JP2002261375A - 光半導体素子キャリア及びその実装構造 - Google Patents

光半導体素子キャリア及びその実装構造

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 特に面発光型及び面受光型の光半導体素子の
実装に適し、しかも量産性及び小型で高周波特性に優れ
た、高精度実装が可能な光半導体素子キャリア及びその
実装構造を提供することを目的とする。 【解決手段】 単結晶シリコンから成る基台10上に光
半導体素子21を配設する光半導体素子キャリアM1で
あって、前記基台10は、光半導体素子21の配設面A
1及びその背面A2を貫通する異方性エッチングで形成
した貫通孔11と、該貫通孔11内に配設されるレンズ
12とを備えていることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば光ファイバ
通信システムや構内光通信システム(光LAN)に用い
られる光半導体素子キャリア及びその実装構造に関し、
特に光半導体素子として面発光半導体素子または面受光
半導体素子を用いたものに関する。
【0002】
【従来技術とその課題】近年、CATVや公衆通信の分
野において、光ファイバ通信の実用化がはじまってい
る。従来、高速・高信頼性の光半導体モジュールが同軸
型あるいはバタフライ型と呼ばれるモジュール構造で実
現されており、これらは主に幹線系と呼ばれる領域です
でに実用化されている。
【0003】これに対し、最近ではSi(シリコン)単
結晶から成るサブ基板(Siプラットフォームと呼ばれ
る)上に光半導体素子を実装し、光学素子との位置決め
を機械精度のみで行う(パッシブアライメント)技術を
用いた光モジュールが盛んに開発されており、小型・低
背化、低コスト化が実現されている。
【0004】以下に、従来の光半導体素子のシリコンの
サブ基板を用いた実装構造について説明する。
【0005】図10に面受光の受光素子を用いた光送信
モジュールを示す。ここでは光半導体素子搭載用のセラ
ミックキャリア101に光半導体素子102を実装し、
それをサブ基板103上の段差104を形成した部分に
立設し、サブ基板上に形成されたシリコンのV溝105
に実装された光ファイバ106との光軸を合わせること
により、光ファイバから伝播されてきた光を受光素子1
02に結合する構成となっている。
【0006】ここで用いる受光素子102は、その用途
にもよるがこの例では約500μm角、厚さ200μ
m、受光径200μmφの素子を用いている。またキャ
リアの材質として、一般的にはアルミナ等のセラミック
スを用い、その電極パターンは印刷等により形成され
る。
【0007】図11に端面発光型の発光素子111と面
受光型の受光素子112を用いた光送信モジュールを示
す。ここでは単結晶シリコンのサブ基板113上に表面
実装された発光素子111から出射された光が、同じく
サブ基板113上に異方性エッチングで形成されたV溝
114に実装されたレンズ115を介して図示されてい
ない光導波体に伝播される。一方、発光素子111の後
方から出た光116は、発光素子111の後方に設置さ
れたモニター用の受光素子112により、その下方に形
成されているV溝で反射されることでモニタリングされ
る。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図10
に示すような受光素子の実装構造では、キャリアの外形
精度、及びキャリアの光半導体素子搭載面の電極パター
ン精度、及びキャリア外形からのパターン位置精度が悪
いという問題点があり、搭載するシリコン基板の段差の
形成精度も加わり、より高速動作が可能な受光径の小さ
い(例えば50μm以下)受光素子を用いた場合、位置
精度が十分に得られないために、十分な光結合の実現が
困難であるという問題点があった。
【0009】また、図11に示すような発光素子の実装
構造では、近年盛んに開発されているVCSELと呼ば
れる面発光型の発光素子の実装には用いることができ
ず、また図のようにキャリアに実装することで光ファイ
バに光を伝播する構造とすることは、前述と同様の理由
にて十分な光結合特性を得ることができない。
【0010】そこで本発明は、上記従来の問題に鑑み提
案されたものであり、特に面発光型及び面受光型の光半
導体素子の実装に適した、量産性及び高周波特性に優れ
た、小型で高精度実装が可能な光半導体素子キャリア及
びその実装構造を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の光素子キャリアは、単結晶シリコンから成
る基台上に光半導体素子を配設するものであって、前記
基台は、光半導体素子の配設面及びその背面を貫通する
異方性エッチングで形成した貫通孔と、該貫通孔内に配
設されるレンズとを備えていることを特徴とする。
【0012】また、前記貫通孔の内壁面がミラー指数で
{111}面であること、また、前記貫通孔における前
