JP2002022612A - 光特性測定装置、方法、記録媒体 - Google Patents
光特性測定装置、方法、記録媒体Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ある特定の狭い範囲の光波長の光を光ファイ
バに入射した場合において出射光の波形歪を小さくする
装置を提供する。 【解決手段】 光ファイバ線路１１０に入射光を供給す
る光源システム１０と、入射光が光ファイバ線路１１０
を透過したものである透過光の波形歪を計測する波形モ
ニタ４２と、波形モニタ４２の計測した波形歪が所定範
囲内におさまるように入射光の出力を調節する光出力調
節部４４と、を備える。入射光の出力を調節してノイズ
との比率、すなわちS/N比を低化させる。ノイズは比較
的、波長が広い範囲内にある。よって、S/N比を適度に
低化させれば、波長が広い範囲内にある入射光を光ファ
イバ線路１１０に供給できる。よって、出射光の波形歪
を小さくすることができる。
バに入射した場合において出射光の波形歪を小さくする
装置を提供する。 【解決手段】 光ファイバ線路１１０に入射光を供給す
る光源システム１０と、入射光が光ファイバ線路１１０
を透過したものである透過光の波形歪を計測する波形モ
ニタ４２と、波形モニタ４２の計測した波形歪が所定範
囲内におさまるように入射光の出力を調節する光出力調
節部４４と、を備える。入射光の出力を調節してノイズ
との比率、すなわちS/N比を低化させる。ノイズは比較
的、波長が広い範囲内にある。よって、S/N比を適度に
低化させれば、波長が広い範囲内にある入射光を光ファ
イバ線路１１０に供給できる。よって、出射光の波形歪
を小さくすることができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ファイバに光ア
ンプを組み合わせたものなどのDUT（Device Under Tes
t）の波長分散特性の測定に関する。
ンプを組み合わせたものなどのDUT（Device Under Tes
t）の波長分散特性の測定に関する。
【０００２】
【従来の技術】長距離にわたって光を伝送する場合は、
光ファイバのみによって光を伝送すると損失が大きい。
そこで、光ファイバに、光信号を増幅する光アンプ（ED
FA）とを組み合わせた光ファイバ線路を用いて、損失を
防ぐ。光アンプは、ある一方向にのみ光を通す。ここ
で、光ファイバに光アンプを組み合わせたものを光ファ
イバ線路という。
光ファイバのみによって光を伝送すると損失が大きい。
そこで、光ファイバに、光信号を増幅する光アンプ（ED
FA）とを組み合わせた光ファイバ線路を用いて、損失を
防ぐ。光アンプは、ある一方向にのみ光を通す。ここ
で、光ファイバに光アンプを組み合わせたものを光ファ
イバ線路という。
【０００３】光ファイバ線路の波長分散特性を測定する
ときの測定系の構成を図７に示す。光ファイバ１１２に
光アンプ１１４が組み合わさって光ファイバ線路１１０
が形成される。光ファイバ線路１１０は右方向に光を通
す。可変波長光源１２が波長を変化させて光を発生す
る。この光は光変調器１５により変調用電源１４の周波
数で変調されて、光ファイバ線路１１０に入射される。
光ファイバ線路１１０を透過した光は光電変換器２２に
より電気信号に変換され、変調用電源１４の発生する電
気信号と位相比較器２４により位相が比較される。すな
わち、位相差が計算される。位相差から光ファイバ線路
１１０の群遅延や波長分散を求めることができる。
ときの測定系の構成を図７に示す。光ファイバ１１２に
光アンプ１１４が組み合わさって光ファイバ線路１１０
が形成される。光ファイバ線路１１０は右方向に光を通
す。可変波長光源１２が波長を変化させて光を発生す
る。この光は光変調器１５により変調用電源１４の周波
数で変調されて、光ファイバ線路１１０に入射される。
光ファイバ線路１１０を透過した光は光電変換器２２に
より電気信号に変換され、変調用電源１４の発生する電
気信号と位相比較器２４により位相が比較される。すな
わち、位相差が計算される。位相差から光ファイバ線路
１１０の群遅延や波長分散を求めることができる。
【０００４】なお、一般的には、波長多重（WDM：wavel
ength division multiplying）された光が光ファイバ線
路１１０に入力される。これを前提にして、光ファイバ
線路１１０に１６波、４０波など設計に応じた波長広が
りを有する光を入射することで、光ファイバ線路１１０
の伝送波形品質が保てるように、光ファイバ線路１１０
は設計されている。そこで、個々の光アンプ１１４は、
出射光のレベルが一定になるように自動利得帰還をかけ
ている。
ength division multiplying）された光が光ファイバ線
路１１０に入力される。これを前提にして、光ファイバ
線路１１０に１６波、４０波など設計に応じた波長広が
りを有する光を入射することで、光ファイバ線路１１０
の伝送波形品質が保てるように、光ファイバ線路１１０
は設計されている。そこで、個々の光アンプ１１４は、
出射光のレベルが一定になるように自動利得帰還をかけ
ている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ここで、図８のよう
に、ある特定の狭い範囲の光波長を光ファイバ線路１１
０に入射する場合がある。図８（ａ）は、波長λとパワ
ーＰの関係を示し、図８（ｂ）は、時間ｔとパワーＰの
関係を示す。図８（ａ）に示すように、ある波長λ０に
おいて、パワーが大きくなっている。この場合、図８
（ｂ）に示すように、波形に歪みはない。
に、ある特定の狭い範囲の光波長を光ファイバ線路１１
０に入射する場合がある。図８（ａ）は、波長λとパワ
ーＰの関係を示し、図８（ｂ）は、時間ｔとパワーＰの
関係を示す。図８（ａ）に示すように、ある波長λ０に
おいて、パワーが大きくなっている。この場合、図８
（ｂ）に示すように、波形に歪みはない。
【０００６】図９に、ある特定の狭い範囲の光波長の光
を光ファイバ線路１１０に入射した場合の出射光を示
す。図９（ａ）は、波長λとパワーＰの関係を示し、図
９（ｂ）は、時間ｔとパワーＰの関係を示す。図９
（ｂ）に示すように、出力波形に歪みがでる。すなわ
