JP2002141214A - 磁性材料とこれを用いたコイル部品 - Google Patents

磁性材料とこれを用いたコイル部品

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Abstract

(57)【要約】 【課題】スピネル相以外の第2相を出現させ、高周波領
域での複素透磁率の虚数成分μ”を制御し、これにより
極めて良好なQ値が得られ、しかもAgあるいはその合
金との同時焼成が可能となる焼成温度で、焼結体密度が
高い磁性材料と、これを用いたコイル部品、特に内部導
体層にAgあるいはその合金を用いた積層型コイル部品
を提供する。 【解決手段】磁性材料は、少なくともFe、Ni、C
u、Coの酸化物を主成分として含有するスピネル型フ
ェライト焼結体に対し、(Cu0.2Ni0. )酸化
物相を分散含有し、かつ全体量に対する含有量が0から
10wt%(但し、0は含まず)となるBiを分
散含有する。また、この磁性材料をコアあるいは積層構
造のインダクタの磁性体層に用いる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、高周波領域で使用
される磁性材料とその磁性材料を含有するコアを有する
バルク型コイル部品または磁性体層内に前記磁性材料を
有する積層型コイル部品に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、各種電子機器の小型化、軽量化に
伴い、それらを構成する電子部品についても小型化、軽
量化が進んでいる。コイル、トランス等のコイル部品も
例外ではなく、小型化、軽量化が進み、一方で電子機器
の高周波化も進んでいる。特に移動体通信機器において
は10MHz以上の周波数帯でコイル等が使用されてお
り、小型で高周波領域まで動作し、高いQ値を持つコイ
ル等が望まれている。
【0003】高周波用コイル部品としては、磁性体でな
るコアにワイヤを巻き付けたバルク型と、磁性体層と内
部導体層とを積層し焼結してなる積層型とがある。バル
ク型コイル部品は、磁性粉末にバインダーを加えて造粒
した後に所定の形状に成形し、加工し、空気中で850
℃から1300℃程度で焼成したコイル用コア(コアは
焼成後に加工する場合もある)にAu、Ag、Cu、F
e、Pt、Sn、Ni、Pb、Al、Coまたはそれら
の合金等からなるワイヤを巻いて作製する。
【0004】積層型コイル部品は、導体が磁性体で覆わ
れていることから、漏れ磁束がなく、クロストークが抑
制され、高密度実装に適していること、大きなインダク
タンスLを持ちつつ小型化が可能なこと、堅牢性が高い
こと等を特徴としており、近年は多岐にわたる分野に使
用されている。積層型コイル部品は、通常、磁性体層用
ペーストと内部導体層用ペーストとを厚膜技術(印刷法
やドクターブレード法等)により積層し、一体化した
後、焼成し、得られた焼結体表面に外部電極用ペースト
を印刷し、焼き付けることにより製造される。そして、
内部導体材料はインダクタの直流抵抗、さらに製品のQ
値にも影響を及ぼすことから、抵抗の低いAgが用いら
れる。ここで重要なことは、磁性体層に用いられる磁性
材料は、前記のように内部導体と同時焼成されることか
ら、少なくともAgの融点(約960℃)以下で焼結で
きることである。
【0005】バルク型、積層型のいすれのコイルにおい
ても、フェライトによる磁性体層(コア)の比抵抗が高
いことが要求される。バルク型においては、コアにワイ
ヤにより巻線を施す際に、比抵抗が低ければボビン等の
絶縁物が必要となり、コアの小型化の障害となり、さら
にメッキによりコアに電極を形成する場合は比抵抗が低
いとメッキの信頼性が劣化する。また、コアの比抵抗が
低いとコアの素地までメッキされるおそれがあり、コイ
ルとしての信頼性も著しく低下する。
【0006】そこで、バルク型、積層型のコイル部品の
うち、高周波領域で使用される磁性材料としてNi−C
u−Zn系のフェライトが一般に用いられる。その理由
は、フェライトが立方晶の結晶構造であり、比抵抗が高
