JP2002071698A - 自動分析装置 - Google Patents
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】検体と試薬等との撹拌のための超音波強度が過
大となった場合でも、正確な吸光度測定が可能な自動分
析装置を実現する。 【解決手段】複数の反応容器８は反応ディスク１５の上
面側から見て反応ディスク１５を４分割し互いに直交す
る２つの交線２０に対して反応容器８の側壁部が光線２
０に直交せずほぼ４５度程度の角度で傾斜した状態で配
置されている。この配置関係により、反応容器８は照射
される超音波にほぼ直交する超音波照射面２２と、照射
される測定光にほぼ直交する吸光度測定面２１とを有す
ることができ、超音波照射面２２と吸光度測定面２１と
を異なる面としてこの吸光度測定面２１は超音波が照射
されることがないように構成できる。これにより、照射
面２２に照射される超音波が過大となり、たとえ超音波
照射面２２が変形しても吸光度測定面２１は超音波は照
射されず超音波による変形から回避することができる。
大となった場合でも、正確な吸光度測定が可能な自動分
析装置を実現する。 【解決手段】複数の反応容器８は反応ディスク１５の上
面側から見て反応ディスク１５を４分割し互いに直交す
る２つの交線２０に対して反応容器８の側壁部が光線２
０に直交せずほぼ４５度程度の角度で傾斜した状態で配
置されている。この配置関係により、反応容器８は照射
される超音波にほぼ直交する超音波照射面２２と、照射
される測定光にほぼ直交する吸光度測定面２１とを有す
ることができ、超音波照射面２２と吸光度測定面２１と
を異なる面としてこの吸光度測定面２１は超音波が照射
されることがないように構成できる。これにより、照射
面２２に照射される超音波が過大となり、たとえ超音波
照射面２２が変形しても吸光度測定面２１は超音波は照
射されず超音波による変形から回避することができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、試薬等を使用して
検体の成分分析を行う自動分析装置に係わり、特に、試
薬等と検体との攪拌が向上された自動分析装置に関す
る。
検体の成分分析を行う自動分析装置に係わり、特に、試
薬等と検体との攪拌が向上された自動分析装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来の自動分析装置の攪拌部に使用され
ていた技術には、反応容器中に直接ヘラ状の攪拌棒等を
入れ、回転または、往復運動させることにより検体と試
薬等の混合、攪拌を行う方法や、特開平１１−０３８０
１１号公報に記載された反応容器自体を傾けて回転させ
ることによる攪拌方法がある。
ていた技術には、反応容器中に直接ヘラ状の攪拌棒等を
入れ、回転または、往復運動させることにより検体と試
薬等の混合、攪拌を行う方法や、特開平１１−０３８０
１１号公報に記載された反応容器自体を傾けて回転させ
ることによる攪拌方法がある。
【０００３】また、特開平１０−１２３１３６号公報に
記載された試薬自体を磁性微粒子で合成し、外部磁気に
より攪拌を行う方法、特開平０８−１８９８８９号公報
に記載された反応容器内に障壁を設け、その反応容器の
底部に液が流通可能なクリアランスを設け、空気圧によ
り攪拌を行う方法等がある。
記載された試薬自体を磁性微粒子で合成し、外部磁気に
より攪拌を行う方法、特開平０８−１８９８８９号公報
に記載された反応容器内に障壁を設け、その反応容器の
底部に液が流通可能なクリアランスを設け、空気圧によ
り攪拌を行う方法等がある。
【０００４】しかし、反応容器にヘラ状の攪拌棒を挿入
する方法では、攪拌棒の洗浄が十分に行えない場合に
は、攪拌棒に付着した試薬または検体が、次の分析結果
に影響を与えるキャリーオーバーと言われる現象が起こ
る。
する方法では、攪拌棒の洗浄が十分に行えない場合に
は、攪拌棒に付着した試薬または検体が、次の分析結果
に影響を与えるキャリーオーバーと言われる現象が起こ
る。
【０００５】このため、特開平６−５８９４１号公報に
記載されているように、攪拌棒を振動させて、攪拌棒に
付着した検体や試薬等の除去を支援する方法もある。
記載されているように、攪拌棒を振動させて、攪拌棒に
付着した検体や試薬等の除去を支援する方法もある。
【０００６】ところが、攪拌棒を振動させる方法では、
攪拌棒の挿入および、攪拌動作の回転または、往復運動
をおこなうために十分な反応容器の開口面積を確保する
必要があり、大きな容量の反応容器が必要で、この大き
な反応容器に収容する検体の量を大きくする必要があ
る。
攪拌棒の挿入および、攪拌動作の回転または、往復運動
をおこなうために十分な反応容器の開口面積を確保する
必要があり、大きな容量の反応容器が必要で、この大き
な反応容器に収容する検体の量を大きくする必要があ
る。
【０００７】そこで、検体提供者の肉体的負担、および
装置のランニングコストの低減を実現するために、検体
量及び試薬量の低減を行うと、光学的な測定を行う場合
には、反応容器の底部に近い部分で測光を行う必要があ
り、底部に近い部分での測定結果の精度を保つために
は、反応容器に特殊な加工を施す必要がある。
装置のランニングコストの低減を実現するために、検体
量及び試薬量の低減を行うと、光学的な測定を行う場合
には、反応容器の底部に近い部分で測光を行う必要があ
り、底部に近い部分での測定結果の精度を保つために
は、反応容器に特殊な加工を施す必要がある。
