JP2002009450A - Inspection and manufacturing method of printed-wiring board, printed-wiring board, and electric device using printed-wiring board - Google Patents

Inspection and manufacturing method of printed-wiring board, printed-wiring board, and electric device using printed-wiring board

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JP2002009450A
JP2002009450A JP2000177417A JP2000177417A JP2002009450A JP 2002009450 A JP2002009450 A JP 2002009450A JP 2000177417 A JP2000177417 A JP 2000177417A JP 2000177417 A JP2000177417 A JP 2000177417A JP 2002009450 A JP2002009450 A JP 2002009450A
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JP
Japan
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via hole
inspection
wiring board
layer
plating layer
Prior art date
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Application number
JP2000177417A
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Japanese (ja)
Inventor
Akira Morisawa
晃 守沢
Hiroshi Nakano
浩 中野
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International Business Machines Corp
Original Assignee
International Business Machines Corp
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Publication date
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent the bonding between a photosensitive resin and plated metal on the internal wall of a via hole from being broken, and at the same time to improve copper adhesion in the via hole in the intermediate processes of the manufacture of a printed-wiring board. SOLUTION: A process that forms regions 2a, 2b, and 2c for inspection that are formed by including a via hole for inspection on a printed-wiring board 1, a process that peels an upper-side pad that is plated and formed at the upper side of a resin layer, and a process that observes a plated layer on the internal wall of the via hole for inspection are included.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、小径のビアホール
を有するプリント配線板の検査方法、製造方法および該
製造方法により製造されるプリント配線板並びに該プリ
ント配線板を用いた電気デバイスに関し、より詳細には
ビアホールの形成されたプリント配線板の信頼性を向上
することを可能とするプリント配線板の検査方法、プリ
ント配線板の製造方法、および該製造方法により製造さ
れるプリント配線板並びに該プリント配線板を用いた電
気デバイスに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for inspecting a printed wiring board having a small diameter via hole, a method for manufacturing the printed wiring board, a printed wiring board manufactured by the manufacturing method, and an electric device using the printed wiring board. Inspection method of printed wiring board, method of manufacturing printed wiring board, method of manufacturing printed wiring board, and printed wiring board manufactured by the manufacturing method and printed wiring capable of improving reliability of printed wiring board having via hole The present invention relates to an electric device using a plate.

【0002】[0002]

【従来の技術】現在プリント配線板は、高集積化の要求
によりビアホールを用い、樹脂層を介して互いに内層配
線を接続して形成される多層プリント配線板が主流を占
めている。この多層プリント配線板においては、ビアホ
ールは典型的にはベース基板の表面に感光性樹脂層を形
成し、フォトマスクを介してこの感光性樹脂層を露光・
現像して形成される。この後、無電解メッキや電気メッ
キといった方法を用いてビアホール内を導電化し、樹脂
層の上下方向における配線を形成する。これらの工程を
複数回繰り返すことにより多層プリント配線板が製造さ
れている。上述のビアホール形成のために用いられる方
法としては、フォトリソグラフィー法以外にも、レーザ
穿孔法や、ドリルによる穿孔法といった方法が採用され
る場合もある。
2. Description of the Related Art At present, multi-layer printed wiring boards formed by connecting vias to each other via a resin layer to form inner wirings occupy the mainstream of printed wiring boards due to a demand for high integration. In this multilayer printed wiring board, a via hole is typically formed by forming a photosensitive resin layer on the surface of a base substrate and exposing the photosensitive resin layer via a photomask.
It is formed by developing. Thereafter, the inside of the via hole is made conductive using a method such as electroless plating or electroplating, and wiring is formed in the vertical direction of the resin layer. By repeating these steps a plurality of times, a multilayer printed wiring board is manufactured. As a method used for forming the above-described via hole, a method such as a laser drilling method or a drilling method using a drill may be employed other than the photolithography method.

【0003】上述したようにビアホールは、感光性樹脂
などの樹脂に穿孔することにより形成され、また感光性
樹脂は一般にメッキされる金属とは接着性が悪く、通常
では種々の手段により粗面化したりメッキ触媒を用いる
などの手段を用いて、メッキ金属との接着性を向上させ
て、導電性に対する信頼性が確保されている。
As described above, a via hole is formed by piercing a resin such as a photosensitive resin, and the photosensitive resin generally has poor adhesion to a metal to be plated, and is usually roughened by various means. The adhesion to the plating metal is improved by using means such as plating or using a plating catalyst, so that reliability with respect to conductivity is ensured.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上述したように感光性
樹脂とメッキされる金属との間の接着性を向上させるた
め、例えば感光性樹脂、メッキ触媒、粗面化処理といっ
た種々の要素技術により上述したビアホール近傍におけ
る接着性が改善されている。
As described above, in order to improve the adhesion between the photosensitive resin and the metal to be plated, various element technologies such as a photosensitive resin, a plating catalyst, and a roughening treatment are used. The adhesion in the vicinity of the via hole described above is improved.

【0005】しかしながら、種々の条件により特にビア
ホール内壁におけるメッキ金属との接着性が変動するこ
とにより、導電性に対する信頼性が失われる場合があ
る。導電性に欠陥があるプリント配線板は、製品の歩留
まりを低下させ、プリント配線板のコストを引き上げて
しまうといった問題を生じさせることになる。従来この
ような不都合を解決するために、ビアホールの検査を電
気的に行う方法が提案されている。この方法は、完成し
た基板にビアチェーンなどのテストクーポンを使用して
抵抗値の変化(ΔR)を測定し、ビアホールの導通を検
査することによって、ビアホールを含むプリント配線板
の信頼性を確認するものである。
[0005] However, the reliability of the conductivity may be lost due to the fluctuation of the adhesiveness to the plated metal particularly on the inner wall of the via hole due to various conditions. A printed wiring board having a defect in conductivity causes problems such as a reduction in product yield and an increase in cost of the printed wiring board. Conventionally, in order to solve such inconvenience, a method of electrically inspecting a via hole has been proposed. This method uses a test coupon, such as a via chain, to measure the change in resistance (ΔR) on a completed board, and checks the continuity of the via hole to confirm the reliability of the printed wiring board including the via hole. Things.

【0006】この方法は、プリント配線板を非破壊で検
査することを可能とする。しかしながら、この方法で
は、プリント配線板の製造工程中にビアホールの信頼性
を確認することができず、ビアホールに欠陥が生じた場
合にはビアホールの形成後に行われる後工程が無駄にな
ってしまうという不都合がある。
This method makes it possible to inspect a printed wiring board nondestructively. However, in this method, the reliability of the via hole cannot be confirmed during the manufacturing process of the printed wiring board, and if a defect occurs in the via hole, a post-process performed after the formation of the via hole is wasted. There are inconveniences.

【0007】このため、これまでプリント配線板の技術
分野においては、ビアホールの内壁における感光性樹脂
とメッキ金属との間の接着性を製造段階において非破壊
検査することを可能とすることが必要とされていた。ま
た、プリント配線板の製造の中間工程においてビアホー
ルにおけるメッキ金属、例えば銅との密着性を検査する
ことを可能とし、ビアホールの欠陥を早期発見すること
を可能とすることが必要とされていた。
For this reason, in the technical field of printed wiring boards, it has been necessary to be able to perform a nondestructive inspection at the manufacturing stage on the adhesiveness between the photosensitive resin and the plated metal on the inner wall of the via hole. It had been. In addition, it has been required to be able to inspect the adhesion to a plated metal, for example, copper, in a via hole in an intermediate step of manufacturing a printed wiring board, and to be able to detect defects in the via hole at an early stage.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明は上記課題は、本
発明のプリント配線板の検査方法、プリント配線板の製
造方法、および該製造方法により製造されるプリント配
線板並びに電気デバイスを提供することにより解決され
る。
The object of the present invention is to provide a method for inspecting a printed wiring board, a method for manufacturing a printed wiring board, and a printed wiring board and an electric device manufactured by the method according to the present invention. It is solved by.

