JP2002318891A - 製品開発マネジメントシステム、製品開発マネジメント方法、製品信頼性判定システム及び製品信頼性判定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 複数の判断に必要な要素情報をデータベース
上で一元管理し、常に最新の情報が蓄積されたデータベ
ースを用いて最適かつ最速の判断を行うことが出来る製
品開発マネジメントシステム、製品開発マネジメント方
法を提供する。 【解決手段】 受注した製品の仕様情報と、製品の製造
経過における製品検証結果とが記録されている製品デー
タベース１７と、製造実績のある製品の実績及び検証結
果が記録されている製品ナレッジデータベース２７と、
製品データベース１７及び製品ナレッジデータベース２
７を参照して、製造終了後の製品の信頼性を判定する信
頼性判定手段１６ｋと、製品データベース１７と、信頼
性判定手段１６ｋで得られた製品の信頼性を参照し、次
の製造工程を承認する承認手段１６ｅを備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、既存の技術やリソ
ース情報などをデータベース化し、それらを判断基準と
して製造製品等の開発マネジメントを行う製品開発マネ
ジメントシステム、製品開発マネジメント方法、製品信
頼性判定システム及び製品信頼性判定方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】例えば、半導体製品の製造、機械製品の
製造、システム構築等、製造製品の受注において、顧客
の依頼を受けて、その仕様に応じた製品をオーダーメイ
ドする場合がある。このような場合、製造企業の組織
（カンパニー）の決定として承認者があらゆる状況で判
断を行う。

【０００３】具体的には、半導体製品の製品開発におい
ては、（１）投資回収モデルなどの事業収益に関する要
素、（２）市場動向、顧客要求、競合他社状況などのマ
ーケティング要素、（３）製造プロセス、構成回路、使
用材料、パッケージ技術、信頼性などの各種技術的要
素、（４）製造設備適合性、人／資金／ラインキャパ等
のリソースなどの生産性に関する要素を代表的な要素と
して、その他、顧客企業との関係、製品開発の派生効果
としての企業イメージ向上や技術力の実証、企業として
の差別化、グローバルスタンダードとの整合等の複雑な
要素が挙げられる。これらの情報による総合的な判断
は、製品開発の幾つかの分岐点（例えば、受注判断、試
作判断、量産判断、増産判断など）に於いて、定められ
た権限を持つ承認者が承認を行う。

【０００４】ＣＳ（顧客満足：Customer Satisfactio
n）を得るための大切な要素の一つとして、製品の品質
（信頼性）が挙げられる。従って、承認者が判断を行う
に当たって、この信頼性が非常に大切な要素となる。

【０００５】ここでは、製造製品の一例として、半導体
製品の信頼性について述べる。

【０００６】半導体製品の品質は、その半導体製品が持
っている機能の品質の良さは勿論のこと、使用過程にお
いても不具合を起こさないという両面性が必要となる。
つまり、半導体製品の品質は、（イ）設計品質（Design
Quality）：回路設計（機能）、製品設計（構造品
質）、信頼性設計（時間要因）、（ロ）製造品質（Prod
uction Quality）：バラツキ（初期品質）、ロット間変
動（初期品質）が挙げられる。製造品質に起因する特性
でも、時によっては信頼性不良を発生することもある
が、これらも、設計品質の整合性を向上させることで、
回避可能なケースが多い。理想的には、設計時の評価の
完全さを、製造品質から時間的要因を取り除くことが好
ましい。

【０００７】又、半導体の劣化要因については、以下の
様なものが挙げられる。

【０００８】（イ）半導体基板材料に起因して、微少な
結晶欠陥が特性変動をもたらし、リーク電流の増加、耐
圧の低下、ノイズの増加、メモリの保持時間の変化など
を引き起こす。

【０００９】（ロ）高温で処理される過程で新たな欠陥
を発生させる。

【００１０】（ハ）外部からの汚染によって長期的に特
性の変動が起こる。

【００１１】（ニ）絶縁体の破壊。

【００１２】（ホ）微細化と性能向上の追及から、内部
の電解ストレスが厳しくなり、絶縁体の電荷の変動を生
ずる。

【００１３】（ヘ）外部浸入水分による劣化、配線の腐
食。

【００１４】（ト）接続配線の種種の異種金属の相互拡
散によるボイド、例えばアルミニウムと金の金属間化合
物の生成、半導体チップを納めるパッケージからの応力
による劣化。

【００１５】（チ）製造装置の設備不備からくる劣化。

【００１６】これらの情報は、障害として製造者に挙げ
られたとしても、その発生原因と障害の関連づけが困難
で明確にすることが出来ない。

【００１７】又、製品開発における判断要素について、
個人の報告、会議、個別のシステム等から承認者が総合
的に判断する。この場合、承認者の経験や知識に頼るこ
とが多い。この承認者も、開発過程に応じて変化する場
合も多い。

【００１８】

【発明が解決しようとする課題】このように、従来の承
認者の経験や知識による判断は、製造企業活動の側面か
ら見た問題点と、顧客側面から見た問題点と、大きく分
けて２つに大別される。

【００１９】製造企業活動の側面から見ると、以下のよ
うな問題点が挙げられる。

【００２０】（イ）ナレッジ蓄積、活用化のための企業
全体ルールや、マクロなシステムが存在しないため、過
去の製品開発における判断と結果の相関、判断に至った
経緯、問題発生事例等のナレッジが再利用されにくい。

【００２１】（ロ）各製造企業活動要素毎に分散した組
織が存在するために、情報の更新頻度、情報の確度など
に差が発生する場合があるため、判断に当たり最新かつ
一定品質の情報が提供されない可能性がある。具体的に
は、企業内で開発されている、或いは開発着手の可能性
のある製品の開発リソース（特に技術者）やスケジュー
ル全体がリアルタイムに更新された情報が得られないた
め、更に、それら開発の企業として最適な優先順位付け
がなされ難いことがある。又、承認者の判断に有益な組
織担当者の持つ非定型情報（例えば、客先感触などセン
シティブな営業情報最新やリアルタイムな技術開発状況
とそのリスク、法改正の動向など）が伝わりにくい、或
いは、伝わるために時間を要することがある。

【００２２】（ハ）各開発進行段階で、複数専門組織
（製品開発部門、及び製造装置や部品材料等の要素技術
開発部門）が関与するために、製品開発の初期段階で、
将来的な問題発生予測（要素技術の開発スケジュールな
ども含む）が的確に行えない可能性がある。

【００２３】特に、半導体製品等の様に、精密かつ複雑
で変更の激しい製造工程が必要とされる製品において
は、確実に良品を製造出来なくなる危険性を有する。常
に、最高品質の製品を最速で開発製造するシステム及び
手法の確立が要求されている。

【００２４】上記問題を鑑み、本発明は、製品開発にお
けるマネジメント判断を支援するシステム及び方法を提
供する。

【００２５】本発明の目的は、複数の判断に必要な要素
情報をデータベース上で一元管理し、常に最新の情報が
蓄積されたデータベースを用いて、最適かつ最速の判断
に必要な一定品質の情報を提供出来る製品開発マネジメ
ントシステム及び製品開発マネジメント方法を提供する
ことである。

【００２６】本発明の他の目的は、過去に開発された製
品の仕様、特性及び信頼性をナレッジとして蓄積し、新
規開発製品の特性や信頼性を開発の早い段階で判定する
製品信頼性判定システム及び製品信頼性判定方法を提供
することである。

【００２７】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の第１の特徴は、受注した製品の情報が登録
されている製品データベース記憶装置と、製造実績のあ
る製品の情報が登録されている製品ナレッジデータベー
ス記憶装置と、製品データベース記憶装置と製品ナレッ
ジデータベース記憶装置とを参照して、製造後の製品を
想定し、製品が所定の条件を満たすか否かを判定する判
定手段具備する中央処理制御装置とを備える製品開発マ
ネジメントシステムを提供することである。

【００２８】本発明の第２の特徴は、受注した製品の情
報を製品データベース記憶装置に登録する受注製品情報
登録ステップと、受注した製品の各製造工程における検
証結果を、製品データベース記憶装置に更に登録する検
証結果登録ステップと、製品データベース記憶装置と製
造実績のある製品の情報が登録されている製品ナレッジ
データベース記憶装置とを参照して、製造後の製品を想
定し、製品が所定の条件を満たすか否かを判定する判定
ステップとを備える製品開発マネジメント方法を提供す
ることである。

【００２９】本発明の第３の特徴は、受注した製品の情
報を、製品データベース記憶装置に登録する受注製品情
報登録ステップと、受注した製品の情報が登録された製
品データベース記憶装置と、製造実績のある製品の情報
が記憶されている製品ナレッジデータベース記憶装置と
を参照して、量産後の受注した製品を想定し、受注した
製品の信頼性を判定する第１の信頼性判定ステップと、
第１の信頼性判定ステップで得られた受注した製品の信
頼性を参照して、受注した製品の設計工程の承認を行う
設計工程承認ステップと、設計工程の承認を受けて受注
した製品の設計工程を行い、設計工程の検証結果を製品
データベース記憶装置に更に登録する設計工程検証結果
登録ステップと、設計工程の検証結果が更に登録された
製品データベース記憶装置と、製品ナレッジデータベー
ス記憶装置とを参照して、量産後の受注した製品を想定
し、受注した製品の信頼性を判定する第２の信頼性判定
ステップと、第２の信頼性判定ステップで得られた受注
した製品の信頼性を参照して、受注した製品の量産工程
を承認する量産工程承認ステップとを備える製品開発マ
ネジメント方法を提供することである。

【００３０】本発明の第４の特徴は、受注した製品の情
報を、製品データベース記憶装置に登録する受注製品情
報登録ステップと、受注した製品の情報が登録された製
品データベース記憶装置と、製造実績のある製品の情報
が記憶されている製品ナレッジデータベース記憶装置と
を参照して、量産後の受注した製品を想定し、受注した
製品の信頼性を判定する第１の信頼性判定ステップと、
第１の信頼性判定ステップで得られた受注した製品の信
頼性を参照して、受注した製品の設計工程の承認を行う
設計工程承認ステップと、設計工程の承認を受けて受注
した製品の設計工程を行い、設計工程の検証結果を製品
データベースに更に登録する設計工程検証結果登録ステ
ップと、設計工程の検証結果が更に登録された製品デー
タベース記憶装置と、製品ナレッジデータベース記憶装
置とを参照して、量産後の受注した製品を想定し、受注
した製品の信頼性を判定する第２の信頼性判定ステップ
と、第２の信頼性判定ステップで得られた受注した製品
の信頼性を参照して、受注した製品のシミュレーション
工程の承認を行うシミュレーション工程承認ステップ
と、シミュレーション工程の承認を受けて受注した製品
のシミュレーション工程を行い、シミュレーション工程
の検証結果を製品データベースに更に登録するシミュレ
ーション工程検証結果登録ステップと、シミュレーショ
ン工程の検証結果が更に登録された製品データベース記
憶装置と、製品ナレッジデータベース記憶装置とを参照
して、量産後の受注した製品を想定し、受注した製品の
信頼性を判定する第３の信頼性判定ステップと、第３の
信頼性判定ステップで得られた受注した製品の信頼性を
参照して、受注した製品の量産工程を承認する量産工程
承認ステップとを備える製品開発マネジメント方法を提
供することである。

【００３１】本発明の第５の特徴は、製造工程毎の基幹
技術の実績が登録された基幹技術認定データベース記憶
装置と、基幹技術毎の技術要素の実績が登録された技術
要素認定データベース記憶装置と、基幹技術認定データ
ベース記憶装置と、技術要素認定データベース記憶装置
とを参照して、製造後の製品を想定し、製品が所定の条
件を満たすか否かの信頼性を判定する信頼性判定手段を
具備する中央処理制御装置とを備える製品信頼性判定シ
ステムを提供することである。

