JP2002071652A

JP2002071652A - 化粧品又は化粧品原料の官能評価代替評価方法及び評価装置並びに解析方法及び解析システム

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Publication number: JP2002071652A
Application number: JP2000263059A
Authority: JP
Inventors: Yuko Shiomi; 祐子塩見; Kumi Kitahara; 紅実北原; Yusuke Suzuki; 祐介鈴木; Nobutaka Okuma; 信隆大隈
Original assignee: SHOWA DENKI KENKYUSHO KK; Mandom Corp
Current assignee: SHOWA DENKI KENKYUSHO KK; Mandom Corp
Priority date: 2000-08-31
Filing date: 2000-08-31
Publication date: 2002-03-12

Abstract

(57)【要約】【課題】専門パネラーの官能評価により行われている
化粧品や化粧品原料の機能性、使用性、仕上がり感など
の品質評価において、専門パネラーの評価結果と相関関
係を有する結果が高精度且つ再現性よく得られ、官能評
価の代替手段として実際に利用することができる化粧品
又は化粧品原料の官能評価代替評価方法及び評価装置並
びに解析方法及び解析システムを提供することにある。【解決手段】化粧品又は化粧品原料に生じるＡＥを検
出して電気信号に変換するＡＥセンサと、該ＡＥセンサ
により検出された電気信号を増幅する増幅手段と、該増
幅手段により増幅された電気信号のうち特定の周波数帯
域を抽出するフィルタ手段と、該フィルタ手段により抽
出された電気信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換
手段と、該Ａ／Ｄ変換手段により変換されたデジタル信
号を解析する解析手段とからなることを特徴とする官能
評価代替評価装置とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、化粧品又は化粧品
原料の官能評価代替評価方法及び評価装置並びに解析方
法及び解析システムに係り、その目的は、専門パネラー
の官能評価により行われている化粧品や化粧品原料の機
能性、使用性、仕上がり感などの化粧品や化粧品原料の
特性等の品質評価において、専門パネラーの評価結果と
相関関係を有する結果が高精度且つ再現性よく得られ、
官能評価の代替手段として実際に利用することができる
化粧品又は化粧品原料の官能評価代替評価方法及び評価
装置並びに解析方法及び解析システムを提供することに
ある。尚、本発明においてＡＥとは、Acoustic emissio
n （弾性波）のことであり、ＡＥセンサとは、Acoustic
emission （弾性波）を検出して電気信号に変換する素
子のことである。

【０００２】

【従来の技術】「べたつき」や「なめらかさ」などの化
粧品や化粧品原料の機能性、使用性、仕上がり感などの
特性の評価は、従来から専門パネラーによる官能評価に
より行われている。しかしながら専門パネラーによる官
能評価は、パネラーの個人差、パネラー自身の健康状
態、或いは湿度、温度などの環境条件により大きく左右
されるために、得られる結果にばらつきが生じるという
問題点があった。このために、より信頼性の高い結果を
得るために複数の熟練した専門パネラーによる評価が多
数回必要とされた。

【０００３】そこで、近年では、化粧品や化粧品原料の
機能性、使用性、仕上がり感などの特性の評価におい
て、専門パネラーの官能評価に頼らない化粧品又は化粧
品原料の評価方法及び評価装置の開発が盛んに行われて
いる。例えば、化粧品を皮膚や毛髪に塗布した際の「べ
たつき」を評価する方法として、圧縮試験機により化粧
品に荷重を付加したときの接着力を測定して「べたつ
き」を評価する方法が存在している。しかしながら、こ
の仕上がり感の評価方法では、複数の専門パネラーによ
る官能評価の結果と相関関係を有する結果が常に得られ
ないという問題点が存在した。これは、前記した「べた
つき」の評価方法において測定される数値は、荷重によ
る接着力のみであり、その他の微妙な挙動を測定するこ
とはできないからである。つまり、化粧品の使用感、仕
上がり感、風合いといった特徴は、人間の繊細で様々な
要素が複雑に関与した感覚により判断が行われているか
らであり、これは単に一つの要素に置き換えられるもの
ではないからである。例えば、前述の「べたつき」とい
う感覚は、「化粧品の粘性による重さ」や「塗布した部
分を指で触れたときの接着力」など様々な要素に分解で
きる感覚である。このような複合的な感覚を数値化して
評価するためには、これら複数の要素一つ一つに相関の
ある特性値が必要とされた。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】即ち、本発明の解決課
題は、微細な変化を測定することができるとともに、多
面的な評価に必要な複数の特性値を取得することがで
き、このために、専門パネラーによる官能評価の結果と
常に相関関係を有する結果が得られる化粧品又は化粧品
原料の官能評価代替評価方法及び評価装置並びに解析方
法及び解析システムを提供することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明は上記した課題を
解決するためになされたものであって、請求項１に係る
発明は、化粧品又は化粧品原料の特性を評価する化粧品
又は化粧品原料の評価方法において、ＡＥを検出して電
気信号に変換するＡＥセンサを用いて化粧品又は化粧品
原料に生じるＡＥを検出することを特徴とする化粧品又
は化粧品原料の官能評価代替評価方法に関する。請求項
２に係る発明は、ＡＥセンサを化粧品又は化粧品原料に
対して略垂直方向に移動させながらＡＥを検出すること
を特徴とする請求項１に記載の化粧品又は化粧品原料の
官能評価代替評価方法に関する。請求項３に係る発明
は、ＡＥセンサを化粧品又は化粧品原料に対して略水平
方向に移動させながらＡＥを検出することを特徴とする
請求項１に記載の化粧品又は化粧品原料の官能評価代替
評価方法に関する。請求項４に係る発明は、化粧品又は
化粧品原料の特性を評価する化粧品又は化粧品原料の評
価における電気信号の解析方法であって、該電気信号は
化粧品又は化粧品原料に生じるＡＥを検出するＡＥセン
サにより得られてなり、該電気信号を波形処理した後
に、得られた波形データの特性値を算出することを特徴
とする解析方法に関する。請求項５に係る発明は、化粧
品又は化粧品原料の特性を評価する化粧品又は化粧品原
料の評価における電気信号の解析方法であって、該電気
信号は化粧品又は化粧品原料に生じるＡＥを検出するＡ
Ｅセンサから得られてなり、該電気信号を波形処理した
後に、解析処理して得られた波形データの特性値を算出
することを特徴とする解析方法に関する。

