JP2588044B2

JP2588044B2 - 平面走査型画像読取装置

Info

Publication number: JP2588044B2
Application number: JP2104241A
Authority: JP
Inventors: 吉弘岸田
Original assignee: Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Current assignee: Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date: 1990-04-18
Filing date: 1990-04-18
Publication date: 1997-03-05
Anticipated expiration: 2012-03-05
Also published as: JPH042268A

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）本発明は、平面的に載置された原稿に対して、CCDラ
インセンサを副走査方向に相対的に移動し、原稿画像の
読取りを行うと共に、走査域の一部に設けられた白基準
板を読取り、シェーディング補正を行う平面走査型画像
読取装置に関する。

（従来の技術）この種の平面走査型画像読取装置において、光源とし
て原稿の主走査方向に伸びる管状蛍光灯を用いている。
この光源によって原稿を照明すると共に、原稿面からの
反射光あるいは透過光を光学レンズを通してCCDライン
センサに導き、光電変換して原稿画像の読取りを行う。

ところで、光源の発光光度が光源長手方向の各部で不
均一であると、読取りをCCDラインセンサで行う場合
に、主走査方向における読取り濃度が不均一となり、原
稿画像を正しく読取ることが出来なくなる。このような
現象はシェーディングとして知られている。

同様な現象は、光源からCCDラインセンサ間に存在す
る光学系の主走査方向各点における透過光量にバラツキ
がある場合も生じ、また、CCDラインセンサの各画素の
感度のバラツキによっても生じる。

このようなシェーディングに起因した画像読取り誤差
に対処するため、原稿の読取りに先立ってシェーディン
グ補正が行われる。シェーディング補正は、CCDライン
センサの読取領域の一部に白基準板を設けておき、原稿
画像を読取る前に、CCDラインセンサでこの白基準板を
読取ってシェーディング補正信号を得、原稿画像を読取
る際に、その画像読取り信号をシェーディング補正信号
によって補正するものである。これによりシェーディン
グに起因した読取誤差は理論的に解消される。

しかしながら、実際には白基準板にゴミが付着した
り、傷付きがあったりすることが間々あり、その場合に
はシェーディング補正用信号自体がゴミや傷の情報を持
つので、正確なシェーディング補正を行うことができな
いという問題がある。

このような問題に対して、従来は特開昭60−154769号
公報に開示されているように、シェーディング補正の
際、光学系の焦点をずらして白基準板を読取り、ゴミや
傷の影響を軽減する手段とか、特開昭63−208366号公報
に示されているように、白基準板を副走査方向に複数ラ
イン分読取り、最も白よりのレベルのラインの読取りデ
ータをシェーディング補正用信号として用いることで、
ゴミや傷の影響を回避する手段とかが提案されている。

（発明が解決しようとする課題）しかし、前者の手段にあっては、光学系の焦点をずら
すことによって、ゴミや傷の濃度を白基準板上のCCDラ
インセンサの各画素対応領域よりも広い範囲にわたって
平均化しているに過ぎないものであり、そのため高精度
に画像を読取りたい場合に要求されるシェーディング補
正手段としては使用出来ないという課題がある。

後者の手段は、ゴミや傷が小さい場合にはさほど問題
はないが、綿ボコリのような大きなゴミとか大きな傷の
場合には、副走査方向複数ラインにまたがってそのゴミ
又は傷が存在することとなるので、最も白よりのレベル
の読取りデータをシェーディング補正用信号として用い
ても、その信号自体にゴミや傷の情報が含まれており、
正確なシェーディング補正が不可能であるという課題が
ある。

本発明はこのような点に鑑み、白基準板上にどのよう
なゴミ等異物が付着したり、傷が付いていたとしても、
シェーディング補正の際にそれを確実に検出することに
より、不正確なシェーディング補正を事前に防止するこ
とのできる有用な手段を提供することを目的としてい
る。

