JP2002139477A - 構成要素を検査する方法及び装置 - Google Patents

構成要素を検査する方法及び装置

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JP2002139477A JP2001225351A JP2001225351A JP2002139477A JP 2002139477 A JP2002139477 A JP 2002139477A JP 2001225351 A JP2001225351 A JP 2001225351A JP 2001225351 A JP2001225351 A JP 2001225351A JP 2002139477 A JP2002139477 A JP 2002139477A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 傷(14)が存在するか否かを判定するため
に導電性構成要素(10)のあらかじめ選択された領域
(16)を検査する方法。 【解決手段】 この方法は、構成要素(10)のあらか
じめ選択された領域(16)を覆うように渦電流素子
(22)を永久的に装着する工程と、渦電流素子(2
2)を作動させて、構成要素(10)に近接して交番磁
界を発生する工程とを含む。構成要素(10)に近接し
て形成される二次磁界により発生する電気信号を渦電流
素子(22)を使用して検出し、検出された電気信号を
基準信号と比較して、検出された信号が基準信号と異な
るか否かを判定する。その差は構成要素(10)に傷
(14)が存在することを示す。この方法を実行するた
めの検査装置(12)も開示する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般に、渦電流検
査に関し、特に渦電流素子が永久的に装着された構成要
素に関する。
【0002】
【従来の技術】渦電流検査は、航空機のアルミニウム製
燃料タンクなどの導電性構成要素の傷を検出する目的で
一般に使用されている。この種の検査においては、検査
すべき構成要素において渦電流を誘導するために電磁誘
導を使用する。一般に、1つ以上のコイルを有するプロ
ーブを使用して交番磁界を発生させ、その交番磁界が構
成要素中に渦電流を誘導する。構成要素に傷がある場
合、渦電流の流れが変わる。変化した渦電流は2次磁界
に変化を発生させるので、その変化をプローブにより検
出する。プローブは変化した2次磁界に応答して電気信
号を発生する。電気信号の振幅と位相は通常、傷の大き
さに比例する。
【0003】先に述べた通り、従来は検査を実行するた
めに1つ以上のコイルを有するプローブを使用してい
た。プローブは検査すべき面に隣接して配置された。航
空機の翼の内部の燃料タンクを形成する隔壁などの構成
要素の内面を検査するためにプローブを使用する場合、
プローブをその面に隣接して配置するために構造を分解
する必要があった。構造の複雑さの程度にもよるが、分
解、検査とその後の再組み立てには数時間、数日、数週
間又はそれ以上の月日を要する場合もある。この期間
中、構造を利用することは不可能である。
【0004】更に、それらの作業を実行するために必要
な人件費も高いと考えられる。従って、複雑な構造を分
解せずに構造の内面の渦電流検査を実行する方法及び装
置が求められている。
【0005】
【発明の概要】本発明のいくつかの特徴の中で、導電性
構成要素のあらかじめ選択された領域を検査して、その
領域に傷が存在するか否かを判定する方法を提供するこ
とに注目できるであろう。この方法は、構成要素のあら
かじめ選択された領域を覆うように渦電流素子を永久的
に装着する工程と、渦電流素子を作動させて、構成要素
に近接して交番磁界を発生させることにより、構成要素
中に渦電流を誘導する工程とから成る。渦電流により構
成要素に近接して形成される2次磁界により発生する電
気信号を渦電流素子により検出し、検出された電気信号
を基準信号と比較して、検出された信号が基準信号と異
なるか否かを判定する。その差は、構成要素に傷が存在
することを示す。
【0006】別の面においては、検査装置を構成要素に
設置する本発明の方法は、渦電流素子を構成要素に永久
的に装着する工程と、構成要素に導管を取り付ける工程
とから成る。渦電流素子を遠隔場所にある渦電流検査機
器に選択的に接続するために、渦電流素子にリード線を
取り付け、導管に通す。
【0007】更に別の面によれば、本発明は、導電性構
成要素のあらかじめ選択された領域における傷を検出す
る検査装置を含む。装置は、構成要素のあらかじめ選択
された領域を覆うような大きさ及び形状に形成された基
板を含む。基板は、基板を構成要素のあらかじめ選択さ
れた領域に取り付けるための接着剤を含む。更に、装置
は、基板上に装着され、構成要素の傷を検出するために
あらかじめ選択された領域の少なくとも一部を覆うよう
な大きさ及び形状に形成された1次渦電流素子を含む。
【0008】本発明の更に別の面は、検査すべく選択さ
れた領域を有する導電性構成要素と、構成要素の選択さ
