JP2002198775A - 弾性表面波装置及びその製造方法 - Google Patents

弾性表面波装置及びその製造方法

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JP2002198775A
JP2002198775A JP2000390912A JP2000390912A JP2002198775A JP 2002198775 A JP2002198775 A JP 2002198775A JP 2000390912 A JP2000390912 A JP 2000390912A JP 2000390912 A JP2000390912 A JP 2000390912A JP 2002198775 A JP2002198775 A JP 2002198775A
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acoustic wave
thin film
wave device
zno thin
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Koji Kawakatsu
孝治 川勝
Nobunari Tanaka
信成 田中
Michio Kadota
道雄 門田
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 伝搬損失が小さく、電極の反射係数が大き
く、帯域幅の拡大及び小型化を図り得る、弾性表面波装
置を提供する。 【解決手段】 R面サファイア基板2上に、ZnO薄膜
3がエピタキシャル成長されており、ZnO薄膜3上
に、ZnO薄膜3のc軸方向に電極指が延びるようにI
DT4が形成されており、SH波の基本波が上記c軸方
向と直交する方向に伝搬される、弾性表面波装置1。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、弾性表面波共振子
や弾性表面波フィルタ等の弾性表面波装置及びその製造
方法に関し、例えば、携帯電話の高周波回路等で使用さ
れる低損失の共振子型弾性表面波フィルタに好適に用い
られる、弾性表面波装置及びその製造方法並びに該弾性
表面波装置を備えた通信機に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、R面サファイア基板上に、ZnO
薄膜をエピタキシャル成長させ、ZnO薄膜上にインタ
ーデジタルトランスデューサ(以下、IDT)を形成
し、表面波をZnO薄膜のc軸方向に伝搬させる弾性表
面波フィルタが知られている(例えば、〔Jpn.J.Appl.P
hys.Vol.32(1993)pp.2337-2340〕)。この弾性表面波フ
ィルタでは、表面波としてセザワ波が用いられている。
セザワ波は、ZnO薄膜の厚み方向の波動が高次モード
であるレイリー波であり、5000m/秒以上の高音速
でありかつ伝搬損失が小さい特徴を有する。この弾性表
面波フィルタは、1.5GHz帯の高周波回路等におい
て帯域フィルタとして使用されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、サファ
イア基板上にZnO薄膜を形成してなる圧電性基板上に
表面波をZnO薄膜のc軸方向に伝搬させるようにID
T等の電極を形成した場合、電極における表面波の反射
係数が小さいという問題があった。そのため、弾性表面
波フィルタを構成した場合には、帯域幅を拡げることが
困難であった。
【0004】また、反射係数が小さいため、反射器を有
する弾性表面波装置を構成した場合には、反射器の電極
指の本数を少なくすることができなかった。さらに、高
音速であるがために、電極指ピッチが大きくならざるを
得なかった。そのため、小型化を進めることが困難であ
った。
【0005】よって、現状では、セザワ波で実現できな
い広い帯域幅や小型の共振子型弾性表面波フィルタで
は、伝搬損失が大きい36°YカットX伝搬LiTaO
3 や64°YカットX伝搬LiNbO3 基板が使用され
ていた。
【0006】本発明の目的は、損失が小さいZnO/サ
ファイア基板を用いて構成されており、帯域幅を拡げる
ことができ、さらに小型化を進め得る弾性表面波装置を
提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明に係る弾性表面波
装置は、R面サファイア基板と、前記サファイア基板上