（課題を解決するための手段）本発明は、平面的に載置された原稿に対して、CCDラ
インセンサを副走査方向に相対的に移動し、原稿画像の
読取りを行うと共に、走査域の一部に設けられた白基準
板を読取り、シェーディング補正を行う平面走査型画像
読取装置において、前記CCDラインセンサの各画素にお
ける理想的な白基準板読取信号に基づく理想データを、
白基準板を読取った各画素データSi（ｉ＝１〜ｎ）のう
ちの特定画素データSkに対する各画素データSiの相対比
Qiとして予め記憶する記憶手段と、前記CCDラインセン
サの各画素における実際の白基準板読取信号に基づく読
取データを、白基準板を読取った各画素データWi（ｉ＝
１〜ｎ）のうちの理想データにおける特定画素データSk
に対応する画素のデータWkに対する各画素データWiの相
対比Ｑ′ｉとして求める演算手段と、記憶手段に記憶さ
れた理想データQiと白基準板読取信号から得る読取デー
タＱ′ｉとをCCDラインセンサの各画素単位で比較する
比較手段と、比較結果に基づき白基準板に異物の付着又
は傷付きがあるかどうかを判定する判定手段と、前記白
基準板にゴミ等異物の付着、傷付きがない理想的な状態
のとき、CCDラインセンサで該白基準板を読取り、その
読取信号に基づく理想データQiを前記記憶手段に記憶す
る動作を行わせる一方、シェーディング補正の際は、白
基準板読取信号から得た読取データＱ′ｉと前記記憶手
段に記憶してある理想データQiとを比較手段で比較する
と共に判定手段で異物の付着、傷付きを判定する動作を
行うよう前記各手段を制御する制御手段と、を備えてい
ることを特徴とする。

（作用）本発明によれば、白基準板にゴミ等異物の付着や傷付
きがない理想状態のとき、CCDラインセンサで白基準板
を読取って理想データを求め、これを記憶しておく一
方、シェーディング補正の際は、CCDラインセンサにて
白基準板を読取って読取データを求めると共に、この読
取データと前記理想データとを比較し、ゴミ等異物の付
着、傷付きがないかどうか判定する。このため、シェー
ディング補正の際、白基準板にわずかなゴミ等が付着し
ていたり、微少な傷付きがあったとしても容易に発見で
きる。この結果、ゴミ等を含んだ白基準板データによる
不適切なシェーディング補正を未然に防止できる。

（実施例）平面走査型画像読取装置の概略構成第１図は、本発明の一実施例としての平面走査型画像
読取装置を示している。図中、鎖線で描いてあるのが、
画像読取装置筐体１で、その上面1aに光源２、原稿テー
ブル３等の原稿読取部の一部と、操作パネル４が配され
ている。

筐体１の左側半分1bは、前記上面1aよりも１段高く形
成されていて、その上にモニターテレビ５が設けられて
いる。

光源２は、下面にスリット21を有した角筒状の光源収
容ケース22の内部に、長尺状の蛍光灯23を収容した構成
であり、前記筐体上面1a上方であって、原稿テーブル３
よりも上方に前後方向に架設されている。

原稿テーブル３は、中央が大きく開口されると共に、
一側にスリット状の開口が形成された平面的な板体31で
あり、中央開口を覆うように原稿ガラス板32が載置さ
れ、またスリット状開口に白黒基準板33、34がセットさ
れている。原稿ガラス板32は、第２図乃至第３図に示す
ように、２枚の透明なガラス板32a、32bから成り、上側
ガラス板32aが下側ガラス板32bに対し御端縁を中に回動
可能な構成である。原稿Ｄはこの上下ガラス板32a、32b
の間に保存される。

白黒基準板33、34は、基準となる白色と黒色情報を与
えるものであり、両基準板33、34の長手方向は、光源２
のスリット21の長手方向と平行させてあり、また両基準
板33、34の全長は原稿テーブル３にセットできる最大原
稿の主走査方向（前記スリット21の長手方向と平行する
方向）長さと等しいかそれ以上の長さとしてある。これ
によって主走査方向全域にわたるシェーディング補正が
可能である。