ち、信号の時間的ふらつき（ジッタ：jitter）をいう。
これは以下のような理由による。
を光ファイバ線路１１０に入射した場合の出射光を示
す。図９（ａ）は、波長λとパワーＰの関係を示し、図
９（ｂ）は、時間ｔとパワーＰの関係を示す。図９
（ｂ）に示すように、出力波形に歪みがでる。すなわ
ち、信号の時間的ふらつき（ジッタ：jitter）をいう。
これは以下のような理由による。
【０００７】すなわち、ある特定の狭い範囲の光波長を
光ファイバ線路１１０に入射すると、光ファイバ線路１
１０のアンプゲインが設計時に想定した範囲を超えて変
化する。よって、この特定波長λ０の光は、設計時に想
定した範囲を超えた強いパワーで伝搬する。強い光が光
ファイバ線路１１０を伝搬すると、光ファイバ線路１１
０が非線形である領域に入ってしまう。光ファイバ線路
１１０の非線形性により、光ファイバ線路１１０の屈折
率が光パワーに応じて時間的に変化するため、出力波形
に歪みがでる。
光ファイバ線路１１０に入射すると、光ファイバ線路１
１０のアンプゲインが設計時に想定した範囲を超えて変
化する。よって、この特定波長λ０の光は、設計時に想
定した範囲を超えた強いパワーで伝搬する。強い光が光
ファイバ線路１１０を伝搬すると、光ファイバ線路１１
０が非線形である領域に入ってしまう。光ファイバ線路
１１０の非線形性により、光ファイバ線路１１０の屈折
率が光パワーに応じて時間的に変化するため、出力波形
に歪みがでる。
【０００８】出力波形が歪むことにより、位相比較器２
４の位相差検出の際にエラーを生じる。よって、位相差
から求められる光ファイバ線路１１０の群遅延や波長分
散をも誤差を生じることとなる。
４の位相差検出の際にエラーを生じる。よって、位相差
から求められる光ファイバ線路１１０の群遅延や波長分
散をも誤差を生じることとなる。
【０００９】なお、光ファイバ線路１１０のゲイン特性
を調整することで、出力波形の歪みを最小限にすること
も可能ではあるが、ゲイン特性の調整は困難である。
を調整することで、出力波形の歪みを最小限にすること
も可能ではあるが、ゲイン特性の調整は困難である。
【００１０】そこで、本発明は、ある特定の狭い範囲の
光波長の光をＤＵＴに入射した場合において出射光の波
形歪みを小さくする装置等を提供することを課題とす
る。
光波長の光をＤＵＴに入射した場合において出射光の波
形歪みを小さくする装置等を提供することを課題とす
る。
【００１１】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、光を透過する被測定物の特性を測定する装置であっ
て、被測定物に入射光を供給する入射光供給手段と、入
射光が被測定物を透過したものである透過光の波形歪を
計測する波形歪計測手段と、波形歪計測手段の計測した
波形歪が所定範囲内におさまるように入射光の出力を調
節する光出力調節手段と、を備えた透過光の波形から被
測定物の特性を測定するものである。
は、光を透過する被測定物の特性を測定する装置であっ
て、被測定物に入射光を供給する入射光供給手段と、入
射光が被測定物を透過したものである透過光の波形歪を
計測する波形歪計測手段と、波形歪計測手段の計測した
波形歪が所定範囲内におさまるように入射光の出力を調
節する光出力調節手段と、を備えた透過光の波形から被
測定物の特性を測定するものである。
【００１２】上記のように構成された光特性測定装置に
よれば、波長が狭い範囲内にある入射光が被測定物に供
給された場合は、透過光の波形に歪が生ずる。そこで、
入射光の出力を調節してノイズとの比率、すなわちS/N
比（signal to noise ratio）を低化させる。ノイズは
比較的、波長が広い範囲内にある。よって、S/N比を適
度に低化させれば、波長が広い範囲内にある入射光を被
測定物に供給できる。よって、出射光の波形歪みを小さ
くすることができる。
よれば、波長が狭い範囲内にある入射光が被測定物に供
給された場合は、透過光の波形に歪が生ずる。そこで、
入射光の出力を調節してノイズとの比率、すなわちS/N
比（signal to noise ratio）を低化させる。ノイズは
比較的、波長が広い範囲内にある。よって、S/N比を適
度に低化させれば、波長が広い範囲内にある入射光を被
測定物に供給できる。よって、出射光の波形歪みを小さ
くすることができる。
【００１３】なお、被測定物としては光ファイバや、光
ファイバに光アンプを組み合わせたものがある。
ファイバに光アンプを組み合わせたものがある。
【００１４】請求項２に記載の発明は、請求項１に記載
の発明であって、入射光供給手段は、可変波長光を生成
する可変波長光源を備え、光出力調節手段は、可変波長
光源の出力を調節する、ものである。
の発明であって、入射光供給手段は、可変波長光を生成
する可変波長光源を備え、光出力調節手段は、可変波長
光源の出力を調節する、ものである。
【００１５】請求項３に記載の発明は、請求項１に記載
の発明であって、入射光供給手段は、光を変調する光変
調手段を備え、光出力調節手段は、光変調手段の出力の
振幅を調節する、ものである。
の発明であって、入射光供給手段は、光を変調する光変
調手段を備え、光出力調節手段は、光変調手段の出力の
振幅を調節する、ものである。
【００１６】請求項４に記載の発明は、請求項１に記載
の発明であって、入射光供給手段は、光を減衰させる光
減衰手段を備え、光出力調節手段は、光減衰手段の減衰
の割合を調節する、ものである。
の発明であって、入射光供給手段は、光を減衰させる光
減衰手段を備え、光出力調節手段は、光減衰手段の減衰
の割合を調節する、ものである。
【００１７】請求項５に記載の発明は、光を透過する被
測定物の特性を測定する装置であって、被測定物に入射
光を供給する入射光供給手段と、入射光が被測定物を透
過したものである透過光の波形歪を計測する波形歪計測
手段と、複数の波長が組み合わされた複数波長光を入射
光に付加する複数波長光付加手段と、波形歪計測手段の
計測した波形歪が所定範囲内におさまるように複数波長
光の出力を調節する複数波長光調節手段と、を備えた透
過光の波形から被測定物の特性を測定するものである。
測定物の特性を測定する装置であって、被測定物に入射
光を供給する入射光供給手段と、入射光が被測定物を透
