JP2002083403A - 磁気ディスクの書込／読出回路 - Google Patents
磁気ディスクの書込／読出回路Info
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/012—Recording on, or reproducing or erasing from, magnetic disks
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y10/00—Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
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- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/33—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
- G11B5/39—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
- G11B2005/3996—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects large or giant magnetoresistive effects [GMR], e.g. as generated in spin-valve [SV] devices
-
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- G11B23/00—Record carriers not specific to the method of recording or reproducing; Accessories, e.g. containers, specially adapted for co-operation with the recording or reproducing apparatus ; Intermediate mediums; Apparatus or processes specially adapted for their manufacture
- G11B23/0007—Circuits or methods for reducing noise, for correction of distortion, or for changing density of recorded information
Abstract
(57)【要約】
【課題】磁気ヘッド、特にＭＲヘッド、ＧＭＲヘッド等
の読出信号のS/N比を向上させることができる磁気ディ
スク書込／読出回路を提供することにある。 【解決手段】この発明の磁気ディスクの書込／読出回路
は、２本のコイルに加わる信号が相互に逆相になるよう
に２本のコイルが巻回されたコアと、第１の入力が前記
２本のコイルの一方を介して読出ヘッドの一方の端子に
接続され、第２の入力が２本のコイルの他方を介して読
出ヘッドの他方の端子に接続されて磁気ディスクからの
読出信号を読出ヘッドから受ける読出回路、あるいは前
記読出ヘッドが前記書込ヘッドであって前記の第１の入
力が前記第１の出力とされ、第２の入力が第２の出力と
される書込回路を備えるものである。
の読出信号のS/N比を向上させることができる磁気ディ
スク書込／読出回路を提供することにある。 【解決手段】この発明の磁気ディスクの書込／読出回路
は、２本のコイルに加わる信号が相互に逆相になるよう
に２本のコイルが巻回されたコアと、第１の入力が前記
２本のコイルの一方を介して読出ヘッドの一方の端子に
接続され、第２の入力が２本のコイルの他方を介して読
出ヘッドの他方の端子に接続されて磁気ディスクからの
読出信号を読出ヘッドから受ける読出回路、あるいは前
記読出ヘッドが前記書込ヘッドであって前記の第１の入
力が前記第１の出力とされ、第２の入力が第２の出力と
される書込回路を備えるものである。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、磁気ディスクの
書込／読出回路に関し、詳しくは、磁気ディスクに対し
て読出ヘッドとしてＭＲヘッド、ＧＭＲヘッド、ＴＭＲ
ヘッド（トンネルＭＲヘッド）を用いる磁気ディスク検
査装置、磁気ヘッド検査装置などの書込／読出回路おい
て、読出信号のS/N比を向上させることができるような
磁気ディスクの書込／読出回路に関する。
書込／読出回路に関し、詳しくは、磁気ディスクに対し
て読出ヘッドとしてＭＲヘッド、ＧＭＲヘッド、ＴＭＲ
ヘッド（トンネルＭＲヘッド）を用いる磁気ディスク検
査装置、磁気ヘッド検査装置などの書込／読出回路おい
て、読出信号のS/N比を向上させることができるような
磁気ディスクの書込／読出回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】ハードディスク装置の磁気ヘッドとして
は、現在では、書込側ヘッドとしてインダクティブヘッ
ド（薄膜ヘッド）が、そして読出側ヘッドとしてＭＲヘ
ッド、ＧＭＲヘッド，ＴＭＲヘッドが１つのスライダに
