JP2002304755A - 光ピックアップの複数スポット位置調整方法及び調整装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 情報記録面に相当する半透明基準原盤を用い
て、スポットとスポットが形成される溝面を同時に観察
しながら、溝とスポットの相対位置関係を関係づける信
号を生成し、該信号に基づき複数スポットを高精度に調
整する。 【解決手段】 半透明基準原盤２の溝面２ａと、溝面上
に形成される光ピックアップの複数スポットとを、拡大
光学系３の焦点が半透明基準原盤２に合っている状態
で、かつ半透明基準原盤２の溝面に対し、複数スポット
を合焦状態に保持した状態で、拡大光学系３を介してＣ
ＣＤカメラ等の撮像素子７で撮影してモニター１０上で
同時に観測してその位置関係を測定し、溝位置とスポッ
ト位置を関係づける信号を生成し、その信号に基づいて
複数スポットの位置調整を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、複数スポットを用
いて光ディスクに対し情報の再生，記録，消去を行う光
ディスク装置における、光ピックアップの複数スポット
位置調整方法及び複数スポット位置調整装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】複数スポットを情報記録面に形成し、情
報の再生，記録，消去を行うＣＤ（compact disc）、Ｄ
ＶＤ（digital versatile disc）等の光ディスク装置の
光ピックアップが知られている。このような光ディスク
装置の光ピックアップの複数スポット位置調整方法およ
び調整装置としては、本出願人の出願に係る特願２００
０−３４６８２８号，特願２０００−３５１３１９号に
おいて、所定ピッチを有する半透明基準原盤と、その半
透明基準原盤の溝形成面を観察する拡大光学系（顕微
鏡）を有し、その原盤の溝形状と溝面上に形成される光
ピックアップの複数スポットを同時に観測し、その位置
関係を測定することによって複数スポットの位置調整を
行うことを特徴とする光ピックアップの複数スポット位
置調整方法および調整装置が知られている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】ＣＤ，ＤＶＤを問わ
ず、光ディスク装置には、複数のスポットを情報記録媒
体（光ディスク）の記録面上に集光させ、それらの反射
光からサーボ信号や情報再生信号を生成する方式を用い
た光ピックアップや、それらのスポットを用いて情報を
記録する光ピックアップが存在する。これらの光ピック
アップにおいて、複数スポットは情報の記録，再生，消
去，サーボ信号生成に用いられるものであるが、それら
のスポットを所定の位置に配置することはピックアップ
組付の一つの課題である。

【０００４】例えば、周知のトラッキング方式の一つで
ある作動プッシュプル法の場合について説明する。作動
プッシュプル法は、光源からディスクまでの光路に回折
格子を設置し、その０次光（透過光）をメインビーム、
±１次光をサブビームとして、３ビームを用いるトラッ
キング方式である。このとき、メインビームとサブビー
ムは、ｍ／２トラック（ｍ＝１，２，３．．．．）ずれ
た位置に配置されることにより、トラックを跨いだとき
のメインビームによるプッシュプル信号とサブビームの
プッシュプル信号の間にはπの位相ずれが発生する。し
たがって、メインプッシュプル信号とサブプッシュプル
信号の振幅を等しくし、減算すると、ＤＣ成分（オフセ
ット）がキャンセルされ、振幅が２倍になったトラック
信号が得られる。つまり、対物レンズや受光素子の位置
ずれにより、通常のプッシュプル法では発生するトラッ
ク信号のオフセットが発生しない（キャンセルされ
る）。しかし、メインビームとサブビームにトラッキン
グ方向（ディスク半径方向）の位置ずれが存在すると、
オフセットがキャンセルしきれず、残留オフセットが生
じる。また、トラッキング信号の振幅が減少し、制御に
重大な影響を及ぼす可能性がある。

