JP2002144630A - 電子写真装置の印字位置補正方法 - Google Patents

電子写真装置の印字位置補正方法

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JP2002144630A
JP2002144630A JP2000341071A JP2000341071A JP2002144630A JP 2002144630 A JP2002144630 A JP 2002144630A JP 2000341071 A JP2000341071 A JP 2000341071A JP 2000341071 A JP2000341071 A JP 2000341071A JP 2002144630 A JP2002144630 A JP 2002144630A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 複数の光源を有する電子写真装置において、
位置検出手段によって描画データを効果的に測定し、光
学系の歪みなどによる印字位置ずれを補正する。 【解決手段】 描画された評価画像の測定方法には、形
成された評価画像を静止させて位置検出手段によって測
定する方法と、形成された評価画像を移動させて位置検
出手段によって測定する方法とがあり、前者の評価画像
を静止させて測定する方法について述べる。各光学系毎
のC,M,Y,Bの評価画像を中間転写体6に描画して
から中間転写体6を静止しておく。次に、位置検出ユニ
ット11を画像補正領域の区間だけスキャンさせると、
CCDセンサー13が各色の評価画像のデータを取得す
る。そして、測定された描画データに基づいて印字位置
の補正を行えば、補正された所望の印字を行うことがで
きる。評価画像を移動させて測定する場合は、中間転写
体6と位置検出ユニット11を同期して移動させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、マルチ光学系の位
置補正技術に関し、特に、複数の光源によって露光を行
う電子写真感光体の印字位置ずれを補正する印字位置補
正技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】電子写真装置は、レーザ露光装置(LS
U:Laser Scanning Unit)によって有機感光体(OP
C:Organic Photo Conductor)に光を当てて静電潜像
を形成するものと、LEDヘッドによってOPCを露光
して静電潜像を形成するものとがある。何れの場合も、
静電潜像をトナーで現像して紙などに転写後、熱ローラ
で溶融定着させている。ところで、前者のLSU方式の
カラープリンタなどにおいては、1個のLSUと1個の
感光体を用い、C(シアン),M(マゼンダ),Y(イ
エロー),B(ブラック)の4種類の現像器を順次移動
させて、帯電、露光、現像、中間転写体への転写を繰り
返し、4色画像を一度に紙に転写して熱ローラを通して
溶融定着させる1ドラム方式と、露光光源を複数用いて
画像形成する方式とがある。後者の場合は、C,M,
Y,BのそれぞれのLSUを用いて、それぞれ個別のO
PCに静電潜像を形成して、中間転写体に4色画像を重
ねて紙などに転写するものであり、いわゆるタンデム方
式と呼ばれている。尚、タンデム方式で多色印字を行う
場合は、前述のように4個のLSUを用いるとは限らな
いが、複数のLSUを用いて多色印字が行われている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前述の1ド
ラム方式の場合は、1個のLSUを用いて露光を行って
いるので、多色印刷の場合に各色の印字位置ずれが生じ
ないため広く普及している。しかし、この方式の場合
は、1個のLSUと1個のOPCで4画像を形成するた
めに、必然的に印刷速度が1/4に低下し、例えば、画
像形成速度は、20imageの場合でも5ppm程度の印刷速
度に低下してしまう。
【0004】このため、前述のようなタンデム方式の開
発が行われているが、複数のLSUと複数のOPCを用
いているため、現状では、印刷時に各色の印字位置ずれ
が生じるなどの問題がある。例えば、複数のLSUを用
いるため、各LSU間の平行度や高さのずれ、あるいは
取付け時の傾きや位置ずれなどの機構上のばらつきによ
ってドラム(すなわち、OPC)上の露光軌跡にずれが
生じるために印字位置にずれが発生する。
【0005】図9は、LSUによってドラムに露光軌跡
を描く状態を示す原理図である。すなわち、ポリゴンミ
ラー31の多角形の1面に入射したレーザ光線は、fθ
(エフ.シータ)レンズ32によってドラム33に結像
し、ポリゴンミラー31の回転駆動によって、ポリゴン
ミラー31の多角形の各面毎に、理論的には、ドラム3
3の表面の主走査方向に図の点線のような露光軌跡aが
描かれる。
