を通過している混合
材料が必要な均質性を有すると測定された場合、コントローラ３７の制御の下に
、廃物ライン３５の送り機構３６が停止させられ、そして、供給ライン１９の第
１弁２９が、供給ライン１９を通る流路を復元するように入口ポート２９ａ、第
１出口ポート２９ｂ間を連絡するようにセットされる。しかしながら、この時間
以後、第１測定装置２３を通過している混合材料が必要な均質性を持たないと測
定された場合には、コントローラ３７の制御の下に、供給ライン１９の送り機構
２１が停止させられ、廃物ライン３５の送り機構３６が停止させられ、入口ポー
ト２９ａ、第１出口ポート２９ｂ間を連絡するように供給ライン１９の第１弁２
９がセットされ、さらなる所定時間にわたって、混合デバイス１が作動させられ
る。このようなさらなる混合の後、上記の段階が繰り返される。第１測定装置２
３を通過している混合材料が必要な均質性を有すると測定されたとき、混合材料
は、送り機構２１によって供給ライン１９を通してさらに送られる。混合材料が
さらに供給ライン１９を通して送られるにつれて、混合材料は、第１測定装置２
３の下流側にある第２測定装置２５によって測定される。第１、第２測定装置２
３、２５を通過している混合材料が必要な均質性を有すると測定された場合、混
合材料は、送り機構２１によって供給ライン１９を通してさらに送られる。しか
しながら、第２測定装置２５を通過している混合材料が、もはや必要な均質性を
持っていないと測定された場合（たとえば、流動中に分離が生じたために時に生
じる可能性がある）、コントローラ３７の制御の下に、供給ライン１９の第２弁
３１が、入口ポート３１ａ、第２出口ポート３１ｃ間を連絡するようにセットさ
れ、必要な均質性を持っていない混合材料を廃物ライン３５に逸らすと共に、廃
物ライン３５の送り機構３６が作動させられ、混合材料を第２測定装置２５によ
って連続的に測定する。第２測定装置２５を通過している混合材料が必要な均質
性を有すると再び測定されたときには、コントローラ３７の制御の下に、廃物ラ
イン３５の送り機構３６が停止させられ、そして、入口ポート３１ａ、第１出口
ポート３１ｂ間を連通させて供給ライン１９を通る流路を復元するように供給ラ
イン１９の第２弁３１がセットされる。第１、第２測定装置２３、２５を通過し
ている混合材料が必要な均質性を有すると測定されたときには、混合材料は、送
り機構２１によって供給ライン１９を通してさらに送られる。混合材料が供給ラ
イン１９を通してさらに送られるにつれて、混合材料は、第２測定装置２５の下
流側にある第３の測定装置２７によって測定される。第１、第２、第３の測定装
置２３、２５、２７を通過している混合材料が必要な均質性を有すると測定され
た場合には、混合材料は、送り機構２１によって供給ライン１９を通してさらに
処理機器に送られる。しかしながら、第３の測定装置２７を通過している混合材
料が必要な均質性をもはや持たないと測定された場合には、コントローラ３７の
制御の下に、供給ライン１９の第３弁３３が、入口ポート３３ａ、第２出口ポー
ト３３ｃ間を連通させて、必要な均質性を持たない混合材料を廃物ライン３５に
逸らせるようにセットされ、そして、廃物ライン３５の送り機構３６が作動させ
られ、混合材料が第３測定装置２７によって連続的に測定される。第３の測定装
置２７を通過している混合材料が必要な均質性を有すると再び測定されたときに
は、コントローラ３７の制御の下に、廃物ライン３５の送り機構３６が停止させ
られ、そして、供給ライン１９の第３の弁３３が、入口ポート３３ａ、第１出口
ポート３３ｂ間を連通させて供給ライン１９を通る流路を復元させるようにセッ
トされる。第１、第２、第３の測定装置２３、２５、２７を通過している混合材
料が必要な均質性を有すると測定されたときには、混合材料は、送り機構２１に
よって供給ライン１９を通して処理機器にさらに送られる。
【００２４】 図６は、本発明の第２実施例による混合装置を示している。 この実施例による混合装置は、本発明の第１実施例による混合装置と構造的に
ほとんど同じである。それ故、不必要に説明を重複させないために、この変形例
の混合装置の構造上の差異のみを以下に説明することにする。この場合、同様の
参照符号は同様の部分を示す。
ほとんど同じである。それ故、不必要に説明を重複させないために、この変形例
の混合装置の構造上の差異のみを以下に説明することにする。この場合、同様の
参照符号は同様の部分を示す。
【００２５】 この実施例による混合装置は、供給ライン１９を通して材料が重力流によって
流れるように供給ライン１９を構成してあり、２ポート式送り弁６３を供給ライ
ン１９の送り機構２１の代わりに使用しているという点でのみ、第１実施例によ
る混合装置と異なる。この実施例においては、供給ライン１９は、垂直方向に向
いているが、もちろん、他の構成も可能であることは了解されたい。実際、供給
ライン１９が、重力流を与えるに充分に下向きの構成要素を有する任意の構成も
使用し得る。 使用に際して、この実施例による混合装置は、本発明の第１実施例による混合
装置と同様の要領で作動するが、送り弁６３を選択的に開閉して混合材料を、供
給ライン１９を通して流動させ得るようにしている。
流れるように供給ライン１９を構成してあり、２ポート式送り弁６３を供給ライ
ン１９の送り機構２１の代わりに使用しているという点でのみ、第１実施例によ
る混合装置と異なる。この実施例においては、供給ライン１９は、垂直方向に向
いているが、もちろん、他の構成も可能であることは了解されたい。実際、供給
ライン１９が、重力流を与えるに充分に下向きの構成要素を有する任意の構成も
使用し得る。 使用に際して、この実施例による混合装置は、本発明の第１実施例による混合
装置と同様の要領で作動するが、送り弁６３を選択的に開閉して混合材料を、供
給ライン１９を通して流動させ得るようにしている。
【００２６】 図７、８は、本発明の第３実施例による混合装置またはその構成要素を概略的
に示している。 混合装置は、材料を混合するための混合デバイス１０１（この実施例では、非
回転混合容器を有する連続するミキサ）と、混合デバイス１０１によって混合す
べき第１材料を収容する第１供給源容器１０３と、混合デバイス１０１によって
混合すべき第２材料を収容する第２供給源容器１０５と、第１、第２材料の不均
質混合物を収容する第３供給源容器１０６とを包含する。混合デバイス１０１は
、混合容器１０７を包含し、そして、第１、第２、第３の入口ポート１０８、１
０９、１１０および出口ポート１１１を有する。第１入口ポート１０８は、第１
送りライン１１２によって第１供給源容器１０３に接続される。この第１送りラ
イン１１２は、混合デバイス１０１に第１材料の単位時間当たりの量を計量給送
するための第１送り機構１１３（代表的には、空気圧式または機械式装置）を包
含する。第２入口ポート１０９は、第２送りライン１１４によって第２供給源容
器１０５に接続される。この第２送りライン１１４は、混合デバイス１０１に第
