JP2002004880A

JP2002004880A - 簡便型機器検査装置

Info

Publication number: JP2002004880A
Application number: JP2000186505A
Authority: JP
Inventors: Tomoya Satou; 朋也佐藤
Original assignee: IHI Corp
Current assignee: IHI Corp
Priority date: 2000-06-21
Filing date: 2000-06-21
Publication date: 2002-01-09

Abstract

(57)【要約】【課題】電子機器の機能、性能検査にかかる工数を、
従来の検査方式に比較して大幅に軽減すると共に簡単に
操作することができ、その作業工数が作業員の技能レベ
ルに左右されず、更に検査により得られる検査データの
品質の均質化を図る。【解決手段】ガスタービンエンジン等を制御する電子
機器を検査する機器検査装置であって、電子機器等の検
査対象機器３に、全入力回路分の信号回路の信号ライン
を繋ぎ、検査対象機器３に入力する入力信号を、
「低」、「中」、「高」の３段階等の複数段階に設定
し、この各段階の入力信号を、検査装置の操作パネル４
のスイッチ５，６，７で切り換えられるような回路構成
にしたものである。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術の分野】本発明は、電子機器等の検
査装置に係り、特に電子機器の機能を迅速かつ容易に検
査することができる簡便型機器検査装置に関するもので
ある。

【０００２】

【従来の技術】航空機に搭載するガスタービンエンジン
等を制御する電子機器又はその機体に搭載する電子制御
機器については、その機能が正確に作動するかを検査し
ている。そこで、例えばアナログの信号をデジタルの信
号変換処理し、その信号を検査対象機器となる機体側の
コンピュータに出力することにより検査していた。例え
ば、温度、圧力、回転数等に相当するアナログの模擬信
号を入力していた。このような電子機器の機能・性能を
検査する装置には、模擬信号を生成するための回路が必
要であった。そこで、各信号毎に専用回路を準備する
か、又は計測ラインを繋ぎ変えて、入力信号を設定して
いた。

【０００３】また、アナログ機能の確認をするときは、
入力信号のレベルを数点調整する必要があり、この調整
には、回転式のトリマーやｍＶ発生器の電圧値を個別的
に作業員が調整するのが普通であった

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上記従来の入力信号点
数が多い機器では、図５に示す操作パネル１のように、
機能、性能検査にかかる工数が多くなった。例えば、航
空機用ジェットエンジン等の年間数台程度の小量生産で
は、前回行った検査から長期間経過しているので検査を
する作業員の作業の習熟度が上がらなかった。機能、性
能検査にかかる工数を削減することが困難であるという
問題があった。例えば、信号ラインの繋ぎ間違いによ
り、信号設定のミス等の人為的な検査ミスが発生しやす
かった。

【０００５】また、従来の回転式のトリマー２で作業員
が模擬抵抗値を調整して、検査対象機器３について検査
する方法は、図６に示すように、次のような動作段階で
検査していた。〔検査試験時の動作〕１．模擬信号「低」設定は、ＶＲ１をｍｉｎ（最小）と
してＲ１を入力する２．模擬信号「高」設定は、ＶＲ１を調整してＲ１＋Ｖ
Ｒ１を入力する３．模擬信号「中」設定は、ＶＲ１を中間にしてＲ１＋
ＶＲ１／２を入力する４．応答特性計測は、作業者がトリマー２を操作してス
テップ信号を模擬していた５．断線は、信号線を外して模擬していた

【０００６】しかし、この検査方法では、歪みゲージ信
号は微弱な信号なので、トリマー２で設定するには信号
の安定性に問題があった。例えば、１ｋΩのブリッジ回
路で、励磁電圧が１０Ｖの場合、０〜３０ｍＶの信号を
模擬するには１２Ωの抵抗変化が必要であった。通常の
下限は１００Ω程度であるため、このような仕様に合致
するトリマー２の設定が無かった。トリマー誤差は、フ
ルスパンに比例するので、設定誤差が大きくなるという
問題があった。