【0006】しかし、前述のようなLSU間の機構上の
誤差によって、点線の露光軌跡aとは異なる実線の露光
軌跡bが描かれることがある。さらには、各LSUにお
けるfθ(エフ.シータ)レンズ32の取り付け位置の
誤差によっても露光軌跡aのずれが生じる。また、fθ
レンズ32は、通常、樹脂によって成型されているた
め、レンズの密度が不均一であったり、レンズのA面
(放射面)とB面(入射面)の光軸がずれていたりする
ために露光軌跡のずれを生じることもある。
【0007】図10は、従来のタンデム方式における露
光軌跡の位置ずれを示す説明図である。すなわち、
(a)は理論的な露光軌跡(すなわち、基準軌跡)を示
し、基準軌跡の始点から露光軌跡が始まり基準線の位置
で終点となっている。また、(b)は露光軌跡の副走査
方向のずれを示し、点線の理想軌跡に対してαだけ副走
査方向にずれている。(c)は露光軌跡の主走査方向の
倍率ずれを示し、βだけ終点が基準線よりずれている。
(d)は主走査開始位置のずれを示し、γだけ始点位置
が基準軌跡よりずれている。(e)は主走査線の傾きを
示し、点線の理想軌跡に対してθだけずれた位置に終点
が来るように露光軌跡が描かれる。また、(f)は主走
査線の湾曲を示し最大でδだけ湾曲しており、前述の図
9におけるドラム33の露光軌跡bのように湾曲する。
【0008】図10の(b)から(e)までの露光軌跡
は、前述のLSUなどの機構上のばらつきによって生じ
る露光軌跡のずれであり、機械的に補正することは可能
である。すなわち、ビーム位置検知センサシステムによ
ってセンシングし、機械的にLSUの位置を動かした
り、ポリゴンミラー31やfθレンズ32の位置を調整
したりすることによって補正することができる。ところ
が、図10(f)にように湾曲する露光軌跡は、fθレ
ンズ32の成型時における歪みによって生じる、密度の
不均一や光軸のずれに起因するものであり、上述のよう
な機械的な方法では完全に補正することは不可能であ
る。いいかえれば、光学ユニット内部の歪み、すなわち
レンズの歪みによって生じる印字位置ずれは、これを機
械的に補正することはできない。さらには、複数のレン
ズで構成されているような光学系の場合に生じる光学要
素の複合的な傾きは、前述のような機械的は方法では補
正することができない。
【0009】また、別な露光手段として用いらていれて
いる、前述のLEDヘッドの構成は周知の技術であるの
で詳細な説明は省略するが、このLEDヘッドの場合
も、LSUを用いたレーザビーム露光の場合と同様に、
露光軌跡にずれやばらつきが生じて印字位置ずれを起こ
す問題がある。LEDヘッドによる印字動作は、主走査
方向の位置を固定しておき、LEDアレイの複数の固定
光源よりロッドレンズによって結像し、副走査方向に多
数の露光軌跡を描いてゆくものである。
【0010】図11は、LEDヘッドの基本構成を示す
概念図であり、(a)はLEDヘッドの構成を示し、
(b)はチップの拡大図を示し、(c)はチップつき合
わせ部分の拡大図を示している。すなわち、LEDヘッ
ド34は多数のチップ35が一列に配列され、各々のチ
ップ35には多数の、例えば64個の発光素子(LE
D)36が配列されている。したがって、例えば、解像
度600dpiであれば、LEDヘッド34には600
(個/inch)のLED36が配列されている。
【0011】このように構成されたLEDヘッド34
が、チップマウントの配列誤差などにより、図11
(c)のように、チップ間において配列にゆがみが生じ
ることがある。すなわち、隣り合うチップで隣接するL
ED36aとLED36bとの間のピッチ間隔τが規定
のピッチ間隔よりずれたり、配列の直線性のずれγが生
じたりする。あるいは、LEDヘッド34上に配列され
た各チップ35のマウント配列が千鳥状に変形すること
もある。さらには、LEDヘッド34そのものが、温度
などによって、例えば湾曲に変形することもある。この
ような物理的な変形を起こした場合は、機械的な手段に
よって印字位置を補正することは不可能である。
【0012】このように、LEDヘッドを用いた露光手
段の場合も、LSUを用いた露光手段の場合と同様に、
種々の要因によって露光軌跡にずれが生じ、結果とし
て、各色の印字位置にずれが発生する虞がある。従来
は、このような問題を解決するために、例えば、LSU
の全体やミラーの位置をモータなどの駆動手段で位置補
正していたが、レンズ成型時の密度不均一や光軸ずれ、
あるいは、LEDヘッドの温度などによる物理的な変形
が生じた場合は、機械的制御による補正には限界があ
り、原理的に完全な補正を行うことは不可能である。
【0013】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであり、その目的は、複数の露光光源を有する電
子写真装置において、所定の主走査区間に亘って露光軌
跡の位置ずれを測定して描画データを補正することによ
