JP2002170795A - ウェーハ研磨装置 - Google Patents

ウェーハ研磨装置

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JP2002170795A
JP2002170795A JP2000368640A JP2000368640A JP2002170795A JP 2002170795 A JP2002170795 A JP 2002170795A JP 2000368640 A JP2000368640 A JP 2000368640A JP 2000368640 A JP2000368640 A JP 2000368640A JP 2002170795 A JP2002170795 A JP 2002170795A
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pressing
polishing
polishing pad
holding head
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JP2000368640A
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Tsuuzofu Michael
ツーゾフ ミハイル
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Original Assignee
Tokyo Seimitsu Co Ltd
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  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、ウェーハエッジの過剰研磨を防止す
ることによりウェーハ全面を均一に研磨することができ
るウェーハ研磨装置を提供する。 【解決手段】本発明のウェーハ研磨装置10によれば、
保持ヘッド14に対して研磨パッド20の回転方向上流
側に押付部材16を配置し、保持ヘッド14に対して研
磨パッド20の回転方向下流側に押付部材18を配置
し、各々の押付部材16、18の押圧力を加圧装置7
6、77によって独立して制御する。これにより、研磨
パッド20に生じる波打ち現象を阻止することができ、
よって、ウェーハ全面を均一に研磨することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、化学的機械研磨法
(CMP:Chemical Mechanical Polishing )によるウ
ェーハ研磨装置に関する。
【0002】
【従来の技術】特開平8-229808号公報等に開示されたウ
ェーハ研磨装置は、図8の如くキャリア1及びリング状
の押付部材2を備えた保持ヘッド3と、研磨パッド4が
貼付されたプラテン5とを主な構成としており、キャリ
ア1によってウェーハ6を、回転中の研磨パッド4に押
し付けて研磨するとともに、キャリア1の外周にキャリ
ア1と同軸上に配置された押付部材2を研磨パッド4に
押し付けてウェーハ6の周囲を包囲している。
【0003】研磨パッド4は、ウェーハの研磨層(絶縁
膜)の材質(例えばSi O2 )に応じて硬質のもの、又
は軟質のものが選択されて使用されるが、軟質の研磨パ
ッド4を使用した場合には、押付部材2の周縁に沿って
研磨パッド4が局部的に盛り上がる、という所謂波打ち
現象が研磨パッド4に生じる。このような現象が研磨パ
ッド4に生じると、研磨パッド4の盛り上がり部4Cに
よってウェーハ6のエッジ6Aが過剰に研磨されるの
で、ウェーハ6を均一に研磨できない。
【0004】波打ち現象による盛り上がり部は、研磨パ
ッド4の回転方向上流側に位置する押付部材2の外周縁
2A及び内周縁2Bに対応する部分4A、4Bと、研磨
パッド4の回転方向下流側に位置する押付部材2の内周
縁2Cに対応する部分4Cに発生する。ここで、前者で
発生する盛り上がり部4A、4Bは、ウェーハ6のエジ
6Aから離れた位置に発生するので加工上問題はない
が、後者で発生する盛り上がり部4Cには、ウェーハ6
のエッジ6Aが接触するため、エッジ6Aが過剰に研磨
される。
【0005】そこで、特開平8-229808号公報のウェーハ
研磨装置は、研磨パッド4に対する押付部材2の当接力
を弱い適切値に設定することで、波打ち現象の発生を防
