JP2002131385A - 電気部品の導通測定方法及びその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 測定ピンの押圧力をエアーにより付与し、そ
のエアーの圧力を制御することで、複数本の測定ピンが
それぞれ均一な圧力で被測定電気部品のそれぞれの導電
性測定ポイントに接触することができる導通測定装置を
得ること。 【解決手段】 本発明の導通測定装置２０は、コンピュ
ータを内蔵したエアー圧力制御装置２４０と、そのエア
ー圧力制御装置２４０の制御の下にエアー圧力が所定の
一定圧力に制御されたエアーを供給するエアー管２１０
と、このエアー管２１０から同一方向に所定の間隔、同
一の長さで進退自在に支持され、エアー管２１０内で制
御された前記一定圧力で押圧されている複数本の測定ピ
ン２３０とを備え、被測定電気部品Ｐのそれぞれの測定
ポイントＭｐにそれぞれの測定ピン２３０を所定の一定
エアー押圧力の下に接触させることができるように構成
されている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、複数の導電性測定
ポイントが形成されている電気部品、例えば、ＩＣ、回
路基板、ＩＣ或いはその他の部品が実装された回路基板
などの配線のオープン、ショートの導通測定を所定のエ
アー圧力下にある複数本の測定ピンを用いて行うことが
できる電気部品の導通測定装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】先ず、図を参照しながら、従来技術の電
気部品の導通測定装置（以下、単に「導通測定装置」と
記す）を説明する。

【０００３】図４は従来技術の一導通測定装置が組み込
まれている導通測定システムブロック図、そして図５は
図４に組み込まれている一導通測定装置の一部構造の拡
大図である。

【０００４】先ず、図４を用いて、導通測定システムの
構成を説明する。

【０００５】図４において、符号１は全体としてこの導
通測定システムを指す。この導通測定システム１は、導
通測定装置１０を中心に構成されており、中央演算素子
が組み込まれている制御装置２、コンピュータ３、第１
モニター４、第２モニター５、第３モニター６などが組
み込まれている。

【０００６】導通測定装置１０は制御装置２に接続され
ていて、ＩＣ、回路基板、ＩＣなどの部品が実装されて
いる回路基板などの被測定電気部品の測定目的に応じた
測定回路が組み込まれているテストカードが差し込ま
れ、後記する複数本の測定ピン１１０とプローブピン１
２０との間に制御電流を供給し、或いは測定ピン１１０
とプローブピン１２０とからの電流の変化を受けて配線
のオープンチェック、ショートチェックなどの導通測定
を行う。その導通測定の結果は第１モニター４に表示さ
れ、可否が判断される。

【０００７】被測定電気部品がＩＣなどの部品が実装さ
れている回路基板であって、その組み込まれている機能
が正常に作動するか否かをテストする場合には、そのよ
うな被測定電気部品が導通測定装置１０にセットされ、
また、その測定用テストカードが制御装置２にセットさ
れ、コンピュータ３から測定しようとする機能の信号が
制御装置２に供給される。第２モニター５は機能信号が
表示される。その被測定電気部品の測定は、前記の測定
テストと同様に、測定ピン１１０とプローブピン１２０
とに間に制御装置２から機能信号を供給して行われる。
その測定結果は第３モニター６に映像として表示され、
可否が判断される。

【０００８】前記導通測定装置１０は、その主要部を図
５に拡大して示したように、被測定電気部品Ｐの導通を
測定するための前記の複数本の測定ピン１１０と複数本
のプローブピン１２０を中心に構成されている。

【０００９】複数本の測定ピン１１０は被測定電気部品
Ｐの電極の数及び位置に対応して配列されており、それ
らはそれぞれ独立して固定の基台１３０の中央部で下方
から後記する載置台１５０の上方に突き出された状態で
固定されている。それぞれの測定ピン１１０には信号を
送信できるケーブル１７０が接続されている。一方のプ
ローブピン１２０は、ハンドル１４０（図４）を操作す
ることにより被測定電気部品Ｐ側に降下し、導通測定を
行わない時は昇降させる機構で支持されている。

【００１０】被測定電気部品Ｐは載置台１５０に載置さ
れて、下方からの測定ピン１１０と上方からのプローブ
ピン１２０とで測定される。載置台１５０は基台１３０
の上方に複数本の支持バネ１５１で弾性的に支持されて
いる。

