JP2002144632A - 電子写真装置の印字位置補正方法 - Google Patents

電子写真装置の印字位置補正方法

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JP2002144632A
JP2002144632A JP2000341073A JP2000341073A JP2002144632A JP 2002144632 A JP2002144632 A JP 2002144632A JP 2000341073 A JP2000341073 A JP 2000341073A JP 2000341073 A JP2000341073 A JP 2000341073A JP 2002144632 A JP2002144632 A JP 2002144632A
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Susumu Kikuchi
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 複数の光源を有する電子写真装置において、
主走査区間の露光軌跡の位置ずれを測定して描画データ
を補正し、印字位置ずれのない画像を形成する。 【解決手段】 (a)の位置演算において、描画画像を
補正区間に亘って主走査方向にスキャンすると、ビット
マットマトリックス上に、描画画像を検出した無補正描
画線iに対応する量子化データjが認識される。さら
に、基準線hは、(b)のように、ビットマットマトリ
ックス上に量子化された原描画データkとして記憶され
る。そして、先に測定した位置の量子化データjが原描
画データkからずれているビット分を演算し、(c)の
補正後描画データのように、量子化データjが原描画デ
ータkからずれたビット分だけカウンタ方向にシフトし
てビット補正を行い、補正後の描画データmを生成す
る。さらに、(d)のように、補正後の描画データmに
基づいて描画を行えば、副走査方向の印字補正ができ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、マルチ光学系の位
置補正技術に関し、特に、複数の光源によって露光を行
う電子写真感光体の印字位置ずれを補正する印字位置補
正技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】電子写真装置は、レーザ露光装置(LS
U:Laser Scanning Unit)によって有機感光体(OP
C:Organic Photo Conductor)に光を当てて静電潜像
を形成するものと、LEDヘッドによってOPCを露光
して静電潜像を形成するものとがある。何れの場合も、
静電潜像をトナーで現像して紙などに転写後、熱ローラ
で溶融定着させている。ところで、前者のLSU方式の
カラープリンタなどにおいては、1個のLSUと1個の
感光体を用い、C(シアン),M(マゼンダ),Y(イ
エロー),B(ブラック)の4種類の現像器を順次移動
させて、帯電、露光、現像、中間転写体への転写を繰り
返し、4色画像を一度に紙に転写して熱ローラを通して
溶融定着させる1ドラム方式と、露光光源を複数用いて
画像形成する方式とがある。後者の場合は、C,M,
Y,BのそれぞれのLSUを用いて、それぞれ個別のO
PCに静電潜像を形成して、中間転写体に4色画像を重
ねて紙などに転写するものであり、いわゆるタンデム方
式と呼ばれている。尚、タンデム方式で多色印字を行う
場合は、前述のように4個のLSUを用いるとは限らな
いが、複数のLSUを用いて多色印字が行われている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前述の1ド
ラム方式の場合は、1個のLSUを用いて露光を行って
いるので、多色印刷の場合に各色の印字位置ずれが生じ
ないため広く普及している。しかし、この方式の場合
は、1個のLSUと1個のOPCで4画像を形成するた
めに、必然的に印刷速度が1/4に低下し、例えば、画
像形成速度は、20imageの場合でも5ppm程度の印刷速
度に低下してしまう。