【０００５】従来用いられているサブスポット位置の調
整方法には、大きく分けて２種類ある。一つは、動的に
信号を観察しながら回折格子の回転調整を行う方法であ
る。これは、回転している光ディスクの情報記録面にス
ポットをフォーカシングし、ディスクの偏芯によりトラ
ックを跨ぐことで、周期的に振動するトラック信号を発
生させる。３ビーム位置の調整方法としては、作動プッ
シュプル信号が最大になるように回折格子を回転調整す
るとか、メインプッシュプルとサブプッシュプル信号の
それぞれを観測し、それらの位相差がπになるように回
折格子を回転調整する等の方法がある。他の一つは、ピ
ックアップ評価でよく用いられているスポット測定器
（顕微鏡により光ピックアップの対物レンズで集光され
たスポットを観測する装置）を用い、３ビームを観察
し、仮想トラック方向と３ビームの中心を結んだ直線と
のなす角や３ビームの距離等から３ビームの位置を測定
し、３ビームが所定の位置になるように回折格子を回転
調整する静的な方法である。

【０００６】静的方法の改善案として、特願２０００−
３４６８２８号の発明において、所定ピッチで形成され
た溝を有する半透明基準原盤と、該半透明基準原盤の溝
面を観察する拡大光学系（顕微鏡）とを有し、前記半透
明基準原盤の溝面と該溝面上に形成される光ピックアッ
プの複数スポットとを同時に観測し、その位置関係を測
定することによって複数スポット位置調整を行うことを
特徴とする光ピックアップの複数スポット位置調整方法
及び複数スポット位置調整装置を提案した。しかしなが
ら、光ピックアップの対物レンズの焦点深度は１μｍ以
下なので、半透明基準原盤の溝面に対し、複数スポット
を合焦状態に保ち続けることは困難であり、ぼけた状態
で調整を行うと、調整誤差の原因となる。その改善案と
して、特願２０００−３５１３１９号の発明において、
溝面に対し焦点サーボをかけて調整することを提案し
た。

【０００７】本発明は、前記従来技術に鑑みなされたも
ので、以下の点を目的とする。請求項１の発明は、スポ
ットとスポットが形成される情報記録面に相当する半透
明基準原盤の溝面を同時に観察しながら複数スポットの
位置関係を調整する複数スポット位置調整方法におい
て、拡大光学系の焦点が半透明基準原盤に合っている状
態で、かつ半透明基準原盤の溝面に対し、複数スポット
を合焦状態に保持した状態で、溝とスポットの相対位置
関係を知る信号を生成し、その信号に基づいて複数スポ
ット位置調整を行うことにより、精度の高い位置調整を
行うことを目的とする。

【０００８】請求項２の発明は、半透明基準原盤を溝が
形成されている方向と直交する方向に振動させることに
より、溝を横切ったときに発生する反射（回折）光の変
化（トラック信号）から溝とスポットの位置関係を正確
に知り、調整精度を高めることを目的とする。

【０００９】請求項３の発明は、スポットとスポットが
形成される情報記録面に相当する半透明基準原盤の溝面
を同時に観察しながら複数スポットの位置関係を調整す
る複数スポット位置調整装置において、拡大光学系の焦
点が半透明基準原盤に合っている状態で、かつ半透明基
準原盤の溝面に対し、複数スポットを合焦状態に保持し
た状態で、溝とスポットの相対位置関係を知る信号を生
成し、その信号に基づいて複数スポット位置調整を行う
ことにより、精度の高い位置調整を行うことを目的とす
る。

【００１０】請求項４の発明は、半透明基準原盤を溝が
形成されている方向と直交する方向に振動させることに
より、溝を横切ったときに発生する反射（回折）光の変
化（トラック信号）から溝とスポットの位置関係を正確
に知り、調整精度を高めることを目的とする。

【００１１】請求項５の発明は、簡易な構成で複数スポ
ット位置調整を行うことを目的とする。

【００１２】請求項６の発明は、非常に高精度に複数ス
ポット位置調整を行うことを目的とする。

【００１３】請求項７の発明は、半透明基準原盤からの
反射光を受光する光学系を、光ピックアップ自体の光学
系とすることにより、調整装置の構成を簡略化すること
を目的とする。

【００１４】請求項８の発明は、光ピックアップの検出
系が組み付けられていない状態でも、スポットを溝面上
にフォーカスさせ、溝位置とスポット位置を関係づける
信号を発生させることを目的とする。

【００１５】請求項９の発明は、静的に信号を扱うこと
により、精度の高い調整を行うことを目的とする。

【００１６】請求項１０の発明は、光ピックアップの対
物レンズを、ピックアップアクチュエータの駆動により
変位させることで、調整装置の構成を簡略化することを
目的とする。