【００３２】本発明の第６の特徴は、基幹技術の実績が
登録された基幹技術認定データベース記憶装置を参照し
て、基幹技術の判定を行う基幹技術判定ステップと、基
幹技術毎の技術要素の実績が登録された技術要素認定デ
ータベース記憶装置を参照して、基幹技術毎の技術要素
の判定を行う技術要素判定ステップと、基幹技術判定ス
テップで得られた基幹技術の判定と、技術要素判定ステ
ップで得られた基幹技術毎の技術要素の判定とを受け
て、製造後の製品を想定し、製品が所定の条件を満たす
か否かの信頼性を判定する信頼性判定ステップとを備え
る製品信頼性判定方法を提供することである。

【００３３】

【発明の実施の形態】次に、図面を参照して、本発明の
最良の実施の形態を説明する。以下の図面の記載におい
て、同一又は類似の部分には同一又は類似の符号を付し
ている。ここでは、製造製品の一例として、半導体製品
についての製品開発マネジメントシステム、製品開発マ
ネジメント方法、製品信頼性判定システム及び製品信頼
性判定方法の実施の形態の一例を示す。

【００３４】本発明の製品開発マネジメントシステムに
おける、取引の段階と開発の段階の関係を図２に示す。
取引は、引合段階、受注段階、試作段階を経て、量産段
階まで進む。取引の段階に応じて、客先と話をする担当
者は変化する。具体的には、引合段階では技術にそれほ
ど詳しくない営業が担当者となるが、取引が進むに従
い、徐々に専門的な技術内容が必要になってくる。その
ような場合、客先窓口技術者が客先担当者になる。又、
取引段階や客先担当者の指示に応じて、作業の担当技術
者も変化する。具体的には、引合があってから仕様が固
まった過程では設計を担当する技術者に、設計が固まっ
た段階で製造技術を担当する技術者に、製造技術が固ま
った段階で、製品評価を行う技術者に遷移する。又、作
業は受け渡しで行われるものではなく、仕様の変更や見
直しが随時行われるので、複数の作業者が並行して作業
を行う。又、これらの取引段階に応じて、Ｐ１乃至Ｐ３
ゲートにおいて、次の段階に進んで良いか、権限を持っ
た承認者がカンパニーデシジョンとして責任を持った承
認を行う。例えば、引合段階から受注段階に進む場合
は、承認者が承認を行い、この承認を受けて、取引は受
注段階となり、製造技術開発が行われる。承認者が受注
段階の承認を行ったことにより、作業の担当技術者にそ
の指示がなされる。これにより、承認者は迅速かつ的確
な指示を与え、担当技術者は、スムーズに開発を行うこ
とが出来る。

【００３５】（第１の実施の形態） （システム構成）本発明の第１の実施の形態に係る製品
開発マネジメントシステムのシステム構成図を、図１に
示す。製品開発マネジメントシステムは、管理サーバ１
０、ＩＱＳ判定サーバ２０、ゲートウェイサーバ３０、
客先担当者端末４１、技術者端末４２、承認者端末４３
により構成されており、これらの端末は社内ＬＡＮ（イ
ントラネット）１を介して接続されている。更に、ゲー
トウェイサーバ３０はインターネット２に接続されてお
り、インターネット２を介して客先担当者携帯端末４４
及び顧客端末４５が接続されている。客先担当者携帯端
末４４及び顧客端末４５が社内ＬＡＮ２に接続するため
には、ゲートウェイサーバ３０、インターネット２、プ
ロバイダーのアクセスポイント等を介して接続される。
又、インターネット２を介さず、直接ゲートウェイサー
バ３０を介して社内ＬＡＮ２に接続しても良い。管理サ
ーバ１０は、製品開発マネジメントの管理を行うサーバ
である。管理サーバ１０には、受注した製品の仕様や納
期に応じて予め設定されたテスト方法、回路検証等の情
報が記載されている機能検証データベース９、受注した
製品の情報が保存されている製品データベース１７、開
発履歴、技術者情報、市場情報等の情報がナレッジとし
て蓄積されているナレッジデータベース１８、カンパニ
ースタンダードモデル或いはビジネスユニットスタンダ
ードモデルに対応した製造工程の開発の進捗やリソース
の割り当てを保存している業務管理データベース１９が
接続されている。又、ＩＱＳ判定サーバ２０は、既存の
技術情報を元に、新しく開発を行う製品の信頼性を判定
するサーバである。ＩＱＳ判定サーバ２０には、既存の
技術情報が保存されている製品ナレッジデータベース２
７、信頼性の判定基準を保存している判定基準データベ
ース２８が接続されている。ゲートウェイサーバ３０
は、客先担当者携帯端末４４及び顧客端末４５が社内Ｌ
ＡＮ２に接続出来るように仲介するもので、端末承認、
ファイアウォール等の充分なセキュリティシステムが構
築されている。又、端末を認証する場合に、コールバッ
ク機能があればより好ましい。客先担当者端末４１、技
術者端末４２、承認者端末４３、客先担当者携帯端末４
４、顧客端末４５は、一般的なパソコン、ＰＤＡ、携帯
電話等の情報機器である。又、このマネジメントシステ
ムを、インターネット上のよりオープンな環境で利用す
ることも可能である。

【００３６】ここで、機能検証データベース９、製品デ
ータベース１７、ナレッジデータベース１８、業務管理
データベース１９、製品ナレッジデータベース２７及び
判定基準データベース２８は、例えばコンピュータの外
部メモリ装置、半導体メモリ、磁気ディスク、光ディス
ク、光磁気ディスク、磁気テープなどの記録媒体に記録
されている。ここで記録媒体とは、具体的には、フロッ
ピー（登録商標）ディスク、ハードディスク、ＣＤ−Ｒ
ＯＭ，ＭＯディスク、カセットテープ、オープンリール
テープなどが含まれる。

【００３７】図３は、製品開発マネジメントシステムに
おける各サーバ、端末の関係を示した図である。

【００３８】（イ）客先担当者端末４１或いは客先担当
者携帯端末４４を用いて、管理サーバ１０に製造企業の
客先担当者が顧客との話し合いで決定した仕様を入力す
る（ａ）。この情報を受けて、管理サーバ１０は、ＩＱ
Ｓ判定サーバ２０に、仕様を入力し、ＩＱＳ判定を依頼
する（ｂ）。管理サーバ１０は、ＩＱＳ判定サーバ２０
からＩＱＳ判定結果を受信し（ｃ）、その結果を、客先
担当者端末４１或いは客先担当者携帯端末４４に送信す
る（ｄ）。

【００３９】（ロ）管理サーバ１０は、仮仕様にて製品
受注ＯＫの判定が出れば、顧客端末４５に対し、更に詳
細な仕様確認の問い合わせを行う（ｅ）。

【００４０】（ハ）管理サーバ１０は、取引の進捗に応
じて、カンパニースタンダードモデル或いはビジネスユ
ニットスタンダードモデルで定められたタイミングで、
承認者４４に承認を依頼する（ｆ）。承認者端末４３は
それに応じて、承認結果を管理サーバ１０に送信する
（ｇ）。この時に、承認者端末４３は、必要に応じて管
理サーバ１０の機能検証データベース９、製品データベ
ース１７、ナレッジデータベース１８及び業務管理デー
タベース１９を参照することが出来る。更に、ＩＱＳ判
定サーバ２０に依頼して、ＩＱＳ判定結果を取得しても
良い。又、承認者端末４３は、ＩＱＳサーバ２０におい
て、ＩＱＳ判定を行う場合の判定基準を登録或いは更新
しても良い（ｈ）。

【００４１】（ニ）管理サーバ１０は、作業指示を提供
し（ｉ）、技術者端末４２は、管理サーバ１０に対し、
製造工程の進捗状況の登録を行い、管理サーバ１０から
次の作業指示を受信する（ｊ）。又、技術者端末４２
は、ＩＱＳ判定サーバ２０に対し、既製造製品の実績を
製品ナレッジデータベース２７に登録する（ｋ）。

【００４２】このように、機能検証データベース９、製
品データベース１７、ナレッジデータベース１８、業務
管理データベース１９、製品ナレッジデータベース２７
及び判定基準データベース２８は、客先担当者端末４
１、技術者端末４２、承認者端末４３、客先担当者携帯
端末４４及び顧客端末４５により、随時、最新情報に更
新される。

【００４３】（管理サーバ）図４は、図３で示した製品
開発マネジメントシステムの機能を達成する管理サーバ
１０の機能ブロック図である。管理サーバ１０は、入力
装置１１、出力装置１２、入出力装置１３、通信制御装
置１４、一時記憶装置１５、管理サーバ処理制御装置１
６、機能検証データベース９、製品データベース１７、
ナレッジデータベース１８、業務管理データベース１９
により構成されている。入力装置１１は、キーボード、
マウスなどにより、出力装置１２は、液晶ディスプレ
イ、ＣＲＴディスプレイなどの表示装置、インクジェッ
トプリンタ、レーザープリンタなどの印刷装置等により
構成される。入出力装置１３は、外部装置とのインター
フェースで、ここで外部装置とは、ＣＤ−ＲＯＭ、Ｍ
Ｏ、ＺＩＰなどの記憶装置等である。通信制御装置１４
は、社内ＬＡＮ１に接続するためのインターフェースと
なるものである。一時記憶装置１５は、ＲＯＭ及びＲＡ
Ｍが組み込まれている。ＲＯＭは管理サーバ処理制御装
置１６において実行されるプログラムを格納しているプ
ログラムメモリ等として機能し、ＲＡＭは管理サーバ処
理制御装置１６におけるプログラム実行処理中に利用さ
れるデータ等を格納したり、作業領域として利用される
データメモリ等として機能する。

【００４４】管理サーバ処理制御装置１６は、製品デー
タベース管理手段１６ａ、ナレッジデータベース管理手
段１６ｂ、業務管理データベース管理手段１６ｃ、機能
検証データベース管理手段１６ｄ、承認手段１６ｅ、承
認要素参照手段１６ｆ、開発業務管理手段１６ｊ、信頼
性判定手段１６ｋ、承認者承認手段１６ｌ等からなる中
央処理制御装置である。製品データベース管理手段１６
ａ、ナレッジデータベース管理手段１６ｂ、業務管理デ
ータベース管理手段１６ｃ、機能検証データベース管理
手段１６ｄは、それぞれ製品データベース１７、ナレッ
ジデータベース１８、業務管理データベース１９、機能
検証データベース９を管理するもので、客先担当者端末
４１、技術者端末、承認者端末４３等からの参照、更新
依頼を処理するものである。承認手段１６ｅは、業務管
理データベース１９に記録された取引や開発業務管理に
ついて、カンパニースタンダードモデル或いはビジネス
ユニットスタンダードモデルで定めたタイミングで、承
認を行う手段である。カンパニースタンダードモデル及
びビジネススタンダードモデルについては、後に詳述す
る。

