JP2002185718A - 画像読取装置 - Google Patents

画像読取装置

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JP2002185718A
JP2002185718A JP2000374826A JP2000374826A JP2002185718A JP 2002185718 A JP2002185718 A JP 2002185718A JP 2000374826 A JP2000374826 A JP 2000374826A JP 2000374826 A JP2000374826 A JP 2000374826A JP 2002185718 A JP2002185718 A JP 2002185718A
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Noriyoshi Osozawa
憲良 遅澤
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 基準白板のごみを検知して基準白板の製造歩
留まり向上と、画質劣化の防止を実現した画像読取装置
を提供すること。 【解決手段】 ごみ判定回路201はシェーディング補
正回路3307出力に接続され、シェーディング補正後
の画像信号に対して上下の判定レベルとの比較による特
異点を判定する。レジスタ202に保管される上限判定
レベル“UP”はシェーディング補正によって白スジと
なる特異点を判定するための判定レベルである。レジス
タ203に保管される下限判定レベル“DOWN”はシ
ェーディング補正によって黒スジとなる特異点を判定す
るための判定レベルである。基準部材の読み取り可能位
置の1点を基準として基準部材の他の読み取り位置の特
異点をごみ判定回路201によって判定した結果に応じ
て、基準部材の読み取り位置を制御する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、原稿を読みとる画
像読取装置に関し、より詳細には、校正処理に用いられ
る基準濃度部材に付着したごみ、キズ、汚れによる画像
劣化を防止する技術に関する。
【0002】
【従来の技術】図5は、従来の画像読取装置の構成図
で、図中符号3004は原稿照明ランプで、この原稿照
明ランプ3004は外部電極方式のキセノン管である。
3001は原稿ガラスで、この原稿ガラス3001には
対象となる原稿が載置され、画像読み取りが行われる。
3003は原稿圧板で、この原稿圧板3003は原稿ガ
ラス3001に載置された原稿を押さえ、原稿の原稿ガ
ラス3001に対する浮きを押さえると共に、原稿ガラ
ス3001の汚れ、破損防止用カバーとしても機能す
る。
【0003】符号3008は第1ミラー台で、この第1
ミラー台3008には原稿照明ランプ3004と第1ミ
ラー3005が搭載され、原稿を照明すると共に原稿か
らの反射光を第2ミラー3006に導く。3005は第
1ミラーで、この第1ミラー3005は、原稿からの反
射光をCCDラインセンサ3011に導くための3枚の
ミラーのうち第1のミラーである。
【0004】符号3006は第2ミラーで、この第2ミ
ラー3006は原稿からの反射光をCCDラインセンサ
3011に導くための3枚のミラーのうち第2のミラー
である。3007は第3ミラーで、この第3ミラー30
07は原稿からの反射光をCCDラインセンサ3011
に導くための3枚のミラーのうち第3のミラーである。
【0005】符号3009は第2ミラー台で、この第2
ミラー台には第2ミラー3006と第3ミラー3007
が搭載されている。3010は光学レンズで、この光学
レンズ2406は第1ミラー3005、第2ミラー30
06、第3ミラー3007を介して導かれた原稿反射光
をCCDラインセンサ3011に結像するものである。
【0006】符号3011はCCDラインセンサで、こ
のCCDラインセンサ3011は結像された原稿反射光
を電気信号に変換するものである。3012は光学モー
タで、この光学モータ3012は第1ミラー台300
8、第2ミラー台3009を矢印A及びB方向に駆動す
るもので、一般的にステッピングモータやDCモータ等
が用いられる。
【0007】符号3002は基準白板で、この基準白板
3002はシェーディング補正を行うための基準信号を
得る際に用いられるもので、温度、湿度などの環境条件
や、耐久によって色味が変動しない材料が一般的に用い
られる。3013は第1の反射笠で、この第1の反射笠
3013は原稿照明ランプ3004の効率を高めるため
に配置されるもので、主に原稿面と反対側に放射される
光束を原稿面に集光させる役割を有する。
【0008】符号3014は第2の反射笠で、この第2
の反射笠3014も第1の反射笠と同様に原稿照明ラン
プ3004の効率を高めると共に、原稿面に対して対象
に光束を集め貼り付け原稿や立体物を原稿とする場合の
影の発生を抑えるものである。
【0009】図6は、シェーディング補正の動作を説明
