JP2001525542A

JP2001525542A - 容器のバルジを検査する装置及び方法

Info

Publication number: JP2001525542A
Application number: JP2000523538A
Authority: JP
Inventors: エム．エスアール．ディミック，ヘンリー; エフ．エスアール．ザネラ，マーク
Original assignee: AGR International Inc
Current assignee: AGR International Inc
Priority date: 1997-12-04
Filing date: 1998-11-30
Publication date: 2001-12-11
Also published as: AU737273B2; CN1306616A; EP1036310A4; EP1036310A1; AU1612999A; US5844677A; WO1999028728A1

Abstract

(57)【要約】容器を検査する装置であって、容器(22)を支持し、移送するための支持アーム(17)を具えている。支持アーム(17)は一対の可動アームを有しており、アーム間にはギャップが形成され、容器(22)の口部又はネック部の外側に当接する凹部を有している。光源(50)により、光は可動アームに投射され、検出器(54)は可動アームのギャップを通る光を受光する。検出器(54)は応答性電気信号をプロセッサへ発信し、該プロセッサにて、容器(22)がバルジを有するかどうか、容器が不合格であるかどうか判定される。容器(22)の口部又はネック部の外側にバルジが存在するときは、可動アームはそのギャップが大きくなるように構成され配置されている。１又は２以上の支持アームを、ブロー成形されたプラスチック樹脂容器(22)の成形を行なう容器成形機械の中に配備することが望ましい。関連する方法についても開示されている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】発明の背景この発明は、容器のネック部又は口部に好ましくないバルジが存在するかどう
かを決定する装置及び関連する方法に関し、より具体的には、プラスチック容器
について、光学的、機械的及び電気的手段を組み合わせて所望の検査を行なうシ
ステムに関する。

【０００２】先行技術の説明この明細書で用いられる「バルジ(bulge)」なる語は、樹脂プラスチック容器のネック部(neck)又は口部(finish)における外向きの変形を意味する。容器とし
ては、例えばブロー成形により作られ、ネック部の口部領域内にスエリング(swe
lling)、バルジ、ブローアウト(blow-out)を有する容器を挙げることができるが
、これに限定されるものではない。

【０００３】例えばポリエチレンテレフタラート(ＰＥＴ)やＰＥＮのようなポリエチレンベ
ースの材料から容器を製造する際、プロセスを制御する上で様々な問題が起こる
ことは知られている。そのような問題の１つとして、自由形態の再加熱と、引き
続いて行われる容器ネック部の外側の口部領域(finish area)における成形結果に関するものがある。供給される熱が多すぎると、前述のバルジが起こる。バル
ジは、製造設備全体を通じて、容器の円滑な移送や製造プロセスに支障をきたす
。バルジが大きいと、成形装置にジャミングを起こし、機械の損傷や操業の停止
を招く。比較的小さな欠陥の場合、例えば０.０２インチを超えるオーダの場合でも、それらが成形装置を通る際、製造ラインの他の領域でハンドリングに不都
合をもたらす。これが特に問題となるのは、エアーコンベヤー用いて、容器の口
部領域に当接させて容器の移送を行なうシステムに適用したときである。

【０００４】この問題に対処するものとして、例えば米国特許第５５９１４６２号に開示さ
れているように、画像作製システムを用いたものがある。このシステムは、成形
装置の中に配備されており、製品の口部領域を監視し、欠陥のある容器を取り除
くようにしたものである。しかしながら、このシステムでは幾つかの不都合があ
る。その１つとして、このシステムでは、容器の単一画像に基づいて検査を行な
うことが挙げられる。単一画像の場合、１つの断面の直径しか調べることができ
ない。画像を追加することはできるけれども、成形装置内で利用可能なスペース
が限られており、また、画像の追加により検査時間が長くなる。また、成形装置
には移送機構があり、これが容器の口部領域の像を作成する上で障害となるため
、画像の追加は制約を受ける。それゆえ、それらの不都合をきたすことなく、容器の口部を効率良く検査する
装置及びそれに関連する方法が依然として要請されている。

【０００５】発明の要旨本発明は上記要請に応えるものである。本発明においては、支持アームを容器の口部又はネック部の外部に機械的に接
触させ、連繋された光発生及び検知システムを用いて、検出された光を電気信号
に応答性変換(responsive conversion)を行ない、該電気信号を処理手段(proces
sing means)に導入することにより、容器のネック部に好ましくないバルジがあるかどうかを効果的かつ迅速に決定することができる。

