JP2002153453A - マルチスライス型ｃｔスキャンのハイピッチ再構成 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 マルチスライス型コンピュータ断層イメージ
ング・システム（１０）を用いて被検体（２２）の画像
を作成するに際し、８：１以上のピッチでスキャンした
投影データから画像を再構成することを可能にする。 【解決手段】投影データを収集するためにマルチスライ
ス型コンピュータ断層イメージング・システムにより被
検体をヘリカルスキャンし、並列な投影の組を定式化し
ている投影データの共役サンプルの組を決定し、この共
役サンプルを用いて被検体の画像の組を再構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、全般的にはコンピ
ュータ断層（ＣＴ）イメージングに関し、さらに詳細に
は、マルチスライス型イメージング・システムを用いて
ＣＴイメージング・データを作成するための方法及び装
置に関する。

【０００２】

【従来の技術】少なくとも１つの周知のコンピュータ断
層（ＣＴ）イメージング・システムの構成では、Ｘ線源
は、デカルト座標系のＸＹ平面（一般に「画像作成面」
と呼ばれる）内に位置するようにコリメート（Collimat
e）された扇形状のビームを放出する。Ｘ線ビームは、
例えば患者などの画像作成しようとする対象を透過す
る。ビームは、この対象によって減衰を受けた後、放射
線検出器のアレイ上に入射する。検出器アレイで受け取
った減衰したビーム状放射線の強度は、対象によるＸ線
ビームの減衰に依存する。このアレイの各検出器素子
は、それぞれの検出器位置でのビーム減衰の計測値に相
当する電気信号を別々に発生させる。すべての検出器か
らの減衰量計測値を別々に収集し、透過プロフィールが
作成される。

【０００３】周知の第３世代ＣＴシステムでは、Ｘ線源
及び検出器アレイは、Ｘ線ビームが画像を作成しようと
する対象を切る角度が一定に変化するようにして、画像
作成面内でこの画像作成対象の周りをガントリと共に回
転する。あるガントリ角度で検出器アレイより得られる
一群のＸ線減衰量計測値（すなわち投影データ）のこと
を「ビュー（ｖｉｅｗ）」という。また、画像作成対象
の「スキャン・データ（ｓｃａｎ）」は、Ｘ線源と検出
器が１回転する間に、様々なガントリ角度またはビュー
角度で得られるビューの集合からなる。

【０００４】アキシャル・スキャンでは、この投影デー
タを処理し、画像作成対象を透過させて得た２次元スラ
イスに対応する画像を構成する。投影データの組から画
像を再構成するための一方法に、当技術分野においてフ
ィルタ補正逆投影法（ｆｉｌｔｅｒｅｄ ｂａｃｋ ｐ
ｒｏｊｅｃｔｉｏｎ）と呼ぶものがある。この処理方法
では、スキャンにより得た減衰量計測値を「ＣＴ値」、
別名「ハウンスフィールド（HounsField）値」という整
数に変換し、これらの整数値を用いて陰極線管ディスプ
レイ上の対応するピクセルの輝度を制御する。

【０００５】マルチスライスのために要する全体のスキ
ャン時間を短縮させるため、「ヘリカル（らせん）」ス
キャンを実行することがある。「ヘリカル」スキャンを
実行するには、所定のスライス数だけのデータを得る
間、患者をガントリの回転と同調させてｚ軸方向に移動
させる。こうしたシステムでは単一ファン・ビームのヘ
リカル・スキャンを１回行うと、単一らせんが１つ描か
れる。ファン・ビームが描いたらせんに沿って投影デー
タが得られ、これを用いて所定のスライス各位置での画
像が再構成される。スキャン時間の短縮の外にも、ヘリ
カルスキャンによって、注入する造影剤のより有効な使
用、希望する位置での画像再構成の改善、３次元画像の
向上などその他の利点が提供される。