り、光学系の歪みや感光体ドラム及び中間転写体の振れ
や給紙位置ずれに起因する印字位置ずれを補正し、印字
位置ずれのない画像を形成することにあり、特に、位置
検出手段によって描画データを効果的に測定し、印字位
置ずれを補正することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、本発明における電子写真装置の印字位置補正方法
は、複数の光学系を有する電子写真装置の印字位置補正
方法において、印字位置の補正が、複数の光学系の各光
学系毎に画像を描画する第一の手順と、位置検出手段
が、描画された画像を評価画像として測定し、記録する
第二の手順と、測定された評価画像を、予め定めた基準
画像とソフト的に比較する第三の手順と、比較結果に基
づいて位置補正データを演算する第四の手順と、演算さ
れた位置補正データに基づいて描画データの位置を修正
する第五の手順と、修正された描画データに基づいて印
字を行う第六の手順とによって行われ、位置検出手段
が、第一の手順で描画された評価画像を静止させて測定
することを特徴とする。すなわち、本発明における電子
写真装置の印字位置補正方法によれば、位置検出手段が
静止した評価画像をスキャンしながら測定し、この測定
データに基づいて印字補正が行われるので、レンズなど
の物理的変形や装置の機械的な振れに関わらず、常に、
位置ずれの生じない印字を行うことができる。
【0015】また、本発明における電子写真装置の印字
位置補正方法は、前記第一の手順において、評価画像は
中間転写体の上に重ねて描画され、前記第二の手順にお
いて、位置検出手段は、静止された中間転写体の上を画
像補正領域の区間に亘って走行し、この中間転写体に描
画された評価画像を測定することを特徴とする。すなわ
ち、本発明における電子写真装置の印字位置補正方法に
よれば、各光学系毎のC,M,Y,Bの評価画像を中間
転写体に描画してから、この中間転写体を静止してお
く。そして、位置検出手段を画像補正領域の区間だけス
キャンさせると、CCDセンサーが各色C,M,Y,B
の測定画像(すなわち評価画像)のデータを取得する。
このように測定された測定データに基づいて印字位置の
補正を行えば、補正された所望の印字を行うことができ
る。
【0016】また、本発明における電子写真装置の印字
位置補正方法は、複数の光学系を有する電子写真装置の
印字位置補正方法において、印字位置の補正が、複数の
光学系の各光学系毎に画像を描画する第一の手順と、位
置検出手段が、描画された画像を評価画像として測定
し、記録する第二の手順と、測定された評価画像を、予
め定めた基準画像とソフト的に比較する第三の手順と、
比較結果に基づいて位置補正データを演算する第四の手
順と、演算された位置補正データに基づいて描画データ
の位置を修正する第五の手順と、修正された描画データ
に基づいて印字を行う第六の手順とによって行われ、位
置検出手段が、第一の手順で描画された評価画像を所定
の方向に移動させながら測定することを特徴とする。
【0017】すなわち、本発明における電子写真装置の
印字位置補正方法によれば、前述の発明のように、位置
検出手段が、描画された評価画像を静止させて測定する
のではなく、描画された評価画像を移動させながら測定
することもできる。このような測定方法によって取得さ
れたC,M,Y,Bの評価画像の測定データに基づいて
印字位置の補正を行うことにより、補正された所望の印
字を行うことができる。
【0018】また、本発明における電子写真装置の印字
位置補正方法は、前記第一の手順において、評価画像は
中間転写体上に傾斜角度をもって重ねて描画され、前記
第二の手順において、位置検出手段は、この位置検出手
段と同期した移動速度で移動する中間転写体上を、画像
補正領域の区間に亘って走行し、この中間転写体に描画
された評価画像を測定することを特徴とする。さらに、
本発明における電子写真装置の印字位置補正方法は、前
記第一の手順で中間転写体上に描画される評価画像の傾
斜角度は、中間転写体の移動速度に対応した角度である
ことを特徴とする。
【0019】すなわち、本発明における電子写真装置の
印字位置補正方法によれば、各光学系毎のC,M,Y,
Bの評価画像を中間転写体上に斜めに描画しながら、中
間転写体を移動させて行く。このとき、評価画像の斜め
に描かれた傾斜角度は、中間転写体の移動速度に対応し
た角度である。次に、上述のように評価画像が斜めに描
画された中間転写体を所定の方向に移動しながら、位置
検出手段を中間転写体の移動方向と直角の方向へ画像補
正領域の区間だけ走行させる。このとき、中間転写体の
移動速度と位置検出手段の移動速度とを同期させてお
く。これによって、位置検出手段が各色C,M,Y,B
の評価画像をスキャンして、C,M,Y,Bのデータを
取得する。このとき、中間転写体と位置検出手段の移動
速度が同期しているので、描画されたC,M,Y,Bの
