JP2002358120A - Batch plant operation managing device - Google Patents

Batch plant operation managing device

Info

Publication number
JP2002358120A
JP2002358120A JP2001168364A JP2001168364A JP2002358120A JP 2002358120 A JP2002358120 A JP 2002358120A JP 2001168364 A JP2001168364 A JP 2001168364A JP 2001168364 A JP2001168364 A JP 2001168364A JP 2002358120 A JP2002358120 A JP 2002358120A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
batch
deviation
event
value
reproducibility
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001168364A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Koji Kono
浩司 河野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Chemical Corp
Original Assignee
Mitsubishi Chemical Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Chemical Corp filed Critical Mitsubishi Chemical Corp
Priority to JP2001168364A priority Critical patent/JP2002358120A/en
Publication of JP2002358120A publication Critical patent/JP2002358120A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To evaluate the validity or invalidity of a plant state in a real time when each event to be evaluated of a batch operation is generated. SOLUTION: When each operation event to be evaluated of a batch operation is generated, a set value, an instructed value, and associated manipulated variables are extracted for each measuring unit to be monitored, and a deviation from the mean value of the past batch operation is calculated, and the normalized deviations of all the measuring units are averaged, and the validity or invalidity of a process state when the operation event is generated is judged based on the deviation. Thus, it is possible to quickly facilitate countermeasures when each event is generated based on the arithmetic operations in a real time.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、バッチプラント運
転管理装置に関し、特に、バッチプラントを対象とした
プラント運転状態をリアルタイムにモニタリングし、運
転の再現性を評価しつつバッチプラントの運転を制御す
るバッチプラント運転管理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a batch plant operation management device, and more particularly to a plant operation state monitoring system for a batch plant, which controls the operation of the batch plant while evaluating the reproducibility of the operation. The present invention relates to a batch plant operation management device.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、プラントの運転制御システムに含
まれる運転実績管理機能の中にバッチプラント向けデー
タベースを装備する例がある。このようなシステムで
は、製品の銘柄別の運転実績データをバッチ単位毎にシ
ステム的に整理でき、この整理したデータに基づいてバ
ッチ運転の再現性が検討され、その後の同様な運転の条
件設定に利用できる。しかし、このような手法は、あく
までもバッチ運転が完了してからの後追い的な解析であ
り、運転途中でのバッチ運転の再現性が検討される例は
なかった。
2. Description of the Related Art In recent years, there is an example in which a database for a batch plant is provided in an operation record management function included in an operation control system of a plant. In such a system, operation performance data for each product brand can be systematically organized for each batch, and based on this organized data, the reproducibility of batch operation is examined, and subsequent operation conditions can be set similarly. Available. However, such a method is a follow-up analysis to the last after the batch operation is completed, and there is no example in which the reproducibility of the batch operation during the operation is examined.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記のように、従来の
バッチプラントを対象とした実績管理機能では、その機
能が実績データの蓄積及び抽出機能に特化していた。こ
のため、仕込や反応といった、プロセス操作時の温度や
圧力、液面等のプロセス状態量に関するバッチ間の振れ
を調べるためには、同一銘柄における過去の実績を抽出
し今回バッチと比較する必要があり、今回バッチの運転
トラブルに対しては迅速な対応がとりにくいという問題
点があった。
As described above, in the performance management function for the conventional batch plant, the function is specialized to the performance data accumulation and extraction function. Therefore, it is necessary to extract past results for the same brand and compare it with the current batch in order to examine the inter-batch fluctuations related to the process state quantities such as temperature and pressure and liquid level during the process operation such as charging and reaction. There was a problem that it was difficult to quickly respond to batch operation troubles this time.