止し、エッジ6Aの過剰研磨を防止している。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来のウェーハ研磨装置のように、研磨パッド4に対する
押付部材2の当接力を弱い適切値に設定しても、波打ち
現象を完全に解消することができず、期待した効果を得
ることができなかった。また、エッジ6Aの過剰研磨
は、研磨パッド4の回転数に比例することも実験にて確
認された。
【0007】ところで、研磨パッド4は、押付部材2に
押し付けられて弾性変形されることにより、押付部材2
で包囲される研磨パッド4の平面性が確保される。すな
わち、押付部材2の押圧力は、研磨パッド4の復元力に
打ち勝つ力に設定されている。このような力のバランス
関係において、押付部材2の押圧力を弱くすると、研磨
パッド4の復元力が勝ってしまうので、研磨パッド4が
ウェーハ6のエッジ6Aに沿って盛り上がり、エッジ6
Aが過剰に研磨される、という新たな問題が発生した。
【0008】一方、研磨パッドとウェーハとを回転させ
ながらウェーハを研磨する上記研磨装置(以下、「二軸
回転研磨装置」と称する)は、ウェーハ表面上の任意の
位置での研磨パッドの速度(研磨パッドとウェーハとの
相対速度)が、その位置によって異なるため、ウェーハ
を均一に研磨することが難しい。
【0009】このような問題を二軸回転研磨装置で解消
するためには、保持ヘッドを研磨パッドに対してスライ
ド移動させるスライド移動装置を設け、保持ヘッドを介
してウェーハをスライド移動させながら研磨すれば解消
できる。すなわち、ウェーハのスライド移動動作によっ
て、ウェーハ表面上の任意の位置での研磨パッドの速度
が平均化されるからである。
【0010】しかしながら、二軸回転研磨装置では、研
磨パッドの回転方向とウェーハのスライド移動方向とが
同方向で、研磨パッドの速度がウェーハのスライド移動
速度よりも低速の場合、図8上で右側に位置する押付部
材2が上流側の押付部材となり、図8上で左側に位置す
る押付部材2が下流側の押付部材になる。この場合に
は、研磨パッド4の盛り上がり部4Cの位置が図8で示
した位置に発生せず、図8の符号4Bに対応した位置に
発生する。
【0011】上述した不具合は、盛り上がり部4Cが生
じないような高い押圧力に押付部材2の押圧力を設定す
ればよいが、この場合、上流側に位置する研磨パッド4
が押付部材2の押圧力で凹み、ウェーハ6の外周縁6A
との間に隙間が生じる場合があるので、やはり均一研磨
を達成することができない。
【0012】したがって、従来の二軸回転研磨装置及び
スライド移動装置を設けた二軸回転研磨装置は、いずれ
もウェーハを均一に研磨することが難しいという欠点が
あった。
【0013】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たもので、ウェーハエッジの過剰研磨を防止することに
よりウェーハ全面を均一に研磨することができるウェー
ハ研磨装置を提供することを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記目的を達
成するために、ウェーハを保持ヘッドに保持し回転する
研磨パッドに押し付けて、ウェーハの表面を研磨するウ
ェーハ研磨装置において、前記保持ヘッドに対して前記
研磨パッドの回転方向上流側に、該研磨パッドに押し付
けられる第1押付部材が配置されるとともに、前記保持
ヘッドに対して前記研磨パッドの回転方向下流側に、該
研磨パッドに押し付けられる第2押付部材が配置されて
いることを特徴とする。
【0015】また、本発明は、前記目的を達成するため
に、ウェーハを保持ヘッドに保持し回転する研磨パッド
に押し付けて、ウェーハの表面を研磨するウェーハ研磨
装置において、前記保持ヘッドの周りに前記研磨パッド
に押し付けられる複数の押付部材が配置されていること
を特徴とする。
【0016】請求項1に記載の発明によれば、保持ヘッ
ドに対して研磨パッドの回転方向上流側に第1押付部材
を配置し、保持ヘッドに対して研磨パッドの回転方向下
流側に第2押付部材を配置した。すなわち、本発明は、
押圧部材を2分割したので、各々の押付部材の押圧力を
独立して制御することにより、研磨パッドに生じる波打
ち現象を阻止し、ウェーハ全面を均一に研磨することが
可能になる。
【0017】請求項2に記載の発明は、第1押付部材の