評価画像の光学系の歪みはそのまま残った状態で測定さ
れる。したがって、この測定データに基づいて印字位置
の補正を行えば、補正された所望の印字を行うことがで
きる。尚、前記各発明における複数の光学系は、LSU
またはLEDヘッドの何れかであるのが一般的である。
【0020】
【発明の実施の形態】本発明の電子写真装置の印字位置
補正方法は、露光光源などの光学系を複数個備え、感光
体または中間転写体に多重トナー像を形成して紙などの
媒体に転写する電子写真装置であって、光学系の歪みや
感光体ドラム及び中間転写体の振れや給紙位置ずれに起
因する露光軌跡の位置ずれを、所望の主走査区間に亘っ
て測定し、測定結果に基づいてソフト的に描画データを
補正するものである。
【0021】以下、図面を用いて、本発明における電子
写真装置の印字位置補正方法について詳細に説明する。
印字位置ずれには、光学系によるものや、感光体ドラム
または中間転写体の機械的振れによるものや、給紙の搬
送ずれに起因するものなどがあり、何れの場合も副走査
方向の印字位置ずれと主走査方向の印字位置ずれとがあ
る。
【0022】しかし、何れに起因する場合も印字位置ず
れの補正方法は同じであるので、以下の説明では、光学
系に起因する位置ずれの補正方法について述べることに
し、先ず、光学系の副走査方向の位置ずれ補正について
説明する。尚、以下の説明では、C,M,Y,Bの4個
のLSUと4個の感光体ドラム(OPC)を用いて、1
台の中間転写体に多色転写する場合について述べること
にする。図1は、本発明の電子写真装置の印字位置補正
方法を説明するためのマルチドラムカラープリンタの概
略構成図であり、(a)は上面図、(b)は側面図であ
る。尚、この図では、各色毎にLSUとドラムとを一体
にして各色印字ユニットとして表してある。
【0023】すなわち、B色印字ユニット1とC色印字
ユニット2とM色印字ユニット3とY色印字ユニット4
と位置測定システム5とが、ベルト状の中間転写体6の
上部に固定的に配置されており、中間転写体6が図の矢
印の方向に自在に回転駆動できるように構成されてい
る。また、位置測定システム5は、パソコンなどのホス
ト装置7からの指令により、描画位置補正システムを備
えたコントローラ8によって駆動制御されるように構成
されている。
【0024】図2は、位置測定システムによる描画画像
の位置ずれ検出を示す説明図である。すなわち、中間転
写体6を図の矢印の方向へ移動させたときに、各色印字
ユニットによる描画画像は、C,M,Y,Bのように位
置ずれを生じて描かれたとする。この印字画像は、CC
Dなどの位置センサ5’により所定の補正領域をスキャ
ンして読み取られ、以下に述べるような位置補正処理が
行われる。
【0025】図3は、位置測定システムの駆動による描
画画像の検出状態を示す概念図である。位置検出ユニッ
ト11は、検出光源12と描画画像を検出するCCDセ
ンサー13とによって構成されている。さらに、この位
置検出ユニット11は、ベルト駆動モータ14で駆動さ
れる検出ユニット移動ベルト15によって検出ユニット
移動レール18をスライドし、描画画像の所定の補正領
域を自在にスライドできるように構成されている。尚、
検出ユニット移動ベルト15の弛みによって位置検出ユ
ニット11の移動誤差が生じないように、検出ユニット
移動ベルト10の他端側の回転軸はベルト張力印加ユニ
ット16によってテンションが加えられている。このよ
うな構成により、検出ユニット移動ベルト15を、図の
右向き矢印の測定時移動方向に、補正領域の区間だけ移
動させて位置検出ユニット11をスキャンさせ、各色
C,M,Y,Bの測定画像のデータを取得する。
【0026】図4は、副走査方向の位置ずれ補正演算シ
ステムの説明図であり、(a)は検出データを量子化デ
ータにするための位置演算のデータを示し、(b)は原
描画データのメモリへの記憶状態を示し、(c)は描画
データを補正するビット補正のデータを示し、(d)は
補正データによる最終的な描画を示している。したがっ
て、図4を用いて、副走査方向の位置ずれ補正の方法に
ついて詳細に説明する。
【0027】先ず、図3において、位置検出ユニット1
1を中間転写体移動位置基準装置17の位置で止めてか
ら、位置検出ユニット11を描画画像の補正区間に亘っ
て主走査方向にスキャンさせる。すると、図4(a)の
ようなビットマットマトリックスが組まれる。このビッ
トマットマトリックスは、横軸に主走査方向位置を示
し、縦軸にビット量を示している。さらに、このビット
マットマトリックス上に、本来あるべきデータである基
準線hと、CCDセンサー13(図3)が例えば描画画
像Mを検出したデータである無補正描画線iが描かれ
る。そして、無補正描画線iは、ビット単位で位置の量
子化データjとして認識される。
【0028】一方、図4(a)の基準線hは、同図
(b)のように、ビットマットマトリックス上に量子化