く、適度の透磁率を有しており、空芯コイルや非磁性体
をコイルのコアとして用いたコイルと同等のインダクタ
ンスを得るのであれば、これらに比べて巻線数を減らす
ことができ、素子の小型化に有利であり、また、高周波
領域まで高いQ値を得ることができるという特徴を有し
ている。
【0007】高周波領域でのQ特性を向上させることを
目的として、特許第2893302号公報には、Ni、
Cu、Co、Feの酸化物を主成分として含有するスピ
ネル型フェライト焼結体に対し、NiO相を0〜60w
t%(但し0を含まず)分散含有したものが開示されて
いる。また、このような組成とすれば、高周波領域での
Q特性が良好となり、Qの最大値が高周波側にシフト
し、コイル用コア材料のμ値については10MHzの値
を用い、インダクタンス値が高くとれ、さらにその効果
として、前記の手法により高周波帯域用磁芯材料として
適用可能な酸化物磁性材料が安価に得られる旨の記載が
ある。
【0008】また、前記公報中に記載の実施例には、前
記フェライト材料を金型を使用して圧縮成形し、大気中
で徐熱すると共に、炉内にて970℃で4時間保持して
フェライト焼結体を得た旨の記載がある。
【0009】さらに特公平6−80613号公報には、
密度の高いNi−Zn系フェライト材料の提供を目的と
して、Ni−Zn系フェライト材料の主成分に対し、B
を、4〜20wt%の範囲で添加含有させ、低
い焼成温度で高い焼結体密度およびQ値を持つ磁性材料
を得た例が開示されている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】コイル部品の品質を量
る因子として品質係数:Q値が挙げられる。これはコイ
ルのリアクタンス成分と交流抵抗成分の位相角をθ(de
g)とすると、90(deg)−θ(deg)で表される損失
角δ(deg)を用いて表される損失:tanδの逆数であ
り、Q=1/tanδで表される。
【0011】スピネル型フェライトの透磁率と周波数に
はスヌーク(snoek)の限界線(透磁率の低いフェ
ライト程、高い周波数まで透磁率を維持する)が成り立
ち、コイルの形状および巻線数とそのパターンを同等と
した場合、透磁率の異なる材料をコイルに使用すること
により、適用する周波数を変えることが可能となる。こ
れは前記スヌークの限界線からも分かる通り、周波数が
高周波になることにより透磁率が減少する。この透磁率
の減少が生じる周波数は透磁率の大小により異なるが、
一般的にはスヌークの周波数限界線に沿って透磁率が減
少する。また、透磁率は複素成分を含めて表すと、実数
成分μ’と虚数成分μ”に分けられる。
【0012】透磁率の実数成分であるμ’は一定の周波
数まで一定の値を保持し、その後周波数の増加と共に前
述したスヌークの限界線に沿って減少する。また、虚数
部分μ”は周波数の増加と共に増加し、μ’成分がフラ
ット領域の値の約半分に減少する周波数付近で最大とな
り、その後周波数の増加と共に減少する。
【0013】このような複素透磁率の実数部分μ’と虚
数部分μ”はコイルのインダクタンスLと交流抵抗Rを
用いると、下記の式で表される。
【0014】μ’=l×L/(μ×A×n) μ”=l×(Reff−R)/(μ×ω×A×
) ここに、l:実測による試料の実効磁路長(m) μ:真空透磁率4×π×10−7(H/m) A:実測による試料の実効断面積(m) n:試料のコイル巻数 ω:角周波数(ラジアン/s)ω=2×π×f ここに、π:円周率、f:測定周波数(Hz) L:コイルのインダクタンス(H) Reff:試料を含めたコイルの損失抵抗(Ω) R:ワイヤの交流抵抗(Ω)
【0015】このような複素透磁率の実数部分μ’と虚
数部分μ”とを用いると、品質係数QはQ=μ’/μ”
=1/tanδで表される。このように、コイル用コアに
フェライトを用いる場合、使用するフェライト材料の複
素透磁率のμ’成分はもとより、虚数成分であるμ”の
大小がその特性を決める要因となる。スヌークの限界線
から分かるように、所望の周波数領域で品質係数の高い
