JP2002243664A - Ｘ線検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光電センサのような物品を検知する装置を別
に設けることなく、物品を検知できるＸ線検査装置を提
供する。 【解決手段】 画像処理装置３２の画像処理を利用して
物品Ｇを検知できるので、光電センサのような物品を検
知する装置を別に設ける必要がなくなるから、装置の小
型化および低コスト化を図ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、物品にＸ線を透過
させて物品内の異物混入等を検査するＸ線検査装置に関
し、特に物品検知に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来のＸ線検査装置は、コンベアのよう
な搬送装置を挟んでＸ線源とＸ線検出器を配置し、搬送
される物品にＸ線源からＸ線を照射し、物品を透過した
Ｘ線をＸ線検出器に入射させてＸ線透視信号を検出し、
画像処理装置によりＸ線検出器からのＸ線透視信号を処
理し、この処理信号に基いて、物品に含まれる金属や非
金属の異物混入、物品の割れ欠け、または複数の単品を
集合してなる物品における単品の数量不足等の不良品を
検出していた。この場合、物品がＸ線検出器の位置に来
る供給タイミングを検知するために、光電センサのよう
な物品を検知する装置を設けていた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかし、前記のような
従来のＸ線検査装置においては、物品を検知する光電セ
ンサの設置のために、設置スペースが必要となるので装
置の小型化の支障となり、また、配線等の手間もかか
る。さらに、部品点数が増加することにより、低コスト
化が図れないという問題があった。

【０００４】そこで、本発明の目的は、光電センサのよ
うな物品を検知する装置を別に設けることなく、物品を
検知できるＸ線検査装置を提供することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１の発明は、物品を搬送する搬送装置を挟ん
でＸ線源とＸ線検出器とを配置し、前記Ｘ線検出器から
のＸ線透視信号を処理する画像処理装置を備えるＸ線検
査装置であって、前記画像処理装置からの処理信号に基
づき物品を検知する物品検知装置と、前記物品検知装置
による物品検知と前記画像処理装置からの処理信号とに
基づき、物品の検査結果を判断する判断装置とを備えて
いる。

【０００６】上記構成によれば、画像処理装置の画像処
理を利用して物品を検知できるので、光電センサのよう
な物品を検知する装置を別に設ける必要がなくなるか
ら、装置の小型化および低コスト化を図ることができ
る。特に検査装置の場合は、余分な部品等が製品に混入
することを避ける必要があることから有効である。

【０００７】請求項２の発明は、請求項１において、前
記画像処理装置は前記Ｘ線透視信号から検出レベルを求
める処理を行い、前記物品検知装置は、前記検出レベル
が所定値以下の場合に物品を検知する。したがって、物
品検知にＸ線検査時に用いる検出レベルそのものを流用
するため、装置等の処理部が簡素化でき、コスト削減も
可能となる。さらに、検出レベルを所定値の大小のみで
判断するため、迅速かつ簡易な物品検知が可能となる。

【０００８】請求項３の発明は、請求項１において、前
記Ｘ線検出器は複数のＸ線検出素子を備え、前記画像処
理装置は各Ｘ線検出素子ごとに前記Ｘ線透視信号から検
出レベルを求める処理を行い、前記物品検知装置は、各
検出レベルが所定値以下である暗レベルの個数と、所定
値を超える明レベルの個数を計数し、前記暗レベルの個
数と前記明レベルの個数との比が一定値以上の場合に物
品を検知する。したがって、物品検知にＸ線検査時に用
いる検出レベルそのものを流用するため、装置等の処理
部が簡素化でき、コスト削減も可能となる。１個の素子
からの検出を基に物品検知を行えば、ノイズ等により誤
検出の可能性があるが、複数の素子からの検出を基にす
るため、誤検出の可能性は低い。さらに、物品検知した
部分（暗）と物品検知しない部分（明）の比を基にする
ので、ある程度の大きさの物のみを対象にでき、本来検
知すべき物を特定できる。

