JP2002069012A - p−キシレンの分離方法 - Google Patents

p−キシレンの分離方法

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JP2002069012A JP2000252578A JP2000252578A JP2002069012A JP 2002069012 A JP2002069012 A JP 2002069012A JP 2000252578 A JP2000252578 A JP 2000252578A JP 2000252578 A JP2000252578 A JP 2000252578A JP 2002069012 A JP2002069012 A JP 2002069012A
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知典 高橋
Hitoshi Sakai
均 酒井
Naoyuki Ogawa
尚之 小川
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  • Treatment Of Liquids With Adsorbents In General (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 十分なp−キシレン透過量を確保することが
でき、工業的な実用化が期待できるp−キシレンの分離
方法を提供する。 【解決手段】 ゼオライト膜を分離膜として用い、p−
キシレンを含む原料混合物から高温・高圧条件において
p−キシレンのみを分離・回収するp−キシレンの分離
方法である。分離膜の原料側におけるp−キシレン分圧
を充分高圧に保持するとともに、分離膜の回収側におけ
るp−キシレン分圧をp−キシレン吸着曲線の屈曲点以
下の分圧に制御する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】 本発明は、p−キシレンを
含む原料混合物からp−キシレンのみを分離・回収する
p−キシレンの分離方法に関し、詳しくはゼオライト膜
を分離膜として用いたp−キシレンの分離方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】 キシレン(ジメチルベンゼン)は、2
つのメチル基の置換位置によりo−キシレン,m−キシ
レン,p−キシレンという3種の異性体が存在する。
1,4−置換体であるp−キシレンは、酸化により得ら
れるテレフタル酸がPET,PBT等をはじめとするポ
リエステルの原料として工業的に有用であるため、3種
の異性体の中で特に重要である。
【0003】 p−キシレンは、o−キシレン,m−キ
シレン,エチルベンゼンとともにコールタールのC8留
分中などに含まれているが、これらの化合物は分子量が
等しく沸点も近いため、分留のみにより分離することは
不可能である。従って、分子篩として知られているゼオ
ライトから構成した膜を分離膜として用いて、原料混合
物からp−キシレンのみを分離・回収する方法が検討さ
れている。
【0004】 例えば特公平5-63410号公報には、支持
体である多孔質ガラスの表面に薄膜状に形成されたZS
M−5(MFI)型ゼオライト膜を用いて、m−キシレ
ンとp−キシレンの混合物からp−キシレンのみを選択
的に分離する方法が記載されている(以下、「第1の方
法」と記す。)。
【0005】 また、WO93/17781には、ZSM−5
(MFI)型ゼオライト膜を用いて、m−キシレン,p
−キシレン,トリイソプロピルベンゼンの等容量の混合
物から室温下、原料側の全圧1720kPa(p−キシ
レン分圧573kPa)の条件においてp−キシレンの
みを選択的に分離する方法が記載されている(以下、
「第2の方法」と記す。)。
【0006】 更に、WO94/25151には、MFI型ゼオ
ライト膜を用いて、o−キシレン,p−キシレンの混合
物から100〜200℃、原料側のp−キシレン分圧
0.31kPaの条件においてp−キシレンのみを選択
的に分離する方法が記載されている(以下、「第3の方
法」と記す。)。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】 しかしながら、上記
の分離方法はp−キシレンを選択的に分離可能である点
において有用ではあるものの、ゼオライト膜を透過する
p−キシレンの量(以下、「透過量」と記す。)が小さ
いという問題点があった。
【0008】 即ち、ゼオライトを用いたp−キシレン
の分離を工業的に実用化するためには、少なくとも20
0℃以上、原料側のp−キシレン分圧として25kPa
以上の高温・高圧条件の下で、効率良く、コストや設備
に見合う、大量のp−キシレンを分離・回収すること、
即ち、p−キシレンの透過量が大きいことが必要である
が、上記方法はいずれも透過量の面で十分満足できるも
のではなかった。