する図である。図中、点線で挟まれた区間はCCD30
11の1ライン分の読み取りエリアを示す。(a)は基
準白板3002の読み取り波形によって不均一な特性を
示し、(b)はシェーディング補正後の波形データを示
す。(a)の不均一な特性の原因は、一般的に次の3点
が上げられる。 1;CCD3011を構成する複数のフォトダイオード
の個々の感度バラツキ 2;原稿照明ランプ3004の配光 3;光学レンズ3010の端部光量劣化 シェーディング補正は基準白板3002を読みとった波
形データ(a)を波形データ(b)のようにフラットに
なる様に画素単位で補正を行うものである。
【0010】図8は、シェーディング補正回路のブロッ
ク図で、符号3301は7500ワード×16bitの
メモリである。このメモリ3301はシェーディング補
正を行うために必要な次の動作に用いられる。 1;複数ラインの加算処理を行うライン加算 2;ライン加算されたデータから画素単位の平均を行う
平均処理 3;補正係数を算出するCD演算処理 4;求められた補正係数の保管
【0011】符号3302はセレクタで、メモリ330
1に書き込むデータを選択する。3303はシェーディ
ングターゲット値Kdatを保管するレジスタである。
3304はCD演算を行うための除算回路である。動作
については後述する。
【0012】符号3305はライン加算を行う加算回路
で、この加算回路3305には入力画像信号VI(n)と、V
I(n)に同期して読み出されたメモリ3301の読み出し
データとが入力され、その加算結果を出力する。
【0013】符号3306は平均回路で、この平均回路
3306は回路簡略化のためにビットシフトによる平均
処理のみを行うため、平均ライン数は2nに限定され
る。
【0014】符号3307はシェーディング補正回路
で、このシェーディング補正回路3307は入力画像信
号VI(n)とメモリ3301から読み出される補正値
CD(n)との乗算処理を画素単位で行うものであり、
その結果はVO(n)として出力される。
【0015】以上の構成でシェーディング補正は次の様
に行われる。まず、原稿照明ランプ3004を点灯さ
せ、基準白板3002を64ライン分加算してメモリ3
301に取り込む。この際セレクタ3302は加算回路
3305出力を選択するように制御される。次に、セレ
クタ3302は平均回路3306出力を選択するように
制御される。平均回路3306はメモリー3301出力
を6bitシフトすることで64ライン分の平均処理を
行う。
【0016】次に、セレクタ3302は除算回路330
4出力を選択するように制御される。除算回路ではメモ
リー3301出力と、レジスタ3303に設定されたK
datに次式の処理を行い出力する。
【0017】
【数1】
【0018】M(n):メモリ3301出力 O(n):演算結果 n:画素番号 上述した演算処理をCD演算と称する。
【0019】以上の処理でシェーディング補正係数がメ
モリ3301に保管される。原稿読み取りを行う際、入
力画像信号VI(n)とメモリ3301から読み出され
るシェーディング補正係数CD(n)は同期した状態で
シェーディング補正回路3307に入力され乗算される
ことで図6の波形データ(b)に示すようにフラットな
特性を得ることが出来る。
【0020】以上説明したシェーディング補正動作は基
準白板3002の濃度が均一だという前提で行われる。
従って基準白板3002には全面均一な濃度特性が要求
され、その管理は厳しく行われる必要があった。
【0021】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来例
におけるシェーディング補正は基準白板3002を均一
濃度として補正を行うため、基準白板3002にゴミが
付着あるいはキズや汚れがあった場合には画質の劣化を
引き起こすという問題があった。
【0022】図7は、ゴミによる画像劣化を示すもの
で、図7(a)は基準白板に白いゴミがあった場合で、
画像には黒スジとなって影響を及ぼす。図7(b)は基
準白板3002に黒いゴミがあった場合で、画像には白
スジとなって現れる。一方、基準白板3002は均一濃
度を達成するため、製造する際には厳しい検査工程が必
要となり、歩留まりの劣化、コスト増大という問題があ
った。例えば、顕微鏡を使った目視検査などがあげられ
る。
【0023】本発明は、このような問題に鑑みてなされ
たもので、その目的とするところは、基準白板のごみを
検知して基準白板の製造歩留まり向上と、画質劣化の防
止を実現した画像読取装置を提供することにある。
【0024】
【課題を解決するための手段】本発明は、このような目
的を達成するために、請求項1に記載の発明は、複数の
読み取り可能位置を有する基準部材と、シェーディング
補正回路とを有する画像読取装置において、前記シェー
ディング補正回路の後段に配置され特異点を判定する判
定手段と、前記基準部材の読み取り可能位置の1点を基
準として前記基準部材の他の読み取り位置の特異点を前
