JP2002176136A - マルチチップパッケージ、半導体及び半導体製造装置 - Google Patents

マルチチップパッケージ、半導体及び半導体製造装置

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JP2002176136A JP2000373984A JP2000373984A JP2002176136A JP 2002176136 A JP2002176136 A JP 2002176136A JP 2000373984 A JP2000373984 A JP 2000373984A JP 2000373984 A JP2000373984 A JP 2000373984A JP 2002176136 A JP2002176136 A JP 2002176136A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 システム基板に搭載するパッケージ数を少な
くするとともに、システム基板の小型化及び多機能化を
図る。 【解決手段】 配線基板1上に第1のLSIチップ3を
搭載し、この第1のLSIチップ1上に開口部15dを
有する接合基板15を搭載し、開口部15d内に第2の
LSIチップ4を挿入し、接合基板15上に第3のLS
Iチップ5を搭載し、第1のLSIチップ3と第2のL
SIチップ4の接合は、突起上の内部バンプ14及びパ
ッド16により行ない、更に第1のLSIチップ3と第
3のLSIチップ5との接続は、接合基板15に設けた
バイパスバンプ15a,15b及び金属層15cを介し
て行なう。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は高機能半導体を収
納するためのマルチチップパッケージ及びパッケージ内
に収納する半導体並びにその半導体製造方法に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】図17は従来の単一チップパッケージを
示す断面図であり、図において、21は配線基板、22
は配線基板21の下部に設けられた外部バンプ、23は
配線基板21上にダイボンド材24を介して設けられた
LSIチップ、25,26は配線基板21上に設けられ
たパターン、27はLSIチップ23とパターン25と
を接続する金属配線、28は装置全体を封止するための
モールド樹脂である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来のマルチチップパ
ッケージを構成するには、以上のように、単一チップパ
ッケージにおける1個の配線基板に必要な機能を備えた
1個のLSIチップを搭載し、これらの配線基板を寄せ
集めて数種類パッケージで全体を構成していた。したが
って、高機能を要するシステム機器が必要となってくる
と、数多くのパッケージが必要となり、システム機器が
大型化するとともに、重量化するという問題があった。
【0004】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたものであり、1個のパッケージに異なる機
種、もしくは同一機種のLSIチップを、少なくとも4
個以上収納することにより、システム基板の小型化並び
に軽量化を図ることを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明の請求項1に係
るマルチチップパッケージは、配線基板上に第1のLS
Iチップを搭載し、この第1のLSIチップ上に開口部
を有する接合基板を搭載し、開口部内に第2のLSIチ
ップを挿入することにより、第1のLSIチップ上に第
2のLSIチップを搭載し、接合基板上に第3のLSI
チップを搭載し、第1のLSIチップと第2のLSIチ
ップの接合は、一方に突起上の内部バンプを設けるとと
もに他方には凹部からなるパッドを設けて両者を接合す
ることにより行ない、更に第1のLSIチップと第3の
LSIチップとの接続は、接合基板に設けたバイパスバ
ンプ及び金属層を介して行なうものである。
【0006】この発明の請求項2に係るマルチチップパ
ッケージは、第4のLSIチップを第3のLSIチップ
の裏面上に搭載するとともに、第4のLSIチップと配
線基板とを金属配線で接続したものである。
