JP2002009452A - 多層プリント回路基板 - Google Patents
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Abstract
シング構成部品が互いに近い場所に配置されるプロセッ
シング回路を提供する。 【解決手段】多層プリント回路基板(270)であっ
て、第1の形状を有する第1の導電面(292)と、第
2の形状を有する第2の導電面(294)とを有し、前
記第1の形状は前記第2の形状と概ね同じであり、前記
第1の導電面(292)は、前記第2の導電面(29
4)に隣接して配置され、前記第1の導電面は、前記第
2の導電面に平行に整列される多層プリント回路基板。
Description
リに関し、より詳細には一体化したプロセッサおよび電
源アセンブリ、およびアセンブリに使用される多層プリ
ント回路基板に関する。
は一般に、安定しており、過渡変動のない直流(DC)
電圧を必要とする。従って、プロセッシング回路および
他の電子回路は、安定し、過渡変動のない電源に電気的
に接続される必要がある。DC電源における過渡変動あ
るいは他の変動によって、プロセッシング回路および他
の電子回路は異常状態あるいは障害を引き起こすように
なる。
電圧変動によって引き起こされる問題に非常に影響を受
けやすい。これらの電圧変動の中には、過渡的な負荷電
流およびDC電源の他の変動によって引き起こされる変
動がある。過渡的な電流は、固有インダクタンスと反応
し、電圧変動を引き起こし、その電圧変動は、インダク
タンス、および時間についての電流の導関数に比例す
る。
速のクロック信号により、プロセッシング回路内を流れ
るデータ信号を制御する。クロックおよびデータ信号
は、論理「ハイ」状態、あるいは論理「ロー」状態を有
する電圧である。DC電源上の過渡的な電流(ここでは
単に過渡電流と呼ぶ)によって、クロックおよびデータ
信号は、受信回路によって、誤ってハイ状態あるいはロ
ー状態として判断されるようになる。クロック信号が誤
って判断されると、プロセッシング回路内を流れるデー
タの流れに誤りが生じ、データ信号が不適切に処理され
るようになる場合がある。データ信号が誤って解釈され
ると、不適切なデータ値が処理されることとなる。
クロック信号周波数および過渡的な負荷電流が増加す
る。さらに、クロック動作電圧の大きさは減少する。例
えば、高周波数のクロックは、1.3Vの電圧を用いる
場合がある。クロック信号の周波数が高くなると、クロ
ックおよびデータ信号がハイ状態あるいはロー状態のい
ずれかをとる時間が減少する。所与の状態の時間が制限
され、これが動作電圧の低下と結び付くと、クロック動
作電圧上の電圧変動の危険な状態が増す。従って、非常
に小さな電圧変動でも、クロックあるいはデータ信号を
強制的に誤った状態にしてしまう可能性が高い。それゆ
え、高周波数クロックを用いるプロセッシング回路は、
DC電源の比較的小さな過渡変動および他の電圧変動に
よって引き起こされる誤りの影響を非常に受けやすくな
る。高精度に調整され、安定したDC電源を用いなけれ
ば、プロセッシング回路のクロック速度、ひいては処理
能力が制限される。
過渡変動を低減する1つの方法は、プロセッシング回路
のプロセッシング構成部品に物理的に近い場所に電源を
配置することによる。このように近くに配置することに
より、電源とプロセッシング構成部品との間の導体の距
離が短くなり、それにより導体のインダクタンスが減少
する。導体の長さは、しばしば正味の長さと呼ばれる。
正味の長さが短くなると、インダクタンスは減少し、ひ
いては電圧変動も減少する。
物理的に近い場所に電源を配置することにより、プロセ
ッシング回路の性能を劣化させる、さらに別の問題が発
生する。例えば、電源をプロセッサの近くに配置するこ
とにより、メモリインターフェース回路、リモート入力
/出力インターフェース回路、クロスバー通信回路およ
びクロック分散回路のような他の構成部品が、必然的に
プロセッサから離れて配置されるようになり、それゆ
え、これらの多様な、しかし重要なコンピュータサブシ
ステムそれぞれにおいて性能のボトルネックを生み出
す。例えば、複数のメモリ構成部品は、プロセッシング
構成部品から非常に離れて配置されなければならない場
合がある。従って、これらのメモリ構成部品に関連する
正味の長さは増加する。正味の長さが増加すると、プロ
セッシング構成部品とその関連する複数の構成部品との
間の待ち時間が長くなり、プロセッシング回路の動作速
度を低下させる。例えば、ある構成部品は、プロセッシ
ング回路から受信した信号に応答するために、数サイク
ルのクロックを必要とする場合がある。
されるときに、他の問題が生じる。例えば、電源および
プロセッシング構成部品はいずれも、他の部品に比べて
多量の熱を発生する。電源がプロセッシング構成部品に
物理的に近い場所に配置されるとき、プロセッシング構
成部品の近くに高密度の熱が生成される。この熱はプロ
セッシング構成部品に悪影響を及ぼす。すなわち、高温
は、シリコントランジスタのスイッチング時間に悪い方
に影響し、プロセッサの動作周波数を激しく劣化させ
る。熱を十分に除去するには、冷凍あるいは低温冷却シ
ステムのような、比較的複雑で、高価な冷却システムを
使用する必要がある。これらの冷却システムはプロセッ
シング回路のコストおよび複雑さを増すだけでなく、プ
ロセッシング回路の信頼性を低下させる。
び経路選択リソースの問題を解決する1つの方法は、プ
ロセッシングおよびメモリサブシステムのために個別の
プリント回路基板アセンブリを備えることである。しか
しながら、個別のサブシステムを設けることは、プロセ
ッシング−メモリ間インターフェースの動作を犠牲にす
る。多数のコネクタおよび多数の基板間の待ち時間が長
くなり、帯域幅は減少する。従って、実現可能な最も高
い性能を達成することはできない。
他の電子回路の能力を制限している。
は、電圧変動に対する影響を受けにくく、プロセッシン
グ構成部品が互いに近い場所に配置されるプロセッシン
グ回路を提供することである。
電流および他の発生源によって生じる電圧変動への影響
を最小限に抑えるプロセッシング回路に向けられる。プ
ロセッシング回路は例えば、プロセッサ、メモリ、およ
びそれらの部品に電気的に接続される他の関連する電子
部品を搭載した多層プリント回路基板を備える。電源回
路は、プロセッシング回路に電気的に接続することがで
きる個別のプリント回路基板上に配置することができ
る。
よび絶縁層を交互に積層して形成することができる。電
源は、複数の導電層(しばしば電源面と呼ばれる)を用
いて、プリント回路基板上の構成部品に供給される。プ