れた領域における傷を検出する装置との組み合わせを含
む。装置は、構成要素の、検査すべく選択された領域を
覆うように装着された基板と、基板の選択された領域に
おける傷を検出するために選択された領域の少なくとも
一部を覆うように基板上に装着された1次渦電流素子と
を具備する。
【0009】本発明のその他の特徴は以下の説明により
一部は明白になり、一部は指摘されるであろう。
【0010】
【発明の実施の形態】図面のいくつかの図を通して、同
じ図中符号は対応する部分を指示する。
【0011】そこで図面、特に図1を参照すると、航空
機の燃料タンクを形成するために使用される隔壁の一部
である導電性構成要素が図中符号10により全体的に示
されている。構成要素10はあらゆる点で従来通りの構
成であるので、ここでは詳細な説明を省略する。
【0012】図1に更に示すように、構成要素10のあ
らかじめ選択された領域16における傷(例えば、亀裂
14)を検出するために、検査装置(全体を12で示
す)が構成要素10に装着されている。図1では構成要
素10のごく一部分が検査装置12で覆われているだけ
であるが、構成要素の重要な部分ごとに又は特に障害を
引き起こしやすい部分に検査装置を配置できることは当
業者には理解されるであろう。更に、構成要素10全体
(又は渦電流検査により検査可能である構成要素の各部
分)を検査装置12で覆っても、本発明の範囲から逸脱
することにはならないであろう。
【0013】図2に示すように、検査装置12は、構成
要素10のあらかじめ選択された領域16を覆うような
大きさと形状に形成された基板20を含む。好ましい実
施例の基板20は幅が約12.5mm、長さが約112.
5mmの矩形であるが、基板20を他の大きさや形状にし
ても本発明の範囲から逸脱することにはならないであろ
う。更に、好ましい実施例の基板20は、構成要素10
のあらかじめ選択された領域16に基板を貼り付けるた
めに背面に接着剤が塗布されたKaptonテープのシートで
あるが、他の材料から基板を製造しても本発明の範囲か
ら逸脱することにはならないであろう。Kaptonは、デラ
ウェア州ウィルミントンのE.I. du Pontde Nemours and
Companyの合衆国連邦登録商標である。あるいは、基板
20を構成要素10に取り付けるために別個の接着テー
プ(図示せず)を使用しても良い。
【0014】数個の渦電流コイル24から構成される、
全体を図中符号22で示す1次渦電流素子が基板20に
装着されている(図2)。好ましい実施例の1次渦電流
素子22は重なり合う3個のコイルをそれぞれ含む9列
のコイルにより形成されるコイルのアレイを有するが、
1次コイル24の数及びパターンが異なっていても、本
発明の範囲から逸脱することにはならないであろう。好
ましい実施例の各コイルは幅が約0.75mm、長さが約
42.5mmの矩形であるが、コイルの大きさ及び形状を
変えても本発明の範囲から逸脱することにはならないで
あろう。すなわち、好ましい実施例の1次渦電流素子2
2は、構成要素の傷を検出するために、少なくともあら
かじめ選択された領域16の一部を覆うような大きさと
形状に形成されている。更に、好ましい実施例の各列の
コイル24は互いに約7.5mmずつ重なり合っている。
好ましい実施例のコイルは銅製であり、従来通りのフォ
トリソグラフィプロセスによって基板にエッチングされ
ているが、コイルを別の材料から製造したり、他のプロ
セスによって形成したりしても、本発明の範囲から逸脱
することにはならないであろう。
【0015】更に図2に示すように、複数の渦電流コイ
ル28から構成される基準渦電流素子26が基板20上
の、1次渦電流コイル24の最も下方の列の下に装着さ
れている。当業者には理解されるであろうが、1次渦電
流素子22と基準渦電流素子26は共に基板20により
構成要素10から離間されているので、これらの要素は
基板からほぼ等しく一定の距離(すなわち、基板の厚さ
に相当する距離)をおいて構成要素から離間しているこ
とになる。好ましい実施例の基準渦電流素子26は、検
査のためにあらかじめ選択された領域16の外に位置す
る構成要素10の基準領域30(図1)を覆うように配
置された2つの離間したコイル28を有するが、基準コ
イルの数及びパターンを変えても、本発明の範囲から逸
脱することにはならないであろう。基準渦電流素子26
の位置は、傷のない構成要素10の部分に対応する基準
信号を得るように設定されるのが好ましい。あるいは、
公称信号を発生するコイルについて1次渦電流コイル2
4を走査しても良く、そのコイルを基準コイルとして使
用できると考えられる。すなわち、状況によっては、あ
らかじめ選択された領域16の外ではなく、領域16内
に基準素子を配置しても良い。
【0016】図2に示すように、それぞれの1次渦電流
コイル24と基準渦電流コイル28には計測用リード線
32が接続している。これらのリード線32は束ねられ
ており、技師が1次渦電流素子22及び基準渦電流素子
26を選択的に従来の渦電流機器(図3に全体を図中符
号40で示す)に接続操作することができるように配置