【０００９】請求項４の発明は、請求項１において、前
記Ｘ線検出器は、搬送方向と交差する直線上に配置され
た複数のＸ線検出素子を備え、前記画像処理装置は各Ｘ
線検出素子ごとに前記Ｘ線透視信号から検出レベルを求
める処理を行い、前記物品検知装置は、前記各Ｘ線検出
素子からの検出レベルが所定値以下である暗レベルが複
数連続する場合に物品を検知する。したがって、物品検
知にＸ線検査時に用いる検出レベルそのものを流用する
ため、装置等の処理部が簡素化でき、コスト削減も可能
となる。さらに、連続した検出レベルのものを基にする
ので、ノイズ等により突発的に検出したものを除くこと
ができ、ある一定の幅を持った物のみを検知の対象にす
ることができる。

【００１０】請求項５の発明は、請求項１において、前
記Ｘ線検出器は複数のＸ線検出素子を備え、前記画像処
理装置は各Ｘ線検出素子ごとに前記Ｘ線透視信号から検
出レベルを求める処理を行い、前記物品検知装置は、各
検出レベルごとの度数を算出し、所定値以下の検出レベ
ルの度数が一定値以上の場合に物品を検知する。したが
って、物品検知にＸ線検査時に用いる検出レベルそのも
のを流用するため、装置等の処理部が簡素化でき、コス
ト削減も可能となる。さらに、各Ｘ線検出素子からの検
出レベルごとの度数分布を用いることにより、たとえ複
数の異なる材質を含む物品であっても、確実に物品を検
知できる。

【００１１】請求項６の発明は、請求項２ないし５のい
ずれかにおいて、前記物品検知装置は、前記画像処理装
置の処理を一定の搬送距離または時間ごとに複数回行っ
て得られた検出レベルに基づき、物品を検知する。した
がって、各Ｘ線検出素子から得られたそれぞれ複数回の
検出レベルを用いることにより、外乱やノイズに影響さ
れることなく、安全かつ確実に物品を検知できる。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。図１は本発明の第１実施形態にかか
るＸ線検査装置の全体構造の概略を示す斜視図である。
このＸ線検査装置は、物品Ｇに含まれる金属や非金属の
異物を検査するもので、装置本体１０の内部で上下方向
中間に配置される１つのコンベアのような搬送装置１２
を備えており、図２に示すように、装置本体１０内に、
Ｘ線源１３とＸ線検出器１４からなるＸ線検出部１５が
コンベア１２を挟んで配置されている。Ｘ線源１３は、
コンベア１２の幅方向中央部の上部に配置され、下方の
Ｘ線検出器１４に向けて扇状にＸ線を照射する。Ｘ線検
出器（ラインセンサ）１４は、Ｘ線源１３から照射され
たＸ線を検出する複数のＸ線検出（受光）素子２２を搬
送方向Ｆに対して交差する方向に直線（ライン）上に配
列してなる。この例では、図３（ｂ）に示すように、Ｘ
線検出素子２２が１２８個並んだものを８ブロック設け
ている。つまり、１ラインでＸ線検出素子２２を１０２
４個配列している。

【００１３】図１の装置本体１０は、全体がシールドボ
ックス１１からなり、両側面に、物品Ｇを搬出入するた
めの開口１１ａを有している。また、その正面上部には
異物検査時の操作表示を行うタッチパネルのディスプレ
イ３０が設けられている。装置本体１０には、装置全体
を制御する図５の制御部（制御コンピュータ）２０が内
蔵されている。なお、図１には図示していないが、開口
１１ａ各々には、シールドボックス１１の外部へのＸ線
の漏洩を抑えるための遮蔽カーテンにより塞がれてい
る。この遮蔽カーテンは、鉛を含むゴムから成形される
もので、物品Ｇが搬出入されるときには物品Ｇにより押
しのけられる。

【００１４】図４に示すように、装置本体１０の下流側
には、後述する判断装置３４により、異物が含まれた不
良品と判断された物品Ｇを振り分ける振分装置７０が設
けられている。振分装置７０は、図４（ｂ）に示すよう
に、コンベアの搬送面を形成する複数の棒状部材７１
と、各棒状部材７１に対して摺動自在に係合しているス
ライダー７２とを備えている。

