JP2002022844A - Ｘ線画像を形成するｘ線検査装置及び方法 - Google Patents

Ｘ線画像を形成するｘ線検査装置及び方法

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JP2002022844A JP2001121314A JP2001121314A JP2002022844A JP 2002022844 A JP2002022844 A JP 2002022844A JP 2001121314 A JP2001121314 A JP 2001121314A JP 2001121314 A JP2001121314 A JP 2001121314A JP 2002022844 A JP2002022844 A JP 2002022844A
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Kai Eck
エック カイ
Norbert Jung
ユング ノルベルト
Hendrik Jan Meulenbrugge
ヤン ミューレンブリュッヘ ヘンドリク
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Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【課題】一連の画像生成及び処理における撮像欠陥を自
動的に補正し、Ｘ線画像を形成するＸ線検査装置及び方
法を提供する。 【解決手段】撮像欠陥の自動補正を実現するために、臨
床検査中に捕捉される画像データから抽出される画像パ
ラメータに基づいて画像欠陥を検出する欠陥検出ユニッ
ト３と、画像データを補正する処理ユニット２から構成
される。とりわけＸ線検出器の欠陥のあるセンサ素子又
はピクセルによって生じる画像欠陥の検出に対して、閾
値に依存して欠陥のあるセンサ素子に対して欠陥テーブ
ルを形成するフィルタユニットが設けられ、このような
欠陥テーブルに基づいて画像データに適用されるよう処
理ユニット２において補正テーブル２０が形成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線像を形成する
Ｘ線検査装置及び方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】米国特許第５，６５７，４００号は、Ｘ
線検出器の悪いピクセル値を補正する方法を開示する。
この方法は、欠陥ピクセルを識別及び補正するために開
示される。欠陥があると識別される各ピクセルに対し
て、補正コードが欠陥テーブルに記憶される。識別に関
して、平均するために複数のオフセット画像が最初に捕
捉される。その後、特別な校正手順中に複数のＸ線画像
が均一の露光で捕捉され、これら画像も平均される。上
記２つの平均された画像は、互いから減算される。欠陥
ピクセルは、差に基づいて決定される。校正手順は、患
者がＸ線ビーム路中に存在すること無く実際のＸ線露光
の前に行われる。
【０００３】診断目的のために要求されるＸ線画像のエ
ラー無しの再現は、Ｘ線検査装置によって生成される画
像を補正することを必要にさせる。例えば、Ｘ線検出器
の幾何学は、画像処理中に補正テーブルを手段として除
去される撮像の欠陥を引き起こす。更に、Ｘ線検出器
は、画像処理を用いて補正されるオフセット値に関係し
てもよい。このような画像処理中、製造者に既知の全て
の撮像欠陥は補正され、このとき画像処理はＸ線検査装
置の製造者によって先天的に利用可能にされる画像パラ
メータ、又は、このようなＸ線検査装置を手段として実
施される校正処理によって得られるパラメータにだけ基
づく。
【０００４】しかしながら、Ｘ線検査装置の適用範囲は
非常に様々であり、全てのＸ線検査装置に対して与えら
れる負荷及び影響が異なる。
【０００５】Ｘ線画像を生成するために複数の部品が協
働することが必要であり、各個々の部品は、エイジング
工程又は予測不可能な環境的影響或いは負荷を受ける。
このような予測不可能な影響は、形成されるべきＸ線画
像の質に対して様々な影響を有する。