【０００６】Ｘ線ビームは、Ｘ線源から、患者体軸（す
なわち、ｚ軸）におけるＸ線ビーム・プロフィールを規
定している患者前置コリメータを通過させて投射され
る。このコリメータは、典型的には、その内部に開口を
有するＸ線ビームを限定するためのＸ線吸収材料を含
む。周知のＣＴイメージング・システムの少なくとも１
つでは、スキャン・モード及び対応する再構成法は、
３：１及び６：１のヘリカルピッチに対して実施され
る。６：１ヘリカルピッチ・モードは、そのカバーする
体積範囲が大きく、また、そのスキャンが３：１ヘリカ
ルピッチ・モードの場合と比べｚ軸に沿ってより高速で
あるため、「高速」モードと呼ばれる。しかし、この高
速モードで使用されるスキャン及び再構成技法は、さら
に大きなヘリカルピッチ（例えば、８：１以上のピッ
チ）のスキャンには適当でないことが分かっている。こ
れらの技法が適当でないとされている幾つかの理由のう
ちの１つは、６：１の高速モードでは、８：１以上のピ
ッチではもはや一般に有効でないような共役サンプリン
グ対を使用しているためである。

【０００７】周知の高速モードの問題を説明するために
は、変数の数、並びにこれらとＣＴイメージング・シス
テムの幾何学構成との関係を規定することが役立つ。β
_k（ｋ＝１、．．．、４）により、検出器横列ｋが再構
成面と交差する投影角度が表されるとしてみる。さら
に、β_k-（ｋ＝１、．．．、４）によりπだけ進んでい
るβ_kに対する共役サンプルの投影角度を表し、β_k-＝
β_k−π−２γとしてみる。同様に、β_k+によりπだけ
遅れているβ_kに対する共役サンプルの投影角度を表
し、β_k+＝β_k＋π−２γとしてみる。

【０００８】ファンビームの幾何学構成では、検出器角
度γは、図４に示すように、等分線束５０を基準として
任意の線束が形成する角度と規定される。さらに詳細に
は、γ_m＝ｍａｘ（｜γ｜）は最大ファン角度を表して
いる。図５及び６を参照すると、隣接する４つの図形５
２、５４、５６、５８は、周知のあるＣＴイメージング
・システムの隣接する４つの検出器横列を表している。
図形５２は検出器横列１に対する重み付け領域を表して
いる。図形５４、５６及び５８は、それぞれ検出器横列
２、３及び４に対するものである。各図形内で名称を付
けた領域（Ｒ１、Ｒ２、．．．、Ｒ４）は、投影サンプ
ルに対して重み付け関数を適用する領域である。これら
の領域の外部では、重みはすべてゼロに等しい。したが
って、これらの領域の外部にある投影データは不要であ
る。

【０００９】図形５２、５４、５６、５８の各々につい
て、水平軸６０は検出器角度γを表しており、垂直軸６
２は投影角度βを表している。したがって、ある具体的
なビュー角度におけるファンビームに対応したサンプル
は、各図形内の水平線により表現されている。図５を参
照すると、領域Ｒ１に関する（検出器横列１に対応す
る）下側境界は、β₃の共役サンプルを表している。し
たがって、この境界はβ_{3 -}により規定される。

【００１０】図５に示すように、６：１での高速収集で
は、横列１がβ₁（ここで、β₁は横列１が再構成面と交
差する投影角度である）から検出器横列幅１つ分離れて
いる場合に、β_3-の等分線束が検出器横列１と交差す
る。６：１のヘリカルピッチでは、ＣＴイメージング・
システムのテーブルは、ガントリの２π回転の間に検出
器の厚さの６倍だけ移動する。したがって、検出器厚さ
１つ分だけ移動するには２π／６＝π／３だけかかる。
（図５では、π／３の厚さは１垂直軸の１目盛りに相当
する。）Ｒ２、Ｒ３及びＲ４に対する角度スパンはπ／
３であり、検出器厚さ１つ分に相当する。Ｒ１（検出器
横列１）のβ_3-で規定される右下領域は、概ね２π／３
だけβ₁から離れている、すなわち、検出器横列１が再
構成面と交差する点から検出器厚さの概ね２倍だけ離れ
ている。したがって、真のサンプル位置から遠く離れた
位置で収集したサンプルを使用して理想のサンプルを推
定するが、これにより推定の精度に悪影響を及ぼす。さ
らに、この同じ問題が、領域Ｒ２（検出器横列２と４に
対する）、並びに検出器横列３に対する領域Ｒ１に関し
ても当てはまる。図６は、８：１のヘリカル再構成に関
する対応する高速モードの重み付けパターンを表したも
のであり、これにより、こうしたより大きなピッチでは
問題がさらに深刻となることが分かる。