過したものである透過光の波形歪を計測する波形歪計測
手段と、複数の波長が組み合わされた複数波長光を入射
光に付加する複数波長光付加手段と、波形歪計測手段の
計測した波形歪が所定範囲内におさまるように複数波長
光の出力を調節する複数波長光調節手段と、を備えた透
過光の波形から被測定物の特性を測定するものである。
【００１８】上記のように光特性測定装置によれば、波
長が狭い範囲内にある入射光が被測定物に供給された場
合は、透過光の波形に歪が生ずる。そこで、複数の波長
が組み合わされた複数波長光の出力を調節して、入射光
に付加する。よって、波長が広い範囲内にある入射光を
被測定物に供給できる。よって、出射光の波形歪みを小
さくすることができる。
長が狭い範囲内にある入射光が被測定物に供給された場
合は、透過光の波形に歪が生ずる。そこで、複数の波長
が組み合わされた複数波長光の出力を調節して、入射光
に付加する。よって、波長が広い範囲内にある入射光を
被測定物に供給できる。よって、出射光の波形歪みを小
さくすることができる。
【００１９】請求項６に記載の発明は、請求項５に記載
の発明であって、複数波長光は、ノイズ光である。
の発明であって、複数波長光は、ノイズ光である。
【００２０】請求項７に記載の発明は、請求項５または
６に記載の発明であって、複数波長光付加手段は、入力
を与えないオペアンプであり、複数波長光調節手段はオ
ペアンプの出力を減衰させ、波形歪に応じて減衰の割合
を変更する光減衰手段である。
６に記載の発明であって、複数波長光付加手段は、入力
を与えないオペアンプであり、複数波長光調節手段はオ
ペアンプの出力を減衰させ、波形歪に応じて減衰の割合
を変更する光減衰手段である。
【００２１】請求項８に記載の発明は、請求項１ないし
７のいずれか一項に記載の発明であって、所定範囲内と
は、波形歪が最小であることを意味するものである。
７のいずれか一項に記載の発明であって、所定範囲内と
は、波形歪が最小であることを意味するものである。
【００２２】請求項９に記載の発明は、請求項１ないし
８のいずれか一項に記載の発明であって、入射光供給手
段は、可変波長光を生成する可変波長光源と、可変波長
光を変調する変調周波数を与える変調用電源と、可変波
長光を変調周波数で変調する光変調手段と、を有し、透
過光を光電変換する光電変換手段と、光電変換手段の出
力と、変調用電源の出力とをの位相差を計測する位相比
較手段と、位相差から、被測定物の群遅延または波長分
散を求める特性計算手段と、を備えるように構成され
る。
８のいずれか一項に記載の発明であって、入射光供給手
段は、可変波長光を生成する可変波長光源と、可変波長
光を変調する変調周波数を与える変調用電源と、可変波
長光を変調周波数で変調する光変調手段と、を有し、透
過光を光電変換する光電変換手段と、光電変換手段の出
力と、変調用電源の出力とをの位相差を計測する位相比
較手段と、位相差から、被測定物の群遅延または波長分
散を求める特性計算手段と、を備えるように構成され
る。
【００２３】請求項１０に記載の発明は、光を透過する
被測定物の特性を測定する方法であって、被測定物に入
射光を供給する入射光供給工程と、入射光が被測定物を
透過したものである透過光の波形歪を計測する波形歪計
測工程と、波形歪計測工程において計測された波形歪が
所定範囲内におさまるように入射光の出力を調節する光
出力調節工程と、を備えた透過光の波形から被測定物の
特性を測定する光特性測定方法である。
被測定物の特性を測定する方法であって、被測定物に入
射光を供給する入射光供給工程と、入射光が被測定物を
透過したものである透過光の波形歪を計測する波形歪計
測工程と、波形歪計測工程において計測された波形歪が
所定範囲内におさまるように入射光の出力を調節する光
出力調節工程と、を備えた透過光の波形から被測定物の
特性を測定する光特性測定方法である。
【００２４】請求項１１に記載の発明は、光を透過する
被測定物の特性を測定する方法であって、被測定物に入
射光を供給する入射光供給工程と、入射光が被測定物を
透過したものである透過光の波形歪を計測する波形歪計
測工程と、複数の波長が組み合わされた複数波長光を入
射光に付加する複数波長光付加工程と、波形歪計測工程
において計測された波形歪が所定範囲内におさまるよう
に複数波長光の出力を調節する複数波長光調節工程と、
を備えた透過光の波形から被測定物の特性を測定する光
特性測定方法である。
被測定物の特性を測定する方法であって、被測定物に入
射光を供給する入射光供給工程と、入射光が被測定物を
透過したものである透過光の波形歪を計測する波形歪計
測工程と、複数の波長が組み合わされた複数波長光を入
射光に付加する複数波長光付加工程と、波形歪計測工程
において計測された波形歪が所定範囲内におさまるよう
に複数波長光の出力を調節する複数波長光調節工程と、
を備えた透過光の波形から被測定物の特性を測定する光
特性測定方法である。
【００２５】請求項１２に記載の発明は、光を透過する
被測定物の特性を測定する処理をコンピュータに実行さ
せるためのプログラムを記録したコンピュータによって
読み取り可能な記録媒体であって、被測定物に入射光を
供給する入射光供給処理と、入射光が被測定物を透過し
たものである透過光の波形歪を計測する波形歪計測処理
と、波形歪計測処理において計測された波形歪が所定範
囲内におさまるように入射光の出力を調節する光出力調
節処理と、を備えた透過光の波形から被測定物の特性を
測定する記録媒体である。
被測定物の特性を測定する処理をコンピュータに実行さ
せるためのプログラムを記録したコンピュータによって
読み取り可能な記録媒体であって、被測定物に入射光を
供給する入射光供給処理と、入射光が被測定物を透過し
たものである透過光の波形歪を計測する波形歪計測処理
と、波形歪計測処理において計測された波形歪が所定範
囲内におさまるように入射光の出力を調節する光出力調
節処理と、を備えた透過光の波形から被測定物の特性を
測定する記録媒体である。
【００２６】請求項１３に記載の発明は、光を透過する
被測定物の特性を測定する処理をコンピュータに実行さ
せるためのプログラムを記録したコンピュータによって
読み取り可能な記録媒体であって、被測定物に入射光を