ロセッシング回路は、隣接する導電層上に配置される同
一の電源面を有することができる。多数の電源面は、電
源と構成部品との間のキャパシタンスを増加させ、イン
ダクタンスを減少させ、電源面上の過渡変動を減少させ
る。また電源面は、各層が異なる電源に関連する電源面
を有するように分割される場合もある。分割された電源
面は、実効的な面の幅が低減されるため、電源面上で過
渡変動が増加すると、電圧変動が増加するので、電源に
関連するインダクタンスを増加させる。しかしながら、
このインダクタンスは、キャパシタンスを増加させるこ
とにより、相殺することができる。
セッシング構成部品の近くに配置され、プロセッサおよ
び他の電子構成部品を「リング状に取り囲む」、すなわ
ち包囲する場合がある。そのコンデンサは、電源面とそ
の各グランド面との間に電気的に接続される場合があ
る。コンデンサは、プロセッシング構成部品からの過渡
変動によって引き起こされる電源面上の電圧変動を低減
するように機能する。各容量性素子と電源面との間には
インダクタンスが存在し、そのインダクタンスは、接続
用バイアの数およびその位置関係によって決定される。
いくつかのバイアは各コンデンサと導電面との間を通過
し、さらに電源に関連するインダクタンスを低減するこ
とができる。並列に多数のバイアを加えることにより、
実効的な直列インダクタンスと実効的な直列抵抗とを低
減するように機能する。
成部品を含むプロセッシングのための領域と、メモリ構
成部品を含むメモリ領域とを有することができる。メモ
リ領域は、従来のデュアル・インライン・メモリ・モジ
ュール(DIMM)を挿入することができる複数のソケ
ットを有する場合がある。複数のDIMMは、互いに並
列に、それゆえ複数のDIMM間に空気流路を形成する
ように配列することができる。メモリ領域内に配置され
るDIMMの数に関係なく、その流路内の空気流は概ね
一定に保持される。
接続されることができ、そのいずれもシャーシに物理的
に取り付けることができる。シャーシは、その中に形成
され、プロセッシング回路および電源回路の種々の領域
にわたって空気流を調整する複数の通風孔を有する場合
がある。通風孔の大きさを変更することにより、回路の
種々の領域にわたって通り抜ける空気の量を調整するこ
とができる。従って、最も熱を発生する構成部品、ある
いは最も熱に関連する問題の影響を受けやすい構成部品
は、最も多量の空気を受けることができる。
の形状を有する第1の導電面294と、第2の形状を有
する第2の導電面296とを備える多層プリント回路基
板270を示しており、第1の形状は第2の形状と概ね
同じであり、第1の導電面294は第2の導電面296
に隣接して配置され、第1の導電面294は、第2の導
電面296に平行に、かつ整列して配置される。
4と、その表面284に概ね平行な第1の導電面294
と、関連する第1の導体408を有し、表面284に隣
接している少なくとも1つの電子構成部品400と、第
1の導電面294と第1の導体408との間に延在する
第1の複数のバイア412、414とを備える多層プリ
ント回路基板270を示す。
てきたが、ここで、より詳細に記載する。
は、図1のセルアセンブリ100を参照して記載される
が、それは本発明を限定するものではない。セルアセン
ブリ100はシャーシ110を備えることができ、その
シャーシに回路基板200が取り付けられる。ここに示
されるセルアセンブリ100は2つの回路基板200、
すなわち電源ボード204とプロセッサボード240と
を備える。プロセッサボード240は、プロセッシング
セクション242と、メモリセクション244と、容量
性のバルクエネルギー蓄積セクション245(しばし
ば、単に「容量性セクション」と呼ばれる)とに分割さ
れる場合があり、それが以下に、より詳細に記載され
る。
し、かつ回路基板200がその機械的な限度を越えるほ
ど撓まないようにするように機能することができる。シ
ャーシ110は前面部112と、後面部114と、左側
面部116と、右側面部118とを有する。前面部11
2には、従来の取っ手120が取り付けられる場合があ
る。取っ手120は、より大きなアセンブリ、例えばコ
ンピュータサーバに対してセルアセンブリ100を抜き
差しするために設けられる場合がある。後面部114に
は、コネクタ122を取り付けることができる。コネク
タ122は、回路基板200に電気的、かつ機械的に接
続されることができる。限定はしないが、ある実施形態
では、電源ボード204は、前面部112まで延在し、
かつ当接することができることに留意されたい。
と、第2の仕切り126と、第3の仕切り128とが取
り付けられる。第1の仕切り124は、第2の仕切り1
26とともに、電源ボード204と、プロセッサボード
240の容量性セクション245とを、プロセッサボー
ド240の残りの部分から分離するように機能すること
ができる。第2の仕切り126は、第3の仕切り128
とともに、プロセッサボード240のメモリセクション
244を、電源ボード204と、プロセッサボード24
0のプロセッシングセクション242との両方から分離
するように機能することができる。また仕切り124、
126および128は、シャーシ110の空気の流れを
容易にするためにも機能する。また仕切り124、12
6および128は、回路基板200を補強するように機
能し、回路基板が機械的な制限を越えて撓むのを防ぐ。
100の右側面部118の側面図が示されており、シャ
ーシ110が、上面部130と底面部132とを有する
ことができる。上面部130は、硬いプレートを有して
おり(図示せず)、シャーシ110を覆うために取り付
けられることに留意されたい。別法では、硬いプレート
はメモリセクション244に関連する開口部を有し、メ
モリセクションに配置される電子構成部品に容易にアク
セスできるようにする場合ある。同様に、底面部132
ににも、図には示されないが、硬いプレートが取り付け
られる場合がある。
が形成される場合がある。グリル140は、第1のグリ
ル142と、第2のグリル144と、第3のグリル14
6と、第4のグリル148として示される。第1のグリ
ル142は、前面部112と第1の仕切り124との間
に配置される。第2のグリル144は、第1の仕切り1
24と第2の仕切り126との間に配置され、電源ボー
ド204の位置に対応する。第3のグリル146は、第
2の仕切り126と第3の仕切り128との間に配置さ
れ、プロセッサボード240のメモリセクション244
の位置に対応する。第4のグリル148は、第3の仕切
り128と後面部114との間に配置され、プロセッサ
ボード240のプロセッシングセクション242の位置
に対応する。
