JP2002342975A - 光ディスク記録及び／又は再生装置及び収差調整方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光学系に発生する非点収差を調整する。 【解決手段】 第１の複屈折を有する第１の光デイスク
と第１の複屈折より大きい第２の複屈折を有する第２の
光デイスクを選択的に装着可能であり、光源１１と上記
装着された光デイスク２に光源から出射された光ビーム
を集光する対物レンズ１５間に液晶素子３１を備えた光
デイスク装置において、液晶素子３１に印加する電圧を
調整することで第１のデイスクにおいてはコマ収差を補
正し、第２のデイスクにおいては非点収差を補正する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、記録トラックのト
ラックピッチを互いに異ならせることにより記録密度が
結果的に異なる複数種類の光ディスクに対して情報信号
の記録及び／又は再生を行う光ディスク記録及び／又は
再生装置及びこの光ディスク記録及び／又は再生装置の
収差調整方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、情報信号の記録媒体として用いら
れる光ディスクにあっては、記録密度の高密度化が図ら
れている。例えば、直径を略６５ｍｍとされた光磁気デ
ィスクにあっては、情報信号が記録される記録トラック
のトラックピッチを１．６μｍから０．９５μｍに狭小
化し、記録密度を略５倍としたものが提案されている。

【０００３】上述のように、トラックピッチが狭小化さ
れた光磁気ディスクに対し情報信号の記録を行い、記録
した情報信号の再生をを行うためには、光磁気ディスク
に形成された記録トラックを走査する光ビームのスポッ
ト径をより小径化する必要がある。これは、記録トラッ
クのトラックピッチに比して光ビームのスポット径が大
きくなると、記録トラックの正確なトラッキングが行え
なくなり、所望の記録トラックに対し情報信号の記録再
生を行うことができなくなってしまうためであある。

【０００４】そこで、光磁気ディスクに照射される光ビ
ームのスポット径を小径化するため、波長の短い光ビー
ムを出射する光源を備えた光ピックアップ装置を用いる
ことが提案されている。

【０００５】このような波長の短い光ビームを出射する
光ピックアップ装置をトラックピッチを１．６μｍとす
る光磁気ディスクの記録再生に用いると、記録トラック
幅に比し光ビームのスポット径が小さすぎるため、所望
の記録トラックを正確にトラッキングすることができな
くなり、正確に情報信号の記録再生を行うことができな
くなってしまう。

【０００６】そこで、記録トラックのトラックピッチを
互いに異ならすことで結果的に記録密度が異なる複数種
類の光磁気ディスクを共通の光ディスク記録及び／又は
再生装置により記録又は再生することを可能とするため
に、波長の短い光ビームと波長の長い光ビームとをそれ
ぞれ出射する複数の光源を有する光ピックアップ装置を
備えた光ディスク記録及び／又は再生装置が提案されて
いる。

【０００７】この光ディスク記録及び／又は再生装置
は、記録トラックのトラックピッチを互いに異ならすこ
とで結果的に記録密度が異なる複数種類の光磁気ディス
クにそれぞれ適合するように、複数の光源を切り替えて
波長を異にする光ビームを出射するようになされてい
る。

【０００８】また、トラックピッチを１．６μｍとする
光磁気ディスクは、トラックピッチを０．９５μｍとす
る光磁気ディスクと比して、複屈折が大きく、光磁気デ
ィスク中の光路を光ビームが透過する際に、光学系にお
いて非点収差が発生してしまう。このため、トラックピ
ッチを１．６μｍとする光磁気ディスク専用の光ディス
ク記録及び／又は再生装置では、この非点収差の量を光
学系全体で管理している。一方、トラックピッチ０．９
５μｍとする光磁気ディスクは、トラックピッチを１．
６μｍとする光磁気ディスクと比して、複屈折が小さい
ことから、光学系において非点収差が抑制されている。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】上述したような、複数
の光源を設けた光ピックアップ装置では、装置自体が大
型化してしまい、小型化を図る光ディスク記録及び／又
は再生装置に用いることが困難となってしまう。

【００１０】また、波長の短い、例えば略６５０ｎｍの
光ビームを出射する半導体レーザは、波長の長い、例え
ば略７８０ｎｍに光ビームを出射する半導体レーザに比
して消費電力が大きい。消費電力が大きな半導体レーザ
を用いた光ピックアップ装置は、電池を電源とする携帯
型の光ディスク記録及び／又は再生装置には適さない。
さらに、消費電力が大きな半導体レーザは、温度係数が
大きく自己発熱量が大きいため、光ピックアップ装置に
搭載したときに、光ビームの安定した発振を図るための
放熱対策を施す必要があり、光ピックアップ装置の小
型、薄型化を実現することが困難となる。

【００１１】さらにまた、波長の短い光ビームを出射す
る半導体レーザは、従来から広く用いられている７８０
ｎｍの波長の光ビームを発振する半導体レーザに比して
高価であり、光ピックアップ装置の低価額化を図り、ひ
いては光ディスク記録及び／又は再生装置の低価額化を
図ることができない。

【００１２】トラックピッチを０．９５μｍとする光磁
気ディスク専用の光ディスク記録及び／又は再生装置を
用いて、トラックピッチを１．６μｍとする光磁気ディ
スクに対して情報信号の記録又は再生を行うと、記録再
生光学系において非点収差が発生してしまうといった問
題がある。

【００１３】また、トラックピッチを０．９５μｍとさ
れた光磁気ディスク専用の記録再生光学系において、ト
ラックピッチを１．６μｍとされた光磁気ディスクに対
して情報信号の記録再生を行う場合に、上述した非点収
差の影響によりＡＤＩＰ（Address In Pregroove）のエ
ラーレートであるＡＤＥＲ（Address In Pregroove Err
or Rate）を検出する際のフォーカスバイアス最適点
と、トラックピッチを０．９５μｍとされた光磁気ディ
スクのＲＦ信号のフォーカスバイアス最適点とに差が生
じるといった問題がある。

【００１４】具体的には、トラックピッチを０．９５μ
ｍとする光磁気ディスクに対して情報信号の記録再生を
行うために最適化した光ディスク記録及び／又は再生装
置のフォーカスバイアスに対して、トラックピッチを
１．６μｍとする光磁気ディスクの記録再生に最適化し
たフォーカスバイアスを電気的にオフセットする必要が
ある。

【００１５】しかしながら、個々の記録再生光学系に存
在する非点収差により、このオフセットの最適値にはば
らつきがあり、オフセットの調整が困難となる。

【００１６】また、光磁気ディスクの形状変化や光磁気
ディスクの傾きによって光ビームが光磁気ディスクの記
録面に対して垂直に入射しない場合がある。この場合、
光磁気ディスクの記録面に対して入射された光ビーム
が、この光磁気ディスクの記録面に対して垂直方向に反
射されずに、反射した光ビームにコマ収差が発生してし
まい情報信号の読み取り精度が低下してしまうといった
問題がある。

【００１７】そこで、本発明の目的は、光ディスク記録
及び／又は再生装置自体の一層の小型、薄型化を図ると
ともに、トラックピッチを０．９５μｍとする光磁気デ
ィスクとトラックピッチを１．６μｍとする光磁気ディ
スクとに対して、情報信号の記録及び／又は再生を行う
ことを可能とされた光ディスク記録及び／又は再生装
置、並びにそのような光ディスク記録及び／又は再生装
置の収差調整方法を提供することを目的とする。