記判定手段によって判定した結果に応じて、前記基準部
材の読み取り位置を制御する制御手段とを有することを
特徴とするものである。
【0025】また、請求項2に記載の発明は、請求項1
に記載の発明において、前記基準部材は、3点の読み取
り可能位置を有することを特徴とするものである。ま
た、請求項3に記載の発明は、請求項1に記載の発明に
おいて、前記判定手段は、2つの異なる判定レベルを有
することを特徴とするものである。
【0026】また、請求項4に記載の発明は、請求項1
に記載の発明において、前記制御手段は、システム起動
時に実行されることを特徴とするものである。また、請
求項5に記載の発明は、請求項2に記載の発明におい
て、前記制御手段は、特異点無しと判定された点を前記
基準部材の読み取り位置とすることを特徴とするもので
ある。
【0027】また、請求項6に記載の発明は、請求項1
に記載の発明において、前記基準部材の全ての読み取り
位置に特異点有りと判断された場合、前記基準部材の清
掃を通知する清掃通知手段を有することを特徴とするも
のである。また、請求項7に記載の発明は、請求項1に
記載の発明において、前記基準部材の全ての読み取り位
置に特異点有りと判断された場合、前記基準部材の交換
を通知する交換通知手段を有するものである。
【0028】つまり、本発明は、複数の読み取り可能位
置を有する基準部材と、シェーディング補正回路とを有
する画像読取装置において、シェーディング補正回路の
後段に配置された特異点を判定する判定手段と、基準部
材の読み取り可能位置の1点を基準としたシェーディン
グ補正を行った基準部材の他の読み取り位置の特異点を
判定手段によって判定した結果に応じて、基準部材の読
み取り位置を制御する制御手段とを設けることによって
基準部材のごみ付着、キズ、汚れの検知を可能にするも
のである。
【0029】さらに、基準部材の読み取り位置を3点と
することで、6通りの組み合わせでの判定を可能とし、
検知処理の効率化を計るものである。さらに、判定手段
は2つの異なる判定レベルを有することで、黒キズ、白
キズの双方の検知を可能にするものである。
【0030】さらに、システム起動時に実行すること
で、出荷後のごみ付着などによる画質劣化に対しても自
動的に対応するものである。さらに、制御手段は特異点
無しと判定された点を前記基準部材の読み取り位置とす
ることで、基準部材のごみ、キズ、汚れに対する許容度
を増やし基準部材の製造歩留まりを向上させることを可
能にするものである。
【0031】さらに、基準部材の全ての読み取り位置に
特異点有りと判断された場合、基準部材の清掃を通知す
る清掃通知手段、もしくは基準部材の交換を通知する交
換通知手段を設けることで、基準部材の品質維持を可能
にするものである。
【0032】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施例について説明する。上述した図5を用いて本発明の
第1実施例について以下に説明する。図1は、従来例に
示した基準白板の読み取り面を示した図で、a、b、c
の波線で示されるラインは、基準白板3002における
シェーディング補正データ取得可能な3つのエリアであ
る。a、bラインにはゴミはなく、主走査全領域では均
一な濃度特性が達成されている。一方、cラインには製
造時に黒ゴミ101が付着している。
【0033】図2は、本実施例におけるシェーディング
補正回路のブロック図で、従来例におけるシェーディン
グ補正回路のブロック図である図8と同じ機能を有する
部分については同じ番号を付している。
【0034】図中符号201はごみ判定回路で、このご
み判定回路201はシェーディング補正回路3307出
力に接続され、シェーディング補正後の画像信号に対し
て上下の判定レベルとの比較による特異点を判定するも
のである。
【0035】特異点の判定は次の条件で行われる。 VO(n)>UP 又は VO(n)<DOWN VO(n):シェーディング補正後のビデオ信号 UP:上限判定レベル DOWN:下限判定レベル (n):画素番号
【0036】ごみ判定は1ライン分の画像信号に対して
行われ、ごみ有りと判定された場合フラグ:GMKFl
agに“1”を入力する。ごみ無しと判定された場合に
はGMKFlagに“0”を入力する。
【0037】符号202は上限判定レベル“UP”を保
管するレジスタで、このレジスタ202に保管される上
限判定レベル“UP”はシェーディング補正によって白
スジとなる特異点を判定するための判定レベルで、シェ
ーディングターゲットレベルKdatに対して10
(h)高いレベルが設定されている。
【0038】符号203は下限判定レベル“DOWN”
を保管するレジスタで、このレジスタ203に保管され
る下限判定レベル“DOWN”はシェーディング補正に
よって黒スジとなる特異点を判定するための判定レベル
で、シェーディングターゲットレベルKdatに対して
10(h)低いレベルが設定されている。
【0039】符号204はメモリ3301への書き込み
