JP2002150593A - ホログラムレーザユニットおよびそれを用いた光ピックアップ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ２つの異なる波長の光源を有し、確実に信号
を検出することのできるホログラムレーザと、そのよう
なホログラムレーザを用いた光ピックアップとを提供す
る。 【解決手段】 ホログラムレーザは、発光波長６５０ｎ
ｍの赤色光を出射する第１の半導体レーザ素子１と、発
光波長７８０ｎｍの赤外光を出射する第２の半導体レー
ザ素子２との２つの半導体レーザ素子と、光ディスク
（図示せず）において反射して戻ってきたレーザ光を所
定の方向に回折するための複数の小間格子からなるホロ
グラムが形成されたホログラム素子９０と、その回折し
たレーザ光を受光する信号検出用フォトダイオード３と
を備えている。これら２つの半導体レーザ素子１、２と
信号検出用フォトダイオード３は放熱板に搭載されて、
１つのパッケージに収められている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はホログラムレーザユ
ニットおよびそれを用いた光ピックアップ装置に関し、
特に、ＣＤ、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ、ＤＶＤ−Ｒ等の光ディ
スクの信号読取り用光源として少なくとも異なる２つの
波長を有するホログラムレーザユニットと、そのような
ホログラムレーザユニットを用いた光ピックアップ装置
に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、ＣＤ（Compact Disk）ファミリー
と呼ばれる波長７８０ｎｍのレーザ光を用いて信号の読
み書きが行われる光ディスクが使用されてきた。近年、
より情報記憶容量の大きいＤＶＤ（Digital Versatile
Disk）ファミリーと呼ばれる光ディスクが使用されるよ
うになってきている。ＤＶＤファミリーでは、信号の読
み書きに波長６３０〜６９０ｎｍの赤色レーザ光が用い
られている。

【０００３】このため、光ディスク装置としては、ＣＤ
ファミリーの光ディスクとＤＶＤファミリーの光ディス
クとの異なる種類の光ディスクに対して情報を読込んだ
り書き込んだりすることが必要とされる。

【０００４】このような、種類の異なる光ディスクに対
して信号を記録したり再生したりする光ディスク装置と
しては、発振波長の異なる複数の半導体レーザを光源と
して用いた光ピックアップを用いる必要がある。

【０００５】そのような光ピックアップの一つのとし
て、一つの光ピックアップにて異なる種類の光ディスク
に対して信号の記録・再生を行なうことが可能な光ディ
スク装置について説明する。図１９に示すように、光ピ
ックアップ１００として、異なる２つの波長の光を発す
る半導体レーザを１つのパッケージに収めた２波長レー
ザ１１０と呼ばれる光源が用いられている。２波長レー
ザ１１０においては、それぞれ波長の異なる２つのレー
ザ光の光軸は略平行であり、その光軸間距離は約１００
μｍである。

【０００６】また、光ピックアップ１００は回折格子１
９０を備えている。回折格子１９０は、一方のレーザ光
を０次光および±１次光の３つの光に分離するための光
学素子である。この回折格子１９０により、３ビーム法
によるトラック誤差信号の検出を行なうことができる。

【０００７】これらの他、光ピックアップ１００は、光
軸の異なる２つのレーザ光の光軸を一致させるための光
軸補正板１２０、２波長レーザ１１０から出射する光を
平行光に変換するコリメートレンズ１３０、光ディスク
１６０の情報記録面１６１に対して、平行に出射された
２つのレーザ光を光ディスク１６０の情報記録面１６１
に対して垂直方向に曲げるための光軸変換ミラー１４
０、レーザ光を情報記録面１６１に集光するための対物
レンズ１５０、光ディスク１６０で反射したレーザ光を
１つの信号検出用フォトダイオード１８０に入射させる
ためのハーフミラー１７０等の光学部品を備えている。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】上述したように、２波
長レーザ１１０を用いた光ディスク装置の光ピックアッ
プ１００では、光源として２つの異なる波長の光を出射
する半導体レーザを用いているため、たとえば、図２０
に示すような、１つの波長の光を出射する半導体レーザ
２１１とホログラム素子２９１とを含む通常の光ピック
アップ２００と比較すると、この光ピックアップ１００
では、光軸補正板１２０、ハーフミラー１７０等の光学
部品が余分に必要になる。

【０００９】なお、通常の光ピックアップ２００におい
ても、２波長レーザを用いた光ピックアップ１００と同
様に、コリメートレンズ２３０、光軸変換ミラー２４０
および対物レンズ２５０が設けられている。

【００１０】このように、２波長レーザ１１０を用いた
光ピックアップ１００では、光学部品の点数が通常の光
ピックアップ２００に比べて増えるために、調整すべき
光学素子が増加する。単純に１つの光学素子が増加する
だけで、並進および回転方向の６つの方向の調整や部品
精度の向上が必要とされる。さらに、反射面や透過面が
増えるために、光信号の分岐損失や散乱損失が増えるこ
とになる。

【００１１】また、図２０に示す通常の光ピックアップ
２００では、半導体レーザ、信号検出用フォトダイオー
ドおよびホログラム素子を１つのパッケージに収納した
ホログラムレーザが適用されているのに対して、２波長
レーザを用いた光ピックアップでは、図１９に示すよう
に、たとえば２波長レーザ１１０と信号検出用フォトダ
イオード１８０とが別体である。そのため、２波長レー
ザ１１０を用いた光ピックアップ１００では、光ピック
アップ１００そのものが通常の光ピックアップ２００と
比べて大きくなってしまう。

【００１２】このような問題に対して、２波長レーザ１
１０における光軸間の距離ｄを縮めるという手法があ
る。光軸間距離ｄが１００μｍ程度より大きい場合に
は、光軸補正板１２０を用いないとレーザ光を光ディス
ク１６０の情報記録面１６１上に十分小さいスポットに
なるまで集光することができなくなる。

【００１３】一方、光軸間距離ｄが５０μｍ程度よりも
小さい場合には、光軸補正板１２０を用いることなくレ
ーザ光を光ディスク１６０の情報記録面１６１上に十分
に小さいスポットになるまで集光することができる。

【００１４】ところが、光軸間距離ｄをより短くして
も、２つの異なる位置から出射されたレーザ光を光ディ
スク１６０に照射し、反射したレーザ光を同一の信号検
出用フォトダイオード１８０に導くには、各光学部品に
要求される組立精度が非常に高くなってしまうという問
題があった。

【００１５】特に、信号検出用フォトダイオード１８０
のうち焦点誤差検出用フォトダイオードに入射するレー
ザ光においては、最も重要な情報である光ディスクに記
録されている信号が重畳されている。このため、焦点誤
差信号検出用フォトダイオードでは、レーザ光が入射す
る位置に高い精度が要求される。