【００１８】

【課題を解決するための手段】以上のような課題を解決
するために、本発明に係る光ディスク記録及び／又は再
生装置は、波長を略７８０ｎｍとする光ビームを出射す
る光源と、開口数（ＮＡ）を略０．６２となし上記光源
から出射される光ビームを集光して光ディスクに照射す
る対物レンズと、この対物レンズから光ディスクに対し
て照射される光ビームに収差を発生させる収差発生手段
と、光ディスクからの反射光を受光する受光手段とが設
けられた光ピックアップ装置を備えている。そして、デ
ィスク判別手段によって判別される光ディスクの種類に
応じて、収差発生手段を駆動させて光ビームに発生する
異なる種類の収差を補正し、光ディスクに対し情報信号
の記録及び／又は再生を行う。

【００１９】本発明に係る光ディスク記録及び／又は再
生装置は、異なるトラックピッチとされた複数種類の光
ディスクに対して情報信号の記録再生を行い、且つ異な
るトラックピッチとされた複数種類の光ディスクに対し
て情報信号の記録再生が良好となるように、光学系で発
生する非点収差及びコマ収差を補正する。

【００２０】また、本発明に係る収差調整方法は、波長
を略７８０ｎｍとする光ビームを出射する光源と、開口
数（ＮＡ）を略０．６２となし上記光源から出射される
光ビームを集光して光ディスクに照射する対物レンズ
と、対物レンズから光ディスクに対して照射される光ビ
ームに収差を発生させる収差発生手段と、光ディスクか
らの反射光を受光する受光手段とが設けられた光ピック
アップ装置を備える光ディスク記録及び／又は再生装置
に対して、記録トラックのトラックピッチを互いに異に
して記録密度を異にする複数種類の光ディスクのうちト
ラックピッチを小とする光ディスクを装着し、収差発生
手段を駆動させ、受光手段を用いて光ディスクから読み
出した情報信号に基づいてコマ収差を補正する第１の収
差発生手段調整ステップと、上述した光ディスクのうち
トラックピッチを大とする光ディスクを装着し、収差発
生手段を駆動させ、受光手段を用いて光ディスクから読
み出した情報信号に基づいて非点収差を補正する第２の
収差発生手段調整ステップとを有する。

【００２１】本発明に係る収差調整方法は、異なるトラ
ックピッチとされた複数種類の光ディスクに対して情報
信号の記録再生を行い、且つ異なるトラックピッチとさ
れた複数種類の光ディスクに対して情報信号の記録再生
が良好となるように、光学系で発生する非点収差及びコ
マ収差を補正する。

【００２２】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照して詳細に説明する。なお、本発明は、
以下で説明する実施の形態のみに限定されるものではな
く、本発明の要旨を逸脱しない範囲において変更が可能
であることは勿論である。

【００２３】本発明を適用した光ディスク記録及び／又
は再生装置の一構成例を、図１に示す。

【００２４】この光ディスク記録及び／又は再生装置１
は、記録媒体である光磁気ディスク２に対して光ビーム
を照射し、光磁気ディスク２から反射した光ビームを検
出する光学系を有する光ピックアップ装置３と、光磁気
ディスク２に対して記録すべき情報信号に応じて変調さ
れた外部磁界を印加する磁気ヘッド４と、光磁気ディス
クを装着され、この光磁気ディスクを回転駆動させるデ
ィスク回転機構であるスピンドルモータ５とを備えてい
る。

【００２５】本発明が適用された光ディスク記録及び／
又は再生装置１において、磁気ヘッド４は、光磁気ディ
スク２を挟んで光ピックアップ装置３に対向するように
配設され、光ピックアップ装置３と同期して光磁気ディ
スク２の内外周に亘って移動自在とされている。

【００２６】このような光ディスク記録及び／又は再生
装置１が備える光ピックアップ装置３は、光磁気ディス
ク２の信号記録面に照射される光ビームを出力する光源
として半導体レーザ１１を備えている。

【００２７】この半導体レーザ１１は、波長を略７８０
ｎｍとする光ビームを出射するものであり、記録トラッ
クのトラックピッチを約１．６μｍとするＣＤ等の光デ
ィスクに対して情報の読み込みを行うために用いられる
光ピックアップ装置の光源として広く用いられている。

【００２８】また、光ピックアップ装置３は、半導体レ
ーザ１１の一方の側面に、半導体レーザ１１側から順に
グレーティング１２と、ビームスプリッタ１３とを備え
ている。

【００２９】グレーティング１２は、３ビーム法により
トラッキングエラー信号を取得するために、半導体レー
ザ１１から出射された光ビームＬ１を主ビームとして２
本の副ビームに分割する。

【００３０】ビームスプリッタ１３は、光磁気ディスク
２に照射される光ビームと光磁気ディスク２から反射さ
れる戻りの光ビームとを分離する。なお、ここでは、ビ
ームスプリッタ１３として、ウォラストンプリズムとの
組み合わせプリズムを用いている。

【００３１】光ピックアップ装置３は、ビームスプリッ
タ１３の半導体レーザ１１からの光ビームが透過する方
向に、半導体レーザ１１から所定の放射角もって出射さ
れる光ビームを平行光にするためのコリメータレンズ１
４と、このコリメータレンズ１４により平行光とされた
光ビームを集光し光磁気ディスク２の信号記録面上に照
射する対物レンズ１５とを備えている。

【００３２】また、光ピックアップ装置３は、ビームス
プリッタ１３の光磁気ディスク２から反射された戻りの
光ビームを反射させる反射方向に、戻りの光ビームのカ
ー回転角度を光強度に変換して出力する検光子１６と、
マルチレンズ１７と、これら検光子１６及びマルチレン
ズ１７を透過した光磁気ディスク２から反射された光ビ
ームを受光する受光手段であるフォトディテクタ１８と
を備えている。

【００３３】このうち、フォトディテクタ１８は、受光
した光磁気ディスク２から反射された戻りの光ビームの
偏光面の回転角度の相違による光量の強弱に基づいて光
磁気ディスク２に記録されたデータを電気信号に変換し
て出力する。

【００３４】ここで、光ビームを光磁気ディスク２上に
集光して照射する対物レンズ１５には、開口数（ＮＡ:N
umerical Aperture）を略０．６２とするものが用いら
れる。この対物レンズ１５を透過して集光される波長を
７８０ｎｍとする光ビームは、焦点位置においてスポッ
ト径を略１．５３μｍとするビームスポットを形成す
る。すなわち、波長が７８０ｎｍの光ビームは、開口数
（ＮＡ）を略０．６２とする対物レンズ１５により集光
され、対物レンズ１５の焦点に位置する光磁気ディスク
２の信号記録面にスポット径を略１．５３μｍとするビ
ームスポットを形成して照射される。