【０００６】本発明の望ましい実施例における装置は、容器を支持し移送する支持アームを
含んでいる。支持アームは一対の可動アームを有しており、アーム間にはギャッ
プが形成されると共に、容器のネック部の外側に当接する凹部が形成されている
。光を可動アームに投射する光源と、可動アーム間のギャップを通る光を受光す
る検出器が配備される。検出器手段は応答性電気信号を作成し、該信号は処理手
段へ送られる。処理手段は、バルジがあるかどうかを判定する。可動アームは互
いの反対方向に回動可能としている。それゆえ、バルジが存在するとギャップが
大きくなり、より多くの光が検出器手段へ送り込まれることになる。

【０００７】検査ステーションは成形機械の中に配備されることが好ましく、光源は支持ア
ームよりも高い位置、検出器は支持アームよりも低い位置に配備することが好ま
しい。

【０００８】関連する方法では、一対の可動アームを有し、該可動アーム間にギャップが形
成されてなる支持アームに容器を移送することを含んでいる。容器は可動アーム
の間に形成された凹部に把持され、光は可動アームに当てられるようになってい
る。ギャップを通過した光は検出器手段によって監視され、該検出器手段にて応
答性電気信号が作られる。電気信号は処理手段へ送られ、該処理手段にて、容器
はバルジの存在によって不合格かどうかの判定が行われる。不合格と判定された
容器は、検査に合格した容器とは分離される。容器が検査ステーションにあると
き、容器センサーは信号を処理手段へ供給する。

【０００９】本発明の目的は、ブロー成形された容器のバルジを検査するための改良された
装置及びそれに関連する方法を提供することである。本発明の他の目的は、成形機械の中で、ブロー成形された容器を検査するため
の１又は２以上のシステムを有する検査システムを提供することである。本発明のさらなる目的は、容器の支持及び移送手段を、検査システムの一体的
要素として用いた検査システムを提供することである。本発明のさらなる目的は、経済性にすぐれ、信頼性が高く、高速で容器検査を
行なうことのできるシステムを提供することである。本発明のさらなる目的は、画像作成装置を用いなくても、効果的に使用できる
システムを提供することである。本発明のこれらの目的及び他の目的については、添付の図面を参照しつつ以下
に記載する発明の説明によってより完全に理解されるであろう。

【００１０】望ましい実施例の説明図１は本発明の成形装置(1)を示している。成形装置(1)は容器を作るための型
アッセンブリ(2)を含んでいる。また、径方向に延びる複数の容器支持アーム(4)
(5)(6)を有する移送装置(3)と、検査ステーション(7)がある。望ましい形態では
、型アッセンブリ(2)、移送装置(3)及び検査ステーション(7)は成形装置(1)の中
に配備されている。容器は型アッセンブリから出て、矢印Ｃで示されるように、
反時計方向に移動する。支持アーム(4)(5)(6)は、矢印Ｄで示されるように時計方向に回転しており、容器は支持アームの凹部に収容される。支持アーム(4)(5)
(6)は約３〜２０が望ましい。このようにして、(8)(9)の如き容器は、順次、検査ステーション(7)へ送られる。検査ステーション(7)から出てきた容器の中でバ
ルジがあるものは、リジェクト機構(10)によって移動させられる。当該分野で公
知の適当なリジェクト手段により、不合格品置き場(11)へ送られる。図示の容器
(9)(12)は、バルジのない容器であり、反時計方向(矢印Ｅで示す)に回転する出口機構(14)の凹部(13)に入れられる。

【００１１】図２及び図３は容器支持アーム(15)を示しており、該支持アームは一対の可動
アーム(16)(17)を有し、これらのアームは矢印ＡとＢで示されるように、互いに
反対方向に回転するように取り付けられている。可動アーム(16)(17)の間にはギ
ャップ(18)が形成されている。凹部(19)は、可動アーム(16)(17)の円弧状部(20)
(27)によって形成され、容器(22)に密着できるようになっている。容器(22)は樹
脂プラスチック材料から作られ、例えば、ポリエチレンベースの材料をブロー成
形した容器であってよい。容器(22)は、基部(24)と、外向きかつ上方に拡大する
部分(26)と、略円筒形の部分(28)と、内向きかつ上方に縮径するネック部(30)と
、口部(32)とを有している。口部は、適当な密閉具が嵌まるようにネジ部を有し
ており、その下方には外向きに突出する環状支持リブがあり、該支持リブが可動
アーム(16)(17)によって把持され、容器(22)は移送される。

