JP2002251773A

JP2002251773A - 光ピックアップ装置、光ピックアップ装置の製造方法及び光学ディスク装置

Info

Publication number: JP2002251773A
Application number: JP2001045689A
Authority: JP
Inventors: Yoshito Yuma; 嘉人遊馬
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 2001-02-21
Filing date: 2001-02-21
Publication date: 2002-09-06

Abstract

(57)【要約】【課題】サーボ動作の信頼性を向上するとともに光学
素子に要求される部品精度を緩和し、製造コストの低減
を図る。【解決手段】光を出射する光源１１と光学ディスク４
からの戻り光を受光する受光部１５とを有するレーザカ
プラ１７と、光学ディスク４に出射光を集光する対物レ
ンズ１４と、光源１１から出射された出射光と光学ディ
スク４からの戻り光とを分岐するためのホログラム素子
１２とを有する光学系１を備える。また、レーザカプラ
１７及びホログラム素子１２を支持する支持体１９を備
える。そして、レーザカプラ１７及びホログラム素子１
２は、いずれか一方が支持体１９に対して固定されて、
一方に対する他方の相対位置を調動可能とされる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば光ディスク
や光磁気ディスク等の光学ディスクに対して情報を記録
及び／又は再生する光ピックアップ装置及びこの光ピッ
クアップ装置を備える光学ディスク装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】例えば、ＣＤ(Compact Disc)，ＤＶＤ(D
igital Versatile Disc)等の光学ディスクに対して情報
を記録及び／又は再生する光ピックアップ装置が知られ
ている。

【０００３】この種の光ピックアップ装置は、光学ディ
スクの記録面に出射光を集光させる対物レンズを有する
光学系と、対物レンズの光軸に平行なフォーカシング方
向及び対物レンズの光軸に直交するトラッキング方向に
対物レンズをそれぞれ駆動変位させるレンズ駆動機構と
を備えている。

【０００４】光ピックアップ装置が備える光学系として
は、別体に分離された各種光学素子が組み合わされて構
成されるディスクリート型の光学系と、各種光学素子が
一体に構成された集積型の光学系とがある。

【０００５】まず、図１８に示すように、光学ディスク
２０４として再生専用のＣＤから情報を再生するディス
クリート型の光学系２０１は、レーザ光を出射する光源
２１１と、この光源２１１からの出射光を分割する回折
格子２１２と、この回折格子２１２からの出射光を反射
するとともに戻り光を透過するビームスプリッタ２１３
と、このビームスプリッタ２１３から出射された出射光
を平行光に変換するコリメータレンズ２１４と、このコ
リメータ２１４からの出射光を光学ディスク２０４に集
光する対物レンズ２１５と、光学ディスク２０４からの
戻り光を受光する受光部２１６とを有している。

【０００６】光源２１１は、ＣＤに対応するレーザ光を
出射する半導体レーザを有している。回折格子２１２
は、光源２１１からの出射光の光軸上に位置して配設さ
れて、出射光をメインビームである０次光と、サイドビ
ームである±１次光からなる３ビームに分割する。ビー
ムスプリッタ２１３は、透過屈折される戻り光に所定の
非点収差を付与する。

【０００７】受光部２１６は、図１９（ａ）に示すよう
に、中央に位置されてメインビームの戻り光を受光する
メインビーム用フォトディテクタ２２１と、このメイン
ビーム用フォトディテクタ２２１を間に挟んで両側に位
置されてサイドビームを受光する一組のサイドビーム用
フォトディテクタ２２２，２２３とを有している。

【０００８】メインビーム用フォトディテクタ２２１
は、図１９（ａ）に示すように、受光面が互いに直交す
る２本の分割線Ｌ_１１，Ｌ_１２により、受光領域ａ_４，
ｂ_４，ｃ_４，ｄ_４にそれぞれ４等分割されている。各サ
イドビーム用フォトディテクタ２２２，２２３は、受光
領域ｅ_４，ｆ_４を有している。

【０００９】そして、この光学系２０１は、フォーカシ
ングエラー信号を検出する検出方法として、いわゆる非
点収差法が用いられており、トラッキングエラー信号を
検出する検出方法として、いわゆる３スポット法（３ビ
ーム法）が用いられている。

【００１０】メインビーム用フォトディテクタ２２１の
各受光領域ａ_４，ｂ_４，ｃ_４，ｄ_４の各出力をＳａ_４，
Ｓｂ_４，Ｓｃ_４，Ｓｄ_４とすれば、フォーカシングエラ
ー信号ＦＥは、ＦＥ＝（Ｓａ_４＋Ｓｃ_４）−（Ｓｂ_４＋Ｓｄ_４）により算出される。

【００１１】また、図１９（ａ）に示すように、メイン
ビーム用フォトディテクタ２２１は、受光面に平行な平
面方向において、図１９中Ｘ方向の位置ずれによる出力
のオフセット量（以下、Ｘ信号と称する。）と、図１９
中Ｙ方向の位置ずれによる出力のオフセット量（以下、
Ｙ信号と称する。）とがそれぞれ「０」となるように位
置が調整される。Ｘ信号は、Ｘ＝（Ｓａ_４＋Ｓｂ_４）−（Ｓｃ_４＋Ｓｄ_４）により算出される。Ｙ信号は、Ｙ＝（Ｓａ_４＋Ｓｄ_４）−（Ｓｂ_４＋Ｓｃ_４）により算出される。

【００１２】フォーカシングエラー信号ＦＥは、対物レ
ンズ２１５が光学ディスク２０４に対して合焦位置にあ
るとき、図１９（ａ）に示すような円形のビームスポッ
トになり、ＦＥ＝０となる。また、フォーカシングエラ
ー信号ＦＥは、対物レンズ２１５が光学ディスク２０４
に近づき過ぎたときに、図１９（ｂ）に示すようなビー
ムスポットになることにより、ＦＥ＜０となり、対物レ
ンズ２１５が光学ディスク２０４から遠ざかり過ぎたと
きに、図１９（ｃ）に示すようなビームスポットになる
ことにより、ＦＥ＞０となる。

【００１３】また、各サイドビーム用フォトディテクタ
２２２，２２３の各受光領域ｅ_４，ｆ_４の各出力をＳｅ
_４，Ｓｆ_４とすれば、トラッキングエラー信号ＴＥは、ＴＥ＝Ｓｅ_４−Ｓｆ_４により算出される。

【００１４】そして、再生信号ＲＦは、メインビーム用
フォトディテクタ２２１の受光領域Ｓａ_４，Ｓｂ_４，Ｓ
ｃ_４，Ｓｄ_４の出力の和であるＲＦ＝Ｓａ_４＋Ｓｂ_４＋Ｓｃ_４＋Ｓｄ_４により算出される。

【００１５】また、光ピックアップ装置が備えるレンズ
駆動機構は、対物レンズ２１５を保持するレンズホルダ
と、このレンズホルダをフォーカシング方向及びトラッ
キング方向の二軸方向にそれぞれ駆動変位させる電磁駆
動部とを有している。

【００１６】以上のように構成された光ピックアップ装
置は、得られたフォーカシングエラー信号ＦＥ及びトラ
ッキングエラー信号ＴＥに基づいて、レンズ駆動機構が
対物レンズ２１５をフォーカシング方向及びトラッキン
グ方向にそれぞれ駆動変位させることにより、光学ディ
スク２０４の記録面上の所望の記録トラック上に出射光
を合焦させて、光学ディスク２０４から情報として再生
信号ＲＦを再生する。

【００１７】そして、光ピックアップ装置は、得られた
フォーカシングエラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー
信号ＴＥに基づいて、レンズ駆動機構が対物レンズ２１
５をフォーカシング方向及びトラッキング方向にそれぞ
れ駆動変位させることにより、光学ディスク２０４の記
録面に出射光が合焦されて、光学ディスク２０４から情
報として再生信号ＲＦを再生する。

【００１８】なお、上述した光学系２０１は、光学ディ
スク２０４としてＤＶＤから情報を再生する場合、図示
しないが、受光部２２６が、受光面が４分割されたメイ
ンビーム用フォトディテクタを有する構成とされて、対
角方向の各受光領域の出力の位相差を比較する、いわゆ
る位相差法（ＤＰＤ法）を用いることにより、トラッキ
ングエラー信号ＴＥが得られる。

【００１９】次に、図２０及び図２１に示すように、光
学ディスク２０４として再生専用のＣＤから情報を再生
する集積型の光学系２０２は、レーザ光を出射する光源
２３１と、この光源２３１からの出射光を反射する反射
ミラー２３２と、この反射ミラー２３２で反射された出
射光を分割するとともに戻り光を回折するホログラム素
子２３４と、このホログラム素子２３４からの出射光を
平行光に変換するコリメータレンズ２３５と、このコリ
メータレンズ２３５からの出射光を光学ディスク２０４
に集光する対物レンズ２３６と、光学ディスク２０４か
らの戻り光の一部を遮光するナイフエッジ２３７と、戻
り光を受光する受光部２３８とを備えている。

【００２０】図２１に示すように、光源２３１、反射ミ
ラー２３２、ナイフエッジ２３７及び受光部２３８は、
同一基盤（図示せず）上にそれぞれ配設されて筐体２４
０内に組み込まれることにより一体に集積された、いわ
ゆるレーザカプラ２３９として構成されている。

【００２１】ホログラム素子２３４は、図２１に示すよ
うに、ブロック状をなすプリズムが用いられており、出
射光の光軸に直交する第１の面２４１と、この第１の面
２４１に平行に対向する第２の面２４２とを有してい
る。第１の面２４１には、反射ミラー２３２で反射され
た出射光を分割する回折格子２４５が配設されている。
この回折格子２４５は、出射光をメインビームである０
次光と、サイドビームである±１次光からなる３ビーム
に分割する。第２の面２４２には、戻り光を受光部２３
８に導くように回折するホログラム２４６が配設されて
いる。