された原描画データkとしてメモリに記憶される。次
に、先に測定した位置の量子化データjが、原描画デー
タkからずれているビット分を演算する。そして、図4
(c)のように、量子化データjが原描画データkから
ずれたビット分だけカウンタ方向にシフトしてビット補
正を行い、補正後の描画データmを生成する。
【0029】すなわち、図4(a)のように、測定され
て位置の量子化データjが、原描画データkに対して−
2ビットずれているときは、図4(c)のように、補正
後の描画データmは、原描画データkに対して+2ビッ
トだけシフトするというように、測定された描画データ
jの原描画データkに対するずれ分だけ、原描画データ
kに対してビット補正を行い、補正後の描画データmを
生成する。これにより、補正データによる描画nは、図
4(d)のよう原描画データkと一致するように補正さ
れる。このように、描画データの位置ずれを補正区間全
域に亘って測定し、その測定結果に基づいて、ソフト的
に描画データの補正を行うことにより、装置の機械的な
誤差や光学系の物理的な歪みの有無に関わらず、副走査
方向の位置ずれ補正を行うことができる。
【0030】次に、主走査方向の描画データの補正につ
いて説明する。尚、主走査方向の描画データを補正する
場合も、図2に示す位置測定システムによる描画画像の
位置ずれ検出の方法や、図3に示す位置測定システムの
駆動による描画画像の検出状態を示す概念は、副走査方
向の補正の場合と同じであるので、重複する説明は省略
する。図5は、主走査方向の倍率ずれのモデルを示す概
念図である。すなわち、図5に示すように、レーザユニ
ット21から放射されるレーザ光線は、ポリゴンミラー
22で反射された後、fθ(エフ.シータ)レンズ23
を通してOPC上に描画画像を描く。このとき、fθ
(エフ.シータ)レンズ23の屈折率の誤差によって、
基準画像qに対して位置ずれによって傾いた画像rが形
成されると、主走査方向の倍率ずれαが生じる。
【0031】図6は、基準画像の点線と主走査方向の倍
率ずれが生じた実印字画像の点線を比較した図である。
すなわち、図6に示すように、基準画像の点線が等間隔
であるのに対して、主走査方向の倍率ずれが生じたとき
は、実印字画像の点線は不等間隔となっている。このよ
うな場合は、主走査方向に描画された画像の起点と終点
を合わせるように補正をしても、途中の区間における点
線の長さのずれを補正することはできない。そこで、以
下のような手法で、主走査方向の位置ずれ補正を行う。
図7は、主走査方向の位置ずれ補正を行うためのビット
データの展開概念図である。したがって、図6と図7を
用いて主走査方向の位置ずれ補正について説明する。
【0032】図6に示すような、実際に描きたい等間隔
な点線の基準画像に対して、不等間隔な点線の実印字画
像が描画された場合、図7に示す手順によって主走査方
向の位置ずれを補正する。尚、図7において、横軸の桝
目のビット間隔はレーザ光線のビームが走査する時間的
間隔を示している。すなわち、1桝のビット間隔は同じ
時間を示しているので、桝目が狭いとき(すなわち、密
度が高いとき)は、レーザ光のビームの動きが遅い状態
を示している。
【0033】先ず、図7(a)のように、基準画像デー
タ及びその描画位置は、桝目(すなわちレーザ光が打つ
ビット間隔)は等間隔であり、例えば、基準画像におけ
る点線S1の長さの桝目は10ビットで、次の余白区間
の桝目は2ビットとなるようなビットデータとなってい
る。一方、実印字画像は、図7(b)のように、レンズ
の倍率ずれなどのよって、レーザ光のビームの動きが遅
くなって、桝目(すなわちレーザ光が打つビット間隔)
が狭くなったところは、点線の長さが短くなっている。
例えば、図7(b)の実印字の点線S2の長さの桝目は
10ビットで、次の余白区間の桝目は2ビットとなって
いるが、1桝の間隔が狭くなったため、図7(a)の基
準画像と同じ10ビットであっても、実印字の点線S2
の長さは基準画像の点線S1の長さより短くなってい
る。
【0034】同様に、図7(b)の実印字で桝目(すな
わちレーザ光が打つビット間隔)が広くなっている所で
は、図7(a)の基準画像の点線の長さに比べて点線の
長さが長くなっている。すなわち、1つの点線区間の間
に打つレーザ光線の印字打数は同じであっても、屈折率
の誤差によって倍率ずれが生じると、光学的な歪みによ
ってレーザ光線の走査スピードが変わり、レーザ光線の
走査間隔に対応する桝目の間隔が変わり、桝目すなわち
ビット間隔の狭いところ(密度の濃いところ)と広いと
ころ(密度の薄いところ)が生じ、点線区間の長さにば
らつきが生じる。
【0035】次に、CCDセンサー13によって図6の
実印字画像をスキャンすると、図3で前述したように、
ベルト駆動モータ14の駆動回転数は一定であるので、
図7(c)のように、等間隔の桝目で実印字画像のデー
タ座標が測定される。すなわち、桝目が等間隔であるた