【００１２】可動アーム(16)は、紙面左側の枢軸に回動可能に配備されており、該アーム(1
6)は、凹部(19)の部分に表面(20)で示される容器のバルジがあると、そのバルジ
分に対応して反時計方向に移動するようになっている。可動アーム(17)も同様で
あって、容器にバルジがあり、凹部(19)の中で表面(27)が接触すると、そのバル
ジ分に対応して、アーム(17)は時計方向に移動するようになっている。可動アー
ム(16)(17)の相対的な移動により、ギャップ(18)は拡大し、後記するように、検
出器の上により多くの光が当たる。これによって、容器口部(32)の外側にバルジ
のあることがわかる。当該分野の専門家には知られているように、この種の容器
には、容器開口部(mouth)の下方に、密閉具を容器に取り付けるための口部(32) が設けられている。この口部の外部は、例えば、外ネジが形成されている。移送
のために設けられる環状リングは、一般的には、ネジ部の下方に間隔をあけて設
けられ、移送装置によって移送が行なわれる間、容器に当接して容器を支持して
いる。本発明では、可動アーム(16)(17)と容器とは、口部と移送用リングとの間
で当接するようにしている。容器のネック部(30)は、一般的に、移送用リングの
中央部から略円筒形の部分の上部まで延びている。所望により、可動アームは、
ネック部(30)の上部に当接するようにしてもよい。支持柱(40)はフロア部材(42)
の上で支持される。支持柱(44)についても同様である。ブラケット(46)は(48)の
部分が支持柱(40)に取り付けられている。ブラケット(46)にはまた、光発生手段
(50)が取り付けられており、この光発生手段により、符号(52)で示される如く、
検出器手段(54)の方へ下向きに角度をなして光線又は光ビームが発せられる。検
出器手段(54)は、一方の端部(58)が支持柱(44)に取り付けられたブラケット(56)
に配備されている。検査部では、支持アーム(15)の可動アーム(16)(17)により支
持された容器は光ビーム(52)を通過する。ギャップを通る光の量は、容器(22)の
外側ネック部の機械的作用と直接の関連性を有しており、バルジの有無に応じて
、ギャップ(18)を通過する光の量が決定される。検出器手段(54)として、例えば
フォトセンサー、フォトダイオードの自己走査型アレイ、電荷結合素子を示すこ
とができる。この検出器手段(54)は、受信した光を対応する出力電気信号に変換
する。出力電気信号は処理手段に送られ、該処理手段にて、容器にバルジがある
かどうかが判定される。処理手段として、例えばマイクロコンピュータが用いら
れ、合格容器に関する電圧値が格納されている。設計仕様を超える大きさのバル
ジがある場合、容器はリジェクトされ、検査にパスした容器とは分けられる。

【００１３】図４に示す本発明の一実施例において、光発生手段(70)は細長い略矩形の光ビ
ーム(72)を発生し、該光ビームの横断面はその長さ方向つまり高さ方向が、軸線
(52)に対して略直交している。光ビーム(52)と、可動アーム(16)(17)の平面との
間の小さい方の角度Ｆ(図２参照)は約５０〜７５度が望ましい。

【００１４】ハンドル手段(80)によって、支柱(40)上の支持体(46)の位置を相対的に調節す
ることができる。同様に、ハンドル手段(49)によって、支柱(44)上の支持手段(5
6)の位置を調節することができる。バルジを有しない容器の口部(32)と、バルジを有する容器(99)との比較を、図
５を参照して説明する。容器の口部(32)だけが示されているが、図５に示される
ギャップ(18)は正常時のものである。結果として、可動アーム(16)(17)は正常位
置の儘であり、ギャップ(18)の幅は所望の寸法である。

【００１５】図６に示す容器の口部(98)は、径方向に略一様に突出するバルジ(99)を有して
いる。この結果、可動アーム(16)(17)は反対方向に相対回転移動し、ギャップ(1
8')が大きくなる。結果として、ギャップ(18')の方がギャップ(18)よりも多くの
量の光が通過し、これにより、検出器(54)ではより多くの光を受光し、より大き
な電気出力電圧信号を発生する。処理手段では、図５の(18)で示される標準のギ
ャップと、図６のギャップ(18')とを比較し、バルジ(99)が設定値を超えるかどうかを判定し、設定値を超える容器は不合格品となる。