押圧力を第1加圧手段によって制御し、第2押付部材の
押圧力を第2加圧手段によって制御することで、押付部
材の押圧力を独立して制御することが可能になる。
【0018】二軸回転研磨装置において、下流側に位置
する第2押付部材の押圧力を、上流側に位置する第1押
付部材の押圧力よりも高くしたり、低くしたりすること
により、第2押付部材の内周縁側で発生する研磨パッド
の盛り上がり部を制御することができる。よって、前記
盛り上がり部が無くなるように、各々の押付部材の押圧
力を独立して制御することで、ウェーハ全面を均一に研
磨することができる。
【0019】また、スライド移動装置を設けた二軸回転
研磨装置は、ウェーハのスライド移動方向に応じて上流
側と下流側とが交互に切り換わる場合がある。この装置
の場合には、第1押付部材の押圧力と第2押付部材の押
圧力とをウェーハのスライド移動方向に対応させて交互
に切換制御することで、ウェーハ全面を均一に研磨する
ことができる。各々の押付部材の押圧力は、研磨パッド
の材質、ウェーハの材質、研磨パッド及びウェーハの回
転数等によって設定される。
【0020】請求項3に記載の発明は、前記第1及び第
2押付部材を、保持ヘッドの外周に沿った略三日月形状
に形成したので、保持ヘッドの上流側及び下流側全縁部
を第1及び第2押付部材でカバーすることができる。
【0021】請求項4に記載の発明は、保持ヘッドと第
1押付部材との間、及び保持ヘッドと第2押付部材との
間に研磨剤を供給するスラリ供給手段をそれぞれ配置
し、第1押付部材及び第2押付部材に邪魔されることな
く研磨剤をウェーハと研磨パッドとの間に供給するよう
にしたので、研磨剤の供給量の制御が容易になる。
【0022】請求項5に記載の発明は、保持ヘッドの周
りに複数の押付部材を配置したことを特徴としている。
請求項1に記載の発明は、第1、第2の二つの押圧部材
を配置した発明であるが、請求項5に記載の発明は、二
つの押付部材に限定されず、三つ以上(多数)の押付部
材を配置した。
【0023】このように多数の押付部材を配置すると、
保持ヘッドのスライド移動方向に制約を受けず、例え
ば、研磨パッドの回転方向と同方向にスライド移動させ
ることができるとともに、研磨パッドの回転方向に対し
て直交する方向にも保持ヘッドをスライドさせることが
できる。前者のスライド移動時には、研磨パッドの回転
方向の上流側と下流側とに配置された第1、第2の押付
部材の押圧力を独立して制御することにより対処でき、
後者のスライド移動時には、保持ヘッドのスライド方向
の上流側及び下流側に配置されている第3、第4の押圧
部材の押圧力を独立して制御することにより対処でき
る。また、第1〜第4の四つの押付部材に限定されず、
それ以上の押付部材を細分化して配置することで、保持
ヘッドをあらゆる方向にスライド移動させることができ
る。
【0024】請求項6に記載の発明は、複数の押付部材
の押圧力を、複数の加圧手段によって各々制御すること
で、複数の押付部材の押圧力を独立して制御することが
可能になる。
【0025】請求項7に記載の発明は、前記複数の押付
部材を、保持ヘッドの外周に沿った形状に形成したの
で、保持ヘッドの全縁部を複数の押付部材でカバーする
ことができる。
【0026】請求項8に記載の発明は、保持ヘッドと複
数の押付部材との間に研磨剤を供給するスラリ供給手段
をそれぞれ配置し、複数の押付部材に邪魔されることな
く研磨剤をウェーハと研磨パッドとの間に供給するよう
にしたので、研磨剤の供給量の制御が容易になる。
【0027】
【発明の実施の形態】以下添付図面に従って本発明に係
るウェーハ研磨装置の好ましい実施の形態について詳説
する。
【0028】図1、図2は実施の形態のウェーハ研磨装
置10の構造図であり、このウェーハ研磨装置10は、
主としてプラテン12、保持ヘッド14、押付部材(第
1押付部材)16、押付部材(第2押付部材)18及び
スラリ供給装置19から構成される。プラテン12は円
盤状に形成され、その上面には研磨パッド20が貼付さ
れている。研磨パッド20としては、スエードタイプ、
不織布、発泡ウレタンタイプ等があり、ウェーハの研磨
層の材質によって適宜選択されてプラテン12に貼付さ
れている。
【0029】プラテン12の下部には、スピンドル22
が連結され、スピンドル22はモータ24の図示しない
出力軸に連結されている。このモータ24を駆動するこ
とにより、プラテン12は矢印A方向に回転され、その