は複数のグリル149が形成され、それは、右側面部1
18に形成されるグリル140と概ね同じである。より
具体的には、左側面部116は、第1のグリル150
と、第2のグリル152と、第3のグリル154と、第
4のグリル156とを有する場合がある。以下に詳細に
記載するように、グリル140および149は、セルア
センブリ100の種々のセクションに調整された空気流
を供給するように機能することができる。
回路基板200が記載される。
40に調整された電圧を供給するいくつかの構成部品を
有することができる。電源ボード204は、直流(D
C)電圧を受け取り、プロセッサボード240が使用す
るための正確なDC電圧に変換し、調整することができ
る。ここに記載されるセルアセンブリ100では、電源
ボード204は、2.0、1.8、2.5および3.3
VのDC電圧を供給する。図3を手短に参照すると、セ
ルアセンブリ100の平面図が示されており、プロセッ
サボード240に多数のコネクタ208を介してDC電
圧が供給される。ここに記載される例は、限定するもの
ではないが、電源ボード204は2.0Vの4つの電源
と、3.3Vの2つの電源を供給する。
240のメモリセクション244には、複数のデュアル
インラインメモリモジュール(DIMM)248が電気
的、かつ機械的に接続される場合がある。DIMM24
8は、従来のコネクタを用いて、プロセッサボード24
0に着脱可能に接続することができる。DIMM248
は、プロセッサボード240に概ね垂直な複数のプリン
ト回路基板からなることができる。DIMM248は、
シャーシ110の左側面部116と右側面部118に概
ね垂直な方向に向けることができる。従って、複数のD
IMM248の配列によって、複数のDIMM248間
に空気流路250を形成することができる。図1のプロ
セッサボード240には、32枚のDIMM248が接
続される。しかしながら、DIMM248の数は、セル
アセンブリ100のプロセッシングの応用形態に応じて
変更される場合があることに留意されたい。
セクション242には、複数のプロセッサ254を電気
的、かつ機械的に接続することができる。プロセッサ2
54は、図5を参照して以下に、より詳細に記載され
る。プロセッサ254は例えば、ヒューレット・パッカ
ード社から市販される、PA8500、PA8600あ
るいはPA8700のようなタイプのプロセッサを用い
ることができる。プロセッサボード240のアーキテク
チャは、種々のプロセッサ254が取り付けられること
を考慮することができる。例えば、プロセッサ254
は、全てPA8500タイプからなるか、PA8600
タイプからなる場合がある。
ク256が関連する場合がある。各ヒートシンク256
には、複数のフィン258を取り付けることができる。
図1に示されるように、フィン258は概ね平坦であ
り、シャーシ110の左側面部116と右側面部118
とに概ね垂直な方向に向けられることができる。フィン
258の配列によって、フィンの間に位置する複数の空
気流路が形成される。セルアセンブリ100の動作中
に、プロセッサ254は過剰な熱を生成する場合があ
る。ヒートシンク256は、熱をプロセッサ254から
フィン258に移動させる。空気は、シャーシ110の
右側面部118上の第4のグリル148と、左側面部1
16上の第4のグリル156との間を流れる。その際
に、空気は複数のフィン258間の空気流路260内を
流れ、セルアセンブリ100から熱を除去する。
ン245には、複数の電解コンデンサ246を電気的、
かつ機械的に接続することができる。容量性セクション
245には、限定はしないが、一例では約81個の電解
コンデンサ246が配置される場合がある。各電解コン
デンサ246は例えば、約3,900μFの値を有する
場合がある。電解コンデンサ246は、電源ボード20
4と、プロセッサボード240上の構成部品との間の電
圧ライン上のあらゆる電圧変動を減少させるように機能
することができる。また電解コンデンサ246は、DC
電圧上に存在する低周波数のAC成分を除去するように
も機能することができる。
トを記載してきたが、ここで回路基板200を記載す
る。
層プリント回路基板206を備えており、基板206に
は、複数の電子構成部品を電気的、かつ機械的に接続す
ることができる。図4は、ここに示されるような電源ボ
ード204の一実施形態の概略図を示すが、本発明を限
定するものではない。プロセッサボード240のような
周辺装置への接続は、複数のコネクタ207を介して行
うことができる。コネクタ207は、図3のコネクタ2
08の一部である。
つのボルテージレギュレータが機械的、かつ電気的に接
続される。第1のボルテージレギュレータ211および
第2のボルテージレギュレータ212はそれぞれ、約
2.0Vを出力することができる。第3のボルテージレ
ギュレータ213は約1.8Vを出力することができ
る。第4のボルテージレギュレータ214および第5の
ボルテージレギュレータ215はそれぞれ約3.3Vを
出力することができる。第6のボルテージレギュレータ
216および第7のボルテージレギュレータ217はそ
れぞれ約2.0Vを出力することができる。上記の電圧
は、コネクタ207を介して、図1のプロセッサボード
240に出力されることができる。またコネクタ207
は、図1のコネクタ122を介して、レギュレータに未
調整の電圧を供給することもできる。電源ボード204
は、ここでは、その上に7つの個別の電源が配置されて
記載されていることに留意されたい。しかしながら、電
源ボード204には、プロセッサボード240のプロセ
ッシングの応用形態に応じて、任意の数の種々の電源を
配置できることを理解されたい。
が、一例では複数の導電層と絶縁層とを交互に積層して
形成することができる。上記のレギュレータは、導電層
を介して、コネクタ207に電気的に接続することもで
きる。
でプロセッサボード240を記載する。図5には、プロ
セッサボード240の構成部品の位置を示す概略図が示
されるが、本発明を限定するものではない。プロセッサ
ボード240はプリント回路基板270を有し、基板2
70には、複数の電子構成部品を電気的、かつ機械的に
接続することができる。プリント回路基板270は前面
272と、背面274と、右側面276と、左側面27
8とを有する場合がある。これらの前面、背面および側
面は、電子構成部品が接続される上側表面284の境界
を画定することができる。また電子構成部品は、図には
示されないが、上側表面284と反対側にある下側表面
にも接続される場合があることに留意されたい。プリン
ト回路基板270は比較的小さくすることができる。例
えば、前面272と背面274との間の距離は、57.