【0004】このため、前述のようなタンデム方式の開
発が行われているが、複数のLSUと複数のOPCを用
いているため、現状では、印刷時に各色の印字位置ずれ
が生じるなどの問題がある。例えば、複数のLSUを用
いるため、各LSU間の平行度や高さのずれ、あるいは
取付け時の傾きや位置ずれなどの機構上のばらつきによ
ってドラム(すなわち、OPC)上の露光軌跡にずれが
生じるために印字位置にずれが発生する。
【0005】図8は、LSUによってドラムに露光軌跡
を描く状態を示す原理図である。すなわち、ポリゴンミ
ラー31の多角形の1面に入射したレーザ光線は、シリ
ンダレンズ32によってドラム33に結像し、ポリゴン
ミラー31の回転駆動によって、ポリゴンミラー31の
多角形の各面毎に、理論的には、ドラム33の表面の主
走査方向に図の点線のような露光軌跡aが描かれる。
【0006】しかし、前述のようなLSU間の機構上の
誤差によって、点線の露光軌跡aとは異なる実線の露光
軌跡bが描かれることがある。さらに、各LSUにおけ
るfθ(エフ.シータ)レンズ32の取り付け位置の誤
差によっても露光軌跡aのずれが生じる。また、fθレ
ンズ32は、通常、樹脂によって成型されているため、
レンズの密度が不均一であったり、レンズのA面(放射
面)とB面(入射面)の光軸がずれていたりするために
露光軌跡のずれを生じることもある。
【0007】図9は、従来のタンデム方式における露光
軌跡の位置ずれを示す説明図である。すなわち、(a)
は理論的な露光軌跡(すなわち、基準軌跡)を示し、基
準軌跡の始点から露光軌跡が始まり基準線の位置で終点
となっている。また、(b)は露光軌跡の副走査方向の
ずれを示し、点線の理想軌跡に対してαだけ副走査方向
にずれている。(c)は露光軌跡の主走査方向の倍率ず
れを示し、βだけ終点が基準線よりずれている。(d)
は主走査開始位置のずれを示し、γだけ始点位置が基準
軌跡よりずれている。(e)は主走査線の傾きを示し、
点線の理想軌跡に対してθだけずれた位置に終点が来る
ように露光軌跡が描かれる。また、(f)は主走査線の
湾曲を示し最大でδだけ湾曲しており、前述の図8にお
けるドラム33の露光軌跡bのように湾曲する。
【0008】図9の(b)から(e)までの露光軌跡
は、前述のLSUなどの機構上のばらつきによって生じ
る露光軌跡のずれであり、機械的に補正することは可能
である。すなわち、ビーム位置検知センサシステムによ
ってセンシングし、機械的にLSUの位置を動かした
り、ポリゴンミラー31やfθレンズ32の位置を調整
したりすることによって補正することができる。ところ
が、図9(f)にように湾曲する露光軌跡は、fθレン
ズ32の成型時における歪みによって生じる、密度の不
均一や光軸のずれに起因するものであり、上述のような
機械的な方法では完全に補正することは不可能である。
いいかえれば、光学ユニット内部の歪み、すなわちレン
ズの歪みによって生じる印字位置ずれは、これを機械的
に補正することはできない。さらには、複数のレンズで
構成されているような光学系の場合に生じる光学要素の
複合的な傾きは、前述のような機械的は方法では補正す
ることができない。
【0009】また、別な露光手段として用いられてい
る、前述のLEDヘッドの構成は周知の技術であるので
詳細な説明は省略するが、このLEDヘッドの場合も、
LSUを用いたレーザビーム露光の場合と同様に、露光
軌跡にずれやばらつきが生じて印字位置ずれを起こす問
題がある。LEDヘッドによる印字動作は、主走査方向
の位置を固定しておき、LEDアレイの複数の固定光源
よりロッドレンズによって結像し、副走査方向に多数の
露光軌跡を描いてゆくものである。
【0010】図10は、LEDヘッドの基本構成を示す
概念図であり、(a)はLEDヘッドの構成を示し、
(b)はチップの拡大図を示し、(c)はチップつき合
わせ部分の拡大図を示している。すなわち、LEDヘッ
ド34は多数のチップ35が一列に配列され、各々のチ
ップ35には多数の、例えば64個の発光素子(LE
D)36が配列されている。したがって、例えば、解像
度600dpiであれば、LEDヘッド34には600
(個/inch)のLED36が配列されている。
