JP2002267722A - 電子機器のテスト手段情報提供システム - Google Patents
電子機器のテスト手段情報提供システムInfo
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 半導体装置や各種の電子機器のテストにどの
ようなテストシステムやテスト装置等が必要かの情報
を、テストする者の要求に応じて複種類のテストシステ
ムやテスト装置の中から最適なものの情報を選択し提供
すること。 【解決手段】 半導体装置等の電子機器のテスト手段情
報提供システムであって、前記電子機器をテストするた
めに必要なテスト手段を選択するための条件を設定する
条件設定手段２３と、前記電子機器に係るテスト要求機
能等の情報２１および各種の前記電子機器のテストに用
いられる複数種類のテスト手段２２に係る情報を格納す
るテスト手段情報格納手段２４と、前記設定された条件
に基づいて、前記テスト手段情報格納手段から前記電子
機器のテストに必要なテスト手段の情報を選択する選択
手段２５とからなることを特徴とする。
ようなテストシステムやテスト装置等が必要かの情報
を、テストする者の要求に応じて複種類のテストシステ
ムやテスト装置の中から最適なものの情報を選択し提供
すること。 【解決手段】 半導体装置等の電子機器のテスト手段情
報提供システムであって、前記電子機器をテストするた
めに必要なテスト手段を選択するための条件を設定する
条件設定手段２３と、前記電子機器に係るテスト要求機
能等の情報２１および各種の前記電子機器のテストに用
いられる複数種類のテスト手段２２に係る情報を格納す
るテスト手段情報格納手段２４と、前記設定された条件
に基づいて、前記テスト手段情報格納手段から前記電子
機器のテストに必要なテスト手段の情報を選択する選択
手段２５とからなることを特徴とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子機器のテスト
に必要なテスト手段情報提供システムに係わり、特に、
半導体装置等の電子機器をテストするために必要な最適
のテストシステムやテスト装置等を選択するために必要
な情報を提供する電子機器のテスト手段情報提供システ
ムに関する。
に必要なテスト手段情報提供システムに係わり、特に、
半導体装置等の電子機器をテストするために必要な最適
のテストシステムやテスト装置等を選択するために必要
な情報を提供する電子機器のテスト手段情報提供システ
ムに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、ＬＳＩ等の半導体装置をテストす
るためには、半導体装置の設計情報を基に半導体装置の
テストに必要な機能と性能を有するテストシステムやテ
スト装置を選択して行うという方法が採られている。そ
の選択は、通常、半導体装置の開発終了段階で、テスト
システムに熟知したテストエンジニアと半導体装置の設
計仕様を熟知した設計エンジニアとの話し合いにより行
われていた。
るためには、半導体装置の設計情報を基に半導体装置の
テストに必要な機能と性能を有するテストシステムやテ
スト装置を選択して行うという方法が採られている。そ
の選択は、通常、半導体装置の開発終了段階で、テスト
システムに熟知したテストエンジニアと半導体装置の設
計仕様を熟知した設計エンジニアとの話し合いにより行
われていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記のような
従来の方法では、自社内の既存のテストシステムやテス
ト装置を使用してどのようにテストを行うかという観点
から行われるのが一般的であり、そのため、半導体装置
を開発する際に、自社以外のものをも含む幅広い選択肢
の中から最適のテストシステムやテスト装置を選択し構
築しながら開発を進めるということができないという問
題があった。
従来の方法では、自社内の既存のテストシステムやテス
ト装置を使用してどのようにテストを行うかという観点
から行われるのが一般的であり、そのため、半導体装置
を開発する際に、自社以外のものをも含む幅広い選択肢
の中から最適のテストシステムやテスト装置を選択し構
築しながら開発を進めるということができないという問
題があった。
【０００４】本発明の目的は、上記の問題点に鑑み、半