供給する入射光供給処理と、入射光が被測定物を透過し
たものである透過光の波形歪を計測する波形歪計測処理
と、複数の波長が組み合わされた複数波長光を入射光に
付加する複数波長光付加処理と、波形歪計測処理におい
て計測された波形歪が所定範囲内におさまるように複数
波長光の出力を調節する複数波長光調節処理と、を備え
た透過光の波形から被測定物の特性を測定する記録媒体
である。
被測定物の特性を測定する処理をコンピュータに実行さ
せるためのプログラムを記録したコンピュータによって
読み取り可能な記録媒体であって、被測定物に入射光を
供給する入射光供給処理と、入射光が被測定物を透過し
たものである透過光の波形歪を計測する波形歪計測処理
と、複数の波長が組み合わされた複数波長光を入射光に
付加する複数波長光付加処理と、波形歪計測処理におい
て計測された波形歪が所定範囲内におさまるように複数
波長光の出力を調節する複数波長光調節処理と、を備え
た透過光の波形から被測定物の特性を測定する記録媒体
である。
【００２７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。
を参照して説明する。
【００２８】第一の実施形態 図１は、本発明の第一の実施形態にかかる光特性測定装
置の構成を示すブロック図である。第一の実施形態にか
かる光特性測定装置は、光ファイバ線路１１０の一端に
接続される光源システム１０と、光ファイバ線路１１０
の他端に接続される特性測定システム２０と、透過光の
波形歪に基づき光源システム１０の出力を調節ずる光出
力調節システム４０と、を有する。
置の構成を示すブロック図である。第一の実施形態にか
かる光特性測定装置は、光ファイバ線路１１０の一端に
接続される光源システム１０と、光ファイバ線路１１０
の他端に接続される特性測定システム２０と、透過光の
波形歪に基づき光源システム１０の出力を調節ずる光出
力調節システム４０と、を有する。
【００２９】光ファイバ線路１１０は、光ファイバ１１
２と、光ファイバ１１２の途中に接続され、光を増幅す
る光アンプ１１４とを有する。光ファイバ線路１１０は
右方向に光を通す。
２と、光ファイバ１１２の途中に接続され、光を増幅す
る光アンプ１１４とを有する。光ファイバ線路１１０は
右方向に光を通す。
【００３０】光源システム１０は、可変波長光源１２、
変調用電源１４、光変調器１５、光減衰器１６を備え
る。可変波長光源１２は、波長を変化させられる可変波
長光を生成する。可変波長光源１２によって、可変波長
光の波長λｘを掃引することができる。光変調器１５
は、可変波長光を周波数ｆで変調する。光変調器１５
は、リチウム・ナイオベート（ＬＮ）を有する。しか
し、光を変調できれば、ＬＮを有していなくても良い。
光減衰器１６は、可変波長光を減衰させ、光ファイバ線
路１１０に供給する。
変調用電源１４、光変調器１５、光減衰器１６を備え
る。可変波長光源１２は、波長を変化させられる可変波
長光を生成する。可変波長光源１２によって、可変波長
光の波長λｘを掃引することができる。光変調器１５
は、可変波長光を周波数ｆで変調する。光変調器１５
は、リチウム・ナイオベート（ＬＮ）を有する。しか
し、光を変調できれば、ＬＮを有していなくても良い。
光減衰器１６は、可変波長光を減衰させ、光ファイバ線
路１１０に供給する。
【００３１】光ファイバ線路１１０に供給された入射光
は、光ファイバ線路１１０を透過する。光ファイバ線路
１１０を透過した光を透過光という。
は、光ファイバ線路１１０を透過する。光ファイバ線路
１１０を透過した光を透過光という。
【００３２】特性測定システム２０は、光電変換器２
２、位相比較器２４、特性計算部２８を備える。
２、位相比較器２４、特性計算部２８を備える。
【００３３】光電変換器２２は、透過光を電気信号に変
換する。位相比較器２４は、光電変換変換器２２の出力
と、変調用電源１４の出力とをの位相差を計測する。特
性計算部２８は、位相比較器２４が計測した位相に基づ
き、光ファイバ線路１１０の群遅延特性や波長分散特性
を計算する。群遅延特性は、位相比較器２４が計測した
位相と、変調周波数ｆとの関係から計算できる。波長分
散特性は、群遅延特性を波長で微分してもとめることが
できる。
換する。位相比較器２４は、光電変換変換器２２の出力
と、変調用電源１４の出力とをの位相差を計測する。特
性計算部２８は、位相比較器２４が計測した位相に基づ
き、光ファイバ線路１１０の群遅延特性や波長分散特性
を計算する。群遅延特性は、位相比較器２４が計測した
位相と、変調周波数ｆとの関係から計算できる。波長分
散特性は、群遅延特性を波長で微分してもとめることが
できる。
【００３４】光出力調節システム４０は、波形モニタ４
２と、光出力調節部４４とを有する。波形モニタ４２
は、光電変換器２２の出力から、透過光の出力と透過光
の波形歪との関係を計測する。光出力調節部４４は、光
源システム１０を制御して、光源システム１０の発生す
る入射光の出力を調節する。より具体的には、可変波長
光源１２、光変調器１５および光減衰器１６の内の一つ
以上を調節する。
２と、光出力調節部４４とを有する。波形モニタ４２
は、光電変換器２２の出力から、透過光の出力と透過光
の波形歪との関係を計測する。光出力調節部４４は、光
源システム１０を制御して、光源システム１０の発生す
る入射光の出力を調節する。より具体的には、可変波長
光源１２、光変調器１５および光減衰器１６の内の一つ
以上を調節する。
【００３５】すなわち、光出力調節部４４は、可変波長
光源１２の出力を調節する。あるいは、光変調器２２の
出力の振幅を調節する。あるいは、光減衰器１６の減衰
の割合を調節する。このような調節により、光出力調節
部４４は、波形モニタ４２の計測した波形歪が所定範囲
内におさまるようにする。光出力調節部４４は、波形モ
ニタ４２の計測した波形歪が最小になるようにすること
が好ましい。
光源１２の出力を調節する。あるいは、光変調器２２の
出力の振幅を調節する。あるいは、光減衰器１６の減衰
の割合を調節する。このような調節により、光出力調節
部４４は、波形モニタ４２の計測した波形歪が所定範囲
内におさまるようにする。光出力調節部４４は、波形モ
ニタ４２の計測した波形歪が最小になるようにすること