【００４５】承認要素参照手段１６ｆは、承認者端末４
３の依頼に応じて、機能検証データベース９、製品デー
タベース１７、ナレッジデータベース１８、業務管理デ
ータベース１９を参照し、更に、ＩＱＳ判定サーバ２０
にＩＱＳ判定を依頼することも出来る。承認要素参照手
段１６ｆは、カンパニースタンダードモデル或いはビジ
ネスユニットスタンダードモデルで定められたＰ１ゲー
トからＰ３ゲートに応じて、各々Ｐ１ゲート承認要素参
照手段１６ｇ、Ｐ２ゲート承認要素参照手段１６ｈ及び
Ｐ３ゲート承認要素参照手段１６ｉを備える。Ｐ１’ゲ
ートにおいては、Ｐ１ゲート承認要素参照手段１６ｇに
基づいて処理が行われる。開発業務管理手段１６ｊは、
業務管理データベース１９を監視し、カンパニースタン
ダードモデル或いはビジネスユニットスタンダードモデ
ルが定めるタイミングで、客先担当者端末４１、技術者
端末４２、承認者端末４３等に指示を出す手段である。
信頼性判定手段１６ｋは、ＩＱＳ判定サーバ２０にＩＱ
Ｓ判定を依頼する手段である。具体的には、ＩＱＳ判定
に必要な条件を送信、ＩＱＳ判定サーバ２０が送信した
判定結果を受信し、ＩＱＳ判定サーバ２０が製品ナレッ
ジデータベース２７及び製品データベース１７を参照し
てＩＱＳ判定を行わせ、その結果を受信し、更にＩＱＳ
判定を依頼した端末に判定結果を送信する手段である。
承認者承認手段１６ｌは、承認者端末４３に承認手段１
６ｅで得られた承認結果の承認可否判断を依頼し、その
結果を受信する手段である。承認結果とは、具体的に
は、「次の開発工程に進めても良い」、「仕様の見直し
を行う」などの指示である。更に詳細な担当者からの情
報提供を入手することが出来る。更に、承認者の指示
を、カンパニースタンダードモデル或いはビジネスユニ
ットスタンダードモデルに応じた開発に関する具体的な
指示として送信することが出来る。

【００４６】図５は、製品データベース１７の具体的な
データ項目を示した図である。即ち、製品データベース
１７は、以下の項目により構成されている。

【００４７】（イ）仕様情報１７ａ：製品名称、チップ
サイズ、ボディサイズ、外部部材、実装方法等。

【００４８】（ロ）製品検証結果１７ｂ：立ち上げデー
タ、電気的特性、信頼性等。

【００４９】仕様情報１７ａには、顧客との引合で決定
された仕様の情報が格納され、製品検証結果１７ｂに
は、それぞれの製造工程における製品を検証した結果が
格納される。

【００５０】図６は、検証機能データベース９の具体的
なデータ項目を示した図である。即ち、検証機能データ
ベース９は、以下の項目により構成されている。

【００５１】（イ）回路検証９ａ：論理回路、シミュレ
ーション結果、レイアウトデータ検証結果、タイミング
マージン検証結果等。

【００５２】（ロ）テスター９ｂ：使用テスター機種、
テストプログラム、電気的マージン等。

【００５３】図７は、ナレッジデータベース１８の具体
的なデータ項目を示した図である。即ち、ナレッジデー
タベース１８は、以下の項目により構成されている。

【００５４】（イ）開発履歴キーワード情報１８ａ：技
術該当区分（例えば設計、評価、プロセス等）、成果物
（例えば技術報告書、特許、資格等）、開発時期等。

【００５５】（ロ）技術者マップ１８ｂ：従業員ＩＤ、
氏名、組織グループ（例えば営業技術、設計、応用技
術、製品技術、工場技術等）、スキルレベル、立場（例
えば入社年度、役職、所属部署履歴等）、キャリア情報
（例えばアナログセル従事、０．２５μｍプロセス開発
従事、ＴＢＧＡパッケージ開発従事、ＩＳＯ監査員資格
従事、情報処理資格等）等。ここで、スキルレベルは、
例えば、応用技術部門、設計部門、製品技術部門等に分
けられて判断される。応用技術部門では、「評価作業が
出来る」、「テストプログラムを作成出来る」等のスキ
ルレベルが挙げられる。設計部門では、「レイアウトが
出来る」、「シミュレーションが出来る」等のスキルレ
ベルが挙げられる。製品技術部門では、「不良解析が出
来る」、「事業・ライン計画が出来る」等のスキルレベ
ルが挙げられる。

【００５６】（ハ）外部一般情報１８ｃ：一般技術、市
場情報等。

【００５７】図８は、業務管理データベース１９の具体
的なデータ項目を示した図である。即ち、業務管理デー
タベースは以下の項目により構成されている。

【００５８】（イ）リソース割り当て情報１９ａ：工程
（タスク）、リソース名、期間、作業時間、承認者名
等。その製品に関わるリソース全般の情報。

【００５９】（ロ）進捗管理情報１９ｂ：作業進捗。い
つ、誰が、どの作業を実行したか。

【００６０】図５乃至図８に示す製品データベース１
７、検証機能データベース９、ナレッジデータベース１
８及び業務管理データベース１９のデータ構造を、コン
ピュータ読取可能な記憶媒体に保存しておいても良い。
この記憶媒体をコンピュータシステムによって読み込ま
せ、図４に示した一時記憶装置１５に格納し、このデー
タ構造を管理サーバ処理制御装置１６で実行しても良
い。ここで、記憶媒体とは、例えば磁気ディスク、光デ
ィスク、光磁気ディスク、磁気テープなどのプログラム
を記録することが出来るような媒体などが含まれる。コ
ンピュータの外部メモリ装置も、ここで言う記録媒体に
含まれる。

【００６１】（カンパニースタンダードモデル）承認者
の組織的定義、判断のタイミングと頻度、判断対象とな
る項目、判断の方法に関して、フルスペックモデルをカ
ンパニースタンダードモデル（製造企業内統一ルール）
として定義する。又、製品開発のマネジメントモデル
を、製品開発と、要素技術開発に階層化、モデル化し、
要素技術に関しては更に階層化を行い、各専門組織のオ
ーナシップに基づき定められた環境の元、常に最新の情
報が均一に得ることが出来る。

【００６２】図９は、カンパニースタンダードモデルの
一例である。

【００６３】（イ）まず、ステップＳ１０１において、
商品の企画を行う。

【００６４】（ロ）次に、ステップＳ１０２において、
商品企画検討会を行う（Ｍ１ゲート）。ここで、商品の
企画が決定される。

【００６５】（ハ）ステップＳ１０３においては、開発
計画の策定を行う。具体的には、設計、前工程、後工
程、製造ラインに関する仕様確認、計画検討を行う。こ
こで、製品の仕様が仮決定される。次にステップＳ１０
４において、事業性判断を行う。ここでは、コストの見
積もりを行い、市場情報と総合して事業性の判断を行
う。

【００６６】（ニ）ステップＳ１０３及びステップＳ１
０４で得られた結果を基に、ステップＳ１０５におい
て、承認者が開発判断を行う（Ｐ１ゲート）。承認が得
られなかった場合は、再びステップＳ１０３の開発計画
策定及びステップＳ１０４の事業性判断を行う。承認が
得られた場合は、ステップＳ１０６に進む。

【００６７】（ホ）ステップＳ１０６においては、概念
設計を行う。概念設計では、顧客との話し合いで決まっ
た仕様を元に社内仕様にフィックスする。ここで、製品
の仕様が確定する。

【００６８】（ヘ）ステップＳ１０６で得られた結果を
基に、ステップＳ１０７において、承認者が認定グレー
ド判定を行う（Ｐ１’ゲート）。承認が得られなかった
場合は、再びステップＳ１０６の概念設計を行う。承認
が得られた場合は、ステップＳ１０８に進む。

【００６９】（ト）ステップＳ１０８においては、設計
を行う。必要であれば、プロセスシミュレーションや、
デバイスシミュレーションを加えて設計を行う。ここで
は、設計を実行し、設計結果の検証を行う。又、更に開
発計画及び事業性の見直しを行う。

【００７０】（チ）ステップＳ１０８で得られた結果を
基に、ステップＳ１０９において、承認者がマスク作成
判断を行う（Ｐ２ゲート）。承認が得られなかった場合
は、再びＳ１０８において設計を行う。承認が得られた
場合は、ステップＳ１１０に進む。

【００７１】（リ）ステップＳ１１０においては、詳細
なシミュレーション及びこの詳細なシミュレーションに
基づいた試作を行う。更に、ステップＳ１１０の試作で
得られた成果物について、ステップＳ１１１において製
品検証、特性評価等の評価を行う。更に、評価結果に基
づいて、製造ラインの整備、事業性の見直しを行う。

【００７２】（ヌ）ステップＳ１１１で得られた評価を
基に、ステップＳ１１２において、承認者は量産判定を
行う。承認が得られなかった場合は、再びステップＳ１
１０のシミュレーション・試作及びステップＳ１１１の
評価を行う。承認が得られた場合は、量産体制に入る。

【００７３】図１０は、カンパニースタンダードモデル
の各ステップで、製品データベース１７及び機能検証デ
ータベース９に登録するデータ項目を示した図である。

【００７４】（イ）ステップＳ１０３の開発計画策定工
程及びステップＳ１０４の事業性判断工程においては、
ＩＱＳ判定結果、ナレッジ情報、製品情報、業務管理情
報、要求仕様、設計仕様、パッケージ仕様、新規性、信
頼性、リソース、試作ライン、設備、チップサイズ、Ｃ
Ｄ試作、コスト情報、ＲＯＩ（投資利益率：Return OnI
nvestment）等の情報が製品データベース１７ｃに登録
される。更に、ここで決定した仕様に基づいて、求めら
れる製品の精度に応じてテスト方法、テスト手順、回路
検証方法等のテスト仕様を作成し、機能検証データベー
ス９に登録する。

【００７５】（ロ）ステップＳ１０６の概念設計工程に
おいては、ＩＱＳ判定結果、ハードウェア設計仕様（Ｒ
ＴＬ（設計入力レベル：Register Transfer Level）、
要求仕様／システム仕様整合性等の情報が製品データベ
ース１７ｄに登録される。ここで、決定した仕様につい
て、機能検証データベース９の更新を行う。

【００７６】（ハ）ステップＳ１０８の設計工程におい
ては、ＩＱＳ判定結果、設計ＦＭＥＡ（故障モード影響
解析法：Failure Mode & Effects Analysis）、設計検
証結果、開発計画見直し、事業性見直し等の情報が製品
データベース１７ｅに登録される。

【００７７】（ニ）ステップＳ１１０のサンプル試作工
程及びステップＳ１１１の評価工程においては、ＩＱＳ
判定結果、得意仕様整合性、特性（マージン、歩留
等）、テストプログラム、ＩＱＣ（製品に含まれる機能
ブロックの信頼性判定）、ＩＱＳ−ＱＦＰ判定、ＭＳＳ
（工場移管用の電気的特性仕様書）、事業性見直し等の
情報が製品データベース１７ｆに登録される。ここで、
ＱＦＰ（Qualification Forthe Product）とは、ＩＱＳ
判定における製品認定のことである。

【００７８】このように、機能検証データベース９に検
証データが登録され、更に見直しが行われる。

【００７９】又、製品データベース１７は、業務の進捗
に応じて、製品データベース１７ｃ乃至１７ｆで示した
データが蓄積される。これらのデータは、製造前のデー
タについては仕様情報１７ａ、完成した製品の検証結果
については製品検証結果１７ｂに分けられて、それぞれ
格納される。又、製品データベース１７ｃ乃至１７ｆに
おいて、ＩＱＳ判定を行った結果を登録する。各製品デ
ータベース１７ｃ乃至１７ｆにおいて登録されるＩＱＳ
判定は、製造工程に従って、そのゲート毎に決定或いは
仮決定されたデータの入力に基づいて製造終了後の製品
を想定して、信頼性判定を行った結果である。つまり、
開発フローが終了に近づくに従い、決定された入力デー
タが多くなる。従って、開発フローが終了に近づくに従
い、ＩＱＳ判定結果の信頼性が高くなる。