【0004】上記に鑑み、本発明は、後追いではなくリ
アルタイムにバッチ運転の再現性チェックを実施しつ
つ、プラント状態の変化を早い時期にとらえることで、
その状態変化に対して迅速な対応がとれるバッチプラン
ト運転管理装置を提供することを目的としている。
[0004] In view of the above, the present invention is to perform a batch operation reproducibility check in real time instead of following up, and to catch a change in the plant state at an early stage.
It is an object of the present invention to provide a batch plant operation management device capable of promptly responding to the state change.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明者らは、バッチプ
ラントにおける品質や収率の異常もしくは変動は、その
製造処方だけでなく、それ以外のプロセス状態のバッチ
間の振れに起因するケースが多いということを見出し、
本発明に到達した。
SUMMARY OF THE INVENTION The present inventors have found that abnormalities or fluctuations in the quality or yield in a batch plant are caused not only by the manufacturing recipe, but also by fluctuations between batches in other process conditions. I found that there were many,
The present invention has been reached.

【0006】上記知見に基づいて、本発明のバッチプラ
ント運転管理装置は、バッチプラントの運転をモニタリ
ングしつつバッチプラントの運転を管理するバッチプラ
ント運転管理装置において、予め定められた複数の事象
発生時点の夫々で、複数の計器の設定値、指示値及び関
連する操作量の少なくとも1つを含むプロセスデータを
各計器毎且つ各事象発生時点毎に記憶する記憶装置と、
今回バッチの各プロセスデータの、過去の所定回数のバ
ッチ運転で得られた対応するプロセスデータの平均値か
らの偏差を演算し、該偏差を対応する計器のレンジに対
応して正規化し、該正規化した各計器の偏差値の平均値
を前記事象発生毎に演算する演算装置と、各事象発生時
点において、前記偏差値の平均値に基づいて全体的なプ
ラントの状態の良否を判定する判定手段とを備えること
を特徴とする。
[0006] Based on the above knowledge, the batch plant operation management device of the present invention is a batch plant operation management device that manages the operation of a batch plant while monitoring the operation of the batch plant. A storage device for storing process data including at least one of a set value, an instruction value, and an associated operation amount of a plurality of instruments for each instrument and for each event occurrence time;
Calculate the deviation of each process data of this batch from the average value of the corresponding process data obtained in the past predetermined number of batch operations, normalize the deviation according to the corresponding instrument range, and A calculating device for calculating the average value of the deviation values of the respective instruments for each occurrence of the event, and determining whether the overall plant condition is good or bad at each occurrence time of the event based on the average value of the deviation values. Means.

【0007】本発明のバッチプラント運転管理装置で
は、各事象発生時点毎に、今回バッチのプラントの状態
の良否が、計器の偏差値の平均値に基づいて判定できる
ので、プラントの状態をその各事象発生時点毎に修正で
きる。
In the batch plant operation management device of the present invention, the quality of the plant state of the current batch can be determined based on the average value of the deviation values of the instruments at each time of occurrence of each event. It can be modified every time an event occurs.

【0008】本発明の好ましいバッチプラント運転管理
装置では、正規化された偏差値が相対的に大きな1つ以
上の監視対象計器を表示する。この表示は、判定手段に
よる判定が否であるときに行ってもよい。この場合、プ
ラント状態の改善のためにとるべき対応の把握が容易に
なる。
[0008] In a preferred batch plant operation management device of the present invention, one or more monitored instruments whose normalized deviation values are relatively large are displayed. This display may be performed when the determination by the determination means is negative. In this case, it is easy to grasp the measures to be taken for improving the plant condition.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】本発明の好適な実施形態例に係る
バッチプラント運転管理装置では、仕込開始、昇温開
始、反応開始といった各プロセス操作開始時のプロセス
データが、同一銘柄における過去複数バッチ分の運転実
績の平均値と比較してどの程度一致しているかを「再現
度」という指標で表すとともに、偏差の大きい順に監視
対象計器をリスト表示し、再現度を下げた要因がリアル
タイムに判断できるようにする。これによって、再現度
が低い場合には、その低い再現度を上げるために必要な
対応が容易に把握できる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION In a batch plant operation management apparatus according to a preferred embodiment of the present invention, process data at the start of each process operation, such as the start of charging, the start of heating, and the start of a reaction, are stored in the past multiple batches of the same brand. The degree of coincidence compared to the average value of the operation results for each minute is indicated by the index of "reproducibility", and the monitored instruments are displayed in a list in descending order of deviation, and the cause of the decrease in reproducibility is judged in real time It can be so. As a result, if the reproducibility is low, it is possible to easily grasp the necessary measures to increase the low reproducibility.

