JP2002509455A - 複素インピーダンス測定による根尖部検出の方法および装置 - Google Patents
複素インピーダンス測定による根尖部検出の方法および装置Info
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Abstract
(57)【要約】
歯内治療に用いるための尖端位置検出器(40)は、導電性プローブ(46)と口唇電極(48)とへつながれた電子式コントローラ(42)を含む。プローブ(46)は根管(60)内に位置しており、口唇電極は患者身体の別の場所に接触する。コントローラ(46)は選ばれた周波数における信号の組み合わせとしての試験信号を生成する。次に、コントローラ(46)はプローブ(46)の電圧をモニターして、プローブ(46)における電圧の周波数成分の各々について振幅および位相を抽出する。各種周波数成分の振幅および/または位相の和から試験点数が計算されて、プローブ(46)と口唇電極(48)との間のインピーダンスが主として無効性のインピーダンスから主として抵抗性のインピーダンスへ変化する時点が決定される。インピーダンスが無効性インピーダンスから抵抗性インピーダンスへ変化した時点を表示するために第1試験点数が表示される。第2試験点数は測定状態が不満足な時に表示をする。これらの試験点数は棒グラフまたは類似の形で表示される。
Description
【発明の詳細な説明】
複素インピーダンス測定による根尖部検出の方法および装置技術分野
本発明は歯科治療装置に関するものであって、更に詳細には歯内治療学に関す
る。発明の背景
歯根管治療において、歯中を貫通する通路である根管から、組織や液体のよう
な望ましくない物質が取り除かれる。根管を清掃するために、歯科治療器具、例
えばドリルややすりが根管へ挿入されて望ましくない物質を取り除くように操作
される。その後、柔軟な充填物質が根管に詰められて、根管はしっかりした物質
で封じ込まれる。
狭い根管にはのぞき込むための空間がなく、医用液体が根管を部分的に満たし
ていて視野を妨げるため、根管が適当な深さまで清掃されたかどうかを判断する
ことはしばしば困難である。特に問題が多い領域は根尖部、あるいは根尖孔であ
って、それは根管が終わり、患者の組織が始まる場所である。もし根管の清掃が
十分でなければ、根管内部に残された残留物が正しい治癒の妨げとなろう。従っ
て、すべての残留物を除去するための清掃時には、歯科治療器具は根尖まで挿入
されるべきである。しがし、もし歯科治療器具があまりに深く挿入されれば、器
具が組織にまで穿通してしまい、腫れや不必要な外傷を患者に与えることになる
。従って、根尖位置を確定し、患者に対して過度な外傷を与えることなく根管の
清掃を完全なものとできることが望ましい。
尖端位置を決定する一方法では、金属やすりを根管に挿入して、歯のX線写真
を撮る。X線像中では、金属やすりはそれを取り囲む歯および生体組織とはコン
トラストが際だつため、やすりの位置を尖端位置とみなすことができる。この方
法は非常に信頼性に乏しく、コストも嵩み、時間も掛かる。更に、歯が頬の裏側
にある場合には、X線は良好な像を与えない。
小林等に発行された米国特許第5,211,556号は尖端位置を決定するた
めの電子的な方法について述べており、その中で、導電性のプローブが根管に挿
入されて、口腔中または口腔近くの患者の身体に接触して電極が配置される。次
に、プローブが根管を通って歯の基部へ向かって動かされる。プローブを移動し
ながら、インピーダンスの大きさ、あるいはそれの成分をモニターする。プロー
ブが根尖に近づくと、インピーダンスの大きさは異なる速度で変化し始める。検
出器は、インピーダンスが指定された範囲内に入ったところで、プローブが根尖
に達したことを決定する。しかし、インピーダンスは医用液体やその他の根管中
およびその周りにある物質の存在によって大きく影響されよう。例えば、医用液
体は導電性である場合が多く、それによって電極間のインピーダンスは乾燥した
根管と比べて減少するであろう。従って、上述のシステムは尖端位置の測定にお
いて誤差にさらされている。更に、この方式は、口腔内の医用液体およびその他
の物質量の変動のために、測定手順毎に検出器の校正を要するのが一般的である
。
上述の問題を軽減する試みとして、小林等に発行された米国特許第5,096
,419号は、インピーダンス測定を複数の周波数で行うようにした尖端検出方
式について述べている。その場合、尖端位置の決定は2つの異なる周波数におけ
るインピーダンス比を計算することによって行われる。それでも尚、医用液体な
どの雰囲気条件は測定に対して有害な影響を与えよう。それに加えて、比率を使
用するということは、この方式を、2つの、2つだけの周波数における測定への
適用に本質的に限定する。発明の概要
尖端ファインダあるいは尖端位置検出器は、一対の電極間のインピーダンスの
位相角度、無効成分、あるいはスペクトル応答を検出することによって尖端位置
を決定する。根管に挿入される導電性プローブが第1電極を構成する。第2電極
は患者の身体、典型的には口腔領域に接触する。
一実施例では、尖端検出器は複数の位相角度の和を利用し、ここにおいて、位
相角度は別々の周波数において決定される。位相角度はプローブが患者の生体組
織に接触すると大きく変化する。複数の周波数における測定を組み合わせて利用
することによって、尖端位置検出器は尖端位置のより正確な確定を行うことがで
きる。
一実施例では、尖端検出器はまた、尖端検出器の精度を向上させるために、位
相角度の和に加えて、インピーダンス強度の組み合わせを利用する。位相角度お
よび強度は数学的に組み合わされて第1の試験点数が求められる。第1試験点数
が指定された範囲内に入った時、位置検出器はプローブが根尖にあることを表示
する。尖端検出器は試験周波数におけるインピーダンス強度を平均して、根管の
伝導度が高すぎるかどうかを表示する。尖端位置検出器はまた、前記強度に基づ
いて第2の試験点数を算出して、根管における測定状態が好ましくないことを利
用者に対して表示する。
ディスプレイパネルがこれら両方の試験点数を、容易に尖端位置を認識できる
映像表示を与えるための棒グラフで表示する。それに加えてディスプレイパネル
は、好ましくない測定状態を、目立つ表示で与えるための警告灯を含む。更に別
の情報を与えるように、チャイムあるいはその他の音による表示器が鳴って、プ
ローブが根尖に到達したことを表示する。
本発明に従う一方法では、尖端位置検出器はマイクロプロセッサをベースとす
るコントローラを含む。このコントローラはインピーダンス成分を決定するため
に高速フーリエ変換(FFT)方式を採用している。このコントローラは位相角
度の和に基づいて、根尖に相対的なプローブの位置を示す試験点数を発生する。
本発明の好適実施例に従う別の方法では、パルス化された信号で電極が駆動さ
れる。従って、コントローラはスペクトル応答またはパルスの時間遅延を基準と
なる標準信号と比較して尖端位置を特定する。図面の簡単な説明
図1は本発明に従う尖端位置検出器の概略図であり、根管にプローブが挿入さ
れている。
図2は、図1の尖端位置検出器および根管の、部分的回路モデルおよび部分的
ブロック図である。
図3Aは、図1の位置検出器の制御経路、信号表示、および尖端位置を検出す
るための工程を示すファームウエアのフローチャートである。
図3Bは、図1の検出器に対する利用者入力に関する工程を示す割り込み処理
ルーチンのフローチャートである。
図4は、図1のディスプレイの正面立面図であって、幅広い棒グラフ、狭い棒
グラフ、および警告灯を示す。発明の詳細な説明
図1に示されるように、尖端位置検出器40は、制御回路42、ディスプレイ
44、導電性根管プローブ46、口唇電極48、および入力インターフェース4
9を含む。制御回路42内にある、マイクロプロセッサをベースとするコントロ
ーラ50は、以下で説明するように、不揮発性プログラムメモリ55に記憶され
ているソフトウエアプログラムに応答して、位置検出器40の動作を制御する。
入力インターフェース49は、スイッチパネル、キーボード、あるいは利用者が
位置検出器40を駆動したり、オプションを選んだり、感度を調節したり、位置
検出器40のその他の制御を行うことを許容する同様な装置を含む。
マイクロプロセッサ51に加えて、コントローラ50はまた、マイクロプロセ
ッサ51と制御回路42の残りのものとの間のインターフェースとして働くプロ
グラム可能ゲートアレイ53を含む。プログラム可能ゲートアレイ53はまた、
スイッチパネル、キーボード、あるいは以下に図3Bに関して説明する割り込み
処理ルーチン用のその他の装置からのコマンドをラッチするラッチ回路を含む。
それに加えて、コントローラ50内の不揮発性のプログラム可能読み出し専用メ
モリ57は、制御回路42用の主要な試験信号を提供するデジタルのマルチ周波
数試験信号V(fi)を生成するために、マイクロプロセッサ51によって、選
ばれた時間間隔でアクセスされる予め定められた電圧レベルの表を含んでいる。
好ましくは、この試験信号V(fi)は5つの周波数f1−f5の成分を有する。
これらの周波数は好ましくは200Hzないし10kHzの範囲にあるが、50