【００８０】（承認者承認手段による承認者承認方法）
カンパニースタンダードモデルの承認手段及び承認方法
について、図１１を用いて説明する。

【００８１】図１１は、承認者承認手段１６ｌにおける
フローチャートである。

【００８２】（イ）承認者の承認が必要になると、ま
ず、ステップＳ１５１において、承認者に承認依頼通知
メールを送信する。

【００８３】（ロ）ステップＳ１５２において、承認者
が在籍していない場合や、一定時間後にメールが帰って
こない場合については、ステップＳ１５３において、承
認者からの判断を待てるかどうか、問い合わせる。承認
者の判断を待てる場合は、承認者が判断を行うのを待
つ。承認者からの判断を待てない場合は、ステップＳ１
５４において、電話等で承認者にアクセスし、承認者の
指示内容を取得する。

【００８４】（ハ）ステップＳ１５４で取得した指示内
容に従って、ステップＳ１５５において、承認者からの
指示内容を代理登録、又は、ステップＳ１５６におい
て、承認者が指定した代理人の指示内容を代理登録、又
は、承認者にアクセス出来ない場合は、ステップＳ１５
７において、予め定めている代行者の指示内容を代理登
録、のいずれかの処理を行う。

【００８５】（ニ）ステップＳ１５８において、承認者
は、承認要素参照手段１６ｆによって、承認に必要な要
素を参照する。ステップＳ１５９において、承認可否判
断を行う。承認ＯＫの場合は、ステップＳ１６０におい
て、次の工程の作業指示を行う。承認ＮＧの場合は、ス
テップＳ１６１において、指示を出し、再調整を行った
後、再び承認作業を行う。

【００８６】（承認要素参照手段による承認要素参照方
法）次に、承認要素参照手段による承認要素参照方法に
ついて、図１２乃至図１４を用いて説明する。

【００８７】図１２乃至図１４は、承認要素参照手段１
６ｆによるフローチャートである。

【００８８】図１２は、Ｐ１ゲート承認要素参照手段１
６ｇの処理を示すフローチャートである。

【００８９】（イ）Ｐ１ゲートにおいては、まず、ステ
ップＳ２０１において、製品データベース１７の仕様情
報１７ａを参照して、製品仕様を検証する。更に、ステ
ップＳ２０２において、機能検証データベース９を参照
して、仕様情報１７ａや納期などから設計された機能検
証方法について検証を行う。

【００９０】（ロ）更に、ステップＳ２０３において、
信頼性判定手段１６ｋによって、現在の仕様で製造され
る製品の信頼性を判定する。

【００９１】（ハ）更に、ステップＳ２０４において、
業務管理データベース１９を参照して、スケジュールの
検証を行う。ここでは、人、ライン、物品など各側面か
らの検証判断を行う。

【００９２】（ニ）更に、ステップＳ２０５において、
ナレッジデータベース１８等を参照して、事業性を判断
する。

【００９３】（ホ）ステップＳ２０６において、ステッ
プＳ２０１乃至ステップＳ２０５で行われた検証や判定
の結果を基に、Ｐ１ゲートとしての総合判定を行う。承
認ＯＫの判定がされた場合は、ステップＳ２０７におい
て、設計工程に移る指示を与える。又、承認ＮＧの判定
がされた場合は、ステップＳ２０８において、見直し指
示を行い、ステップＳ２０８において、問題のあるステ
ップＳ２０１〜Ｓ２０５のいずれかに戻る。

【００９４】図１３は、Ｐ２ゲート承認要素参照手段１
６ｈの処理を示すフローチャートである。

【００９５】（イ）Ｐ２ゲートにおいては、まず、ステ
ップＳ２２１において、製品データベース１７を参照し
て、設計の検証を行う。更に、ステップＳ２２２におい
て、機能検証データベース９を参照して、設計された製
品が、テスト仕様通りに設計されか、又、検証方法が正
しいかの確認を行う。

【００９６】（ロ）更に、ステップＳ２２３において、
信頼性判定手段１６ｋによって、現工程までで行われた
設計に基づいて、現在の仕様で製造される製品の信頼性
を判定する。

【００９７】（ハ）更に、ステップＳ２２４において、
業務管理データベース１９を参照して、スケジュールの
検証を行う。ここでは、人、ライン、物品など様々な側
面からの検証判断を行う。

【００９８】（ニ）更に、ステップＳ２２５において、
ナレッジデータベース１８等を参照して、事業性を判断
する。

【００９９】（ホ）ステップＳ２２６において、ステッ
プＳ２２１乃至ステップＳ２２５で行われた検証や判定
の結果を基に、Ｐ２ゲートとしての総合判定を行う。承
認ＯＫの判定がされた場合は、ステップＳ２２７におい
て、シミュレーション・試作工程に移る指示を与える。
又、承認ＮＧの判定がされた場合は、ステップＳ２２８
において、見直し指示を行い、ステップＳ２２８におい
て、問題のあるステップＳ２２１〜Ｓ２２５のいずれか
に戻る。

【０１００】図１４は、Ｐ３ゲート承認要素参照手段１
６ｉの処理を示すフローチャートである。

【０１０１】（イ）Ｐ３ゲートにおいては、まず、ステ
ップＳ２４１において、製品データベース１７を参照し
て、試作品の評価を行う。更にステップＳ２４２におい
て、機能検証データベース９を参照して、試作された製
品が、テスト仕様通りに作成されたか、又、検証方法が
正しいかの確認を行う。

【０１０２】（ロ）更に、ステップＳ２２４において、
信頼性判定手段１６ｋによって、現工程までで製造され
た試作品が、量産された場合の製品の信頼性を判定す
る。

【０１０３】（ハ）更に、ステップＳ２２５において、
ナレッジデータベース１８等を参照して、事業性を判断
する。

【０１０４】（ニ）ステップＳ２４６において、ステッ
プＳ２４１乃至ステップＳ２２５で行われた検証や判定
の結果を基に、Ｐ３ゲートとしての総合判定を行う。承
認ＯＫの判定がされた場合は、ステップＳ２４７におい
て、工場へ量産指示を行う。又、承認ＮＧの判定がされ
た場合は、ステップＳ２４８において、見直し指示を行
い、ステップＳ２４８において、問題のあるステップＳ
２４１〜２４５のいずれかに戻る。

【０１０５】カンパニースタンダードモデルの処理内容
の順序は、対象となる開発製品の特性に合わせ、より最
適化されたビジネスユニットスタンダードモデルの元と
なる。又、カンパニースタンダードモデル自体も、市場
の変化や技術の進歩等に合わせ、然るべき手順で常にブ
ラッシュアップされる。

【０１０６】（ビジネスユニットスタンダードモデル）
開発する製品群の特性毎に、不要な判断内容を引き算す
る形で、判断モデルを組織のビジネス区分毎に定義し、
然るべき部門に承認を受けた後に、ビジネスユニットス
タンダードモデル（製品区分における統一ルール）とし
て定義する。

【０１０７】カンパニースタンダードを、製品の特徴に
合わせて対応させたものが、ビジネスユニットスタンダ
ードモデルである。

【０１０８】図１５乃至図１８を用いて、カンパニース
タンダードモデルを半導体製品に適用させたビジネスユ
ニットスタンダードモデルの一例を示す。

【０１０９】図１５は、製品がＡＳＩＣ（Application
Specific Integrated Circuit）の場合のビジネスユニ
ットスタンダードモデルの例である。顧客が一品毎に詳
細な仕様決定を行う、カスタム製品故に、受注判断がキ
ーとなる。

【０１１０】（イ）まず、ステップＳ２６１において、
顧客と引合が行われ、ステップＳ２６２において、ＡＳ
ＩＣ製品の商品企画が行われる。更にステップＳ２６３
において、商品企画検討会で話し合いがなされ、仕様が
検討される。

【０１１１】（ロ）一方、ステップＳ２６４において、
製造企業内で開発計画が策定され、ステップＳ２６５に
おいて、事業性判断が行われる。これらステップＳ２６
１乃至ステップＳ２６５は、それぞれ干渉しあって、判
断される。

【０１１２】（ハ）次に、ステップＳ２６６において仕
様が決定される。この仕様に基づいて、ステップＳ２６
７において、承認者が次の論理設計を行うか否か、承認
を行う。承認ＮＧの場合は、再び、ステップＳ２６２の
商品企画或いはステップＳ２６４の開発計画策定におい
て、見直しを行う。

【０１１３】（ニ）ステップＳ２６７において承認ＯＫ
の場合は、ステップＳ２６８において、論理設計、ステ
ップＳ２６９において配線設計を行う。

【０１１４】（ホ）ステップＳ２６８及びステップＳ２
６９で行われた設計に基づいて、ステップＳ２７０にお
いて、承認者が、次のシミュレーション・試作を行うか
否か、承認を行う。承認ＮＧの場合は、再びステップＳ
２６８の論理設計或いはステップＳ２６９の配線設計に
おいて、見直しを行う。

【０１１５】（ヘ）ステップＳ２７０において承認ＯＫ
の場合は、ステップＳ２７１において、シミュレーショ
ン・試作を行い、それについてステップＳ２７２におい
て評価を行う。

【０１１６】（ト）ステップＳ２７２で行われた評価に
基づいて、ステップＳ２７３において、承認者が量産を
行うか否か、承認を行う。承認ＮＧの場合は、再びステ
ップＳ２７１において、シミュレーション・試作の見直
しを行う。承認ＯＫの場合は、工場に量産の指示を出
す。

【０１１７】図１６は、図１５のステップＳ２６７にお
けるＰ１ゲート承認要素参照手段１６ｇのフローチャー
トである。

【０１１８】（イ）まず、ステップＳ３４１において、
製品データベース１７の仕様情報１７ａを参照して設計
の仕様を検証する。更に、ステップＳ３４２において、
機能検証データベース９を参照して、ＡＳＩＣ製品の製
造仕様の検証を行う。

【０１１９】（ロ）更に、ステップＳ３４３において、
信頼性判定手段１６ｋによって、現在の仕様で製造され
るＡＳＩＣ製品の信頼性を判定する。

【０１２０】（ハ）更に、ステップＳ３４４において、
ＮＲＥ（ＡＳＩＣベンダーに支払う開発費：Non-Recurr
ing Express）及びＴＯＶ（製造原価：Turn Out of Val
ue）の問い合わせを行う。

【０１２１】（ニ）更に、ステップＳ３４５において、
業務管理データベース１９を参照して、スケジュールの
検証を行う。

【０１２２】（ホ）更に、ステップＳ３４６において、
ナレッジデータベース１８等を参照して、採算性のチェ
ックを行う。

【０１２３】図１７は、製品がＣＩＳＣＲＯＭ（Comple
x Instruction Set Computer ReadOnly Memory）の場合
のビジネスユニットスタンダードモデルの例である。既
存のＲＯＭ回路の組み合わせで顧客仕様を実現するタイ
プの製品につき、短時間でのＭ１、Ｐ１判断への並列処
理がキーとなる。

【０１２４】（イ）まず、ステップＳ３０１において、
顧客と引合が行われ、ステップＳ３０２において、ＣＩ
ＳＣ或いはＲＯＭ製品の商品企画が行われる。更にステ
ップＳ３０３において、商品企画検討会で話し合いがな
され、仕様が検討される。

【０１２５】（ロ）一方、ステップＳ３０４において、
客先担当者が顧客との引合で仕入れた情報を入力し、ス
テップＳ３０５において、仕様が仮決定される。ステッ
プＳ３０６において、承認者が、ステップＳ３０５にお
いて仮決定された仕様に対する可否判断をする。仕様が
承認ＮＧの場合は、ステップＳ３０４に戻り、仕様を検
討し、客先担当者が新しい仕様を入力する。