【0010】以下、本発明の一実施形態例に基づいて本
発明を更に詳細に説明する。図1は、本発明のバッチプ
ラント運転管理装置の構成を示す。本運転管理装置10
は、システムコンピュータ上に夫々構築される、データ
収集部11、事象管理部12、統計処理部13、実績比
較部14、情報表示部15、評価対象事象及び監視対象
計器リスト記憶装置16、及び、実績データベース17
から構成される。本運転管理装置10は、図示しないバ
ッチプラント制御装置と共同して、バッチプラント18
の運転、運転管理、それらのために必要なデータの収
集、及び、プラント状態の評価を行う。
Hereinafter, the present invention will be described in more detail based on an embodiment of the present invention. FIG. 1 shows a configuration of a batch plant operation management device of the present invention. Main operation management device 10
Is a data collection unit 11, an event management unit 12, a statistical processing unit 13, a performance comparison unit 14, an information display unit 15, an evaluation target event and a monitoring target instrument list storage device 16, which are respectively constructed on a system computer. Results database 17
Consists of The operation management device 10 cooperates with a batch plant control device (not shown) in cooperation with a batch plant 18.
Operation, operation management, collection of data necessary for them, and evaluation of plant condition.

【0011】評価対象事象及び監視対象計器リスト記憶
装置16は、バッチプラント18の運転に際して、解析
に必要な評価対象事象のリストと、これに関連する監視
対象計器のリストとを記憶している。データ収集部11
は、バッチプラント制御装置の計装システムから、バッ
チプラント運転中の温度、圧力、液面等のプロセス状態
量をリアルタイムに収集し、これを事象管理部12に与
える。
The evaluation target event and monitored instrument list storage device 16 stores a list of evaluation target events required for analysis and a list of monitoring target instruments related thereto when the batch plant 18 is operated. Data collection unit 11
Collects, in real time, process state quantities such as temperature, pressure, and liquid level during the operation of the batch plant from the instrumentation system of the batch plant control device, and provides this to the event management unit 12.

【0012】事象管理部12は、データ収集部11でリ
アルタイムに収集されたデータから、評価対象事象及び
監視対象計器リスト16を参照して、あらかじめ定義さ
れた評価対象操作について、事象発生通知フラグのオン
オフ状態を調べることにより、プラントで発生した評価
対象の操作事象を識別する。その際に、データ収集部1
1から取得した、各事象に関連するプロセスデータを対
象操作事象の発生時点のデータとして実績データベース
17に蓄積する。
The event management unit 12 refers to the list of events to be evaluated and the list of instruments to be monitored 16 based on the data collected in real time by the data collection unit 11, and sets the event occurrence notification flag for the predefined operation to be evaluated. By examining the on / off state, an operation event to be evaluated that has occurred in the plant is identified. At that time, the data collection unit 1
The process data related to each event acquired from No. 1 is accumulated in the performance database 17 as data at the time of occurrence of the target operation event.

【0013】図2は、或るバッチプラント運転の際の事
象を例示するフロー図である。このバッチプラント運転
は、窒素置換、仕込、昇温、反応、冷却、移送、受入、
及び、減圧から成る操作事象を有し、評価対象の仕込、
昇温、反応、冷却及び移送操作が、評価対象事象及び監
視対象計器リスト16に登録される。ここで、例えば仕
込開始の際には、仕込開始温度を計測する温度計等が監
視対象の計器であり、また、昇温開始の際には、昇温開
始温度、ジャケット温度、蒸気圧力等を計測する計器が
監視対象の計器である。各操作事象毎に、これら計器の
設定温度、その指示温度、及び、計器の指示に関連する
操作量が、事象管理部12によって取り出され、実績デ
ータベース17に蓄積される。
FIG. 2 is a flow chart illustrating events during the operation of a certain batch plant. This batch plant operation consists of nitrogen replacement, charging, heating, reaction, cooling, transfer, receiving,
And, having an operation event consisting of decompression, the preparation to be evaluated,
The heating, reaction, cooling, and transfer operations are registered in the evaluation target event and monitoring target instrument list 16. Here, for example, at the start of charging, a thermometer or the like that measures the charging start temperature is an instrument to be monitored, and at the time of starting temperature rising, the temperature rising start temperature, jacket temperature, steam pressure, etc. The instrument to be measured is the instrument to be monitored. For each operation event, the set temperature of the instrument, the indicated temperature, and the operation amount related to the indication of the instrument are extracted by the event management unit 12 and accumulated in the performance database 17.

