JP2002297683A - 半導体集積回路のレイアウト設計方法 - Google Patents

半導体集積回路のレイアウト設計方法

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JP2002297683A
JP2002297683A JP2001104509A JP2001104509A JP2002297683A JP 2002297683 A JP2002297683 A JP 2002297683A JP 2001104509 A JP2001104509 A JP 2001104509A JP 2001104509 A JP2001104509 A JP 2001104509A JP 2002297683 A JP2002297683 A JP 2002297683A
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net
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timing
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JP2001104509A
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Koichi Sato
功一 佐藤
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 従来の自動配線修正方法では、修正する配線
層を制限し、かつタイミングや配線経路の変更を最小限
にした配線修正は困難であり、また、人手で配線修正を
行う工数が大きくなり、設計期間や開発コストの増大を
招くという問題があった。 【解決手段】 修正前のネットリストと修正後のネット
リストの差分を取り修正または追加するネットを認識
し、修正前のレイアウトで修正するネットが存在する範
囲を配線修正領域とし、配線修正領域に存在するネット
に対しタイミング差分値と修正または追加されたネット
にタイミング制約を与える。配線経路のタイミングを検
証しながら、最上層の配線から配線経路を変更し修正ネ
ットまたは追加ネットの配線を行うことで、修正する配
線層を制限し、かつタイミングや配線経路の変更を最小
限にした配線修正を可能とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路の
レイアウト設計方法にかかわり、特には、レイアウトの
修正方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体集積回路のレイアウト設計
方法におけるレイアウトの修正方法として、特開平04
−238579号公報(レイアウト設計変更方法)や特
願平10-188696号(半導体装置のマスク設計方
法及び半導体装置)等がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の方法において
は、配線修正を行う際の配線経路や配線層の変更のとき
に、既存のレイアウトを利用することと、修正する配線
層の限定を行うことは可能である。しかし、従来におい
ては、配線修正によるタイミングの影響までは考慮して
いない。
【0004】図12は、図8に示す既存のレイアウトを
単に再利用した場合の配線修正の結果を示す。
【0005】以下、配線修正の手法として、入力端子D
からネットN1に対して最短配線経路で配線を行った場
合について考察する。
【0006】図8は配線修正を行うべき既存のレイアウ
トを示している。第1の配線層M1における配線を白抜
きで示し、第2の配線層M2における配線はハッチング
を付けて示す。ここでは第2の配線層M2は最上層のレ
イヤーとなっている。四角形の中に×印を付した部分が
配線層間を接続するコンタクトである。例えば、ネット
N1についてみると、第1の配線層M1において端子A
から配線L11が伸びてコンタクトP1に至り、第2の
配線層M2においてコンタクトP1から配線L12が伸
びて端子Bに至り、再び第1の配線層M1において端子
Bから配線L13が延在している。第1の配線層M1に
おける横方向の配線L11は第2の配線層M2における
縦方向のネットN2の下に位置している。すなわち、第
1の配線層M1においては横方向の配線が優先され、第
2の配線層M2においては縦方向の配線が優先されるよ
うになっている。
【0007】いま、図8に示す既存にレイアウトを基に
