JP4654203B2 - デジタルシステムのhdl記述ファイルを作成する方法、および得られるシステム - Google Patents
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Description
・前記元のHDL記述ファイル内で、前記システムの合成時に前記メモリ要素の元になるHDL命令シーケンスを自動的に発見するステップと、
・前記システムの合成時に、第1に、前記メモリ要素を接続する少なくとも1つのいわゆる「SCAN」チェインを、第2に、前記回路の前記いわゆるSCANテストを実装する手段を、得るのに使用されるHDL命令を、HDL記述ファイルの少なくとも一部へと、識別済みメモリ要素の関係または関数の分析を行わずに、自動的に順次挿入するステップとを含むことを特徴とする。
・元のHDL記述ファイルすべての分析またはインデキシングと、HDLのオブジェクトおよびプロセスごとに、もしあれば設計ユニット(エンティティ、ライブラリ、パケット)のリスト、ならびに、設計ユニットごとの宣言すべてを含み、各宣言は行番号、オブジェクト名、型、サイズ、および関連するテストの構築のタイプを含む、少なくとも1つのインデキシングファイルの作成とを行うステップを含み、
・回路の合成の際にメモリ要素の元になるHDL命令を発見する前記ステップが、少なくとも各メモリ要素に対応するHDLオブジェクトの名前を、型、寸法、および元のHDL記述ファイル内での座標と共に含むメモリ発見ファイルの作成のフェーズを含む。
・合成時にHDLプロセスごとに、メモリ要素の別々のチェインの少なくとも1つを得るように、HDLプロセスに対応するHDL命令の組において、メモリ要素のローカルなチェイン化のためのHDL命令を挿入するフェーズと、
・ローカルなチェイン化のフェーズのときに作成されたメモリ要素のチェインを含む、少なくとも1つのメモリ要素のチェインを合成時に得るように、HDL記述ファイルにおいて、グローバルと呼ばれるHDLチェイン化命令を挿入するフェーズとを含む。
・入力−出力ポートとして使用されるテスト信号に対応するHDL命令の挿入と、
・1次入力/出力ポートを含むいくつかのプロセス間のメモリ要素の場合に、中間作業信号に対応するHDL命令の挿入と、
・プロセス固有のメモリ要素を接続する、少なくとも1つのいわゆる「SCAN」チェインを回路の合成の際に得るためのHDL命令の各プロセスにおける挿入と、
・プロセスの外部のSCANチェインの入出力のチェインのコンカレントな代入のためのHDL命令の挿入とを含む。
・同期したプロセスを検索してこれらのプロセス内部で代入されたオブジェクトを検出するステップと、
・メモリ要素の元となる命令の識別のための次の命令の適用を含む。
・あるプロセス内部で代入され、別のプロセス内でまたはHDLコードの現在の部分の中で読み込まれるどのようなオブジェクトも、メモリ要素であると見なされることになる
・同期したプロセス内で、「if」制御構造のある分岐内部で代入され、この同じ構造の他の分岐すべての内部で代入されないどのようなオブジェクトも、メモリ要素と見なされる
・同期したプロセス内で、書き込まれる前に読み取られたどのようなオブジェクトも、メモリ要素と見なされる
・あるプロセス内部で代入され、別のプロセスへまたはHDLコードの現在の部分へと読み込まれるどのようなオブジェクトも、メモリ要素の元となると見なされることになる
・同期したプロセス内で、「if」制御構造の1つの分岐の内部で代入され、この構造の他の分岐すべての内部で代入されないどのようなオブジェクトも、メモリ要素の元となると見なされる
・同期したプロセス内で、書き込まれる前に読み込まれたどのようなオブジェクトも、メモリ要素の元となるとして参照される。
・入出力ポートとして使用されるテスト信号に対応するHDL命令の挿入
・中間作業信号に対応するHDL命令の可能な挿入
・プロセス固有のメモリ要素をリンクする、「SCAN」と呼ばれる少なくとも1つのチェインを回路の合成の際に得るための、HDL命令の各プロセスにおける挿入