【０００６】請求項６に係る発明は、化粧品又は化粧品
原料に生じるＡＥを検出して電気信号に変換するＡＥセ
ンサと、該ＡＥセンサにより検出された電気信号を増幅
する増幅手段と、該増幅手段により増幅された電気信号
のうち特定の周波数帯域を抽出するフィルタ手段と、該
フィルタ手段により抽出された電気信号をデジタル信号
に変換するＡ／Ｄ変換手段と、該Ａ／Ｄ変換手段により
変換されたデジタル信号を解析する解析手段とからなる
ことを特徴とする化粧品又は化粧品原料の官能評価代替
評価装置に関する。請求項７に係る発明は、化粧品又は
化粧品原料に生じるＡＥを検出して電気信号に変換する
ＡＥセンサと、該ＡＥセンサの駆動手段と、該駆動手段
を制御する制御手段と、該ＡＥセンサにより検出された
電気信号を増幅する増幅手段と、該増幅手段により増幅
された電気信号のうち特定の周波数帯域を抽出するフィ
ルタ手段と、該フィルタ手段により抽出された電気信号
をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換手段と、該Ａ／Ｄ
変換手段により変換されたデジタル信号を解析する解析
手段とからなることを特徴とする化粧品又は化粧品原料
の官能評価代替評価装置に関する。請求項８に係る発明
は、化粧品又は化粧品原料に生じるＡＥを検出して電気
信号に変換するＡＥセンサと、該ＡＥセンサにより検出
された電気信号を増幅する第一の増幅手段と、該第一の
増幅手段により増幅された電気信号のうち特定の周波数
帯域を抽出するフィルタ手段と、該フィルタ手段により
抽出された電気信号を増幅する第二の増幅手段と、該第
二の増幅手段により増幅された電気信号をデジタル信号
に変換するＡ／Ｄ変換手段と、該Ａ／Ｄ変換手段により
変換されたデジタル信号を解析する解析手段とからなる
ことを特徴とする化粧品又は化粧品原料の官能評価代替
評価装置に関する。請求項９に係る発明は、化粧品又は
化粧品原料に生じるＡＥを検出して電気信号に変換する
ＡＥセンサと、該ＡＥセンサの駆動手段と、該駆動手段
を制御する制御手段と、該ＡＥセンサにより検出された
電気信号を増幅する第一の増幅手段と、該第一の増幅手
段により増幅された電気信号のうち特定の周波数帯域を
抽出するフィルタ手段と、該フィルタ手段により抽出さ
れた電気信号を増幅する第二の増幅手段と、該第二の増
幅手段により増幅された電気信号をデジタル信号に変換
するＡ／Ｄ変換手段と、該Ａ／Ｄ変換手段により変換さ
れたデジタル信号を解析する解析手段とからなることを
特徴とする化粧品又は化粧品原料の官能評価代替評価装
置に関する。

【０００７】請求項１０に係る発明は、化粧品又は化粧
品原料の官能評価代替評価装置において用いられる解析
システムであって、化粧品又は化粧品原料に生じるＡＥ
を検出して得られた電気信号を波形処理する波形処理手
段と、該波形処理手段により得られた波形データの特性
値を算出する算出手段とからなることを特徴とする解析
システムに関する。請求項１１に係る発明は、化粧品又
は化粧品原料の官能評価代替評価装置において用いられ
る解析システムであって、化粧品又は化粧品原料に生じ
るＡＥを検出して得られた電気信号を波形処理する波形
処理手段と、該波形処理手段により得られた波形データ
に対して、信号抽出処理、ノイズ除去処理、絶対値処
理、エンベロープ処理、ＦＦＴ処理、間引き処理のうち
から選択される１種以上の解析処理を施す解析処理手段
と、該解析処理手段により処理された波形データの特性
値を算出する算出手段とからなることを特徴とする解析
システムに関する。

【０００８】

【発明の実施の形態】まず、本発明に係る化粧品又は化
粧品原料の官能評価代替評価方法について説明する。本
発明に係る化粧品又は化粧品原料の官能評価代替評価方
法は、ＡＥセンサによって測定したＡＥから化粧品や化
粧品原料の機能性、使用性、仕上がり感などの特性を評
価することを特徴としている。化粧品又は化粧品原料の
ＡＥを測定することにより、化粧品又は化粧品原料の評
価の過程における微細な変化を捉えることができるため
に精度の高い測定が可能となる。また、ＡＥを解析する
ことにより得られる単一若しくは複数の特性値により、
化粧品や化粧品原料の機能性、使用性、仕上がり感など
の特性を多面的に分析できるために、複数の専門パネラ
ーの結果と相関関係を有する結果を常に得ることができ
る。

【０００９】本発明に係る化粧品や化粧品原料の機能
性、使用性、仕上がり感などの特性の官能評価代替評価
方法において用いられるＡＥを検出するＡＥセンサとし
ては、化粧品又は化粧品原料に発生するＡＥを電気信号
に変換して検出する圧電素子等の圧力センサを例示する
ことができる。化粧品又は化粧品原料に発生するＡＥを
測定する方法は特に限定はされない。その一例を示す
と、まず、サンプルとなる化粧品又は化粧品原料を被塗
布体の表面に略均一な厚さとなるように塗布する。サン
プルとなる化粧品又は化粧品原料を塗布する被塗布体と
しては、アクリル板等の合成樹脂性の板材の他、皮膚や
毛髪、或いは皮膚モデルや毛髪モデルなどを用いること
ができる。被塗布体として皮膚や皮膚モデル、或いは毛
髪や毛髪モデルを用いた場合は、化粧品を皮膚や毛髪に
塗布する実際の使用条件と略同一の条件で評価をするこ
とが可能となる。

【００１０】次に、サンプルとなる化粧品又は化粧品原
料に物理的な力を加えた際に発生するＡＥをＡＥセンサ
により測定する。ＡＥの測定は、ＡＥセンサを直接化粧
品又は化粧品原料に接触させて測定することもでき、ま
た、化粧品又は化粧品原料と間接的に接触させた状態で
測定することも可能である。ＡＥセンサを直接化粧品又
は化粧品原料に接触させてＡＥを測定する方法として
は、ＡＥセンサを化粧品又は化粧品原料に直接接触させ
た状態からＡＥセンサと化粧品又は化粧品原料を垂直方
向に引き離す又は接触させたＡＥセンサを被塗布体に対
して水平方向に移動させた際に生じるＡＥを測定すれば
よい。