原稿テーブル３の板体31の前部側下部には案内部材35
が、後部にはスクリューナット36が取付けられている。
案内部材35は、筐体上面1aの前部寄りに配設されたレー
ル11と係合されていて、レール11に沿う方向にのみ移動
可能に案内されている。スクリューナット34は、筐体上
面1aの後部に配設されたスクリューボルト12に螺挿され
ている。スクリューボルト12の一端には、送り用モータ
13が連結されていて、このモータ13の回動によって原稿
テーブル３が図中矢印Ａで示す副走査方向に移動する。
原稿テーブル３の副走査方向移動量はスクリューボルト
12の長さによって決定される。図示例では、スクリュー
ボルト12として長いものを使用することにより、原稿テ
ーブル３を筐体上面1aの略々左右両端まで移動できるよ
うにしている。これによって原稿Ｄ及び白基準板33、黒
基準板34の全ての読取りが可能であると共に、原稿テー
ブル３を筐体１の左端に設けたクリーニング手段14まで
移動させて、白基準板33のクリーニングを行うことが可
能である。クリーニング手段14としては、白基準板33上
に付着したゴミ等異物を取り除くことのできるものであ
ればよく、ブラシ、エヤーブロワー等が使用できる。
尚、モニターテレビ５が載置された筐体左側半分1bの側
壁は、前記原稿テーブル３がクリーニング手段14に向け
て移動するのを阻害しないように開口されている。

前記操作パネル４は、平面走査型画像読取装置の入力
キー群を配してある。このキー群にはスキャンスタート
キー41、クリーニング指示キー42が含まれている。

前記筐体上面1aであって、光源２のスリット21に対向
した箇所には図示しないがスリットが形成されていて、
光源から発した光のうち原稿Ｄや白基準板33、黒基準板
34を透過した光が前記スリットを通じて筐体１内に導入
される。筐体１内には、前記スリットを通って入射した
光を、CCDラインセンサ15に合焦状態で照射するため
に、ミラー16a、16b、16c及び結像レンズ17から成る光
学系18が所定の関係で配置されている。CCDラインセン
サ15は、１ラインにCCD（Charge Coupled Device）を50
00個以上配したCCDアレイであり、CCDの配列方向を光源
２のスリット21長手方向と同じ方向に向けて配されてい
る（CCDの配列方向は、原稿Ｄ読取時の主走査方向に相
当するので、以下、この方向を主走査方向という。）。
CCDラインセンサ15の主走査方向に対する読取り幅は原
稿テーブル３にセット可能な最大原稿の幅と等しいかそ
れより大である。

前記光学系18の下方には、制御ボックス60が設けられ
ている。制御ボックス60内には、CCDラインセンサ15の
読取りを制御したり、該センサ15の読取信号に所定の処
理をして記憶したり、シェーディング補正を行う回路及
び各回路が一連の動作を行うよう指示制御する制御手段
が設けられている。

制御系の構成の説明第４図は、制御ボックス60に内蔵されている回路、制
御手段を示しており、図中、61はCCD読出し制御回路、6
2はオペアンプ、63はサンプルホールド回路、64はアナ
ログ・ディジタル変換回路、65はセレクタ、66〜68はメ
モリ、69はシェーディング補正回路、70は制御手段とし
ての中央処理装置（以下、CPUという。）である。

CCD読出し制御回路61は、CCDラインセンサ15に読み取
られた白黒基準板データや原稿データを、時系列的に読
み出すためのクロックを発生している。このクロックに
よってCCDラインセンサ15から時系列的に読出された画
素データが、オペアンプ62によって必要レベルまで増幅
されてサンプルホールド回路63に与えられる。

サンプルホールド回路63は、CCDラインセンサ15から
時系列的に読出された画素データを、CCD読出し制御回
路61の発生するクロックに同期して一時的にホールド
し、アナログ・ディジタル変換回路64に与える。