【０１２６】（ハ）次に、ステップＳ３０７において、
顧客が希望納期、使用分野等の使用状況の詳細情報を入
力し、ステップＳ３０８において、最終仕様がフィック
スされる。

【０１２７】（ニ）ステップＳ３０８においてフィック
スされた仕様を、ステップＳ３０９において、承認者が
承認するか否かを判断する。仕様が承認ＮＧの場合は、
ステップＳ３０７において、再び顧客が、希望納期、使
用分野等の使用状況の詳細情報を入力する。

【０１２８】（ホ）ステップＳ３０９において承認者が
承認ＯＫした場合は、ステップＳ３１０において、ＲＯ
Ｍを登録し、更にステップＳ３１１において、Ｄａｔａ
を確認する。

【０１２９】（ヘ）ステップＳ３１１において確認され
たＤａｔａについて、ステップＳ３１２において、承認
者が可否判断する。仕様が承認ＮＧの場合は、ステップ
Ｓ３１０において、再びＲＯＭの登録を行う。

【０１３０】（ト）ステップＳ３１２において承認者が
承認した場合は、ステップＳ３１３において試作を行い
を作成したＥＳ（Engineer Sample：機能確認用のサン
プル）にて、機能評価を行う。

【０１３１】（チ）ステップＳ３１４におけるＥＳ機能
評価結果を受けて、ステップＳ３１５において、承認者
が可否判断する。ＥＳが承認ＮＧの場合は、ステップＳ
３１３に戻り、再度試作を行う。承認者が承認ＯＫをし
た場合は、工場に量産の指示を出す。

【０１３２】図１８は、図１７のステップＳ３０６にお
けるＰ１ゲート承認要素参照手段１６ｇのフローチャー
トである。

【０１３３】（イ）まず、ステップＳ３８１において、
ＴＯＶの問い合わせを行い、ステップＳ３８２におい
て、採算性のチェックを行う。

【０１３４】（ロ）更に、製品データベース１７の仕様
情報１７ａを参照して、ステップＳ３８３において製造
仕様の検証、ステップＳ３８４において使用条件の確認
を行う。

【０１３５】（ハ）更に、ステップＳ３８５において、
信頼性判定手段１６ｋによって、現在の仕様で製造され
るＣＩＳＣ或いはＲＯＭ製品の信頼性を判定する。

【０１３６】（ニ）更に、ステップＳ３８６において、
業務管理データベース１９を参照して、スケジュールの
検証を行う。

【０１３７】本発明の第１の実施の形態によれば、承認
者の組織的定義、判断のタイミングと頻度、判断対象と
なる項目、判断の方法に関して、フルスペックモデルを
カンパニースタンダードモデル（製造企業内統一ルー
ル）として定義する。又、製品開発のマネジメントモデ
ルを、製品開発と、要素技術開発に階層化、モデル化
し、要素技術に関しては更に階層化を行い、各専門組織
のオーナシップに基づき定められた環境の元、常に最新
の情報が均一に得ることが出来る。更に、開発する製品
群の特性毎に、不要な判断内容を引き算する形で、判断
モデルを組織のビジネス区分毎に定義し、然るべき部門
に承認を受けた後に、ビジネスユニットスタンダードモ
デル（製品区分における統一ルール）として定義する。
更に、全製品開発業務及び要素技術業務をカバーする共
通のプラットフォーム（組織と、運用と、製品開発フロ
ーの定義と、コンピュータ上の各種ツールと、共通の各
種データベースの関連と配置を定義したＩＴシステム）
を実装する。更に、市場変化、技術動向、企業戦略、グ
ローバルスタンダード変遷、問題発生／解決ナレッジ、
リソース管理手法など各要素を取り込んだ形で常に見直
しを行い、リアルタイムモデル改善、実行を行う。更
に、製品毎の開発スタートから、終了までの全行程をマ
クロな視点で責任を持って関しする立場の承認者を定義
し、承認者に最適な報告及び判断サポートを行う。

【０１３８】本発明の第１の実施の形態によれば、複数
の判断に必要な要素情報をデータベース上で一元管理
し、システムによって最適な報告、判断請求を行うこと
で、最適かつ最速の判断を行うことが出来る。

【０１３９】又、各企業活動要素毎に分散した組織に一
定スペックの情報の提供及び方法に関するルールを定義
し、システムでサポートすることで最新かつ一定品質の
情報提供を確保する。

【０１４０】又、製品開発モデルに基づき、開発スター
トの段階で、判断に必要な要素技術情報を各専門組織よ
り収集し、リンクすることで、将来的な問題発生予測
（要素技術開発スケジュールを含む）など的確な開発計
画を策定することが出来る。

【０１４１】又、製品開発スタート時より、全開発工程
において責任を持って管理する承認者を設定すること
で、マクロな視点での製品開発状況観察（問題発生予
測、リソース管理、要素技術開発スケジュールとの整合
など）と、承認者への最適報告、判断サポートを行うこ
とが出来る。

【０１４２】又、承認者に、判断に有益な担当者情報
（例えば、客先感触などセンシティブな営業最新情報や
リアルタイムな技術開発状況、法改正の動向など）を効
率的かつ確実に提供することで、最適かつ最速の判断を
行うことが出来る。

【０１４３】又、階層化された情報、判断モデルによ
り、各専門組織でのモチベーション、オーナ意識を高
め、適切な権限委譲を行うと同時に、担当者の提案、判
断などを重要情報として収集し、提供することで、判断
の質を更に向上する。

【０１４４】又、企業全体の前回初アイテムと、全リソ
ースを一元管理し、更に企業として合理性のある開発へ
の優先順位付けを行うことで、最適かつ最速の判断を行
うことが出来る。

【０１４５】又、顧客から見れば、供給されるサービ
ス、製品品質、コストの妥当性、スピード等の面で、常
に均一の性能が保証され、充分な信頼性が得られると判
断することが出来る。

【０１４６】（第２の実施の形態） （ＩＱＳ判定サーバ）本発明の第２の実施の形態に係る
製品信頼性判定システムの一実施例について説明する。

【０１４７】ＩＱＳ判定とは、製品データベース１７及
び製品ナレッジデータベース２７を参照して、製造後の
製品を製造過程毎に想定して、その製品が所定の条件を
満たすか否かを判定することである。

【０１４８】図１９は、本発明の第２の実施の形態に係
る製品信頼性判定システムにおけるＩＱＳ判定サーバ２
０の詳細を示す機能ブロック図である。ここに示したＩ
ＱＳ判定サーバ２０は、図１におけるＩＱＳ判定サーバ
２０である。ＩＱＳ判定サーバ２０は、入力装置２１、
出力装置２２、入出力装置２３、通信制御装置２４、一
時記憶装置２５、ＩＱＳ判定サーバ処理記憶装置２６、
製品ナレッジデータベース２７、判定基準データベース
２８により構成されている。入力装置２１は、キーボー
ド、マウスなどにより、出力装置２２は、液晶ディスプ
レイ、ＣＲＴディスプレイなどの表示装置、インクジェ
ットプリンタ、レーザープリンタなどの印刷装置等によ
り構成される。入出力装置２３は、外部装置とのインタ
ーフェースで、ここで外部装置とは、ＣＤ−ＲＯＭ、Ｍ
Ｏ、ＺＩＰなどの記憶装置等である。通信制御装置２４
は、社内ＬＡＮに接続するためのインターフェースとな
るものである。一時記憶装置２５は、ＲＯＭ及びＲＡＭ
が組み込まれている。ＲＯＭはＩＱＳ判定サーバ処理制
御装置２６において実行されるプログラムを格納してい
るプログラムメモリ等として機能し、ＲＡＭはＩＱＳ判
定サーバ処理制御装置２６におけるプログラム実行処理
中に利用されるデータ等を格納したり、作業領域として
利用されるデータメモリ等として機能する。製品ナレッ
ジデータベース２７は、既存の技術情報が保存されてい
るデータベースで、判定基準データベース２８は、信頼
性の判定基準を保存しているデータベースである。ＩＱ
Ｓ判定サーバ処理制御装置２６は、製品ナレッジデータ
ベース登録手段２６ａ、ＩＱＳ判定手段２６ｂ、判定基
準データベース更新手段２６ｃ等からなる中央処理制御
装置である。製品ナレッジデータベース登録手段２６ａ
は、技術者端末４２から、既製造製品の認定された実績
・仕様・使用条件等を製品ナレッジデータベース２７へ
の登録を受け付ける手段である。ＩＱＳ判定手段２６ｂ
は、客先担当者端末４１、技術者端末４２、承認者端末
４３等からＩＱＳ判定の依頼があった場合に、製品ナレ
ッジデータベース２７、製品データベース１７、及び判
定基準データベース２８を参照して、ＩＱＳ判定を行う
手段である。ＩＱＳ判定手段２６ｂは、既に製造された
工程で確定された特性について製品データベース１７の
製品検証結果１７ｂを参照した上で、これから製造する
工程で製造する製品の仕様に基づいた特性を予測し、最
終的に製造される製品の信頼性を判定する。判定基準デ
ータベース更新手段２６ｃは、判定基準データベース２
８に記録されている判定の基準を更新する手段である。

【０１４９】図２０は、ＩＱＳ判定サーバ２０の具体的
な入出力・判定方法の概略図である。例えば、客先担当
者端末４１から製品発注情報がＩＱＳ判定サーバ２０に
入力されると、ＩＱＳ判定サーバ２０は、製品ナレッジ
データベース２７を参照し、ＩＱＳ結果を得る。このＩ
ＱＳ結果はＩＱＳ判定結果として、客先担当者端末４１
に出力される。この時に、最終的なＩＱＳ判定結果及び
詳細な判定結果等が表示される。

【０１５０】（半導体製品の技術認定及び要素技術認
定）ここで、製造製品の一例として、半導体製品を用い
て説明する。技術者端末４２等から、製品ナレッジデー
タベース２７に、既製造製品の認定された実績・仕様・
使用条件等の登録を行う。

【０１５１】図２１は、半導体製品の信頼性製造工程毎
に行われる信頼性判定及び要素技術を説明する図であ
る。半導体製品の信頼性は、製品仕様及びそのほかの個
別事項、製造ライン、回路設計、パッケージ、ウェーハ
プロセスの製造工程の技術により評価される。即ち、半
導体製品の技術認定は、ＱＦＡ（アセンブリ技術認定：
Qualification For Assembly Process Technology）、
ＱＦＷ（ウェーハプロセス技術認定：Qualification Fo
r Wafer Process Technology）、ＱＦＣ（回路設計認
定：Qualification For the macro-Cell）により構成さ
れる。ＱＦＡはアセンブリ工程の技術、ＱＦＷはウェー
ハプロセスの技術、ＱＦＣは回路設計工程の技術をそれ
ぞれ認定するものである。一方、製造ラインの認定は、
ＱＦＬ（ライン認定：Qualification For the Line）で
ある。又、要素技術は、ＱＦＭ（部品材料認定：Qualif
ication For the Material）及びＱＦＥ（製造装置認
定：Qualification For the Equipment）により構成さ
れる。ＱＦＭ及びＱＦＥが認定された後でＱＦＡ及びＱ
ＦＷが認定されることが好ましい。ＱＦＡ、ＱＦＷ、Ｑ
ＦＣ及びＱＦＬが認定されると、ＱＦＰ（製品認定：Qu
alification For the Product）を得ることが出来る。
この様に認定された技術が、製品ナレッジデータベース
登録手段２６ａにより。基幹技術及び要素技術のデータ
が登録された各データベースに登録される。