２材料の単位時間当たりの量を計量給送する第２送り機構１１５（代表的には、
空気圧式または機械式装置）を包含する。第３の入口ポート１１０は、第３送り
ライン１１６によって第３供給源容器１０６に接続される。この第３送りライン
１１６は、混合デバイス１０１に、第１、第２材料の不均質混合物の単位時間当
たりの量を計量給送する第３送り機構１１７（代表的には、空気圧式または機械
式装置）を包含する。第３の送りライン１１６は、さらに、そこを通って混合デ
バイス１０１に流れている不均質混合材料の組成を測定するための測定装置１１
８を包含する。
に示している。 混合装置は、材料を混合するための混合デバイス１０１（この実施例では、非
回転混合容器を有する連続するミキサ）と、混合デバイス１０１によって混合す
べき第１材料を収容する第１供給源容器１０３と、混合デバイス１０１によって
混合すべき第２材料を収容する第２供給源容器１０５と、第１、第２材料の不均
質混合物を収容する第３供給源容器１０６とを包含する。混合デバイス１０１は
、混合容器１０７を包含し、そして、第１、第２、第３の入口ポート１０８、１
０９、１１０および出口ポート１１１を有する。第１入口ポート１０８は、第１
送りライン１１２によって第１供給源容器１０３に接続される。この第１送りラ
イン１１２は、混合デバイス１０１に第１材料の単位時間当たりの量を計量給送
するための第１送り機構１１３（代表的には、空気圧式または機械式装置）を包
含する。第２入口ポート１０９は、第２送りライン１１４によって第２供給源容
器１０５に接続される。この第２送りライン１１４は、混合デバイス１０１に第
２材料の単位時間当たりの量を計量給送する第２送り機構１１５（代表的には、
空気圧式または機械式装置）を包含する。第３の入口ポート１１０は、第３送り
ライン１１６によって第３供給源容器１０６に接続される。この第３送りライン
１１６は、混合デバイス１０１に、第１、第２材料の不均質混合物の単位時間当
たりの量を計量給送する第３送り機構１１７（代表的には、空気圧式または機械
式装置）を包含する。第３の送りライン１１６は、さらに、そこを通って混合デ
バイス１０１に流れている不均質混合材料の組成を測定するための測定装置１１
８を包含する。
【００２７】 混合装置は、さらに、処理機器（たとえば、錠剤化機械）に混合材料を供給す
るために混合デバイス１０１の出口ポート１１１に接続した供給ライン１１９を
包含する。この供給ライン１１９は、そこを通して材料を送るための送り機構１
２１（代表的には、空気圧式または機械式の装置）を包含する。この供給ライン
１１９は、さらに、その全長にわたって、混合材料が通過するにつれて供給ライ
ン１１９における複数のポイントで混合材料の組成を測定するための複数の測定
装置（この実施例においては、第１、第２、第３の測定装置１２３、１２５、１
２７）を包含する。供給ライン１１９は、さらに、複数の三方向弁（この実施例
では第１、第２、第３の弁１２９、１３１、１３３）を包含し、各三方向弁は、
第１、第２、第３の測定装置１２３、１２５、１２７のそれぞれの直ぐ下流側に
配置してある。第１、第２、第３の弁１２９、１３１、１３３は、各々、入口ポ
ート１２９ａ、1３１ａ、1３３ａ、第１出口ポート１２９ｂ、1３１ｂ、1３３ｂ
、そして、第２出口ポート1２９ｃ、1３１ｃ、1３３ｃを包含する。入口ポート
１２９ａ、1３１ａ、1３３ａおよび第１出口ポート１２９ｂ、1３１ｂ、1３３ｂ
は、供給ライン１１９内にあり、第２出口ポート1２９ｃ、1３１ｃ、1３３ｃは
、第３供給源容器１０６に必要な均質性を持たない混合材料を移すための戻りラ
イン１３５に接続してある。戻りライン１３５は、第３供給源容器１０６に不均
質材料を送るための送り機構１３６（代表的には、空気圧式または機械式の装置
）を包含する。この実施例においては、戻りライン１３５の、送り機構３６の上
流側の部分は、不均質性材料が送り機構１３６に重力流によって流動するように
下向きの構成要素を有する。
るために混合デバイス１０１の出口ポート１１１に接続した供給ライン１１９を
包含する。この供給ライン１１９は、そこを通して材料を送るための送り機構１
２１（代表的には、空気圧式または機械式の装置）を包含する。この供給ライン
１１９は、さらに、その全長にわたって、混合材料が通過するにつれて供給ライ
ン１１９における複数のポイントで混合材料の組成を測定するための複数の測定
装置（この実施例においては、第１、第２、第３の測定装置１２３、１２５、１
２７）を包含する。供給ライン１１９は、さらに、複数の三方向弁（この実施例
では第１、第２、第３の弁１２９、１３１、１３３）を包含し、各三方向弁は、
第１、第２、第３の測定装置１２３、１２５、１２７のそれぞれの直ぐ下流側に
配置してある。第１、第２、第３の弁１２９、１３１、１３３は、各々、入口ポ
ート１２９ａ、1３１ａ、1３３ａ、第１出口ポート１２９ｂ、1３１ｂ、1３３ｂ
、そして、第２出口ポート1２９ｃ、1３１ｃ、1３３ｃを包含する。入口ポート
１２９ａ、1３１ａ、1３３ａおよび第１出口ポート１２９ｂ、1３１ｂ、1３３ｂ
は、供給ライン１１９内にあり、第２出口ポート1２９ｃ、1３１ｃ、1３３ｃは
、第３供給源容器１０６に必要な均質性を持たない混合材料を移すための戻りラ
イン１３５に接続してある。戻りライン１３５は、第３供給源容器１０６に不均
質材料を送るための送り機構１３６（代表的には、空気圧式または機械式の装置
）を包含する。この実施例においては、戻りライン１３５の、送り機構３６の上
流側の部分は、不均質性材料が送り機構１３６に重力流によって流動するように
下向きの構成要素を有する。
【００２８】 混合装置は、さらに、混合デバイス１０１、第１供給源容器１０３に接続した
第１送り機構１１３、第２供給源容器１０５に接続した第２送り機構１１５、第
３供給源容器１０６に接続した第３送り機構１１７、供給ライン１１９の送り機
構１２１、第３送りライン１１６の測定装置１１８、供給ライン１１９の第１、
第２、第３の測定装置１２３、１２５、１２７、供給ライン１１９の第１、第２
、第３の弁１２９、１３１、１３３および戻りライン１３５の送り機構１３６の
各々の動作を制御するためのコントローラ１３７（代表的には、コンピュータま
たはプログラム可能な論理コントローラ（ＰＬＣ））を包含する。
第１送り機構１１３、第２供給源容器１０５に接続した第２送り機構１１５、第
３供給源容器１０６に接続した第３送り機構１１７、供給ライン１１９の送り機
構１２１、第３送りライン１１６の測定装置１１８、供給ライン１１９の第１、
第２、第３の測定装置１２３、１２５、１２７、供給ライン１１９の第１、第２
、第３の弁１２９、１３１、１３３および戻りライン１３５の送り機構１３６の
各々の動作を制御するためのコントローラ１３７（代表的には、コンピュータま
たはプログラム可能な論理コントローラ（ＰＬＣ））を包含する。
【００２９】 図８に示したように、第３送りライン１１６内の測定装置１１８および供給ラ