【００１５】各棒状部材７１は、図示しない無端チェー
ンによって両端が支持されており、無端チェーンが掛け
渡されているスプロケットのモータによる回転にしたが
って、上に載った物品Ｇを下流側（図４の右側）へ搬送
するように移動する。スライダー７２は、物品Ｇの搬送
方向と直交する方向（図４（ｂ）の上下方向）に移動し
得るように棒状部材７１に係合している。これらのスラ
イダー７２は、図示しないスライダー移動機構によっ
て、後述する制御コンピュータ２０の制御に従って移動
する。これらのスライダー７２が順に図４（ｂ）の上側
に移動することによって、棒状部材７１によって搬送さ
れている物品Ｇは、不良品貯留コンベア９０へと振り分
けられる。一方、搬送されている物品Ｇが載っている棒
状部材７１に係合するスライダー７２を移動させなけれ
ば、物品Ｇは、そのまま正規のラインコンベア８０へと
移送される。

【００１６】図５の制御コンピュータ２０は、前記した
Ｘ線源１３、Ｘ線検出器１４、コンベア１２および振分
装置７０を制御する。図２に示すように、コンベア１２
はモータ１２ａにより駆動し、モータ１２ａに装着され
たロータリーエンコーダ１２ｂにより、コンベア１２の
搬送速度が検出される。制御コンピュータ２０により、
Ｘ線検出器１４は、コンベア１２が物品Ｇを所定の搬送
距離または時間だけ送ると、ロータリーエンコーダ１２
ｂからのパルスと同期して、直線上に並んだ各Ｘ線検出
素子２２の信号取り込みタイミングを順次ずらした１ラ
イン分のＸ線透視信号、つまり１ラインの走査（スキャ
ン）によるＸ線透視信号を検出するように制御される。

【００１７】Ｘ線検出器１４は、前述のように、複数の
Ｘ線検出素子２２を有し、各々の素子２２はマルチプレ
クサ２４に接続されている。マルチプレクサ２４は、ロ
ータリーエンコーダ１２ｂからのパルスを受けると、複
数の素子２２のアナログＸ線透視信号を順次切り換え
て、後段のＡ／Ｄコンバータ２６に各々出力する。Ａ／
Ｄコンバータ２６は、マルチプレクサ２４からのアナロ
グＸ線透視信号をディジタル化する。

【００１８】また、図５の制御コンピュータ２０は、画
像処理装置３２、物品検知装置３６、判断装置３４およ
び物品情報記憶部３８を備えている。

【００１９】前記画像処理装置３２は、Ａ／Ｄコンバー
タ２６から得られた物品Ｇを透過したディジタル化され
たＸ線透視信号を処理する。まず、ディジタル化された
信号を各素子ごとの信号毎にレベルに置き換える。つま
り、搬送の物品Ｇが無い状態を２５５とし、Ｘ線が完全
に遮断された状態を０として、その間を等分して検出レ
ベルとする。これにより、検出レベルを０から２５５ま
での２５６レベルに分ける。そして、画像処理装置３２
は、図３（ａ）に示すように、コンベア１２により搬送
される物品ＧがＸ線検出部１５を通過するときに、Ｘ線
検出器１４の各Ｘ線検出素子２２から物品Ｇを透過した
Ｘ線透視信号を素子２２ごとに素子２２の配置に順じて
取得し、周知の画像処理手法により、物品ＧのＸ線画像
を作成する。図３（ａ）のように、物品Ｇに異物がある
と、Ｘ線透視信号Ｓから異物像が突出して現れる。

【００２０】前記物品検知装置３６は、画像処理装置３
２からの処理信号に基づいて、物品Ｇを検知する。前記
素子２２ごとの検出レベルは、例えば、しきい値を検出
レベル２００に設定して、レベル２００以下を暗レベル
とし、レベル２００を超えると明レベルとして、暗レベ
ルと明レベルとに区別している。つまり、本発明の物品
検知装置３６は、画像処理装置３２の画像処理を利用す
ることにより物品Ｇを検知するようにしている。この具
体例については後述する。

【００２１】前記判断装置３４は、物品検知装置３６に
よる物品検知と、画像処理装置３２からの処理信号とに
基づき、物品Ｇの検査結果を判断する。具体的には、得
られたＸ線画像から、物品検知装置３６から物品検知が
された場合に限り、以下の３つの判断方式によって物品
Ｇの良・不良、すなわち、異物の有無を判断する。３つ
の判断方式は、トレース検出方式、２値化検出方式、及
びマスク２値化検出方式である。これらの判断方式で判
断した結果、１つでも不良と判断するものがあれば、そ
の物品Ｇは不良品と判断される。これらの判断方式のう
ち、トレース検出方式および２値化検出方式は、画像の
マスクされていない領域に対して判断を行う。一方、マ
スク２値化方式は、画像のマスクされている領域に対し
て判断を行う。マスクは、物品Ｇの容器部分などに対し
て設定される。