が好ましい。
【００３６】光出力調節部４４が光源システム１０の発
生する入射光の出力を調節することにより、透過光の波
形歪（ジッタ：jitter）が所定範囲内におさまるように
することができる。その原理を図２を参照して説明す
る。なお、ここでいう波形歪（ジッタ）は、信号の時間
的ふらつきをいう。
生する入射光の出力を調節することにより、透過光の波
形歪（ジッタ：jitter）が所定範囲内におさまるように
することができる。その原理を図２を参照して説明す
る。なお、ここでいう波形歪（ジッタ）は、信号の時間
的ふらつきをいう。
【００３７】図２（ａ）に、入射光の波形を示す。入射
光３０は波長λ０であり、ノイズ３２に比べて、波長の
範囲が狭くパワーが大きい。このまま、光ファイバ線路
１１０に入射すると、透過光の波形が歪む。そこで、図
２（ｂ）に示すように、入射光３０の出力パワーを低く
し、ノイズ３２との出力パワーの差分を小さくする。す
なわち、S/N比を低下させる。すると、仮想的な入射光
３４が光ファイバ線路１１０に入射されるとみなすこと
ができる。仮想的な入射光３４は、波長の範囲が広いた
め、透過光の波形歪が最小になる。このときの入射光３
０の出力パワーをＰ０とする。なお、図２（ｃ）に示す
ように、入射光３０の出力パワーをＰ０よりも小さくす
れば、ノイズ３２に埋もれてしまうため、透過光の波形
歪が大きくなる。
光３０は波長λ０であり、ノイズ３２に比べて、波長の
範囲が狭くパワーが大きい。このまま、光ファイバ線路
１１０に入射すると、透過光の波形が歪む。そこで、図
２（ｂ）に示すように、入射光３０の出力パワーを低く
し、ノイズ３２との出力パワーの差分を小さくする。す
なわち、S/N比を低下させる。すると、仮想的な入射光
３４が光ファイバ線路１１０に入射されるとみなすこと
ができる。仮想的な入射光３４は、波長の範囲が広いた
め、透過光の波形歪が最小になる。このときの入射光３
０の出力パワーをＰ０とする。なお、図２（ｃ）に示す
ように、入射光３０の出力パワーをＰ０よりも小さくす
れば、ノイズ３２に埋もれてしまうため、透過光の波形
歪が大きくなる。
【００３８】ここで、光出力と波形歪の関係を図２
（ｄ）に示す。入射光３０の出力パワーがＰ０の場合
に、波形歪が最小値Sminとなる。入射光３０の出力パワ
ーがＰ０を超えても、小さくても、波形歪は大きくな
る。よって、光出力調節部３４が光源システム１０の発
生する入射光の出力を調節してＰ０にするようにすれ
ば、波形歪を小さくできる。
（ｄ）に示す。入射光３０の出力パワーがＰ０の場合
に、波形歪が最小値Sminとなる。入射光３０の出力パワ
ーがＰ０を超えても、小さくても、波形歪は大きくな
る。よって、光出力調節部３４が光源システム１０の発
生する入射光の出力を調節してＰ０にするようにすれ
ば、波形歪を小さくできる。
【００３９】次に、本発明の第一の実施形態の動作を図
３のフローチャートを用いて説明する。まず、可変波長
光源１２が波長を変化させて光を発生する。この光は光
変調器１５により変調用電源１４の周波数ｆで変調され
て、光ファイバ線路１１０に入射される。光ファイバ線
路１１０を透過した光は光電変換器２２により電気信号
に変換され、変調用電源１４の発生する電気信号と位相
比較器２４により位相が比較される。すなわち、位相差
が計算される。位相差から特性計算部２８により、光フ
ァイバ線路１１０の群遅延や波長分散を求めることがで
きる。
３のフローチャートを用いて説明する。まず、可変波長
光源１２が波長を変化させて光を発生する。この光は光
変調器１５により変調用電源１４の周波数ｆで変調され
て、光ファイバ線路１１０に入射される。光ファイバ線
路１１０を透過した光は光電変換器２２により電気信号
に変換され、変調用電源１４の発生する電気信号と位相
比較器２４により位相が比較される。すなわち、位相差
が計算される。位相差から特性計算部２８により、光フ
ァイバ線路１１０の群遅延や波長分散を求めることがで
きる。
【００４０】ここで、波形モニタ４２は、光電変換器２
２の出力から、透過光の出力と透過光の波形歪との関係
を計測する。光出力調節部４４は、波形歪が最小である
か否かを判定する（Ｓ１２）。最小であるか否かは、入
射光の出力パワーに対応する波形歪を記録しておき、最
小になったかを判定してもよい。あるいは、波形歪を入
射光の出力パワーで微分した値が０になったかによって
判定してもよい。もし、波形歪が最小でなければ（Ｓ１
２、Ｎｏ）、入射光の出力を光出力調節部４４が調節す
る（Ｓ１４）。そして、波形歪が最小であるか否かの判
定（Ｓ１２）に戻る。なお、もし、波形歪が最小になれ
ば（Ｓ１２、Ｙｅｓ）、光出力調節装置４０は入射光の
出力の調節を終了する。
２の出力から、透過光の出力と透過光の波形歪との関係
を計測する。光出力調節部４４は、波形歪が最小である
か否かを判定する（Ｓ１２）。最小であるか否かは、入
射光の出力パワーに対応する波形歪を記録しておき、最
小になったかを判定してもよい。あるいは、波形歪を入
射光の出力パワーで微分した値が０になったかによって
判定してもよい。もし、波形歪が最小でなければ（Ｓ１
２、Ｎｏ）、入射光の出力を光出力調節部４４が調節す
る（Ｓ１４）。そして、波形歪が最小であるか否かの判
定（Ｓ１２）に戻る。なお、もし、波形歪が最小になれ
ば（Ｓ１２、Ｙｅｓ）、光出力調節装置４０は入射光の
出力の調節を終了する。
【００４１】第一の実施形態によれば、入射光の波長範
囲が狭くても、S/N比を適度に低下させることで、仮想
的に波長範囲の広い光を入射することができるので、透
過光の波長歪が小さくできる。
囲が狭くても、S/N比を適度に低下させることで、仮想
的に波長範囲の広い光を入射することができるので、透
過光の波長歪が小さくできる。
【００４２】第二の実施形態 第二の実施形態にかかる光特性測定装置は、光出力調節
システム５０のかわりに、入射光に、複数の波長が組み
合わされた複数波長光を付加する複数波長光付加システ
ム５０を有する点で、第一の実施形態と異なる。
システム５０のかわりに、入射光に、複数の波長が組み
合わされた複数波長光を付加する複数波長光付加システ
ム５０を有する点で、第一の実施形態と異なる。
【００４３】図４は、第二の実施形態にかかる光特性測