【０００８】したがって、攪拌棒を振動させる方法で
は、結果的にコストが上昇してしまい、コスト低減の観
点からは、好ましいものとはいえない。
は、結果的にコストが上昇してしまい、コスト低減の観
点からは、好ましいものとはいえない。
【０００９】また、反応容器自体を傾けて回転させるこ
とにより、検体と試薬等とを混合、攪拌する方法では、
液体の飛散が発生しやすく、液体の飛沫が他の分析対象
に混入する可能性がある。
とにより、検体と試薬等とを混合、攪拌する方法では、
液体の飛散が発生しやすく、液体の飛沫が他の分析対象
に混入する可能性がある。
【００１０】また、磁性微粒子を含む試薬を用いる方法
は、試薬開発の必要性があり、コスト面の問題がある。
は、試薬開発の必要性があり、コスト面の問題がある。
【００１１】また、反応容器に障壁を設け、空気圧によ
り攪拌を行う方法では、反応容器の特殊加工が必要であ
り、これもコスト面の問題がある。
り攪拌を行う方法では、反応容器の特殊加工が必要であ
り、これもコスト面の問題がある。
【００１２】そこで、特開平８−１４６００７号公報に
記載されたされた技術がある。この、特開平８−１４６
００７号公報に記載された技術は、超音波により、検体
と試薬等とを攪拌するものであり、検体や試薬等に非接
触で攪拌が行え、他の検体や試薬等を汚染しないこと
と、攪拌棒が不要なため、反応容器を小型化でき、検
体、および試薬の量を少なくすることが可能な方法であ
る。
記載されたされた技術がある。この、特開平８−１４６
００７号公報に記載された技術は、超音波により、検体
と試薬等とを攪拌するものであり、検体や試薬等に非接
触で攪拌が行え、他の検体や試薬等を汚染しないこと
と、攪拌棒が不要なため、反応容器を小型化でき、検
体、および試薬の量を少なくすることが可能な方法であ
る。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】上述のように、自動分
析装置の攪拌部において検体と試薬等との撹拌に超音波
を用いることは、検体や試薬等に非接触で攪拌が行え、
他の検体や試薬等を汚染しないことと、攪拌棒が不要な
ため、反応容器を小型化でき、検体、および試薬の量を
少なくすることができる利点がある。
析装置の攪拌部において検体と試薬等との撹拌に超音波
を用いることは、検体や試薬等に非接触で攪拌が行え、
他の検体や試薬等を汚染しないことと、攪拌棒が不要な
ため、反応容器を小型化でき、検体、および試薬の量を
少なくすることができる利点がある。
【００１４】しかし、過大な超音波強度で攪拌を行った
場合、反応容器内に液体試料が少ない状態もしくは、無
い状態で超音波を照射したときには、反応容器壁の音波
を透過している部分が発熱し、材質によっては、反応容
器表面が歪んでしまうことがある。
場合、反応容器内に液体試料が少ない状態もしくは、無
い状態で超音波を照射したときには、反応容器壁の音波
を透過している部分が発熱し、材質によっては、反応容
器表面が歪んでしまうことがある。
【００１５】そのことにより、吸光度測定のために照射
される光のうち、反応容器を透過する光量が減衰し、正
確な吸光度測定を行えなくなる可能性がある。
される光のうち、反応容器を透過する光量が減衰し、正
確な吸光度測定を行えなくなる可能性がある。
【００１６】また、比色分析で用いられている試薬は多
数あり、同じ強度の超音波を照射するにしても反応容器
との濡れ性が高い試薬の方が流動性が発生しやすく混合
能力が高い。
数あり、同じ強度の超音波を照射するにしても反応容器
との濡れ性が高い試薬の方が流動性が発生しやすく混合
能力が高い。
【００１７】このため、各試薬ごとに超音波の強度を設
定する必要性が出てくるわけだが、攪拌状態、すなわ
ち、吸光度測定をリアルタイムで監視して、超音波強度
を設定し、その都度、測光位置に反応容器を移動させ、
吸光度測定をしなければならず、その作業は繁雑であ
り、吸光度測定に時間を費やしてしまうという問題点が
あった。
定する必要性が出てくるわけだが、攪拌状態、すなわ
ち、吸光度測定をリアルタイムで監視して、超音波強度
を設定し、その都度、測光位置に反応容器を移動させ、
吸光度測定をしなければならず、その作業は繁雑であ
り、吸光度測定に時間を費やしてしまうという問題点が
あった。
【００１８】本発明の目的は、検体と試薬等との撹拌の
ための超音波強度が過大となった場合でも、正確な吸光
度測定が可能な自動分析装置を実現することである。
ための超音波強度が過大となった場合でも、正確な吸光
度測定が可能な自動分析装置を実現することである。
【００１９】また、本発明の他の目的は、検体と試薬等
との撹拌のための超音波強度が過大となった場合でも、
正確な吸光度測定がきるとともに、超音波強度の最適化
の設定を短時間で可能な自動分析装置を実現することで
ある。
との撹拌のための超音波強度が過大となった場合でも、
正確な吸光度測定がきるとともに、超音波強度の最適化
の設定を短時間で可能な自動分析装置を実現することで
ある。
【００２０】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は次のように構成される。 （１）液体試料を試薬と化学反応させる反応容器を反応
ディスク上に配置し、超音波発生源からの超音波を上記
反応容器に照射して検体と試薬等とを攪拌する攪拌部
と、複数の発光波長スペクトルを有する測定光を発生す
る光源と、この光源からの測定光を上記反応容器に照射
して、測定対象である液体試料の透過光を分光する分光
