JP2001522994A - サンプル検索システム - Google Patents
サンプル検索システムInfo
- Publication number
- JP2001522994A JP2001522994A JP2000519764A JP2000519764A JP2001522994A JP 2001522994 A JP2001522994 A JP 2001522994A JP 2000519764 A JP2000519764 A JP 2000519764A JP 2000519764 A JP2000519764 A JP 2000519764A JP 2001522994 A JP2001522994 A JP 2001522994A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- exhaust
- ejector
- source
- capsule
- pressurized fluid
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
- G01N1/2226—Sampling from a closed space, e.g. food package, head space
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
- G01N1/2202—Devices for withdrawing samples in the gaseous state involving separation of sample components during sampling
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
- G01N1/24—Suction devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
- G01N1/2202—Devices for withdrawing samples in the gaseous state involving separation of sample components during sampling
- G01N2001/222—Other features
- G01N2001/2223—Other features aerosol sampling devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
- G01N1/2226—Sampling from a closed space, e.g. food package, head space
- G01N2001/2241—Sampling from a closed space, e.g. food package, head space purpose-built sampling enclosure for emissions
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
- G01N1/24—Suction devices
- G01N2001/242—Injectors or ejectors
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】
弁および他の排気源（１２）から漏排気を集める方法および装置が開示される。装置は、機器の少なくとも一部分を囲むカプセル（１０２）とカプセル（１０２）と流体で連通するイジェクタ（１４０）とを備える。イジェクタ（１４０）は圧縮空気源（３０）に接続され、これはイジェクタ（１４０）内に降圧を生じさせて、カプセル（１０２）からイジェクタ（１４０）内に排気を引き寄せる。装置は、監視されている機器からの排気の存在および濃度を検出するためにガスセンサ（２００）を収容するセンサ室（１１４）を含み、排気データを記憶し、データをプラントプロセス制御システムに伝え、このデータを用いてプラント状況を制御して排気を減じるかなくすようにしてもよい。
Description
（発明の属する分野） 本発明は、一般に流体のサンプルを集めるシステムに関し、より特定的には、
プロセス機器から漏排気を集める装置および方法に関する。
プロセス機器から漏排気を集める装置および方法に関する。
【０００１】 （関連のある技術の説明） 揮発性有機化合物（ＶＯＣ）を処理する工業プラントは典型的には、煙突のよ
うな点源と、ＶＯＣを含むパイプおよび管に取り付けられた弁、ポンプ、および
取付け具のような非点源とから大気中にそれらの化合物を不本意にも排気してし
まう。「漏」排気と称される非点源からの排気は典型的には、継ぎ目および封止
からＶＯＣが漏れるために生じる。制御弁からの「漏」排気は、弁棒と弁の本体
／ボンネットとの間のパッキングを経て漏れとして生じる恐れがある。弁棒が頻
繁に動きかつ温度が大幅に変動する要求の厳しい使用状況で用いられる弁は典型
的には、弁棒のパッキングが加速的に劣化し、要求の厳しくない使用においても
弁よりも多大な排気が生じてしまう。
うな点源と、ＶＯＣを含むパイプおよび管に取り付けられた弁、ポンプ、および
取付け具のような非点源とから大気中にそれらの化合物を不本意にも排気してし
まう。「漏」排気と称される非点源からの排気は典型的には、継ぎ目および封止
からＶＯＣが漏れるために生じる。制御弁からの「漏」排気は、弁棒と弁の本体
／ボンネットとの間のパッキングを経て漏れとして生じる恐れがある。弁棒が頻
繁に動きかつ温度が大幅に変動する要求の厳しい使用状況で用いられる弁は典型
的には、弁棒のパッキングが加速的に劣化し、要求の厳しくない使用においても
弁よりも多大な排気が生じてしまう。
【０００２】 弁棒パッキング物質および設計が改善されたために、漏排気は減り、弁パッキ
ングの寿命は延びたが、漏排気を監視することは、漏排気を識別して減じるとと
もに、排気の新たな厳重規制に従う手段として重要になった。環境保護機関（Ｅ
ＰＡ）は、制御弁からのある危険な大気汚染物質の最大許容漏れを指定し、制御
弁からの排気を周期的に調査することを要求する規制を普及させてきた。
ングの寿命は延びたが、漏排気を監視することは、漏排気を識別して減じるとと
もに、排気の新たな厳重規制に従う手段として重要になった。環境保護機関（Ｅ
ＰＡ）は、制御弁からのある危険な大気汚染物質の最大許容漏れを指定し、制御
弁からの排気を周期的に調査することを要求する規制を普及させてきた。
【０００３】 漏排気を監視する現在の方法には、携帯の有機蒸気分析器を用いる手動の手続
きを含む。この手動の方法は時間がかかり、実施するには高価であり、監視され
ている機器からの漏排気を無駄に集めてしまうことで不正確な結果を生み出す恐
れがある。風にさらされている弁に関して測定を行う場合、弁からの排気は、蒸
気分析器が排気の濃度を正しく測定する前に消散してしまうかもしれない。また
、分析器は、弁からの排気全てを取込むべく弁の周囲で慎重に動かされなければ
、不正確な測定が行われてしまう。手動の測定方法は、プラントの人員にとって
は、自分の他の仕事から気をそらされて、測定を行うのにかなり時間がかかるこ
とになる。
きを含む。この手動の方法は時間がかかり、実施するには高価であり、監視され
ている機器からの漏排気を無駄に集めてしまうことで不正確な結果を生み出す恐
れがある。風にさらされている弁に関して測定を行う場合、弁からの排気は、蒸
気分析器が排気の濃度を正しく測定する前に消散してしまうかもしれない。また
、分析器は、弁からの排気全てを取込むべく弁の周囲で慎重に動かされなければ
、不正確な測定が行われてしまう。手動の測定方法は、プラントの人員にとって
は、自分の他の仕事から気をそらされて、測定を行うのにかなり時間がかかるこ
とになる。
【０００４】 漏排気を自動的に監視して検出すれば、既存の手動方法に対し重大な利点を生
み出すだろう。ＥＰＡ規制は周期的な間隔で漏排気を調査することを要求する。
調査間隔の長さは、月に一度、年４回、年２回または年１回であってよい。操作
員が過度の漏れのある制御弁をあるパーセンテージより少なく文書化できるなら
ば必要な調査は少なくなる。このように、低パーセンテージの漏れ弁を達成する
と、１年で必要な調査の数が減る。調査点の合計数が５０、０００から２００、
０００点の範囲の大産業機関においては、これは多大なコストセービングになる