された電気コネクタ36に至る保護チューブ又は導管3
4に通されている。好ましい一実施例では、保護チュー
ブ34は外径が約5mmの円筒形のチューブであるが、チ
ューブ34を他の形状にしても、本発明の範囲から逸脱
することにはならないであろう。更に、一実施例では、
保護チューブ34は適切な従来の接着剤によって構成要
素に取り付けられているが、他の手段によってチューブ
34を構成要素に取り付けても、本発明の範囲から逸脱
することにはならないであろう。保護チューブ34を受
け入れるために、構成要素10の応力の少ない領域に穴
及び/又は溝又はその他の開口を形成しても良い。更
に、保護チューブ34及び構成要素10内部に汚染物質
が侵入するのを防止するために、適切な従来のシーラン
トによってチューブ34の端部を密封しても良い。ま
た、リード線32を操作できるように、保護チューブ3
4の側面に開口を形成しても良い。
【0017】当業者には理解されるであろうが、傷(例
えば、亀裂14)の有無を判定するために、上記の検査
装置12を使用して導電性構成要素10のあらかじめ選
択された領域16を検査できる。まず、構成要素10の
あらかじめ選択された領域16の上に1次渦電流素子2
2を永久的に装着する。あらかじめ選択された領域を試
験するときには、コネクタ36を使用して従来の渦電流
機器40を要素22に接続する。渦電流機器40は1次
渦電流素子22を作動させ、構成要素10に近接して交
番磁界を発生させることにより、構成要素内に渦電流を
誘導する。当業者には理解されるであろうが、1次渦電
流素子22は渦電流により構成要素10に近接して形成
される2次磁界により発生する電気信号を検出する。検
出された電気信号を基準信号と比較して、検出された信
号が基準信号と異なるか否かを判定する。そのような差
異は、構成要素10における傷14の存在を指示する。
【0018】図3に示すように、傷がない場合には、1
次コイル(例えば、コイル42、44)により受信され
る電気信号は基準コイル28により受信される基準信号
と等しい。すなわち、渦電流機器40の対応する表示部
46でコイル42のインピーダンスを基準コイル28の
インピーダンスと比較したとき、その差は0である。同
様に、渦電流機器40の対応する表示部48でコイル4
4のインピーダンスを基準コイル28のインピーダンス
と比較した場合にも、その差は0であるが、亀裂14の
ような傷が図4に示すような長さまで成長すると、表示
部46は1次コイル42と基準コイル28のインピーダ
ンスの差を示すようになる。傷の長さはコイル44の下
方までは伸びていないため、これに対応する表示部48
の読みは0になっている。亀裂が図5に示すように長く
なると、表示部46と表示部48は共にそれぞれ対応す
るコイルのインピーダンスの差を示す。すなわち、先に
説明した検査装置12及び方法を使用すれば、どのよう
な傷であっても、その場所と長さを検出できるのであ
る。
【0019】本発明又はその好ましい実施例の要素を表
す場合、その要素が1つ以上存在することを意味し、ま
た挙げられている要素以外に追加の要素が存在してもよ
い。
【0020】本発明の範囲を逸脱せずに上記の構成にお
いて様々は変更を実施できるであろうと考えられるた
め、以上の説明に含まれる又は添付の図面に示されるあ
らゆる事項は単なる例であり、限定的な意味を持たない
と解釈されるべきである。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の検査装置を有する構成要素の部分斜
視図。
【図2】 本発明の検査装置の正面図。
【図3】 検査装置及び傷を持たない構成要素に対する
渦電流装置からの応答を示す概略図。
【図4】 検査装置及び小さな傷を有する構成要素の場
合の応答を示す概略図。
【図5】 検査装置及びより大きな傷を有する構成要素
の場合の応答を示す概略図。
【符号の説明】
10…導電性構成要素、12…検査装置、14…亀裂、
16…あらかじめ選択された領域、20…基板、22…
1次渦電流素子、24…渦電流コイル、26…基準渦電
流素子、28…基準コイル、32…計測用リード線、3
4…保護チューブ、40…渦電流機器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 トーマス・ジェームズ・バッジンジャー アメリカ合衆国、ニューヨーク州、バーン ト・ヒルズ、ケリー・メドウ・ロード、12 番 (72)発明者 カーチス・ウェイン・ローズ アメリカ合衆国、ニューヨーク州、メカニ ックビル、フィッチ・ロード、80番 (72)発明者 ポール・ピーター・ストリジェク アメリカ合衆国、ニューヨーク州、スケネ クタデイ、スプリング・ブロッサム・レー ン、501番 Fターム(参考) 2G053 AA11 AB21 BA02 BA15 BA22 BB11 BC02 BC14 CA03 CA17 DA01 DA10

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 導電性構成要素(10)に傷(14)が