kHzを超える周波数も本発明のスコープに含まれよう。一実施例では、これら
の周波数f1−f5はそれぞれ、500Hz、1kHz、2kHz、4kHz、お
よび8kHzである。周波数f2−f5の各々は、以下で説明する高速フーリエ変
換の計算を簡略化するために、それらの下側の周波数f1−f4の2倍となってい
る。
コントローラ50からの試験信号V(fi)はデジタル・アナログ(D/A)
変換器52を駆動する。それに応答して、このD/A変換器52はアナログの試
験信号VA(fi)を発生する。アナログ試験信号VA(fi)は、次に、バッファ
増幅器54と試験抵抗56の直列接続に対して入力を供給し、それによってプロ
ーブ46を駆動するための電流IP(fi)を生成させる。試験抵抗56は、バッ
ファ増幅器54と試験抵抗56の直列接続が本質的に電流源59として動作する
ように、そしてそれによってプローブ電流IP(fi)が本質的に一定となるよう
に、200kΩオーダーの抵抗値を有する。
プローブ電流IP(fi)は試験抵抗56からケーブル58を介してプローブ4
6へつながれる。ケーブル58はプローブ46の操作を容易なものとするように
、柔軟でかつ十分に長いものである。プローブ電流IP(fi)はケーブル58か
ら、プローブ46の導電性軸を通って歯62の根管60まで流れていく。更に、
電流IP(fi)はプローブ46の先端から根管60の尖端領域64を通って患者
の身体組織66へと流れ、更にアースされた口唇電極48からアースへ流れ込む
。尖端領域64の長さは根管60中へのプローブ46の挿入深さに依存しよう。
尖端領域64と身体組織66は、プローブ46と口唇電極48との間にインピ
ーダンスZを有する導電性の経路を構成する。既知のように、インピーダンスZ
は、図2の等価回路に示されるような抵抗とコンデンサの並列接続として適切に
モデル化することができる。プローブ電流IP(fi)はインピーダンスZを通っ
て流れ、ノード電圧VP(fi)を生じ、それは電流IP(fi)にインピーダンス
Zを乗じたものと等しい。従って、電流IP(fi)が本質的に一定であるので、
ノード電圧VP(fi)はインピーダンスZに従って変動するであろう。プローブ
46の先端が最初、根管60(図1)に入る時は、インピーダンスZは高く、大
きな抵抗性の成分を持つ。従って、ノード電圧VP(fi)は大きく、電流IP(
fi)に対して位相シフトを全く持たないか、あるいはほとんど持たない。プロ
ーブ46の先端が身体組織66の接近するに従って、インピーダンスZは低下し
て、より容量性となっていく。従って、ノード電圧VP(fi)は低下して、電流
IP(fi)に対する位相シフトが増大する。
コントローラ50は、図2のFFTブロック80によって表される高速フーリ
エ変換技術によって、ノード電圧VP(fi)の各成分の位相角度Φ1−Φ5およ
び振幅A1−A5を分解する。次に、コントローラ50はスケールブロック82に
よって表されるように、成分A1−A5、Φ1−Φ5をスケーリングして、1組の正
規化された成分を生成する。正規化された位相角度Φ1−Φ5および振幅A1−A5
から、コントローラ50は、得点ブロック84および86に示されるように、試
験点数TEST1およびTEST2を生成する。コントローラ50は、試験点数
TEST1およびTEST2に基づいて、利用者に対してディスプレイ44を通
して情報を提供する。
尖端位置を検出する工程は、図3Aおよび図3Bのファームウエアフローチャ
ートに、より詳細に示されている。この説明の便宜上、不揮発性の読み出し専用
メモリ57は上で述べた好ましい電圧レベルを確立するように既にプログラムさ
れていることを想定する。図3Aに示されるように、位置検出は工程300での
5つの周波数成分を有するプローブ電流IP(fi)の発生から始まる。プローブ
電流IP(fi)は次に、工程301においてプローブ46の挿入によって供給さ
れる。次に、工程302では、制御回路42がバッファ増幅器68およびアナロ
グ・デジタル(A/D)変換器70(図1)を通してノード電圧VP(fi)をモ
ニターする。A/D変換器70は、ノード電圧VP(fi)を表すデジタル信号を
コントローラ50へ供給する。
工程303では、コントローラ50がノード電圧VP(fi)を評価して、最大
値レベルを超えるノード電圧VP(fi)を検出する。もしノード電圧VP(fi)
が過度に大きければ、コントローラ50は、プローブ46が患者の中にないかあ
るいは接近していないと判断し、それによって警告灯76が駆動されて、非測定
状況であることが本質的に瞬時に提供される。コントローラ50はまた、最後に
検出された測定結果を保持するようにディスプレイ44を固定させる。
次に、工程304では、コントローラ50内のソフトウエアが、図1および図
2中のFFTブロックで表されるように、A/D変換器70からのデジタル信号
に対して高速フーリエ変換(FFT)を実行して、周波数スペクトルを生成する
。このスペクトル成分は、次にフィルタを通されて、雑音とA/D変換器の量子
化誤差とが工程306で除去され、更に工程308において、スペクトルが数学
的に処理されて、5つの周波数成分について振幅Aiおよび位相Φiが生成される
。
振幅Aiおよび位相Φiは計算に備えてコントローラ50内のメモリ69に記憶さ
れる。次に、工程310では、ソフトウエアが振幅AiおよびΦiを正規化し、次
の式に従って試験点数TEST1を生成する。
ここで、AMP1は最初の試験点数TEST1の振幅成分として参照され、また
PH1は最初の試験点数TEST1の位相成分として参照されよう。
同様に、工程310では、ソフトウエアが第2の試験点数TEST2を次の式
に従って決定する。
プローブ46の先端が身体組織66の接触すると、インピーダンスZ、従って
ノード電圧VP(fi)の大きさはすべての周波数成分で急速に低下する。しかし
、第1試験点数TEST1の振幅成分AMP1は、各成分が第1成分A1に対し
て正規化されているため、振幅A1−A5よりもはるかにゆっくりと変動する。従
って、ノード電圧VP(fi)の振幅A2−A5の変化は第1周波数に関する振幅A1
の変化によってオフセットを与えられよう。このように、振幅成分AMP1は
、振幅A1とA2−A5の変化率が異なる範囲でしか変動しないことになろう。
第1試験点数TEST1の位相成分PH1は、インピーダンスZの無効成分と
抵抗成分との相対強度の関数として大まかに表される。すなわち、インピーダン
スZが本質的に抵抗性である場合には、第1試験点数TEST1の位相成分は本
質的にゼロとなろう。インピーダンスZが本質的に無効性である場合には、第1
試験点数TEST1の位相成分はその最大値を取ることになろう。上で述べたよ
うに、インピーダンスZは、プローブ46が身体組織66と接触するように近づ
くにつれて、本質的に抵抗性のものから本質的に無効性のものへと変化する。従
って、第1試験点数TEST1の位相成分PH1は、プローブ46が身体組織6
6へ接触するように近づくにつれて、本質的にゼロからそれの最大値へと変化す
るであろう。
第2試験点数TEST2が振幅A1−A5に逆比例しており、プローブ46が
尖端位置へ近づくにつれて、それら振幅A1−A5が低下するため、第2試験点数
TEST2は、プローブ46が身体組織66へ近づくにつれて急速に上昇する。
第2試験点数TEST2は、従って、第1試験点数TEST1の結果を確認する
ために用いることができる。更に、第2試験点数TEST2はインピーダンスZ
の大きさが許容範囲に含まれるがどうかを示すことができる。過度に低いインピ
ーダンス強度は、プローブ46周りの過剰な医用液体から生ずるような好ましく
ない測定状態を示すことができる。過度に大きいインピーダンス強度はプローブ
46がまだ挿入されていないことを示すことができ、上で述べた工程303を補
うものとして、ソフトウエアルーチンに割り込みを掛けるために使用することが
できる。一旦試験点数が計算されると、工程311で、ソフトウエアがポーリン
グを行って、プログラム可能ゲートアレイ53が入力インターフェース49から
何らかのコマンドをラッチされていないかを調べる。もしラッチされたコマンド
が何もなければ、ソフトウエアは第1または第2の試験点数、TEST1または
TEST2を許容範囲と比較して、身体組織と接触しているかあるいは好ましく
ない測定状態であるかを同定する。もし試験点数TEST1、TEST2が許容
範囲を逸脱していれば、工程314で、警告灯76アラームまたはその他の表示
器が駆動される。
次に、図4に示されるように、第1試験点数TEST1がディスプレイ44上
へ幅広い棒グラフ71として表示される(工程317)。幅広い棒グラフ71は
、プローブ46の先端が組織66に接触した時点を、目立つ画像表示で示す。第
2試験点数TEST2もまた、ディスプレイ上へ狭い棒グラフ72として提供さ
れて、インピーダンスZが適正な結果を与える範囲にあるかどうかを表示する。
あるいは、第1および第2の試験点数、TEST1およびTEST2は7セグメ
ント式表示器または任意のその他の表示装置によって数字で表すこともできる。
もし工程311で利用者が入力インターフェース49を介してコマンドを入力