【0007】この発明の請求項3に係るマルチチップパ
ッケージは、配線基板上に第1のLSIチップを搭載
し、この第1のLSIチップ上にチップ間での信号伝達
を行なうための信号バイパス領域とLSI機能を有する
能動領域が写真製版法により形成された第2のLSIチ
ップを搭載し、この第2のLSIチップ上に第3のLS
Iチップを搭載したものである。
【0008】この発明の請求項4に係るマルチチップパ
ッケージは、第2のLSIチップを2枚以上積層したも
のである。
【0009】この発明の請求項5に係るマルチチップパ
ッケージは、第4のLSIチップを第3のLSIチップ
の裏面上に搭載するとともに、第4のLSIチップと配
線基板とを金属配線で接続したものである。
【0010】この発明の請求項6に係る半導体は、転写
法により、金属からなる突起状の内部バンプを下地膜を
介してその表面に設けたものである。
【0011】この発明の請求項7に係る半導体は、写真
製版法により凹部を設けるとともに、この凹部をアルミ
膜で覆ったパッドを備えたものである。
【0012】この発明の請求項8に係る半導体製造方法
は、基板の表面に対して写真製版法により中央部の能動
領域及び周辺部の信号バイパス領域を形成し、その後基
板の裏面において表面に形成した信号バイパス領域と接
続するように、信号バイパス領域のみを写真製版法によ
り形成するものである。
【0013】
【発明の実施の形態】実施の形態1.以下、この発明の
一実施形態を図に基づいて説明する。図1はこの発明の
実施の形態1によるマルチチップパッケージを示す断面
図、図2は同じく斜視図である。図において、1はガラ
スエポキシ等からなる信号配線や電源配線を有する配線
基板、2は半田等からなる金属で構成された外部バン
プ、3,4,5,6はそれぞれ異なる機能もしくは同一
機能を持つ第1、第2、第3、第4のLSIチップ(半
導体)、6aはLSIチップ6上に設けられた能動領
域、7,8はそれぞれLSIチップ3と配線基板1、及
びLSIチップ5とLSIチップ6とを接合して固定さ
せるエポキシ樹脂等からなるダイボンド材、9は各LS
Iチップと配線基板とを接続するための金から構成され
る金属配線、10,11は配線基板1上に形成した金属
パターン、12,13はパッケージ全体を封止するため
のエポキシ樹脂からなるモールド樹脂、14はLSIチ
ップの信号を取り出すため金等の金属から構成された内
部バンプである。
【0014】又、15は非絶縁性でかつ硬度の高い樹脂
からなる接合基板であり、図3は接合基板15を示す平
面図、図4は断面図である。図において、15a,15
bは接合基板15の取り出し端子に形成された金属から
なるバイパスバンプ、15cは接合基板15の内部に形
成され、バイパスバンプ15a,15b間を接続する金
属層、15dは接合基板15に形成されたLSIチップ
4を収納するための開口部である。
【0015】次に、パッケージの構成と機能を説明す
る。まず最初に配線基板1にLSIチップ3をダイボン
ド材7で固定し、LSIチップ3上部にLSIチップ4
をAu等の金属からなる内部バンプ14を介して接合さ
せる。
【0016】図5及び図6はLSIチップ3,4の接合
状態を示す断面図であり、LSIチップ3とLSIチッ
プ4とをフェイスボンディングで接合させる状態を示し
ている。図において、LSIチップ4が接合基板15と
の間で干渉しないように、LSIチップ3とLSIチッ
プ4との位置精度を確保するため、LSIチップ3もし
くはLSIチップ4の一方に、写真製版法により凹部1
6a及びアルミ膜16bからなるパッド16を設け、他
方にはAu等からなる突起状の内部バンプ14を設け
た。そして突起状の内部バンプ14は転写法によるバン
プ形成により形成した。尚、図5においては、凹部16
aが直方体状の場合を示し、図6においては、凹部16
aが球状の場合を示している。又、17は下地膜、18
はアルミ膜である。
【0017】LSIチップ4を収納するため、接合基板
15をLSIチップ3上部に搭載し、LSIチップ3の
信号取り出し口と、接合基板15のバイパスバンプ15
bとを接合させ、さらに接合基板15の内部バンプ15
aとLSIチップ5の信号取り出し口とを接合する。次
に、LSIチップ5の裏面にLSIチップ6をダイボン
ド材8を介して固定する。上記においては、4枚のLS
Iチップ3,4,5,6を積層させた場合について説明