導体装置や各種の電子機器のテストにどのようなテスト
システムやテスト装置等が必要かの情報を、テストする
者の要求に応じて複種類のテストシステムやテスト装置
の中から最適なものの情報を選択し提供することのでき
る電子機器のテスト手段情報提供システムに関する。
導体装置や各種の電子機器のテストにどのようなテスト
システムやテスト装置等が必要かの情報を、テストする
者の要求に応じて複種類のテストシステムやテスト装置
の中から最適なものの情報を選択し提供することのでき
る電子機器のテスト手段情報提供システムに関する。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の課題を
解決するために以下に示すような手段を採用した。第１
の手段は、半導体装置等の電子機器のテスト手段情報提
供システムであって、電子機器をテストするために必要
なテスト手段を選択するための条件を設定する条件設定
手段と、前記電子機器に係るテスト要求機能等の情報お
よび各種の前記電子機器のテストに用いられる複数種類
のテスト手段に係る情報を格納するテスト手段情報格納
手段と、前記設定された条件に基づいて、前記テスト手
段情報格納手段から前記電子機器のテストに必要なテス
ト手段の情報を選択する選択手段とからなることを特徴
とする。
解決するために以下に示すような手段を採用した。第１
の手段は、半導体装置等の電子機器のテスト手段情報提
供システムであって、電子機器をテストするために必要
なテスト手段を選択するための条件を設定する条件設定
手段と、前記電子機器に係るテスト要求機能等の情報お
よび各種の前記電子機器のテストに用いられる複数種類
のテスト手段に係る情報を格納するテスト手段情報格納
手段と、前記設定された条件に基づいて、前記テスト手
段情報格納手段から前記電子機器のテストに必要なテス
ト手段の情報を選択する選択手段とからなることを特徴
とする。
【０００６】第２の手段は、電子機器のテスト手段情報
提供システムであって、第１の手段における電子機器の
テスト手段情報提供システムがインターネットに接続さ
れ、リモートユーザは、インターネットに接続された情
報機器に備えられる前記と同様の条件設定手段からの設
定条件を入力することにより、前記電子機器のテスト手
段情報提供システムから電子機器のテストに必要なテス
ト手段の情報を選択し入手することが可能であることを
特徴とする。
提供システムであって、第１の手段における電子機器の
テスト手段情報提供システムがインターネットに接続さ
れ、リモートユーザは、インターネットに接続された情
報機器に備えられる前記と同様の条件設定手段からの設
定条件を入力することにより、前記電子機器のテスト手
段情報提供システムから電子機器のテストに必要なテス
ト手段の情報を選択し入手することが可能であることを
特徴とする。
【０００７】
【発明の実施の形態】本発明の一実施形態を図１ないし
図８を用いて説明する。
図８を用いて説明する。
【０００８】図１は、本実施形態に係る半導体装置等の
テスト手段情報提供システムの全体構成を示すシステム
図である。同図において、１はインターネット、２はイ
ンターネット１に接続され、リモートユーザ３等からの
要求に応じて、半導体装置のテストにどのようなテスト
システムやテスト装置等のテスト手段が必要かの情報を
選択ないし検索して提供するテスト手段情報提供サイ
ト、３はインターネット１を介してテスト手段情報提供
サイト２にアクセスして、開発しようとしているＬＳＩ
やＬＳＩとその周辺装置を含む半導体装置等のテストに
どのようなテストシステムやテスト装置等が最適かの情
報を求めるリモートユーザである。
テスト手段情報提供システムの全体構成を示すシステム
図である。同図において、１はインターネット、２はイ
ンターネット１に接続され、リモートユーザ３等からの
要求に応じて、半導体装置のテストにどのようなテスト
システムやテスト装置等のテスト手段が必要かの情報を
選択ないし検索して提供するテスト手段情報提供サイ
ト、３はインターネット１を介してテスト手段情報提供
サイト２にアクセスして、開発しようとしているＬＳＩ
やＬＳＩとその周辺装置を含む半導体装置等のテストに
どのようなテストシステムやテスト装置等が最適かの情
報を求めるリモートユーザである。