していれば、ソフトウエアは図3Bに示される割り込み処理ルーチンへジャンプ
する。工程320に示されるように、この割り込み中に、ソフトウエアは、ディ
スプレイコントラストの調節(工程322)、アラームモードの選択(工程32
4)、根尖バイアスレベルの感度調節(工程326)、あるいはコントローラ5
0を学習モードへ設定(工程328)などの、ラッチされた入力を入力インター
フェース49から受け取る(図1および図2)。割り込み処理ルーチンが完了す
れば直ちにソフトウエアは工程312へ戻って、アラーム状態を評価して、その
結果を表示する。
本発明には例示実施例を取り上げて説明してきたが、本発明の精神およびスコ
ープから外れることなしに各種の修正が行われ得よう。例えば、図1の実施例は
5つの主要周波数成分を有する試験信号V(fi)を使用しているが、それより
も数多い、あるいは少ない周波数成分を使用することもできる。あるいは、尖端
位置を同定するために、多様なその他のスペクトルまたは位相解析技術を使用す
ることもできる。例えば、試験信号Vp(fi)を短いパルスとして、それによ
り幅広いスペクトル内容を有する入力を提供することもできる。次に、ノード電
圧VP(fi)のスペクトル内容全体をモニターして、基準スペクトル応答と比較
することによって尖端位置を決定することができる。同じタイプの入力パルスを
使用して、ノードにおけるパルス応答の形状をモニターして、基準パルス応答と
比較することで尖端位置を決定することができる。別の方法として、1個または
複数個のパルスを入力して、出力パルスの遅延時間を検出することができる。こ
の遅延時間はインピーダンスZの容量性成分に対応するので、この遅延時間から
尖端位置を決めることができる。
同様に、高速フーリエ変換技術以外の多様な技術を用いて、デジタル版の試験
信号V(fi)を解析することができる。例えば、ヘテロダイン回路またはその
他の周波数分解方式を適用して各種の周波数成分の位相および振幅を抽出するこ
とができる。更に、ここに述べた試験点数は振幅を正規化し、各種成分の和を求
めるために特殊なアルゴリズムを使用しているが、その他の多様なアルゴリズム
も本発明のスコープに含まれよう。例えば、位相成分PHIまたは位相Φi−Φ5
のこれ以外の数学的関数を用いて、プローブ46と組織66との接触の分離表示
を提供することができる。同様に、各位相Φi−Φ5を別々に表示することや、位
相および振幅のその他の多様な組み合わせを用いて、プローブ46と組織66と
の間の接触の表示を与えることができる。更に、試験点数TEST1およびTE
ST2を表示するために、ディスプレイ44は原理的に一対の棒グラフを
使用している。これの代わりに、試験点数TEST1およびTEST2を、その
他の多様な技術を用いて表示することもできよう。それらの中には数字表示器、
カラー灯、あるいはその他多様な表示技術が含まれる。更に、第1試験点数TE
ST1を用いて、組織66との接触を、チャイム、ビープ音、あるいはその他の
音で知らせるように駆動することもできる。また、上で述べた警告灯76の代わ
りに、あるいはそれを補うものとして、チャイムまたはその他の表示器を用いて
、許容できない測定状態を表示することもできる。従って、本発明は特許請求の
範囲以外のもので制限されることはない。
【手続補正書】特許法第184条の8第1項
【提出日】平成10年9月30日(1998.9.30)
【補正内容】
明細書
複素インピーダンス測定による根尖部検出の方法および装置技術分野
本発明は歯科治療装置に関するものであって、更に詳細には歯内治療学に関す
る。発明の背景
歯根管治療において、歯中を貫通する通路である根管から、組織や液体のよう
な望ましくない物質が取り除かれる。根管を清掃するために、歯科治療器具、例
えばドリルややすりが根管へ挿入されて望ましくない物質を取り除くように操作
される。その後、柔軟な充填物質が根管に詰められて、根管はしっかりした物質
で封じ込まれる。
狭い根管にはのぞき込むための空間がなく、医用液体が根管を部分的に満たし
ていて視野を妨げるため、根管が適当な深さまで清掃されたかどうかを判断する
ことはしばしば困難である。特に問題が多い領域は根管の尖端部、あるいは根尖
孔であって、それは根管が終わり、患者の組織が始まる場所である。もし根管の
清掃が十分でなければ、根管内部に残された残留物が正しい治癒の妨げとなろう
。従って、すべての残留物を除去するための清掃時には、歯科治療器具は根管の
尖端まで挿入されるべきである。しかし、もし歯科治療器具があまりに深く挿入
されれば、器具が組織にまで穿通してしまい、腫れや不必要な外傷を患者に与え
ることになる。従って、根管の尖端位置を確定し、患者に対して過度な外傷を与
えることなく根管の清掃を完全なものとできることが望ましい。
尖端位置を決定する一方法では、金属やすりを根管に挿入して、歯のX線写真
を撮る。X線像中では、金属やすりはそれを取り囲む歯および生体組織とはコン
トラストが際だつため、やすりの位置を尖端位置とみなすことができる。この方
法は非常に信頼性に乏しく、コストも嵩み、時間も掛かる。更に、歯が頬の裏側
にある場合には、X線は良好な像を与えない。
小林等に発行された米国特許第5,211,556号は尖端位置を決定するた
めの電子的な方法について述べており、その中で、導電性のプローブが根管に挿
入されて、口腔中または口腔近くの患者の身体に接触して電極が配置される。次
に、プローブが根管を通って歯の基部へ向かって動かされる。プローブを移動し
ながら、インピーダンスの大きさ、あるいはそれの成分をモニターする。プロー
ブが根管の尖端に近づくと、インピーダンスの大きさは異なる速度で変化し始め
る。検出器は、インピーダンスが指定された範囲内に入ったところで、プローブ
が根管の尖端に達したことを決定する。しかし、インピーダンスは医用液体やそ
の他の根管中およびその周りにある物質の存在によって大きく影響されよう。例
えば、医用液体は導電性である場合が多く、それによって電極間のインピーダン
スは乾燥した根管と比べて減少するであろう。従って、上述のシステムは尖端位
置の測定において誤差にさらされている。更に、この方式は、口腔内の医用液体
およびその他の物質量の変動のために、測定手順毎に検出器の校正を要するのが
一般的である。
上述の問題を軽減する試みとして、小林等に発行された米国特許第5,096
,419号は、インピーダンス測定を複数の周波数で行うようにした尖端検出方
式について述べている。その場合、尖端位置の決定は2つの異なる周波数におけ
るインピーダンス比を計算することによって行われる。それでも尚、医用液体な
どの雰囲気条件は測定に対して有害な影響を与えよう。それに加えて、比率を使
用するということは、この方式を、2つの、2つだけの周波数における測定への
適用に本質的に限定する。発明の概要
尖端ファインダあるいは尖端位置検出器は、一対の電極間のインピーダンスの
位相角度、無効成分、あるいはスペクトル応答を検出することによって尖端位置
を決定する。根管に挿入される導電性プローブが第1電極を構成する。第2電極
は患者の身体、典型的には口腔領域に接触する。
一実施例では、尖端検出器は複数の位相角度の和を利用し、ここにおいて、位
相角度は別々の周波数において決定される。位相角度はプローブが患者の生体組
織に接触すると大きく変化する。複数の周波数における測定を組み合わせて利用
することによって、尖端位置検出器は尖端位置のより正確な確定を行うことがで
きる。
一実施例では、尖端検出器はまた、尖端検出器の精度を向上させるために、位
相角度の和に加えて、インピーダンス強度の組み合わせを利用する。位相角度お
よび強度は数学的に組み合わされて第1の試験点数が求められる。第1試験点数
が指定された範囲内に入った時、位置検出器はプローブが根管の尖端にあること
を表示する。尖端検出器は試験周波数におけるインピーダンス強度を平均して、
根管の伝導度が高すぎるかどうかを表示する。尖端位置検出器はまた、前記強度
に基づいて第2の試験点数を算出して、根管における測定状態が好ましくないこ
とを利用者に対して表示する。
ディスプレイパネルがこれら両方の試験点数を、容易に尖端位置を認識できる
映像表示を与えるための棒グラフで表示する。それに加えてディスプレイパネル
は、好ましくない測定状態を、目立つ表示で与えるための警告灯を含む。更に別
の情報を与えるように、チャイムあるいはその他の音による表示器が鳴って、プ
ローブが根管の尖端に到達したことを表示する。
本発明に従う一方法では、尖端位置検出器はマイクロプロセッサをベースとす
るコントローラを含む。このコントローラはインピーダンス成分を決定するため
に高速フーリエ変換(FFT)方式を採用している。このコントローラは位相角
度の和に基づいて、根管の尖端に相対的なプローブの位置を示す試験点数を発生
する。
本発明の好適実施例に従う別の方法では、パルス化された信号で電極が駆動さ
れる。従って、コントローラはスペクトル応答またはパルスの時間遅延を基準と
なる標準信号と比較して尖端位置を特定する。図面の簡単な説明
図1は本発明に従う尖端位置検出器の概略図であり、根管にプローブが挿入さ
れている。
図2は、図1の尖端位置検出器および根管の、部分的回路モデルおよび部分的