【００１１】また、ＡＥセンサを化粧品又は化粧品原料
と間接的に接触させてＡＥを測定する方法としては、Ａ
Ｅセンサを指や櫛などに直接取り付けて測定すると良
い。具体的には、ＡＥセンサを取り付けた指或いは櫛な
どを化粧品又は化粧品原料と接触させる又は接触させた
指或いは櫛などを化粧品又は化粧品原料から引き離す、
若しくは被塗布体に対して水平方向に移動させた際に生
じるＡＥを間接的に測定すればよい。尚、皮膚や毛髪、
或いは皮膚モデルや毛髪モデルに塗布した化粧品や化粧
品原料を評価する際には、手に持ちやすく操作が簡便な
治具と組み合わせて使用することも可能である。このよ
うに、ＡＥは、化粧品又は化粧品原料とＡＥセンサを間
接的に接触させた状態でも測定することが可能である。
このために、ＡＥセンサを指や櫛に取り付けて測定する
ことも可能であり、実際の使用状態に則した測定を簡便
に行うことができる。

【００１２】上述した直接的或いは間接的な接触による
いずれの測定においても、ＡＥを測定する際のＡＥセン
サの動作は、評価する化粧品や化粧品原料の機能性、使
用性、仕上がり感などの特性に応じて任意に設定すると
よい。例えば、化粧品の「べたつき」を評価する場合に
は、化粧品にＡＥセンサを間接或いは直接的に接触させ
た状態で、ＡＥセンサを化粧品から略垂直方向に引き離
す際に生じるＡＥを測定するとよい。また、化粧品の
「なめらかさ」などの表面性を評価する場合には、化粧
品とＡＥセンサを間接或いは直接的に接触させた状態
で、ＡＥセンサを化粧品に対して略水平方向に移動させ
た際に生じるＡＥを測定するとよい。また、ＡＥを測定
する際には、ＡＥセンサの動作を略一定の条件に維持し
た状態で化粧品又は化粧品原料のＡＥを測定することが
好ましい。これは、ＡＥセンサの動作を略一定の条件に
維持することにより、測定による誤差を減少することが
できるからである。この場合、図１に示す圧縮・引張試
験機のような駆動手段（４）にＡＥセンサ（１）を取り
付けて測定するとよい。

【００１３】以下、具体的なＡＥの測定方法を図面を用
いて説明する。まず、化粧品の「べたつき」を測定する
場合を例示する。べたつきを測定する場合は、図２や図
３に示されるように、被塗布体（３）の表面に塗布した
化粧品（２）とＡＥセンサ（１）を接触させた後に、Ａ
Ｅセンサ（１）を矢印方向（図では略垂直方向）に移動
させた際に発生するＡＥを測定するとよい。尚、図２に
示されるように、ＡＥセンサ（１）を指等に取付て化粧
品（２）と間接的に接触させてもよく、また、図３に示
されるように、ＡＥセンサ（１）を化粧品（２）に直接
的に接触させて測定することも可能である。図３のよう
にＡＥセンサ（１）を化粧品（２）に直接的に接触させ
て測定する場合は、ＡＥセンサを図１に示す圧縮・引張
試験機（４）のような略一定の条件でＡＥセンサを移動
することができる装置に取り付けて測定してもよい。
尚、図１中、（５）は増幅手段、（６）はフィルタ手
段、（７）はコンピュータなどの解析手段であり、
（８）はプリンタなどの出力手段である。（９）はディ
スプレイなどの表示手段であり、（１０）はキーボード
などの入力手段である。

【００１４】次に、化粧品の「なめらかさ」等の表面性
を評価する場合について説明する。表面性を評価するに
は、図４や図５に示されるように、被塗布体（３）の表
面に塗布した化粧品（２）とＡＥセンサ（１）を接触さ
せた後に、ＡＥセンサ（１）を矢印方向（図では略水平
方向）に移動させた際に発生するＡＥを測定するとよ
い。尚、図４に示されるように、ＡＥセンサ（１）を指
等に取付て化粧品（２）と間接的に接触させてもよく、
また、図５に示されるように、ＡＥセンサ（１）を化粧
品（２）に直接的に接触させることも可能である。尚、
図２乃至図５のいずれの場合においても、化粧品（２）
を塗布する被塗布体（３）としては、前述したいずれも
用いることができ、評価目的に応じて適宜選択するとよ
い。

【００１５】この他にも、例えば、毛髪の「まとまり」
を評価する場合には、貫通孔が設けられた筒体などにＡ
Ｅセンサを取り付けた後に、この貫通孔に毛髪の束を挿
通させた際に生じるＡＥを測定するとよい。また、「ご
わつき」を評価する場合には、毛髪を曲げたときに生じ
るＡＥを測定するとよい。また、毛髪の「櫛通り性」を
評価する場合には、ＡＥセンサを取り付けた櫛を用い
て、毛髪の束を梳いた際に発生するＡＥを測定するとよ
い。

【００１６】こうして測定されたＡＥは、コンピュータ
ー等の解析手段（７）によって容易に扱うことができる
ように、アナログ信号からデジタル信号への変換が行わ
れる。こうして得られたデジタル信号を処理・解析する
ことにより、化粧品や化粧品原料の機能性、使用性、仕
上がり感などの特性を評価することができる。以下、得
られたデジタル信号などの電気信号の解析方法につい
て、図面を参照しつつ説明する。図６は解析方法のフロ
ーチャート図である。ＡＥを測定して得られた電気信号
を処理する場合、まず、波形処理が行われる。具体的に
は、図７に示すような横軸を時間軸とし、縦軸を電圧値
とした波形処理を例示することができる。

【００１７】次に、波形処理して得られた波形データに
対して、必要に応じて、以下の解析処理が施される。こ
の解析処理としては、信号抽出処理、ノイズ除去処理、
絶対値処理、エンベロープ処理、ＦＦＴ処理（高速フー
リエ交換）、間引き処理等を例示することができる。信
号抽出処理とは、解析に必要な範囲のデータを抽出する
処理であり、例えば、予め定めたレベル以上の信号を検
出したときから一定時間のデータを抽出する処理であ
る。ノイズ除去処理とは、有効データの前後のノイズデ
ータを除去する処理であり、予め定めた信号レベル以下
の区間のデータを除去する処理である。絶対値処理と
は、得られた全データを絶対値とする処理である。エン
ベロープ処理とは、設定したΔ値に応じてエンベロープ
（包絡線）とする処理である。ＦＦＴ処理（高速フーリ
エ交換）とは、指定された時間軸領域のデータを周波数
領域のデータに変換する処理である。間引き処理とは、
波形の特徴を損なわないようにデータ量を削減する処理
である。これらの処理は必要に応じて行えばよく、また
複数組み合わせて行うことも可能である。