器と、測定に必要とされる波長位置に設置した光検知器
とを備え、この光検知器からの出力信号のデータ処理を
行って吸光度測定を行い、上記液体試料中の成分分析を
行う自動分析装置において、上記撹拌部は、上記反応容
器の超音波照射面に超音波を照射し、上記光源は、上記
反応容器の、上記超音波照射面とは異なる位置の測定光
照射面に測定光を照射する。
め、本発明は次のように構成される。 （１）液体試料を試薬と化学反応させる反応容器を反応
ディスク上に配置し、超音波発生源からの超音波を上記
反応容器に照射して検体と試薬等とを攪拌する攪拌部
と、複数の発光波長スペクトルを有する測定光を発生す
る光源と、この光源からの測定光を上記反応容器に照射
して、測定対象である液体試料の透過光を分光する分光
器と、測定に必要とされる波長位置に設置した光検知器
とを備え、この光検知器からの出力信号のデータ処理を
行って吸光度測定を行い、上記液体試料中の成分分析を
行う自動分析装置において、上記撹拌部は、上記反応容
器の超音波照射面に超音波を照射し、上記光源は、上記
反応容器の、上記超音波照射面とは異なる位置の測定光
照射面に測定光を照射する。
【００２１】（２）好ましくは、上記（１）において、
上記反応容器は、反応ディスク上の同一の位置にて、上
記撹拌部からの超音波が照射され、上記光源からの測定
光が照射される。
上記反応容器は、反応ディスク上の同一の位置にて、上
記撹拌部からの超音波が照射され、上記光源からの測定
光が照射される。
【００２２】（３）また、好ましくは、上記（１）又は
（２）において、上記反応容器に攪拌調整用試薬が収容
され、この撹拌調整用試薬を用いて、吸光度測定を行う
ことにより、上記攪拌部の液体試料の攪拌動作を判定す
る。
（２）において、上記反応容器に攪拌調整用試薬が収容
され、この撹拌調整用試薬を用いて、吸光度測定を行う
ことにより、上記攪拌部の液体試料の攪拌動作を判定す
る。
【００２３】反応容器は、超音波が照射される超音波照
射面と、この超音波照射面とは異なる位置であり、測定
光が照射される吸光度測定面とを有することができ、吸
光度測定面は、超音波が照射されることがないように構
成する。
射面と、この超音波照射面とは異なる位置であり、測定
光が照射される吸光度測定面とを有することができ、吸
光度測定面は、超音波が照射されることがないように構
成する。
【００２４】このため、超音波照射面に照射される超音
波が過大となり、たとえ超音波照射面が変形したとして
も、吸光度測定面は、超音波は照射されることはないの
で、超音波により変形されることから回避することがで
きる。
波が過大となり、たとえ超音波照射面が変形したとして
も、吸光度測定面は、超音波は照射されることはないの
で、超音波により変形されることから回避することがで
きる。
【００２５】したがって、検体と試薬等との撹拌のため
の超音波強度が過大となった場合でも、正確な吸光度測
定が可能な自動分析装置を実現することができる。
の超音波強度が過大となった場合でも、正確な吸光度測
定が可能な自動分析装置を実現することができる。
【００２６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を添付図
面を参照して詳細に説明する。図１は、本発明の第１の
実施形態である自動分析装置の概略構成図である。ま
た、図２は、本発明の第１の実施形態における反応ディ
スク１５の上面図である。
面を参照して詳細に説明する。図１は、本発明の第１の
実施形態である自動分析装置の概略構成図である。ま
た、図２は、本発明の第１の実施形態における反応ディ
スク１５の上面図である。
【００２７】図１及び図２において、自動分析装置１
は、制御部２、格納部３、分析部４、攪拌部５により構
成されている。
は、制御部２、格納部３、分析部４、攪拌部５により構
成されている。
【００２８】制御部２は、各部の詳細な動作制御を行う
電子回路や記憶装置により構成され、装置の動作を統括
制御する。
電子回路や記憶装置により構成され、装置の動作を統括
制御する。
【００２９】格納部３は、検体６を入れた検体格納部７
と試薬９を入れた試薬格納部１４から構成されている。
と試薬９を入れた試薬格納部１４から構成されている。
【００３０】また、攪拌部５は、検体格納部７から反応
容器８に吐出された検体６と、試薬格納部１４から反応
容器８に吐出された試薬９とを、圧電素子１０で発生し
た超音波１１による音響放射圧の効果による旋回流４４
により攪拌を行う。また、圧電素子１０を、反応容器８
の下方及び側方に設置し、下方から超音波１１を照射す
ることにより、検体７と試薬９の混合物の液面を隆起さ
せた後、液面の隆起した部分に側方から超音波１１を液
体に照射することにより、音響放射圧による旋回流４４
を発生させて撹拌を行う。
容器８に吐出された検体６と、試薬格納部１４から反応
容器８に吐出された試薬９とを、圧電素子１０で発生し
た超音波１１による音響放射圧の効果による旋回流４４
により攪拌を行う。また、圧電素子１０を、反応容器８
の下方及び側方に設置し、下方から超音波１１を照射す
ることにより、検体７と試薬９の混合物の液面を隆起さ
せた後、液面の隆起した部分に側方から超音波１１を液
体に照射することにより、音響放射圧による旋回流４４
を発生させて撹拌を行う。
【００３１】攪拌部５及び分析部４にある反応容器８
は、反応槽１２に蓄えられた水を代表とする保温媒体１
３に浸っており、一定の温度に保たれている。
は、反応槽１２に蓄えられた水を代表とする保温媒体１