【００１６】支持アーム(15)の可動アーム(16)(17)を付勢する望ましい手段について、図７
乃至図９を参照して説明する。コイルバネ(81)は一端(82)が固定突軸(83)に取り
付けられ、他端(84)がコネクタ(86)から上方に突出する突軸(85)に取り付けられ
ている。なお、コネクタ(86)は可動アーム(16)に固定されている。この構成によ
り、可動アーム(16)は図８に示される位置に付勢されることができる。同様に、
バネ(87)は一端(88)が固定突軸(89)に取り付けられ、他端(90)が支持アーム(17)
に固定された突軸(91)に取り付けられており、支持アーム(17)を図８に示される
位置に付勢する。図９は図８の支持アームを示しており、ギャップ(18')は容器にバルジがあることを示している。

【００１７】図１０を参照すると、容器(100)は検査ステーション(102)へ移送されたことを
示している。容器センサー(104)からリード(106)を通じて、信号はマイクロプロ
セッサ(110)へ送信され、検査サイクルが開始されるべきであること指示する。容器センサーとして、光電型、容量性型又は超音波型などがあり、マイクロプロ
セッサは適当にプログラムされた汎用目的のコンピュータを用いることができる
。本発明の望ましい実施例において、光源(114)はシステムの作動中は常にオンであり、光ビーム(120)を発している。光ビーム(120)は、容器(100)が検査ステーション(102)にあるとき、可動アーム(16)(17)のギャップ(18)(この図には示さ
れていない)を通過する。検出器(124)は、可動アーム(16)(17)のギャップを通過
する光ビーム(126)を受光し、応答電気信号をマイクロプロセッサ(110)へ送信す
る。

【００１８】マイクロプロセッサ(110)には、容器が合格品であるときの各支持アームのギャップの値が格納されており、マイクロプロセッサの内部にて、格納された値と
の比較が行われ、その差が所定値を超えると、容器にバルジがあるとみなして不
合格の決定がなされる。説明の都合上、図１の検査システムでは、容器を型アッ
センブリ(2)から検査部(7)へ移す移送機構に連繋されている。しかしながら、こ
のシステムは、検査のために同じような数の容器を移送するのに、約３〜２０の
オーダの支持アームを有するものを用いることもできる。格納値との間に差が認
められると、マイクロプロセッサ(110)により発せられた信号は、リード(134)を
介してリジェクト機構(136)へ送られ、その容器は合格品のグループから取り除かれる。当該分野において数多くのリジェクト機構が知られているので、ここで
の詳細な記載は省略する。一般的に、検査システムでは、割出し(indexing)と追
跡(tracking)を行なえることができるようになっており、不合格とされた容器を
リジェクト機構と機械的に接触させることにより、不合格容器は取り除かれる。
所望により、検査システムの性能に関する情報を含む信号をマイクロプロセッサ
(110)からリード(140)を通じて受信する読出し部(readout)(138)を設けることも
できる。例えば、所望により、成形装置のある部分の性能又は検査装置のある部
分の性能を判定するために、検査システムの特定ユニット又は支持アームの内部
を分離してもよい。同様に、ユーザのインターフェース(150)からマイクロプロセッサに対して、リード(152)を通じて校正その他の入力を行なうこともできる。

【００１９】所望により、読出し部(138)の一部はスクリーンに表示してもよいし、例えば図１１に示すように(174)にて電圧と時間の関係をプロットした情報を有するハードコピーとして供給することもできる。マイクロプロセッサ(110)が受信した電圧レベルは、支持アームが検査ステーション(102)にない場合、位置(160)(170
)では上限値である。可動アーム(16)(17)の実体部分が光ビームを完全に遮断すると、電圧は(172)のレベルまで降下する。(174)で示される電圧値は、ギャップ
の開口度を判定することになるので、検査に関して極めて重要である。ギャップ
(174)を通過した後、光は他の可動アームによって再び完全に遮断される。その後は、検査ステーションに支持アーム(16)(17)がなくなると、電圧は(170)のレベルまで上昇する(ramped)。

【００２０】本発明の方法において、容器(22)は支持アームに支持されており、該支持アー
ムは、反対方向に回転可能な一対の可動アーム(16)(17)を有し、該アーム間にギ
ャップ(18)が形成されている。可動アーム(16)(17)は凹部(19)を有しており、該
凹部は容器の口部又はネック部を支持し、容器はこのように支持された状態で検
査ステーションへ移送される。検査ステーションでは、光ビーム(52)は可動アー
ム(16)(17)及びギャップ(18)に投射されており、ギャップ(18)を通った光は検出
器(54)によって測定され、該検出器は、受信した光を、ギャップの開口寸法と関
連づけられた応答性信号に変換する。電圧信号はプロセッサ手段へ送られ、該プ
ロセッサ手段内に格納された基準情報との比較を通じて、容器が不合格か否かを
判定する。この方法は、容器のバルジの検査を迅速、正確かつ完全に行なうこと
ができるように、ブロー成形機械の中で実行することが望ましい。