したが、LSIチップ6の上部に内部バンプを介して同
様にLSIチップを積層させることにより、全体として
4枚以上のLSIチップを積層させるようにしてもよ
い。
【0018】そして、LSIチップ3,6から配線基板
1へ信号を取り出すため、金属配線9で配線基板1のパ
ターン10に接続する。更に、すべてのLSIチップを
外部から保護するため、エポキシ樹脂等からなるモール
ド樹脂12,13で全体を覆う。最後にシステム基板に
搭載するための半田等の金属からなる外部バンプ2を配
線基板1の下部に形成させて、マルチチップパッケージ
を構成する。ここで図3,図4に示すように、接合基板
15の特徴を示すと、接合基板15は非導電性の樹脂か
らなる基板で構成されており、中央部はLSIチップ4
を収納するための開口部15dがあり、基板周辺部には
基板の内部にCu等からなる金属層15cを形成させ、
基板両面には突起状のAu等からなるバイパスバンプ1
5a,15bを形成している。
【0019】このようにして、LSIチップ3は接合基
板15のバイパスバンプ15bと接合している。さら
に、LSIチップ6はLSIチップ5の裏面とエポキシ
樹脂等からなるダイボンド材8で接合して、4LSIチ
ップの積層構造を形成している。LSIチップ3は配線
基板1上に連続に設けたパターン10と金属配線9で接
続して、LSIチップ3からの電気信号を、外部バンプ
2を介してシステム基板(図示省略)へ伝達するように
し、又、LSIチップ6は配線基板1上に連続に設けた
パターン10と金属配線9で接続して、LSIチップ6
からの電気信号を、外部バンプ2を介してシステム基板
へ伝達するようにしている。LSIチップ5の電気信号
は、接合基板15を介して、LSIチップ3と伝達を行
なうようにし、又、LSIチップ4の電気信号は、内部
バンプ14を介して直接にLSIチップ3と伝達を行な
うようにしている。
【0020】次に、必要に応じてLSIチップを覆うよ
うに、接合基板15に逃がし部15eを設けた例につい
て説明する。図7〜図10は逃がし部を設けた例を示す
もので、図7はマルチチップパッケージの断面図、図8
は同じく斜視図、図9は接合基板部を示す平面図、図1
0は同じく断面図である。図において、逃がし部15e
以外の部品は図1〜図6に示したものと同様である。こ
のように逃がし部15e内にLSIチップ4を収納させ
るとともに、このLSIチップ4を覆うように天井部1
5fを接合基板15に設ける。以上のように、この接合
基板15を設け、バイパスバンプ15a,15b及び金
属層15cを介在させることにより、下部のLSIチッ
プ3と上部のLSIチップ5の信号伝達が可能となる。
【0021】従来、システム基板に多種多様のたくさん
のパッケージを実装していたため、実装面積が増え、シ
ステム基板も大型化していたが、上記のようにマルチチ
ップパッケージを構成することにより、システム基板に
搭載するパッケージ数も少なくなり、システム基板の小
型化を図れるとともに、多機能化したパッケージが提供
できるようになった。
【0022】実施の形態2.図11はこの発明の実施の
形態2によるマルチチップパッケージを示す断面図、図
12は同じく斜視図、図13はLSIチップ4の構造を
示す平面図、図14は同じく断面図である。図におい
て、LSIチップ4はシリコン基板で構成され、このシ
リコンからなる基板の周辺領域部にLSIチップ3及び
LSIチップ5との間で信号の伝達をを行なうための信
号バイパス領域41を設ける。そしてこの信号バイパス
領域41はバイパスバンプ41aと信号層41bとで構
成されており、更にLSIチップ4の中央領域部には、
LSI機能を有する能動領域42が形成されている。
又、19はLSIチップの信号を取り出すための金等の
金属から構成された内部バンプ、4aはLSIチップ4
の裏面である。
【0023】LSIチップ4は、シリコン基板からなる
LSIチップの表面を、写真製版法により中央部の能動
領域42並びに周辺部の信号バイパス領域41を形成
し、その後にシリコン基板からなるLSIチップの裏面
4aから、表面の信号バイパス領域41と接続するよう
に、信号バイパス領域41のみを写真製版法によって形
成する。又、バイパスバンプ41aは転写法によるバン
プ形成により形成する。
【0024】実施の形態3.図15はこの発明の実施の