・プロセスの外部のSCANチェインの入出力のチェインのコンカレントな代入のためのHDL命令の挿入
>SCANチェインのサイズ
>1つまたはいくつかのSCANチェインの物理的構成
である。
− テストパターン生成器20などのテストパターン生成手段
− テスト結果圧縮ブロック21など、テスト済み回路の応答を分析する手段
− テストコントローラ22などのテストコントロール手段
− テストの入力23および出力24
Claims (12)
- 新しいファイルの組を用いた集積デジタル電子システムの自動合成の際に、得られた集積デジタル電子システムに集積デジタル電子システムのテストに必要な論理電子回路(22、23、24)の少なくとも一部が組み込まれるように、テスト機能を有する集積デジタル電子システムのHDL言語による新しい記述ファイルの組を得ることを目的としてHDL言語による命令を記述ファイルに自動的に挿入するために、HDL言語と呼ばれる記述言語による集積デジタル電子システムの元の記述ファイルの組をレジスタトランスファレベルで分析する方法であって、
元のHDL記述ファイルのすべてを分析またはインデキシングし、エンティティ、ライブラリ、及びパケットを含む設計ユニットが存在すれば当該設計ユニットのリストを含む少なくとも一つのインデキシングファイルをオブジェクトおよびHDLプロセス毎に作成すると共に、設計ユニット毎にすべての宣言を作成するステップ(1a)であって、各宣言が行番号、オブジェクト名、型、およびサイズを含む、該ステップと、
前記元のHDL記述ファイル内で、前記集積デジタル電子システムの合成時にメモリ要素の元になるHDL命令シーケンスを自動的に発見するステップ(1)と、
前記集積デジタル電子システムの合成時に、前記メモリ要素に接続する少なくとも一つのいわゆる「SCAN」チェイン(11)を得るのに使用される、いわゆるSCAN HDL命令を、前記元のHDL記述ファイルの少なくとも一部に自動的に順次挿入するステップであって、該順次挿入が、該集積デジタル電子システムの全体又は該集積デジタル電子システムの一部の要素に対するSCANチェインの数及び長さに応じて実行され、且つ、該元のHDL記述ファイル内において初めはローカルに、その後グローバルに実行される、該ステップと、を含み、
前記メモリ要素の元になるHDL命令シーケンスを自動的に発見する前記ステップ(1)が、
同期したプロセスを検索して当該プロセス内部で代入されたオブジェクトを検出するステップと、
前記メモリ要素の元となる命令を識別するために、
一のプロセス内部で代入され、別のプロセス内でまたはHDLコードの現在の部分の中で読み込まれるどのようなオブジェクトも、メモリ要素であると見なされることになるという規則、
同期したプロセス内で、「if」制御構造の一の分岐内で代入され、当該構造の他のすべての分岐内では代入されないどのようなオブジェクトも、メモリ要素と見なされるという規則、および、
同期したプロセス内で、書き込まれる前に読み取られたどのようなオブジェクトも、メモリ要素と見なされるという規則
を適用するステップと、
を含む、
ことを特徴とする方法。 - 得られた前記新しいHDL記述ファイルの組を記録するステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 既存の様々なクロックドメインを識別するステップを含み、
HDLメモリ要素チェイン化命令を挿入する前記ステップが、クロックドメインごとに、少なくとも一つの異なるSCANチェインを作成するように実行される、
ことを特徴とする請求項1又は2のいずれか一項に記載の方法。 - 前記元のHDL記述ファイル内でメモリ要素の元となる変数の寸法に関する情報がない場合に、この値を所定のデフォルト値に基づいて自動的に定義するか、または前記方法のユーザが対話的に前記定義を実行するステップ
を含むことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の方法。 - HDLチェイン化命令の挿入時にメモリ要素相互間の互換性を検証するステップと、