定装置の構成の概略を示すブロック図である。第二の実
施形態にかかる光特性測定装置は、光ファイバ線路１１
０の一端に接続される光源システム１０と、光ファイバ
線路１１０の他端に接続される特性測定システム２０
と、透過光の波形歪に基づき光源システム１０の出力に
複数波長光を付加する複数波長光付加システム５０と、
を有する。以下、第一の実施形態と同様な部分は、同一
の符号を付して説明を省略する。
定装置の構成の概略を示すブロック図である。第二の実
施形態にかかる光特性測定装置は、光ファイバ線路１１
０の一端に接続される光源システム１０と、光ファイバ
線路１１０の他端に接続される特性測定システム２０
と、透過光の波形歪に基づき光源システム１０の出力に
複数波長光を付加する複数波長光付加システム５０と、
を有する。以下、第一の実施形態と同様な部分は、同一
の符号を付して説明を省略する。
【００４４】光源システム１０は、可変波長光源１２、
変調用電源１４、光変調器１５、光減衰器１６、合波器
１９を備える。合波器１９は、光減衰器１６が出力する
光に、複数波長光付加システム５０の出力を付加する。
合波器１９の出力は入射光として光ファイバ線路１１０
に供給される。
変調用電源１４、光変調器１５、光減衰器１６、合波器
１９を備える。合波器１９は、光減衰器１６が出力する
光に、複数波長光付加システム５０の出力を付加する。
合波器１９の出力は入射光として光ファイバ線路１１０
に供給される。
【００４５】光ファイバ線路１１０に供給された入射光
は、光ファイバ線路１１０を透過する。光ファイバ線路
１１０を透過した光を透過光という。
は、光ファイバ線路１１０を透過する。光ファイバ線路
１１０を透過した光を透過光という。
【００４６】特性測定システム２０は、光電変換器２
２、位相比較器２４、特性計算部２８を有する。特性測
定システム２０の構成は、第一の実施形態と同様であ
る。
２、位相比較器２４、特性計算部２８を有する。特性測
定システム２０の構成は、第一の実施形態と同様であ
る。
【００４７】複数波長光付加システム５０は、波形モニ
タ５２と、複数波長光調節部５４とを有する。波形モニ
タ５２は、光電変換器２２の出力から、透過光の出力と
透過光の波形歪との関係を計測する。複数波長光調節部
５４は複数波長光を生成し、波形モニタ５２の計測結果
に基づき複数波長光の出力パワーを調節して、合波器１
９に供給する。なお、ここでいう複数波長光とは、複数
の波長が組み合わされた光をいう。例えば、複数波長光
は、ＡＳＥ（自然放出光）のようなノイズである。
タ５２と、複数波長光調節部５４とを有する。波形モニ
タ５２は、光電変換器２２の出力から、透過光の出力と
透過光の波形歪との関係を計測する。複数波長光調節部
５４は複数波長光を生成し、波形モニタ５２の計測結果
に基づき複数波長光の出力パワーを調節して、合波器１
９に供給する。なお、ここでいう複数波長光とは、複数
の波長が組み合わされた光をいう。例えば、複数波長光
は、ＡＳＥ（自然放出光）のようなノイズである。
【００４８】複数波長光調節部５４は、オペアンプ５４
ａと、光減衰器５４ｂと、を有する。オペアンプ５４ａ
には入力を与えない。オペアンプ５４ａが出力した光
は、ＡＳＥ（自然放出光）のようなノイズである。光減
衰器５４ｂは、光ファイバ線路１１０を透過した透過光
の波形歪が所定範囲内におさまるように、オペアンプ５
４ａが出力した光を減衰させる。光減衰器５４ｂは、波
形モニタ５２の計測した波形歪が最小になるようにする
ことが好ましい。
ａと、光減衰器５４ｂと、を有する。オペアンプ５４ａ
には入力を与えない。オペアンプ５４ａが出力した光
は、ＡＳＥ（自然放出光）のようなノイズである。光減
衰器５４ｂは、光ファイバ線路１１０を透過した透過光
の波形歪が所定範囲内におさまるように、オペアンプ５
４ａが出力した光を減衰させる。光減衰器５４ｂは、波
形モニタ５２の計測した波形歪が最小になるようにする
ことが好ましい。
【００４９】光減衰器５４ｂがオペアンプ５４ａの出力
した光を減衰させることにより、透過光の波形歪（ジッ
タ：jitter）が所定範囲内におさまるようにすることが
できる。その原理を図５を参照して説明する。なお、こ
こでいう波形歪（ジッタ）は、信号の時間的ふらつきを
いう。
した光を減衰させることにより、透過光の波形歪（ジッ
タ：jitter）が所定範囲内におさまるようにすることが
できる。その原理を図５を参照して説明する。なお、こ
こでいう波形歪（ジッタ）は、信号の時間的ふらつきを
いう。
【００５０】図５（ａ）に、入射光の波形を示す。入射
光３０は波長λ０であり、ノイズ３２に比べて、波長の
範囲が狭くパワーが大きい。このまま、光ファイバ線路
１１０に入射すると、透過光の波形が歪む。そこで、図
５（ｂ）に示すような、オペアンプ５４ａの出力した光
を光減衰器５４ｂにより適度に減衰した付加ノイズ３３
を入射光に付加して、S/N比を低下させる。すると、図
５（ｃ）に示すように、ノイズ３２に付加ノイズ３３が
付加され、ノイズが仮想ノイズ３６のようになる。よっ
て、仮想的な入射光３４が光ファイバ線路１１０に入射
されるとみなすことができる。仮想的な入射光３４は、
波長の範囲が広いため、透過光の波形歪が最小になる。
このときの付加ノイズの出力パワーをＮ０とする。な
お、付加ノイズをＮ０を超えて大きくし過ぎれば、入射
光３０が仮想ノイズ３６に埋もれてしまうため、透過光
の波形歪が大きくなる。
光３０は波長λ０であり、ノイズ３２に比べて、波長の
範囲が狭くパワーが大きい。このまま、光ファイバ線路
１１０に入射すると、透過光の波形が歪む。そこで、図
５（ｂ）に示すような、オペアンプ５４ａの出力した光
を光減衰器５４ｂにより適度に減衰した付加ノイズ３３
を入射光に付加して、S/N比を低下させる。すると、図
５（ｃ）に示すように、ノイズ３２に付加ノイズ３３が
付加され、ノイズが仮想ノイズ３６のようになる。よっ
て、仮想的な入射光３４が光ファイバ線路１１０に入射
されるとみなすことができる。仮想的な入射光３４は、
波長の範囲が広いため、透過光の波形歪が最小になる。
このときの付加ノイズの出力パワーをＮ０とする。な
お、付加ノイズをＮ０を超えて大きくし過ぎれば、入射
光３０が仮想ノイズ３６に埋もれてしまうため、透過光
