JP2002298141A - パターン照合装置とそのパターン照合方法、及びパターン照合プログラム - Google Patents
パターン照合装置とそのパターン照合方法、及びパターン照合プログラムInfo
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Abstract
とのできる、線図形のパターン照合装置とそのパターン
照合方法、及びパターン照合プログラムを提供する。 【解決手段】 図形を比較し照合するパターン照合装置
において、検査対象の図形である検査図形に生じている
変形を、当該検査図形と比較元の図形であるモデル図形
とのそれぞれにおける図形内における特徴を示す特徴点
の情報に基づいて推定する変形推定部11と、変形推定
部11により推定された変形の情報に基づいて、当該検
査図形を補正する変形補正部12と、変形補正部12に
より変形を補正された検査図形を、比較元の図形である
モデル図形と比較し類似度を計算する類似度決定部13
を備えることを特徴とする。
Description
に関し、特に指紋や文字などの線図形を同定するパター
ン照合装置とそのパターン照合方法、及びパターン照合
プログラムに関する。
ンを認識する装置として、線の端点や分岐点等の特徴点
を用いて、対応する特徴点を求めてそれらを重ね合わせ
て比較する従来技術が、特開平10−240932号公
報、特開平10−105703号公報に提案されてい
る。
従来の技術が、特開平02−187885号公報、特開
平05−081412号公報、特開平06−00467
1号公報、特開平08−030783号公報、特開平0
8−147411号公報に提案されている。
は、以下に述べるような問題点があった。
10−105703号公報に記載の従来の技術では、図
形の全体を重ね合わせて比較する方式のため、文字が変
形しているとか指紋が押捺時に変形しているような場合
には、正しく識別することができないという問題点があ
った。
特開平05−081412号公報、特開平06−004
671号公報、特開平08−030783号公報、特開
平08−147411号公報に記載の従来の技術では、
図形全体として変形を補正し比較することにより、図形
に変形がある場合にも、図形の全体が同一の変形をして
いる場合には、これに対応することができる。しかし、
部分毎に変形の仕方が異なるような場合には、許容する
誤差を大きくする必要があり、識別が不正確になるとい
う問題点があった。
解決し、入力図形に変形があっても厳密に識別すること
のできる、線図形のパターン照合装置とそのパターン照
合方法、及びパターン照合プログラムを提供することに
ある。
本発明のパターン照合装置は、検査図形を比較元の図形
であるモデル図形と比較し照合するパターン照合装置に
おいて、検査対象の図形である検査図形に生じている変
形を、当該検査図形と比較元の図形であるモデル図形と
のそれぞれにおける図形内における特徴を示す特徴点の
情報に基づいて推定する変形推定手段と、前記変形推定
手段により推定された変形の情報に基づいて、当該検査
図形を補正する変形補正手段とを備えることを特徴とす
る。
前記変形推定手段は、前記検査図形と前記モデル図形と
のそれぞれの、前記特徴点における特徴の度合いを示す
特徴量の差が小さいものを対応づけて対とし、各前記特
徴点の対応を最もよく一致させる前記検査図の変形の内
容を判定することにより、当該検査図形に生じている変
形を推定することを特徴とする。
前記変形推定手段は、前記検査図形と前記モデル図形と
のそれぞれにおける、各前記特徴点の対応を最もよく一
致させる前記検査図の変形の内容を、予め用意された画
像データの変形の内容を示す複数の変形モデルから選択
することを特徴とする。
前記変形推定手段は、個々のパラメータに指定される値
に対応させて、画像データの変形の内容を示す変形モデ
ルの情報を備え、前記検査図形と前記モデル図形とのそ
れぞれにおける、各前記特徴点の対応を最もよく一致さ
せる前記変形モデルを与える各前記パラメータの値を求
めることにより、前記検査図の変形の内容を判定するこ
とを特徴とする。
前記変形推定手段は、推定された変形を施した場合に、
所定の閾値以上位置が離れてしまう前記特徴点対を除い
て、残った特徴点対のみを用いて変形を推定し直すこと
を特徴とする。
前記変形推定手段は、推定された変形の大きさが所定の
閾値より大きい場合には、当該変形モデルを変更し、再
度変形を推定することを特徴とする。
前記変形推定手段は、前記検査図形の全体の変形を推定
した後、当該検査図形を小領域に分割し、前記小領域毎
における変形の内容の推定を行うことを特徴とする。
前記変形推定手段は、前記検査図形の全体の変形を推定
した後、当該特徴点対毎に、近傍の前記特徴点対の情報
を参照することにより、各前記特徴点対の近傍における
変形を推定し補正することを特徴とする。
前記変形モデルとして弾性変形を用い、変形の大きさを
示すデータとして弾性エネルギーを用いることを特徴と
する。
は、前記検査図形及び前記モデル図形として、指紋画像
及び掌紋画像の少なくともいずれか一方を用いることを
特徴とする。
査図形を比較元の図形であるモデル図形と比較し変形を
補正する変形補正装置において、検査対象の図形である
検査図形に生じている変形を、当該検査図形と比較元の
図形であるモデル図形とのそれぞれにおける図形内にお
ける特徴を示す特徴点の情報に基づいて推定する変形推
定手段と、前記変形推定手段により推定された変形の情
報に基づいて、当該検査図形を補正する変形補正手段を
備えることを特徴とする。
記変形推定手段は、前記検査図形と前記モデル図形との
それぞれの、前記特徴点における特徴の度合いを示す特
徴量の差が小さいものを対応づけて対とし、各前記特徴
点の対応を最もよく一致させる前記検査図の変形の内容
を判定することにより、当該検査図形に生じている変形
を推定することを特徴とする。
記変形推定手段は、前記検査図形と前記モデル図形との
それぞれにおける、各前記特徴点の対応を最もよく一致
させる前記検査図の変形の内容を、予め用意された画像
データの変形の内容を示す複数の変形モデルから選択す
ることを特徴とする。
記変形推定手段は、個々のパラメータに指定される値に
対応させて、画像データの変形の内容を示す変形モデル
の情報を備え、前記検査図形と前記モデル図形とのそれ
ぞれにおける、各前記特徴点の対応を最もよく一致させ
る前記変形モデルを与える各前記パラメータの値を求め
ることにより、前記検査図の変形の内容を判定すること
を特徴とする。
記変形推定手段は、推定された変形を施した場合に、所
定の閾値以上位置が離れてしまう前記特徴点対を除い
て、残った特徴点対のみを用いて変形を推定し直すこと
を特徴とする。
記変形推定手段は、推定された変形の大きさが所定の閾
値より大きい場合には、当該変形モデルを変更し、再度
変形を推定することを特徴とする。
記変形推定手段は、前記検査図形の全体の変形を推定し
た後、当該検査図形を小領域に分割し、前記小領域毎に
おける変形の内容の推定を行うことを特徴とする。
記変形推定手段は、前記検査図形の全体の変形を推定し
た後、当該特徴点対毎に、近傍の前記特徴点対の情報を
参照することにより、各前記特徴点対の近傍における変
形を推定し補正することを特徴とする。
記変形モデルとして弾性変形を用い、変形の大きさを示
すデータとして弾性エネルギーを用いることを特徴とす
る。
記検査図形及び前記モデル図形として、指紋画像及び掌