【0014】統計処理部13は、あらかじめ装置別に計
器を分類し、監視対象となる1つ以上の計器における、
設定値、指示値、及び、操作量を、各評価対象事象の発
生時点で、事象管理部12から入力する。次いで、これ
ら各事象発生時点において入力された設定値、指示値、
及び、操作量について、今回バッチで製造される銘柄と
同一銘柄の過去nバッチ分の平均値及び標準偏差値を算
出する。ここで、nのデフォルトは例えば50とする。
また、新製品を生産するシステム立ち上げ時には、最初
のバッチの実績を書き込む際にその実績値をnバッチ分
の値として同一値を書き込む。入力した実績値の偏差
が、その時点での標準偏差の3倍を逸脱している場合に
は、そのデータは除外して前回実績値を書き込むこと
で、例外的なデータを排除しつつリアルタイムに平均値
及び標準偏差値を算出する。このとき、実績値が標準偏
差を逸脱した旨を履歴に残しておく。この逸脱した履歴
は、後からの逸脱した要因究明、対策検討、逸脱頻度、
傾向管理を実施する際に使用される。
The statistical processing unit 13 classifies the instruments in advance according to the device, and calculates one or more instruments to be monitored.
The set value, the instruction value, and the operation amount are input from the event management unit 12 at the time of occurrence of each event to be evaluated. Next, the set value, the indicated value,
Then, for the operation amount, the average value and the standard deviation value for the past n batches of the brand which is the same as the brand manufactured in the current batch are calculated. Here, the default of n is, for example, 50.
Also, when starting up a system for producing a new product, the same value is written as the value of n batches when the result of the first batch is written. If the deviation of the input actual value deviates from three times the standard deviation at that time, the data is excluded and the previous actual value is written, thereby eliminating the exceptional data and real-time. Calculate the mean and standard deviation. At this time, the fact that the actual value has deviated from the standard deviation is recorded in the history. This deviation history can be used to investigate the deviation factors later, consider countermeasures, deviation frequency,
Used when performing trend management.

【0015】ここで、xnewを今回バッチの実績値、X
oldを前回バッチまでのnバッチ分の平均値、x1を前回
バッチ迄の平均値を計算した時点での最も古い実績値と
すると、今回バッチで計算される平均値Xnewは、 Xnew=Xold+(xnew−x1)/n と表される。また、ρoldを前回までの標準偏差とする
と、今回実績で計算される標準偏差ρnewは、
Here, x new is the actual value of the current batch, X
n batches of the average value of the old until the last batch, when the oldest actual value at the time of calculating an average value of the x 1 up to the last batch, the average value X new new calculated in this batch, X new new = X old + (x new -x 1 ) / n. Also, if ρ old is the standard deviation up to the previous time, the standard deviation ρ new calculated this time is

【数1】 と示される。(Equation 1) Is shown.

【0016】実績比較部14は、収集された今回実績値
の前回平均値からの偏差を算出し、各計器の実際に指示
し得るフルレンジに対する百分率に換算(正規化)して
データベースに蓄積する。そして、各プロセス操作で監
視対象とした各計器における百分率換算偏差を100%
から差し引いた値を、その計器における再現度とする。
また、各プロセス操作における全ての監視対象計器の百
分率偏差の平均値を100%から差し引いた値を、その
操作事象における再現度とする。これら再現度は、実績
データベース17に蓄積する。このように再現度を定義
することによって、百分率換算偏差が0の場合には、再
現度は最高の100%となり、百分率換算偏差が100
の場合には、再現度は最低の0となる。
The performance comparison unit 14 calculates the deviation of the collected current performance value from the previous average value, converts it into a percentage of the full range that can be actually indicated by each instrument (normalized), and accumulates it in the database. Then, the percentage conversion deviation of each instrument monitored by each process operation is 100%.
Is the reproducibility of the instrument.
Further, a value obtained by subtracting the average value of the percentage deviations of all the instruments to be monitored in each process operation from 100% is defined as the reproducibility in the operation event. The reproducibility is stored in the performance database 17. By defining the reproducibility in this way, when the percentage conversion deviation is 0, the reproducibility is the highest 100%, and the percentage conversion deviation is 100%.
In the case of, the reproducibility is the lowest 0.