記光半導体素子の配設面側の開口面積が、その背面側の
開口面積より小さいこと、また、前記光半導体素子の配
設面及びその背面が共に{100}面であること、ま
た、前記光半導体素子の配設面が{100}面で、且つ
その背面が{110}面で形成されていることを特徴と
する。さらに、この場合において、前記背面側の貫通孔
内に光学素子が配設されていることを特徴とする。
【0013】さらに、上記光素子キャリアの配設面は
{111}面から成る傾斜面を含むとともに、該傾斜面
に前記光半導体素子に接続される配線が形成されている
ことを特徴とする。
【0014】また、本発明の光半導体素子キャリアの実
装構造は、段差傾斜面を有する基板上に、請求項6に記
載の光半導体素子キャリアを配設するようにした光半導
体素子キャリアの実装構造であって、前記基板の段差傾
斜面に形成された配線と、前記光半導体素子キャリアの
配設面に形成された配線とを接続させたことを特徴とす
る。
【0015】
【発明の実施の形態】以下に、本発明に係る光半導体素
子キャリア及びその実装構造の実施の形態について図面
に基づき詳細に説明する。
【0016】図1(a)〜(e)に示すように、光半導
体素子キャリアのキャリアは、光半導体素子配設面A1
とその背面A2との間に、異方性エッチングで高精度に
形成した貫通孔11をもつ単結晶シリコンからなる基台
と、その貫通孔11に配設された球状のレンズ12と、
光半導体素子配設面A1とその隣り合う面A3にかけて
形成される光半導体素子接続用の電極パターン13、1
4から成る。図2(a)、(b)に図1のキャリアに光
半導体素子21を実装した光素子キャリアM1を示す。
【0017】光半導体素子21は電極パッドに発光面ま
たは受光面を下にして貫通孔11を塞ぐ形で実装する。
その際、貫通孔11は極めて明瞭なマーカーとして機能
し、この貫通孔11を基準としてサブミクロンオーダー
で光半導体素子21を実装できる。その接続にはAuS
n等のはんだ等が選択できる。また、光半導体素子21
の背面に形成する電極にはワイヤーボンディング22に
よりキャリア上の電極パターンに接続される。
【0018】図3に光半導体素子キャリアの実装構造
(光モジュール)を示す。光半導体素子キャリアM1
は、半導体素子31等が搭載されるサブ基板32の段差
部32a上に実装される。その後、光ファイバ等の光導
波体33を最適位置に配するように調整することによ
り、光結合特性に優れた光モジュールとすることができ
る。
【0019】また、光半導体素子キャリアM1の貫通孔
11をA1面よりA2面の開口面積が広い構造とするこ
とにより、キャリアへの配設を目的にA2面側から挿入
したレンズ12を、光半導体素子キャリアの内部に埋め
込む構造とすることが可能となり、キャリア外形が通常
のキャリアと同じになり、キャリアへの光半導体素子実
装時などの時の取扱いを簡便にすることができる。
【0020】光半導体素子キャリアM1の貫通孔11
は、単結晶シリコンの異方性エッチングを用い形成した
{111}面で形成することにより、きわめて優れた精
度を有することが可能となる。その精度はレンズ12と
光半導体素子搭載面A1との距離の精度に反映される。
【0021】また、光半導体素子配設面A1に光実装素
子21を実装する際には、貫通孔11の光半導体素子配
設面A1側に存在する開口部を、実装時の位置合わせマ
ーカーとして利用することが可能であるため、開口部に
対して光半導体素子21をサブミクロンオーダーで実装
することが可能となる。その精度はレンズ12との位置
精度に反映される。
【0022】従って、この光半導体素子キャリアM1に
光半導体素子21を搭載する事によりレンズ13と光半
導体素子21の距離及び位置をきわめて精度よく実装す
ることが可能となり、光半導体素子21として高速動作
可能な受光径の小さい面受光型の受光素子を用いた場
合、レンズ13を用いた光学系により十分な結合特性を
得ることができる。また、光半導体素子21として面発
光型の発光素子を用いた場合も、同様の精度をもつ発光
素子実装構造とすることが可能となり、良好な光結合特
性を得られるという利点がある。
【0023】また図4に示すように、光半導体素子キャ
リアM1を{100}面を主面にもつシリコン基板41
を用い作製することで、A1面とA2面を{100}面
とし、A2面にパターニングを施し、アルカリ水溶液を
用いた単結晶シリコンの異方性エッチングにより、A1
面にまで到達する{111}から成り、A2面側の開口
の広い断面V字状の貫通孔42を形成することができ
る。
【0024】貫通孔42の傾斜角θは結晶方位により正
確に決定されており、角度54.74°を持つ極めて精
度のよい貫通孔を作製することができる。レンズ44と
光半導体素子との距離Dは、シリコン基板41の厚みT
と、搭載するレンズ径Rにより、A2面の開口幅Wを以
下の数式に従うことで設計することが可能となる。
【0025】W=2(T−D+R((1/cosθ)−