15cm(22.5インチ)以下にすることができる。
左側面276と右側面278との間の距離は、41.9
1cm(16.5インチ)以下にすることができる。従
って、図1のシャーシ110の大きさを制限できる。例
えば、左側面部116と右側面部118との間の距離
は、46.99cm(18.5インチ)以下にすること
ができる。前面部112と後面部114との間の距離
は、73.66cm(29.0インチ)以下にすること
ができる。
22は、プリント回路基板270の前面272に電気
的、かつ機械的に接続することができる。別のコネクタ
209は、プリント回路基板270の背面274に電気
的、かつ機械的に接続することができる。コネクタ20
9は、電源ボード204上の図4に示されるコネクタ2
07と嵌合する。従って、DC電圧は、コネクタ209
を介して、プリント回路基板270上の電子構成部品に
供給されることができる。
基板270の背面274に隣接して配置することができ
る。従って、電解コンデンサ246は、コネクタ209
と、プリント回路基板270に接続される他の構成部品
との間の電源ライン上に位置する最初の構成部品であ
る。以下に、より詳細に記載するように、電解コンデン
サ246は、プリント回路基板270に供給されるDC
電圧上に存在するあらゆる低周波数のAC成分を除去す
るように機能する。また電解コンデンサ246は、DC
電圧ライン上で生じる場合がある電圧変動を抑圧するよ
うにも機能する。
ン244は、容量性セクション245に隣接して配置す
ることができる。メモリセクション244は、限定はし
ないが、図5の実施形態では、互いに概ね同じである場
合がある第1の領域302と第2の領域304とを有す
るものとして示される。第1の領域302および第2の
領域304はいずれも、限定はしないが、一例では、図
1を参照して上に述べたように、複数のDIMMを含
む。DIMMは、図5には示されないが、従来のコネク
タを介して、プリント回路基板270に電気的、かつ機
械的に接続することができる。従って、DIMMは容易
に取り替えることができる。
のコンデンサアレイ310は、第1の領域302に隣接
して配置することができる。第1のコンデンサアレイ3
08は、容量性セクション245と第1の領域302と
の間に配置することができる。第2のコンデンサアレイ
310は、第1の領域302とプロセッシングセクショ
ン242との間に配置することができる。第1のコンデ
ンサアレイ308および第2のコンデンサアレイ310
はそれぞれ、限定はしないが、一例ではアレイ内に43
個の面実装コンデンサを有することができる。例示の目
的上、図5には個々のコンデンサは示されない。アレイ
308、310内の少なくともいくつかのコンデンサ
は、0.1〜10μFの値を有するセラミックコンデン
サを用いることができる。さらに別の例では、アレイ3
08、310内の少なくともいくつかのコンデンサは、
約2.2μFの値を有するセラミックコンデンサを用い
ることができる。さらに別の例では、アレイ308、3
10内の少なくともいくつかのコンデンサは、75〜1
50μFの値を有するタンタルコンデンサを用いること
ができる。さらに別の例では、アレイ308、310内
の少なくともいくつかのコンデンサは、約100μFの
値を有するタンタルコンデンサを用いることができる。
上記のコンデンサ値は、20%の許容範囲を有する場合
があることを理解されたい。第1の領域302と同様
に、第1のコンデンサアレイ312および第2のコンデ
ンサアレイ314は、第2の領域304に隣接して配置
することができる。第1のコンデンサアレイ312は、
容量性セクション245と第2の領域304との間に配
置することができる。第2のコンデンサアレイ314
は、第2の領域304とプロセッシングセクション24
2との間に配置することができる。第1のコンデンサア
レイ308および第2のコンデンサアレイ310内のコ
ンデンサは、限定はしないが、一例ではアレイ308お
よび310を参照して上に述べたコンデンサ値に等価な
値を有することができる。
び面と、その各グランド面との間に電気的に接続される
バイパスコンデンサを構成することができる。以下に記
載されるように、そのコンデンサは、メモリセクション
244において過渡変動によって生じる電圧変動を抑圧
し、DIMM内のデータが破損するのを防ぐように機能
することができる。
数のプロセッサ254を配置することができる。ここに
示されるプリント回路基板270には、プロセシングセ
クション242内の4つのプロセッサ254と制御回路
とが配置される。プロセッサ254は、第1のプロセッ
サ332と、第2のプロセッサ334と、第3のプロセ
ッサ336と、第4のプロセッサ338とを有するもの
として示される。制御回路は制御回路340として示さ
れる。他の構成部品もプロセッシングセクション242
に接続できることに留意されたい。以下に詳細に記載す
るように、プロセッサ254は、制御回路340に電気
的に接続することができる。性能を改善するために、プ
ロセッサ254は、制御回路340のできるだけ近い場
所に配置される場合がある。さらに、プロセッサ254
は、制御回路340から等距離に配置される場合もあ
り、それにより制御回路340とプロセッサ254との
間のタイミングを改善する。
イパスコンデンサとも呼ばれる、コンデンサのアレイに
よって概ね包囲される場合がある。そのアレイの配列
は、しばしばプロセッサを物理的に「リング状に取り囲
む」、すなわち包囲する。限定はしないが、ここに記載
される例では、複数のプロセッサ254の各々は、コン
デンサからなる2つのリングによって包囲される。全て
のプロセッサ254の一例として、第1のプロセッサ3
32を参照すると、第1のプロセッサ332は、コンデ
ンサからなる内側リング342と外側リング344とに
よって包囲される場合がある。内側リング342は4つ
のセグメント、すなわち第1のセグメント350と、第
2のセグメント352と、第3のセグメント354と、
第4のセグメント356とから構成することができる。
各セグメントは例えば、9個の面実装コンデンサを有す
る場合があり、コンデンサは0.01〜0.10μF±
20%の値を有することができる。さらに別の例とし
て、コンデンサの中には、約2.2μFの値を有するも
のもある。また外側リング344は4つのセグメント、
すなわち第1のセグメント360と、第2のセグメント
362と、第3のセグメント364と、第4のセグメン
ト366とから構成することができる。各セグメントは
例えば、9個の面実装コンデンサを有する場合があり、
コンデンサは0.01〜1.0μF±20%の値を有す
ることができる。さらに別の例として、コンデンサの中
には、約2.2μFの値を有するものがある。残りのプ
ロセッサはそれぞれ、第1のプロセッサ332と同様の
内側リングおよび外側リングによって包囲される場合が
ある。上記のコンデンサの数は、特定の応用形態に応じ
て異なる場合があることに留意されたい。コンデンサ
は、電源ラインとその各グランドとの間に電気的に接続
され、過渡変動による電圧変動を抑圧するように機能す
ることができる。例示の目的上、セグメント内の個々の
コンデンサは示されていないことに留意されたい。
0も、コンデンサからなるリング370によって包囲さ
れる場合がある。リング370は、第1のセグメント3
72と、第2のセグメント374と、第3のセグメント
376と、第4のセグメント378とを有することがで