イン１１９内の第１、第２、第３の測定装置１２３、１２５、１２７の各々は、
同じ構造であり、測定プローブ１３９（この実施例においては、反射プローブ）
を包含する。この測定プローブ１３９は、それぞれのライン１１６、１１９の周
壁１１６ａ、１１９ａを貫通しており、測定プローブ１３９の、放射線を発しか
つ受け取る遠位端１４１がそれぞれのライン１１６、１１９に向くようにしてあ
る。このようにして、それぞれのライン１１６、１１９を通過している混合材料
からの反射を測定できる。測定装置１３９は、さらに、電磁放射線を発生するた
めの放射線発生ユニット１４３と、混合材料から乱反射してきた放射線を検出す
るための検出器ユニット１４５とを包含する。この実施例において、放射線発生
ユニット１４３は、以下の順序で、放射線源１４７（好ましくは、タングステン
・ハロゲン・ランプのような赤外源に見える広域スペクトル）であって、４００
〜２５００ナノメートルの近赤外線間隔で放射線を発する放射線源１４７と、合
焦レンズ１４９と、フィルタ配置１５１と、合焦、濾過された放射線を測定プロ
ーブ１３９の遠位端１４１に導くための少なくとも一つのファイバ・ケーブル１
５３とを包含する。他の実施例においては、放射線源１４７は、可視光源（たと
えば、アーク・ランプ）、Ｘ線源、レーザ（たとえば、ダイオード・レーザ）ま
たは発光ダイオード（ＬＥＤ）のうちの任意のものであり得る。そして、フィル
タ配置１５１は、フーリエ変換式のモノクロメータまたは分光計と置き換えても
よい。この実施例においては、検出器ユニット１４５は、以下の順序で、遠位端
が放射線を発生する少なくとも一つのファイバ・ケーブル１５３の遠位端のまわ
りに配置してあるファイバ・ケーブル１５５のアレイと、ファイバ・ケーブル１
５５に接続した検出器１５７とを包含する。検出器１５７は、好ましくは、積分
検出器（たとえば、Ｓｉ、ＰｂＳまたはＩｎ−Ｇａ−Ａｓ積分検出器）、ダイオ
ード・アレイ検出器（たとえば、ＳｉまたはＩｎ−Ｇａ−Ａｓダイオード・アレ
イ検出器）あるいは一次元または二次元のアレイ検出器（たとえば、ＣＭＯＳチ
ップ、ＣＣＤチップまたは焦点面アレイ）の一つである。ファイバ・ケーブル１
５５の遠位端は、好ましくは、少なくとも一つのファイバ・ケーブル１５３の遠
位端から間隔を置いて配置され、ファイバ・ケーブル１５５に達する正反射また
は漂遊エネルギの影響を最小限に抑える。使用に際して、検出器１５７は、混合
材料の組成および放出された放射線の周波数に応じて信号を生成することになる
。これらの信号は、増幅、濾過、デジタル化されてからコントローラ１３７に送
られる。
イン１１９内の第１、第２、第３の測定装置１２３、１２５、１２７の各々は、
同じ構造であり、測定プローブ１３９（この実施例においては、反射プローブ）
を包含する。この測定プローブ１３９は、それぞれのライン１１６、１１９の周
壁１１６ａ、１１９ａを貫通しており、測定プローブ１３９の、放射線を発しか
つ受け取る遠位端１４１がそれぞれのライン１１６、１１９に向くようにしてあ
る。このようにして、それぞれのライン１１６、１１９を通過している混合材料
からの反射を測定できる。測定装置１３９は、さらに、電磁放射線を発生するた
めの放射線発生ユニット１４３と、混合材料から乱反射してきた放射線を検出す
るための検出器ユニット１４５とを包含する。この実施例において、放射線発生
ユニット１４３は、以下の順序で、放射線源１４７（好ましくは、タングステン
・ハロゲン・ランプのような赤外源に見える広域スペクトル）であって、４００
〜２５００ナノメートルの近赤外線間隔で放射線を発する放射線源１４７と、合
焦レンズ１４９と、フィルタ配置１５１と、合焦、濾過された放射線を測定プロ
ーブ１３９の遠位端１４１に導くための少なくとも一つのファイバ・ケーブル１
５３とを包含する。他の実施例においては、放射線源１４７は、可視光源（たと
えば、アーク・ランプ）、Ｘ線源、レーザ（たとえば、ダイオード・レーザ）ま
たは発光ダイオード（ＬＥＤ）のうちの任意のものであり得る。そして、フィル
タ配置１５１は、フーリエ変換式のモノクロメータまたは分光計と置き換えても
よい。この実施例においては、検出器ユニット１４５は、以下の順序で、遠位端
が放射線を発生する少なくとも一つのファイバ・ケーブル１５３の遠位端のまわ
りに配置してあるファイバ・ケーブル１５５のアレイと、ファイバ・ケーブル１
５５に接続した検出器１５７とを包含する。検出器１５７は、好ましくは、積分
検出器（たとえば、Ｓｉ、ＰｂＳまたはＩｎ−Ｇａ−Ａｓ積分検出器）、ダイオ
ード・アレイ検出器（たとえば、ＳｉまたはＩｎ−Ｇａ−Ａｓダイオード・アレ
イ検出器）あるいは一次元または二次元のアレイ検出器（たとえば、ＣＭＯＳチ
ップ、ＣＣＤチップまたは焦点面アレイ）の一つである。ファイバ・ケーブル１
５５の遠位端は、好ましくは、少なくとも一つのファイバ・ケーブル１５３の遠
位端から間隔を置いて配置され、ファイバ・ケーブル１５５に達する正反射また
は漂遊エネルギの影響を最小限に抑える。使用に際して、検出器１５７は、混合
材料の組成および放出された放射線の周波数に応じて信号を生成することになる
。これらの信号は、増幅、濾過、デジタル化されてからコントローラ１３７に送
られる。
【００３０】 図９〜１１は、それぞれ、上記の混合装置のための代替測定デバイス１１８、
１２３、１２５、１２７を示している。これらの測定デバイス１１８、１２３、
１２５、１２７は、構造的に全く同様であり、上記の混合装置における測定デバ
イス１１８、１２３、１２５、１２７と同様に作動する。それ故、不必要に説明
を重複させないために、これらの変形例の測定装置１１８、１２３、１２５、１
２７の構造上の差異だけを以下に説明する。
１２３、１２５、１２７を示している。これらの測定デバイス１１８、１２３、
１２５、１２７は、構造的に全く同様であり、上記の混合装置における測定デバ
イス１１８、１２３、１２５、１２７と同様に作動する。それ故、不必要に説明
を重複させないために、これらの変形例の測定装置１１８、１２３、１２５、１
２７の構造上の差異だけを以下に説明する。
【００３１】 図９は、透過反射（transflective）測定装置として作動する第１変形例の測
定装置１１８、１２３、１２５、１２７を示している。この測定装置１１８、１
２３、１２５、１２７は、反射面１５９（代表的には、鏡面）が、少なくとも一
つのファイバ・ケーブル１５３から発せられた放射線の経路の反対側で、それぞ
れのライン１１６、１１９（この実施例では、それぞれのライン１１６、１１９
の内側）に配置されているという点で、最初に説明した測定装置１１８、１２３
、１２５、１２７と異なる。使用に際して、少なくとも一つのファイバ・ケーブ
ル１５３によって放出された放射線は、それぞれのライン１１６、１１９内の材
料を通過し、反射面１５９によってファイバ・ケーブル１５５へ反射して戻され
る。
定装置１１８、１２３、１２５、１２７を示している。この測定装置１１８、１