３に浸っており、一定の温度に保たれている。
【００３２】また、これら複数の反応容器８は、反応デ
ィスク１５上に配置され、反応ディスク用軸１６で反応
ディスクモータ１７に接続されている。
ィスク１５上に配置され、反応ディスク用軸１６で反応
ディスクモータ１７に接続されている。
【００３３】そして、反応ディスクモータ１７を制御部
２による制御で、応ディスク１５と共に回転または移動
し、攪拌部５と分光器１８との間を行き来する。分析部
４は、この分析部４の反応容器８中で、検体６と試薬９
とを混合し、反応させたものを、分光器１８で組成分析
を行う。
２による制御で、応ディスク１５と共に回転または移動
し、攪拌部５と分光器１８との間を行き来する。分析部
４は、この分析部４の反応容器８中で、検体６と試薬９
とを混合し、反応させたものを、分光器１８で組成分析
を行う。
【００３４】また、攪拌位置２４において、検体格納部
７から反応容器８に吐出された検体と、試薬格納部１４
から反応容器８に吐出された試薬９とを、圧電素子１０
が発生した超音波１１により攪拌する。
７から反応容器８に吐出された検体と、試薬格納部１４
から反応容器８に吐出された試薬９とを、圧電素子１０
が発生した超音波１１により攪拌する。
【００３５】複数の反応容器８は、反応ディスク１５の
上面側から見て、この反応ディスク１５を４分割し、互
いに直交する２つの交線２０に対して、反応容器８の側
壁部が光線２０に直交せず、ほぼ４５度程度の角度で傾
斜した状態で配置されている。
上面側から見て、この反応ディスク１５を４分割し、互
いに直交する２つの交線２０に対して、反応容器８の側
壁部が光線２０に直交せず、ほぼ４５度程度の角度で傾
斜した状態で配置されている。
【００３６】この配置関係により、反応容器８は、照射
される超音波に、ほぼ直交する超音波照射面２２と、照
射される測定光にほぼ直交する吸光度測定面２１とを有
し、この吸光度測定面２１は、超音波が照射されること
がないように、撹拌部５と光度計１８とを配置する構成
とすることができる。
される超音波に、ほぼ直交する超音波照射面２２と、照
射される測定光にほぼ直交する吸光度測定面２１とを有
し、この吸光度測定面２１は、超音波が照射されること
がないように、撹拌部５と光度計１８とを配置する構成
とすることができる。
【００３７】次に、攪拌部５により試料の攪拌が終了し
たら、反応ディスク１５を回転し、反応容器８を測光位
置２５に移動し、光度計で吸光度測定を行う。
たら、反応ディスク１５を回転し、反応容器８を測光位
置２５に移動し、光度計で吸光度測定を行う。
【００３８】以上のように、本発明の第１の実施形態に
よれば、複数の反応容器８は、反応ディスク１５の上面
側から見て、この反応ディスク１５を４分割し、互いに
直交する２つの交線２０に対して、反応容器８の側壁部
が光線２０に直交せず、ほぼ４５度程度の角度で傾斜し
た状態で配置されている。
よれば、複数の反応容器８は、反応ディスク１５の上面
側から見て、この反応ディスク１５を４分割し、互いに
直交する２つの交線２０に対して、反応容器８の側壁部
が光線２０に直交せず、ほぼ４５度程度の角度で傾斜し
た状態で配置されている。
【００３９】この配置関係により、反応容器８は、照射
される超音波にほぼ直交する超音波照射面２２と、照射
される測定光にほぼ直交する吸光度測定面２１とを有す
ることができ、超音波照射面２２と吸光度測定面２１と
を異なる面として、この吸光度測定面２１は、超音波が
照射されることがないように構成することができる。
される超音波にほぼ直交する超音波照射面２２と、照射
される測定光にほぼ直交する吸光度測定面２１とを有す
ることができ、超音波照射面２２と吸光度測定面２１と
を異なる面として、この吸光度測定面２１は、超音波が
照射されることがないように構成することができる。
【００４０】このため、超音波照射面２２に照射される
超音波が過大となり、たとえ超音波照射面２２が変形し
たとしても、吸光度測定面２１は、超音波は照射される
ことはないので、超音波により変形されることから回避
することができる。
超音波が過大となり、たとえ超音波照射面２２が変形し
たとしても、吸光度測定面２１は、超音波は照射される
ことはないので、超音波により変形されることから回避
することができる。
【００４１】したがって、検体と試薬等との撹拌のため
の超音波強度が過大となった場合でも、正確な吸光度測
定が可能な自動分析装置を実現することができる。
の超音波強度が過大となった場合でも、正確な吸光度測
定が可能な自動分析装置を実現することができる。
【００４２】図３は、本発明の第２の実施形態である自
動分析装置の反応ディスク１５の上面図である。 本発
明の第２の実施形態を、図１及び図３を参照して説明す
る。上述した第１の実施形態においては、反応ディスク
１５上において、反応容器８の、攪拌位置２４と測光位
置２５とを別々の位置に設けていた。
動分析装置の反応ディスク１５の上面図である。 本発
明の第２の実施形態を、図１及び図３を参照して説明す
る。上述した第１の実施形態においては、反応ディスク
１５上において、反応容器８の、攪拌位置２４と測光位
置２５とを別々の位置に設けていた。
【００４３】これに対して、本発明の第２の実施形態に
おいては、反応ディスク１５上の同一位置にて、反応容
器８に収容された液体試料の攪拌および吸光度測定を行
えるように各機構を構成する。
おいては、反応ディスク１５上の同一位置にて、反応容
器８に収容された液体試料の攪拌および吸光度測定を行