回転するプラテン12の研磨パッド20上に、スラリ供
給装置19のノズル26A、26Bからメカノケミカル
研磨剤(スラリ)28が供給される。ノズル26Aは、
保持ヘッド14と押付部材16との間の隙間に配置さ
れ、これによりスラリ28は、押付部材16に邪魔され
ることなく、ウェーハ30と研磨パッド20との間に供
給される。また、ノズル26Bは、保持ヘッド14と押
付部材18との間の隙間に配置され、これによりスラリ
28は、押付部材18に邪魔されることなく、ウェーハ
30と研磨パッド20との間に供給される。このように
スラリ28を供給すると、スラリ28の供給量を制御し
易いという利点がある。スラリ28は、タンク32に貯
留されており、この貯留されたスラリ28は、供給パイ
プ34、及び不図示のレギュレータを介してノズル26
A、26Bに供給される。スラリ28としては、例え
ば、研磨層がシリコンの場合には、BaCO3 微粉末を
KOH水溶液に懸濁したものが使用される。
【0030】保持ヘッド14は、図示しない昇降装置に
よって上下移動自在に設けられ、研磨対象のウェーハ3
0を保持ヘッド14にセットする際に上昇移動される。
また、保持ヘッド14は、ウェーハ30を研磨する際に
下降移動されてウェーハ30とともに研磨パッド20に
押圧当接される。なお、図1では、1台の保持ヘッド1
4のみ示したが、保持ヘッド14の台数は1台に限定さ
れるものではなく、例えばスピンドル22を中心とする
円周上に複数台等間隔に設置することが加工効率上好ま
しい。
【0031】図3は、保持ヘッド14の縦断面図であ
る。この保持ヘッド14は、ヘッド本体36、キャリア
38、ゴムシート40等から構成される。ヘッド本体3
6は、円盤状に形成され、回転軸42に連結された不図
示のモータによって図3上矢印B方向に回転される。ま
た、ヘッド本体36にはエア供給路44が形成されてい
る。エア供給路44は、図2上二点鎖線で示すように保
持ヘッド14の外部に延設され、レギュレータ(R:re
gulator )46Aを介してエアポンプ(AP:air pum
p)48に接続される。
【0032】キャリア38は、略円柱状に形成されてヘ
ッド本体36の下部にヘッド本体36と同軸上に配置さ
れている。また、キャリア38には、キャリア38の下
面外周部に噴出口が形成された多数のエア供給路58、
58…(図3では2ヵ所のみ図示)とキャリア38の下
面内周部に噴出口が形成された多数のエア供給路50、
50…(図3では2ヵ所のみ図示)とが形成されてい
る。このエア供給路50、58…は、図3上二点鎖線で
示すように保持ヘッド14の外部に延設され、切換バル
ブ52を介して一方がサクションポンプ54、他方がレ
ギュレータ46Bを介してエアポンプ48に接続されて
いる。したがって、切換バルブ52によりエアポンプ4
8側を閉に、そして、サクションポンプ54側を開にす
ると、サクションポンプ54による吸引力でウェーハ3
0がキャリア38の下面に吸着保持される。また、切換
バルブ52によりエアポンプ48側を開に、そして、サ
クションポンプ54側を閉にすると、エアポンプ48か
らの圧縮エアがエア供給路50、58…を介してキャリ
ア38とウェーハ30との間の空気室60に噴き出され
る。これにより、空気室60には圧力エア層が形成さ
れ、キャリア38の押圧力がこの圧力エア層を介してウ
ェーハ30に伝達される。
【0033】ウェーハ30は、圧力エア層を介して伝達
される押圧力によって研磨パッド20に押し付けられる
とともに、キャリア38の下部外周縁にピン62を介し
て着脱自在に設けられた保持リング64の凸条部64A
によってキャリア38からの飛び出しが防止されてい
る。また、研磨中のウェーハ30は、研磨パッド20の
回転によって、回転方向下流側の凸条部64Aの内周面
にそのエッジ30Aが当接される。この接触によってウ
ェーハ30は、キャリア38の回転力が保持リング64
を介して伝達されて所定の回転数で回転される。なお、
ウェーハ30のエッジ30Aが当接される凸条部64A
は、エッジ30Aを破損させない軟質材料、例えば、ゴ
ム、樹脂等で作られている。
【0034】このように構成された保持ヘッド14は、
キャリア38にかける押圧力を制御してキャリア38を
上下動させることにより、ウェーハ30の研磨圧力(ウ
ェーハ30を研磨パッド20に押し付ける力)を制御す
るものなので、圧力エア層の圧力を制御してウェーハ3