２３、１２５、１２７は、反射面１５９（代表的には、鏡面）が、少なくとも一
つのファイバ・ケーブル１５３から発せられた放射線の経路の反対側で、それぞ
れのライン１１６、１１９（この実施例では、それぞれのライン１１６、１１９
の内側）に配置されているという点で、最初に説明した測定装置１１８、１２３
、１２５、１２７と異なる。使用に際して、少なくとも一つのファイバ・ケーブ
ル１５３によって放出された放射線は、それぞれのライン１１６、１１９内の材
料を通過し、反射面１５９によってファイバ・ケーブル１５５へ反射して戻され
る。
【００３２】 図１０は、透過測定装置として作動する第２変形例の測定装置１１８、１２３
、１２５、１２７を示している。この測定装置１１８、１２３、１２５、１２７
は、ファイバ・ケーブル１５５の遠位端が、それぞれのライン１１６、１１９の
、少なくとも一つのファイバ・ケーブル１５３から発せられる放射線の経路の反
対の側（この実施例においては、それぞれのライン１１６、１１９の内側）に配
置されている点で最初に説明した測定装置１１８、１２３、１２５、１２７と異
なる。使用に際して、少なくとも一つのファイバ・ケーブル１５３によって放出
された放射線は、それぞれのライン１１６、１１９内の材料を通過し、ファイバ
・ケーブル１５５によって受け取られる。
、１２５、１２７を示している。この測定装置１１８、１２３、１２５、１２７
は、ファイバ・ケーブル１５５の遠位端が、それぞれのライン１１６、１１９の
、少なくとも一つのファイバ・ケーブル１５３から発せられる放射線の経路の反
対の側（この実施例においては、それぞれのライン１１６、１１９の内側）に配
置されている点で最初に説明した測定装置１１８、１２３、１２５、１２７と異
なる。使用に際して、少なくとも一つのファイバ・ケーブル１５３によって放出
された放射線は、それぞれのライン１１６、１１９内の材料を通過し、ファイバ
・ケーブル１５５によって受け取られる。
【００３３】 図１１は、反射測定装置として作動する第３変形例の測定装置１１８、１２３
、１２５、１２７を示している。この測定装置１１８、１２３、１２５、１２７
は、測定プローブ１３９がそれぞれのライン１１６、１１９内に延びていないと
いう点で最初に説明した測定装置１１８、１２３、１２５、１２７と異なる。そ
の代わりに、それぞれのライン１１６、１１９の周壁１１６ａ、１１９ａが、測
定装置１１８、１２３、１２５、１２７によって使用される放射線に対して透明
あるいは少なくとも半透明である窓１６１を備えている。もちろん、図９、１０
に関連して説明した測定装置１１８、１２３、１２５、１２７もこのように改造
できることは了解されたい。
、１２５、１２７を示している。この測定装置１１８、１２３、１２５、１２７
は、測定プローブ１３９がそれぞれのライン１１６、１１９内に延びていないと
いう点で最初に説明した測定装置１１８、１２３、１２５、１２７と異なる。そ
の代わりに、それぞれのライン１１６、１１９の周壁１１６ａ、１１９ａが、測
定装置１１８、１２３、１２５、１２７によって使用される放射線に対して透明
あるいは少なくとも半透明である窓１６１を備えている。もちろん、図９、１０
に関連して説明した測定装置１１８、１２３、１２５、１２７もこのように改造
できることは了解されたい。
【００３４】 使用に際して、第１、第２、第３の供給源容器１０３、１０５、１０６に接続
した第１、第２、第３の送り機構１１３、１１５、１１７は、コントローラ１３
７によって制御されて、第１材料、第２材料および第１、第２材料の不均質嵌合
物の単位時間当たりの量を選択的に計量し、連続混合するように作動する混合デ
バイス１０１の混合容器１０７に必要な割合の第１、第２材料を送る。第３の供
給源容器１０６に収容された第１、第２材料の不均質な混合物は、第１、第２材
料の先の混合中に集められる。第３供給源容器１０６に接続した第３送りライン
１１６に測定装置１１８を設けることによって、第３の供給源容器１０６から送
られた第１、第２材料の不均質な混合物がオンライン測定されることができ、第
１、第２、第３の供給源容器１０３、１０５、１０６に接続した第１、第２、第
３の送り機構１１３、１１５、１１７が作動して、第１材料、第２材料および第
１、第２の材料の不均質な混合物を混合デバイス１０１に選択的に送り、それに
よって、第１、第２材料の必要な混合比率を得ることができる。このようにして
、第１、第２材料が無駄にならない。材料を混合するとき、コントローラ１３７
の制御の下に、供給ライン１１９における第１、第２、第３の弁１２９、１３１
、１３３が、それぞれの入口ポート１２９ａ、1３１ａ、1３３ａ、第１出口ポー
ト１２９ｂ、１３１ｂ、１３３ｂ間を連通させるようにセットされ、供給ライン
１１９における送り機構１２１が作動させられて、供給ライン１１９を通して混
合デバイス１０１の混合容器１０７からの混合材料を送る。混合材料が供給ライ
ン１１９を通過するにつれて、混合材料は、まず、供給ライン１１９内の第１測
定装置１２３によって測定される。供給ライン１１９の第１測定装置１２３を通
過している混合材料が必要な均質性を有すると測定された場合には、混合材料は
、送り機構１２１によって供給ライン１１９を通してさらに送られる。しかしな
がら、供給ライン１１９の第１測定装置１２３を通過している混合材料が必要な
均質性を持たないと測定された場合には、コントローラ１３７の制御の下に、供
給ライン１２１の第１弁１２９は、入口ポート１２９ａ、第２出口ポートl２９
ｃ間を連通させて戻りライン１３５内に必要な均質性を持たない混合材料を逸ら
せるようにセットされ、そして、戻りライン１３５内の送り機構１３６が作動さ
せられて第３供給源容器１０６に必要な均質性を持たない混合材料を送り、そし
て、混合材料が、供給ライン１１９内の第１測定装置１２３よって連続的に測定
される。供給ライン１１９の第１測定装置１２３を通過している混合材料が必要
な均質性を有すると測定されるときには、コントローラ１３７の制御の下に、戻
りライン１３５の送り機構１３６が停止させられ、そして、供給ライン１１９の
第１弁１２９が、入口ポート１２９ａ、第１出口ポート１２９ｂ間を連通させて
供給ライン１１９内に流路を復元させるようにセットされる。供給ライン１１９
の第１測定装置１２３を通過している混合材料が必要な均質性を有すると測定さ
れたときには、混合材料は、送り機構１２１によって供給ライン１１９を通して
さらに送られる。混合材料が供給ライン１１９を通してさらに送られるにつれて
、混合材料は、供給ライン１１９において第１測定装置１２３の下流側にある第
２測定装置１２５よって測定される。供給ライン１１９の第１、第２測定装置１
２３、１２５を通過している混合材料が必要な均質性を有すると測定された場合
には、混合材料は、送り機構１２１によって供給ライン１１９を通してさらに送
られる。しかしながら、供給ライン１１９の第２測定装置１２５を通過している