【０００６】このタイプの影響は、画像処理に関係する
補正テーブルを定期的に更新することで緩和され得る。
【０００７】しかしながら、Ｘ線画像の捕捉中に生じ得
るエラーは、時間的に安定してなく、Ｘ線検査装置の関
連する動作モードからも独立していない。定期的な更新
は、Ｘ線検査装置を手段として捕捉されるＸ線画像の基
本的な質を確実にするために適用され得る。しかしなが
ら、このような定期的な更新が行なわれる瞬間の間、画
像欠陥又は撮像欠陥の過剰補償又は過少補償の危険性、
及び、捕捉中或いは画像処理中の急なエラー発生の危険
性がある。
【０００８】撮像欠陥を除去する公知の方法は、臨床検
査中に得られていない画像パラメータを利用する。瞬間
的な撮像エラーは評価されず、対応する適応方法も決定
されない。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明は、一
連の画像生成及び処理における欠点による撮像欠陥が自
動的に補正される、Ｘ線画像を形成するＸ線検査装置及
び方法を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記目的は、Ｘ線源及び
Ｘ線を電荷に変換するセンサ素子を含むＸ線検出器を有
するＸ線検査装置と、画像データを補正する処理ユニッ
トと、臨床検査中に発生される画像データから抽出され
得る画像パラメータに基づいて検出され得る画像欠陥を
検出し、検出された画像欠陥に依存して処理ユニットに
おいて使用される処理パラメータを適合するのに好適な
欠陥検出ユニットとを手段として実現され、それにより
とりわけ欠陥のあるセンサ素子によって生じられる画像
欠陥を検出するために欠陥検出ユニットは、画像データ
をフィルタ処理するフィルタユニット、フィルタ処理さ
れた画像データを平均化するユニット、並びに、閾値に
依存してセンサ素子に対する欠陥テーブルを形成するた
めにフィルタ処理され平均化された画像データを閾値と
比較する比較ユニットを含む。
【００１１】患者のＸ線画像の形成は、Ｘ線源及びＸ線
検出器を含むＸ線検査装置を必要とする。Ｘ線検出器
は、患者の組織及び骨の様々な厚さによって強度が減衰
されるＸ線を検出可能な電荷担体に変換する。このよう
な電荷担体は、読み出し装置によって処理ユニットに与
えられる。画像処理のこの段まで、例えば、個々の画像
データの一般的な増幅だけが行われる。処理ユニット
は、表示するのに適切な形態に粗い画像を変換する一方
で補正テーブル及び補間ルールを使用する。しかしなが
ら、このような画像処理が基づく補正データは、Ｘ線検
査装置の瞬間的な動作状態に適応されない。Ｘ線源或い
はＸ線検出器、又は、補正テーブルにおいて校正後に発
生される欠陥は考慮されない。
【００１２】従って、本発明によるＸ線検査装置は、装
置の使用中に直接的に得られる臨床画像データの評価に
基づく。このような臨床画像データは、装置が特別な校
正状態に設定されること無く臨床検査中に抽出される。
一定の画像質が画像欠陥の連続的な検出によって実現さ
れる。
【００１３】処理ユニットは、画像欠陥を検出するため
に、形成されるべきＸ線画像が所与の適当な試験を受け
る欠陥検出ユニットによって後続される。
【００１４】このために、評価されるべきＸ線画像の質
の特徴である画像パラメータは、臨床画像データから抽
出される。欠陥ピクセル又はセンサ素子の位置を含む欠
陥テーブル又はマトリクスが計算される。
【００１５】本発明による装置において、とりわけ、Ｘ
線検出器の欠陥のあるセンサ素子又はピクセルによって
生じられる画像欠陥の検出のために、臨床画像データが
欠陥検出ユニットにおいてフィルタ処理される。このよ
うな画像データのピクセルに関してのフィルタ処理後、
フィルタ処理された画像データは複数の画像においてピ
クセルに関して平均される。従って生成される画像デー
タは、考慮されるピクセルの対応するピクセル値が所定
の公差範囲内にあるか否かを判断するために閾値とピク
セルに関して比較される。ピクセル値が閾値を超えると
き、このピクセル値は欠陥と示されるピクセルに割り当
てられる。この欠陥ピクセルの位置は欠陥テーブルに記