【０１５２】図２２は、製品認定における、各製造工程
の技術認定及び要素技術認定の関係を示した図である。
製品認定は、第１層の製品認定５１、第２層の基幹技術
認定、第３層の要素技術認定により構成される。要素技
術認定５３は、ＱＦＭ５３ａ及びＱＦＥ５３ｂにより構
成される。これらが認定された後、基幹技術認定のＱＦ
Ａ５２ａ及びＱＦＷ５２ｂの認定が行われる。或いは、
これらが認定される前提で、基幹技術認定のＱＦＡ５２
ａ及びＱＦＷ５２ｂの認定が行われても良い。又、ＱＦ
Ｃは、ＱＦＤＭ（Qualification For Design Methodolo
gy：設計手法決定）と相互関係がある。基幹技術認定の
ＱＦＡ５２ａ、ＱＦＷ５２ｂ、ＱＦＣ５２ｃが認定され
ると、製品認定５１における技術認定５１ａが行われ
る。技術認定５１ａ及びＱＦＬ５２ｅを参照して、ＱＦ
Ｐ５１ｂを得ることが出来る。

【０１５３】ここでは、第１層乃至第３層を備える製品
認定を説明したが、第３層の認定項目を更に細分化し、
第４層、第５層と重ねても良い。但し、下層の認定項目
が認定された上で、その一つ上の層の認定項目が認定さ
れるのが好ましい。又、半導体製品の製品認定について
説明したが、勿論他の製品についても同様の方法が適用
可能である。

【０１５４】（製品ナレッジデータベース）図２３に示
すように、製品ナレッジデータベース２７には、製造工
程、製造装置及び部品材料についての信頼性ナレッジが
蓄積されている。製品ナレッジデータベース２７は、Ｑ
ＦＡデータベース２７ａ、ＱＦＷデータベース２７ｂ、
ＱＦＣデータベース２７ｃ、ＱＦＬデータベース２７
ｄ、ＱＦＥデータベース２７ｅ及び２７ｇ、ＱＦＭデー
タベース２７ｆ及び２７ｈにより構成されている。図２
３の製品ナレッジデータベース２７においては、基幹技
術であるＱＦＡデータベース２７ａ、ＱＦＷデータベー
ス２７ｂ、ＱＦＣデータベース２７ｃ、ＱＦＬデータベ
ース２７ｄと、基幹技術の要素技術であるＱＦＥデータ
ベース２７ｅ及び２７ｇ、ＱＦＭデータベース２７ｆ及
び２７ｈという構成しているが、要素技術を更に階層化
した第２の要素技術のデータベースがあっても良い。更
に、階層化を行い、第３の要素技術のデータベース、第
４の要素技術のデータベース・・・という構成にしても
良い。

【０１５５】製品ナレッジデータベース２７は、製品に
関するあらゆる情報が蓄積されている。この情報の中に
は、障害が発生した製品名やその条件も登録されてい
る。従って、製造しようとする製品の条件を製品ナレッ
ジデータベース２７で検索して、検索結果が０件だった
場合は、該当条件で障害が発生していないことも分か
る。

【０１５６】各データベースに登録されるデータは、製
品の仕様、製品を使用するための条件（保証条件）、製
品の製造条件等のデータが登録される。具体的には、以
下のようなデータ項目が登録されている。

【０１５７】ＱＦＡデータベース２７ａにおいては、パ
ッケージ名称、ピン数、樹脂、保証温度等の各データが
記録されている。

【０１５８】ＱＦＷデータベース２７ｂにおいては、プ
ロセス種別、メタル層条件、酸化膜厚等の各データが記
録されている。

【０１５９】ＱＦＣデータベース２７ｃにおいては、機
能ブロック回路ラインナップ、保証周波数等の各データ
が記録されている。

【０１６０】ＱＦＬデータベース２７ｄにおいては、ラ
イン、使用条件等の各データが記録されている。又、製
品の試作した結果をラインの情報として、ＱＦＬデータ
ベース２７ｄに登録し、認定要素に加えても良い。

【０１６１】ＱＦＥデータベース２７ｅ及び２７ｇにお
いては、製造装置、使用条件等の各データが記録されて
いる。

【０１６２】ＱＦＭデータベース２７ｆ及び２７ｈにお
いては、ワイヤー、酸化膜材、ウェハー名称等の各デー
タが記録されている。

【０１６３】ＱＦＡデータベース２７ａ、ＱＦＷデータ
ベース２７ｂ、ＱＦＣデータベース２７ｃ、ＱＦＬデー
タベース２７ｄ、ＱＦＥデータベース２７ｅ及び２７
ｇ、ＱＦＭデータベース２７ｆ及び２７ｈのデータ構造
を、コンピュータ読取可能な記憶媒体に保存しておいて
も良い。この記憶媒体をコンピュータシステムによって
読み込ませ、図１４に示した一時記憶装置２５に格納
し、このデータ構造をＩＱＳ判定サーバ処理制御装置２
６で実行しても良い。ここで、記憶媒体とは、例えば磁
気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、磁気テープ
などのプログラムを記録することが出来るような媒体な
どが含まれる。コンピュータの外部メモリ装置も、ここ
で言う記録媒体に含まれる。

【０１６４】（ＩＱＳ判定手段によるＩＱＳ判定方法）
次に、図２３を用いてＩＱＳ判定手段２６ｂの判定順序
を説明する。ＩＱＳ判定手段２６ｂは、製品ナレッジデ
ータベース２７及び製品データベース１７を参照して、
信頼性判定を行い、ＱＦＰ結果を得るものである。

【０１６５】（イ）まず、図２３に示すステップＳ５０
１において客先担当者端末４１から製品発注情報が入力
されると、ＩＱＳ判定手段２６ｂは製品ナレッジデータ
ベース２７を参照する。

【０１６６】（ロ）次に、ステップＳ５０２において信
頼性データベースを参照する。そこで、ステップＳ５０
３においてＱＦＡデータベース２７ａを参照し、更に、
ＱＦＥデータベース２７ｅ及びＱＦＭデータベース２７
ｆを参照する。これにより、ＱＦＡ判定結果を得る。次
に、ステップＳ５０４においてＱＦＷデータベース２７
ｂを参照し、更にＱＦＥデータベース２７ｇ及びＱＦＭ
データベース２７ｈを参照する。これにより、ＱＦＷ判
定結果を得る。次に、ステップＳ５０５においてＱＦＣ
データベース２７ｃを参照し、ＱＦＣ判定結果を得る。
次に、ステップＳ５０６においてＱＦＬデータベース２
７ｄを参照し、ＱＦＬ判定結果を得る。このようにＱＦ
Ｓの判定結果を取得し、ステップＳ５０７において、Ｑ
ＦＰ結果を格納する。

【０１６７】（ニ）ステップＳ５０８において、ステッ
プＳ５０７で得られたＱＦＳ結果を、客先担当者端末４
１にＩＱＳ判定結果として返す。ＩＱＳ判定結果は、
「ＯＫ」或いは「ＮＧ」のどちらかの結果であるが、
「ＮＧ」の場合は、どの判定項目が「ＮＧ」だったの
か、判定の詳細を知ることも出来る。

【０１６８】ここでは、客先担当者端末４１がＩＱＳ判
定を依頼した場合の判定順序を説明したが、技術者端末
４２、承認者端末４３等からＩＱＳ判定を依頼した場合
の判定順序も同様である。

【０１６９】図２４は、ＩＱＳ判定手段２６ｂによるＱ
ＦＡ判定のフローチャートである。図２４に示す各ステ
ップでパラメータをキー値として検索し、対象レコード
の絞り込みを行う。対象レコード数が０件になった場
合、検索したパラメータでの製造実績がないので、その
判定結果を出す。

【０１７０】（イ）まず、ステップＳ６０１において、
入力項目のパラメータチェックを行う。ＱＦＡ判定で必
要な入力項目は、パッケージ名称、実装方法、使用頻
度、パッド選択、実装温度条件、予想耐用年数、保証期
間、客先ベーク要否、チップサイズ（Ｘ，Ｙ）、アセン
ブリライン、ＴｊＡｖｅ（平均ジャンクション温度）、
ＩＣが動作上、保証する最高温度、最大周囲温度であ
る。パラメータの入力が適正でない場合、結果を「個別
判定（パラメータ不足）」として終了する。

【０１７１】（ロ）次にステップＳ６０２において、ア
センブリラインによるデータベースのレコードの絞り込
みを行う。アセンブリラインが不問の場合は、全てのア
センブリラインについて調査を行う。

【０１７２】（ハ）ステップＳ６０３において、対象テ
ーブルにおいて、パッケージ名称でレコードの絞り込み
を行う。対象レコード数が０件の場合、結果を「未ＡＴ
ＰＫＧ」として終了する。

【０１７３】（ニ）ステップＳ６０４において、更にパ
ッケージ寿命で絞り込みを行う。対象レコード数が０件
の場合、結果を「未ＡＴＰＫＧ寿命」として終了する。

【０１７４】（ホ）ステップＳ６０５において、パッド
判断で絞り込みを行う。対象レコード数が０件の場合、
結果を「未ＡＴパッド選択」として終了する。

【０１７５】（ヘ）ステップＳ６０６において、ＰＩ
（ポリイミド使用有無）を決定する。

【０１７６】（ト）ステップＳ６０７において、チップ
サイズで絞り込みを行う。対象レコード数が０件の場
合、結果を「未ＡＴチップサイズ」として終了する。

【０１７７】（チ）ステップＳ６０８において、実装方
法で絞り込みを行う。実装方法が、局部加熱、ＴＣＰ
（テープキャリアパッケージング）、ソケットのいずれ
かの場合、結果を「合格」として終了する。

【０１７８】（リ）ステップＳ６０９において、ステッ
プＳ６０７の絞り込みレコードから、ベーク判断で絞り
込みを行う。対象レコード数が０件の場合、結果を「未
ＡＴ実装条件」として終了する。

【０１７９】（リ）ステップＳ６１０において、更に実
装方法で絞り込みを行う。指定した実装方法で実績があ
る場合、結果を「未ＡＴ実装方法」として終了する。

【０１８０】（ヌ）ステップＳ６１１において、実装温
度で絞り込みを行う。対象レコード数が０件の場合、結
果を「未ＡＴ実装温度」として終了する。

【０１８１】（ル）ステップＳ６１２において、保証期
間で絞り込みを行う。対象レコード数が０件の場合、結
果を「未ＡＴ保証期間」として終了する。

【０１８２】（ヲ）ステップＳ６１２で絞り込んだ結
果、対象レコード数が０件で内場合は、ステップＳ６１
３において、結果を「合格」として終了する。更に、ス
テップＳ６１４において、総合判断を行い、ＱＦＡ判定
を終了する。

【０１８３】本発明の第２の実施の形態によれば、過去
の製品開発における判断と結果の相関、判断に至った経
緯等をナレッジとしてデータベースに蓄積し、共有、提
供するモデルとリンクすることで、過去の製品開発情報
を有効に活用することが出来る。

【０１８４】又、それぞれの製造過程毎に信頼性が判断
されるので、信頼性に影響を及ぼす工程、装置及び部品
材料を容易に検出することが出来る。

【０１８５】又、過去に発生したトラブルを繰り返すこ
とを防ぐことが出来る。

【０１８６】（その他の実施の形態）上記のように、本
発明は第１及び第２の実施の形態によって記載したが、
この開示の一部をなす論述及び図面はこの発明を限定す
るものであると理解すべきではない。この開示から当業
者には様々な代替実施の形態、実施例及び運用技術が明
らかとなろう。