【００２２】受光部２３８は、図２２（ａ）に示すよう
に、中央に位置されてメインビームを受光する第１及び
第２のメインビーム用フォトディテクタ２５１，２５２
と、これら第１及び第２のメインビーム用フォトディテ
クタ２５１，２５２を間に挟んで両側に位置されてサイ
ドビームを受光する一組のサイドビーム用フォトディテ
クタ２５３，２５４とを有している。

【００２３】第１及び第２のメインビーム用フォトディ
テクタ２５１，２５２は、図２２（ａ）に示すように、
受光面が光学ディスク２０４の径方向に平行な分割線Ｌ
_１３により、各受光領域ａ_５，ｂ_５及び各受光領域
ｃ_５，ｄ_５に二等分割されている。また、第１及び第２
のメインビーム用フォトディテクタ２５１，２５２は、
分割線Ｌ_１３の延長線上に戻り光の光軸が位置するよう
に、分割線Ｌ_１３に平行な方向に隣接されてそれぞれ配
設されている。各サイドビーム用フォトディテクタ２５
３，２５４は、受光領域ｅ_５，ｆ_５を有している。

【００２４】そして、この光学系２０２は、フォーカシ
ングエラー信号を検出する検出方法として、ナイフエッ
ジ２３７によって分割されて半円形とされた２つのビー
ムスポットを検出する、いわゆるダブル・フーコー法が
用いられており、トラッキングエラー信号を検出する検
出方法として、いわゆる３スポット法が用いられてい
る。

【００２５】第１及び第２のメインビーム用フォトディ
テクタ２５１，２５２の各受光領域ａ_５，ｂ_５及び各受
光領域ｃ_５，ｄ_５の各出力をＳａ_５，Ｓｂ_５，Ｓｃ_５，
Ｓｄ _５とすれば、フォーカシングエラー信号ＦＥは、ＦＥ＝（Ｓａ_５＋Ｓｃ_５）−（Ｓｂ_５＋Ｓｄ_５）により算出される。

【００２６】また、図２２（ａ）に示すように、第１及
び第２のメインビーム用フォトディテクタ２５１，２５
２は、受光面に平行な平面方向において、Ｘ信号及びＹ
信号がそれぞれ「０」となるように位置が調整される。
Ｘ信号は、Ｘ＝（Ｓａ_５＋Ｓｂ_５）−（Ｓｃ_５＋Ｓｄ_５）により算出される。Ｙ信号は、Ｙ＝（Ｓａ_５＋Ｓｄ_５）−（Ｓｂ_５＋Ｓｃ_５）により算出される。

【００２７】フォーカシングエラー信号ＦＥは、対物レ
ンズ２３６が光学ディスク２０４に対して合焦位置にあ
るとき、図２２（ａ）に示すような円形のビームスポッ
トになり、ＦＥ＝０となる。また、フォーカシングエラ
ー信号ＦＥは、対物レンズ２３６が光学ディスク２０４
に近づき過ぎたときに、図２２（ｂ）に示すようなビー
ムスポットになることにより、ＦＥ＜０となり、対物レ
ンズ２３６が光学ディスク２０４から遠ざかり過ぎたと
きに、図２２（ｃ）に示すようなビームスポットになる
ことにより、ＦＥ＞０となる。

【００２８】また、サイドビーム用フォトディテクタ２
５３，２５４の各受光領域ｅ_５，ｆ _５の各出力をＳ
ｅ_５，Ｓｆ_５とすれば、トラッキングエラー信号ＴＥ
は、ＴＥ＝Ｓｅ_５−Ｓｆ_５により算出される。

【００２９】また、再生信号ＲＦは、第１及び第２のメ
インビーム用フォトディテクタ２５１，２５２の各受光
領域ａ_５，ｂ_５及び受光領域ｃ_５，ｄ_５の出力の和であ
るＲＦ＝（Ｓａ_５＋Ｓｂ_５）＋（Ｓｃ_５＋Ｓｄ_５）によ
り算出される。

【００３０】なお、上述した光学系２０２は、ナイフエ
ッジ２３７によって戻り光を分割する構成とされたが、
例えばホログラムによって戻り光を分割するように構成
されてもよい。光学系２０２は、光学ディスク２０４と
してＤＶＤから情報を再生する場合、例えばナイフエッ
ジやホログラムによって戻り光を４分割して、各戻り光
の対角方向の受光領域の出力の位相差を比較する、いわ
ゆる位相差法を用いることにより、トラッキングエラー
信号ＴＥが得られる。また、上述した光学系２０２にお
いて、コリメータレンズ２３５及び回折格子２４５が不
要とされる場合もある。

【００３１】以上のように構成された光学系２０２は、
得られたフォーカシングエラー信号ＦＥ及びトラッキン
グエラー信号ＴＥに基づいて、レンズ駆動機構が対物レ
ンズ２３６をフォーカシング方向及びトラッキング方向
にそれぞれ駆動変位させることにより、光学ディスク２
０４の記録面上の所望の記録トラック上に出射光を合焦
させて、光学ディスク２０４から情報として再生信号Ｒ
Ｆを再生する。

【００３２】さらに、図２３及び図２４に示すように、
他の集積型の光学系２０３としては、光路順に、レーザ
光を出射する光源２６１と、この光源２６１から出射さ
れた出射光を反射するとともに戻り光を透過屈折させる
プリズム２６２と、このプリズム２６２から出射された
出射光を平行光に変換するコリメータレンズ２６３と、
このコリメータレンズ２６３からの出射光を光学ディス
ク２０４に集光する対物レンズ２６４と、光学ディスク
２０４からの戻り光を受光する受光部２６５とを備えて
いる。

【００３３】光源２６１は、レーザ光を出射する半導体
レーザを有しており、プリズム２６２及び受光部２６５
と同一基盤（図示せず）上にそれぞれ配設されて筐体２
６８内に組み込まれることにより一体に集積された、い
わゆるレーザカプラ２６７として構成されている。

【００３４】プリズム２６２には、光源２６１からの出
射光の光軸に対向する位置に、出射光を反射するととも
に戻り光を透過屈折するハーフミラーが設けられてい
る。また、プリズム２６２には、ハーフミラーで透過屈
折された戻り光を受光部２６５に導くように反射させる
反射面が設けられている。

【００３５】受光部２６５は、図２５（ａ）に示すよう
に、戻り光を受光する第１及び第２のフォトディテクタ
２７１，２７２を有している。第１及び第２のフォトデ
ィテクタ２７１，２７２は、互いに平行な２本の分割線
Ｌ_１４，Ｌ_１５により三分割されており、各受光領域ａ
_６，ｂ_６，ｃ_６及び各受光領域ｄ_６，ｅ_６，ｆ_６を有し
ており、各分割線Ｌ_１４，Ｌ_１５に平行な方向に隣接さ
れてそれぞれ配設されている。

【００３６】そして、この光学系２０３は、フォーカシ
ングエラー信号を検出する検出方法として、第１及び第
２のフォトディテクタ２７１，２７２上のビームスポッ
トの大きさを比較する、いわゆるスポットサイズ法が用
いられている。

【００３７】スポットサイズ法において、第１及び第２
のフォトディテクタ２７１，２７２の各受光領域ａ_６，
ｂ_６，ｃ_６及び各受光領域ｄ_６，ｅ_６，ｆ_６の各出力を
Ｓａ _６，Ｓｂ_６，Ｓｃ_６，Ｓｄ_６，Ｓｅ_６，Ｓｆ_６とす
れば、フォーカシングエラー信号ＦＥは、ＦＥ＝（Ｓａ_６＋Ｓｃ_６＋Ｓｅ_６）−（Ｓｂ_６＋Ｓｄ_６
＋Ｓｆ_６）によって算出される。

【００３８】フォーカシングエラー信号ＦＥは、対物レ
ンズ２６４が光学ディスク２０４に対して合焦位置にあ
るとき、図２５（ａ）に示すようなビームスポットにな
り、ＦＥ＝０となる。また、フォーカシングエラー信号
ＦＥは、対物レンズ２６４が光学ディスク２０４に近づ
き過ぎたときに、図２５（ｂ），図２５（ｄ）に示すよ
うなビームスポットになることにより、ＦＥ＜０とな
り、対物レンズ２６４が光学ディスク２０４から遠ざか
り過ぎたときに、図２５（ｃ），図２５（ｅ）に示すよ
うなビームスポットになることにより、ＦＥ＞０とな
る。

【００３９】また、再生信号ＲＦは、第１及び第２のフ
ォトディテクタ２７１，２７２の各受光領域ａ_６，
ｂ_６，ｃ_６及び各受光領域ｄ_６，ｅ_６，ｆ_６の出力の和
であるＲＦ＝（Ｓａ_６＋Ｓｂ_６＋Ｓｃ_６＋Ｓｄ_６＋Ｓｅ_６＋Ｓ
ｆ_６）により算出される。

【００４０】また、光学系２０３は、光学ディスク２０
４としてＣＤから情報を再生する場合、図示しないが、
第１及び第２のフォトディテクタ２７１，２７２を挟ん
で分割方向に直交する方向の両側に、いわゆる３スポッ
ト法によるサイドビームを受光するサイドビーム用フォ
トディテクタをそれぞれ配設する構成とすることで、ト
ラッキングエラー信号ＴＥが得られる。

【００４１】以上のように構成された集積型の光学系２
０３は、得られたフォーカシングエラー信号ＦＥ及びト
ラッキングエラー信号ＴＥに基づいて、レンズ駆動機構
が対物レンズ２６４をフォーカシング方向及びトラッキ
ング方向にそれぞれ駆動変位させることにより、光学デ
ィスク２０４の記録面に出射光が合焦されて、光学ディ
スク２０４から情報として再生信号ＲＦを再生する。