【0009】 例えば第2の方法は室温という低温条件
下での分離例、第3の方法は原料側のp−キシレン分圧
が0.31kPaという低圧条件下での分離例であり、
第1の方法に至っては分離条件や透過量については一切
開示されておらず、透過量という観点からの検討がなさ
れていない。従って、ゼオライト膜を用いたp−キシレ
ンの分離方法は未だ工業的に実用化されるに至っていな
かった。
【0010】 本発明は、このような従来技術の問題点
に鑑みてなされたものであって、その目的とするところ
は、十分なp−キシレン透過量を確保することができ、
工業的な実用化が期待できるp−キシレンの分離方法を
提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】 本発明者らは、p−キ
シレン透過量を増加させるため、高温条件下においてゼ
オライトに対するp−キシレンの吸着について詳細な検
討を行った。その結果、高温条件下においては、p−キ
シレン分圧が低い領域では分圧の増加に伴って急激に吸
着量が増加するものの、意外なことに一定の分圧を境に
してその増加率が極端に減少するという事実を見出し、
当該事実に基づいて本発明を完成した。
【0012】 即ち、本発明によれば、ゼオライト膜を
分離膜として用い、p−キシレンを含む原料混合物から
高温・高圧条件においてp−キシレンのみを分離・回収
するp−キシレンの分離方法であって、分離膜の原料側
におけるp−キシレン分圧を充分高圧に保持するととも
に、分離膜の回収側におけるp−キシレン分圧をp−キ
シレン吸着曲線の屈曲点以下の分圧に制御することを特
徴とするp−キシレンの分離方法が提供される。
【0013】 本発明の分離方法は、分離膜の原料側に
おけるp−キシレン分圧をp−キシレン吸着曲線の屈曲
点を超える分圧に制御することが好ましく、200℃以
上において、分離膜の原料側におけるp−キシレン分圧
を100kPa以上に保持するとともに、回収側におけ
るp−キシレン分圧を20kPa以下に制御することが
好ましく、MFI型ゼオライトから構成したゼオライト
膜を分離膜として用いることが好ましい。
【0014】
【発明の実施の形態】 本発明の分離方法は、分離膜の
原料側におけるp−キシレン分圧を充分高圧に保持する
とともに、分離膜の回収側におけるp−キシレン分圧を
p−キシレン吸着曲線の屈曲点以下の分圧に制御するも
のである。本発明の分離方法は、十分なp−キシレン透
過量を確保することができるため、工業的な実用化が期
待できる。以下、本発明の分離方法について詳細に説明
する。
【0015】 本発明の分離方法は、高温条件下におい
ては、p−キシレン分圧が低い領域では分圧の増加に伴
って急激に吸着量が増加するものの、一定の分圧を境に
してその増加率が極端に減少するという、本発明者らが
新たに見出した知見に基づくものである。
【0016】 図1は、本発明者らが測定した400℃
におけるp−キシレン吸着曲線のグラフであり、p−キ
シレンの分圧とゼオライトから構成される分離膜の表面
近傍へのp−キシレン吸着量との関係を示したものであ
る。図1から明らかなように、p−キシレン吸着量は2
0kPa以下の分圧が低い領域では分圧の増加に伴って
急激に吸着量が増加しているが、100kPa以上の領
域においては吸着量の増加率が極端に減少している。即
ち、400℃という温度条件の下では20kPaという
p−キシレン分圧が本発明にいうところの「屈曲点」に
当たる。
【0017】 一方、分離膜を透過するp−キシレンの
量Jは、下記式(1)で示すように、分離膜における原
料側表面近傍のp−キシレン吸着量Amと回収側表面近
傍のp−キシレン吸着量Apとの差によって定まり、当
該吸着量差と透過量Jとは直線的な関係を持つものと推
定される。 J=K(Am−Ap) …(1) (但し、J:透過量、K:比例定数、Am:分離膜にお
ける原料側表面近傍のp−キシレン吸着量、Ap:分離
膜における回収側表面近傍のp−キシレン吸着量)
【0018】 図1に示したようにp−キシレン吸着量
は、p−キシレンの分圧に依存して増加するため、分離
膜の原料側におけるp−キシレンの分圧Pmを回収側に
おける分圧Ppより高圧に制御すれば原料側吸着量Am
と回収側吸着量Apとの間に差ができ、p−キシレンは
分離膜の原料側から回収側に透過する。この場合におい
て、回収側分圧Ppを吸着量の増加率が大きい屈曲点以
下の分圧とすれば、原料側分圧Pmとの分圧差が小さい
場合でも、原料側吸着量Amと回収側吸着量Apとの間
に差が大きくなるため、効率的に透過量を増加させるこ
とが可能となる。
【0019】 原料側分圧Pmは、回収側分圧Ppより
高い分圧に制御されているのは勿論のこと、原料側吸着
量Amと回収側吸着量Apとの差を大きくとり、高い透
過量を確保するため、充分高圧に保持されている必要が
ある。従って、p−キシレン吸着曲線の屈曲点を超える
分圧に制御することが好ましい。具体的には、原料側分
圧Pmは少なくとも25kPa以上の高圧であることが
