JP2002173762A - 透明導電膜等の成膜方法とその装置 - Google Patents

透明導電膜等の成膜方法とその装置

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transparent conductive
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Akihiro Kitahata
顕弘 北畠
Takaharu Yamada
敬治 山田
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Sanyo Shinku Kogyo KK
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、ITO膜等のカラーフィルターの
上や、プラスチックフィルム等に成膜するのに適した透
明導電膜等の成膜方法とその装置を提供することを課題
とする。 【解決手段】 真空チャンバ内に設けられた少なくとも
一対のターゲットに、交互に直流電圧を印加してターゲ
ット間で電子を移動し、一方のターゲットに負の電圧が
かかっている時に、その負の電圧がかかっている一方の
ターゲットに高周波電圧を同期して印加することを繰り
返すことで、低いスパッタ電圧で透明導電膜を成膜する
ことにある。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ITO膜等をカラ
ーフィルター上や、プラスチック基板に成膜するのに適
した透明導電膜等の成膜方法とその装置に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】最近、液晶パネルディスプレイ用のカラ
ーフィルターの上や、プラスチックフィルム(有機基
板)にITO膜を成膜するに際して、より低温(例え
ば、200℃以下)で抵抗率の低いITO膜を成膜する
必要がある。このために、RFとDCとの結合スパッタ
に、強力な希土類の磁石を用いてプラズマを閉じ込めて
スパッタする方法が一般的に行われている。
【0003】このスパッタとしては、例えば特開平10
─168558号公報の「ITO透明導電膜の作成方
法」がある。これは、図8に示すような、ターゲットの
背面にマグネットを配置し、スパッタリングガスとして
希ガス等を導入した雰囲気でターゲットに高周波電力を
供給し、ターゲット近傍にプラズマを収束させてスパッ
タリング現象を利用して基板上にITO透明導電膜を成
膜する際、ターゲットへの高周波電力の供給を周期的に
低下させるものである。これにより、ターゲットのエロ
ージョン上に沿っておこるトラッキングアークの発生を
防ぎ、長時間にわたり安定した成膜を可能とし、比抵抗
の制御性を向上させることができる。
【0004】ところが、基板がアース電位されているた
めに、スパッタ時に基板側に電流が流れ、基板側、及び
治具等から異常放電(スパーク)が発生しやすいという
欠点があった。
【0005】そこで、図9に示すように、一対のターゲ
ットに交互に電圧をかけで、ターゲット間で電子の移動
を起こすとともに、基板をアース電位よりフローティン
グし、基板にチャージしないようにする方法が考えられ
た。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の方法では、
基板がフローティングしているために基板側、及び治具
等から異常放電(スパーク)が発生がしにくいものの、
基板側への電流の流れが制御できないために、スパッタ
時にターゲットから放出される酸素負イオンに起因する
高エネルギー粒子の基板への衝突が大きく、良好な特性
をもつITO膜等の導電性の膜を成膜するのは困難であ
った。
【0007】また、液晶基板に使われているカラーフィ
ルターやプラスチックの基板はガラス基板に比し、基板
に多くのガスを吸着(含有)しているため、このカラー
フィルターやプラスチックの基板にITO等の透明導電
膜を成膜する際、一般的なDCスパッタや上記RFとD
Cとの結合スパッタでは、電子などが基板にダメージを
与え、その結果基板から吸着ガス(特に、H2 O)や基
板の成分(有機物の分解でCO、CO2 等がスパッタ中
にでてくる。)が、ITO等の膜中に同時に放出される
こととなる。これにより、ITO膜の特徴である比抵抗
や透過率が悪くなるという欠点があった。
【0008】そこで、本発明は、ターゲットにおこるト
ラッキングアークやノジュールの発生を防ぐとともに、
イオンの活性化を促進して、基板側への電流の流れを制