0の研磨圧力を制御するよりも、研磨圧力の制御が容易
になる。すなわち、保持ヘッド14では、キャリア38
の上下位置を制御するだけでウェーハ30の研磨圧力を
制御できるからである。なお、エア供給路58、58…
から噴き出されたエアは、凸条部64Aに形成された図
示しない排気孔から外部に排気される。
【0035】一方、キャリア38とヘッド本体36との
間には1枚のゴムシート40が配置されている。このゴ
ムシート40は、均一な厚さで円盤状に形成される。ま
た、ゴムシート40は、環状の止め金72によってヘッ
ド本体36の下面に固定され、キャリア38を押圧する
エアバッグとして機能する。
【0036】ヘッド本体36の下方には、ゴムシート4
0と止め金72とによって密閉される空間74が形成さ
れる。この空間74に、エア供給路44が連通されてい
る。したがって、エア供給路44から空間74に圧縮エ
アを供給すると、ゴムシート40がエア圧で弾性変形さ
れてキャリア38の上面を押圧する。これにより、研磨
パッド20に対するウェーハ30の押し付け力を得るこ
とができる。また、エア圧をレギュレータ46Aで調整
すれば、ウェーハ30の押し付け力(研磨圧力)を制御
することができる。
【0037】ところで、図1に示した押付部材16、1
8は、研磨パッド20に押し付けられることにより、研
磨箇所における研磨パッド20の平坦性を向上させるも
のであり、図2の如く、押付部材16は加圧装置(第1
加圧手段)76によって、そして、押付部材18は、加
圧装置(第2加圧手段)77によって、所定の押圧力で
研磨パッド20に押し付けられる。また、これらの加圧
装置76、77は、ウェーハ研磨装置10を統括制御す
るCPU80によって独立制御されている。
【0038】加圧装置76、77としては、エアシリン
ダ装置、油圧シリンダ装置等が用いられている。また、
押付部材16、18の底面17(図5参照)をダイヤモ
ンドコーティングすることにより、押付部材16、18
の底面17の耐磨耗性が向上し、また、底面17に凹凸
加工を施すことにより、研磨パッド20のドレッシング
をウェーハ30の研磨加工と同時に行うことができる。
これにより、ウェーハを安定して研磨することができ
る。
【0039】なお、研磨パッド20のドレッサ機構を別
途設け、このドレッサ機構の流体ジェットノズルやブラ
シ等のドレス手段を保持ヘッド14と押付部材16、1
8との間の隙間に配置してもよい。また、押付部材1
6、18の底面17に流体ジェット噴出孔を形成すれ
ば、簡単な構造で研磨パッド20をドレッシングするこ
とができる。すなわち、本実施の形態のウェーハ研磨装
置10は、保持ヘッド14と押付部材16、18との間
の隙間を、スラリー供給手段やドレス手段の配置スペー
スとして有効利用することができる。
【0040】押付部材16は、図4の如く保持ヘッド1
4に対して研磨パッド20の回転方向上流側に保持ヘッ
ド14に近接して配置されている。また、押付部材16
は、保持ヘッド14の上流側全縁部をカバーするように
保持ヘッド14の外周に沿った略三日月形状に形成され
ている。
【0041】押付部材18は、保持ヘッド14に対して
研磨パッド20の回転方向下流側に保持ヘッド14に近
接して配置されている。また、押付部材18は、保持ヘ
ッド14の下流側全縁部をカバーするように保持ヘッド
14の外周に沿った略三日月形状に形成されている。
【0042】押付部材16、18は、保持ヘッド14に
不図示の連結部材を介して、保持ヘッド14に対し上下
移動自在に取り付けられている。また、保持ヘッド14
は、不図示のスライド移動装置に連結されており、この
スライド移動装置によって、図1、4上矢印C、D方向
に往復移動される。
【0043】保持ヘッド14が図5の如く、矢印C方向
に移動された場合には、押付部材16が上流側に位置
し、押付部材18が下流側に位置する状態に変化はな
い。しかし、保持ヘッド14が図6の如く、矢印D方向
に移動された場合であって、保持ヘッド14の移動速度
vが、研磨パッド20の回転速度(角速度ω)Vよりも
高速の場合には、押付部材16が下流側に位置し、押付
部材18が上流側に位置する。
【0044】一方、保持ヘッド14には、ウェーハ30
の研磨量を検出する不図示の検出装置が設けられてい
る。この検出装置で検出された検出値は、図2に示した
CPU80に出力される。CPU80は、検出装置から