きる。第1のセグメント372および第2のセグメント
374はそれぞれ14個の面実装コンデンサを有する場
合がある。第3のセグメント376および第4のセグメ
ント378はそれぞれ15個の面実装コンデンサを有す
る場合がある。限定はしないが、一例として、リング3
70内のコンデンサの中には、0.01〜10.0μF
±20%の値を有するものがある。さらに別の例とし
て、コンデンサの中には、約2.2μFの値を有するも
のがある。コンデンサは、電源ラインとその各グランド
との間に電気的に接続され、過渡変動あるいは他の電圧
変動が制御回路340に達する前に、過渡変動あるいは
他の電圧変動を抑圧するように機能することができる。
例示の目的上、セグメント内の個々のコンデンサは示さ
れていないことに留意されたい。
クション242は、コンデンサからなるリング379に
よって概ね包囲される場合がある。コンデンサは、第1
〜第8のセグメントと呼ばれ、参照番号380〜387
で参照されるセグメントに配列することができる。各セ
グメントは例えば、18個〜25個の面実装コンデンサ
を有する場合がある。コンデンサの中には、例えば、
1.0〜10.0μF±20%の値を有するものがあ
る。さらに別の例では、コンデンサの中には、約2.2
μFの値を有するものもある。コンデンサは、電源ライ
ンとその各グランドとの間に電気的に接続され、過渡変
動あるいは他の電圧変動がプロセッシングセクション2
42内に配置される構成部品に達する前に、過渡変動お
よび他の電圧変動を抑圧することができる。
9内のコンデンサは、高周波数の過渡変動および他の電
圧変動を抑圧するために、電源面とその各グランド面と
の間に位置するバイパスコンデンサとして機能すること
ができる。上記のように、コンデンサは、プロセッサ2
54と制御回路340とを概ね包囲する。従って、電源
供給ライン上の過渡変動および他の電圧変動によって、
プロセッサ254と、プロセッシングセクション242
内に配置される制御回路340および他の電子構成部品
に障害を及ぼすことはほとんどない。コンデンサは例え
ば、互いに、0.381mm(0.015インチ)±2
0%の間隔で配置される。隣接するコンデンサ間のバイ
アの離隔距離は、0.127〜2.032cm(0.0
5〜0.8インチ)にすることができる。
デンサが上側表面284に取着されているものとして記
載されていることに留意されたい。また、さらに別のコ
ンデンサが、上側表面284と反対側にある下側表面に
取着される場合があることにも留意されたい。追加され
るコンデンサは、電源面とグランド面との間のキャパシ
タンスを2倍にするように機能する。上記のように、電
源面と関連するグランド面は、上側表面284付近に配
置することができる。従って、下側表面に追加されるコ
ンデンサは、電源面に到達するために必要とされるバイ
アが長くなることに起因して、そのコンデンサに関連す
るインダクタンスがわずかに高くなるであろう。より厳
密には、導電層282と、プリント回路基板270の上
側表面284上で電力を消費する素子との間の距離が長
くなることに起因して、インダクタンスが高くなる場合
がある。
部品を記載してきたが、ここでプリント回路基板270
自体を記載する。プリント回路基板270の動作の説明
は、この説明の後に与えられる。
回路基板を用いることができる。図6は、一例としてプ
リント回路基板270を形成することができる層を示す
が、それは本発明を限定するものではない。プリント回
路基板270は、複数の誘電体層280と導電層282
とを交互に積層して製造することができる。誘電体層2
80は、例えば、従来のFR4材料から形成することが
できる。誘電体層280は例えば、0.0635〜0.
1016mm(0.0025〜0.004インチ)の厚
さを有することができる。プリント回路基板270の全
厚は、例えば、約0.3302cm(約0.13イン
チ)とすることができる。導電層242は銅あるいは他
の従来の導電性材料から形成することができる。図6
は、限定はしないが、導電層282それぞれの製造にお
いて用いることができる銅の重さの一例を示す。その層
に加えて、プリント回路基板270は、電子構成部品を
搭載することができる上側表面284を有する。電子構
成部品は、プリント回路基板270の下側表面にも電気
的、かつ機械的に接続される場合があることに留意され
たい。
に記載するために、第1の誘電体層286と、第2の誘
電体層288と、第3の誘電体層290とを参照する
が、それは本発明を限定するものではない。第1の導電
層292は第1の誘電体層286の上側に、かつ隣接し
て配置される。第2の導電層294は、第1の誘電体層
286と第2の誘電体層288との間に配置される。第
3の導電層296は、第2の誘電体層288と第3の誘
電体層290との間に配置される。第4の導電層298
は、第3の誘電体層290の下側に、かつ隣接して配置
される。限定はしないが、ここに記載される実施形態で
は、第1の導電層292および第4の導電層298はグ
ランド面である。第2の導電層294および第3の導電
層296は、プリント回路基板270に取着される構成
部品にDC電圧を供給する。限定はしないが、ここに記
載される実施形態では、第2の導電層294および第3
の導電層296は、プリント回路基板270に取り付け
られる電子構成部品に2Vを供給する、概ね同じ導電面
である。その厚さは例えば、プリント回路基板製造用の
28.3495〜56.699g(1〜2オンス)の従
来の銅に基づいて決定される。
96の物理的なレイアウトが図7に示される。上記のよ
うに、第2の導電層294は、第3の導電層296と概
ね同じである。従って、例示の目的上、図7には第2の
導電層294のみが示される。第2の導電層294は4
つの個別のセクション、すなわち第1の面セクション3
90と、第2の面セクション392と、第3の面セクシ
ョン394と、第4の面セクション396とに分割する
ことができる。その4つのセクションは互いに電気的に
接触していない。第2の導電層294は、しばしば「分
割電源面」と呼ばれる。なぜなら、導電面282が種々
のセクションに分割されているためである。動作中に、
第2の導電層294の各セクションは、グランド面を基
準にして、概ね同じ電圧、例えば2Vにバイアスされ
る。
ョン390は、第1のボルテージレギュレータ211に
電気的に接続することができる。第2の面セクション3
92は、第2のボルテージレギュレータ212に電気的
に接続することができる。第3の面セクション394
は、第6のボルテージレギュレータ216に電気的に接
続することができる。第4の面セクション396は、第
7のボルテージレギュレータ217に電気的に接続する
ことができる。従って、第1のプロセッサ332は、第
1のボルテージレギュレータ211から電圧を供給され
ることができる。第2のプロセッサ334は、第2のボ
ルテージレギュレータ212から電圧を供給されること
ができる。第4のプロセッサ338は、第6のボルテー
ジレギュレータ216から電圧を供給されることができ
る。第3のプロセッサ336は、第7のボルテージレギ
ュレータ217から電圧を供給されることができる。
分割することにより、第2の導電層294とその各グラ
ンド面、すなわち第1の導電層292との間のインダク
タンスが増加する。しかしながら、第3の導電層296
とその各グランド面、すなわち第4の導電層298とを
追加することにより、全体としての正味のインダクタン
スは減少する。電圧変動は、インダクタンスに、時間に