形態3によるマルチチップパッケージを示す断面図、図
16は同じく斜視図である。本実施形態においては、実
施の形態2で示した信号を伝達するための信号バイパス
バンプ41aと信号層41bを有する信号バイパス領域
41と、LSI機能を有する能動領域42を備えたLS
Iチップ4を複数個相互に積み重ねたものである。尚、
図においては、LSIチップ4を2個積み重ねた場合を
示しているが、3個以上積み重ねてもよい。
【0025】これら複数のLSIチップ4は、シリコン
基板からなるLSIチップの表面を、写真製版法により
中央部の能動領域42並びに周辺部の信号バイパス領域
41を形成し、その後にシリコン基板からなるLSIチ
ップの裏面4aから、表面の信号バイパス領域41と接
続するように、信号バイパス領域41のみを写真製版法
によって形成する。又、バイパスバンプ41aは転写法
によるバンプ形成により形成する。
【0026】従来は、システム基板に多種多様のたくさ
んのパッケージを実装していたため、実装面積が増え、
システム基板も大型化していたが、上記のようにマルチ
チップパッケージを構成することにより、システム基板
に搭載するパッケージ数も少なくなり、システム基板の
小型化を図れるとともに、多機能化したパッケージが提
供できるようになった。
【0027】
【発明の効果】この発明の請求項1に係るマルチチップ
パッケージによれば、配線基板上に第1のLSIチップ
を搭載し、この第1のLSIチップ上に開口部を有する
接合基板を搭載し、開口部内に第2のLSIチップを挿
入することにより、第1のLSIチップ上に第2のLS
Iチップを搭載し、接合基板上に第3のLSIチップを
搭載し、第1のLSIチップと第2のLSIチップの接
合は、一方に突起上の内部バンプを設けるとともに他方
には凹部からなるパッドを設けて両者を接合することに
より行ない、更に第1のLSIチップと第3のLSIチ
ップとの接続は、接合基板に設けたバイパスバンプ及び
金属層を介して行なうようにしたので、システム基板に
搭載するパッケージ数も少なくなり、システム基板の小
型化及び多機能化を同時に図ることができる。
【0028】この発明の請求項2に係るマルチチップパ
ッケージによれば、第4のLSIチップを第3のLSI
チップの裏面上に搭載するとともに、第4のLSIチッ
プと配線基板とを金属配線で接続したので、システム基
板を小型化することができる。
【0029】この発明の請求項3に係るマルチチップパ
ッケージによれば、配線基板上に第1のLSIチップを
搭載し、この第1のLSIチップ上にチップ間での信号
伝達を行なうための信号バイパス領域とLSI機能を有
する能動領域が写真製版法により形成された第2のLS
Iチップを搭載し、この第2のLSIチップ上に第3の
LSIチップを搭載したので、システム基板に搭載する
パッケージ数も少なくなり、システム基板の小型化及び
多機能化を同時に図ることができる。
【0030】この発明の請求項4に係るマルチチップパ
ッケージによれば、第2のLSIチップを2枚以上積層
したので、システム基板の多機能化を図る一方、小型化
も実現することができる。
【0031】この発明の請求項5に係るマルチチップパ
ッケージによれば、第4のLSIチップを第3のLSI
チップの裏面上に搭載するとともに、第4のLSIチッ
プと配線基板とを金属配線で接続したので、システム基
板を小型化することができる。
【0032】この発明の請求項6に係る半導体によれ
ば、転写法により、金属からなる突起状の内部バンプを
下地膜を介してその表面に設けたので、半導体同士の接
合を確実に行なうことができる。
【0033】この発明の請求項7に係る半導体によれ
ば、写真製版法により凹部を設けるとともに、この凹部
をアルミ膜で覆ったパッドを備えたので、半導体同士の
接合を確実に行なうことができる。
【0034】この発明の請求項8に係る半導体製造方法
によれば、基板の表面に対して写真製版法により中央部
の能動領域及び周辺部の信号バイパス領域を形成し、そ
の後基板の裏面において表面に形成した信号バイパス領
域と接続するように、信号バイパス領域のみを写真製版
法により形成するようにしたので、効率よく半導体を製
造することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1によるマルチチップ