ブロック図である。
図3Aは、図1の位置検出器の制御経路、信号表示、および尖端位置を検出す
るための工程を示すファームウエアのフローチャートである。
図3Bは、図1の検出器に対する利用者入力に関する工程を示す割り込み処理
ルーチンのフローチャートである。
図4は、図1のディスプレイの正面立面図であって、幅広い棒グラフ、狭い棒
グラフ、および警告灯を示す。発明の詳細な説明
図1に示されるように、尖端位置検出器40は、制御回路42、ディスプレイ
44、導電性根管プローブ46、口唇電極48、および入力インターフェース4
9を含む。制御回路42内にある、マイクロプロセッサをベースとするコントロ
ーラ50は、以下で説明するように、不揮発性プログラムメモリ55に記憶され
ているソフトウエアプログラムに応答して、位置検出器40の動作を制御する。
入力インターフェース49は、スイッチパネル、キーボード、あるいは利用者が
位置検出器40を駆動したり、オプションを選んだり、感度を調節したり、位置
検出器40のその他の制御を行うことを許容する同様な装置を含む。
マイクロプロセッサ51に加えて、コントローラ50はまた、マイクロプロセ
ッサ51と制御回路42の残りのものとの間のインターフェースとして働くプロ
グラム可能ゲートアレイ53を含む。プログラム可能ゲートアレイ53はまた、
スイッチパネル、キーボード、あるいは以下に図3Bに関して説明する割り込み
処理ルーチン用のその他の装置からのコマンドをラッチするラッチ回路を含む。
それに加えて、コントローラ50内の不揮発性のプログラム可能読み出し専用メ
モリ57は、制御回路42用の主要な試験信号を提供するデジタルのマルチ周波
数試験信号V(fi)を生成するために、マイクロプロセッサ51によって、選
ばれた時間間隔でアクセスされる予め定められた電圧レベルの表を含んでいる。
好ましくは、この試験信号V(fi)は5つの周波数f1−f5の成分を有する。
これらの周波数は好ましくは200Hzないし10kHzの範囲にあるが、50
kHzを超える周波数も本発明のスコープに含まれよう。一実施例では、これら
の周波数f1−f5はそれぞれ、500Hz、1kHz、2kHz、4kHz、お
よび8kHzである。周波数f2−f5の各々は、以下で説明する高速フーリエ変
換の計算を簡略化するために、それらの下側の周波数f1−f4の2倍となってい
る。
コントローラ50からの試験信号V(fi)はデジタル・アナログ(D/A)
変換器52を駆動する。それに応答して、このD/A変換器52はアナログの試
験信号VA(fi)を発生する。アナログ試験信号VA(fi)は、次に、バッファ
増幅器54と試験抵抗56の直列接続に対して入力を供給し、それによってプロ
ーブ46を駆動するための電流IP(fi)を生成させる。試験抵抗56は、バッ
ファ増幅器54と試験抵抗56の直列接続が本質的に電流源59として動作する
ように、そしてそれによってプローブ電流IP(fi)が本質的に一定となるよう
に、200kΩオーダーの抵抗値を有する。
プローブ電流IP(fi)は試験抵抗56からケーブル58を介してプローブ4
6へつながれる。ケーブル58はプローブ46の操作を容易なものとするように
、柔軟でかつ十分に長いものである。プローブ電流IP(fi)はケーブル58か
ら、プローブ46の導電性軸を通って歯62の根管60まで流れていく。更に、
電流IP(fi)はプローブ46の先端から根管60の尖端領域64を通って患者
の身体組織66へと流れ、更にアースされた口唇電極48からアースへへ流れ込
む。尖端領域64の長さは根管60中へのプローブ46の挿入深さに依存しよう
。
尖端領域64と身体組織66は、プローブ46と口唇電極48との間にインピ
ーダンスZを有する導電性の経路を構成する。既知のように、インピーダンスZ
は、図2の等価回路に示されるような抵抗とコンデンサの並列接続として適切に
モデル化することができる。プローブ電流IP(fi)はインピーダンスZを通っ
て流れ、ノード電圧VP(fi)を生じ、それは電流IP(fi)にインピーダンス
Zを乗じたものと等しい。従って、電流IP(fi)が本質的に一定であるので、
ノード電圧VP(fi)はインピーダンスZに従って変動するであろう。プローブ
46の先端が最初、根管60(図1)に入る時は、インピーダンスZは高く、大
きな抵抗性の成分を持つ。従って、ノード電圧VP(fi)は大きく、電流IP(
fi)に対して位相シフトを全く持たないか、あるいはほとんど持たない。プロ
ーブ46の先端が身体組織66の接近するに従って、インピーダンスZは低下し
て、より容量性となっていく。従って、ノード電圧VP(fi)は低下して、電流
IP(fi)に対する位相シフトが増大する。
コントローラ50は、図2のFFTブロック80によって表される高速フーリ
エ変換技術によって、ノード電圧VP(fi)の各成分の位相角度Φ1−Φ5および
振幅A1−A5を分解する。次に、コントローラ50はスケールブロック82によ
って表されるように、成分A1−A5、Φ1−Φ5をスケーリングして、1組の正規
化された成分を生成する。正規化された位相角度Φ1−Φ5および振幅A1−A5か
ら、コントローラ50は、得点ブロック84および86に示されるように、試験
点数TEST1およびTEST2を生成する。コントローラ50は、試験点数T
EST1およびTEST2に基づいて、利用者に対してディスプレイ44を通し
て情報を提供する。
尖端位置を検出する工程は、図3Aおよび図3Bのファームウエアフローチャ
ートに、より詳細に示されている。この説明の便宜上、不揮発性の読み出し専用
メモリ57は上で述べた好ましい電圧レベルを確立するように既にプログラムさ
れていることを想定する。図3Aに示されるように、位置検出は工程300での
5つの周波数成分を有するプローブ電流IP(fi)の発生から始まる。プローブ
電流IP(fi)は次に、工程301においてプローブ46の挿入によって供給さ
れる。次に、工程302では、制御回路42がバッファ増幅器68およびアナロ
グ・デジタル(A/D)変換器70(図1)を通してノード電圧VP(fi)をモ
ニターする。A/D変換器70は、ノード電圧VP(fi)を表すデジタル信号を
コントローラ50へ供給する。
工程303では、コントローラ50がノード電圧VP(fi)を評価して、最大
値レベルを超えるノード電圧VP(fi)を検出する。もしノード電圧VP(fi)
が過度に大きければ、コントローラ50は、プローブ46が患者の中にないかあ
るいは接近していないと判断し、それによって警告灯76が駆動されて、非測定
状況であることが本質的に瞬時に提供される。コントローラ50はまた、最後に
検出された測定結果を保持するようにディスプレイ44を固定させる。
次に、工程304では、コントローラ50内のソフトウエアが、図1および図
2中のFFTブロックで表されるように、A/D変換器70からのデジタル信号
に対して高速フーリエ変換(FFT)を実行して、周波数スペクトルを生成する
。このスペクトル成分は、次にフィルタを通されて、雑音とA/D変換器の量子
化
誤差とが工程306で除去され、更に工程308において、スペクトルが数学的
に処理されて、5つの周波数成分について振幅Aiおよび位相Φiが生成される。
振幅Aiおよび位相Φiは計算に備えてコントローラ50内のメモリ69に記憶さ
れる。次に、工程310では、ソフトウエアが振幅AiおよびΦiを正規化し、次
の式に従って試験点数TEST1を生成する。
ここで、AMP1は最初の試験点数TEST1の振幅成分として参照され、また
PH1は最初の試験点数TEST1の位相成分として参照されよう。
同様に、工程310では、ソフトウエアが第2の試験点数TEST2を次の式
に従って決定する。
プローブ46の先端が身体組織66の接触すると、インピーダンスZ、従って
ノード電圧VP(fi)の大きさはすべての周波数成分で急速に低下する。しかし
、第1試験点数TEST1の振幅成分AMP1は、各成分が第1成分A1に対し
て正規化されているため、振幅A1−A5よりもはるかにゆっくりと変動する。従
って、ノード電圧VP(fi)の振幅A2−A5の変化は第1周波数に関する振幅A1
の変化によってオフセットを与えられよう。振幅成分AMP1は、従って、振
幅A1とA2−A5の変化率が異なる範囲でしか変動しないことになろう。
第1試験点数TEST1の位相成分PH1は、インピーダンスZの無効成分と
抵抗成分との相対強度の関数として大まかに表される。すなわち、インピーダン
スZが本質的に抵抗性である場合には、第1試験点数TEST1の位相成分は本
質的にゼロとなろう。インピーダンスZが本質的に無効性である場合には、第1
試験点数TEST1の位相成分はその最大値を取ることになろう。上で述べたよ
うに、インピーダンスZは、プローブ46が身体組織66と接触するように近づ
くにつれて、本質的に抵抗性のものから本質的に無効性のものへと変化する。従
って、第1試験点数TEST1の位相成分PHIは、プローブ46が身体組織6
6へ接触するように近づくにつれて、本質的にゼロからそれの最大値へと変化す
るであろう。
第2試験点数TEST2が振幅A1−A5に逆比例しており、プローブ46が尖
端位置へ近づくにつれて、それら振幅A1−A5が低下するため、第2試験点数T