    存在するか否かを判定するために導電性構成要素(1
    0)のあらかじめ選択された領域(16)を検査する方
    法において、 前記導電性構成要素(10)のあらかじめ選択された領
    域(16)を覆うように渦電流素子(22)を永久的に
    装着する工程と、 前記渦電流素子(22)を作動させて前記導電性構成要
    素(10)に近接して交番磁界を発生することにより、
    前記導電性構成要素(10)中に渦電流を誘導する工程
    と、 渦電流により前記導電性構成要素(10)に近接して形
    成される2次磁界によって発生する電気信号を前記渦電
    流素子(22)によって検出する工程と、 検出された電気信号を基準信号と比較して、検出された
    信号が基準信号と異なるか否かを判定することにより、
    前記導電性構成要素(10)における傷(14)の有無
    を示す工程とから成る方法。
  2. 【請求項2】 導電性構成要素(10)に傷(14)が
    存在するか否かを判定するために導電性構成要素(1
    0)のあらかじめ選択された領域(16)を検査するた
    めに検査装置(12)を導電性構成要素(10)上に設
    置する方法において、 前記導電性構成要素(10)のあらかじめ選択された領
    域(16)を覆うように渦電流素子(22)を永久的に
    装着する工程と、 前記導電性構成要素(10)に導管(34)を取り付け
    る工程と、 前記渦電流素子(22)を遠隔場所にある渦電流検査機
    器(40)に選択的に接続するために、前記渦電流素子
    (22)にリード線(32)を取り付ける工程と、 前記リード線(32)を前記導管(34)に通す工程と
    から成る方法。
  3. 【請求項3】 前記導管(34)を受け入れるために前
    記導電性構成要素(10)に開口を形成する工程と、 前記導管(34)を前記開口内に位置決めする工程とを
    更に含む請求項2記載の方法。
  4. 【請求項4】 前記導管(34)を汚染物質が通過する
    のを防止するために前記導管(34)を密封する工程を
    更に含む請求項2記載の方法。
  5. 【請求項5】 導電性構成要素(10)のあらかじめ選
    択された領域(16)における傷(14)を検出する検
    査装置(12)において、 前記導電性構成要素(10)のあらかじめ選択された領
    域(16)を覆うような大きさ及び形状に形成され、前
    記導電性構成要素(10)のあらかじめ選択された領域
    (16)を覆うように取り付けるために接着剤を含む基
    板(20)と、 前記基板(20)上に装着され、前記導電性構成要素
    (10)における傷(14)を検出するために前記あら
    かじめ選択された領域(16)の少なくとも一部を覆う
    ような大きさ及び形状に形成される1次渦電流素子(2
    2)とを具備する検査装置(12)。
  6. 【請求項6】 前記基板(20)上に前記1次渦電流素
    子(22)に隣接して装着され、前記導電性構成要素
    (10)の傷(14)のない部分に対応する基準信号を
    得るための基準渦電流素子(26)を更に具備する請求
    項5記載の検査装置(12)。
  7. 【請求項7】 検査すべく選択された領域(16)を有
    する導電性構成要素(10)と、前記導電性構成要素
    (10)の前記選択された領域(16)における傷(1
    4)を検出する装置(12)との組み合わせにおいて、
    前記装置(12)が、 前記導電性構成要素(10)の前記検査すべく選択され
    た領域(16)を覆うように装着される基板(20)
    と、 前記選択された領域(16)における傷(14)を検出
    するために、前記基板(20)上の、前記選択された領
    域(16)の少なくとも一部を覆うように装着される1
    次渦電流素子(22)とを具備する、組み合わせ。
  8. 【請求項8】 前記装置(12)は、前記基板(20)
    上に前記1次渦電流素子(22)に隣接して装着され、
    前記導電性構成要素(10)の傷(14)のない部分に
    対応する基準信号を得るための基準渦電流素子(26)
    を含む請求項7記載の組み合わせ。
  9. 【請求項9】 前記基準渦電流素子(26)は、前記検
    査すべく選択された領域の外に位置する前記導電性構成
    要素(10)の基準領域に配置される請求項8記載の組
    み合わせ。
  10. 【請求項10】 前記1次渦電流素子(22)は、前記
    基板(20)上の前記選択された領域(16)のほぼ全
    てを覆うように装着された複数の1次渦電流コイル(2
    4)を具備する請求項7記載の組み合わせ。
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SG (1) SG97186A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011514534A (ja) * 2008-03-20 2011-05-06 ヨーロピアン・アエロノーティック・ディフェンス・アンド・スペース・カンパニー・イーデス・フランス 乗り物構造体の監視装置