取り付けられた、いわゆる複合磁気ヘッドが用いられて
いる。ハードディスク装置の磁気ヘッドとしては、現在
では、書込側ヘッドとしてインダクティブヘッド（薄膜
ヘッド）が、そして読出側ヘッドとしてＭＲヘッド、Ｇ
ＭＲヘッドが１つのスライダに取り付けられた、いわゆ
る複合磁気ヘッドが用いられている。さらに最近ではＴ
ＭＲヘッドを持つ複合磁気ヘッドも用いられるようにな
ってきている。そこで、磁気ディスクを検査するディス
ク検査装置あるいは前記のような磁気ヘッドの検査をす
る磁気ヘッド検査装置も、同様な磁気ヘッドを用いる
が、最近の磁気ディスクの記録密度の向上とともに、磁
気ディスクに対する書込／読出信号の周波数が高くなっ
てきていて、その分、S/N比が低下し、検査精度が落ち
る問題がある。
は、現在では、書込側ヘッドとしてインダクティブヘッ
ド（薄膜ヘッド）が、そして読出側ヘッドとしてＭＲヘ
ッド、ＧＭＲヘッド，ＴＭＲヘッドが１つのスライダに
取り付けられた、いわゆる複合磁気ヘッドが用いられて
いる。ハードディスク装置の磁気ヘッドとしては、現在
では、書込側ヘッドとしてインダクティブヘッド（薄膜
ヘッド）が、そして読出側ヘッドとしてＭＲヘッド、Ｇ
ＭＲヘッドが１つのスライダに取り付けられた、いわゆ
る複合磁気ヘッドが用いられている。さらに最近ではＴ
ＭＲヘッドを持つ複合磁気ヘッドも用いられるようにな
ってきている。そこで、磁気ディスクを検査するディス
ク検査装置あるいは前記のような磁気ヘッドの検査をす
る磁気ヘッド検査装置も、同様な磁気ヘッドを用いる
が、最近の磁気ディスクの記録密度の向上とともに、磁
気ディスクに対する書込／読出信号の周波数が高くなっ
てきていて、その分、S/N比が低下し、検査精度が落ち
る問題がある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】図４は、書込側のイン
ダクティブヘッド（薄膜ヘッド）による書込電流（図４
（ａ））と、これに対応する磁気ディスクのトラック上
の磁化状態（図４（ｂ））、そして薄膜ヘッドあるいは
ＭＲヘッドが磁気ディスクのトラックから書込データを
読出したときの読出信号の波形（図４（ｃ））、さらに
ノイズが重畳した読出信号の波形（図４（ｄ））とを示
している。通常は、読出信号波形が図４（ｄ）の状態と
なり、記録再生周波数が高くなればなるほど読出信号の
波形に乗るノイズの影響が大きくなる。その上、読出信
号の電圧レベルも低くなるので、精度の高い検査が難し
くなる。
ダクティブヘッド（薄膜ヘッド）による書込電流（図４
（ａ））と、これに対応する磁気ディスクのトラック上
の磁化状態（図４（ｂ））、そして薄膜ヘッドあるいは
ＭＲヘッドが磁気ディスクのトラックから書込データを
読出したときの読出信号の波形（図４（ｃ））、さらに
ノイズが重畳した読出信号の波形（図４（ｄ））とを示
している。通常は、読出信号波形が図４（ｄ）の状態と
なり、記録再生周波数が高くなればなるほど読出信号の
波形に乗るノイズの影響が大きくなる。その上、読出信
号の電圧レベルも低くなるので、精度の高い検査が難し
くなる。
【０００４】また、最近では、検査の効率化を図るため
に、１つの検査装置で多数の磁気ヘッドが用いられ、あ
るいは、１つの検査テーブルに多数の検査デバイスが並
列的に配置されて磁気ディスクあるいは磁気ヘッドの並
列的な検査が行われる。このような検査システムの場合
には、データ記録時に高い周波数が使用される関係で、
周囲にある読出動作中（再生中）のＭＲヘッド、ＧＭＲ
ヘッドにノイズを誘起させ、それが検査に有害になる。
この場合、ＭＲヘッド、ＧＭＲヘッドなどの再生ヘッド
で観測されるノイズは、主として記録周波数の偶数次高
調波であることが多く、図４（ｄ）の読出信号において
ノイズレベルが大きくなる。この発明の目的は、このよ
うな従来技術の問題点を解決するものであって、磁気ヘ
ッド、特にＭＲヘッド、ＧＭＲヘッド等の読出信号のS/
N比を向上させることができる磁気ディスクの書込／読
出回路を提供することにある。
に、１つの検査装置で多数の磁気ヘッドが用いられ、あ
るいは、１つの検査テーブルに多数の検査デバイスが並
列的に配置されて磁気ディスクあるいは磁気ヘッドの並
列的な検査が行われる。このような検査システムの場合
には、データ記録時に高い周波数が使用される関係で、
周囲にある読出動作中（再生中）のＭＲヘッド、ＧＭＲ
ヘッドにノイズを誘起させ、それが検査に有害になる。
この場合、ＭＲヘッド、ＧＭＲヘッドなどの再生ヘッド
で観測されるノイズは、主として記録周波数の偶数次高
調波であることが多く、図４（ｄ）の読出信号において
ノイズレベルが大きくなる。この発明の目的は、このよ
うな従来技術の問題点を解決するものであって、磁気ヘ
ッド、特にＭＲヘッド、ＧＭＲヘッド等の読出信号のS/
N比を向上させることができる磁気ディスクの書込／読
出回路を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るためのこの発明の磁気ディスクの書込／読出回路の特
徴は、２本のコイルに加わる信号が相互に逆相になるよ
うに２本のコイルが巻回されたコアと、第１の入力が前
記２本のコイルの一方を介して読出ヘッドの一方の端子