【0017】つまり、各操作事象における再現度Rは、 R=100.0−(Σαi*偏差(%))/対象計器数 で表される。但し、αiはi番目の計器の再現度算出に
対する重み係数であり、デフォルト値は1.0である。
また、一回のバッチプラントの運転の再現度を全体的に
評価するトータル再現度Rtは、mを評価対象操作数と
すると、 Rt=(ΣR)/m で示される。
That is, the reproducibility R for each operation event is represented by the following formula: R = 100.0− (Σα i * deviation (%)) / number of target instruments. Here, α i is a weight coefficient for the reproducibility calculation of the i-th instrument, and the default value is 1.0.
The total reproducibility Rt for evaluating the reproducibility of one batch plant operation as a whole is represented by Rt = (= R) / m where m is the number of operations to be evaluated.

【0018】情報表示部15は、各プロセス操作開始時
点における、今回バッチの再現度をバーグラフ表示する
とともに、監視対象計器をその偏差の大きな順にリスト
表示する。また、過去50バッチ分の再現度のトレンド
グラフも併せて表示する。
The information display section 15 displays a bar graph of the reproducibility of the current batch at the start of each process operation, and displays a list of instruments to be monitored in descending order of deviation. In addition, a trend graph of reproducibility for the past 50 batches is also displayed.

【0019】図2は、上記情報表示部15によって表示
される監視画面上の表示例を示し、使用装置名がR10
1、バッチ番号がxxx、銘柄名がAAAAの1回のバ
ッチ運転での表示である。左端に各評価対象操作名称
が、仕込開始、昇温開始、反応開始、回収開始、移送開
始と示される。各評価対象操作毎に、過去50バッチ分
の再現度の推移を示すグラフ、今回バッチの各操作毎の
再現度、及び、今回バッチにおいて最も再現度が低いと
判定されたワースト10の監視対象計器のリストがその
再現度と共に、示される。更に、トータル再現度Rt
が、50バッチ分の経過を示すグラフに示される。これ
らの表示は、プロセスの進行に従って逐次表示される。
FIG. 2 shows an example of a display on the monitoring screen displayed by the information display unit 15, wherein the name of the device used is R10.
1, a batch number is xxx, and a brand name is AAAAA in one batch operation. On the left end, the names of the operation to be evaluated are shown as start of charging, start of temperature rise, start of reaction, start of recovery, and start of transfer. For each operation to be evaluated, a graph showing the transition of the reproducibility for the past 50 batches, the reproducibility for each operation of the current batch, and the worst monitored instrument of the worst 10 which was determined to have the lowest reproducibility in the current batch Is shown, along with its recall. Furthermore, the total reproducibility Rt
Is shown in a graph showing the progress of 50 batches. These displays are sequentially displayed as the process proceeds.

【0020】今回バッチの運転中に、例えば反応開始の
時点で、より正確には、反応開始に先だって、再現度が
所定値以下に低下したと判定されると、又は、再現度の
平均値から所定以上の幅で再現度が低下したと判定され
ると、そのときの再現度がワースト10の計器名称がそ
の再現度と共にリストで表示される。このリストに表示
された対象計器及び再現度を参照することで、プロセス
状態の再現度の向上に必要な対応が容易に判断できる。
必要な対応を行った後に、再度、再現度の良否を判定
し、良と判定されると実際に反応が開始される。また、
今回バッチの運転が終了した時点で得られた再現度を含
むデータを点検することで、製品の品質や収率等の改善
のために、次のバッチ運転の際にとるべき対応が見いだ
せる。
During the operation of the present batch, for example, at the start of the reaction, more precisely, when it is determined that the reproducibility has decreased to a predetermined value or less prior to the start of the reaction, or from the average value of the reproducibility. If it is determined that the reproducibility has decreased over a predetermined width, the reproducibility at that time is displayed in a list with the worst 10 instrument names together with the reproducibility. By referring to the target instrument and the reproducibility displayed in the list, it is possible to easily determine a necessary measure for improving the reproducibility of the process state.
After taking necessary measures, the quality of reproducibility is determined again, and when it is determined to be good, the reaction is actually started. Also,
By checking the data including the reproducibility obtained at the end of the batch operation this time, it is possible to find out what measures to take in the next batch operation to improve product quality and yield.