出力される検出値が、予めRAM等に記憶されている研
磨量に合致した時にウェーハ30の研磨を停止するよう
ウェーハ研磨装置10を制御する。
【0045】次に、前記の如く構成されたウェーハ研磨
装置10の作用について説明する。
【0046】まず、保持ヘッド14を上昇させた後、サ
クションポンプ54を駆動して研磨対象のウェーハ30
をキャリア38の下面に吸着保持させる。
【0047】次に、保持ヘッド14を下降させて、ウェ
ーハ30が研磨パッド20に当接した位置で下降移動を
停止する。そして、切換バルブ52によってサクション
ポンプ54側を閉にしてウェーハ30の吸着を解除し、
ウェーハ30を研磨パッド20上に載置する。
【0048】次いで、エアポンプ48を駆動して圧縮エ
アをエア供給路58を介して空気室60に供給し、圧力
エア層を空気室60に形成する。
【0049】そして、エアポンプ48からの圧縮エア
を、エア供給路44を介して空間74に供給し、ゴムシ
ート40を内部エア圧により弾性変形させてキャリア3
8を押圧し、圧力エア層を介してウェーハ30を研磨パ
ッド20に押し付ける。そして、レギュレータ46Aで
エア圧を調整して内部エア圧力を所望の圧力に制御し、
研磨パッド20に対するウェーハ30の押し付け力(研
磨圧力)を一定に保持する。
【0050】次に、加圧装置76を駆動して押付部材1
6を研磨パッド20に所定の力で押し付けるとともに、
加圧装置77を駆動して押付部材18を研磨パッド20
に所定の力で押し付け、研磨箇所における研磨パッド2
0の平坦性を向上させる。
【0051】この後、プラテン12及び保持ヘッド14
を回転させてウェーハ30の研磨を開始する。そして、
不図示の研磨量検出装置によってウェーハ30の研磨量
を算出し、この算出されたウェーハ30の研磨量が、予
め設定された研磨目標値に達した時にCPU80が研磨
終了信号を出力して、ウェーハ30の研磨を停止する。
これにより、1枚のウェーハ30の研磨が終了する。そ
して、2枚目以降のウェーハ30を研磨する場合には、
前述した工程を繰り返せば良い。
【0052】ウェーハ30の研磨中において、ウェーハ
研磨装置10では、保持ヘッド14に対して研磨パッド
20の回転方向上流側に押付部材16を配置し、保持ヘ
ッド14に対して研磨パッド20の回転方向下流側に押
付部材18を配置しているので、各々の押付部材16、
18の押圧力を加圧装置76、77によって独立制御す
ることにより、研磨パッド20に生じる波打ち現象の発
生を防止することがでできる。よって、このウェーハ研
磨装置10は、ウェーハ全面を均一に研磨することがで
きる。
【0053】すなわち、下流側に位置する押付部材18
の押圧力を、上流側に位置する押付部材16の押圧力よ
りも高くしたり、低くしたりすることにより、押付部材
18の内周縁側で発生する研磨パッド20の盛り上がり
部を制御することができる。よって、前記盛り上がり部
が無くなるように、各々の押付部材16、18の押圧力
を制御することで、ウェーハ全面を均一に研磨すること
ができる。
【0054】また、押付部材16、18と一緒に保持ヘ
ッド14をスライド移動させるスライド移動装置を設け
たウェーハ研磨装置は、保持ヘッド14が図6の如くD
方向にスライド移動した場合には、上流側と下流側とが
切り換わる場合がある。よって、この装置の場合には、
押付部材16の押圧力と押付部材18の押圧力とを保持
ヘッド14のスライド移動方向に対応させて交互に切換
制御することで、エッジ30Aの過剰研磨が防止され、
ウェーハ全面を均一に研磨することができる。押付部材
16、18の押圧力は、研磨パッド20の材質、ウェー
ハ30の材質、研磨パッド20及びウェーハ30の回転
数等によって設定されている。
【0055】図7は、保持ヘッド14の周りに四つの押
付部材90、92、94、96を配置したウェーハ研磨
装置の平面図である。図4に示したウェーハ研磨装置
は、二つの押付部材16、18を配置した構成である
が、図7のウェーハ研磨装置は、四つの押付部材90〜
96を配置している。
【0056】このように四つの押付部材90〜96を配
置すると、保持ヘッド14のスライド移動方向に制約を
受けない。例えば、研磨パッド20の回転方向と略同方
向(図7上C−D方向)にスライド移動させることがで
きるとともに、研磨パッド20の回転方向に対して略直
交する方向(図7上E−F方向)にも保持ヘッド14を
スライドさせることができる。