に接続され、第２の入力が２本のコイルの他方を介して
読出ヘッドの他方の端子に接続されて磁気ディスクから
の読出信号を読出ヘッドから受ける読出回路とを備える
ものである。
るためのこの発明の磁気ディスクの書込／読出回路の特
徴は、２本のコイルに加わる信号が相互に逆相になるよ
うに２本のコイルが巻回されたコアと、第１の入力が前
記２本のコイルの一方を介して読出ヘッドの一方の端子
に接続され、第２の入力が２本のコイルの他方を介して
読出ヘッドの他方の端子に接続されて磁気ディスクから
の読出信号を読出ヘッドから受ける読出回路とを備える
ものである。
【０００６】
【発明の実施の形態】このように、２本のコイルに加わ
る信号が相互に逆相になるような２本のコイルが巻回さ
れたコアを介して読出ヘッドから正相と逆相の読出信号
を読出回路で受けることにより、信号線に同相成分とし
て読出信号に乗るノイズがコアにおいてキャンセルある
いは抑制される。その結果、磁気ヘッド、特にＭＲヘッ
ド、ＧＭＲヘッド等の読出信号のS/N比を向上させるこ
とができ、精度の高いテストが可能な磁気ディスク検査
装置、磁気ヘッド検査装置を実現することができる。ま
た、書込ヘッドと書込回路との間に同様な２本のコイル
を有するコアを挿入することで立上がりと立下がりの書
込電流波形がほぼ対称になり、ノイズに影響され難い読
出信号を得ることができる。
る信号が相互に逆相になるような２本のコイルが巻回さ
れたコアを介して読出ヘッドから正相と逆相の読出信号
を読出回路で受けることにより、信号線に同相成分とし
て読出信号に乗るノイズがコアにおいてキャンセルある
いは抑制される。その結果、磁気ヘッド、特にＭＲヘッ
ド、ＧＭＲヘッド等の読出信号のS/N比を向上させるこ
とができ、精度の高いテストが可能な磁気ディスク検査
装置、磁気ヘッド検査装置を実現することができる。ま
た、書込ヘッドと書込回路との間に同様な２本のコイル
を有するコアを挿入することで立上がりと立下がりの書
込電流波形がほぼ対称になり、ノイズに影響され難い読
出信号を得ることができる。
【０００７】
【実施例】図１は、この発明の磁気ディスクの書込／読
出回路を適用したＭＲヘッドを読出ヘッドとして使用す
る検査装置の書込／読出回路を中心としたブロック図、
図２は、そのコモンモードチョークコイルの基板搭載の
説明図、図３（ａ）は、コモンモードチョークコイルを
介して書込用インダクティブヘッドを駆動した場合の書
込電流信号の説明図、そして、図３（ｂ）は、コモンモ
ードチョークコイルを使用しない場合の書込電流信号の
説明図である。図１において、２は、書込データ作成回
路であって、制御装置（図示せず）から指定されたテス
ト符号、例えば「ＦＦｈ」（ｈは十六進でＦＦｈはオー
ルビット“１”）に対応してＨＩＧＨレベル（以下
“Ｈ”）とＬＯＷレベル（以下“Ｌ”）との間で変化す
る所定のテストデータを書込データメモリ（図示せず）
から読出して書込／読出回路１の書込回路１１へと送出
する。
出回路を適用したＭＲヘッドを読出ヘッドとして使用す
る検査装置の書込／読出回路を中心としたブロック図、
図２は、そのコモンモードチョークコイルの基板搭載の
説明図、図３（ａ）は、コモンモードチョークコイルを
介して書込用インダクティブヘッドを駆動した場合の書
込電流信号の説明図、そして、図３（ｂ）は、コモンモ
ードチョークコイルを使用しない場合の書込電流信号の
説明図である。図１において、２は、書込データ作成回
路であって、制御装置（図示せず）から指定されたテス
ト符号、例えば「ＦＦｈ」（ｈは十六進でＦＦｈはオー
ルビット“１”）に対応してＨＩＧＨレベル（以下
“Ｈ”）とＬＯＷレベル（以下“Ｌ”）との間で変化す
る所定のテストデータを書込データメモリ（図示せず）
から読出して書込／読出回路１の書込回路１１へと送出
する。
【０００８】３は、磁気ヘッドであって、インダクティ
ブヘッド（薄膜ヘッド）３ａとＭＲヘッド３ｂとにより
構成される。書込回路１１は、Ｄフリップフロップ（Ｆ
Ｆ）１２とプッシュプルあるいは差動のアンプ（ＡＭ
Ｐ）１３とから構成され、書込みデータ生成回路２から
テストデータをＤフリップフロップ１２のＤ端子に受
け、さらにクロックＣＬＫを受けてこのクロックＣＬＫ
に応じて書き込み信号をＤフリップフロップ１２のＱ出
力、Ｑバー出力として発生する。そして、プッシュプル
のアンプ１３がフリップフロップ１２のＱ出力、Ｑバー
出力（Ｑ出力に対して反転出力側）を差動パルス信号と
して受けてそれぞれを増幅し、差動出力端子ＷＲ＋（正
相側）、ＷＲ−（逆相側）に接続されたコモンモードチ
ョークコイル１４を介してインダクティブヘッド（薄膜
ヘッド）３ａの２端子に正転電流あるいは反転電流を出
力する。これにより、インダクティブヘッド３ａは、磁
気ディスクの所定の検査トラックにテストデータを書込
む。
ブヘッド（薄膜ヘッド）３ａとＭＲヘッド３ｂとにより
構成される。書込回路１１は、Ｄフリップフロップ（Ｆ
Ｆ）１２とプッシュプルあるいは差動のアンプ（ＡＭ
Ｐ）１３とから構成され、書込みデータ生成回路２から
テストデータをＤフリップフロップ１２のＤ端子に受
け、さらにクロックＣＬＫを受けてこのクロックＣＬＫ
に応じて書き込み信号をＤフリップフロップ１２のＱ出
力、Ｑバー出力として発生する。そして、プッシュプル