して、Dを入力端子とし、この入力端子DからネットN
1に対して、もし、第1の配線層M1において最短配線
経路で配線を行うことにすると、実際には、ネットN1
とネットN2が配線のショートを起こすようになってし
まう。すなわち、第1の配線層M1において、ネットN
1と入力端子DとをネットN2が分断しているからであ
る(配線L21,L23)。
【0008】このような状況において、もし、ネットN
1を修正しないとする場合には、ネットN2の配線経路
を修正する必要がある。ネットN2の配線経路を修正し
た場合の一例を図12に示す。第1の配線層M1におい
てネットN1の配線L11と入力端子Dとの間の領域か
らネットN2を除くように、ネットN2を迂回的に移動
させている。
【0009】すなわち、ネットN2におけるコンタクト
P21を介しての配線L21と配線L22との接続およ
び配線L21と配線L23との接続に代えて、新たにコ
ンタクトP23,P24,P25,P26を設け、新たな
配線L24,L25,L26,L27を介しての接続に変
更している。そのようにして第1の配線層M1上に空け
られた領域において、入力端子Dを配線L14を介して
ネットN1の配線L11に接続している。
【0010】縦横の破線は配線グリッドを示すが、単位
の配線グリッドの対角交点にコンタクトを隣合せて配置
することは可能である。しかし、上下左右に隣合う交点
でコンタクトを隣合せて配置することは不可能であり、
その場合はスペーシングエラーとなる。このような条件
がデザインルールとなっている。
【0011】上記の例の場合、ネットN2とネットN4
との間の狭い領域に配置した新たなコンタクトP23が
ネットN4のコンタクトP41に対してスペーシングエ
ラーを起こすようになるため、ネットN4のコンタクト
P41の位置と配線経路を図8の状態から図12の状態
へと移動させることで配線エラーを修正している。
【0012】以上のように、単に既存のレイアウトを再
利用して配線修正を行う従来の方法の場合には、まず、
ネットN2,N4の配線経路を修正する必要があり、配
線修正前のレイアウトと配線修正後のレイアウトの差分
が非常に大きくなる可能性が高い。
【0013】修正前のチップの信頼性テストや品質検査
が終わっている場合、修正後のレイアウトを最小限の変
更で修正すると、信頼性テストや品質検査に必要な期間
や工数については、これを削減できる可能性が高い。
【0014】しかしながら、配線修正前のレイアウトと
配線修正後のレイアウトの差分が非常に大きい場合に
は、信頼性テストや品質検査を再度行う必要があり、チ
ップの開発期間と開発コストの増大を招く可能性が高く
なる。
【0015】例えば、図12のように修正した場合に
は、修正マスクについて、3枚のマスクを修正する必要
がある(配線交点のQ1,Q2,Q3を参照)。また、1
週間程度の信頼性テストやシミュレーターやテスター等
での動作の再確認が必要となる。そのため、マスク費用
が増大化し、信頼性テスト期間が非常に長くなってしま
う。
【0016】タイミングに関しても、これを考慮してい
ないため、配線修正後にタイミングエラーが発生する
と、タイミングエラーを修正(フィックス)させるため
の設計期間と設計工数が必要となる可能性が高い。
【0017】レイアウトの修正の別の方法を図13に示
す。これは、修正する配線層を限定した場合のレイアウ
トの修正結果を示す。最上層の配線である第2の配線層
M2のみを変更して配線修正を行うため、入力端子Dか
ら入力端子Aまでを第2の配線層M2における配線L1
5で接続している。ネットN1は第1の配線層M1にあ
るが、入力端子Dからは一旦、コンタクトを介して第2
の配線層M2に移行した上でネットN1に接続してい
る。
【0018】しかしながら、ネットN5がネットのタイ
ミング制約値からネットの遅延値が等しく、配線修正に
よる配線遅延の増加が許されない場合は(図8の101
および102は配線禁止領域を示す)、図13に示すよ
うに入力端子Dから入力端子Aを接続する第2の配線層
M2における配線L15が、ネットN5の第2の配線層
M2に近接することで、ネットN5の配線間の配線容量
が増加してしまい、その結果として、タイミングエラー
を引き起こす可能性がある。
【0019】そのため、配線層を制限するだけで、タイ
ミングについては、これを考慮していない従来の配線修
正の方法では、配線修正後にタイミングエラーが発生す
るおそれがあり、しかも、そのタイミングエラーを修正
することが必要になり、レイアウト設計期間と開発コス