(損失の少ない)コイルを得ようとすれば、適宜効果の
高い透磁率の磁性材料を用いることが肝要である。
【0016】しかしながら、100MHz以上の高周波
領域の品質係数の高い(損失の少ない)コイルを得よう
とすれば、透磁率およびその実数部分μ’が低く、さら
に虚数部分μ”の増加を低く抑えた磁性材料を用いるこ
とが望ましい。
【0017】前記した特許第2893302号公報にお
いては、Q値の向上、高周波化は窺えるものの、コイル
の性能を左右する高周波領域における透磁率の虚数成分
であるμ”の記載がなく、実数部分であるμ’について
も実効透磁率として10MHzの値が挙げられているに
すぎない。コイルとして高周波領域の信頼性を量る上で
はμ’/μ”で表されるQ値の他に、μ’もしくはμ”
についても明確にし、制御を行うことが必要である。
【0018】なお、特許第2893302号公報におい
ては、スピネル型フェライト焼結体にNiO相を適宜分
散含有させたものとしているが、このNiO相の存在が
明確でない。なぜならば、スピネル相とNiO相の析出
量の測定をX線回折線の強度比からの推定で行っている
が、使用する回折ピークはスピネル相が(311)反射
と(222)反射と(400)反射からであり、NiO
相の測定に使用した回折ピークは(111)反射と(2
00)反射である。ところがNiO相の測定に使用した
(111)反射は回折角2θ=56.5°であって、
(200)反射は回折角2θ=66.3°であり、これ
らはそれぞれスピネル相の(222)反射の回折角2θ
=56.6°と、(400)反射の回折角2θ=66.
3°にそれぞれ等しい。このように、NiO相とスピネ
ル相は回折ピークが重なるため、NiO析出を断定する
ことには疑問があり、NiOがスピネル相に固溶してい
るとも考えられる。さらに前記公報には、「焼結体の結
晶組織を観察したところ、結晶が局部的に著しく偏在し
ているような状態は認められず、NiO相に分散した状
態になっていることが判明した」との記載があるよう
に、NiOのスピネル相への固溶状態を示すものと考え
られる。
【0019】また、前記特許第2893302号公報で
は焼成温度が970℃で4時間保持であり、この温度で
はAgあるいはAg−Pdとの同時焼成は困難である。
【0020】さらに、前記特公平6−80613号公報
に記載された製造法では、焼成温度が明確ではなく、B
を10wt%添加含有させた例では焼成温度が
950℃のとき、密度が4.86位であって、密度が望
ましい密度である5以上の場合は焼成温度が960℃以
上となり、AgあるいはAg−Pdとの同時焼成が困難
である。
【0021】また、特公平6−80613号公報の製造
法によると、Biの含有により100MHzにお
いてQ値が向上した例が開示されているが、コイルの性
能を左右するμ’およびμ”に関する記載はない。
【0022】本発明は、上記問題点に鑑み、スピネル相
以外の第2相を出現させると共に、この出現を明確にし
てその量を調整することにより、高周波領域での複素透
磁率の虚数成分μ”を制御し、これにより極めて良好な
Q値が得られる磁性材料とこれを用いたコイル部品を提
供することを目的とする。また本発明は、Agあるいは
その合金との同時焼成が可能となる焼成温度で、焼結体
密度が高く、極めて良好なQ特性が得られる磁性材料
と、これを用いたコイル部品、特に内部導体層にAgあ
るいはその合金を用いた積層型コイル部品を提供するこ
とを目的とする。
【0023】
【課題を解決するための手段と作用、効果】請求項1の
磁性材料は、少なくともFe、Ni、Cu、Coの酸化
物を主成分として含有するスピネル型フェライト焼結体
に対し、(Cu0.2Ni0.8)酸化物相を分散含有
し、かつ全体量に対する含有量が0から10wt%(但
し、0は含まず)となるBiを分散含有すること
を特徴とする。
【0024】このように、(Cu0.2Ni0.8)酸
化物相をフェライト焼結体とは別に分散含有し、この量
を調整することにより、高周波領域での複素透磁率の虚
数成分μ”を制御することができ、これにより、高周波