紋画像の少なくともいずれか一方を用いることを特徴と
する。
は、検査図形を比較元の図形であるモデル図形と比較し
照合するパターン照合方法において、検査対象の図形で
ある検査図形に生じている変形を、当該検査図形と比較
元の図形であるモデル図形とのそれぞれにおける図形内
における特徴を示す特徴点の情報に基づいて推定する変
形推定ステップと、前記推定された変形の情報に基づい
て、当該検査図形を補正する変形補正ステップとを備え
ることを特徴とする。
は、前記変形推定ステップは、前記検査図形と前記モデ
ル図形とのそれぞれの、前記特徴点における特徴の度合
いを示す特徴量の差が小さいものを対応づけて対とし、
各前記特徴点の対応を最もよく一致させる前記検査図の
変形の内容を判定することにより、当該検査図形に生じ
ている変形を推定することを特徴とする。
は、前記変形推定ステップは、前記検査図形と前記モデ
ル図形とのそれぞれにおける、各前記特徴点の対応を最
もよく一致させる前記検査図の変形の内容を、予め用意
された画像データの変形の内容を示す複数の変形モデル
から選択することを特徴とする。
は、前記変形推定ステップは、個々のパラメータに指定
される値に対応する、画像データの変形の内容を示す変
形モデルの情報に基づいて、前記検査図形と前記モデル
図形とのそれぞれにおける、各前記特徴点の対応を最も
よく一致させる前記変形モデルを与える各前記パラメー
タの値を求めることにより、前記検査図の変形の内容を
判定することを特徴とする。
は、前記変形推定ステップは、推定された変形を施した
場合に、所定の閾値以上位置が離れてしまう前記特徴点
対を除いて、残った特徴点対のみを用いて変形を推定し
直すことを特徴とする。
は、前記変形推定ステップは、推定された変形の大きさ
が所定の閾値より大きい場合には、当該変形モデルを変
更し、再度変形を推定することを特徴とする。
は、前記変形推定ステップは、前記検査図形の全体の変
形を推定した後、当該検査図形を小領域に分割し、前記
小領域毎における変形の内容の推定を行うことを特徴と
する。
は、前記変形推定ステップは、前記検査図形の全体の変
形を推定した後、当該特徴点対毎に、近傍の前記特徴点
対の情報を参照することにより、各前記特徴点対の近傍
における変形を推定し補正することを特徴とする。
は、前記変形モデルとして弾性変形を用い、変形の大き
さを示すデータとして弾性エネルギーを用いることを特
徴とする。
は、前記検査図形及び前記モデル図形として、指紋画像
及び掌紋画像の少なくともいずれか一方を用いることを
特徴とする。
ラムは、コンピュータを制御することにより、検査図形
を比較元の図形であるモデル図形と比較し照合するパタ
ーン照合プログラムにおいて、検査対象の図形である検
査図形に生じている変形を、当該検査図形と比較元の図
形であるモデル図形とのそれぞれにおける図形内におけ
る特徴を示す特徴点の情報に基づいて推定する変形推定
処理と、前記推定された変形の情報に基づいて、当該検
査図形を補正する変形補正処理とを実行させることを特
徴とする。
査図形を比較元の図形であるモデル図形と比較し変形を
補正する変形補正方法において、検査対象の図形である
検査図形に生じている変形を、当該検査図形と比較元の
図形であるモデル図形とのそれぞれにおける図形内にお
ける特徴を示す特徴点の情報に基づいて推定する変形推
定ステップと、前記推定された変形の情報に基づいて、
当該検査図形を補正する変形補正ステップを備えること
を特徴とする。
は、コンピュータを制御することにより、検査図形を比
較元の図形であるモデル図形と比較し変形を補正する変
形補正プログラムにおいて、検査対象の図形である検査
図形に生じている変形を、当該検査図形と比較元の図形
であるモデル図形とのそれぞれにおける図形内における
特徴を示す特徴点の情報に基づいて推定する変形推定処
理と、前記推定された変形の情報に基づいて、当該検査
図形を補正する変形補正処理を備えることを特徴とす
る。
形の特徴点情報と、比較元の図形であるモデル図形の特
徴点情報の入力を受けて、検査図形に生じている変形を
推定し、推定された変形を補正し、変形を補正された検
査図形とモデル図形とを比較して、類似度を計算するこ
とにより、検査図形に変形があっても、検査図形とモデ
ル図形を厳密に識別することができる。
て図面を参照して詳細に説明する。
パターン照合装置の構成を示すブロック図である。
ン照合装置は、検査対象の図形である検査図形のデータ
を入力する検査図形入力部20と、比較元の図形である
モデル図形のデータを入力するモデル図形入力部30
と、パターン照合の処理を実行するデータ処理部10
と、処理結果を出力する出力部40を備えている。
変形補正部12と、類似度決定部13を備えている。こ
れらの各部は、それぞれ概略次のように動作する。
ら入力された検査図形の特徴点と、モデル図形入力部3
0から入力されたモデル図形の特徴点とを比較し、検査
図形に生じている全体的な変形の内容を推定する。
された変形の内容のデータに基づいて、変形を解消する
補正をその検査図形に施すことにより、変形を補正した
検査図形を作成する。
り作成された変形を補正された検査図形と、モデル図形
とを比較して、双方の図形の類似度を計算し、算出され
た類似度を出力部40から出力する。
参照して詳細に説明する。
理を説明するためのフローチャートであり。図3は、本
実施の形態の変形推定部11の処理を説明するためのフ
ローチャートである。
ン照合の処理は、まず、検査対象の図形である検査図形
と、比較元の図形であるモデル図形とを、検査図形入力
部20とモデル図形入力部30へそれぞれ入力する(ス
テップ201)。
め抽出された各図形の特徴を示す特徴点の情報を入力す
る方式や、その各図形の画像データを入力し、検査図形
入力部20とモデル図形入力部30の側において、その
特徴点の情報を抽出しデータ処理部10に送る方式等を
用いることができる。
その文字が何であるのかを調べたい文字の画像データを
検査図形入力部20へ入力し、辞書に登録されている文
字データをモデル図形入力部30へ入力する方式を採用
することができる。
の指紋なのかを調べたい指紋の画像データを検査図形入
力部20へ入力し、指紋データベースに登録されている
指紋データをモデル図形入力部30へ入力すればよい。
め抽出された検査図形の特徴点情報を入力することにし
てもよいし、検査図形そのものを入力し検査図形入力部
20で特徴点の情報を抽出することにしてもよい。同様
に、モデル図形入力部30は、予め抽出されたモデル図
形の特徴点情報を入力することにしてもよいし、モデル
図形そのものを入力しモデル図形入力部30で特徴点の
情報を抽出することにしてもよい。
としては、線の途切れる点(端点)、分岐する点(分岐
点)、交差する点(交差点)等を特徴点とすることがで
きる。また、その各特長点における特徴の度合いを示す
データである特徴量として、特徴点の位置や接する線の
方向等のデータを用いることができる。また、特徴量に
は、接する線の曲率や隣接する線の曲率の値、また、近
傍の特徴点の配置や近傍の特徴点との間を交差する線数
等の情報を加えてもよい。
力部30に入力された各図形のデータは、データ処理部
10の変形推定部11に渡される。変形推定部11は、
検査図形入力部20から入力された検査図形の特徴点情
報と、モデル図形入力部30から入力されたモデル図形
の特徴点情報とを比較し、検査図形に生じている変形を
推定する(ステップ202)。
一の特徴点であると考えられる特徴点の対を選び、双方