【０００９】なお、本実施形態では、ＬＳＩやＬＳＩと
その周辺装置を含む半導体装置のテスト手段情報提供シ
ステムを対象としているが、半導体装置に限定されず半
導体装置等を有する携帯電話等の各種の電子機器のテス
ト手段情報提供システムとして構成できることはいうま
でもない。
その周辺装置を含む半導体装置のテスト手段情報提供シ
ステムを対象としているが、半導体装置に限定されず半
導体装置等を有する携帯電話等の各種の電子機器のテス
ト手段情報提供システムとして構成できることはいうま
でもない。
【００１０】また、上記のテスト手段としては、半導体
装置についていえば、テスト機能がそれぞれ異なる複数
種類の、テスト方法、テストシステム、半導体装置の内
部への組み込み形式でない自己テスト機能を有するＢＯ
ＳＴ（ｂｉｌｔ ｏｕｔ ｓｅｌｆ ｔｅｓｔ）装置、
半導体装置の内部への組み込み形式の自己テスト機能を
有するＢＩＳＴ（ｂｉｌｔ ｉｎ ｓｅｌｆ ｔｅｓ
ｔ）装置、測定器（電圧電流測定器や各種のアナライザ
等）等が含まれ、電子機器についていえば、テスト機能
がそれぞれ異なる複数種類の、テスト方法、テストシス
テム、テスト装置、測定器（電圧電流測定器や各種のア
ナライザ等）等が含まれる。
装置についていえば、テスト機能がそれぞれ異なる複数
種類の、テスト方法、テストシステム、半導体装置の内
部への組み込み形式でない自己テスト機能を有するＢＯ
ＳＴ（ｂｉｌｔ ｏｕｔ ｓｅｌｆ ｔｅｓｔ）装置、
半導体装置の内部への組み込み形式の自己テスト機能を
有するＢＩＳＴ（ｂｉｌｔ ｉｎ ｓｅｌｆ ｔｅｓ
ｔ）装置、測定器（電圧電流測定器や各種のアナライザ
等）等が含まれ、電子機器についていえば、テスト機能
がそれぞれ異なる複数種類の、テスト方法、テストシス
テム、テスト装置、測定器（電圧電流測定器や各種のア
ナライザ等）等が含まれる。
【００１１】ここで、テスト手段情報提供サイト２は、
半導体装置のテストに必要な最適のテスト手段の情報を
提供することのできるテスト手段情報提供システムを備
え、このテスト手段情報提供システムは、テストの対象
となる各種の半導体装置に係る情報を格納する半導体装
置情報ファイル２１、各テストシステムやテスト装置等
の各テスト手段単位にライブラリー情報を格納するライ
ブラリー２２、テストすべき半導体装置の諸条件を入力
し設定する条件設定ＧＵＩ（ｇｒａｐｉｃａｌｕｓｅｒ
ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）２３、条件設定ＧＵＩ２３によ
り設定された条件に基づいて後述する選択エンジン２５
による選択処理により半導体装置情報ファイル２１から
の半導体装置情報やライブラリー２２１〜２２ｎからの
ライブラリー情報を入力するデータベース２４、データ
ベース２４に入力された半導体装置情報やライブラリー
情報について所定のアルゴリズムに従う選択処理を行う
選択エンジン２５、選択エンジン２５によって条件設定
された半導体装置に対する選択された最適のテストシス
テムやテスト装置等の情報からなる選択情報ファイル２
６とから構成される。
半導体装置のテストに必要な最適のテスト手段の情報を
提供することのできるテスト手段情報提供システムを備
え、このテスト手段情報提供システムは、テストの対象
となる各種の半導体装置に係る情報を格納する半導体装
置情報ファイル２１、各テストシステムやテスト装置等
の各テスト手段単位にライブラリー情報を格納するライ
ブラリー２２、テストすべき半導体装置の諸条件を入力
し設定する条件設定ＧＵＩ（ｇｒａｐｉｃａｌｕｓｅｒ
ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）２３、条件設定ＧＵＩ２３によ
り設定された条件に基づいて後述する選択エンジン２５
による選択処理により半導体装置情報ファイル２１から
の半導体装置情報やライブラリー２２１〜２２ｎからの
ライブラリー情報を入力するデータベース２４、データ
ベース２４に入力された半導体装置情報やライブラリー
情報について所定のアルゴリズムに従う選択処理を行う
選択エンジン２５、選択エンジン２５によって条件設定
された半導体装置に対する選択された最適のテストシス
テムやテスト装置等の情報からなる選択情報ファイル２
６とから構成される。
【００１２】また、３１はリモートユーザ３側に備えら