【０１８７】本発明の第１及び第２の実施の形態におい
ては、半導体製品の製品開発について説明したが、その
他の製品についても適用が可能である。又、製品開発に
限らず、ソフトウェアの開発、サービス提供などにも適
用が可能である。適用されるビジネスによって、データ
ベースの項目等が異なるのは勿論である。

【０１８８】又、本発明の第１及び第２の実施の形態に
おいては、管理サーバ、ＩＱＳ判定サーバ、ゲートウェ
イサーバと３つのサーバに分割して機能を分担したが、
同一のサーバで同様の機能を実現しても良い。逆に、例
えば、管理サーバで実現されている機能を複数のサーバ
に分割しても良い。本発明で実現される機能と同様であ
れば、いかなるサーバの構成でも構わない。

【０１８９】又、個々のデータベースは、独立して記憶
装置を持つことなく、一つの大規模な記憶装置に構造的
に構成されていても良い。具体的には、例えば一つのデ
ータベースにおいて、複数のテーブルを備えても良いる
ことにより、同様の機能を実現しても構わない。

【０１９０】この様な、本発明はここでは記載していな
い様々な実施の形態等を含むことは勿論である。従っ
て、本発明の技術的範囲は上記の説明から妥当な特許請
求の範囲に係る発明特定事項によってのみ定められるも
のである。

【０１９１】

【発明の効果】本発明によれば、複数の判断に必要な要
素情報をデータベース上で一元管理し、常に最新の情報
が蓄積されたデータベースを用いて最適かつ最速の判断
を行い、一定品質の情報を提供出来る製品開発マネジメ
ントシステム及び製品開発マネジメント方法を提供する
ことが出来る。

【０１９２】又、本発明によれば、過去に開発された製
品の仕様、特性及び信頼性をナレッジとして蓄積し、新
規開発製品の特性や信頼性を開発の早い段階で判定する
製品信頼性判定システム及び製品信頼性判定方法を提供
することでが出来る。

【図面の簡単な説明】

【図１】第１の実施の形態に係る製品開発マネジメント
システムのシステム構成図である。

【図２】本発明の製品開発マネジメントシステムにおけ
る、取引の段階と開発の段階の関係を示す図である。

【図３】第１の実施の形態に係る製品開発マネジメント
システムにおける各サーバ、端末の関係を示した図であ
る。

【図４】第１の実施の形態に係る製品開発マネジメント
システムの機能を達成する管理サーバの機能ブロック図
である。

【図５】第１の実施の形態に係る製品データベースの具
体的なデータ項目を示した図である。

【図６】第１の実施の形態に係る検証機能データベース
の具体的なデータ項目を示した図である。

【図７】第１の実施の形態に係るナレッジデータベース
の具体的なデータ項目を示した図である。

【図８】第１の実施の形態に係る業務管理データベース
の具体的なデータ項目を示した図である。

【図９】第１の実施の形態に係るカンパニースタンダー
ドモデルの一例を示す図である。

【図１０】第１の実施の形態に係るカンパニースタンダ
ードモデルの各ステップで、製品データベース及び機能
検証データベースに登録するデータ項目を示した図であ
る。

【図１１】第１の実施の形態に係る管理サーバの承認手
段におけるフローチャートである。

【図１２】第１の実施の形態に係る管理サーバのＰ１ゲ
ート承認要素参照手段の処理を示すフローチャートであ
る。

【図１３】第１の実施の形態に係る管理サーバのＰ２ゲ
ート承認要素参照手段の処理を示すフローチャートであ
る。

【図１４】第１の実施の形態に係る管理サーバのＰ３ゲ
ート承認要素参照手段の処理を示すフローチャートであ
る。

【図１５】製品がＡＳＩＣの場合のビジネスユニットス
タンダードモデルの例を示す図である。

【図１６】製品がＡＳＩＣの場合の、図１５のステップ
Ｓ２６７におけるＰ１ゲート承認要素参照手段のフロー
チャートである。

【図１７】製品がＣＩＳＣ或いはＲＯＭの場合のビジネ
スユニットスタンダードモデルの例を示す図である。

【図１８】製品がＣＩＳＣ或いはＲＯＭの場合の、図１
７のステップＳ３０６におけるＰ１ゲートの判定処理フ
ローである。

【図１９】第２の実施の形態に係る製品信頼性判定シス
テムにおけるＩＱＳ判定サーバ２０の詳細を示す機能ブ
ロック図である。

【図２０】第２の実施の形態に係るＩＱＳ判定サーバの
具体的な入出力・判定方法の概略図である。

【図２１】第２の実施の形態に係るＩＱＳ判定におい
て、半導体製品の製造工程毎に行われる信頼性判定及び
要素技術を説明する図である。

【図２２】第２の実施の形態に係るＩＱＳ判定におけ
る、各製造工程の技術認定及び要素技術認定の関係を示
した図である。

【図２３】第２の実施の形態に係る製品ナレッジデータ
ベースの構成及びＩＱＳ判定手段の判定順序を示す図で
ある。

【図２４】第２の実施の形態に係るＩＱＳ判定手段によ
るＱＦＡ判定のフローチャートである。

【符号の説明】

１ 社内ＬＡＮ ２ インターネット ９ 機能検証データベース ９ａ 回路検証 ９ｂ テスター １０ 管理サーバ １１、２１ 入力装置 １２、２２ 出力装置 １３、２３ 入出力装置 １４、２４ 通信制御装置 １５、２５ 一時記憶装置 １６ 管理サーバ処理制御装置 １６ａ 製品データベース管理手段 １６ｂ ナレッジデータベース管理手段 １６ｃ 業務管理データベース管理手段 １６ｄ 機能検証データベース管理手段 １６ｅ 承認手段 １６ｆ 承認要素参照手段 １６ｇ Ｐ１ゲート承認要素参照手段 １６ｈ Ｐ２ゲート承認要素参照手段 １６ｉ Ｐ３ゲート承認要素参照手段 １６ｊ 開発業務管理手段 １６ｋ 信頼性判定手段 １６ｌ 承認者承認手段 １７、１７ｃ、１７ｄ、１７ｅ、１７ｆ 製品データベ
ース １７ａ 仕様情報 １７ｂ 製品検証結果 １８ ナレッジデータベース １８ａ 開発履歴キーワード情報 １８ｂ 技術者マップ １８ｃ 外部一般情報 １９ 業務管理データベース １９ａ リソース割り当て情報 １９ｂ 進捗管理情報 ２０ ＩＱＳ判定サーバ ２６ ＩＱＳ判定サーバ処理制御装置 ２６ａ 製品ナレッジデータベース登録手段 ２６ｂ ＩＱＳ判定手段 ２６ｃ 判定基準データベース更新手段 ２７ 製品ナレッジデータベース ２７ａ ＱＦＡデータベース ２７ｂ ＱＦＷデータベース ２７ｃ ＱＦＣデータベース ２７ｄ ＱＦＬデータベース ２７ｅ、２７ｇ ＱＦＥデータベース ２７ｆ、２７ｈ ＱＦＭデータベース ２８ 判定基準データベース ３０ ゲートウェイサーバ ４１ 客先担当者端末 ４２ 技術者端末 ４３ 承認者端末 ４４ 客先担当者携帯端末 ４５ 顧客端末 ５１ 製品認定 ５１ａ 技術認定 ５１ｂ ＱＦＰ ５２ 基幹技術認定 ５２ａ ＱＦＡ ５２ｂ ＱＦＷ ５２ｃ ＱＦＣ ５２ｄ ＱＦＤＭ ５２ｅ ＱＦＬ ５３ 要素認定 ５３ａ ＱＦＭ ５３ｂ ＱＦＥ

フロントページの続き (72)発明者 川手 啓一 神奈川県川崎市幸区小向東芝町１番地 株 式会社東芝マイクロエレクトロニクスセン ター内 Ｆターム(参考） 5B046 AA08 JA04 KA05