領域で極めて良好なQ値を持つ磁性体が得られる。ま
た、Biを0〜10wt%含有することにより、
積層型コイル部品において、焼結体密度が5g/cm
以上でAgとの同時焼成が可能な910℃以下の温度、
あるいはAg−Pd等のAg合金と同時焼成が可能な9
50℃以下の温度での焼成により、高周波領域で極めて
良好なQ特性の焼結体でなる磁性体を得ることができ
る。
【0025】請求項2の磁性材料は、請求項1の磁性材
料において、主成分としてさらにZnを含有することを
特徴とする。
【0026】このように主成分としてZnを含有させる
ことにより、初透磁率を高めることができる。
【0027】請求項3のコイル部品は、バルク型コイル
部品であって、請求項1または2の磁性材料からなるコ
アを有することを特徴とする
【0028】このようなコアは、Fe、NiO、
CuO、ZnO、CoO等の主成分および場合によって
はP、Al、B、Mn、Ba、Sr、Pb、W、V等の
酸化物を副成分として所定の比率となるように秤量し、
ボールミル、サンドミル、振動ミル、湿式メディア攪拌
型ミル等を用い、混合粉砕した後、湿式の場合は乾燥
し、仮焼きし、ボールミル、サンドミル、振動ミル、湿
式メディア攪拌型ミル等を用いて粉砕し、湿式の場合は
乾燥を行う。そしてバルク型コアを得る。
【0029】バルク型コイル部品のコアは、粉体にバイ
ンダーを加え、造粒した後に所定の形状に成形加工した
後、空気中で850℃〜1300℃でコアとして焼成
し、Au、Ag、Cu、Fe、Rt、Sn、Ni、P
b、Al、Coまたはこれらの合金等からなるワイヤを
巻いて作製する。なお、前記コアの加工は焼成後に行っ
てもよい。
【0030】請求項3のコイル部品は、前記磁性材料で
作製されたコアを有するため、焼成温度がAgまたはA
g−Pd等の合金の融点以下の低い焼成温度で、密度が
5g/cm以上の焼結体で構成することができる。ま
た、高周波領域でのQ値も高温焼成のものと遜色のない
ものを提供できる。
【0031】請求項4のコイル部品は、磁性体層と内部
導体層を有する積層型コイル部品であって、前記磁性体
層が請求項1または2の磁性材料からなることを特徴と
する。積層型コイル部品は、通常、磁性体層用ペースト
と内部導体層用ペーストとを厚膜技術(印刷法やドクタ
ーブレード法等)により積層して一体化した後、焼成
し、得られた焼結体表面に外部電極用ペーストを印刷
し、焼き付けることにより製造される。請求項4の磁性
体層用ぺーストは請求項1、2の磁性材料を用い、前記
バルク型コイル部品のコアと同様に粉末を作製し、バイ
ンダーと溶剤と共に混合してペーストを作製する。内部
導体層用ペーストは、通常、導電体粉末とバインダーと
溶剤とを混合して作製する。
【0032】請求項4の積層型コイル部品は、磁性体層
に前記磁性材料を用いることにより、低温度で内部導体
層と同時焼成が可能な高密度の積層型コイル部品を提供
することができる。また、高周波領域におけるQについ
ても、高温焼成のものと遜色の無いものを提供できる。
【0033】請求項5の積層型コイル部品は、請求項4
のコイル部品であって、前記内部導体層がAgまたはA
g−Pdの合金を主成分とすることを特徴とする。
【0034】積層型コイル部品の導電体粉末としては、
製品の直流抵抗を低減させ、Q値を向上するという理由
から、AgまたはAg−Pd等の合金が最適である。こ
のAgまたはその合金を導電材に用いる場合、焼成条件
や焼成雰囲気は磁性体や導電材の材質に応じて適宜決定
すればよいが、焼成温度は導電材にAgを用いた場合
は、好ましくは880〜910℃である。また、Ag−
Pdの合金を用いた場合は、好ましくは910〜950
℃である。焼成温度が低すぎると焼結不足となり、高す
ぎると、フェライト中に電極材料が拡散してチップの電
磁気特性を著しく悪化させるからである。また、焼成時
間は5分から2時間である。
【0035】請求項5の積層型コイル部品においては、
内部導体層にAgもしくはAg−Pdの合金を主成分と
するので、内部導体層の抵抗を低いもので構成すること