EST2は、プローブ46が身体組織66へ近づくにつれて急速に上昇する。第
2試験点数TEST2は、従って、第1試験点数TEST1の結果を確認するた
めに用いることができる。更に、第2試験点数TEST2はインピーダンスZの
大きさが許容範囲に含まれるかどうかを示すことができる。過度に低いインピー
ダンス強度は、プローブ46周りの過剰な医用液体から生ずるような好ましくな
い測定状態を示すことができる。過度に大きいインピーダンス強度はプローブ4
6がまだ挿入されていないことを示すことができ、上で述べた工程303を補う
ものとして、ソフトウエアルーチンに割り込みを掛けるために使用することがで
きる。一旦試験点数が計算されると、工程311で、ソフトウエアがポーリング
を行って、プログラム可能ゲートアレイ53が入力インターフェース49から何
らかのコマンドをラッチされていないかを調べる。もしラッチされたコマンドが
何もなければ、ソフトウエアは第1または第2の試験点数、TEST1またはT
EST2を許容範囲と比較して、身体組織と接触しているかあるいは好ましくな
い測定状態であるがを同定する。もし試験点数TEST1、TEST2が許容範
囲を逸脱していれば、工程314で、警告灯76アラームまたはその他の表示器
が駆動される。
次に、図4に示されるように、第1試験点数TEST1がディスプレイ44上
へ幅広い棒グラフ71として表示される(工程317)。幅広い棒グラフ71は
、プローブ46の先端が組織66に接触した時点を、目立つ画像表示で示す。第
2試験点数TEST2もまた、ディスプレイ上へ狭い棒グラフ72として提供さ
れて、インピーダンスZが適正な結果を与える範囲にあるかどうかを表示する。
あるいは、第1および第2の試験点数、TEST1およびTEST2は7セグメ
ント・ディスプレイまたは任意のその他の表示装置によって数字で表すこともで
きる。
もし工程311で利用者が入力インターフェース49を介してコマンドを入力
していれば、ソフトウエアは図3Bに示される割り込み処理ルーチンへジャンプ
する。工程320に示されるように、この割り込み中に、ソフトウエアは、ディ
スプレイコントラストの調節(工程322)、アラームモードの選択(工程32
4)、根尖バイアスレベルの感度調節(工程326)、あるいはコントローラ5
0を学習モードへ設定(工程328)などの、ラッチされた入力を入力インター
フェース49から受け取る(図1および図2)。割り込み処理ルーチンが完了す
れば直ちにソフトウエアは工程312へ戻って、アラーム状態を評価して、その
結果を表示する。
本発明には例示実施例を取り上げて説明してきたが、本発明の精神およびスコ
ープから外れることなしに各種の修正が行われ得よう。例えば、図1の実施例は
5つの主要周波数成分を有する試験信号V(fi)を使用しているが、それより
も数多い、あるいは少ない周波数成分を使用することもできる。あるいは、尖端
位置を同定するために、多様なその他のスペクトルまたは位相解析技術を使用す
ることもできる。例えば、試験信号Vp(fi)を短いパルスとして、それによ
り幅広いスペクトル内容を有する入力を提供することもできる。次に、ノード電
圧VP(fi)のスペクトル内容全体をモニターして、基準スペクトル応答と比較
することによって尖端位置を決定することができる。同じタイプの入力パルスを
使用して、ノードにおけるパルス応答の形状をモニターして、基準パルス応答と
比較することで尖端位置を決定することができる。別の方法として、1個または
複数個のパルスを入力して、出力パルスの遅延時間を検出することができる。こ
の遅延時間はインピーダンスZの容量性成分に対応するので、この遅延時間から
尖端位置を決めることができる。
同様に、高速フーリエ変換技術以外の多様な技術を用いて、デジタル版の試験
信号V(fi)を解析することができる。例えば、ヘテロダイン回路またはその
他の周波数分解方式を適用して各種の周波数成分の位相および振幅を抽出するこ
とができる。更に、ここに述べた試験点数は振幅を正規化し、各種成分の和を求
めるために特殊なアルゴリズムを使用しているが、その他の多様なアルゴリズム
も本発明のスコープに含まれよう。例えば、位相成分PHIまたは位相Φi−Φ5
のこれ以外の数学的関数を用いて、プローブ46と組織66との接触の分離表示
を提供することができる。同様に、各位相Φi−Φ5を別々に表示すること
や、位相および振幅のその他の多様な組み合わせを用いて、プローブ46と組織
66との間の接触の表示を与えることができる。更に、試験点数TEST1およ
びTEST2を表示するために、ディスプレイ44は原理的に一対の棒グラフを
使用している。これの代わりに、試験点数TEST1およびTEST2を、その
他の多様な技術を用いて表示することもできよう。それらの中には数字表示器、
カラー灯、あるいはその他多様な表示技術が含まれる。更に、第1試験点数TE
ST1を用いて、組織66との接触を、チャイム、ビープ音、あるいはその他の
音で知らせるように駆動することもできる。また、上で述べた警告灯76の代わ
りに、あるいはそれを補うものとして、チャイムまたはその他の表示器を用いて
、許容できない測定状態を表示することもできる。従って、本発明は特許請求の
範囲以外のもので制限されることはない。
請求の範囲
1. 尖端位置を検出するための装置であって、
第1電極であって、歯(62)の根管(60)を穿通するための形状をした導
電性プローブを含む第1電極(46)、
患者の身体(66)へ電気的に接触するように配置された第2電極(48)、
前記第1および第2電極(46,48)間で、実部および虚部成分を有する複
素インピーダンスを検出するための検出器、
前記検出器によって検出された前記複素インピーダンスの少なくとも2つの異
なるパラメータから、尖端位置の指標信号を生成するための電子式コントローラ
(50)であって、前記パラメータの少なくとも1つが前記複素インピーダンス
の位相である、電子式コントローラ、および
前記電子式コントローラ(50)によって生成された信号から尖端位置を指標
を生成するためのインターフェース(44)、
を含む装置。
2. 請求項第1項記載の装置であって、ここにおいて、前記検出器が前記複素
インピーダンスの振幅を検出するための振幅検出器を含んでおり、またここにお
いて、そこから前記電子式コントローラ(50)が尖端位置の指標信号を生成す
る少なくとも1つのパラメータが前記複素インピーダンスの前記検出された振幅
である装置。
3. 請求項第1項または第2項記載の装置であって、更に、前記電極へつなが
れて、前記電極(46,48)に対して少なくとも2つの異なる周波数成分を有
する信号信号(V(Fi))を供給するように配置された信号発生器を含む装置
。
4. 請求項第2項に従属する第3項記載の装置であって、ここにおいて、前記
電子式コントローラ(50)が、異なる周波数が前記電極(46,48)へ供給
される場合に、前記複素インピーダンスの振幅の累積関数に基づいて尖端位置の
指標信号を生成し、また異なる周波数が前記電極(46,48)へ供給される場
合に、前記複素インピーダンスの位相の累積関数に基づいて尖端位置の指標信号
を生成するようになった装置。
5. 請求項第2項に従属する第3項記載の装置であって、ここにおいて、前記
電子式コントローラ(50)が、少なくとも3つの異なる試験周波数における、
前記複素インピーダンス振幅の複数の相対的な関係に基づいて、また少なくとも
3つの異なる周波数における、前記複素インピーダンスの実部および虚部成分の
間の複数の関係に基づいて、尖端位置の指標信号を生成するようになった装置。
6. 請求項第3項記載の装置であって、ここにおいて、そこから前記電子式コ
ントローラ(60)が尖端位置の指標信号を生成する、検出器によって検出され
た前記少なくとも2つの異なるパラメータが、前記信号発生器が前記電極(46
,48)に対して第1の周波数を有する試験信号を供給する場合には前記複素イ
ンピーダンスの第1の位相であり、また前記信号発生器が前記電極(46,48
)に対して第2の周波数を有する試験信号を供給する場合には前記複素インピー
ダンスの第2の位相であるようになった装置。
7. 請求項第6項記載の装置であって、ここにおいて、前記電子式コントロー
ラ(50)が前記試験周波数の前記位相の累積関数に基づいて尖端位置の指標信
号を生成するようになった装置。
8. 請求項第3項ないし第7項の任意の項記載の装置であって、ここにおいて
、前記検出器が前記異なる周波数の各々において電流と電圧との間の相対的な位
相を用いて前記複素インピーダンスの実部および虚部成分を表す情報を決定する
ようになった装置。
9. 先行する任意の請求項記載の装置であって、ここにおいて、前記電子式コ
ントローラ(50)が異なる周波数における前記複素インピーダンスの振幅の累
積関数に基づいて尖端位置の指標信号の有効性についての更なる信号を生成する
ようになった装置。
10.先行する任意の請求項記載の装置であって、更に、前記複素インピーダン
スの前記決定されたパラメータを記憶するためのメモリを含んでいる装置。
11.先行する任意の請求項記載の装置であって、ここにおいて、前記インター