【００１７】請求項１１の発明は、ピックアップ部を変
位させることにより、アクチュエータ組み付け前にメカ
基準に設置されたダミー対物レンズにより複数スポット
の位置調整を行うことにより、精度の高い調整を行うこ
とを目的とする。また、ピックアップ部に可動部を設け
ないことにより、精度の高い調整を行うことを目的とす
る。

【００１８】

【課題を解決するための手段】本発明は、前記目的を達
成するためになされたもので、その請求項１に係る発明
は、複数スポットを情報記録面に形成し、情報の再生，
記録，消去を行う光ディスク装置の光ピックアップの複
数スポット位置調整方法において、前記光ピックアップ
の前記情報記録面に相当する位置に所定ピッチで溝が形
成された溝面を有する半透明基準原盤を保持し、前記溝
面と該溝面に形成された前記複数スポットを拡大光学系
によって同時に観測して両者の位置関係を測定し、前記
溝面の位置と前記複数スポットの位置を関係づける信号
を生成し、該信号に基づいて前記複数スポットの位置調
整を行うことを特徴とする。

【００１９】請求項２に係る発明は、請求項１に係る発
明の複数スポット位置調整方法において、前記半透明基
準原盤を前記溝が形成された方向と直交する溝面内方向
に振動させながら、前記溝面と該溝面に形成された前記
複数スポットを同時に観測することを特徴とする。

【００２０】請求項３に係る発明は、複数スポットを情
報記録面に形成し、情報の再生，記録，消去を行う光デ
ィスク装置の光ピックアップの複数スポット位置調整装
置において、前記光ピックアップの情報記録面に相当す
る位置に保持され所定ピッチで溝が形成された溝面を有
する半透明基準原盤と、前記溝面と該溝面に形成された
前記複数スポットを同時に観測する拡大光学系と、前記
溝面と該溝面に形成された前記複数スポットとの位置関
係を測定し前記溝の位置と前記複数スポットの位置を関
係づける信号を生成する信号生成装置と、前記信号に基
づいて前記複数スポットの位置調整を行う調整ステージ
を有することを特徴とする。

【００２１】請求項４に係る発明は、請求項３に係る発
明の光ピックアップの複数スポット位置調整装置におい
て、前記半透明基準原盤を前記溝が形成されている方向
と直交する溝面内方向に振動させる原盤振動装置を有す
ることを特徴とする。

【００２２】請求項５に係る発明は、請求項３または４
に係る発明の光ピックアップの複数スポット位置調整装
置において、前記半透明基準原盤からの反射光を受光す
る光学系を有し、前記反射光から前記溝と前記複数スポ
ット位置を関係づける信号をそれぞれのスポットに対し
て生成し、前記信号の振幅に基づいて前記複数スポット
位置調整を行うことを特徴とする。

【００２３】請求項６に係る発明は、請求項３または４
に係る発明の光ピックアップの複数スポット位置調整装
置において、前記半透明基準原盤からの反射光を受光す
る光学系を有し、前記反射光から前記溝と前記複数スポ
ット位置を関係づける信号をそれぞれのスポットに対し
て生成し、前記信号の位相差に基づいて前記複数スポッ
ト位置調整を行うことを特徴とする。

【００２４】請求項７に係る発明は、請求項３〜６に係
る発明の光ピックアップの複数スポット位置調整装置に
おいて、前記半透明基準原盤からの反射光をピックアッ
プ光学系で受光し、前記反射光から前記溝と前記複数ス
ポット位置を関係づける信号を生成し、該信号に基づい
て複数スポット位置調整を行うことを特徴とする。

【００２５】請求項８に係る発明は、請求項３〜６に係
る発明の光ピックアップの複数スポット位置調整装置に
おいて、半透明基準原盤透過光を拡大光学系から分離
し、受光する光学系を有し、前記透過光から前記溝と前
記複数スポット位置を関係づける信号を生成し、該信号
に基づいて複数スポット位置調整を行うことを特徴とす
る。

【００２６】請求項９に係る発明は、請求項３または４
に係る発明の光ピックアップの複数スポット位置調整装
置において、メインとなる１または複数のスポットが常
に前記半透明基準原盤の溝周期の特定の位置に焦点を結
んでいる状態で複数スポット位置調整を行うことを特徴
とする。