【００１６】焦点誤差検出用フォトダイオードの受光面
積を比較的大きくして、２つの異なる位置から出射され
たレーザ光を同一の焦点誤差信号検出用フォトダイオー
ドの受光部内の異なる位置に戻そうとすると、受光面積
が大きくなることで、焦点誤差信号検出用フォトダイオ
ードにおけるｐｎ接合の容量が増加することになる。

【００１７】上記のように焦点誤差信号検出用フォトダ
イオードに入射するレーザ光には、光ディスクに記録さ
れた情報信号が重畳されている。情報信号の周波数成分
は、光ピックアップの集光レンズの位置制御に用いられ
る焦点誤差信号やトラック誤差信号に比べて高い。

【００１８】ところが、焦点誤差信号検出用フォトダイ
オードの容量が大きくなると、焦点誤差信号検出用フォ
トダイオードにおける容量と抵抗との積に反比例した応
答関数となって、周波数の高い信号を受けた場合にこれ
に応答することができず、情報信号を確実に再生するこ
とができなくなるという問題があった。

【００１９】また、焦点誤差信号を検出するためには、
レーザ光を焦点誤差信号検出用フォトダイオードの分割
線上に集光させる必要がある。しかしながら、この分割
線の幅は通常５μｍ程度しかないため、焦点誤差検出用
フォトダイオードの受光面積を大きくしようとしても、
組立て精度をそれに合わせて低くすることはできなかっ
た。

【００２０】本発明は、上記問題点を解決するためにな
されたものであり、１つの目的は２つの異なる波長の光
源を有し、確実に信号を検出することのできるホログラ
ムレーザユニットを提供することであり、他の目的はそ
のようなホログラムレーザユニットを用いた光ピックア
ップを提供することである。

【００２１】

【課題を解決するための手段】本発明の１つの局面にお
けるホログラムレーザユニットの第１のものは、光源部
と、ホログラム素子と、受光部とを有している。光源部
は、互いに波長の異なる光を発光する第１光源および第
２光源を含んでいる。ホログラム素子は、光源部から光
ディスクに向かって照射されて反射した光を回折するた
めのホログラムが形成されている。受光部はそのホログ
ラムによって回折された光を受光する。そして、この受
光部は、第１光源に基づく回折光を受光するための第１
受光部と第２光源に基づく回折光を受光するための第２
受光部とを備えている。

【００２２】このホログラムレーザユニットによれば、
光源部の第１光源に基づく回折光が第１受光部によって
受光され、第２光源に基づく回折光が第２受光部によっ
て受光されることになり、従来のホログラムレーザユニ
ットと比較すると、付加的な光学部品を設ける必要がな
く、また、受光部の領域を必要以上に大きくすることな
く、そして、光学系の調整が複雑になったり組立精度が
高くなることなく、種類の異なる光学メディアに対し
て、回折光を確実に受光して後述する所定の信号を確実
に検出することができる。

【００２３】また、第１受光部は、第１光源に基づく光
学系の焦点を合わせるための信号を検出する第１焦点誤
差信号検出用受光部を含み、第２受光部は、第２光源に
基づく光学系の焦点を合わせるための信号を検出する第
２焦点誤差信号検出用受光部を含み、第１焦点誤差検出
用受光部は、一方向に延びてその領域を少なくとも２つ
の領域に分ける第１分割領域を含み、第２焦点誤差検出
用受光部は、一方向に延びてその領域を少なくとも２つ
の領域に分ける第２分割領域を含んでいることが好まし
い。

【００２４】この場合には、第１分割領域を挟んでその
両側にそれぞれ位置する第１焦点誤差検出用受光部の部
分に落射する回折光を検出することで、第１の光源に基
づく光学系の焦点が調整され、第２分割領域を挟んでそ
の両側にそれぞれ位置する第２焦点誤差検出用受光部に
落射する回折光を検出することで、第２の光源に基づく
光学系の焦点が調整される。

【００２５】さらに、第１受光部および第２受光部は、
光学ディスクに記録された情報を検出するための情報信
号検出用受光部と、光学ディスクと光学系との相対的な
位置関係を制御するための信号を検出するトラック誤差
信号検出用受光部とを含んでいることが好ましい。

【００２６】これにより、光学ディスクと光学系との相
対的な位置関係が最適に配置されて、光学ディスクに記
録された情報が確実に得られる。

【００２７】また、第１焦点誤差検出用受光部と第２焦
点誤差検出用受光部とは離間され、第１分割領域が延び
る方向の長さと第２分割領域が延びる方向の長さとは実
質的に同じ長さの分割領域長を有し、その分割領域長
は、第１分割領域が延びる方向に沿って第１焦点誤差検
出用受光部を２等分する位置と第２分割領域が延びる方
向に沿って第２焦点誤差検出用受光部を２等分する位置
との距離よりも短いことが好ましい。

【００２８】この場合には、第１焦点誤差検出用受光部
および第２焦点誤差検出用受光部のそれぞれの幅（分割
領域が延びる方向と直交する方向）を十分確保すること
ができるとともに、第１焦点誤差検出用受光部と第２焦
点誤差検出用受光部とが重なるのを防止することができ
る。

【００２９】さらに、光源部において、第１光源の発光
点と第２光源の発光点とは所定の発光点間隔を隔てら
れ、第１分割領域が延びる方向と第２分割領域が延びる
方向とが略平行になるように第１分割領域と第２分割領
域とが配置され、その延びる方向と略直交する方向に沿
った第１分割領域と第２分割領域との間隔は所定の発光
点間隔よりも短いことが好ましい。

【００３０】この場合には、異なる位置にある第１の光
源と第２の光源とに基づく回折光を確実に受光して、そ
れぞれの光源に対する光学系の焦点を正確に合わせるこ
とができる。

【００３１】そして、光源部の波長変動に伴う受光部に
おける回折光の落射位置の変動に対して、ホログラム
は、第１分割領域および第２分割領域がそれぞれ延びる
方向に沿って回折光の光軸が変動するようにホログラム
素子に形成されていることが好ましい。

【００３２】この場合には、焦点誤差信号を検出する際
に、光源部の波長の変動に伴う要因を排除することがで
きる。

【００３３】また、ホログラム素子は、ホログラムが形
成されている面とは異なる面に形成された、トラック誤
差信号検出を行うための３ビームを発生させる回折格子
を含み、その回折格子は回折光が透過しない位置に配置
されていることが好ましい。

【００３４】この場合には、回折格子を透過することに
より回折しない主ビームと回折（±１次）した副ビーム
とにより、光学系と光学ディスクとの相対的な位置関係
が調整される。