トの大幅な増大を招くおそれがある。
【0020】
【課題を解決するための手段】半導体集積回路のレイア
ウト設計方法についての本発明は、次のような手段を講
じることにより、上記の課題を解決するものである。
【0021】本発明による半導体集積回路のレイアウト
設計方法は、次のような各ステップを順次に実行するも
のである。すなわち、所要のデータの入力を行うデータ
入力ステップと、修正前のネットリストと修正後のネッ
トリストの差分を取り修正ネットまたは追加ネットを認
識する認識ステップと、修正前のレイアウトでの修正ネ
ットが存在する範囲を配線修正領域とする配線修正領域
定義ステップと、前記配線修正領域に存在するネットに
対しタイミング差分値を与えるとともに前記修正ネット
または追加ネットにタイミング制約値を与えるタイミン
グ差分・制約ステップと、タイミングを検証しながら配
線経路を変更し前記修正ネットまたは追加ネットの配線
を行うタイミング検証・配線ステップと、配線が収束し
たかどうかを判断する収束判定ステップとである。
【0022】認識ステップにおいて修正前のネットリス
トと修正後のネットリストの差分を取った上で修正ネッ
トまたは追加ネットを認識することは、修正の状況を予
備的に解析し把握することである。配線修正領域定義ス
テップにおいて修正前のレイアウトでの修正ネットが存
在する範囲を配線修正領域と定義することにより、修正
対象領域を制限している。タイミング差分・制約ステッ
プにおいて配線修正領域に存在するネットに対しタイミ
ング差分値を与えるとともに修正ネットまたは追加ネッ
トにタイミング制約値を与えるとともに、タイミング検
証・配線ステップにおいてタイミングを検証しながら配
線経路を変更し、修正ネットまたは追加ネットの配線を
行うことは、前記の解析に基づいた合理的で無駄のない
配線修正となっている。なお、収束判定ステップにおい
て配線が収束したかどうかを判定したときに、収束して
いない場合の処理については、直ちに処理を停止しても
よいし、後述のように配線修正領域の拡張を行って、繰
り返しの処理を行うのでもよい。
【0023】以上のようなステップの組み合わせからな
る本発明によれば、タイミング違反を起こすことが充分
に少なくなり、設計の繰り返しによるレイアウト設計・
タイミング検証等の設計工数や設計期間の増大を抑え、
設計期間の短縮を図るとともに設計コストを削減するこ
とができる。
【0024】好ましい形態として、前記の収束判定ステ
ップで配線が収束していないときは、その次のステップ
として、前記配線修正領域の拡張を行った上で前記タイ
ミング差分・制約ステップに戻るステップをさらに含む
ようにすることがある。候補を次第に絞り込んでゆくこ
とにより、高精度な修正が可能となる。
【0025】また、好ましい形態として、前記タイミン
グ検証・配線ステップは、前記タイミング差分値の小さ
いネットの配線経路を変更しないよう配線を固定した上
で実行するとよい。タイミングエラーの発生を極力抑制
することができる。
【0026】また、好ましい形態として、前記タイミン
グ検証・配線ステップは、前記タイミング差分値が正の
値の絶対値の大きいネットから優先的に実行するとよ
い。これによっても、タイミングエラーの発生を極力抑
制することができる。
【0027】また、好ましい形態として、前記タイミン
グ検証・配線ステップは、最上層の配線から優先的に実
行するとよい。最上層の配線から優先的に実行すること
は、修正上の余裕が少しでも大きく、かつマスクの修正
枚数を最小にしマスク修正コストを最小にできるという
ことであり、合理的な形態である。
【0028】また、好ましい形態として、前記タイミン
グ検証・配線ステップは、前記タイミング差分値の小さ
いネットの周辺に他のネットの近接配線を防止する配線
禁止領域を設定した上で実行することがある。配線と配
線が接近しすぎることによる配線容量の増大に伴う遅延
値増加ひいてはタイミング違反を未然に回避することが
できる。
【0029】また、好ましい形態として、修正前のレイ
アウトと修正後のレイアウトの差分を出力するレイアウ
ト差分出力ステップと、修正されたネットの容量値と抵
抗値を出力する容量値・抵抗値出力ステップをさらに含
むようにするとよい。例えば、修正されたネットの差分
を図形情報として出力するなど、配線修正にかかわる情
報を作業者に提供することを通じて、設計の繰り返しに
よるレイアウト設計、タイミング検証等の設計工数、設
計期間の増大を抑え、設計期間短縮や設計コストを削減
することが可能となる。