【0057】C−D方向のスライド移動時には、研磨パ
ッド20の回転方向の上流側と下流側とに配置された第
1、第2の押付部材90、92の押圧力を、不図示の加
圧装置で独立して制御することにより対処できる。そし
て、E−F方向のスライド移動時には、保持ヘッド14
のスライド方向の上流側及び下流側に配置されている第
3、第4の押付部材94、96の押付力を、不図示の加
圧装置で独立して制御することにより対処できる。ま
た、第1〜第4の四つの押付部材90〜96に限定され
ず、それ以上の押付部材を細分化して配置することで、
保持ヘッドをあらゆる方向にスライド移動させることが
できる。
【0058】また、四つの押付部材90〜96は、保持
ヘッド14の外周に沿った形状に形成されているので、
保持ヘッド14の全縁部を押付部材90〜96でカバー
することができ、保持ヘッド14からのウェーハの飛び
出しを防止できる。
【0059】更に、図7のウェーハ研磨装置は、保持ヘ
ッド14と四つの押付部材90〜96との間に研磨剤を
供給する、不図示のスラリ供給手段がそれぞれ配置され
ている。保持ヘッド14と押付部材90との間に配置さ
れたスラリ供給手段は、図7のA点にスラリを供給す
る。そして、保持ヘッド14と押付部材92との間に配
置されたスラリ供給手段は、図7のB点にスラリを供給
する。保持ヘッド14と押付部材94との間に配置され
たスラリ供給手段は、図7のC点にスラリを供給する。
保持ヘッド14と押付部材96との間に配置されたスラ
リ供給手段は、図7のD点にスラリを供給する。これに
より、保持ヘッド14がどの方向に移動しても、押付部
材90〜96に邪魔されることなく研磨剤をウェーハと
研磨パッド20との間に供給することができ、研磨剤の
供給量の制御が容易になる。
【0060】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係るウェー
ハ研磨装置によれば、保持ヘッドに対して研磨パッドの
回転方向上流側に第1押付部材を配置するとともに、保
持ヘッドに対して研磨パッドの回転方向下流側に第2押
付部材を配置し、各々の押付部材の押圧力を独立して制
御したので、研磨パッドに生じる波打ち現象を阻止する
ことができ、よって、ウェーハ全面を均一に研磨するこ
とができる。
【0061】また、本発明は、保持ヘッドの周りに複数
の押付部材を配置したので、保持ヘッドをあらゆる方向
にスライド移動させた場合でも、研磨パッドに生じる波
打ち現象を阻止することができ、よって、ウェーハ全面
を均一に研磨することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係るウェーハ研磨装置の
全体斜視図
【図2】図1のウェーハ研磨装置の断面図
【図3】図1のウェーハ研磨装置に適用された保持ヘッ
ドの縦断面図
【図4】図2のウェーハ研磨装置におけるキャリアと押
付部材の配置関係を示す説明図
【図5】ウェーハ研磨時における研磨パッドのプロファ
イルを説明するための模式図
【図6】ウェーハ研磨時における研磨パッドのプロファ
イルを説明するための模式図
【図7】キャリアと4個の押付部材との配置関係を示す
説明図
【図8】従来のウェーハ研磨時における研磨パッドのプ
ロファイルを説明するための模式図
【符号の説明】
10…ウェーハ研磨装置、12…プラテン、14…保持
ヘッド、16、18、90、92、94、96…押付部
材、19…スラリ供給装置、20…研磨パッド、28…
スラリ、36…ヘッド本体、38…キャリア、40…ゴ
ムシート、76、77…加圧装置、80…CPU

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ウェーハを保持ヘッドに保持し回転する
    研磨パッドに押し付けて、ウェーハの表面を研磨するウ
    ェーハ研磨装置において、 前記保持ヘッドに対して前記研磨パッドの回転方向上流
    側に、該研磨パッドに押し付けられる第1押付部材が配
    置されるとともに、前記保持ヘッドに対して前記研磨パ
    ッドの回転方向下流側に、該研磨パッドに押し付けられ
    る第2押付部材が配置されていることを特徴とするウェ
    ーハ研磨装置。
  2. 【請求項2】 前記第1押付部材は、第1加圧手段によ
    って前記研磨パッドに対する押圧力が制御され、前記第
    2押付部材は、第2加圧手段によって前記研磨パッドに