【0009】すなわち、本発明の請求項1の発明によれ
ば、ベース基板の表面に樹脂層を設け、該樹脂層にビア
ホールと検査用ビアホールとを形成する工程を含んで形
成されるプリント配線板の検査方法であって、前記樹脂
層にビアホールおよび検査用ビアホールを形成する段階
と、前記樹脂層上にメッキを施して前記ビアホールおよ
び前記検査用ビアホールの内側にメッキ層を形成し、前
記検査用ビアホールを該検査用ビアホールの内側のメッ
キ層から連続する上側メッキ層を含んで形成される検査
用領域を形成する段階と、前記上側メッキ層を剥離する
段階と、前記検査用ビアホールの内壁におけるメッキ層
を観測する段階とを含む、プリント配線板の検査方法が
提供される。
That is, according to the first aspect of the present invention, a printed wiring board formed by including a step of providing a resin layer on the surface of a base substrate and forming a via hole and an inspection via hole in the resin layer. Forming a via hole and an inspection via hole in the resin layer, plating the resin layer to form a plating layer inside the via hole and the inspection via hole, Forming an inspection area formed by including the upper plating layer in the via hole from the plating layer inside the inspection via hole, removing the upper plating layer, and plating the inner wall of the inspection via hole. Inspecting the printed wiring board.

【0010】本発明の検査方法においては、前記剥離工
程を対向する方向から複数回行うことが好ましい。本発
明の検査方法においては、前記検査用ビアホールが、前
記上側メッキ層の剥離方向を横切って複数形成されるこ
とが好ましい。本発明の検査方法においては、前記検査
用ビアホールは、前記上側メッキ層の剥離方向を横切っ
て千鳥状に形成されることが好ましい。本発明の検査方
法においては、前記ビアホールと、前記検査用ビアホー
ルとが、先止まり形状に形成されることが好ましい。
In the inspection method of the present invention, it is preferable that the peeling step is performed a plurality of times from opposite directions. In the inspection method of the present invention, it is preferable that a plurality of the inspection via holes are formed across the peeling direction of the upper plating layer. In the inspection method of the present invention, it is preferable that the inspection via holes are formed in a staggered manner across the peeling direction of the upper plating layer. In the inspection method of the present invention, it is preferable that the via hole and the inspection via hole are formed to have a pointed shape.

【0011】さらに、本発明の請求項6の発明によれ
ば、ベース基板の表面に樹脂層を設け、該樹脂層にビア
ホールと検査用ビアホールとを形成する工程を含んで形
成されるプリント配線板の製造方法であって、前記樹脂
層にビアホールおよび検査用ビアホールを形成する段階
と、前記樹脂層上にメッキを施して前記ビアホールおよ
び前記検査用ビアホールの内側にメッキ層を形成し、前
記検査用ビアホールを取り囲み該検査用ビアホールの内
側のメッキ層から連続する上側メッキ層を含んで形成さ
れる検査用領域を形成する段階と、前記上側メッキ層を
剥離する段階と、前記検査用ビアホールの内壁における
メッキ層を観測する段階とを含む、プリント配線板の製
造方法が提供される。本発明の製造方法においては、前
記剥離工程を対向する方向から複数回行うことが好まし
い。本発明の製造方法においては、前記検査用領域を切
断除去する工程を含むこともできる。
Further, according to the invention of claim 6 of the present invention, a printed wiring board formed including a step of providing a resin layer on the surface of a base substrate and forming a via hole and an inspection via hole in the resin layer. Forming a via hole and an inspection via hole in the resin layer; plating the resin layer to form a plating layer inside the via hole and the inspection via hole; Forming an inspection area surrounding the via hole and including the upper plating layer continuous from the plating layer inside the inspection via hole; removing the upper plating layer; and forming an inspection area on the inner wall of the inspection via hole. Observing the plating layer, the method for manufacturing a printed wiring board is provided. In the manufacturing method of the present invention, it is preferable that the peeling step is performed a plurality of times from opposite directions. The manufacturing method of the present invention may include a step of cutting and removing the inspection region.

【0012】また、本発明の請求項9の発明によれば、
ベース基板の表面に樹脂層を設け、該樹脂層にビアホー
ルと検査用ビアホールとを形成する工程を含んで形成さ
れるプリント配線板であって、前記樹脂層にビアホール
および検査用ビアホールを形成する段階と、前記樹脂層
上にメッキを施して前記ビアホールおよび前記検査用ビ
アホールの内側にメッキ層を形成し、前記検査用ビアホ
ールを取り囲み該検査用ビアホールの内側のメッキ層か
ら連続する上側メッキ層を含んで形成される検査用領域
を形成する段階と、前記上側メッキ層を剥離する段階
と、前記検査用ビアホールの内壁におけるメッキ層を観
測する段階と、を含む工程により製造されるプリント配
線板が提供される。
According to the ninth aspect of the present invention,
A printed wiring board formed by providing a resin layer on a surface of a base substrate and forming a via hole and an inspection via hole in the resin layer, wherein a via hole and an inspection via hole are formed in the resin layer. And plating on the resin layer to form a plating layer inside the via hole and the inspection via hole, including an upper plating layer surrounding the inspection via hole and continuing from the plating layer inside the inspection via hole. Providing a printed wiring board manufactured by a process including the steps of: forming an inspection area formed by :, removing the upper plating layer, and observing a plating layer on an inner wall of the inspection via hole. Is done.

【0013】さらに本発明の請求項10の発明によれ
ば、ベース基板の表面に樹脂層を設け、該樹脂層にビア
ホールと検査用ビアホールとを形成する工程を含んで形
成されるプリント配線板を用いた電気デバイスであっ
て、前記樹脂層にビアホールおよび検査用ビアホールを
形成する段階と、前記樹脂層上にメッキを施して前記ビ
アホールおよび前記検査用ビアホールの内側にメッキ層
を形成し、前記検査用ビアホールを取り囲み該検査用ビ
アホールの内側のメッキ層から連続する上側メッキ層を
含んで形成される検査用領域を形成する段階と、前記上
側メッキ層を剥離する段階と、前記検査用ビアホールの
内壁におけるメッキ層を観測する段階と、を含む工程に
より製造されるプリント配線板と、該プリント配線板に
実装された複数の電気的要素とを含む、電気デバイスが
提供される。
According to a tenth aspect of the present invention, there is provided a printed wiring board including a step of providing a resin layer on a surface of a base substrate and forming a via hole and an inspection via hole in the resin layer. The electric device used, wherein a via hole and an inspection via hole are formed in the resin layer, and plating is performed on the resin layer to form a plating layer inside the via hole and the inspection via hole. Forming an inspection region surrounding the test via hole and including the upper plating layer continuous from the plating layer inside the test via hole, peeling the upper plating layer, and an inner wall of the test via hole. Observing a plating layer in the printed wiring board, and a plurality of electrical devices mounted on the printed wiring board. And a component, the electrical device is provided.