【００２２】トレース検出方式は、被検出物の大まかな
厚さに沿って基準レベル（判断のしきい値）を設定し、
画像がそれよりも暗くなったときに物品Ｇ内に異物が混
入していると判断する方式である。ここでは、２つのト
レース基準レベルを設定し、それぞれを画像と対比して
判断を行っている。第１のトレース基準レベルは、比較
的細かいものであり、２ｍｍ以下の異物を検出するため
に設定されている。第２のトレース基準レベルは、２〜
４ｍｍの異物を検出するために設定されている。

【００２３】２値化検出方式およびマスク２値化方式
は、一定の明るさに基準レベルを設定し、画像がそれよ
りも暗くなったときに物品Ｇ内に異物が混入していると
判断する方式である。この２値化検出方式は、およそ４
ｍｍ以上の大きい異物を検出するために設定されてい
る。なお、２値化検出方式およびマスク２値化方式に
は、それぞれ異なる基準レベルが設定される。上記の各
判断方式における基準レベルは、物品Ｇの種類ごとにそ
れぞれ図示しないメモリに記憶されている。これらの基
準レベルおよびマスク領域については、モニタ３０のタ
ッチパネルからの入力によって、設定および変更が可能
である。

【００２４】前記物品情報記憶部３８は、画像処理装置
３２から得られた物品Ｇごとの画像データや、判断装置
３４により得られた良・不良の判断結果、物品検知の有
無等の物品情報が記憶される。

【００２５】制御コンピュータ２０は、判断装置３４に
より物品Ｇの良・不良判断を行うと、その物品ＧのＸ線
画像をモニタ３０に表示させる。物品Ｇが不良と判断さ
れたときに、下流側の振分装置７０にその物品Ｇを振り
分けるように振分指示を送るとともに、その物品Ｇの画
像データを、振分指示を送った順番で、物品情報記憶部
３８に順次記憶していく。このとき、物品情報記憶部３
８には、いずれかの判断方式による物品不良の判断であ
るかに関する情報も、画像データと対応づけて記憶され
る。

【００２６】つぎに、本発明に係るＸ線検査装置の物品
検知装置における物品検知方法の３つの具体例について
説明する。

【００２７】まず、第１例の動作を図６のフローチャー
トに基づいて説明する。この第１例では、物品検知装置
３６は、各Ｘ線検出素子２２からの検出レベルごとの度
数を算出し、例えば検出レベル２００のような所定値以
下の検出レベル（暗レベル）の度数が例えば一定値（度
数のしきい値）以上の場合に物品Ｇを検知するものであ
る。この例では、画像処理装置３２の処理を一定の搬送
距離または時間ごとに例えばエンコーダ１２ｂからの信
号３０回分で得られた検出レベルに基づき、つまり、３
０ラインの走査（スキャン）により得られた検出レベル
に基づき、物品Ｇを検知している。なお、１ラインの走
査（スキャン）により得られた検出レベルに基づき、物
品Ｇを検知するようにしてもよい。

【００２８】まず、エンコーダ１２ｂからの出力がある
か、つまりコンべア１２が運転しているか否かが確認さ
れる（Ｓ１）。出力がなければ、ステップＳ１に戻り、
出力があれば、Ｘ線検出器１４からのＸ線透視信号が１
ライン分だけ画像処理装置３２に入力されて処理される
（Ｓ２）。つぎに、物品検知装置３６により、画像処理
装置３２からの処理信号に基づいて、Ｘ線受光素子２２
の１個ごとに検出レベルの換算が行われる（Ｓ３）。そ
して、走査カウンタが１ライン分加算され（Ｓ４）、１
ライン分のヒストグラム（度数分布）処理がなされる
（Ｓ５）。続いて、ヒストグラムの結果が加算され（Ｓ
６）、１ライン分の検出レベル（画像情報）が記憶され
る（Ｓ７）。