のアンプ１３がフリップフロップ１２のＱ出力、Ｑバー
出力（Ｑ出力に対して反転出力側）を差動パルス信号と
して受けてそれぞれを増幅し、差動出力端子ＷＲ＋（正
相側）、ＷＲ−（逆相側）に接続されたコモンモードチ
ョークコイル１４を介してインダクティブヘッド（薄膜
ヘッド）３ａの２端子に正転電流あるいは反転電流を出
力する。これにより、インダクティブヘッド３ａは、磁
気ディスクの所定の検査トラックにテストデータを書込
む。
【０００９】一方、読出回路１６は、ＭＲヘッド読出回
路１７と差動アンプ（ＡＭＰ）１８とを有し、ＭＲヘッ
ド読出回路１７は、コモンモードチョークコイル１５を
介してＭＲヘッド３ｂにバイアス電流を供給してＭＲヘ
ッド３ｂから、読出回路１７の基準レベルからみた正相
と逆相の検出信号（読出信号）を差動入力端子ＲＤ＋
（正相側），ＲＤ−（逆相側）に受けて正相と逆相の２
つの差動読出信号（アナログ信号）を出力する。差動ア
ンプ１８は、この正相と逆相の差動読出信号をそれぞれ
正相と逆相の入力に受けてそれぞれに増幅して正相と逆
相の出力を発生する。正相と逆相の出力は、ローパスフ
ィルタ（ＬＰＦ）４を介して欠陥検出回路５に加えら
れ、その正相出力が正側のピーク追従型欠陥検出回路
に、その逆相の出力が負側のピーク追従型欠陥検出回路
にそれぞれ加えられて磁気ディスクの欠陥検出が行われ
る。
路１７と差動アンプ（ＡＭＰ）１８とを有し、ＭＲヘッ
ド読出回路１７は、コモンモードチョークコイル１５を
介してＭＲヘッド３ｂにバイアス電流を供給してＭＲヘ
ッド３ｂから、読出回路１７の基準レベルからみた正相
と逆相の検出信号（読出信号）を差動入力端子ＲＤ＋
（正相側），ＲＤ−（逆相側）に受けて正相と逆相の２
つの差動読出信号（アナログ信号）を出力する。差動ア
ンプ１８は、この正相と逆相の差動読出信号をそれぞれ
正相と逆相の入力に受けてそれぞれに増幅して正相と逆
相の出力を発生する。正相と逆相の出力は、ローパスフ
ィルタ（ＬＰＦ）４を介して欠陥検出回路５に加えら
れ、その正相出力が正側のピーク追従型欠陥検出回路
に、その逆相の出力が負側のピーク追従型欠陥検出回路
にそれぞれ加えられて磁気ディスクの欠陥検出が行われ
る。
【００１０】コモンモードチョークコイル１４，１５
は、図１に示すように、それぞれ２本のコイルを相互に
逆方向にフェライトコア（鉄心等）に巻回したものであ
って、いわゆる、入力（一次側）に対して逆相の出力
（二次側）を持つトランスに等価の巻線を持つ。したが
って、これはこのような巻線のトランスであってもよ
い。コモンモードチョークコイル１４のそれぞれのコイ
ル１４ａとコイル１４ｂとの巻回方向が逆になってい
て、コモンモードチョークコイル１５のそれぞれのコイ
ル１５ａとコイル１５ｂとの巻回方向が逆になっている
ことから同相で信号に乗るノイズ成分は、コア上で打ち
消し合ってノイズがキャンセルあるいは抑制される。そ
こで、相互に逆相成分の信号のみが出力側に現れる。そ
の結果、まず、書込信号に重畳するノイズが抑制され、
読出信号のノイズも抑制されて実質的に図４（ｃ）に近
い波形の読出信号を得ることができる。
は、図１に示すように、それぞれ２本のコイルを相互に
逆方向にフェライトコア（鉄心等）に巻回したものであ
って、いわゆる、入力（一次側）に対して逆相の出力
（二次側）を持つトランスに等価の巻線を持つ。したが
って、これはこのような巻線のトランスであってもよ
い。コモンモードチョークコイル１４のそれぞれのコイ
ル１４ａとコイル１４ｂとの巻回方向が逆になってい
て、コモンモードチョークコイル１５のそれぞれのコイ
ル１５ａとコイル１５ｂとの巻回方向が逆になっている
ことから同相で信号に乗るノイズ成分は、コア上で打ち
消し合ってノイズがキャンセルあるいは抑制される。そ
こで、相互に逆相成分の信号のみが出力側に現れる。そ
の結果、まず、書込信号に重畳するノイズが抑制され、
読出信号のノイズも抑制されて実質的に図４（ｃ）に近
い波形の読出信号を得ることができる。
【００１１】図２は、コモンモードチョークコイル１
４，１５の基板搭載の説明図である。２０は、磁気ヘッ
ドアッセンブリであって、サスペッンションスプリング
２１を介して磁気ヘッド３をその先端側に支持してお
り、サスペッンションスプリング２１の後端は、ヘッド
キャリッジの支持アーム（図示せず）に取り付けられ
る。サスペッンションスプリング２１の表面に沿ってイ
ンダクティブヘッド３ａとＭＲヘッド３ｂとにそれぞれ
２本の配線（図示せず）が走っていて、図１に示す状態
で前記の各ヘッドに配線接続がなされている。２２、２
３は、そのそれぞれがインダクティブヘッド３ａ、ＭＲ
ヘッド３ｂの２本の配線をそれぞれ外部へ取り出す外部
配線であり、外部配線２２，２３の磁気ヘッドアッセン
ブリ２０側でない先端側にはパドルコネクタ２５，２６
が設けられている。さらに、このコネクタ付きパドル３
０（櫂あるいは駒の形態）には、図１のコイル１４ａ、
１４ｂを有するコモンモードチョークコイル１４と、図
１のコイル１５ａ、１５ｂを有するコモンモードチョー
クコイル１５が搭載され、外部配線２２の２本の配線が
パドル３０に設けられたそれぞれのパッド２２ａ，２２
ｂを介してコイル１４ａ、１４ｂのそれぞれの端子に半