混合材料がもはや必要な均質性を持たないと測定された場合（たとえば、流動中
に分離が生じたために時に生じることがあり得る）、コントローラ１３７の制御
の下に、供給ライン１２１における第２弁１３１が、入口ポート1３１ａ、第２
出口ポート1３１ｃ間を連通させて、必要な均質性を持たない混合材料を戻りラ
イン１３５に逸らせるようにセットされ、戻りライン１３５内の送り機構１３６
が作動させられて、第３供給源容器１０６に必要な均質性を持たない混合材料を
送る。このとき、混合材料は、供給ライン１１９の第２測定装置１２５よって連
続的に測定される。供給ライン１１９の第２測定装置１２５を通過している混合
材料が必要な均質性を有すると再び測定されたときには、コントローラ１３７の
制御の下に、給送ライン１３５の送り機構１３６が停止させられ、そして、供給
ライン１１９の第２弁１３１が、入口ポート1３１ａ、第１出口ポート1３１ｂ間
を連通させて、供給ライン１１９を通る流路を復元するようにセットされる。供
給ライン１１９の第１、第２測定装置１２３、１２５を通過している混合材料が
必要な均質性を有すると測定されたときには、混合材料は、送り機構１２１によ
って供給ライン１１９を通してさらに送られる。混合材料が供給ライン１１９を
通してさらに送られるにつれて、混合材料は、供給ライン１１９内の第２測定装
置１２５の下流側にある第３測定装置１２７よって測定される。供給ライン１１
９の第３の測定装置１２７を通過している混合材料が必要な均質性を有すると測
定された場合には、混合材料は、送り機構１２１によって供給ライン１１９を通
してさらに処理機器に送られる。しかしながら、供給ライン１１９の第３の測定
装置１２７を通過している混合材料が必要な均質性をもはや持たないと測定され
た場合には、コントローラ１３７の制御の下に、供給ライン１２１の第３弁１３
３が、入口ポート１３３ａ、第２出口ポート1３３ｃ間を連通させて戻りライン
１３５に必要な均質性を持たない混合材料を逸らすようにセットされ、そして、
戻りライン１３５の送り機構１３６が作動させられて、第３供給源容器１０６に
必要な均質性を持たない混合材料を送る。そして、混合材料は、供給ライン１１
９の第３測定装置１２７によって連続的に測定される。供給ライン１１９の第３
測定装置１２７を通過している混合材料が必要な均質性を有すると再び測定され
たときには、コントローラ１３７の制御の下に、戻りライン１３５の送り機構１
３６が停止させられ、供給ライン１１９の第３弁１３３が、入口ポート1３３ａ
、第１出口ポート1３３ｂ間を連通させて、供給ライン１１９を通る流路を復元
するようにセットされる。供給ライン１１９の第１、第２、第３の測定装置１２
３、１２５、１２７を通過している混合材料が必要な均質性を有すると測定され
たときには、混合材料は、送り機構１２１によって供給ライン１１９を通してさ
らに処理機器に送られる。 図１２は、本発明の第４実施例による混合装置を示している。
した第１、第２、第３の送り機構１１３、１１５、１１７は、コントローラ１３
７によって制御されて、第１材料、第２材料および第１、第２材料の不均質嵌合
物の単位時間当たりの量を選択的に計量し、連続混合するように作動する混合デ
バイス１０１の混合容器１０７に必要な割合の第１、第２材料を送る。第３の供
給源容器１０６に収容された第１、第２材料の不均質な混合物は、第１、第２材
料の先の混合中に集められる。第３供給源容器１０６に接続した第３送りライン
１１６に測定装置１１８を設けることによって、第３の供給源容器１０６から送
られた第１、第２材料の不均質な混合物がオンライン測定されることができ、第
１、第２、第３の供給源容器１０３、１０５、１０６に接続した第１、第２、第
３の送り機構１１３、１１５、１１７が作動して、第１材料、第２材料および第
１、第２の材料の不均質な混合物を混合デバイス１０１に選択的に送り、それに
よって、第１、第２材料の必要な混合比率を得ることができる。このようにして
、第１、第２材料が無駄にならない。材料を混合するとき、コントローラ１３７
の制御の下に、供給ライン１１９における第１、第２、第３の弁１２９、１３１
、１３３が、それぞれの入口ポート１２９ａ、1３１ａ、1３３ａ、第１出口ポー
ト１２９ｂ、１３１ｂ、１３３ｂ間を連通させるようにセットされ、供給ライン
１１９における送り機構１２１が作動させられて、供給ライン１１９を通して混
合デバイス１０１の混合容器１０７からの混合材料を送る。混合材料が供給ライ
ン１１９を通過するにつれて、混合材料は、まず、供給ライン１１９内の第１測
定装置１２３によって測定される。供給ライン１１９の第１測定装置１２３を通
過している混合材料が必要な均質性を有すると測定された場合には、混合材料は
、送り機構１２１によって供給ライン１１９を通してさらに送られる。しかしな
がら、供給ライン１１９の第１測定装置１２３を通過している混合材料が必要な
均質性を持たないと測定された場合には、コントローラ１３７の制御の下に、供
給ライン１２１の第１弁１２９は、入口ポート１２９ａ、第２出口ポートl２９
ｃ間を連通させて戻りライン１３５内に必要な均質性を持たない混合材料を逸ら
せるようにセットされ、そして、戻りライン１３５内の送り機構１３６が作動さ
せられて第３供給源容器１０６に必要な均質性を持たない混合材料を送り、そし
て、混合材料が、供給ライン１１９内の第１測定装置１２３よって連続的に測定
される。供給ライン１１９の第１測定装置１２３を通過している混合材料が必要
な均質性を有すると測定されるときには、コントローラ１３７の制御の下に、戻
りライン１３５の送り機構１３６が停止させられ、そして、供給ライン１１９の
第１弁１２９が、入口ポート１２９ａ、第１出口ポート１２９ｂ間を連通させて
供給ライン１１９内に流路を復元させるようにセットされる。供給ライン１１９
の第１測定装置１２３を通過している混合材料が必要な均質性を有すると測定さ
れたときには、混合材料は、送り機構１２１によって供給ライン１１９を通して
さらに送られる。混合材料が供給ライン１１９を通してさらに送られるにつれて
、混合材料は、供給ライン１１９において第１測定装置１２３の下流側にある第
２測定装置１２５よって測定される。供給ライン１１９の第１、第２測定装置１
２３、１２５を通過している混合材料が必要な均質性を有すると測定された場合
には、混合材料は、送り機構１２１によって供給ライン１１９を通してさらに送
られる。しかしながら、供給ライン１１９の第２測定装置１２５を通過している
混合材料がもはや必要な均質性を持たないと測定された場合（たとえば、流動中
に分離が生じたために時に生じることがあり得る）、コントローラ１３７の制御
の下に、供給ライン１２１における第２弁１３１が、入口ポート1３１ａ、第２
出口ポート1３１ｃ間を連通させて、必要な均質性を持たない混合材料を戻りラ
イン１３５に逸らせるようにセットされ、戻りライン１３５内の送り機構１３６
が作動させられて、第３供給源容器１０６に必要な均質性を持たない混合材料を