め、実印字画像の点線の長さに応じて、点線区間のビッ
トデータの桝目の数は変わってくる。例えば、図7
(c)において、点線S3では点線区間の長さが短いた
め、点線区間の桝目は7ビットで次の余白区間の桝目は
2ビットとなっている。
【0036】次に、図7(c)の位置測定座標の測定位
置から描画位置のずれ量を計算して、図7(d)のよう
な描画位置補正データを生成する。すなわち、図7
(c)の位置測定座標データの点線区間における桝目
(すなわち、ビット数)が、図7(a)の基準画像デー
タの点線区間における桝目(すなわち、ビット数)より
少ないビット数だけ加算して、図7(d)のような描画
位置補正データを生成する。例えば、図7(a)の基準
画像データの点線S1におけるビットの長さが10ビッ
トで、図7(c)の実印字画像の点線S3における位置
測定座標のビットの長さが7ビットのときは、基準画像
データにおける点線S1のビットの長さ10に対して、
不足分の3ビットを加算して、図7(d)の描画位置補
正データにおける点線S4のように、13ビットの長さ
の描画位置補正データを生成する。
【0037】同様にして、図7(c)の位置測定座標デ
ータの点線区間の桝目(すなわち、ビット数)が、図7
(a)の基準画像データのの点線区間の桝目(すなわ
ち、ビット数)より多いときは、多いビット数分だけ基
準画像データから減算して、描画位置補正データを生成
する。尚、このとき、図7(d)の描画位置補正データ
の桝目の間隔は、当然、等間隔である。
【0038】次に、図7(d)の描画位置補正後のデー
タに基づいて、補正後の実印字を行えば、図7(e)の
ように、実印字の点線を基準画像の点線と同じ長さで印
字することができる。例えば、図7(d)のように、点
線S4の長さに相当する描画位置補正後のデータは13
ビットであるので、この13ビットの補正データを用い
て実印字を行えば、図7(e)のように、レンズの光学
的な歪みによってビットの桝目が狭くなった区間におい
て13ビットの長さの実印字を行うことになり、結果と
して、補正後の実印字(e)の点線S5の長さは、基準
画像(a)の点線S1の長さと同じになる。
【0039】すなわち,光学系の歪みによって実印字の
ビット間隔が狭くなっていても、実印字する点線区間の
ビット数が基準画像に対して不足している分だけ増加し
て印字されるので、結果的に、基準画像と同じ長さの点
線で印字を行うことができる。また、実印字のビット間
隔が広くなっている場合には、実印字する点線区間のビ
ット数が基準画像に対して多い分だけ減少して印字され
るので、結果的に、基準画像と同じ長さの点線で印字を
行うことができる。このようにして、実印字画像の点線
区間の長さの過不足分だけを基準画像に補正して印字を
行うことにより、基準画像と同じ点線の長さで実印字を
行うことができる。
【0040】以上説明したように、光学系の印字位置補
正方法では、C,M,Y,Bなどの各光学系毎に測定画
像を描画し、この描画画像を測定記録する。そして、測
定した描画画像を基準画像とソフト的に比較し、比較結
果に基づいて位置補正データを演算する。さらに、演算
した位置補正データに基づいて描画データの位置を修正
し、修正描画データに基づいて補正された印字を行う。
尚、上記の実施の形態は、複数の光学系を有する電子写
真装置における光学系の歪みによる印字位置補正につい
て述べたが、本発明の印字位置補正方法では、レンズな
どの光学系の物理的変形に留まらず、電子写真装置の機
械的誤差や給紙位置に起因する印字位置ずれを補正する
こともできる。
【0041】ここで、位置測定システムによる描画画像
の測定の方法について説明する。描画された評価画像の
測定方法には、形成された評価画像を静止させて位置検
出手段によって測定する方法と、形成された評価画像を
移動させて位置検出手段によって測定する方法とがあ
る。先ず、前者の評価画像を静止させて測定する方法に
ついて説明する。すなわち、前述の図3は、評価画像を
静止させた状態で位置測定システムの駆動によって評価
画像を測定する状態を示している。
【0042】図3において、予め、位置検出ユニット1
1を中間転写体移動位置基準装置17の位置に固定して
おき、各光学系毎のC,M,Y,Bの評価画像を中間転
写体6に描画してから、中間転写体6を静止しておく。
次に、ベルト移動モータ14を回転させると、検出ユニ
ット移動ベルト15が図の右向き矢印の測定時移動方向
へ移動するので、位置検出ユニット11は検出ユニット
移動レール18の上を同じ方向へ移動する。
【0043】このようにして、位置検出ユニット11を
画像補正領域の区間だけスキャンさせると、検出光源1
2を有するCCDセンサー13が、各色C,M,Y,B
の測定画像(すなわち評価画像)のデータを取得する。
尚、位置検出ユニット11は、データを取得した後は、
図の左向き矢印の戻り方向へ移動して、中間転写体移動
位置基準装置17の位置に固定される。そして、このよ