【0011】このように構成されたLEDヘッド34
が、チップマウントの配列誤差などにより、図10
(c)のように、チップ間において配列にゆがみが生じ
ることがある。すなわち、隣り合うチップで隣接するL
ED36aとLED36bとの間のピッチ間隔τが規定
のピッチ間隔よりずれたり、配列の直線性のずれγが生
じたりする。あるいは、LEDヘッド34上に配列され
た各チップ35のマウント配列が千鳥状に変形すること
もある。さらには、LEDヘッド34そのものが、温度
などによって、例えば湾曲に変形することもある。この
ような物理的な変形を起こした場合は、機械的な手段に
よって印字位置を補正することは不可能である。
【0012】このように、LEDヘッドを用いた露光手
段の場合も、LSUを用いた露光手段の場合と同様に、
種々の要因によって露光軌跡にずれが生じ、結果とし
て、各色の印字位置にずれが発生する虞がある。従来
は、このような問題を解決するために、例えば、LSU
の全体やミラーの位置をモータなどの駆動手段で位置補
正していたが、レンズ成型時の密度不均一や光軸ずれ、
あるいは、LEDヘッドの温度などによる物理的な変形
が生じた場合は、機械的制御による補正には限界があ
り、原理的に完全な補正を行うことは不可能である。
【0013】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであり、その目的は、複数の露光光源を有する電
子写真装置において、所定の主走査区間に亘って露光軌
跡の位置ずれを測定して描画データを補正することによ
り、印字位置ずれのない画像を形成することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、本発明における電子写真装置の印字位置補正方法
は、複数の光学系を有する電子写真装置の印字位置補正
方法において、複数の光学系の各光学系毎に測定画像を
描画する第一の手順と、描画された画像を測定し記録す
る第二の手順と、測定された描画画像を、予め定めた基
準画像とソフト的に比較する第三の手順と、比較結果に
基づいて位置補正データを演算する第四の手順と、演算
された位置補正データに基づいて描画データの位置を修
正する第五の手順と、修正された描画データに基づいて
印字を行う第六の手順とを経て印字を行うことを特徴と
する。これによって、装置の機械的誤差やレンズなどの
物理的変形に関わらず、常に、位置ずれの生じない印字
を行うことができる。
【0015】また、本発明における電子写真装置の印字
位置補正方法は、前記の発明において、第三の手順で行
うソフト的な比較は、予め定めた基準画像の印字位置と
測定された描画画像の印字位置との比較であり、第四の
手順で行う演算は、予め定めた基準画像の印字位置と測
定された描画画像の印字位置のずれ量の演算であり、第
五の手順で行う描画データの位置の修正は、演算された
ずれ量だけ、基準画像に対して位置の加減修正を行うも
のである。このように、実際に描画したい基準画像に対
して、測定された実印字画像がどれだけずれているかを
測定し、ずれ量の分だけ基準画像に対した加減算して描
画データを生成し、修正された描画データに基づいて印
字を行えば、印字ずれを完全に補正することができる。
【0016】また、本発明における電子写真装置の印字
位置補正方法は、前記の発明において、第三の手順で比
較される、基準画像の印字位置と測定された描画画像の
印字位置は、それぞれ、量子化データに換算され、第四
の手順で演算されたずれ量は、基準画像の量子化データ
と測定された描画画像の量子化データとのビットの差分
であり、第五の手順で行う加減修正は、基準画像の量子
化データに対して、ビットの差分を加算または減算して
描画データの修正を行うものである。このように、ずれ
量を量子化データに換算して、ビットの差分を加算また
は減算して描画データの修正すれば、ソフト的な手法で
比較的簡単に印字位置の補正を行うことができる。
【0017】また、本発明における電子写真装置の印字
位置補正方法は、前記の発明において、第三の手順での
比較結果で、測定された描画画像の量子化データが基準