送る。このとき、混合材料は、供給ライン１１９の第２測定装置１２５よって連
続的に測定される。供給ライン１１９の第２測定装置１２５を通過している混合
材料が必要な均質性を有すると再び測定されたときには、コントローラ１３７の
制御の下に、給送ライン１３５の送り機構１３６が停止させられ、そして、供給
ライン１１９の第２弁１３１が、入口ポート1３１ａ、第１出口ポート1３１ｂ間
を連通させて、供給ライン１１９を通る流路を復元するようにセットされる。供
給ライン１１９の第１、第２測定装置１２３、１２５を通過している混合材料が
必要な均質性を有すると測定されたときには、混合材料は、送り機構１２１によ
って供給ライン１１９を通してさらに送られる。混合材料が供給ライン１１９を
通してさらに送られるにつれて、混合材料は、供給ライン１１９内の第２測定装
置１２５の下流側にある第３測定装置１２７よって測定される。供給ライン１１
９の第３の測定装置１２７を通過している混合材料が必要な均質性を有すると測
定された場合には、混合材料は、送り機構１２１によって供給ライン１１９を通
してさらに処理機器に送られる。しかしながら、供給ライン１１９の第３の測定
装置１２７を通過している混合材料が必要な均質性をもはや持たないと測定され
た場合には、コントローラ１３７の制御の下に、供給ライン１２１の第３弁１３
３が、入口ポート１３３ａ、第２出口ポート1３３ｃ間を連通させて戻りライン
１３５に必要な均質性を持たない混合材料を逸らすようにセットされ、そして、
戻りライン１３５の送り機構１３６が作動させられて、第３供給源容器１０６に
必要な均質性を持たない混合材料を送る。そして、混合材料は、供給ライン１１
９の第３測定装置１２７によって連続的に測定される。供給ライン１１９の第３
測定装置１２７を通過している混合材料が必要な均質性を有すると再び測定され
たときには、コントローラ１３７の制御の下に、戻りライン１３５の送り機構１
３６が停止させられ、供給ライン１１９の第３弁１３３が、入口ポート1３３ａ
、第１出口ポート1３３ｂ間を連通させて、供給ライン１１９を通る流路を復元
するようにセットされる。供給ライン１１９の第１、第２、第３の測定装置１２
３、１２５、１２７を通過している混合材料が必要な均質性を有すると測定され
たときには、混合材料は、送り機構１２１によって供給ライン１１９を通してさ
らに処理機器に送られる。 図１２は、本発明の第４実施例による混合装置を示している。
【００３５】 この実施例による混合装置は、本発明の第３実施例による混合装置と構造的に
ほとんど同じである。それ故、不必要な説明の重複を避けるために、この変形例
の混合装置の構造的な差異のみを以下に説明する。このとき、同様の参照符号は
同様の部分を示しているものとする。
ほとんど同じである。それ故、不必要な説明の重複を避けるために、この変形例
の混合装置の構造的な差異のみを以下に説明する。このとき、同様の参照符号は
同様の部分を示しているものとする。
【００３６】 この実施例による混合装置は、供給ライン１１９が構成されるというのだけ、
そして、材料が重力流によって送られ、２ポート式送り弁１６３が供給ライン１
１９の送り機構１２１の代わりに用いられるという点でのみ、第３実施例による
混合装置と異なる。この実施例において、供給ライン１１９は、垂直方向に向い
ているが、もちろん、他の構成も可能であることは了解されたい。実際、供給ラ
イン１１９が重力流を与えるに充分に下向きの構成要素を有する構成も使用し得
る。 使用に際して、この実施例による混合装置は、本発明の第３実施例による混合
装置として同様に作動するが、送り弁１６３を選択的に開閉して、供給ライン１
１９を通して混合材料を流動させ得る。
そして、材料が重力流によって送られ、２ポート式送り弁１６３が供給ライン１
１９の送り機構１２１の代わりに用いられるという点でのみ、第３実施例による
混合装置と異なる。この実施例において、供給ライン１１９は、垂直方向に向い
ているが、もちろん、他の構成も可能であることは了解されたい。実際、供給ラ
イン１１９が重力流を与えるに充分に下向きの構成要素を有する構成も使用し得
る。 使用に際して、この実施例による混合装置は、本発明の第３実施例による混合
装置として同様に作動するが、送り弁１６３を選択的に開閉して、供給ライン１
１９を通して混合材料を流動させ得る。
【００３７】 最後に、本発明をその好ましい実施例について説明してきたが、これが添付の
特許請求の範囲に定義されている発明の範囲から逸脱することなく多くの異なっ
た方法で修正可能であることは、当業者には理解できよう。 まず、たとえば、上記の実施例の混合装置は２種の材料の混合物を供給するよ
うに構成したが、これらの混合装置が任意数の材料を混合するように容易に適合
可能であることは了解されたい。
特許請求の範囲に定義されている発明の範囲から逸脱することなく多くの異なっ
た方法で修正可能であることは、当業者には理解できよう。 まず、たとえば、上記の実施例の混合装置は２種の材料の混合物を供給するよ
うに構成したが、これらの混合装置が任意数の材料を混合するように容易に適合
可能であることは了解されたい。
【００３８】 第２に、たとえば、さらに別の変形例においては、上記実施例の混合装置にお
いて使用される測定装置２３、２５、２７、１１８、１２３、１２５、１２７は
、測定プローブ３９、１３９しか含まないようにしてもよく、その代わりに、混
合装置が、単一の放射線発生ユニット４３、１４３および単一の検出器ユニット
４５、１４５だけを包含し、これらのユニットが、コントローラ３７、１３７の
制御の下に、測定装置２３、２５、２７、１１８、１２３、１２５、１２７のそ
れぞれにマルチプレクサ・ユニットによって選択的に接続されるようにしてもよ
い。
いて使用される測定装置２３、２５、２７、１１８、１２３、１２５、１２７は
、測定プローブ３９、１３９しか含まないようにしてもよく、その代わりに、混
合装置が、単一の放射線発生ユニット４３、１４３および単一の検出器ユニット
４５、１４５だけを包含し、これらのユニットが、コントローラ３７、１３７の
制御の下に、測定装置２３、２５、２７、１１８、１２３、１２５、１２７のそ
れぞれにマルチプレクサ・ユニットによって選択的に接続されるようにしてもよ
い。
【図１】 本発明の第１実施例による混合装置を概略的に示す。
【図２】 図１の混合装置の測定装置を示す。
【図３】 図１の混合装置のための第１変形例の測定装置を示す。
【図４】 図１の混合装置のための第２変形例の測定装置を示す。
【図５】 図１の混合装置のための第３変形例の測定装置を示す。
【図６】 本発明の第２実施例による混合装置を概略的に示す。
【図７】 本発明の第３実施例による混合装置を概略的に示す。
【図８】 図７の混合装置の測定装置を示す。
【図９】 図７の混合装置のための第１変形例の測定装置を示す。
【図１０】 図７の混合装置のための第２変形例の測定装置を示す。
【図１１】 図７の混合装置のための第３変形例の測定装置を示す。