【００４２】

【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
のディスクリート型の光学系２０１は、構成が簡素とさ
れるとともに、製造コストが廉価であり、各光学素子の
位置調整を比較的容易に行うことができるために各光学
素子に要求される部品精度等が比較的緩い等の利点があ
る。一方で、ディスクリート型の光学系２０１は、各光
学素子が別体であるため、光学系２０１全体が大きくな
るとともに、組み立て作業に比較的時間を要し、温度や
湿度の環境変化によってサーボ動作に変化が生じるた
め、信頼性にやや乏しいという問題があった。また、デ
ィスククリート型の光学系２０１は、受光部２２６に受
光面が４分割されたメインビーム用フォトディテクタ２
３１を用いることにより、メインビーム用フォトディテ
クタ２３１の分割された受光面を高精度に位置決めする
ことが必要となり、正確なフォーカシングエラー信号Ｆ
Ｅを検出する信頼性を確保するための条件が厳しい等の
不都合がある。

【００４３】また、上述した従来の集積型の光学系２０
２，２０３によれば、ホログラム素子２３４や、光源２
３１，２６１及び受光部２３８，２６５等の各光学素子
の集積化が図られているため、光学系２０２，２０３全
体を小型化することができる。また、集積型の光学系２
０２によれば、受光部２３８の第１及び第２のメインビ
ーム用フォトディテクタ２５１，２５２の各受光領域ａ
_５，ｂ_５，ｃ_５，ｄ_５上で移動するビームスポットの移
動量が各光学素子の移動量に対して比較的小さく、正確
なフォーカシングエラー信号ＦＥを検出する信頼性が高
い等の利点がある。一方で、集積型の光学系２０２，２
０３は、上述したディスクリート型の光学系２０１に比
較して製造コストが嵩むとともに、調整可能とされる箇
所が少ないため、各光学素子の比較的高い部品精度が要
求される等の不都合がある。

【００４４】そこで、本発明は、サーボ動作の信頼性を
向上するとともに光学素子に要求される部品精度を緩和
することを可能とし、製造コストを低減することができ
る光ピックアップ装置、この光ピックアップ装置の製造
方法及び光ピックアップ装置を備える光学ディスク装置
を提供することを目的とする。

【００４５】

【課題を解決するための手段】上述した目的を達成する
ため、本発明に係る光ピックアップ装置は、光を出射す
る光源と光学ディスクからの戻り光を受光する受光部と
を有する集積光学素子と、光学ディスクに出射光を集光
する対物レンズと、光源から出射された出射光と光学デ
ィスクからの戻り光とを分岐するための分岐光学素子と
を有する光学系を備える。また、この光ピックアップ装
置は、集積光学素子及び分岐光学素子を支持する支持体
を備える。そして、集積光学素子及び分岐光学素子は、
いずれか一方が支持体に対して固定されて、一方に対す
る他方の相対位置を調動可能とされる。

【００４６】以上のように構成した光ピックアップ装置
は、集積光学素子及び分岐光学素子のいずれか一方が支
持体に対して固定されて、この一方に対する他方の相対
位置を調動可能とされるため、受光部に対する戻り光の
位置を調整することが可能とされている。したがって、
この光ピックアップ装置によれば、集積光学素子と分岐
光学素子との相対位置が高精度に位置決めされる。

【００４７】また、本発明に係る光ピックアップ装置の
製造方法は、光を出射する光源と光学ディスクからの戻
り光を受光する受光部とを有する集積光学素子と、光学
ディスクに出射光を集光する対物レンズと、光源から出
射された出射光と光学ディスクからの戻り光とを分岐す
るための分岐光学素子とを有する光学系と、集積光学素
子及び分岐光学素子を支持する支持体とを備える光ピッ
クアップ装置の製造方法である。そして、この光ピック
アップ装置の製造方法は、集積光学素子及び分岐光学素
子のいずれか一方が、支持体に対して固定されて、一方
に対する他方の相対位置を調動した後に、他方を支持体
に固定する。

【００４８】以上のように構成した光ピックアップ装置
の製造方法は、集積光学素子又は分岐光学素子のいずれ
か一方が支持体に固定されて、この一方に対して他方の
相対位置を調整することにより、受光部に対する戻り光
の位置が調整されて、調整された状態で支持体に固定さ
れる。

【００４９】また、本発明に係る光学ディスク装置は、
光学ディスクに対して情報を記録及び／又は再生する光
ピックアップと、光学ディスクを回転駆動するディスク
回転駆動手段とを備える。光ピックアップは、光を出射
する光源と光学ディスクからの戻り光を受光する受光部
とを有する集積光学素子と、光学ディスクに出射光を集
光する対物レンズと、光源から出射された出射光と光学
ディスクからの戻り光とを分岐するための分岐光学素子
とを有する光学系を備える。また、この光ピックアップ
装置は、集積光学素子及び分岐光学素子を支持する支持
体を備える。そして、集積光学素子及び分岐光学素子
は、いずれか一方が支持体に対して固定されて、一方に
対する他方の相対位置を調動可能とされる。

【００５０】以上のように構成した光学ディスク装置
は、集積光学素子及び分岐光学素子のいずれか一方が支
持体に対して固定され、この一方に対する他方の相対位
置を調動することが可能とされるため、受光部に対する
戻り光の位置を調整することが可能とされている。した
がって、この光学ディスク装置の光ピックアップは、集
積光学素子と分岐光学素子の相対位置が高精度に位置決
めされる。

【００５１】

【発明の実施の形態】以下、本発明の具体的な実施形態
について、光ピックアップ装置及びこの光ピックアップ
装置を備えるディスクドライブ装置を図面を参照して説
明する。本発明に係る光ピックアップ装置には、光学デ
ィスクとしてＣＤ(Compact Disc)及び／又はＤＶＤ(Dig
ital Versatile Disc)が適用される。

【００５２】光ピックアップ装置は、光学ディスクにレ
ーザ光を合焦させる対物レンズを有する光学系と、対物
レンズの光軸に平行な方向及び光軸に直交する方向とに
対物レンズをそれぞれ駆動変位させるレンズ駆動機構と
を備えている。

【００５３】まず、光学ディスクとしてＣＤに対応する
光学系を説明する。図１及び図２に示すように、光ピッ
クアップ装置が備える集積型の光学系１は、光路順に、
ＣＤに対応するレーザ光を出射する光源１１と、この光
源１１から出射された出射光を分割するとともに戻り光
を回折するホログラム素子１２と、このホログラム素子
１２から反射された出射光をほぼ平行光に変換するコリ
メータレンズ１３と、このコリメータレンズ１３で平行
光に変換された出射光を光学ディスク４の記録面上に集
光する対物レンズ１４と、光学ディスク４からの戻り光
を受光する受光部１５とを備えている。

【００５４】光源１１は、レーザ光を出射する半導体レ
ーザを有している。光源１１及び受光部１５は、図２に
示すように、同一基盤（図示せず）上にそれぞれ配設さ
れて、同一筐体１８内に組み込まれることにより一体に
集積された、いわゆるレーザカプラ１７として構成され
ている。

【００５５】ホログラム素子１２は、図２に示すよう
に、ブロック状をなすプリズムとして形成されており、
光源１１から出射される出射光の光軸に直交する第１の
面２１と、この第１の面２１に平行に対向する第２の面
２２とを有している。第１の面２１は、光源１１に臨む
側に形成されている。第２の面２２は、光学ディスク４
に臨む側に形成されている。

【００５６】第１の面２１には、図２に示すように、光
源１１から出射された出射光の光軸上に位置して、出射
光をメインビームである０次光と、サイドビームである
±１次光とからなる３ビームに分割する回折格子２４が
配設されている。

【００５７】第２の面２２には、図２に示すように、光
学ディスク４からの戻り光の光軸上に位置して、戻り光
を回折するホログラム２５が配設されている。このホロ
グラム２５は、光源１１からの出射光をそのまま透過さ
せるとともに、光学ディスク４から戻り光を受光部１１
に導くように回折させるようになされている。

【００５８】このホログラム２５は、図２に示すよう
に、ほぼ円形の回折領域が、直線状の分割線Ｌ_１によっ
て半円形の第１及び第２の回折領域２６，２７に分割さ
れている。第１及び第２の回折領域２６，２７は、光学
ディスク４からの戻り光を互いに異なる回折角を以てそ
れぞれ回折させるとともに、各回折光の焦点位置を互い
に異ならせるように、異なるホログラムパターンを有し
ている。

【００５９】すなわち、ホログラム２５は、第１の回折
領域２６で回折される一方の回折光が、第２の回折領域
２７で回折される他方の回折光に比して回折角が大とさ
れることにより、光源１１の発光点に対して近い側に向
かうとともに、受光部１５の受光面に対して焦点位置が
前方に位置されるように回折される。また、ホログラム
２５は、第２の回折領域２７で回折される他方の回折光
が、第１の回折領域２６で回折される一方の回折光に比
して回折角が小とされて、光源１１の発光点に対して遠
い側に向かうとともに、受光部１５の受光面に対して焦
点位置が後方に位置されるように回折される。

【００６０】そして、上述したレーザカプラ１７及びホ
ログラム素子１２は、図３に示すように、レンズ駆動機
構を支持する支持体１９上にそれぞれ配設されている。

【００６１】コリメータレンズ１３は、例えば凸レンズ
が用いられており、光源１１からの出射光をほぼ平行な
光束に変換して、対物レンズ１４に入射させる。対物レ
ンズ１４は、凸レンズが用いられており、コリメータレ
ンズ１３から入射された平行光束を、光学ディスク４の
記録面の所望の記録トラック上に収束させる。

【００６２】対物レンズ１４は、図示しないレンズ駆動
機構が備える電磁駆動部によって、対物レンズ１４の光
軸に平行な方向であるフォーカシング方向及びこのフォ
ーカシング方向に直交するトラッキング方向の二軸方向
にそれぞれ駆動変位可能に支持されている。

【００６３】受光部１５は、上述したように、光源１１
を有するレーザカプラ１７に組み込まれており、ホログ
ラム２５の第１及び第２の回折領域２６，２７で回折さ
れた各戻り光をそれぞれ受光する受光面が複数に分割さ
れている。受光部１５は、中央に位置されてメインビー
ムをそれぞれ受光する第１及び第２のメインビーム用フ
ォトディテクタ３１，３２と、これら第１及び第２のメ
インビーム用フォトディテクタ３１，３２を間に挟んで
光学ディスク４の接線方向の両側に位置されてサイドビ
ームをそれぞれ受光する一組のサイドビーム用フォトデ
ィテクタ３３，３４とを有している。