【0021】上記実施形態例では、バッチ運転のキーポ
イントとなる、評価対象のプロセス操作時でプロセス状
態の再現度を評価し、この再現度をリアルタイムに情報
として運転担当者に提供できる。このため、バッチ運転
の途中で正常時との違いを早期に認識して迅速な対応が
実施しやすくなるとともに、品質や収率の振れに関する
原因究明時にも効率的な解析ができる。
In the above embodiment, the reproducibility of the process state is evaluated at the time of operating the process to be evaluated, which is a key point of the batch operation, and this reproducibility can be provided to the operator in real time as information. For this reason, it is easy to quickly recognize the difference from the normal state during the batch operation and to take quick action, and it is also possible to perform efficient analysis when investigating the cause of the fluctuation in quality or yield.

【0022】なお、新製品を製造するために新しくシス
テムを構築した際には、各計器毎に計算される偏差の平
均値算出用重み係数はデフォルト値の1.0を採用す
る。そして、引き続き同製品を製造する際には、先に得
られたデータに基づいて各監視対象計器毎に重み付けを
行い、繰り返し行われる同一銘柄のためのバッチ運転に
際してこれを逐次改訂する。
When a new system is constructed in order to manufacture a new product, a default value of 1.0 is used as the weight coefficient for calculating the average value of the deviation calculated for each instrument. Then, when manufacturing the same product continuously, weighting is performed for each monitoring target instrument based on the data obtained earlier, and this is sequentially revised during batch operation for the same brand that is repeatedly performed.

【0023】以上、本発明をその好適な実施形態例に基
づいて説明したが、本発明のバッチプラント運転管理装
置は、上記実施形態例の構成にのみ限定されるものでは
なく、上記実施形態例の構成から種々の修正及び変更を
施したものも、本発明の範囲に含まれる。
As described above, the present invention has been described based on the preferred embodiment. However, the batch plant operation management device of the present invention is not limited to the configuration of the above-described embodiment. Various modifications and changes from the configuration described above are also included in the scope of the present invention.

【0024】[0024]

【発明の効果】以上、説明したように、本発明のバッチ
プラント運転管理装置では、各評価対象事象発生時点に
おいてプロセス状態の良否がリアルタイムに判定できる
ので、プロセス状態が否と判定されてもこれを改善する
対応が迅速にできる利点がある。
As described above, in the batch plant operation management apparatus of the present invention, the quality of the process state can be determined in real time at the time of occurrence of each event to be evaluated. There is an advantage that the response to improve can be made quickly.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態例に係るバッチプラント運
転管理装置のブロック図。
FIG. 1 is a block diagram of a batch plant operation management device according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1のバッチプラント運転管理装置で評価対象
となる操作を示す、プラントの操作フロー図。
FIG. 2 is a plant operation flowchart showing operations to be evaluated by the batch plant operation management device of FIG. 1;

【図3】図1のバッチプラント運転管理装置における情
報表示装置における画面上の表示例。
FIG. 3 is a display example on a screen of an information display device in the batch plant operation management device of FIG. 1;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10:バッチプラント運転管理装置 11:データ収集部 12:事象管理部 13:統計処理部 14:実績比較部 15:情報表示部 16:評価対象事象及び監視対象計器リスト記憶装置 17:実績データベース 18:バッチプラント 10: Batch plant operation management device 11: Data collection unit 12: Event management unit 13: Statistical processing unit 14: Performance comparison unit 15: Information display unit 16: Evaluation target event and monitoring target instrument list storage device 17: Performance database 18: Batch plant