えるように各機構を構成する。
【００４４】つまり、反応ディスク１５上の撹拌／測光
位置２６にて、撹拌部５から反応容器８の超音波照射面
２２に超音波１１を照射すると同時に、光度計１８から
の吸光度測定用の光を反応容器８の吸光度測定面２１に
照射することができるように、撹拌部５及び光度計１８
を配置する。
位置２６にて、撹拌部５から反応容器８の超音波照射面
２２に超音波１１を照射すると同時に、光度計１８から
の吸光度測定用の光を反応容器８の吸光度測定面２１に
照射することができるように、撹拌部５及び光度計１８
を配置する。
【００４５】これによって、撹拌を行うと同時に、リア
ルタイムで攪拌状態を監視することができる。
ルタイムで攪拌状態を監視することができる。
【００４６】なお、他の構成は、図１及び図２に示す構
成と同一となっているため、詳細な説明は省略する。
成と同一となっているため、詳細な説明は省略する。
【００４７】図１及び図３において、検体格納部７から
反応容器８に吐出された検体６と、試薬格納部１４から
反応容器８に吐出された試薬９とを、反応ディスク１５
を回転し、測定対象試料を攪拌／測光位置２６に移動す
る。制御部２は、超音波１１を発生さるためのトリガ信
号を電力供給部１９に送り、この電力供給部１９を介し
て圧電素子１０に加える。
反応容器８に吐出された検体６と、試薬格納部１４から
反応容器８に吐出された試薬９とを、反応ディスク１５
を回転し、測定対象試料を攪拌／測光位置２６に移動す
る。制御部２は、超音波１１を発生さるためのトリガ信
号を電力供給部１９に送り、この電力供給部１９を介し
て圧電素子１０に加える。
【００４８】圧電素子１０は、電力供給部１９から供給
された電圧強度、周波数に比例した超音波１１を反応容
器８に照射し液体試料の攪拌を行う。ところで、従来か
ら一般的に使用されている、へらを用いる攪拌方法で
は、物理的に光度計１８に隣接する位置に攪拌機構を設
置することが困難であり、仮に、撹拌機構を光度計１８
に隣接して設置できた場合でも反応容器８にへらを挿入
して攪拌していることから、撹拌動作とリアルタイムで
は攪拌状態を確認することができない。
された電圧強度、周波数に比例した超音波１１を反応容
器８に照射し液体試料の攪拌を行う。ところで、従来か
ら一般的に使用されている、へらを用いる攪拌方法で
は、物理的に光度計１８に隣接する位置に攪拌機構を設
置することが困難であり、仮に、撹拌機構を光度計１８
に隣接して設置できた場合でも反応容器８にへらを挿入
して攪拌していることから、撹拌動作とリアルタイムで
は攪拌状態を確認することができない。
【００４９】これに対して、本発明の第２の実施形態に
おいては、超音波１１を利用して攪拌する攪拌部５を用
いたことにより、制御部２では、攪拌と同時に光度計１
８から送られてくる吸光度データすなわち攪拌状態の確
認をリアルタイムで行うことが可能になる。
おいては、超音波１１を利用して攪拌する攪拌部５を用
いたことにより、制御部２では、攪拌と同時に光度計１
８から送られてくる吸光度データすなわち攪拌状態の確
認をリアルタイムで行うことが可能になる。
【００５０】以上のように、本発明の第２の実施形態に
よれば、検体と試薬等との撹拌のための超音波強度が過
大となった場合でも、正確な吸光度測定ができるととも
に、超音波強度の最適化の設定を短時間で可能な自動分
析装置を実現することができる。
よれば、検体と試薬等との撹拌のための超音波強度が過
大となった場合でも、正確な吸光度測定ができるととも
に、超音波強度の最適化の設定を短時間で可能な自動分
析装置を実現することができる。
【００５１】次に、本発明の第３の実施形態を図１を参
照して説明をする。この第３の実施形態は、上記第１の
実施形態又は第２の実施形態の構成を前提とした例であ
る。
照して説明をする。この第３の実施形態は、上記第１の
実施形態又は第２の実施形態の構成を前提とした例であ
る。
【００５２】ところで、試料と試薬との反応は、一般に
比色反応と呼ばれ、その名が示すように特定の波長域の
吸光度が変化するものであり、試料内の測定成分濃度が
高くなると、最も吸光の影響を受ける波長の吸光量は増
加し、対応する光検知器に入射する光量は低下する。
比色反応と呼ばれ、その名が示すように特定の波長域の
吸光度が変化するものであり、試料内の測定成分濃度が
高くなると、最も吸光の影響を受ける波長の吸光量は増
加し、対応する光検知器に入射する光量は低下する。
【００５３】そのことから、攪拌調整用試薬を準備し、
その試薬と検体(蒸留水もしくは脱気した水）とを攪拌
した試料の吸光度測定を行う。その吸光度は、試薬と検
体との分注量で決まってくることから、制御部２では、
その値をリファレンス値として記憶する。
その試薬と検体(蒸留水もしくは脱気した水）とを攪拌
した試料の吸光度測定を行う。その吸光度は、試薬と検
体との分注量で決まってくることから、制御部２では、
その値をリファレンス値として記憶する。
【００５４】その後は、その吸光度になるように、制御
部２は、光度計１８から送られてくる吸光度測定結果と
リファレンス値とをリアルタイムで比較し、撹拌部の５
の撹拌動作が十分か否かを判定し、攪拌不十分であれば
超音波１１を発生させるためのトリガ信号強度を可変す
る。
部２は、光度計１８から送られてくる吸光度測定結果と
リファレンス値とをリアルタイムで比較し、撹拌部の５
の撹拌動作が十分か否かを判定し、攪拌不十分であれば
超音波１１を発生させるためのトリガ信号強度を可変す
る。