【００３５】ところで、直径を略６４ｍｍとする光磁気
ディスク２において、図２に示すように、記憶容量を１
４０ＭＢとする第１の光磁気ディスク２ａの記録トラッ
ク２１は、トラックピッチＴｐ_１を略１．６μｍとして
形成されている。この記録トラック２１は、データが記
録される領域をグルーブ２１Ｇと、このグルーブ２１Ｇ
の両側に、トラッキング制御用及びアドレス検出用の信
号を得るためのウォブルされたランド２１Ｌとが形成さ
れてなる。

【００３６】また、直径を略６４ｍｍとする光磁気ディ
スク２において、図３に示すように、記憶容量を６５０
ＭＢｙｔｅとする第２の光磁気ディスク２ｂの記録トラ
ック２２は、トラックピッチＴｐ_２を略０．９５μｍと
して形成されている。この記録トラック２２は、データ
が記録される領域をランド２２Ｌと、このランド２２Ｌ
の一方の側に、記録トラック２２を分離するグルーブ２
２Ｇ_１と、ランド２２Ｌの他方の側に、トラッキング制
御用及びアドレス検出用の信号を得るためにウォブルさ
れたグルーブ２２Ｇ_２とが形成されてなる。

【００３７】ところで、光磁気ディスク２の所望の記録
トラックに対して適切に情報信号の記録再生を行うため
には、光ピックアップ装置３から出射された光ビームが
光磁気ディスク２の記録トラックを正確に走査する必要
がある。光ビームが光磁気ディスク２の記録トラックを
正確に走査するためには、少なくともトラッキング制御
信号が生成され、このトラッキング制御信号に基づいて
光ビームの走査位置が制御される必要がある。すなわ
ち、トラッキング制御信号により光ビームが記録トラッ
クを正確に走査するためには、光ビームが記録トラック
の全幅に照射され、記録トラックの両側又は一方の側に
設けられたウォブルされたランド２１Ｌ、２２Ｌ若しく
はグルーブ２１Ｇ、２２Ｇ_１、２２Ｇ_２を検出する必要
がある。

【００３８】光ディスク記録及び／又は再生装置１は、
上述したトラックピッチを１．６μｍとする第１の光磁
気ディスク２ａと、トラックピッチを０．９５μｍとす
る第２の光磁気ディスク２ｂとを、ひとつの光源である
半導体レーザ１１から出射される光ビームによって情報
信号の記録再生を行う。

【００３９】このため、本発明を適用した光ディスク記
録及び／又は再生装置１は、コリメータレンズ１４と対
物レンズ１５との間に、収差を発生させる収差発生手段
として液晶素子３１を配置し、この液晶素子３１を用い
て非点収差及びコマ収差を調整し、これによってビーム
径を調整して、トラックピッチを１．６μｍとする第１
の光磁気ディスク２ａとトラックピッチを０．９５μｍ
とする第２の光磁気ディスク２ｂとに対して情報信号の
記録再生を行うことを特徴としている。

【００４０】具体的に、液晶素子３１は、図４及び図５
に示すように、液晶分子が封入された液晶板３２を挟ん
で、第１の電極板３３及び第２の電極板３４が配置され
た構造を有している。

【００４１】このうち、第１の電極板３３には、光ビー
ムを透過する円形のアパーチャ３５を基準として、相対
向する一対の半円形の電極パターンが形成されており、
このうちの一方を第１の電極パターン３６ａとし、他方
を第２の電極パターン３６ｂとする。

【００４２】また、第１の電極板３３には、第１の電極
パターン３６ａ及び第２の電極パターン３６ｂの外側に
一対の電極パターンが形成されており、第１の電極パタ
ーン３６ａの外側に形成された電極パターンを第３の電
極パターン３６ｃとし、第２の電極パターン３６ｂの外
側に形成された電極パターンを第４の電極パターン３６
ｄとする。

【００４３】さらに、これら第１〜第４の電極パターン
３６ａ〜３６ｄの間とこれらの周囲とにも電極パターン
が形成されており、この電極パターンを第５の電極パタ
ーン３６ｅとする。

【００４４】一方、第２の電極板３４には、第１乃至第
５の電極パターン３６ａ〜３６ｅと対向する共通電極パ
ターン３７が形成されている。

【００４５】そして、第１〜第５の電極パターン３６ａ
〜３６ｅと共通電極パターン３７との間には、各電極パ
ターンに接続された図示しない液晶駆動部から、それぞ
れ同電位または異なる電位の駆動電圧が印加される。こ
のようにして各電極パターンに駆動電圧が印加されるこ
とによって、液晶板３２に対して駆動電圧が印加され、
液晶板３２内の液晶分子の配向が変化する。

【００４６】これにより、光ディスク記録及び／又は再
生装置１は、半導体レーザ１１から出射される光ビーム
のビーム径を液晶素子３１により調整して、トラックピ
ッチを１．６μｍとする第１の光磁気ディスク２ａと、
トラックピッチを０．９５μｍとする第２の光磁気ディ
スク２ｂとに対して情報信号の記録再生を適切に行うこ
とができる。

【００４７】液晶素子３１においては、第１乃至第５の
電極パターン３６ａ〜３６ｅと共通電極パターン３７と
の間に印加される駆動電圧をそれぞれ駆動電圧
Ｖ_ＬＣ１，Ｖ _ＬＣ２，Ｖ_ＬＣ３，Ｖ_ＬＣ４，Ｖ_ＬＣ５と
し、これらの駆動電圧を各電極パターンに印加すること
により、それぞれの駆動電圧Ｖ_ＬＣ１〜Ｖ_ＬＣ５に応じ
て液晶分子の配向が変化する。そして、液晶分子の配向
が変化することによって、液晶素子３１を透過する光ビ
ームに位相差が発生する。この位相差は、液晶素子３１
に印加されるそれぞれの駆動電圧Ｖ_ＬＣ１〜Ｖ_ＬＣ５に
依存しており、液晶分子の配向と同じ方向の偏光成分と
垂直方向の偏光成分との間に発生し、それぞれの駆動電
圧Ｖ_ＬＣ１〜Ｖ_ＬＣ５が異なることにより各電極パター
ンに応じて局所的に異なった値となる。そして、この液
晶素子３１は、上述した位相差と光学系で発生した非点
収差及びコマ収差を合成し、対物レンズ１５により絞ら
れたビームスポットの波面収差のＲＭＳ（Root Mean Sq
uare）値が最小となるようにそれぞれの駆動電圧Ｖ
_ＬＣ１〜Ｖ_ＬＣ５を調整することで非点収差及びコマ収
差の補正を行う。

【００４８】ここで、光ディスク記録及び／又は再生装
置１では、トラックピッチを１．６μｍとする第１の光
磁気ディスク２ａに対して情報信号の記録再生を行う場
合に、液晶素子３１の第１，第２，第５の電極パターン
３６ａ，３６ｂ，３６ｅに対して印加する駆動電圧Ｖ
_ＬＣ１，Ｖ_ＬＣ２，Ｖ_ＬＣ５をそれぞれ同電位とし、こ
れらの駆動電圧Ｖ_ＬＣ１，Ｖ_ＬＣ２，Ｖ_ＬＣ５と異なる
ように第３，第４の電極パターン３６ｃ，３６ｄに対し
て印加する駆動電圧Ｖ_ＬＣ３，Ｖ_ＬＣ４とをそれぞれ同
電位とし、光ビームに非点収差を発生させてビームスポ
ット径を制御し、非点収差を調整する。

