JP2002042683A - 電子銃及びその製造方法、並びに陰極線管 - Google Patents
電子銃及びその製造方法、並びに陰極線管Info
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- H01J2229/48—Electron guns
- H01J2229/4824—Constructional arrangements of electrodes
- H01J2229/4831—Electrode supports
Abstract
(57)【要約】
【課題】 耐電圧特性に優れ、第１電極が変形しにくい
信頼性高い電子銃を提供する。また、この電子銃を備え
た陰極線管を提供する。 【解決手段】 複数の電極Ｇ2 〜Ｇ6Bを支持した絶縁性
支持部材１３Ａ、１３Ｂに第１電極用ホルダー１２を支
持し、この第１電極用ホルダー１２にカソードＫを組み
込んだ第１電極構体１４を取付けて電子銃１１を構成す
る。この電子銃１１を備えて陰極線管を構成する。
信頼性高い電子銃を提供する。また、この電子銃を備え
た陰極線管を提供する。 【解決手段】 複数の電極Ｇ2 〜Ｇ6Bを支持した絶縁性
支持部材１３Ａ、１３Ｂに第１電極用ホルダー１２を支
持し、この第１電極用ホルダー１２にカソードＫを組み
込んだ第１電極構体１４を取付けて電子銃１１を構成す
る。この電子銃１１を備えて陰極線管を構成する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子銃及びその製
造方法、並びに陰極線管に関する。
造方法、並びに陰極線管に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に陰極線管に用いられる電子銃は、
カソードを組み込んだ第１電極を含む複数の電極が絶縁
性支持部材、即ち一対のビードガラスに支持されて構成
される。図８は、従来の電子銃、例えばトライフォーカ
ス電子銃を示す。この電子銃１は、インライン配列され
た３つのカソードＫ〔Ｋｒ、Ｋｇ、Ｋｂ〕とこのカソー
ドＫに対して同軸上に配された第１電極Ｇ1 、第２電極
Ｇ2 、第３Ａ電極Ｇ3A及び第３Ｂ電極Ｇ3B，第４電極Ｇ
4 、第５電極Ｇ5 ，第６Ａ電極Ｇ6A，中間電極ＧＭ及び
第６Ｂ電極Ｇ6Bを有し、これら第１電極Ｇ1 〜第６Ｂ電
極Ｇ6B が各電極に一体に設けられた支持ピン３を埋め
込むようにして一対のビードガラス２〔２Ａ及び２Ｂ〕
にて支持されて成る。
カソードを組み込んだ第１電極を含む複数の電極が絶縁
性支持部材、即ち一対のビードガラスに支持されて構成
される。図８は、従来の電子銃、例えばトライフォーカ
ス電子銃を示す。この電子銃１は、インライン配列され
た３つのカソードＫ〔Ｋｒ、Ｋｇ、Ｋｂ〕とこのカソー
ドＫに対して同軸上に配された第１電極Ｇ1 、第２電極
Ｇ2 、第３Ａ電極Ｇ3A及び第３Ｂ電極Ｇ3B，第４電極Ｇ
4 、第５電極Ｇ5 ，第６Ａ電極Ｇ6A，中間電極ＧＭ及び
第６Ｂ電極Ｇ6Bを有し、これら第１電極Ｇ1 〜第６Ｂ電
極Ｇ6B が各電極に一体に設けられた支持ピン３を埋め
込むようにして一対のビードガラス２〔２Ａ及び２Ｂ〕
にて支持されて成る。
【０００３】カソードＫ〔Ｋｒ、Ｋｇ、Ｋｂ〕は、図９
に示すように、インライン配列された状態でセラミック
ベース４に支持され、このセラミックベース４と共にス
ペーサ５を介して第１電極Ｇ1 内に配置されて固定され
る。これによって、いわゆる第１電極構体６が形成され
る。７は支持ピンを示す。
に示すように、インライン配列された状態でセラミック
ベース４に支持され、このセラミックベース４と共にス
ペーサ５を介して第１電極Ｇ1 内に配置されて固定され
る。これによって、いわゆる第１電極構体６が形成され
る。７は支持ピンを示す。
【０００４】一例として、第１電極Ｇ1 には０Ｖが、第
２電極Ｇ2 及び第４電極Ｇ4 には６５０Ｖ程度が、第３
Ａ電極Ｇ3A及び第６Ａ電極Ｇ6Aには５．３ｋＶ程度が、
第３Ｂ電極Ｇ3B及び第５電極Ｇ5 には５．７ｋＶ程度
が、中間電極ＧＭには１４ｋＶ程度が、第６Ｂ電極Ｇ6B
ひはアノード電位の２７ｋＶ程度が、夫々印加される。
第３Ａ電極Ｇ3Aと第３Ｂ電極Ｇ3B間で第１の四重極レン
ズが形成され、第５電極Ｇ5 と第６Ａ電極Ｇ6A間で第２
の四重極レンズが形成され、第６Ａ電極Ｇ6A〜第６Ｂ電
極Ｇ6B間で主レンズが形成される。
２電極Ｇ2 及び第４電極Ｇ4 には６５０Ｖ程度が、第３
Ａ電極Ｇ3A及び第６Ａ電極Ｇ6Aには５．３ｋＶ程度が、
第３Ｂ電極Ｇ3B及び第５電極Ｇ5 には５．７ｋＶ程度
が、中間電極ＧＭには１４ｋＶ程度が、第６Ｂ電極Ｇ6B
ひはアノード電位の２７ｋＶ程度が、夫々印加される。
第３Ａ電極Ｇ3Aと第３Ｂ電極Ｇ3B間で第１の四重極レン
ズが形成され、第５電極Ｇ5 と第６Ａ電極Ｇ6A間で第２
の四重極レンズが形成され、第６Ａ電極Ｇ6A〜第６Ｂ電
極Ｇ6B間で主レンズが形成される。
【０００５】図１０は、従来の電子銃の主要な製造工程
を示すフローチャートである。従来は、各電極Ｇ1 〜Ｇ
6Bを洗浄し（工程Ｓ1 ）、第１電極Ｇ1 内にカソードＫ