【図１２】 本発明の第４実施例による混合装置を概略的に示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＣＹ， ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，Ｉ Ｔ，ＬＵ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＯＡ(ＢＦ，ＢＪ ，ＣＦ，ＣＧ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＧＷ，ＭＬ， ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ，ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＧＨ，ＧＭ，Ｋ Ｅ，ＬＳ，ＭＷ，ＳＤ，ＳＬ，ＳＺ，ＵＧ，ＺＷ)，Ｅ Ａ(ＡＭ，ＡＺ，ＢＹ，ＫＧ，ＫＺ，ＭＤ，ＲＵ，ＴＪ ，ＴＭ)，ＡＥ，ＡＬ，ＡＭ，ＡＴ，ＡＵ，ＡＺ，ＢＡ ，ＢＢ，ＢＧ，ＢＲ，ＢＹ，ＣＡ，ＣＨ，ＣＮ，ＣＵ， ＣＺ，ＤＥ，ＤＫ，ＥＥ，ＥＳ，ＦＩ，ＧＢ，ＧＤ，Ｇ Ｅ，ＧＨ，ＧＭ，ＨＲ，ＨＵ，ＩＤ，ＩＬ，ＩＮ，ＩＳ ，ＪＰ，ＫＥ，ＫＧ，ＫＰ，ＫＲ，ＫＺ，ＬＣ，ＬＫ， ＬＲ，ＬＳ，ＬＴ，ＬＵ，ＬＶ，ＭＤ，ＭＧ，ＭＫ，Ｍ Ｎ，ＭＷ，ＭＸ，ＮＯ，ＮＺ，ＰＬ，ＰＴ，ＲＯ，ＲＵ ，ＳＤ，ＳＥ，ＳＧ，ＳＩ，ＳＫ，ＳＬ，ＴＪ，ＴＭ， ＴＲ，ＴＴ，ＵＡ，ＵＧ，ＵＳ，ＵＺ，ＶＮ，ＹＵ，Ｚ Ａ，ＺＷ Ｆターム(参考） 4G035 AB48 AE03 AE13 4G037 AA04 AA18 BA00 BA06 BB01 BB03 BC03 BD02 BD10 BE02
Claims (47)
- 【請求項１】 複数の材料を混合する混合デバイス（１；１０１）であって
、この混合デバイス（１；１０１）は混合容器（７；１０７）を含み、そして少
なくとも一つの入口ポート（８、９；１０８、１０９、１１０）および出口ポー
ト（１１；１１１）を有するものと混合デバイス（１；１０１）の出口ポート（
１１；１１１）に接続した供給ライン（１９；１１９）と、供給ライン（１９；
１１９）における少なくとも一つのポイントで、使用時に供給ライン（１９；１
１９）を通る混合材料の組成をオンライン測定する少なくとも一つの測定装置（
２３、２５、２７；１２３、１２５、１２７）とを包含する、必要な均質性を有
する混合物を供給するための混合装置。 - 【請求項２】 請求項１の装置において、少なくとも一つの測定装置（２３
、２５、２７；１２３、１２５、１２７）が、供給ライン（１９；１１９）内の
複数のポイントで、使用時に供給ライン（１９；１１９）を通過する混合材料の
組成をオンライン測定するように配置された装置。 - 【請求項３】 請求項１の装置において、供給ライン（１９；１１９）内の
複数のポイントで、使用時に供給ライン（１９；１１９）を通過する混合材料の
組成をオンライン測定する複数の測定装置（２３、２５、２７；１２３、１２５
、１２７）を包含することを特徴とする装置。 - 【請求項４】 請求項１〜３のいずれかの装置において、一つの測定ポイン
トが、供給ライン（１９；１１９）の入口端にあることを特徴とする装置。 - 【請求項５】 請求項１〜３のいずれかの装置において、一つの測定ポイン
トが、供給ライン（１９；１１９）の出口端にあることを特徴とする装置。 - 【請求項６】請求項２または３の装置において、一つの測定ポイントが、供
給ライン（１９；１１９）の入口端にあり、別の測定ポイントが、供給ライン（
１９；１１９）の出口端にあることを特徴とする装置。 - 【請求項７】 請求項１〜６のいずれかの装置において、さらに、必要な均
質性を持たないと測定された、使用時に供給ライン（１９；１１９）を通過して
いる材料を、供給ライン（１９；１１９）内の少なくとも一つのポイントから選
択的に逸らせる少なくとも一つの流れ偏向機構を包含することを特徴とする装置
。 - 【請求項８】請求項７の装置において、少なくとも一つの偏向ポイントが、
最上流側の測定ポイントの下流側にあることを特徴とする装置。 - 【請求項９】 請求項７または８の装置において、必要な均質性を持たない
と測定された、使用時に供給ライン（１９；１１９）を通過している混合材料を
、供給ライン（１９；１１９）の複数のポイントのうち一つまたはそれ以上のポ
イントから選択的に逸らす複数の流れ偏向機構を包含することを特徴とする装置
。 - 【請求項１０】 請求項２または３に従属したときの請求項９の装置におい
て、各偏向ポイントが、それぞれの測定ポイントの下流側にあることを特徴とす
る装置。 - 【請求項１１】 請求項７〜１０のいずれかの装置において、各流れ偏向機
構が、供給ライン（１９；１１９）内に配置された弁（２９、３１、３３；１２
９、１３１、１３３）を包含し、この弁（２９、３１、３３；１２９、１３１、
１３３）が、入口ポート（２９ａ、３１ａ、３３ａ；１２９ａ、1３１ａ、1３３
ａ）と、供給ライン（１９；１１９）において接続した第１の出口ポート（２９
ｂ、３１ｂ、３３ｂ；１２９ｂ、1３１ｂ、1３３ｂ）と、必要な均質性を持たな
いと測定された混合材料を、使用時に、逸らす第２の出口ポート（２９ｃ、３１
ｃ、３３ｃ；1２９ｃ、1３１ｃ、1３３ｃ）とを包含することを特徴とする装置
。 - 【請求項１２】 請求項７〜１１のいずれかの装置において、さらに、必要
な均質性を持たないと測定された混合材料を、使用時に、そこに逸らす転送ライ
ン（３５；１３５）を包含することを特徴とする装置。 - 【請求項１３】 請求項１２の装置において、転送ライン（３５；１３５）
の少なくとも一部が、そこへ逸らされた混合材料がそこを通る重力流によって流
れることができるように構成してあることを特徴とする装置。 - 【請求項１４】 請求項１１に従属したときの請求項１２または１３の装置
において、各弁（２９、３１、３３；１２９，１３１，１３３）の第２の出口ポ
ート（２９ｃ、３１ｃ、３３ｃ；1２９ｃ、1３１ｃ、1３３ｃ）が、転送ライン
（３５；１３５）に接続してあることを特徴とする装置。 - 【請求項１５】 請求項１〜１４のいずれかの装置において、さらに、混合
材料を、供給ライン（１９；１１９）を通して流動させる流れ制御機構を包含す
ることを特徴とする装置。 - 【請求項１６】 請求項１５の装置において、流れ制御機構が、供給ライン
（１９；１１９）を通して混合材料を送る送り機構（２１；１２１）であること
を特徴とする装置。 - 【請求項１７】 請求項１５の装置において、供給ライン（１９；１１９）
が、そこを通る重力流によって混合材料を流動させることができるように構成し
てあり、流れ制御機構が、供給ライン（１９；１１９）を通して混合材料を選択
的に流動させ得る弁（６３；１６３）であることを特徴とする装置。 - 【請求項１８】 請求項１７の装置において、供給ライン（１９；１１９）