【００４９】また、トラックピッチを０．９５μｍとす
る第２の光磁気ディスク２ｂに対して情報信号の記録再
生を行う場合に、液晶素子３１の各電極パターンに対し
て印加するそれぞれの駆動電圧Ｖ_ＬＣ１〜Ｖ_ＬＣ５を調
整して、光ビームに非点収差を発生させないようにして
いる。これは、トラックピッチを０．９５μｍとする第
２の光磁気ディスク２ｂの複屈折が小さく、非点収差が
抑制されているからである。具体的には、詳細を後述す
る基準となる電圧に対して、第１，第４の電極パターン
３６ａ，３６ｄに対して印加する駆動電圧Ｖ_ＬＣ１，Ｖ
_ＬＣ４をプラス側へシフトさせ、第２，第３の電極パタ
ーン３６ｂ，３６ｃに対して印加する駆動電圧
Ｖ_ＬＣ２，Ｖ_ＬＣ３をマイナス側へシフトさせ、コマ収
差を調整する。

【００５０】なお、トラックピッチを０．９５μｍとす
る第２の光磁気ディスク２ｂに対して情報信号の記録再
生を行う場合には、各電極パターンと共通電極パターン
３７との間に印加するそれぞれの駆動電圧Ｖ_ＬＣ１〜Ｖ
_ＬＣ５平均値が、液晶素子３１を透過した光ビームの液
晶分子の配向と同じ方向の偏光成分と垂直方向の偏光成
分との間の位相差のλ／２近傍となるように、基準とな
る電圧を予め調整し設定しておく。

【００５１】ここで、液晶素子３１の各電極パターンに
対して印加するそれぞれの駆動電圧Ｖ_ＬＣ１〜Ｖ_ＬＣ５
を同電位として、上述した位相差がλ／２近傍となるよ
うにそれぞれの駆動電圧Ｖ_ＬＣ１〜Ｖ_ＬＣ５を変化させ
た際の位相差の変化を図６に示す。また、同様に液晶素
子３１の各電極パターンに対して印加するそれぞれの駆
動電圧Ｖ_ＬＣ１〜Ｖ_ＬＣ５を同電位として、上述した位
相差がλ／２近傍となるようにそれぞれの駆動電圧Ｖ
_ＬＣ１〜Ｖ_ＬＣ５を変化させ、読み出されるＲＦ信号の
ジッターの変化を図７に示す。

【００５２】これら図６及び図７に示すグラフより、上
述した位相差がλ／２近傍となるように各電極パターン
に対して印加するそれぞれの駆動電圧Ｖ_ＬＣ１〜Ｖ
_ＬＣ５を調整した場合において、最もＲＦ信号のジッタ
ーが低減しており、光磁気ディスク２に対して情報信号
の記録再生を行うために最適であることがわかる。この
調整された基準となる電圧を以下では電圧Ｖ
_{ＬＣ（ｒｅｆ）}とする。

【００５３】そこで、トラックピッチを０．９５μｍと
された第２の光磁気ディスク２ｂに対して情報信号の記
録再生を行う場合には、複屈折による非点収差を補正す
る必要がないが、コマ収差の補正のために液晶素子３１
の各電極パターンに対して印加する駆動電圧Ｖ_ＬＣ１〜
Ｖ_ＬＣ５の平均電圧を上述した位相差がλ／２近傍とな
るように調整された電圧Ｖ_{ＬＣ（ｒｅｆ）}とする。この
際に、液晶素子３１の第１、第４の電極パターン３６
ａ，３６ｄに対して印加する駆動電圧Ｖ_ＬＣ１，Ｖ
_ＬＣ４を電圧Ｖ_{ＬＣ（ｒｅｆ）}を基準としてプラス側へ
シフトさせ、第２、第３の電極パターン３６ｂ，３６ｃ
に対して印加する駆動電圧Ｖ_ＬＣ３，Ｖ_ＬＣ４を電圧
_{ＶＬＣ（ｒｅｆ）}を基準としてマイナス側へシフトさせ
てコマ収差の補正を行う。

【００５４】また、第５の電極パターン３６ｅに対して
印加する駆動電圧Ｖ_ＬＣ５は、電圧Ｖ_{ＬＣ（ｒｅｆ）}の
ままとなるように一定に保つ。なお、ここでは、各電極
パターンに対して印加するそれぞれの駆動電圧Ｖ_ＬＣ１
〜Ｖ_ＬＣ５の平均値が、電圧Ｖ_{ＬＣ（ｒｅｆ）}のままと
なるように、第１乃至第４の電極パターン３６ａ〜３６
ｄに対して印加する駆動電圧Ｖ_ＬＣ１〜Ｖ_ＬＣ４をシフ
トさせ、読み出されたＲＦ信号のジッターが最低となる
ように調整する。

【００５５】上述したように調整された駆動電圧Ｖ
_ＬＣ１，Ｖ_ＬＣ４を以下では電圧Ｖ_{ＬＣ （ｃｏｍａ＋）}
とし、駆動電圧Ｖ_ＬＣ２，Ｖ_ＬＣ３を以下では電圧Ｖ
_{ＬＣ（ｃｏ ｍａ−）}とする。

【００５６】また、トラックピッチを１．６μｍとされ
た第１の光磁気ディスク２ａに対して情報信号の記録再
生を行う場合には、第１，第２，第５の電極パターン３
６ａ，３６ｂ，３６ｅと共通電極パターン３７との間に
印加する駆動電圧Ｖ_ＬＣ１，Ｖ_ＬＣ２，Ｖ_ＬＣ５を上述
した電圧Ｖ_{ＬＣ（ｒｅｆ）}とし、第３，第４の電極パタ
ーン３６ｃ，３６ｄと共通電極パターン３７との間に印
加する駆動電圧Ｖ_{ＬＣ ３}，Ｖ_ＬＣ４と異なる駆動電圧と
する。すなわち、第３，第４の電極パターン３６ｃ，３
６ｄに対して印加される駆動電圧Ｖ_ＬＣ３，Ｖ
_ＬＣ４は、光学系の非点収差を補正できるように最適化
された電圧となるように調整される。

【００５７】ここで、トラックピッチを１．６μｍとす
る第１の光磁気ディスク２ａに対して情報信号を記録再
生する場合に、液晶素子３１の第１，第２，第５の電極
パターン３６ａ，３６ｂ，３６ｅに対して印加する駆動
電圧Ｖ_ＬＣ１，Ｖ_ＬＣ２，Ｖ _ＬＣ５を電圧Ｖ
_{ＬＣ（ｒｅｆ）}に固定し、液晶素子３１の第３及び第４
の電極パターン３６ｃ，３６ｄに対して印加する駆動電
圧Ｖ_ＬＣ３，Ｖ_ＬＣ４を変化させた場合のＡＤＥＲの変
化を図８に示す。