憶される。この欠陥テーブルは、補正されたピクセル値
が各欠陥ピクセルに対して割り当てられる補正テーブル
を形成するために使用される。補正テーブルは、処理ユ
ニットに記憶され、欠陥として識別されるピクセルには
補正されたピクセル値が各その後のＸ線画像において割
り当てられる。例えば、計算された欠陥テーブルと前の
欠陥テーブルとの間の差が所定の公差限界を越える場合
だけ補正テーブルは置換される。
【００１６】ランク付けフィルタ、とりわけ、メディア
ンフィルタがフィルタ処理のために使用される。逆変換
された元の画像データは、フィルタ処理された画像デー
タに加算される。結果として生じられる画像データの絶
対値は、複数のＸ線画像に対して平均されるように形成
される。Ｘ線検出器の各個々のピクセルを表示するピク
セル値が閾値と比較されるよう形成される。
【００１７】この手順は、ディスプレイにおいていわゆ
る点滅又はブリンカとして現われる欠陥ピクセル、つま
り、非常に高い及び非常に低いピクセル値を一時的に有
するピクセルの検出を可能にさせる。
【００１８】メディアンフィルタ処理は、考慮されるピ
クセルの選択可能な近傍のピクセル値の中央値がピクセ
ルに関して形成される方法で実施される。
【００１９】精度及び適用分野に依存して、使用される
フィルタは可変なカーネル寸法のランク付けフィルタ
（ＲＯＦ）である。このタイプのフィルタ処理による
と、例えば、フィルタ処理されるべきピクセルの正方形
の近傍において発生される全てのピクセル値はランクに
従って順序付けられ、メディアンＲＯＦは代表的なフィ
ルタ値の平均ピクセル値である。観察されるべき隣接す
るピクセル値の数が増加すると、要求される計算仕事量
も増加するがフィルタ処理の質も増加する。慣例的に
は、観察されるピクセルの周りの３×３又は５×５ピク
セルのカーネル寸法が使用される。
【００２０】本発明による欠陥認識は、臨床画像データ
だけを利用する。Ｘ線ビーム路に患者が存在することに
より、測定される信号の減衰は連続するＸ線画像に対し
て変化される。減衰のこのような時間で異なる差に関わ
らず画像コンテンツに無関係な欠陥テーブルを生成する
ためには、画像データは局部的なフィルタ処理の後平滑
化され平均化される。
【００２１】任意には、異なるコンテンツを含む複数の
患者のＸ線画像が最初に平均され、続いてフィルタ処理
される。実際の画像情報は減衰される。
【００２２】欠陥ピクセルに対する欠陥テーブルは、ピ
クセル値の時間の正当性に関してインジケーションも有
利的に含み得る。従って、所定の期間が経過した後、欠
陥として認識されるピクセルが再び欠陥無しとされるこ
とが可能である。従って、時間で異なるピクセル欠陥
は、このピクセルが正しい画像データを得るとしても不
確定の期間にわたって補正されない。更に、欠陥ピクセ
ルに関する瞬間的な情報が先に決定される情報よりもよ
り重みが割り当てられ得る。
【００２３】更なる可能性は、所与の期間後、全欠陥テ
ーブルを更新することにある。更に可能なことは、処理
ユニットの前に欠陥認識することであり、これによりＸ
線検査装置から発せられる全ての画像データは新しい欠
陥ピクセルに関して連続的に検査され、対応する瞬間的
なＸ線画像に対してだけ補正が毎回実施される。
【００２４】欠陥認識は、一連の画像処理における順序
に関わりなく各Ｘ線画像の画像データに適用され得る。
これは、より大きいコンピュータ容量を必要とする。欠
陥認識が各ｎ番目の画像にだけ実施されるとき、インタ
フェースを介して一般的なパーソナルコンピュータを使
用することも可能である。
【００２５】システムに依存するピクセル欠陥に関する
情報は、ランク付けフィルタの選択のために有利的に考
慮され得、それにより欠陥のあるピクセル列或いはピク
セル行又はコヒーレント領域の場合、このような欠陥が
欠陥認識のために考慮されない。このような情報の使用
は、ランク付けフィルタの減少されたカーネルの適用に
つながる。事前に既知の欠陥ピクセル値はフィルタ処理
から外され、例えば、５×５ＲＯＦの場合、評価される
べきピクセルの周りの２４ピクセル全てが欠陥認識のた