れる情報機器の条件設定ＧＵＩであり、リモートユーザ
３は、インターネット１を介してテスト手段情報提供サ
イト２にアクセスし、条件設定ＧＵＩ２３と同様の条件
設定ＧＵＩ３１からの入力により設定条件に合致する最
適のテストシステムやテスト装置等の情報を入手するこ
とができる。
れる情報機器の条件設定ＧＵＩであり、リモートユーザ
３は、インターネット１を介してテスト手段情報提供サ
イト２にアクセスし、条件設定ＧＵＩ２３と同様の条件
設定ＧＵＩ３１からの入力により設定条件に合致する最
適のテストシステムやテスト装置等の情報を入手するこ
とができる。
【００１３】図２は条件設定ＧＵＩ２３，３１から入力
された設定条件の一例を示す図であり、同図に示すよう
に、設定条件は、テストの対象となる（１）半導体装置
名（例えば、ＥＱＵＩＰＭＥＮＴ１）、（２）ライブラ
リー２２の中からテストの対象となるライブラリーの範
囲（例えば、テストシステム２２１，ＢＯＳＴ装置２２
２）、（３）設定されたライブラリーの範囲の中での優
先度（例えば、テストシステム２２１，ＢＯＳＴ装置２
２２の順）、（４）選択するために重きを置く選択要因
（例えば、コスト，性能）、（５）選択された選択要因
の重みを示す要因優先度（例えば、１００を最大値とし
て５０，５０に設定）、（６）選択エンジン２５によっ
て選択される所定の半導体装置のテストに必要なテスト
システムおよびテスト装置等の組み合わせの最大選択数
（例えば、３）、（７）選択されたテスト手段情報を出
力する選択情報出力ファイル（ＥＱＵＩＰＭＥＮＴ１．
ＳＥＬ）、等からなる。
された設定条件の一例を示す図であり、同図に示すよう
に、設定条件は、テストの対象となる（１）半導体装置
名（例えば、ＥＱＵＩＰＭＥＮＴ１）、（２）ライブラ
リー２２の中からテストの対象となるライブラリーの範
囲（例えば、テストシステム２２１，ＢＯＳＴ装置２２
２）、（３）設定されたライブラリーの範囲の中での優
先度（例えば、テストシステム２２１，ＢＯＳＴ装置２
２２の順）、（４）選択するために重きを置く選択要因
（例えば、コスト，性能）、（５）選択された選択要因
の重みを示す要因優先度（例えば、１００を最大値とし
て５０，５０に設定）、（６）選択エンジン２５によっ
て選択される所定の半導体装置のテストに必要なテスト
システムおよびテスト装置等の組み合わせの最大選択数
（例えば、３）、（７）選択されたテスト手段情報を出
力する選択情報出力ファイル（ＥＱＵＩＰＭＥＮＴ１．
ＳＥＬ）、等からなる。
【００１４】図３は、半導体装置情報ファイル２１の半
導体装置情報の一例を示す図であり、同図において、各
半導体装置に係る半導体装置情報には、半導体装置の名
前、仕様データ、デザインデータ、テストデータの各情
報、およびテストしようとする半導体装置に必要とされ
るテスト機能（例えば、ＬＯＧＩＣ、ＳＣＡＮ、ＡＤ／
ＤＡ）情報が記録されている。
導体装置情報の一例を示す図であり、同図において、各
半導体装置に係る半導体装置情報には、半導体装置の名
前、仕様データ、デザインデータ、テストデータの各情
報、およびテストしようとする半導体装置に必要とされ
るテスト機能（例えば、ＬＯＧＩＣ、ＳＣＡＮ、ＡＤ／
ＤＡ）情報が記録されている。
【００１５】図４はライブラリー２２の中、テストシス
テムのライブラリー１２１の一例を示す図であり、同図
に示すように、ライブラリー１２１は複数種類のテスト
システム１〜テストシステム５のライブラリーからな
り、テストシステム１についていえば、テストシステム
１はＬＯＧＩＣ、ＳＣＡＮの各テスト機能を備えてお
り、それぞれ要因優先度の重みが７０，９０，８０およ
び２０，６０，５０である。
テムのライブラリー１２１の一例を示す図であり、同図
に示すように、ライブラリー１２１は複数種類のテスト
システム１〜テストシステム５のライブラリーからな
り、テストシステム１についていえば、テストシステム
１はＬＯＧＩＣ、ＳＣＡＮの各テスト機能を備えてお
り、それぞれ要因優先度の重みが７０，９０，８０およ
び２０，６０，５０である。
【００１６】図５は、半導体装置において数あるテスト
機能の中、ＥＱ１は半導体装置（ＥＱＵＩＰＭＥＮＴ
１）が必要とするテスト機能（ＬＯＧＩＣ、ＳＣＡＮ、
ＡＤ／ＤＡ）を示すと共に、各ライブラリー２２１〜２