CN102768238A (zh) * 2012-08-01 2012-11-07 上海海事大学 一种多激励高灵敏度的电磁探伤传感装置

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030164700A1 (en) * 2001-03-19 2003-09-04 Jentek Sensors, Inc. High resolution hidden damage imaging
AU2003294588A1 (en) * 2002-12-09 2004-06-30 Rensselaer Polytechnic Institute Embedded nanotube array sensor and method of making a nanotube polymer composite
US6888347B2 (en) * 2003-09-12 2005-05-03 General Electric Company Omnidirectional eddy current probes, array probes, and inspection systems
US7015690B2 (en) * 2004-05-27 2006-03-21 General Electric Company Omnidirectional eddy current probe and inspection system
US7402999B2 (en) * 2005-11-30 2008-07-22 General Electric Company Pulsed eddy current pipeline inspection system and method
US7459916B2 (en) * 2006-08-30 2008-12-02 L-3 Communications Corporation Electromagnetic shielding defect monitoring system and method for using the same
CA2566933C (en) * 2006-10-17 2013-09-24 Athena Industrial Technologies Inc. Inspection apparatus and method
EP2128701A1 (en) * 2008-05-30 2009-12-02 ASML Netherlands BV Method of determining defects in a substrate and apparatus for exposing a substrate in a lithographic process
FR2965356A1 (fr) * 2010-09-23 2012-03-30 Airbus Operations Sas Controle non destructif d'une structure dans un aeronef
US8884614B2 (en) 2011-10-31 2014-11-11 General Electric Company Eddy current array probe
WO2015159226A1 (en) * 2014-04-14 2015-10-22 Eddyfi Ndt Inc. Eddy current array probe with independent transmitters

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6355450A (ja) * 1985-11-19 1988-03-09 エレクトリツク パワ− リサ−チ インスチテユ−ト インコ−ポレ−テツド 非破壊試験用のフレキシブルな渦電流コイルの配列体
JPH01248049A (ja) * 1988-03-29 1989-10-03 Kyowa Electron Instr Co Ltd 亀裂変化検出方法及び亀裂変化監視システム
JPH0772729B2 (ja) * 1984-09-20 1995-08-02 アンステイテイ デ リシエルシエ デ ラ シデリルギ フランセーズ(アイアールエスアイデイー) 渦電流により表面欠陥を検出する方法とその装置
JPH10185854A (ja) * 1996-12-25 1998-07-14 B M C:Kk 構造材料の疲労損傷検知方法およびその検知装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB886247A (en) * 1958-05-02 1962-01-03 Secr Aviation Improvements in or relating to structures to facilitate non-destructive testing thereof