【００５８】ここで、ＡＤＥＲについて簡単に説明す
る。図２及び図３中に示す領域Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄは、フォ
トディテクタ１８が受光する光ビームの分割された各領
域を示し、この領域Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄに応じてフォトディ
テクタ１８が分割されている。フォトディテクタ１８
は、それぞれ領域Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄに対応する部分により
受光した光ビームのレベルを演算し、これをＡＤＥＲと
している。すなわち、ＡＤＥＲは、第１の光磁気ディス
ク２ａの場合に、光ビームのレベルを（Ａ＋Ｄ）?（Ｂ
＋Ｃ）となるように演算を行い、第２の光磁気ディスク
２ｂの場合に、光ビームのレベルを（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）
となるように演算を行うことにより求められる。

【００５９】そこで、図９のグラフに示すように、第
３，第４の電極パターン３６ｃ，３６ｄに対して印加さ
れる駆動電圧Ｖ_ＬＣ３，Ｖ_ＬＣ４は、ＡＤＥＲが抑えら
れている範囲の中間となるように調整され、この調整さ
れた電圧を電圧Ｖ_{ＬＣ（ＡＳ）}とする。

【００６０】したがって、トラックピッチを１．６μｍ
とする第１の光磁気ディスク２ａに対して情報信号の記
録再生を行う場合には、液晶素子３１の第３，第４の電
極パターン３６ｃ，３６ｄに対して印加する駆動電圧Ｖ
_ＬＣ３，Ｖ_ＬＣ４を調整された電圧Ｖ_{ＬＣ（ＡＳ）}とす
ることが好ましい。

【００６１】以上のような光ディスク記録及び／又は再
生装置１の各部の制御及び各種信号の流れを、図９に示
すブロック図を用いて説明する。

【００６２】光ディスク記録及び／又は再生装置１は、
マイクロコンピュータ６１を備え、このマイクロコンピ
ュータ６１が、液晶素子３１を駆動する液晶駆動部６２
と、フォーカス駆動部６３と、トラック駆動部６４とに
接続されている。液晶駆動部６２とフォーカス駆動部６
３とトラック駆動部６４とは、光ピックアップ装置３に
接続されており、マイクロコンピュータ６１からの制御
信号に基づいて、光ピックアップ装置３の駆動制御を行
う。

【００６３】光ディスク記録及び／又は再生装置１は、
マイクロコンピュータ６１からの制御信号に基づいて、
液晶駆動部６２が液晶素子３１の各電極パターン３６ａ
〜３６ｅに対してそれぞれの駆動電圧Ｖ_ＬＣ１〜Ｖ
_ＬＣ５を印加する。このとき、マイクロコンピュータ６
１は、ディスク判別手段として光磁気ディスク２の種類
を判別して、この光磁気ディスク２の種類に応じて各電
極パターンに対して印加するそれぞれの駆動電圧Ｖ
_ＬＣ１〜Ｖ_ＬＣ５を変化させ調整することになる。

【００６４】また、光ディスク記録及び／又は再生装置
１は、マイクロコンピュータ６１からの制御信号に基づ
いてフォーカス駆動部６３が光ピックアップ装置３に対
してフォーカスバイアスを印加しフォーカスサーボを行
う。

【００６５】ここで、フォーカスバイアスは、図１０の
グラフに示すように、光ピックアップ装置３によって読
み出されたＲＦ信号が良好に再生できる、すなわちエラ
ーレートが低く抑えられている範囲の中間となるように
調整され、この調整されたフォーカスバイアスを以下で
フォーカスバイアスＶ_ＦＢとする。

【００６６】また、マイクロコンピュータ６１は、光ピ
ックアップ装置３が記録トラックを正確に走査するよう
にトラック駆動部６４を制御する。

【００６７】さらに、マイクロコンピュータ６１は、図
８に示すように、回転駆動部６５に接続されており、こ
のマイクロコンピュータ６１からの制御信号に基づいて
回転駆動部６５がスピンドルモータ５を制御し、このス
ピンドルモータ５によって光磁気ディスク２を所定の回
転速度で回転駆動させる。

【００６８】また、光ピックアップ装置３は、ＲＦアン
プ６６と接続されており、この光ピックアップ装置３に
よって再生されたＲＦ信号をＲＦアンプ６６に送り、Ｒ
Ｆアンプ６６においてＲＦ信号が増幅される。ＲＦアン
プ６６は、ＤＳＰ(Digital Signal Processor）６７と
接続され、ＤＳＰ６７にＲＦ信号を送り、ＤＳＰ６７に
おいてＲＦ信号からデジタル信号に変換される。

【００６９】ＤＳＰ６７は、マイクロコンピュータ６１
とＥＣＣ（Error Correction Code）／ＡＣＩＲＣ（Adv
anced Cross Interleave Reed-Solomon Code）部６８と
に接続され、ＤＳＰ６７からＡＤＩＰのエラーレートで
あるＡＤＥＲをマイクロコンピュータ６１に送り、ＥＦ
Ｍ（Eight to Fourteen Modulation）信号をＥＣＣ／Ａ
ＣＩＲＣ部６８に送る。

【００７０】ＥＣＣ／ＡＣＩＲＣ部６８は、マイクロコ
ンピュータ６１と接続され、入力されたＥＦＭ信号に複
合処理及びエラー訂正処理を施し、そのエラーレートを
マイクロコンピュータ６１に送信する。

【００７１】マイクロコンピュータ６１は、記憶手段で
あるＲＡＭ（Random Access Memory）６９と接続され、
ＤＳＰ６７及びＥＣＣ／ＡＣＩＲＣ部６８から送られる
各種のエラー情報から、液晶駆動部６２及びフォーカス
駆動部６３及びトラック駆動部６４を調整し、調整され
た適切な値である電圧Ｖ_{ＬＣ（ｒｅｆ）}，Ｖ_{ＬＣ（Ａ
Ｓ）}，Ｖ_{ＬＣ（ｃｏｍａ＋）}，Ｖ_{ＬＣ（ｃｏｍａ−）}，
フォーカスバイアスＶＦＢをＲＡＭ６９に記憶する。な
お、ＲＡＭ６９としては、ＥＰＲＯＭ（ErasableProgra
mmable Read-Only Memory）等を用いることができる。

【００７２】ここで、光ディスク記録及び／又は再生装
置１が光磁気ディスク２に対して情報信号の記録再生を
行う場合には、マイクロコンピュータ６１によって、光
磁気ディスクディスク２の種類を判別し、判別された種
類に応じてＲＡＭ６９から各パラメータとして、電圧Ｖ
_{ＬＣ（ｒｅｆ）}，Ｖ_{ＬＣ（ＡＳ）}，Ｖ_{ＬＣ（ｃｏｍａ
＋）}，Ｖ_{ＬＣ（ｃｏｍａ−）}，フォーカスバイアスＶ
_ＦＢを読み出している。