【0014】本発明の請求項11の発明によれば、プリ
ント配線板の検査方法であって、表面に樹脂層を有する
基板を準備する段階と、前記樹脂層にビアホールおよび
検査用ビアホールを形成する段階と、前記ビアホール内
および前記検査用ビアホール内に導電層を形成する段階
と、前記樹脂層表面において前記検査用ビアホールを取
り囲み該検査用ビアホール内の導電層に連続する上側導
電層を形成する段階と、前記上側導電層を剥離する段階
と、前記剥離後の前記検査用ビアホール内の導電層を観
測する段階とを含む、プリント配線板の検査方法が提供
される。
According to an eleventh aspect of the present invention, there is provided a method for inspecting a printed wiring board, comprising the steps of preparing a substrate having a resin layer on the surface, and forming a via hole and an inspection via hole in the resin layer. Forming a conductive layer in the via hole and the test via hole, and forming an upper conductive layer surrounding the test via hole on the surface of the resin layer and continuous with the conductive layer in the test via hole. And a step of peeling the upper conductive layer, and a step of observing the conductive layer in the inspection via hole after the peeling.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、本発明を図面をもって詳細
に説明する。本発明は特に先止まりに形成されたビアホ
ールに対して好適に適用することができるが、先止まり
に形成されたビアホールのみに適用することができるも
のではなく、いかなる種類のビアホールであっても適用
することが可能である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below in detail with reference to the drawings. The present invention can be preferably applied particularly to a via hole formed at a stop, but not limited to a via hole formed at a stop, and is applicable to any type of via hole. It is possible to

【0016】図1は、本発明に用いられる検査用ビアホ
ールが形成されたプリント配線板の概略を示した正面図
である。本発明によるプリント配線板の検査方法に用い
られる検査用ビアホールは、図1に示されたプリント配
線板1の検査領域2a,2b,2cに形成されている。
これらの検査用領域2a,2b,2cは、プリント配線
板1における内層配線が行われない外周部に設けられて
いて、プリント配線板1に形成される内層配線を損なう
ことなく、製造されるビアホールの内壁におけるメッキ
金属層の接着性を検査できる配置とされている。本発明
においてはメッキ金属としては種々の金属を用いること
ができ、例えば本発明においては、例えば銅、またはニ
ッケルを下地としてメッキが行われる金といった金属
を、メッキ金属として挙げることができる。
FIG. 1 is a front view schematically showing a printed wiring board having an inspection via hole used in the present invention. Inspection via holes used in the method for inspecting a printed wiring board according to the present invention are formed in the inspection regions 2a, 2b, and 2c of the printed wiring board 1 shown in FIG.
These inspection areas 2a, 2b and 2c are provided on the outer peripheral portion of the printed wiring board 1 where the inner wiring is not performed, and are formed without damaging the inner wiring formed on the printed wiring board 1. The arrangement is such that the adhesion of the plated metal layer on the inner wall of the device can be inspected. In the present invention, various metals can be used as the plating metal. For example, in the present invention, a metal such as copper or gold plated with nickel as a base can be used as the plating metal.

【0017】同様な検査用領域3a,3b,3cは、図
1の検査用領域2a,2b,2cが形成された端部4a
に対向する端部4bにも設けられていて、形成されたビ
アホールの信頼性をプリント配線板1の全面にわたって
検査することを可能としている。図1に示された外周部
には、上述した検査用ビアホールの他にも製造する上で
必要なテストクーポンや、積層を行うためのレジストレ
ーション用のマークなど、様々なパターンが配置されて
いてもよい。図1では、内層配線が形成される領域と検
査用領域が形成される外周部との境界が破線で示されて
いる。
The similar inspection areas 3a, 3b, 3c are formed at the end 4a where the inspection areas 2a, 2b, 2c of FIG. 1 are formed.
Is provided also at the end 4b opposite to the printed wiring board 1 so that the reliability of the formed via hole can be inspected over the entire surface of the printed wiring board 1. In the outer peripheral portion shown in FIG. 1, various patterns such as test coupons required for manufacturing and registration marks for performing lamination are arranged in addition to the above-described inspection via holes. Is also good. In FIG. 1, the boundary between the region where the inner layer wiring is formed and the outer peripheral portion where the inspection region is formed is indicated by a broken line.

【0018】図1に示されるプリント配線板1は、感光
性樹脂を3層積層して形成されており、各層毎にビアホ
ールの接着性の検査ができるように、検査領域は、各層
毎に互いに位置的にずらされて検査用領域2a,2b,
2cおよび対向する側の検査用領域3a,3b,3cと
いった対として配置されているのが示されている。
The printed wiring board 1 shown in FIG. 1 is formed by laminating three layers of photosensitive resin, and the inspection area is mutually different for each layer so that the adhesion of via holes can be inspected for each layer. The inspection areas 2a, 2b,
2c and the pair of inspection areas 3a, 3b, 3c on the opposite side are shown.

【0019】図2は、本発明の検査方法を適用するプリ
ント配線板1の別の実施の形態を示した上面図である。
図2に示したプリント配線板1においては、図1におい
て説明した検査用領域2a,2b,2cがプリント配線
板1の互いに対向する長尺の端部4cに沿って、図1で
説明したと同様にして形成されているのが示されてい
る。
FIG. 2 is a top view showing another embodiment of the printed wiring board 1 to which the inspection method of the present invention is applied.
In the printed wiring board 1 shown in FIG. 2, the inspection regions 2a, 2b, and 2c described in FIG. 1 are arranged along the long ends 4c of the printed wiring board 1 facing each other as described in FIG. It is shown formed similarly.

【0020】本発明では、図1および図2に示したよう
に、互いに対向する2つの端部4a,4bおよび4c,
4dに対して検査用領域を設けることも可能であるが、
コストや作業性などが許される限り、プリント配線板1
の4つの端部すべてに検査用領域を設けることも可能で
ある。
In the present invention, as shown in FIGS. 1 and 2, two opposite ends 4a, 4b and 4c,
Although it is possible to provide an inspection area for 4d,
As long as cost and workability are allowed, printed wiring board 1
It is also possible to provide an inspection area at all four ends.

【0021】図3は、図1のラインA−Aに沿って本発
明のプリント配線板1を切断し、検査領域2a,2b
と、この検査用領域2a,2bに形成される検査用ビア
ホールとを示した図である。説明の便宜上、検査用領域
2cおよびそのための樹脂層については省略して示して
いる。図3に示されるように、本発明のプリント配線板
1は、内層配線が形成されるベース基板5と、このベー
ス基板5の両側に、感光性樹脂の複数の層から形成され
たSLC(Surface Laminar Circuit)層6,7が積層さ
れて形成されている。
FIG. 3 is a sectional view of the printed wiring board 1 of the present invention cut along the line AA in FIG.
FIG. 3 is a diagram showing an inspection via hole formed in the inspection regions 2a and 2b. For convenience of explanation, the inspection area 2c and the resin layer therefor are omitted. As shown in FIG. 3, the printed wiring board 1 of the present invention includes a base substrate 5 on which an inner layer wiring is formed, and an SLC (Surface) formed from a plurality of layers of a photosensitive resin on both sides of the base substrate 5. Laminar Circuit) layers 6 and 7 are laminated.