【００１１】載置台１５０上に載置された被測定電気部
品Ｐは、測定時に、前記ハンドル１４０を操作すること
により上方から降下してくる昇降板１８０の下面に取り
付けられているラバー１８１で押さえられ、固定され
る。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】ところで、前記の導通
測定装置１０における複数本の測定ピン１１０はそれぞ
れ独立しているため、複数本の測定ピン１１０の圧力を
均一にすることが困難である。このため、圧力差による
被測定電気部品Ｐが傾斜したり、破損するという好まし
くない現象が生じ、導通測定を良好な条件の下に行うこ
とが出来ない場合がある。

【００１３】また、測定ピン１１０が固定されているた
め、被測定電気部品Ｐが回路基板である場合には、回路
基板の反り、導電性測定ポイントである測定用ランドの
半田量の増減、測定ピン１１０の摩耗により測定対象ま
での距離が変化すると、測定ポイントに対する測定ピン
圧力が変化してしまい、回路基板の破損や接触不良をを
招く場合がある。

【００１４】従って、本発明はこのような課題を解決し
ようとするものであって、複数本の測定ピンの押圧力を
エアーにより付与し、そのエアーの圧力を制御すること
で、複数本の測定ピンがそれぞれ均一な圧力で被測定電
気部品のそれぞれの導電性測定ポイントに接触すること
ができる導通測定装置を得ることを目的とするものであ
る。

【００１５】

【課題を解決するための手段】それ故、請求項１に記載
の発明では、電気部品の導通測定方法として、所定の一
定のエアー圧力で均一に押圧され、進退自在に支持され
た複数本の測定ピンを被測定電気部品の導電性測定ポイ
ントに当接させることにより前記被電気部品の導通を取
る方法を採って、前記課題を解決している。

【００１６】そして、請求項２に記載の発明では、電気
部品の導通測定装置を、被測定電気部品を測定するため
必要とする一定のエアー圧力でエアーが供給されるエア
ー管と、そのエアー管から同一方向に所定の間隔で進退
自在に支持され、前記エアー管内で制御された前記一定
圧力で押圧される複数本の測定ピンと、前記被測定電気
部品を測定するための基準となるエアー圧力が予め設定
されているエアー圧力制御装置とを具備せしめて構成
し、前記課題を解決している。

【００１７】また、請求項３に記載の発明では、請求項
２に記載の電気部品の導通測定装置における前記エアー
管が、エアー制御管部とそのエアー制御管部から同一方
向に所定の間隔、同一の長さで導出されている複数本の
測定ピン支持管部とから構成されており、前記エアー制
御管部はその基端部がエアー供給源に接続され、その内
部には前記エアー供給源側にエアー供給制御弁が、前記
測定ピン支持管部側にエアー圧力センサが配設されてお
り、前記測定ピン支持管部側の管壁にはエアー開放弁が
取り付けられており、そして前記各測定ピン支持管部に
は測定ピン支持台座が取り付けられており、該測定ピン
支持台座は、基端部にエアーストッパが、先端部に前記
測定ピン取付部が形成されており、そして該測定ピン取
付部の近傍から測定信号線が導出されていて、前記エア
ーストッパが取り付けられた基端部は前記測定ピン支持
管部内に、そして前記測定信号線及び前記測定ピン取付
部は前記測定ピン支持管部外に配されており、前記測定
ピンは前記測定ピン支持台座に取り付けられていて、前
記エアー圧力センサからの圧力変化信号が前記エアー圧
力制御装置に入力され、予め設定されている前記エアー
圧力設定値と比較、演算され、それらの演算結果で得ら
れた制御信号で前記エアー供給制御弁及び前記エアー開
放弁を制御することを特徴とする。

【００１８】従って、本発明によれば、複数の導電性測
定ポイント（以下、単に「測定ポイント」と記す）が形
成されている電気部品の前記各測定ポイントにそれぞれ
の測定ピンを所定の一定押圧力の下に接触させることが
できる。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下、図を用いて、本発明の一実
施形態の導通測定装置を説明する。

【００２０】図１は本発明の導通測定装置の要部の概略
斜視図、図２は図１に示した導通測定装置の一部分の拡
大側面図、そして図３は一対の測定ピンで示した本発明
の導通測定装置の一使用形態を示す側面図である。

【００２１】先ず、図１を用いて、本発明の導通測定装
置を説明する。

【００２２】図１において、符号２０は本発明の導通測
定装置２０を指す。また、符号Ｐは被測定電気部品Ｐを
指す。

【００２３】被測定電気部品Ｐは、図示の場合、複数個
の測定ポイントＭｐが所定の間隔を開けて２列に、所定
の間隔を開けて平行に配列されている。

【００２４】導通測定装置２０は、主として、エアー管
２１０、測定ピン支持台座２２０、複数本の測定ピン２
３０、エアー圧力制御装置２４０、測定信号線２５０か
ら構成されている。

