JP2002164630A - 電子部品とそのモジュール - Google Patents

電子部品とそのモジュール

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JP2002164630A
JP2002164630A JP2000356796A JP2000356796A JP2002164630A JP 2002164630 A JP2002164630 A JP 2002164630A JP 2000356796 A JP2000356796 A JP 2000356796A JP 2000356796 A JP2000356796 A JP 2000356796A JP 2002164630 A JP2002164630 A JP 2002164630A
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Minoru Takatani
稔 高谷
Toshiichi Endo
敏一 遠藤
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Abstract

(57)【要約】 【課題】1GHz以上の高周波帯において使用され、プ
リプレグの積層により製造される電子部品において、導
体パターンの位置ずれを小さく抑えることができ、かつ
成形性が優れ、損失、伝送速度の面でも有利な低誘電率
の電子部品と電子モジュールを提供する。 【解決手段】プリプレグに銅箔でなる導体パターンを固
着したものを積層することにより、基体の内部または表
面にインダクタ、コンデンサ、共振器、アンテナ素子の
いずれかかたはその複合素子を構成したものを積層して
なる。記プリプレグは、樹脂中に誘電体粉末を15〜6
5vol%混合してなる。基体の誘電率は2.5〜5.
0、Qの値は90以上である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、1GHz以上の高
周波帯、特に2〜6GHzの高周波帯で使用される電子
部品と電子モジュールに関する。
【0002】
【従来の技術】高周波通信装置等においては、使用され
る周波数帯がGHz以上となる高周波化が図られてい
る。このような高周波信号を扱う場合、使用する電子部
品に使用される誘電体の誘電率が問題となる。すなわ
ち、信号伝送速度は誘電率の平方根に反比例するため、
伝送速度を高めるには誘電率が低いことが必要である。
また、損失は誘電率の平方根に比例するため、損失を小
さくするためには誘電率を低くする必要がある。このた
め、セラミックに比較して低誘電率の樹脂にガラス繊維
を埋設あるいは埋設しないプリプレグを銅箔パターンと
共に積層して作製される樹脂製多層構造としたものがあ
る。
【0003】すなわち、多数個分の半硬化状のシート状
のプリプレグに銅箔を貼り付けてエッチングすることに
より導体パターンを形成し、これを加熱して樹脂を本硬
化させてコア基板とし、そのコア基板の上下にプリプレ
グを重ね、銅箔を貼り付けてエッチングし、本硬化させ
るという工程を繰り返し、個々の電子部品に切断して作
製する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述のような低誘電率
樹脂製基板を用いた電子部品を作製する場合、プリプレ
グは例えば50cm四方のシート状をなすものが用いら
れるが、これを本硬化させる際に多少収縮するため、導
体パターンの位置がずれる。この位置ずれは、プリプレ
グの中心部より周辺部で大となり、この位置ずれが特性
のばらつきを引き起こす。また、積層後にスルーホール
を形成する場合には、内部のランドの位置からスルーホ
ールがずれるおそれがあるという問題点がある。また、
このずれを防止するため、スルーホールを貫通させるた
めのランドを大きくしなければならず、小型化を阻害す
るという問題点がある。
【0005】本発明は、上記問題点に鑑み、2〜6GH
zの高周波帯において使用され、プリプレグの積層によ
り製造される電子部品において、導体パターンの位置ず
れを小さく抑えることができ、かつ成形性が優れ、損
失、伝送速度の面でも有利な低誘電率の電子部品と電子
モジュールを提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1の電子部品は、
1GHz以上の高周波帯で使用され、プリプレグに銅箔