【００２７】請求項１０に係る発明は、請求項９に係る
発明の光ピックアップの複数スポット位置調整装置にお
いて、前記溝の位置と前記複数スポットの位置を関係づ
けるトラッキング信号に基づいて前記光ピックアップの
対物レンズを変位させることにより、メインとなる１ま
たは複数のスポットが常に前記半透明基準原盤の溝周期
の特定の位置に焦点を結んでいる状態を保つサーボシス
テムを有することを特徴とする。

【００２８】請求項１１に係る発明は、請求項９に係る
発明の光ピックアップの複数スポット位置調整装置にお
いて、前記溝の位置と前記複数スポットの位置を関係づ
けるトラッキング信号に基づいて前記光ピックアップの
位置を変位させることにより、メインとなる１または複
数のスポットが常に前記半透明基準原盤の溝周期の特定
の位置に焦点を結んでいる状態を保つサーボシステムを
有することを特徴とする。

【００２９】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図１
〜図７に示す実施例に基づいて説明する。 （実施例１）図１は、実施例１による光ピックアップの
複数スポット位置調整装置の基本構成を示す図である。
図１において、光ピックアップの複数スポット位置調整
装置は、調整ステージ１１上に載置された光ピックアッ
プ１の複数スポットを所定の位置に調整するもので、光
ディスクに相当する半透明基準原盤２、例えば顕微鏡に
よって形成される拡大光学系３、ＣＣＤカメラ７、画像
処理装置８、制御装置９、モニター１０等から構成され
る。半透明基準原盤２は、所定のピッチで複数の溝が形
成された溝面２ａを有し、溝面２ａに光ピックアップ１
の複数スポットが形成されるように配設されている。ま
た、半透明基準原盤の溝面２ａに集光されたスポットを
観測するための拡大光学系（顕微鏡）３は、照明光源
４、ハーフミラー５、顕微鏡対物レンズ６を有し、照明
光源４によって半透明基準原盤２の溝面２ａを照明する
とともに、観測面である溝面２ａの画像を拡大し、ハー
フミラー５を介してＣＣＤカメラ等の撮像素子７で観測
できるように構成されている。画像処理装置８は、ＣＣ
Ｄカメラ等の撮像素子７で撮影された画像情報をデジタ
ル化し、観測面情報をパーソナルコンピュータ等からな
る制御装置９を用い、デジタル的に処理することが可能
となる。調整ステージ１１は、ｘ変位機構１２、ｙ変位
機構１３、ｚ変位機構１４を備えており、光ピックアッ
プ１を図中のｘ，ｙ，ｚ方向に変位させ位置を調整する
ことができる。

【００３０】以下、溝面にスポットおよび顕微鏡の焦点
が合っていることを前提に本発明の動作を説明する。本
発明の複数スポット位置調整方法及び調整装置では、半
透明基準原盤２の溝形状と、その溝面２ａ上に形成され
る光ピックアップ１の複数スポットとを、拡大光学系３
を介してＣＣＤカメラ等の撮像素子７で撮影してモニタ
ー１０上で同時に観測し、その位置関係を測定すること
によって複数スポットの位置調整を行う。半透明基準原
盤２の溝面２ａに拡大光学系（顕微鏡）３の焦点を合わ
せる方法としては、例えば溝によるコントラストが最大
になるように半透明基準原盤２または顕微鏡対物レンズ
６をｚ方向に移動させることが考えられる。コントラス
トは、目視判断でもよいが、画像信号（例えば、ピーク
値とボトム値）を制御装置９に取り込むことにより、電
気（回路）的に処理した方がより安定し、精度のよい焦
点合わせを行うことができる。さらに、画像信号に基づ
いて、制御装置９を介してステージ１１のｚ変位機構１
４を制御することにより、自動的に焦点合わせをするこ
とが可能である。そして、この自動的な焦点合わせの繰
り返しを早くすることにより、拡大光学系３の焦点を半
透明基準原盤２の溝面に保持し続けることが可能にな
る。すなわち、拡大光学系３の焦点が半透明基準原盤２
に合っている状態で、かつ半透明基準原盤２の溝面に対
し、複数スポットを合焦状態に保持した状態で複数スポ
ットの位置調整を行うことにより、精度の高い複数スポ
ット位置調整を行うことができる。