【００２５】エアー管２１０は、エアー制御管部２１１
と、このエアー制御管部２１１から同一の方向に所定の
間隔、同一の長さで分岐して導出されている複数本の測
定ピン支持管部２１２とから構成されている。

【００２６】エアー制御管部２１１は、その基端部２１
１ａがエアー供給源（不図示）に接続され、その内部に
は前記エアー供給源側にエアー流路を開閉できるように
エアー供給制御弁２１３が、前記測定ピン支持管部２１
２側にエアー圧力センサ２１４が配設されており、前記
測定ピン支持管部２１２側の管壁にはエアー開放弁２１
５が取り付けられている。

【００２７】エアー供給制御弁２１３はエアー圧力制御
装置２４０の制御の下に開閉されてエアー供給源からエ
アー流路に供給されるエアーの流量を調整する機能を果
たし、エアー圧力センサ２１４は全ての測定ピン支持管
部２１２内のエアー圧力の変動を検出して、その検出信
号をエアー圧力制御装置２４０にフィードバックする機
能を果たし、そしてエアー開放弁２１５はエアー圧力制
御装置２４０の制御の下に開き、エアー制御管部２１１
内のエアーを抜く機能を果たす。

【００２８】エアー圧力制御装置２４０は、内部にコン
ピュータが組み込まれていて、被測定電気部品Ｐの測定
目的の設定条件が記録されている外部記憶手段を入力す
ることで、前記設定条件と前記エアー圧力センサ２１４
の検出信号とを比較して、前記エアー供給制御弁２１３
及び或いはエアー開放弁２１５を制御する機能を備えて
いる。

【００２９】測定ピン支持台座２２０は測定ピン支持管
部２１２に進退自在に取り付けられていて、基端部にエ
アーストッパ２２１が取り付けられており、先端部に前
記測定ピン取付部２２２が形成されていて、その測定ピ
ン取付部２２２の近傍から測定信号線２５０が導出され
ている。各測定信号線２５０は複数本の線が束ねられて
いる。

【００３０】そして、測定ピン支持台座２２０は、エア
ーストッパ２２１が取り付けられた基端部が測定ピン支
持管部２１２内に、そして測定信号線２５０及び測定ピ
ン取付部２２２が測定ピン支持管部２１２の外方に出る
状態で測定ピン支持台座２２０に装着されている。それ
ぞれの測定信号線２５０の一端はそれぞれの測定ピン２
３０に接続されており、他端は、例えば、図４に示した
制御装置２に接続され、それぞれの測定ピン２３０に通
電し、測定ポイントＭｐの導通を測定する。測定ピン２
３０が測定した結果は測定信号線２５０を通じて制御装
置２で処理し、第１モニター４或いは第３モニター６に
表示するように構成されている。

【００３１】全ての測定ピン２３０は測定ピン取付部２
２２に着脱自在に取り付けられている。測定ピン２３０
は被測定電気部品Ｐの測定ポイントＭｐの数だけ必要と
し、それらの配列は、当然のことながら、被測定電気部
品Ｐの測定ポイントＭｐの配列と同一である。図１に図
示の例では、被測定電気部品Ｐの測定ポイントＭｐが複
数個、所定の間隔を開けて互いに平行な二列に所定の間
隔で形成されているので、これらの測定ポイントＭｐに
接触できるように、複数本の測定ピン取付部２２２がエ
アー制御管部２１１から分岐されていて、それらの測定
ピン取付部２２２に測定ピン２３０がそれぞれ取り付け
られているものである。

【００３２】本発明の導通測定装置２０は、前記のよう
に構成されているものであるが、測定ポイントＭｐが被
測定電気部品Ｐの上下両面に形成されており、それら全
ての、或いは部分的に両面から測定する必要がある場合
には、測定しようとする測定ポイントＭｐの配列に対応
して測定ピン２３０が配列されている構成、構造の導通
測定装置２０を一対用意し、それらを被測定電気部品Ｐ
の表裏にそれぞれ配設し、各測定ポイントＭｐに測定ピ
ン２３０をそれぞれ接触させるようにして測定する構成
を採ればよい。

【００３３】次に、本発明の前記導通測定装置２０を用
いて被測定電気部品Ｐの測定動作を説明する。

【００３４】先ず、エアー圧力制御装置２４０に被測定
電気部品Ｐの測定目的の設定条件が記録されている外部
記憶手段を入力する。この設定条件には、エアー制御管
部２１１内を所定のエアー圧力下に維持させるエアー圧
力条件も含まれている。