アナログ・ディジタル変換回路64は、サンプルホール
ド回路63から出力される画素データをディジタル信号に
変換し、セレクタ65に与える。

セレクタ65は、CPU70からの制御指令に基づき、出力
回路をａ、ｂ、ｃの３通りに切換える。セレクタ65が出
力回路ａに切り換わっているとき、画素データはメモリ
66に記憶され、セレクタ65が出力回路ｂに切り換わって
いるとき、画素データはメモリ67に記憶される。さら
に、セレクタ65が出力回路ｃに切り換わっているとき、
画素データはシェーディング補正回路69に与えられる。

前記メモリ66は、白基準板33の読取り画素データを記
憶し、メモリ67は黒基準板34の読取り画素データを記憶
するために用いられる。一方、メモリ68は、ゴミ等の異
物の付着や傷付きのない白基準板33を読取った各画素デ
ータS_i（ｉ＝１〜ｎ）のうち特定画素データS_kに対する
各画素データS_iの相対比Q_i（理想データ）を格納する。この相対比Q_iはゴミの付着や傷付きのない
いわば理想的な白基準板33に関するデータであるから、
装置製造直後とか、白基準板33の交換直後とかの限られ
た場合にしか読取ることができない。このため、容易に
消去することのないよう、メモリ68としてEEPROMを用い
ている。理想的な白基準板に関する理想データを相対比
Q_iという形式で記憶することとしたのは、全ての画素に
同一にあらわれる光源光量の変動とかCCDラインセンサ1
5自体の感度のバラツキといった要因を相殺し、純粋に
白基準板に関するデータを記憶するためである。

尚、上記（１）式において、ｉはCCDラインセンサに
おける各画素の番号で、主走査方向始端からの順位を示
している。S_iはｉ番目の画素によって検出された白基準
板読取りデータ、同様にS_kはｋ番目の画素によって検出
された白基準板読取りデータである。この場合、いずれ
の画素をS_kと定めるかは任意であるが、通常、全画素デ
ータのうちデータ値が最大又は最小のものを選択するの
が、相対比Q_iの値を１以下又は１以上に揃えることがで
きるので望ましい。S_kとして最大のもの又は最小のもの
を選択するのは、CPU70によってソフト的に容易に行え
る。

シェーディング補正回路69は、CCDラインセンサ15が
読取った原稿画像を、メモリ66と67に記憶されている白
基準データと黒基準データに基づいてシェーディング補
正を行う。原稿画像はCCD読出し制御回路61の発するク
ロックに同期して１画素ずつ順番にシェーディング補正
回路69に与えられるし、白基準板データ、黒基準板デー
タもCCD読出し制御回路61の発するクロックに同期して
メモリ66、67から読出され、シェーディング補正回路69
に与えられる。このため、シェーディング補正は、CCD
ラインセンサの対応する画素毎に、原稿画像、白基準板
データ、黒基準板データの３者を次式に基づいて演算す
ることによって行われる。

ここでG_iはｉ番目の画素の読取った原稿画像データ、
W_iはｉ番目の画素の読取った白基準板データ、B_iはｉ番
目の画素が読取った黒基準板データ、Ｇ′_ｉはシェーデ
ィング補正後の画像データである。

CPU70は、送り用モータ13を駆動して原稿テーブル２
の移動を行ったり、セレクタ65を切換えてCCDラインセ
ンサ15の読取画像をメモリ66、67、シェーディング補正
回路69のいずれに与えるかの選択を行ったり、更に理想
的な白基準板データを読取り上記（１）式に示した処理
を施してメモリ68に格納するといった一連の動作を遂行
するもので、その詳細な動作を第５図乃至第７図のフロ
ーチャートにしたがって説明する。

フローチャートの説明第５図はCPU70の処理動作を示すメインフローであ
る。先ず、操作パネル４上のスキャンスタートキー（4
1）が押されると、光源２が点灯され（＃１）、メモリ6
8に理想データが格納されているかどうか判定される
（＃２）。理想データが格納されていない場合にはステ
ップ＃３に進み、理想データ格納処理が行われる。