フェースが可視ディスプレイ(44)である装置。
12.先行する任意の請求項記載の装置であって、ここにおいて、前記インター
フェースが、尖端位置に到達した時点を表示するための可聴アラームを含んでい
る装置。
13.尖端位置を検出するための方法であって、
患者の身体(66)に第1の場所で電気的に接触する工程、
第2の場所で、歯(62)の根管(60)を導電性プローブ(46)で以て探
る工程、
前記第1場所と第2場所との間で、実部および虚部成分を有する複素インピー
ダンスを検出する工程、
前記検出器によって検出された前記複素インピーダンスの少なくとも2つの異
なるパラメータから前記第2場所の指標信号を生成する工程であって、前記パラ
メータの少なくとも1つが前記複素インビーダンスの位相である工程、および
前記第2場所を表示する工程、
を含む方法。
14.請求項第13項記載の方法であって、更に、前記第2場所の指標信号を基
準信号と比較して、前記第2場所が尖端位置に対応しているかどうかを決定する
工程を含む方法。
15.請求項第13項または第14項記載の方法であって、ここにおいて、前記
検出工程が前記複素インピーダンスの振幅を検出する工程を含んでおり、またこ
こにおいて、そこから前記第2場所の指標信号が決定される前記パラメータの少
なくとも1つが前記複素インピーダンスの前記検出された振幅である方法。
16.請求項第13項ないし第15項の任意の項記載の方法であって、ここにお
いて、前記患者に対して複数の異なる周波数が供給されるようになっており、ま
たここにおいて、前記複素インピーダンスが前記異なる周波数において検出され
るようになった方法。
17.請求項第16項記載の方法であって、ここにおいて、前記患者に対して供
給される信号がマルチ周波数信号であり、またここにおいて、前記マルチ周波数
信号によって生成される応答信号が検出されて、前記応答信号のスペクトル成分
が異なる周波数において抽出されるようになった方法。
18.請求項第17項記載の方法であって、ここにおいて、前記選ばれたスペク
トル成分を抽出する前記工程が、前記選ばれたスペクトル成分の周波数における
信号で以て前記応答信号をヘテロダイン処理する工程を含んでいる方法。
19.請求項第17項記載の方法であって、ここにおいて、前記選ばれたスペク
トル成分を抽出する前記工程が、前記応答信号に対して変換技術を実行する工程
を含んでいる方法。
20.請求項第19項記載の方法であって、ここにおいて、前記変換技術が高速
フーリエ変換技術である方法。
21.請求項第16項ないし第20項の任意の項記載の方法であって、ここにお
いて、前記応答信号のスペクトル成分が、前記プローブ(46)が尖端位置にあ
る場合に対応するスペクトル成分の基準組と比較されるようになっており、また
ここにおいて、前記抽出されたスペクトル成分が前記基準スペクトル成分に対応
する時に、プローブ(46)が尖端位置にあることが表示されるようになった方
法。
22.請求項第16項ないし第20項の任意の項記載の方法であって、ここにお
いて、前記第2場所の指標信号が、前記患者へ供給される異なる周波数における
前記複素インピーダンスの振幅の累積関数から決定されるようになっており、ま
た患者へ供給される異なる周波数における前記複素インピーダンスの位相の累積
関数に基づいて決定されるようになった方法。
23.請求項第15項に従属する第16項ないし第20項の任意の項記載の方法
であって、ここにおいて、前記第2場所の指標信号が、少なくとも3つの異なる
周波数における前記複素インピーダンスの振幅に関する複数の関係と、少なくと
も3つの異なる周波数における前記複素インピーダンスの実部および虚部の成分
間の複数の関係とから決定されるようになった方法。
24.請求項第16項ないし第20項記載の方法であって、ここにおいて、前記
検出される少なくとも2つの異なるパラメータが、前記患者へ供給される第1の
周波数における前記複素インピーダンスの第1の位相と、患者へ供給される第2
の周波数における前記複素インピーダンスの第2の位相とである方法。
25.請求項第24項記載の方法であって、ここにおいて、前記第2場所の指標
信号が、異なる周波数における位相の累積関数に基づいている方法。
26.請求項第16項ないし第25項の任意の項記載の方法であって、ここにお
いて、前記複素インピーダンスの実部および虚部成分を表す前記情報が、前記異
なる周波数の各々における電流と電圧との間の相対的な位相関係を用いて決定さ
れるようになった方法。
27.請求項第16項ないし第26項の任意の項記載の方法であって、ここにお
いて、前記患者に対して異なる周波数の試験信号が供給される時に、前記複素イ
ンピーダンスの強度の累積関数に基づいて、前記第2場所の指標信号の有効性に
関する更なる指標信号を含む方法。
28.請求項第27項記載の方法であって、ここにおいて、前記第2場所の指標
信号の有効性を表示する前記信号が予め定められた範囲外にあって、無効信号を
表示する時に、可聴アラームが鳴らされるようになった方法。
29.請求項第27項記載の方法であって、ここにおいて、前記第2場所の指標
信号の有効性が可視ディスプレイ上に表示されるようになった方法。
30.請求項第13項ないし第29項の任意の項記載の方法であって、ここにお
いて、前記第2場所が可視ディスプレイ上に表示されるようになった方法。
31.請求項第29項または第30項記載の方法であって、ここにおいて、前記
可視表示が棒グラフである方法。
32.請求項第13項ないし第29項の任意の項記載の方法であって、ここにお
いて、尖端位置が可聴音で表示されるようになった方法。
33.尖端検出装置であって、
第1電極であって、歯の根管を穿通するための形状をした導電性プローブを含
む第1電極、
患者の身体へ電気的に接触するように配置された第2電極、
前記第1および第2電極へつながれた位相検出器であって、実部成分および虚
部成分を有する複素インピーダンスの位相を検出するように作動する位相検出器
、
前記位相検出器へつながれて、前記検出された位相の関数である1つのパラメ
ータの表示を利用者に対して提供する利用者インターフェース
前記検出器へつながれた電子式コントローラであって、根管の尖端における前
記プローブの位置を前記検出された位相の関数として表示する信号を生成するよ
うに作動するコントローラ、および
前記複素インピーダンスの強度を検出するように作動する振幅検出器であって
、ここにおいて、前記コントローラが、根管の尖端における前記プローブの位置
を、検出された位相と強度の両方の関数として表示する信号を生成するように作
動するようになった振幅検出器、
を含む装置。
34.尖端検出装置であって、
第1電極であって、歯の根管を穿通するための形状をした導電性プローブを含
む第1電極、
患者の身体へ電気的に接触するように配置された第2電極、
前記第1および第2電極へつながれた位相検出器であって、実部成分および虚
部成分を有する複素インピーダンスの位相を検出するように作動する位相検出器
、
前記位相検出器へつながれて、前記検出された位相の関数である1つのパラメ
ータの表示を利用者に対して提供する利用者インターフェース、および
前記第1および第2電極へつながれて、複数の試験周波数を含む試験信号を前
記第1および第2電極へ供給する信号源であって、ここにおいて、前記位相検出
器が前記試験周波数の各々において前記複素インピーダンスの前記位相を検出す
るように作動するようになった信号源、
を含む尖端検出装置。
35.請求項第34項記載の尖端検出器であって、更に、前記位相検出器へつな
がれた電子式コントローラであって、根管の尖端における前記プローブの位置を
、前記試験周波数における前記位相の累積関数として表示する信号を生成するよ
うに作動するようになった尖端検出器。
36.患者の第1タイプの身体組織との接触を検出するための装置であって、
前記患者の身体へ結合可能な第1電極、
前記第1タイプの組織と接触するように移動可能な第2電極であって、患者の
身体に接触するためのプローブ要素を含む第2電極、および前記第1および第2
電極へつながれた複素インピーダンスヤンサーであって、前記第1電極と第2電
極との間で、少なくとも3つの異なる周波数の間での振幅に関する複数の関係と
、少なくとも3つの異なる周波数におけるインピーダンスの実部および虚部成分
間
の複数の関係とを検出するように構成された複素インピーダンスセンサー、を含
む装置。
37.請求項第36項記載の装置であって、ここにおいて、前記複素インピーダ
ンスセンサーが、
第1の周波数における第1の試験信号、第2の周波数における第2の試験信号
、および第3の周波数における第3の試験信号を生成する信号源であって、前記
第1または第2電極へつながれて、前記患者に対して前記第1、第2、および第
3試験信号を供給する信号源、および
前記第1または第2電極へつながれて、前記第1、第2、および第3試験信号
に応答する電流と電圧との間の複数の相対的位相を検出する信号モニター、を含
んでいる装置。
38.請求項第36項記載の装置であって、更に、前記複素インピーダンスセン
サーへつながれて、前記第1、第2、および第3周波数における実部および虚部
成分間の複数の関係を表す情報を記憶するように構成されたメモリデバイスを含