【０００７】更に、従来の回転式のトリマーで作業員が
模擬抵抗値を調整して検査する方法も、図７に示す回路
構成について、上述したような動作段階で検査してい
た。

【０００８】この従来の回転式のトリマー３で作業員が
模擬抵抗値を調整して検査する方法では、信号入力範囲
の最小値（ｍｉｎ）から最大値（ｍａｘ）までを模擬す
るにはトリマー３を多く回転させなければならず時間の
かかるものであった。測温抵抗体の要求仕様に合致する
トリマー３の設定が無く、一サイズ大きいものを選択し
なければならなかった。例えば、７０Ω〜２８０Ωが必
要な場合、トリマー３としては２１０Ωあれば良いが、
実際は３００Ω又は５００Ωのトリマー３を使用する必
要があった。トリマー誤差は、フルスパンに比例するの
で、設定誤差が大きくなるという問題があった。

【０００９】本発明は、かかる問題点を解決するために
創案されたものである。すなわち、本発明の目的は、電
子機器の機能、性能検査にかかる工数を、従来の検査方
式に比較して大幅に軽減すると共に簡単に操作すること
ができ、その作業工数が作業員の技能レベルに左右され
ず、更に検査により得られる検査データの品質の均質化
を図ることができる簡便型機器検査装置を提供すること
にある。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明によれば、ガスタ
ービンエンジン等を制御する電子機器を検査する機器検
査装置であって、前記電子機器等の検査対象機器（３）
に、全入力回路分の信号回路の信号ラインを繋ぎ、前記
検査対象機器（３）に入力する入力信号を、「低」、
「中」、「高」の３段階等の所定の複数段階に設定し、
この各段階の入力信号を、検査装置の操作パネル（４）
のスイッチ（４，５，６）で切り換えられるような回路
構成にしたこと、を特徴とする簡便型機器検査装置が提
供される。この回路構成は、歪みゲージ信号又は測温抵
抗体信号を模擬する回路にすることができる。

【００１１】前記回路構成に、断線模擬回路及び応答性
確認回路を付加し、かつそれぞれ「断」スイッチ（８）
と「応」スイッチ（９）とを設けることができる。これ
らの２スイッチは、「低」、「中」、「高」等の複数段
階の何れの状態からでも設定できるようなモーメンタリ
ーである。また、前記「低」、「中」、「高」の３段階
の入力信号を検査機器パネル（４）のオルタネートスイ
ッチで切り換えられるような回路構成にすることが可能
である。

【００１２】上記発明の構成によれば、模擬信号の設定
を、「低」、「中」、「高」の３段階等の複数段階のみ
に限定したので、従来のように模擬信号を回転式のトリ
マー（３）で細かく連続的に設定する必要がなくなっ
た。そこで、例えば、操作パネル（４）の「低」スイッ
チ（５）を押下すると、全アナログ信号が一括して入力
範囲の下限に設定される。同様に「断」スイッチ（８）
を押下すると、全アナログ信号が一括して断線モードに
はいる。

【００１３】そこで、予め「低」、「中」、「高」の３
段階等の複数段階に設定して検査することができるの
で、機能、性能検査にかかる工数が、従来の方式に比較
して大幅に軽減される。各操作が簡単であるため、作業
工数が作業員の技能レベルに左右されない。また、信号
の操作を機器側で行うので、得られる検査データの品質
の均質化が図れる。

【００１４】

【発明の実施の形態】以下、本発明の好ましい実施形態
を図面を参照して説明する。なお、図において共通の部
材には同一の符号を付し重複した説明を省略する。図１
は本発明の簡便型機器検査装置の第一の発明の実施の形
態を示す回路図である。図２は第一の発明の実施の形態
を操作パネルを示す正面図である。本発明の簡便型機器
検査装置は、航空機に搭載するガスタービンエンジン等
を制御する電子機器又はその機体に搭載する電子制御機
器等の検査対象機器３について、アナログの信号をデジ
タルの信号変換処理し、検査対象機器３となる機体側の
コンピュータに出力することにより検査する際に、入力
信号の設定を、「低」、「中」、「高」の３段階のみに
限定したものである。この３段階の入力信号は、操作パ
ネル４のスイッチ５，６，７で切り換えられるような回
路構成にしたものである。