第６図は理想データ格納処理のサブルーチンを示して
いる。この処理では、出力回路ａを選択するようにセレ
クタ65を切換えて後（＃31）、送り用モータ13を駆動し
て原稿テーブル３を白基準板33上に移動させ（＃32）、
CCDラインセンサ15にて、白基準板33を１ライン分読取
る。読取ったデータはCCD読出し制御回路61の発するク
ロックに同期して１画素データ（S₁,S₂…S_n）ずつメモ
リ66に書き込まれる（＃33）。

次に、メモリ66に書き込んだデータS₁,S₂…S_nの中か
ら特定のデータS_kを選ぶと共に（＃34）、CCDラインセ
ンサ15の画素番号に相当する変数ｉを１に設定する（＃
35）。変数ｉが１に設定されたことにより、メモリ66か
らS₁のデータが読出され、S_kと共に（１）式に基づく演
算が実行され（＃36）、演算結果Q₁がメモリ68に書き込
まれる（＃37）。

次に、ステップ＃38を経由して＃39に進み、変数ｉを
２にインクリメントする。そして、再びステップ＃36に
進み、メモリ66からS₂のデータを読出し、（１）式の演
算を行ってQ₂を求める。演算結果のQ₂はメモリ68に書き
込まれる。

以下、ステップ＃39にて変数ｉを１ずつインクリメン
トして、CCDラインセンサ15の各画素の読取データ（S₁,
S₂…S_n）に関して（１）式の演算を実行し、メモリ68に
書き込む。そして、全ての画素の読取データに関してQ_i
を求め、メモリ68への書き込みを完了すると（＃38）、
メインフローにリターンする。

一方、ステップ＃２にプログラムが進んできたとき、
メモリ68に理想データが格納されているとき、メモリ68
に理想データが格納されていると判定されると、ステッ
プ＃４以下の処理を行う。即ち、先ず、セレクタ65で出
力回路ａを選択した後（＃４）、白基準板33を１ライン
分読取り、読取りデータW_iをメモリ66に格納する（＃
５）。この場合、後述する処理によって、白基準板33に
ゴミ等異物の付着や傷付きがないのを確認すれば、セレ
クタ65で出力回路ｂを選択する（＃６）。そして、今度
は黒基準板34を１ライン分読取り、その読取データB_iを
メモリ67に格納する（＃７）。

続いて、セレクタ65で出力回路ｃを選択し、原稿Ｄの
読取りを行う（＃９）。そして、読取りデータG_iを直接
シェーディング補正回路69に入力すると共に、メモリ6
6、67から白黒各基準板データW_i、B_iを読出し、これら
のデータをもとに上記した（２）式の演算を行い、シェ
ーディング補正された信号Ｇ′_ｉを出力する。

次に、ステップ＃５において、白基準板33に異物の付
着、傷付きがあるかどうか確認する動作について説明す
る。第７図はステップ＃５のサブルーチンで、前記確認
動作を詳細に示した図である。

先ず、送りモータ13を駆動して、原稿テーブル３を白
基準板33の位置まで移動し（＃51）、白基準板33を１ラ
イン分読取り、その読取データW_i（ｉ＝１…ｎ）をメモ
リ66に書き込む（＃52）。

次いで、理想データ格納時に設定した特定画素データ
S_kと同一画素ｋのデータW_kを検索し、特定データとして
設定すると共に（＃53）、変数ｉを１に設定する（＃5
4）。そして、メモリ66からｉ＝１の読取データW_iを読
出し、特定データW_kと共に（１）式に基づく演算を行
い、相対比Ｑ′_１を求める（＃55）。続いて、メモリ68
に格納されている理想データの相対比Q₁を読出し、前記
Ｑ′_１と次式にしたがって比較する（＃56）。

|Q_i−Ｑ′_i|≧ｍ …（３）ここで、ｍは予め定められた値であり、この値が零に
近い程、ゴミ等異物の付着や傷付きを高精度に検出でき
る。しかし、CCDラインセンサの読取誤差等を考慮して
ある程度大きな値に設定される。