データを選択するセレクタで、このセレクタ204は加
算回路3305、平均回路3306、除算回路3304
に加え、シェーディング補正回路3307出力を選択す
ることができる。
【0040】画像読み取り装置3000、及びシェーデ
ィング補正回路は、図示しないCPUによって制御さ
れ、基準白板3002に付着したごみの検知動作は、次
のように行われる。
【0041】<a点でのシェーディング補正係数算出>
光学モータ3012によって第1ミラー台3008は基
準白板3002のa点を読みとる位置に移動される。原
稿照明ランプ3004を点灯し、シェーディング係数算
出のための画像取り込みを行う。取り込みに際し、メモ
リ3301の内容を0クリアし、ごみ判定回路201の
フラグ:GMKFlagを0クリアする初期化が行われ
る。シェーディング補正係数算出は、従来例を示す図8
で説明した動作によって行われる。
【0042】図3(a)は、a点の波形データを示す図
で、従来例を示す図6(a)で説明した波形同様、CC
Dラインセンサー3011の感度バラツキや原稿照明ラ
ンプ3004の配光によって不均一な特性だが、ごみに
よる特異点はない。
【0043】<b点のゴミ判定>次に、光学モータ30
12は読み取り位置をb点に移動させる。原稿照明ラン
プ3004を点灯状態でb点の画像データを読みとり、
a点でのシェーディング補正係数によってシェーディン
グ補正が行われる。CPUの指示によりごみ判定回路2
01はb点のシェーディング補正後の画像信号に対し、
上限判定レベル“UP”と下限判定レベル“DOWN”
との比較判定を行う。
【0044】図3(b),(b)’は、シェーディング
動作による波形の変化を表す図である。基準白板300
2は全面が均一濃度になるように製造されているため、
読み取り波形データ図3(b)は、a点波形データ図3
(a)にほぼ等しくなる。従って、シェーディング補正
後の波形データ図3(b)は、シェーディングターゲッ
トレベルKdatに等しくフラットな波形となる。
【0045】図3(b)’に示されるシェーディング補
正後のb点波形は、1ライン期間全域において上限判定
レベル“UP”よりも小さく、下限判定レベル“DOW
N”よりも大きいためごみ判定回路201はb点のシェ
ーディング補正画像にごみ無しと判定し、GMKFla
gに“0”を入力する。CPUはGMKFlagより、
a点のシェーディング補正係数によって補正されたb点
の判定結果を“OK”と判定する。
【0046】<c点のごみ判定>次に、光学モータ30
12はc点に移動し、a点のシェーディング補正係数に
基づきc点の読み取りデータに対してb点と同様にゴミ
判定処理を行う。判定する読み取り位置を変更するに当
たり、ゴミ判定回路205のゴミ判定フラグ”GMKF
lag”には”0”が入力され判定回路の初期化が行わ
れる。c点には黒ゴミ101があり、読み取り波形は図
3(c)に示すように、黒ゴミ101の部分にレベルが
劣化する特異点が発生する。シェーディング補正後の波
形を図3(c)’に示す。
【0047】黒ゴミ101に相当する部分は特異点とし
て現れ、下限”DOWN”ラインを下回る。ゴミ判定回
路205はゴミ判定フラグ”GMKFlag”に”1”
を入力する。CPUはGMKFlag=1であることか
らc点の判定結果を”NG”とする。
【0048】<b点を基準とした判定>次に、b点でシ
ェーディング補正係数を算出し、a、c点のごみ判定を
行う。ごみ判定方法は上述した方法と同様である。b点
はa点同様にごみのない全面均一な濃度特性を持つエリ
アのため判定結果は次のようになる。 a点の判定結果→“OK” c点の判定結果→“NG” <c点を基準とした判定>さらに、c点でシェーディン
グ補正係数を算出し、a、b点のごみ判定を行う。図4
(a)‘’,(b)‘’はc点のシェーディング補正係
数によってシェーディング補正されたa、b点の波形デ
ータを示す図である。c点には黒ごみ101があるた
め、シェーディング補正された画像には上向きの特異点
が発生する。特異点は共に上限判定レベル“UP”を越
えるため、ごみ判定結果は“NG”となる。
【0049】<ごみ判定>表1に全組み合わせにおける
判定結果を示す。
【0050】
【表1】
【0051】上述した課程で説明したように、c点に関
わる判定が全てNGになっているのが分かる。CPUは表
1の結果より、演算の関係を逆にしても判定結果がOKな
a、b点をごみ無し位置と判定する。以上の動作をもっ
てCPUは基準白板3002のごみ検知を行う。CPU
は検知結果に応じてシェーディングポジションを変更す
る。ごみ判定結果よりごみ無しと判断されたaもしくは
b点をシェーディングポジションと設定する。シェーデ
ィングポジションの変更を可能にすることで、ごみの付
着した基準白板の使用が可能になるため、基準白板の歩
留まりが向上する。ごみ検知は実行するタイミングによ
ってそれぞれ次のように処理される。
【0052】(工場出荷時)ごみ検知結果に応じ、機体
毎にシェーディングポジションを調整する。 (システム起動時)出荷後に発生する基準白板へのごみ