ついての電流の導関数を掛け合わせた値に比例する。こ
うして、低減されたインダクタンスは、電圧変動を制限
するように機能する。従って、インダクタンスを低減さ
れた第2の導電層294上で過渡変動が生じるとき、電
圧変動の大きさは低減される。さらに、第2の導電層2
94内の電流は、種々のセクションの中で大きな電流量
が流れる素子を分散することにより調整される。
層294は、第2の誘電体層288によって第3の導電
層296から分離される。従って、第2の導電層294
と第3の導電層296との間にはキャパシタンスが存在
する。このキャパシタンスは、過渡変動の結果として生
じる可能性のある電圧変動の立ち上がりエッジを低下さ
せる。そのキャパシタンスは、第2の誘電体層288の
厚さを低減することにより増加する(キャパシタンス
は、その厚さの逆数に比例する)。例えば、第2の誘電
体層288は、約0.04064mm(約0.0016
インチ)の厚さおよび約4.2の比誘電率を有すること
ができる。導電層は、約103.2256cm2(約1
6平方インチ)の面積を有することができる。従って、
導電層間のキャパシタンスは、約0.06μFであり、
その実効直列抵抗あるはインダクタンスは非常に小さ
い。このキャパシタンスは特徴として、非常に小さな実
効直列抵抗あるいはインダクタンスを有し、それゆえ非
常に高い周波数応答を有する。
数のコンデンサが、複数のプロセッサ254と、プロセ
ッシングセクション242と、メモリセクション244
とをリング状に包囲する場合がある。図8Aおよび図8
Bは、コンデンサ400と、第1のおよび第2の導電層
292、294との間の接続の実施形態を示す。ここに
記載される接続は、コンデンサ400に関連するインダ
クタンスを低減し、それゆえ過渡変動に起因する電圧変
動を抑圧するように機能する。
は、プリント回路基板270の上側表面284上に取り
付けられる面実装セラミック素子を用いることができ
る。コンデンサ400は、導体である第1の側面408
を有する。第1の側面408は、第1のバイア412お
よび第2のバイア414に隣接して配置される。第1の
および第2のバイア412、414は、上側表面284
と第1の導電層292との間に延在する導電性の経路で
ある。第1のバイア412および第2のバイア414
は、距離D2だけ離隔され、それぞれ長さD3を有する
ことができる。第1のバイア412および第2のバイア
414は幅W1を有することができる。
ンサ400の側面図が示されており、コンデンサ400
は、第2の側面410を有することができる。第1の側
面408と同様に、第2の側面410は、コンデンサ4
00に関連する導体あるいはリード線である場合があ
る。第3のバイア416が、コンデンサ400の第2の
側面410と、第2の導電層294との間に延在する。
いくつかのバイアが、第2の側面410と第2の導電層
294との間に延在する場合があることに留意された
い。第2のバイア414および第3のバイア416は、
距離D4だけ離隔されることができる。距離D4を減少
させることにより、コンデンサ400に関連するインダ
クタンスがさらに低減される。距離D4は例えば、約
0.254〜0.508cm(約0.1〜約0.2イン
チ)の場合があり、より好ましくは約0.254cm
(約0.1インチ)である。
幅W1を有する多数のバイアを使用することにより、コ
ンデンサ400に関連するインダクタンスが著しく低減
される。例えば、幅W1は約0.3048mm(約0.
012インチ)に、距離D4は約3.556mm(約
0.14インチ)に、長さD3は約3.302mm(約
0.13インチ)にすることができる。バイア414、
416間のインダクタンスは、距離D4を幅W1で割っ
た値の逆双曲余弦関数に比例する。上記のパラメータを
用いて、生成されるインダクタンスは1259nH/m
(31.98nH/inch)である。長さD3の場合
に図8Aにおいて記載されるように、実効直列インダク
タンスはバイア対当たり41.6nHである。
第2の導電層294は、第1の導電層292に対して、
ある電位、例えば2.0Vを与えることができる。従っ
て、コンデンサ400は、第2の導電層294をグラン
ドに結合するように機能する。第1の導電層292およ
び第2の導電層294の両方を上側表面284の近くに
配置することにより、バイアの長さは最小になり、それ
によりそのバイアに関連する実効直列インダクタンスが
最小になる。従って、電圧変動は低減される。
以上のバイアによって、各導電面に電気的に接続される
ことができる。これはさらに、コンデンサ400に関連
するインダクタンスおよび抵抗を低減する。
子構成部品を記載してきたが、ここでその機能および互
いの関連性を記載する。
に関連して図5を参照すると、直流電圧が、コネクタ2
09を介してプリント回路基板270に供給される。プ
リント回路基板270内の導電層282は、コネクタ2
09を種々の電子構成部品に電気的に接続する。従っ
て、図6の導電層282は、プリント回路基板270上
の電子構成部品にDC電源を供給するように機能する。
容量性セクション245内の電解コンデンサ246は、
DC電圧の低周波数のAC成分を除去するように機能す
る。
ロセッシングセクション242およびメモリセクション
244に供給される。第1のコンデンサアレイ308お
よび第2のコンデンサアレイ310は概ね第1の領域3
02を取り囲み、第1の領域302内のDIMMあるい
は他の構成部品における過渡変動に起因する電圧変動を
抑圧するように機能する。同様に、第1のコンデンサア
レイ312および第2のコンデンサアレイ314は、第
2の領域304内のDIMMあるいは他の構成部品にお
ける過渡変動に起因する電圧変動を抑圧するように機能
する。メモリセクション244内のDIMMあるいは他
の構成部品において電圧変動が生じる場合には、メモリ
セクション244に関連するデータにエラーが生じる場
合がある。従って、アレイ308、310、312およ
び314内の多数の近接して配列されたコンデンサを用
いることにより、DIMMあるいは他の構成部品におい
て実質的な大きさの電圧変動を生じる導電層282上の
過渡変動が発生する確率が低減される。この確率は、多
数のバイアを有するコンデンサを用いることにより、さ
らに低減される。プリント回路基板270の一実施形態
では、アレイ308、310、312および314内の
コンデンサは、約20%の許容誤差を含んで、互いから
約0.381mm(約0.015インチ)の距離だけ離
れて配置することができる。
デンサのリング379によって包囲される。リング37
9は、過渡変動によって、プロセッシングセクション2
42において実質的な大きさの電圧変動が生じる確率を
低減する。メモリセクション244の場合と同様に、リ
ング379内のコンデンサは近接して配置させることが
できる。さらに、リング379は、過渡変動によって引
き起こされるDC電圧上の高周波数の電圧偏移を抑圧す
るようにも機能する。
路340はコンデンサのリングによって包囲され、電圧
変動がそこに達するようになる可能性を低減する。複数
のプロセッサ254の各々は、コンデンサの内側リング
342および外側リング344によって包囲される。内
側リング342および外側リング344内のコンデンサ
は近接して配列され、過渡変動がプロセッサ254に達
する可能性をさらに低減することができる。上記のよう
に、外側リング344内のコンデンサは、内側リング3