〔Ｋｒ、Ｋｇ、Ｋｂ〕を組み立てて図９の所謂第１電極
構体６を形成し（工程Ｓ2 ）、第１電極構体６の外観検
査を行って後（工程Ｓ3 ）、各第１電極構体６〜第６Ｂ
電極Ｇ6Bを治具を介して位置決めし、いわゆるパーツの
組み立てを行う（工程Ｓ4 ）。次いで、ビーディング工
程で各電極Ｇ1 〜Ｇ6Bをビードガラス２Ａ、２Ｂに支持
する（工程Ｓ5 ）。その後、電子銃検査を行って（工程
Ｓ6 ）、完成する。これら全ての工程Ｓ1 〜Ｓ6 は、無
塵室で作業される。
を示すフローチャートである。従来は、各電極Ｇ1 〜Ｇ
6Bを洗浄し（工程Ｓ1 ）、第１電極Ｇ1 内にカソードＫ
〔Ｋｒ、Ｋｇ、Ｋｂ〕を組み立てて図９の所謂第１電極
構体６を形成し（工程Ｓ2 ）、第１電極構体６の外観検
査を行って後（工程Ｓ3 ）、各第１電極構体６〜第６Ｂ
電極Ｇ6Bを治具を介して位置決めし、いわゆるパーツの
組み立てを行う（工程Ｓ4 ）。次いで、ビーディング工
程で各電極Ｇ1 〜Ｇ6Bをビードガラス２Ａ、２Ｂに支持
する（工程Ｓ5 ）。その後、電子銃検査を行って（工程
Ｓ6 ）、完成する。これら全ての工程Ｓ1 〜Ｓ6 は、無
塵室で作業される。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
の電子銃では、各電極を洗浄し、第１電極Ｇ1 内にカソ
ードＫを組み入れて第１電極構体６を形成した後、第１
電極構体６を含む各電極をビードガラス２Ａ、２Ｂに支
持して作製されていた。従って、ビーディング後に電子
銃全体の洗浄はなされていない。電子銃の耐電圧特性の
更なる向上することが求められており、その為ビーディ
ング後の洗浄が望まれる。従来は、カソードＫに影響を
与えるのでビーディング後の洗浄ができなかった。
の電子銃では、各電極を洗浄し、第１電極Ｇ1 内にカソ
ードＫを組み入れて第１電極構体６を形成した後、第１
電極構体６を含む各電極をビードガラス２Ａ、２Ｂに支
持して作製されていた。従って、ビーディング後に電子
銃全体の洗浄はなされていない。電子銃の耐電圧特性の
更なる向上することが求められており、その為ビーディ
ング後の洗浄が望まれる。従来は、カソードＫに影響を
与えるのでビーディング後の洗浄ができなかった。
【０００７】また、位置決めされた各電極をビードガラ
ス２Ａ、２Ｂに押し付けて支持するビーディング工程時
に、特に、第１電極Ｇ1 にビードガラス押付け負荷が掛
かり、第１電極Ｇ1 が変形することがある。変形した場
合、陰極線管の動作時に第１電極Ｇ1 の電子ビーム透過
孔とカソードＫとの位置関係にずれが生じ、或いは第１
電極Ｇ1 の電子ビーム透過孔とカソードＫ間の距離ｄ01
が変動し、不都合が生じる。従って、第１電極Ｇ1 に変
形が生じたときには、その電子銃は不良扱いになる。
ス２Ａ、２Ｂに押し付けて支持するビーディング工程時
に、特に、第１電極Ｇ1 にビードガラス押付け負荷が掛
かり、第１電極Ｇ1 が変形することがある。変形した場
合、陰極線管の動作時に第１電極Ｇ1 の電子ビーム透過
孔とカソードＫとの位置関係にずれが生じ、或いは第１
電極Ｇ1 の電子ビーム透過孔とカソードＫ間の距離ｄ01
が変動し、不都合が生じる。従って、第１電極Ｇ1 に変
形が生じたときには、その電子銃は不良扱いになる。
【０００８】本発明は、上述の点に鑑み、耐電圧特性に
優れ、第１電極が変形しにくい信頼性の高い電子銃及び
その製造方法を提供するものである。本発明は、かかる
電子銃を備えた陰極線管を提供するものである。
優れ、第１電極が変形しにくい信頼性の高い電子銃及び
その製造方法を提供するものである。本発明は、かかる
電子銃を備えた陰極線管を提供するものである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明に係る電子銃は、
複数の電極を支持した絶縁性支持部材に第１電極用ホル
ダーを支持し、この第１電極用ホルダーにカソードを組
み込んだ第１電極構体を取付けた構成とする。
複数の電極を支持した絶縁性支持部材に第１電極用ホル
ダーを支持し、この第１電極用ホルダーにカソードを組
み込んだ第１電極構体を取付けた構成とする。
【００１０】本発明の電子銃では、絶縁性支持部材に支
持した第１電極用ホルダーに第１電極構体を取り付けた
構成であるので、第１電極構体を取付ける前の電極群構
体の状態で丸洗い洗浄（いわゆる第１電極構体を除く電
子銃本体の洗浄）が可能になる。第１電極Ｇ1 は、絶縁
性支持体に直接取付けられていないので、いわゆるビー
ディング時の負荷が掛からず、変形しにくい。
持した第１電極用ホルダーに第１電極構体を取り付けた
構成であるので、第１電極構体を取付ける前の電極群構
体の状態で丸洗い洗浄（いわゆる第１電極構体を除く電
子銃本体の洗浄）が可能になる。第１電極Ｇ1 は、絶縁
性支持体に直接取付けられていないので、いわゆるビー
ディング時の負荷が掛からず、変形しにくい。
【００１１】本発明に係る電子銃の製造方法は、第１電
極用ホルダー及び第１電極以外の複数の電極を絶縁性支
持部材に支持する電極支持工程と、絶縁性支持部材に支