でなる導体パターンを固着したものを積層することによ
り、内部または表面にインダクタ、コンデンサ、共振
器、アンテナ素子のいずれかまたはその複合素子を構成
した電子部品であって、前記プリプレグは、樹脂中に誘
電体粉末を15〜65vol%混合してなり、かつプリ
プレグの積層により得られる基体の比誘電率が2.5〜
5.0であり、Qが90以上であることを特徴とする。
【0007】請求項2の電子部品は、請求項1におい
て、前記樹脂が、ポリフマレート樹脂、ポリアリレート
樹脂、フッ素樹脂、ビニルベンジル樹脂、ポリイミド樹
脂、エポキシ樹脂のいずれかであることを特徴とする電
子部品。
【0008】請求項3の電子モジュールは、請求項1ま
たは2の電子部品を基板としてその表面に別の電子部品
を搭載して回路を構成してなることを特徴とする。
【0009】
【発明の実施の形態】図1(A)は本発明の電子部品の
第1の実施の形態を示す透視斜視図、図1(B)はその
断面図、図1(C)はその等価回路図である。この電子
部品はバンドパスフィルタを構成するものであり、1は
誘電体粉末を混合した樹脂製の基体であり、内部に一対
のストリップライン2A、2Bを内蔵する。また、これ
らのストリップライン2A、2Bにまたがって対向する
容量結合用電極3を内蔵する。ストリップライン2A、
2Bは図1(C)のインダクタL1、L2を構成する。
また、電極3とストリップライン2A、2Bとの対向に
より図1(C)の結合コンデンサCsが構成される。
【0010】また、各ストリップライン2A、2Bには
それぞれ側面の入力端子電極4と出力端子電極5にそれ
ぞれ接続された整合電極6、7が対向する。これらの整
合電極6、7とストリップライン2A、2Bとの対向に
より図1(C)の整合容量Ci1、Ci2を形成され
る。
【0011】また、該基体1内の上下にはストリップラ
イン2A、2B、整合電極6、7、容量結合用電極3を
挟むようにグランド電極8A、8Bが内蔵される。これ
らのグランド電極8A、8Bの両端部は、基体の両端面
のグランド端子電極9A、9Bに接続される。前記スト
リップライン2A、2Bの一端は一方のグランド端子電
極9Aに接続される。このように、ストリップライン2
A、2Bとグランド端子電極9A、9Bとの対向により
ストリップライン2A、2Bとの間で共振器を構成する
装荷容量Cr1、Cr2が形成される。
【0012】この電子部品は、図1(C)に示すように
製造される。すなわち、誘電体粉末を混合した樹脂でな
るプリプレグ10に銅箔を貼り付けてエッチングするこ
とにより片面にストリップライン2A、2Bとなるパタ
ーンを形成した後、加熱によって本硬化させてコア基板
を作製する。そしてこの両側にセラミック等の誘電体粉
末を混合したプリプレグ11、12を重ね、プリプレグ
11に銅箔を貼り付けてエッチングすることにより、前
記結合容量Csとなる電極3を形成し、その後本硬化さ
せる。このような工程を繰り返した後、個々のチップに
切断後、側面の端子電極4、5および端面のグランド端
子電極9A、9Bをメッキなどにより形成する。
【0013】前記プリプレグ10〜12を構成する樹脂
としては、表1に示すように、誘電率が2から4程度の
ポリフマレート樹脂、ポリアリレート樹脂、フッ素樹
脂、ビニルベンジル樹脂、ポリイミド樹脂、エポキシ樹
脂樹脂等が好ましい。これらは耐熱性の面でも好ましい
材質である。
【0014】
【表1】
【0015】また、誘電体粉末としては、樹脂との混合
によっても誘電率が5を超えないようにすることが、前
記伝送速度を低下させず、損失を大きくしない意味にお
いて好ましい。表2は樹脂としてビニルベンジル樹脂と
ポリイミド樹脂を用いた場合に、誘電体として、Mg
SiO(誘電率ε=7、Q=20000)、MgTi
(ε=17、Q=22000)、ZnTiO(ε
=26、Q=800)、NdTi(ε=37、
Q=35000)を混合した場合の誘電率を示すもので
ある。但し誘電率εおよびQは2GHzにおける値であ
る。
【0016】表2に示すように、ビニルベンジル樹脂、
ポリイミド樹脂の両者において、各誘電体粉末につい
て、粉末の含有率が所定値以下であれば、粉末混合の樹
脂の誘電率(ε)を5以下に抑えることができる。
【0017】なお、誘電率を5以下にすることが好まし
い理由は次の通りである。GHzの周波数帯では、大き
な容量は必要ではなくなり、1GHzでの一般的な必要
容量は10pF程度であり、誘電率が5の材料を使用す