【００５５】そのことにより、超音波強度も比例して変
わり、測定した吸光度がリファレンス値すなわち最適な
攪拌状態になるまで超音波強度を可変し、最適な超音波
強度を速やかに設定することができる。
わり、測定した吸光度がリファレンス値すなわち最適な
攪拌状態になるまで超音波強度を可変し、最適な超音波
強度を速やかに設定することができる。
【００５６】また、超音波強度を可変しても吸光度がリ
ファレンス値に到達しない場合には、攪拌部５もしくは
光度計１８を含む光学系の故障が考えられることから、
オペレーターにブザー等で警告を促すことも可能であ
る。
ファレンス値に到達しない場合には、攪拌部５もしくは
光度計１８を含む光学系の故障が考えられることから、
オペレーターにブザー等で警告を促すことも可能であ
る。
【００５７】以上のように、本発明の第３の実施形態に
よれば、上記第１の実施形態又は第２の実施形態の構成
を備え、かつ、撹拌調整用試薬と検体とを撹拌して、超
音波強度を設定するように構成したので、上記第１の実
施形態又は第２の実施形態と同様な効果を得ることがで
きる他、最適な超音波強度を短時間に設定することが可
能な自動分析装置を実現することができる。
よれば、上記第１の実施形態又は第２の実施形態の構成
を備え、かつ、撹拌調整用試薬と検体とを撹拌して、超
音波強度を設定するように構成したので、上記第１の実
施形態又は第２の実施形態と同様な効果を得ることがで
きる他、最適な超音波強度を短時間に設定することが可
能な自動分析装置を実現することができる。
【００５８】なお、上述した例においては、複数の反応
容器８は、反応ディスク１５の上面側から見て、この反
応ディスク１５を４分割し、互いに直交する２つの交線
２０に対して、反応容器８の側壁部が光線２０に直交せ
ず、ほぼ４５度程度の角度で傾斜した状態で配置される
ように構成したが、撹拌部５が、反応容器８の超音波照
射面に超音波を照射し、光源からの測定光は、反応容器
８の、超音波照射面とは異なる位置の測定光照射面に測
定光を照射するような構成であれば、反応容器８の側壁
部が光線２０に、ほぼ直交するような状態で配置される
ように構成してもよい。
容器８は、反応ディスク１５の上面側から見て、この反
応ディスク１５を４分割し、互いに直交する２つの交線
２０に対して、反応容器８の側壁部が光線２０に直交せ
ず、ほぼ４５度程度の角度で傾斜した状態で配置される
ように構成したが、撹拌部５が、反応容器８の超音波照
射面に超音波を照射し、光源からの測定光は、反応容器
８の、超音波照射面とは異なる位置の測定光照射面に測
定光を照射するような構成であれば、反応容器８の側壁
部が光線２０に、ほぼ直交するような状態で配置される
ように構成してもよい。
【００５９】また、上述した例においては、反応容器８
は角柱形状となっているが、この形状に限らず、円柱形
状であっても、本発明は適用可能である。
は角柱形状となっているが、この形状に限らず、円柱形
状であっても、本発明は適用可能である。
【００６０】
【発明の効果】本発明によれば、自動分析装置の撹拌部
に使用する超音波発生源を有し、反応容器を反応ディス
クの交線に対して傾斜を持たせて配置したことを特徴と
する自動分析装置を発明したことにより、次に挙げる効
果が発生する。
に使用する超音波発生源を有し、反応容器を反応ディス
クの交線に対して傾斜を持たせて配置したことを特徴と
する自動分析装置を発明したことにより、次に挙げる効
果が発生する。
【００６１】反応容器に超音波照射面と吸光度測定の面
とを別々に持つことができる。その結果、吸光度測定面
には超音波を照射することが無くなるので、超音波照射
面に照射される超音波が過大となり、たとえ超音波照射
面が変形したとしても、吸光度測定面は超音波は照射さ
れることはなく、超音波により変形されることから回避
することができる。
とを別々に持つことができる。その結果、吸光度測定面
には超音波を照射することが無くなるので、超音波照射
面に照射される超音波が過大となり、たとえ超音波照射
面が変形したとしても、吸光度測定面は超音波は照射さ
れることはなく、超音波により変形されることから回避
することができる。
【００６２】したがって、検体と試薬等との撹拌のため
の超音波強度が過大となった場合でも、正確な吸光度測
定が可能な自動分析装置を実現することができる。
の超音波強度が過大となった場合でも、正確な吸光度測
定が可能な自動分析装置を実現することができる。
【００６３】また、攪拌位置と測光位置とを同一にする
ことにより、検体と試薬等との撹拌のための超音波強度
が過大となった場合でも、正確な吸光度測定がきるとと
もに、超音波強度の最適化の設定を、リアルタイムでか
つ短時間で可能な自動分析装置を実現することができ
る。
ことにより、検体と試薬等との撹拌のための超音波強度
が過大となった場合でも、正確な吸光度測定がきるとと
もに、超音波強度の最適化の設定を、リアルタイムでか
つ短時間で可能な自動分析装置を実現することができ
る。
【００６４】また、攪拌調整用試薬を用いたことによ
り、最適な超音波強度を短時間に設定することが可能な
自動分析装置を実現することができる。
り、最適な超音波強度を短時間に設定することが可能な
自動分析装置を実現することができる。
【図１】本発明の実施形態における自動分析装置の概略
構成図である。
構成図である。
【図２】本発明の第１の実施形態における自動分析装置
の反応ディスク上面図である。
の反応ディスク上面図である。
【図３】本発明の第２の実施形態における自動分析装置