持された電極群構体を洗浄する洗浄工程と、第１電極用
ホルダーにカソードを組み込んだ第１電極構体を取付け
る第１電極構体取付け工程を有する。
極用ホルダー及び第１電極以外の複数の電極を絶縁性支
持部材に支持する電極支持工程と、絶縁性支持部材に支
持された電極群構体を洗浄する洗浄工程と、第１電極用
ホルダーにカソードを組み込んだ第１電極構体を取付け
る第１電極構体取付け工程を有する。
【００１２】本発明の電子銃の製造方法では、第１電極
構体を取付ける前に電極群構体を洗浄するので、絶縁性
支持部材に電極を支持した後（いわゆるビーディング
後）に付着した汚れがきれいに除去される。第１電極用
ホルダー及び第１電極Ｇ1 を除く他の電極をビーディン
グした後、第１電極構体を第１電極用ホルダーに取付け
るので、第１電極Ｇ1 にビーディング負荷が掛からず第
１電極Ｇ1 の変形が防止される。第１電極構体を取付け
る前の電極群構体の状態で各電極の電子ビーム透過孔の
ずれ測定ができるので、暗くならず電子ビーム透過孔の
エッジ認識が容易になる。電極群構体の検査後に第１電
極構体の取付けが可能になるので、第１電極構体として
は、予め悪い品質のものリジェクトが可能になる。
構体を取付ける前に電極群構体を洗浄するので、絶縁性
支持部材に電極を支持した後（いわゆるビーディング
後）に付着した汚れがきれいに除去される。第１電極用
ホルダー及び第１電極Ｇ1 を除く他の電極をビーディン
グした後、第１電極構体を第１電極用ホルダーに取付け
るので、第１電極Ｇ1 にビーディング負荷が掛からず第
１電極Ｇ1 の変形が防止される。第１電極構体を取付け
る前の電極群構体の状態で各電極の電子ビーム透過孔の
ずれ測定ができるので、暗くならず電子ビーム透過孔の
エッジ認識が容易になる。電極群構体の検査後に第１電
極構体の取付けが可能になるので、第１電極構体として
は、予め悪い品質のものリジェクトが可能になる。
【００１３】本発明に係る陰極線管は、複数の電極を支
持した絶縁性支持部材に第１電極用ホルダーが支持さ
れ、この第１電極用ホルダーにカソードを組み込んだ第
１電極構体が取付けられて成る電子銃を、備えた構成と
する。
持した絶縁性支持部材に第１電極用ホルダーが支持さ
れ、この第１電極用ホルダーにカソードを組み込んだ第
１電極構体が取付けられて成る電子銃を、備えた構成と
する。
【００１４】本発明の陰極線管では、上記電子銃を備え
るので、耐電圧特性が向上する。また、動作時の第１電
極Ｇ1 の変形量が少なくなり、よって第１電極Ｇ1 の変
形量の安定化が図れる。
るので、耐電圧特性が向上する。また、動作時の第１電
極Ｇ1 の変形量が少なくなり、よって第１電極Ｇ1 の変
形量の安定化が図れる。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。
施の形態を説明する。
【００１６】図１及び図２は、本発明に係る電子銃の一
実施の形態を示す。本実施の形態に係る電子銃１１は、
第１電極用ホルダー１２と、第１電極Ｇ1以外の他の電
極を一対の絶縁性支持部材、例えばビードガラス１３
〔１３Ａ及び１３Ｂ〕に支持し（図３参照）、この第１
電極用ホルダー１２に第１電極Ｇ1 内にカソードＫを組
み込んだ所謂第１電極構体１４を取付けて構成される
（図１、図２参照）。
実施の形態を示す。本実施の形態に係る電子銃１１は、
第１電極用ホルダー１２と、第１電極Ｇ1以外の他の電
極を一対の絶縁性支持部材、例えばビードガラス１３
〔１３Ａ及び１３Ｂ〕に支持し（図３参照）、この第１
電極用ホルダー１２に第１電極Ｇ1 内にカソードＫを組
み込んだ所謂第１電極構体１４を取付けて構成される
（図１、図２参照）。
【００１７】本例では、前述と同様のトライフォーカス
電子銃に適用した場合である。なお、本発明はトライフ
ォーカス電子銃の限らない。本例では、第１電極用ホル
ダー１２、第２電極Ｇ2 、第３Ａ電極Ｇ3A、第３Ｂ電極
Ｇ3B、第４電極Ｇ4 、第５電極Ｇ5 、第６Ａ電極Ｇ6A、
中間電極ＧＭ及び第６Ｂ電極Ｇ6Bが、同軸上に配され、
各電極Ｇ2 〜Ｇ6B及び第１電極用ホルダー１２に夫々一
体に形成された支持ピン１６を埋め込むようにして、ビ
ードガラス１３Ａ、１３Ｂに支持され、第１電極用ホル
ダー１２に第１電極構体１４が溶接等により取付けられ
て構成される。
電子銃に適用した場合である。なお、本発明はトライフ
ォーカス電子銃の限らない。本例では、第１電極用ホル
ダー１２、第２電極Ｇ2 、第３Ａ電極Ｇ3A、第３Ｂ電極
Ｇ3B、第４電極Ｇ4 、第５電極Ｇ5 、第６Ａ電極Ｇ6A、
中間電極ＧＭ及び第６Ｂ電極Ｇ6Bが、同軸上に配され、
各電極Ｇ2 〜Ｇ6B及び第１電極用ホルダー１２に夫々一
体に形成された支持ピン１６を埋め込むようにして、ビ
ードガラス１３Ａ、１３Ｂに支持され、第１電極用ホル
ダー１２に第１電極構体１４が溶接等により取付けられ
て構成される。
【００１８】上述と同様に一例として、第１電極Ｇ1 に
は０Ｖが、第２電極Ｇ2 及び第４電極Ｇ4 には６５０Ｖ
程度が、第３Ａ電極Ｇ3A及び第６Ａ電極Ｇ6Aには５．３
ｋＶ程度が、第３Ｂ電極Ｇ3B及び第５電極Ｇ5 には５．