【００６４】第１及び第２のメインビーム用フォトディ
テクタ３１，３２は、光学ディスク４の径方向に平行な
分割線Ｌ_２によって、受光領域ａ_１，ｂ_１及び受光領域
ｃ_１，ｄ_１にそれぞれ二等分割されており、分割線Ｌ_２
に平行な方向に隣接されてそれぞれ配設されている。ま
た、第１及び第２のメインビーム用フォトディテクタ３
１，３２は、出射光の光軸に交差する分割線Ｌ_２の延長
線上の位置に対して変位されてそれぞれ配設されてい
る。一組のサイドビーム用フォトディテクタ３３，３４
は、受光領域ｅ_１，ｆ_１を有している。

【００６５】受光部１５は、ホログラム２５の第１の回
折領域２６で回折された回折光が第１のメインビーム用
フォトディテクタ３１に照射されるとともに、第２の回
折領域２７で回折された回折光が第２のメインビーム用
フォトディテクタ３２に照射される。

【００６６】そして、光学系１は、フォーカシングエラ
ー信号を検出する検出方法として、半円形のビームスポ
ットによるいわゆるスポットサイズ法が用いられてお
り、トラッキングエラー信号を検出する検出方法とし
て、サイドビームの戻り光の出力差を検出する、いわゆ
る３スポット法が用いられている。

【００６７】第１及び第２のメインビーム用フォトディ
テクタ３１，３２の各受光領域ａ_１，ｂ_１，ｃ_１，ｄ_１
の各出力をＳａ_１，Ｓｂ_１，Ｓｃ_１，Ｓｄ_１とすれば、
フォーカシングエラー信号ＦＥは、ＦＥ＝（Ｓａ_１＋Ｓｃ_１）−（Ｓｂ_１＋Ｓｄ_１）により算出される。

【００６８】また、図４（ａ）に示すように、第１及び
第２のメインビーム用フォトディテクタ３１，３２は、
受光面に平行な平面方向において、図４中Ｘ方向の位置
ずれによる出力のオフセット量（以下、Ｘ信号と称す
る。）と、図４中Ｙ方向の位置ずれによる出力のオフセ
ット量（以下、Ｙ信号と称する。）とが共に「０」とな
るように位置が調整される。Ｘ信号は、Ｘ＝（Ｓａ_１＋Ｓｂ_１）−（Ｓｃ_１＋Ｓｄ_１）により算出される。Ｙ信号は、Ｙ＝（Ｓａ_１＋Ｓｄ_１）−（Ｓｂ_１＋Ｓｃ_１）により算出される。

【００６９】フォーカシングエラー信号ＦＥは、対物レ
ンズ１４が光学ディスク４に対して合焦位置にあると
き、図４（ａ）に示すようなビームスポットになり、Ｆ
Ｅ＝０となる。また、フォーカシングエラー信号ＦＥ
は、対物レンズ１４が光学ディスク４に近づき過ぎたと
きに、図４（ｂ），図４（ｄ）に示すようなビームスポ
ットになることにより、ＦＥ＜０となり、対物レンズ１
４が光学ディスク４から遠ざかり過ぎたときに、図４
（ｃ），図４（ｅ）に示すようなビームスポットになる
ことにより、ＦＥ＞０となる。

【００７０】また、サイドビーム用フォトディテクタ３
３，３４の各受光領域ｅ_１，ｆ_１の各出力をＳｅ_１，Ｓ
ｆ_１とすれば、トラッキングエラー信号ＴＥは、ＴＥ＝Ｓｅ_１−Ｓｆ_１により算出される。

【００７１】そして、再生信号ＲＦは、第１及び第２の
メインビーム用フォトディテクタ３１，３２の各受光領
域Ｓａ_１，Ｓｂ_１及び各受光領域Ｓｃ_１，Ｓｄ_１の出力
の和であるＲＦ＝Ｓａ_１＋Ｓｂ_１＋Ｓｃ_１＋Ｓｄ_１により算出される。

【００７２】ここで、上述したフォーカシングエラー信
号ＦＥを検出する検出方法として用いられる半円形のビ
ームスポットによるスポットサイズ法について簡単に説
明する。上述した従来の光学系２０３で説明したよう
に、一般的なスポットサイズ法においては、受光面が分
割線Ｌ_１４，Ｌ_１５によって３分割された第１及び第２
のフォトディテクタ２７１，２７２が用いられるが、受
光面に照射される円形のビームスポットが、受光面を３
分割する分割線Ｌ_１４，Ｌ_１５も平行な中心線（図示せ
ず）に対称であるため、この中心線によって二分割され
た各受光領域で受光する半円形のビームスポットによっ
てもフォーカシングエラー信号ＦＥを検出することが可
能とされている。

【００７３】すなわち、半円形のビームスポットによる
スポットサイズ法によれば、図５（ａ）に示すように、
ホログラム２５で回折された戻り光の各回折光を受光す
る第１及び第２のメインビーム用フォトディテクタ３
１，３２が、各回折光のビームスポットの大きさの変化
を検出することにより、フォーカシングエラー信号ＦＥ
が得られる。

【００７４】光学系１の光源１１は、第１及び第２のメ
インビーム用フォトディテクタ３１，３２が、対物レン
ズ１４が合焦位置に位置する状態で、Ｘ信号及びＹ信号
が共に「０」となるように調整されて位置決めされる。Ｘ＝（Ｓａ_１＋Ｓｂ_１）−（Ｓｃ_１＋Ｓｄ_１）＝０Ｙ＝（Ｓａ_１＋Ｓｄ_１）−（Ｓｂ_１＋Ｓｃ_１）＝０Ｘ信号は、ホログラム素子１２のホログラム２５に入射
する戻り光のビームスポットの分割位置に依存し、Ｙ信
号は、ホログラム素子１２に入射する戻り光の光軸回り
の回転位置の精度に依存する。

【００７５】そして、ホログラム２５に入射されるビー
ムスポットの分割位置である第１及び第２の回折領域２
６，２７の分割線Ｌ_１の位置のみをこの分割線Ｌ_１に直
交する方向に移動させて変化させた場合には、ＦＥ＝
（ａ_１＋ｃ_１）−（ｂ_１＋ｄ_１）＞０となるため、図５
（ａ），（ｂ）に示すように、フォーカシングエラー信
号ＦＥが変化する。すなわち、半円形のビームスポット
によるスポットサイズ法は、Ｘ信号を変化させることに
よって、フォーカス位置を調整することができる。な
お、図５（ｃ）に示すように、Ｙ信号を変化させた場合
には、フォーカスエラー信号ＦＥが変化されない。

【００７６】実際の光ピックアップ装置の製造工程にお
ける調整方法としては、図３に示すように、光学系１を
支持する支持体１９上にホログラム素子１２を固定した
状態で、光学系１全体でデフォーカス量が「０」となる
ようにレーザカプラ１７の筐体１８を支持体１９に対し
て、レーザ光の光軸の軸回り方向や光学ディスク４の径
方向に移動させることにより、受光部１５のＸ信号を調
整するとともに、同様にＹ信号が「０」となるように調
整することによって行われる。そして、受光部１５のＸ
信号及びＹ信号が「０」に調整された、レーザカプラ１
７は、支持体１９に固定されることにより、ホログラム
２５、光源１１及び受光部１５の相対位置が高精度に位
置決めされる。

【００７７】ところで、フォーカシングエラー信号を検
出する検出方法としていわゆるダブル・フーコー法が用
いられた他の集積型の光学系について、上述した調整方
法と同様に調整する場合を図面を参照して説明する。

【００７８】ダブル・フーコー法の場合には、図６
（ａ）に示すように、分割線Ｌ'によって分割された各
受光領域ａ'，ｂ'，ｃ'，ｄ'を有する第１及び第２のメ
インビーム用フォトディテクタ１９１，１９２が利用さ
れる。このダブル・フーコー法の場合にも、図６（ｂ）
及び図６（ｃ）に示すように、Ｘ信号、Ｙ信号及びフォ
ーカシングエラー信号ＦＥが、上述した半円形のビーム
スポットによるスポットサイズ法と同様に定義される。
しかしながら、ダブル・フーコー法が用いられた集積型
の光学系の場合には、図６（ｂ）及び図６（ｃ）に示す
ように、Ｘ信号又はＹ信号を単独で変化させたときにフ
ォーカシングエラー信号を変化させることができない。

【００７９】また、このダブル・フーコー法が用いられ
た集積型の光学系の場合には、Ｘ信号及びＹ信号を共に
変化させることによって、フォーカシングエラー信号Ｆ
Ｅを変化させることが可能であるが、上述した半円形の
ビームスポットによるスポットサイズ法が用いられた光
学系１と比較して変化量がごく僅かである。したがっ
て、本発明に係る半円形のビームスポットによるスポッ
トサイズ法によれば、Ｘ信号を変化させることによっ
て、フォーカス位置を比較的大きく変化させることがで
きるという利点がある。

【００８０】一方、メインビーム用フォトディテクタの
位置を移動調整することよって、フォーカス位置を変化
させることが可能な他のフォーカシングエラー信号の検
出方法がある。例えばシングル・フーコー法が考えられ
る。このシングル・フーコー法は、図６（ａ）に示すよ
うに、上述したダブル・フーコー法の場合に使用する第
１及び第２のメインビーム用フォトディテクタ１９１，
１９２のいずれか一方のみ、例えば第１のメインビーム
用フォトディテクタ１９１の受光領域ａ'，ｂ'のみを用
いてフォーカシングエラー信号ＦＥを検出する検出方法
である。シングル・フーコー法によるフォーカシングエ
ラー信号ＦＥは、ＦＥ＝ａ'−ｂ' により算出される。