上記（３）式によって比較した結果、相対比Q₁とＱ′
_１の差の絶対値がｍよりも小さいと、１番目の画素には
ゴミ等異物の付着、傷付きがないと判断され、ステップ
＃57から＃58へ進み、変数ｉを２に設定する。そして、
再びステップ＃55に戻り、２番目の画素の読取りデータ
W₂に関する相対比Ｑ′_２を求め、ステップ＃56で、理想
データの相対比Q₂との差の絶対値がｍより小さいかどう
かを判定する。以下、相対比の差の絶対値がｍより小さ
いと判断されると、変数ｉを１ずつインクリメントし
（＃58）、全ての画素（ｉ＝１〜ｎ）に関して読取りデ
ータW_iの相対比Ｑ′_ｉを求め、理想データの相対比Q_iと
比較する。

この結果、全ての画素に関して、ゴミ等異物の付着、
傷付きがないと判断されると（＃57）、メインフローへ
リターンし、既述したステップ＃６からステップ＃９ま
での処理を行う。

一方、ステップ＃56において、いずれかの画素に関す
る相対比Ｑ′_ｉと理想データの相対比Q_iとの差分がｍと
同じか大であると、その画素ｉにゴミ等異物が付着し又
は傷が付いていると判断し、ステップ＃59に進んでモニ
ターテレビを通じてオペレータにアラームを報じる。

オペレータは、このアラームによって白基準板33にゴ
ミ等異物が付着し、或いは傷が付いていることを知ると
共に、それの除去のために、操作パネル４上に設けられ
たクリーニング指示キー（42）を押す（＃60）。このキ
ーの押圧によて、送り用モータ13が駆動され、原稿テー
ブル３を筐体１左端のクリーニング手段14の位置まで移
動し、この位置で何回か短ストロークで原稿テーブル３
を往復させる（＃61）。これによって、クリーニング手
段14が白基準板33に対しクリーニング処理を行い、ゴミ
等の異物であればその除去をする。クリーニング処理を
終えると、プログラムはステップ＃51に戻り、原稿テー
ブル３を白基準板33位置に移動し、ステップ＃52から＃
58までの既述した動作を行う。

クリーニング後の動作において、ステップ＃56で白基
準板読取データW_iの相対比Ｑ′_ｉと理想データの相対比
Q_iとの差分がまだｍと等しいか大であると判断される
と、再びステップ＃61にて白基準板のクリーニングが行
われる。このようにして、何回か白基準板33のクリーニ
ングを行ってもなお、相対比Q_i、Ｑ′_ｉの差分がｍと等
しいか大であれば（＃62）、白基準板の汚れ又は傷付き
がひどく、シェーディング補正のための白基準データと
しては使えないものであるから、黒基準板34や原稿Ｄの
読取りを行うことなく、直ちに光源２を消灯すると共に
（＃63）、原稿テーブル３を原位置に復帰させて、スキ
ャン動作を終了する（＃64）。

尚、上記実施例においては、原稿透過型の読取装置に
本発明を適用しているが、本発明はこれに限られるもの
ではなく、原稿反射型の読取装置に適用できることは勿
論である。

又、実施例では、シェーディング補正の際に白基準板
にゴミ等の異物が付着したり傷付いていたりすると、ク
リーニング手段によってクリーニングしているが、これ
を行わず、単にモニターテレビからアラームを発してオ
ペレータにその旨の通報を行った後、光源を消灯し、ス
キャンを停止するようにしてもよい。

上記実施例において、理想データに関して、またシェ
ーディング補正の際の白基準板読取データに関しても、
いずれも特定画素のデータとの相対比を求めて、相対比
同士の比較を行っているので、読取り時の光源光量の変
動やCCDラインセンサ自体の感度のバラツキをキャンセ
ルすることができ、このため純粋に白基準板上にゴミ等
異物の付着、傷付きがあるかどうかを判定でき、判定に
他の誤差要因が含まれるのを排除することができる。