７ｋＶ程度が、中間電極ＧＭには１４ｋＶ程度が、第６
Ｂ電極Ｇ6Bひはアノード電位の２７ｋＶ程度が、夫々印
加される。第３Ａ電極Ｇ3Aと第３Ｂ電極Ｇ3B間で第１の
四重極レンズが形成され、第５電極Ｇ5 と第６Ａ電極Ｇ
6A間で第２の四重極レンズが形成され、第６Ａ電極Ｇ6A
〜第６Ｂ電極Ｇ6B間で主レンズが形成される。
は０Ｖが、第２電極Ｇ2 及び第４電極Ｇ4 には６５０Ｖ
程度が、第３Ａ電極Ｇ3A及び第６Ａ電極Ｇ6Aには５．３
ｋＶ程度が、第３Ｂ電極Ｇ3B及び第５電極Ｇ5 には５．
７ｋＶ程度が、中間電極ＧＭには１４ｋＶ程度が、第６
Ｂ電極Ｇ6Bひはアノード電位の２７ｋＶ程度が、夫々印
加される。第３Ａ電極Ｇ3Aと第３Ｂ電極Ｇ3B間で第１の
四重極レンズが形成され、第５電極Ｇ5 と第６Ａ電極Ｇ
6A間で第２の四重極レンズが形成され、第６Ａ電極Ｇ6A
〜第６Ｂ電極Ｇ6B間で主レンズが形成される。
【００１９】第１電極用ホルダー１２は、図４に示すよ
うに、第１電極Ｇ1 の第２電極側端面が挿入され得る大
きさの開口１７を有するリング状をなし、且つ相対向す
る位置にビードガラス１３Ａ、１３Ｂに食い込む一対の
支持ピン１６を一体に有して形成される。
うに、第１電極Ｇ1 の第２電極側端面が挿入され得る大
きさの開口１７を有するリング状をなし、且つ相対向す
る位置にビードガラス１３Ａ、１３Ｂに食い込む一対の
支持ピン１６を一体に有して形成される。
【００２０】第１電極構体１４は、図５に示すように、
本例では３つのカソードＫ〔Ｋｒ、Ｋｇ、Ｋｂ〕と第１
電極Ｇ1 とから成る。カソードＫ〔Ｋｒ、Ｋｇ、Ｋｂ〕
は、インライン配列された状態でセラミックベース１８
に支持され、このセラミックベース１８と共にスペーサ
１９を介して第１電極Ｇ1 内に挿入されて固定される。
第１電極Ｇ1 は、フランジ部２０を有し、端面にカソー
ドＫｒ、Ｋｇ、Ｋｂに対応して３つの電子ビーム透過孔
ｈｒ、ｈｇ、ｈｂが形成されて成る。端面部分２１は、
第１電極用ホルダー１２の開口１７に挿入される大きさ
に形成される。フランジ部２０は、第１電極用ホルダー
１２に突き当たる大きさに形成される。
本例では３つのカソードＫ〔Ｋｒ、Ｋｇ、Ｋｂ〕と第１
電極Ｇ1 とから成る。カソードＫ〔Ｋｒ、Ｋｇ、Ｋｂ〕
は、インライン配列された状態でセラミックベース１８
に支持され、このセラミックベース１８と共にスペーサ
１９を介して第１電極Ｇ1 内に挿入されて固定される。
第１電極Ｇ1 は、フランジ部２０を有し、端面にカソー
ドＫｒ、Ｋｇ、Ｋｂに対応して３つの電子ビーム透過孔
ｈｒ、ｈｇ、ｈｂが形成されて成る。端面部分２１は、
第１電極用ホルダー１２の開口１７に挿入される大きさ
に形成される。フランジ部２０は、第１電極用ホルダー
１２に突き当たる大きさに形成される。
【００２１】第１電極構体１４は、ビードガラス１３
Ａ、１３Ｂに支持された第１電極用ホルダー１２の開口
１７にその端面部２１を挿入すると共に、フランジ部２
０を第１電極用ホルダー１２の端面に付き当てて、例え
ば多点レーザ溶接等により第１電極用ホルダー１２に固
定される。２５はレーザ溶接部分である（図５参照）。
Ａ、１３Ｂに支持された第１電極用ホルダー１２の開口
１７にその端面部２１を挿入すると共に、フランジ部２
０を第１電極用ホルダー１２の端面に付き当てて、例え
ば多点レーザ溶接等により第１電極用ホルダー１２に固
定される。２５はレーザ溶接部分である（図５参照）。
【００２２】次に、図６のフローチャートを用いて電子
銃１１の製造方法を説明する。但し、図６は本発明の電
子銃の主要な製造工程を示すものである。先ず、パーツ
組み立て工程Ｓ11において、複数の電極、即ち第１電極
用ホルダー１２と、第１電極Ｇ1 を除く他の第２電極Ｇ
2 〜第６Ｂ電極Ｇ6Bを位置決め治具を介して位置決めす
る。次いで、ビーディング工程Ｓ12において、第１電極
用ホルダー１２と第２電極Ｇ2 〜第６Ｂ電極Ｇ6Bをビー
ドガラス１３Ａ、１３Ｂに支持する。次いで、位置決め
治具を引き抜いた後、消磁処理の要否を確認して必要で
あれば、消磁工程Ｓ13において、ビーディングされた各
電極に消磁処理を施す。この消磁処理は、例えば金属粉
等が着磁して電極に付着している場合、次の洗浄工程で
金属粉等の除去を容易にするためである。
銃１１の製造方法を説明する。但し、図６は本発明の電
子銃の主要な製造工程を示すものである。先ず、パーツ
組み立て工程Ｓ11において、複数の電極、即ち第１電極
用ホルダー１２と、第１電極Ｇ1 を除く他の第２電極Ｇ
2 〜第６Ｂ電極Ｇ6Bを位置決め治具を介して位置決めす
る。次いで、ビーディング工程Ｓ12において、第１電極
用ホルダー１２と第２電極Ｇ2 〜第６Ｂ電極Ｇ6Bをビー
ドガラス１３Ａ、１３Ｂに支持する。次いで、位置決め
治具を引き抜いた後、消磁処理の要否を確認して必要で
あれば、消磁工程Ｓ13において、ビーディングされた各
電極に消磁処理を施す。この消磁処理は、例えば金属粉
等が着磁して電極に付着している場合、次の洗浄工程で
金属粉等の除去を容易にするためである。
【００２３】次いで、ガン洗浄工程Ｓ14において、第１