【0030】
【発明の実施の形態】以下、本発明にかかわる半導体集
積回路のレイアウト設計方法の具体的な実施の形態を図
面に基づいて説明する。図1は本発明の実施の形態の半
導体集積回路のレイアウト設計方法の処理手順を示すフ
ローチャートである。
【0031】(1)データ入力ステップS1 データ入力ステップS1において、所要のデータ、すな
わち、修正前のネットリストと修正前の半導体集積回路
のレイアウトと、修正前のタイミング検証結果から得ら
れた各ネットのタイミング制約値と、各ネットの遅延値
と、各ネットの前記タイミング制約値と各ネットの前記
遅延値の差であるタイミング差分値(slack値)と、修
正後のネットリストと、修正ネットまたは追加ネットの
タイミング制約と、全ネットのホールドタイム制約と、
全配線の最小幅と最小間隔とシート抵抗とシート容量と
サイドカップリング容量と全コンタクトホールの最小幅
と最小間隔とコンタクト抵抗値等のテクノロジ情報など
の所要のデータを入力する。
【0032】ここでタイミング差分値は、各ネットのタ
イミング制約値から各ネットの遅延値を引いたものとし
て定義する。すなわち、 〔タイミング差分値〕=〔タイミング制約値〕−〔遅延
値〕 である。そして、タイミング差分値が負の値のネット
は、タイミングエラーを起こしているものとする。
【0033】例えば、あるネットのタイミング制約値が
10であり、遅延値が9.5であった場合のタイミング
差分値(slack値)は0.5となる。
【0034】タイミング差分値が他のネットのタイミン
グ差分値に対して十分に大きな値を有するネットについ
ては、タイミングを考慮する必要のないネットであると
する。
【0035】ここでは、タイミングを考慮する必要のな
いネットのタイミング差分値は、有限な値として十分に
大きい例えば10,000であるとする。
【0036】(2)認識ステップS2 図6は修正前の端子A,B,Cを接続するネットN1を
模式的に示したものである。図7はネットN1を、この
ネットN1に対して新たに端子Dを接続するように修正
したものを模式的に示したものである。ここで、端子
A,B,Dは入力端子、端子Cは出力端子であるとする。
【0037】修正前のネットリストと修正後のネットリ
ストの差分を取った上で修正ネットまたは追加ネットを
認識する認識ステップS2において、修正前のネットリ
ストと修正後のネットリストの比較を行い、接続を修正
する修正ネットと、新たに追加する追加ネットを認識す
る。図6の場合、認識ステップS2では、ネットN1に
入力端子Dが追加されたことを認識する。
【0038】(3)配線修正領域定義ステップS3 修正前のレイアウトでの修正ネットが存在する範囲を配
線修正領域とする配線修正領域定義ステップS3におい
て、修正ネットまたは追加ネットが、修正前のレイアウ
トのどの範囲に存在するかを探索し、修正ネットまたは
追加ネットを囲む最小矩形を配線修正領域とする。
【0039】図7の場合には、レイアウトでネットN1
と入力端子Dの位置を探索し、ネットN1と端子A,
B,C,Dを囲む最小矩形を、配線を修正するための配
線修正領域100とする。
【0040】(4)タイミング差分・制約ステップS4 配線修正領域100に存在するネットに対してタイミン
グ差分値(slack値)を与えるとともに、修正ネットま
たは追加ネットにタイミング制約値を与えるタイミング
差分・制約ステップS4において、配線修正領域100
に存在するネットに対してタイミング差分値を与える。
そして、修正ネットについては、修正されたタイミング
制約値と修正前の遅延値との差をタイミング差分値とし
て与える。また、追加ネットについては、タイミング制
約値をタイミング差分値として与える。
【0041】図8は配線修正を行うべき既存のレイアウ
トを示す。配線修正領域100の第1の配線層M1にお
ける端子A,B,Dの周辺のネットの配線を示してい
る。理解を容易にするため、レイアウトは第1の配線層
M1、第2の配線層M2の2層のメタルで配線されてい
るものとする。また、第1の配線層M1は横方向に優先
的に配線されるものとし、第2の配線層M2は縦方向に
優先的に配線されるものとする。第1の配線層M1と第
2の配線層M2との間の配線は、コンタクトのみにより
接続されるものとする。また、ここでは、第2の配線層
M2が最上層のレイヤーであるとする。
【0042】さらに、理解を容易にするため、配線は全
て格子状の配線グリッド上に存在するものとし、配線幅
は最小線幅として配線グリッド間隔の1/2とし、また