。もっとも要求の厳しい使用状況下にあり、したがって漏れを生じさせやすい弁
に自動化された漏排気検出システムをインストールすることにより、全体の機関
がＥＰＡ規制に従うことができる。これにより、弁全てのための調査間の間隔は
長くなり、自動化検出システムなしで弁から手動で測定値をとる時間および費用
を著しく減る。
み出すだろう。ＥＰＡ規制は周期的な間隔で漏排気を調査することを要求する。
調査間隔の長さは、月に一度、年４回、年２回または年１回であってよい。操作
員が過度の漏れのある制御弁をあるパーセンテージより少なく文書化できるなら
ば必要な調査は少なくなる。このように、低パーセンテージの漏れ弁を達成する
と、１年で必要な調査の数が減る。調査点の合計数が５０、０００から２００、
０００点の範囲の大産業機関においては、これは多大なコストセービングになる
。もっとも要求の厳しい使用状況下にあり、したがって漏れを生じさせやすい弁
に自動化された漏排気検出システムをインストールすることにより、全体の機関
がＥＰＡ規制に従うことができる。これにより、弁全てのための調査間の間隔は
長くなり、自動化検出システムなしで弁から手動で測定値をとる時間および費用
を著しく減る。
【０００５】 漏れのある弁から漏排気を早めに検出すれば、修理はよりタイムリーに行われ
、 排出される危険物質の量を減らし、喪失された物質のコストを低くする。漏
排気を正確に検出すれば、操作員に潜在性の弁封止不良について警報を発するこ
とが可能であり、過度の漏れが生じる前に防止策を施すことが可能となる早期警
告システムを提供できる。
、 排出される危険物質の量を減らし、喪失された物質のコストを低くする。漏
排気を正確に検出すれば、操作員に潜在性の弁封止不良について警報を発するこ
とが可能であり、過度の漏れが生じる前に防止策を施すことが可能となる早期警
告システムを提供できる。
【０００６】 しかしながら、産業環境で自動化漏排気検出システムを用いるには、機器から
出る漏排気を効率的に集め、その排気をガスセンサへ運ぶことができるサンプル
検索システムを設計する必要がある。サンプル検索システムは、ガスセンサが漏
排気の濃度を正確に無矛盾に測定できるように公知の流量でサンプルストリーム
を送ることが可能でなければならない。サンプル検索システムは、設置コストを
最小にするために、製造するのに廉価でなければならず、かつ典型的なプロセス
プラントで容易に利用可能な電源を用いなければならない。システムは、爆発の
リスクのある危険な領域で用いるのに好適でなければならず、電気機器は本質的
に安全でかつ爆発に耐える設計を有するものでなければならない。システムは、
打撃、高湿度、高温度および低温、ならびに振動を受ける領域を含め、 厳しい 環境で動作できなければならない。システムは、保守コストを最小にするために
単純でかつ信頼性のあるものでなければならない。
出る漏排気を効率的に集め、その排気をガスセンサへ運ぶことができるサンプル
検索システムを設計する必要がある。サンプル検索システムは、ガスセンサが漏
排気の濃度を正確に無矛盾に測定できるように公知の流量でサンプルストリーム
を送ることが可能でなければならない。サンプル検索システムは、設置コストを
最小にするために、製造するのに廉価でなければならず、かつ典型的なプロセス
プラントで容易に利用可能な電源を用いなければならない。システムは、爆発の
リスクのある危険な領域で用いるのに好適でなければならず、電気機器は本質的
に安全でかつ爆発に耐える設計を有するものでなければならない。システムは、
打撃、高湿度、高温度および低温、ならびに振動を受ける領域を含め、 厳しい 環境で動作できなければならない。システムは、保守コストを最小にするために
単純でかつ信頼性のあるものでなければならない。
【０００７】 したがって、本発明の目的は、工業アプリケーションで好適な、機器からの排
気を自動的に集める装置および方法を提供することである。本発明の別の目的は
、漏排気を正確にかつ一貫して集める装置および方法を提供することである。本
発明の別の目的は、危険な環境で安全に動作することが可能な、排気を集める装
置を提供することである。本発明の別の目的は、既存の空圧源を用いて排気を集
める、排気を集める装置および方法を提供することである。本発明のさらに別の
目的は、設置するのに簡単でかつ廉価な装置を提供することである。本発明のさ
らなる目的は、保守動作の少ない、排気を集める装置および方法を提供すること
である。本発明のさらに別の目的は、後の検索のために排気データを集めるとと
もにこのデータを記憶する装置および方法を提供することである。本発明のさら
に別の目的は、排気データを集めてこのデータを遠隔プラントプロセス制御シス
テムに伝える装置および方法を提供することである。本発明のさらに別の目的は
、排気データを集めてこのデータを用いてプラントを制御して排気を減じるかな
くす装置および方法を提供することである。本発明のさらに別の目的は、排気デ
ータを集めてこのデータを遠隔プロセス制御システムに伝え、プラントの制御を
可能化して排気を減じるかなくす装置および方法を提供することである。
気を自動的に集める装置および方法を提供することである。本発明の別の目的は
、漏排気を正確にかつ一貫して集める装置および方法を提供することである。本
発明の別の目的は、危険な環境で安全に動作することが可能な、排気を集める装
置を提供することである。本発明の別の目的は、既存の空圧源を用いて排気を集
める、排気を集める装置および方法を提供することである。本発明のさらに別の
目的は、設置するのに簡単でかつ廉価な装置を提供することである。本発明のさ
らなる目的は、保守動作の少ない、排気を集める装置および方法を提供すること
である。本発明のさらに別の目的は、後の検索のために排気データを集めるとと
もにこのデータを記憶する装置および方法を提供することである。本発明のさら
に別の目的は、排気データを集めてこのデータを遠隔プラントプロセス制御シス
テムに伝える装置および方法を提供することである。本発明のさらに別の目的は
、排気データを集めてこのデータを用いてプラントを制御して排気を減じるかな
くす装置および方法を提供することである。本発明のさらに別の目的は、排気デ
ータを集めてこのデータを遠隔プロセス制御システムに伝え、プラントの制御を
可能化して排気を減じるかなくす装置および方法を提供することである。
【０００８】 （発明の概要） 本発明のある態様に従えば、機器からの排気を集める装置が提供され、装置は
機器の少なくとも一部分を囲むボンネットカプセルを含む。装置は、ボンネット
カプセルと流体で連通するイジェクタを含む。加圧流体源、これはプラント器械
空気供給源であってよく、イジェクタを通る加圧流体の流れが降圧を生じさせ、
これによりボンネットカプセルから排気をイジェクタ内に引き寄せるようにイジ
ェクタに接続される。
機器の少なくとも一部分を囲むボンネットカプセルを含む。装置は、ボンネット
カプセルと流体で連通するイジェクタを含む。加圧流体源、これはプラント器械
空気供給源であってよく、イジェクタを通る加圧流体の流れが降圧を生じさせ、
これによりボンネットカプセルから排気をイジェクタ内に引き寄せるようにイジ
ェクタに接続される。
【０００９】 本発明の別の態様に従えば、機器から排気を集めて後の検索のためにデータを
記憶する装置が提供される。データは、排気を減じるかなくすためにプラント状
況を制御するのに用いられてよい。データは別個のプロセス制御システムに伝え
られて良く、このプロセス制御システムは、排気を減じるかなくすようにプラン
ト状況を制御する。
記憶する装置が提供される。データは、排気を減じるかなくすためにプラント状
況を制御するのに用いられてよい。データは別個のプロセス制御システムに伝え
られて良く、このプロセス制御システムは、排気を減じるかなくすようにプラン
ト状況を制御する。
【００１０】 本発明の別の態様に従えば、機器からの排気を集める方法は、機器の少なくと
も一部分をエンクロージャで囲むステップと、エンクロージャと流体で連通する
ようにイジェクタを接続するステップと、加圧流体をイジェクタに供給してそれ
によりイジェクタ内に降圧を生じさせ、これにより排気を機器からイジェクタ内
に引き寄せるステップとを含む。
も一部分をエンクロージャで囲むステップと、エンクロージャと流体で連通する
ようにイジェクタを接続するステップと、加圧流体をイジェクタに供給してそれ
によりイジェクタ内に降圧を生じさせ、これにより排気を機器からイジェクタ内