田付け接続され、外部配線２３の２本の配線がパドル３
０に設けられたそれぞれのパッド２３ａ，２３ｂを介し
てコイル１５ａ、１５ｂのそれぞれの端子に半田付け接
続されている。
４，１５の基板搭載の説明図である。２０は、磁気ヘッ
ドアッセンブリであって、サスペッンションスプリング
２１を介して磁気ヘッド３をその先端側に支持してお
り、サスペッンションスプリング２１の後端は、ヘッド
キャリッジの支持アーム（図示せず）に取り付けられ
る。サスペッンションスプリング２１の表面に沿ってイ
ンダクティブヘッド３ａとＭＲヘッド３ｂとにそれぞれ
２本の配線（図示せず）が走っていて、図１に示す状態
で前記の各ヘッドに配線接続がなされている。２２、２
３は、そのそれぞれがインダクティブヘッド３ａ、ＭＲ
ヘッド３ｂの２本の配線をそれぞれ外部へ取り出す外部
配線であり、外部配線２２，２３の磁気ヘッドアッセン
ブリ２０側でない先端側にはパドルコネクタ２５，２６
が設けられている。さらに、このコネクタ付きパドル３
０（櫂あるいは駒の形態）には、図１のコイル１４ａ、
１４ｂを有するコモンモードチョークコイル１４と、図
１のコイル１５ａ、１５ｂを有するコモンモードチョー
クコイル１５が搭載され、外部配線２２の２本の配線が
パドル３０に設けられたそれぞれのパッド２２ａ，２２
ｂを介してコイル１４ａ、１４ｂのそれぞれの端子に半
田付け接続され、外部配線２３の２本の配線がパドル３
０に設けられたそれぞれのパッド２３ａ，２３ｂを介し
てコイル１５ａ、１５ｂのそれぞれの端子に半田付け接
続されている。
【００１２】２９は、検査装置側に設けられた基板であ
って、書込／読出回路１が集積化されたＩＣ２４が搭載
されている。この基板２９のＩＣ２４に対応する周辺部
には雄型のコネクタ２７，２８が設けられ、これらに対
してパドル３０の先端裏面側には点線で示すように、雌
型の２端子のコネクタ２５，２６が設けられている。こ
れら雌型２端子のコネクタ２５，２６のそれぞれの２端
子が雄型コネクタ２７，２８のそれぞれの２端子に挿着
されて磁気ヘッドアッセンブリ２０と書込／読出回路１
とが接続される。これにより書込／読出回路１の書込回
路１１の２本の出力線と、読出回路１６の２本の入力線
とが外部配線２２，２３，コモンモードチョークコイル
１４，１５を搭載したパドル３０を介して接続される。
そして、パドル３０にコモンモードチョークコイル１
４，１５を搭載することにより既存の基板において書込
／読出回路１の入出力端子の近傍にコモンモードチョー
クコイル１４，１５を配置することができる。
って、書込／読出回路１が集積化されたＩＣ２４が搭載
されている。この基板２９のＩＣ２４に対応する周辺部
には雄型のコネクタ２７，２８が設けられ、これらに対
してパドル３０の先端裏面側には点線で示すように、雌
型の２端子のコネクタ２５，２６が設けられている。こ
れら雌型２端子のコネクタ２５，２６のそれぞれの２端
子が雄型コネクタ２７，２８のそれぞれの２端子に挿着
されて磁気ヘッドアッセンブリ２０と書込／読出回路１
とが接続される。これにより書込／読出回路１の書込回
路１１の２本の出力線と、読出回路１６の２本の入力線
とが外部配線２２，２３，コモンモードチョークコイル
１４，１５を搭載したパドル３０を介して接続される。
そして、パドル３０にコモンモードチョークコイル１
４，１５を搭載することにより既存の基板において書込
／読出回路１の入出力端子の近傍にコモンモードチョー
クコイル１４，１５を配置することができる。
【００１３】ところで、磁気ヘッドテスタなどにあって
は、磁気ヘッドアッセンブリ２０が外部配線２２，２３
との間で端子接触させることも多く行われるので、前記
のように、パドル３０に磁気ヘッドアッセンブリ２０の
外部配線２２，２３を半田付け接続してパドル３０と一
体化し、このパドル３０に書込／読出回路１への接続コ
ネクタ２５，２６を設ける構成を採ることで、コモンモ
ードチョークコイル１４，１５を含めて磁気ヘッドアッ
センブリ２０としての部品等の交換が容易になる。な
お、直接基板２９にコモンモードチョークコイル１４，
１５を搭載するようにしてもよい。このときには、基板
２９側に一点鎖線で示すように、ＩＣ２４と雄型２端子
のコネクタ２７，２８との間にコモンモードチョークコ
イル１４，１５を配置して雌型２端子のコネクタ２５，
２６を直接それぞれに外部配線２２、２３（それぞれの
２本の配線）に圧着接続するようにすればよい。
は、磁気ヘッドアッセンブリ２０が外部配線２２，２３
との間で端子接触させることも多く行われるので、前記
のように、パドル３０に磁気ヘッドアッセンブリ２０の
外部配線２２，２３を半田付け接続してパドル３０と一
体化し、このパドル３０に書込／読出回路１への接続コ
ネクタ２５，２６を設ける構成を採ることで、コモンモ
ードチョークコイル１４，１５を含めて磁気ヘッドアッ
センブリ２０としての部品等の交換が容易になる。な
お、直接基板２９にコモンモードチョークコイル１４，
１５を搭載するようにしてもよい。このときには、基板
２９側に一点鎖線で示すように、ＩＣ２４と雄型２端子
のコネクタ２７，２８との間にコモンモードチョークコ
イル１４，１５を配置して雌型２端子のコネクタ２５，
２６を直接それぞれに外部配線２２、２３（それぞれの