最小間隔も配線グリッドの1/2とする。
【0043】コンタクトは、配線グリッドの交点にのみ
置くことが可能であり、隣合うコンタクトについては、
対角の場合は配置可能であるが、上下左右に隣合う場合
はスペーシングエラーとする。
【0044】また、異なるネットの配線とコンタクト
は、配線が最小幅でグリッド上に配線されている場合
は、接触しない限りスペーシングエラーは起こさないも
のとする。
【0045】また、配線遅延値はプロセス毎に抵抗値、
容量値等が異なるため、ここでは、説明を簡単にするた
めに、配線グリッド1つの長さの配線遅延を0.1と
し、コンタクト1個による配線遅延値を0.1、入力端
子1個の入力遅延値を0.1とする。
【0046】配線修正領域100内にあるネットN1〜
N6のタイミング差分値(slack値)を与え、修正され
たネットN1には、修正前のタイミング差分値(slack
値)に、修正後のタイミング制約値と修正前のタイミン
グ制約値との差を加えた値を新たなタイミング差分値
(slack値)として与える。
【0047】Slack値←slack値+(修正後のタイミング
制約値−修正前のタイミング制約値) (5)タイミング検証・配線ステップS5 次に、タイミングを検証しながら配線経路を変更し修正
ネットまたは追加ネットの配線を行うタイミング検証・
配線ステップS5について説明する。このタイミング検
証・配線ステップS5には、図2、図3、図4に示すい
くつかのモードがある。いずれかのモードを選択する。
【0048】まず、図2のモードについて説明する。
【0049】タイミング差分値の小さいネットの配線経
路については、これを変更しないよう配線を固定するス
テップS5aを設け、配線を移動させるとタイミング違
反を起こす可能性が高いタイミング差分値の小さいネッ
トを配線経路や配線層を変更できないネットとする。こ
の場合のタイミング差分値は、設計者が指定することが
可能である。
【0050】ここで、ネットN2のタイミング差分値が
0.1、ネットN3のタイミング差分値が0.4、ネッ
トN4のタイミング差分値が0.8、ネットN5のタイ
ミング差分値が0、ネットN6のタイミング差分値が1
であり、ネットN1の修正前のタイミング差分値が0で
修正前のタイミング制約値が10、修正後のタイミング
制約値が11とした場合、ネットN1の新たなタイミン
グ差分値は1となる。すなわち、タイミング差分値をsl
ack値として、 slack値←slack値+(修正後のタイミング制約値−修正
前のタイミング制約値) に従って、slack値=0+(11−10)=1である。
【0051】設計者が配線経路や配線層を変更できない
ネットのタイミング差分値を0とした場合、ネットN5
が配線経路や配線層を変更できないネットとなる。
【0052】さらに、ステップS5bを設け、タイミン
グ差分値が正の値の絶対値の大きいネットから優先的に
タイミングを検証しながら配線経路を変更し修正ネット
または追加ネットの配線を行う。
【0053】配線を修正する優先順位については、タイ
ミング差分値の大きい方のネットから順につける。ネッ
トN2〜N6の場合は、ネットN6(1)、ネットN4
(0.8)、ネットN3(0.4)、ネットN2(0.
1)の順に配線経路を変更し、ネットN1の配線修正を
行う。
【0054】次に、図3のモードについて説明する。
【0055】このモードの場合、ステップS5aは図2
の場合と同様である。
【0056】タイミング差分値が正の値の絶対値の大き
いネットの最上層の配線から優先的にタイミングを検証
しながら配線経路を変更し修正ネットまたは追加ネット
の配線を行うステップS5dを設ける。このステップS
5dにおいて、タイミング差分値の大きいネットの最上
層の配線から優先的にタイミングを検証しながら配線経
路を変更し修正ネットまたは追加ネットの配線を行う。
配線経路の探索には、迷路法等を使用すれば、比較的簡
単に探索可能である。
【0057】修正を行う配線層の指定は、最下層の配線
層と最上層の配線層を設計者が指定することが可能であ
る。
【0058】図8で入力端子DからネットN1への配線
経路を探索する。入力端子Dの周辺を迷路法等で探索す
ると、最短でネットN1に接続できる配線経路は見つか
らないことが分かる。ネットN2が邪魔になっているか
らである。
【0059】そこで、最上層である第2の配線層M2に
おいて、単純に入力端子DからネットN1へ遅延値"1"
で到達可能な配線経路を探索し、探索した配線経路上に
配線経路の変更が可能なネットがあるかについて、ネッ