【００３５】次に、エアー管２１０の基端部２１１ａを
エアー供給源（不図示）に接続してエアー管２１０内の
エアー圧力が前記設定値よりやや高い値でエアーを供給
する。

【００３６】エアーはエアー制御管部２１１の全ての配
管からから複数本の全ての測定ピン支持管部２１２に充
満し、エアーストッパ２２１を押圧する。押圧されたエ
アーストッパ２２１は測定ピン支持台座２２０及び測定
ピン２３０を被測定電気部品Ｐの測定ポイントＭｐの方
に押圧し、測定ピン２３０は測定ポイントＭｐに接触す
る。

【００３７】この時、回路基板のような被測定電気部品
Ｐが反るなどして測定ポイントＭｐの高さ位置に相違が
生じておれば、それぞれの測定ピン支持台座２２０及び
測定ピン２３０はそれぞれの測定ポイントＭｐの高さに
応じて移動する。そして測定ポイントＭｐに接触する
と、そこで停止する。

【００３８】この時のエアー制御管部２１１及び測定ピ
ン支持管部２１２内のエアー圧力が前記圧力設定値と異
なれば、エアー圧力センサ２１４が作動し、そのエアー
圧力検出信号がエアー圧力制御装置２４０にフィードバ
ックされる。このエアー圧力検出信号は前記エアー圧力
設定値と比較され、その演算結果で得られた制御信号で
エアー供給制御弁２１３を調節してエアー供給源からの
エアーの流量を調節する。エアー管２１０内のエアー圧
力が低い場合は、エアー供給制御弁２１３を開いてエア
ーの供給量を増大させ、高い場合は、エアー供給制御弁
２１３を絞ってエアーの供給量を制限する。或いは、エ
アー管２１０内のエアー圧力が高い場合は、エアー開放
弁２１５を調節してエアー管２１０内のエアーを抜き、
エアー管２１０内のエアー圧力を前記エアー圧力設定値
に等しくなるように制御する。

【００３９】それぞれの測定ピン支持台座２２０、測定
ピン２３０及び測定信号線２５０はエアー管２１０内の
エアー圧力の変化によりそれぞれ可動し、それぞれの測
定ピン２３０が被測定電気部品Ｐのそれぞれの測定ポイ
ントＭｐに接触するまではエアーストッパ２２１がエア
ー圧力により押圧される。この動作により測定ピン支持
台座２２０が可動するため、エアー管２１０内のエアー
圧力は変動しない。

【００４０】実際に測定を行う場合には、導通測定装置
２０を図５に示した基台１３０の中央部の下方に、全て
の測定ピン２３０が上向きに、そして測定ピン２３０の
先端が基台１３０の上面に突出するように組み込み、固
定する。そして、載置台１５０に被測定電気部品Ｐを載
置し、ハンドル１４０（図４）を操作して昇降板１８０
を降下させ、その下面に取り付けられているラバー１８
１で被測定電気部品Ｐを押さえ、固定した状態で前記の
ような手順で測定する。

【００４１】導通測定装置２０を基台１３０の下方に取
り付けた場合、その測定ピン支持台座２２０の測定信号
線２５０側に張り出している部分２２０ａがストッパに
なる。従って、本発明の導通測定装置２０は被測定電気
部品Ｐの表裏両面から測定を行うことができる。

【００４２】それ故、図３に示したように、被測定電気
部品Ｐの表裏両面に測定ポイントＭｐが設けられてお
り、その表裏両面から測定を行う場合には、もう一台の
導通測定装置２０を図４に示したプローブピン１２０の
代わりに用い、それをハンドル１４０の操作で降下させ
て各測定ピン２３０を上方の測定ポイントＭｐに接触さ
せ、前記のような測定を行えばよい。なお、このような
被測定電気部品Ｐの表裏両面から測定を行う場合に、前
記のように２台の導通測定装置２０を用いてもよいが、
共通のエアー管２１０を設け、測定ピン２３０を取り付
けて押圧できるように構成してもよいことを付言してお
く。

【００４３】以上説明したように、本発明の導通測定装
置２０の全ての測定ピン２３０は同一の所定のエアー圧
力の下で押圧されているため、被測定電気部品Ｐが傾斜
したり、破損するようなことはなく。また、たとえ回路
基板の反り、導電性測定ポイントである測定用ランドの
半田量の増減、測定ピンの摩耗などがあっても、測定不
良を招くようなことはない。