【００８１】シングル・フーコー法によれば、Ｙ信号を
調整することにより、フォーカス位置を調整することが
可能とされる。しかしながら、Ｘ信号とＹ信号を比較し
た場合、集積型の光学系においては、Ｘ信号に比してＹ
信号の方が調整感度が高い、すなわち微少な変化がフォ
ーカシングエラーを生じさせてしまう不都合があるた
め、上述した半円形のビームスポットによるスポットサ
イズ法が信頼性の点で優れている。

【００８２】以上のように、フォーカシングエラー信号
を検出する検出方法としてダブル・フーコー法や円形の
ビームスポットによる一般的なスポットサイズ法を用い
た場合には、フォーカス位置を調整することが困難であ
るため、各光学素子の部品精度に高精度が要求されてし
まうという不都合がある。

【００８３】すなわち、ダブル・フーコー法や一般的な
スポットサイズ法を用いた場合には、例えばダブル・フ
ーコー法の場合を図７（ａ）及び図７（ｂ）に示すよう
に、光源の発光点Ｐと受光部の第１及び第２のメインビ
ーム用フォトディテクタ１９１，１９２との相対位置
が、第１及び第２のメインビーム用フォトディテクタ１
９１，１９２の分割線Ｌ'に直交する方向に位置ずれが
生じた場合や、第１及び第２のメインビーム用フォトデ
ィテクタ１９１，１９２の受光面の位置が、この受光面
に直交する方向である高さ方向の基準に対して位置ずれ
が生じた場合等に、フォーカシングエラーが発生してし
まうが、図７（ｃ）に示すように、発光点Ｐと各ビーム
スポットの中心を通る直線Ｌ''を回転させても修正する
ことができない。

【００８４】しかしながら、半円形のビームスポットに
よるスポットサイズ法やシングル・フーコー法によれ
ば、上述したフォーカシングエラーに応じてＸ信号又は
Ｙ信号を変化させることによって修正することができ
る。

【００８５】次に、光学系１を備える光ピックアップ装
置の製造工程において、光学系１のフォーカス位置を調
整する調整方法について説明する。一般的に、光ピック
アップ装置の製造工程において、集積型の光学系を備え
る光ピックアップ装置は、例えばレーザカプラの筐体と
ホログラム素子が接着剤等によって固定されて組み立て
られている。

【００８６】半円形のビームスポットによるスポットサ
イズ法を用いた集積型の光学系１の場合も同様にレーザ
カプラ１７の筐体１８とホログラム素子２５を固定する
ことも可能とされるが、レーザカプラ１７の筐体１８と
ホログラム素子２５を個々に光学系１を支持する支持体
１９等に固定した後に、例えば筐体１８或いはホログラ
ム素子２５に相対位置を調整するための調整機構（図示
せず）を設けることにより、この調整機構を介してレー
ザカプラ１７の筐体１８とホログラム素子２５との相対
位置を調整することが望ましい。

【００８７】すなわち、光学系１を備える光ピックアッ
プ装置として組み立てられた状態で、例えばホログラム
素子２５が固定された支持体１９に対してレーザカプラ
１９をレーザ光の光軸の軸回り及び光学ディスク４の径
方向に調動することによって、受光部１５とホログラム
素子２５との相対位置が調整されることになるため、光
ピックアップ装置の固有のフォーカス位置のずれを含め
て調整することが可能とされて、原理的に、製造される
すべての光ピックアップ装置のフォーカス位置のずれが
「０」になるように調整することが可能とされる。

【００８８】したがって、この光ピックアップ装置の調
整方法によれば、従来行われているような、光ピックア
ップ装置を仮組みした後に実際に光学ディスクを再生す
ることによって光学系を調整するような煩わしい調整作
業が不要となるため、製造工程の組立作業の簡素化が図
られて、製造コストを低減することが可能とされる。

【００８９】また、半円形のビームスポットによるスポ
ットサイズ法は、第１及び第２のメインビーム用フォト
ディテクタ３１，３２上の各ビームスポットが、光源１
１の発光点に対して遠い側又は近い側のどちらの位置
（以下、遠近位置と称する。）であるかと、各回折光の
焦点に対して前後のどちらの位置（以下、焦点前後位置
と称する。）であるかによって、２通りの組合わせが考
えられるが、各組合わせにより有利不利がある。

【００９０】光源１１の発光点が第１及び第２のメイン
ビーム用フォトディテクタ３１，３２の分割線Ｌ_２上に
位置する状態から、光源１１の発光点が第１及び第２の
メインビーム用フォトディテクタ３１，３２の分割線Ｌ
_２と垂直な方向にずれた場合には、上述したように、フ
ォーカシングエラーが生じてしまう。

【００９１】すなわち、一般に、例えば図７（ａ）及び
図７（ｂ）に示したダブル・フーコー法の場合と同様
に、光源１１の発光点が位置ずれした場合、Ｘ信号及び
Ｙ信号を調整することにより、発光点の位置ずれ量であ
る距離に応じて、２つのビームスポットの中心と第１及
び第２のメインビーム用フォトディテクタ３１，３２の
分割線Ｌ_２との間に隙間が生じることにより、フォーカ
シングエラーが発生する。

【００９２】しかしながら、半円形のビームスポットに
よるスポットサイズ法においては、ホログラム２５の分
割された各第１及び第２の回折領域２６，２７の各ホロ
グラムパターンにより、異なるレンズ作用、一般に凹レ
ンズと凸レンズのように逆向きに作用されて、このレン
ズ作用に応じてビームスポットが移動する。その結果、
図８（ａ），（ｂ），（ｃ），（ｄ）及び図９（ａ），
（ｂ），（ｃ），（ｄ）に示すダブル・フーコー法の場
合と同様に、上述した遠近位置と焦点前後位置との組合
わせを変化させることにより、ビームスポットの移動方
向及び移動量が、遠近位置により入れ替わる。

【００９３】そして、図８（ａ），（ｂ）に示す状態と
同様に、ホログラム２５の第１及び第２の回折領域２
６，２７で回折された各回折光は、発光点に近い第１の
メインビーム用フォトディテクタ３１上に合焦後のビー
ムスポットが照射されるとともに、発光点から遠い第２
のメインビーム用フォトディテクタ３２上に合焦前のビ
ームスポットが照射される組合わせが効果的とされる。
なお、図８（ａ），（ｂ），（ｃ），（ｄ）及び図９
（ａ），（ｂ），（ｃ），（ｄ）中において、便宜上、
図６（ａ）に示したダブル・フーコー法によるビームス
ポットで表すが、本発明に係る半円形のビームスポット
によるスポットサイズ法でも同様であることは勿論であ
る。

【００９４】特に、２つのビームスポットの中心を結ぶ
直線が、光源１１の発光点を通るように、第１及び第２
のメインビーム用フォトディテクタ３１，３２の受光面
の高さ方向の位置や各第１及び第２の回折領域２６，２
７の各ホログラムパターンをそれぞれ設定することが理
想的とされる。

【００９５】以上のように構成された光ピックアップ装
置は、得られたフォーカシングエラー信号ＦＥ及びトラ
ッキングエラー信号ＴＥに基づいて、レンズ駆動機構が
対物レンズ１４をフォーカシング方向及びトラッキング
方向にそれぞれ駆動変位させることにより、光学ディス
ク４の記録面上の所望の記録トラック上に出射光を合焦
させて、光学ディスク４にから情報として再生信号ＲＦ
を再生する。

【００９６】上述したように、光ピックアップ装置が備
える光学系１によれば、ホログラム素子１２のホログラ
ム２５で回折された各回折光の焦点位置を変化させて、
受光部１５によって各回折光の焦点位置の差を検出する
ことによって、フォーカシングエラー信号ＦＥを得るこ
とが可能とされる。そして、この光ピックアップ装置
は、光源１１及び受光部１５に対するホログラム２５の
分割線Ｌ_１の相対位置を移動することに伴ってフォーカ
ス位置を調整することができる。

【００９７】また、この光ピックアップ装置によれば、
支持体１９に固定されたレーザカプラ１７に対するホロ
グラム素子１２の分割線Ｌ_１の相対位置を調整すること
により、受光部１５の第１及び第２のメインビーム用フ
ォトディテクタ３１，３２の各受光領域ａ_１，ｂ_１，ｃ
_１，ｄ_１に対して、ホログラム２５で回折された各回折
光のビームスポットの位置を高精度に位置決めすること
が可能とされるため、光ピックアップ装置の固有のフォ
ーカス位置のずれが「０」となるように確実に調整する
ことができる。

【００９８】すなわち、この光ピックアップ装置によれ
ば、サーボ動作の信頼性を向上するとともに光学系１の
各光学素子に要求される部品精度を緩和することが可能
とされる。したがって、この光ピックアップ装置によれ
ば、正確なフォーカシングエラー信号ＦＥを検出する信
頼性を向上するとともに、光学系１全体の小型化、製造
コストの低減を図ることができる。

【００９９】次に、上述した光ピックアップ装置が備え
る光学系１は、光学ディスク４としてＣＤに対応された
が、光学ディスク４としてＤＶＤに対応する他の光学系
を図面を参照して説明する。

【０１００】図１０及び図１１に示すように、他の光学
系２は、光路順、レーザ光を出射する光源４１と、この
光源４１から出射された出射光を透過するとともに戻り
光を回折するホログラム素子４２と、出射光を平行光に
変換するコリメータレンズ４３と、このコリメータレン
ズ４３から出射された出射光を光学ディスク４に集光す
る対物レンズ４４と、ホログラム素子４２で回折された
戻り光を受光する受光部４５とを備えている。

【０１０１】光源４１は、ＤＶＤに対応するレーザ光を
出射する半導体レーザを有している。光源４１及び受光
部４５は、図１１に示すように、同一基盤（図示せず）
上にそれぞれ配設されて、同一筐体４７内に組み込まれ
ることにより一体に集積された、いわゆるレーザカプラ
４６として構成されている。