トN6、ネットN4、ネットN3、ネットN2の順に調
べる。なければ、順次、次の順位のネットを探索する。
あれば、それ以上の探索はしない。
【0060】図8に示す入力端子DからネットN1への
配線経路の1つである細いL形の線で示したR1の配線
経路は、ネットN3の配線経路を変更すれば配線可能で
あることが分かる。
【0061】そこで、ネットN3の第2の配線層M2の
配線経路を変更して、配線経路R1を確保できるかを調
べると、図9に示すようにネットN3の第2の配線層M
2の配線経路を変更すれば、配線経路R1が配線可能と
なる。
【0062】もう一つの配線経路として端子Aと端子D
を接続する配線経路R2がある。配線経路R2の場合、
他の配線を修正せずに配線層M2で配線可能である。
【0063】次に、図4のモードについて説明する。
【0064】このモードの場合、ステップS5aは図
2、図3の場合と同様であり、ステップS5dは図3の
場合と同様である。
【0065】タイミング差分値の小さいネットの周辺に
配線禁止領域を設定するステップS5cを設け、このス
テップS5cにおいて、配線経路や配線層を変更できな
いネットに指定した全てのネットに対して、他のネット
の配線が接近することで配線と配線の間に生じる配線容
量が増加し、遅延値が増大しタイミング違反を起こすこ
とがないように、ネットの周辺に配線禁止領域を設定す
る。
【0066】他のネットの配線が近接しても配線と配線
の間に生じる配線容量が増加しない最小間隔は、同層や
異層の配線と配線の間の配線間隔や配線幅を変化させた
複数の条件で配線のレイアウトを行い、実際の半導体製
造プロセスで製造した評価用チップの評価結果から得ら
れる。
【0067】配線禁止領域は、ネットN5の夫々の配線
と同じ配線層で、夫々の配線の周辺から他のネットの配
線が接近しても配線と配線の間に生じる配線容量が増加
しない最小間隔だけ拡張して設定を行う。
【0068】図8に示すように、ネットN5の周辺に対
して、第1の配線層M1と第2の配線層M2とにそれぞ
れ配線禁止領域を設定する。
【0069】第1の配線層M1において、ネットN5以
外の配線が通過できない配線禁止領域101の設定方法
として、他の同層の配線が近接しても配線と配線の間に
生じる配線容量が増加しない最小限の範囲で配線禁止領
域101を設定する。すなわち、例えば、最小間隔が最
小配線幅の2倍以上の場合には、ネットN5の配線が配
線されている配線グリッドから上下左右に最小配線幅の
1.5倍の距離を拡張させて配線禁止領域101を設定
する。
【0070】第2の配線層M2の配線禁止領域102も
同様である。
【0071】R2は配線禁止領域を通過する配線経路の
ため配線を行うとタイミングエラーが出る可能性が高
い。そこで、R1の経路が採用される。
【0072】(6)収束判定ステップS6 次に、配線が収束したかどうかを判定する収束判定ステ
ップS6において、レイアウト検証とタイミング検証を
行い、レイアウトのエラーとタイミングのエラーをチェ
ックする。
【0073】ネットN3の第2の配線層M2の配線長
は、配線経路修正前が3グリッド、配線経路修正後が3
グリッドであり、配線長に変化がないため、タイミング
差分値の変化は無視できる。
【0074】また、図9に示すように、配線経路R1を
第2の配線層M2において、3グリッドで配線した場合
の遅延は、 〔第2の配線層の配線遅延〕+〔第1の配線層と第2の
配線層の間のコンタクトの遅延〕+〔入力端子Dの遅
延〕=0.4+0.1+0.1=0.6 となる。
【0075】ネットN1のタイミング差分値は"1"であ
るので、遅延の増加である"0.6"を引けばタイミング
差分値が"0.4"となり、タイミング差分値が負の値と
はならないので、タイミングエラーは起こしていないこ
とが分かる。したがって、配線修正を完了してよいこと
になる。
【0076】(7)領域拡張ステップS7 レイアウト検証でエラーがあった場合は、配線修正領域
の拡張を行う領域拡張ステップS7において、配線修正
領域を拡張し、タイミング差分・制約ステップS4から
の処理を再実行する。配線修正領域を拡張する方法とし
て、配線領域やマクロセル等の入出力端子の位置を固定
して配線を行う手法では、図7に示す配線修正領域10
0の上下方向に、この配線修正領域100の縦の辺の長
さの1/2の距離を拡張し、左右方向に、この配線修正
領域100の横の辺の長さの1/2の距離を拡張する方
法がある。あるいは、予め設計者が配線修正領域を広げ
る長さや何回拡張するかを指定することも可能である。