Claims (30)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 受注した製品の情報が登録されている製
   品データベース記憶装置と、 製造実績のある製品の情報が登録されている製品ナレッ
   ジデータベース記憶装置と、 前記製品データベース記憶装置と前記製品ナレッジデー
   タベース記憶装置とを参照して、製造後の製品を想定
   し、前記製品が所定の条件を満たすか否かを判定する判
   定手段具備する中央処理制御装置とを備えることを特徴
   とする製品開発マネジメントシステム。
2. 【請求項２】 前記製品データベース記憶装置及び前記
   製品ナレッジデータベース記憶装置は、同一の記憶装置
   に記憶されていることを特徴とする請求項１に記載の製
   品開発マネジメントシステム。
3. 【請求項３】 前記製品データベース記憶装置は、前記
   受注した製品の仕様情報と、前記受注した製品の製造工
   程で得られる検証結果が記憶されていることを特徴とす
   る請求項１又は２に記載の製品開発マネジメントシステ
   ム。
4. 【請求項４】 前記製品データベース記憶装置は、製造
   工程に従って逐次情報が更新されることを特徴とする請
   求項１乃至３いずれか１項に記載の製品開発マネジメン
   トシステム。
5. 【請求項５】 前記中央処理制御装置は、前記製品デー
   タベース記憶装置と、前記信頼性判定手段で得られた前
   記受注した製品の信頼性とを参照し、前記受注した製品
   の次の工程への移行を承認する承認手段を更に処理する
   ことを特徴とする請求項１乃至４いずれか１項に記載の
   製品開発マネジメントシステム。
6. 【請求項６】 前記製品データベース記憶装置に記憶さ
   れた前記受注した製品の情報に対応して作成された、機
   能検証情報が登録されている機能検証データベース記憶
   装置を更に備え、 前記承認手段は、前記機能検証データベース記憶装置を
   更に参照することを特徴とする請求項４又は５に記載の
   製品開発マネジメントシステム。
7. 【請求項７】 前記承認手段は、シミュレーションを行
   うことを承認するシミュレーション工程承認手段と、試
   作を行うことを承認する試作工程承認手段のいずれか一
   つ以上の手段を備えることを特徴とする請求項４乃至６
   いずれか１項に記載の製品開発マネジメントシステム。
8. 【請求項８】 前記承認手段は、前記受注した製品の設
   計を行うことを承認する設計工程承認手段と、前記受注
   した製品の量産を行うことを承認する量産工程承認手段
   のいずれか１つ以上の手段を更に備えることを特徴とす
   る請求項４乃至７いずれか１項に記載の製品開発マネジ
   メントシステム。
9. 【請求項９】 前記中央処理制御装置は、前記製造実績
   のある製品の情報を、前記製品ナレッジデータベース記
   憶装置に登録する製品ナレッジデータベース登録手段を
   更に処理することを特徴とする請求項１乃至８いずれか
   １項に記載の製品開発マネジメントシステム。
10. 【請求項１０】 受注した製品の情報を製品データベー
    ス記憶装置に登録する受注製品情報登録ステップと、 前記受注した製品の各製造工程における検証結果を、前
    記製品データベース記憶装置に更に登録する検証結果登
    録ステップと、 前記製品データベース記憶装置と製造実績のある製品の
    情報が登録されている製品ナレッジデータベース記憶装
    置とを参照して、製造後の製品を想定し、前記製品が所
    定の条件を満たすか否かを判定する判定ステップとを備
    えることを特徴とする製品開発マネジメント方法。
11. 【請求項１１】 前記製品データベース記憶装置と前記
    製品ナレッジデータベース記憶装置とを参照して、量産
    後の前記受注した製品の信頼性を判定し、次の工程への
    移行の承認を行う工程承認ステップを更に備えることを
    特徴とする請求項１０に記載の製品開発マネジメント方
    法。
12. 【請求項１２】 前記工程承認ステップは、前記受注し
    た製品のシミュレーション工程の承認を行うシミュレー
    ション工程承認ステップと、前記受注した製品の試作工
    程の承認を行う試作工程承認ステップのいずれか一つ以
    上のステップを備えることを特徴とする請求項１０又は
    １１に記載の製品開発マネジメント方法。
13. 【請求項１３】 前記工程承認ステップは、前記受注し
    た製品の設計工程の承認を行う設計工程承認ステップ
    と、前記受注した製品の量産工程の承認を行う量産工程
    承認ステップのいずれか一つ以上のステップを更に備え
    ることを特徴とする請求項１０乃至１２のいずれか１項
    に記載の製品開発マネジメント方法。
14. 【請求項１４】 前記工程承認ステップは、前記製品デ
    ータベース記憶装置に登録された前記受注した製品の情
    報に対応して作成された、機能検証情報が登録されてい
    る機能検証データベース記憶装置を更に参照することを
    特徴とする請求項１１乃至１３のいずれか１項に記載の
    製品開発マネジメント方法。
15. 【請求項１５】 受注した製品の情報を、製品データベ
    ース記憶装置に登録する受注製品情報登録ステップと、 前記受注した製品の情報が登録された前記製品データベ
    ース記憶装置と、製造実績のある製品の情報が記憶され
    ている製品ナレッジデータベース記憶装置とを参照し
    て、量産後の前記受注した製品を想定し、前記受注した
    製品の信頼性を判定する第１の信頼性判定ステップと、 前記第１の信頼性判定ステップで得られた前記受注した
    製品の信頼性を参照して、前記受注した製品の設計工程
    の承認を行う設計工程承認ステップと、 前記設計工程の承認を受けて前記受注した製品の設計工
    程を行い、前記設計工程の検証結果を前記製品データベ
    ース記憶装置に更に登録する設計工程検証結果登録ステ
    ップと、 前記設計工程の検証結果が更に登録された前記製品デー
    タベース記憶装置と、前記製品ナレッジデータベース記
    憶装置とを参照して、量産後の前記受注した製品を想定
    し、前記受注した製品の信頼性を判定する第２の信頼性
    判定ステップと、 前記第２の信頼性判定ステップで得られた前記受注した
    製品の信頼性を参照して、前記受注した製品の量産工程
    を承認する量産工程承認ステップとを備えることを特徴
    とする製品開発マネジメント方法。
16. 【請求項１６】 前記設計工程承認ステップにおいて
    は、更に、前記受注した製品の情報に基づいて作成され
    た検証機能情報を検証し、 前記量産工程承認ステップにおいては、更に、前記設計
    工程の検証結果が前記検証機能情報に基づいて検証され
    たことを確認することを特徴とする請求項１５に記載の
    製品開発マネジメント方法。
17. 【請求項１７】 受注した製品の情報を、製品データベ
    ース記憶装置に登録する受注製品情報登録ステップと、 前記受注した製品の情報が登録された前記製品データベ
    ース記憶装置と、製造実績のある製品の情報が記憶され
    ている製品ナレッジデータベース記憶装置とを参照し
    て、量産後の前記受注した製品を想定し、前記受注した
    製品の信頼性を判定する第１の信頼性判定ステップと、 前記第１の信頼性判定ステップで得られた前記受注した
    製品の信頼性を参照して、前記受注した製品の設計工程
    の承認を行う設計工程承認ステップと、 前記設計工程の承認を受けて前記受注した製品の設計工
    程を行い、前記設計工程の検証結果を前記製品データベ
    ースに更に登録する設計工程検証結果登録ステップと、 前記設計工程の検証結果が更に登録された前記製品デー
    タベース記憶装置と、前記製品ナレッジデータベース記
    憶装置とを参照して、量産後の前記受注した製品を想定
    し、前記受注した製品の信頼性を判定する第２の信頼性
    判定ステップと、 前記第２の信頼性判定ステップで得られた前記受注した
    製品の信頼性を参照して、前記受注した製品のシミュレ
    ーション工程の承認を行うシミュレーション工程承認ス
    テップと、 前記シミュレーション工程の承認を受けて前記受注した
    製品のシミュレーション工程を行い、前記シミュレーシ
    ョン工程の検証結果を前記製品データベースに更に登録
    するシミュレーション工程検証結果登録ステップと、 前記シミュレーション工程の検証結果が更に登録された
    前記製品データベース記憶装置と、前記製品ナレッジデ
    ータベース記憶装置とを参照して、量産後の前記受注し
    た製品を想定し、前記受注した製品の信頼性を判定する
    第３の信頼性判定ステップと、 前記第３の信頼性判定ステップで得られた前記受注した
    製品の信頼性を参照して、前記受注した製品の量産工程
    を承認する量産工程承認ステップとを備えることを特徴
    とする製品開発マネジメント方法。
18. 【請求項１８】 前記設計工程承認ステップにおいて
    は、更に、前記受注した製品の情報に基づいて作成され
    た検証機能情報を検証し、 前記シミュレーション工程承認ステップにおいては、更
    に、前記設計工程の検証結果が前記検証機能情報に基づ
    いて検証されたことを確認する前記量産工程承認ステッ
    プにおいては、更に、前記シミュレーション工程の検証
    結果が前記検証機能情報に基づいて検証されたことを確
    認することを特徴とする請求項１７に記載の製品開発マ
    ネジメント方法。
19. 【請求項１９】 受注した製品の情報を、製品データベ
    ース記憶装置に登録する受注製品情報登録ステップと、 前記受注した製品の情報が登録された前記製品データベ
    ース記憶装置と、製造実績のある製品の情報が記憶され
    ている製品ナレッジデータベース記憶装置とを参照し
    て、量産後の前記受注した製品を想定し、前記受注した
    製品の信頼性を判定する第１の信頼性判定ステップと、 前記第１の信頼性判定ステップで得られた前記受注した
    製品の信頼性を参照して、前記受注した製品の設計工程
    の承認を行う設計工程承認ステップと、 前記設計工程の承認を受けて前記受注した製品の設計工
    程を行い、前記設計工程の検証結果を前記製品データベ
    ース記憶装置に更に登録する設計工程検証結果登録ステ
    ップと、 前記設計工程の検証結果が更に登録された前記製品デー
    タベース記憶装置と、前記製品ナレッジデータベース記
    憶装置とを参照して、量産後の前記受注した製品を想定
    し、前記受注した製品の信頼性を判定する第２の信頼性
    判定ステップと、 前記第２の信頼性判定ステップで得られた前記受注した
    製品の信頼性を参照して、前記受注した製品のシミュレ
    ーション・試作工程の承認を行うシミュレーション・試
    作工程承認ステップと、 前記シミュレーション・試作工程の承認を受けて前記受
    注した製品のシミュレーション・試作工程を行い、前記
    シミュレーション・試作工程の検証結果を前記製品デー
    タベース記憶装置に更に登録するシミュレーション・試
    作工程検証結果登録ステップと、 前記シミュレーション・試作工程の検証結果が更に登録
    された前記製品データベース記憶装置と、前記製品ナレ
    ッジデータベース記憶装置とを参照して、量産後の前記
    受注した製品を想定し、前記受注した製品の信頼性を判
    定する第３の信頼性判定ステップと、 前記第３の信頼性判定ステップで得られた前記受注した
    製品の信頼性を参照して、前記受注した製品の量産工程
    を承認する量産工程承認ステップとを備えることを特徴
    とする製品開発マネジメント方法。
20. 【請求項２０】 前記設計工程承認ステップにおいて
    は、更に、前記受注した製品の情報に基づいて作成され
    た検証機能情報を検証し、 前記シミュレーション・試作工程承認ステップにおいて
    は、更に、前記設計工程の検証結果が前記検証機能情報
    に基づいて検証されたことを確認する前記量産工程承認
    ステップにおいては、更に、前記シミュレーション・試
    作工程の検証結果が前記検証機能情報に基づいて検証さ
    れたことを確認することを特徴とする請求項１９に記載
    の製品開発マネジメント方法。
21. 【請求項２１】 製造工程毎の基幹技術の実績が登録さ
    れた基幹技術認定データベース記憶装置と、 前記基幹技術毎の技術要素の実績が登録された技術要素
    認定データベース記憶装置と、 前記基幹技術認定データベース記憶装置と、前記技術要
    素認定データベース記憶装置とを参照して、製造後の製
    品を想定し、前記製品が所定の条件を満たすか否かの信
    頼性を判定する信頼性判定手段を具備する中央処理制御
    装置とを備えることを特徴とする製品信頼性判定システ
    ム。
22. 【請求項２２】 前記信頼性判定手段は、前記製造する
    製品の製造実績があった場合は、前記製造実績から信頼
    性を判定し、前記製造後の製品の製造実績がなかった場
    合は、障害が発生していないことを判定することを特徴
    とする請求項２１に記載の製品信頼性判定システム。
23. 【請求項２３】 前記信頼性判定手段は、任意の信頼性
    を満たさない判定がなされた場合、前記製造する製品の
    信頼性を悪化させた前記基幹技術及び前記技術要素を特
    定することを特徴とする請求項２１又は２２に記載の製
    品信頼性判定システム。
24. 【請求項２４】 前記信頼性判定手段は、前記技術要素
    認定データベース記憶装置を参照して前記製造する製品
    の前記技術要素を判定し、次に前記基幹技術認定データ
    ベース記憶装置を参照して前記基幹技術を判定した後、
    前記製品の信頼性を判定することを特徴とする請求項２
    １乃至２３いずれか１項に記載の製品信頼性判定システ
    ム。
25. 【請求項２５】 前記基幹技術に製造ライン技術を含
    み、前記製造する製品を試作した製造ラインの情報も前
    記基幹技術認定データベース記憶装置に登録されること
    を特徴とする請求項２１乃至２４いずれか１項記載の製
    品信頼性判定システム。
26. 【請求項２６】 基幹技術の実績が登録された基幹技術
    認定データベース記憶装置を参照して、前記基幹技術の
    判定を行う基幹技術判定ステップと、 前記基幹技術毎の技術要素の実績が登録された技術要素
    認定データベース記憶装置を参照して、前記基幹技術毎
    の技術要素の判定を行う技術要素判定ステップと、 前記基幹技術判定ステップで得られた前記基幹技術の判
    定と、前記技術要素判定ステップで得られた前記基幹技
    術毎の技術要素の判定とを受けて、製造後の製品を想定
    し、前記製品が所定の条件を満たすか否かの信頼性を判
    定する信頼性判定ステップとを備えることを特徴とする
    製品信頼性判定方法。
27. 【請求項２７】 前記信頼性判定ステップは、前記製造
    する製品の製造実績があった場合は、前記製造実績から
    信頼性を判定し、前記製造する製品の製造実績がなかっ
    た場合は、障害が発生していないことを判定することを
    特徴とする請求項２６に記載の製品信頼性判定方法。
28. 【請求項２８】 前記信頼性判定ステップは、任意の信
    頼性を満たさない判定がなされた場合、前記製造する製
    品の信頼性を悪化させた前記基幹技術及び前記技術要素
    を特定することを特徴とする請求項２６又は２７に記載
    の製品信頼性判定方法。
29. 【請求項２９】 前記技術要素判定ステップが行われて
    から、前記基幹技術判定ステップが行われることを特徴
    とする請求項２６乃至２８いずれか１項記載の製品信頼
    性判定方法。
30. 【請求項３０】 前記基幹技術に製造ライン技術を含
    み、前記製造する製品を試作した製造ラインの情報も基
    幹技術認定データベース記憶装置に登録されることを特
    徴とする請求項２６乃至２９いずれか１項記載の製品信
    頼性判定方法。