にエピタキシャル成長されたZnO薄膜と、前記ZnO
薄膜上に形成されており、複数本の電極指を有するイン
ターデジタルトランスデューサとを備え、前記インター
デジタルトランスデューサの電極指の延びる方向が、前
記ZnO薄膜のc軸方向とされており、SH波の基本波
を用いたことを特徴とする。SH波としては、BGS
波、ラブ波、漏洩弾性波等が挙げられる。
【0008】本発明に係る弾性表面波装置の特定の局面
では、ZnO薄膜の膜厚は、SH波の基本波の波長の2
0〜50%とされている。本発明に係る弾性表面波装置
のさらに他の特定の局面では、前記インターデジタルト
ランスデューサがアルミニウムまたはアルミニウムを主
体とする合金からなり、該インターデジタルトランスデ
ューサのメタライゼーションレシオが0.30〜0.6
5の範囲とされている。
【0009】本発明に係る通信機は、本発明に従って構
成された弾性表面波装置を帯域フィルタとして備えるこ
とを特徴とする。本発明に係る弾性表面波装置の製造方
法は、SH波の基本波を用いた弾性表面波装置の製造方
法であって、R面サファイア基板上に、ZnO薄膜をエ
ピタキシャル成長させる工程と、前記ZnO薄膜上に複
数本の電極指を有するインターデジタルトランスデュー
サを、該ZnO薄膜のc軸方向に電極指が延びるように
形成する工程とを備えることを特徴とする。
【0010】本発明に係る弾性表面波装置の製造方法の
ある特定の局面では、前記ZnO薄膜を、表面波の波長
の20〜50%の範囲となるようにZnO薄膜が形成さ
れる。
【0011】本発明に係る製造方法の他の特定の局面で
は、前記インターデジタルトランスデューサが、アルミ
ニウムまたはアルミニウムを主体とする合金により形成
され、かつ該インターデジタルトランスデューサのメタ
ライゼーションレシオが0.30〜0.65の範囲とな
るようにインターデジタルトランスデューサが形成され
る。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、本発明の具体的な実施例を
説明することにより、本発明を明らかにする。
【0013】図1(a),(b)は、本発明の一実施例に
係る弾性表面波装置を示す斜視図及び正面断面図であ
る。弾性表面波装置1は、R面サファイア基板2と、R
面サファイア基板2上に形成されたZnO薄膜3とから
なる圧電性基板を有する。R面サファイア基板2の上面
が鏡面研磨されており、該R面サファイア基板2上に、
例えば、RFマグネトロンスパッタンによりZnO薄膜
3がエピタキシャル成長されている。
【0014】上記ZnO薄膜をマグネトロンスパッタに
より形成する際のターゲットとてしは、金属亜鉛からな
るものが用いられるが、絶縁抵抗を高くするためにNi
が添加されているものを用いることが望ましい。
【0015】本実施例に係る弾性表面波装置1では、上
記ZnO薄膜3上にIDT4、必要に応じて形成される
反射器及び外部との接続のための電極パッド等の電極が
形成される。
【0016】弾性表面波装置1では、IDT4はアルミ
ニウム薄膜のリフトオフ法により形成されている。な
お、IDT4等の電極は、アルミニウムからなるものに
限定されず、銅等が若干添加されているアルミニウム合
金により形成されてもよい。また、弾性表面波装置1の
電極は、アルミニウムまたはアルミニウム合金以外の電
極材料により構成されていてもよい。
【0017】本実施例では、アルミニウム薄膜のリフト
オフ法によりIDT4が形成されているが、これは、Z
nOが酸により侵されやすいため、酸による影響が生じ
ないリフトオフ法によりIDT4が形成されているだけ
であり、電極形成方法については特に限定されるもので
はない。
【0018】また、IDT4は、複数本の電極指4a〜
4gを有するが、これらの電極指4a〜4gの延びる方
向は、ZnO薄膜3のc軸方向とされている。従って、
SHタイプの表面波がc軸と直交する方向に伝搬する。
すなわち、IDT4は、SHタイプの表面波がZnO薄
膜3のc軸方向と直交する方向に伝搬するように形成さ
れている。従って、本実施例における表面波伝搬方向
は、公知のセザワ波を用いた弾性表面波装置における表
面波伝搬方向と90度相違している。
【0019】本発明に係る弾性表面波装置では、上記R
面サファイア基板2上にZnO薄膜3及び少なくともI
DT4を有する電極が形成されており、電極指の延びる
方向がZnO薄膜3のc軸方向とされているので、電極