【0077】配線領域は有限であるので、配線修正領域
を数回拡張し、半導体チップの全ての配線領域が配線修
正領域となった時点で、配線修正処理を行った後に、レ
イアウトルールエラーやタイミングエラーが発生した場
合でも、これ以上の拡張は行われないので、設計者の判
断で、配線を収束させる。修正を行う配線層について最
下層の配線層と最上層の指定の変更や、タイミング制約
値の変更や、配線修正領域の変更を行うため、状況に応
じて、配線修正領域定義ステップS3またはタイミング
差分・制約ステップS4からの処理を再実行する。
【0078】(8)データ出力ステップS8 レイアウト検証でエラーがなかった場合は、データを出
力するデータ出力ステップS8を実行する。図5に示す
ように、修正前のレイアウトと修正後のレイアウトの差
分を出力するレイアウト差分出力ステップS8aで、修
正前と修正後のレイアウトの差分の配線とコンタクトの
図形情報を出力する。
【0079】図10に、ステップS8aにより出力され
たネットN3の差分の配線とコンタクトの図形情報を示
し、図11にステップS8aにより出力されたネットN
1の差分の配線とコンタクトの図形情報を示す。
【0080】修正されたネットの容量値と抵抗値を出力
する容量値・抵抗値出力ステップS8bでは、修正ネッ
トまたは追加ネットの抵抗値と容量値をSPFフォーマ
ットで出力する(SPF: Standard Parasitic Forma
t)。また、必要であれば、修正ネットの遅延情報をS
DFフォーマットフォーマットで出力する(SDF: S
tandard Delay Format)。
【0081】修正後のレイアウトを出力するステップS
8cでは、修正後のレイアウトをGDSIIデータで出
力する(GDSII: ストリームとも呼ばれる)。ま
た、レイアウトツールが持つ内部データも、レイアウト
ツールが入力可能なフォーマットやデータベースとして
保存する。
【0082】修正後の全ネットの容量値と抵抗値を出力
するステップS8dでは、全ネットの容量値と抵抗値を
SPFフォーマットで出力する。また、必要であれば、
全ネットの遅延情報をSDFフォーマットで出力する。
【0083】
【発明の効果】以上のように、合理的なステップの組み
合わせからなる本発明によれば、タイミング違反を起こ
すことが充分に少なくなり、設計の繰り返しによるレイ
アウト設計・タイミング検証等の設計工数や設計期間の
増大を抑え、設計期間の短縮を図るとともに設計コスト
を削減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の半導体集積回路のレイア
ウト設計方法の処理手順を示すフローチャート
【図2】本発明の実施の形態の半導体集積回路のレイア
ウト設計方法におけるタイミング検証・配線ステップの
1つのモードを示すフローチャート
【図3】本発明の実施の形態の半導体集積回路のレイア
ウト設計方法におけるタイミング検証・配線ステップの
別のモードを示すフローチャート
【図4】本発明の実施の形態の半導体集積回路のレイア
ウト設計方法におけるタイミング検証・配線ステップの
さらにもう1つのモードを示すフローチャート
【図5】本発明の実施の形態の半導体集積回路のレイア
ウト設計方法におけるデータ出力ステップを示すフロー
チャート
【図6】修正前のネットの配線経路図
【図7】修正後のネットの配線経路図
【図8】配線修正を行うべき既存のレイアウトを示す配
線レイアウト図
【図9】本発明の実施の形態の半導体集積回路のレイア
ウト設計方法による修正後の配線レイアウト図
【図10】本発明の実施の形態の半導体集積回路のレイ
アウト設計方法による修正前と修正後の差分の配線レイ
アウト図
【図11】本発明の実施の形態の半導体集積回路のレイ
アウト設計方法による修正前と修正後の差分の配線レイ
アウト図
【図12】従来の方法によって図8に示す既存のレイア
ウトを単に再利用した場合の配線の結果を示す配線レイ
アウト図
【図13】従来の別の方法によって図8に示す既存のレ
イアウトを単に再利用した場合の配線の結果を示す配線
レイアウト図
【符号の説明】