【００３１】図２は、モニターに映し出された半透明基
準原盤の溝面の画像を示す図であり、図２（Ａ）は溝面
のみの画像を示し、図２（Ｂ）は溝面にスポットが形成
された画像を示す図である。また、図３は、図２に示す
モニター画像におけるＡ−Ｂ線に沿った画素の輝度曲線
を示す図であり、図３（Ａ）は図２（Ａ）に示すモニタ
ー画像におけるＡ−Ｂ線に沿った画素の輝度曲線を示
し、図３（Ｂ）は図２（Ｂ）に示すモニター画像におけ
るＡ−Ｂ線に沿った画素の輝度曲線を示す。例えば、図
２，３に示すように、顕微鏡等の拡大光学系３から得ら
れる画像に基づいて溝位置とスポット位置を関係づける
信号（トラッキング信号）を生成することができる。つ
まり、溝の画像から溝の周期情報が得られ、どの画素が
溝中心であるか判別することができる。その溝面にスポ
ットが形成されると、スポットによる輝度分布が重畳さ
れ、スポットの位置情報が得られ、どの画素がスポット
中心であるか判別することができる。所望のスポットが
所望の溝位置に形成されるように、回折格子等の複数ス
ポットを移動させる素子または機構の調整を行う。（請
求項１，３） また、図１に示すように複数スポットがモニター上に現
れている場合は、それぞれのスポットにおいて位置情報
を獲得することにより、より精度の高い複数スポットの
位置調整を行うことができる。

【００３２】（実施例２）図４は、原盤振動装置及びト
ラック信号検出システムを備えた光ピックアップの複数
スポット位置調整装置の基本構成を示す図である。（請
求項２，４）半透明基準原盤２を溝が切られている方向
と直交する方向に振動させることにより、一般的に良く
知られたプッシュプル信号が得られる。プッシュプル成
分を含む半透明基準原盤反射（透過）光を受光する受光
光学系はピックアップ１自身のもつ受光光学系（請求項
７）か、または図４、図５に示すように、測定装置側に
設けられハーフミラー１６、集光レンズ１８等からなる
受光光学系（請求項８）が考えられる。図５は、図４の
トラック信号検出システム１７の概略構成を示す図であ
り、測定装置側の検出システム１７の集光レンズ１８は
必要に応じて適宜挿入すれば良い。ここで、半透明基準
原盤２を振動させる原盤振動装置１５は、１軸ステージ
に半透明基準原盤２を取り付け、そのステージをピエゾ
素子により微小（数μｍ程度）振動させたり、ピエゾ素
子に直接半透明基準原盤を取り付け振動させるものが考
えられる。ピエゾ素子の代わりにモータ制御できるステ
ージにより振動させることも可能である。

【００３３】以下、簡単のために複数ビームは３ビーム
である場合について説明する。受光素子１９は図５に示
すように、６分割相当の素子からなり、中央の受光素子
Ａ，Ｂで０次光、左右の素子Ｃ，Ｄ及びＥ，Ｆで±１次
光を受光する構成である。それぞれの受光素子出力を図
示しない演算回路を用い演算することにより、溝面上の
３つのスポットそれぞれに対応するプッシュプル信号を
生成する。演算はそれぞれ、ＭＰＰ＝Ａ−Ｂ，Ｓ＋ＰＰ
＝Ｃ−Ｄ，Ｓ−ＰＰ＝Ｅ−Ｆである。分割は６分割に限
る必要はなく、それぞれのスポットに対し、プッシュプ
ル信号を生成できる分割であればよい。

【００３４】図６は、スポット中心位置とその時のプッ
シュプル信号、和信号の関係を示す図であり、図７は、
０次光スポットからのプッシュプル信号と±１次光スポ
ットからのプッシュプル信号との関係を示す図である。
図６に示すように、溝により発生するプッシュプル信号
と溝の間には決まった関係があり、スポットと溝（グル
ーブ）中心が一致する場合、プッシュプル信号はゼロに
なる。また、図７に示すように、±１次光スポットから
のプッシュプル信号は０次光信号に対しある位相差を持
っている。図６に示すランド中心からランド中心までが
プッシュプル信号の１周期なので、その位相差はまさ
に、０次光スポットと±１次光スポットの溝に対する相
対位置を示すものである。例えば、位相差が１８０度の
ときは、０次光スポットがランド中心に存在するとき、
±１次光スポットは溝中心に存在することを意味する。
所望の位相差が０度や１８０度の場合は目視でも調整は
可能であるが、その位相差を位相差検出回路を通して測
定することにより、スポット位置をより正確に調整する
ことが可能となる。（請求項６）