【００１８】次に、波形処理により得られた波形データ
或いは必要に応じて上記したような解析処理が施された
波形データの特性値を算出する。以下、特性値の算出に
ついて図面を参照しつつ説明する。図７は波形処理され
たＡＥの模式図であり、図８は波形処理されたＡＥを絶
対値処理した模式図である。尚、図７及び図８の横軸は
時間軸であり、図７の縦軸は電圧値であり、図８の縦軸
は電圧値の絶対値である。算出される特性値としては、
絶対値処理した全データの中の最大値である最大振幅値
（図８のａ）、データがしきい値を下回ってから、一定
時間以上しきい値を超えるデータがない場合、次のしき
い値が現れるまでを「イベント」とした場合のイベント
数、一つ目のイベントの中での、予め設定したしきい値
（図８の一点鎖線ｂ）を超えている時間である持続時間
（図８のｃ）、一つ目のイベントの中での、しきい値
（図７の鎖線ｄ）を超えた回数であるリングダウン数
（図７の場合は１２）、全データの２乗和平均であるＲ
ＭＳ値、絶対値処理した全データのピーク面積、絶対値
処理した一つ目のイベントの中でのしきい値を超えた時
間からピークまでの時間である立ち上がり時間（図８の
ｅ）、絶対値処理した一つ目のイベントの中でのしきい
値を超えた時間からピークまでの勾配である立ち上がり
勾配（図８の二点鎖線ｆ）、絶対値処理した一つ目のイ
ベントの中でのサンプリング開始からしきい値を超える
までの時間である発生時間（先頭）（図８のｇ）、絶対
値処理した一つ目のイベントの中でのサンプリング開始
からピークまでの時間である発生時間（ピーク）（図８
のｈ）、絶対値処理した一つ目のイベントの中でのサン
プリング開始からしきい値をきるまでの時間である発生
時間（後尾）（図８のｉ）などを例示することができ
る。

【００１９】最後に得られた特性値の平均値、標準偏
差、信頼区間等が算出され、さらに、グラフ化処理（回
帰直線、相関係数）等が行われる。このようにして得ら
れた特性値のうちの１種又は２種以上を用いることによ
り、化粧品又は化粧品原料の特性を評価することができ
る。

【００２０】本発明に係る化粧品又は化粧品原料の官能
評価代替評価方法において、評価することができる化粧
品としては、スタイリング剤、ヘアケア剤、育毛剤等の
毛髪用化粧料、乳液、化粧水等の皮膚用化粧料、シャン
プー、ボディシャンプー、洗顔料等の洗浄剤など、あら
ゆる化粧品の機能性、使用性、仕上がり感等を評価する
ことができる。また、前記したような化粧品の原料の評
価に用いることもできる。また、本発明に係る化粧品又
は化粧品原料の官能評価代替評価方法において、評価す
ることができる化粧品の特性としては、パウダーのサラ
サラ感、ネイルエナメルの被膜強度、化粧品を塗布した
後の毛髪のごわつきやくしどおり性、化粧品を塗布した
ときの皮膚や毛髪のなめらかさやべたつきなど、従来で
は専門パネラーの官能評価に頼ることの多かった特性を
評価することができる。

【００２１】次に、本発明に係る化粧品又は化粧品原料
の官能評価代替評価装置について、図面を参照しつつ説
明する。まず、本発明の第一実施形態に係る化粧品又は
化粧品原料の官能評価代替評価装置について図面を参照
しつつ説明する。図９及び図１０は本発明の第一実施形
態に係る化粧品又は化粧品原料の官能評価代替評価装置
を示すブロック図である。本発明の第一実施形態に係る
化粧品又は化粧品原料の官能評価代替評価装置は、ＡＥ
センサと、増幅手段と、フィルタ手段と、Ａ／Ｄ変換手
段と、解析手段とからなる。ＡＥセンサは、化粧品又は
化粧品原料から発生するＡＥを検出してアナログ信号に
変換するセンサである。ＡＥセンサを構成する素材とし
ては、圧電素子などの圧力センサが用いられる。

【００２２】増幅手段は、ＡＥセンサにより検出された
微弱なアナログ信号を増幅する。フィルタ手段は、増幅
手段により増幅されたアナログ信号を周波数弁別する。
ＡＥは通常の場合、数１０ＫＨｚ〜数１００ＫＨｚの帯
域であるので、これ以外の帯域の周波数信号をカットす
る。Ａ／Ｄ変換手段は、フィルタ手段により周波数弁別
されたアナログ信号をデジタル信号に変換する。

【００２３】化粧品又は化粧品原料に物理的な力が加え
られた際に生じるＡＥは、ＡＥセンサにより検出され
る。ＡＥセンサにより検出されたＡＥは、増幅手段によ
り増幅され、そしてフィルタ手段により、周波数弁別さ
れる。フィルタ手段により、周波数弁別されたアナログ
信号は、Ａ／Ｄ変換手段によりデジタル信号に変換され
て、解析手段において、所定の解析処理が施され、得ら
れた解析結果から化粧品や化粧品原料の機能性、使用
性、仕上がり感などの特性を評価することができる。

【００２４】具体的な解析手段の構成を図１１に例示す
る。図１１に示す解析手段においては、ディスプレイな
どの表示部、キーボード、マウス等の入力部、プリンタ
ー等の出力部、ＨＤ、ＦＤ等の記憶部、及び、ＣＰＵ、
ＲＡＭ、ＲＯＭ等から構成されている。Ａ／Ｄ変換手段
により変換されたデジタル信号は、入力インターフェー
ス（図示せず）を介して解析手段に入力される。入力さ
れたデジタル信号は、一旦ＨＤやＲＡＭなどに蓄えられ
た後に、予めＲＯＭやＨＤに備えられる解析プログラム
に基づいて、ＣＰＵにより所定の処理が加えられる。

【００２５】尚、図１０に示すように、フィルタ手段で
周波数弁別されたアナログ信号をさらに増幅する第二の
増幅手段を用いても構わない。この場合、フィルタ手段
と第二の増幅手段とが一つの装置内に収納された装置と
して、シグナルコンディショナーを例示することができ
る。