うに測定された測定データに基づいて、前述の図4及び
図7の手法により印字位置の補正を行えば、補正された
所望の印字を行うことができる。
【0044】次に、後者の評価画像を移動させて測定す
る方法について説明する。図8は、評価画像を移動させ
ながら位置測定システムの駆動によって評価画像を測定
する状態を示す概念図である。同図において、各光学系
毎のC,M,Y,B評価画像を中間転写体6上に斜めに
描画しながら、この中間転写体6を図の上向き矢印の中
間転写体移動方向へ移動させて行く。このとき、評価画
像の斜めに描かれた傾斜角度は、中間転写体6の移動速
度に対応した角度とする。すなわち、中間転写体6の移
動速度が早ければ、水平方向に対する傾斜角度を大きく
し評価画像の勾配を大きくする。
【0045】次に、上述のように評価画像が斜めに描画
された中間転写体6を図の上向きに移動しながら、位置
検出ユニット11を図の右方向矢印の測定時移動方向へ
画像補正領域の区間だけ走行させる。このとき、中間転
写体6の移動速度と位置検出ユニット11の移動速度と
を同期させておく。これによって、CCDセンサー13
が各色C,M,Y,Bの測定画像(すなわち評価画像)
をスキャンしてC,M,Y,Bのデータを取得する。こ
のとき、中間転写体6と位置検出ユニット11の移動速
度が同期しているので、描画されたC,M,Y,Bの評
価画像の光学系の歪みはそのまま残った状態で測定され
る。したがって、この測定データに基づいて、前述の図
4及び図7の手法に基づいて印字位置の補正を行えば、
補正された所望の印字を行うことはできる。
【0046】以上述べた実施の形態は本発明を説明する
ための一例であり、本発明は、上記の実施の形態に限定
されるものではなく、発明の要旨の範囲で種々の変形に
も対応することができる。すなわち、上記の実施の形態
では、光学系の歪みに基づく評価画像の描画データを取
得する場合について述べたが、これに限ることはなく、
感光体ドラム及び中間転写体の振れや給紙位置ずれに起
因する評価画像の描画データを取得する場合についても
適用することができるのはいうまでもない。
【0047】
【発明の効果】以上説明したように、本発明における電
子写真装置の印字位置補正方法によれば、位置検出手段
は、描画された評価画像を静止させて測定するだけだは
なく、描画された評価画像を移動させながら測定するこ
ともできる。このようにして測定された光学系の歪みや
感光体ドラムまたは中間転写体の振れなどの、物理的、
機械的要因による印字位置ずれのデータや、印刷用紙の
給紙時の搬送ずれによる印字位置ずれのデータを取得す
ることができる。そして、これらの測定データに基づい
て、ソフト的に描画データを補正することにより印字ず
れのない描画画像を描くことができる。
【0048】具体的には、印字すべき基準値と実印字結
果のずれ量を比較して、ずれ量の分だけ基準値に加減算
して補正データを生成して補正後の印字を行っている。
したがって、このような印字補正方法によれば、複数の
光学系を有したタンデム方式などの電子写真装置におい
て、装置の機械的誤差やレンズなどの物理的変形があっ
ても、常に、位置ずれの生じない印字を行うことができ
る。すなわち、本発明における電子写真装置の印字位置
補正方法は、ソフト的な手法で印字補正を行っているの
で、部品点数を増加させたり、生産コストを増大させる
ことなく、鮮明なカラープリントを行うことができる使
い勝手のよい電子写真装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の電子写真装置の印字位置補正方法を
説明するためのマルチドラムカラープリンタの概略構成
図であり、(a)は上面図、(b)は側面図である。
【図2】 位置測定システムによる描画画像の位置ずれ
検出を示す説明図である。
【図3】 位置測定システムの駆動による描画画像の検
出状態を示す概念図である。
【図4】 副走査方向の位置ずれ補正演算システムの説
明図であり、(a)は検出データを量子化データにする
ための位置演算のデータを示し、(b)は原描画データ
のメモリへの記憶状態を示し、(c)は描画データを補
正するビット補正のデータを示し、(d)は補正データ
による最終的な描画を示す。
【図5】 主走査方向の倍率ずれのモデルを示す概念図
である。
【図6】 基準画像の点線と主走査方向の倍率ずれが生
じた実印字画像の点線を比較した図である。
【図7】 主走査方向の位置ずれ補正を行うためのビッ
トデータの展開概念図である。
【図8】 評価画像を移動させながら位置測定システム
の駆動によって評価画像を測定する状態を示す概念図で
ある。
【図9】 LSUによってドラムに露光軌跡を描く状態
を示す原理図である。
【図10】 従来のタンデム方式における露光軌跡の位
置ずれを示す説明図である。
【図11】 LEDヘッドの基本構成を示す概念図であ