れば、十分小型の電子部品を構成できる。すなわち、一
般的なコンデンサ電極の対向面積Sを4mm、層間距
離(プリプレグの厚み)d=50μm、層数nを3、真
空の誘電率をε(=8.854×10−12F/
m)、基体の比誘電率ε=5とすると、C=S×n×
ε×ε/d≒10.6pFとなり、所望の電気容量
が得られる。また、前記対向面積、層数、誘電率を変え
ることにより、電気容量を変更することができる。ま
た、2GHz、4GHzにおける一般的な容量はそれぞ
れ5pF、2.5pFであり、前記誘電率とすることで
対応できる。なお、所望の比誘電率εは2.5以上で
ある。その理由は、ストリップラインを構成する場合、
一般的な特性インピーダンスは50Ωであり、それを小
型で構成する場合、ある程度の誘電率は必要である。ε
=2.5のとき、ライン幅が100μm、基板厚みが
100μmで特性インピーダンス約50Ωとなる。ε
=2.5以下ではさらに基板厚みを薄くするか、パター
ン幅を広げる必要があるが、薄くすると伝送損失が大き
くなってしまうし、幅を広げると部品が大きくなってし
まう。また、現時点でプリプレグの最小厚みは50μm
であり、それ以下にするのは難しい。
【0018】
【表2】
【0019】樹脂に混合する誘電体としては、前記以外
に、Al(ε=9.8、Q=40000)、Zn
TiO(ε=15、Q=700)、TiO(ε=
104、Q=15000)、CaTiO(ε=17
0、Q=1800)、SrTiO(ε=255、Q=
700)、SrZrO、(ε=30、Q=120
0)、BaTi(ε=42、Q=5700)、B
aTi(ε=38、Q=9000)、BaTi
20(ε=39、Q=9000)、Ba(Ti,
Sn)20(ε=37、Q=5000)、ZrTi
(ε=39、Q=7000)、(Zr,Sn)Ti
(ε=38、Q=7000)、BaNdTi
14(ε=83、Q=2100)、BaSmTiO
14(ε=74、Q=2400)、Bi−BaO
−Nd−TiO系(ε=88、Q=200
0)、PbO−BaO−Nd−TiO系(ε=
90、Q=5200)、(Bi,PbO)−Ba
O−Nd−TiO系(ε=105、Q=250
0)、LaTi(ε=44、Q=4000)、
(Li,Sm)TiO(ε=81、Q=2050)、
Ba(Mg1/3Ta2/3)O (ε=25、Q=3
5000)、Ba(Zn1/3Ta2/3)O(ε=
30、Q=14000)、Ba(Zn1/3
2/3)O(ε=41、Q=9200)、Sr(Z
1/3Nb2/3)O(ε=40、Q=4000)
等を用いることができる。これらの誘電率ε、Qの値は
2GHzにおける値である。なお、Q値の最高値はアル
ミナの場合の40000である。
【0020】前記のようなプリプレグの積層、エッチン
グ、本硬化の工程により電子部品を作製する場合、半硬
化のプリプレグの状態から本硬化により樹脂は一般的に
0.04%程度の縮率を有する。このような縮率を有す
るため、前記のようなパターンのずれを生じる。このよ
うなずれを250mm□の基板で75μm以下に抑制す
るには縮率が0.03%以下とすることが望まれる。こ
のような縮率を確保するため、本発明においては、セラ
ミック等の誘電体粉末の含有率を調整する。
【0021】図2はプリプレグの誘電体含有率と縮率と
の関係を示す相関図である。この縮率の測定において
は、樹脂としてエポキシ樹脂を使用し、誘電体粉末とし
て平均粒径が1μmのチタン酸バリウム系セラミック材
料を用い、誘電体粉末の含有率を種々に変えてプリプレ
グ作製の際の半硬化を100℃の熱気雰囲気で行ない、
本硬化を180℃で行った。
【0022】図2から分かるように、誘電体粉末の含有
率を大きくするほど縮率の値は向上する。この縮率を
0.03%以下とするには、誘電体粉末の含有率を15
vol%以上とすることが好ましい。しかし、誘電体粉
末の含有率が65vol%を超えるとプリプレグのシー
ト状の成形性が悪くなるため、誘電体粉末の含有率は1
5〜65vol%とすることが好ましい。但し、基体1
の誘電率を5以下に抑えるには、混合する誘電体の材質
によっても、誘電体粉末の含有率を前記上限の含有率よ
り低く抑える必要がある。
【0023】本発明の電子部品は前記構成のもの以外に
種々の形態において実現することができる。図3(A)
は本発明の第2の実施の形態であり、図1(C)の等価
回路図で示されるバンドパスフィルタを構成するもので