【0022】本発明において用いる検査用ビアホール
8,9は、それぞれ検査用領域2a,2bに形成され、
これらの検査用領域2a,2bは、上側のSLC層6に
形成されている。また、検査用領域2d,2eは、下側
のSLC層7に形成されていて、それぞれ対応する領域
に検査用ビアホール10,11が形成されているのが示
されている。検査用ビアホール8,9,10,11の内
側壁には、図示しないメッキ層が施されていて、感光性
樹脂の層を挟んで対向する、検査用領域を形成するため
の上側メッキ層と下側のメッキ層とに連続している。ま
た、本発明においては、ベース基板の表面が銅箔により
被覆されている場合には、上述した下側のメッキ層を特
に設ける必要は無く、下側のメッキ層に代えて銅箔をそ
のまま用いることができる。また、ビアホールの検査を
適切に行うことができれば、下側のメッキ層または銅箔
を用いずに検査用領域を構成することもできる。
The inspection via holes 8 and 9 used in the present invention are formed in the inspection regions 2a and 2b, respectively.
These inspection regions 2a and 2b are formed in the upper SLC layer 6. Further, the inspection regions 2d and 2e are formed in the lower SLC layer 7, and the inspection via holes 10 and 11 are formed in the corresponding regions. A plating layer (not shown) is provided on the inner side walls of the inspection via holes 8, 9, 10, and 11, and an upper plating layer and a lower plating layer which are opposed to each other with a photosensitive resin layer therebetween to form an inspection region. It is continuous with the plating layer on the side. Further, in the present invention, when the surface of the base substrate is covered with a copper foil, it is not necessary to particularly provide the lower plating layer described above, and the copper foil is used as it is instead of the lower plating layer. be able to. In addition, if the inspection of the via hole can be appropriately performed, the inspection area can be configured without using the lower plating layer or the copper foil.

【0023】以下、上側のSLC層6と、下側のSLC
層7とは、同様の構成とされているため、上側のSLC
層6についてのみ詳細な説明を行う。図3に示すよう
に、上側のSLC層6は、2層の感光性樹脂層6a,6
bを含んで形成されていて、それぞれの感光性樹脂層6
a,6bの上側面および下側面には、メッキ層または銅
箔により形成されるパッド12a,12b,12c,1
2dが設けられている。パッド12a,12bが対向し
て検査用領域2aを形成し、パッド12c,12dが対
向して検査用領域2bを形成している。
Hereinafter, the upper SLC layer 6 and the lower SLC
Since the layer 7 has the same configuration, the upper SLC
Only the layer 6 will be described in detail. As shown in FIG. 3, the upper SLC layer 6 has two photosensitive resin layers 6a and 6a.
b, and each photosensitive resin layer 6
Pads 12a, 12b, 12c, 1 formed of a plating layer or a copper foil are formed on the upper and lower surfaces of a, 6b.
2d is provided. The pads 12a and 12b face each other to form an inspection area 2a, and the pads 12c and 12d face each other to form an inspection area 2b.

【0024】図3では、感光性樹脂層6a,6bの2層
によりSLC層6が形成されているものとして示されて
いるが、この感光性樹脂層は、2層に限定されるわけで
はなく、必要に応じて3層以上の感光性樹脂層を用いる
ことも可能である。また、図3に示した検査用ビアホー
ル8,9は、5つが1セットとして形成されているが、
本発明においては必要に応じていかなる数の検査用ビア
ホールを、1つの検査用領域に形成して用いることもで
きる。
FIG. 3 shows that the SLC layer 6 is formed by two photosensitive resin layers 6a and 6b, but this photosensitive resin layer is not limited to two layers. It is also possible to use three or more photosensitive resin layers as needed. In addition, the inspection via holes 8 and 9 shown in FIG. 3 are formed as one set of five,
In the present invention, any number of inspection via holes can be formed and used in one inspection region as needed.

【0025】上側パッド12aは、検査用ビアホール8
の内部に施されたメッキ層を介して下側パッド12bと
連続し、同様に上側パッド12cは、検査用ビアホール
9の内部に施されたメッキ層を介して下側パッド12d
に連続している。上側パッド12a,12cから下側パ
ッド12b,12dまでそれぞれ連続する各メッキ層
が、充分に感光性樹脂に接着していない場合には、種々
の工程を経て製造される多層プリント配線板の製造工程
においてビアホール内のメッキ層が剥離して、導通不良
を発生させてしまう場合がある。このため、特にビアホ
ールの内壁部分におけるメッキ層の接着性を検査するこ
とが重要となる。
The upper pad 12a is connected to the inspection via hole 8
Is connected to the lower pad 12b via a plating layer provided inside the lower pad 12d. Similarly, the upper pad 12c is connected to the lower pad 12d via a plating layer provided inside the inspection via hole 9.
It is continuous. If the plating layers continuous from the upper pads 12a, 12c to the lower pads 12b, 12d are not sufficiently adhered to the photosensitive resin, a manufacturing process of a multilayer printed wiring board manufactured through various processes. In some cases, the plating layer in the via hole may be peeled off, resulting in poor conduction. For this reason, it is particularly important to inspect the adhesion of the plating layer on the inner wall portion of the via hole.

【0026】図4は、本発明のプリント配線板1に形成
される検査用領域を詳細に示した断面図である。図3に
おいて説明したように、図4に示される多層プリント配
線板1は、ビルドアップされて形成された上側のSLC
層13と、同様にビルドアップされて形成された下側の
SLC層14と、これらのSLC層13,14に挟まれ
たベース基板15とから形成されている。ベース基板1
5は、複数の配線板が積層されて形成されており、ベー
ス基板15の図示しない領域には、内層配線および内層
配線間の導通のために用いられる複数のビアホールが形
成されている。上側SLC層13と、下側SLC層14
とは、同様の構成とされているため、以下、上側SLC
層13について詳細に説明する。
FIG. 4 is a sectional view showing in detail an inspection area formed on the printed wiring board 1 of the present invention. As described with reference to FIG. 3, the multilayer printed wiring board 1 shown in FIG.
A layer 13, a lower SLC layer 14 similarly built up and formed, and a base substrate 15 sandwiched between these SLC layers 13 and 14 are formed. Base substrate 1
5 is formed by laminating a plurality of wiring boards, and in a region (not shown) of the base substrate 15, a plurality of via holes used for conduction between the inner layer wiring and the inner layer wiring are formed. Upper SLC layer 13 and lower SLC layer 14
Have the same configuration, and hereinafter, the upper SLC
The layer 13 will be described in detail.

【0027】上側SLC層13は、図4においては2層
の感光性樹脂層13a,13bから形成されている。こ
の感光性樹脂としては、具体的には感光性のエポキシ樹
脂を用いることができるが、本発明においては特に感光
性のエポキシ樹脂に限定されるものではなく、同様の電
気的特性を得ることができる限り、いかなる樹脂であっ
ても用いることができる。図4に示したSLC層13を
製造するためには、まず、ベース基板15の上側面15
aに無電解メッキまたは電気メッキといった方法によ
り、下側パッド16をメッキする。また、ベース基板1
5上に銅箔が設けられている場合には、下側パッド16
としては、銅箔をそのまま用いることができる。以下の
工程においては、説明の簡略化のため下側パッド16を
メッキにより形成するものとして説明を行う。
The upper SLC layer 13 is formed of two photosensitive resin layers 13a and 13b in FIG. As the photosensitive resin, specifically, a photosensitive epoxy resin can be used, but the present invention is not particularly limited to the photosensitive epoxy resin, and the same electrical characteristics can be obtained. As far as possible, any resin can be used. In order to manufacture the SLC layer 13 shown in FIG.
The lower pad 16 is plated by a method such as electroless plating or electroplating. Also, base substrate 1
5, a copper foil is provided on the lower pad 16
The copper foil can be used as it is. In the following steps, description will be made assuming that the lower pad 16 is formed by plating for simplification of the description.

【0028】ついでメッキされた下側パッド16を覆う
ようにしてベース基板15に感光性エポキシ樹脂を塗布
して、感光性樹脂層13aを形成する。ついで、感光性
樹脂層13a上にフォトマスクを配置して、露光・現像
を行い、内層配線の領域に形成されるビアホールと同じ
方法を用いて、検査用ビアホール17を形成する。
Next, a photosensitive epoxy resin is applied to the base substrate 15 so as to cover the plated lower pads 16, thereby forming a photosensitive resin layer 13a. Next, a photomask is arranged on the photosensitive resin layer 13a, exposure and development are performed, and an inspection via hole 17 is formed using the same method as the via hole formed in the region of the inner wiring.