の付着や、汚れなどを検知する。
【0053】検知結果より、ごみの無いシェーディング
ポジションが存在すれば画質維持のためにシェーディン
グポジションを変更する。また、全ての位置にごみ有り
と判断された場合には、警告表示を行い基準白板の清掃
もしくは交換を指示する。
【0054】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、シ
ェーディング補正回路の後段に配置され特異点を判定す
る判定手段と、基準部材の読み取り可能位置の1点を基
準として基準部材の他の読み取り位置の特異点を判定手
段によって判定した結果に応じて、基準部材の読み取り
位置を制御する制御手段とを有するので、装置内で基準
白板のごみ検知を可能にすることによって、ごみに影響
されないシェーディングポジションを選択することが出
来る。また、基準白板のごみに対する許容マージンを増
やすことによって、基準白板の製造工程を簡略化するこ
とができ、製造コストを低減すると共に基準白板の製造
歩留まりを向上することができる。さらに、出荷後の不
良に関しても自動的に画質補正を行うことができる。ま
た的確な清掃もしくは交換指示を行うことが可能にな
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の画像読取装置の基準白板の読み取り面
を示す図である。
【図2】シェーディング補正回路のブロック図である。
【図3】基準白板の読み取り波形、及びシェーディング
補正後の波形を示す図である。
【図4】基準白板のシェーディング補正後の波形を示す
図である。
【図5】従来の画像読取装置を示す図である。
【図6】従来の画像読取装置における基準白板の読み取
り波形及びシェーディング補正後の波形を示す図であ
る。
【図7】従来の画像読取装置における基準白板のごみに
よる画像の劣化を示す図である。
【図8】従来の画像読取装置におけるシェーディング補
正回路のブロック図である。
【符号の説明】
101 黒ゴミ 201 判定回路 202 上限判定レベル保管レジスタ 203 下限判定レベル保管レジスタ 204 セレクタ 3001 原稿ガラス 3002 基準白板 3003 原稿圧板 3004 原稿照明ランプ 3005 第1ミラー 3006 第2ミラー 3007 第3ミラー 3008 第1ミラー台 3009 第2ミラー台 3010 光学レンズ 3011 CCDラインセンサ 3012 光学モータ 3013 第1の反射笠 3014 第2の反射笠 3301 メモリー 3302 セレクタ 3303 シェーディングターゲット保管レジスタ 3304 除算回路 3305 加算回路 3306 平均回路 3307 シェーディング補正回路

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の読み取り可能位置を有する基準部
    材と、シェーディング補正回路とを有する画像読取装置
    において、前記シェーディング補正回路の後段に配置さ
    れ特異点を判定する判定手段と、前記基準部材の読み取
    り可能位置の1点を基準として前記基準部材の他の読み
    取り位置の特異点を前記判定手段によって判定した結果
    に応じて、前記基準部材の読み取り位置を制御する制御
    手段とを有することを特徴とする画像読取装置。
  2. 【請求項2】 前記基準部材は、3点の読み取り可能位
    置を有することを特徴とする請求項1に記載の画像読取
    装置。
  3. 【請求項3】 前記判定手段は、2つの異なる判定レベ
    ルを有することを特徴とする請求項1に記載の画像読取
    装置。
  4. 【請求項4】 前記制御手段は、システム起動時に実行
    されることを特徴とする請求項1に記載の画像読取装
    置。
  5. 【請求項5】 前記制御手段は、特異点無しと判定され
    た点を前記基準部材の読み取り位置とすることを特徴と
    する請求項2に記載の画像読取装置。
  6. 【請求項6】 前記基準部材の全ての読み取り位置に特
    異点有りと判断された場合、前記基準部材の清掃を通知
    する清掃通知手段を有することを特徴とする請求項1に
    記載の画像読取装置。
  7. 【請求項7】 前記基準部材の全ての読み取り位置に特
    異点有りと判断された場合、前記基準部材の交換を通知
    する交換通知手段を有することを特徴とする請求項1に
    記載の画像読取装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7518757B2 (en) 2002-09-13 2009-04-14 Canon Kabushiki Kaisha Image reading apparatus and control program therefor

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