【００７３】具体的には、マイクロコンピュータ６１に
よって、トラックピッチを１．６μｍとする第１の光磁
気ディスク２ａと判断された場合には、駆動電圧Ｖ
_ＬＣ１，Ｖ_ＬＣ２，Ｖ_ＬＣ５として電圧Ｖ
_{ＬＣ（ｒｅｆ）}が、駆動電圧Ｖ_ＬＣ３，Ｖ_{ＬＣ ４}として
電圧Ｖ_{ＬＣ（ＡＳ）}が読み出される。また、マイクロコ
ンピュータ６１によって、トラックピッチを０．９５μ
ｍとする第２の光磁気ディスク２ｂと判断された場合に
は、駆動電圧Ｖ_ＬＣ１，Ｖ_ＬＣ４として電圧Ｖ
_{ＬＣ（ｃｏｍａ＋ ）}が、駆動電圧Ｖ_ＬＣ２，Ｖ_ＬＣ３と
して電圧Ｖ_{ＬＣ（ｃｏｍａ−）}が、駆動電圧Ｖ_ＬＣ５と
して電圧Ｖ_{ＬＣ（ｒｅｆ）}が読み出される。フォーカス
バイアスについては、どちらの光磁気ディスクの場合で
もフォーカスバイアスＶ_ＦＢが読み出される。

【００７４】以上のように構成された光ディスク記録及
び／又は再生装置１の収差を調整する方法について、図
１１に示すフローチャートに基づいて以下で説明する。

【００７５】まず、ステップＳ１において、トラックピ
ッチを０．９５μｍとする第２の光磁気ディスク２ｂを
光ディスク記録及び／又は再生装置１に装着する。そし
てマイクロコンピュータ６１からの制御信号によって回
転駆動部６５がスピンドルモータ５を制御して、第２の
光磁気ディスク２ｂを回転駆動させる。そして、マイク
ロコンピュータ６１が第２の光磁気ディスク２ｂの種類
を判別する。

【００７６】次に、ステップＳ２において、マイクロコ
ンピュータ６１からの制御信号によってフォーカス駆動
部６３を制御し、このフォーカス駆動部６３から光ピッ
クアップ装置３にフォーカスバイアスを印加して、第２
の光磁気ディスク２ｂに対する対物レンズ１５の焦点距
離を調整し、光ピックアップ装置３によって読み出され
たＲＦ信号のエラーレートに基づいてフォーカスサーボ
を行う。ここでは、液晶素子３１の各電極パターンに対
して印加する駆動電圧Ｖ_ＬＣ１〜Ｖ_ＬＣ５を、上述した
位相差がλ／２となるように、経験的に得られた電圧で
ある電圧Ｖ_{ＬＣ （λ／２）}とする。

【００７７】次に、ステップＳ３において、光ピックア
ップ装置３によって読み出されたＲＦ信号のエラーレー
トに基づいてフォーカスバイアスが最適であるかどうか
を、マイクロコンピュータ６１が判断し、フォーカスバ
イアスが最適でない場合には、ステップＳ２に戻る。一
方、フォーカスバイアスが最適である場合は、ステップ
Ｓ４に進む。

【００７８】ステップＳ４において、マイクロコンピュ
ータ６１の判断により最適とされたフォーカスバイアス
をフォーカスバイアスＶ_ＦＢとしてＲＡＭ６９に記憶す
る。

【００７９】次にステップＳ５において、マイクロコン
ピュータ６１からの制御信号によって液晶駆動部６２を
制御し、光ピックアップ装置３によって読み出されたＲ
Ｆ信号のエラーレートに基づいて、液晶素子３１の各電
極パターンに対して印加する駆動電圧Ｖ_ＬＣ１〜Ｖ
_ＬＣ５を位相差がλ／２近傍となるように調整する。

【００８０】次に、ステップＳ６において、光ピックア
ップ装置３によって読み出されたＲＦ信号のエラーレー
トに基づいて、位相差がλ／２相当であるかどうかをマ
イクロコンピュータ６１が判断し、位相差がλ／２相当
でない場合には、ステップＳ５に戻る。一方、位相差が
λ／２相当である場合は、ステップＳ７に進む。

【００８１】ステップＳ７において、マイクロコンピュ
ータ６１の判断により位相差がλ／２相当であるとされ
た際に、液晶素子３１の各電極パターンに対して印加さ
れた駆動電圧Ｖ_ＬＣ１〜Ｖ_ＬＣ５を電圧Ｖ
_{ＬＣ（ｒｅｆ）}としてＲＡＭ６９に記憶する。

【００８２】次に、ステップＳ８において、マイクロコ
ンピュータ６１からの制御信号によって液晶駆動部６３
を制御し、光ピックアップ装置３によって読み出された
ＲＦ信号のエラーレートに基づいて、液晶素子３１の各
電極パターンの平均駆動電圧を電圧Ｖ_{ＬＣ（ｒｅｆ）}と
なるようにこの電圧Ｖ_{ＬＣ（ｒｅｆ）}を基準として第
１，第４の電極パターン３６ａ，３６ｄに対して印加す
る駆動電圧Ｖ_ＬＣ１，Ｖ _ＬＣ４をプラス側へシフトさ
せ、第２，第３の電極パターン３６ｂ，３６ｃに対して
印加する駆動電圧Ｖ_ＬＣ２，Ｖ_ＬＣ３をマイナス側へシ
フトさせてそのシフト量を調整する。

【００８３】次に、ステップＳ９において、光ピックア
ップ装置３によって読み出されたＲＦ信号のエラーレー
トに基づいて、上述したシフト量が最適であるかどうか
をマイクロコンピュータ６１が判断し、最適でない場合
には、ステップＳ８に戻る。一方、上述したシフト量が
最適である場合は、ステップＳ１０に進む。

【００８４】次にステップＳ１０において、マイクロコ
ンピュータ６１の判断によりシフト量が最適と判断され
た際に、液晶素子３１の第１，第４の電極パターン３６
ａ，３６ｄに対して印加された駆動電圧Ｖ_ＬＣ１，Ｖ
_ＬＣ４を電圧Ｖ_{ＬＣ（ｃｏｍａ ＋）}として、液晶素子３
１の第２，第３の電極パターン３６ｂ，３６ｃに対して
印加された駆動電圧Ｖ_ＬＣ２，Ｖ_ＬＣ３を電圧Ｖ
_{ＬＣ（ｃｏｍａ−）}としてＲＡＭ６９に記憶する。

【００８５】次に、ステップＳ１１において、トラック
ピッチを０．９５μｍとする第２の光磁気ディスク２ｂ
を取り外し、トラックピッチを１．６μｍとする第１の
光磁気ディスク２ａを装着する。そしてマイクロコンピ
ュータ６１からの制御によって回転駆動部６５がスピン
ドルモータ５を制御して、第１の光磁気ディスク２ａを
回転駆動させる。そして、マイクロコンピュータ６１が
第１の光磁気ディスク２ａの種類を判別する。

【００８６】次に、ステップＳ１２において、マイクロ
コンピュータ６１からの制御により液晶駆動部６２が液
晶素子３１の第１，第２，第５の電極パターン３６ａ，
３６ｂ，３６ｅと共通電極パターン３７との間に電圧Ｖ
_{ＬＣ（ｒｅｆ}）を、第３，第４の電極パターン３６ｃ，
３６ｄと共通電極パターン３７との間に電圧Ｖ_{ＬＣ（
ｒｅｆ）}とは異なる駆動電圧Ｖ_ＬＣ３，Ｖ_ＬＣ４を印加
する。なお、第１，第２，第５の電極パターン３６ａ，
３６ｂ，６ｅと共通電極パターン３７との間には、駆動
電圧Ｖ_ＬＣ１，Ｖ_ＬＣ２，Ｖ_ＬＣ５として電圧Ｖ
_{ＬＣ（ｒｅｆ）}を印加し固定しておき、第３，第４の電
極パターン３６ｃ、３６ｄと共通電極パターン３７との
間に印加する駆動電圧Ｖ_ＬＣ３，Ｖ_ＬＣ４を、光ピック
アップ装置３によって読み出されたＲＦ信号から検出す
るＡＤＥＲが最適となるように変化させる。