の図形におけるそれらの配置のずれに基づいて、検査図
形に生じている変形を推定する。
文字認識において、辞書に登録されている文字とカメラ
等で入力された文字とを比較する場合、検査図形入力部
20へ入力されたカメラ等で撮影した文字の画像は、入
力時の光学的な歪みを受けることになる。また指紋認識
において、誰の指紋なのか調べたい指紋のデータを検査
図形入力部20へ入力し、指紋データベースに登録され
ている指紋データをモデル図形入力部30へ入力した場
合、検査図形もモデル図形も押捺時の変形を受けてい
る。
検査図形の受けている変形とモデル図形の受けている変
形とをそれぞれ求めることはできないが、この双方にお
ける個々の特徴点の位置関係の違いを検出することによ
り、モデル図形の受けている変形の逆変形と検査図形の
受けている変形とを合わせた変形が検出され、この変形
を逆方向に施す変形として、検査図形をモデル図形に合
わせるための変形を推定することができる。
で推定された変形と逆の関係にある変形を検査図形に施
すことにより、検査図形の変形を補正する(ステップ2
03)。
2で求められた変形を補正した検査図形と、モデル図形
とを比較し、双方の図形の類似度を計算する(ステップ
204)。
で計算された類似度を出力する(ステップ205)。
定部11で推定された変形と逆の関係にある変形を検査
図形に施すことにより検査図形の変形を補正する方式以
外にも、変形推定部11で推定された変形をモデル図形
に施すことにより、モデル図形と検査図形の変形を合致
させる方式を採用することも可能である。これにより同
様にして、ステップ204において双方の図形を比較
し、双方の図形の類似度を計算することができる。
02における変形の推定処理を詳細に説明する。
20から入力された検査図形特徴点情報と、モデル図形
入力部30から入力されたモデル図形特徴点情報とを比
較し、対応する特徴点であると判断された特徴点対を変
形推定用特徴点対として順次登録することにより、変形
推定用特徴点対リストを作成する(ステップ301)。
形特徴点から任意の一つの特徴点aと、モデル図形特徴
点から任意の一つの特徴点bを選び、特徴点aと特徴点
bの特徴量の差を求め、それらの特徴量の差が所定の閾
値以下であれば、対応する特徴点であると判断し、この
対応する特徴点と判断された、検査図形の特徴点aとモ
デル図形の特徴点bとによる特徴点対を、変形推定用特
徴点対リストに登録する。
4の例に示されるように、検査図形の特徴点aとモデル
図形の特徴点bとの、対応する特徴点の対を登録してい
る。
れている特徴点対を、最もよく互いに合致させる変形を
推定する(ステップ302)。
入力される図形の性質に応じて予め用意しておき、用意
された複数の変形モデルの中から、特徴点対を最もよく
合致させるものを選択する方式や、変形モデルを各種の
パラメータの値に対応させて予め用意しておき、各特徴
点対を最もよく合致させるパラメータの値を求める等の
方式が可能である。
は弾性体であると仮定し、その弾性変形をパラメータ
(平行移動・収縮膨張・回転・剪断)で表し、検査図形
入力部20から入力された指紋似対して各パラメータに
より示される弾性変形をさせた場合の各特徴点の位置
を、変形推定用特徴点対リストに登録し、この弾性変形
により特徴点の位置が最もよく合致するように弾性変形
のパラメータを決定する。
形が妥当である場合には、その変形を出力する(ステッ
プ303)。
ては、例えば、推定された変形の弾性エネルギーが予め
定められた所定の値よりも大きかった場合、この推定さ
れた変形は大き過ぎるとして、用いる変形モデルを変更
して変形推定用特徴点対リストの作成からやり直すもの
とすること等が実施できる。
る変形推定の処理を、より具体的な実施例を用いて説明
する。
例と、図6に示される検査図形の一例を用いて、検査図
形の変形を推定し、その検査図形がモデル図形と同一の
図形であるかどうかを調べる処理を説明する。図5のモ
デル図形においてa1〜a4をモデル図形の特徴点とし、図
6の検査図形においてb1〜b4を検査図形の特徴点とす
る。
に重ね、モデル図形の特徴点a1〜a4と、検査図形の特徴
点b1〜b4を比較し、同じ特徴点と考えられるものを(a
1、b1)、(a2、b4)、(a3、b2)、(a4、b4)、(a4、b5)のよ
うに対にする。これらの対について図示したものが図8
である。
慮すると、ある程度の誤差を見込む必要があり、完全に
特徴点の対応関係がわからない場合もあるが、そのとき
は対応していると思われるものは、(a2、b4)、(a4、b
4)、(a4、b5)のように重複を許して対応させる。そし
て、図4の例に示されるように、これらの対、p1:(a1、
b1)、p2:(a2、b4)、p3:(a3、b2)、p4:(a4、b4)、p5:(a
4、b5)、を登録したリスト:変形推定用点対リストCL
を記録する(ステップ301)。
(x、y)、検査図形の特徴点の座標を(X、Y)とし、モ
デル図形は全体として2×2行列αと2次元ベクトルβを
用いて、数1の式に表されるような、一様な弾性変形を
受けるものとする。
る対p1〜p5の内、i番目の対piの、モデル図形の特徴点
対位置を(xi、yi)、検査図形の特徴点位置を(Xi、Yi)と
する。モデル図形上の(xi、yi)にある特徴点は、数1の
式に示される弾性変形を受けると、図6の式に示される
位置に移る。
形が数1で示される変形を受けた場合に、対piとの位置
の差は、数3の式のeiとなる。
る対p1〜p5の位置差(の2乗)の合計Eは、次の数4に
よって示される。
求めて、それぞれにAとbが得られたとする。このとき
に対応する特徴点の誤差の合計が最小ということなの
で、このAとbとを用いた式である数5に示される変形
が、変形推定用特徴点対リストに登録されている対を最
もよく一致させる変形ということになる。
5により表されるものと推定できる(ステップ30
2)。モデル図形に推定された変形を施したものと、検
査図形を重ね合わせたものが図9である。
下のように求められる。数5のベクトルbは平行移動を
表し、行列Aが収縮膨張、回転、剪断を表す。数6、数
7、数8に示されるようにλ0、λ1、λ2を表すと、
弾性エネルギーFは数9のように示される(数9におい
ては、Kは周辺圧縮率を表し、μは剪断率を表す。いず
れも、その素材により決定される定数である)。
動であり弾性エネルギーには寄与しない。λ0は、収縮
膨張(収縮も膨張もしていない場合に“0”であり、収
縮している場合に負の値であり、膨張している場合に正
の値を取る)に対応するパラメータであり、λ1、λ2
が剪断歪み(まったく歪んでいない場合に“0”であ
り、歪みが大きくなるほど絶対値が大きくなる)に対応
するパラメータである。
のパラメータが、検査図形に想定される変形として大き
過ぎる場合には、検査図形に生じている変形としては不
適切であるため、再度変形を推定し直す(ステップ30
3)。
場合においては、検査対象がゴムのようなよく伸びる物
体ではないため収縮膨張には限界があり、λ0が予め定
めておいた指として考えられる収縮膨張の範囲をもし超
えている場合には、その推定を破棄するのである。ま
た、こうした指紋や掌紋等の歪にも限度があるので、λ
1やλ2が、指紋や掌紋として考えられる歪みの範囲を
超えている場合には、同様にその推定を破棄する。ま
た、弾性エネルギーそのものについても、同様に指紋や
掌紋として想定される値の範囲にない場合には、その推
定を破棄する。
しては、変形モデルを変更する処理や、変形推定用特徴