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 バッチプラントの運転をモニタリングし
つつバッチプラントの運転を管理するバッチプラント運
転管理装置において、 評価対象の複数の事象発生時点の夫々で、複数の計器の
設定値、指示値及び関連する操作量の少なくとも1つを
含むプロセスデータを各計器毎且つ各事象発生時点毎に
記憶する記憶装置と、 今回バッチの各プロセスデータの、過去の所定回数のバ
ッチ運転で得られた対応するプロセスデータの平均値か
らの偏差を演算し、該偏差を対応する計器のレンジに対
応して正規化し、該正規化した各計器の偏差値の平均値
を前記事象発生時点毎に演算する演算装置と、 前記各事象発生時点において、前記偏差値の平均値に基
づいて全体的なプラント状態の良否を判定する判定手段
とを備えることを特徴とするバッチプラント運転管理装
置。
1. A batch plant operation management device for managing the operation of a batch plant while monitoring the operation of the batch plant, wherein a set value, an indicated value, and a related value of a plurality of instruments are provided at each of a plurality of events to be evaluated. A storage device for storing process data including at least one of the manipulated variables to be performed for each instrument and for each event occurrence time; and a corresponding process obtained by a predetermined number of past batch operations of each process data of the current batch. An arithmetic device that calculates a deviation from an average value of data, normalizes the deviation according to the range of the corresponding instrument, and calculates an average value of the normalized deviation values of the respective instruments at each time of the event occurrence. And determining means for determining whether the overall plant condition is good or bad based on the average value of the deviation values at the time of occurrence of each of the events. Runt operation management device.
【請求項2】 正規化された偏差値が相対的に大きな1
つ以上の監視対象計器を表示する、請求項1に記載のバ
ッチプラント運転管理装置。
2. The method according to claim 1, wherein the normalized deviation value is 1 which is relatively large.
The batch plant operation management device according to claim 1, wherein one or more monitored instruments are displayed.
JP2001168364A 2001-06-04 2001-06-04 Batch plant operation managing device Pending JP2002358120A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001168364A JP2002358120A (en) 2001-06-04 2001-06-04 Batch plant operation managing device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001168364A JP2002358120A (en) 2001-06-04 2001-06-04 Batch plant operation managing device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002358120A true JP2002358120A (en) 2002-12-13

Family

ID=19010602

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001168364A Pending JP2002358120A (en) 2001-06-04 2001-06-04 Batch plant operation managing device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002358120A (en)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008059270A (en) * 2006-08-31 2008-03-13 Toshiba Corp Process abnormality diagnostic device and process monitoring system
JP2012138118A (en) * 2003-05-30 2012-07-19 Fisher-Rosemount Systems Inc Device and method for batch property estimation
CN103477293A (en) * 2011-09-09 2013-12-25 Bnf技术有限公司 Method for measuring health index of plant in which state of lower component is reflected, and computer-readable storage medium in which program for performing the method is stored
KR101433724B1 (en) * 2013-03-21 2014-08-27 비앤에프테크놀로지 주식회사 Method measuring of healthy indicia of plant reflected status of sub-component and storage media thereof
JP2017033348A (en) * 2015-08-03 2017-02-09 東芝三菱電機産業システム株式会社 Alarm device and process control system
JP2017194951A (en) * 2016-04-19 2017-10-26 株式会社日立国際電気 Substrate processing device, device management controller, and program
US10018999B2 (en) 2011-09-09 2018-07-10 Bnf Technology Inc. System and method for measuring a health index of a plant
JP2020517405A (en) * 2017-04-19 2020-06-18 イベア Systems and methods for detecting hardware degradation in a radiation treatment system.
US11086304B2 (en) 2016-04-19 2021-08-10 Kokusai Electric Corporation Substrate processing in a process chamber for semiconductor manufacturing and apparatus management controller with error analysis