に引き寄せるステップとを含む。
【００１１】 （発明の具体例の説明） さて図面を参照して、まず図１を参照して、本発明の具体例にかかるブロック
図は、漏排気検出システム１０内に統合されたサンプル検出システム１００の主
要なコンポーネントを示す。排気源１２が示され、ここからサンプルストリーム
１４がサンプル検索システム１００内に引き寄せられる。サンプルストリーム１
４は、排気源１２から出る排気（検体とも称される）を含む。サンプル検索シス
テム１００は、ボンネットカプセル１０２と、センサ室１１４と、イジェクタ１
４０とを含む。ガスセンサアレイ２００および熱動力（thermodynamic）センサ アレイ２８０がセンサ室１１４内に位置する。サンプルストリーム１４は、ボン
ネットカプセル１０２から引き出されてセンサ室１１４内に入り、ガスセンサア
レイ２００および熱動力センサアレイ２８０をサンプルストリーム１４にあてる
。サンプルストリーム１４は次いで、イジェクタ１４０内に入る。圧縮空気源３
０は、圧縮空気３２をイジェクタ１４０に与え、イジェクタ１４０内で降圧を生
じさせ、これは、サンプルストリーム１４をセンサ室１１４を通りイジェクタ１
４０内に引き寄せる。圧縮空気３２とサンプルストリーム１４とはイジェクタ１
４０内で混合され、混合気３６として大気に排出される。サンプル検索システム
１００は、遠隔較正システム３００と統合されるが、これは、測定されている少
量のガスをサンプルストリーム内に注入して、ガスセンサを自動的に較正できる
ように構成される。
図は、漏排気検出システム１０内に統合されたサンプル検出システム１００の主
要なコンポーネントを示す。排気源１２が示され、ここからサンプルストリーム
１４がサンプル検索システム１００内に引き寄せられる。サンプルストリーム１
４は、排気源１２から出る排気（検体とも称される）を含む。サンプル検索シス
テム１００は、ボンネットカプセル１０２と、センサ室１１４と、イジェクタ１
４０とを含む。ガスセンサアレイ２００および熱動力（thermodynamic）センサ アレイ２８０がセンサ室１１４内に位置する。サンプルストリーム１４は、ボン
ネットカプセル１０２から引き出されてセンサ室１１４内に入り、ガスセンサア
レイ２００および熱動力センサアレイ２８０をサンプルストリーム１４にあてる
。サンプルストリーム１４は次いで、イジェクタ１４０内に入る。圧縮空気源３
０は、圧縮空気３２をイジェクタ１４０に与え、イジェクタ１４０内で降圧を生
じさせ、これは、サンプルストリーム１４をセンサ室１１４を通りイジェクタ１
４０内に引き寄せる。圧縮空気３２とサンプルストリーム１４とはイジェクタ１
４０内で混合され、混合気３６として大気に排出される。サンプル検索システム
１００は、遠隔較正システム３００と統合されるが、これは、測定されている少
量のガスをサンプルストリーム内に注入して、ガスセンサを自動的に較正できる
ように構成される。
【００１２】 加えて、制御および通信システム４００が、センサ出力を処理するとともに漏
排気検出システム１０のための制御および通信機能を実行するために与えられる
。制御および通信システム４００は、センサインターフェース回路４０２と、マ
イクロコントローラ４０４と、メモリ４０６と、通信インターフェース回路８０
０と、電力変換回路９００とを含む。
排気検出システム１０のための制御および通信機能を実行するために与えられる
。制御および通信システム４００は、センサインターフェース回路４０２と、マ
イクロコントローラ４０４と、メモリ４０６と、通信インターフェース回路８０
０と、電力変換回路９００とを含む。
【００１３】 ガスセンサアレイ２００および熱動力センサアレイ２８０はセンサインターフ
ェース回路４０２に接続され、センサインターフェース回路４０２はセンサアレ
イからの信号を処理し、処理された信号をマイクロコントローラ４０４に与える
。好適なガスセンサおよびセンサインターフェースは、本出願と併行して出願さ
れた「高周波測定回路」（"High Frequency Measuring Circuit"）と題されたジ
ョンＰ．ディルガ(John P. Dilger)およびナイルＫ．ディエルシュナイダ（Nile
K.Dielschneider）による米国出願連続番号０８／９６８０８１に記載されてお
り、それをここに引用により援用する。マイクロコントローラ４０４は、メモリ
４０６内に、センサからのデータを記憶し、漏排気検出システム１０から受信さ
れたセンサデータを用いて制御動作を開始し、これにより排気を減じるかなくす
ようにする。例えば、マイクロコントローラ４０４は、排気源１２から上流にあ
る弁を閉じて排気源１２を通る流体の流れを止め、これにより流体の漏れにより
引き起こされる排気を止める。代替的には、マイクロコントローラ４０４は、排
気源１２自体の動作状況を変更して漏排気を減じるかなくすようにする。マイク
ロコントローラ４０４は、通信インターフェース回路８００を用いてこれらの制
御信号を上流側の弁、排気源１２、または排気を減じるかなくすのに用いられる
他のプラント機器に与える。
ェース回路４０２に接続され、センサインターフェース回路４０２はセンサアレ
イからの信号を処理し、処理された信号をマイクロコントローラ４０４に与える
。好適なガスセンサおよびセンサインターフェースは、本出願と併行して出願さ
れた「高周波測定回路」（"High Frequency Measuring Circuit"）と題されたジ
ョンＰ．ディルガ(John P. Dilger)およびナイルＫ．ディエルシュナイダ（Nile
K.Dielschneider）による米国出願連続番号０８／９６８０８１に記載されてお
り、それをここに引用により援用する。マイクロコントローラ４０４は、メモリ
４０６内に、センサからのデータを記憶し、漏排気検出システム１０から受信さ
れたセンサデータを用いて制御動作を開始し、これにより排気を減じるかなくす
ようにする。例えば、マイクロコントローラ４０４は、排気源１２から上流にあ
る弁を閉じて排気源１２を通る流体の流れを止め、これにより流体の漏れにより
引き起こされる排気を止める。代替的には、マイクロコントローラ４０４は、排
気源１２自体の動作状況を変更して漏排気を減じるかなくすようにする。マイク
ロコントローラ４０４は、通信インターフェース回路８００を用いてこれらの制
御信号を上流側の弁、排気源１２、または排気を減じるかなくすのに用いられる
他のプラント機器に与える。
【００１４】 マイクロコントローラ４０４は、通信インターフェース回路８００を用いてセ
ンサデータをプロセス制御システム４０に与える。漏排気検出システム１０は、
漏排気を測定し、結果として生じるデータを別個のプロセス制御システム４０に
直ちに伝えてよい。代替的には、漏排気検出システム１０は、各測定で得られた
センサデータを、プロセス制御システム４０が後に検索するために記憶してよい
。
ンサデータをプロセス制御システム４０に与える。漏排気検出システム１０は、
漏排気を測定し、結果として生じるデータを別個のプロセス制御システム４０に
直ちに伝えてよい。代替的には、漏排気検出システム１０は、各測定で得られた
センサデータを、プロセス制御システム４０が後に検索するために記憶してよい
。
【００１５】 通信インターフェース回路８００は、プロセス制御システム４０からデータお
よび制御コマンドを受け取ってよい。プロセス制御システム４０は、漏排気検出
システム１０から受信したセンサデータを用いて制御動作を開始して排気を減じ
るかなくすようにする。例えば、プロセス制御システム４０は、上で述べたよう
に上流の弁を閉じるかまたは排気源１２の動作状況を変更して、排気を減じるか
なくすようにする。
よび制御コマンドを受け取ってよい。プロセス制御システム４０は、漏排気検出
システム１０から受信したセンサデータを用いて制御動作を開始して排気を減じ
るかなくすようにする。例えば、プロセス制御システム４０は、上で述べたよう
に上流の弁を閉じるかまたは排気源１２の動作状況を変更して、排気を減じるか
なくすようにする。
【００１６】 電力変換回路９００は、プロセス制御システム４０との通信リンクによって伝
送される電力を受け取り、この電力を好適な電圧で通信および制御システム４０
０に与える。
送される電力を受け取り、この電力を好適な電圧で通信および制御システム４０
０に与える。
【００１７】 漏排気検出システム１０は、排気源１２から排出された様々な種類の流体の存