の反射係数を高めることができる。従って、帯域幅を拡
げることができ、かつ反射器を有する弾性表面波装置を
構成した場合には小型化を図ることができる。本実施例
の弾性表面波装置1において、電極の反射係数が高めら
れることを、具体的な実験例に基づき説明する。
【0020】R面サファイア基板2上に、ZnO薄膜3
を種々の膜厚で形成し、該ZnO薄膜3上にIDT4を
形成し、得られた種々の弾性表面波装置の音速、電気機
械結合係数ks2 及び反射係数に比例する量としてモー
ド間結合係数κ12/k0 を測定した。結果を図2〜図4
に示す。なお、IDT4の膜厚はSH波の波長に対して
3%とし、メタライゼーションレシオは0.5とした。
メタライゼーションレシオとは、電極指の幅方向寸法の
電極指の幅方向寸法と電極指間のギャップとの合計に対
する割合を示す。また、ZnO薄膜3の膜厚について
も、利用する表面波であるSH波の基本波の波長に対す
る割合で示した。
【0021】従来のセザワ波を利用した前述の弾性表面
波装置では、音速が5000m/秒台と速いのに対し、
図2より、SH波を利用した本実施例の弾性表面波装置
1では、表面波の音速が遅いことがわかる。また、電気
機械結合係数ks2 は、図3に△で示すセザワ波を利用
した従来の弾性表面波装置に対して、本実施例の弾性表
面波装置1は図3の◇のように同等か、やや小さいこと
がわかる。
【0022】他方、従来のセザワ波を利用した弾性表面
波装置では、反射係数に比例する量であるκ12/k0
図4の△に示すように0.01程度であるのに対し、本
実施例の弾性表面波装置では、図4の◇のように0.0
18以上と大きいことがわかる。
【0023】特に、図2〜図4から明らかなように、Z
nO薄膜3の膜厚が表面波の波長の20〜50%の場
合、音速が3800m/秒以下と遅く、かつ電気機械結
合係数ks2 が0.035以上と高くなり、さらにκ12
/k0 が0.02以上と高いことがわかる。従って、好
ましくは、ZnO薄膜3の膜厚を、表面波の波長の20
〜50%の範囲とすることにより、音速が遅く、電極の
反射係数が高い弾性表面波装置1を得ることができる。
【0024】次に、弾性表面波装置1において、ZnO
薄膜3の膜厚を25%とし、IDT4の膜厚を変化さ
せ、但しメタライゼーションレシオは0.5とし、種々
の弾性表面波フィルタ1を作製し、上記実験例と同様
に、音速、電気機械結合係数ks 2 及びモード間結合係
数κ12/k0 を測定した。結果を図5〜図7に示す。
【0025】なお、IDT4の膜厚は表面波の波長に対
する割合(%)で示した。図5〜図7から明らかなよう
に、IDT4等の電極の膜厚を変化させた場合にも、音
速、電気機械結合係数及び反射係数が変化することがわ
かる。また、好ましくは、電極の膜厚を2%以上とする
ことにより、音速を3600m/秒以下とすることがで
き、すなわち、低音速化を図ることができ、かつ反射係
数を0.02%以上とし得ることがわかる。
【0026】よって、より好ましくは、弾性表面波装置
1において、ZnO薄膜3の膜厚を20〜50%の範囲
とし、かつIDT4を含む電極の膜厚を2%以上とする
ことが望ましいことがわかる。
【0027】さらに、上記弾性表面波装置1において、
ZnO薄膜3の膜厚を25%、IDT4の膜厚を3%と
し、メタライゼーションレシオを種々変化させた場合の
音速、電気機械結合係数ks2 及びモード間結合係数κ
12/k0 をそれぞれ測定した。結果を図8〜図10に示
す。
【0028】図8〜図10から明らかなように、メタラ
イゼーションレシオを0.30〜0.65の範囲とする
ことにより、電気機械結合係数や反射係数を大きくし得
ることがわかる。すなわち、この範囲では、電気機械結
合係数ks2 が0.038以上であり、かつκ12/k0
が0.02以上とされている。
【0029】図2〜図10に示した結果から明らかなよ
うに、本発明によれば、R面サファイア基板2上にZn
O薄膜3が形成されており、IDT4の電極指がZnO
薄膜3のc軸と平行な方向に延ばされているので、表面
波としてSH波の基本波を利用することができる。そし
て、このSHタイプの表面波を用いた場合に、上記のよ
うに伝搬損失の低減だけでなく、電極の反射係数を高め
ることができる。従って、共振子型弾性表面波フィルタ
を構成した場合には帯域幅を拡げることができ、反射器
を用いた弾性表面波装置を構成した場合には、反射器の
電極指の本数を低減することができる。加えて、音速を