【0029】その後検査用ビアホール17が形成された
感光性樹脂層13a上に無電解メッキまたは電気メッキ
を行い、検査用ビアホール17の内側から連続するメッ
キ層により上側パッド18を形成することにより、検査
用領域が形成される。また、本発明において検査用ビア
ホール17の形成をレーザ穿孔といった穿孔手段により
形成する場合には、上述した感光性のエポキシ樹脂に代
えて、熱硬化性のエポキシ樹脂またはエポキシ樹脂以外
の熱硬化性樹脂を用いることもできる。
Thereafter, electroless plating or electroplating is performed on the photosensitive resin layer 13a in which the inspection via hole 17 is formed, and the upper pad 18 is formed by a continuous plating layer from the inside of the inspection via hole 17. The use area is formed. When the inspection via hole 17 is formed by a perforation means such as laser perforation in the present invention, a thermosetting epoxy resin or a thermosetting resin other than the epoxy resin is used instead of the photosensitive epoxy resin. Can also be used.

【0030】図5には、図4で説明した下側パッド16
と、上側パッド18との形状を示す。これら上側パッド
18と、下側パッド16とが対となって、一つの検査用
領域2aなどを構成している。図5(a)が上側パッド
18の形状であり、図5(b)が下側パッド16の形状
である。図5(a)に示されるように、上側パッド18
は、概ね八角形の形状とされたメッキ層から形成されて
おり、その中央部付近に複数の検査用ビアホール17が
形成されている。本発明に用いられる上側パッド18お
よび下側パッド16は、特に図5に示した形状とするこ
とが必要ではなく、それぞれの形状は、適宜必要に応じ
て変更して用いることができる。また、上述した形状を
形成するためには、従来知られているいかなる方法を用
いることもできる。
FIG. 5 shows the lower pad 16 described with reference to FIG.
And the shape of the upper pad 18. The upper pad 18 and the lower pad 16 form a pair to form one inspection area 2a and the like. FIG. 5A shows the shape of the upper pad 18, and FIG. 5B shows the shape of the lower pad 16. As shown in FIG.
Is formed from a plating layer having a substantially octagonal shape, and a plurality of inspection via holes 17 are formed in the vicinity of a central portion thereof. The upper pad 18 and the lower pad 16 used in the present invention do not need to have the shape shown in FIG. 5 in particular, and the respective shapes can be appropriately changed and used as needed. Further, in order to form the above-mentioned shape, any conventionally known method can be used.

【0031】図5(a)においては、上側パッド18と
下側パッド16とが重なり合って、下側パッド16が隠
されている部分が破線で示されている。図5(a)に示
された検査用ビアホール17は、破線で示された下側パ
ッド16まで延びていて、上側パッド18と下側パッド
16とがメッキ層により連結されている。図5(a)に
示された検査用ビアホール17は、略平行に延びた二列
で形成され、さらに。これらの検査用ビアホール17
は、それぞれ千鳥状に配置されているのが示されてい
る。
In FIG. 5A, a portion where the upper pad 18 and the lower pad 16 overlap and the lower pad 16 is hidden is indicated by a broken line. The inspection via hole 17 shown in FIG. 5A extends to the lower pad 16 indicated by a broken line, and the upper pad 18 and the lower pad 16 are connected by a plating layer. The inspection via holes 17 shown in FIG. 5A are formed in two rows extending substantially in parallel. These inspection via holes 17
Are shown in a zigzag pattern.

【0032】しかしながら、本発明においては、検査用
ビアホール17を特に千鳥状に配置することが必要とさ
れるわけではなく、検査用ビアホールを一列で形成する
こともできる。また、一つの検査用領域に形成される検
査用ビアホール17の数については、必要に応じて適宜
設定することができる。特に、限られた検査用領域を有
効に用いてサンプル点数を増加させるといった点では、
図5(a)に示したように検査用ビアホール17を、千
鳥状に形成することにより、図5(a)で示す矢線B,
Cの2方向からそれぞれ剥離方向手前側に形成された検
査用ビアホール17に妨げられることなく、剥離を行う
ことが可能となり、同時により多くの検査用ビアホール
17の検査を可能とするので好ましい。
However, in the present invention, it is not necessary to arrange the inspection via holes 17 particularly in a staggered manner, and the inspection via holes can be formed in a line. Further, the number of inspection via holes 17 formed in one inspection region can be appropriately set as needed. In particular, in terms of effectively using the limited inspection area to increase the number of samples,
By forming the inspection via holes 17 in a staggered manner as shown in FIG. 5A, arrows B and B shown in FIG.
It is preferable because the peeling can be performed without being hindered by the inspection via holes 17 formed on the front side in the peeling direction from the two directions of C, and more inspection via holes 17 can be inspected at the same time.

【0033】図5(b)は、下側パッド16を示した図
である。下側パッド16は、図5(b)では、長方形の
形状とされているのが示されている。しかしながら、本
発明においては、下側パッド16を必ずしも長方形に形
成する必要はなく、作業性、コストといった条件に応じ
ていかなる形状でも用いることができる。図5(b)に
は、検査用ビアホール17が、上側パッド18から下側
パッド16にまで延びて、下側パッド16に連結する部
分17aが示されている。
FIG. 5B is a diagram showing the lower pad 16. FIG. 5B shows that the lower pad 16 has a rectangular shape. However, in the present invention, the lower pad 16 does not necessarily need to be formed in a rectangular shape, and any shape can be used according to conditions such as workability and cost. FIG. 5B shows a portion 17 a in which the inspection via hole 17 extends from the upper pad 18 to the lower pad 16 and is connected to the lower pad 16.

【0034】本発明のプリント配線板の検査方法は、上
述したようにして形成された検査用領域を用い、上側パ
ッド18を、検査用ビアホール17を超えて剥離するこ
とにより行われる。図6は、上述した検査用領域に対し
て、本発明のプリント配線板の検査方法を適用した場合
の剥離パターンを示した図である。図6(a)において
は、上側パッド18は、図6の下側から上に向かって矢
線Dで示した向きに検査用ビアホール17の列を横切る
方向に剥離が行われる。図6(b)は、図6(a)に示
した上側パッド18を、図6(a)に示した方向とは逆
に、矢線Eで示される方向に、上側から下側に向かって
2度目の剥離を行った場合の剥離パターンを示した図で
ある。
The method for inspecting a printed wiring board according to the present invention is performed by peeling the upper pad 18 beyond the inspection via hole 17 using the inspection region formed as described above. FIG. 6 is a diagram showing a peeling pattern when the method for inspecting a printed wiring board of the present invention is applied to the above-described inspection area. In FIG. 6A, the upper pad 18 is peeled off from the lower side of FIG. 6 in a direction crossing the row of the inspection via holes 17 in a direction indicated by an arrow D. FIG. 6B shows the upper pad 18 shown in FIG. 6A in a direction indicated by an arrow E, which is opposite to the direction shown in FIG. It is the figure which showed the peeling pattern at the time of performing 2nd peeling.

【0035】図6に示した剥離パターンは、検査用ビア
ホール17の内壁におけるメッキ層と感光性樹脂層との
間の接着性が充分な場合に得られる剥離パターンを示し
ている。図6に示した剥離パターンにおいては、上側パ
ッド18と検査用ビアホール17との円形の境界面にお
いてメッキ層が破壊されて、検査用ビアホール17の内
壁全体にわたってメッキ層が残留しているのが示されて
いる。
The peel pattern shown in FIG. 6 shows a peel pattern obtained when the adhesion between the plating layer and the photosensitive resin layer on the inner wall of the inspection via hole 17 is sufficient. In the peeling pattern shown in FIG. 6, the plating layer is broken at the circular boundary surface between the upper pad 18 and the inspection via hole 17, and the plating layer remains over the entire inner wall of the inspection via hole 17. Have been.