２ｎについて、ライブラリー２２１にある各テストシス
テムＴ１、Ｔ２・・・におけるテスト可能なテスト機
能、ライブラリー２２２の各ＢＯＳＴ装置ＢＯ１、ＢＯ
２・・・におけるテスト可能なテスト機能、ライブラリ
ー２２３の各ＢＩＳＴ装置ＢＩ１、ＢＩ２・・・におけ
るテスト可能なテスト機能を示している。
機能の中、ＥＱ１は半導体装置（ＥＱＵＩＰＭＥＮＴ
１）が必要とするテスト機能（ＬＯＧＩＣ、ＳＣＡＮ、
ＡＤ／ＤＡ）を示すと共に、各ライブラリー２２１〜２
２ｎについて、ライブラリー２２１にある各テストシス
テムＴ１、Ｔ２・・・におけるテスト可能なテスト機
能、ライブラリー２２２の各ＢＯＳＴ装置ＢＯ１、ＢＯ
２・・・におけるテスト可能なテスト機能、ライブラリ
ー２２３の各ＢＩＳＴ装置ＢＩ１、ＢＩ２・・・におけ
るテスト可能なテスト機能を示している。
【００１７】図６は、ライブラリー２２１の各テストシ
ステムＴ１、Ｔ２・・・における機能、コスト、性能、
スループット（ｔｈｒｏｕｇｈｐｕｔ）の達成度の一例
を示す図である。
ステムＴ１、Ｔ２・・・における機能、コスト、性能、
スループット（ｔｈｒｏｕｇｈｐｕｔ）の達成度の一例
を示す図である。
【００１８】図７は、選択エンジン２５における処理手
順の一例を示す図であり、ステップ１にて、選択エンジ
ン２５は、条件設定ＧＵＩ２３，３１からの設定条件に
基づいて、半導体装置情報ファイル２１やライブラリー
２２からデータベース２４に出力し選択テーブルを作成
する。ステップ２、ステップ３にて選択エンジン２５は
所定のアルゴリズムに従って縮退処理を行い、さらには
ステップ４にて条件設定された要因を最も満足する要因
値を探索し、選択処理された結果をデータベース２４か
ら選択情報ファイル２６に出力する。
順の一例を示す図であり、ステップ１にて、選択エンジ
ン２５は、条件設定ＧＵＩ２３，３１からの設定条件に
基づいて、半導体装置情報ファイル２１やライブラリー
２２からデータベース２４に出力し選択テーブルを作成
する。ステップ２、ステップ３にて選択エンジン２５は
所定のアルゴリズムに従って縮退処理を行い、さらには
ステップ４にて条件設定された要因を最も満足する要因
値を探索し、選択処理された結果をデータベース２４か
ら選択情報ファイル２６に出力する。
【００１９】図８は、選択エンジン２５により選択処理
された選択情報２６の一例を示す図であり、設定条件に
対して３種類の組合わせからなる選択結果が出力されて
いる。
された選択情報２６の一例を示す図であり、設定条件に
対して３種類の組合わせからなる選択結果が出力されて
いる。
【００２０】次に、本実施形態に係る半導体装置等のテ
スト手段情報提供システムの全体の働きについて図１お
よび図８を用いて説明する。
スト手段情報提供システムの全体の働きについて図１お
よび図８を用いて説明する。
【００２１】まず、リモートユーザ３等が所定の半導体
装置について、最適のテストシステムやテスト装置等の
情報を入手しようとする場合、まず図２に示すような、
テスト手段情報提供サイト２の条件設定ＧＵＩ２３また
はリモートユーザ３の条件設定ＧＵＩ３１からテストす
べき半導体装置に係る条件を設定する。選択エンジン２
５は、入力された設定条件に基づいて、図３に示すよう
に、半導体装置情報ファイル２１から所定の半導体装置
（ＥＱＵＩＰＭＥＮＴ１）についての要求テスト機能等
の半導体装置情報を入手し、また、図５に示すようなラ
イブラリー２２１〜２２ｎ、および図６に示すようなラ
イブラリー２２１−１〜２２１−４の中から選択の可能
性のある候補となるライブラリー情報を選択して、デー
タベース２４に選択テーブルとして入力する。
装置について、最適のテストシステムやテスト装置等の
情報を入手しようとする場合、まず図２に示すような、
テスト手段情報提供サイト２の条件設定ＧＵＩ２３また
はリモートユーザ３の条件設定ＧＵＩ３１からテストす
べき半導体装置に係る条件を設定する。選択エンジン２
５は、入力された設定条件に基づいて、図３に示すよう
に、半導体装置情報ファイル２１から所定の半導体装置
（ＥＱＵＩＰＭＥＮＴ１）についての要求テスト機能等
の半導体装置情報を入手し、また、図５に示すようなラ
イブラリー２２１〜２２ｎ、および図６に示すようなラ
イブラリー２２１−１〜２２１−４の中から選択の可能
性のある候補となるライブラリー情報を選択して、デー