めに考慮されない。
【００２６】しかしながら、評価されるべきピクセル
（このピクセルは例えば、零に設定される）の近傍にあ
る欠陥ピクセルの数が過度である場合、評価のために要
求されるピクセル数に関して下限が課せられないとこの
評価されるべきピクセルも不正確に評価され得ることが
考慮されなくてはならず、このような下限は例えば、３
より少ない欠陥無しピクセルの場合より広い周辺が補正
のために選択されなくてはならないことを示唆する。
【００２７】これは拡張されたカーネルの使用につなが
る。拡張されたカーネルは、例えば、可能であれば事前
に既知のシステムに課された欠陥ピクセルの場合、カー
ネルの拡張を可能にする。欠陥ピクセルの既知の位置は
零に設定され、通常のＲＯＦを用いて論理ＡＮＤ機能に
従って組合わされる。従って、当面は減少されたＲＯＦ
は補正のために使用され得る情報を含む欠如したピクセ
ルの数で補充されるよう得られ、関連する欠陥情況に適
応される拡張されたカーネルを含むＲＯＦが得られる。
このような補充されたピクセルは、評価されるべきピク
セルの周りに正方形に通常配置されるカーネルの外側に
おかれる。
【００２８】本発明による欠陥認識の有利的な面は、追
加のＸ線画像の形成又は医療スタッフ或いは技術スタッ
フによる介入を必要とすること無く欠陥ピクセルが認識
され除去されることである。欠陥認識は、臨床介入中に
捕捉される画像データだけに基づき、Ｘ線検査装置の利
用可能性が減少されること無くＸ線検査装置の動作中に
エラー強く且つ信頼性のある欠陥補間並びに欠陥減少を
可能にする。
【００２９】Ｘ線検出器が異なるオフセット画像を各個
々の動作モードに対して有するため、オフセット画像は
Ｘ線画像の形成中に個々のセンサ素子のオフセットを減
算するよう各モードに対して決定されなければならな
い。
【００３０】このために平均化されるべき一つ以上のオ
フセット画像が各Ｘ線露光の前に暗撮像（dark imagin
g）によって生成される。Ｘ線に露光されていないとき
のＸ線検出器の特性は、上記暗撮像に基づいて決定され
る。オフセット画像の決定に対するこの画像データは、
臨床検査の時間外に得られる。
【００３１】オフセット値の補正のために、実施される
べき試験は補正において既に存在し、つまり、Ｘ線検出
器がＸ線に露光されてないときはいつでも幾つかの暗画
像（dark image）が固定され得る瞬間に形成され、こ
れら暗画像は平均され平均オフセットテーブルが形成さ
れる。このテーブルは、オフセット補正のために処理ユ
ニットに存在する補正ルールを更新するために使用され
得、更新はコンピュータの仕事量及びＸ線検査装置に依
存して連続的又は定期的である。
【００３２】例によってだけ述べられたこのような画像
パラメータは、処理ユニットに記憶され使用される処理
パラメータ、又は、欠陥検出ユニットに直接的に記憶さ
れ先に形成されるＸ線画像から得られる基準値のいずれ
かと比較される。
【００３３】エラー検出を連続的に実施することが有利
的であることが分かる。従って、最小の偏差は、大量の
時間を要すること無く、更に、可能であれば追加の放射
線負荷を要すること無く迅速に検出され、補正され得
る。
【００３４】本発明の別の利点は、撮像欠陥が検出され
るときだけ補正が実施されることである。コンピュータ
容量及び時間が節約される。
【００３５】処理ユニットにおける処理パラメータ及び
／又はＸ線検査装置のステータスパラメータの補正が欠
陥検出ユニットによって検出される撮像欠陥に依存して
実施されるため、撮像欠陥のために補正されるＸ線画像
は欠陥検出が一回以上実施される欠陥検出ユニットに再
び供給される。質評価基準が選択可能な公差限界内にあ
るとき、撮像欠陥が除去されるＸ線画像が出力ユニット
を用いて表示される。
【００３６】欠陥検出ユニットによって始められる、処
理パラメータ又はステータスパラメータの第１の適合後
のＸ線画像における更なる画像欠陥、又は、同じ画像欠
陥の検出は、既に実行された適合が十分でなかったこと
を示す。このような場合、欠陥検出ユニットは、異なる
適合を実施する。Ｘ線検査装置の動作状態によって可能