点対リストの作成方法を変更した後に、再度変形の推定
を実行する処理等が考えられる。
て説明する。
い剛体であると仮定し、剛体の変形モデル(剛体は変形
しないため、平行移動と回転のみである)を考える。ま
ず、剛体であると仮定して、モデル図形と検査図形のそ
れぞれの特徴点の対の位置の差が小さくなるように変換
する。この変換結果について、モデル図形と検査図形と
を重ねた図が図10である。
ストに登録されている特徴点対p2:(a2、b4)と、p5:(a
4、b5)は、変形後に距離が離れてしまうので、変形推定
用特徴点対リストから削除する。また、図11のよう
に、(a2、b3)が変形を行うと近くなるため、変形推定用
特徴点対リストに追加登録し、変形推定用特徴点対リス
トはp1:(a1、b1)、p3:(a3、b2)、p4:(a4、b4)、p6:(a
2、b3)とする。
るが、指の変形モデルとして最初に用いた、より実際の
指に近い弾性変形モデルに再度あてはめて変形を推定す
る方式も可能である。図12は、修正された変形推定用
特徴点対リストp1:(a1、b1)、p3:(a3、b2)、p4:(a4、b
4)、p6:(a2、b3)を用いて推定した弾性変形を施した図
である。
の各処理を繰り返すことで、特徴点の対の選択の正しさ
を徐々に上げていき、正しい対応をする特徴点の対と、
検査図形に生じている変形を推定する。
る数5の式の逆変換を、検査図形の特徴点(X、Y)に施
すことにより、変形が補正されて直接モデル図形と比較
できる特徴点の座標(x、y)に変換することができ、変
形を補正した検査図形とモデル図形を比較することによ
って、検査図形とモデル図形の類似度を計算し、検査図
形とモデル図形が同一の図形かどうか判断する。
ら、推定した変形を施した場合に所定の閾値以上位置が
離れてしまう特徴点対を削除し、推定を所定の回数ある
いは削除する特徴点対が無くなるまで繰り返すことで、
変形推定用特徴点対リストに登録されている特徴点対を
より信頼のおけるものへと絞る方式も同様に可能であ
る。
ては、検査図形に生じている変形を推定してその変形を
補正し、変形を補正された検査図形とモデル図形とを比
較して双方の図形を照合するため、検査図形に変形があ
っても(また、検査図形とモデル図形との変形に違いが
ある場合にも)、検査図形とモデル図形とを厳密に識別
し照合することができる。
図面を参照して詳細に説明する。
合装置の構成を示すブロック図であり、図14は、本実
施の形態のパターン照合の処理を説明するためのフロー
チャートである。
の形態の第1の実施の形態との違いは、データ処理部1
0aにおける変形推定部11aの機能である。また、本
実施の形態のパターン照合の処理では、ステップ202
以降に、新たにステップ401、402を加える以外
は、第1の実施の形態と同様である。
の処理では、まず第1の実施の形態の変形推定の処理と
同一の処理を実行し、検査図形に全体として生じている
変形を推定する(ステップ202)。次に、図形を所定
の小さな領域に分割し(ステップ401)、その領域毎
にステップ202と同様にして変形推定の処理を行い、
その各領域における変形を推定する(ステップ40
2)。
結果において、検査対象の性質からその小領域のみが特
異な変形をしているとは考えられない場合には、(第1
の実施の形態のステップ303におけるように)その推
定の妥当性を検証するものとしてもよい。例えば、各小
領域毎に変形を推定した後に、近傍領域で推定した変形
との関係や、全体で推定した変形との関係を評価するこ
とにより、その推定の妥当性を評価し、妥当でない変形
を推定している場合には推定をやり直す等の方法が可能
である。
形を推定した後、順次、対象領域を小さくしていき推定
処理を繰り返す方式も同様に実施することができる。例
えば、指紋認識に応用した場合、押捺時に指の一部に力
が加わり、部分毎に変形の仕方が異なることがあるが、
そのような場合、本実施の形態のステップ401、40
2の処理により、部分毎にその変形を推定することがで
きる。
ば、第1の実施の形態の効果に加えて、部分毎に変形の
仕方が異なるような図形にも対応し、誤った変形を推定
する可能性を減らすることができる。
図面を参照して詳細に説明する。
合装置の構成を示すブロック図であり、図16は、本実
施の形態のパターン照合の処理を説明するためのフロー
チャートである。
の形態の第1の実施の形態との違いは、データ処理部1
0bにおける変形推定部11bの機能である。また、本
実施の形態のパターン照合の処理では、ステップ202
以降に、新たにステップ601、602、603を加え
る以外は、第1の実施の形態と同様である。
の処理では、まず第1の実施の形態の変形推定の処理と
同一の処理を実行し、検査図形に全体として生じている
変形を推定する(ステップ202)。次に、任意の特徴
点の近傍における特徴点の集中度を計測する(ステップ
601)。これは、図17に示されるように、任意の着
目した特徴点の周りの所定の大きさの領域を、その着目
した特徴点の近傍として定め、その近傍内における特徴
点の集中度を計測するのである。
点対が存在する場合には(ステップ602)、その近傍
に対してステップ202と同様の変形推定の処理を適応
することにより、その特徴点まわりの近傍における変形
をその近傍の特徴点対から推定する(ステップ60
3)。
点の集中する個所において、部分的に変形推定の処理を
行うことにより、部分毎に変形の仕方が異なるような図
形にも対応させ、誤った変形を推定する可能性を削減す
るのである。
徴点対が存在しない場合には(ステップ602)、その
近傍における変形推定の処理を行う必要はなく、ステッ
プ202において検査図形全体として推定した変形を用
いる。
3による変形の推定に基づいて、検査図形(又はモデル
図形)を変形し(ステップ203)、双方の図形の類似
度を計算することができる(ステップ204)。
形を推定し近傍特徴点まわりで推定した変形との関係
や、全体で推定した変形との関係を評価することによ
り、推定の妥当性を評価し(第1の実施の形態のステッ
プ303におけるように)、妥当でない変形を推定して
いる場合には、その推定をやり直すことができる。
ば、第1の実施の形態の効果に加えて、部分毎に変形の
仕方が異なるような図形にも対応し、誤った変形を推定
する可能性を減らすることができる。
の形態の変形推定の処理は、互いに組み合わせて実施す
ることもできる。
置は、データ処理部10、10a、10bにおける、変
形推定部11、変形推定部11a、変形推定部11b、
変形補正部12、類似度決定部13等の機能や、その他
の機能をハードウェア的に実現することは勿論として、
各機能を備えるコンピュータプログラムであるパターン
照合プログラムを、コンピュータ処理装置のメモリにロ
ードされることで実現することができる。
ムを記録した記録媒体を備える構成の一実施例を示す図
である。
スク、半導体メモリその他の記録媒体90に格納され
る。そして、その記録媒体からコンピュータ処理装置で
あるデータ処理部10cにロードされ、データ処理部1
0cの動作を制御することにより、上述した各機能を実
現する。これにより、データ処理部10cは、パターン
照合プログラムの制御により、第1、第2及び第3の実
施の形態におけるデータ処理部10、10a、10bに
よる処理を実行する。
て本発明を説明したが、本発明は必ずしも上記実施の形
態及び実施例に限定されるものではなく、その技術的思
想の範囲内において様々に変形して実施することができ
る。