【0036】また、図6に示すように、互いに千鳥状に
形成される検査用ビアホール17は、すべてが同一の大
きさとされている必要はなく、プリント配線板1に形成
されるビアホールに対応した径としておくことで、1つ
の検査用領域における剥離試験により、異なった径で形
成されたビアホールの検査を行うことができる。
Further, as shown in FIG. 6, the inspection via holes 17 formed in a staggered shape need not all be the same size, and correspond to the via holes formed in the printed wiring board 1. By setting the diameter, via holes formed with different diameters can be inspected by a peel test in one inspection region.

【0037】上述のようにして行われた剥離の後のビア
ホール内におけるメッキ層の残留度合い、すなわち接着
性の検査は、形成される検査用ビアホール17が0.1
mm程度に小さい場合もあるため、顕微鏡といった手段
により観測して判断を行う。
Inspection of the degree of the plating layer remaining in the via hole after the peeling performed as described above, that is, the inspection of the adhesiveness, is performed so that the inspection via hole 17 to be formed is 0.1%.
Since it may be as small as about mm, judgment is made by observing with a means such as a microscope.

【0038】図7には、本発明のプリント配線板の検査
方法により得られる剥離パターンを断面とし、メッキ層
の剥離状態を示した概略図である。図7(a)が、図6
において示した検査用ビアホール13内におけるメッキ
層の接着性が良好な場合に残留するメッキ層を示してい
る。上側パッド18から下側パッド16にまで連続する
メッキ層19は、剥離により、上側パッド18と検査用
ビアホール17の上端の境界面において破壊され、検査
用ビアホール17の内部のメッキ層は完全に保持されて
いるのが示されている。
FIG. 7 is a schematic view showing the state of peeling of the plating layer, with a cross section of a peeling pattern obtained by the printed wiring board inspection method of the present invention. FIG.
2 shows a plating layer remaining when the adhesion of the plating layer in the inspection via hole 13 shown in FIG. The plating layer 19 continuous from the upper pad 18 to the lower pad 16 is broken at the boundary between the upper pad 18 and the upper end of the inspection via hole 17 by peeling, and the plating layer inside the inspection via hole 17 is completely retained. Is shown.

【0039】また、図7(b)は、図7に示した接着不
良の場合の状態を示した図であり、検査用ビアホール1
7の内壁のメッキ層19は、ベース層15の上側面15
aから剥離されている。さらに図7(c)は、下側パッ
ド16およびそれに隣接するメッキ層との接着性は充分
なものの、検査用ビアホール17の内壁とメッキ層19
との間の接着性が不良なため、検査用ビアホール17の
側壁におけるメッキ層19が剥離してしまっているのが
示されている。
FIG. 7B is a view showing a state in the case of the adhesion failure shown in FIG.
7 is formed on the upper surface 15 of the base layer 15.
a. FIG. 7C shows that the inner wall of the inspection via hole 17 and the plating layer 19 have sufficient adhesion to the lower pad 16 and the plating layer adjacent thereto.
It is shown that the plating layer 19 on the side wall of the inspection via hole 17 has peeled off due to poor adhesion between the plating layer 19 and the via hole 17.

【0040】検査用ビアホール17および検査用ビアホ
ール17に施されるメッキ層は、ベース基板15の配線
領域に形成されるビアホールと同時に、かつ同一の方法
により形成されるため、図6および図7に示すように、
本発明のプリント配線板の検査方法を用いることによ
り、プリント配線板のベース基板15の配線領域に形成
されるビアホールの内壁におけるメッキ層19の接着性
を検査することが可能となる。したがって、本発明によ
れば、ビアホールの内部の導通不良といった不都合を、
プリント配線板の内部配線領域の状態を損なうことな
く、さらには、下層のビアホールのメッキ状態が不良の
まま次工程を行ってしまうことによる作業上のロスを防
止することが可能となる。
The inspection via hole 17 and the plating layer formed on the inspection via hole 17 are formed at the same time as the via hole formed in the wiring region of the base substrate 15 by the same method. As shown,
By using the printed wiring board inspection method of the present invention, it is possible to inspect the adhesion of the plating layer 19 on the inner wall of the via hole formed in the wiring region of the base substrate 15 of the printed wiring board. Therefore, according to the present invention, inconvenience such as poor conduction inside the via hole is reduced.
It is possible to prevent the loss of work due to performing the next process while the plating state of the lower via hole is defective without impairing the state of the internal wiring area of the printed wiring board.

【0041】上述した本発明のプリント配線板の検査方
法は、種々の手段を用いて行うことができる。例えば、
最も簡便に検査を行う場合には、上述した上側パッド1
8の端部を検査用ビアホール17の列に沿って、例えば
カッターや、かみそりといった鋭い刃先を備える手段に
より剥がし、この剥がした部分を、ピンセットといった
把持具を用いて手作業により剥離を行なう。その後顕微
鏡などの拡大手段により拡大して検査用ビアホール17
の内部を観測し、メッキ層の残留具合を判断することに
より行うこともできる。また、本発明のプリント配線板
の検査方法は例えば、これまで知られている、導体引き
剥がし強さ試験といった方法に準じて上側パッド18を
剥離して行くことにより行うこともできる。
The above-described method for inspecting a printed wiring board of the present invention can be performed using various means. For example,
For the simplest inspection, the upper pad 1
8 is peeled off along a row of the inspection via holes 17 by means having a sharp edge such as a cutter or a razor, and the peeled portion is manually peeled off using a gripper such as tweezers. After that, the inspection via hole 17 is enlarged by an enlargement means such as a microscope.
Can be performed by observing the inside of the substrate and judging the residual state of the plating layer. In addition, the method for inspecting a printed wiring board according to the present invention can be performed, for example, by peeling off the upper pad 18 according to a known method such as a conductor peeling strength test.

【0042】接着性の評価方法としては、例えば検査ビ
アホール17の総数のうちの、良好な接着性を示したサ
ンプルの数を表すことにより行うことができる。また本
発明においては、上述した方法以外にも適切に剥離を行
うことを可能とする手段であれば、いかなる手段でも用
いることができる。
The adhesion can be evaluated by, for example, expressing the number of samples showing good adhesion among the total number of the inspection via holes 17. In the present invention, any means other than the above-described method can be used as long as it can appropriately perform peeling.

【0043】本発明においては上述した検査を行った
後、接着性が良好な基板についてさらに別の下側パッド
を形成した後、感光性樹脂層を塗布して別の上側パッド
を形成することにより別の検査領域を作成して、同様の
検査を行うことにより高信頼性を有する多層プリント配
線板を作成することが可能となる。また、上述した検査
用領域は、感光性樹脂を露光するためのフォトマスクの
端部に検査用ビアホールのためのパターンを形成してお
くことだけで形成することができるため、プリント配線
板の製造工程に対して別の器具、装置を付加することも
ない。
In the present invention, after performing the above-described inspection, another lower pad is formed on a substrate having good adhesiveness, and then a photosensitive resin layer is applied to form another upper pad. By creating another inspection area and performing the same inspection, a multilayer printed wiring board having high reliability can be created. In addition, since the above-described inspection region can be formed only by forming a pattern for an inspection via hole at an end of a photomask for exposing the photosensitive resin, manufacturing of a printed wiring board is performed. There is no need to add another tool or device to the process.