ができ、Qの高い積層型コイル部品を提供することがで
きる。
【0036】
【発明の実施の形態】本発明の酸化物磁性材料は、F
e、Ni、Cu、Coを主成分とするものであり、さら
に必要に応じてZnを加えて主成分とする。さらにこの
フェライト焼結体に(Cu0.2Ni0.8)O相を有
するものである。この(Cu0.2Ni 0.8)O相の
含有率は好ましくは0〜31wt%(但し0を含ます)
である。また、この主成分に全体に対する含有量が0〜
10wt%(但し0を含まず)となるBiを含む
ものである。また、不純物として、P、Al、B、M
n、Ba、Sr、Pb、W、V、Mo等を含有してもよ
い。
【0037】なお、主成分の組成は、所定値以上の透磁
率、焼結体密度の特性を得る上で好ましくはFe
は5〜51mol%、NiOは10〜94.49mol
%、CuOは0.5〜35mol%、ZnOは0〜35
mol%(但し0を含む)、CoOは0.01〜5mo
l%である。
【0038】ここで、Feは5mol%未満であ
ると、焼結体密度に劣化が見られる。そして、Fe
は化学量論組成を超えた範囲から、空気中の焼成では
Fe の析出により、焼結体密度の劣化およびコア
としての比抵抗の劣化が始まる。この析出が顕著に見ら
れるのは、51mol%を超える範囲である。
【0039】また、NiOが10mol%未満である
と、(Cu0.2Ni0.8)O相の析出が見られず、
Q特性が向上しない。NiOはFe、CuO、Z
nO、CoOの最低量がそれぞれ最低含有率となる場合
の残り全部を占める含有率(94.49mol%)まで
含有させることができる。
【0040】また、CuOが0.5mol%未満である
と、(Cu0.2Ni0.8)O相の析出が見られず、
35mol%を超えると、コアの比抵抗の劣化が見られ
る。
【0041】初透磁率は、使用する周波数により適宜決
定すればよいが、初透磁率を管理する上で最も大きな要
因となるのがZnOである。所望の初透磁率が低い場合
にはZnO量を0とし、これより高い初透磁率を得たい
場合はZnO量を増加させることが必要となる。但し、
ZnOの含有量が35mol%を超えるとキュリー点が
下がり、実用上この値が限界である。
【0042】透磁率の実数部分μ’および虚数部分μ”
の制御を行う上で要因となるのがCoO量であるが、こ
の量が増加することにより、除々にではあるが、初透磁
率が低下し、高周波におけるQ特性が向上する。このC
oOの添加の効果が現れるのは0.01mol%以上で
ある。但しこのCoOの添加量が増加すると、透磁率の
温度特性に劣化が見られ、5mol%を超えると、透磁
率の温度に対する変化率が増加するので、実用上この値
が限界である。
【0043】また、副成分として用いるBiにつ
いては、含有量の増加により低温での焼結体密度が向上
する。これは主成分として用いるCuOと同様である
が、低温で焼結体密度を向上させることを目的にCuO
量を増加させることにより、初透磁率やQ値に劣化が見
られた場合は、適宜Bi量を調整することで、Q
値を劣化させず低温での焼結体密度を向上させることが
可能となる。但しBiの含有量が10wt%を超
えると仮焼において、粒成長が急激に進み、次工程での
粉砕が困難となり、本焼成での緻密化に支障をきたす。
Biの含有量は0〜10wt%(但し0を含ま
ず)であり、より好ましくは0.3〜10wt%であ
る。
【0044】
【実施例】(試料)表1に示す組成となるように主成分
として酸化鉄(α−Fe)と酸化ニッケル(Ni
O)と酸化第2銅(CuO)と酸化亜鉛(ZnO)と四
三酸化コバルト(Co)とをボールミルにより5
時間湿式混合した。次にこれらの原料混合粉末を大気中
750〜900℃で2時間仮焼した後、ボールミルにて
比表面積が4m/gとなるように湿式粉砕し、成形用
粉末を得た。
【0045】これらの粉砕粉末にバインダーとして鹸化
度が98.5、重合度2400のポリビニールアルコー
ル(PVA124)の3wt%水溶液を10重量部加え
て造粒し、後述の測定条件等に合わせて所定の形状に成