合装置によれば、以下のような効果が達成される。
生じている変形を推定し補正するため、検査する図形が
変形していても正しく識別することができる。更に、変
形による特徴量の変化と特徴量の抽出誤差を分離するこ
とができ、特徴量を厳密に比較することができる。
ては、検査図形を小領域に分割して小領域毎に変形を推
定することにより、検査する図形が部分的に異なった変
形をしている場合においても、正しく識別することがで
きる。
ては、検査図形を近傍の特徴点対の数が所定以上あれば
その特徴点まわりの変形を推定することにより、変形の
推定誤りを減らし、検査する図形が部分的に異なった変
形している場合においても、正しく識別することができ
る。
合装置の構成を示すブロック図である。
処理を説明するためのフローチャートである。
理を説明するためのフローチャートである。
トを示す図である。
る。
る。
を重ね合わせた図である。
における特徴点対を示す図である。
モデル図形と検査図形を重ね合わせた図である。
と検査図形とを重ね合わせた図である。
と検査図形とにおける特徴点対を示す図である。
たモデル図形と検査図形を重ね合わせた図である。
照合装置の構成を示すブロック図である。
の処理を説明するためのフローチャートである。
照合装置の構成を示すブロック図である。
の処理を説明するためのフローチャートである。
における、特徴点の集中度の計測を説明するための図で
ある。
た記録媒体を備える構成の一実施例を示す図である。
Claims (60)
- 【請求項1】 検査図形を比較元の図形であるモデル図
形と比較し照合するパターン照合装置において、 検査対象の図形である検査図形に生じている変形を、当
該検査図形と比較元の図形であるモデル図形とのそれぞ
れにおける図形内における特徴を示す特徴点の情報に基
づいて推定する変形推定手段と、 前記変形推定手段により推定された変形の情報に基づい
て、当該検査図形を補正する変形補正手段とを備えるこ
とを特徴とするパターン照合装置。 - 【請求項2】 前記変形推定手段は、 前記検査図形と前記モデル図形とのそれぞれの、前記特
徴点における特徴の度合いを示す特徴量の差が小さいも
のを対応づけて対とし、各前記特徴点の対応を最もよく
一致させる前記検査図の変形の内容を判定することによ
り、当該検査図形に生じている変形を推定することを特
徴とする請求項1に記載のパターン照合装置。 - 【請求項3】 前記変形推定手段は、 前記検査図形と前記モデル図形とのそれぞれにおける、
各前記特徴点の対応を最もよく一致させる前記検査図の
変形の内容を、予め用意された画像データの変形の内容
を示す複数の変形モデルから選択することを特徴とする
請求項2に記載のパターン照合装置。 - 【請求項4】 前記変形推定手段は、 個々のパラメータに指定される値に対応させて、画像デ
ータの変形の内容を示す変形モデルの情報を備え、 前記検査図形と前記モデル図形とのそれぞれにおける、
各前記特徴点の対応を最もよく一致させる前記変形モデ
ルを与える各前記パラメータの値を求めることにより、
前記検査図の変形の内容を判定することを特徴とする請
求項2に記載のパターン照合装置。 - 【請求項5】 前記変形推定手段は、 推定された変形を施した場合に、所定の閾値以上位置が
離れてしまう前記特徴点対を除いて、残った特徴点対の
みを用いて変形を推定し直すことを特徴とする請求項2
から請求項4のいずれか一つに記載のパターン照合装
置。 - 【請求項6】 前記変形推定手段は、 推定された変形の大きさが所定の閾値より大きい場合に
は、当該変形モデルを変更し、再度変形を推定すること
を特徴とする請求項2から請求項5のいずれか一つに記
載のパターン照合装置。 - 【請求項7】 前記変形推定手段は、 前記検査図形の全体の変形を推定した後、 当該検査図形を小領域に分割し、前記小領域毎における
変形の内容の推定を行うことを特徴とする請求項2から
請求項6のいずれか一つに記載のパターン照合装置。 - 【請求項8】 前記変形推定手段は、 前記検査図形の全体の変形を推定した後、 当該特徴点対毎に、近傍の前記特徴点対の情報を参照す
ることにより、各前記特徴点対の近傍における変形を推
定し補正することを特徴とする請求項2から請求項6の
いずれか一つに記載のパターン照合装置。 - 【請求項9】 前記変形モデルとして弾性変形を用い、 変形の大きさを示すデータとして弾性エネルギーを用い
ることを特徴とする請求項2から請求項8のいずれか一
つに記載のパターン照合装置。 - 【請求項10】 前記検査図形及び前記モデル図形とし
て、指紋画像及び掌紋画像の少なくともいずれか一方を
用いることを特徴とする請求項9に記載のパターン照合
装置。 - 【請求項11】 検査図形を比較元の図形であるモデル
図形と比較し変形を補正する変形補正装置において、 検査対象の図形である検査図形に生じている変形を、当
該検査図形と比較元の図形であるモデル図形とのそれぞ
れにおける図形内における特徴を示す特徴点の情報に基
づいて推定する変形推定手段と、 前記変形推定手段により推定された変形の情報に基づい
て、当該検査図形を補正する変形補正手段を備えること
を特徴とする変形補正装置。 - 【請求項12】 前記変形推定手段は、 前記検査図形と前記モデル図形とのそれぞれの、前記特
徴点における特徴の度合いを示す特徴量の差が小さいも
のを対応づけて対とし、各前記特徴点の対応を最もよく
一致させる前記検査図の変形の内容を判定することによ
り、当該検査図形に生じている変形を推定することを特
徴とする請求項11に記載の変形補正装置。 - 【請求項13】 前記変形推定手段は、 前記検査図形と前記モデル図形とのそれぞれにおける、
各前記特徴点の対応を最もよく一致させる前記検査図の
変形の内容を、予め用意された画像データの変形の内容
を示す複数の変形モデルから選択することを特徴とする
請求項12に記載の変形補正装置。 - 【請求項14】 前記変形推定手段は、 個々のパラメータに指定される値に対応させて、画像デ
ータの変形の内容を示す変形モデルの情報を備え、 前記検査図形と前記モデル図形とのそれぞれにおける、
各前記特徴点の対応を最もよく一致させる前記変形モデ
ルを与える各前記パラメータの値を求めることにより、
前記検査図の変形の内容を判定することを特徴とする請
求項12に記載の変形補正装置。 - 【請求項15】 前記変形推定手段は、 推定された変形を施した場合に、所定の閾値以上位置が
離れてしまう前記特徴点対を除いて、残った特徴点対の
みを用いて変形を推定し直すことを特徴とする請求項1
2から請求項14のいずれか一つに記載の変形補正装
置。 - 【請求項16】 前記変形推定手段は、 推定された変形の大きさが所定の閾値より大きい場合に
は、当該変形モデルを変更し、再度変形を推定すること
を特徴とする請求項12から請求項15のいずれか一つ
に記載の変形補正装置。 - 【請求項17】 前記変形推定手段は、 前記検査図形の全体の変形を推定した後、 当該検査図形を小領域に分割し、前記小領域毎における
変形の内容の推定を行うことを特徴とする請求項12か
ら請求項16のいずれか一つに記載の変形補正装置。 - 【請求項18】 前記変形推定手段は、 前記検査図形の全体の変形を推定した後、 当該特徴点対毎に、近傍の前記特徴点対の情報を参照す
ることにより、各前記特徴点対の近傍における変形を推
定し補正することを特徴とする請求項12から請求項1
6のいずれか一つに記載の変形補正装置。 - 【請求項19】 前記変形モデルとして弾性変形を用