【００１５】この回路構成には、航空機搭載機器では必
須の回路である、断線模擬回路の「断」スイッチ８を付
加してある。この「断」スイッチ８を入れると断線した
状態になる。また、同じく航空機搭載機器では必須の回
路である、応答性確認回路の「応」スイッチ９を付加し
てある。この「応」スイッチ９は、応答特性を確認する
ものである。なお、操作パネル４における「ＡＮＴＩ−
ＩＣＥ−ＶＡＬＶＥ」は、出力信号である。

【００１６】例えば、操作パネル４の「低」スイッチ５
を押下すると、全アナログ信号が一括して入力範囲の下
限に設定される。同様に「断」スイッチ８を押下する
と、全アナログ信号が一括して断線モードにはいる。

【００１７】図３は歪みゲージ信号模擬回路を用いた簡
便型機器検査装置の第二の発明の実施の形態を示す回路
図である。この第二の発明の実施の形態では、操作パネ
ル４の「低」スイッチ５を押下すると、歪みゲージの模
擬信号が１ｋΩに設定される。「高」スイッチ７を押下
すると、上限の９８８Ωに設定され、「中」スイッチ６
を押下すると、信号範囲の中間の９９４Ωに設定され
る。更に「断」スイッチ８を押下すると、回路の応答特
性を試験するため、直前の模擬信号に１．２Ωがステッ
プ状に加算される。

【００１８】本発明の検査装置による各スイッチとその
スイッチの動作は、次に示すようになっている。Ａ．「低」スイッチ５押下すると、ＳＷ１がＯＮするＢ．「中」スイッチ６押下すると、ＳＷ２がＯＮするＣ．「高」スイッチ７押下すると、ＳＷ３がＯＮする「低」、「中」、「高」スイッチ５，６，７はオルタネ
ートで、何れか１つしか選択できない、「低」スイッチ
５が押下されているときは、「中」、「高」スイッチ
６，７は戻るようになっている。４．「応」スイッチ９押下すると、ＳＷ４がＯＦＦするＢ．「断」スイッチ８押下すると、ＳＷ５がＯＦＦする「応」、「断」スイッチ８，９はモーメンタリーで、
「低」、「中」、「高」スイッチ５，６，７の状態に関
わらず選択できる

【００１９】試験時の動作は、次に示す通りである１．「低」スイッチ５の押下時模擬信号設定は、Ｒ１＋Ｒ５２．「中」スイッチ６の押下時模擬信号設定は、Ｒ２＋Ｒ５３．「高」スイッチ７の押下時模擬信号設定は、Ｒ３＋Ｒ５４．「応」スイッチ９を押下すると模擬信号設定は、Ｒ４が加わる５．「断」スイッチ８を押下すると模擬信号設定は、断線模擬状態

【００２０】上述したように、本発明の簡便型機器検査
装置では、模擬信号の設定を、「低」、「中」、「高」
の３段階のみに限定したので、従来のように模擬信号を
回転式のトリマー３で細かく連続的に設定する必要がな
いので、操作パネル４の「低」スイッチ５を押下する
と、全アナログ信号が一括して入力範囲の下限に設定さ
れる。同様に「断」スイッチ８を押下すると、全アナロ
グ信号が一括して断線モードにはいる。そこで、予め
「低」、「中」、「高」の３段階に設定して検査するこ
とができるようになっている。

【００２１】図４は測温抵抗体模擬回路を用いた簡便型
機器検査装置の第三の発明の実施の形態を示す回路図で
ある。第三の発明の実施の形態では、例えば、操作パネ
ル４の「低」スイッチ５を押下すると、測温抵抗体の模
擬信号が７０Ωに設定される。「高」スイッチ７を押下
すると、上限の２８０Ωに設定され、「中」をスイッチ
６を押下すると、信号範囲の中間の１７５Ωに設定され
る。「断」スイッチ８を押下すると、断線モードが模擬
でき、「応」スイッチ９を押下すると、回路の応答特性
を試験するため、直前の模擬信号に２１Ωがステップ状
に加算される。