（発明の効果）以上説明したように、本発明は白基準板にゴミ等異物
の付着や傷付きがない状態のとき、CCDラインセンサで
白基準板を読取って理想データを求め、これを記憶して
おく一方、シェーディング補正の際は、CCDラインセン
サにて白基準板を読取って読取データを求めると共に、
この読取データと前記理想データとを比較し、ゴミ等異
物の付着、傷付きがないかどうか判定するものであるか
ら、ゴミ等の異物又は傷付きが大きい場合は勿論、どの
ように小さなものであっても正確に判定できる。従っ
て、判定により、白基準板にゴミ等異物の付着、傷付き
がない場合には、正確にシェーディング補正ができる
し、一方、ゴミ等異物の付着又は傷付きがあると判定さ
れれば、スキャンを停止する等して不正確なシェーディ
ング補正の発生を未然に防止することができる。

特に、理想データQiと読取データＱ′ｉとを、特定画
素データに対する各画素の相対比として求め、これらの
相対比同士の比較を行っているので、経時的変化等によ
り読取り時の光源光量の変動やCCDラインセンサ自体の
感度のバラツキが生じた場合においても、純粋に白基準
板上に異物の付着や傷付きがあるかどうかを判定するこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例としての平面走査型画像読取
装置を示す概略斜視図、第２図は読取部位の構成を示す
概略側面図、第３図は原稿テーブルの平面視図、第４図
は平面走査型画像読取装置のシステム図、第５図乃至第
７図は前記読取装置の動作を説明するフローチャートで
ある。

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】平面的に載置された原稿に対して、CCDラ
インセンサを副走査方向に相対的に移動し、原稿画像の
読取りを行うと共に、走査域の一部に設けられた白基準
板を読取り、シェーディング補正を行う平面走査型画像
読取装置において、前記CCDラインセンサの各画素における理想的な白基準
板読取信号に基づく理想データを、白基準板を読取った
各画素データSi（ｉ＝１〜ｎ）のうちの特定画素データ
Skに対する各画素データSiの相対比Qiとして予め記憶す
る記憶手段と、前記CCDラインセンサの各画素における実際の白基準板
読取信号に基づく読取データを、白基準板を読取った各
画素データWi（ｉ＝１〜ｎ）のうちの理想データにおけ
る特定画素データSkに対応する画素のデータWkに対する
各画素データWiの相対比Ｑ′ｉとして求める演算手段
と、記憶手段に記憶された理想データQiと白基準板読取信号
から得る読取データＱ′ｉとをCCDラインセンサの各画
素単位で比較する比較手段と、比較結果に基づき白基準板に異物の付着又は傷付きがあ
るかどうかを判定する判定手段と、前記白基準板にゴミ等異物の付着、傷付きがない理想的
な状態のとき、CCDラインセンサで該白基準板を読取
り、その読取信号に基づく理想データQiを前記記憶手段
に記憶する動作を行わせる一方、シェーディング補正の
際は、白基準板読取信号から得た読取データＱ′ｉと前
記記憶手段に記憶してある理想データQiとを比較手段で
比較すると共に判定手段で異物の付着、傷付きを判定す
る動作を行うよう前記各手段を制御する制御手段と、を備えていることを特徴とする平面走査型画像読取装
置。
【請求項２】請求項１記載の平面走査型画像読取装置に
おいて、白基準板に異物の付着又は傷付きがあることが検出され
たとき、CCDラインセンサのスキャニングを禁止するミ
ススキャン禁止手段を備えることを特徴とする平面走査
型画像読取装置。
【請求項３】請求項１記載の平面走査型画像読取装置に
おいて、白基準板に異物の付着又は傷付きがあることが検出され
たとき、その旨の警告を行う警告手段を備えることを特
徴とする平面走査型画像読取装置。
【請求項４】請求項１乃至３いずれかに記載の平面走査
型画像読取装置において、白基準板に付着した異物を取り除くクリーニング手段を
さらに備える平面走査型画像読取装置。