の反応ディスク上面図である。
の反応ディスク上面図である。
１ 自動分析装置 ２ 制御部 ３ 格納部 ４ 分析部 ５ 攪拌部 ６ 検体 ７ 検体容器 ８ 反応容器 ９ 試薬 １０ 圧電素子 １１ 超音波 １２ 反応槽 １３ 保温媒体 １４ 試薬容器 １５ 反応ディスク １６ 反応ディスク用軸 １７ 反応ディスクモータ １８ 光度計 １９ 電力供給部 ２０ 交線 ２１ 吸光度測定面 ２２ 超音波照射面 ２３ 光軸 ２４ 攪拌位置 ２５ 測光位置 ２６ 攪拌／測光位置 ２７ 旋回流
フロントページの続き (72)発明者 鈴木 洋一郎 茨城県ひたちなか市市毛882番地 株式会 社日立製作所計測器グループ内 Ｆターム(参考） 2G054 AA02 AB07 BA02 BB10 CD01 EA04 EA06 EB01 FA06 FA50 2G058 BB09 BB17 CC00 CD04 CF16 EA01 FA01 GA02 GE10 2G059 AA01 AA05 BB04 DD05 EE01 EE12 FF12 GG00 KK01 MM05 MM10
Claims (3)
- 【請求項１】液体試料を試薬と化学反応させる反応容器
を反応ディスク上に配置し、超音波発生源からの超音波
を上記反応容器に照射して検体と試薬等とを攪拌する攪
拌部と、複数の発光波長スペクトルを有する測定光を発
生する光源と、この光源からの測定光を上記反応容器に
照射して、測定対象である液体試料の透過光を分光する
分光器と、測定に必要とされる波長位置に設置した光検
知器とを備え、この光検知器からの出力信号のデータ処
理を行って吸光度測定を行い、上記液体試料中の成分分
析を行う自動分析装置において、 上記撹拌部は、上記反応容器の超音波照射面に超音波を
照射し、上記光源は、上記反応容器の、上記超音波照射
面とは異なる位置の測定光照射面に測定光を照射するこ
とを特徴とする自動分析装置。 - 【請求項２】請求項１記載の自動分析装置において、上
記反応容器は、反応ディスク上の同一の位置にて、上記
撹拌部からの超音波が照射され、上記光源からの測定光
が照射されることを特徴とする自動分析装置。 - 【請求項３】請求項１又は２記載の自動分析装置におい
て、上記反応容器に攪拌調整用試薬が収容され、この撹
拌調整用試薬を用いて、吸光度測定を行うことにより、
上記攪拌部の液体試料の攪拌動作を判定することを特徴
とする自動分析装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000263853A JP3704035B2 (ja) | 2000-08-31 | 2000-08-31 | 自動分析装置 |
| US09/814,683 US6773672B2 (en) | 2000-08-31 | 2001-03-15 | Automatic analysis apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000263853A JP3704035B2 (ja) | 2000-08-31 | 2000-08-31 | 自動分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002071698A true JP2002071698A (ja) | 2002-03-12 |
| JP3704035B2 JP3704035B2 (ja) | 2005-10-05 |
Family
ID=18751347
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000263853A Expired - Lifetime JP3704035B2 (ja) | 2000-08-31 | 2000-08-31 | 自動分析装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6773672B2 (ja) |
| JP (1) | JP3704035B2 (ja) |
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| JP2010185797A (ja) * | 2009-02-12 | 2010-08-26 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
| WO2021250940A1 (ja) * | 2020-06-08 | 2021-12-16 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置 |
| JP7453678B2 (ja) | 2020-06-02 | 2024-03-21 | 国立大学法人 東京大学 | 粘性又は弾性の測定装置及び方法 |
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| US20070172866A1 (en) * | 2000-07-07 | 2007-07-26 | Susan Hardin | Methods for sequence determination using depolymerizing agent |
| JP3892743B2 (ja) * | 2002-03-01 | 2007-03-14 | 日本碍子株式会社 | 反応セルおよびその使用方法 |