画像の量子化データより少ない時は、第五の手順におい
て、基準画像の量子化データにビットの差分を加算して
描画データの修正を行い、また、測定された描画画像の
量子化データが基準画像の量子化データより多い時は、
第五の手順において、基準画像の量子化データにビット
の差分を減算して描画データの修正を行うことを特徴と
する。
【0018】また、本発明における電子写真装置の印字
位置補正方法は、前記の各発明において、第一の手順な
いし第五の手順で行う印字位置の補正は、主走査方向と
副走査方向とに分けて個別に行うことを特徴とする。さ
らに、複数の光学系は、LSUまたはLEDヘッドの何
れかであることを特徴とする。
【0019】
【発明の実施の形態】本発明の電子写真装置の印字位置
補正方法は、露光光源などの光学系を複数個備え、感光
体または中間転写体に多重トナー像を形成して紙などの
媒体に転写する電子写真装置であって、露光軌跡の位置
ずれを所望の主走査区間に亘って測定し、測定結果に基
づいてソフト的に描画データを補正するものである。
【0020】以下、図面を用いて、本発明における電子
写真装置の印字位置補正方法について詳細に説明する
が、先ず、副走査方向の位置ずれ補正について説明す
る。尚、以下の説明では、C,M,Y,Bの4個のLS
Uと4個のドラム(OPC)を用いて、1台の中間転写
体に多色転写する場合について述べることにする。図1
は、本発明の電子写真装置の印字位置補正方法を説明す
るためのマルチドラムカラープリンタの概略構成図であ
り、(a)は上面図、(b)は側面図である。尚、この
図では、各色毎にLSUとドラムとを一体にして各色印
字ユニットとして表してある。
【0021】すなわち、B色印字ユニット1とC色印字
ユニット2とM色印字ユニット3とY色印字ユニット4
と位置測定システム5とが、ベルト状の中間転写体6の
上部に固定的に配置されており、中間転写体6が図の矢
印の方向に自在に回転駆動できるように構成されてい
る。また、位置測定システム5は、パソコンなどのホス
ト装置7からの指令により、描画位置補正システムを備
えたコントローラ8によって駆動制御されるように構成
されている。
【0022】図2は、位置測定システムによる描画画像
の位置ずれ検出を示す説明図である。すなわち、中間転
写体6を図の矢印の方向へ移動させたときに、各色印字
ユニットによる描画画像は、C,M,Y,Bのように位
置ずれを生じて描かれたとする。この印字画像は、CC
Dなどの位置センサ5’により所定の補正領域をスキャ
ンして読み取られ、以下に述べるような位置補正処理が
行われる。
【0023】図3は、位置測定システムの駆動による描
画画像の検出状態を示す概念図である。位置検出ユニッ
ト11は、検出光源12と描画画像を検出するCCDセ
ンサー13とによって構成されている。さらに、この位
置検出ユニット11は、ベルト駆動モータ14で駆動さ
れる検出ユニット移動ベルト15によって検出ユニット
移動レール18をスライドし、描画画像の所定の補正領
域を自在にスライドできるように構成されている。尚、
検出ユニット移動ベルト15の弛みによって位置検出ユ
ニット11の移動誤差が生じないように、検出ユニット
移動ベルト10の他端側の回転軸はベルト張力印加ユニ
ット16によってテンションが加えられている。このよ
うな構成により、検出ユニット移動ベルト15を、図の
右向き矢印の測定時移動方向に、補正領域の区間だけ移
動させて位置検出ユニット11をスキャンさせ、各色
C,M,Y,Bの測定画像のデータを取得する。
【0024】図4は、副走査方向の位置ずれ補正演算シ
ステムの説明図であり、(a)は検出データを量子化デ
ータにするための位置演算のデータを示し、(b)は原
描画データのメモリへの記憶状態を示し、(c)は描画
データを補正するビット補正のデータを示し、(d)は
補正データによる最終的な描画を示している。したがっ
て、図4を用いて、副走査方向の位置ずれ補正の方法に
ついて詳細に説明する。
【0025】先ず、図3において、位置検出ユニット1
1を中間転写体移動位置基準装置17の位置で止めてか
ら、位置検出ユニット11を描画画像の補正区間に亘っ
て主走査方向にスキャンさせる。すると、図4(a)の