【００３５】本発明の第２の局面におけるホログラムレ
ーザユニットの第２のものは、光源部と、ホログラム素
子と、複数の信号検出用受光部とを備えている。光源部
は、波長の異なる少なくとも第１光源および第２光源を
含んでいる。ホログラム素子は、光源部から光学ディス
クに向かって照射されて反射した光を回折するためのホ
ログラムが形成されている。複数の信号検出用受光部
は、ホログラムによって回折された回折光を受光して、
所定の信号を検出する。そして、複数の信号検出用受光
部は、所定の信号に対応して光学ディスクで反射した光
がホログラムによって回折される方向に沿って配置さ
れ、複数の信号検出用受光部は、回折光のうち第１光源
に基づく回折光と第２光源に基づく回折光との両回折光
を受光する受光部を含んでいる。

【００３６】このホログラムレーザユニットによれば、
光源部の第１光源に基づく回折光と第２光源に基づく回
折光が、複数の信号検出用受光部によって受光されるこ
とになり、従来のホログラムと比較すると、付加的な光
学部品等を設けることなく、種類の異なる光学メディア
に対して、回折光を確実に受光して所定の信号を検出す
ることができ、しかも、その信号検出用受光部が第１光
源に基づく回折光と第２光源に基づく回折光との両方を
受光する受光部を有していることで、受光部の形成領域
を削減することができ、ホログラムレーザユニットを小
型化できるとともに、受光部の生産性を向上することが
できる。

【００３７】そのような所定の信号としては、具体的に
は、光学系の焦点を合わせるための焦点誤差信号と、光
学ディスクに記録された情報を含む情報信号と、光学デ
ィスクと光学系との相対的な位置関係を制御するための
トラック誤差信号とがある。

【００３８】本発明の第２の局面における光ピックアッ
プ装置は、上記ホログラムレーザユニットを有する光ピ
ックアップ装置である。

【００３９】この光ピックアップ装置によれば、上述し
たホログラムレーザユニットを有していることで、種類
の異なる光学メディアに対して、回折光を受光して所定
の信号を確実に検出することができる。

【００４０】

【発明の実施の形態】実施の形態１ 実施の形態１に係るホログラムレーザについて説明す
る。図１に示すように、本発明に係るホログラムレーザ
は、光源として、たとえば発光波長６５０ｎｍの赤色光
を出射する第１の半導体レーザ素子１と、発光波長７８
０ｎｍの赤外光を出射する第２の半導体レーザ素子２と
の２つの半導体レーザ素子と、光ディスク（図示せず）
において反射して戻ってきたレーザ光を所定の方向に回
折するための複数の小間格子からなるホログラムが形成
されたホログラム素子９０と、その回折したレーザ光を
受光する信号検出用フォトダイオード３とを備え、これ
らが１つのパッケージに収められたユニットになってい
る。

【００４１】これら２つの半導体レーザ素子１、２と信
号検出用フォトダイオード３は放熱板（図示せず）に搭
載されて、１つのパッケージに収められている。第１の
半導体レーザ素子１、第２の半導体レーザ素子２および
信号検出用フォトダイオード３はキャップ（図示せず）
で封止され、レーザ光はキャップガラス（図示せず）を
透過させることによりホログラムレーザの外へ出射され
る。

【００４２】なお、ホログラム素子をキャップガラスの
代わりに用いることも可能であるが、キャップガラスを
設けておくことで、ホログラムの調整を容易に行うこと
ができる。また、第１の半導体レーザ１、第２の半導体
レーザ２および信号検出用フォトダイオード３の不具合
点を発見できるため、材料や組み立ての手間の無駄をな
くすことができる。

【００４３】また、ホログラム素子９０とキャップガラ
スとを設ける場合には、ホログラム素子９０とキャップ
ガラスとの間において結露が発生しないように、その部
分を乾燥空気等で満たすか、あるいは、外部と通気でき
るようにしておくことが望ましい。

【００４４】図２に示すように、信号検出用フォトダイ
オード３は、複数の受光部に分割されている。このう
ち、受光部３ａ、３ｂ、３ｅ、３ｆが第１組の信号検出
用フォトダイオードであり、受光部３ｃ、３ｄ、３ｅ、
３ｆが第２組の信号検出用フォトダイオードである。

【００４５】この受光部についてもう少し詳しく説明す
る。まず、第１の半導体レーザ１から出射されるレーザ
光の場合について説明する。第１の半導体レーザ１から
出射したレーザ光は光ディスクに照射され反射して戻っ
てくる。戻ってくるレーザ光はホログラム９２を透過す
る。このとき、ホログラム９２の小間格子９２ａによっ
て回折されたレーザ光は、第１組の信号検出用フォトダ
イオードのうちの焦点誤差信号検出用フォトダイオード
をなす受光部３ａ、３ｂによって受光される。

【００４６】このとき、フォーカスが合っているときに
はレーザ光は受光部３ａ、３ｂを分ける分割領域（以
下、単に「分割線」と記す。）６ａ上に入射する。一
方、フォーカスがずれている場合には、いずれか一方の
受光部３ａ、３ｂに入射することになる。

【００４７】分割線とは、焦点誤差信号を検出するため
に必要な領域のことをいい、図３に示すように、フォト
ダイオードとしては分割線を挟んで両側に位置する受光
部に基づく感度特性（曲線）を有することになる。

【００４８】したがって、第１組の信号検出用のフォト
ダイオードのうち、受光部３ａ、３ｂによって受光され
るレーザ光に基づく出力信号の強度をそれぞれ強度Ｓａ
および強度Ｓｂとすると、フォーカス誤差信号は強度Ｓ
ａ−強度Ｓｂとして検出される。また、情報信号は強度
Ｓａ＋強度Ｓｂとして検出される。

【００４９】一方、トラック誤差信号は３ビーム法を用
いて検出される。第１の半導体レーザ１から出射したレ
ーザ光は回折格子（図示せず）により、０次回折光の主
ビームと±１次回折光の２つの副ビームとに分割され
る。この回折格子は、ホログラムが形成されている面と
は異なる面に形成され、しかも、回折光が透過しない位
置に配置されていることが好ましい。なお、０次回折光
は実際には回折をしていない。

【００５０】光ディスクで反射した副ビームは、ホログ
ラム９２の小間格子９２ｂ、９２ｃによって回折されて
第１組の信号検出フォトダイオードのうちの受光部３
ｅ、３ｆに入射する。この受光部３ｅ、３ｆに入射した
回折光による出力信号の強度をそれぞれ強度Ｓｅ、強度
Ｓｆとすると、トラック誤差は強度Ｓｅ、強度Ｓｆの位
相差を考慮した差信号として検出される。