【００３５】また、０次光と±１次光の強度比をｋ（Ａ
＋Ｂ＝ｋ（Ｃ＋Ｄ＋Ｅ＋Ｆ））とし、周知の差動プッシ
ュプル信号演算を用いることにより、その振幅変化から
０次光スポットと±１次光スポットの位置関係を割り出
すことができる。つまり、同位相の場合は差動プッシュ
プル信号振幅はゼロ（最低）となり、位相が１８０度ず
れているとき最大となることを利用する。（請求項５） 差動プッシュプル演算はＤＰＰ＝（Ａ−Ｂ）−ｋ［（Ｃ
−Ｄ）＋（Ｅ−Ｆ）］ である。

【００３６】（実施例３）実施例３の複数スポット位置
調整装置について説明する。（請求項９）０次光のプッ
シュプル信号を用いて図示しないサーボ回路によりトラ
ッキングサーボを掛けることにより、スポットは溝のあ
る位置に固定される。サーボは、実際のドライブのよう
に、対物レンズアクチュエータに、プッシュプル信号を
もとに作られたサーボ信号に応じた電流を流すことによ
り、光ピックアップの対物レンズを溝直交方向に駆動さ
せる（請求項１０）か、光ピックアップ自体が設置され
ているステージ自体をそのサーボ信号に応じて変位させ
て（請求項１１）サーボを掛けることができる。このと
き、光ピックアップ自体が変位するので、対物レンズは
必ずしもアクチュエータに取り付けられている必要はな
く、アクチュエータの代わりにメカ的理想位置（設計位
置）に光ピックアップとともに変動できるように設置さ
れた固定のダミー対物レンズを用いても良い。

【００３７】サーボシステムにオフセットがなければ、
ランド中心またはグルーブ中心に固定される。このとき
±１次光により発生するプッシュプル信号はそれらが存
在する溝位置に応じたある信号値を出力している。した
がって、０次光がグルーブ上に存在するとき、±１次光
をランド上に配置するためには、プッシュプル信号がゼ
ロになるように回折格子等の複数スポットを移動させる
素子（または機構）の調整を行う。このとき、分割信号
の和信号をモニターすることにより、ランド，グルーブ
のどちらに配置されたか明確になる。

【００３８】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば次のような作用効果がある。請求項１の発明に
よれば、スポットとスポットが形成される情報記録面に
相当する半透明基準原盤の溝面を同時に観察しながら複
数スポットの位置関係の調整する複数スポット位置調整
方法において、拡大光学系の焦点が半透明基準原盤に合
っている状態で、かつ半透明基準原盤の溝面に対し、複
数スポットを合焦状態に保持した状態で、溝とスポット
の相対位置関係を知る信号を生成し、その信号に基づい
て複数スポット位置調整を行うことにより、精度の高い
複数スポットの位置調整を行うことがでる。

【００３９】請求項２の発明によれば、半透明基準原盤
を溝が切られている方向と直交した方向に振動させるこ
とにより、溝を横切ったときに発生する反射（回折）光
の変化（トラック信号）から溝とスポットの位置関係を
正確に知ることができ、複数スポットの位置調整精度を
高めることができる。

【００４０】請求項３の発明によれば、スポットとスポ
ットが形成される情報記録面に相当する半透明基準原盤
の溝面を同時に観察しながら複数スポットの位置関係の
調整する複数スポット位置調整装置において、拡大光学
系の焦点が半透明基準原盤に合っている状態で、かつ半
透明基準原盤の溝面に対し、複数スポットを合焦状態に
保持した状態で、溝とスポットの相対位置関係を知る信
号を生成し、その信号に基づいて複数スポット位置調整
を行うことにより、精度の高い複数スポットの位置調整
を行うことがでる。

【００４１】請求項４の発明によれば、半透明基準原盤
を溝が切られている方向と直交した方向に振動させるこ
とにより、溝を横切ったときに発生する反射（回折）光
の変化（トラック信号）から溝とスポットの位置関係を
正確に知ることができ、複数スポットの位置調整精度を
高めることができる。