在を検出するかまたはそれらの濃度を測定するのに用いられてよい。このシステ
ムは、源から排出された危険物質、毒性の物質、または汚染物質を検出するのに
用いられても、その喪失が問題の原因かもしれない危険性のない物質の漏を検出
してもよい。漏排気検出システムは、どんな種類の源からの排気でも検出するの
に用いられてよく、特に、危険物質が漏れるかもしれない工業プロセス機器から
の排気を検出するのに用いられてよい。例としては、危険なガスを運ぶライン上
に設置された制御弁、ブロック弁、またはポンプ、危険な流体を含む他のプロセ
ス管上に設置された振動器、スクリューコンベヤー、または他の機器、ならびに
熱交換器、反応器、および危険な流体を含む他のプロセス管がある。排気が漏排
気検出システム１０により検出されると、このデータは漏排気検出システム１０
により用いられて、排気を減じるかまたはなくす方法でプロセスを制御する。代
替的には、このデータは遠隔プラントプロセス制御システム４０に伝送されてよ
く、制御システム４０は、排気を減じるかまたはなくす方法でプロセスを制御す
ることにより応答してよい。
在を検出するかまたはそれらの濃度を測定するのに用いられてよい。このシステ
ムは、源から排出された危険物質、毒性の物質、または汚染物質を検出するのに
用いられても、その喪失が問題の原因かもしれない危険性のない物質の漏を検出
してもよい。漏排気検出システムは、どんな種類の源からの排気でも検出するの
に用いられてよく、特に、危険物質が漏れるかもしれない工業プロセス機器から
の排気を検出するのに用いられてよい。例としては、危険なガスを運ぶライン上
に設置された制御弁、ブロック弁、またはポンプ、危険な流体を含む他のプロセ
ス管上に設置された振動器、スクリューコンベヤー、または他の機器、ならびに
熱交換器、反応器、および危険な流体を含む他のプロセス管がある。排気が漏排
気検出システム１０により検出されると、このデータは漏排気検出システム１０
により用いられて、排気を減じるかまたはなくす方法でプロセスを制御する。代
替的には、このデータは遠隔プラントプロセス制御システム４０に伝送されてよ
く、制御システム４０は、排気を減じるかまたはなくす方法でプロセスを制御す
ることにより応答してよい。
【００１８】 図２を参照して、図１の漏排気検出システムで用いられるサンプル検索システ
ム１００の図が示される。サンプル検索システム１００は、ボンネットカプセル
１０２と、検索マニホールド１０６と、センサ室１１４と、イジェクタ１４０と
を含む。ボンネットカプセル１０２は排気源１２の表面領域を囲むように設計さ
れたエンクロージャからなり、排気源１２から排気が出てくるものと予想される
。マニホールド１０６は一方の端部がボンネットカプセル１０２に接続され、他
方の端部がセンサ室１１４に接続され、サンプルストリームが排気源からせンサ
室１１４内に流れるようにする。マニホールド１０６は好ましくは、Ｓ３１６０
０ステンレス鋼チュービングで構成されても、他の好適な耐腐食性物質で構成さ
れてもよい。
ム１００の図が示される。サンプル検索システム１００は、ボンネットカプセル
１０２と、検索マニホールド１０６と、センサ室１１４と、イジェクタ１４０と
を含む。ボンネットカプセル１０２は排気源１２の表面領域を囲むように設計さ
れたエンクロージャからなり、排気源１２から排気が出てくるものと予想される
。マニホールド１０６は一方の端部がボンネットカプセル１０２に接続され、他
方の端部がセンサ室１１４に接続され、サンプルストリームが排気源からせンサ
室１１４内に流れるようにする。マニホールド１０６は好ましくは、Ｓ３１６０
０ステンレス鋼チュービングで構成されても、他の好適な耐腐食性物質で構成さ
れてもよい。
【００１９】 センサ室１１４は、ガスセンサアレイ２００を含み、熱動力センサアレイ（図
示せず）を含んでもよい。センサ室１１４の出口１１６はイジェクタ１４０への
入り口である。空圧制限は、センサ室１１４への入り口で制限オリフィス１１８
により与えられる。制限オリフィス１１８は、センサ室の降圧を誘導してイジェ
クタ１４０の動作を支援する。制限オリフィス１１８は、サファイヤ、ステンレ
ス鋼、または監視されている機器から予想される排気に対し不活性の他の好適な
物質で構成されてよい。
示せず）を含んでもよい。センサ室１１４の出口１１６はイジェクタ１４０への
入り口である。空圧制限は、センサ室１１４への入り口で制限オリフィス１１８
により与えられる。制限オリフィス１１８は、センサ室の降圧を誘導してイジェ
クタ１４０の動作を支援する。制限オリフィス１１８は、サファイヤ、ステンレ
ス鋼、または監視されている機器から予想される排気に対し不活性の他の好適な
物質で構成されてよい。
【００２０】 粒子状フィルタ１２０は検索マニホールド１０６にそって位置し、サンプルス
トリーム内の粒子を集める。炎路レストリクタ（flame path restrictor）１２ ４、１２６は、センサ室１１４への入り口でそしてイジェクタ１４０からの出口
で設けられる。マイクロ弁１３０、１３２、１３４は、サンプル検索システムの
様々な部分を分離するために様々な位置に配置される。マイクロ弁１３０は、ボ
ンネットカプセル１０２をセンサ室１１４から分離するのに用いられてよい。マ
イクロ弁１３２は、周囲空気をセンサ室１１４内へ引き寄せる能力を与え、マイ
クロ弁１３０を閉じて、マイクロ弁１３２、１３４を開けることでガスセンサ上
でベースライン較正を行うことが出来る。
トリーム内の粒子を集める。炎路レストリクタ（flame path restrictor）１２ ４、１２６は、センサ室１１４への入り口でそしてイジェクタ１４０からの出口
で設けられる。マイクロ弁１３０、１３２、１３４は、サンプル検索システムの
様々な部分を分離するために様々な位置に配置される。マイクロ弁１３０は、ボ
ンネットカプセル１０２をセンサ室１１４から分離するのに用いられてよい。マ
イクロ弁１３２は、周囲空気をセンサ室１１４内へ引き寄せる能力を与え、マイ
クロ弁１３０を閉じて、マイクロ弁１３２、１３４を開けることでガスセンサ上
でベースライン較正を行うことが出来る。
【００２１】 遠隔較正器がサンプル検索システムに接続されて、ガスセンサをセンサ室１１
４から取り外すことなく較正できる。較正物質(calibrant)を含む遠隔較正検体 セル３０４は第１のマイクロ弁３０６を経て計量室（dosing chamber）３０８に
接続される。計量室３０８は第２のマイクロ弁３１０を経てセンサ室１１４に接
続される。
４から取り外すことなく較正できる。較正物質(calibrant)を含む遠隔較正検体 セル３０４は第１のマイクロ弁３０６を経て計量室（dosing chamber）３０８に
接続される。計量室３０８は第２のマイクロ弁３１０を経てセンサ室１１４に接
続される。
【００２２】 センサ室１１４は好ましくは鋳込（cast）アルミニウムで構成されてよい。室
の内部は、サンプルストリームからのガスの表面収着を低減すべくなめらかな仕
上げを達成するために未仕上げのままでも、コーティングされても、または機械
加工されてもよい。センサ室１１４は、監視されている排気により影響を受けな
い他の好適な耐腐食性物質から構成されてよい。センサ室１１４は好ましくは、
フィールドおいてユニットの交換を可能とすべくモジュラユニットとして構成さ
れる。
の内部は、サンプルストリームからのガスの表面収着を低減すべくなめらかな仕
上げを達成するために未仕上げのままでも、コーティングされても、または機械
加工されてもよい。センサ室１１４は、監視されている排気により影響を受けな
い他の好適な耐腐食性物質から構成されてよい。センサ室１１４は好ましくは、
フィールドおいてユニットの交換を可能とすべくモジュラユニットとして構成さ
れる。
【００２３】 図３を参照して、図２のサンプル検索システム１００のボンネットカプセルの
断面図が示される。ボンネットカプセル１０２は、制御弁として示される排気源
１２上で取りつけられたものとして示される。ボンネットカプセル１０２は、検
索マニホールド１０６が接続される出口１０４を含み、弁棒２０の周囲でボンネ
ットカプセル１０２を設置したり、または排気源の他の閉塞部分（obstructing
parts）を設置することができるように開口部１０８も含む。図２のボンネット カプセル１０２の構成は、弁本体１８と弁棒２０との間に位置する弁棒パッキン
グ１６から漏れるガスを集めるように設計されている。開口部１０８は、関係の