い、 変形の大きさを示すデータとして弾性エネルギーを用い
ることを特徴とする請求項12から請求項18のいずれ
か一つに記載の変形補正装置。 - 【請求項20】 前記検査図形及び前記モデル図形とし
て、指紋画像及び掌紋画像の少なくともいずれか一方を
用いることを特徴とする請求項19に記載の変形補正装
置。 - 【請求項21】 検査図形を比較元の図形であるモデル
図形と比較し照合するパターン照合方法において、 検査対象の図形である検査図形に生じている変形を、当
該検査図形と比較元の図形であるモデル図形とのそれぞ
れにおける図形内における特徴を示す特徴点の情報に基
づいて推定する変形推定ステップと、 前記推定された変形の情報に基づいて、当該検査図形を
補正する変形補正ステップとを備えることを特徴とする
パターン照合方法。 - 【請求項22】 前記変形推定ステップは、 前記検査図形と前記モデル図形とのそれぞれの、前記特
徴点における特徴の度合いを示す特徴量の差が小さいも
のを対応づけて対とし、各前記特徴点の対応を最もよく
一致させる前記検査図の変形の内容を判定することによ
り、当該検査図形に生じている変形を推定することを特
徴とする請求項21に記載のパターン照合方法。 - 【請求項23】 前記変形推定ステップは、 前記検査図形と前記モデル図形とのそれぞれにおける、
各前記特徴点の対応を最もよく一致させる前記検査図の
変形の内容を、予め用意された画像データの変形の内容
を示す複数の変形モデルから選択することを特徴とする
請求項22に記載のパターン照合方法。 - 【請求項24】 前記変形推定ステップは、 個々のパラメータに指定される値に対応する、画像デー
タの変形の内容を示す変形モデルの情報に基づいて、 前記検査図形と前記モデル図形とのそれぞれにおける、
各前記特徴点の対応を最もよく一致させる前記変形モデ
ルを与える各前記パラメータの値を求めることにより、
前記検査図の変形の内容を判定することを特徴とする請
求項22に記載のパターン照合方法。 - 【請求項25】 前記変形推定ステップは、 推定された変形を施した場合に、所定の閾値以上位置が
離れてしまう前記特徴点対を除いて、残った特徴点対の
みを用いて変形を推定し直すことを特徴とする請求項2
2から請求項24のいずれか一つに記載のパターン照合
方法。 - 【請求項26】 前記変形推定ステップは、 推定された変形の大きさが所定の閾値より大きい場合に
は、当該変形モデルを変更し、再度変形を推定すること
を特徴とする請求項22から請求項25のいずれか一つ
に記載のパターン照合方法。 - 【請求項27】 前記変形推定ステップは、 前記検査図形の全体の変形を推定した後、 当該検査図形を小領域に分割し、前記小領域毎における
変形の内容の推定を行うことを特徴とする請求項22か
ら請求項26のいずれか一つに記載のパターン照合方
法。 - 【請求項28】 前記変形推定ステップは、 前記検査図形の全体の変形を推定した後、 当該特徴点対毎に、近傍の前記特徴点対の情報を参照す
ることにより、各前記特徴点対の近傍における変形を推
定し補正することを特徴とする請求項22から請求項2
6のいずれか一つに記載のパターン照合方法。 - 【請求項29】 前記変形モデルとして弾性変形を用
い、 変形の大きさを示すデータとして弾性エネルギーを用い
ることを特徴とする請求項22から請求項28のいずれ
か一つに記載のパターン照合方法。 - 【請求項30】 前記検査図形及び前記モデル図形とし
て、指紋画像及び掌紋画像の少なくともいずれか一方を
用いることを特徴とする請求項29に記載のパターン照
合方法。 - 【請求項31】 コンピュータを制御することにより、
検査図形を比較元の図形であるモデル図形と比較し照合
するパターン照合プログラムにおいて、 検査対象の図形である検査図形に生じている変形を、当
該検査図形と比較元の図形であるモデル図形とのそれぞ
れにおける図形内における特徴を示す特徴点の情報に基
づいて推定する変形推定処理と、 前記推定された変形の情報に基づいて、当該検査図形を
補正する変形補正処理とを実行させることを特徴とする
パターン照合プログラム。 - 【請求項32】 前記変形推定処理においては、 前記検査図形と前記モデル図形とのそれぞれの、前記特
徴点における特徴の度合いを示す特徴量の差が小さいも
のを対応づけて対とし、各前記特徴点の対応を最もよく
一致させる前記検査図の変形の内容を判定することによ
り、当該検査図形に生じている変形を推定する処理を実
行させることを特徴とする請求項31に記載のパターン
照合プログラム。 - 【請求項33】 前記変形推定処理においては、 前記検査図形と前記モデル図形とのそれぞれにおける、
各前記特徴点の対応を最もよく一致させる前記検査図の
変形の内容を、予め用意された画像データの変形の内容
を示す複数の変形モデルから選択する処理を実行させる
ことを特徴とする請求項32に記載のパターン照合プロ
グラム。 - 【請求項34】 前記変形推定処理においては、 個々のパラメータに指定される値に対応する、画像デー
タの変形の内容を示す変形モデルの情報に基づいて、 前記検査図形と前記モデル図形とのそれぞれにおける、
各前記特徴点の対応を最もよく一致させる前記変形モデ
ルを与える各前記パラメータの値を求めることにより、
前記検査図の変形の内容を判定する処理を実行させるこ
とを特徴とする請求項32に記載のパターン照合プログ
ラム。 - 【請求項35】 前記変形推定処理においては、 推定された変形を施した場合に、所定の閾値以上位置が
離れてしまう前記特徴点対を除いて、残った特徴点対の
みを用いて変形を推定し直す処理を実行させることを特
徴とする請求項32から請求項34のいずれか一つに記
載のパターン照合プログラム。 - 【請求項36】 前記変形推定処理においては、 推定された変形の大きさが所定の閾値より大きい場合に
は、当該変形モデルを変更し、再度変形を推定する処理
を実行させることを特徴とする請求項32から請求項3
5のいずれか一つに記載のパターン照合プログラム。 - 【請求項37】 前記変形推定処理においては、 前記検査図形の全体の変形を推定した後、 当該検査図形を小領域に分割し、前記小領域毎における
変形の内容の推定を行う処理を実行させることを特徴と
する請求項32から請求項36のいずれか一つに記載の
パターン照合プログラム。 - 【請求項38】 前記変形推定処理においては、 前記検査図形の全体の変形を推定した後、 当該特徴点対毎に、近傍の前記特徴点対の情報を参照す
ることにより、各前記特徴点対の近傍における変形を推
定し補正する処理を実行させることを特徴とする請求項
32から請求項36のいずれか一つに記載のパターン照
合プログラム。 - 【請求項39】 前記変形モデルとして弾性変形を用
い、 変形の大きさを示すデータとして弾性エネルギーを用い
ることを特徴とする請求項32から請求項38のいずれ
か一つに記載のパターン照合プログラム。 - 【請求項40】 前記検査図形及び前記モデル図形とし
て、指紋画像及び掌紋画像の少なくともいずれか一方を
用いることを特徴とする請求項39に記載のパターン照
合プログラム。 - 【請求項41】 検査図形を比較元の図形であるモデル
図形と比較し変形を補正する変形補正方法において、 検査対象の図形である検査図形に生じている変形を、当
該検査図形と比較元の図形であるモデル図形とのそれぞ
れにおける図形内における特徴を示す特徴点の情報に基
づいて推定する変形推定ステップと、 前記推定された変形の情報に基づいて、当該検査図形を