タベース２４に選択テーブルとして入力する。
【００２２】次いで、選択エンジン２５は、作成された
選択テーブルに基づいて、例えば、図５において、ＬＯ
ＧＩＣ、ＳＣＡＮ、ＡＤ／ＤＡのテスト機能を満足する
テストシステムやテスト装置の組合わせてとして、テス
トシステムＴ１＋ＢＯＳＴ装置ＢＯ１＋ＢＯＳＴ装置Ｂ
Ｏ２、テストシステムＴ１＋ＢＯＳＴ装置ＢＯ１、テス
トシステムＴ２について、図２の条件設定に示されたラ
イブラリー優先度や選択要因や要因優先度等を、図６に
示すライブラリー２２１−１〜２２１−４の情報等を参
照し処理することにより、図８の選択情報に示すような
順位での選択結果を得る。選択情報２６はインターネッ
ト１を介してリモートユーザ３に送信される。
選択テーブルに基づいて、例えば、図５において、ＬＯ
ＧＩＣ、ＳＣＡＮ、ＡＤ／ＤＡのテスト機能を満足する
テストシステムやテスト装置の組合わせてとして、テス
トシステムＴ１＋ＢＯＳＴ装置ＢＯ１＋ＢＯＳＴ装置Ｂ
Ｏ２、テストシステムＴ１＋ＢＯＳＴ装置ＢＯ１、テス
トシステムＴ２について、図２の条件設定に示されたラ
イブラリー優先度や選択要因や要因優先度等を、図６に
示すライブラリー２２１−１〜２２１−４の情報等を参
照し処理することにより、図８の選択情報に示すような
順位での選択結果を得る。選択情報２６はインターネッ
ト１を介してリモートユーザ３に送信される。
【００２３】このように、本実施形態の発明によれば、
テスト手段情報提供システム２では、テスト手段情報提
供システムの条件設定ＧＵＩ２３から所定の半導体装置
をテストするために必要な条件を設定することにより、
所定の半導体装置のテストに必要な最適のテスト方法、
テストシステム、ＢＯＳＴ装置、ＢＩＳＴ装置、その他
のテスト装置や計測器についての情報を自動的に入手す
ることができる。
テスト手段情報提供システム２では、テスト手段情報提
供システムの条件設定ＧＵＩ２３から所定の半導体装置
をテストするために必要な条件を設定することにより、
所定の半導体装置のテストに必要な最適のテスト方法、
テストシステム、ＢＯＳＴ装置、ＢＩＳＴ装置、その他
のテスト装置や計測器についての情報を自動的に入手す
ることができる。
【００２４】また、リモートユーザ３は、インターネッ
ト１を介してテスト手段情報提供サイト２にアクセスし
て、リモートユーザ３の情報機器の条件設定ＧＵＩ３１
から所定の半導体装置をテストするために必要な条件を
設定することにより、所定の半導体装置のテストに必要
な最適のテスト方法、テストシステム、ＢＯＳＴ装置、
ＢＩＳＴ装置、その他のテスト装置や計測器についての
情報を自動的に入手することができる。
ト１を介してテスト手段情報提供サイト２にアクセスし
て、リモートユーザ３の情報機器の条件設定ＧＵＩ３１
から所定の半導体装置をテストするために必要な条件を
設定することにより、所定の半導体装置のテストに必要
な最適のテスト方法、テストシステム、ＢＯＳＴ装置、
ＢＩＳＴ装置、その他のテスト装置や計測器についての
情報を自動的に入手することができる。
【００２５】従って、今までのように、半導体装置のテ
ストシステムやテスト装置を決定するに当たって必要と
していたテストシステムやテスト装置を熟知したテスト
エンジニアを関与させる必要がなくなり、また設計エン
ジニアが開発する半導体装置をテストをするために必要
なテスト装置を設計の早い段階から知ることができるた
め、開発業務の効率化、開発期間の短縮化、テストコス
トの低減化を図ることができる。
ストシステムやテスト装置を決定するに当たって必要と
していたテストシステムやテスト装置を熟知したテスト
エンジニアを関与させる必要がなくなり、また設計エン
ジニアが開発する半導体装置をテストをするために必要
なテスト装置を設計の早い段階から知ることができるた
め、開発業務の効率化、開発期間の短縮化、テストコス
トの低減化を図ることができる。
【００２６】
【発明の効果】請求項１に記載の発明によれば、テスト
手段情報提供システムの条件設定ＧＵＩから所定の半導
体装置等の電子機器をテストするために必要な条件を設
定することにより、所定の電子機器のテストに必要な最
適のテスト方法、テストシステム、テスト装置や計測器
についての情報を自動的に入手することができる。
手段情報提供システムの条件設定ＧＵＩから所定の半導