【００５１】上記のように、焦点誤差信号検出用フォト
ダイオードは、幅約５μｍの分割線６ａにより分割され
た２つの受光部３ａ、３ｂから構成される。フォーカス
誤差を確実に検出するために光ディスクで反射した光を
正確に分割線６ａ上に入射させる必要がある。そのた
め、仮に半導体レーザの波長が変化した場合でも、回折
光が分割線６ａ上に入射するように、分割線６ａは波長
が連続的に変化した場合において回折光がフォトダイオ
ード上で移動する方向と同じ方向に沿って形成されてい
る。

【００５２】トラック誤差信号検出用フォトダイオード
をなす受光部３ｅ、３ｆは、十分に離間されている。こ
のホログラムレーザでは、ＤＰＤ（Differential Phase
Detection）法によりトラック誤差信号を検出するた
め、フォトダイオードの出力信号の強度の位相差も考慮
した差信号として検出される。光ディスクで反射したレ
ーザ光がフォトダイオードの受光部３ｅ、３ｆのいずれ
かに入射すれば、トラック誤差信号を検出することがで
きる。

【００５３】次に、第２の半導体レーザ２から出射され
るレーザ光の場合について説明する。図４に示すよう
に、第２の半導体レーザ２から出射され、光ディスクに
照射され反射して戻ってくるレーザ光のうち、ホログラ
ム９２の小間格子９２ａによって回折されたレーザ光
は、第２組の信号検出用フォトダイオードのうちの焦点
誤差信号検出用フォトダイオードをなす受光部３ｃ、３
ｄによって受光される。

【００５４】このとき、フォーカスが合っているときに
はレーザ光は受光部３ｃ、３ｄを分ける分割線６ｂ上に
入射する。一方、フォーカスがずれている場合には、い
ずれか一方の受光部３ｃ、３ｄに入射することになる。

【００５５】したがって、第２組の信号検出用のフォト
ダイオードのうち、受光部３ｃ、３ｄによって受光され
るレーザ光に基づく出力信号の強度をそれぞれ強度Ｓｃ
および強度Ｓｄとすると、情報信号は強度Ｓｃ＋強度Ｓ
ｄとして検出される。また、フォーカス誤差信号は強度
Ｓｃ−強度Ｓｄとして検出される。

【００５６】一方、トラック誤差信号は第１の半導体レ
ーザ１の場合と同様に、３ビーム法を用いて検出され
る。第２の半導体レーザ２から出射したレーザ光は回折
格子（図示せず）により、０次回折光の主ビームと±１
次回折光の２つの副ビームとに分割される。

【００５７】光ディスクで反射した副ビームは、ホログ
ラム９２の小間格子９２ｂ、９２ｃによって回折されて
第２組の信号検出フォトダイオードのうちの受光部３
ｅ、３ｆに入射する。この受光部３ｅ、３ｆに入射した
回折光による出力信号の強度をそれぞれ強度Ｓｅ、強度
Ｓｆとすると、トラック誤差は強度Ｓｅ、強度Ｓｆの位
相差を考慮した差信号として検出される。

【００５８】第１の半導体レーザ１による回折光と第２
の半導体レーザ２による回折光とは同じホログラム９２
によって回折されているので、回折角度が異なるだけで
いずれも同じ方向に回折する。そのため、２組の焦点誤
差検出用フォトダイオードをなす受光部３ａ、３ｂの分
割線６ａと受光部３ｅ、３ｆの分割線６ｂとは互いに平
行になるように配置されている。

【００５９】しかし、これらの分割線６ａ、６ｂは同じ
直線上に位置している必要はなく、、図５および図６に
示すように、２つの分割線６ａ、６ｂ間の距離Ｌｖが２
つの半導体レーザ１、２の発光点Ｘ１、Ｘ２間の距離Ｄ
よりも短かければよい。これは、発光点Ｘ１、Ｘ２間の
分割線６ａ、６ｂが延びる方向と略直交する方向に沿っ
た距離は、距離Ｄよりも長くなることはないからであ
る。

【００６０】なお、図５および図６では、半導体レーザ
１、２の出光面を光学ディスク（図示せず）の側に向け
出射したレーザ光がホログラム９２に略垂直に入射する
場合を示している。この他に、図７に示すように、半導
体レーザの出光面を受光素子の側に向け出射したレーザ
光を光軸変換ミラーによってホログラムに略垂直に入射
させるようにしてもよい。

【００６１】この場合では、半導体レーザと光軸変換ミ
ラー間の距離と光軸変換ミラーとホログラム間の距離と
の和が、光軸変換ミラーがない場合における半導体レー
ザとホログラム間の距離に等しければよい。

【００６２】さらに、図５および図６では、半導体レー
ザの光軸を含み接合面と垂直な面（１点鎖線）が分割線
６ａ、６ｂを挟んで両側に位置する受光面と交差しない
ように半導体レーザとフォトダイオードの受光部が配置
されているが、その面が受光面と交差するように半導体
レーザとフォトダイオードの受光部とが配置されていて
もよい。

【００６３】焦点誤差検出用フォトダイオードの受光部
の分割線６ａ、６ｂ方向の長さＷｈは、半導体レーザの
波長の変動やホログラム素子の取付誤差などを考慮する
と、２００μｍ程度必要になる。半導体レーザの異なる
波長ごとに信号検出用フォトダイオードを設け、しか
も、それぞれの半導体レーザ光の回折光の落射位置が重
ならないようにするには、２つのフォトダイオードの中
心間の分割線６ａ、６ｂ方向の距離Ｌｈが上記長さＷｈ
より短いか、分割線６ａ、６ｂが延びる方向と直交する
方向に沿った距離Ｌｖが焦点誤差検出用フォトダイオー
ドの分割線６ａ、６ｂに垂直な方向に沿った長さＷｖよ
りも長いことが必要である。

【００６４】また、本ホログラムレーザでは、焦点誤差
検出用フォトダイオードの受光部が情報信号検出用フォ
トダイオードの受光部と兼ねているので、フォトダイオ
ードの受光部の面積を削減することができ、フォトダイ
オードにおけるｐｎ接合の容量が低減し、応答速度を向
上することができる。

【００６５】本ホログラムレーザでは、互いに異なる波
長のレーザ光をそれぞれ異なるフォトダイオードで受光
するため、半導体レーザの発光点の位置に合わせて個々
にフォトダイオードを設計することができ、任意の発光
点位置を有する２波長レーザにも適用することができ
る。