２本の配線）に圧着接続するようにすればよい。
【００１４】図３（ａ）は、コモンモードチョークコイ
ル１４を介して書込インダクティブヘッド（薄膜ヘッ
ド）を駆動した場合の書込電流信号の説明図である。書
込電流値（IW）が４０ｍＡで駆動パルスの周波数(f)が
１０ＭＨｚ、コイル１４ａ，１４ｂのインダクタンス
２．３μＨ、薄膜ヘッドのインダクタンス４２ｎＨ，抵
抗値１７５Ωにおいて、コモンモードチョークコイル１
４を介して書込ヘッドを電流駆動すると、図示するよう
に、立上がり、立下がり波形が対称になる。なお、イン
ダクタンスとしては、０．５μＨ〜３．０μＨ程度でほ
ぼ同様な波形となる。これにより図４（ｂ）に示すトラ
ックの磁化状態の説明図において、磁化されたＳ極とＮ
極との境がはっきり現れてくる。その結果、図４（ｃ）
の読出信号のピークの立上がり、立下がり変化が大きく
なり、周波数が高くなっても読出信号をノイズから分離
し易くなる。
ル１４を介して書込インダクティブヘッド（薄膜ヘッ
ド）を駆動した場合の書込電流信号の説明図である。書
込電流値（IW）が４０ｍＡで駆動パルスの周波数(f)が
１０ＭＨｚ、コイル１４ａ，１４ｂのインダクタンス
２．３μＨ、薄膜ヘッドのインダクタンス４２ｎＨ，抵
抗値１７５Ωにおいて、コモンモードチョークコイル１
４を介して書込ヘッドを電流駆動すると、図示するよう
に、立上がり、立下がり波形が対称になる。なお、イン
ダクタンスとしては、０．５μＨ〜３．０μＨ程度でほ
ぼ同様な波形となる。これにより図４（ｂ）に示すトラ
ックの磁化状態の説明図において、磁化されたＳ極とＮ
極との境がはっきり現れてくる。その結果、図４（ｃ）
の読出信号のピークの立上がり、立下がり変化が大きく
なり、周波数が高くなっても読出信号をノイズから分離
し易くなる。
【００１５】一方、コモンモードチョークコイル１４を
削除して直接接続した場合の特性は、同様な条件では、
図３（ｂ）のように立上がり側に対して立下がり側がつ
ぶれて非対称となる。その結果、トラックの磁化状態で
のＳ極とＮ極との境がはっきりしなくなり、読出信号の
ピークの立上がり、立下がりがなまり、周波数が高くな
ると読出信号がノイズから分離し難くなる。ところで、
実施例では、磁気ヘッドに対して書込回路の出力側と読
出回路の入力側とにコモンモードチョークコイルを挿入
しているが、これは、少なくとも読出回路側にコモンモ
ードチョークコイルを挿入すればよいが、書込回路側と
読出回路側の両者に挿入した方がベターである。また、
図１に示したコイルとコアの関係からしてコモンモード
チョークコイルに換えてトランスを使用してもよいこと
はもちろんである。さらに、実施例では、磁気ディスク
の検査装置の例を示しているが、この発明は、磁気ヘッ
ドの検査装置に適用できることはもちろんである。
削除して直接接続した場合の特性は、同様な条件では、
図３（ｂ）のように立上がり側に対して立下がり側がつ
ぶれて非対称となる。その結果、トラックの磁化状態で
のＳ極とＮ極との境がはっきりしなくなり、読出信号の
ピークの立上がり、立下がりがなまり、周波数が高くな
ると読出信号がノイズから分離し難くなる。ところで、
実施例では、磁気ヘッドに対して書込回路の出力側と読
出回路の入力側とにコモンモードチョークコイルを挿入
しているが、これは、少なくとも読出回路側にコモンモ
ードチョークコイルを挿入すればよいが、書込回路側と
読出回路側の両者に挿入した方がベターである。また、
図１に示したコイルとコアの関係からしてコモンモード
チョークコイルに換えてトランスを使用してもよいこと
はもちろんである。さらに、実施例では、磁気ディスク
の検査装置の例を示しているが、この発明は、磁気ヘッ
ドの検査装置に適用できることはもちろんである。
【００１６】
【発明の効果】以上の説明のとおり、この発明にあって
は、２本のコイルに加わる信号が相互に逆相になるよう
な２本のコイルが巻回されたコアを介して読出ヘッドか
ら正相と逆相の読出信号を読出回路で受けることによ
り、信号線に同相成分として読出信号に乗るノイズがコ
アにおいてキャンセルあるいは抑制される。その結果、
磁気ヘッド、特にＭＲヘッド、ＧＭＲヘッド等の読出信
号のS/N比を向上させることができ、精度の高いテスト
が可能な磁気ディスク検査装置、磁気ヘッド検査装置を
実現することができる。
は、２本のコイルに加わる信号が相互に逆相になるよう
な２本のコイルが巻回されたコアを介して読出ヘッドか
ら正相と逆相の読出信号を読出回路で受けることによ
り、信号線に同相成分として読出信号に乗るノイズがコ
アにおいてキャンセルあるいは抑制される。その結果、
磁気ヘッド、特にＭＲヘッド、ＧＭＲヘッド等の読出信
号のS/N比を向上させることができ、精度の高いテスト
が可能な磁気ディスク検査装置、磁気ヘッド検査装置を
実現することができる。
【図１】図１は、この発明の磁気ディスクの書込／読出
回路を適用したＭＲヘッドを読出ヘッドとして使用する
検査装置の書込／読出回路を中心としたブロック図であ
る。
回路を適用したＭＲヘッドを読出ヘッドとして使用する
検査装置の書込／読出回路を中心としたブロック図であ
る。
【図２】図２は、そのコモンモードチョークコイルの基
板搭載の説明図である。
板搭載の説明図である。