む装置。
39.請求項第38項記載の装置であって、ここにおいて、前記複素インピーダ
ンスセンサーが、前記第1または第2電極へつながれた信号モニターと、前記第
1、第2、および第3試験信号に応答する電流と電圧との間の相対的位相を検出
するための手段とを含んでおり、ここにおいて、前記情報が前記第1、第2、お
よび第3周波数における電流と電圧との間の相対的位相を含む実部および虚部成
分を表している装置。
40.患者の根管中の尖端位置を検出する方法であって、
第1の場所において患者と電気的に結合する工程、
第2の場所で根管にプローブを挿入する工程、
前記第1場所と第2場所との間で、第1の位相成分および第1の強度成分を有
する複素インピーダンスを検出する工程、および
前記第1位相成分の関数として、前記第2場所の指標を生成する工程、
を含み、
前記第1および第2場所間で複素インピーダンスを検出する前記工程が、
第1の周波数において第1のインピーダンスを検出する工程、および
前記第1周波数とは異なる第2の周波数において第2のインピーダンスを検出
する工程、
を含んでおり、
ここにおいて、前記第1位相成分が前記第1インピーダンスに対応し、第2の
位相成分が前記第2インピーダンスに対応している、
方法。
41.請求項第40項記載の方法であって、更に、前記指標を基準指標と比較し
て、前記第2場所が尖端位置であるかどうかを決定する工程を含む方法。
42.請求項第40項記載の方法であって、ここにおいて、前記第1位相成分の
関数としての指標を生成する前記工程が、更に、前記第1強度成分の関数として
前記指標を生成する工程を含んでいる方法。
43.請求項第40項記載の方法であって、ここにおいて、前記第1位相成分の
関数としての指標を生成する前記工程が、前記第1および第2位相成分の関数と
して第1の試験点数を生成する工程を含んでいる方法。
44.請求項第43項記載の方法であって、ここにおいて、前記第1試験点数が
更に前記第1および第2インピーダンスの強度の関数である方法。
45.請求項第43項記載の方法であって、更に、前記第1および第2インピー
ダンスの強度の関数として第2の試験点数を生成する工程を含む方法。
46.請求項第40項記載の方法であって、更に、前記第1試験点数を利用者が
見るように構成されたディスプレイ上に表示する工程を含む方法。
47.請求項第46項記載の方法であって、ここにおいて、前記第1試験点数を
利用者が見るように構成されたディスプレイ上へ表示する前記工程が、前記第1
試験点数を棒グラフとして表示する工程を含んでいる方法。
48.請求項第40項記載の方法であって、ここにおいて、前記第1および第2
場所間で複素インピーダンスを検出する前記工程が、前記第1および第2周波数
の各々においてスペクトル成分を有するマルチ周波数試験信号を生成する工程、
前記マルチ周波数信号を前記患者に対して供給する工程、前記マルチ周波数信号
によって生成される応答信号を検出する工程、および前記第1および第2周波数
において前記応答信号のスペクトル成分を抽出する工程を含んでいる方法。
49.尖端位置を表示する方法であって、
プローブで以て根管を探る工程、前記プローブと患者の身体上の1つの場所と
の間で複素インピーダンスの複素成分を検出する工程、
前記複素成分の関数として第1の試験点数を生成する工程、および前記第1試
験点数を利用者に対して表示する工程、および
前記複素インピーダンスの選ばれた成分に基づいて、試験状態を表示する第2
の試験得点を生成する工程、および前記第2試験点数に応答して、前記試験状態
の可視表示を生成する工程、
を含む方法。
50.請求項第49項記載の方法であって、ここにおいて、前記第1試験点数を
表示する前記工程が、棒グラフ表示器を駆動する工程を含んでいる方法。
51.請求項第49項記載の方法であって、ここにおいて、前記試験状態の可視
表示を提供する前記工程が、第2の棒グラフを駆動する工程を含んでいる方法。
52.尖端位置を表示する方法であって、
プローブで以て根管を探る工程、
前記プローブと患者の身体上の1つの場所との間で複素インピーダンスの複素
成分を検出する工程、
前記複素成分の関数として第1の試験点数を生成する工程、
前記試験点数を利用者に対して表示する工程、
前記複素インピーダンスの選ばれた成分に応答して、好ましくない測定状態を
同定する工程、および
前記好ましくない測定状態の可聴表示を提供する工程、
を含む方法。
53.プローブ位置を決定する方法であって、
患者の身体へプローブを供給する工程、
前記プローブに対して、2つよりも多い複数の周波数においてスペクトル成分
を有するマルチ周波数信号を供給する工程、
前記供給されたマルチ周波数信号に応答して生成される応答信号を検出する工
程、
前記応答信号から、2つよりも多い選ばれたスペクトル成分を抽出する工程、
および
前記抽出されたスペクトル成分に応答して、前記抽出されたスペクトル成分の
振幅比および位相角度の和に基づいて、前記プローブ位置を示す出力を生成する
工程、
を含む方法。
54.請求項第53項記載の方法であって、ここにおいて、前記出力が試験点数
である方法。
55.請求項第53項記載の方法であって、更に、前記抽出されたスペクトル成
分を、前記プローブが所望の位置にある場合に対応するスペクトル成分の基準組
と比較する工程を含み、そして前記抽出されたスペクトル成分が前記基準スペク
トル成分と一致する時に、プローブが所望の位置にあることを表示するようにな
った方法。
56.請求項第55項記載の方法であって、ここにおいて、前記応答信号から選
ばれたスペクトル成分を抽出する前記工程が、前記選ばれたスペクトル成分の周
波数における信号で以て前記応答信号をヘテロダイン処理する工程を含んでいる
方法。
57.請求項第53項記載の方法であって、ここにおいて、前記応答信号から前
記選ばれたスペクトル成分を抽出する前記工程が、前記応答信号に対して変換技
術を実行する工程を含んでいる方法。
58.請求項第57項記載の方法であって、ここにおいて、前記変換技術が高速
フーリエ変換である方法。
59.請求項第53項記載の方法であって、ここにおいて、前記出力を生成する
前記工程が、
低いほうの周波数成分に関するよりも高いほうの周波数成分に関してより高く
なっている前記抽出されたスペクトル成分の振幅比および位相角度の和に基づい
て、前記出力を生成する工程、
を含んでいる方法。
60.請求項第53項記載の方法であって、ここにおいて、
プローブに対してマルチ周波数信号を供給する前記工程が、少なくとも5つの
複数周波数においてスペクトル成分を有するマルチ周波数信号を供給する工程を
含んでおり、
前記抽出工程が、前記応答信号から少なくとも5つの選ばれたスペクトル成分
を抽出する工程を含んでおり、更に、
前記生成工程が、最も低い周波数の抽出スペクトル成分と、その他の周波数の
抽出スペクトル成分との振幅比および位相角度の和に基づいて、前記出力を生成
する工程を含んでいる、
方法。
61.請求項第53項記載の方法であって、ここにおいて、
プローブに対してマルチ周波数信号を供給する前記工程が、低いほうの周波数
成分の周波数の2倍であるスペクトル成分を有するマルチ周波数信号を供給する
工程を含んでおり、更に、
前記応答信号から、選ばれたスペクトル成分を抽出する前記工程が、前記応答
信号に対して高速フーリエ変換技術を実行する工程を含んでいる、
方法。
62.請求項第53項記載の方法であって、ここにおいて、
前記出力を生成する前記工程が、抽出されたスペクトル成分の振幅の和に基づ
いて出力を生成する工程を含んでいる、
方法。
63.請求項第53項記載の方法であって、ここにおいて、
前記プローブに対して前記マルチ周波数信号を供給する前記工程が、500H
zないし10kHzの範囲にある、2つよりも多い複数周波数においてスペクト
ル成分を有するマルチ周波数信号を供給する工程を含んでいる、
方法。
64.請求項第53項記載の方法であって、ここにおいて、
前記プローブに対して前記マルチ周波数信号を供給する前記工程が、500H
z、1kHz、2kHz、4kHz、および8kHzを含むグループから選ば
れた2つよりも多い複数周波数においてスペクトル成分を有するマルチ周波数信
号を供給する工程を含んでいる、
方法。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(81)指定国 EP(AT,BE,CH,DE,
DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,IT,L
U,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ,CF
,CG,CI,CM,GA,GN,ML,MR,NE,
SN,TD,TG),AP(GH,KE,LS,MW,S
D,SZ,UG,ZW),EA(AM,AZ,BY,KG
,KZ,MD,RU,TJ,TM),AL,AM,AT
,AU,AZ,BA,BB,BG,BR,BY,CA,
CH,CN,CU,CZ,DE,DK,EE,ES,F
I,GB,GE,GH,HU,ID,IL,IS,JP
,KE,KG,KP,KR,KZ,LC,LK,LR,
LS,LT,LU,LV,MD,MG,MK,MN,M