電極用ホルダー１２と各電極Ｇ2 〜Ｇ6Bをビードガラス
１３Ａ及び１３Ｂで支持した、いわゆる電極群構体３１
（図３参照）を洗浄する。この洗浄処理は、例えば温純
水超音波洗浄で行うことができる。
電極用ホルダー１２と各電極Ｇ2 〜Ｇ6Bをビードガラス
１３Ａ及び１３Ｂで支持した、いわゆる電極群構体３１
（図３参照）を洗浄する。この洗浄処理は、例えば温純
水超音波洗浄で行うことができる。
【００２４】次いで、ガン乾燥工程Ｓ15において、洗浄
後の電極群構体３１を乾燥する。乾燥は、例えば熱乾燥
とすることができる。
後の電極群構体３１を乾燥する。乾燥は、例えば熱乾燥
とすることができる。
【００２５】一方、第１電極構体組立工程Ｓ16におい
て、第１電極Ｇ1 にカソードＫ〔Ｋｒ、Ｋｇ、Ｋｂ〕を
組み込んで第１電極構体１４を作製する。次いで、外観
検査工程Ｓ17において、第１電極構体１４の外観検査を
行う。
て、第１電極Ｇ1 にカソードＫ〔Ｋｒ、Ｋｇ、Ｋｂ〕を
組み込んで第１電極構体１４を作製する。次いで、外観
検査工程Ｓ17において、第１電極構体１４の外観検査を
行う。
【００２６】そして、第１電極構体取付け工程Ｓ18にお
いて、乾燥後の電極群構体３１における第１電極用ホル
ダー１２に、第１電極構体１４を例えば多点レーザ溶接
で取り付ける。即ち、第１電極構体１４の端面部２１を
第１電極用ホルダー１２の開口１７内に挿入するように
して、フランジ部２０を第１電極用ホルダー１２の面に
押し付け、フランジ部２０と第１電極用ホルダーをレー
ザ溶接する。この組立溶接時の位置出しは、例えばＸＹ
方向をインデックスピンにて位置出しし、Ｚ方向（第１
電極Ｇ1 と第２電極Ｇ2 間の間隔ｄ12）を第１電極構体
１４におけるフランジ部２０の第１電極用ホルダー１２
への押し付けにより位置出しする。
いて、乾燥後の電極群構体３１における第１電極用ホル
ダー１２に、第１電極構体１４を例えば多点レーザ溶接
で取り付ける。即ち、第１電極構体１４の端面部２１を
第１電極用ホルダー１２の開口１７内に挿入するように
して、フランジ部２０を第１電極用ホルダー１２の面に
押し付け、フランジ部２０と第１電極用ホルダーをレー
ザ溶接する。この組立溶接時の位置出しは、例えばＸＹ
方向をインデックスピンにて位置出しし、Ｚ方向（第１
電極Ｇ1 と第２電極Ｇ2 間の間隔ｄ12）を第１電極構体
１４におけるフランジ部２０の第１電極用ホルダー１２
への押し付けにより位置出しする。
【００２７】次いで、継線工程（図示せず）を経て後、
ガン検査工程Ｓ19において、電子銃の特性等の検査を行
い、目的の電子銃１１を完成する。
ガン検査工程Ｓ19において、電子銃の特性等の検査を行
い、目的の電子銃１１を完成する。
【００２８】パーツ組込工程Ｓ11、ビーディング工程Ｓ
12及び位置決め治具の引抜工程（図示せず）までを無塵
室以外で作業し、その他の第１電極構体組立工程Ｓ16、
外観検査工程Ｓ17、消磁工程Ｓ13〜検査工程Ｓ19を無塵
室作業することができる。または、パーツ組込工程Ｓ11
〜ガン乾燥工程Ｓ15までを無塵室以外で作業し、その他
の第１電極構体組立工程Ｓ16，第１電極構体取付け工程
Ｓ18、外観検査工程Ｓ17、検査工程Ｓ19を無塵室で作業
することができる。
12及び位置決め治具の引抜工程（図示せず）までを無塵
室以外で作業し、その他の第１電極構体組立工程Ｓ16、
外観検査工程Ｓ17、消磁工程Ｓ13〜検査工程Ｓ19を無塵
室作業することができる。または、パーツ組込工程Ｓ11
〜ガン乾燥工程Ｓ15までを無塵室以外で作業し、その他
の第１電極構体組立工程Ｓ16，第１電極構体取付け工程
Ｓ18、外観検査工程Ｓ17、検査工程Ｓ19を無塵室で作業
することができる。
【００２９】本実施の形態に係る電子銃１１によれば、
第２電極Ｇ1 〜第６Ｂ電極Ｇ6Bと第１電極用ホルダー１
２を予めビードガラス１３Ａ、１３Ｂに支持（ビーディ
ング）して電極群構体３１を形成した後、第１電極Ｇ1
にカソードＫ〔Ｋｒ、Ｋｇ、Ｋｂ〕を組込んでなる第１
電極構体１４を第１電極用ホルダー１２に溶接等で取付
けて構成するので、ビーディング後に第１電極構体１４
を除く電子銃全体、いわゆる電極群構体３１の丸洗い洗
浄が可能になる。従って、ビーディング後の汚れ等も洗
浄され、電子銃の耐電圧特性を向上することができる。
第２電極Ｇ1 〜第６Ｂ電極Ｇ6Bと第１電極用ホルダー１
２を予めビードガラス１３Ａ、１３Ｂに支持（ビーディ
ング）して電極群構体３１を形成した後、第１電極Ｇ1
にカソードＫ〔Ｋｒ、Ｋｇ、Ｋｂ〕を組込んでなる第１
電極構体１４を第１電極用ホルダー１２に溶接等で取付
けて構成するので、ビーディング後に第１電極構体１４
を除く電子銃全体、いわゆる電極群構体３１の丸洗い洗
浄が可能になる。従って、ビーディング後の汚れ等も洗
浄され、電子銃の耐電圧特性を向上することができる。
【００３０】電極群構体３１の状態で第２電極Ｇ2 〜第
６Ｂ電極Ｇ6Bまでの各色に対応する電子ビーム透過孔の
Ｘ、Ｙ方向の位置ずれ測定ができるので、位置ずれ測定
が行い易くなる。即ち、カソードＫがないため、第６Ｂ