42内のコンデンサより、高い容量値(キャパシタン
ス)と、異なる実効直列インダクタンスおよび抵抗を有
することができる。容量値、実効直列インダクタンス値
および抵抗値が異なることにより、異なるスペクトル成
分を含む過渡変動を抑圧する。より具体的には、より高
い値を有する実効直列抵抗およびインダクタンスは、よ
り低いスペクトル成分を有する過渡変動を抑圧し、より
低い値を有する実効直列抵抗およびインダクタンスは、
より高いスペクトル成分を有する過渡変動を抑圧する。
って発生する熱は、プロセッサボード240の性能を劣
化させる。最も著しく熱を発生する構成部品は、図5の
プロセッサ254、制御回路340、およびDIMM2
48である。さらに、電源ボード204上のレギュレー
タが熱を発生する。セルアセンブリ100は、空気を強
制的に流し込み、熱をこれらの素子から周囲を取り巻く
大気に移動させることができる。1つの発生源、例え
ば、図には示されないが、ファンあるいは送風機からの
空気は、強制的に方向D1にグリル140を通って流
れ、発熱する構成部品を通過し、グリル149を通って
排出される。上記のように、グリル140およびグリル
149は、異なるアパーチャサイズを有する異なるグリ
ル部分を有する。アパーチャサイズがグリルを通過する
空気流の流速、それゆえ選択された電子構成部品を通過
する空気流の流速を決定する。空気は、方向D1とは反
対の方向に流れる場合があることに留意されたい。
うに向けられる。例えば、ヒートシンク256には、フ
ィン258が形成される。フィン258は、グリル14
0、149に概ね垂直に配置される。従って、空気流路
260も、グリル140、149と垂直に形成される。
空気流路260のこの位置関係によって、空気は、空気
流路260を通って自由に流動できるようになり、熱の
移動を改善する。同様にして、DIMM248は、グリ
ル140、149に垂直になるように配列される。従っ
て、空気は、複数のDIMM248間の空気流路250
内を自由に流動し、熱の移動を改善することができる。
面部118の第3のグリル146と、左側面部116の
第3のグリル154とのアパーチャサイズによって調整
される。空気流は、メモリ244内のDIMM248の
数に実質的には依存しない。従って、対流による冷却
は、存在するDIMM248の数に関係なく、十分に効
率的に作用し続ける。
用構成部品を記載してきたが、ここでプロセッサボード
240の機能が記載される。
ュール内に配置される、複数のセルアセンブリおよびプ
ロセッシングアセンブリのうちの1つである場合がある
ことに留意されたい。例えば、セルアセンブリ100
は、コンピュータサーバ内に配置される複数のセルアセ
ンブリのうちの1つである場合がある。
0に関連するデータ流を示すブロック図が示される。制
御回路340は、複数のプロセッサ254と、セルアセ
ンブリ100に接続される構成部品を含む、プリント回
路基板270に電気的に接続される複数の構成部品との
間のインターフェースおよび制御回路として機能する。
制御回路340は、複数のデータバス448を介して、
複数のプロセッサ254に電気的に接続されることがで
きる。より具体的には、第1のプロセッサ332は、第
1のデータバス450によって制御回路340に電気的
に接続されることができる。第2のプロセッサ334
は、第2のデータバス452によって制御回路340に
電気的に接続されることができる。第3のプロセッサ3
36は、第3のデータバス454によって制御回路34
0に電気的に接続されることができる。第4のプロセッ
サ338は、第4のデータバス456によって制御回路
340に電気的に接続されることができる。図9に示さ
れる構成部品およびデータバスは、必ずしも寸法通りに
描かれていないばかりでなく、その構成部品は必ずしも
適切に配置されているわけでなはいことに留意された
い。
タバス448の各々は、制御回路340とプロセッサ2
54との間の個別のバスインターフェースとすることが
できる。従って、プロセッサボード240の能力は、バ
スを共有する要件によって制限されることはない。複数
のデータバス448の各々は例えば、64本の導線を有
し、毎秒250Mビットを転送できる場合もある。従っ
て、複数のデータバス448の各々は、毎秒約4Gビッ
トを転送できる場合がある。
導線を備える場合がある。例えば、複数のデータバス4
48の各々は64本の導線を有する場合がある。導線
は、その機能に応じてグループ分けされる場合がある。
例えば、類似のデータ信号を搬送する導線は一緒にグル
ープ化される場合がある。
各々は、制御回路340のできる限り近くに配置される
場合がある。さらに、複数のプロセッサ254の各々
は、制御回路340から概ね等距離に配置される場合が
ある。従って、データバス448は、概ね同じ長さであ
り、できる限り短くされる。より具体的には、各グルー
プ内の導線は概ね同じ長さにすることができる。例え
ば、データバス448内の導線のグループは、4.57
2〜10.668cm(1.8〜4.2インチ)の長さ
を有する場合がある。導線グループの長さが等しいこと
により、制御回路340と複数のプロセッサ254との
間のタイミングが改善される。より具体的には、データ
バス448上に存在するデータ信号および他の信号は、
複数のプロセッサ254および制御回路340と対話す
るのに同じ時間を要する。長さを短くすることによっ
て、制御回路340とプロセッサ254との間のデータ
バス448上を信号が伝搬するのにかかる時間が低減さ
れるので、プロセッサボード240のプロセッシング速
度が改善される。データバス448は、図4に示される
ような、プリント回路基板270内に配置される電気導
線である。
のピン配置は、構成部品間の経路選択の密集を減らし、
層の数を最小にするように選択されている。例えば、制
御回路340およびプロセッサ254のピン配置は、経
路選択の密集、それゆえ層の数を最小にするように選択
される場合がある。データ転送のための用いられる導線
の長さは、最小にされ、タイミングをとる目的のために
厳密に制御される場合があることに留意されたい。例え
ば、これにより、セルアセンブリ100のプロセッシン
グ部分内で、待ち時間が短くなり、帯域幅を広くできる
ようになる。
ード240は、メモリ素子を制御回路340に電気的に
接続する複数のメモリデータバス460を備えることが
できる。より具体的には、メモリデータバス460は、
第1のメモリデータバス462と、第2のメモリデータ
バス464とを有する場合がある。メモリデータバス4
60は、図5に示されるような、プリント回路基板27
0内に配置される電気導線である。第1のメモリデータ
バス462は、第1の領域302内の、DIMMのよう
なメモリ装置を、制御回路340に電気的に接続するよ
うに機能することができる。同様に、第2のメモリデー
タバス464は、第2の領域304内のメモリ素子を制
御回路340に電気的に接続するように機能することが
できる。
く記載するために、メモリセクション244は、第1の
部分480と、第2の部分482と、第3の部分484
と、第4の部分486に4等分されている。第1のメモ
リデータバス462の第1の部分461は、制御回路3
40を、第1の部分480内に配置されるメモリ素子に
電気的に接続することができる。第1のメモリデータバ
ス462の第2の部分463は、制御回路340を、第
2の部分482内に配置されるメモリ素子に電気的に接
続することができる。第2のメモリデータバス464の