補正する変形補正ステップを備えることを特徴とする変
形補正方法。 - 【請求項42】 前記変形推定ステップは、 前記検査図形と前記モデル図形とのそれぞれの、前記特
徴点における特徴の度合いを示す特徴量の差が小さいも
のを対応づけて対とし、各前記特徴点の対応を最もよく
一致させる前記検査図の変形の内容を判定することによ
り、当該検査図形に生じている変形を推定することを特
徴とする請求項41に記載の変形補正方法。 - 【請求項43】 前記変形推定ステップは、 前記検査図形と前記モデル図形とのそれぞれにおける、
各前記特徴点の対応を最もよく一致させる前記検査図の
変形の内容を、予め用意された画像データの変形の内容
を示す複数の変形モデルから選択することを特徴とする
請求項42に記載の変形補正方法。 - 【請求項44】 前記変形推定ステップは、 個々のパラメータに指定される値に対応する、画像デー
タの変形の内容を示す変形モデルの情報に基づいて、 前記検査図形と前記モデル図形とのそれぞれにおける、
各前記特徴点の対応を最もよく一致させる前記変形モデ
ルを与える各前記パラメータの値を求めることにより、
前記検査図の変形の内容を判定することを特徴とする請
求項42に記載の変形補正方法。 - 【請求項45】 前記変形推定ステップは、 推定された変形を施した場合に、所定の閾値以上位置が
離れてしまう前記特徴点対を除いて、残った特徴点対の
みを用いて変形を推定し直すことを特徴とする請求項4
2から請求項44のいずれか一つに記載の変形補正方
法。 - 【請求項46】 前記変形推定ステップは、 推定された変形の大きさが所定の閾値より大きい場合に
は、当該変形モデルを変更し、再度変形を推定すること
を特徴とする請求項42から請求項45のいずれか一つ
に記載の変形補正方法。 - 【請求項47】 前記変形推定ステップは、 前記検査図形の全体の変形を推定した後、 当該検査図形を小領域に分割し、前記小領域毎における
変形の内容の推定を行うことを特徴とする請求項42か
ら請求項46のいずれか一つに記載の変形補正方法。 - 【請求項48】 前記変形推定ステップは、 前記検査図形の全体の変形を推定した後、 当該特徴点対毎に、近傍の前記特徴点対の情報を参照す
ることにより、各前記特徴点対の近傍における変形を推
定し補正することを特徴とする請求項42から請求項4
6のいずれか一つに記載の変形補正方法。 - 【請求項49】 前記変形モデルとして弾性変形を用
い、 変形の大きさを示すデータとして弾性エネルギーを用い
ることを特徴とする請求項42から請求項48のいずれ
か一つに記載の変形補正方法。 - 【請求項50】 前記検査図形及び前記モデル図形とし
て、指紋画像及び掌紋画像の少なくともいずれか一方を
用いることを特徴とする請求項49に記載の変形補正方
法。 - 【請求項51】 コンピュータを制御することにより、
検査図形を比較元の図形であるモデル図形と比較し変形
を補正する変形補正プログラムにおいて、 検査対象の図形である検査図形に生じている変形を、当
該検査図形と比較元の図形であるモデル図形とのそれぞ
れにおける図形内における特徴を示す特徴点の情報に基
づいて推定する変形推定処理と、 前記推定された変形の情報に基づいて、当該検査図形を
補正する変形補正処理を備えることを特徴とする変形補
正プログラム。 - 【請求項52】 前記変形推定処理においては、 前記検査図形と前記モデル図形とのそれぞれの、前記特
徴点における特徴の度合いを示す特徴量の差が小さいも
のを対応づけて対とし、各前記特徴点の対応を最もよく
一致させる前記検査図の変形の内容を判定することによ
り、当該検査図形に生じている変形を推定する処理を実
行させることを特徴とする請求項51に記載の変形補正
プログラム。 - 【請求項53】 前記変形推定処理においては、 前記検査図形と前記モデル図形とのそれぞれにおける、
各前記特徴点の対応を最もよく一致させる前記検査図の
変形の内容を、予め用意された画像データの変形の内容
を示す複数の変形モデルから選択する処理を実行させる
ことを特徴とする請求項52に記載の変形補正プログラ
ム。 - 【請求項54】 前記変形推定処理においては、 個々のパラメータに指定される値に対応する、画像デー
タの変形の内容を示す変形モデルの情報に基づいて、 前記検査図形と前記モデル図形とのそれぞれにおける、
各前記特徴点の対応を最もよく一致させる前記変形モデ
ルを与える各前記パラメータの値を求めることにより、
前記検査図の変形の内容を判定する処理を実行させるこ
とを特徴とする請求項52に記載の変形補正プログラ
ム。 - 【請求項55】 前記変形推定処理においては、 推定された変形を施した場合に、所定の閾値以上位置が
離れてしまう前記特徴点対を除いて、残った特徴点対の
みを用いて変形を推定し直す処理を実行させることを特
徴とする請求項52から請求項54のいずれか一つに記
載の変形補正プログラム。 - 【請求項56】 前記変形推定処理においては、 推定された変形の大きさが所定の閾値より大きい場合に
は、当該変形モデルを変更し、再度変形を推定する処理
を実行させることを特徴とする請求項52から請求項5
5のいずれか一つに記載の変形補正プログラム。 - 【請求項57】 前記変形推定処理においては、 前記検査図形の全体の変形を推定した後、 当該検査図形を小領域に分割し、前記小領域毎における
変形の内容の推定を行う処理を実行させることを特徴と
する請求項52から請求項56のいずれか一つに記載の
変形補正プログラム。 - 【請求項58】 前記変形推定処理においては、 前記検査図形の全体の変形を推定した後、 当該特徴点対毎に、近傍の前記特徴点対の情報を参照す
ることにより、各前記特徴点対の近傍における変形を推
定し補正する処理を実行させることを特徴とする請求項
52から請求項56のいずれか一つに記載の変形補正プ
ログラム。 - 【請求項59】 前記変形モデルとして弾性変形を用
い、 変形の大きさを示すデータとして弾性エネルギーを用い
ることを特徴とする請求項52から請求項58のいずれ
か一つに記載の変形補正プログラム。 - 【請求項60】 前記検査図形及び前記モデル図形とし
て、指紋画像及び掌紋画像の少なくともいずれか一方を
用いることを特徴とする請求項59に記載の変形補正プ
ログラム。
Priority Applications (9)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001096223A JP2002298141A (ja) | 2001-03-29 | 2001-03-29 | パターン照合装置とそのパターン照合方法、及びパターン照合プログラム |
US10/106,444 US7027624B2 (en) | 2001-03-29 | 2002-03-27 | Pattern collation device and pattern collating method thereof, and pattern collation program |
AU27741/02A AU785140B2 (en) | 2001-03-29 | 2002-03-27 | Pattern collation device and pattern collating method thereof, and pattern collation program |
EP02007179A EP1248226B1 (en) | 2001-03-29 | 2002-03-28 | Pattern collation device and pattern collating method thereof, and pattern collation program |