W,MX,NO,NZ,PL,PT,RO,RU,SD
,SE,SG,SI,SK,SL,TJ,TM,TR,
TT,UA,UG,UZ,VN,YU,ZW
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1. 尖端検出装置であって、 第1電極であって、歯の根管に穿通するための形状をした導電性プローブを含 む第1電極、 患者の身体に電気的に接触するように配置された第2電極、 前記第1および第2電極へつながれた位相検出器であって、実部と虚部とを有 する複素インピーダンスの位相を検出するように作動する位相検出器、 前記位相検出器へつながれて、検出された位相の関数であるパラメータの表示 を利用者に提供するための利用者インターフェース、 を含む尖端検出装置。 2. 請求項第1項記載の尖端検出器であって、更に、前記位相検出器へつなが れた電子式コントローラを含み、前記電子式コントローラが根尖にあるプローブ の位置を、検出された位相の関数として表示する信号を生成するように作動する ようになった尖端検出器。 3. 請求項第2項記載の尖端検出器であって、更に、複素インピーダンス強度 を検出するように作動する強度検出器を含み、ここにおいて、前記コントローラ が根尖にあるプローブの位置を、検出された位相および強度の両方の関数として 表示する信号を生成するように動作するようになった尖端検出器。 4. 請求項第1項記載の尖端検出器であって、更に、前記第1および第2の電 極へつながれた信号源であって、前記第1および第2電極に対して、複数の試験 周波数を含む試験信号を供給する信号源を含み、ここにおいて、前記位相検出器 が各々の試験周波数において複素インピーダンスの位相を検出するように作動す るようになった尖端検出器。 5. 請求項第4項記載の尖端検出器であって、更に、前記位相検出器へつなが れた電子式コントローラを含み、前記電子式コントローラが根尖にあるプローブ の位置を、試験周波数における位相の累積関数として表示する信号を生成するよ うに動作するようになった尖端検出器。 6. 患者の第1タイプの身体組織との接触を検出するための装置であって、 前記患者の身体へ結合可能な第1電極、 前記第1タイプの組織と接触するように移動可能な第2電極であって、患者の 身体に接触するためのプローブ要素を含む第2電極、および 前記第1および第2電極へつながれた複素インピーダンスセンサーであって、 前記第1電極と第2電極との間のインピーダンスの実部と虚部との間の関係を検 出するように構成された複素インピーダンスセンサー、 を含む装置。 7. 請求項第6項記載の装置であって、ここにおいて、前記複素インピーダン スセンサーが、 第1周波数の第1試験信号と第2周波数の第2試験信号とを生成する信号源で あって、前記第1および第2電極へつながれて前記患者に対して前記第1および 第2試験信号を供給する信号源、および 前記第1または第2電極へつながれて、前記第1および第2試験信号に応答す る電流と電圧との間の相対的な位相を検出するための信号モニター、 を含んでいる装置。 8. 請求項第6項記載の装置であって、更に、前記複素インピーダンスセンサ ーへつながれて、前記第1および第2周波数における実部と虚部との間の関係を 表わす情報を記憶するように構成されたメモリ装置を含む装置。 9. 請求項第8項記載の装置であって、ここにおいて、前記複素インピーダン スセンサーが、前記第1または第2電極へつながれて、前記第1および第2試験 信号に応答する電流と電圧との間の相対的な位相を検出する信号モニターを含ん でおり、ここにおいて、前記実部および虚部を表す情報が前記第1および第2周 波数における電流と電圧との間の相対的な位相を含んでいる装置。 10.患者の根管中の尖端位置を検出する方法であって、 患者に対して第1の場所において電気的に接続を取る工程、 第2の場所で根管にプローブを挿入する工程、 前記第1場所と第2場所との間で、第1位相成分および第1強度成分を有する 複素インピーダンスを検出する工程、および 前記第1位相成分の関数として前記第2場所の指標を生成する工程、 を含む方法。 11.請求項第10項記載の方法であって、更に、前記指標を基準指標と比較し て、前記第2場所が尖端位置であるかどうかを決定する工程を含む方法。 12.請求項第10項記載の方法であって、ここにおいて、前記第1位相成分の 関数として指標を生成する前記工程が、更に、前記第1強度成分の関数としての 前記指標を生成する工程を含んでいる方法。 13.請求項第10項記載の方法であって、ここにおいて、前記第1場所と前記 第2場所との間で複素インピーダンスを検出する前記工程が、 第1周波数において第1インピーダンスを検出する工程、および 前記第1周波数とは異なる第2周波数において第2インピーダンスを検出する 工程であって、ここにおいて、前記第1位相成分が前記第1インピーダンスに対 応しており、第2の位相成分が前記第2インピーダンスに対応している工程、 を含んでいる方法。 14.請求項第13項記載の方法であって、ここにおいて、前記第1位相成分の 関数として指標を生成する前記工程が、前記第1および第2位相成分の関数とし て第1の試験点数を生成する工程を含んでいる方法。 15.請求項第14項記載の方法であって、ここにおいて、前記第1試験点数が 更に、前記第1および第2インピーダンス強度の関数である方法。 16.請求項第14項記載の方法であって、更に、前記第1および第2インピー ダンス強度の関数として第2の試験点数を生成する工程を含む方法。 17.請求項第13項記載の方法であって、更に、利用者が見るように構成され たディスプレイ上に前記第1試験点数を表示する工程を含む方法。 18.請求項第17項記載の方法であって、ここにおいて、利用者が見るように 構成されたディスプレイ上に前記第1試験点数を表示する前記工程が、前記第1 試験点数を棒グラフとして表示する工程を含んでいる方法。 19.請求項第13項記載の方法であって、ここにおいて、前記第1場所と前記 第2場所との間で複素インピーダンスを検出する前記工程が、 前記第1および第2周波数の各々において、スペクトル成分を有するマルチ周 波数試験信号を生成する工程、 前記マルチ周波数信号を患者に供給する工程、 マルチ周波数信号によって生成される応答信号を検出する工程、および 前記第1および第2周波数において前記応答信号のスペクトル成分を抽出する 工程、 を含んでいる方法。 20.尖端位置を表示する方法であって、 根管をプローブで探る工程、 前記プローブと患者身体の1つの場所との間の複素インピーダンスの複素成分 を検出する工程、 前記複素成分の関数として第1の試験点数を生成する工程、および 利用者に対して、前記第1試験点数を表示する工程、 を含む方法。 21.請求項第20項記載の方法であって、ここにおいて、前記第1試験点数を 表示する前記工程が、棒グラフ指標を表示する工程を含んでいる方法。 22.請求項第20項記載の方法であって、更に、 前記複素インピーダンスの選ばれた成分に基づいて試験状態を表示する第2の 試験点数を生成する工程、および 前記第2試験点数に応答して、試験状態の可視表示を生成する工程、 を含む方法。 23.請求項第22項記載の方法であって、ここにおいて、前記試験状態の可視 表示を供給する前記工程が、第2の棒グラフ表示する工程を含んでいる方法。 24.請求項第21項記載の方法であって、更に、 前記複素インピーダンスの選ばれた成分に応答して、好ましくない測定状態を 同定する工程、および 前記好ましくない測定状態の可聴表示を提供する工程、 を含む方法。 25.プローブ位置を決定する方法であって、 患者の身体にプローブを供給する工程、 前記プローブに対して、複数周波数におけるスペクトル成分を有するマルチ周 波数信号を供給する工程、 前記供給されたマルチ周波数信号に応答して生成される応答信号を検出する工 程、 前記応答信号の選ばれたスペクトル成分を抽出する工程、および 前記抽出されたスペクトル成分に応答して、プローブ位置を表示する出力を生 成する工程、 を含む方法。 26.請求項第25項記載の方法であって、ここにおいて、前記出力が試験点数 である方法。 27.請求項第25項記載の方法であって、更に、 前記抽出されたスペクトル成分を、前記プローブが所望の位置にある時に対応 するスペクトル成分の基準セットと比較する工程、および 前記抽出されたスペクトル成分が前記基準スペクトル成分と一致する時に、前 記プローブが所望の位置にあることを表示する工程、 を含む方法。 28.請求項第25項記載の方法であって、ここにおいて、前記応答信号の選ば れたスペクトル成分を抽出する前記工程が、前記応答信号に対して変換技術を適 用する工程を含んでいる方法。 29.請求項第28項記載の方法であって、ここにおいて、前記変換技術が高速 フーリエ変換である方法。 30.請求項第27項記載の方法であって、ここにおいて、前記応答信号から選 ばれたスペクトル成分を抽出する前記工程が、前記選ばれたスペクトル成分の周 波数における信号で前記応答信号をヘテロダイン処理する工程を含んでいる方法 。
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