ない粒子（ごみ）がボンネットカプセル１０２内に入るのを制限するために、弁
棒とボンネットカプセル壁との間にわずかな隙間を有するように設計されている
。調節板（バッフル）１１０は、ボンネットカプセル１０２内の無関係の粒子が
検索マニホールド１０６へ入るのを制限するためにボンネットカプセル１０２内
部に位置決めされている。
断面図が示される。ボンネットカプセル１０２は、制御弁として示される排気源
１２上で取りつけられたものとして示される。ボンネットカプセル１０２は、検
索マニホールド１０６が接続される出口１０４を含み、弁棒２０の周囲でボンネ
ットカプセル１０２を設置したり、または排気源の他の閉塞部分（obstructing
parts）を設置することができるように開口部１０８も含む。図２のボンネット カプセル１０２の構成は、弁本体１８と弁棒２０との間に位置する弁棒パッキン
グ１６から漏れるガスを集めるように設計されている。開口部１０８は、関係の
ない粒子（ごみ）がボンネットカプセル１０２内に入るのを制限するために、弁
棒とボンネットカプセル壁との間にわずかな隙間を有するように設計されている
。調節板（バッフル）１１０は、ボンネットカプセル１０２内の無関係の粒子が
検索マニホールド１０６へ入るのを制限するためにボンネットカプセル１０２内
部に位置決めされている。
【００２４】 ボンネットカプセル１０２は、間隙１１２がボンネットカプセル１０２と排気
源１２との間にあるように排気源上に取り付けられている。これは低インピーダ
ンスの空圧制限を生じさせ、これにより、空気は間隙１１２を通ってボンネット
カプセル１０２を通り、検索マニホールド１０６内に流れる。この空気の流れは
、排気源１２から排出された漏排気を検索マニホールド１０６内に、そして検出
室内に運ぶ。このように連続的に空気が流れるので、排気源１２からの漏排気が
ボンネットカプセル１０２内に蓄積するのは防がれる。このような蓄積によって
、漏排気の蓄積の影響によるセンサの誤った読取りが生じる。
源１２との間にあるように排気源上に取り付けられている。これは低インピーダ
ンスの空圧制限を生じさせ、これにより、空気は間隙１１２を通ってボンネット
カプセル１０２を通り、検索マニホールド１０６内に流れる。この空気の流れは
、排気源１２から排出された漏排気を検索マニホールド１０６内に、そして検出
室内に運ぶ。このように連続的に空気が流れるので、排気源１２からの漏排気が
ボンネットカプセル１０２内に蓄積するのは防がれる。このような蓄積によって
、漏排気の蓄積の影響によるセンサの誤った読取りが生じる。
【００２５】 ボンネットカプセルは、ボンネットカプセル１０２が閉塞部材（obstructing
member）の周囲に取りつけられなければならない位置に容易に設置するために２
つ以上で構成されてよい。このように、図３に示されるようにボンネットカプセ
ル１０２は、垂直方向に２個の半分に分割されたエンクロージャーを含み、弁棒
の上に取り付けられた弁アクチュエータ（図示せず）を取り外すことなく弁棒２
０の周囲で設置されてよい。ボンネットカプセル１０２は好ましくは、Ｓ３１６
００ステンレス鋼または他の好適な耐腐食性物質で構成されてよい。
member）の周囲に取りつけられなければならない位置に容易に設置するために２
つ以上で構成されてよい。このように、図３に示されるようにボンネットカプセ
ル１０２は、垂直方向に２個の半分に分割されたエンクロージャーを含み、弁棒
の上に取り付けられた弁アクチュエータ（図示せず）を取り外すことなく弁棒２
０の周囲で設置されてよい。ボンネットカプセル１０２は好ましくは、Ｓ３１６
００ステンレス鋼または他の好適な耐腐食性物質で構成されてよい。
【００２６】 図４は、図２のサンプル検索システム１００のイジェクタ１４０の詳細を示す
断面図である。イジェクタ１４０はセンサ室１１４と一体化していても、別個の
ユニットとして構成されていてもよい。圧縮空気源３０は圧縮空気３２をマイク
ロレギュレータ１４４に与え、これは、調整された圧縮空気３４をイジェクタ１
４０に与える。圧縮空気は、ボンネットカプセル１０２から、センサ室１１４を
通って、イジェクタ１４０内へサンプルストリーム１４を引き寄せるために動力
を与える。加圧ガスまたは液体の他の源も用いてよいが、圧縮空気源３０は、空
圧制御弁を変調するためにまたは空圧器械(器具)を動作させるためにプロセスプ
ラントで典型的には用いられる器械(器具)空気供給源であってよい。マイクロレ
ギュレータ１４４は、工業のアプリケーションで一般に用いられるタイプの小型
の圧力レギュレータである。マイクロレギュレータ１４４は、圧縮空気の圧力を
低減して調整し、サンプルストリーム１４の流れを制御し、圧縮空気３２の消費
を最小化する。
断面図である。イジェクタ１４０はセンサ室１１４と一体化していても、別個の
ユニットとして構成されていてもよい。圧縮空気源３０は圧縮空気３２をマイク
ロレギュレータ１４４に与え、これは、調整された圧縮空気３４をイジェクタ１
４０に与える。圧縮空気は、ボンネットカプセル１０２から、センサ室１１４を
通って、イジェクタ１４０内へサンプルストリーム１４を引き寄せるために動力
を与える。加圧ガスまたは液体の他の源も用いてよいが、圧縮空気源３０は、空
圧制御弁を変調するためにまたは空圧器械(器具)を動作させるためにプロセスプ
ラントで典型的には用いられる器械(器具)空気供給源であってよい。マイクロレ
ギュレータ１４４は、工業のアプリケーションで一般に用いられるタイプの小型
の圧力レギュレータである。マイクロレギュレータ１４４は、圧縮空気の圧力を
低減して調整し、サンプルストリーム１４の流れを制御し、圧縮空気３２の消費
を最小化する。
【００２７】 一次室１４６はマイクロレギュレータ１４４から調整された圧縮空気３４を受
け取り、これを一次ノズル１４８内に排出する。一次ノズル１４８はその形状は
管状であり、オリフィス１５４は圧縮空気を２次ノズル１５２のスロート内に排
出する。２次室１５０はマニホールド１０６と２次ノズル１５２のスロートとに
接続されている。２次ノズル１５２はその形状は管状であり、一次ノズル１４８
よりも大きな断面積を有しており、オリフィス１５６は圧縮空気を大気に排出す
る。
け取り、これを一次ノズル１４８内に排出する。一次ノズル１４８はその形状は
管状であり、オリフィス１５４は圧縮空気を２次ノズル１５２のスロート内に排
出する。２次室１５０はマニホールド１０６と２次ノズル１５２のスロートとに
接続されている。２次ノズル１５２はその形状は管状であり、一次ノズル１４８
よりも大きな断面積を有しており、オリフィス１５６は圧縮空気を大気に排出す
る。
【００２８】 動作において、調整された圧縮空気３４は一次室１４６に入り、一次ノズル１
４８に流入する。調整された圧縮空気３４は、一次ノズル１４８の出口の締めつ
けられた領域に入るときに速度が増す。圧縮された空気の高速ストリームが２次
ノズル１５２内に排出され、２次室１５０から空気を運び、それにより、２次室
１５０内に降圧を生じさせる。この降圧により、サンプルストリーム１４の流れ
をボンネットカプセル１０２から、検索マニホールド１０６を通って２次室１５
０内に誘導する。サンプルストリーム１４は、排気源１２からの漏排気をサンプ
ル検索システムを通って運び、ガスセンサアレイ２００および熱動力センサアレ
イ２８０を排気にあてる。調整された圧縮空気３４およびサンプルストリーム１
４は、２次ノズル１５２内で混合され、混合気３６は大気に排出される。
４８に流入する。調整された圧縮空気３４は、一次ノズル１４８の出口の締めつ
けられた領域に入るときに速度が増す。圧縮された空気の高速ストリームが２次
ノズル１５２内に排出され、２次室１５０から空気を運び、それにより、２次室
１５０内に降圧を生じさせる。この降圧により、サンプルストリーム１４の流れ
をボンネットカプセル１０２から、検索マニホールド１０６を通って２次室１５
０内に誘導する。サンプルストリーム１４は、排気源１２からの漏排気をサンプ
ル検索システムを通って運び、ガスセンサアレイ２００および熱動力センサアレ
イ２８０を排気にあてる。調整された圧縮空気３４およびサンプルストリーム１
４は、２次ノズル１５２内で混合され、混合気３６は大気に排出される。
【００２９】 イジェクタ１４０は、ステンレス鋼または他の耐腐食性物質で構成されてよい
。１次オリフィス１５４および２次オリフィス１５６は好ましくはサファイヤで
構成される。