【００１１】さらに、周知の６：１高速モード再構成
は、一定の共役サンプルが存在することに基づいてい
る。詳細には図５を参照すると、横列２及び４からのサ
ンプルを用いて、横列３及び１からのサンプルの場合と
同様に高速モードで補間が実行される。しかし、このモ
ードは８：１以上のヘリカルピッチでのスキャンには適
当でない。図６を参照すると、これらのより大きなピッ
チでは、横列１に対するβ _4-とβ₁の線が交差すること
は明らかである。同様に、横列４に関するβ₁₊とβ₄に
対する線も交差している。線β_4-及び線β₁₊は重みゼロ
を負い、β₁及びβ₄は重み１を負うことになるので、交
差する点に対する重みを決定することができない。

【００１２】周知の高速モードが８：１以上のピッチに
対して適さないとされる別の理由としては、６：１のヘ
リカルピッチを利用するイメージング・システムでは、
β₁、β₂、β₃及びβ₄はπ／３だけ離間するように構成
されており、一方２γ_mはπ／３より若干小さいという
点がある。８：１のヘリカルピッチを使用する場合に
は、β₁、β₂、β₃及びβ₄はπ／４だけ離間している。
後者の構成では、図６の領域Ｒ１で示すように、その共
役領域を検出器がＰＯＲと交差する位置の片側に限局さ
せることができず、２つの領域の境界において重み付け
関数の不連続が発生してしまう。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】したがって、周知の高
速イメージング・モードは、８：１以上のピッチで被検
体を画像化するのに適さない。したがって、こうした制
約を克服した方法及び装置を提供することが望ましい。

【００１４】

【課題を解決するための手段】したがって、本発明の実
施の一形態では、マルチスライス型コンピュータ断層イ
メージング・システムを用いて被検体の画像を作成する
ための方法が提供される。本方法は、投影データを収集
するためにマルチスライス型コンピュータ断層イメージ
ング・システムにより被検体をヘリカルスキャンするス
テップと、並列な投影の組を定式化している投影データ
の共役サンプルの組を決定するステップと、この共役サ
ンプルを用いて被検体の画像の組を再構成するステップ
と、を含む。

【００１５】並列な投影の組を定式化している共役サン
プルの組を決定することにより、本発明の実施形態は、
６：１を超える（例えば、８：１以上の）ピッチでスキ
ャンした投影データから画像を再構成することを可能に
する。

【００１６】

【発明の実施の形態】図１及び図２を参照すると、「第
３世代」のＣＴスキャナに典型的なガントリ１２を含む
ものとして、コンピュータ断層（ＣＴ）イメージング・
システム１０を示している。ガントリ１２は、このガン
トリ１２の対向面上に位置する検出器アレイ１８に向け
てＸ線ビーム１６を放出するＸ線源１４を有する。検出
器アレイ１８は、投射され被検体２２（例えば、患者）
を透過したＸ線を一体となって検知する検出器素子２０
により形成される。検出器アレイ１８は、単一スライス
構成で製作される場合とマルチ・スライス構成で製作さ
れる場合がある。各検出器素子２０は、入射したＸ線ビ
ームの強度を表す電気信号を発生させる。Ｘ線ビーム
は、患者２２を透過すると減衰を受ける。Ｘ線投影デー
タを収集するためのスキャンの間に、ガントリ１２及び
ガントリ上に装着されたコンポーネントは回転中心２４
の周りを回転する。

【００１７】ガントリ１２の回転及びＸ線源１４の動作
は、ＣＴシステム１０の制御機構２６により制御され
る。制御機構２６は、Ｘ線源１４に電力及びタイミング
信号を供給するＸ線制御装置２８と、ガントリ１２の回
転速度及び位置を制御するガントリ・モータ制御装置３
０とを含む。制御機構２６内にはデータ収集システム
（ＤＡＳ）３２があり、これによって検出器素子２０か
らのアナログ・データをサンプリングし、このデータを
後続の処理のためにディジタル信号に変換する。画像再
構成装置３４は、サンプリングされディジタル化された
Ｘ線データをＤＡＳ３２から受け取り、高速で画像再構
成を行う。再構成された画像はコンピュータ３６に入力
として渡され、コンピュータにより大容量記憶装置３８
内に格納される。