形し、空気中で880、910、940、950、98
0、1030、1060、1090、1120℃で焼成
してコアを作製した。
【0046】また、比較例として、(Cu0.2Ni
0.8)O相の析出が見られないNi−Cu−Znフェ
ライトを比較例1、2とし、本発明の実施例1、2、3
と同様の製造条件により作製した磁性材料を用意し、コ
アを作製した。
【0047】また、比較例3,4、5として、Fe
、NiO、CuO、ZnO、CoOの組成をそれぞれ
実施例1、2、3と同じとし、いずれもBiを含
まないサンプルを用意した。また、別の比較例6とし
て、Fe、NiO、CuO、ZnO、CoOの組
成を実施例2と同じとし、Biの含有量を15w
t%としたものを用意した。
【0048】なお、前記成形用粉末の比表面積の測定
は、(株)島津製作所製流動式比表面積自動測定装置、
フローソープ2300型でBET一点法により測定し
た。
【0049】((Cu0.2Ni0.8)O相の同定)
前述のように、900℃に仮焼成して粉砕した成形用粉
末について、表1に示した各サンプルの(Cu0.2
0.8)O相の有無の検出と析出量の測定をX線回折
装置により行った。
【0050】(Cu0.2Ni0.8)O相の定量はX
線回折線の強度比により行った。X線回折装置は、日本
電子(株)社製JDX−3530を用い、線源はCr−
Kα線を使用した。測定条件は、ステップスキャン法、
ステップ角度0.04°、計数時間20秒/ステップで
行った。
【0051】ここで、(Cu0.2Ni0.8)O相の
析出を確認した根拠について説明する。X線回折の結果
から、サンプル3〜9には、サンプル1、2(比較例
1、2)には見られない回折角2θ=102°、144
°に第2相の出現が見られた。さらに、スピネルのピー
クと同位置ではあるが、回折角2θ=56.5°、6
6.3°に強度の増加が見られた。これら4つのピーク
は、相と回折角2θとの関係を表すASTMカードN
o.25−1049に示される(Cu0.2
0. )O相のピークと重なることから、析出が確認
された相を(Cu0.2Ni .8)O相と同定した。
【0052】また、前記カードによれば、回折角2θ=
102°は(Cu0.2Ni0.8)O相における(2
20)反射、2θ=144°は(222)反射、2θ=
56.5°は(111)反射、2θ=66.3°は(2
00)反射であることが確認された。
【0053】さらにEPMAによる面分析から、Niと
Cuの元素分布は同位置に存在することが確認された。
このことは、先に示したX線回折の結果と一致し、析出
が確認された相を(Cu0.2Ni0.8)O相と断定
した。
【0054】
【表1】
【0055】また、サンプル1(比較例1)はCuOを
含まないフェライトである。このサンプル1において
は、(Cu0.2Ni0.8)Oとスピネルの重なり合
うピークである回折角2θ=56.5°および2θ=6
6.3°のピークは増大するものの、スピネルのピーク
と重ならない2θ=102°の出現が無いことから、
(Cu0.2Ni0.8)Oのような第2相の存在は認
められない。
【0056】すなわちサンプル1のように、CuOを含
まず、化学量論的に余剰のNiOが析出されると考えら
れる組成において、Cr線源を用いても得られた回折角
のピークはスピネル相と重なりあうものとしか見られな
かった。
【0057】サンプル2は、CuOを含むフェライトで
あるが、(Cu0.2Ni0.8)Oとスピネルの重な
り合うピークである2θ=56.5°と2θ=66.3
°のピークは増大するものの、スピネルのピークと重な
らない2θ=102°のピークの出現が無いことから、
(Cu0.2Ni0.8)Oのような第2相の存在は認
められない。
【0058】表2に(Cu0.2Ni0.8)O相の析
出量の定量結果を示す。(Cu0. Ni0.8)Oの
析出量の算出については、同定した(Cu0.2Ni
0.8)O相をASTMカードNo.25−1049に
示される3強線と同じ回折ピークから、その強度比を用
い、スピネル相との相対比率を算出した。