A,B,D レイアウトの入力端子 C レイアウトの出力端子 N1〜N6 ネット 100 配線修正領域 101 配線禁止領域 102 配線禁止領域 S1 データ入力ステップ S2 認識ステップ S3 配線修正領域定義ステップ S4 タイミング差分・制約ステップ S5 タイミング検証・配線ステップ S6 収束判定ステップ S7 領域拡張ステップ S8 データ出力ステップ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/82 C Fターム(参考) 5B046 AA08 BA03 CA06 DA05 GA01 HA05 HA09 JA05 5F064 EE03 EE08 EE09 EE13 EE14 EE22 EE43 EE47 EE60 HH06 HH10 HH15

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所要のデータの入力を行うデータ入力ス
    テップと、修正前のネットリストと修正後のネットリス
    トの差分を取り修正ネットまたは追加ネットを認識する
    認識ステップと、修正前のレイアウトでの修正ネットが
    存在する範囲を配線修正領域とする配線修正領域定義ス
    テップと、前記配線修正領域に存在するネットに対しタ
    イミング差分値を与えるとともに前記修正ネットまたは
    追加ネットにタイミング制約値を与えるタイミング差分
    ・制約ステップと、タイミングを検証しながら配線経路
    を変更し前記修正ネットまたは追加ネットの配線を行う
    タイミング検証・配線ステップと、配線が収束したかど
    うかを判断する収束判定ステップとを含むことを特徴と
    する半導体集積回路のレイアウト設計方法。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の方法において、前記収
    束判定ステップで配線が収束していないときは、その次
    のステップとして、前記配線修正領域の拡張を行う領域
    拡張ステップを実行した上で前記タイミング差分・制約
    ステップに戻るステップをさらに含むことを特徴とする
    半導体集積回路のレイアウト設計方法。
  3. 【請求項3】 請求項1または請求項2に記載の方法に
    おいて、前記タイミング検証・配線ステップは、前記タ
    イミング差分値の小さいネットの配線経路を変更しない
    よう配線を固定した上で実行するものにしてあることを
    特徴とする半導体集積回路のレイアウト設計方法。
  4. 【請求項4】 請求項1から請求項3までのいずれかに
    記載の方法において、前記タイミング検証・配線ステッ
    プは、前記タイミング差分値が正の値の絶対値の大きい
    ネットから優先的に実行するものにしてある半導体集積
    回路のレイアウト設計方法。
  5. 【請求項5】 請求項1から請求項4までのいずれかに
    記載の方法において、前記タイミング検証・配線ステッ
    プは、最上層の配線から優先的に実行するものにしてあ
    る半導体集積回路のレイアウト設計方法。
  6. 【請求項6】 請求項1から請求項5までのいずれかに
    記載の方法において、前記タイミング検証・配線ステッ
    プは、前記タイミング差分値の小さいネットの周辺に他
    のネットの近接配線を防止する配線禁止領域を設定した
    上で実行するものにしてある半導体集積回路のレイアウ
    ト設計方法。
  7. 【請求項7】 請求項1から請求項6までのいずれかに
    記載の方法において、修正前のレイアウトと修正後のレ
    イアウトの差分を出力するレイアウト差分出力ステップ
    と、修正されたネットの容量値と抵抗値を出力する容量
    値・抵抗値出力ステップをさらに含むことを特徴とする
    半導体集積回路のレイアウト設計方法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007311501A (ja) * 2006-05-17 2007-11-29 Nec Electronics Corp 半導体装置及びその設計方法
JP2011086267A (ja) * 2009-10-19 2011-04-28 Fujitsu Ltd 設計支援プログラム、設計支援装置、および設計支援方法
JP2011253436A (ja) * 2010-06-03 2011-12-15 Shinko Electric Ind Co Ltd 配線設計装置及び配線設計方法
JP2011258975A (ja) * 2004-02-18 2011-12-22 Renesas Electronics Corp 半導体装置およびその製造方法

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