【００１８】コンピュータ３６はまた、キーボードを有
するコンソール４０を介して、オペレータからのコマン
ド及びスキャン・パラメータを受け取る。付属の陰極線
管ディスプレイ４２により、オペレータはコンピュータ
３６からの再構成画像やその他のデータを観察すること
ができる。コンピュータ３６は、オペレータの発したコ
マンド及びパラメータを用いて、ＤＡＳ３２、Ｘ線制御
装置２８及びガントリ・モータ制御装置３０に対して制
御信号や制御情報を提供する。さらにコンピュータ３６
は、モータ式テーブル４６を制御してガントリ１２内で
の患者２２の位置決めをするためのテーブル・モータ制
御装置４４を操作する。詳細には、テーブル４６により
患者２２の各部分はガントリ開口４８を通過できる。

【００１９】本発明の実施の一形態では、並列な投影の
組を定式化している共役サンプルを検索する。より具体
的には、この実施形態では、β’_k（ここで、ｋ＝１、
２、３、４；β’_k＝β_k−γである）により定式化され
る領域境界を設定する。この表記において、β_kは上で
規定したものと同じであり、また図４、５及び６に名称
を付したものと同じである。β’_kは図３で各横列に対
する２つの領域間の境界として名称を付したものと同じ
である。したがって、β’₁は、検出器横列１に関する
領域Ｒ１と領域Ｒ２の間の境界であり、β_iは検出器横
列ｉの等分線束がＰＯＲと交差する投影角度である。対
応する並列な線束サンプルβ’_iは、次式で表される。

【００２０】

【数１】

【００２１】上記数式１において、γは検出器角度であ
る。さらに、β’_i+＝β’_i＋πとβ’_i-＝β’_i−πと
いう量を規定してみる。ＰＯＲ位置での投影を作成する
ために補間を受ける領域の対Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３及びＲ４
は、図３に示す表記と同様に名称を付けてある。ここで
さらに、ｗ_i（β，γ）によって、検出器横列ｉに適用
される投影重み付け関数を表現してみる。本発明の実施
の一形態において再構成に使用する重み付け関数は次式
で表される。

【００２２】

【数２】

【００２３】

【数３】

【００２４】

【数４】

【００２５】

【数５】

【００２６】重み付け関数ｗ_i（β，γ）の有効性を示
すための実験では、４×１．２５ｍｍモードにおいて、
肩部ファントームを６：１のヘリカルピッチと８：１の
ヘリカルピッチとでスキャンしてみた。６：１のヘリカ
ルピッチでは、従来の「高速」再構成モード（すなわ
ち、単一投影のサンプルに相当する共役サンプルを検索
して使用する再構成法）を使用した。８：１ヘリカルピ
ッチのスキャンでは、上記数式２〜５を使用する本発明
の実施の一形態を利用して再構成した。他の事項が同じ
であれば、ヘリカルピッチが大きいほど、投影の不整合
のためにより顕著な画像アーチファクトが生ずるものと
予測される。しかし、８：１ピッチ画像でのアーチファ
クトのレベルは６：１ピッチ画像のレベルと比べ若干増
加していたに過ぎなかった。この結果から、画像アーチ
ファクトの抑制に関する本発明の実施形態の有効性が分
かる。別の実験では、６：１ピッチのスキャンを、８：
１ピッチのスキャンの再構成で使用した同じ実施形態を
利用して再構成してみた。これにより、６：１ピッチの
スキャンから得られた画像と８：１ピッチのスキャンの
画像とは、画像アーチファクトに関してほとんど遜色が
ないことが分かった。これにより、ヘリカルスキャンに
よる画像アーチファクトの抑制に関して、本発明のこの
実施形態の有効性が改めて指示された。

【００２７】したがって、本発明の実施形態により、少
なくとも１つの高速のＣＴ画像再構成方法及び装置に関
する制約が克服されること、並びに６：１を超えるヘリ
カルピッチでより改良された画像を提供できることが分
かる。本発明を具体的な様々な実施形態に関して説明し
てきたが、当業者であれば、本特許請求の範囲の精神及
び範疇の域内の修正を伴って本発明を実施できることを
理解するであろう。

【図面の簡単な説明】

【図１】ＣＴイメージング・システムの外観図である。

【図２】図１に示すシステムのブロック概要図である。

【図３】ＣＴイメージング・システムの４つの検出器横
列を表している隣接する４つの図形であって、本発明の
実施の一形態における８：１のヘリカルピッチでの検出
器横列の重み付け領域を表した図である。