。１次オリフィス１５４および２次オリフィス１５６は好ましくはサファイヤで
構成される。
【００３０】 イジェクタ１４０は、サンプル検出システム１００を通る公知の流量のサンプ
ルストリーム１４を生成するように設計される。サンプルストリーム１４の流量
は、１次オリフィス１５４、２次オリフィス１５６、およびセンサ室入り口オリ
フィス１１８の径、および調整された圧縮空気３４の圧力により決定される。サ
ンプル検索システム１００は、１時間当たり約０．４２５方形（square）立方フ
ィートのサンプルストリーム流量で十分に動作する。この流量は、０．０１１イ
ンチの１次オリフィス径と、０．０２４インチの２次オリフィス径と、０．０１
３インチのセンサ室入り口オリフィス径と方形インチゲージ当たり約３．０ポン
ドの調整された圧縮空気圧とで達成されてよい。しかしながら、イジェクタ１４
０の様々な寸法および動作状況は、様々な種類の排気源のからの排気を効果的に
集めることが要求されてよい。
ルストリーム１４を生成するように設計される。サンプルストリーム１４の流量
は、１次オリフィス１５４、２次オリフィス１５６、およびセンサ室入り口オリ
フィス１１８の径、および調整された圧縮空気３４の圧力により決定される。サ
ンプル検索システム１００は、１時間当たり約０．４２５方形（square）立方フ
ィートのサンプルストリーム流量で十分に動作する。この流量は、０．０１１イ
ンチの１次オリフィス径と、０．０２４インチの２次オリフィス径と、０．０１
３インチのセンサ室入り口オリフィス径と方形インチゲージ当たり約３．０ポン
ドの調整された圧縮空気圧とで達成されてよい。しかしながら、イジェクタ１４
０の様々な寸法および動作状況は、様々な種類の排気源のからの排気を効果的に
集めることが要求されてよい。
【００３１】 イジェクタ１４０内への調整された圧縮空気３４の圧力を制御することにより
、２次室１５０内の降圧は制御され、したがって、検索マニホールド１０６およ
びセンサ室１１４を通るサンプルストリーム１４の速度は、制御される。さらに
、サンプルストリーム１４の流量は、イジェクタ１４０、検索マニホールド１０
６、およびセンサ室１１４の形状、および１次室１４６への入り口での圧縮空気
の圧力を与えられれば計算可能である。
、２次室１５０内の降圧は制御され、したがって、検索マニホールド１０６およ
びセンサ室１１４を通るサンプルストリーム１４の速度は、制御される。さらに
、サンプルストリーム１４の流量は、イジェクタ１４０、検索マニホールド１０
６、およびセンサ室１１４の形状、および１次室１４６への入り口での圧縮空気
の圧力を与えられれば計算可能である。
【００３２】 このように、サンプル検索システム１００の設計によって、流量センサが検索
マニホールド１０６を通るサンプルストリームの流量を測定する必要はなくなる
。ここで述べられたシステムにより、排気源の近くに位置するポンプまたはファ
ンがサンプルストリームを集める必要もなくなる。その結果、単純な低コストの
設計が得られる。サンプル検索システムは、ＥＰＡサンプル収集要件に従うよう
に設計可能である。
マニホールド１０６を通るサンプルストリームの流量を測定する必要はなくなる
。ここで述べられたシステムにより、排気源の近くに位置するポンプまたはファ
ンがサンプルストリームを集める必要もなくなる。その結果、単純な低コストの
設計が得られる。サンプル検索システムは、ＥＰＡサンプル収集要件に従うよう
に設計可能である。
【００３３】 本発明の精神および範囲から逸脱することなく、多くの修正および変形をここ
で説明され示された技術および構造に加えてよい。したがって、ここで説明され
た装置および方法はあうまで例示的であり、本発明の範囲を制限するものではな
い。
で説明され示された技術および構造に加えてよい。したがって、ここで説明され
た装置および方法はあうまで例示的であり、本発明の範囲を制限するものではな
い。
【図１】 漏排気検出システム内に統合されるサンプル検索システムの主要コンポーネン
トを示す本発明の具体例のブロック図である。
トを示す本発明の具体例のブロック図である。
【図２】 本発明にしたがったサンプル検索システムの図である。
【図３】 図２のサンプル検索システムのボンネットカプセルの詳細を示す断面図である
。
。
【図４】 図２のサンプル検索システムのイジェクタの詳細を示す断面図である。
１２ 排気源 １０２ カプセル １４０ イジェクタ １００ サンプル検索システム ２００、２８０ センサ ４００ 通信および制御システム
【手続補正書】特許協力条約第３４条補正の翻訳文提出書
【提出日】平成１１年１０月１３日（１９９９．１０．１３）
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＣＹ， ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，Ｉ Ｔ，ＬＵ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＯＡ(ＢＦ，ＢＪ ，ＣＦ，ＣＧ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＧＷ，ＭＬ， ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ，ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＧＨ，ＧＭ，Ｋ Ｅ，ＬＳ，ＭＷ，ＳＤ，ＳＺ，ＵＧ，ＺＷ)，ＥＡ(ＡＭ ，ＡＺ，ＢＹ，ＫＧ，ＫＺ，ＭＤ，ＲＵ，ＴＪ，ＴＭ) ，ＡＬ，ＡＭ，ＡＴ，ＡＵ，ＡＺ，ＢＡ，ＢＢ，ＢＧ， ＢＲ，ＢＹ，ＣＡ，ＣＨ，ＣＮ，ＣＵ，ＣＺ，ＤＥ，Ｄ Ｋ，ＥＥ，ＥＳ，ＦＩ，ＧＢ，ＧＤ，ＧＥ，ＧＨ，ＧＭ ，ＨＲ，ＨＵ，ＩＤ，ＩＬ，ＩＳ，ＪＰ，ＫＥ，ＫＧ， ＫＰ，ＫＲ，ＫＺ，ＬＣ，ＬＫ，ＬＲ，ＬＳ，ＬＴ，Ｌ Ｕ，ＬＶ，ＭＤ，ＭＧ，ＭＫ，ＭＮ，ＭＷ，ＭＸ，ＮＯ ，ＮＺ，ＰＬ，ＰＴ，ＲＯ，ＲＵ，ＳＤ，ＳＥ，ＳＧ， ＳＩ，ＳＫ，ＳＬ，ＴＪ，ＴＭ，ＴＲ，ＴＴ，ＵＡ，Ｕ Ｇ，ＵＺ，ＶＮ，ＹＵ，ＺＷ
Claims (26)
- 【請求項１】 排気源から排気を集める装置であって、 a)前記排気源の少なくとも一部分を囲むように適合されるカプセルと、 b)前記カプセルと流体で連通するとともに加圧流体の源に接続可能であるイジ
ェクタとを備え、これにより前記加圧流体は前記イジェクタを通って流れ、それ
により降圧を生じさせて前記排気を前記カプセルから前記イジェクタ内に引き寄
せる装置。 - 【請求項２】 前記カプセルは、前記排気源に対し低インピーダンスの制限
を生じさせるように適合される請求項１に記載の装置。 - 【請求項３】 前記カプセルは、前記排気源の少なくとも一部分を取り囲む
ように適合される複数片を備える請求項１に記載の装置。 - 【請求項４】 前記イジェクタは１次ノズルと２次ノズルとを備え、前記１
次ノズルは前記加圧流体を受け取り、前記加圧流体を前記２次ノズル内に排出す
るように適合される請求項１に記載の装置。 - 【請求項５】 前記１次ノズルが前記加圧流体を受け取る前に、前記加圧流
体の圧力を調整するマイクロレギュレータをさらに備える請求項４に記載の装置
。 - 【請求項６】 前記カプセルと前記イジェクタとの間に配置されたセンサ室
をさらに備え、前記排気は前記カプセルから前記センサ室を通って前記イジェク
タ内に引き寄せられる請求項５に記載の装置。 - 【請求項７】 前記センサ室は前記イジェクタと一体化される請求項６に記
載の装置。 - 【請求項８】 前記カプセルと前記センサ室との間に配置されたマニホール
ドをさらに備える請求項６に記載の装置。 - 【請求項９】 前記センサ室と流体で連通する、較正流体の源をさらに備え
る請求項６に記載の装置。 - 【請求項１０】 前記排気源は、外表面を有する弁棒パッキングを有する弁
を備え、前記カプセルは前記弁の前記弁棒パッキングの前記外表面を円周方向に
囲む請求項６に記載の装置。 - 【請求項１１】 前記加圧流体は圧縮空気を含む請求項１に記載の装置。
- 【請求項１２】 前記加圧流体は圧縮空気を含む請求項６に記載の装置。
- 【請求項１３】 排気源からの漏排気をセンサに送るための装置であって、 a)前記排気源から前記漏排気を集める囲み手段と、 b)前記囲み手段と流体で連通する、前記センサを収容する収容手段と、 c) 前記収容手段と流体で連通し、降圧を生じさせて前記排気源から前記収容 手段を通って前記漏排気を引き寄せそれにより前記センサを前記漏排気にあてる