【０１０２】ホログラム素子４２は、図１１に示すよう
に、ブロック状をなすプリズムとして形成されており、
光源４１からの出射光の光軸に直交する第１の面４８
と、この第１の面４８に平行に対向する第２の面４９と
を有している。

【０１０３】第２の面４９には、戻り光を異なる回折角
を以て回折するホログラム５０が配設されている。この
ホログラム５０は、図１１及び図１２に示すように、回
折領域が互いに直交する２本の直線状の分割線Ｌ_３，Ｌ
_４によって分割された第１、第２、第３及び第４の回折
領域５１，５２，５３，５４をそれぞれ有している。

【０１０４】第１、第２、第３及び第４の回折領域５
１，５２，５３，５４は、光学ディスク４からの戻り光
を互いに異なる回折角を以てそれぞれ回折させる。ま
た、第１及び第２の回折領域５１，５２は、各回折光の
焦点位置を異ならせるように、異なるホログラムパター
ンを有している。

【０１０５】受光部４５は、光源４１を有するレーザカ
プラ４６の筐体４７内に組み込まれており、図１１に示
すように、ホログラム素子４２のホログラム５０の各第
１、第２、第３及び第４の回折領域５１，５２，５３，
５４でそれぞれ回折された各回折光を受光する第１、第
２、第３及び第４のフォトディテクタ５６，５７，５
８，５９を有している。

【０１０６】第１及び第２のフォトディテクタ５６，５
７は、図１２に示すように、受光面が光学ディスク４の
径方向に平行な分割線Ｌ_５によって受光領域ａ_２，
ｂ_２，ｃ _２，ｄ_２にそれぞれ二等分割されており、分割
線Ｌ_５に平行な方向に隣接されてそれぞれ配設されてい
る。

【０１０７】ところで、ＤＶＤには、記録層が２層に積
層されたものがあり、各記録層からの戻り光によるフォ
ーカシングエラー信号が干渉しないようにフォーカシン
グエラー信号を速やかに減衰させることが必要となる。
このため、受光部４５には、図１２に示すように、第１
及び第２のフォトディテクタ５６，５７を間に挟んで光
学ディスク４の接線方向の両側に、出力を迅速に減衰さ
せるための出力減衰用フォトディテクタ６１，６２，６
３，６４がそれぞれ配設されている。これら出力減衰用
フォトディテクタ６１，６２，６３，６４は、受光領域
ｅ_２，ｆ_２，ｇ _２，ｈ_２を有している。

【０１０８】第３及び第４のフォトディテクタ５８，５
９は、図１２に示すように、受光領域ｉ_２，ｊ_２を有し
ており、第１及び第２のフォトディテクタ５６，５７の
分割線Ｌ_５の延長線を間に挟んで対向されるとともに、
第１及び第２のフォトディテクタ５６，５７に対して分
割線Ｌ_５に平行な方向に隣接されてそれぞれ配設されて
いる。

【０１０９】上述した受光部４５は、図１２に示すよう
に、ホログラム５０の第１の回折領域５１で回折された
回折光が、第１のフォトディテクタ５６の受光領域
ａ_２，ｂ _２に照射されるとともに、第２の回折領域５２
で回折された回折光が第２のフォトディテクタ５７の受
光領域ｃ_２，ｄ_２に照射される。また、受光部４５は、
第３の回折領域５３で回折された回折光が第３のフォト
ディテクタ５８の受光領域ｉ_２に照射されるとともに、
第４の回折領域５４で回折された回折光が第４のフォト
ディテクタ５９の受光領域ｊ_２に照射される。

【０１１０】そして、この光学系２は、ＤＶＤのフォー
カシングエラー信号を検出する検出方法として、１／４
円形のビームスポットによるいわゆるスポットサイズ法
が用いられており、ＤＶＤのトラッキングエラー信号を
検出する検出方法として、いわゆる位相差法（ＤＰＤ
法）が用いられている。

【０１１１】第１、第２、第３及び第４のフォトディテ
クタ５６，５７，５８，５９と、出力減衰用フォトディ
テクタ６１，６２，６３，６４の各受光領域ａ_２，
ｂ_２，ｃ _２，ｄ_２，ｅ_２，ｆ_２，ｇ_２，ｈ_２，ｉ_２，ｊ
_２の各出力をＳａ_２，Ｓｂ_２，Ｓｃ_２，Ｓｄ_２，Ｓ
ｅ_２，Ｓｆ_２，Ｓｇ_２，Ｓｈ_２，Ｓｉ_２，Ｓｊ_２とすれ
ば、フォーカシングエラー信号ＦＥは、ＦＥ＝｛（Ｓａ_２＋Ｓｃ_２）−（Ｓｂ_２＋Ｓｄ_２）｝−
｛（Ｓｅ_２＋Ｓｇ_２）−（Ｓｆ_２＋Ｓｈ_２）｝により算出される。

【０１１２】図１３に示すように、受光部４５は、第１
及び第２のメインビーム用フォトディテクタ５６，５７
のみの場合のフォーカシングエラー信号ＦＥの出力（図
中破線）に比較して、出力減衰用フォトディテクタ６
１，６２，６３，６４を用いた場合のフォーカシングエ
ラー信号ＦＥの出力（図中実線）の減衰が急峻に変化す
る。すなわち、受光部４５は、出力減衰用フォトディテ
クタ６１，６２，６３，６４による出力を利用すること
によって、フォーカシングエラー信号ＦＥを迅速に減衰
させることができる。

【０１１３】また、図１２に示すように、第１及び第２
のフォトディテクタ５６，５７は、Ｘ信号及びＹ信号が
共に「０」となるように位置が調整される。Ｘ信号は、Ｘ＝（Ｓａ_２＋Ｓｂ_２）−（Ｓｃ_２＋Ｓｄ_２）により算出される。Ｙ信号は、Ｙ＝（Ｓａ_２＋Ｓｄ_２）−（Ｓｂ_２＋Ｓｃ_２）により算出される。

【０１１４】また、トラッキングエラー信号ＴＥは、各
ビームスポットの位相差を検出する位相差法（ＤＰＤ
法）により、ＴＥ＝｛（Ｓａ_２＋Ｓｂ_２）＋Ｓｉ_２｝−｛（Ｓｃ_２＋
Ｓｄ_２）＋Ｓｊ_２｝により算出される。

【０１１５】また、再生信号ＲＦは、第１、第２、第３
及び第４のフォトディテクタ５６，５７，５８，５９
と、出力減衰用フォトディテクタ６１，６２，６３，６
４の各受光領域ａ_２，ｂ_２，ｃ_２，ｄ_２，ｅ_２，ｆ_２，
ｇ_２，ｈ_２の出力の和であるＲＦ＝Ｓａ_２＋Ｓｂ_２＋Ｓｃ_２＋Ｓｄ_２＋Ｓｅ_２＋Ｓｆ
_２＋Ｓｇ_２＋Ｓｈ_２＋Ｓｉ_２＋Ｓｊ_２により算出される。

【０１１６】そして、光学系２は、得られたフォーカシ
ングエラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー信号ＴＥに
基づいて、レンズ駆動機構が対物レンズ４４をフォーカ
シング方向及びトラッキング方向にそれぞれ駆動変位さ
せることにより、光学ディスク４の記録面上の所望の記
録トラック上に出射光を合焦させて、光学ディスク４か
ら情報を再生する。

【０１１７】上述した光学系２によれば、光源４１及び
受光部４５に対するホログラム素子４２の分割線Ｌ_３，
Ｌ_４の相対位置を移動することに伴ってフォーカス位置
を調整することが可能とされて、正確なフォーカシング
エラー信号ＦＥを検出する信頼性を向上するとともに、
光学系２全体の小型化、製造コストの低減を図ることが
できる。

【０１１８】さらに、上述した光ピックアップ装置が備
える光学系１，２は、光学ディスク４としてＣＤ又はＤ
ＶＤに対応するように構成されたが、ＣＤ及びＤＶＤに
それぞれ対応する更に他の光学系を図面を参照して説明
する。

【０１１９】図１４及び図１５に示すように、更に他の
光学系３は、光路順に、第１及び第２の波長のレーザ光
をそれぞれ出射する光源７１と、この光源７１から出射
された第２の波長の出射光を分割するとともに第１の波
長の戻り光を回折するホログラム素子７２と、このホロ
グラム素子７２から出射光を平行光に変換するコリメー
タレンズ７３と、このコリメータレンズ７３から出射さ
れた出射光を光学ディスク４に集光する対物レンズ７４
と、ホログラム素子７２で回折された戻り光を受光する
受光部７５とを備えている。

【０１２０】光源７１は、ＤＶＤに対応する第１の波長
として６５０ｎｍ程度のレーザ光を出射する第１の半導
体レーザと、ＣＤに対応する第２の波長として７８０ｎ
ｍ程度のレーザ光を出射する第２の半導体レーザとを有
している。光源７１には、第１及び第２の半導体レーザ
の各発光点が、約１００μｍの間隔をあけてはそれぞれ
配設されている。

【０１２１】また、光源７１は、ホログラム素子７２に
設けられた後述するホログラム８５によって、第１の波
長及び第２の波長がそれぞれ回折される際に、ホログラ
ム素子７２による回折角が波長に比例することを考慮し
て、第１の波長に比して長波長とされる第２の波長のレ
ーザ光が出射される発光点が、第１の波長のレーザ光が
出射される発光点の位置に比して、受光部７５から遠い
側に位置して配設されている。すなわち、第２の半導体
レーザは、受光部７５に対して第１の半導体レーザより
遠い位置に配設されている。

【０１２２】この光源７１及び受光部７５は、図１５に
示すように、同一基盤（図示せず）上にそれぞれ配設さ
れて、同一筐体７８内に組み込まれることにより一体に
集積された、いわゆるレーザカプラ７７として構成され
ている。

【０１２３】ホログラム素子７２は、図１５に示すよう
に、光源７１からの出射光の光軸に直交する第１の面８
１と、この第１の面８１に平行に対向する第２の面８２
とを有している。