【００６６】次に、焦点誤差検出用フォトダイオードの
大きさと間隔の一例について具体的に説明する。

【００６７】図６に示すホログラム素子９０に形成され
たホログラム９２の格子ピッチをＡ、ホログラムを構成
する材料の屈折率をｎ、半導体レーザから出射されるレ
ーザ光の波長をλ１、λ２とすると、それぞれのレーザ
光がホログラム９２によりホログラム素子９０内におい
て回折される回折角度θ１、θ２は、θｍ＝ｓｉｎ
^-1（λｍ／ｎＡ）、ｍ＝１、２となる。そして、ホログ
ラム素子９０を出たところでは、回折角度θ１、θ２
は、θｍ＝ｓｉｎ^-1（λｍ／Ａ）、ｍ＝１、２となる。
このことは、図６に示すように、ホログラム９２による
回折点Ｙ１´、Ｙ２´が見かけ上信号検出用フォトダイ
オードの側に近づいたことになる（回折点Ｙ１、Ｙ
２）。

【００６８】信号検出用フォトダイオードの表面から見
かけ上の回折点Ｙ１、Ｙ２までの空気換算距離をｈ、そ
れぞれのレーザ光が信号検出用フォトダイオードに落射
する位置間の距離をＺとすると、 Ｚ＝Ｄ＋ＡＢＳ（ｈ・（ｔａｎθ１−ｔａｎθ２）） となる。なお、ＡＢＳは絶対値を表している。

【００６９】ホログラムの格子ピッチＡ、ホログラム素
子の屈折率ｎ、信号検出用フォトダイオードから見かけ
上の回折点までの空気換算距離ｈは、異なるレーザ光の
波長に対して同じ値として扱っても差し支えない。した
がって、それぞれのレーザ光の波長に対して、レーザ光
がフォトダイオード上に落射する位置間の距離Ｚは、半
導体レーザの発光点間距離Ｄと波長λｍによって決定さ
れることになる。

【００７０】半導体レーザの周辺の温度変化による波長
の変動は約１０ｎｍ程度であるので、温度変化に伴って
レーザ光がフォトダイオードの面に落射する位置も上記
計算式により求めることができる。

【００７１】したがって、半導体レーザの波長の変動に
対しても回折光の干渉を避けるためには、波長の長い方
のレーザ光の波長が短くなった場合にその回折光がフォ
トダイオードに落射する位置と、波長の短い方のレーザ
光の波長が長くなった場合にその回折光がフォトダイオ
ードに落射する位置とが重ならないように、２つの半導
体レーザの発光点間の距離Ｄと格子ピッチＡを決定すれ
ばよい。

【００７２】また、ホログラムによる回折角はレーザ光
の波長が長いほうが大きくなるので、それぞれのレーザ
光に対する回折光の干渉を避けるためには、波長の長い
ほうの半導体レーザを信号検出用フォトダイオードに近
い側に配置して距離Ｚをより大きくすることが望まし
い。

【００７３】このことについてより具体的に説明する。
２つのレーザ光の標準波長λ１、λ２をλ１＝６５０ｎ
ｍ、λ２＝７８０ｎｍ、２つの半導体レーザの発光点間
の距離Ｄを３０μｍ、信号検出用フォトダイオードから
見かけの回折点までの距離ｈを２ｍｍ、格子ピッチＡを
２μｍとすると、標準波長λ１のレーザ光の空気換算回
折角は約１９°となり、標準波長λ２のレーザ光の空気
換算回折角は約２３°となる。したがって、標準波長の
場合の落射位置間の距離Ｚは約５００μｍとなる。

【００７４】また、使用温度の変化に伴う半導体レーザ
の波長の変動幅は通常±２０ｎｍ程度であるので、それ
ぞれのレーザ光に対する回折光の信号検出用フォトダイ
オード上における位置（スポットの位置）の変動幅は±
２０μｍ程度と見積もられる。したがって、レーザ光の
波長の変動に伴ってそれぞれのスポットが重なり合うこ
とはない。

【００７５】なお、上記例では、波長の長い半導体レー
ザをフォトダイオードに近い側に配置した場合について
説明した。一方、波長の短い半導体レーザをフォトダイ
オードに近い側に配置させた場合では、落射位置間の距
離Ｚは、 Ｚ＝ＡＢＳ（ｈ・（ｔａｎθ１−ｔａｎθ２））−Ｄ となる。このような配置においても、レーザ光の波長の
変動に伴ってそれぞれのスポットが重なり合うことはな
い。

【００７６】また、図６では、半導体レーザよりもフォ
トダイオードの方がホログラムに近い側に配置されてい
るが、半導体レーザの方がフォトダイオードよりもホロ
グラムに近い側に配置されていてもよい。

【００７７】上記のように、第１組の信号検出用フォト
ダイオードの焦点誤差検出用受光部と第２組の信号検出
用フォトダイオードの焦点誤差検出用受光部において、
両者の中心間距離Ｌｈが５００μｍである。これより、
分割線６ａ、６ｂ方向の長さＷｈを２００μｍとする
と、２組の信号検出用フォトダイオードを１つの基板に
集積する場合には、基板の寸法としては７００μｍ程度
あればよいことになる。実際には信号処理回路も集積化
するため、フォトダイオードとしては２〜５ｍｍ角程度
のサイズの基板に収められることになる。

【００７８】次に、発光点の間隔が５０μｍ以下の半導
体レーザ３１の具体的な例を示す。まず、１つの基板に
２つの材料系の異なる半導体層を積層したモノリシック
２波長半導体レーザを図８に示す。

【００７９】図８に示すように、ｎ型ＧａＡｓ基板３１
ａ上に第１の半導体レーザとしてＧａＡｌＡｓ系半導体
レーザが形成されている。この半導体レーザは、ｎ型ク
ラッド層３１ｂ、ｐ型クラッド層３１ｃおよびこられの
界面に存在する発光層（発光点Ｂ）からなる。

【００８０】そして、ｎ型ＧａＡｓ基板３１ａ上に第２
の半導体レーザとしてＩｎＧａＡｌＰ系半導体レーザが
形成されている。この半導体レーザは、ｎ型クラッド層
３１ｄ、ｐ型クラッド層３１ｅおよびこられの界面に存
在する発光層（発光点Ａ）からなる。

【００８１】ｎ型ＧａＡｓ基板３１ａはいわゆるオフ基
板を用いるために、第１の半導体レーザを構成する層と
第２の半導体レーザを構成する層との界面が傾斜してい
る。この場合、２つの発光点Ａ、Ｂ間の距離を理屈上は
いくらでも短くすることができるが、実際には３０μｍ
程度が実用的な間隔である。

【００８２】次に、２つの半導体レーザ素子を同一導電
型半導体基板側の電極面で接続した２波長半導体レーザ
素子を図９に示す。図９に示すように、第１の半導体素
子としてＧａＡｌＡｓ系半導体レーザ３２１が形成され
ている。このＧａＡｌＡｓ系半導体レーザ３２１は、ｎ
型ＧａＡｓ基板３２１ａ上にｎ型クラッド層３２１ｂ、
ｐ型クラッド層３２１ｃおよびこられの界面に存在する
発光層（発光点Ｂ）からなる。