【００２１】本発明はブロー成形された容器の外側の口部にバルジが有るか否かを検査する
方法及び装置を提供するものであることは理解されるであろう。このような検査
は、成形機械の内部にて、容器支持用可動アームを複数有する本発明の単一検査
ユニットを用いることによって行なうことができる。単一のマイクロプロセッサ
を用いて、それらを制御を行なうことができる。これを行なうのに、画像作成装
置は必要としないし、成形機械内での利用可能な空間による制約を受けることも
ない。本発明の具体的実施例を例示して説明したが、当該分野の専門家であれば、そ
の詳細については、添付の請求の範囲に規定された発明から逸脱することなく種
々の変形をなし得るであろう。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の検査システムを用いた装置の略平面図である。

【図２】本発明の検査装置の望ましい実施例を示す部分的略正面図である。

【図３】図２の装置の平面図である。

【図４】図２の４−４線に沿って切断した図であって、本発明で用いられる光ビームの
一例を示す図である。

【図５】支持アームと、バルジのある容器を示す部分的略平面図である。

【図６】支持アームと、バルジのない容器を示す部分的略平面図である。

【図７】容器支持アームの正面図である。

【図８】図７の支持アームの平面図であって、可動アームが閉位置にあるときの状態を
示す図である。

【図９】図７の支持アームの平面図であって、可動アームが開位置にあるときの状態を
示す図である。

【図１０】本発明のフローチャート図である。

【図１１】検査システムの運転サイクル中における時間と電圧の関係を示すグラフである
。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＣＹ，ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，ＩＴ，ＬＵ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＯＡ(ＢＦ，ＢＪ，ＣＦ，ＣＧ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＧＷ，ＭＬ，ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ，ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＧＨ，ＧＭ，ＫＥ，ＬＳ，ＭＷ，ＳＤ，ＳＺ，ＵＧ，ＺＷ)，ＥＡ(ＡＭ，ＡＺ，ＢＹ，ＫＧ，ＫＺ，ＭＤ，ＲＵ，ＴＪ，ＴＭ) ，ＡＬ，ＡＭ，ＡＴ，ＡＵ，ＡＺ，ＢＡ，ＢＢ，ＢＧ，ＢＲ，ＢＹ，ＣＡ，ＣＨ，ＣＮ，ＣＵ，ＣＺ，ＤＥ，ＤＫ，ＥＥ，ＥＳ，ＦＩ，ＧＢ，ＧＤ，ＧＥ，ＧＨ，ＧＭ，ＨＲ，ＨＵ，ＩＤ，ＩＬ，ＩＳ，ＪＰ，ＫＥ，ＫＧ，ＫＰ，ＫＲ，ＫＺ，ＬＣ，ＬＫ，ＬＲ，ＬＳ，ＬＴ，ＬＵ，ＬＶ，ＭＤ，ＭＧ，ＭＫ，ＭＮ，ＭＷ，ＭＸ，ＮＯ，ＮＺ，ＰＬ，ＰＴ，ＲＯ，ＲＵ，ＳＤ，ＳＥ，ＳＧ，ＳＩ，ＳＫ，ＳＬ，ＴＪ，ＴＭ，ＴＲ，ＴＴ，ＵＡ，ＵＧ，ＵＺ，ＶＮ，ＹＵ，ＺＷ (72)発明者ザネラ，マークエフ．エスアール．アメリカ合衆国 16066 ペンシルバニア，クランベリータウンシップ，ドーバードライブ 39 Ｆターム(参考） 2F065 AA51 BB05 CC00 DD06 FF02 FF67 HH04 HH12 HH15 JJ02 JJ18 JJ25 PP11 QQ25 RR08 SS01 SS04 SS13 TT03 2G051 AA11 AA13 AA14 BA00 CA03 CA04 CB02 DA01 DA06 DA13 EA14 3F072 AA07 GB06 GB10 GE02 GE03 KC01 KC05 KC06 3F079 AD11 CA23 CA41 CB31 CB35 CC01 DA03