御し、膜のスパークのない低ダメージで、比抵抗や透過
率が良いITO膜等の透明導電膜の成膜方法とその装置
を提供することを課題とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】即ち、本発明は上記のよ
うな課題を解決するために、請求項1において、真空チ
ャンバ内に設けられた少なくとも一対のターゲットに、
交互に直流電圧を印加してターゲット間で電子を移動す
るとともに、負の電圧がかかっているターゲットに交互
に高周波電圧を印加することを繰り返すことで透明導電
膜等を成膜することを特徴とする。
【0010】また、請求項2において、高周波電圧の印
加を高速切替器からの同期信号により行うことである。
【0011】また、請求項3において、高速の切替の周
波数が5〜10KHzであることである。
【0012】また、装置としては、請求項4において、
真空チャンバ内に設けられた少なくとも一対のターゲッ
トと、該ターゲットに対向して設けられ、且つフローテ
ィング状態の基板保持台に設けられた基板と、各ターゲ
ットに切替回路を介して設けられた直流電源と、各ター
ゲットに連結され、直流電源の切替えに同期してターゲ
ットに交互に電圧を印加すべく高速切替スイッチの設け
られた高周波電源とから構成されていることを特徴とす
る。
【0013】また、請求項5において、一対のターゲッ
トが、真空チャンバ内に複数配置され、且つ各ターゲッ
トへ高速切替器を介して印化される高周波電圧を制御す
るためのオシレーターが設けられていることである。
【0014】
【作用】即ち、本発明は、エッチング等の真空チャンバ
に設けられた少なくとも一対のターゲットに切替回路に
より交互に直流電圧を印加することで一方のターゲット
より他方のターゲットにターゲット間で電子の移動を起
こすとともに、負の電圧がかかったいるターゲットに、
高速切替スイッチの設けられた高周波電源より高周波電
圧を交互に印加して重畳することで、イオンの活性化を
促進し、しかもフローティング状態の基板側に流れる電
流を制御し、スパッタ時にターゲットから放出される酸
素負イオンに起因する高エネルギー粒子の衝撃を抑制し
て、低い温度でも抵抗率の低い透明導電膜等を成膜する
ことができる。これにより、カラーフィルターの上や、
プラスチック基板において、基板からの吸着ガスや、基
板の成分が成膜中に放出されることなく、基板へのダメ
ージを与えることなく、比抵抗や透過率の良い透明導電
膜等を成膜することが可能となる。また、高速の切替の
周波数が5〜10KHzである場合が、特に比抵抗や透
過率の良い透明導電膜等を成膜することが可能となる。
【0015】また、一対のターゲットが、真空チャンバ
内に複数配置して、各ターゲットへ高速切替スイッチを
介して印化される高周波電圧をオシレーターを介して制
御することにより、低ダメージの精度の良いITO等の
透明導電膜を大量に生産することが可能となる。
【0016】
【実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、図面に沿
って説明する。図1は本発明のスパッタ装置を示す概略
構成図である。この図において、一対の隣設したターゲ
ット1A,1Bは真空チャンバー2内に設けられてい
る。ターゲット1A,1Bに対向して基板(例えば、プ
ラスチック基板等)3の設けられた基板ホルダー4が位
置している。尚、ターゲット1A,1B間の距離(d
1)と、ターゲット1A,1Bと基板3との距離(d
2)を、d1<d2にすることにより、基板3への電子
等の衝撃をなくすることが可能となる。
【0017】上記ターゲット1A,1Bには、交互に定
電流直流(DC電源)電源5より電圧を印加するための
高速切替回路6が連結されている。この高速切替回路6
の切替えにより、定電流直流(DC電源)電源5が、タ
ーゲット1A,1Bに(ターゲット1A,1Bが交互に
カソードと、アノードとなり、負の電圧より正の電圧に
電子が移動する。)交互に流れ、ターゲット1Aよりタ
ーゲット1Bへの電子の移動、及び逆方向ターゲット1
Bよりターゲット1Aへの電子の移動が起こることとな
る。
【0018】前記ターゲット1A,1Bには、高速切替
スイッチ7a、7bを介して高周波(RF電源)電源8
a,8bが連結されている。この高周波電源8a,8b
は、負の電圧がかかっている一方側のターゲット1A或
いは、1Bに、高速切替器からの同期信号により高速切
替スイッチ7a,7bをONすることにより印加され
る。即ち、負の電圧がかかっている一方側のターゲット
1A或いは、1Bには、DC電圧とRF電圧とが、重畳