第1の部分466は、制御回路340を、第3の部分4
84内に配置されるメモリ素子に電気的に接続すること
ができる。第2のメモリデータバス464の第2の部分
468は、制御回路340を、第4の部分486内に配
置されるメモリ素子に電気的に接続することができる。
は、物理的に、制御回路340に非常に近接して配置さ
れる。従って、メモリデータバス460の長さを最小に
することができる。例えば、メモリデータバス460
は、17.78〜39.878cm(7.0〜15.7
インチ)の長さを有する場合がある。さらに、メモリデ
ータバス460の異なる部分の個々の導線の長さは、概
ね等しくすることができる。例えば、第1のメモリデー
タバス462の第1の部分461の導線の長さは、互い
に対して1.27mm(0.05インチ)の範囲内に入
る長さを有することができる。メモリデータバス460
は、図9のM2を付されるメモリ管理装置に制御回路3
40を電気的に接続できることに留意されたい。さらに
別のデータバスが、メモリ管理装置をDIMMあるいは
他のメモリ素子に電気的に接続することができる。この
付加的なデータバスは最小限の長さ、例えば3.175
〜5.842cm(1.25〜2.3インチ)の長さを
有する。
490が、コネクタ122と制御回路340との間に延
在することができる。データバス490は、制御回路3
40を、リモート入力/出力装置(図示せず)およびク
ロスバー(図示せず)に、コネクタ122を介して電気
的に接続するように機能することができる。リモート入
力/出力装置に関連するデータバスは、比較的短い長
さ、例えば12.7〜17.78cm(5〜7インチ)
の長さを有する場合がある。しかしながら、互いに関連
する個々の導線の長さは、互いに1.27mm(0.0
5インチ)の範囲内に入る長さを有することができる。
さらに導線の長さは、コネクタ122によって被る遅延
を相殺するように補償することができる。同様に、クロ
スバーに関連するデータバスは最小限の長さ、例えば
7.62〜17.78cm(3〜7インチ)の長さを有
することができる。導線の関連するグループは、例えば
互いから0.762mm(0.03インチ)の範囲に入
る長さを有することができる。導線の長さは、コネクタ
122によって被る遅延を相殺するように補償すること
ができる。
リティ構成部品470と呼ばれる回路を有する場合があ
る。ユーティリティ構成部品470は、プロセッサボー
ド240上に存在するハードウエアをモニタし、外部の
プロセッサ等に情報を送信することができる。例えば、
ユーティリティ構成部品470は、プロセッサボード2
40に接続されるメモリ構成部品の数およびプロセッサ
タイプをモニタすることができる。この情報を用いて、
プロセッサボード240の電力要件を判定することがで
きる。従って、図1の電源ボード204に適切な電源が
供給され、さらにプロセッサボード240にも電源が供
給されるようになる。ユーティリティ構成部品470の
実施形態およびその動作は、2000年4月13日出願
のKoerber等による米国特許出願第09/54
8,464号、タイトル「POWER MANAGEMENT SYSTEM FO
R DEVICE WITH HOT-SWAPABLE COMPONENTS」に記載され
ており、そこに開示される内容全体を参照して、本明細
書に援用している。
部品を、物理的に互いの近くに配置することは、電源構
成部品を、プロセッシング構成部品から離隔して配置す
ることによって実現された。従来のプロセッシング回路
は、電源構成部品をプロセッシング構成部品から離隔し
て配置して、プロセッシング構成部品のプロセッシング
能力を保持することはできない。これは、電源ライン上
で生じ、電源の変化および変動を引き起こす過渡的な負
荷電流に起因する。電圧変動はさらに、プロセッシング
エラー等を引き起こす。
が含まれる。 (1)多層プリント回路基板であって、第1の形状を有
する第1の導電面と、第2の形状を有する第2の導電面
とを有し、前記第1の形状は前記第2の形状と概ね同じ
であり、前記第1の導電面は、前記第2の導電面に隣接
して配置され、前記第1の導電面は、前記第2の導電面
に平行に整列される多層プリント回路基板。
層は前記第1の導電面および前記第2の導電面より導電
率が低く、前記第3の層は、前記第1の導電面と前記第
2の導電面との間に配置される上記(1)に記載の多層
プリント回路基板。
に接触しない複数の第1の導電面部分を含み、前記第2
の導電面は、互いに電気的に接触しない複数の第2の導
電面部分を含み、前記複数の第1の導電面部分は、前記
複数の第2の導電面部分と概ね同じ形状を有し、前記複
数の第1の導電面部分は、前記複数の第2の導電面部分
と平行に整列される上記(1)に記載の多層プリント回
路基板。
れる少なくとも1つの電子構成部品であって、前記少な
くとも1つの電子構成部品は、それに関連する第1の導
体を有する、該少なくとも1つの電子構成部品と、前記
第1の導電面と前記表面との間に延在する複数の第1の
バイアとを有し、前記第1の複数のバイアは、前記第1
の導電面と前記第1の導体との間に延在する上記(1)
に記載の多層プリント回路基板。
はコンデンサである上記(4)に記載の多層プリント回
路基板。
は、それに関連する第2の導体を有し、前記第2の導電
面と前記第2の導体との間に延在する複数の第2のバイ
アをさらに備える上記(4)に記載の多層プリント回路
基板。
れる第2のプリント回路基板をさらに含み、前記第2の
プリント回路基板は前記第1の導電面に電気的に接続さ
れる第1の電源と、前記第2の導電面に電気的に接続さ
れる第2の電源とを備える上記(1)に記載の多層プリ
ント回路基板。
れる制御装置および複数のプロセッシング装置とをさら
に含む上記(1)に記載の多層プリント回路基板。
み、個別のデータバスが、前記複数のプロセッシング装
置の各々と、前記制御装置との間に延在する上記(8)
に記載の多層プリント回路基板。
表面と、前記表面に概ね平行な第1の導電面と、前記表
面に隣接して配置される少なくとも1つの電子構成部品
であって、前記少なくとも1つの電子構成部品は、それ
に関連する第1の導体を有する、該電子構成部品と、前
記第1の導電面と前記第1の導体との間に延在する複数
のバイアとを有する多層プリント回路基板。
い本発明の実施形態が詳細に記載されてきたが、本発明
の概念は、それとは異なり、様々に実現し、用いること
ができ、特許請求の範囲は、従来技術によって制限され
ない範囲で、そのような変形形態を含むものと解釈され
ることを意図している。
に対する影響を受けにくく、プロセッシング構成部品が
互いに近い場所に配置されるプロセッシング回路を提供
することができる。
ルボードアセンブリの斜視図である。
す概略図である。
を示す概略図である。
る。
図である。
導電面との間の電気的な接続を示す正面図である。Bは
Aのコンデンサの側面図である。
ーを示すブロック図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 多層プリント回路基板であって、 第1の形状を有する第1の導電面と、 第2の形状を有する第2の導電面とを有し、 前記第1の形状は前記第2の形状と概ね同じであり、 前記第1の導電面は、前記第2の導電面に隣接して配置
され、前記第1の導電面は、前記第2の導電面に平行に
整列される多層プリント回路基板。
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