必要であり、50kPa以上であることが好ましく、1
00kPa以上であることが特に好ましい。
【0020】 図1は400℃の温度条件における吸着
曲線を示したものであるが、他の温度条件でも吸着曲線
は同様の屈曲点を有しており、例えば400℃未満の温
度条件では400℃の場合より低圧側に、400℃超の
温度条件では400℃の場合より高圧側に屈曲点を有す
る。従って、所望の温度条件における吸着曲線を作成
し、回収側分圧Ppが当該吸着曲線の屈曲点以下の分圧
となるように制御して分離を行うことにより、400℃
の場合と同様に本発明の効果を得ることができる。この
ように本発明の分離方法では温度条件に適合した最適な
p−キシレン分圧を設定することが可能であり、効率的
に、高いp−キシレン透過量を確保することに資する。
【0021】 分離を行う温度条件については、充分な
p−キシレン透過量を得るため、少なくとも200℃以
上の高温であることが必要である。また、p−キシレン
を分離した後のC8留分残ガスは、高温条件下で一部を
p−キシレンに転化した後、再度分離に供するため、当
該転化温度との関係からも200℃以上の高温であるこ
とが好ましい。但し、温度上限については特に限定され
ず、分離の際のp−キシレン選択性やエネルギー消費と
の関係から適宜設定すればよい。
【0022】 以上の条件を勘案すると、本発明におい
ては、200℃以上において、分離膜の原料側における
p−キシレン分圧を100kPa以上に保持するととも
に、回収側におけるp−キシレン分圧を20kPa以下
に制御することが特に好ましい。
【0023】 回収側分圧Ppを屈曲点以下の分圧に制
御する方法としては、例えば回収側をポンプで減圧する
方法、或いは回収側にスウィープガス(希釈ガス)を導
入する方法等が挙げられる。回収されたp−キシレンガ
スを速やかに系外に除去することにより、その分だけp
−キシレン分圧を低下させることができるからである。
スウィープガスの種類については特に限定されないがp
−キシレンと反応しないガス、例えばN2ガス等を好適
に用いることができる。
【0024】 本発明の分離方法において使用する分離
膜は、ゼオライトから構成されている限りにおいて、そ
の構造、形状等については特に限定されないが、分離膜
内部における圧損を低減するため、気孔率が高く、気孔
径の大きい多孔質体を支持体とし、その表面に薄膜状に
ゼオライト膜を形成したものを用いることが好ましい。
分離膜を構成するゼオライト種としては、例えばMFI
型ゼオライトを好適に用いることができる。
【0025】 なお、上述のように、支持体表面に薄膜
状のゼオライト膜を形成した分離膜を使用する場合に
は、原料側に支持体が、回収側にゼオライト膜が配向す
るように分離膜を設置することが好ましい。回収側に支
持体がある場合には、支持体の圧損を加えて、実際のゼ
オライト膜の回収側のp−キシレン分圧を推定する必要
があり不便であることに加え、スウィープガスを用いる
場合において支持体中におけるp−キシレンとスウィー
プガスとの相互拡散が抵抗となり、支持体の圧損の影響
以上に実際のゼオライト膜の回収側のp−キシレン分圧
が高くなることがあるからである。
【0026】
【実施例】 以下、本発明を実施例に基づいて説明す
る。但し、本発明は以下の実施例に限定されるものでは
ない。
【0027】 以下の実施例においては、見かけ厚さ6
0μmのMFI型ゼオライトから構成される自立した板
状のゼオライト膜を作製し、当該膜の粉砕物を吸着量測
定に、当該膜を透過量測定に利用した。板状のゼオライ
ト膜は、オートクレーブ中で、SiO2:TPAOH:
TPABr:H2O=1:0.25:0.25:125
からなるゾル溶液から、テフロン(登録商標)板上に膜
を生成させ、テフロン板を除去することにより作製し
た。膜生成は453°Kで24時間行った。なお、「T
PA」はテトラプロピルアンモニウムを意味する。
【0028】 前記ゼオライト膜の粉砕物を利用して、
p−キシレン分圧と当該ゼオライト粉砕物へのp−キシ
レン吸着量との関係を評価した。測定は、高温・高圧に
耐え得る容器中に設置された、磁気を介して保持された
天秤上にゼオライト粉砕物を載置し、400℃でp−キ
シレンガスを容器中に導入し、p−キシレン圧力0kP
a〜850kPaの間におけるゼオライト粉砕物1g当
たりの重量変化、即ち、p−キシレンの吸着量を秤量す
ることにより行った。なお、測定前にはゼオライト粉砕
物を500℃、0.1kPaの真空状態で12時間保持
し、ゼオライトに吸着している全成分を脱離させる前処
理を行った。その結果を図1に示す。
【0029】 次に、下記式(1)の妥当性を実験的に
検証した。本来、下記式(1)はp−キシレンの分離膜
内における拡散律速を仮定することにより理論的に導か
れるものであるが、上記分離膜を用いて400℃という
温度条件において、原料側分圧Pmと、回収側分圧Pp
とを適宜組み合わせて、3点における透過量Jを測定