ようにする輸送手段とを備える装置。 - 【請求項１４】 前記輸送手段は１次ノズルと２次ノズルとを備える請求項
１３に記載の装置。 - 【請求項１５】 前記輸送手段と流体で連通して、前記降圧を調整する調整
手段をさらに備える請求項１４に記載の装置。 - 【請求項１６】 前記収容手段と流体で連通する、較正流体を与える手段を
さらに備える請求項１３に記載の装置。 - 【請求項１７】 排気源からの排気に関するデータを集めるためのシステム
であって、 ａ）前記排気源の少なくとも一部分を囲むように適合されるカプセルと、 ｂ）前記カプセルと流体で連通し、加圧流体の源に接続可能であるイジェクタ
とを備え、これにより前記加圧流体は前記イジェクタを通って流れそれにより降
圧を生じさせて前記カプセルから前記イジェクタ内に前記排気を引き寄せ、さら
に、 ｃ）前記カプセルと前記イジェクタとの間に配置され、前記イジェクタにより
前記排気源から引き寄せられた前期排気の濃度を示すデータを生成する少なくと
もひとつのセンサと、 ｄ）前記データを記憶する手段とを備えるシステム。 - 【請求項１８】 前記データはプロセス制御システムに伝えられる請求項１
７に記載のシステム。 - 【請求項１９】 前記プロセス制御システムは、前記排気を減じるために、
前記排気データにしたがってプラント状況を制御する請求項１８に記載のシステ
ム。 - 【請求項２０】 排気源からの排気を減じるためのシステムであって、 ａ）前記排気源の少なくとも一部分を囲むカプセルと流体で連通するとともに
加圧流体の源に接続可能であり、降圧を生じさせて前記カプセルからイジェクタ
に前記排気を引き寄せるためのイジェクタと、前記排気を検出するセンサとを有
するサンプル検索システムと、 ｂ)前記センサに接続され、前記排気源から引き寄せられた前期排気の濃度を 示すデータ生成する通信および制御システムとを備えるシステム。 - 【請求項２１】 前記通信および制御システムに遠隔的に接続され、前記デ
ータを受信して、前記排気を減じるために前記排気源を制御するプロセス制御シ
ステムをさらに備える請求項２０に記載のシステム。 - 【請求項２２】 前記通信および制御システムは、前記排気源からの前記排
気の濃度を示すデータを記憶する手段を備える請求項２１に記載のシステム。 - 【請求項２３】 前記通信および制御システムは、前記データを用いて前記
排気源を制御して排気を減じるかなくす手段を備える請求項２０に記載のシステ
ム。 - 【請求項２４】 排気源から排気を集める方法であって、 ａ）前記排気源の少なくとも一部分をエンクロージャで囲むステップと、 ｂ）前記エンクロージャと流体で連通するイジェクタを設けるステップと、 ｃ）加圧流体を前記イジェクタに供給してそれによりイジェクタ内に降圧を生
じさせて前記排気を前記排気源から前記イジェクタ内に引き寄せるステップとを
含む方法。 - 【請求項２５】 前記加圧流体がイジェクタに供給される前に前記前記加圧
流体の圧力を調整するステップをさらに含む請求項２４に記載の方法。 - 【請求項２６】 前記エンクロージャは、前記排気源に対して低インピーダ
ンスの制限を生じさせる請求項２５に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US08/968,545 | 1997-11-12 | ||
| US08/968,545 US6029506A (en) | 1997-11-12 | 1997-11-12 | Sample retrieval system |
| PCT/US1998/022891 WO1999024809A1 (en) | 1997-11-12 | 1998-10-28 | Sample retrieval system |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001522994A true JP2001522994A (ja) | 2001-11-20 |
| JP2001522994A5 JP2001522994A5 (ja) | 2009-04-09 |
| JP4293728B2 JP4293728B2 (ja) | 2009-07-08 |
Family
ID=25514404
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000519764A Expired - Fee Related JP4293728B2 (ja) | 1997-11-12 | 1998-10-28 | サンプル回収システム |
Country Status (10)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6029506A (ja) |
| EP (1) | EP1031020B1 (ja) |
| JP (1) | JP4293728B2 (ja) |
| CN (1) | CN1200260C (ja) |
| AR (1) | AR016419A1 (ja) |
| AU (1) | AU1284899A (ja) |
| BR (1) | BR9814144B1 (ja) |
| CA (1) | CA2310013C (ja) |
| DE (1) | DE69840366D1 (ja) |
| WO (1) | WO1999024809A1 (ja) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| MY123949A (en) * | 1997-11-12 | 2006-06-30 | Fisher Controls Int | Fugitive emission sensing system |
| US6192750B1 (en) * | 1998-12-14 | 2001-02-27 | Agrichem, Inc. | Process sensor assembly and sensor mount |
| US6796324B2 (en) * | 2001-11-28 | 2004-09-28 | Fisher Controls International, Llc | Fugitive emission collection device |
| US6879936B2 (en) * | 2002-01-09 | 2005-04-12 | Fisher Controls International Llc | Diagnostic apparatus and methods for a chemical detection system |
| US20050205824A1 (en) * | 2004-03-18 | 2005-09-22 | Osborne Charles A | Segmented ball control valve with universal end connections |
| CN101113943B (zh) * | 2006-07-28 | 2010-08-04 | 中国科学院沈阳应用生态研究所 | 树木挥发性有机化学物采集装置 |
| US8066023B2 (en) * | 2007-04-10 | 2011-11-29 | Black & Veatch Corporation | System and method for collecting and increasing the pressure of seal leak gas |
| CN101957277A (zh) * | 2010-09-29 | 2011-01-26 | 深圳市建筑科学研究院有限公司 | 气体收集罩和气体分析设备 |
| FR3081995B1 (fr) * | 2018-06-04 | 2021-01-08 | Cyno Dev | Appareil portatif de prelevement d'air, ainsi qu'installation de prelevement d'air comportant un tel appareil |
| US11835183B1 (en) * | 2023-02-01 | 2023-12-05 | Flowserve Management Company | Booster-ejector system for capturing and recycling leakage fluids |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4138891A (en) * | 1977-04-19 | 1979-02-13 | Graves Phillip H | Sampling of toxic gases from oil and/or gas wells |