【0044】この後、本発明においては必要に応じて感
光性樹脂の層をすでに形成されたビアホールの上に積層
し、上述した工程を繰り返すことにより、ビアホールの
信頼性が向上したプリント配線板を製造することが可能
となる。本発明においては、検査用領域が特に本発明の
プリント配線板に形成される電気回路および本発明のプ
リント配線板と共に用いられる他の電気装置との関係に
おいて不都合を与えない限り、検査用領域を切断除去せ
ず、そのまま用いることもできる。また、本発明のプリ
ント配線板の製造方法に、上述した検査用領域を切断す
る工程を加えて、プリント配線板から検査用領域を取り
除いた形態のプリント配線板を提供することも可能であ
る。
Thereafter, in the present invention, a layer of a photosensitive resin is laminated on the already formed via hole as necessary, and the above-described steps are repeated to obtain a printed wiring board with improved via hole reliability. It can be manufactured. In the present invention, unless the inspection area is inconvenient in relation to the electric circuit formed on the printed wiring board of the present invention and other electric devices used together with the printed wiring board of the present invention, the inspection area is used. It can be used as it is without cutting and removing. Further, it is also possible to provide a printed wiring board in a form in which the inspection area is removed from the printed wiring board by adding the step of cutting the inspection area described above to the method for manufacturing a printed wiring board of the present invention.

【0045】本発明により製造されるプリント配線板に
は、CPU、抵抗、種々のメモリ、LSI、IC、コン
デンサ、トランスといったこれまでに知られている電気
的要素が実装されて電気デバイスが構成され、所望する
電気装置のモジュールとして用いることが可能となる。
On the printed wiring board manufactured according to the present invention, known electric elements such as a CPU, a resistor, various memories, an LSI, an IC, a capacitor, and a transformer are mounted to constitute an electric device. It can be used as a module of a desired electric device.

【0046】これまで、本発明を図面に示した実施の形
態に基づいて説明してきたが、本発明は、上述した実施
の形態に限定されるものではなく、ビアホールとして
は、一般のビアホールのほか、上述した先止まりに形成
されたビアホール、例えば未貫通のいかなる形状の形状
追従ビア、いわゆるスキップビアといったビアホールに
適用することができる。また、本発明が適用されるビア
ホールの形状は、図面に示した形状に限定されるわけで
はなく、いかなる形状のビアホールであってもよい。
Although the present invention has been described with reference to the embodiment shown in the drawings, the present invention is not limited to the above-described embodiment. The present invention can be applied to the above-described via holes formed at the end, for example, via holes such as shape follow vias of any shape that are not penetrated, so-called skip vias. In addition, the shape of the via hole to which the present invention is applied is not limited to the shape shown in the drawings, and the via hole may have any shape.

【0047】本発明のプリント配線板の検査方法および
製造方法を、特に先止まりに形成された形状追従ビア
や、いわゆるスキップビアに適用すれば、先止まりに形
成された部分のメッキ層の残留具合を用いて高精度な検
査を行うことが可能となり、より高信頼性の多層プリン
ト配線板を、より高い歩留まりで安価に製造することが
可能となる。
When the method for inspecting and manufacturing a printed wiring board according to the present invention is applied to a shape follow-up via formed at a stop, or a so-called skip via, particularly, a residual state of a plating layer at a portion formed at a stop is provided. , It is possible to perform a highly accurate inspection, and it is possible to manufacture a multilayer printed wiring board with higher reliability at a higher yield and at a lower cost.

【0048】また、本発明のプリント配線板の製造方法
により製造されるプリント配線板は、上述したようにビ
アホールの信頼性が向上されているので、高品質の電気
デバイスを提供することが可能となる。さらに、本発明
のプリント配線板におけるベース基板の製造、ビアホー
ルまたはスルーホールといった他の要素の製造方法、内
層配線の形成方法については、これまで知られているい
かなる構成、材料、製造方法でも用いることが可能であ
る。
In the printed wiring board manufactured by the method for manufacturing a printed wiring board of the present invention, the reliability of the via hole is improved as described above, so that it is possible to provide a high-quality electric device. Become. Furthermore, for the method of manufacturing the base substrate, the method of manufacturing other elements such as via holes or through holes, and the method of forming the inner layer wiring in the printed wiring board of the present invention, any known structure, material, and manufacturing method may be used. Is possible.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明により形成されたプリント配線板の第1
の実施の形態を示した図。
FIG. 1 shows a first example of a printed wiring board formed according to the present invention.
FIG.

【図2】本発明により形成されたプリント配線板の第2
の実施の形態を示した図。
FIG. 2 shows a second example of a printed wiring board formed according to the present invention.
FIG.

【図3】図1の矢線A−Aに沿った多層プリント配線板
および検査用領域の断面を示した図。
FIG. 3 is a view showing a cross section of the multilayer printed wiring board and an inspection area taken along the line AA of FIG. 1;

【図4】図3に示したプリント配線板の詳細な断面図。FIG. 4 is a detailed sectional view of the printed wiring board shown in FIG. 3;

【図5】本発明に用いる検査用領域を形成するための上
側パッドと下側パッドを示した図。
FIG. 5 is a diagram showing an upper pad and a lower pad for forming an inspection area used in the present invention.

【図6】本発明のプリント配線板の検査方法により剥離
が行われた状態を示した図。
FIG. 6 is a diagram showing a state in which peeling is performed by the printed wiring board inspection method of the present invention.

【図7】本発明のプリント配線板の検査方法を用いて得
られる検査用ビアホール内部のメッキ層の状態を示した
図。
FIG. 7 is a diagram showing a state of a plating layer inside an inspection via hole obtained by using the printed wiring board inspection method of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…プリント配線板 2a,2b,2c…検査用領域 3a,3b,3c…検査用領域 4a,4b,4c,4d…プリント配線板端部 5…ベース基板 6…SLC層 6a,6b…感光性樹脂層 7…SLC層 8、9,10,11…検査用ビアホール 12a,12b,12c,12d…上側パッド 13…上側SLC層 13a,13b…感光性樹脂層 14…下側SLC層 15…ベース基板 16…下側パッド 17…検査用ビアホール 18…上側パッド 19…検査用ビアホール内のメッキ層 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Printed wiring board 2a, 2b, 2c ... Inspection area 3a, 3b, 3c ... Inspection area 4a, 4b, 4c, 4d ... Printed wiring board edge 5 ... Base board 6 ... SLC layer 6a, 6b ... Photosensitivity Resin layer 7 SLC layer 8, 9, 10, 11 ... Inspection via hole 12a, 12b, 12c, 12d Upper pad 13 Upper SLC layer 13a, 13b Photosensitive resin layer 14 Lower SLC layer 15 Base board 16: Lower pad 17: Via hole for inspection 18 ... Upper pad 19: Plating layer in via hole for inspection

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 守沢 晃 滋賀県野洲郡野洲町大字市三宅800番地 日本アイ・ビー・エム株式会社 野洲事業 所内 (72)発明者 中野 浩 滋賀県野洲郡野洲町大字市三宅800番地 日本アイ・ビー・エム株式会社 野洲事業 所内 Fターム(参考) 2G051 AA68 AB20 5E346 AA41 CC09 CC32 DD12 FF04 GG33  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Akira Morisawa 800 Miyake, Yasu-cho, Yasu-cho, Yasu-gun, Shiga Prefecture Inside the Yasu Office of IBM Japan, Ltd. (72) Inventor Hiroshi Nakano Yasu-cho, Yasu-gun, Shiga Prefecture 800 Miyake, Oji City IBM Japan, Ltd. Yasu Office F-term (reference) 2G051 AA68 AB20 5E346 AA41 CC09 CC32 DD12 FF04 GG33