電極Ｇ6B側から見て第２電極Ｇ2 側が明るくなり、電子
ビーム透過孔のエッジが認識し易くなり、測定精度が向
上する。また、第１電極構体１４の取付け前に電子ビー
ム透過孔の孔ずれ検査が可能になるので、部品コストの
高い第１電極構体１４において、予め悪い品質のものを
リジェクトすることが可能になり、完成後の電子銃の良
品率を高めることができる。
６Ｂ電極Ｇ6Bまでの各色に対応する電子ビーム透過孔の
Ｘ、Ｙ方向の位置ずれ測定ができるので、位置ずれ測定
が行い易くなる。即ち、カソードＫがないため、第６Ｂ
電極Ｇ6B側から見て第２電極Ｇ2 側が明るくなり、電子
ビーム透過孔のエッジが認識し易くなり、測定精度が向
上する。また、第１電極構体１４の取付け前に電子ビー
ム透過孔の孔ずれ検査が可能になるので、部品コストの
高い第１電極構体１４において、予め悪い品質のものを
リジェクトすることが可能になり、完成後の電子銃の良
品率を高めることができる。
【００３１】第１電極Ｇ1 は、ビードガラス１３Ａ、１
３Ｂに直接支持されず、第１電極用ホルダー１２に取付
けられているので、ビーディング時の第１電極Ｇ1 に掛
かるビーディング負荷を無くすことができ、第１電極Ｇ
1 の歪みを少なくし、変形を防止することができる。ま
た、電極パーツの歪み低減により陰極線管動作時の第１
電極Ｇ1 変形量を少なくすることができる。従って、第
１電極Ｇ1 変形量が安定化することにより、初期の輝
度、色度ドリフトが安定する。
３Ｂに直接支持されず、第１電極用ホルダー１２に取付
けられているので、ビーディング時の第１電極Ｇ1 に掛
かるビーディング負荷を無くすことができ、第１電極Ｇ
1 の歪みを少なくし、変形を防止することができる。ま
た、電極パーツの歪み低減により陰極線管動作時の第１
電極Ｇ1 変形量を少なくすることができる。従って、第
１電極Ｇ1 変形量が安定化することにより、初期の輝
度、色度ドリフトが安定する。
【００３２】図７は、本発明の陰極線管の一実施の形態
を示す。本実施の形態に係る陰極線管２１は、陰極線管
体２２のパネル２３の内面にカラー蛍光面２４が形成さ
れ、このカラー蛍光面２４に対向して色選別機構２５が
配置されると共に、ネック部２６内に上述の電子銃１１
が配置されて成る。２７は偏向ヨークである。
を示す。本実施の形態に係る陰極線管２１は、陰極線管
体２２のパネル２３の内面にカラー蛍光面２４が形成さ
れ、このカラー蛍光面２４に対向して色選別機構２５が
配置されると共に、ネック部２６内に上述の電子銃１１
が配置されて成る。２７は偏向ヨークである。
【００３３】本実施の形態に係る陰極線管２１によれ
ば、ビードガラス１３Ａ、１３Ｂに支持された第１電極
用ホルダー１２に第１電極構体１４を取付けてなる電子
銃１１を備えることにより、耐電圧特性を向上すること
ができる。また、動作時での第１電極Ｇ1 の変形量が少
なくなり、よって第１電極Ｇ1 変形量が安定化し、初期
の輝度、色度ドリフトを安定化することができる。従っ
て、陰極線管の品質向上が図れる。
ば、ビードガラス１３Ａ、１３Ｂに支持された第１電極
用ホルダー１２に第１電極構体１４を取付けてなる電子
銃１１を備えることにより、耐電圧特性を向上すること
ができる。また、動作時での第１電極Ｇ1 の変形量が少
なくなり、よって第１電極Ｇ1 変形量が安定化し、初期
の輝度、色度ドリフトを安定化することができる。従っ
て、陰極線管の品質向上が図れる。
【００３４】上例では、本発明をトライフォーカス電子
銃およびこれを備えた陰極線管に適用した場合である
が、本発明は勿論、その他の種々の電極構造電子銃、及
びこれこれらの電子銃を備えた陰極線管にも適用でき
る。
銃およびこれを備えた陰極線管に適用した場合である
が、本発明は勿論、その他の種々の電極構造電子銃、及
びこれこれらの電子銃を備えた陰極線管にも適用でき
る。
【００３５】
【発明の効果】本発明に係る電子銃によれば、ビーディ
ング後の電極群構体の丸洗い洗浄が可能になり、耐電圧
特性を向上することができる。第１電極Ｇ1 が直接、絶
縁性支持部材に支持されないので、第１電極Ｇ1 にいわ
ゆるビーディング負荷が掛からず、第１電極Ｇ1 の変形
を防止することができる。
ング後の電極群構体の丸洗い洗浄が可能になり、耐電圧
特性を向上することができる。第１電極Ｇ1 が直接、絶
縁性支持部材に支持されないので、第１電極Ｇ1 にいわ
ゆるビーディング負荷が掛からず、第１電極Ｇ1 の変形
を防止することができる。
【００３６】本発明に係る電子銃の製造方法によれば、
ビーディング後に電極群構体を丸洗い洗浄するので、ビ
ーディング後の汚れを綺麗に落とすことができ、耐電圧
特性の優れた電子銃を製造することができる。ビーディ
ング後に第１電極構体を第１電極用ホルダーに取付ける
ので、第１電極Ｇ1 に対してビーディング負荷が掛から
ず、第１電極Ｇ1 に変形のない電子銃を製造することが
きる。第１電極構体を組込む前に各電極間の電子ビーム
透過孔のずれ検査が可能になり、また、予め良品の第１
電極構体を選択して第１電極用ホルダーに取付けること
が可能になるので、製造された電子銃の良品率を高める