である場合、例えば、装置はスタンバイモードに設定さ
れ基本的な校正が実施される。このために、例えば、暗
画像が捕捉され、オフセット補償が改めて適合される又
はユーザがファントム画像を形成する又はルールに従っ
てＸ線検査装置を調節するよう指示される。撮像欠陥が
利用できる自動の適合方法によって除去され得ないと
き、サービスの専門技術者が知らされる。専門技術者
は、遠隔リンクを介してＸ線検査装置のステータスを問
い合わし、露光基準又は処理パラメータの適当な適合を
行う。
【００３７】本発明の目的は、Ｘ線画像を形成する方法
を用いても実現される。
【００３８】本発明の目的は、画像データを補正するコ
ンピュータプログラムを用いて実現され、補正は、ラン
ク付けフィルタ及びフィルタ処理された画像データの平
均化を手段とし、閾値にも依存して臨床画像データをフ
ィルタ処理することによりセンサ素子に対する欠陥テー
ブルを形成することで生じられる画像欠陥に対してとり
わけ実施される。
【００３９】
【発明の実施の形態】本発明の実施例は、添付の図面を
参照して以下に詳細に説明する。
【００４０】図１は、Ｘ線源１１、Ｘ線ビーム路１２、
及び、Ｘ線検出器１３から成る撮像ユニット１を含むＸ
線検査装置を示す図である。撮像ユニット１は、オフセ
ット補正ルール１８を利用するオフセット補正ユニット
１４、利得補正係数１９を利用する利得補正ユニット１
５、補正テーブル２０を用いて欠陥ピクセルを補正する
補正ユニット１６、及び、ルックアップテーブル（ＬＵ
Ｔ）２１を用いて非線形の増幅挙動を補正するユニット
１７を含む処理ユニット２に後続される。処理ユニット
２は、処理ユニット２によって補正されたＸ線画像が全
ての残留する画像欠陥に関して精細に調べられる欠陥検
出ユニット３に後続される。
【００４１】オフセット偏差は、暗画像を用いて補正さ
れる。新たに計算されたオフセット補正ルール２２がオ
フセット補正ルール１８から偏向するとき、処理ユニッ
ト２中に存在するオフセット補正ルール１８が置換され
る。
【００４２】処理ユニットから発せられる画像データも
欠陥ピクセルに関してＲＯＦユニット２３で検査され
る。ＲＯＦユニット２３は欠陥テーブルを計算し、この
欠陥テーブルは、処理ユニット中の補正テーブル２０が
基づく欠陥テーブルと比較される。偏差がある場合欠陥
テーブルは置換され、それにより欠陥ピクセルを補正す
るための補正テーブル２０も置換される。
【００４３】ユニット２４は、Ｘ線検出器の選択可能な
領域に対する画像データからのピクセル値又はグレー値
に対してヒストグラムを形成する。上記ヒストグラムの
その後の積分後に生じられる曲線の間の偏差は、例え
ば、異なる増幅回路によって読み出されるＸ線検出器の
隣接する領域間の非線形の増幅挙動を示す。偏差がある
場合、正しく増幅されていないピクセル値を正しく増幅
されたピクセル値に回復させるためにＬＵＴが計算され
る。このＬＵＴは、ヒストグラムの積分から結果として
生じられる曲線の間で偏差が生じられる場合にだけ計算
される。
【００４４】これら試験中に偏差が全く生じない場合、
撮像欠陥の無いＸ線画像がディスプレイユニット４に表
示される。
【００４５】ＬＵＴ、欠陥テーブル、及び、補正テーブ
ル又はオフセット補正ルールは、コネクション２５を介
して処理ユニット２に与えられる。欠陥検出ユニット３
は、コネクション２６を介して画像捕捉ユニット１に対
して動作する。このような動作は、関連するルールの更
新に関わらず欠陥が再び生じられると行われ、それによ
りＸ線検査装置はスタンバイモードに設定されるかＸ線
検出器１３に記憶される基本的な設定が取り出される又
は初期設定されなくてはならない。
【００４６】図２は、本発明によるピクセル欠陥認識を
示す図である。臨床画像データ３０は、フィルタユニッ
ト３７に供給される。フィルタユニット３７は、ランク
付けフィルタ３１、逆変換器３２、及び、加算ユニット
３３を含む。逆変換された元のデータは、フィルタ処理
された画像データに加算される。ピクセルの絶対値は、
従って現われる中間の画像データから絶対値３４を形成
するユニットにおいて形成される。これらの段階は、複