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ベース基板の表面に樹脂層を設け、該樹
脂層にビアホールと検査用ビアホールとを形成する工程
を含んで形成されるプリント配線板の検査方法であっ
て、 前記樹脂層にビアホールおよび検査用ビアホールを形成
する段階と、 前記樹脂層上にメッキを施して前記ビアホールおよび前
記検査用ビアホールの内側にメッキ層を形成し、前記検
査用ビアホールを取り囲み該検査用ビアホールの内側の
メッキ層から連続する上側メッキ層を含んで形成される
検査用領域を形成する段階と、 前記上側メッキ層を剥離する段階と、 前記検査用ビアホールの内壁におけるメッキ層を観測す
る段階とを含む、プリント配線板の検査方法。
1. A method for inspecting a printed wiring board, comprising: providing a resin layer on a surface of a base substrate, and forming a via hole and an inspection via hole in the resin layer. And forming a test via hole, plating on the resin layer to form a plating layer inside the via hole and the test via hole, surrounding the test via hole, and forming a plating layer inside the test via hole. Forming an inspection area formed including an upper plating layer continuous from the above, a step of peeling the upper plating layer, and a step of observing a plating layer on an inner wall of the inspection via hole. Board inspection method.
【請求項2】 前記剥離工程を対向する方向から複数回
行う、請求項1に記載の検査方法。
2. The inspection method according to claim 1, wherein the peeling step is performed a plurality of times from opposite directions.
【請求項3】 前記検査用ビアホールが、前記上側メッ
キ層の剥離方向を横切って複数形成される、請求項1に
記載の検査方法。
3. The inspection method according to claim 1, wherein a plurality of the inspection via holes are formed across a peeling direction of the upper plating layer.
【請求項4】 前記検査用ビアホールは、前記上側メッ
キ層の剥離方向を横切って千鳥状に形成される、請求項
1に記載の検査方法。
4. The inspection method according to claim 1, wherein the inspection via holes are formed in a staggered manner across the peeling direction of the upper plating layer.
【請求項5】 前記ビアホールと、前記検査用ビアホー
ルとが、先止まり形状に形成される、請求項1〜4のい
ずれか1項に記載の検査方法。
5. The inspection method according to claim 1, wherein the via hole and the inspection via hole are formed in a stop shape.
【請求項6】 ベース基板の表面に樹脂層を設け、該樹
脂層にビアホールと検査用ビアホールとを形成する工程
を含んで形成されるプリント配線板の製造方法であっ
て、 前記樹脂層にビアホールおよび検査用ビアホールを形成
する段階と、 前記樹脂層上にメッキを施して前記ビアホールおよび前
記検査用ビアホールの内側にメッキ層を形成し、前記検
査用ビアホールを取り囲み該検査用ビアホールの内側の
メッキ層から連続する上側メッキ層を含んで形成される
検査用領域を形成する段階と、 前記上側メッキ層を剥離する段階と、 前記検査用ビアホールの内壁におけるメッキ層を観測す
る段階とを含む、プリント配線板の製造方法。
6. A method for manufacturing a printed wiring board, comprising: providing a resin layer on a surface of a base substrate, and forming a via hole and an inspection via hole in the resin layer, wherein the via hole is formed in the resin layer. And forming a test via hole, plating on the resin layer to form a plating layer inside the via hole and the test via hole, surrounding the test via hole, and forming a plating layer inside the test via hole. Forming an inspection area formed including an upper plating layer continuous from the above, a step of peeling the upper plating layer, and a step of observing a plating layer on an inner wall of the inspection via hole. Plate manufacturing method.
【請求項7】 前記剥離工程を対向する方向から複数回
行う、請求項6に記載の製造方法。
7. The method according to claim 6, wherein the peeling step is performed a plurality of times from opposite directions.
【請求項8】 前記検査用領域を切断除去する工程を含
む、請求項6または7に記載の製造方法。
8. The manufacturing method according to claim 6, further comprising a step of cutting and removing the inspection area.
【請求項9】 ベース基板の表面に樹脂層を設け、該樹
脂層にビアホールと検査用ビアホールとを形成する工程
を含んで形成されるプリント配線板であって、 前記樹脂層にビアホールおよび検査用ビアホールを形成
する段階と、 前記樹脂層上にメッキを施して前記ビアホールおよび前
記検査用ビアホールの内側にメッキ層を形成し、前記検
査用ビアホールを取り囲み該検査用ビアホールの内側の
メッキ層から連続する上側メッキ層を含んで形成される
検査用領域を形成する段階と、 前記上側メッキ層を剥離する段階と、 前記検査用ビアホールの内壁におけるメッキ層を観測す
る段階と、を含む工程により製造されるプリント配線
板。
9. A printed wiring board formed by providing a resin layer on a surface of a base substrate and forming a via hole and an inspection via hole in the resin layer, wherein the resin layer has a via hole and an inspection via hole. Forming a via hole; plating the resin layer to form a plating layer inside the via hole and the inspection via hole, surrounding the inspection via hole and continuing from the plating layer inside the inspection via hole. It is manufactured by a process including a step of forming an inspection area including an upper plating layer, a step of peeling the upper plating layer, and a step of observing a plating layer on an inner wall of the inspection via hole. Printed wiring board.
【請求項10】 ベース基板の表面に樹脂層を設け、該
樹脂層にビアホールと検査用ビアホールとを形成する工
程を含んで形成されるプリント配線板を用いた電気デバ
イスであって、 前記樹脂層にビアホールおよび検査用ビアホールを形成
する段階と、 前記樹脂層上にメッキを施して前記ビアホールおよび前
記検査用ビアホールの内側にメッキ層を形成し、前記検
査用ビアホールを取り囲み該検査用ビアホールの内側の
メッキ層から連続する上側メッキ層を含んで形成される
検査用領域を形成する段階と、 前記上側メッキ層を剥離する段階と、 前記検査用ビアホールの内壁におけるメッキ層を観測す
る段階と、を含む工程により製造されるプリント配線板
と、 該プリント配線板に実装された複数の電気的要素とを含
む、電気デバイス。
10. An electric device using a printed wiring board formed by providing a resin layer on a surface of a base substrate and forming a via hole and an inspection via hole in the resin layer, wherein the resin layer Forming a via hole and an inspection via hole on the resin layer, plating the resin layer to form a plating layer inside the via hole and the inspection via hole, surrounding the inspection via hole and inside the inspection via hole. Forming a test region including the upper plating layer continuous from the plating layer; removing the upper plating layer; and observing a plating layer on an inner wall of the inspection via hole. An electric device, comprising: a printed wiring board manufactured by a process; and a plurality of electrical elements mounted on the printed wiring board.
【請求項11】 プリント配線板の検査方法であって、 表面に樹脂層を有する基板を準備する段階と、 前記樹脂層にビアホールおよび検査用ビアホールを形成
する段階と、 前記ビアホール内および前記検査用ビアホール内に導電
層を形成する段階と、前記樹脂層表面において前記検査
用ビアホールを取り囲み該検査用ビアホール内の導電層
に連続する上側導電層を形成する段階と、 前記上側導電層を剥離する段階と、 前記剥離後の前記検査用ビアホール内の導電層を観測す
る段階とを含む、プリント配線板の検査方法。
11. A method for inspecting a printed wiring board, comprising: preparing a substrate having a resin layer on the surface; forming a via hole and an inspection via hole in the resin layer; Forming a conductive layer in the via hole, forming an upper conductive layer surrounding the inspection via hole on the surface of the resin layer and continuing to the conductive layer in the inspection via hole, and removing the upper conductive layer And a step of observing a conductive layer in the inspection via hole after the separation.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008519439A (en) * 2004-10-28 2008-06-05 インテル・コーポレーション Evaluation of micro via formation in PCB board manufacturing process

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