し、原料側吸着量Am,回収側吸着量Apを図1から読
みとり、原料側吸着量Amと回収側吸着量Apとの差
と、透過量Jとの関係を評価した。原料ガスとしてはp
−キシレンを原料側分圧分含む、1気圧のN2ガスを使
用した。その結果を表1及び図2に示す。 J=K(Am−Ap) …(1) (但し、J:透過量、K:比例定数、Am:分離膜にお
ける原料側表面近傍のp−キシレン吸着量、Ap:分離
膜における回収側表面近傍のp−キシレン吸着量)
【0030】
【表1】
【0031】 図2から明らかなように、透過量Jは原
料側吸着量Amと回収側吸着量Apとの差に依存して増
加しており、両者はほぼ直線的な関係にあった。即ち、
実験結果からも式(1)が妥当であることが立証され
た。なお、比例定数Kは12.3μmol/(m2
秒)・(mg・g)であった。
【0032】 更に、実験的にも妥当性が立証された式
(1)と、図1におけるp−キシレン分圧とゼオライト
粉砕物へのp−キシレン吸着量との関係から、p−キシ
レン分圧をより大きく変化させた場合におけるp−キシ
レン透過量のシミュレーションを行った。その結果を表
2に示す。
【0033】
【表2】
【0034】 表2に示すように、比較例1では原料側
分圧700kPaに対して、回収側分圧は吸収曲線の屈
曲点を超える100kPaであるため、p−キシレン透
過量が150μmol/(m2・秒)にすぎないが、同
じ原料側分圧であっても実施例3のように回収側分圧を
屈曲点以下の20kPaとすれば、その透過量は200
μmol/(m2・秒)へと大きく増加する。また、実
施例1,2のように回収側の分圧を低く制御し、原料側
分圧との差を充分にとることにより、更にp−キシレン
透過量は増加する。実施例4は、実施例3と同様に回収
側分圧を屈曲点以下の20kPaとし、原料側との分圧
差を比較例1と同じ100kPa差とした例であるが、
比較例1より原料側分圧が低いにも拘わらず、その透過
量は175μmol/(m2・秒)に大きく増加し、効
率的に透過量の増加を図ることができている。
【0035】
【発明の効果】 以上説明したように、本発明の分離方
法は、分離膜の原料側におけるp−キシレン分圧を充分
高圧に保持するとともに、分離膜の回収側におけるp−
キシレン分圧をp−キシレン吸着曲線の屈曲点以下の分
圧に制御するので、十分なp−キシレン透過量を確保す
ることができ、工業的な実用化が期待できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 (a)はp−キシレン分圧とゼオライトに対
するp−キシレン吸着量の関係を示すp−キシレン吸着
曲線のグラフ、(b)は(a)のグラフの低圧部分を拡
大したグラフである。
【図2】 ゼオライトから構成される分離膜における、
原料側吸着量Amと回収側吸着量Apとの差と、透過量
Jとの関係を示すグラフである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) C07C 7/144 C07C 7/144 (72)発明者 小川 尚之 愛知県名古屋市瑞穂区須田町2番56号 日 本碍子株式会社内 Fターム(参考) 4D006 GA02 KE07Q KE07R KE08Q KE08R KE16R MA03 MA17 MB03 MC03 PA01 PC80 4D017 AA04 BA05 CA05 CB10 DA01 EB10 4G066 AA61B BA02 BA03 CA51 DA09 EA09 FA03 4H006 AA02 AD19 BC51 BC52 DA12

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ゼオライト膜を分離膜として用い、p−
    キシレンを含む原料混合物から高温・高圧条件において
    p−キシレンのみを分離・回収するp−キシレンの分離
    方法であって、 分離膜の原料側におけるp−キシレン分圧を充分高圧に
    保持するとともに、分離膜の回収側におけるp−キシレ
    ン分圧をp−キシレン吸着曲線の屈曲点以下の分圧に制
    御することを特徴とするp−キシレンの分離方法。
  2. 【請求項2】 分離膜の原料側におけるp−キシレン分
    圧をp−キシレン吸着曲線の屈曲点を超える分圧に制御
    する請求項1に記載のp−キシレンの分離方法。
  3. 【請求項3】 200℃以上において、分離膜の原料側
    におけるp−キシレン分圧を100kPa以上に保持す
    るとともに、回収側におけるp−キシレン分圧を20k
    Pa以下に制御する請求項1又は2に記載のp−キシレ
    ンの分離方法。
  4. 【請求項4】 MFI型ゼオライトから構成したゼオラ
    イト膜を分離膜として用いる請求項1〜3のいずれか一
    項に記載のp−キシレンの分離方法。
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