数のフレーム又はＸ線画像に対して平均化ユニット３５
において平均される。このために、修正された中間の画
像データは考慮されるフレーム数によって割算される。
従って得られる平均された画像データは比較ユニット３
６において閾値と比較される。閾値を超える全てのピク
セル値は欠陥テーブルに記憶される。欠陥テーブルにお
いて欠陥であると識別されるピクセルは、処理ユニット
に記憶される補正テーブル２０を用いて補正され、補正
されたピクセル値はＸ線検出器１３からの画像データに
適用される。
【００４７】図３は、閾値４１を明確にするために使用
される図を示す。ピクセル夫々の理想値から偏向するピ
クセルの数ｆ（ｘ）は、Ｘ線検出器において連続的に減
少される。欠陥ピクセルは、上記連続的な減少において
不規則性４２を示す。結果として、閾値は欠陥ピクセル
が集まる偏差値のすぐ前になければならない。閾値を明
確にする別の可能性は、発生されるピクセルのグレー値
のヒストグラムがフィルタ処理され平均化された画像の
絶対値を形成するユニット３４の後に形成されるとき生
じる。このヒストグラムにおける通常単調な変化の偏差
は欠陥ピクセルの集まりを示し、閾値もこの方法で決定
され得る。ヒストグラムを連続的に捕捉しそれにより適
応性のある方法で閾値を明確にするることが可能であ
る。これは、全てのピクセルに対して同じ影響を及ぼ
し、全てのピクセル値が手動で予め調節された閾値を超
えることにつながる妨害の場合、閾値は自動的に変化さ
れ、使用できるＸ線画像が表示されるといった利点を提
供し、これは手動で閾値を調節する場合には生じない。
【００４８】図４ａは、３×３のカーネルを含むランク
付けフィルタを示す図である。３×３カーネルは、考慮
下にあるピクセルをフィルタ処理するために使用され、
つまり、ピクセルのフィルタ処理中、考慮されるべきピ
クセルに隣接するピクセル及びピクセル値が３×３の環
境において使用される。
【００４９】図４ｂは、既知の欠陥ピクセルの位置を示
し、中心にあるピクセルが評価されるべきピクセルであ
る。
【００５０】図４ｃは、このような欠陥ピクセル及び夫
々の既知の位置が考慮される減少されたランク付けフィ
ルタを示す図である。欠陥ピクセルは零に設定され、そ
れによりこれら欠陥ピクセルはフィルタ処理に関して考
慮されない。
【００５１】図４ｄは、５×５環境における欠陥ピクセ
ルの位置を示す図である。図４ｅは、通常の係数が考慮
される拡張されたカーネルを示すが、９の係数は事前に
既知の欠陥ピクセルにより、フィルタ処理のためにもは
や使用され得ない。これを回避するために、欠如してい
る係数が直接的な近傍から得られ、結果としてランク付
けフィルタは拡張されたカーネルを含む。
【図面の簡単な説明】
【図１】Ｘ線検査装置を示す図である。
【図２】ピクセル欠陥認識を手段とする欠陥検出を示す
図である。
【図３】閾値の形成を示す図である。
【図４ａ】ランク付けフィルタを示す図である。
【図４ｂ】ランク付けフィルタを示す図である。
【図４ｃ】ランク付けフィルタを示す図である。
【図４ｄ】ランク付けフィルタを示す図である。
【図４ｅ】ランク付けフィルタを示す図である。
【符号の説明】
１ 撮像ユニット ２ 処理ユニット ３ 欠陥検出ユニット ４ ディスプレイユニット １１ Ｘ線源 １２ Ｘ線ビーム路 １３ Ｘ線検出器 １４ オフセット補正 １５ 利得補正 １６ 補正ユニット １７ ユニット １８ オフセット補正ルール １９ 利得補正係数 ２０ 補正テーブル ２１ ルックアップテーブル ２２ オフセット補正ルール ２３ ＲＯＦユニット ２４ ヒストグラムを形成するユニット ２５、２６ コネクション ３０ 臨床画像データ ３１ ランク付けフィルタ ３２ 逆変換器 ３３ 加算ユニット ３４ 絶対値を形成するユニット ３５ 平均化ユニット ３６ 比較ユニット ３７ フィルタユニット ４１ 閾値 ４２ 不規則性