が、ほぼ垂直方向に向いていることを特徴とする装置。 - 【請求項１９】 請求項１〜１８のいずれかの装置において、さらに、混合
デバイス（１０１）の混合容器（１０７）で混合すべき材料を別々に収容する複
数の供給源容器（１０３、１０５）と、混合した材料の混合物を収容する別の供
給源容器（１０６）とを包含し、供給源容器（１０３、１０５、１０６）が、そ
れぞれの送りライン（１１２、１１４、１１６）によって混合デバイス（１０１
）の少なくとも一つの入口ポート（１０８、１０９、１１０）に接続してあり、
送りラインの各々が、混合すべきそれぞれの材料および混合すべき材料の混合物
の単位時間当たりの量を混合デバイス（１０１）に計量給送するように作動可能
な流れ制御機構を包含していることを特徴とする装置。 - 【請求項２０】 請求項１９の装置において、さらに、別の供給源容器（１
０６）に接続した送りライン（１１６）を使用時に通過している混合材料の組成
を測定するための、別の供給源容器（１０６）に接続した送りライン（１１６）
内に設けた別の測定装置（１１８）を包含することを特徴とする装置。 - 【請求項２１】 請求項１〜２０のいずれかの装置において、少なくとも一
つの測定装置（２３、２５、２７；１１８、１２３、１２５、１２７）のうちの
少なくとも一つが、分光器式測定装置であることを特徴とする装置。 - 【請求項２２】 請求項２１の装置において、分光器式測定装置が、反射装
置、トランスフレクタンス装置または透過装置のうちの一つであることを特徴と
する装置。 - 【請求項２３】 請求項２１または２２の装置において、分光器式測定装置
が、赤外分光光度計であることを特徴とする装置。 - 【請求項２４】 請求項２１または２２の装置において、分光器式測定装置
が、近赤外分光光度計であることを特徴とする装置。 - 【請求項２５】 請求項２１または２２の装置において、分光器式測定装置
が、Ｘ線分光光度計であることを特徴とする装置。 - 【請求項２６】 請求項２１または２２の装置において、分光器式測定装置
が、可視光分光光度計であることを特徴とする装置。 - 【請求項２７】 請求項２１または２２の装置において、分光器式測定装置
が、ラマン分光光度計であることを特徴とする装置。 - 【請求項２８】 請求項２１または２２の装置において、分光器式測定装置
が、マイクロ波分光光度計であることを特徴とする装置。 - 【請求項２９】 請求項２１または２２の装置において、分光器式測定装置
が、核磁気共鳴分光光度計であることを特徴とする装置。 - 【請求項３０】 請求項１〜２０のいずれかの装置において、測定装置（２
３、２５、２７；１１８、１２３、１２５、１２７）のうち少なくとも一つが、
偏光計であることを特徴とする装置。 - 【請求項３１】 請求項１〜３０のいずれかの装置において、混合デバイス
（１；１０１）の混合容器（７；１０７）が非回転容器であることを特徴とする
装置。 - 【請求項３２】 請求項１〜３１のいずれかの装置において、混合デバイス
（１；１０１）が、連続ミキサであることを特徴とする装置。 - 【請求項３３】 請求項１〜３１のいずれかの装置において、混合デバイス
（１；１０１）が、バッチ・ミキサであることを特徴とする装置。 - 【請求項３４】 混合デバイス（１；１０１）の混合容器（７；１０７）に
混合すべき複数の材料を導入する段階と、混合容器（７；１０７）内で複数の材
料を混合する段階と、混合デバイス（１；１０１）の出口ポート（１１；１１１
）から供給ライン（１９；１１９）を通して混合材料を供給する段階と、供給ラ
イン（１９；１１９）内の少なくとも一つのポイントで供給ライン（１９；１１
９）を通過している混合材料の組成をオンライン測定する段階とを包含する、必
要な均質性を有する混合物を供給する方法。 - 【請求項３５】 請求項３４の方法において、供給ライン（１９：１１９）
内の複数のポイントで、供給ライン（１９；１１９）を通過している混合材料の
組成をオンライン測定する段階を包含することを特徴とする方法。 - 【請求項３６】 請求項３４または３５の方法において、一つの測定ポイン
トが、供給ライン（１９；１１９）の入口端にあることを特徴とする方法。 - 【請求項３７】 請求項３４または３５の方法において、一つの測定ポイン
トが、供給ライン（１９；１１９）の出口端にあることを特徴とする方法。 - 【請求項３８】 請求項３５の方法において、一つの測定ポイントが、供給
ライン（１９；１１９）の入口端にあり、そして、別の測定ポイントが、供給ラ
イン（１９；１１９）の出口端にあることを特徴とする方法。 - 【請求項３９】 請求項３４〜３８のいずれかの方法において、さらに、供
給ライン（１９；１１９）内の少なくとも一つのポイントから、必要な均質性を
持たないと測定された、供給ライン（１９；１１９）を通過している混合材料を
逸らす段階を包含することを特徴とする方法。 - 【請求項４０】 請求項３９の方法において、少なくとも一つの偏向ポイン
トが、最上流側の測定ポイントの下流側にあることを特徴とする方法。 - 【請求項４１】 請求項３９または４０の方法において、供給ライン（１９
；１１９）内の複数のポイントのうち一つまたはそれ以上から、必要な均質性を
持たないと測定された、供給ライン（１９；１１９）を通過している混合材料を
選択的に逸らす段階を包含することを特徴とする方法。 - 【請求項４２】 請求項４１の方法において、各偏向ポイントが、それぞれ
の測定ポイントの下流側にあることを特徴とする方法。 - 【請求項４３】 請求項３４〜４２のいずれかの方法において、混合すべき
材料を、混合容器（７；１０７）に連続的に導入することを特徴とする方法。 - 【請求項４４】 請求項３９〜４２のいずれかに従属するときの請求項４３
の方法において、さらに、供給ライン（１１９）から逸らされた混合材料を別の
容器（１０６）へ転送する段階を包含することを特徴とする方法。 - 【請求項４５】 請求項４４の方法において、混合デバイス（１０１）の混
合容器（１０７）に混合すべき材料を導入する段階が、別の容器（１０６）から
の混合材料およびそれぞれの混合すべき材料の量を、混合デバイス（１０１）に
対する単位時間につき選択的に計量する段階を包含し、さらに、別の容器（１０
６）から計量した混合材料の組成をオンライン測定し、混合すべきそれぞれの材
料の量を、別の容器（１０６）から計量した混合材料に加えて混合デバイス（１
０１）に別々に選択的に計量分配して必要な組成を達成することができるように
する段階を包含することを特徴とする方法。 - 【請求項４６】 請求項３４〜４２のいずれかの方法において、混合すべき
材料を、混合デバイス（１；１０１）の混合容器（７；１０７）にバッチ導入す
ることを特徴とする方法。 - 【請求項４７】 請求項３４〜４６のいずれかの方法において、混合デバイ
ス（１；１０１）の混合容器が、非回転容器であることを特徴とする方法。
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