【００８７】次に、ステップＳ１３において、光ピック
アップ装置３によって読み出されたＲＦ信号からＡＤＥ
Ｒを検出し、このＡＤＥＲが最適であるかをマイクロコ
ンピュータ６１によって判断し、最適でない場合にはス
テップＳ１２に戻る。一方、最適である場合にはステッ
プＳ１４に進む。

【００８８】ステップＳ１４において、マイクロコンピ
ュータ６１の判断によりＡＤＥＲが最適である場合に、
液晶素子３１の第３，第４の電極パターン３６ｃ，３６
ｄに印加される駆動電圧Ｖ_ＬＣ３，Ｖ_ＬＣ４を電圧Ｖ
_{ＬＣ（ＡＳ）}としてＲＡＭ６９に記憶する。

【００８９】以上のような手順で、フォーカスバイアス
Ｖ_ＦＢ及び電圧Ｖ_{ＬＣ（ｒｅｆ）}，Ｖ_{ＬＣ（ＡＳ）}，Ｖ
_{ＬＣ（ｃｏｍａ＋）}，Ｖ_{ＬＣ（ｃｏｍａ−）}をＲＡＭ６
９に記憶し、光ディスク記録及び／又は再生装置１にお
ける光磁気ディスク２から情報信号を記録再生する際に
これらの値を用いて非点収差及びコマ収差を補正するこ
とができる。

【００９０】なお、光ディスク記録及び／又は再生装置
１の収差を調整する際には、電圧Ｖ _{ＬＣ（λ／２）}を予
めＲＡＭ６９に記憶してあるものとする。

【００９１】上述したように、液晶素子３１の各電極パ
ターンに対して印加する駆動電圧Ｖ _ＬＣ１〜Ｖ_ＬＣ５の
調整は、光ディスク記録及び／又は再生装置１を製品と
して出荷する前に行われていることが好ましく、光ディ
スク記録及び／又は再生装置１の記録再生光学系の個体
レベルの調整を簡単に行うことができる。

【００９２】上記実施例では、第２の光磁気デイスクを
最初に装着して調整を行った後に第１の光デイスクを装
着して調整を行うようにしたが、手順として第１の光磁
気デイスクを最初に装着して調整を行った後に第２の光
デイスクを装着して調整を行うように逆にしてもよい。

【００９３】この場合には、第１の光磁気デイスクで上
述したステップＳ１〜Ｓ７までの処理と同じ処理を行い
第１の光磁気デイスクの光学特性に合わせたフォーカス
バイアスＶ_ＦＢ及び基準電圧Ｖ_{ＬＣ（ｒｅｆ）}がメモリ
に記憶される。

【００９４】上記基準電圧ＶＬＣ_{（ｒｅｆ）}がメモリに
記憶された後にＶ_{ＬＣ（ＡＳ）}が調整され、第２の光磁
気デイスクに交換されて、上記基準電圧Ｖ
_{ＬＣ（ｒｅｆ）}に基づいてＶ_{ＬＣ（ｃｏｍａ＋）}，Ｖ
_{ＬＣ（ｃｏｍａ−）}が調整されメモリに記憶されるよう
になる。

【００９５】以上のように、本発明によれば、液晶素子
３１を用いて記録トラックのトラックピッチを互いに異
にし記録密度を異にする光磁気ディスク２に対して、情
報信号の記録再生を行うことができる。また、光磁気デ
ィスク用の記録再生光学系において、非点収差及びコマ
収差を簡単に補正することができる。また、光ディスク
記録及び／又は再生装置１において、光ピックアップ装
置３が複数の光源を有する必要がないので、装置の小
型、薄型化、及び低価格化を達成することができる。

【００９６】なお、液晶素子の他の例としては、図１２
に示すように、一般化された電極パターンとすることに
よって非点収差を補正することができる。この場合は、
アパーチャ３５の両端に一対の三日月形状に形成された
電極パターン７１と、この電極パターン７１に囲まれ楕
円形状に形成された電極パターン７２との二つの電極パ
ターン対して異なる駆動電圧を印加することによって非
点収差を補正することとなる。しかしこの場合には、他
にコマ収差を補正するための液晶素子等の補正手段が必
要となるために、単一の液晶素子によって非点収差及び
コマ収差を補正できる液晶素子３１とするほうが装置構
成の簡略化及び低価格化が達成できる。

【００９７】

【発明の効果】上述したように、本発明は、記録トラッ
クのトラックピッチを互いに異にして記録密度を異にす
る光磁気ディスクを同じ記録再生光学系で情報信号の記
録再生を行う光ディスク記録及び／又は再生装置の非点
収差及びコマ収差を単一の液晶素子によって簡単に調整
することができる。このような調整を、光ディスク記録
及び／又は再生装置が製造される過程において行い、調
整された各パラメータを記憶しておくことで、トラック
ピッチを異にする光磁気ディスクに対して情報信号を記
録再生する際に、発生した非点収差及びコマ収差を電気
的なオフセットをかけなくても光学的に補正することが
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る収差調整方法の対象となる記録及
び／又は再生装置を示すブロック図である。

【図２】第１の光磁気ディスクの記録トラックを示す概
略平面図である。

【図３】第２の光磁気ディスクの記録トラックを示す概
略平面図である。

【図４】本発明に用いられる液晶素子を示す概略斜視図
である。

【図５】液晶素子に設けられる各電極パターンを示す概
略平面図である。

【図６】液晶素子に印加する駆動電圧に対して、液晶素
子を透過した光ビームのうち、液晶分子の配向と同じ方
向の偏光成分と垂直方向の偏光成分との位相差の変化を
示すグラフである。

【図７】液晶素子に印加する駆動電圧に対して、読み出
されるＲＦ信号のジッターの変化を示すグラフである。

【図８】液晶素子の第１及び第２の電極パターンと共通
電極パターンとの間に印加する駆動電圧に対する、ＲＦ
信号のエラーレートの変化を示すグラフである。

【図９】本発明に用いられる収差調整装置の構成を示す
ブロック図である。

【図１０】液晶素子の第１の電極パターンと共通電極パ
ターンとの間に印加する駆動電圧に対するＡＤＥＲの変
化を示すグラフである。

【図１１】本発明に係る収差調整方法を示すフローチャ
ートである。

【図１２】液晶素子に設けられる各電極パターンの他の
例を示す概略平面図である。

【符号の説明】

１ 記録及び／又は再生装置、２ 光磁気ディスク、３
光ピックアップ装置、４ 磁気ヘッド、５ スピンド
ルモータ、１１ 半導体レーザ、１２ グレーティン
グ、１３ ビームスプリッタ、１４ コリメータレン
ズ、１５ 対物レンズ、１６ 検光子、１７ マルチレ
ンズ、１８ フォトディテクタ、３１ 液晶素子