【００２６】次に、本発明の第二実施形態に係る化粧品
又は化粧品原料の官能評価代替評価装置について説明す
る。図１２及び図１３は本発明の第二実施形態に係る化
粧品の官能評価代替評価装置のブロック図である。本発
明の第二実施形態に係る化粧品又は化粧品原料の官能評
価代替評価装置は、ＡＥセンサと、駆動手段と、制御手
段と、増幅手段と、フィルタ手段と、Ａ／Ｄ変換手段
と、解析手段とからなる。本発明の第二実施形態に係る
化粧品又は化粧品原料の官能評価代替評価装置が、第一
実施形態に係る化粧品又は化粧品原料の官能評価代替評
価装置と異なる点は、ＡＥセンサは駆動手段に取り付け
られ、この駆動手段は制御手段により駆動を制御される
点にある。

【００２７】駆動手段は、ＡＥセンサを上下方向又は水
平方向に予め定めた速度で予め定めた荷重により自在に
駆動することができる。このような駆動手段としては、
特に限定されず、圧縮・引張試験機等を例示することが
できる。制御手段は、駆動手段の駆動を制御し、駆動速
度、荷重、駆動方向、移動距離などを自在に制御するこ
とができる。例えば、駆動手段として圧縮・引張試験機
を用いた場合は、センサがサンプルに接触するまでの速
度、接触してからの圧縮速度、センサをサンプルから引
き離すときの速度、圧縮荷重、圧縮時間などを制御する
ことができる。

【００２８】さらに、図１３に示すブロック図では、駆
動手段からの情報、例えば、付加荷重や試験開始信号を
解析手段に伝達する構成としている。これは、解析手段
による解析を精度の高いものとすることができるからで
ある。

【００２９】尚、図１３のブロック図に示されるよう
に、フィルタ手段で周波数弁別されたアナログ信号をさ
らに増幅する第二の増幅手段を用いても構わない。この
場合、フィルタ手段と第二の増幅手段とが一つの装置内
に収納された装置として、シグナルコンディショナーを
例示することができる。

【００３０】第二実施形態に係る化粧品又は化粧品原料
の官能評価代替評価装置においては、予め定められた制
御項目に従って駆動手段が駆動することにより、サンプ
ルである化粧品又は化粧品原料のＡＥをＡＥセンサによ
り検出する。例えば、ＡＥセンサを一定荷重でサンプル
である化粧品又は化粧品原料に接触させた後に、ＡＥセ
ンサを一定速度で化粧品又は化粧品原料から引き離す際
に発生するＡＥを測定する。検出されたＡＥは、増幅手
段により増幅され、フィルタ手段により周波数弁別さ
れ、そしてＡ／Ｄ変換手段により、デジタル信号に変換
されて、解析手段により所定の解析処理を施される。得
られた解析結果から化粧品又は化粧品原料の特性を評価
することができる。

【００３１】尚、以上説明した以外の構成は、本発明に
係る第一実施形態に係る化粧品又は化粧品原料の官能評
価代替評価装置と同様であり、説明を省略する。

【００３２】次に、上述したようなＡＥを測定する化粧
品又は化粧品原料の官能評価代替評価において好適に用
いられる、電気信号の解析システムについて説明する。
この解析システムは、ＡＥを測定して得られる電気信号
を解析して化粧品の評価に必要な特性値を算出するもの
である。本発明に係る解析システムは、波形処理手段
と、解析手段と、算出手段とから構成される。波形処理
手段はＡＥを測定して得られたデジタル信号を波形処理
し、具体的な波形処理としては、図７の模式図に示され
るような、横軸を時間軸とし、縦軸を電圧値とした波形
処理を例示することができる。解析手段は、波形処理さ
れた波形データに対して解析処理を加える。この解析処
理としては、解析に必要な範囲のデータを抽出する信号
抽出処理、予め設定したレベル以下の信号を除去するノ
イズ除去処理、得られたデジタル信号を絶対値処理する
絶対値処理、予め設定したΔ値に応じてエンベロープ処
理するエンベロープ処理、指定された時間軸領域のデー
タを周波数領域のデータに変換するＦＦＴ（高速フーリ
エ交換）処理、波形の特徴を損なわないようにデータ量
を削減する間引き処理等を例示することができる。尚、
解析処理は必要に応じて行われる。算出手段は、波形処
理された波形データの特性値を算出する。算出される特
性値としては、絶対値処理した全データの中の最大値で
ある最大振幅値、データがしきい値を下回ってから、一
定時間以上しきい値を超えるデータがない場合、次のし
きい値が現れるまでをイベントとした場合のイベント
数、一つ目のイベントの中での、予め設定したしきい値
を超えている時間である持続時間、一つ目のイベントの
中での、しきい値を超えた回数であるリングダウン数、
全データの２乗和平均であるＲＭＳ値、絶対値処理した
全データの面積である面積、絶対値処理した一つ目のイ
ベントの中でのしきい値を超えた時間からピークまでの
時間である立ち上がり時間、絶対値処理した一つ目のイ
ベントの中でのしきい値を超えた時間からピークまでの
勾配である立ち上がり勾配、絶対値処理した一つ目のイ
ベントの中でのサンプリング開始からしきい値を超える
までの時間である発生時間（先頭）、絶対値処理した一
つ目のイベントの中でのサンプリング開始からピークま
での時間である発生時間（ピーク）、絶対値処理した一
つ目のイベントの中でのサンプリング開始からしきい値
をきるまでの時間である発生時間（後尾）などを例示す
ることができる。

【００３３】次に、本発明に係る解析システムの動作に
ついて説明する。ＡＥセンサにより検出されたＡＥは、
Ａ／Ｄ変換手段によりデジタル信号に変換される。デジ
タル信号に変換されたＡＥは、まず波形処理手段により
波形処理が行われる。次に、波形処理が施された波形デ
ータに必要に応じて解析手段により解析処理が加えられ
る。最後に、算出手段により、必要に応じて解析処理が
加えられた波形データの特性値を算出する。このように
して得られた特性値、好ましくは複数の特性値から化粧
品の機能性、使用性、仕上がり感や化粧品原料の品質、
性状、特性等を評価することができる。

【００３４】次に、本発明に係る化粧品又は化粧品原料
の官能評価代替評価装置及び解析システムの具体的な使
用方法について説明する。尚、官能評価代替評価装置と
しては、図１３に示される官能評価代替評価装置を用
い、また駆動手段としては、圧縮試験機を用いて、化粧
品の「べたつき」を評価する場合を例示して説明する。
化粧品の「べたつき」の評価は、化粧品にＡＥセンサを
接触させた後に化粧品からＡＥセンサを引き抜く際に発
生するＡＥを検出するものとする。本発明に係る化粧品
又は化粧品原料の官能評価代替評価装置を用いて化粧品
又は化粧品原料の特性等を評価するには、まず、駆動手
段である圧縮試験機の駆動条件を制御手段によって設定
する。設定する条件としては、例えば、ＡＥセンサがサ
ンプルに接触するまでの速度、サンプルからＡＥセンサ
を引き離すときの速度、圧縮時間、圧縮速度、圧縮荷
重、ＡＥセンサとサンプルの距離などの必要条件を設定
する。