の波形歪が大きくなる。
【００５１】ここで、付加ノイズ出力と波形歪の関係を
図５（ｄ）に示す。付加ノイズの出力パワーがＮ０の場
合に、波形歪が最小値Sminとなる。付加ノイズの出力パ
ワーがＮ０を超えても、小さくても、波形歪は大きくな
る。よって、光減衰器５４ｂがオペアンプ５４ａの出力
した光を減衰させて出力パワーをＮ０にするようにすれ
ば、波形歪を小さくできる。
図５（ｄ）に示す。付加ノイズの出力パワーがＮ０の場
合に、波形歪が最小値Sminとなる。付加ノイズの出力パ
ワーがＮ０を超えても、小さくても、波形歪は大きくな
る。よって、光減衰器５４ｂがオペアンプ５４ａの出力
した光を減衰させて出力パワーをＮ０にするようにすれ
ば、波形歪を小さくできる。
【００５２】次に、本発明の第二の実施形態の動作を図
６のフローチャートを用いて説明する。まず、可変波長
光源１２が波長を変化させて光を発生する。この光は光
変調器１５により変調用電源１４の周波数ｆで変調され
て、光ファイバ線路１１０に入射される。光ファイバ線
路１１０を透過した光は光電変換器２２により電気信号
に変換され、変調用電源１４の発生する電気信号と位相
比較器２４により位相が比較される。すなわち、位相差
が計算される。位相差から特性計算部２８により、光フ
ァイバ線路１１０の群遅延や波長分散を求めることがで
きる。
６のフローチャートを用いて説明する。まず、可変波長
光源１２が波長を変化させて光を発生する。この光は光
変調器１５により変調用電源１４の周波数ｆで変調され
て、光ファイバ線路１１０に入射される。光ファイバ線
路１１０を透過した光は光電変換器２２により電気信号
に変換され、変調用電源１４の発生する電気信号と位相
比較器２４により位相が比較される。すなわち、位相差
が計算される。位相差から特性計算部２８により、光フ
ァイバ線路１１０の群遅延や波長分散を求めることがで
きる。
【００５３】ここで、波形モニタ５２は、光電変換器２
２の出力から、透過光の出力と透過光の波形歪との関係
を計測する。複数波長光調節部５４は、波形歪が最小で
あるか否かを判定する（Ｓ１２）。最小であるか否か
は、付加ノイズの出力パワーに対応する波形歪を記録し
ておき、最小になったかを判定してもよい。あるいは、
波形歪を付加ノイズの出力パワーで微分した値が０にな
ったかによって判定してもよい。もし、波形歪が最小で
なければ（Ｓ１２、Ｎｏ）、付加ノイズの出力を複数波
長光調節部５４が調節する（Ｓ１４）。そして、波形歪
が最小であるか否かの判定（Ｓ１２）に戻る。なお、も
し、波形歪が最小になれば（Ｓ１２、Ｙｅｓ）、複数波
長光調節部５４は付加ノイズの出力の調節を終了する。
２の出力から、透過光の出力と透過光の波形歪との関係
を計測する。複数波長光調節部５４は、波形歪が最小で
あるか否かを判定する（Ｓ１２）。最小であるか否か
は、付加ノイズの出力パワーに対応する波形歪を記録し
ておき、最小になったかを判定してもよい。あるいは、
波形歪を付加ノイズの出力パワーで微分した値が０にな
ったかによって判定してもよい。もし、波形歪が最小で
なければ（Ｓ１２、Ｎｏ）、付加ノイズの出力を複数波
長光調節部５４が調節する（Ｓ１４）。そして、波形歪
が最小であるか否かの判定（Ｓ１２）に戻る。なお、も
し、波形歪が最小になれば（Ｓ１２、Ｙｅｓ）、複数波
長光調節部５４は付加ノイズの出力の調節を終了する。
【００５４】第二の実施形態によれば、入射光の波長範
囲が狭くても、付加ノイズを付加し、S/N比を低下させ
ることで、仮想的に波長範囲の広い光を入射することが
できるので、透過光の波長歪が小さくできる。
囲が狭くても、付加ノイズを付加し、S/N比を低下させ
ることで、仮想的に波長範囲の広い光を入射することが
できるので、透過光の波長歪が小さくできる。
【００５５】また、上記の実施形態は、以下のようにし
て実現できる。ＣＰＵ、ハードディスク、メディア（フ
ロッピー（登録商標）ディスク、ＣＤ−ＲＯＭなど）読
み取り装置を備えたコンピュータのメディア読み取り装
置に、上記の各部分を実現するプログラムを記録したメ
ディアを読み取らせて、ハードディスクにインストール
する。このような方法でも、上記の機能を実現できる。
て実現できる。ＣＰＵ、ハードディスク、メディア（フ
ロッピー（登録商標）ディスク、ＣＤ−ＲＯＭなど）読
み取り装置を備えたコンピュータのメディア読み取り装
置に、上記の各部分を実現するプログラムを記録したメ
ディアを読み取らせて、ハードディスクにインストール
する。このような方法でも、上記の機能を実現できる。
【００５６】
【発明の効果】本発明によれば、入射光の出力を調節
し、あるいは入射光にノイズ等の複数波長光を付加し
て、入射光とノイズとの比率、すなわちS/N比（signal
to noise ratio）を低化させる。ノイズは比較的、波長
が広い範囲内にある。よって、S/N比を適度に低化させ
れば、波長が広い範囲内にある入射光を被測定物に供給
できる。よって、出射光の波形歪みを小さくすることが
できる。
し、あるいは入射光にノイズ等の複数波長光を付加し
て、入射光とノイズとの比率、すなわちS/N比（signal
to noise ratio）を低化させる。ノイズは比較的、波長
が広い範囲内にある。よって、S/N比を適度に低化させ
れば、波長が広い範囲内にある入射光を被測定物に供給
できる。よって、出射光の波形歪みを小さくすることが
できる。
【図１】本発明の第一の実施形態にかかる光特性測定装
置の構成を示すブロック図である。
置の構成を示すブロック図である。
【図２】透過光の波形歪を所定範囲内におさえる原理を
示す図である。
示す図である。
【図３】本発明の第一の実施形態の動作を示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図４】本発明の第二の実施形態にかかる光特性測定装
置の構成を示すブロック図である。
置の構成を示すブロック図である。
【図５】透過光の波形歪を所定範囲内におさえる原理を
示す図である。
示す図である。
【図６】本発明の第二の実施形態の動作を示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図７】従来技術における、光ファイバ線路の波長分散