【図４】検出器角度γが等分線束を基準として任意の線
束が形成する角度として規定されるようなファンビーム
幾何学構成を表した図である。

【図５】周知のＣＴイメージング・システムの隣接する
４つの検出器横列を表している隣接する４つの図形であ
って、その各図形が６：１のヘリカルピッチでの検出器
横列の重み付け領域を表している図である。

【図６】図５と同趣旨の図であって、８：１のヘリカル
ピッチでの対応する重み付け領域を表している図であ
る。

【符号の説明】

１０ ＣＴイメージング・システム １２ ガントリ １４ Ｘ線源 １６ Ｘ線ビーム １８ 検出器アレイ ２０ 検出器素子 ２２ 患者、被検体 ２４ 回転中心 ２６ 制御機構 ２８ Ｘ線制御装置 ３０ ガントリ・モータ制御装置 ３２ データ収集システム（ＤＡＳ） ３４ 画像再構成装置 ３６ コンピュータ ３８ 大容量記憶装置 ４０ コンソール ４２ 陰極線管ディスプレイ ４４ テーブル・モータ制御装置 ４６ モータ式テーブル ４８ ガントリ開口 ５０ 等分線束 ５２ 検出器横列１に対する重み付け領域 ５４ 検出器横列２に対する重み付け領域 ５６ 検出器横列３に対する重み付け領域 ５８ 検出器横列４に対する重み付け領域 ６０ 水平軸 ６２ 垂直軸

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ジャン・ヘシエー アメリカ合衆国、ウィスコンシン州、ブル ックフィールド、ウエスト・ケズウィッ ク・コート、19970番 Ｆターム(参考） 4C093 AA22 BA03 BA10 CA13 CA27 CA39 FE06 FE13 FE18