されることとなる。これにより、スパッタ時のイオンの
活性化を促進し、高いエネルギー粒子の基板3側への衝
突を少なくして、正の方向のターゲット1A/1Bに電
子が流れ、電子のチャージが少なく、プラスチック基板
3において、特に、基板3からの吸着ガス(特に、H2
O)や、基板3の成分(有機物が分解し、CO、CO2
等)がスパッタ中に放出されないので、良質の膜を得る
ことができる
【0019】ターゲット1A,1Bの裏面側(真空チャ
ンバー2の外側)には、ターゲット1A,1B近傍のプ
ラズマ密度を高めるための磁石9(例えば希土類で構成
された。)が設けられている。
【0020】上記により、本発明の基本構成のスパッタ
装置10を説明し、次に上記装置10を利用し、基板を
大量生産するのに適したスパッタによる成膜装置11
の、一実施例について図2(概略側面図)、及び図3
(概略平面図)を用いて説明する。
【0021】この図示された成膜装置11は、プレート
12上に容器13を設けてなる略円筒形の真空チャンバ
ー2を有する。この真空チャンバー2は、プレート12
に形成された排気口を介して外部の真空ポンプと接続さ
れている。
【0022】真空チャンバー2内には、回転テーブル1
5が備えら、該回転テーブル15は、その周縁部下面側
がローラ(図示せず)によって受けられてプレート12
上に支持されているとともに、その周面に形成されてい
る歯(図示せず)がプレート12に取り付けられた回転
テーブル駆動用モーター17の歯車(図示せず)と噛み
合わされており、同モーター17によって駆動されるこ
とにより、プレート12上の中心軸18の回りに所望の
速度で回転されるようになっている。
【0023】回転テーブル15上には、その周縁部とそ
こから中心部の方向に所定量だけ寄った部位とに、それ
ぞれ同心円状に複数の基板ホルダ4が配置され、これら
の各基板ホルダ4はそれぞれ絶縁体(図示せず)を介し
て回転テーブル15上に立設されており、各ホルダ両面
に複数の基板3…が取り付けられるようになっている。
【0024】真空チャンバー2には、各基板ホルダ4の
回転軌跡に沿って、それぞれその内側及び外側で基板3
に対向する位置に上記スパッタ装置10が複数設けら
れ、さらに基板3に沿って真空チャンバー2の上下方向
にもスパッタ装置10が多段的に設けられている。
(尚、それぞれのスパッタ装置10の高周波電源8a、
8bはオシレータ(図示せず)を介して位相が制御され
ている。
【0025】次に、この成膜装置11によって基板の表
面にITO膜をスパッタする場合について説明する。
【0026】先ず、真空チャンバー2内の基板ホルダ4
の表裏両面に基板(プラスチック基板)3を所定の状態
にセットする。次に、真空チャンバー2の出入口の扉を
閉鎖して同チャンバー2を密閉した後、同チャンバ2内
を所定の真空状態にし、その状態で、モータ17により
回転テーブル15を回転駆動して、同テーブル15上の
各基板ホルダ4およびそれらにセットされた各基板3を
中心軸の回りに一体的に回転させる。
【0027】次に、この状態で定電流直流電源5より、
高速切替回路6により一定の周期(1〜50KHz(特
に、5〜10KHzが望ましい)でITOターゲット1
AとITOターゲット1Bとへの正,負の電圧を交互に
繰り返してかけるとともに、高速切替器からの同期信号
により高速切替スイッチ7aと高速切替スイッチ7bと
を交互にON,OFFとして、負の電圧かかっているI
TOターゲット1A,ITOターゲット1Bに高周波電
圧(高周波電源の周波数は、工業周波数に割り当てられ
ている13.56〜67.8MHzが望ましい。)を重
畳して印加する。(図5において、電圧を印加する一例
を図示する。)この、高速切替スイッチ7a,7b,及
び高速切替回路6の切替え周期に関しては,図4
(イ)、(ロ)、(ハ)に示すような周期((イ)は切
替回路の切替え状態を示し(横方向が時間)、(ロ)は
ターゲット1AにおけるDC電圧と、DC電圧+RF電
圧の切替え状態を示し、(ハ)はターゲット1Bにおけ
るDC電圧と、DC電圧+RF電圧の切替え状態を示
す。)で行う。この際、ITOターゲット1A,1Bの
電圧と電流は、定電流直流電源5の切替えのみの場合
は、図6に示すように、450V,2Aであり、定電流
直流電源5切替えに、高周波8a/8bを同期して重畳
した場合は、200V,2Aでとなる。
【0028】これにより、イオンの活性化を促進し、高
エネルギー粒子の基板衝突を少なくするとともに、正の
方向への電子の移動(ターゲット1Aよりターゲット1
Bへの電子の移動、及び逆方向ターゲット1Bよりター