特性を測定するときの測定系の構成を示すブロック図で
ある。
特性を測定するときの測定系の構成を示すブロック図で
ある。
【図８】ある特定の狭い範囲の光波長を光ファイバ線路
１１０に入射する場合の入射光の波形図である。
１１０に入射する場合の入射光の波形図である。
【図９】ある特定の狭い範囲の光波長を光ファイバ線路
１１０に入射する場合の出射光の波形図である。
１１０に入射する場合の出射光の波形図である。
１０ 光源システム １２ 可変波長光源 １４ 変調用電源 １５ 光変調器 １６ 光減衰器 １９ 合波器 ２０ 特性測定システム ２２ 光電変換器 ２４ 位相比較器 ２８ 特性計算部 ４０ 光出力調節システム ４２ 波形モニタ ４４ 光出力調節部 ５０ 複数波長光付加システム ５２ 波形モニタ ５４ 複数波長光調節部 ５４ａ オペアンプ ５４ｂ 光減衰器 １１０ 光ファイバ線路 １１２ 光ファイバ １１４ 光アンプ
Claims (13)
- 【請求項１】光を透過する被測定物の特性を測定する装
置であって、 前記被測定物に入射光を供給する入射光供給手段と、 前記入射光が前記被測定物を透過したものである透過光
の波形歪を計測する波形歪計測手段と、 前記波形歪計測手段の計測した前記波形歪が所定範囲内
におさまるように入射光の出力を調節する光出力調節手
段と、 を備えた透過光の波形から被測定物の特性を測定する光
特性測定装置。 - 【請求項２】前記入射光供給手段は、可変波長光を生成
する可変波長光源を備え、 前記光出力調節手段は、前記可変波長光源の出力を調節
する、 請求項１に記載の光特性測定装置。 - 【請求項３】前記入射光供給手段は、光を変調する光変
調手段を備え、 前記光出力調節手段は、前記光変調手段の出力の振幅を
調節する、 請求項１に記載の光特性測定装置。 - 【請求項４】前記入射光供給手段は、 光を減衰させる光減衰手段を備え、 前記光出力調節手段は、前記光減衰手段の減衰の割合を
調節する、 請求項１に記載の光特性測定装置。 - 【請求項５】光を透過する被測定物の特性を測定する装
置であって、 前記被測定物に入射光を供給する入射光供給手段と、 前記入射光が前記被測定物を透過したものである透過光
の波形歪を計測する波形歪計測手段と、 複数の波長が組み合わされた複数波長光を前記入射光に
付加する複数波長光付加手段と、 前記波形歪計測手段の計測した前記波形歪が所定範囲内
におさまるように前記複数波長光の出力を調節する複数
波長光調節手段と、 を備えた透過光の波形から被測定物の特性を測定する光
特性測定装置。 - 【請求項６】前記複数波長光は、ノイズ光である請求項
５に記載の光特性測定装置。 - 【請求項７】前記複数波長光付加手段は、入力を与えな
いオペアンプであり、 前記複数波長光調節手段は前記オペアンプの出力を減衰
させ、前記波形歪に応じて減衰の割合を変更する光減衰
手段である、 請求項５または６に記載の光特性測定装置。 - 【請求項８】前記所定範囲内とは、前記波形歪が最小で
あることを意味する請求項１ないし７のいずれか一項に
記載の光特性測定装置。 - 【請求項９】前記入射光供給手段は、 可変波長光を生成する可変波長光源と、 可変波長光を変調する変調周波数を与える変調用電源
と、 前記可変波長光を前記変調周波数で変調する光変調手段
と、 を有し、 前記透過光を光電変換する光電変換手段と、 前記光電変換手段の出力と、前記変調用電源の出力とを
の位相差を計測する位相比較手段と、 前記位相差から、前記被測定物の群遅延または波長分散
を求める特性計算手段と、 を備えた請求項１ないし８のいずれか一項に記載の光特
性測定装置。 - 【請求項１０】光を透過する被測定物の特性を測定する
方法であって、 前記被測定物に入射光を供給する入射光供給工程と、 前記入射光が前記被測定物を透過したものである透過光
の波形歪を計測する波形歪計測工程と、 前記波形歪計測工程において計測された前記波形歪が所
定範囲内におさまるように入射光の出力を調節する光出
力調節工程と、 を備えた透過光の波形から被測定物の特性を測定する光
特性測定方法。 - 【請求項１１】光を透過する被測定物の特性を測定する
方法であって、 前記被測定物に入射光を供給する入射光供給工程と、 前記入射光が前記被測定物を透過したものである透過光
の波形歪を計測する波形歪計測工程と、 複数の波長が組み合わされた複数波長光を前記入射光に
付加する複数波長光付加工程と、 前記波形歪計測工程において計測された前記波形歪が所
定範囲内におさまるように前記複数波長光の出力を調節
する複数波長光調節工程と、 を備えた透過光の波形から被測定物の特性を測定する光
特性測定方法。 - 【請求項１２】光を透過する被測定物の特性を測定する
処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記
録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体で
あって、 前記被測定物に入射光を供給する入射光供給処理と、 前記入射光が前記被測定物を透過したものである透過光
の波形歪を計測する波形歪計測処理と、 前記波形歪計測処理において計測された前記波形歪が所
定範囲内におさまるように入射光の出力を調節する光出
力調節処理と、 を備えた透過光の波形から被測定物の特性を測定する記
録媒体。 - 【請求項１３】光を透過する被測定物の特性を測定する
処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記
録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体で
あって、 前記被測定物に入射光を供給する入射光供給処理と、 前記入射光が前記被測定物を透過したものである透過光
の波形歪を計測する波形歪計測処理と、 複数の波長が組み合わされた複数波長光を前記入射光に
付加する複数波長光付加処理と、 前記波形歪計測処理において計測された前記波形歪が所
定範囲内におさまるように前記複数波長光の出力を調節
する複数波長光調節処理と、 を備えた透過光の波形から被測定物の特性を測定する記
録媒体。
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