Claims (22)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 マルチスライス型コンピュータ断層イメ
   ージング・システム（１０）を用いて被検体（２２２）
   の画像を作成するための方法であって、 投影データを収集するために、マルチスライス型コンピ
   ュータ断層イメージング・システムにより被検体をヘリ
   カルスキャンするステップと、 並列な投影の組を定式化している前記投影データの共役
   サンプルの組を決定するステップと、 前記共役サンプルを用いて被検体の画像の組を再構成す
   るステップと、を含む方法。
2. 【請求項２】 共役サンプルを用いて被検体（２２）の
   画像の組を再構成する前記ステップが、共役サンプルを
   用いて前記並列な投影に重み付けするステップと、前記
   重み付けした並列投影を用いて画像の組を再構成するス
   テップとを含む、請求項１に記載の方法。
3. 【請求項３】 前記マルチスライス型コンピュータ断層
   イメージング・システム（１０）が、投影データを収集
   するように構成した検出器素子（２０）からなる複数の
   並列な横列を有する検出器（１８）と、スキャン対象の
   被検体（２２）を透過して検出器に向かう等分線束（５
   ０）を含むＸ線ビーム（１６）を投射するように構成し
   たＸ線源（１４）と、を備えており、 並列な投影の組を定式化するために投影データの共役サ
   ンプルの組を決定する前記ステップが、β_k−γ（ここ
   で、β_kは検出器横列ｋが再構成面と交差する投影角
   度）により定式化される領域境界を設定するステップを
   含む、請求項１に記載の方法。
4. 【請求項４】 並列な投影の組から被検体の画像の組を
   再構成する前記ステップが、前記領域境界により規定さ
   れる領域対を補間し再構成面（ＰＯＲ）における投影を
   生成させるステップを含む、請求項３に記載の方法。
5. 【請求項５】 並列な投影の組から被検体（２２）の画
   像の組を再構成する前記ステップが、投影角度βの連続
   した関数として決定される重み付け関数を、再構成しよ
   うとする各画像スライスごとに再構成面における投影に
   対して適用するステップを含む、請求項４に記載の方
   法。
6. 【請求項６】 投影データを収集するためにマルチスラ
   イス型コンピュータ断層イメージング・システム（１
   ０）により被検体（２２）をヘリカルスキャンする前記
   ステップが、６：１を超えるヘリカルピッチで被検体を
   スキャンするステップを含む、請求項５に記載の方法。
7. 【請求項７】 投影データを収集するためにマルチスラ
   イス型コンピュータ断層イメージング・システム（１
   ０）により被検体（２２）をヘリカルスキャンする前記
   ステップが、８：１のヘリカルピッチで被検体をスキャ
   ンするステップを含む、請求項６に記載の方法。
8. 【請求項８】 投影データを収集するためにマルチスラ
   イス型コンピュータ断層イメージング・システム（１
   ０）により被検体（２２）をヘリカルスキャンする前記
   ステップが、４枚の画像スライスを表す投影データを収
   集するようにコンピュータ断層イメージング・システム
   を動作させるステップを含むと共に、並列な投影の組か
   ら被検体の画像の組を再構成する前記ステップが４枚の
   画像を再構成するステップを含む、請求項７に記載の方
   法。
9. 【請求項９】 投影データを収集するためにマルチスラ
   イス型コンピュータ断層イメージング・システム（１
   ０）により被検体（２２）をヘリカルスキャンする前記
   ステップが、４枚の画像スライスを表す投影データを収
   集するようにコンピュータ断層イメージング・システム
   を動作させるステップを含んでおり、 投影角度βの連続した関数として決定される重み付け関
   数を再構成しようとする各画像スライスごとに再構成面
   における投影に対して適用する前記ステップが、 ｗ_i（β，γ）は検出器横列ｉに適用する投影重み付け
   関数である、 γは検出器角度である、 β_iは検出器横列ｉの等分線束（５０）が再構成面と交
   差する投影角度である、 β’_i＝β_i−γは、当該サンプルの投影角度β_iに対応
   した並列な線束サンプルの角度である、並びに、 β’_i+＝β’_i＋π及びβ’_i-＝β’_i−πである、とし
   て、 ｗ₁（β，γ）＝ （β−β’_4-）／（β’₁−β’_4-） （β’_4-≦β＜β’₁の場合） （β−β’₂）／（β’₁−β’₂） （β’₁≦β＜β’₂の場合） ０ （上記以外の場合） ｗ₂（β，γ）＝ （β−β’₁）／（β’₂−β’₁） （β’₁≦β＜β’₂の場合） （β−β’₃）／（β’₂−β’₃） （β’₂≦β＜β’₃の場合） ０ （上記以外の場合） ｗ₃（β，γ）＝ （β−β’₂）／（β’₃−β’₂） （β’₂≦β＜β’₃の場合） （β−β’₄）／（β’₃−β’₄） （β’₃≦β＜β’₄の場合） ０ （上記以外の場合） ｗ₄（β，γ）＝ （β−β’₃）／（β’₄−β’₃） （β’₃≦β＜β’₄の場合） （β−β’₁₊）／（β’₄−β’₁₊） （β’₄≦β＜β’₁₊の場合） ０ （上記以外の場合） で表される重み付け関数を適用するステップを含む、請
   求項４に記載の方法。
10. 【請求項１０】 投影データを収集するためにマルチス
    ライス型コンピュータ断層イメージング・システム（１
    ０）により被検体（２２）をヘリカルスキャンする前記
    ステップが、６：１を超えるヘリカルピッチで被検体を