【００２９】そして、図６のように、走査カウンタが３
０ラインであるか否かが確認され（Ｓ８）、３０ライン
までカウントしていなければ、ステップＳ１に戻って、
検出動作を続行する。走査カウンタが３０ラインであれ
ば、走査カウンタがクリアされる（Ｓ９）。つぎに、３
０ライン分のヒストグラムにおいて検出レベルが２００
以下の暗レベルの度数が一定値（度数のしきい値）以上
であるか否かが確認される（Ｓ１０）。図７（ａ）のよ
うに、暗レベルの度数が一定値Ｌ以上であれば、物品検
知フラグを１に書換えて（Ｓ１１）、ヒストグラムがク
リアされて（Ｓ１２）、ステップＳ１に戻って、検出動
作を続行する。図７（ｂ）のように、暗レベルの度数が
Ｌ以上でない（図では、明レベルの度数がＬ以上）場合
には、物品Ｇがない（つまり、物品Ｇが到着していな
い、または、すでに通過した）と判断されて、ヒストグ
ラムがクリアされる（Ｓ１３）。つぎに、物品検知フラ
グが１であるか否かが確認されて（Ｓ１４）、物品検知
フラグが１でなければ、画像情報がクリアされ（Ｓ１
５）、ステップＳ１に戻って、検出動作を続行する。物
品検知フラグが１であれば、物品Ｇが検知され、かつ、
物品Ｇが通過したと判断される。

【００３０】つぎに、ステップＳ７で記憶された検出レ
ベル（画像情報）が物品１個分か否かが確認される（Ｓ
１６）。例えばコンベア１２の移動距離が０．４ｍｍに
１回エンコーダ１２ｂからパルスが出力される場合に、
物品Ｇの長さが４０ｍｍであると、１００回走査分の画
像情報が記憶されているか否かで判断される。この１０
０回走査分か否かは、図示しないが、別途カウンタを有
しており、そのカウンタ値により判断する。また、この
カウンタは、ステップＳ７で検出レベル（画像情報）が
記憶されるごとにカウントアップし、後述するステップ
Ｓ２１で画像情報がクリアされると、同様にカウンタが
クリアされる。１００回分記憶されていなければ、ステ
ップＳ１に戻り、１００回分記憶されていれば、画像処
理装置３２により、物品１個分の画像を合成してマスク
処理等を行い（Ｓ１７）、判断装置３４にて異物混入が
判断され（Ｓ１８）、異物混入していれば、異物混入フ
ラグを１に書換える（Ｓ１９）。異物混入していなけれ
ば、物品検知フラグを０に書換えて（Ｓ２０）、画像情
報がクリアされる（Ｓ２１）。そして、異物混入フラグ
が１か否かが確認され（Ｓ２２）、異物混入フラグが１
でなければ、ステップＳ１に戻り、異物混入フラグが１
であれば、振分装置７０が作動し（Ｓ２３）、異物混入
フラグを０に書換えて（Ｓ２４）、ステップＳ１に戻
る。

【００３１】これにより、物品検知にＸ線検査時に用い
る検出レベルそのものを流用するため、装置等の処理部
が簡素化でき、コスト削減も可能となる。また、各Ｘ線
検出素子２２からの検出レベルごとの度数分布を用いる
ことにより、たとえ複数の異なる材質を含む物品Ｇであ
っても、確実に物品Ｇを検知できる。例えば、物品Ｇを
覆っている包装物が搬送方向に平行してストライプ状に
デザインされて、そのデザインに用いられる材質がＸ線
に対して透過度が異なるような場合、つまり、検出レベ
ルの度数の高さについて物品Ｇの場所的な偏りがある場
合であっても、物品Ｇを確実に検知できる。さらに、複
数ラインの走査（スキャン）により得られた検出レベル
を用いることにより、外乱やノイズに影響されることな
く、安全かつ確実に物品Ｇを検知できる。

【００３２】つぎに、第２例の動作を図９のフローチャ
ートに基づいて説明する。この第２例では、物品検知装
置３６は、各Ｘ線検出素子２２から例えばレベル検出２
００のような所定値以上である暗レベルの信号が検出さ
れた場合で、かつ、この暗レベルの信号が例えば２０の
ように複数連続する場合に、物品Ｇを検知するものであ
る。第２例も第１例と同様に、複数ラインの走査（スキ
ャン）により得られた検出レベルに基づき、物品Ｇを検
知している。