パッケージを示す断面図である。
【図2】 この発明の実施の形態1によるマルチチップ
パッケージを示す斜視図である。
【図3】 接合基板を示す平面図である。
【図4】 接合基板を示す断面図である。
【図5】 LSIチップの接合状態を示す断面図であ
る。
【図6】 LSIチップの接合状態を示す断面図であ
る。
【図7】 この発明の実施の形態1によるマルチチップ
パッケージを示す断面図である。
【図8】 この発明の実施の形態1によるマルチチップ
パッケージを示す斜視図である。
【図9】 接合基板を示す平面図である。
【図10】 接合基板を示す断面図である。
【図11】 この発明の実施の形態2によるマルチチッ
プパッケージを示す断面図である。
【図12】 この発明の実施の形態2によるマルチチッ
プパッケージを示す斜視図である。
【図13】 LSIチップの構造を示す平面図である。
【図14】 LSIチップの構造を示す断面図である。
【図15】 この発明の実施の形態3によるマルチチッ
プパッケージを示す断面図である。
【図16】 この発明の実施の形態3によるマルチチッ
プパッケージを示す斜視図である。
【図17】 従来の単一チップパッケージを示す断面図
である。
【符号の説明】
1 配線基板、3,4,5,6 LSIチップ、9 金
属配線、14 内部バンプ、15 接合基板、15a,
15b バイパスバンプ、15c 金属層、15d 開
口部、16 パッド、16a 凹部、41 信号バイパ
ス領域、42能動領域。

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 配線基板上に第1のLSIチップを搭載
    し、この第1のLSIチップ上に開口部を有する接合基
    板を搭載し、上記開口部内に第2のLSIチップを挿入
    することにより、上記第1のLSIチップ上に上記第2
    のLSIチップを搭載し、上記接合基板上に第3のLS
    Iチップを搭載し、上記第1のLSIチップと上記第2
    のLSIチップの接合は、一方に突起上の内部バンプを
    設けるとともに他方には凹部からなるパッドを設けて両
    者を接合することにより行ない、更に上記第1のLSI
    チップと上記第3のLSIチップとの接続は、上記接合
    基板に設けたバイパスバンプ及び金属層を介して行なう
    ことを特徴とするマルチチップパッケージ。
  2. 【請求項2】 第4のLSIチップを第3のLSIチッ
    プの裏面上に搭載するとともに、上記第4のLSIチッ
    プと配線基板とを金属配線で接続したことを特徴とする
    請求項1記載のマルチチップパッケージ。
  3. 【請求項3】 配線基板上に第1のLSIチップを搭載
    し、この第1のLSIチップ上にチップ間での信号伝達
    を行なうための信号バイパス領域とLSI機能を有する
    能動領域が写真製版法により形成された第2のLSIチ
    ップを搭載し、この第2のLSIチップ上に第3のLS
    Iチップを搭載したことを特徴とするマルチチップパッ
    ケージ。
  4. 【請求項4】 第2のLSIチップを2枚以上積層した
    ことを特徴とする請求項3記載のマルチチップパッケー
    ジ。
  5. 【請求項5】 第4のLSIチップを第3のLSIチッ
    プの裏面上に搭載するとともに、上記第4のLSIチッ
    プと配線基板とを金属配線で接続したことを特徴とする
    請求項3又は請求項4記載のマルチチップパッケージ。
  6. 【請求項6】 転写法により、金属からなる突起状の内
    部バンプを下地膜を介してその表面に設けたことを特徴
    とする半導体。
  7. 【請求項7】 写真製版法により凹部を設けるととも
    に、この凹部をアルミ膜で覆ったパッドを備えたことを
    特徴とする半導体。
  8. 【請求項8】 基板の表面に対して写真製版法により中
    央部の能動領域及び周辺部の信号バイパス領域を形成
    し、その後基板の裏面において表面に形成した信号バイ
    パス領域と接続するように、信号バイパス領域のみを写
    真製版法により形成することを特徴とする半導体製造方
    法。
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