【０１２４】第１の面８１には、光源７１からの出射光
の光軸上に位置して、第２の波長の出射光をメインビー
ムである０次光と、サイドビームである±１次光からな
る３ビームに分割する回折格子８４が配設されている。

【０１２５】第２の面８２には、光学ディスク４からの
戻り光の光軸上に位置して、戻り光を回折するホログラ
ム８５が配設されている。ホログラム８５は、図１５及
び図１６に示すように、回折領域が互いに直交する２本
の分割線Ｌ_６，Ｌ_７によって、互いに異なる回折角を以
て回折する第１、第２、第３及び第４の回折領域８６，
８７，８８，８９にそれぞれ分割されている。

【０１２６】受光部７５は、光源７１を有するレーザカ
プラ７７の筐体７８内に組み込まれており、図１６に示
すように、ホログラム素子７２のホログラム８５の各第
１、第２、第３及び第４の回折領域８６，８７，８８，
８９でそれぞれ回折された各回折光を受光する第１、第
２、第３及び第４のメインビーム用フォトディテクタ９
１，９２，９３，９４と、回折格子８４で分割されサイ
ドビームの戻り光を受光する一組のサイドビーム用フォ
トディテクタ９６，９７とを有している。

【０１２７】第１及び第２のメインビーム用フォトディ
テクタ９１，９２は、図１６に示すように、受光面が光
学ディスク４の径方向に平行な分割線Ｌ_８によって二等
分割された各受光領域ａ_３，ｂ_３，ｃ_３，ｄ_３を有して
おり、分割線Ｌ_８に平行な方向に隣接されてそれぞれ配
設されている。

【０１２８】また、受光部７１には、図１６に示すよう
に、第１及び第２のメインビーム用フォトディテクタ９
１，９２を間に挟んで光学ディスク４の接線方向の両側
に、出力を迅速に減衰させるための出力減衰用フォトデ
ィテクタ１０１，１０２，１０３，１０４がそれぞれ配
設されている。これら出力減衰用フォトディテクタ１０
１，１０２，１０３，１０４は、受光領域ｅ_３，ｆ_３，
ｇ_３，ｈ_３を有している。

【０１２９】第３及び第４のメインビーム用フォトディ
テクタ９３，９４は、図１６に示すように、受光領域ｉ
_３，ｊ_３を有しており、第１及び第２のメインビーム用
フォトディテクタ９１，９２の分割線Ｌ_８の延長線を間
に挟んで対向されるとともに、第１及び第２のメインビ
ーム用フォトディテクタ９１，９２に対して分割線Ｌ _８
に平行な方向に隣接されてそれぞれ配設されている。

【０１３０】上述した受光部７５は、図１６に示すよう
に、ホログラム８５の第１の回折領域８６で回折された
回折光が、第１のメインビーム用フォトディテクタ９１
の受光領域ａ_３，ｂ_３に照射されるとともに、第２の回
折領域８７で回折された回折光が、第２のメインビーム
用フォトディテクタ９２の受光領域ｃ_３，ｄ_３に照射さ
れる。また、受光部７５は、ホログラム８５の第３の回
折領域８８で回折された回折光が、第３のメインビーム
用フォトディテクタ９３の受光領域ｉ_３に照射されると
ともに、第４の回折領域８９で回折された回折光が、第
４のメインビーム用フォトディテクタ９４の受光領域ｊ
_３に照射される。

【０１３１】また、サイドビーム用フォトディテクタ９
６，９７は、受光領域ｋ_３，ｌ_３を有しており、第１及
び第２のメインビーム用フォトディテクタ９１，９２を
間に挟んで光学ディスク４の接線方向の両側に位置され
てそれぞれ配設されている。

【０１３２】そして、この光学系３は、ＣＤ、ＤＶＤの
フォーカシングエラー信号を検出する検出方法として、
１／４円形のビームスポットによるいわゆるスポットサ
イズ法が用いられており、ＤＶＤのトラッキングエラー
信号を検出する検出方法として、いわゆる位相差法が用
いられるとともに、ＣＤのトラッキングエラー信号を検
出する検出方法として、いわゆる３スポット法が用いら
れている。

【０１３３】第１、第２、第３及び第４のメインビーム
用フォトディテクタ９１，９２，９３，９４、出力減衰
用フォトディテクタ１０１，１０２，１０３，１０４の
各受光領域ａ_３，ｂ_３，ｃ_３，ｄ_３，ｅ_３，ｆ_３，
ｇ_３，ｈ_３，ｉ_３，ｊ_３の各出力をＳａ_３，Ｓｂ_３，Ｓ
ｃ_３，Ｓｄ_３，Ｓｅ_３，Ｓｆ_３，Ｓｇ_３，Ｓｈ_３，Ｓｉ
_３，Ｓｊ_３とすれば、フォーカシングエラー信号ＦＥ
は、ＦＥ＝｛（Ｓａ_３＋Ｓｃ_３）−（Ｓｂ_３＋Ｓｄ_３）｝−
｛（Ｓｅ_３＋Ｓｇ_３）−（Ｓｆ_３＋Ｓｈ_３）｝により算出される。

【０１３４】また、図１６に示すように、第１及び第２
のメインビーム用フォトディテクタ９１，９２は、Ｘ信
号及びＹ信号が共に「０」となるように位置が調整され
る。Ｘ信号は、Ｘ＝（Ｓａ_３＋Ｓｂ_３）−（Ｓｃ_３＋Ｓｄ_３）により算出される。Ｙ信号は、Ｙ＝（Ｓａ_３＋Ｓｄ_３）−（Ｓｂ_３＋Ｓｃ_３）により算出される。

【０１３５】また、ＤＶＤのトラッキングエラー信号Ｔ
Ｅ(DVD)は、位相差法により、ＴＥ(DVD)＝｛（Ｓａ_３＋Ｓｂ_３）＋Ｓｉ_３｝−｛（Ｓ
ｃ_３＋Ｓｄ_３）＋Ｓｊ_３｝により算出される。

【０１３６】また、サイドビーム用フォトディテクタ９
６，９７の各受光領域ｋ_３，ｌ_３の各出力をＳｋ_３，Ｓ
ｌ_３とすれば、ＣＤのトラッキングエラー信号ＴＥ(CD)
は、ＴＥ(CD)＝Ｓｋ_３−Ｓｌ_３により算出される。

【０１３７】また、再生信号ＲＦは、第１、第２、第３
及び第４のメインビーム用フォトディテクタ９１，９
２，９３，９４と各出力減衰用フォトディテクタ１０
１，１０２，１０３，１０４の各受光領域ａ_３，ｂ_３，
ｃ_３，ｄ_３，ｅ_３，ｆ_３，ｇ_３，ｈ_３，ｉ_３，ｊ_３の出
力の和であるＲＦ＝Ｓａ_３＋Ｓｂ_３＋Ｓｃ_３＋Ｓｄ_３＋Ｓｅ_３＋Ｓｆ
_３＋Ｓｇ_３＋Ｓｈ_３＋Ｓｉ_３＋Ｓｊ_３により算出される。

【０１３８】以上のように構成された光学系３につい
て、ＤＶＤ，ＣＤから情報を再生する動作を説明する。

【０１３９】まず、光ピックアップ装置は、ＤＶＤから
情報を再生する場合、光源７１の第１の半導体レーザか
ら出射された第１の波長の出射光が回折格子８４をほぼ
０次光のみので透過されて、対物レンズ７４を介してＤ
ＶＤの記録面上に集光される。ＤＶＤからの第１の波長
の戻り光は、ホログラム素子７２のホログラム８５で回
折されて、各回折光が受光部７５にそれぞれ照射され
る。

【０１４０】つぎに、光ピックアップ装置は、ＣＤから
情報を再生する場合、光源７１の第２の半導体レーザか
ら出射された第２の波長の出射光が回折格子８４で、０
次光及び±１次光からなる３ビームに分割されて、コリ
メータレンズ７３で平行光に変換されて、対物レンズ７
４を介してＣＤの記録面上に集光される。ＣＤからの第
２の波長の戻り光は、ホログラム素子７２のホログラム
８５で回折されて、各回折光が受光部７５にそれぞれ照
射される。

【０１４１】そして、光学系３は、得られたフォーカシ
ングエラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー信号ＴＥに
基づいて、レンズ駆動機構が対物レンズ７４をフォーカ
シング方向及びトラッキング方向にそれぞれ駆動変位さ
せることにより、光学ディスク４の記録面に出射光が合
焦されて、光学ディスク４から情報として再生信号ＲＦ
を再生する。

【０１４２】上述した光学系３によれば、光源７１及び
受光部７５に対するホログラム素子７２の分割線Ｌ_６，
Ｌ_７の相対位置を移動することに伴ってフォーカス位置
を調整することが可能とされて、正確なフォーカシング
エラー信号ＦＥを検出する信頼性を向上するとともに、
光学系３全体の小型化、製造コストの低減を図ることが
できる。

【０１４３】なお、本発明に係る光ピックアップ装置
は、光学ディスクとしてＣＤ，ＤＶＤが適用されたが、
例えば、情報の追記が可能とされるＣＤ−Ｒ(Recordabl
e),情報の書き換えが可能とされるＣＤ−Ｒ(Recordabl
e)，ＤＶＤ−ＲＷ(ReWritable)や光磁気ディスク等の他
の光学ディスクに適用されてもよいことは勿論である。

【０１４４】最後に、上述した光ピックアップ装置を備
えるディスクドライブ装置について簡単に説明する。な
お、このディスクドライブ装置が備える光ピックアップ
は、上述した例えば光学系１を備える光ピックアップ装
置と構成が同一であるため、説明を省略する。

【０１４５】図１７に示すように、ディスクドライブ装
置１５１は、光学ディスク４から情報をそれぞれ再生す
る光ピックアップ１５２と、光学ディスク４を回転駆動
するディスク回転駆動機構１５３と、光ピックアップ１
５２を光学ディスク４の径方向に移動させる送り機構１
５４と、これら光ピックアップ１５２、ディスク回転駆
動機構１５３、送り機構１５４を制御する制御部１５５
とを備えている。