【００３３】まず、エンコーダ１２ｂからの出力がある
か、つまりコンべア１２が運転しているか否かが確認さ
れる（Ｔ１）。出力がなければ、ステップＳ１に戻り、
出力があれば、Ｘ線検出器１４からのＸ線透視信号が１
ライン分だけ画像処理装置３２に入力されて処理される
（Ｔ２）。つぎに、物品検知装置３６により、画像処理
装置３２からの処理信号に基づいて、Ｘ線受光素子２２
の１個ごとに検出レベルの換算が行われる（Ｔ３）。そ
して、検出レベルが２００以下のものが連続して２０以
上あるか否かが確認される（Ｔ４）。検出レベルが２０
０以下のものが連続して２０以上あれば、物品検知カウ
ンタが１加算され（Ｔ５）、非物品検知カウンタがクリ
アされて（Ｔ６）、１ライン分の検出レベル（画像情報
記憶）が記憶される（Ｔ９）。ステップＴ４で、検出レ
ベルが２００以下のものが連続して２０以上でなけれ
ば、物品検知カウンタがクリアされて（Ｔ７）、非物品
検知カウンタが１加算されて（Ｔ８）、ステップＴ９に
進む。

【００３４】そして、物品検知カウンタが１０以上であ
るか否かが確認されて（Ｔ１０）、１０以上であれば、
物品検知フラグを１に書換えて（Ｔ１１）、非物品検知
カウンタが１０以上であるか否かが確認される（Ｔ１
２）。ステップＴ１０で、物品検知カウンタが１０以上
でなければ、非物品検知カウンタが１０以上であるか否
かが確認され（Ｔ１２）、１０以上でなければ、物品Ｇ
がある（つまり、物品Ｇが通過中）と判断されて、ステ
ップＴ１に戻って、検出動作を続行する。非物品検知カ
ウンタが１０以上であれば、物品Ｇがない（つまり、物
品Ｇが到着していない、または、すでに通過した）と判
断されて、物品検知フラグが１であるか否かが確認され
る（Ｔ１３）。物品検知フラグが１でなければ、画像情
報がクリアされ（Ｔ１４）、ステップＴ１に戻って、検
出動作を続行する。物品検知フラグが１であれば、物品
Ｇが検知され、かつ、物品Ｇが通過したと判断される。

【００３５】以下、第１例のステップＳ１６〜Ｓ１９と
同様に、ステップＴ９で記憶された検出レベル（画像情
報）が物品１個分か否かが確認され（Ｔ１５）、物品１
個分でなければ、ステップＳ１に戻り、物品１個分であ
れば、画像処理装置３２により、物品１個分の画像を合
成してマスク処理等を行い（Ｔ１６）、判断装置３４に
て異物混入か否かが判断される（Ｔ１７）。異物混入し
ていれば、異物混入フラグを１に書換える（Ｔ１８）。
異物混入していなければ、物品検知フラグを０に書換え
て（Ｔ１９）、画像情報がクリアされる（Ｔ２０）。そ
して、物品検知カウンタがクリアされ（Ｔ２１）、非物
品検知カウンタがクリアされる（Ｔ２２）。そして、異
物混入フラグが１か否かが確認され（Ｔ２３）、異物混
入フラグが１でなければ、ステップＴ１に戻り、異物混
入フラグが１であれば、振分装置７０が作動し（Ｔ２
４）、異物混入フラグを０に書換えて（Ｔ２５）、ステ
ップＴ１に戻る。

【００３６】これにより、物品検知にＸ線検査時に用い
る検出レベルそのものを流用するため、装置等の処理部
が簡素化でき、コスト削減も可能となる。さらに、連続
した検出レベルのものを基にするので、ノイズ等により
突発的に検出したものを除くことができ、ある一定の幅
を持った物のみを検知の対象にすることができる。各Ｘ
線検出素子２２からの検出レベルが所定値以上である暗
レベルが複数連続する状態により、確実かつ簡易に物品
Ｇを検知できる。しかも、複数ラインの走査（スキャ
ン）により得られた検出レベルを用いることにより、外
乱やノイズに影響されることなく、安全かつ確実に物品
Ｇを検知できる。

【００３７】つぎに、第３例の動作を図１０のフローチ
ャートに基づいて説明する。この第３例では、前記した
第２例と異なり、１ラインの走査（スキャン）により得
られた検出レベルに基づき、物品Ｇを検知している。そ
の他の構成は第２例と同様である。