体装置等の電子機器をテストするために必要な条件を設
定することにより、所定の電子機器のテストに必要な最
適のテスト方法、テストシステム、テスト装置や計測器
についての情報を自動的に入手することができる。
【００２７】請求項２記載の発明によれば、リモートユ
ーザは、インターネットを介してテスト手段情報提供サ
イトにアクセスして、リモートユーザの情報機器の条件
設定ＧＵＩから所定の電子機器をテストするために必要
な条件を設定することにより、所定の電子機器のテスト
に必要な最適のテスト方法、テストシステム、テスト装
置や計測器についての情報を自動的に入手することがで
きる。
ーザは、インターネットを介してテスト手段情報提供サ
イトにアクセスして、リモートユーザの情報機器の条件
設定ＧＵＩから所定の電子機器をテストするために必要
な条件を設定することにより、所定の電子機器のテスト
に必要な最適のテスト方法、テストシステム、テスト装
置や計測器についての情報を自動的に入手することがで
きる。
【図１】本発明の一実施形態に係る半導体装置のテスト
手段情報提供システムの全体構成を示すシステム図であ
る。
手段情報提供システムの全体構成を示すシステム図であ
る。
【図２】図１に示す条件設定ＧＵＩ２３，３１から入力
された設定条件の一例を示す図である。
された設定条件の一例を示す図である。
【図３】図１に示す半導体装置情報ファイル２１の半導
体装置情報の一例を示す図である。
体装置情報の一例を示す図である。
【図４】図１に示すライブラリー２２の中、テストシス
テムのライブラリー１２１の一例を示す図である。
テムのライブラリー１２１の一例を示す図である。
【図５】所定の半導体装置が必要とするテスト機能を示
すと共に、各ライブラリー２２１〜２２ｎにおけるテス
ト可能なテスト機能を示す図である。
すと共に、各ライブラリー２２１〜２２ｎにおけるテス
ト可能なテスト機能を示す図である。
【図６】図１に示すライブラリー２２１の各テストシス
テムＴ１、Ｔ２・・・における機能、コスト、性能、ス
ループットの達成度の一例を示す図である。
テムＴ１、Ｔ２・・・における機能、コスト、性能、ス
ループットの達成度の一例を示す図である。
【図７】図１に示す選択エンジン２５における処理手順
の一例を示す図である。
の一例を示す図である。
【図８】図１に示す選択エンジン２５により選択処理さ
れた選択情報の一例を示す図である。
れた選択情報の一例を示す図である。
１ インターネット ２ テスト手段情報提供サイト ２１ 半導体装置情報ファイル ２２ ライブラリー ２２１ テストシステムのライブラリー ２２１−１ テストシステムの機能に係るライブラリー ２２１−２ テストシステムのコストに係るライブラリ
ー ２２１−３ テストシステムの性能に係るライブラリー ２２１−４ テストシステムのスループットに係るライ
ブラリー ２２２ ＢＯＳＴ装置のライブラリー ２２３ ＢＩＳＴ装置のライブラリー ２３ 条件設定ＧＵＩ ２４ データベース ２５ 選択エンジン ２６ 選択情報ファイル ３ リモートユーザ ３１ 条件設定ＧＵＩ
ー ２２１−３ テストシステムの性能に係るライブラリー ２２１−４ テストシステムのスループットに係るライ
ブラリー ２２２ ＢＯＳＴ装置のライブラリー ２２３ ＢＩＳＴ装置のライブラリー ２３ 条件設定ＧＵＩ ２４ データベース ２５ 選択エンジン ２６ 選択情報ファイル ３ リモートユーザ ３１ 条件設定ＧＵＩ
Claims (2)
- 【請求項１】 半導体装置等の電子機器をテストするた
めに必要なテスト手段を選択するための条件を設定する
条件設定手段と、前記電子機器に係るテスト要求機能等
の情報および各種の前記電子機器のテストに用いられる
複数種類のテスト手段に係る情報を格納するテスト手段
情報格納手段と、前記設定された条件に基づいて、前記
テスト手段情報格納手段から前記電子機器のテストに必
要なテスト手段の情報を選択する選択手段とからなるこ
とを特徴とする電子機器のテスト手段情報提供システ
ム。 - 【請求項２】 前記電子機器のテスト手段情報提供シス
テムがインターネットに接続され、リモートユーザは、
インターネットに接続された情報機器に備えられる前記
と同様の条件設定手段からの設定条件を入力することに
より、前記電子機器のテスト手段情報提供システムから