ようなビットマットマトリックスが組まれる。このビッ
トマットマトリックスは、横軸に主走査方向位置を示
し、縦軸にビット量を示している。さらに、このビット
マットマトリックス上に、本来あるべきデータである基
準線hと、CCDセンサー13(図3)が例えば描画画
像Mを検出したデータである無補正描画線iが描かれ
る。そして、無補正描画線iは、ビット単位で位置の量
子化データjとして認識される。
【0026】一方、図4(a)の基準線hは、同図
(b)のように、ビットマットマトリックス上に量子化
された原描画データkとしてメモリに記憶される。次
に、先に測定した位置の量子化データjが、原描画デー
タkからずれているビット分を演算する。そして、図4
(c)のように、量子化データjが原描画データkから
ずれたビット分だけカウンタ方向にシフトしてビット補
正を行い、補正後の描画データmを生成する。
【0027】すなわち、図4(a)のように、測定され
て位置の量子化データjが、原描画データkに対して−
2ビットずれているときは、図4(c)のように、補正
後の描画データmは、原描画データkに対して+2ビッ
トだけシフトするというように、測定された描画データ
jの原描画データkに対するずれ分だけ、原描画データ
kに対してビット補正を行い、補正後の描画データmを
生成する。これにより、補正データによる描画nは、図
4(d)のよう原描画データkと一致するように補正さ
れる。このように、描画データの位置ずれを補正区間全
域に亘って測定し、その測定結果に基づいて、ソフト的
に描画データの補正を行うことにより、装置の機械的な
誤差や光学系の物理的な歪みの有無に関わらず、副走査
方向の位置ずれ補正を行うことができる。
【0028】次に、主走査方向の描画データの補正につ
いて説明する。尚、主走査方向の描画データを補正する
場合も、図2に示す位置測定システムによる描画画像の
位置ずれ検出の方法や、図3に示す位置測定システムの
駆動による描画画像の検出状態を示す概念は、副走査方
向の補正の場合と同じであるので、重複する説明は省略
する。図5は、主走査方向の倍率ずれのモデルを示す概
念図である。すなわち、図5に示すように、レーザユニ
ット21から放射されるレーザ光線は、ポリゴンミラー
22で反射された後、シリンダレンズ23を通してOP
C上に描画画像を描く。このとき、シリンダレンズ23
の屈折率の誤差によって、基準画像qに対して位置ずれ
によって傾いた画像rが形成されると、主走査方向の倍
率ずれαが生じる。
【0029】図6は、基準画像の点線と主走査方向の倍
率ずれが生じた実印字画像の点線を比較した図である。
すなわち、図6に示すように、基準画像の点線が等間隔
であるのに対して、主走査方向の倍率ずれが生じたとき
は、実印字画像の点線は不等間隔となっている。このよ
うな場合は、主走査方向に描画された画像の起点と終点
を合わせるように補正をしても、途中の区間における点
線の長さのずれを補正することはできない。そこで、以
下のような手法で、主走査方向の位置ずれ補正を行う。
図7は、主走査方向の位置ずれ補正を行うためのビット
データの展開概念図である。したがって、図6と図7を
用いて主走査方向の位置ずれ補正について説明する。
【0030】図6に示すような、実際に描きたい等間隔
な点線の基準画像に対して、不等間隔な点線の実印字画
像が描画された場合、図7に示す手順によって主走査方
向の位置ずれを補正する。尚、図7において、横軸の桝
目のビット間隔はレーザ光線のビームが走査する時間的
間隔を示している。すなわち、1桝のビット間隔は同じ
時間を示しているので、桝目が狭いとき(すなわち、密
度が高いとき)は、レーザ光のビームの動きが遅い状態
を示している。
【0031】先ず、図7(a)のように、基準画像デー
タ及びその描画位置は、桝目(すなわちレーザ光が打つ
ビット間隔)は等間隔であり、例えば、基準画像におけ
る点線S1の長さの桝目は10ビットで、次の余白区間
の桝目は2ビットとなるようなビットデータとなってい
る。一方、実印字画像は、図7(b)のように、レンズ
の倍率ずれなどによって、レーザ光のビームの動きが遅