1))/tanθ (θ=54.74°) また図5に示すように、光半導体素子キャリアM2(簡
単のため、光半導体素子の図示を省略してある)を、
{100}面と{110}面を主面にもつ2種類のシリ
コン基板51、52を貼り合せた基板を用いて作製す
る。これにより、A1面に{100}面、A2面を{1
10}面とすることで、A2面にパターニングを施し、
アルカリの異方性エッチングを施し、A1面にまで到達
する{111}面から成る貫通孔53を形成することが
できる。
【0026】この際、貫通孔53は、A2面から{11
0}面を有する基板52では、A1に向けて垂直にエッ
チング加工することができ、{100}面を有するシリ
コン基板51では、断面V溝状に開口が狭くなりA1面
に到達する形状となる。この貫通孔53はシリコンの異
方性エッチングにより形成されているので、極めて精度
よく作製することができる。
【0027】図6に示すように、レンズ54と光半導体
素子との距離Dは、{100}面を有するシリコン領域
の厚みT1と、搭載するレンズ径Rにより、A2面の開
口幅Wを前述と同様の以下の数式に従うことで設計する
ことが可能となる。W=2(T1−D+R((1/co
sθ)−1))/tanθ (θ=54.74°)この
ような構造とすることにより、A2側の開口幅Wを最少
でレンズ径Rにまで小さくすることが可能なり、キャリ
アの強度をより強くすることが可能となる。
【0028】さらに図7に示すように、{110}面を
有するシリコン領域の厚みT2を適当に設定することに
より、A2面側に光アイソレータ71などの別の光学素
子を同じ光半導体キャリアに実装する構造をも取ること
も可能となる。
【0029】また、光半導体素子キャリアのA1面側の
立設する際の下面側に{111}面から成る傾斜面A4
を形成することでこの光半導体素子キャリアの実装を簡
便にすることができ、かつキャリアを安価に製造するこ
とが可能となる。
【0030】図8、9に示すように、光半導体素子キャ
リアM3のA1面には光半導体素子91に接続される電
極パターン81、82,83が形成されるが、この配線
をA1面に単結晶シリコンの異方性エッチングで形成さ
れた{111}面の傾斜面A4にも形成することで、こ
の段差面に相対する形状を有した段差斜面92を有した
基板93上に重ね合わせることにより、基板上の段差斜
面92に形成されている図示されない電極配線との接続
させることができ、光半導体素子91のキャリアの実装
時にワイヤーボンディング工程が不要となり、アセンブ
ル工程における簡便化が可能となる。なお、パターン8
4は光半導体素子91をA1面に対して傾かないように
高さ調整するためのパターンである。
【0031】また、このような傾斜面A4への電極パタ
ーンの形成は、キャリア製造工程において同一ウエハ上
での形成が可能となるため、従来の直方体の形状に比
べ、製造工程が極めて簡便となり、光半導体素子搭載キ
ャリアの安価な製造が可能となる。
【0032】また、光半導体素子搭載キャリアの実装方
法を上述のような構成とすることで、光半導体素子とそ
れを駆動するICやアンプなどの半導体素子95との距
離を極めて短くすることが可能となるので、信号の伝播
による損失を抑える事が可能となる。ひいては、より高
速な光モジュールの提供が可能となるという利点を有す
る。
【0033】なお、本実施形態では、光モジュールとし
て送信用光モジュール及び受信用光モジュールを例にと
り説明したが、送受信用光モジュールや双方向光モジュ
ールにも適用が可能であることはもちろんであり、本発
明の要旨を逸脱しない範囲で適宜変更し実施が可能であ
る。
【0034】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の請求項
1、2の光半導体素子キャリアによれば、単結晶シリコ
ンから成る基台は、光半導体素子の配設面及びその背面
を貫通する貫通孔が{111}面で構成され、レンズが
配設されているので、面発光型の発光素子や受光径の小
さな高速用の受光素子を用いても結合特性が優れる。
【0035】また、レンズを基台の内側に配設する構造
とすることができ、光半導体素子キャリアとしての取り
扱いを簡便にできる。
【0036】また、本発明の請求項3〜6の光半導体素
子キャリアにおいては、光半導体素子とレンズや光学素
子との位置関係が極めて精度の良好な実装とすることが
できる。特に、請求項4の光半導体素子キャリアにおい
ては、さらに強度の強いキャリアとすることが可能とな
る。請求項6の光半導体素子キャリアにあっては別の光
学素子をも配設することで、内蔵可能とすることができ
る。
【0037】請求項7の光半導体素子キャリアにおいて
は、ワイヤーボンディング工程などのアセンブリ工程を
削減することが可能となり、他の光学基板上への実装を
容易にし、かつその作製方法を簡便なものとすることが
可能となるため、より安価な光半導体素子キャリアの提
供が可能となる。
【0038】さらに本発明の請求項8の光半導体素子キ
ャリアの実装構造によれば、アセンブリ工程を削減し、