【００２２】本発明の検査装置による各スイッチとその
スイッチの動作は、上記第二の発明の実施の形態と同様
である。

【００２３】

【発明の効果】上述したように、本発明の簡便型機器検
査装置は、検査対象機器に入力する入力信号を、
「低」、「中」、「高」の３段階等の複数段階に設定
し、この「低」、「中」、「高」の３段階の入力信号
を、検査装置の操作パネルのスイッチで切り換えられる
ような回路に構成したので、検査対象機器の機能、性能
検査にかかる工数が、従来の方式に比較して大幅に軽減
することができる。この操作が、従来のように個々のボ
リュームを細かく調整する必要がなく、簡単であるた
め、作業工数が作業員の技能レベルに左右されない。

【００２４】また、信号の操作を機器側で行うので、得
られる検査データの品質の均質化が図れ、作業員に検査
手順を教えるのが楽になる。

【００２５】更に、スイッチを押下して抵抗値を計測す
ればよいので、メンテナンスが容易になる。操作スイッ
チをリレーを受ければ、複数の歪みゲージ信号を一斉に
切り替えることができるので、検査工数の削減に役立
つ、等の優れた効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の簡便型機器検査装置の第一の発明の実
施の形態を示す回路図である。

【図２】第一の発明の実施の形態を操作パネルを示す正
面図である。

【図３】簡便型機器検査装置の第二の発明の実施の形態
を示す回路図である。

【図４】簡便型機器検査装置の第三の発明の実施の形態
を示す回路図である。

【図５】従来の機器検査装置の操作パネルを示す正面図
である。

【図６】従来の機器検査装置のを示す回路図である。

【図７】従来の機器検査装置のを示す回路図である。

【符号の説明】

３検査対象機器４操作パネル５「低」スイッチ６「中」スイッチ７「高」スイッチ８「断」スイッチ９「応」スイッチ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】ガスタービンエンジン等を制御する電子
機器を検査する機器検査装置であって、前記電子機器等の検査対象機器（３）に、全入力回路分
の信号回路の信号ラインを繋ぎ、前記検査対象機器（３）に入力する入力信号を、所定の
複数段階に設定し、この各段階の入力信号を、検査装置の操作パネル（４）
のスイッチ（５，６，７）で切り換えられるような回路
構成にしたこと、を特徴とする簡便型機器検査装置。
【請求項２】ガスタービンエンジン等を制御する電子
機器を検査する機器検査装置であって、前記電子機器等の検査対象機器（３）に、全入力回路分
の信号回路の信号ラインを繋ぎ、前記電子機器等の検査対象機器（３）に入力する歪みゲ
ージ信号を模擬する回路で、この入力信号を、所定の複
数段階に設定し、この各段階の入力信号を、検査装置の操作パネル（４）
のスイッチ（５，６，７）で切り換えられるような回路
構成にしたこと、を特徴とする簡便型機器検査装置。
【請求項３】ガスタービンエンジン等を制御する電子
機器を検査する電子機器検査装置であって、前記電子機器等の検査対象機器（３）に、全入力回路分
の信号回路の信号ラインを繋ぎ、前記電子機器等の検査対象機器（３）に入力する測温抵
抗体信号を模擬する回路で、この入力信号を、所定の複
数段階に設定し、この各段階の入力信号を操作パネル（４）のスイッチ
（５，６，７）で切り換えられるような回路構成にした
こと、を特徴とする簡便型機器検査装置。
【請求項４】前記回路に、断線模擬回路及び応答性確
認回路を付加し、かつそれぞれ「断」スイッチ（８）と
「応」スイッチ（９）とを設けたこと、を特徴とする請
求項１、２又は３の簡便型機器検査装置。
【請求項５】前記２スイッチ（８，９）が、前記複数
段階の何れの状態からでも設定できるようにモーメンタ
リーであること、を特徴とする請求項４の簡便型機器検
査装置。
【請求項６】前記複数段階の入力信号を操作パネル
（４）のオルタネートスイッチで切り換えられるような
回路構成にしたこと、を特徴とする請求項１、２、３、
４又は５の簡便型機器検査装置。