JP5056570B2 - データ処理装置、データ処理方法およびデータ処理プログラム - Google Patents
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Description
まず最初に、図1を用いて実施例1に係るパッケージの概要を説明する。図1は、実施例1に係るパッケージの概要を説明するための図である。
次に、図2〜図6を用いて、図1に示したパッケージの構成を説明する。図2は、パッケージの構成を示すブロック図である。図3は、ROMに記憶される情報の一例を示した図である。図4は、優先順位テーブルに記憶される情報の一例を示した図である。図5は、電流測定部が有する回路の構成の一例を示した図である。図6は、全体制御部による制御を説明するための図である。
次に、図7を用いて、パッケージ10による処理の流れを説明する。図7は、パッケージによる処理の流れを示すフローチャート図である。
上記したように、実施例1によれば、パッケージの開発に手間および作業コストを省くことが可能である。例えば、実施例1によれば、製造されたパッケージによって自動的に消費電力を最適化することができるため、パッケージの開発にかかる手間および作業コストを省くことが可能である。
10 パッケージ
20 ROM(Read Only Memory)
30 優先順位テーブル
40 電流測定部
50 全体制御部
110 コンピュータ
111 入力部
112 出力部
121〜128 FPGA(Field Programmable Gate Array)
130 電流測定部
140 ROM(Read Only Memory)
141 コンフィグデータ
142 優先順位データ
143 全体制御プログラム
150 CPU(Central Processing Unit)
151 全体制御プロセス
160 RAM(Random Access Memory)
161 優先順位テーブルデータ
170 HDD(Hard Disk Drive)
180 バス
Claims (4)
- 各々に割り当てられたデータ処理を実行するデバイスごとに、当該デバイス上に設計されたときに発揮する処理性能が異なる論理回路がそれぞれ示されたコンフィグデータを記憶するコンフィグデータ記憶手段と、
処理性能の高低に応じてコンフィグデータを割り当てるデバイスの優先順位を記憶する優先順位テーブルと、
前記コンフィグデータ記憶手段から、各コンフィグデータ内、一のコンフィグデータをデバイスごとに読み込み、読み込んだ各コンフィグデータを各デバイスにそれぞれ入力して、各デバイスに論理回路を設計する論理回路設計手段と、
前記論理回路設計手段によって論理回路が設計された各デバイスがデータ処理を実行した際に要する総消費電力を測定する総消費電力測定手段と、
前記論理回路設計手段によって設計された論理回路の組合せのうち、前記総消費電力測定手段によって測定された総消費電力の実測値が予め設定されている総消費電力の目標値内で、前記優先順位テーブルにおいて優先順位の高いデバイスに処理性能の高いコンフィグデータを割り当てて最良の処理性能を発揮する組合せを、データ処理を実際に実行するときに各デバイス上に設計される論理回路として決定する論理回路決定手段と、
を備えたことを特徴とするデータ処理装置。 - 前記優先順位テーブルは、各デバイスにそれぞれ入力されるコンフィグデータの組合せを特定するための組合せ情報にそれぞれ対応付けて、ユーザによって予め設定された処理性能が良い順番を示す優先順位をさらに記憶し、
前記論理回路設計手段は、前記優先順位テーブルに記憶されている組合せ情報を処理性能が良い順番に参照し、各デバイスにそれぞれ入力される各コンフィグデータを前記コンフィグデータ記憶手段から読み込んで、各デバイスに論理回路を設計し、
前記総消費電力測定手段は、前記論理回路設計手段によって各デバイスに論理回路が設計されるごとに総消費電力を測定し、
論理回路決定手段は、前記総消費電力測定手段によって総消費電力が測定されるごとに、総消費電力の実測値が総消費電力の目標値内であるか否かを判定し、総消費電力の実測値が総消費電力の目標値内である旨の判定結果を得た場合には、前記論理回路設計手段によって設計された論理回路の組合せをデータ処理を実際に実行するときに各デバイス上に設計される論理回路として決定し、総消費電力の実測値が総消費電力の目標値内でない旨の判定結果を得た場合には、前記論理回路設計手段によって参照される組合せ情報を前記優先順位テーブルにおいて処理性能が良い順番を示す優先順位が一位低い組合せ情報に変更することを特徴とする請求項1に記載のデータ処理装置。 - 各々に割り当てられたデータ処理を実行するデバイスごとに、当該デバイス上に設計されたときに発揮する処理性能が異なる論理回路がそれぞれ示されたコンフィグデータを記憶部に記憶するコンフィグデータ記憶ステップと、
前記コンフィグデータ記憶ステップによって記憶部に記憶された情報から、各コンフィグデータ内、一のコンフィグデータをデバイスごとに読み込み、読み込んだ各コンフィグデータを各デバイスにそれぞれ入力して、各デバイスに論理回路を設計する論理回路設計ステップと、
前記論理回路設計ステップによって論理回路が設計された各デバイスがデータ処理を実行した際に要する総消費電力を測定する総消費電力測定ステップと、
前記論理回路設計ステップによって設計された論理回路の組合せのうち、前記総消費電力測定ステップによって測定された総消費電力の実測値が予め設定されている総消費電力の目標値内で、処理性能の高低に応じてコンフィグデータを割り当てるデバイスの優先順位を記憶する優先順位テーブルにおいて優先順位の高いデバイスに処理性能の高いコンフィグデータを割り当てて最良の処理性能を発揮する組合せを、データ処理を実際に実行するときに各デバイス上に設計される論理回路として決定する論理回路決定ステップと、