くなって、桝目(すなわちレーザ光が打つビット間隔)
が狭くなったところは、点線の長さが短くなっている。
例えば、図7(b)の実印字の点線S2の長さの桝目は
10ビットで、次の余白区間の桝目は2ビットとなって
いるが、1桝の間隔が狭くなったため、図7(a)の基
準画像と同じ10ビットであっても、実印字の点線S2
の長さは基準画像の点線S1の長さより短くなってい
る。
【0032】同様に、図7(b)の実印字で桝目(すな
わちレーザ光が打つビット間隔)が広くなっている所で
は、図7(a)の基準画像の点線の長さに比べて点線の
長さが長くなっている。すなわち、1つの点線区間の間
に打つレーザ光線の印字打数は同じであっても、屈折率
の誤差によって倍率ずれが生じると、光学的な歪みによ
ってレーザ光線の走査スピードが変わり、レーザ光線の
走査間隔に対応する桝目の間隔が変わり、桝目すなわち
ビット間隔の狭いところ(密度の濃いところ)と広いと
ころ(密度の薄いところ)が生じ、点線区間の長さにば
らつきが生じる。
【0033】次に、CCDセンサー13によって図6の
実印字画像をスキャンすると、図3で前述したように、
ベルト駆動モータ14の駆動回転数は一定であるので、
図7(c)のように、等間隔の桝目で実印字画像のデー
タ座標が測定される。すなわち、桝目が等間隔であるた
め、実印字画像の点線の長さに応じて、点線区間のビッ
トデータの桝目の数は変わってくる。例えば、図7
(c)において、点線S3では点線区間の長さが短いた
め、点線区間の桝目は7ビットで次の余白区間の桝目は
2ビットとなっている。
【0034】次に、図7(c)の位置測定座標の測定位
置から描画位置のずれ量を計算して、図7(d)のよう
な描画位置補正データを生成する。すなわち、図7
(c)の位置測定座標データの点線区間における桝目
(すなわち、ビット数)が、図7(a)の基準画像デー
タの点線区間における桝目(すなわち、ビット数)より
少ないビット数だけ加算して、図7(d)のような描画
位置補正データを生成する。例えば、図7(a)の基準
画像データの点線S1におけるビットの長さが10ビッ
トで、図7(c)の実印字画像の点線S3における位置
測定座標のビットの長さが7ビットのときは、基準画像
データにおける点線S1のビットの長さ10に対して、
不足分の3ビットを加算して、図7(d)の描画位置補
正データにおける点線S4のように、13ビットの長さ
の描画位置補正データを生成する。
【0035】同様にして、図7(c)の位置測定座標デ
ータの点線区間の桝目(すなわち、ビット数)が、図7
(a)の基準画像データのの点線区間の桝目(すなわ
ち、ビット数)より多いときは、多いビット数分だけ基
準画像データから減算して、描画位置補正データを生成
する。尚、このとき、図7(d)の描画位置補正データ
の桝目の間隔は、当然、等間隔である。
【0036】次に、図7(d)の描画位置補正後のデー
タに基づいて、補正後の実印字を行えば、図7(e)の
ように、実印字の点線を基準画像の点線と同じ長さで印
字することができる。例えば、図7(d)のように、点
線S4の長さに相当する描画位置補正後のデータは13
ビットであるので、この13ビットの補正データを用い
て実印字を行えば、図7(e)のように、レンズの光学
的な歪みによってビットの桝目が狭くなった区間におい
て13ビットの長さの実印字を行うことになり、結果と
して、補正後の実印字(e)の点線S5の長さは、基準
画像(a)の点線S1の長さと同じになる。
【0037】すなわち,光学系の歪みによって実印字の
ビット間隔が狭くなっていても、実印字する点線区間の
ビット数が基準画像に対して不足している分だけ増加し
て印字されるので、結果的に、基準画像と同じ長さの点
線で印字を行うことができる。また、実印字のビット間
隔が広くなっている場合には、実印字する点線区間のビ
ット数が基準画像に対して多い分だけ減少して印字され
るので、結果的に、基準画像と同じ長さの点線で印字を
行うことができる。このようにして、実印字画像の点線
区間の長さの過不足分だけを基準画像に補正して印字を
行うことにより、基準画像と同じ点線の長さで実印字を
行うことができる。
【0038】以上説明したように、本発明の電子写真装