ある。13は前記誘電体粉末混合の樹脂でなる基体であ
り、該基体13として前記縮率となるように誘電体粉末
を混合した樹脂が用いられる。基体13の底面には側面
の端子電極14、15を除いた部分にグランド電極16
が形成され、上面にストリップライン17A、17Bが
形成される。各ストリップライン17A、17Bの一端
側はスルーホール18、19によりグランド電極16に
接続される。ストリップライン17A、17Bの他端
側、すなわちホット端子側には互いに隣接する突出部に
より前記結合容量Csが形成される。また、前記端子電
極14、15との間に整合容量Ci2、Ci2が形成さ
れる。ストリップライン17A、17Bとグランド電極
16との間に前記装荷容量Cr1、Cr2が形成され
る。
【0024】このようなバンドパスフィルタにおいて、
基体13を前述のような誘電体粉末含有率の樹脂とする
ことにより、低誘電率で縮率の小さな基体13を実現す
ることができ、スルーホール18、19のストリップラ
イン17A、17Bとのずれを小さくすることができ、
小型化が容易となり、かつ特性のばらつきを小さくする
ことができる。
【0025】図3(B)は本発明の第3の実施の形態を
示す透視斜視図、図3(C)はその等価回路図である。
この実施の形態は、図3(C)に示すように、2つのイ
ンダクタL1、L2とコンデンサCとからなる2組のロ
ーパスフィルタ21、22を構成したものである。本実
施の形態においても、基体23として前記縮率となるよ
うに誘電体粉末を混合した樹脂が用いられ、かつ比誘電
率は5以下である。基体23の内部には3層にグランド
電極24、25、26を形成する。上層のグランド電極
24と中間層のグランド電極25との間には前記コンデ
ンサCを形成するコンデンサ電極27を形成し、その両
端に前記インダクタL1、L2を形成するジグザグに曲
成された導体28、29を形成する。中間層のグランド
電極25と下層のグランド電極26との間にも前記コン
デンサ電極27とインダクタ形成用導体28、29を形
成している。
【0026】図4(A)は本発明の第4の実施の形態で
あり、パッチアンテナを示す。該パッチアンテナは基体
30として前記縮率となるように誘電体粉末を混合した
樹脂が用いられる。該パッチアンテナは、基体30の裏
面にグランド電極31を形成し、表面にアンテナ素子3
2を形成する。基体30の側面には給電端子33を形成
し、該給電端子33につながる導体34をアンテナ素子
32の縁に対向させることにより、容量部35を形成し
ている。
【0027】図4(B)は本発明の第4の実施の形態で
あり、1個のチップに4個のアンテナ素子32を形成
し、各アンテナ素子32に基体36の底面の端子37に
スルーホール38により接続し、その端子38を避けた
底面の位置にグランド電極39を形成したものである。
該パッチアンテナも基体36として前記縮率となるよう
に誘電体粉末を混合した樹脂が用いられる。図4
(A)、(B)の実施の形態の形態においても、縮率の
向上により、パターンのずれを小さくし、小型化も容易
となる。また、GHz帯において、比誘電率を5以下に
抑えると共に、Qの値を90以上とすることにより、伝
送速度が高く、損失の少ないパッチアンテナが提供でき
る。また、誘電体を混合することによって樹脂単独でプ
リプレグを使用する場合に比較し、誘電率を向上させ、
これによって小型化に寄与することができる。
【0028】図4(C)は本発明の第5の実施の形態で
あり、電子モジュールとして電圧制御発振器を構成した
ものである。本実施の形態においても、基体40として
前記縮率となるように誘電体粉末を混合した樹脂が用い
られる。基体40の内部には対をなすストリップライン
41A、41Bを形成し、両者を上下より挟むようにグ
ランド電極42、43を形成して共振器を構成する。共
振器の上部には電極44、45によりコンデンサを構成
する。基体40の上面には導体パターンが形成され、電
子部品46が搭載される。基体40には電子部品46を
覆うカバー47が設けられる。
【0029】このような基体上に電子部品47を搭載し
た電子モジュールにおいても、基体40の縮率の向上に
より、パターンのずれを小さくし、小型化も容易とな
る。また、GHz帯において、伝送速度が高く、損失の
少ないパッチアンテナが提供できる。
【0030】
【発明の効果】本発明によれば、1GHz以上の高周波
帯において使用され、プリプレグの積層により製造され