【0059】(μ’、μ”、Q測定)各サンプルの成型
用粉末を用いて、外径30mm、内径18mm、高さ8
mmのトロイダル型となるように成形し、空気中で11
20℃で焼成し、ワイヤを3回巻きにすることにより実
際にコイル部品を作製した。そして、インピーダンスア
ナライザ(ヒューレットパッカード社製4291A)に
より、磁界を0.4A/m印加し、周波数を1、2、
3、5、7、10、20、30、50、70、100、
150、200、280、330、430、500MH
zとしてインダクタンスおよび交流抵抗、ワイヤの直流
抵抗を測定し、前述した式からμ’、μ”を求めた。ま
た、μ’をμ”で除算することにより、Q値を求めた。
各サンプルについてのμ’、μ”、Q値の周波数による
変化を、それぞれ図1、図2、図3に示す。
【0060】(見かけ密度の測定)表3に示す見かけ密
度は、前記μ’、μ”の測定に用いた焼結体の寸法から
堆積を求め、その質量を体積で除算して求めた。
【0061】(評価−その1):μ‘、μ“について 図1(A)、(B)に示すように、サンプル1から8に
ついて、実数部分μ‘の挙動に大きな差は見られない。
すなわち、(Cu0.2Ni0.8)O相の析出の有無
およびに関わらず、実数部分μ’の挙動に大きな差は見
られない。一方、虚数部分μ”は、図2(A)、(B)
から明らかなように、比較例3〜5、実施例1〜3の場
合、すなわち(Cu0.2Ni0.8)O相の析出が有
る場合、Biの有無に拘わらず、比較例1、2に
比較し、周波数の増加に伴う虚数部分μ”の増加する周
波数が高周波化している。
【0062】
【表2】
【0063】(評価−その2):Q値について さらに、Q値については、図3(A)、(B)に示すよ
うに、(Cu0.2Ni0.8)O相の析出が有る比較
例3〜5および実施例1〜3の場合、比較例1、2に比
較し、Biの有無に拘わらず、ピーク値の高周波
化が窺え、その値も大きく向上していることが分かる。
このように、(Cu0.2Ni0.8)O相からなる第
2相の出現により虚数部分μ”の高周波化が可能であ
り、また、(Cu0.2Ni0.8)O相の量を調整す
ることによって高周波領域での虚数部分μ”を制御する
ことにより、極めて良好なQ値が得られる磁性材料とこ
れを用いたコイル部品が得られる。
【0064】なお、CuはNiと同様にFeとの固溶状
態を形成しやすいため、NiOに対するFeの組
成比Fe/NiOを低減すること、好ましくは1
以下にすることにより、(Cu0.2Ni0.8)Oの
析出が実現し易くなる。表1、表2から、組成比Fe
/NiOは、各サンプル3の場合、40.0/4
8.9=0.818、サンプル4の場合、10.0/8
6.7=0.115、サンプル5の場合、22.9/6
7.7=0.338である。特にサンプル4、5のよう
に、組成比Fe/NiOが0.5以下になると、
(Cu0.2Ni 0.8)Oの析出がより出現しやすく
なり、図3に示すように、Q値の高い周波数領域がより
高周波化される。
【0065】(評価−その3):焼成温度と焼結体密度
について 焼結体の見かけ密度は、焼結体の焼結性の良し悪しを見
るものである。見かけ密度が低いことにより、焼結体内
部の空孔が多いものと判断することができ、このように
見かけ密度の低いものは、素子化した場合において、高
い湿温度下での使用により、この空孔が原因となり、シ
ョート不良等の信頼性に影響を及ぼしたり、また物理的
強度が脆弱となり、問題となる。このような問題が生じ
ない見かけ密度は、一般にNi−Cu−Zn系フェライ
トの理論密度(5.3〜5.5g/cm)の95%以
上となる5.0g/cm以上である。
【0066】見かけ密度については、表3から明らかな
ように、サンプル7、8(実施例2、3)ではAgとの
同時焼成に好適な910℃以下での焼成により、5g/
cm 以上のものが得られる。また、サンプル6(実施
例1)ではAg−Pdとの同時焼成に好適な950℃以
下での焼成により、5g/cm以上の見かけ密度が得
られる。
【0067】
【表3】
【0068】これに対し、サンプル1〜5(比較例1〜