をコンピュータが実行することを特徴とするデータ処理方法。 - 各々に割り当てられたデータ処理を実行するデバイスごとに、当該デバイス上に設計されたときに発揮する処理性能が異なる論理回路がそれぞれ示されたコンフィグデータを記憶部に記憶するコンフィグデータ記憶手順と、
前記コンフィグデータ記憶手順によって記憶部に記憶された情報から、各コンフィグデータ内、一のコンフィグデータをデバイスごとに読み込み、読み込んだ各コンフィグデータを各デバイスにそれぞれ入力して、各デバイスに論理回路を設計する論理回路設計手順と、
前記論理回路設計手順によって論理回路が設計された各デバイスがデータ処理を実行した際に要する総消費電力を測定する総消費電力測定手順と、
前記論理回路設計手順によって設計された論理回路の組合せのうち、前記総消費電力測定手順によって測定された総消費電力の実測値が予め設定されている総消費電力の目標値内で、処理性能の高低に応じてコンフィグデータを割り当てるデバイスの優先順位を記憶する優先順位テーブルにおいて優先順位の高いデバイスに処理性能の高いコンフィグデータを割り当てて最良の処理性能を発揮する組合せを、データ処理を実際に実行するときに各デバイス上に設計される論理回路として決定する論理回路決定手順と、
をコンピュータに実行させることを特徴とするデータ処理プログラム。
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US5727208A (en) * | 1995-07-03 | 1998-03-10 | Dell U.S.A. L.P. | Method and apparatus for configuration of processor operating parameters |
US6167524A (en) * | 1998-04-06 | 2000-12-26 | International Business Machines Corporation | Apparatus and method for efficient battery utilization in portable personal computers |
EP1182548A3 (en) * | 2000-08-21 | 2003-10-15 | Texas Instruments France | Dynamic hardware control for energy management systems using task attributes |
EP1182552A3 (en) * | 2000-08-21 | 2003-10-01 | Texas Instruments France | Dynamic hardware configuration for energy management systems using task attributes |
JP2002230065A (ja) * | 2001-02-02 | 2002-08-16 | Toshiba Corp | システムlsi開発装置およびシステムlsi開発方法 |
US6986021B2 (en) * | 2001-11-30 | 2006-01-10 | Quick Silver Technology, Inc. | Apparatus, method, system and executable module for configuration and operation of adaptive integrated circuitry having fixed, application specific computational elements |
US8412915B2 (en) * | 2001-11-30 | 2013-04-02 | Altera Corporation | Apparatus, system and method for configuration of adaptive integrated circuitry having heterogeneous computational elements |
JP2004022724A (ja) | 2002-06-14 | 2004-01-22 | Konica Minolta Holdings Inc | 半導体集積回路装置、及び半導体集積回路の構成方法 |
US7134029B2 (en) * | 2003-11-06 | 2006-11-07 | International Business Machines Corporation | Computer-component power-consumption monitoring and control |
US7725848B2 (en) * | 2005-01-27 | 2010-05-25 | Wolfgang Nebel | Predictable design of low power systems by pre-implementation estimation and optimization |
JP2006244429A (ja) | 2005-03-07 | 2006-09-14 | Canon Inc | データ処理装置及びその制御方法 |
US7562234B2 (en) * | 2005-08-25 | 2009-07-14 | Apple Inc. | Methods and apparatuses for dynamic power control |
JP4901561B2 (ja) * | 2006-04-14 | 2012-03-21 | パナソニック株式会社 | 設計支援システム、設計支援方法及び設計支援プログラム |
EP2063366A4 (en) * | 2006-08-31 | 2012-08-15 | Fuji Xerox Co Ltd | METHOD AND SYSTEM FOR MOUNTING A CIRCUIT MODEL ON A RECONFIGURABLE DEVICE |
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