【００８３】そして、第２の半導体素子としてＩｎＧａ
ＡｌＰ系半導体レーザ３２２が形成されている。このＩ
ｎＧａＡｌＰ系半導体レーザ３２２は、ｎ型ＧａＡｓ基
板３２２ａ上にｎ型クラッド層３２２ｂ、ｐ型クラッド
層３２２ｃおよびこられの界面に存在する発光層（発光
点Ａ）からなる。

【００８４】ＧａＡｌＡｓ系半導体レーザ３２１のｐ側
電極面３２１ｄとＩｎＧａＡｌＰ系半導体レーザ３２２
のｐ側電極面３２２ｄとがロー材等により接続されてい
る。通常、ＧａＡｌＡｓ系半導体レーザ３２１の方がＩ
ｎＧａＡｌＰ系半導体レーザ３２２よりも温度特性が良
好なため、ＧａＡｌＡｓ系半導体レーザ３２１の共振器
方向の長さをより短くすることができる。これにより、
ｐ側電極としては、ＩｎＧａＡｌＰ系半導体レーザ３２
２のｐ側電極面３２２ｄを用いて外部回路と電気的に接
続することができる。

【００８５】ｐ側電極面３２１ｄ、３２２ｄから発光点
Ａまたは発光点Ｂまでの距離は１０μｍ程度なので、２
つの発光点Ａ、Ｂ間の距離を２０μｍ程度にすることが
可能である。

【００８６】これらの半導体レーザ３１を信号検出用フ
ォトダイオード３とともに、放熱台４に搭載した２つの
形態を図１０および図１１に示す。図１０に示す形態
は、前述した図２および図４に対応するものである。図
１１に示す形態は、図１０に示す半導体レーザ３１を略
９０°回転させたものである。この図１１に示された形
態では、図１２または図１３に示すように、それぞれの
半導体レーザから出射されたレーザ光の回折光は、図１
０に示す形態と同様にそれぞれ信号検出用フォトダイオ
ードの受光部にて受光される。

【００８７】このホログラムレーザによれば、互いに異
なる波長のレーザ光をそれぞれ異なるフォトダイオード
で受光し、各受光部の配置と発光点間の距離関係が所定
の関係を有していることで、種類の異なる光学メディア
に対して確実に信号を検出することができる。そして、
半導体レーザの発光点の位置に合わせて個々にフォトダ
イオードを設計することができるので、任意の発光点位
置を有する２波長レーザにも適用することができる。

【００８８】また、本ホログラムレーザでは、焦点誤差
検出用フォトダイオードの受光部が情報信号検出用フォ
トダイオードの受光部と兼ねているので、フォトダイオ
ードの受光部の面積を削減することができ、フォトダイ
オードにおけるｐｎ接合の容量が低減し、応答速度を向
上することができる。

【００８９】さらに、信号検出用フォトダイオード３を
なす受光部のうち、受光部３ａおよび受光部３ｃと受光
部３ｂおよび受光部３ｄとは受光するレーザ光の波長が
異なるだけで、機能は同じである。このため、受光部３
ａおよび受光部３ｃと受光部３ｂおよび受光部３ｄとを
それぞれ半導体基板上で金属薄膜により容量を増加させ
ることなく電気的に接続して、信号検出用フォトダイオ
ードと外部回路とを電気的に接続するための端子を削減
することができる。

【００９０】これにより、同一基板上に信号処理回路を
集積している場合には、回路要素を削減することができ
る。また、同一基板上に信号処理回路を集積していない
場合でも、外部の回路と電気的に接続するための端子の
数を減らすことができる。その結果、光ピックアップの
小型化を図ることが可能になる。

【００９１】実施の形態２ 実施の形態２に係るホログラムレーザとして、信号検出
用フォトダイオードの配置のバリエーションの一例につ
いて説明する。ホログラム素子に形成されたホログラム
の分割形状（小間格子の形状）は実施の形態１において
説明した図１に示す分割形状と同じであるが、小間格子
によってレーザ光が回折する方向が異なっている。

【００９２】この実施の形態では、第１の波長のレーザ
光（赤外光）に対して、トラック誤差信号検出は位相差
（ＤＰＤ）法を用い、第２の波長のレーザ光（赤外光）
に対して、トラック誤差信号検出は３ビーム法を用い
る。その信号検出用フォトダイオードの配置に対する第
１の半導体レーザによる回折光の光路を図１４に示し、
第２の半導体レーザによる回折光の光路を図１５に示
す。

【００９３】信号検出用フォトダイオードの受光部ｄ
８、ｄ９は、第１の波長のレーザ光に対しては焦点誤差
検出用である。このため、図１２に示された受光部ｄ
８、ｄ９を分ける分割線の位置は第１の半導体レーザの
レーザ光の光軸に対して精密に配置される必要がある。

【００９４】一方、受光部ｄ８、ｄ９は、図１５に示す
ように、第２の波長のレーザ光に対しては焦点誤差検出
用ではなく再生信号検出用である。このため、第２の半
導体レーザのレーザ光に対しては、受光部ｄ８、ｄ９を
分ける分割線の位置は第１の半導体レーザに対するほど
精密である必要はない。

【００９５】第２の半導体レーザのレーザ光の場合に
は、図１５に示された受光部ｄ１５、ｄ１６が焦点誤差
検出用となるため、受光部ｄ１５、ｄ１６を分ける分割
線の位置が第２の半導体レーザのレーザ光の光軸に対し
て精密に配置される必要がある。

【００９６】第１の波長のレーザ光に対するトラック誤
差信号は、ＤＰＤ法により図１４に示された受光部ｄ
２、ｄ５によって得られる。一方、第２の波長のレーザ
光に対するトラック誤差信号は、３ビーム法により図１
５に示された受光部ｄ７、ｄ１１、ｄ１４、ｄ１０、ｄ
１３、ｄ１７によって得られる。このホログラムレーザ
においては、図１５に示すように、レーザ光が回折する
方向に対して略直交する方向にも信号検出用フォトダイ
オードが配置されている。

【００９７】そのため、ホログラム素子のホログラムが
形成されている面とフォトダイオードとの空気換算距離
が短くなり、その結果、ホログラムの格子ピッチＡをよ
り大きく設定することができ、ホログラムの形成がより
容易になる。

【００９８】次に、信号検出用フォトダイオードの配置
のバリエーションの他の例について説明する。この変形
例に係る信号検出用フォトダイオードの配置に対する第
１の半導体レーザによる回折光の光路を図１６に示し、
第２の半導体レーザによる回折光の光路を図１７に示
す。