【００４２】請求項５の発明によれば、振幅は位相と比
較して目視でもある程度は判断できるため、簡易な回路
構成で複数スポット位置調整を行うことができる。

【００４３】請求項６の発明によれば、非常に高精度に
複数スポット位置調整を行うことができる。

【００４４】請求項７の発明によれば、原盤からの反射
光を受光する光学系を、ピックアップ自体の光学系とす
ることにより、調整装置自体の構成を簡略化することが
できる。

【００４５】請求項８の発明によれば、ピックアップの
検出系が組み付けられていない状態でも、溝位置とスポ
ット位置を関係づける信号を発生させることができる。

【００４６】請求項９の発明によれば、サーボを掛ける
ことにより静的に信号を扱うことができ、精度の高い調
整を行うことができる。また、振動等の外乱にも強くな
り、精度の高い調整を行うことができる。

【００４７】請求項１０の発明によれば、ピックアップ
対物レンズを、ピックアップアクチュエータの駆動によ
り変位させることで、調整装置の構成を簡略化すること
ができる。

【００４８】請求項１１の発明によれば、ピックアップ
自体を変位させることにより、アクチュエータ組み付け
前でも、メカ基準に設置されたダミー対物レンズを使用
することにより、複数スポットの位置調整を行うことが
できる。また、そのダミーレンズが精度良く配置される
ことにより、精度の高い調整を行うことができる。ま
た、ピックアップ部に可動部を設けないことにより、精
度の高い調整を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 実施例１による光ピックアップの複数スポッ
ト位置調整装置の基本構成を示す図である。

【図２】 モニターに映し出された半透明基準原盤の溝
面の画像を示す図であり、図２（Ａ）は溝面のみの画像
を示す図、図２（Ｂ）は溝面スポットが形成された画像
を示す図である。

【図３】 図２に示すモニター画像におけるＡ−Ｂ線に
沿った画素の輝度曲線を示す図である。

【図４】 原盤振動装置及びトラック信号検出システム
を備えた実施例２による光ピックアップの複数スポット
位置調整装置の基本構成を示す図である。

【図５】 トラック信号検出システムの概略構成を示す
図である。

【図６】 スポット中心位置とその時のプッシュプル信
号、和信号の関係を示す図である。

【図７】 ０次光スポットからのプッシュプル信号と±
１次光スポットからのプッシュプル信号の関係を示す図
である。

【符号の説明】

１…光ピックアップ、２…半透明基準原盤、２ａ…溝
面、３…拡大光学系、４…照明光源、５…ハーフミラ
ー、６…顕微鏡対物レンズ、７…ＣＣＤカメラ、８…画
像処理装置、９…制御装置、１０…モニター、１１…調
整ステージ、１２…ｘ変位機構、１３…ｙ変位機構、１
４…ｚ変位機構、１５…原盤振動装置、１６…ハーフミ
ラー、１７…トラック信号検出システム、１８…集光レ
ンズ、１９…分割受光素子。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2H043 AD02 AD11 AD23 5D117 AA03 KK02 KK06 KK07 5D118 AA13 BA01 BC09 CA13 CD03 CF03 CF16 CG04 CG24 CG33 CG36 CG47