【００４４】なお、エアー管２１０の構造は、図１に示
した例のものに限定されるものではなく、もし、被測定
電気部品Ｐが、例えば、クワッドフラットパッケージ
（ＱＦＰ）のＩＣであれば、エアー制御管部２１１を四
辺形に形成し、各辺の配管から複数本の測定ピン支持管
部２１２を同一方向に分岐し、また、被測定電気部品Ｐ
がボールグリッドアレイ（ＢＧＡ）型パッケージのＩＣ
であれば、エアー制御管部２１１をマトリックス状に配
管し、それぞれの行、列の配管から複数本の測定ピン支
持管部２１２を同一方向に分岐し、それぞれに測定ピン
２３０を取り付ける構造とする。更にまた、被測定電気
部品Ｐが回路基板であるならば、その回路基板に形成さ
れている測定ポイントＭｐの数、位置に一致させてエア
ー制御管部２１１を配管し、それぞれの配管から測定ピ
ン支持管部２１２を分岐させ、それぞれに測定ピン２３
０を取り付ける構造で構成するとよい。

【００４５】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の導通測定
装置によれば、被測定電気部品に対する測定ピンの圧力
を設定すると、並列に配設された全ての測定ピンが設定
された一定のエアー圧力により測定ポイントに接触する
ため、ピン圧力の差異による影響を受けない。

【００４６】また、被測定電気部品の反り、その測定用
ランドの半田量の増減、測定ピンの摩耗により、測定対
象である測定ポイントまでの距離が変化しても、測定ピ
ンが可動式であるため、測定ピンの圧力を一定に保つこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の導通測定装置の要部の概略斜視図で
ある。

【図２】 図１に示した導通測定装置の一部分の拡大側
面図である。

【図３】 一対の測定ピンで示した本発明の導通測定装
置の一使用形態を示す側面図である。

【図４】 従来技術の一導通測定装置が組み込まれてい
る導通測定システムブロック図である。

【図５】 図４に組み込まれている一導通測定装置の一
部構造の拡大図である。

【符号の説明】

２０…本発明の一実施形態の（電気部品の）導通測定装
置、２１０…エアー管、２１１…エアー制御管部、２１
２…測定ピン支持管部、エアー供給制御弁２１３、２１
４…エアー圧力センサ、２１５…エアー開放弁、２２０
…測定ピン支持台座、２２１…エアーストッパ、２３０
…測定ピン、２４０…エアー圧力制御装置、２５０…測
定信号線

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 所定の一定のエアー圧力で均一に押圧さ
   れ、進退自在に支持された複数本の測定ピンを被測定電
   気部品の導電性測定ポイントに当接させることにより前
   記被電気部品の導通を取ることをことを特徴とする電気
   部品の導通測定方法。
2. 【請求項２】 被測定電気部品を測定するために必要と
   する一定のエアー圧力でエアーが供給されるエアー管
   と、 該エアー管から同一方向に所定の間隔で進退自在に支持
   され、前記エアー管内で制御された前記一定圧力で押圧
   される複数本の測定ピンと、 前記被測定電気部品を測定するための基準となるエアー
   圧力が予め設定されているエアー圧力制御装置とを備え
   ていることを特徴とする電気部品の導通測定装置。
3. 【請求項３】 前記エアー管は、エアー制御管部と該エ
   アー制御管部から同一の方向に所定の間隔、同一の長さ
   で導出されている複数本の測定ピン支持管部とから構成
   されており、前記エアー制御管部はその基端部がエアー
   供給源に接続され、その内部には前記エアー供給源側に
   エアー供給制御弁が、前記測定ピン支持管部側にエアー
   圧力センサが配設されており、前記測定ピン支持管部側
   の管壁にはエアー開放弁が取り付けられており、そして
   前記各測定ピン支持管部には測定ピン支持台座が取り付
   けられており、 該測定ピン支持台座は、基端部にエアーストッパが、先
   端部に前記測定ピン取付部が形成されており、そして該
   測定ピン取付部の近傍から測定信号線が導出されてい
   て、前記エアーストッパが取り付けられた基端部は前記
   測定ピン支持管部内に、そして前記測定信号線及び前記
   測定ピン取付部は前記測定ピン支持管部外に配されてお
   り、 前記測定ピンは前記測定ピン支持台座に取り付けられて
   いて、 前記エアー圧力センサからの圧力変化信号が前記エアー
   圧力制御装置に入力され、予め設定されている前記エア
   ー圧力設定値と比較、演算され、それらの演算結果で得
   られた制御信号で前記エアー供給制御弁及び前記エアー
   開放弁を制御することを特徴とする請求項２に記載の電
   気部品の導通測定装置。