【００９９】この場合、第１の波長のレーザ光に対して
は図１６に示された信号検出用フォトダイオードの受光
部ｄ９、ｄ１０が焦点誤差検出用となり、第２の波長の
レーザ光に対しては図１７に示された信号検出用フォト
ダイオードの受光部ｄ５、ｄ６が焦点誤差検出用とな
る。

【０１００】特に、この信号検出用フォトダイオードの
配置では、第１の波長レーザ光および第２の波長のレー
ザ光の回折方向に沿って受光部を配置することで、受光
部の数を前述した一例の場合よりも減らすことができ
る。これにより、信号検出用のフォトダイオード全体の
面積を縮小することができ、信号検出用フォトダイオー
ドの生産性が向上するとともに、ホログラムレーザの小
型化も図ることができる。

【０１０１】実施の形態３ 実施の形態３として、上述したホログラムレーザを備え
た光ピックアップについて説明する。図１８に示すよう
に、光ピックアップ３００は、２波長レーザを含む本ホ
ログラムレーザ１２、コリメートレンズ３０、光軸変換
ミラー４０および対物レンズ５０を備えている。

【０１０２】ホログラムレーザ１２から出射されたレー
ザ光は、光学ディスク６０の面と略平行に進み、コリメ
ートレンズ３０により並行光とされ、光軸変換ミラー４
０によりその光軸が光学ディスク６０の面と略垂直にな
るように変換される。そして、対物レンズ５０によりレ
ーザ光が集光されて光学ディスクの情報記録面６１に照
射される。情報記録面６１で反射されたレーザ光は、実
施の形態１または２において説明したように、ホログラ
ムレーザ１２に装着されたホログラムによって回折さ
れ、所定のフォトダイオードによって受光信号化され
る。

【０１０３】本ホログラムレーザを用いることで、２つ
の波長の異なるレーザ光の発光点間の距離（光軸間の距
離）を５０μｍ以下とすることができ、図１９に示され
た従来の光ピックアップに装着されていた光軸補正板１
７０が不要になる。これにより、図２０に示された従来
の１つの半導体レーザを用いた光ピックアップと実質的
に同じ構成でもって、種類の異なる光学ディスクに情報
を書き込んだり情報を読み取ることができる光ピックア
ップが得られる。

【０１０４】また、半導体レーザから出射されるレーザ
光の進む方向が、まず光学ディスクの情報記録面と略平
行になるように半導体レーザが配置されていることで、
光ピックアップの薄型化を図ることができる。

【０１０５】上述した実施の形態においては、焦点誤差
信号検出用フォトダイオードとして、当該フォトダイオ
ード上で回折光をほぼ１点に集光させるナイフエッジ法
を用いた場合について説明した。この他に、複数の互い
に平行な分割線を有する焦点誤差信号検出用フォトダイ
オードを用いたスポットサイズ法（ＳＳＤ）を適用して
もよい。

【０１０６】また、互いに直交する分割線を有する焦点
誤差信号検出用フォトダイオードを用いた非点収差法な
どを適用してもよい。この場合には、一方の分割線が回
折方向と略平行になる。

【０１０７】さらに、トラック誤差信号の検出にＤＰＤ
法を用いた場合と３ビーム法を用いた場合について説明
したが、特に３ビーム法を用いた場合には、ホログラム
素子において、ホログラムが形成されている面とは異な
る面に、３ビームを形成するための回折格子を設ける必
要がある。

【０１０８】この回折格子は半導体レーザ素子に近い側
の面に設けることが望ましく、しかも、ホログラムで回
折された回折光が回折格子を透過しないようにホログラ
ム素子の厚さおよび回折角を設計することが望ましい。
これは、回折光には、光学ディスクに記録された情報信
号が含まれているため、この回折光が回折格子によって
乱されて信号の質が劣化するのを防ぐためである。

【０１０９】今回開示された実施の形態はすべての点で
例示であって、制限的なものではないと考えられるべき
である。本発明の範囲は上記の説明ではなくて特許請求
の範囲よって示され、特許請求の範囲と均等の意味およ
び範囲内でのすべての変更が含まれることが意図され
る。

【０１１０】

【発明の効果】本発明に係るホログラムレーザユニット
では、互いに異なる波長のレーザ光をそれぞれ異なるフ
ォトダイオードで受光し、各受光部の配置と発光点間の
距離関係が所定の関係を有していることで、種類の異な
る光学メディアに対して確実に信号を検出することがで
きる。そして、半導体レーザの発光点の位置に合わせて
個々にフォトダイオードを設計することができるので、
任意の発光点位置を有する２波長レーザにも適用するこ
とができる。

【０１１１】また、このホログラムレーザユニットで
は、焦点誤差検出用フォトダイオードの受光部が情報信
号検出用フォトダイオードの受光部と兼ねているので、
フォトダイオードの受光部の面積を削減することがで
き、フォトダイオードにおけるｐｎ接合の容量が低減
し、応答速度を向上することができる。

【０１１２】さらに、本発明に係る上記ホログラムレー
ザユニットを用いた光ピックアップ装置では、種類の異
なる光学メディアに対して、回折光を受光して所定の信
号を確実に検出することができるとともに、光ピックア
ップ装置の薄型化を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の実施の形態１に係るホログラムレー
ザの構造を示す斜視図である。