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012138118A (en) * 2003-05-30 2012-07-19 Fisher-Rosemount Systems Inc Device and method for batch property estimation
JP2008059270A (en) * 2006-08-31 2008-03-13 Toshiba Corp Process abnormality diagnostic device and process monitoring system
US10018999B2 (en) 2011-09-09 2018-07-10 Bnf Technology Inc. System and method for measuring a health index of a plant
CN103477293A (en) * 2011-09-09 2013-12-25 Bnf技术有限公司 Method for measuring health index of plant in which state of lower component is reflected, and computer-readable storage medium in which program for performing the method is stored
CN103477293B (en) * 2011-09-09 2016-08-31 Bnf技术有限公司 The health index measuring method of the complete set of equipments of the state of reflection subordinate element
KR101433724B1 (en) * 2013-03-21 2014-08-27 비앤에프테크놀로지 주식회사 Method measuring of healthy indicia of plant reflected status of sub-component and storage media thereof
JP2017033348A (en) * 2015-08-03 2017-02-09 東芝三菱電機産業システム株式会社 Alarm device and process control system
JP2017194951A (en) * 2016-04-19 2017-10-26 株式会社日立国際電気 Substrate processing device, device management controller, and program
JP2020077881A (en) * 2016-04-19 2020-05-21 株式会社Kokusai Electric Substrate processing apparatus, apparatus management controller, method of manufacturing semiconductor device, and program
US11086304B2 (en) 2016-04-19 2021-08-10 Kokusai Electric Corporation Substrate processing in a process chamber for semiconductor manufacturing and apparatus management controller with error analysis
JP2020517405A (en) * 2017-04-19 2020-06-18 イベア Systems and methods for detecting hardware degradation in a radiation treatment system.
US11058897B2 (en) 2017-04-19 2021-07-13 Ion Beam Applications S.A. System and method for detecting hardware degradation in a radiation therapy system
JP2021151482A (en) * 2017-04-19 2021-09-30 イオン・ビーム・アプリケーションズ・エス・アー System and method for detecting hardware degradation in radiation therapy system

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5091604B2 (en) Distribution evaluation method, product manufacturing method, distribution evaluation program, and distribution evaluation system
CN110785717B (en) Abnormal state diagnostic device and abnormal state diagnostic method for process
US20220035356A1 (en) Equipment failure diagnosis support system and equipment failure diagnosis support method
JP2002358120A (en) Batch plant operation managing device
WO2022038804A1 (en) Diagnostic device and parameter adjustment method
JP5017176B2 (en) Manufacturing instruction evaluation support system, manufacturing instruction evaluation support method, and manufacturing instruction evaluation support program
WO2021241580A1 (en) Abnormality/irregularity cause identifying apparatus, abnormality/irregularity cause identifying method, and abnormality/irregularity cause identifying program
JP5824959B2 (en) Abnormality diagnosis device
JP4180960B2 (en) Data analysis apparatus, control method therefor, computer program, and computer-readable storage medium
JP2006276924A (en) Equipment diagnostic device and equipment diagnostic program
CN114266454A (en) Cigarette factory energy consumption abnormity monitoring and judging method and system thereof
JP6312955B1 (en) Quality analysis apparatus and quality analysis method
JPH04190133A (en) Diagnosis support apparatus of equipment
JP6885321B2 (en) Process status diagnosis method and status diagnosis device
JP5532782B2 (en) Traceability system and manufacturing process abnormality detection method
JP2010225029A (en) Manufacture history analysis support device and manufacture history analysis support method
WO2022091639A1 (en) Abnormality diagnosing model construction method, abnormality diagnosing method, abnormality diagnosing model construction device, and abnormality diagnosing device
JPH05253797A (en) Judging system for abnormality on line
JPH10228312A (en) Operation supporting device for batch process plant
US6618691B1 (en) Evaluation of alarm settings
JP4079761B2 (en) Alarm analysis apparatus, alarm analysis method, and alarm analysis program
JP3468946B2 (en) Plant equipment monitoring equipment
JPH08249046A (en) Alarm estimate station
JP2012083993A (en) Operation condition management device
WO2021241579A1 (en) Abnormal modulation cause identifying device, abnormal modulation cause identifying method, and abnormal modulation cause identifying program