    対する押圧力が制御されていることを特徴とする請求項
    1に記載のウェーハ研磨装置。
  3. 【請求項3】 前記第1押付部材及び第2押付部材は、
    前記保持ヘッドの外周に沿った形状に形成されているこ
    とを特徴とする請求項1、又は2に記載のウェーハ研磨
    装置。
  4. 【請求項4】 前記保持ヘッドと前記第1押付部材との
    間、及び前記保持ヘッドと前記第2押付部材との間に研
    磨剤を供給するスラリ供給手段が配置されていることを
    特徴とする請求項1、2、又は3のいずれか一つに記載
    のウェーハ研磨装置。
  5. 【請求項5】 ウェーハを保持ヘッドに保持し回転する
    研磨パッドに押し付けて、ウェーハの表面を研磨するウ
    ェーハ研磨装置において、 前記保持ヘッドの周りに前記研磨パッドに押し付けられ
    る複数の押付部材が配置されていることを特徴とするウ
    ェーハ研磨装置。
  6. 【請求項6】 前記複数の押付部材は、複数の加圧手段
    によって前記研磨パッドに対する押圧力が各々制御され
    ていることを特徴とする請求項5に記載のウェーハ研磨
    装置。
  7. 【請求項7】 前記複数の押付部材は、前記保持ヘッド
    の外周に沿った形状に形成されていることを特徴とする
    請求項5、又は6に記載のウェーハ研磨装置。
  8. 【請求項8】 前記保持ヘッドと前記複数の押付部材と
    の間に研磨剤を供給するスラリ供給手段が前記複数の押
    付部材毎に配置されていることを特徴とする請求項5、
    6、又は7のいずれか一つに記載のウェーハ研磨装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20130135086A (ko) * 2012-05-31 2013-12-10 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 연마 장치 및 연마 방법
US20200206867A1 (en) * 2018-12-27 2020-07-02 Ebara Corporation Polishing apparatus and polishing method
JP2020104200A (ja) * 2018-12-27 2020-07-09 株式会社荏原製作所 研磨装置および静止リングの傾きを制御する方法

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20130135086A (ko) * 2012-05-31 2013-12-10 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 연마 장치 및 연마 방법
JP2014004675A (ja) * 2012-05-31 2014-01-16 Ebara Corp 研磨装置および研磨方法
JP2016196086A (ja) * 2012-05-31 2016-11-24 株式会社荏原製作所 研磨装置
KR101990648B1 (ko) 2012-05-31 2019-06-18 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 연마 장치 및 연마 방법
US20200206867A1 (en) * 2018-12-27 2020-07-02 Ebara Corporation Polishing apparatus and polishing method
CN111376171A (zh) * 2018-12-27 2020-07-07 株式会社荏原制作所 研磨装置及研磨方法
JP2020104200A (ja) * 2018-12-27 2020-07-09 株式会社荏原製作所 研磨装置および静止リングの傾きを制御する方法
JP7049984B2 (ja) 2018-12-27 2022-04-07 株式会社荏原製作所 研磨装置および静止リングの傾きを制御する方法
US11731235B2 (en) 2018-12-27 2023-08-22 Ebara Corporation Polishing apparatus and polishing method

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