【００３５】次に、駆動手段として圧縮試験機を用いる
場合、本試験を行う前に、予備試験を行う。これは、本
試験における計測時間とトリガレベル、即ちＡＥ信号の
入力開始のタイミングを決定するために行われる。図１
４は、予備試験の際の設定事項を入力する画面の一例で
ある。図１４では、サンプリング数、サンプリング速
度、自動検出レベル、トリガソース、トリガレベル、ト
リガ極性、計測時間を入力するように構成されている。
サンプリング速度とは、Ａ／Ｄ変換手段においてアナロ
グ信号からデジタル信号に変換する際の時間周期であ
り、ここでは周波数で設定する。サンプリング数とは、
入力するデジタル信号数であり、サンプリング速度とサ
ンプリング数により、後述する計測時間が決定される。
自動検出レベルとは、一番高い電圧からこの設定値マイ
ナスした電圧値をトリガレベルとする値である。（圧縮
試験機を用いたテストにおいては、荷重が付加されて、
サンプルから離れるタイミングを決定する機能であ
る。）トリガソースとは、入力開始のタイミングにどの
信号を使用するのかを選択するものであり、ここでは、
外部トリガ、即ち、圧縮試験機からの信号を監視するよ
うに設定されている。外部トリガを選択すると、信号レ
ベルが一定値を超えた場合、又は下回った場合に入力を
開始する。トリガレベルとは、入力を開始するタイミン
グに使用される信号の強度であり、この値を超えた場合
に入力を開始する。尚、トリガレベルはトリガソースと
して内部トリガを選択した場合に有効であり、予備試験
では設定は不要である。トリガ極性とは、トリガレベル
より下回った（−↓）場合、或いは、上回った場合（＋
↑）、どちらの場合に測定を開始するのかを定めるもの
である。尚、トリガソースとして外部トリガを選択した
場合は、信号が立ち上がった場合、又は立ち下がった場
合に測定を開始する。予備試験においては、トリガソー
スとして外部トリガ、即ち、圧縮試験機からの信号を感
知しており、ここでは、信号が立ち上がった（＋↑）と
きからサンプリングを行うように選択されている。各設
定値の入力が終了したら、スタートボタンを押して測定
を開始する。

【００３６】図１５は、予備試験から得られたチャート
図の一例である。上段は圧縮試験機から伝達される荷重
信号であり、下段は、測定したＡＥの波形である。上段
のように、圧縮試験機の荷重信号の全てが計測時間内に
納まるように、計測時間を調整する。計測時間は、サン
プリング速度とサンプリング数により調整することがで
きる。また、荷重信号が減少する箇所と自動検出レベル
を示す横線Ｊとの交点が本試験の測定開始位置となるの
で、自動検出レベルの調整を適宜行う。

【００３７】このようにしてトリガレベルと計測時間が
定まったら、本試験に移る。図１６は、本試験の際の設
定事項を入力する画面の一例である。図１６では、サン
プリング数、サンプリング速度、トリガソース、トリガ
レベル、トリガ極性、計測時間を入力するように構成さ
れている。トリガレベルは予備試験の結果から決定され
る。また、トリガソースは、内部トリガを選択する。内
部トリガを選択した場合は、圧縮試験機からの荷重信号
がトリガレベルを越えた場合（＋↑）、又は下回った場
合（−↓）にＡＥ信号の入力を開始する。トリガ極性
は、トリガレベル以下（−↓）となったときにサンプリ
ングを開始するように選択されている。これは、本試験
では、ＡＥセンサを化粧品又は化粧品原料と接触させた
後に、センサを引き抜く際に発生するＡＥを測定するか
らである。

【００３８】必要な設定が終了したら測定を開始する。
測定を開始すると、予め設定された制御項目に従って制
御手段により制御された駆動手段により、一定の条件下
でＡＥセンサによるＡＥの測定がなされる。測定された
ＡＥは増幅手段により増幅され、フィルタ手段により周
波数弁別された後に、Ａ／Ｄ変換手段によりデジタル信
号に変換される。次に、波形処理手段により波形処理さ
れた後に、必要に応じて解析手段により解析処理がなさ
れる。解析手段による解析処理では、まず解析処理方法
の選択がなされる。選択される解析処理方法としては、
信号抽出、ノイズ除去、絶対値処理、エンベロープ処
理、ＦＦＴ処理、間引き処理である。

【００３９】図１７は解析処理の選択を行う際の設定事
項を入力する画面の一例である。左欄（Ａ０，Ｗ１〜Ｗ
５）は、解析処理後の各データの格納場所であり、左か
ら二列目の欄において、必要な解析処理が選択される。
尚、Ａ０（最上段）には波形処理後、即ち、何も解析処
理が行われていない波形データが格納されており、各解
析処理はこの波形データを利用して解析がなされる。以
下、それぞれの解析処理について説明する。信号抽出処
理を行う際には、自動処理と手動処理を選択でき、自動
処理を選択する場合は、信号レベルと抽出時間を入力
し、この信号レベルを超えた時間から抽出時間において
定められた時間の範囲を自動的に抽出する。手動処理を
選択した場合は、画面に表示される波形から、マウス等
の入力装置により必要な部分を選択して抽出を行う。

【００４０】ノイズ除去処理を行う際には、自動処理と
手動処理を選択でき、自動処理を選択する場合は、信号
レベルに記入した信号レベル以下となる区間を自動的に
除去する。手動処理を選択した場合は、画面に表示され
る波形から、マウス等の入力装置により必要な部分を選
択して抽出を行う。エンベロープ処理を行う際には、自
動処理と手動処理を選択でき、手動処理を選択する場合
は、包絡線の時定数であるΔｔを入力する。また、自動
処理を選択した場合は、予め設定されたΔｔ（例えば、
サンプリング周期の１００倍）によりエンベロープ処理
が行われる。間引き処理を行う際のには、間引き数の入
力を行い、この数値に基づいて算出される。この他の処
理、例えば、絶対値処理の場合は、設定事項を入力する
必要はない。