ことができる。第１電極構体のない状態で電子ビーム透
過孔のＸ、Ｙ方向のずれ測定を行えるので、ビーム透過
孔のエッジが認識し易くなり、電子銃を高精度に製造で
きる。
ビーディング後に電極群構体を丸洗い洗浄するので、ビ
ーディング後の汚れを綺麗に落とすことができ、耐電圧
特性の優れた電子銃を製造することができる。ビーディ
ング後に第１電極構体を第１電極用ホルダーに取付ける
ので、第１電極Ｇ1 に対してビーディング負荷が掛から
ず、第１電極Ｇ1 に変形のない電子銃を製造することが
きる。第１電極構体を組込む前に各電極間の電子ビーム
透過孔のずれ検査が可能になり、また、予め良品の第１
電極構体を選択して第１電極用ホルダーに取付けること
が可能になるので、製造された電子銃の良品率を高める
ことができる。第１電極構体のない状態で電子ビーム透
過孔のＸ、Ｙ方向のずれ測定を行えるので、ビーム透過
孔のエッジが認識し易くなり、電子銃を高精度に製造で
きる。
【００３７】本発明に係る陰極線管によれば、上記電子
銃を備えるので、耐電圧特性を向上することができる。
また、動作時での第１電極Ｇ1 の変形量が少なく、よっ
て第１電極Ｇ1 の変形量が安定し、初期の輝度、色ドリ
フトを安定にする。従って、品質の良い陰極線管を提供
できる。
銃を備えるので、耐電圧特性を向上することができる。
また、動作時での第１電極Ｇ1 の変形量が少なく、よっ
て第１電極Ｇ1 の変形量が安定し、初期の輝度、色ドリ
フトを安定にする。従って、品質の良い陰極線管を提供
できる。
【図１】本発明の電子銃の一実施の形態を示す構成図で
ある。
ある。
【図２】図１電子銃を９０度回転した方向から見た構成
図である。
図である。
【図３】第１電極構体を取付ける前の電極群構体の構成
図である。
図である。
【図４】第１電極用ホルダーと第１電極構体の分解斜視
図である。
図である。
【図５】第１電極構体を第１電極用ホルダーに取付けた
状態の断面図である。
状態の断面図である。
【図６】本発明の電子銃の製造工程を示すフローチャー
トである。
トである。
【図７】本発明の陰極線管の一実施の形態を示す構成図
である。
である。
【図８】従来の電子銃の構成図である。
【図９】従来の第１電極構体の断面図である。
【図１０】従来の電子銃の製造工程を示すフローチャー
トである。
トである。
１１・・・電子銃、１２・・・第１電極用ホルダー、１
３Ａ、１３Ｂ・・・ビードガラス、１４・・・第１電極
構体、１６・・・支持ピン、１７・・・開口、Ｇ1 〜Ｇ
6B・・・電極、Ｋ〔Ｋｒ、Ｋｇ、Ｋｂ〕・・・カソー
ド、ｈｒ、ｈｇ、ｈｂ・・・電子ビーム透過孔、１８・
・・セラミックベース、１９・・・スペーサ、２０・・
・フランジ部、２１・・・端面部分、３１・・・電極群
構体。
３Ａ、１３Ｂ・・・ビードガラス、１４・・・第１電極
構体、１６・・・支持ピン、１７・・・開口、Ｇ1 〜Ｇ
6B・・・電極、Ｋ〔Ｋｒ、Ｋｇ、Ｋｂ〕・・・カソー
ド、ｈｒ、ｈｇ、ｈｂ・・・電子ビーム透過孔、１８・
・・セラミックベース、１９・・・スペーサ、２０・・
・フランジ部、２１・・・端面部分、３１・・・電極群
構体。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐藤 正志 愛知県稲沢市大矢町茨島30番地 ソニー稲 沢株式会社内 Ｆターム(参考） 5C027 JJ08 JJ10 5C041 AA03 AB03 AB04 AB11 AC28 AC30 AC48
Claims (3)
- 【請求項１】 複数の電極を支持した絶縁性支持部材に
第１電極用ホルダーが支持され、 該第１電極用ホルダーにカソードを組み込んだ第１電極
構体が取付けられて成ることを特徴とする電子銃。 - 【請求項２】 第１電極用ホルダー及び第１電極以外の
複数の電極を絶縁性支持部材に支持する電極支持工程
と、 前記絶縁性支持部材に支持された電極群構体を洗浄する
洗浄工程と、 前記第１電極用ホルダーにカソードを組み込んだ第１電
極構体を取付ける第１電極構体取付け工程を有すること
を特徴とする電子銃の製造方法。 - 【請求項３】 複数の電極を支持した絶縁性支持部材に
第１電極用ホルダーが支持され、該第１電極用ホルダー
にカソードを組み込んだ第１電極構体が取付けられてな
る電子銃を、備えて成ることを特徴とする陰極線管。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000222648A JP2002042683A (ja) | 2000-07-24 | 2000-07-24 | 電子銃及びその製造方法、並びに陰極線管 |
| US09/903,608 US20020021078A1 (en) | 2000-07-24 | 2001-07-13 | Electron gun, method of manufacturing the same and cathode ray tube |
| KR1020010044250A KR20020009466A (ko) | 2000-07-24 | 2001-07-23 | 전자총 및 그 제조 방법, 및 음극 선관 |