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 590000248 Ｇｒｏｅｎｅｗｏｕｄｓｅｗｅｇ １, 5621 ＢＡ Ｅｉｎｄｈｏｖｅｎ， Ｔｈ ｅ Ｎｅｔｈｅｒｌａｎｄｓ (72)発明者 ノルベルト ユング ドイツ連邦共和国，52146 ヴュルゼーレ ン，シュヴァイルバハー シュトラーセ 123Ａ (72)発明者 ヘンドリク ヤン ミューレンブリュッヘ オランダ国，5656 アーアー アインドー フェン，プロフ・ホルストラーン ６ Ｆターム(参考） 2G088 EE01 FF02 GG21 JJ05 LL15 4C093 AA16 CA50 EB12 EB13 EB17 FC19 FD05 FD09 5B047 AA17 AA30 AB02 BA02 DA03 DA06 DC04

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 Ｘ線源と、 Ｘ線を電荷に変換するセンサ素子を含むＸ線検出器と、 画像データを補正する処理ユニットと、 臨床検査中に発生する画像データから抽出され得る画像
    パラメータに基づいて検出される画像欠陥を検出し、上
    記検出された画像欠陥に依存して上記処理ユニットにお
    いて使用される処理パラメータに適合するのに好適な欠
    陥検出ユニットとを有するＸ線検査装置であって、 とりわけ欠陥のあるセンサ素子によって生じられる画像
    欠陥の検出に対して上記欠陥検出ユニットは、 上記画像データをフィルタ処理するフィルタユニット、 上記フィルタ処理された画像データを平均化するユニッ
    ト、及び、 閾値に依存して上記センサ素子に対して欠陥テーブルを
    形成するために上記フィルタ処理され平均化された画像
    データを上記閾値と比較する比較ユニットを有すること
    を特徴とするＸ線検査装置。
  2. 【請求項２】 上記欠陥検出ユニットは、該Ｘ線検査装
    置のステータスパラメータを適応するために配置される
    ことを特徴とする請求項１記載のＸ線検査装置。
  3. 【請求項３】 連続的な検出が行なわれることを特徴と
    する請求項１記載のＸ線検査装置。
  4. 【請求項４】 上記フィルタユニットは、上記画像デー
    タをフィルタ処理するランク付けフィルタ、 上記画像データを逆変換する逆変換器、及び、 上記フィルタ処理され逆変換された画像データを加算す
    る加算ユニットを含み、 上記加算された画像データの絶対値を形成するユニット
    も設けられることを特徴とする請求項１記載のＸ線検査
    装置。
  5. 【請求項５】 上記欠陥検出ユニットは、欠陥のあるセ
    ンサ素子の検出の場合に補正された欠陥テーブルを上記
    処理ユニットに対して与えるために配置されることを特
    徴とする請求項１記載のＸ線検査装置。
  6. 【請求項６】 上記閾値は、所定又は絶対値を形成する
    ユニットの後に上記画像データのヒストグラムを形成す
    ることで適応的に明確にされ得ることを特徴とする請求
    項１記載のＸ線検査装置。
  7. 【請求項７】 上記ランク付けフィルタは可変なカーネ
    ル（図４ｂ、ｅ）を有することを特徴とする請求項４記
    載のＸ線検査装置。
  8. 【請求項８】 請求項１乃至７記載のＸ線検査装置を用
    いてＸ線画像を形成する方法。
  9. 【請求項９】 上記処理パラメータの適応は段において
    実施され、 上記適合は第１の段において動作中に実施され、 適合は第２の段において上記Ｘ線検査装置のスタンバイ
    モード中に行なわれ、 適合は第３の段においてユーザによる介入によって行な
    われることを特徴とする請求項８記載の方法。
  10. 【請求項１０】 画像データ、とりわけ、欠陥のあるセ
    ンサ素子によって生じられる画像欠陥を補正するコンピ
    ュータプログラムであって、 臨床画像データのフィルタ処理はランク付けフィルタを
    用いて実施され、 上記フィルタ処理されたデータは平均化され、 閾値に依存して上記センサ素子に対して欠陥テーブルが
    形成されるコンピュータプログラム。
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