【００４１】次に、上記したように必要に応じて解析処
理が行われた波形データの特性値の算出が行われる。図
１８は特性値の算出を行う際の設定事項を入力する画面
の一例である。図１８においては、最大振幅値、持続時
間、リングダウン値、ＲＭＳ値、面積、立ち上がり時
間、立ち上がり勾配、イベント数、発生時間（先頭）、
発生時間（ピーク）、発生時間（後尾）の特性値を算出
することができる。まず、必要とされる特性値をどのよ
うな解析処理が行われたデータ或いは行われなかったデ
ータから算出するのかを、中央の欄において選択又は入
力する。即ち、図１７における左欄に表示されるデータ
格納場所の選択が行われる。例えば、最大振幅値は、絶
対値処理された全データの中の最大振幅であるので、絶
対処理されたデータ（ここではＷ３）を選択する。次
に、しきい値とΔｔを入力する。Δｔはイベント数を算
出するために用いられる。Δｔを予め定めた値（例え
ば、サンプリング周期の１００００倍）に自動設定する
こともできる。設定が終了したら、決定ボタンを押すと
結果が左の欄に表示される。

【００４２】最後に得られた特性値の平均値、標準偏
差、信頼区間等が算出され、さらに、グラフ化処理（回
帰直線、相関係数）等が行われる。このようにして算出
された特性値を用いて化粧品又は化粧品原料の特性を評
価することが可能となる。

【００４３】

【実施例】以下、実施例を示して本発明を詳細に説明す
る。但し、本発明は、以下の実施例により何ら限定され
るものではない。（実施例；シリコンを用いたべたつき評価試験）図１３
に示されるような官能評価代替評価装置を用いて、シリ
コンのべたつきを評価した。まず、検体であるシリコン
１００ｃｓ、シリコン５００ｃｓ、シリコン１０００ｃ
ｓ（いずれも信越化学社製）それぞれ２０μｌを人工皮
革の表面に滴下し、φ３０ｍｍの面積に均一に広げた。
次に、恒温恒湿室（温度；２３℃、湿度；６０％）内に
おいて、ＡＥセンサ（商品名；Ｆ２１７Ｌ２、株式会社
昭和電気研究所製）を取り付けた圧縮試験機（テクスチ
ャーアナライザーＴＡ−ＸＴ２ｉ、ＳＭＳ社製）によ
り、３００ｇの荷重を１秒間付加させた後に、ＡＥセン
サを引き離す際に発生するＡＥを測定する方法により、
それぞれ各１０回測定した。ＡＥの計測は、圧縮試験機
からの荷重電圧が０．３５ｖより立ち上がった時から取
り込みを開始した。尚、感度は６０ｄＢ（元波形の１０
００倍）であった。

【００４４】得られた波形データの一例を図１９〜２１
に示す。また、１０回の測定から得られた波形データを
ノイズカットや部分抽出を行い、特性値を算出した。１
０回の平均値を表１〜３に示す。また、各特性値と粘度
の関係を示すグラフを図２２〜図２４に示す。

【００４５】

【表１】

【００４６】

【表２】

【００４７】

【表３】

【００４８】表１〜３の結果及び図２２〜２４に示され
るように、化粧品のＡＥを測定することにより得られる
各特性値は、化粧品の粘度と相関関係を有することが分
かる。従って、化粧品の「べたつき」の評価において、
従来の官能評価の代替評価方法として好適に用いられる
ことが分かる。しかも、ＡＥから得られる特性値は多数
存在し、「べたつき」を多面的に評価することが可能で
ある。

【００４９】

【発明の効果】本発明に係る化粧品又は化粧品原料の官
能評価代替評価方法は、化粧品や化粧品原料に生じるＡ
Ｅを測定するものであるから、微細な変化を関知するこ
とができるために、精度の高い測定を行うことができ
る。しかも、ＡＥからは複数の特性値を得ることができ
るために、単一の試験結果を多面的に評価することがで
き、従来の官能評価の代替方法として、好適に用いるこ
とができる。

【００５０】本発明に係る化粧品又は化粧品原料の官能
評価代替評価装置は、ＡＥセンサで測定した微弱なＡＥ
を増幅してデジタル信号に変換するものであるから、コ
ンピュータ等の解析装置において解析処理することが可
能となる。また、制御手段と駆動手段を用いた化粧品又
は化粧品原料の官能評価代替評価装置は、略同一の条件
で化粧品又は化粧品原料のＡＥを測定することができる
ために、測定誤差を減少することができるとともに、異
なる測定を比較することもできる。

【００５１】本発明に係る解析方法及び解析処理システ
ムは、ＡＥセンサにより測定されたＡＥから、化粧品や
化粧品原料の機能性、使用性、仕上がり感などの特性に
関する評価に必要な各種特性値を算出することが可能で
ある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る化粧品又は化粧品原料の官能評価
代替評価方法において、ＡＥを測定する好適な実施形態
を示す模式図である。