フロントページの続き Ｆターム(参考） 5D090 AA01 BB10 CC16 CC18 EE01 EE11 FF05 HH01 KK01 LL03 5D117 AA02 KK05 5D118 AA03 AA26 BA01 BB06 BC08 CA11 CB01 DC12 5D119 AA02 AA11 AA22 AA41 BA01 BB05 EA03 EB02 EC02 EC04 EC41 EC45 JA09

Claims (12)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 記録トラックのトラックピッチを互いに
   異にして記録密度を異にする複数種類の光ディスクが選
   択的に装着されるディスク回転機構と、 上記ディスク回転機構に装着される光ディスクの種類を
   判別するディスク判別手段と、 波長を略７８０ｎｍとする光ビームを出射する光源と、 開口数（ＮＡ）を略０．６２となし上記光源から出射さ
   れる光ビームを集光して上記光ディスクに照射する対物
   レンズと、 上記対物レンズから上記光ディスクに対して照射される
   光ビームに収差を発生させる収差発生手段と、 上記光ディスクからの反射光を受光する受光手段と、 上記ディスク判別手段によって判別される上記光ディス
   クの種類に応じて、上記収差発生手段を駆動させて光ビ
   ームに発生する異なる種類の収差を補正し、上記光ディ
   スクに対し情報信号の記録及び／又は再生を行う制御手
   段とを備えてなる光ディスク記録及び／又は再生装置。
2. 【請求項２】 上記収差発生手段は、複数の電極パター
   ンを有する液晶素子で構成され、上記制御手段は、上記
   電極パターンに印加する駆動電圧を制御することによっ
   て、上記光ディスクに集光される光ビームに発生する収
   差を補正することを特徴とする請求項１記載の光ディス
   ク記録及び／又は再生装置。
3. 【請求項３】 上記制御手段にて補正される収差は、コ
   マ収差と非点収差の両方であることを特徴とする請求項
   ２記載の光ディスク記録及び／又は再生装置。
4. 【請求項４】 上記制御手段は、上記ディスク判別手段
   において第１のデイスクと判別された場合には非点収差
   を調整し、第２のデイスクと判別された場合にはコマ収
   差を調整するように、上記電極パターンに印加する駆動
   電圧を制御することを特徴とする請求項１記載の光ディ
   スク記録及び／又は再生装置。
5. 【請求項５】 第１の複屈折率を有する第１の光デイス
   クと上記第１の複屈折率より大きい第２の複屈折率を有
   する第２の光デイスクとが選択的に装着されるディスク
   回転機構と、 上記ディスク回転機構に装着される光ディスクの種類を
   判別するディスク判別手段と、 単一波長の光ビームを出射する光源と、 上記光源から出射される光ビームを集光して上記ディス
   ク回転機構に装着された光ディスクに照射する対物レン
   ズと、 上記対物レンズから上記光ディスクに対して照射される
   光ビームに収差を発生させる収差発生手段と、 上記光ディスクからの反射光を受光する受光手段と、 上記ディスク判別手段によって判別される上記光ディス
   クの種類に応じて、上記収差発生手段を駆動させて光ビ
   ームに生じる収差を補正し、上記光ディスクに対し情報
   信号の記録及び／又は再生を行うこと制御手段とを備え
   てなる光ディスク記録及び／又は再生装置。
6. 【請求項６】 上記収差発生手段は、複数の電極パター
   ンを有する液晶素子から構成され、上記制御手段は、電
   極パターンに印加する駆動電圧を制御することによっ
   て、上記光ディスクに集光される光ビームに発生する収
   差を補正することを特徴とする請求項５記載の光ディス
   ク記録及び／又は再生装置。
7. 【請求項７】 上記制御手段によって補正される収差
   は、コマ収差と非点収差の両方であることを特徴とする
   請求項６記載の光ディスク記録及び／又は再生装置。
8. 【請求項８】 上記制御手段は、上記ディスク判別手段
   において第１のデイスクと判別された場合には非点収差
   を調整し、第２のデイスクと判別された場合にはコマ収
   差を調整するように、上記電極パターンに印加する駆動
   電圧を制御することを特徴とする請求項５記載の光ディ
   スク記録及び／又は再生装置。
9. 【請求項９】 第１の複屈折を有する第１の光デイスク
   と第１の複屈折より大きい第２の複屈折を有する第２の
   光デイスクを選択的に装着可能であり、光源と上記装着
   された光デイスクに光源から出射された光ビームを集光
   する対物レンズ間に液晶素子を備えた光デイスク装置に
   おける収差調整方法であり、 上記収差調整方法は、 上記装着された光デイスクが第１の光デイスクの場合に
   はフォーカスバイアスを最適化する最適化ステップと、 上記最適化ステップで最適化されたフォーカスバイアス
   値を記憶するステップと、 上記液晶素子の配列方向の偏光成分と上記液晶素子の配
   列方向と垂直方向の偏光成分との位相差が略λ／２
   （λ：波長）になるように上記液晶素子に印加する電圧
   を調整する第１の調整ステップと、 上記第１の調整ステップで調整された電圧を基準電圧と
   してメモリに記憶するステップと、 上記基準電圧に基づいてコマ収差を補正するように上記
   液晶素子に印加する電圧を調整する第２の調整ステップ
   と、 第２の調整ステップで調整された電圧をコマ収差補正電
   圧としてメモリに記憶するステップとからなる収差調整
   方法。
10. 【請求項１０】 上記第２の調整ステップの後に第２の
    デイスクが装着された場合には、上記第１の調整ステッ
    プで調整された基準電圧値に基づいて非点収差が補正さ
    れることを特徴とする請求項９記載の収差調整方法。
11. 【請求項１１】 第１の複屈折を有する第１の光デイス
    クと第１の複屈折より大きい第２の複屈折を有する第２
    の光デイスクを選択的に装着可能であり、光源と上記装
    着された光デイスクに光源から出射された光ビームを集
    光する対物レンズ間に液晶素子を備えた光デイスク装置
    における収差調整方法であり、 上記収差調整方法は、 上記装着された光デイスクが第２の光デイスクの場合に
    はフォーカスバイアスを最適化する最適化ステップと、 上記最適化ステップで最適化されたフォーカスバイアス
    値を記憶するステップと、 上記液晶素子の配列方向の偏光成分と上記液晶素子の配
    列方向と垂直方向の偏光成分との位相差が略λ／２
    （λ：波長）になるように上記液晶素子に印加する電圧
    を調整する第１の調整ステップと、 上記第１の調整ステップで調整された電圧を基準電圧と
    してメモリに記憶するステップと、 上記基準電圧に基づいて非点収差を補正するように上記
    液晶素子に印加する電圧を調整する第２の調整ステップ
    と、 第２の調整ステップで調整された電圧を非点収差補正電
    圧としてメモリに記憶するステップとから成る収差調整
    方法。
12. 【請求項１２】 上記第２の調整ステップの後に第１の
    デイスクが装着された場合には上記第１の調整ステップ
    で調整された基準電圧値に基づいてコマ収差が補正され
    ることを特徴とする請求項１１記載の収差調整方法。