【００３８】まず、エンコーダ１２ｂからの出力がある
か、つまりコンべア１２が運転しているか否かが確認さ
れる（Ｐ１）。出力がなければ、ステップＰ１に戻り、
出力があれば、Ｘ線検出器１４からのＸ線透視信号が１
ライン分だけ画像処理装置３２に入力されて処理される
（Ｐ２）。つぎに、物品検知装置３６により、画像処理
装置３２からの処理信号に基づいて、Ｘ線受光素子２２
の１個ごとに検出レベルの換算が行われる（Ｐ３）。そ
して、検出レベルが２００以下のものが連続して２０個
以上あるか否かが確認される（Ｐ４）。検出レベルが２
００以下のものが連続して２０個以上あれば、物品Ｇが
ある（つまり、物品Ｇが通過中）と判断されて、物品検
知フラグを１に書換えて（Ｐ５）、物品検知フラグが１
であるか否かが確認される（Ｐ６）。ステップＰ４で、
検出レベルが２００以下のものが連続して２０個以上で
なければ、物品Ｇがない（つまり、物品Ｇが到着してい
ない、または、すでに通過した）と判断されて、物品検
知フラグを０に書換えて（Ｐ７）、ステップＰ６に進
む。

【００３９】そして、ステップＰ６で、物品検知フラグ
が１であれば、１ライン分の検出レベル（画像情報記
憶）が記憶されて（Ｐ８）、ステップＰ１に戻って、検
出動作を続行する。物品検知フラグが１でなければ、画
像情報があるか否かが確認される（Ｐ９）。画像情報が
なければ、ステップＰ１に戻って、検出動作を続行す
る。画像情報があれば、物品Ｇが検知され、かつ、物品
Ｇが通過したので、画像処理装置３２によりマスク処理
等の画像処理されて（Ｐ１０）、第１例のステップＳ１
８と同様に、判断装置３４にて異物混入か否かが判断さ
れる（Ｐ１１）。本例は１走査分ごとに異物混入を判断
するものであり、この点で複数ラインの走査による第１
例のステップＳ１８と異なる。異物混入していれば、異
物混入フラグを１に書換える（Ｐ１２）。異物混入して
いなければ、ステップＳ１６と同様に、物品一個分の画
像が処理されたか否かが判断される（Ｐ１３）。処理さ
れていなければ、ステップＰ１に戻る。処理されていれ
ば、物品検知フラグを０に書換えて（Ｐ１４）、画像情
報がクリアされる（Ｐ１５）。そして、異物混入フラグ
が１か否かが確認され（Ｐ１６）、異物混入フラグが１
でなければ、ステップＰ１に戻り、異物混入フラグが１
であれば、振分装置７０が作動し（Ｐ１７）、異物混入
フラグを０に書換えて（Ｐ１８）、ステップＰ１に戻
る。

【００４０】この第３例では、第２例と異なり、１ライ
ンのみの走査（スキャン）により得られた検出レベルに
基づき、物品Ｇを検知しているので、迅速かつ簡易に物
品Ｇを検知できる。

【００４１】なお、前記の実施形態では、物品に含まれ
る金属や非金属の異物混入をＸ線検査しているが、物品
の割れ欠け、または複数の単品を集合してなる物品にお
ける単品の数量不足等の不良品をＸ線検査するようにし
てもよい。この場合は、基準となる単品の形状を記憶し
ておき、判断装置３４によって、得られた画像のうち、
単品と認識（検出レベルが暗のもの）された形状を比較
することで割れ欠けを判断したり、単品の面積を記憶し
ておき、物品と認識された面積を単品面積で割ること
で、数量判断を行う。また、振分装置７０を、前述の装
置ではなく、いわゆるエアジェット振分、アーム振分、
プッシャー振分を用いてもよい。つまりラインから物品
を排除できる装置であればよい。

【００４２】

【発明の効果】以上のように、本発明によれば、画像処
理装置の画像処理を利用して物品を検知できるので、光
電センサのような物品を検知する装置を別に設ける必要
がなくなるから、装置の小型化および低コスト化を図る
ことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態に係るＸ線検査装置を示す
斜視図である。