【図３】図３（ａ）は、コモンモードチョークコイルを
介して書込用インダクティブヘッドを駆動した場合の書
込電流信号の説明図、図３（ｂ）は、コモンモードチョ
ークコイルを使用しない場合の書込電流信号の説明図で
ある。
介して書込用インダクティブヘッドを駆動した場合の書
込電流信号の説明図、図３（ｂ）は、コモンモードチョ
ークコイルを使用しない場合の書込電流信号の説明図で
ある。
【図４】図４は、書込／読出回路の書込信号、読出信号
等の説明図である。
等の説明図である。
１…書込／読出回路、２…書込データ作成回路、 ３…磁気ヘッド、３ａ…インダクティブヘッド（薄膜ヘ
ッド）、 ３ｂ…ＭＲヘッド、４…ローパスフィルタ（ＬＰＦ）、 ５…欠陥検出回路、１１…書込回路、１２…フリップフ
ロップ、 １３…プッシュプルアンプ、 １４，１５…コモンモードチョークコイル、 １６…読出回路、１７…ＭＲヘッド読出回路、 ２０…磁気ヘッドアッセンブリ、 ２１…サスペッンションスプリング、 ２２，２３…外部配線、２５，２６…雌型コネクタ、 ２７、２８…雄型コネクタ、 ２９…基板、３０…パドル
ッド）、 ３ｂ…ＭＲヘッド、４…ローパスフィルタ（ＬＰＦ）、 ５…欠陥検出回路、１１…書込回路、１２…フリップフ
ロップ、 １３…プッシュプルアンプ、 １４，１５…コモンモードチョークコイル、 １６…読出回路、１７…ＭＲヘッド読出回路、 ２０…磁気ヘッドアッセンブリ、 ２１…サスペッンションスプリング、 ２２，２３…外部配線、２５，２６…雌型コネクタ、 ２７、２８…雄型コネクタ、 ２９…基板、３０…パドル
Claims (7)
- 【請求項１】書込ヘッドと読出ヘッドとが１つのスライ
ダに取り付けられた複合磁気ヘッドに接続される磁気デ
ィスクの書込／読出回路において、 ２本のコイルに加わる信号が相互に逆相になるように前
記２本のコイルが巻回されたコアと、 第１の入力が前記２本のコイルの一方を介して前記読出
ヘッドの一方の端子に接続され、第２の入力が前記２本
のコイルの他方を介して前記読出ヘッドの他方の端子に
接続されて前記磁気ディスクからの読出信号を前記読出
ヘッドから受ける読出回路とを備えることを特徴とする
磁気ディスクの書込／読出回路。 - 【請求項２】前記コアは、チョークコイルおよびトラン
スのいずれかである請求項１記載の磁気ディスクの書込
／読出回路。 - 【請求項３】前記第２の入力は、前記第１の入力に対し
て逆位相の入力である請求項２記載の磁気ディスクの書
込／読出回路。 - 【請求項４】前記コアを第１とし、さらに、他の２本の
コイルに加わる信号が相互に逆相になるように前記他の
２本のコイルが巻回された第２のコアと、 第１の出力が前記第２のコアの２本のコイルの一方を介
して前記書込ヘッドの一方の端子に接続され、第２の出
力が前記第２のコアの２本のコイルの他方を介して前記
書込ヘッドの他方の端子に接続され前記書込ヘッドを介
して前記磁気ディスクにデータを書き込む書込回路とを
備える請求項１記載の磁気ディスクの書込／読出回路。 - 【請求項５】前記第２のコアは、チョークコイルおよび
トランスのいずれかである請求項４記載の磁気ディスク
の書込／読出回路。 - 【請求項６】前記第２の出力は、前記第１の出力に対し
て逆位相の出力である請求項５記載の磁気ディスクの書
込／読出回路。 - 【請求項７】２本のコイルに加わる信号が相互に逆相に
なるように前記２本のコイルが巻回されたコアと、 第１の出力が前記コアの２本のコイルの一方を介して前
記書込ヘッドの一方の端子に接続され、第２の出力が前
記コアの２本のコイルの他方を介して前記書込ヘッドの
他方の端子に接続され前記書込ヘッドを介して前記磁気
ディスクにデータを書き込む書込回路とを備えることを
特徴とする磁気ディスクの書込／読出回路。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000270084A JP2002083403A (ja) | 2000-09-06 | 2000-09-06 | 磁気ディスクの書込／読出回路 |
| US09/662,626 US6473258B1 (en) | 2000-09-06 | 2000-09-15 | Magnetic disk read/write circuit having core coils of opposite phase |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000270084A JP2002083403A (ja) | 2000-09-06 | 2000-09-06 | 磁気ディスクの書込／読出回路 |
| US09/662,626 US6473258B1 (en) | 2000-09-06 | 2000-09-15 | Magnetic disk read/write circuit having core coils of opposite phase |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002083403A true JP2002083403A (ja) | 2002-03-22 |
Family
ID=26599344