GB2031589A (en) * 1978-09-08 1980-04-23 Atomic Energy Authority Uk Non-destructive testing techniques
SU1022040A1 (ru) * 1981-11-17 1983-06-07 Центральный Научно-Исследовательский Экспериментальный И Проектный Институт По Сельскому Строительству Способ контрол напр женно-деформированного состо ни металлических изделий и устройство дл его осуществлени
US4706020A (en) * 1983-12-12 1987-11-10 General Electric Company High frequency eddy current probe with planar, spiral-like coil on flexible substrate for detecting flaws in semi-conductive material
CH673896A5 (en) * 1988-01-28 1990-04-12 Asea Brown Boveri Non-destructive eddy-current tester - has pairs of coils excited and sampled by multiplexer in clock circuit pre-programmed for computerised scanning of flexible test mat
US5047719A (en) * 1990-05-25 1991-09-10 The Failure Group, Inc. Flexible coil assembly for reflectance-mode nondestructive eddy-current examination
US5262722A (en) * 1992-04-03 1993-11-16 General Electric Company Apparatus for near surface nondestructive eddy current scanning of a conductive part using a multi-layer eddy current probe array
US5485084A (en) * 1993-05-10 1996-01-16 The Boeing Company Apparatus and method for detecting structural cracks using a movable detector
US5659248A (en) * 1994-10-17 1997-08-19 General Electric Company Multilayer eddy current probe array for complete coverage of an inspection surface without mechanical scanning
US5793206A (en) * 1995-08-25 1998-08-11 Jentek Sensors, Inc. Meandering winding test circuit

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0772729B2 (ja) * 1984-09-20 1995-08-02 アンステイテイ デ リシエルシエ デ ラ シデリルギ フランセーズ(アイアールエスアイデイー) 渦電流により表面欠陥を検出する方法とその装置
JPS6355450A (ja) * 1985-11-19 1988-03-09 エレクトリツク パワ− リサ−チ インスチテユ−ト インコ−ポレ−テツド 非破壊試験用のフレキシブルな渦電流コイルの配列体
JPH01248049A (ja) * 1988-03-29 1989-10-03 Kyowa Electron Instr Co Ltd 亀裂変化検出方法及び亀裂変化監視システム
JPH10185854A (ja) * 1996-12-25 1998-07-14 B M C:Kk 構造材料の疲労損傷検知方法およびその検知装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011514534A (ja) * 2008-03-20 2011-05-06 ヨーロピアン・アエロノーティック・ディフェンス・アンド・スペース・カンパニー・イーデス・フランス 乗り物構造体の監視装置
CN102768238A (zh) * 2012-08-01 2012-11-07 上海海事大学 一种多激励高灵敏度的电磁探伤传感装置

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