置の印字位置補正方法では、C,M,Y,Bなどの各光
学系毎に測定画像を描画し、この描画画像を測定記録す
る。そして、測定した描画画像を基準画像とソフト的に
比較し、比較結果に基づいて位置補正データを演算す
る。さらに、演算した位置補正データに基づいて描画デ
ータの位置を修正し、修正描画データに基づいて印字を
行う。これによって、複数の光学系を有した電子写真装
置において、装置の機械的誤差やレンズなどの物理的変
形に関わらず、常に、位置ずれの生じない印字を行うこ
とができる。
【0039】以上述べた実施の形態は本発明を説明する
ための一例であり、本発明は、上記の実施の形態に限定
されるものではなく、発明の要旨の範囲で種々の変形が
可能である。例えば、上記の実施の形態では、複数のL
SUを用いた露光手段における印字位置ずれの補正方法
について述べたが、これに限ることはなく、LEDヘッ
ドによる露光手段であっても、前述と同様な手法によっ
て印字位置ずれの補正を行うことができることは言うま
でもない。
【0040】
【発明の効果】以上説明したように、本発明における電
子写真装置の印字位置補正方法によれば、印字位置ずれ
を補正しようとする全域に亘って実印字を測定して、そ
の測定結果に基づいて、ソフト的に描画データを補正し
て印字を行っている。具体的には、印字すべき基準値と
実印字結果のずれ量を比較して、ずれ量の分だけ基準値
に加減算して補正データを生成して補正後の印字を行っ
ている。したがって、このような印字補正方法によれ
ば、複数の光学系を有した電子写真装置において、装置
の機械的誤差やレンズなどの物理的変形に関わらず、常
に、位置ずれの生じない印字を行うことができる。すな
わち、本発明における電子写真装置の印字位置補正方法
は、ソフト的な手法で印字補正を行っているので、部品
点数を増加させたり、生産コストを増大させることな
く、鮮明なカラープリントを行うことができる使い勝手
のよい電子写真装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の電子写真装置の印字位置補正方法を
説明するためのマルチドラムカラープリンタの概略構成
図であり、(a)は上面図、(b)は側面図である。
【図2】 位置測定システムによる描画画像の位置ずれ
検出を示す説明図である。
【図3】 位置測定システムの駆動による描画画像の検
出状態を示す概念図である。
【図4】 副走査方向の位置ずれ補正演算システムの説
明図であり、(a)は検出データを量子化データにする
ための位置演算のデータを示し、(b)は原描画データ
のメモリへの記憶状態を示し、(c)は描画データを補
正するビット補正のデータを示し、(d)は補正データ
による最終的な描画を示す。
【図5】 主走査方向の倍率ずれのモデルを示す概念図
である。
【図6】 基準画像の点線と主走査方向の倍率ずれが生
じた実印字画像の点線を比較した図である。
【図7】 主走査方向の位置ずれ補正を行うためのビッ
トデータの展開概念図である。
【図8】 LSUによってドラムに露光軌跡を描く状態
を示す原理図である。
【図9】 従来のタンデム方式における露光軌跡の位置
ずれを示す説明図である。
【図10】 LEDヘッドの基本構成を示す概念図であ
り、(a)はLEDヘッドの構成を示し、(b)はチッ
プの拡大図を示し、(c)はチップつき合わせ部分の拡
大図を示す。
【符号の説明】
1…B色印字ユニット、2…C色印字ユニット、3…M
色印字ユニット、4…Y色印字ユニット、5…位置測定
システム、5’…位置センサ、6…中間転写体、7…ホ
スト装置、8…コントローラ、11…位置検出ユニッ
ト、12…検出光源、13…CCDセンサー、14…ベ
ルト駆動モータ、15…検出ユニット 移動ベルト、1
6…ベルト張力印加ユニット、17…中間転写体移動位
置基準 装置、18…検出ユニット移動レール、21…
レーザユニット、22,31… ポリゴンミラー、2
3,32…fθレンズ、33…ドラム、34…LEDヘ
ッド、35…チップ、36,36a,36b…LED