低下させることができるので、電極指ピッチを短くする
ことができる。よって、小型の弾性表面波装置を構成す
ることができる。
【0030】本実施例において、上記のように、従来の
セザワ波を利用した弾性表面波装置に比べて、反射係数
を高めることができ、かつ音速を低下させることができ
るのは、セザワ波ではなく、SHタイプの表面波の基本
波を利用していることによる。また、SHタイプの表面
波においても、レイリー波と同じくZnO薄膜3の膜厚
方向に高次の波動モードが存在するが、反射係数がセザ
ワ波と同程度と小さく、電気機械結合係数ks2 が約
0.01と非常に小さい。従って、本発明では、上記S
Hタイプの表面波の基本波を利用して、上記のように反
射係数が大きく、かつ音速の遅い弾性表面波装置を構成
することができる。
【0031】なお、本願発明者らの実験によれば、本発
明に係る弾性表面波装置では、周波数温度係数は、−4
0〜+80℃の範囲で−40ppm/℃程度であった。
従って、セザワ波を利用した従来の弾性表面波装置に比
べて周波数温度係数が小さいことがわかる。
【0032】なお、上記実施例では、IDT4のみを図
示したが、IDT4に加えて、反射器等の他の電極を形
成してもよい。また、電極上に、ZnO層やSiO2
をさらに設けてもよく、それによって周波数調整や電極
の保護を図ることができる。この場合においても、ID
T4等の電極上に形成されるZnO層やSiO2 層の厚
みが表面波の波長の数%以下と薄ければ、SHタイプの
表面波の波動に影響を与えないので、上記実施例と同様
の効果が得られる。
【0033】図11は、本発明に係る弾性表面波装置を
用いた通信機160を説明するための各概略ブロック図
である。図11において、アンテナ161に、ディプレ
クサ162が接続されている。ディプレクサ162と受
信側ミキサ163との間に、RF段を構成する弾性表面
波フィルタ164及び増幅器165が接続されている。
さらにミキサ163にIF段の表面波フィルタ169が
接続されている。また、ディプレクサ162と送信側の
ミキサ166との間には、RF段を構成する増幅器16
7及び弾性表面波フィルタ168が接続されている。
【0034】上記通信機160におけるRF段の表面波
フィルタ164として本発明に従って構成された弾性表
面波装置を好適に用いることができる。
【0035】
【発明の効果】本発明に係る弾性表面波装置では、R面
サファイア基板上にZnO薄膜がエピタキシャル成長さ
れており、電極指の延びる方向がZnO薄膜のc軸方向
とされるようにZnO薄膜上にIDTが形成されている
ので、SHタイプの表面波の基本波を利用した弾性表面
波装置を構成することができる。SHタイプの基本波を
利用した上記弾性表面波装置では、前述した実施例から
明らかなように、電極の反射係数が大きく、音速がセザ
ワ波を利用した従来の弾性表面波装置に比べて遅い。
【0036】従って、例えば、共振子型弾性表面波フィ
ルタを構成した場合には、帯域幅を拡げることができ
る。また、反射器を有する弾性表面波装置を構成した場
合には、電極指の本数を低減することができ、音速が遅
いため、電極指ピッチを小さくすることができる。よっ
て、小型の弾性表面波装置を提供することができる。
【0037】よって、本発明によれば、セザワ波を用い
た場合には実現できない、広い帯域幅や小型の共振子型
弾性表面波フィルタを容易に提供することができ、しか
もZnO/サファイアからなる圧電性基板を用いるた
め、36°YカットX伝搬LiTaO3 や64°Yカッ
トX伝搬LiNbO3 基板を用いた弾性表面波共振子フ
ィルタに比べて伝搬損失の低減を図ることができる。
【0038】上記ZnO薄膜の膜厚が、SHタイプの表
面波の基本波の20〜50%の範囲にある場合、または
IDTのメタライゼーションレシオが0.30〜0.6
5の範囲にある場合には、音速をより遅くすることがで
き、かつ電気機械結合係数を高めることができ、さらに
反射係数を効果的に高め得るので、弾性表面波装置の帯
域幅のより一層の拡大及び小型化を図ることができる。
【0039】本発明に係る弾性表面波装置の製造方法で
は、R面サファイア基板上にZnO薄膜がエピタキシャ
ル成長され、該ZnO薄膜上に、ZnO薄膜のc軸方向
に電極指が延びるようにIDTが形成されるので、従っ
て、伝搬損失が小さく、帯域幅の拡大及び小型化を図り
得る本発明に係る弾性表面波装置を提供することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a),(b)は、本発明の一実施例に係る弾性