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】容器を検査する装置であって、容器を支持し移送するための支持アームを具え、該支持アームは、一対の可動アームを有しており、該可動アームは、アーム間
にギャップが形成されるようになし、容器のネック部又は口部の外側に当接する
凹部を有しており、光を可動アームに向けて投射する光発生手段と、ギャップを通る光を受光し、応答性電気信号を発生させる検出器手段と、検出器手段からの信号を受信し、容器が不合格品かどうかを判定する処理手段
と、を具えている容器検査装置。
【請求項２】可動アームは相対回転可能であり、ギャップの大きさを変え
ることができるようにしている請求項１の検査装置。
【請求項３】可動アームは、容器にバルジがあるときは、容器にバルジが
ないときよりも、ギャップが大きくなるような構造である請求項２の検査装置。
【請求項４】検査ステーションを具えており、該検査ステーションにて容
器を支持する支持アームが光を受光するようになし、検査ステーションは容器成
形機械の中に配備される請求項３の検査装置。
【請求項５】光発生手段は、ギャップよりも大きな幅寸法を有する光ビー
ムを支持アームの上に投射できるようにしている請求項４の検査装置。
【請求項６】容器のネック部にバルジがある容器を不合格品として排出す
るためのリジェクト手段を具えている請求項３の検査装置。
【請求項７】支持アームを、検査ステーションを通る経路の中を移動させ
る移送手段を具えている請求項４の検査装置。
【請求項８】検査ステーションに容器があることを判断し、処理手段へ応
答性信号を発する容器センサー手段を有しており、処理手段は、容器の存在を受
信し、これに応答して容器の検査を開始する信号を供給する請求項４の検査装置
。
【請求項９】可動アームは、ブロー成形された樹脂プラスチック容器のネ
ック部又は口部の外部と密着し得るような構造である請求項１の検査装置。
【請求項１０】光発生手段は、支持手段よりも高い位置に配備され、下向
きに傾いた光ビームを発生させる請求項９の検査装置。
【請求項１１】検出器手段は支持アームよりも低い位置に配備される請求
項１０の検査装置。
【請求項１２】可動アームが不合格品でない容器のネック部又は口部に当
接する相対的閉位置にあるとき、光発生手段は、可動アームの幅よりも狭い幅の
支持アームの上に光ビームを投射するようにしている請求項５の検査装置。
【請求項１３】処理手段には、各対の可動アームについて、不合格品でな
い容器のときのギャップに関して格納された情報を有している請求項１の検査装
置。
【請求項１４】支持アームは約３〜２０ある請求項４の検査装置。
【請求項１５】可動アームを相対的閉位置へ付勢する付勢手段を具えてい
る請求項２の検査装置。
【請求項１６】付勢手段は、各々の可動アームにコイルバネを有している
請求項１５の検査装置。
【請求項１７】容器を検査する方法であって、相対移動可能な一対のアームを有し、該アーム間にギャップが形成されるよう
になし、容器のネック部又は口部の外部に当接できるように形成されてなる支持
アームを配備し、支持アームに支持された容器を検査ゾーンへ導入し、該支持アームに光ビームを投射し、検出器手段にて、ギャップを通る光を受光すると共にし、ギャップの開口度に
対応する応答性電気信号を発し、電気信号に基づいて、容器が合格か不合格かを判定する、容器検査方法。
【請求項１８】容器のネック部又は口部のバルジを検査するのに用いるこ
とを含んでいる容器検査方法。
【請求項１９】容器のネック部又は口部にバルジがあるとき、可動アーム
は反対方向に相対回転して、ギャップを拡大することを含んでいる請求項１８の
検査方法。
【請求項２０】ネック部又は口部にバルジが存在することによって不合格
とされた容器を移動させることを含んでいる請求項１７の検査方法。
【請求項２１】容器成形機械の中で検査を行なうことを含んでいる請求項
１７の検査方法。
【請求項２２】ブロー成形された樹脂プラスチック容器の検査に適用する
ことを含んでいる請求項２１の検査方法。
【請求項２３】可動ビームの上方位置から光を可動ビームに投射し、支持
アームよりも低い位置にて、検出器手段により、ギャップを通過する光を受光す
ることを含んでいる請求項２１の検査方法。
【請求項２４】略垂直な向きの矩形であって、長さ方向が光ビームと直交
する方向に進む光ビームを発生させることを含んでいる請求項１８の検査方法。
【請求項２５】成形機械の中に配備された複数の支持アームを用いて行な
うことを含んでいる請求項２４の検査方法。