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G03G 15/00 303 H04N 1/29 H 2H076 15/01 B41J 3/00 M 5C074 15/04 3/21 L H04N 1/29 Fターム(参考) 2C162 AE04 AE21 AE28 AE47 AE54 AE98 AF01 AF62 AF82 FA17 2C362 BA52 BA68 BA69 BA71 BB29 BB32 BB37 BB46 CA22 CA39 2H027 DA21 DE02 DE07 DE10 EA18 EC03 EC06 2H030 AA01 AB02 AD11 BB02 BB63 2H045 AA01 BA22 BA33 BA34 CA88 CA97 DA11 DA41 2H076 AB02 AB12 AB42 AB73 AB76 EA01 5C074 AA10 BB02 BB03 BB04 BB26 CC26 DD15 DD24 EE11 FF15 GG09

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の光学系を有する電子写真装置の印
    字位置補正方法において、 前記複数の光学系の各光学系毎に測定画像を描画する第
    一の手順と、 描画された画像を測定し記録する第二の手順と、 測定された描画画像を、予め定めた基準画像とソフト的
    に比較する第三の手順と、 比較結果に基づいて位置補正データを演算する第四の手
    順と、 演算された位置補正データに基づいて描画データの位置
    を修正する第五の手順と、 修正された描画データに基づいて印字を行う第六の手順
    とを経て印字を行うことを特徴とする電子写真装置の印
    字位置補正方法。
  2. 【請求項2】 前記第三の手順で行うソフト的な比較
    は、予め定めた基準画像の印字位置と測定された描画画
    像の印字位置との比較であり、 前記第四の手順で行う演算は、予め定めた基準画像の印
    字位置と測定された描画画像の印字位置のずれ量の演算
    であり、 前記第五の手順で行う描画データの位置の修正は、演算
    されたずれ量だけ、前記基準画像に対して位置の加減修
    正を行うものであることを特徴とする請求項1に記載の
    電子写真装置の印字位置補正方法。
  3. 【請求項3】 前記第三の手順で比較される基準画像の
    印字位置と測定された描画画像の印字位置は、それぞ
    れ、量子化データに換算され、 前記第四の手順で演算されたずれ量は、前記基準画像の
    量子化データと測定された描画画像の量子化データとの
    ビットの差分であり、 前記第五の手順で行う加減修正は、前記基準画像の量子
    化データに対して、ビットの差分を加算または減算して
    描画データの修正を行うものであることを特徴とする請
    求項2に記載の電子写真装置の印字位置補正方法。
  4. 【請求項4】 前記第三の手順での比較結果において、 測定された描画画像の量子化データが前記基準画像の量
    子化データより少ない時は、前記第五の手順において、
    前記基準画像の量子化データにビットの差分を加算して
    描画データの修正を行い、 測定された描画画像の量子化データが前記基準画像の量
    子化データより多い時は、前記第五の手順において、前
    記基準画像の量子化データにビットの差分を減算して描
    画データの修正を行うことを特徴とする請求項3に記載
    の電子写真装置の印字位置補正方法。
  5. 【請求項5】 前記第一の手順ないし前記第五の手順で
    行う印字位置の補正は、主走査方向と副走査方向とに分
    けて、個別に行うことを特徴とする請求項1〜請求項4
    の何れかに記載の電子写真装置の印字位置補正方法。
  6. 【請求項6】 前記複数の光学系は、LSU(Laser Sc
    anning Unit)またはLEDヘッドの何れかであること
    を特徴とする請求項1〜請求項5の何れかに記載の電子
    写真装置の印字位置補正方法。
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