【０１４６】ディスク回転駆動機構１５３は、光学ディ
スク４が載置されるディスクテーブル１６１と、このデ
ィスクテーブル１６１を回転駆動するスピンドルモータ
１６２とを有している。送り機構１５４は、図示しない
が、光ピックアップ１５２を支持する支持ベースと、こ
の支持ベースを移動可能に支持する主軸及び副軸と、支
持ベースを移動させるスレッドモータとを有している。

【０１４７】制御部１５５は、図１７に示すように、送
り機構１５４を駆動制御して光学ディスク４の径方向に
対する光ピックアップ１５２の位置を制御するアクセス
制御回路１６５と、光ピックアップ１５２の電磁駆動部
を駆動制御するサーボ回路１６６と、これらアクセス制
御回路１６５、サーボ回路１６６を制御するドライブコ
ントローラ１６７とを有している。また、この制御部１
５５は、光ピックアップ１５２からの信号を復調処理す
る信号復調回路１６８と、復調処理された信号を誤り訂
正する誤り訂正回路１６９と、誤り訂正された信号を外
部コンピュータ等の電子機器に出力するためのインター
フェース１７０とを有している。

【０１４８】以上のように構成されたディスクドライブ
装置１５１は、図１７に示すように、ディスク回転駆動
機構１５３のスピンドルモータ１６２によって、光学デ
ィスク４が載置されたディスクテーブル１６１が回転駆
動される。そして、ディスクドライブ装置１５１は、制
御部１５５のアクセス制御回路１６５からの制御信号に
応じて送り機構１５４が駆動制御されて、光ピックアッ
プ１５２が光学ディスク４の所望の記録トラックに対応
する位置に移動される。

【０１４９】まず、ディスクドライブ装置１５１は、光
学ディスク４からの戻り光によって光ピックアップ１５
２が検出したフォーカシングエラー信号ＦＥ及びトラッ
キングエラー信号ＴＥに基づいて、サーボ回路１６６か
ら光ピックアップ１５２の電磁駆動部に制御信号が出力
されて、対物レンズ１４がフォーカシング方向及びトラ
ッキング方向にそれぞれ駆動変位されることにより、出
射光が対物レンズ１４を介して光学ディスク４の所望の
記録トラックに合焦される。そして、ディスクドライブ
装置１５１は、光ピックアップ１５２によって読み取ら
れた信号が信号復調回路１６８及び誤り訂正回路１６９
により、復調処理及び誤り訂正処理された後、インター
フェース１７０から再生信号として出力される。

【０１５０】上述したディスクドライブ装置１５１によ
れば、光ピックアップ１５２を備えることにより、正確
なフォーカシングエラー信号を検出する信頼性を向上す
ることを可能とし、装置全体の小型化、製造コストの低
減を図ることができる。

【０１５１】

【発明の効果】上述したように本発明に係る光ピックア
ップ装置、光ピックアップ装置の製造方向及び光学ディ
スク装置によれば、サーボ動作の信頼性を向上するとと
もに光学素子に要求される部品精度を緩和し、製造コス
トを低減することができる。

【０１５２】

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る光ピックアップ装置が備える光学
系を示す模式図である。

【図２】上記光学系を説明するために示す斜視図であ
る。

【図３】レーザカプラ及びホログラム素子を支持する支
持体を示す平面図である。

【図４】上記光学系の受光部を示す平面図である。

【図５】半円形のビームスポットによるスポットサイズ
法を説明するために示す図である。

【図６】シングル・フーコー法及びダブル・フーコー法
を説明するために示す図である。

【図７】ダブル・フーコー法において、光源の発光点が
位置ずれした状態を説明するために示す図である。

【図８】ホログラムでそれぞれ回折される各回折光の回
折角と焦点位置の組合わせの一例において、ホログラム
の移動に伴う各ビームスポットの移動方向を説明するた
めに示す図である。

【図９】ホログラムでそれぞれ回折される各回折光の回
折角と焦点位置の組合わせの他の例において、ホログラ
ムの移動に伴う各ビームスポットの移動方向を説明する
ために示す図である。

【図１０】本発明に係る光ピックアップ装置が備える他
の光学系を説明するために示す模式図である。

【図１１】上記他の光学系の要部を説明するために示す
斜視図である。

【図１２】上記他の光学系が有する受光部を説明するた
めに示す図である。

【図１３】上記受光部が検出するフォーカシングエラー
信号の出力とデフォーカスとの関係を示す図である。

【図１４】本発明に係る光ピックアップ装置が備える更
に他の光学系を説明するために示す模式図である。

【図１５】上記更に他の光学系の要部を説明するために
示す斜視図である。

【図１６】上記更に他の光学系が有する受光部を説明す
るために示す図である。

【図１７】上記光ピックアップ装置を備えるディスクド
ライブ装置を説明するために示すブロック図である。

【図１８】従来の光ピックアップ装置が備えるディスク
リート型の光学系の一例を示す模式図である。

【図１９】上記ディスクリート型の光学系の受光部を説
明するために示す平面図である。

【図２０】従来の光ピックアップ装置が備える集積型の
光学系の一例を示す模式図である。

【図２１】上記集積型の光学系の要部を説明するために
示す斜視図である。

【図２２】上記集積型の光学系の受光部を説明するため
に示す平面図である。

【図２３】スポットサイズ法が用いられた従来の光ピッ
クアップ装置が備える光学系を示す模式図である。

【図２４】上記従来の光学系の要部を示す模式図であ
る。

【図２５】上記従来の光学系が有する受光部を示す平面
図である。

【符号の説明】

１光学系、４光学ディスク、１１光源、１２ホ
ログラム素子、１４対物レンズ、１５受光部、１７
レーザカプラ、１９支持体、２５ホログラム

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光を出射する光源と光学ディスクからの
戻り光を受光する受光部とを有する集積光学素子と、光
学ディスクに出射光を集光する対物レンズと、上記光源
から出射された出射光と光学ディスクからの戻り光とを
分岐するための分岐光学素子とを有する光学系と、上記集積光学素子及び上記分岐光学素子を支持する支持
体とを備え、上記集積光学素子及び上記分岐光学素子は、いずれか一
方が上記支持体に対して固定されて、上記一方に対する
他方の相対位置を調動可能とされることを特徴とする光
ピックアップ装置。
【請求項２】上記集積光学素子及び／又は上記分岐光
学素子は、上記対物レンズの光軸回りに回転可能とされ
るとともに、光学ディスクの接線方向に移動可能とされ
ることを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装
置。
【請求項３】上記集積光学素子及び／又は上記分岐光
学素子は、光学ディスクの径方向に移動可能とされるこ
とを特徴とする請求項２に記載の光ピックアップ装置。
【請求項４】上記光学系は、光学ディスクからの戻り
光を複数の回折光に分割するとともに、上記複数の回折
光のうち少なくとも１つの回折光の焦点位置を変化させ
て、上記受光部は、上記複数の回折光の少なくとも２つの回
折光の各焦点位置の差を検出することにより、フォーカ
シングエラー信号を得ることを特徴とする請求項１に記
載の光ピックアップ装置。
【請求項５】光を出射する光源と光学ディスクからの
戻り光を受光する受光部とを有する集積光学素子と、光
学ディスクに出射光を集光する対物レンズと、上記光源
から出射された出射光と光学ディスクからの戻り光とを
分岐するための分岐光学素子とを有する光学系と、上記集積光学素子及び上記分岐光学素子を支持する支持
体とを備える光ピックアップ装置の製造方法において、上記集積光学素子及び上記分岐光学素子のいずれか一方
が、上記支持体に対して固定されて、上記一方に対する
他方の相対位置を調動した後に、上記他方を上記支持体
に固定することを特徴とする光ピックアップ装置の製造
方法。
【請求項６】上記集積光学素子及び／又は上記分岐光
学素子は、上記対物レンズの光軸回りに回転されるとと
もに、光学ディスクの接線方向に移動されることを特徴
とする請求項５に記載の光ピックアップ装置の製造方
法。
【請求項７】上記集積光学素子及び／又は上記分岐光
学素子は、光学ディスクの径方向に移動されることを特
徴とする請求項６に記載の光ピックアップ装置の製造方
法。
【請求項８】光学ディスクに対して情報を記録及び／
又は再生する光ピックアップと、上記光学ディスクを回
転駆動するディスク回転駆動手段とを備える光学ディス
ク装置において、上記光ピックアップは、光を出射する光源と光学ディス
クからの戻り光を受光する受光部とを有する集積光学素
子と、光学ディスクに出射光を集光する対物レンズと、
上記光源から出射された出射光と光学ディスクからの戻
り光とを分岐するための分岐光学素子とを有する光学系
と、上記集積光学素子及び上記分岐光学素子を支持する支持
体とを備え、上記集積光学素子及び上記分岐光学素子は、いずれか一
方が上記支持体に対して固定されて、上記一方に対する
他方の相対位置を調動可能とされることを特徴とする光
学ディスク装置。
【請求項９】上記集積光学素子及び／又は上記分岐光
学素子は、上記対物レンズの光軸回りに回転可能とされ
るとともに、光学ディスクの接線方向に移動可能とされ
ることを特徴とする請求項８に記載の光学ディスク装
置。
【請求項１０】上記集積光学素子及び／又は上記分岐
光学素子は、光学ディスクの径方向に移動可能とされる
ことを特徴とする請求項９に記載の光学ディスク装置。
【請求項１１】上記光学系は、光学ディスクからの戻
り光を複数の回折光に分割するとともに、上記複数の回
折光のうち少なくとも１つの回折光の焦点位置を変化さ
せて、上記受光部は、上記複数の回折光の少なくとも２つの回
折光の各焦点位置の差を検出することにより、フォーカ
シングエラー信号を得ることを特徴とする請求項８に記
載の光学ディスク装置。