DE60239971T DE60239971D1 (de) | 2001-03-29 | 2002-03-28 | Gerät, Verfahren und Programm zum Vergleichen von Mustern |
CA002379452A CA2379452C (en) | 2001-03-29 | 2002-03-28 | Pattern collation device and pattern collating method thereof, and pattern collation program |
EP07020623A EP1881444B1 (en) | 2001-03-29 | 2002-03-28 | Pattern collation device and pattern collating method thereof, and pattern collating program |
CNB021084149A CN1276389C (zh) | 2001-03-29 | 2002-03-29 | 图形对照装置及其图形对照方法 |
KR10-2002-0017391A KR100479777B1 (ko) | 2001-03-29 | 2002-03-29 | 패턴 조합 장치와 그 패턴 조합 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001096223A JP2002298141A (ja) | 2001-03-29 | 2001-03-29 | パターン照合装置とそのパターン照合方法、及びパターン照合プログラム |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005272985A Division JP4304722B2 (ja) | 2005-09-20 | 2005-09-20 | 変形推定方法、変形推定装置及び変形推定プログラム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002298141A true JP2002298141A (ja) | 2002-10-11 |
Family
ID=18950165
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001096223A Pending JP2002298141A (ja) | 2001-03-29 | 2001-03-29 | パターン照合装置とそのパターン照合方法、及びパターン照合プログラム |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7027624B2 (ja) |
EP (2) | EP1248226B1 (ja) |
JP (1) | JP2002298141A (ja) |
KR (1) | KR100479777B1 (ja) |
CN (1) | CN1276389C (ja) |
AU (1) | AU785140B2 (ja) |
CA (1) | CA2379452C (ja) |
DE (1) | DE60239971D1 (ja) |
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-
2002
- 2002-03-27 US US10/106,444 patent/US7027624B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-03-27 AU AU27741/02A patent/AU785140B2/en not_active Ceased
- 2002-03-28 DE DE60239971T patent/DE60239971D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2002-03-28 EP EP02007179A patent/EP1248226B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-03-28 EP EP07020623A patent/EP1881444B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-03-28 CA CA002379452A patent/CA2379452C/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-03-29 KR KR10-2002-0017391A patent/KR100479777B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2002-03-29 CN CNB021084149A patent/CN1276389C/zh not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1881444A1 (en) | 2008-01-23 |
CA2379452A1 (en) | 2002-09-29 |
AU2774102A (en) | 2002-10-03 |
EP1248226A3 (en) | 2005-10-12 |
AU785140B2 (en) | 2006-10-05 |
US7027624B2 (en) | 2006-04-11 |
EP1248226A2 (en) | 2002-10-09 |
CA2379452C (en) | 2006-09-19 |
KR100479777B1 (ko) | 2005-03-30 |
EP1248226B1 (en) | 2011-11-23 |
KR20020077257A (ko) | 2002-10-11 |
CN1379364A (zh) | 2002-11-13 |
CN1276389C (zh) | 2006-09-20 |
US20020181782A1 (en) | 2002-12-05 |
DE60239971D1 (de) | 2011-06-16 |
EP1881444B1 (en) | 2011-05-04 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050705 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050719 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20051018 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20051117 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20051117 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20051228 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20060127 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20070117 |