【図２】 同実施の形態において、回折光とフォトダイ
オードの配置を示す第１の斜視図である。

【図３】 同実施の形態において、分割線を有する受光
部の感度曲線を示す図である。

【図４】 同実施の形態において、回折光とフォトダイ
オードの配置を示す第２の斜視図である。

【図５】 同実施の形態において、受光部を含めた各部
の寸法関係を説明するための第１の図である。

【図６】 同実施の形態において、受光部を含めた各部
の寸法関係を説明するための第２の図である。

【図７】 同実施の形態において、半導体レーザの他の
配置を示す図である。

【図８】 同実施の形態において、ホログラムレーザに
用いられる半導体レーザを示す第１の斜視図である。

【図９】 同実施の形態において、ホログラムレーザに
用いられる半導体レーザを示す第２の斜視図である。

【図１０】 同実施の形態において、半導体レーザとフ
ォトダイオードとの配置を示す第１の図である。

【図１１】 同実施の形態において、半導体レーザとフ
ォトダイオードとの配置を示す第２の図である。

【図１２】 同実施の形態において、回折光とフォトダ
イオードの配置を示す第３の斜視図である。

【図１３】 同実施の形態において、回折光とフォトダ
イオードの配置を示す第４の斜視図である。

【図１４】 本発明の実施の形態２に係るホログラムレ
ーザにおける第１のフォトダイオードの受光部の配置に
対する回折光を示す第１の図である。

【図１５】 同実施の形態において、ホログラムレーザ
における第１のフォトダイオードの受光部の配置に対す
る回折光を示す第２の図である。

【図１６】 同実施の形態において、ホログラムレーザ
における第２のフォトダイオードの受光部の配置に対す
る回折光を示す第１の図である。

【図１７】 同実施の形態において、ホログラムレーザ
における第２のフォトダイオードの受光部の配置に対す
る回折光を示す第２の図である。

【図１８】 本発明の実施の形態３に係る光ピックアッ
プの構造を示す図である。

【図１９】 従来の光ピックアップの構造を示す第１の
図である。

【図２０】 従来の光ピックアップの構造を示す第２の
図である。

【符号の説明】

１ 第１の半導体レーザ素子、２ 第２の半導体レーザ
素子、３ 信号検出用フォトダイオード、３ａ〜３ｆ
受光部、４ 放熱板、６ａ、６ｂ 分割線、12２波長レ
ーザ、３０ コリメートレンズ、３１、３２ 半導体レ
ーザ、４０光軸変換ミラー、５０ 対物レンズ、６０
光学ディスク、６１ 情報記録面、９０ ホログラム素
子、９２ ホログラム、９２ａ 小間格子、９５ キャ
ップ。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｈ０１Ｓ 5/022 Ｈ０１Ｓ 5/40 5/40 Ｇ０２Ｂ 27/00 Ｅ Ｆターム(参考） 2H049 CA05 CA08 CA15 5D118 AA03 AA26 BA01 BB02 CD02 CD03 CD08 CF02 CF03 CF16 CG02 CG04 CG07 CG24 DA20 DB02 DB08 DC03 5D119 AA04 AA38 AA41 BA01 CA09 EA02 EA03 EC45 EC47 FA05 FA08 JA15 JA22 KA02 KA16 KA17 LB07 5F073 AB27 BA04 CA05 CA14 CB02 EA14 FA01 5F089 BA04 BC04 BC07 BC08 BC25 BC29 BC30 CA12 CA20

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 互いに波長の異なる光を発光する第１光
   源および第２光源を含む光源部と、 前記光源部から光ディスクに向かって照射されて反射し
   た光を回折するためのホログラムが形成されたホログラ
   ム素子と、 前記ホログラムによって回折された光を受光するための
   受光部とを有し、 前記受光部は、 前記第１光源に基づく回折光を受光するための第１受光
   部と、 前記第２光源に基づく回折光を受光するための第２受光
   部とを備えた、ホログラムレーザユニット。
2. 【請求項２】 前記第１受光部は、前記第１光源に基づ
   く光学系の焦点を合わせるための信号を検出する第１焦
   点誤差信号検出用受光部を含み、 前記第２受光部は、前記第２光源に基づく光学系の焦点
   を合わせるための信号を検出する第２焦点誤差信号検出
   用受光部を含み、 前記第１焦点誤差検出用受光部は、一方向に延びてその
   領域を少なくとも２つの領域に分ける第１分割領域を含
   み、 前記第２焦点誤差検出用受光部は、一方向に延びてその
   領域を少なくとも２つの領域に分ける第２分割領域を含
   む、請求項１記載のホログラムレーザユニット。
3. 【請求項３】 前記第１受光部および前記第２受光部
   は、 光学ディスクに記録された情報を検出するための情報信
   号検出用受光部と、 光学ディスクと光学系との相対的な位置関係を制御する
   ための信号を検出するトラック誤差信号検出用受光部と
   を含む、請求項１または２に記載のホログラムレーザユ
   ニット。
4. 【請求項４】 前記第１焦点誤差検出用受光部と前記第
   ２焦点誤差検出用受光部とは離間され、 前記第１分割領域が延びる方向の長さと前記第２分割領
   域が延びる方向の長さとは実質的に同じ長さの分割領域
   長を有し、 前記分割領域長は、前記第１分割領域が延びる方向に沿
   って前記第１焦点誤差検出用受光部を２等分する位置と
   前記第２分割領域が延びる方向に沿って前記第２焦点誤
   差検出用受光部を２等分する位置との距離よりも短い、
   請求項２または３に記載のホログラムレーザユニット。
5. 【請求項５】 前記光源部において、前記第１光源の発
   光点と前記第２光源の発光点とは所定の発光点間隔を隔
   てられ、 前記第１分割領域が延びる方向と前記第２分割領域が延
   びる方向とが略平行になるように前記第１分割領域と前
   記第２分割領域とが配置され、 前記延びる方向と略直交する方向に沿った前記第１分割
   領域と前記第２分割領域との間隔は前記所定の発光点間
   隔よりも短い、請求項２〜４にいずれかに記載のホログ
   ラムレーザユニット。
6. 【請求項６】 前記光源部の波長変動に伴う前記受光部
   における前記回折光の落射位置の変動に対して、 前記ホログラムは、前記第１分割領域および前記第２分
   割領域がそれぞれ延びる方向に沿って前記回折光の光軸
   が変動するように前記ホログラム素子に形成されてい
   る、請求項２〜５のいずれかに記載のホログラムレーザ
   ユニット。
7. 【請求項７】 前記ホログラム素子は、前記ホログラム
   が形成されている面とは異なる面に形成された、トラッ
   ク誤差信号検出を行うための３ビームを発生させる回折
   格子を含み、 前記回折格子は前記回折光が透過しない位置に配置され
   ている、請求項１〜６のいずれかに記載のホログラムレ
   ーザユニット。
8. 【請求項８】 波長の異なる少なくとも第１光源および
   第２光源を含む光源部と、 前記光源部から光学ディスクに向かって照射されて反射
   した光を回折するためのホログラムが形成されたホログ
   ラム素子と、 前記ホログラムによって回折された回折光を受光して、
   所定の信号を検出するための複数の信号検出用受光部と
   を備え、 前記複数の信号検出用受光部は、前記所定の信号に対応
   して光学ディスクで反射した光が前記ホログラムによっ
   て回折される方向に沿って配置され、 前記複数の信号検出用受光部は、前記回折光のうち前記
   第１光源に基づく回折光と前記第２光源に基づく回折光
   との両回折光を受光する受光部を含む、ホログラムレー
   ザユニット。
9. 【請求項９】 前記所定の信号は、 光学系の焦点を合わせるための焦点誤差信号と、 光学ディスクに記録された情報を含む情報信号と、 光学ディスクと光学系との相対的な位置関係を制御する
   ためのトラック誤差信号とを含む、請求項８記載のホロ
   グラムレーザユニット。
10. 【請求項１０】 請求項１〜９のいずれかに記載のホロ
    グラムレーザユニットを有する、光ピックアップ装置。