互換性のない場合に、衝突の元となる二つのオブジェクトのうちの一つの型および/または寸法を自動変換するフェーズか、または、衝突の元となる二つのオブジェクトのうちの一つの型および/または寸法をユーザが対話的に変更するフェーズと、
を含むことを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法。 - メモリ要素のチェイン化に対する前記HDL命令挿入ステップが、
合成時にHDLオブジェクトごとに、メモリ要素の別々のチェインの少なくとも一つを得るように、HDLオブジェクトに対応するHDL命令の組に、ローカルなチェイン化と呼ばれる、メモリ要素のHDLチェイン化命令を挿入するフェーズと、
前記ローカルなチェイン化の時に作成されたメモリ要素のチェインを含む、少なくとも一つのメモリ要素のチェインを合成時に得るように、HDL記述ファイルに、グローバルなチェイン化と呼ばれる、HDLチェイン化命令を挿入するフェーズと、
を含むことを特徴とする、請求項1〜5のいずれか一項に記載の方法。 - ローカルなチェイン化に対するHDL命令の自動挿入の前記ステップが、
入力−出力ポートとして使用されるテスト信号に対応するHDL命令を挿入するフェーズと、
一次入力/出力ポートを含むいくつかのプロセス間のメモリ要素の場合に、中間作業信号に対応するHDL命令を挿入するフェーズと、
プロセス固有のメモリ要素に接続する、少なくとも一つのいわゆる「SCAN」チェインを回路合成の際に得るために、各プロセスにおいてHDL命令を挿入するフェーズと、
プロセスの外部のSCANチェインの入出力のチェインのコンカレントな代入を提供するHDL命令を挿入するフェーズと
を含む、ことを特徴とする請求項6に記載の方法。 - 合成後のSCANチェインの再構成を可能にするために、HDL SCAN命令を挿入する前記ステップが、
合成時にSCANチェインのメモリ要素の少なくとも一部の間に挿入される中間スイッチを生成することになるHDL命令を挿入するフェーズと、
合成時に前記中間スイッチのコントローラを生成することになるHDL命令を挿入するフェーズと、
を含むことを特徴とする、請求項1〜7のいずれか一項に記載の方法。 - HDL命令の自動挿入の前記ステップが、合成時にBIST(built−in self−test)HDL命令を挿入するステップを含み、
前記BIST HDL命令が少なくとも、テストパターン生成器(20)などのテストパターン生成手段、テスト結果圧縮ブロック(21)など、テスト済み回路の応答を分析する手段、テストコントローラ(22)などのテストコントロール手段、及びテストの入力(23)および出力(24)の元となる、
ことを特徴とする請求項1〜8のいずれか一項に記載の方法。 - 前記テストパターン生成手段が、初期化シーケンスがプログラム可能な線形PRPG(Parallel Random Pattern Generator)を含むことを特徴とする、請求項9に記載の方法。
- 前記テストパターン生成手段および応答を分析する前記手段が、再構成可能なSCAN機構に基づくことを特徴とする、請求項8〜10のいずれか一項に記載の方法。
- HDL言語と呼ばれる、レジスタトランスファレベルにおける記述言語による集積デジタル電子システムのシステム全体または一部を自動設計し、少なくとも一つの計算ユニット、メモリユニット、およびファイルストレージユニットを備える装置であって、
前記ストレージユニットが、前記集積デジタル電子システムまたは当該集積デジタル電子システムの一部のHDL言語記述ファイルを有し、
前記計算ユニットおよびメモリユニットが、請求項1〜9のいずれか一項に記載の前記方法を使用して、HDL記述ファイルから、HDL記述を含む、前記集積デジタル電子システムまたは当該集積デジタル電子システムの一部の新しいHDL記述ファイルを生成し、
その結果、前記新しいファイルから得られる前記集積デジタル電子システムまたは当該集積デジタル電子システムの一部が、前記メモリ要素の動作テストに必要な電子論理回路の少なくとも一部を含む、
ことを特徴とする装置。
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