り、(a)はLEDヘッドの構成を示し、(b)はチッ
プの拡大図を示し、(c)はチップつき合わせ部分の拡
大図を示す。
【符号の説明】
1…B色印字ユニット、2…C色印字ユニット、3…M
色印字ユニット、4…Y色印字ユニット、5…位置測定
システム、5’…位置センサ、6…中間転写体、7…ホ
スト装置、8…コントローラ、11…位置検出ユニッ
ト、12…検出光源、13…CCDセンサー、14…ベ
ルト駆動モータ、15…検出ユニット移動ベルト、16
…ベルト張力印加ユニット、17…中間転写体移動位置
基準装置、18…検出ユニット移動レール、21…レー
ザユニット、22,31…ポリゴンミラー、23,32
…fθ(エフ.シータ)レンズ、33…ドラム、34…
LEDヘッド、35…チップ、36,36a,36b…
LED
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G03G 15/043 G03G 15/04 120 15/04 21/00 510 Fターム(参考) 2C162 AE04 AE12 AE21 AE28 AE54 AE98 AF62 AF82 FA17 2C362 BA52 BA68 BA69 BA89 BB29 BB32 BB46 CA22 CA39 CB73 CB80 2H027 DA09 DA21 DE02 DE07 EB04 EC03 EC06 ED06 EE02 HB06 HB16 2H030 AA01 AB02 AD11 AD16 BB02 BB12 BB42 BB56 2H076 AB05 AB12 AB16 AB42 AB76 EA01

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の光学系を有する電子写真装置の印
    字位置補正方法において、 印字位置の補正が、 前記複数の光学系の各光学系毎に画像を描画する第一の
    手順と、 位置検出手段が、描画された画像を評価画像として測定
    し、記録する第二の手順と、 測定された評価画像を、予め定めた基準画像とソフト的
    に比較する第三の手順と、 比較結果に基づいて位置補正データを演算する第四の手
    順と、 演算された位置補正データに基づいて描画データの位置
    を修正する第五の手順と、 修正された描画データに基づいて印字を行う第六の手順
    とによって行われ、 前記位置検出手段が、前記第一の手順で描画された評価
    画像を静止させて測定することを特徴とする電子写真装
    置の印字位置補正方法。
  2. 【請求項2】 前記第一の手順において、評価画像は中
    間転写体の上に重ねて描画され、 前記第二の手順において、前記位置検出手段は、静止さ
    れた前記中間転写体の上を画像補正領域の区間に亘って
    走行し、該中間転写体に描画された評価画像を測定する
    ことを特徴とする請求項1に記載の電子写真装置の印字
    位置補正方法。
  3. 【請求項3】 複数の光学系を有する電子写真装置の印
    字位置補正方法において、 印字位置の補正が、 前記複数の光学系の各光学系毎に画像を描画する第一の
    手順と、 位置検出手段が、描画された画像を評価画像として測定
    し、記録する第二の手順と、 測定された評価画像を、予め定めた基準画像とソフト的
    に比較する第三の手順と、 比較結果に基づいて位置補正データを演算する第四の手
    順と、 演算された位置補正データに基づいて描画データの位置
    を修正する第五の手順と、 修正された描画データに基づいて印字を行う第六の手順
    とによって行われ、 前記位置検出手段が、前記第一の手順で描画された評価
    画像を所定の方向に移動させながら測定することを特徴
    とする電子写真装置の印字位置補正方法。
  4. 【請求項4】 前記第一の手順において、評価画像は、
    中間転写体上に傾斜角度をもって重ねて描画され、 前記第二の手順において、前記位置検出手段は、該位置
    検出手段と同期した移動速度で移動する前記中間転写体
    上を、画像補正領域の区間に亘って走行し、該中間転写
    体に描画された評価画像を測定することを特徴とする請
    求項3に記載の電子写真装置の印字位置補正方法。
  5. 【請求項5】 前記第一の手順で中間転写体上に描画さ
    れる評価画像の傾斜角度は、前記中間転写体の移動速度
    に対応した角度であることを特徴とする請求項4に記載
    の電子写真装置の印字位置補正方法。
  6. 【請求項6】 前記複数の光学系は、LSU(Laser Sc
    anning Unit)またはLEDヘッドの何れかであること
    を特徴とする請求項1〜請求項5の何れかに記載の電子
    写真装置の印字位置補正方法。
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