高周波特性に優れた光モジュールの提供が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る光半導体素子キャリアの実施形態
を模式的に説明するための図であり、(a)及び(b)
は斜視図、(c)及び(e)は平面図、(d)は断面図
である。
【図2】本発明に係る光半導体素子キャリアの実装形態
を模式的に説明するための図であり、(a)は斜視図、
(b)は断面図である。
【図3】本発明に係る光半導体素子キャリアの実装構造
を説明する斜視図である。
【図4】本発明に係る光半導体素子キャリアの実施形態
を模式的に説明するための断面図である。
【図5】本発明に係る他の光半導体素子キャリアの実施
形態を模式的に説明するための図であり、(a)及び
(b)は斜視図、(c)及び(e)は平面図、(d)は
断面図である。
【図6】本発明に係る光半導体素子キャリアの実施形態
を模式的に説明するための端面図である。
【図7】本発明に係る他の光半導体素子キャリアの実施
形態を模式的に説明するための断面図である。
【図8】本発明に係る他の光半導体素子キャリアの実施
形態を模式的に説明するための図であり、(a)及び
(b)は斜視図、(c)及び(e)は平面図、(d)は
断面図である。
【図9】本発明に係る光半導体素子キャリアの実装形態
を模式的に説明するための図であり、(a)は斜視図、
(b)は断面図である。
【図10】従来の光モジュールの実施形態を示す図であ
り、(a)は斜視図、(b)は断面図である。
【図11】従来の光モジュールの実施形態を示す図であ
り、(a)は斜視図、(b)は断面図である。
【符号の説明】 M1、M2、M3:光半導体素子キャリア A1、A2、A3、A4:光半導体素子キャリアの一側
面 10:基台 11、42、53:貫通孔 12、115:レンズ 13、14、82、83、84:電極配線 21:光半導体素子 22:ワイヤーボンディング 31、91、95:半導体素子 32、93、103、113:サブ基板 33、106:光導波体 41、51:シリコン{100}基板 52:シリコン{110}基板 71:光アイソレータ 92:段差斜面 101:光半導体素子キャリア 102、112:面受光素子 104:段差面 105、114:V溝 111:端面発光素子 116:モニター光 T、T1、T2:シリコン基板厚み D:A1面とレンズまでの距離 R:ボールレンズの径 W:A2面の貫通孔の開口幅 θ:{111}面のA1との角度

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 単結晶シリコンから成る基台上に光半導
    体素子を配設する光半導体素子キャリアであって、前記
    基台は、光半導体素子の配設面及びその背面を貫通する
    異方性エッチングで形成した貫通孔と、該貫通孔内に配
    設されるレンズとを備えていることを特徴とする光半導
    体素子キャリア。
  2. 【請求項2】 前記貫通孔の内壁面が{111}面であ
    ることを特徴とする請求項1に記載の光半導体素子キャ
    リア。
  3. 【請求項3】 前記貫通孔における前記光半導体素子の
    配設面側の開口面積が、その背面側の開口面積より小さ
    いことを特徴とする請求項1に記載の光半導体素子キャ
    リア。
  4. 【請求項4】 前記光半導体素子の配設面及びその背面
    が共に{100}面であることを特徴とする請求項1に
    記載の光半導体素子キャリア。
  5. 【請求項5】 前記光半導体素子の配設面が{100}
    面で、且つその背面が{110}面で形成されているこ
    とを特徴とする請求項1に記載の光半導体素子キャリ
    ア。
  6. 【請求項6】 前記背面側の貫通孔内に光学素子が配設
    されていることを特徴とする請求項5に記載の光半導体
    素子キャリア。
  7. 【請求項7】 前記光素子キャリアの配設面は{11
    1}面から成る傾斜面を含むとともに、該傾斜面に前記
    光半導体素子に接続される配線が形成されていることを
    特徴とする請求項1乃至6に記載の光半導体素子キャリ
    ア。
  8. 【請求項8】 段差傾斜面を有する基板上に、請求項6
    に記載の光半導体素子キャリアを配設するようにした光
    半導体素子キャリアの実装構造であって、前記基板の段
    差傾斜面に形成された配線と、前記光半導体素子キャリ
    アの配設面に形成された配線とを接続させたことを特徴
    とする光半導体素子キャリアの実装構造。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007173550A (ja) * 2005-12-22 2007-07-05 Yokogawa Electric Corp 波長可変レーザ
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