5)では910℃以下では勿論のこと、Ag−Pdの合
金との同時焼成に好適な950℃以下の焼成においても
5g/cmの見かけ密度を得ることができない。すな
わち、Biの添加により、低温焼成であっても焼
結体密度を上げることができ、焼結性が向上し、Agや
Ag−Pd等のAg合金との同時焼成が可能なQ値の向
上した製品が得られる。Biの添加量は、微量で
あっても効果があるが、表3から明らかなように、この
添加量は0.3wt%以上であることがより好ましい。
【0069】一方、Biの添加量が10wt%を
超えると、仮焼において、粒成長が急激に進み、次工程
での粉砕が困難で成形性が悪くなり、本焼成での緻密化
に支障をきたす。表3ではBiの添加量が15w
t%である場合について、成形性が悪いことを示してい
る。また、Biの添加量が増加すると、これが高
価であることから、コストアップを招くという問題もあ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】(A)、(B)は表1に示す実施例および比較
例の磁性材料を用いて作製したコアの複素透磁率の実数
部分μ’と周波数の関係を示す特性図である。
【図2】(A)、(B)は表1に示す実施例および比較
例の磁性材料を用いて作製したコアの複素透磁率の虚数
部分μ”と周波数の関係を示す特性図である。
【図3】(A)、(B)は表1に示す実施例および比較
例の磁性材料を用いて作製したコアの複素透磁率の実数
部分μ’と虚数部分μ”から算出されたQ値と周波数の
関係を示す特性図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01F 17/00 H01F 17/00 A 17/06 17/06 F (72)発明者 桜井 文吾 東京都中央区日本橋一丁目13番1号 ティ ーディーケイ株式会社内 Fターム(参考) 4G018 AA01 AA22 AA23 AA24 AA25 AA37 AB02 5E041 AB01 AB03 AB14 AB19 BD01 CA01 NN02 5E070 AA01 AB06 BA14 BB01 CB01 CB08 CB13

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】少なくともFe、Ni、Cu、Coの酸化
    物を主成分として含有するスピネル型フェライト焼結体
    に対し、(Cu0.2Ni0.8)酸化物相を分散含有
    し、かつ全体量に対する含有量が0から10wt%(但
    し、0は含まず)となるBiを分散含有すること
    を特徴とする磁性材料。
  2. 【請求項2】請求項1の磁性材料において、 主成分としてさらにZnを含有することを特徴とする磁
    性材料。
  3. 【請求項3】バルク型コイル部品であって、請求項1ま
    たは2の磁性材料からなるコアを有することを特徴とす
    るコイル部品。
  4. 【請求項4】磁性体層と内部導体層を有する積層型コイ
    ル部品であって、前記磁性体層が請求項1または2の磁
    性材料からなることを特徴とするコイル部品。
  5. 【請求項5】請求項4のコイル部品であって、前記内部
    導体層がAgまたはAg−Pdの合金を主成分とするこ
    とを特徴とするコイル部品。
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JP2006165212A (ja) * 2004-12-07 2006-06-22 Sony Corp インダクタンス素子及びその製造方法、並びに配線基板
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JP2020155589A (ja) * 2019-03-20 2020-09-24 Njコンポーネント株式会社 磁性材料、および積層チップ部品

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