    スキャンするステップを含む、請求項９に記載の方法。
11. 【請求項１１】 投影データを収集するためにマルチス
    ライス型コンピュータ断層イメージング・システム（１
    ０）により被検体（２２）をヘリカルスキャンする前記
    ステップが、８：１のヘリカルピッチで被検体をスキャ
    ンするステップを含む、請求項１０に記載の方法。
12. 【請求項１２】投影データを収集するために被検体（２
    ２）をヘリカルスキャンすること、 並列な投影の組を定式化している前記投影データの共役
    サンプルの組を決定すること、 前記共役サンプルを用いて被検体の画像の組を再構成す
    ること、 を行うように構成されているマルチスライス型コンピュ
    ータ断層システム（１０）。
13. 【請求項１３】 共役サンプルを用いて被検体（２２）
    の画像の組を再構成するために、共役サンプルを用いて
    前記並列な投影に重み付けすること、並びに該重み付け
    した並列投影を用いて画像の組を再構成すること、を行
    うように構成されている請求項１２に記載のシステム
    （１０）。
14. 【請求項１４】 投影データを収集するように構成した
    検出器素子（２０）からなる複数の並列な横列を有する
    検出器（１８）と、スキャン対象の被検体（２２）を透
    過して検出器に向かう等分線束（５０）を含むＸ線ビー
    ム（１６）を投射するように構成したＸ線源（１４）
    と、を備えると共に、 並列な投影の組を定式化している前記投影データの共役
    サンプルの組を決定するために、β_k−γ（ここで、β_k
    は検出器横列ｋが再構成面と交差する投影角度）により
    定式化される領域境界の組を決定するように構成されて
    いる、請求項１２に記載のシステム（１０）。
15. 【請求項１５】 並列な投影の組から被検体（２２）の
    画像の組を再構成するために、前記領域境界により規定
    される領域対を補間して再構成面（ＰＯＲ）における投
    影を生成するように構成されている、請求項１４に記載
    のシステム（１０）。
16. 【請求項１６】 並列な投影の組から被検体（２２）の
    画像の組を再構成するために、投影角度βの連続した関
    数として決定される重み付け関数を、再構成しようとす
    る各画像スライスごとに再構成面における投影に対して
    適用するように構成されている、請求項１５に記載のシ
    ステム（１０）。
17. 【請求項１７】 被検体（２２）を６：１を超えるヘリ
    カルピッチでヘリカルスキャンするように構成した請求
    項１６に記載のシステム（１０）。
18. 【請求項１８】 被検体（２２）を８：１のヘリカルピ
    ッチでヘリカルスキャンするように構成した請求項１７
    に記載のシステム（１０）。
19. 【請求項１９】 前記システムを投影データを収集する
    ために被検体（２２）をヘリカルスキャンするように構
    成させることが、前記システムを４枚の画像スライスを
    表す投影データを収集するように構成させることを含む
    と共に、前記システムを並列な投影の組から被検体の画
    像の組を再構成するように構成させることが、前記シス
    テムを４枚の画像を再構成するように構成させることを
    含む、請求項１８に記載のシステム（１０）。
20. 【請求項２０】 前記システムを被検体（２２）のヘリ
    カルスキャンをするように構成させることが、前記シス
    テムを４枚の画像スライスを表す投影データを収集する
    ように構成させることを含むと共に、 前記システムを、投影角度βの連続した関数として決定
    される重み付け関数を、再構成しようとする各画像スラ
    イスごとに再構成面における投影に対して適用するよう
    に構成させることが、前記システムを、 ｗ_i（β，γ）は検出器横列ｉに適用する投影重み付け
    関数である、 γは検出器角度である、 β_iは検出器横列ｉの等分線束（５０）が再構成面と交
    差する投影角度である、 β’_i＝β_i−γは、当該サンプルの投影角度β_iに対応
    した並列な線束サンプルの角度である、並びに、 β’_i+＝β’_i＋π及びβ’_i-＝β’_i−πである、とし
    て、 ｗ₁（β，γ）＝ （β−β’_4-）／（β’₁−β’_4-） （β’_4-≦β＜β’₁の場合） （β−β’₂）／（β’₁−β’₂） （β’₁≦β＜β’₂の場合） ０ （上記以外の場合） ｗ₂（β，γ）＝ （β−β’₁）／（β’₂−β’₁） （β’₁≦β＜β’₂の場合） （β−β’₃）／（β’₂−β’₃） （β’₂≦β＜β’₃の場合） ０ （上記以外の場合） ｗ₃（β，γ）＝ （β−β’₂）／（β’₃−β’₂） （β’₂≦β＜β’₃の場合） （β−β’₄）／（β’₃−β’₄） （β’₃≦β＜β’₄の場合） ０ （上記以外の場合） ｗ₄（β，γ）＝ （β−β’₃）／（β’₄−β’₃） （β’₃≦β＜β’₄の場合） （β−β’₁₊）／（β’₄−β’₁₊） （β’₄≦β＜β’₁₊の場合） ０ （上記以外の場合） で表される重み付け関数を適用するように構成させるこ
    とを含む、請求項１５に記載のシステム（１０）。
21. 【請求項２１】 被検体（２２）を６：１を超えるヘリ
    カルピッチでスキャンするように構成した請求項２０に
    記載のシステム（１０）。
22. 【請求項２２】 被検体（２２）を８：１のヘリカルピ
    ッチでスキャンするように構成した請求項２１に記載の
    システム（１０）。