Claims (11)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数スポットを情報記録面に形成し、情
   報の再生，記録，消去を行う光ディスク装置の光ピック
   アップの複数スポット位置調整方法において、 前記光ピックアップの前記情報記録面に相当する位置に
   所定ピッチで溝が形成された溝面を有する半透明基準原
   盤を保持し、前記溝面と該溝面に形成された前記複数ス
   ポットを拡大光学系によって同時に観測して両者の位置
   関係を測定し、前記溝面の位置と前記複数スポットの位
   置を関係づける信号を生成し、該信号に基づいて前記複
   数スポットの位置調整を行うことを特徴とする光ピック
   アップの複数スポット位置調整方法。
2. 【請求項２】 請求項１記載の光ピックアップの複数ス
   ポット位置調整方法において、 前記半透明基準原盤を前記溝が形成された方向と直交す
   る溝面内方向に振動させながら、前記溝面と該溝面に形
   成された前記複数スポットを同時に観測することを特徴
   とする光ピックアップの複数スポット位置調整方法。
3. 【請求項３】 複数スポットを情報記録面に形成し、情
   報の再生，記録，消去を行う光ディスク装置の光ピック
   アップの複数スポット位置調整装置において、 前記光ピックアップの情報記録面に相当する位置に保持
   され所定ピッチで溝が形成された溝面を有する半透明基
   準原盤と、前記溝面と該溝面に形成された前記複数スポ
   ットを同時に観測する拡大光学系と、前記溝面と該溝面
   に形成された前記複数スポットとの位置関係を測定し前
   記溝の位置と前記複数スポットの位置を関係づける信号
   を生成する信号生成装置と、前記信号に基づいて前記複
   数スポットの位置調整を行う調整ステージを有すること
   を特徴とする光ピックアップの複数スポット位置調整装
   置。
4. 【請求項４】 請求項３記載の光ピックアップの複数ス
   ポット位置調整装置において、 前記半透明基準原盤を前記溝が形成されている方向と直
   交する溝面内方向に振動させる原盤振動装置を有するこ
   とを特徴とする光ピックアップの複数スポット位置調整
   装置。
5. 【請求項５】 請求項３または４記載の光ピックアップ
   の複数スポット位置調整装置において、 前記半透明基準原盤からの反射光を受光する光学系を有
   し、前記反射光から前記溝と前記複数スポット位置を関
   係づける信号をそれぞれのスポットに対して生成し、前
   記信号の振幅に基づいて前記複数スポット位置調整を行
   うことを特徴とする光ピックアップの複数スポット位置
   調整装置。
6. 【請求項６】 請求項３または４記載の光ピックアップ
   の複数スポット位置調整装置において、 前記半透明基準原盤からの反射光を受光する光学系を有
   し、前記反射光から前記溝と前記複数スポット位置を関
   係づける信号をそれぞれのスポットに対して生成し、前
   記信号の位相差に基づいて前記複数スポット位置調整を
   行うことを特徴とする光ピックアップの複数スポット位
   置調整装置。
7. 【請求項７】 請求項３乃至６いずれか記載の光ピック
   アップの複数スポット位置調整装置において、 前記半透明基準原盤からの反射光をピックアップ光学系
   で受光し、前記反射光から前記溝と前記複数スポット位
   置を関係づける信号を生成し、該信号に基づいて複数ス
   ポット位置調整を行うことを特徴とする光ピックアップ
   の複数スポット位置調整装置。
8. 【請求項８】 請求項３乃至６いずれか記載の光ピック
   アップの複数スポット位置調整装置において、 半透明基準原盤透過光を拡大光学系から分離し、受光す
   る光学系を有し、前記透過光から前記溝と前記複数スポ
   ット位置を関係づける信号を生成し、該信号に基づいて
   複数スポット位置調整を行うことを特徴とする光ピック
   アップの複数スポット位置調整装置。
9. 【請求項９】 請求項３または４記載の光ピックアップ
   の複数スポット位置調整装置において、 メインとなる１または複数のスポットが常に前記半透明
   基準原盤の溝周期の特定の位置に焦点を結んでいる状態
   で複数スポット位置調整を行うことを特徴とする光ピッ
   クアップの複数スポット位置調整装置。
10. 【請求項１０】 請求項９記載の光ピックアップの複数
    スポット位置調整装置において、 前記溝の位置と前記複数スポットの位置を関係づけるト
    ラッキング信号に基づいて前記光ピックアップの対物レ
    ンズを変位させることにより、メインとなる１または複
    数のスポットが常に前記半透明基準原盤の溝周期の特定
    の位置に焦点を結んでいる状態を保つサーボシステムを
    有することを特徴とする光ピックアップの複数スポット
    位置調整装置。
11. 【請求項１１】 請求項９記載の光ピックアップの複数
    スポット位置調整装置において、 前記溝の位置と前記複数スポットの位置を関係づけるト
    ラッキング信号に基づいて前記光ピックアップの位置を
    変位させることにより、メインとなる１または複数のス
    ポットが常に前記半透明基準原盤の溝周期の特定の位置
    に焦点を結んでいる状態を保つサーボシステムを有する
    ことを特徴とする光ピックアップの複数スポット位置調
    整装置。