ゲット1Aへの電子の移動)、及び基板3側への電流を
制御するため、基板3からの吸着ガスの放出、基板成分
の放出がなく、比抵抗や透過率が良いITO膜を基板3
上に成膜することができる。さらに、スパッタ電圧が低
く、チャージが少なく、膜のスパークのないITO膜を
成膜することができる。
【0029】また、ターゲット1Aとターゲット1Bと
の電極に通電される電流に位相差を生じる。そこで、位
相を制御する。特に、この位相差を図7に示すように1
80度に制御することにより、低い電圧スパッタができ
るので、放電インピーダンスを低くし、低ダメージで緻
密な膜を連続的に成膜することができる。従って、比抵
抗で透過率が良いITO膜を基板3上に成膜されること
となる。
【0030】また、上記実施例では、ITO膜を成膜す
る場合について説明したが、ITO膜の成膜に限定する
ものでなく、例えば、SnO2 やZnO等の透明電極に
使用されるものや、低融点金属のAl等にも応用するこ
とができる。
【0031】
【発明の効果】このように、本発明による透明導電膜等
の成膜方法、及びその装置は、ターゲットにおこるトラ
ッキングアークやノジュールも発生することなく、治具
等からもスパークが発生することなく、イオンの活性化
を促進するとともに、基板側への電流の流れを制御し、
膜のスパークのない、良質で、低ダメージの透明導電膜
等を成膜することができるという利点がある。
【0032】特に、ブラスチック基板、カラーフィルタ
ーにITO膜等の透明導電膜を成膜する場合において、
基板からの吸着ガスや、基板成分が成膜中に放出される
ことがないので、ITO膜等の特質である比抵抗や透過
率等が、良いという利点がある。
【0033】また、ターゲットとターゲットとの電極に
通電される電流の位相差を180度に制御することによ
り、低い電圧スパッタができるので、放電インピーダン
スを低くし、低ダメージで緻密な膜を連続的に成膜する
ことができ、比抵抗で透過率が良いITO膜を基板上に
成膜することができることとなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】は、本発明のスパッタ装置の一実施例を示す概
略構成図。
【図2】は、図1のスパッタ装置を利用した成膜装置の
概略側面図。
【図3】は、図2の成膜装置の概略平面図。
【図4】は、スパッタ装置における切替えスイッチの切
替状態を示す説明図。
【図5】は、スパッタ装置の切替回路等を示す配線図。
【図6】は、DC電源のみの場合と、DC電源にRF電
源を重畳した場合のターゲットの電圧と電流との比較
表。
【図7】は、ターゲット間の位相を示す概略説明図。
【図8】は、従来のスパッタ装置を示す概略側面図。
【図9】は、従来のスパッタ装置を示す概略側面図。
【符号の説明】 1…ターゲット 2…チャンバー

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 真空チャンバ内に設けられた少なくとも
    一対のターゲットに、交互に直流電圧を印加してターゲ
    ット間で電子を移動するとともに、負の電圧がかかって
    いるターゲットに交互に高周波電圧を印加することを繰
    り返すことで透明導電膜等を成膜することを特徴とする
    透明導電膜等の成膜方法。
  2. 【請求項2】 ターゲットへの高周波電圧の印加を高速
    切替スイッチからの同期信号により行う請求項1記載の
    透明導電膜等の成膜方法。
  3. 【請求項3】 高周波電圧の切替の周波数が5〜10K
    Hzである請求項1又は2に記載の透明導電膜等の成膜
    方法。
  4. 【請求項4】 真空チャンバ内に設けられた少なくとも
    一対のターゲットと、該ターゲットに対向して設けら
    れ、且つフローティング状態の基板保持台に設けられた
    基板と、各ターゲットに切替回路を介して設けられた直
    流電源と、各ターゲットに連結され、直流電源の切替え
    に同期してターゲットに交互に電圧を印加すべく高速切
    替スイッチの設けられた高周波電源とから構成されてい
    ることを特徴とする透明導電膜等の成膜装置。
  5. 【請求項5】 一対のターゲットが、真空チャンバ内に
    複数配置され、しかも各ターゲットには、印加される高
    周波電圧を制御するためのオシレーターが連結されてい
    る請求項4記載の透明導電膜等の成膜装置。
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