表面波装置の略図的斜視図及び正面断面図。
【図2】実施例において、ZnO薄膜の膜厚を変化させ
た場合の音速の変化を示す図。
【図3】実施例において、ZnO薄膜の膜厚を変化させ
た場合の電気機械結合係数ks 2 の変化を示す図。
【図4】実施例において、ZnO薄膜の膜厚を変化させ
た場合の反射係数の変化を示す図。
【図5】実施例において、IDTの膜厚を変化させた場
合の音速の変化を示す図。
【図6】実施例において、IDTの膜厚を変化させた場
合の電気機械結合係数ks2 の変化を示す図。
【図7】実施例において、IDTの膜厚を変化させた場
合の反射係数の変化を示す図。
【図8】実施例において、メタライゼーションレシオを
変化させた場合の音速の変化を示す図。
【図9】実施例において、メタライゼーションレシオを
変化させた場合の電気機械結合係数ks2 の変化を示す
図。
【図10】実施例において、メタライゼーションレシオ
を変化させた場合の反射係数の変化を示す図。
【図11】本発明に係る弾性表面波装置が用いられてい
る通信機を説明するための概略ブロック図。
【符号の説明】
1…弾性表面波装置 2…R面サファイア基板 3…ZnO薄膜 4…IDT 160…通信機 161…アンテナ 162…ディプレクサ 163,166…ミキサ 164…弾性表面波フィルタ 165,167…増幅器 168…弾性表面波フィルタ 169…表面波フィルタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 門田 道雄 京都府長岡京市天神二丁目26番10号 株式 会社村田製作所内 Fターム(参考) 5J097 AA01 AA06 AA19 AA29 BB11 DD04 EE10 FF02 FF03 GG05 GG06 GG07 HA02 HA03 KK05 KK09

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 R面サファイア基板と、 前記サファイア基板上においてエピタキシャル成長され
    たZnO薄膜と、 前記ZnO薄膜上に形成されており、複数本の電極指を
    有するインターデジタルトランスデューサとを備え、 前記インターデジタルトランスデューサの電極指の延び
    る方向が、前記ZnO薄膜のc軸方向とされており、S
    H波の基本波を用いることを特徴とする、弾性表面波装
    置。
  2. 【請求項2】 前記ZnO薄膜の膜厚が、SH波の波長
    の20〜50%の範囲にある、請求項1に記載の弾性表
    面波装置。
  3. 【請求項3】 前記インターデジタルトランスデューサ
    がアルミニウムまたはアルミニウムを主体とする合金か
    らなり、該インターデジタルトランスデューサのメタラ
    イゼーションレシオが0.30〜0.65の範囲にあ
    る、請求項1または2に記載の弾性表面波装置。
  4. 【請求項4】 請求項1〜3のいずれかに記載の弾性表
    面波装置を帯域フィルタとして備えることを特徴とす
    る、通信機。
  5. 【請求項5】 SH波の基本波を用いた弾性表面波装置
    の製造方法であって、 R面サファイア基板上に、ZnO薄膜をエピタキシャル
    成長させる工程と、 前記ZnO薄膜上に複数本の電極指を有するインターデ
    ジタルトランスデューサを、該ZnO薄膜のc軸方向に
    電極指が延びるように形成する工程とを備えることを特
    徴とする、弾性表面波装置の製造方法。
  6. 【請求項6】 前記ZnO薄膜を、SH波の波長の20
    〜50%の範囲となるようにZnO薄膜を形成する、請
    求項5に記載の弾性表面波装置の製造方法。
  7. 【請求項7】 前記インターデジタルトランスデューサ
    を、アルミニウムまたはアルミニウムを主体とする合金
    により形成し、かつ該インターデジタルトランスデュー
    サのメタライゼーションレシオを0.30〜0.65の
    範囲となるようにインターデジタルトランスデューサを
    形成する、請求項5または6に記載の弾性表面波装置の
    製造方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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