【図２】同装置内のＸ線検出部を示す概略斜視図であ
る。

【図３】（ａ）はＸ線検出部の動作を示す模式図、
（ｂ）はＸ線検出器を示す図である。

【図４】（ａ）、（ｂ）は同装置の構成を示す平面図で
ある。

【図５】制御コンピュータを示すブロック構成図であ
る。

【図６】物品検知方法の第１例の動作を示すフローチャ
ートである。

【図７】度数分布図（ヒストグラム）を示す特性図であ
る。

【図８】検出された画像を示す図である。

【図９】物品検知方法の第２例の動作を示すフローチャ
ートである。

【図１０】物品検知方法の第３例の動作を示すフローチ
ャートである。

【符号の説明】

１０…装置本体、１２…搬送装置（コンベア）、１３…
Ｘ線源、１４…Ｘ線検出器（ラインセンサ）、２０…制
御コンピュータ、２２…Ｘ線検出素子、３２…画像処理
装置、３４…判断装置、３６…物品検知装置、７０…振
分装置、９０…不良品貯留コンベア（不良品貯留部）、
Ｇ…物品。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 宇野 正幸 滋賀県栗太郡栗東町下鈎959番地の１ 株 式会社イシダ滋賀事業所内 (72)発明者 株本 隆司 滋賀県栗太郡栗東町下鈎959番地の１ 株 式会社イシダ滋賀事業所内 (72)発明者 津野 正雄 滋賀県栗太郡栗東町下鈎959番地の１ 株 式会社イシダ滋賀事業所内 Ｆターム(参考） 2G001 AA01 BA11 CA01 DA06 DA08 FA03 FA06 GA01 HA01 HA13 JA09 JA11 JA13 JA20 KA03 KA06 LA10 NA17 PA11 SA05 SA14 3F079 CA38 CA44 CC05 CC11 DA11 DA21 EA12

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 物品を搬送する搬送装置を挟んでＸ線源
   とＸ線検出器とを配置し、前記Ｘ線検出器からのＸ線透
   視信号を処理する画像処理装置を備えるＸ線検査装置で
   あって、 前記画像処理装置からの処理信号に基づき物品を検知す
   る物品検知装置と、 前記物品検知装置による物品検知と前記画像処理装置か
   らの処理信号とに基づき、物品の検査結果を判断する判
   断装置とを備えたＸ線検査装置。
2. 【請求項２】 請求項１において、 前記画像処理装置は前記Ｘ線透視信号から検出レベルを
   求める処理を行い、 前記物品検知装置は、前記検出レベルが所定値以下の場
   合に物品を検知するＸ線検査装置。
3. 【請求項３】 請求項１において、 前記Ｘ線検出器は複数のＸ線検出素子を備え、 前記画像処理装置は各Ｘ線検出素子ごとに前記Ｘ線透視
   信号から検出レベルを求める処理を行い、 前記物品検知装置は、各検出レベルが所定値以下である
   暗レベルの個数と、所定値を超える明レベルの個数を計
   数し、前記暗レベルの個数と前記明レベルの個数との比
   が一定値以上の場合に物品を検知するＸ線検査装置。
4. 【請求項４】 請求項１において、 前記Ｘ線検出器は、搬送方向と交差する直線上に配置さ
   れた複数のＸ線検出素子を備え、 前記画像処理装置は各Ｘ線検出素子ごとに前記Ｘ線透視
   信号から検出レベルを求める処理を行い、 前記物品検知装置は、前記各Ｘ線検出素子からの検出レ
   ベルが所定値以下である暗レベルが複数連続する場合に
   物品を検知するＸ線検査装置。
5. 【請求項５】 請求項１において、 前記Ｘ線検出器は複数のＸ線検出素子を備え、 前記画像処理装置は各Ｘ線検出素子ごとに前記Ｘ線透視
   信号から検出レベルを求める処理を行い、 前記物品検知装置は、各検出レベルごとの度数を算出
   し、所定値以下の検出レベルの度数が一定値以上の場合
   に物品を検知するＸ線検査装置。
6. 【請求項６】 請求項２ないし５のいずれかにおいて、 前記物品検知装置は、前記画像処理装置の処理を一定の
   搬送距離または時間ごとに複数回行って得られた検出レ
   ベルに基づき、物品を検知するＸ線検査装置。