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000270084A Pending JP2002083403A (ja) | 2000-09-06 | 2000-09-06 | 磁気ディスクの書込／読出回路 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6473258B1 (ja) |
| JP (1) | JP2002083403A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015224972A (ja) * | 2014-05-28 | 2015-12-14 | アイシン精機株式会社 | センサ実装基板、該基板を備えた変位検知装置、及び該装置を備えた車両の後輪操舵装置 |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6671128B2 (en) * | 2001-03-29 | 2003-12-30 | Seagate Technology Llc | Recording head with oppositely directed microstrip waveguide conductors to induce a magnetic write field for longitudinal or perpendicular magnetic recording |
| US6793557B2 (en) * | 2002-05-24 | 2004-09-21 | International Business Machines Corporation | Removable lapping guide for magnetic recording head and method of use |
| US6857937B2 (en) * | 2002-05-30 | 2005-02-22 | Komag, Inc. | Lapping a head while powered up to eliminate expansion of the head due to heating |
| US7119990B2 (en) * | 2002-05-30 | 2006-10-10 | Komag, Inc. | Storage device including a center tapped write transducer |
| US6867940B2 (en) * | 2003-06-16 | 2005-03-15 | Seagate Technology Llc | Method and apparatus for mitigating thermal pole tip protrusion |
| US8049984B2 (en) * | 2008-12-04 | 2011-11-01 | Hitachi Global Storage Technologies, Netherlands B.V. | Integrated slider bias control |
| JP2010146667A (ja) * | 2008-12-19 | 2010-07-01 | Toshiba Corp | 磁気ディスク装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4644432A (en) * | 1985-01-28 | 1987-02-17 | International Business Machines | Three pole single element magnetic read/write head |
| US5164869A (en) * | 1991-02-27 | 1992-11-17 | International Business Machines Corporation | Magnetic recording head with integrated magnetoresistive element and open yoke |
-
2000
- 2000-09-06 JP JP2000270084A patent/JP2002083403A/ja active Pending
- 2000-09-15 US US09/662,626 patent/US6473258B1/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015224972A (ja) * | 2014-05-28 | 2015-12-14 | アイシン精機株式会社 | センサ実装基板、該基板を備えた変位検知装置、及び該装置を備えた車両の後輪操舵装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6473258B1 (en) | 2002-10-29 |
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| A521 | Request for written amendment filed |
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