【図２】本発明に係る化粧品又は化粧品原料の官能評価
代替評価方法において、化粧品又は化粧品原料のＡＥを
測定する方法の一例を示した図である。

【図３】本発明に係る化粧品又は化粧品原料の官能評価
代替評価方法において、化粧品又は化粧品原料のＡＥを
測定する方法の一例を示した図である。

【図４】本発明に係る化粧品又は化粧品原料の官能評価
代替評価方法において、化粧品又は化粧品原料のＡＥを
測定する方法の一例を示した図である。

【図５】本発明に係る化粧品又は化粧品原料の官能評価
代替評価方法において、化粧品又は化粧品原料のＡＥを
測定する方法の一例を示した図である。

【図６】本発明の解析処理方法を示したフローチャート
図である。

【図７】波形処理したＡＥを示す模式図である。

【図８】波形処理したＡＥをさらに絶対値処理した波形
を示す模式図である。

【図９】本発明の第一実施形態に係る化粧品又は化粧品
原料の官能評価代替評価装置のブロック図である。

【図１０】本発明の第一実施形態に係る化粧品又は化粧
品原料の官能評価代替評価装置のブロック図である。

【図１１】本発明に係る化粧品又は化粧品原料の官能評
価代替評価装置の解析手段の構成を示すブロック図であ
る。

【図１２】本発明の第二実施形態に係る化粧品又は化粧
品原料の官能評価代替評価装置のブロック図である。

【図１３】本発明の第二実施形態に係る化粧品又は化粧
品原料の官能評価代替評価装置のブロック図である。

【図１４】予備試験の設定事項を入力する画面の一例で
ある。

【図１５】予備試験から得られたチャート図の一例であ
る。

【図１６】本試験の設定事項を入力する画面の一例であ
る。

【図１７】信号抽出処理を行う際の設定事項を入力する
画面の一例である。

【図１８】特性値の算出を行う際の設定事項を入力する
画面の一例である。

【図１９】実施例で測定したシリコン１００ｃｓのＡＥ
の波形チャートである。

【図２０】実施例で測定したシリコン５００ｃｓのＡＥ
の波形チャートである。

【図２１】実施例で測定したシリコン１０００ｃｓのＡ
Ｅの波形チャートである。

【図２２】実施例において算出した各特性値とシリコン
の粘度の相関関係を示すグラフである。

【図２３】実施例において算出した各特性値とシリコン
の粘度の相関関係を示すグラフである。

【図２４】実施例において算出した各特性値とシリコン
の粘度の相関関係を示すグラフである。

【符号の説明】

１・・・ＡＥセンサ４・・・駆動手段５・・・増幅手段６・・・フィルタ手段７・・・解析手段

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者北原紅実大阪市中央区十二軒町５番12号株式会社マンダム内 (72)発明者鈴木祐介福岡県福岡市西区愛宕１丁目14−35 株式会社昭和電気研究所内 (72)発明者大隈信隆福岡県福岡市西区愛宕１丁目14−35 株式会社昭和電気研究所内Ｆターム(参考） 2G047 AA01 BA05 GG09 GG12 GG17 GG24 GG25 GG33

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】化粧品又は化粧品原料の特性を評価する
化粧品又は化粧品原料の評価方法において、ＡＥを検出
して電気信号に変換するＡＥセンサを用いて化粧品又は
化粧品原料に生じるＡＥを検出することを特徴とする化
粧品又は化粧品原料の官能評価代替評価方法。
【請求項２】ＡＥセンサを化粧品又は化粧品原料に対
して略垂直方向に移動させながらＡＥを検出することを
特徴とする請求項１に記載の化粧品又は化粧品原料の官
能評価代替評価方法。
【請求項３】ＡＥセンサを化粧品又は化粧品原料に対
して略水平方向に移動させながらＡＥを検出することを
特徴とする請求項１に記載の化粧品又は化粧品原料の官
能評価代替評価方法。
【請求項４】化粧品又は化粧品原料の特性を評価する
化粧品又は化粧品原料の評価における電気信号の解析方
法であって、該電気信号は化粧品又は化粧品原料に生じ
るＡＥを検出するＡＥセンサにより得られてなり、該電
気信号を波形処理した後に、得られた波形データの特性
値を算出することを特徴とする解析方法。
【請求項５】化粧品又は化粧品原料の特性を評価する
化粧品又は化粧品原料の評価における電気信号の解析方
法であって、該電気信号は化粧品又は化粧品原料に生じ
るＡＥを検出するＡＥセンサから得られてなり、該電気信号を波形処理した後に、解析処理して得られた
波形データの特性値を算出することを特徴とする解析方
法。
【請求項６】化粧品又は化粧品原料に生じるＡＥを検
出して電気信号に変換するＡＥセンサと、該ＡＥセンサ
により検出された電気信号を増幅する増幅手段と、該増
幅手段により増幅された電気信号のうち特定の周波数帯
域を抽出するフィルタ手段と、該フィルタ手段により抽
出された電気信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換
手段と、該Ａ／Ｄ変換手段により変換されたデジタル信
号を解析する解析手段とからなることを特徴とする化粧
品又は化粧品原料の官能評価代替評価装置。
【請求項７】化粧品又は化粧品原料に生じるＡＥを検
出して電気信号に変換するＡＥセンサと、該ＡＥセンサ
の駆動手段と、該駆動手段を制御する制御手段と、該Ａ
Ｅセンサにより検出された電気信号を増幅する増幅手段
と、該増幅手段により増幅された電気信号のうち特定の
周波数帯域を抽出するフィルタ手段と、該フィルタ手段
により抽出された電気信号をデジタル信号に変換するＡ
／Ｄ変換手段と、該Ａ／Ｄ変換手段により変換されたデ
ジタル信号を解析する解析手段とからなることを特徴と
する化粧品又は化粧品原料の官能評価代替評価装置。
【請求項８】化粧品又は化粧品原料に生じるＡＥを検
出して電気信号に変換するＡＥセンサと、該ＡＥセンサ
により検出された電気信号を増幅する第一の増幅手段
と、該第一の増幅手段により増幅された電気信号のうち
特定の周波数帯域を抽出するフィルタ手段と、該フィル
タ手段により抽出された電気信号を増幅する第二の増幅
手段と、該第二の増幅手段により増幅された電気信号を
デジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換手段と、該Ａ／Ｄ変
換手段により変換されたデジタル信号を解析する解析手
段とからなることを特徴とする化粧品又は化粧品原料の
官能評価代替評価装置。
【請求項９】化粧品又は化粧品原料に生じるＡＥを検
出して電気信号に変換するＡＥセンサと、該ＡＥセンサ
の駆動手段と、該駆動手段を制御する制御手段と、該Ａ
Ｅセンサにより検出された電気信号を増幅する第一の増
幅手段と、該第一の増幅手段により増幅された電気信号
のうち特定の周波数帯域を抽出するフィルタ手段と、該
フィルタ手段により抽出された電気信号を増幅する第二
の増幅手段と、該第二の増幅手段により増幅された電気
信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換手段と、該Ａ
／Ｄ変換手段により変換されたデジタル信号を解析する
解析手段とからなることを特徴とする化粧品又は化粧品
原料の官能評価代替評価装置。
【請求項１０】化粧品又は化粧品原料の官能評価代替
評価装置において用いられる解析システムであって、化
粧品又は化粧品原料に生じるＡＥを検出して得られた電
気信号を波形処理する波形処理手段と、該波形処理手段
により得られた波形データの特性値を算出する算出手段
とからなることを特徴とする解析システム。
【請求項１１】化粧品又は化粧品原料の官能評価代替
評価装置において用いられる解析システムであって、化
粧品又は化粧品原料に生じるＡＥを検出して得られた電
気信号を波形処理する波形処理手段と、該波形処理手段
により得られた波形データに対して、信号抽出処理、ノ
イズ除去処理、絶対値処理、エンベロープ処理、ＦＦＴ
処理、間引き処理のうちから選択される１種以上の解析
処理を施す解析処理手段と、該解析処理手段により処理
された波形データの特性値を算出する算出手段とからな
ることを特徴とする解析システム。