電子機器のテストに必要なテスト手段の情報を選択し入
手することが可能であることを特徴とする電子機器のテ
スト手段情報提供システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001067494A JP3569237B2 (ja) | 2001-03-09 | 2001-03-09 | 電子機器のテスト手段情報提供システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001067494A JP3569237B2 (ja) | 2001-03-09 | 2001-03-09 | 電子機器のテスト手段情報提供システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002267722A true JP2002267722A (ja) | 2002-09-18 |
| JP3569237B2 JP3569237B2 (ja) | 2004-09-22 |
Family
ID=18925831
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001067494A Expired - Fee Related JP3569237B2 (ja) | 2001-03-09 | 2001-03-09 | 電子機器のテスト手段情報提供システム |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3569237B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007000806A1 (ja) * | 2005-06-28 | 2007-01-04 | Genesis Technology Inc. | 半導体集積回路開発支援システム |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03123877A (ja) * | 1989-10-09 | 1991-05-27 | Hitachi Ltd | プリント基板のテスト方法 |
| JPH09167130A (ja) * | 1995-12-15 | 1997-06-24 | Fujitsu Ltd | Ｗｗｗサーバのための通信処理装置 |
| JP2000137736A (ja) * | 1998-11-02 | 2000-05-16 | Mega Media Communications:Kk | 不動産業務支援システムと端末装置及びそのプログラムを格納した記録媒体 |
-
2001
- 2001-03-09 JP JP2001067494A patent/JP3569237B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03123877A (ja) * | 1989-10-09 | 1991-05-27 | Hitachi Ltd | プリント基板のテスト方法 |
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| JP2000137736A (ja) * | 1998-11-02 | 2000-05-16 | Mega Media Communications:Kk | 不動産業務支援システムと端末装置及びそのプログラムを格納した記録媒体 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007000806A1 (ja) * | 2005-06-28 | 2007-01-04 | Genesis Technology Inc. | 半導体集積回路開発支援システム |
| WO2007000953A1 (ja) * | 2005-06-28 | 2007-01-04 | Genesis Technology Inc. | 半導体集積回路開発支援システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3569237B2 (ja) | 2004-09-22 |
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