| EP01401986A EP1176621A3 (en) | 2000-07-24 | 2001-07-24 | Electron gun, method of manufacturing the same and cathode ray tube |
| CN01123090.8A CN1334584A (zh) | 2000-07-24 | 2001-07-24 | 电子枪及其制造方法和阴极射线管 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000222648A JP2002042683A (ja) | 2000-07-24 | 2000-07-24 | 電子銃及びその製造方法、並びに陰極線管 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002042683A true JP2002042683A (ja) | 2002-02-08 |
Family
ID=18716864
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000222648A Pending JP2002042683A (ja) | 2000-07-24 | 2000-07-24 | 電子銃及びその製造方法、並びに陰極線管 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20020021078A1 (ja) |
| EP (1) | EP1176621A3 (ja) |
| JP (1) | JP2002042683A (ja) |
| KR (1) | KR20020009466A (ja) |
| CN (1) | CN1334584A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102672393B (zh) * | 2012-05-16 | 2014-08-27 | 安徽华东光电技术研究所 | 一种用于行波管阴控组件的装配夹具及其装配方法 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB493790A (en) * | 1937-04-30 | 1938-10-14 | British Thomson Houston Co Ltd | Improvements in or relating to cathode ray devices |
| JPS4820945B1 (ja) * | 1966-05-13 | 1973-06-25 | ||
| US4631443A (en) * | 1985-08-27 | 1986-12-23 | Rca Corporation | Multibeam electron gun having a formed transition member |
| JPH06103622B2 (ja) * | 1986-08-21 | 1994-12-14 | ソニー株式会社 | 電子銃の組立方法 |
| DE4313576C2 (de) * | 1993-04-26 | 1996-07-18 | Nokia Deutschland Gmbh | Elektronenstrahlerzeugersystem |
| KR100386182B1 (ko) * | 1994-10-24 | 2004-02-25 | 소니 가부시끼 가이샤 | 음극선관의전자총및음극선관의제조방법 |
-
2000
- 2000-07-24 JP JP2000222648A patent/JP2002042683A/ja active Pending
-
2001
- 2001-07-13 US US09/903,608 patent/US20020021078A1/en not_active Abandoned
- 2001-07-23 KR KR1020010044250A patent/KR20020009466A/ko not_active Application Discontinuation
- 2001-07-24 CN CN01123090.8A patent/CN1334584A/zh active Pending
- 2001-07-24 EP EP01401986A patent/EP1176621A3/en not_active Withdrawn
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20020009466A (ko) | 2002-02-01 |
| EP1176621A2 (en) | 2002-01-30 |
| CN1334584A (zh) | 2002-02-06 |
| US20020021078A1 (en) | 2002-02-21 |
| EP1176621A3 (en) | 2003-03-26 |
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