| EP1912072A1 (en) * | 2005-08-03 | 2008-04-16 | Olympus Corporation | Mixing device and analysis device having the mixing device |
| JP2007057318A (ja) * | 2005-08-23 | 2007-03-08 | Olympus Corp | 分析装置、供給装置、攪拌装置及び攪拌方法 |
| JP5026994B2 (ja) * | 2008-01-17 | 2012-09-19 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| US20130098163A1 (en) * | 2010-01-20 | 2013-04-25 | Blaze Medical Devices, LLC | Erythrocyte mechanical fragility tester using disposable cartridges |
| CN103210297B (zh) * | 2011-01-21 | 2016-05-04 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置 |
| KR101463418B1 (ko) * | 2012-06-15 | 2014-11-21 | 고려대학교 산학협력단 | 화학반응 계측 장치 및 이를 이용한 화학반응 계측 방법 |
| EP3992610A1 (en) * | 2020-10-30 | 2022-05-04 | Hach Lange GmbH | A process photometer arrangement |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4762413A (en) * | 1984-09-07 | 1988-08-09 | Olympus Optical Co., Ltd. | Method and apparatus for measuring immunological reaction with the aid of fluctuation in intensity of scattered light |
| ATE139845T1 (de) * | 1989-08-23 | 1996-07-15 | Canon Kk | Methode zur messung eines immunologisch aktiven materials und vorrichtung, die dazu geeignet ist |
| JP3168886B2 (ja) | 1994-09-20 | 2001-05-21 | 株式会社日立製作所 | 化学分析装置 |
| JPH08189889A (ja) | 1994-10-19 | 1996-07-23 | Nippon Tectron Co Ltd | 測光用セル |
| JPH0958941A (ja) | 1995-08-22 | 1997-03-04 | Hitachi Ltd | エレベーターの制御装置 |
| JPH10123136A (ja) | 1996-10-24 | 1998-05-15 | Nippon Tectron Co Ltd | 自動免疫分析装置 |
| JP3984748B2 (ja) * | 1999-03-17 | 2007-10-03 | 株式会社日立製作所 | 化学分析装置と化学分析システム |
| DE60138934D1 (de) * | 2000-02-25 | 2009-07-23 | Hitachi Ltd | Mischvorrichtung für Analysenautomat |
-
2000
- 2000-08-31 JP JP2000263853A patent/JP3704035B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2001
- 2001-03-15 US US09/814,683 patent/US6773672B2/en not_active Expired - Lifetime
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|---|---|---|---|---|
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| US9327255B2 (en) | 2006-11-29 | 2016-05-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Microchemical analysis device, a micro mixing device, and a microchemical analysis system comprising the same |
| JP2010185797A (ja) * | 2009-02-12 | 2010-08-26 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20020025579A1 (en) | 2002-02-28 |
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| US6773672B2 (en) | 2004-08-10 |
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