る電子部品において、導体パターンの位置ずれを小さく
抑えることができ、かつ成形性が優れ、損失、伝送速度
の面でも有利な低誘電率の電子部品と電子モジュールを
提供する。
【図面の簡単な説明】
【図1】(A)は本発明の第1の実施の形態を示す電子
部品の透視斜視図、(B)はその断面図、(C)はその
等価回路図、(D)はその製造工程の説明図である。
【図2】誘電体粉末の含有率と縮率との相関図である。
【図3】(A)は本発明の第2の実施の形態を示す斜視
図、(B)は本発明の第3の実施の形態の透視斜視図、
(C)は(B)の等価回路図である。
【図4】(A)、(B)はそれぞれ本発明の第3、第4
の実施の形態を示す斜視図、(C)は本発明の第5の実
施の形態を示す断面図である。
【符号の説明】
1:基体、2A、2B:ストリップライン、3:結合用
電極、4:入力端子電極、5:出力端子電極、6、7:
整合電極、8A、8B:グランド電極、9A、9B:グ
ランド端子電極、10〜12:プリプレグ、13:基
体、14、15:端子電極、16:グランド電極、2
1、22:ローパスフィルタ、23:基体、24〜2
6:グランド電極、27:コンデンサ電極、28、2
9:インダクタ形成用導体、30:基体、31:グラン
ド電極、32:アンテナ素子、33:給電端子、35:
容量部、36:基体、37:端子、38:スルーホー
ル、39:グランド電極、40:基体、41A、41
B:ストリップライン、42、43:グランド電極、4
4、45:コンデンサ電極、46:電子部品、47:カ
バー、Ci1、Ci2:整合容量、Cs:結合容量、C
r1、Cr2:装荷容量、L1、L2:インダクタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01Q 13/08 H03H 7/09 Z H03H 7/075 H01L 23/12 N 7/09 23/14 R Fターム(参考) 5J006 HA32 HA33 HB04 HB05 JA01 JA02 JA03 JA04 LA12 LA21 LA25 NA08 PA10 5J024 AA01 CA06 CA09 DA04 DA29 DA32 EA03 5J045 AA01 AB02 AB06 DA09 EA08 HA02 NA01

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】1GHz以上の高周波帯で使用され、 プリプレグに銅箔でなる導体パターンを固着したものを
    積層することにより、内部または表面にインダクタ、コ
    ンデンサ、共振器、アンテナ素子のいずれかまたはその
    複合素子を構成した電子部品であって、 前記プリプレグは、樹脂中に誘電体粉末を15〜65v
    ol%混合してなり、かつプリプレグの積層により得ら
    れる基体の比誘電率が2.5〜5.0であり、Qが90
    以上であることを特徴とする電子部品。
  2. 【請求項2】請求項1の電子部品において、 前記樹脂が、ポリフマレート樹脂、ポリアリレート樹
    脂、フッ素樹脂、ビニルベンジル樹脂、ポリイミド樹
    脂、エポキシ樹脂のいずれかであることを特徴とする電
    子部品。
  3. 【請求項3】請求項1または2の電子部品を基板として
    その表面に別の電子部品を搭載して回路を構成してなる
    ことを特徴とする電子モジュール。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006237560A (ja) * 2005-01-31 2006-09-07 Sanyo Electric Co Ltd 回路基板装置
WO2023214473A1 (ja) * 2022-05-02 2023-11-09 株式会社村田製作所 伝送線路、ならびに、それを含むアンテナモジュールおよび通信装置

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JP2006237560A (ja) * 2005-01-31 2006-09-07 Sanyo Electric Co Ltd 回路基板装置
WO2023214473A1 (ja) * 2022-05-02 2023-11-09 株式会社村田製作所 伝送線路、ならびに、それを含むアンテナモジュールおよび通信装置

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