| JPS58146828A (ja) * | 1982-02-26 | 1983-09-01 | Hitachi Ltd | 放射能測定方法 |
| JPS641720U (ja) * | 1987-06-19 | 1989-01-06 | ||
| JPH03117800A (ja) * | 1989-09-29 | 1991-05-20 | Sharp Corp | 危険ガス容器保管庫 |
| JPH05196535A (ja) * | 1992-01-18 | 1993-08-06 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 飛散防止カバー付き油漏れセンサー |
| US5417105A (en) * | 1994-02-18 | 1995-05-23 | Hughes Aircraft Company | Flow accelerator for leak detector probe |
Family Cites Families (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL177250C (nl) * | 1973-11-07 | 1985-08-16 | Nederlandse Gasunie Nv | Werkwijze voor het samenstellen van monsters van een door een gastransportleiding stromend gas. |
| US4138381A (en) * | 1975-04-14 | 1979-02-06 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Polymeric thickeners, processes for their preparation and uses thereof |
| US4226113A (en) * | 1979-04-11 | 1980-10-07 | Electric Power Research Institute, Inc. | Leak detecting arrangement especially suitable for a steam condenser and method |
| US4441356A (en) * | 1982-03-29 | 1984-04-10 | The Babcock & Wilcox Company | Temperature actuated air flow control and gas sampler |
| US4674343A (en) * | 1984-09-07 | 1987-06-23 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Liquid sampling system |
| DE3818372A1 (de) * | 1988-05-30 | 1989-12-14 | Tibor Bernath | Vorrichtung zur entnahme einer gasprobe |
| GB8828277D0 (en) * | 1988-12-03 | 1989-01-05 | Glasgow College Enterprises Lt | Dust monitors & dust monitoring |
| US4901751A (en) * | 1989-06-15 | 1990-02-20 | Systems Chemistry, Inc. | Fluid control valve and system with leak detection and containment |
| US4972867A (en) * | 1989-11-03 | 1990-11-27 | Ruesch J O | Valve stem seal leak protection and detection apparatus |
| US5297421A (en) * | 1991-03-05 | 1994-03-29 | Mitsui Toatsu Chemicals, Inc. | Leak detection system for gas, steam or the like that involves multi-point sampling |
| US5297432A (en) * | 1991-11-12 | 1994-03-29 | United Sciences, Inc. | Vacuum dilution extraction gas sampling method |
| JPH06213783A (ja) * | 1992-11-02 | 1994-08-05 | Siemens Ag | ガス量調整システムの運転方法 |
| US5457720A (en) * | 1994-04-15 | 1995-10-10 | General Electric Company | System for krypton-xenon concentration, separation and measurement for rapid detection of defective nuclear fuel bundles |
| IL115830A0 (en) * | 1994-11-03 | 1996-01-19 | Thermedics Detection Inc | Apparatus for collecting vapor or particles |
-
1997
- 1997-11-12 US US08/968,545 patent/US6029506A/en not_active Expired - Lifetime
-
1998
- 1998-10-28 BR BRPI9814144-9A patent/BR9814144B1/pt not_active IP Right Cessation
- 1998-10-28 EP EP98956291A patent/EP1031020B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-10-28 JP JP2000519764A patent/JP4293728B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1998-10-28 DE DE69840366T patent/DE69840366D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-10-28 CA CA002310013A patent/CA2310013C/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-10-28 WO PCT/US1998/022891 patent/WO1999024809A1/en active Application Filing
- 1998-10-28 CN CNB98811075XA patent/CN1200260C/zh not_active Expired - Lifetime
- 1998-10-28 AU AU12848/99A patent/AU1284899A/en not_active Abandoned
- 1998-11-11 AR ARP980105706A patent/AR016419A1/es active IP Right Grant
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4138891A (en) * | 1977-04-19 | 1979-02-13 | Graves Phillip H | Sampling of toxic gases from oil and/or gas wells |
| JPS58146828A (ja) * | 1982-02-26 | 1983-09-01 | Hitachi Ltd | 放射能測定方法 |
| JPS641720U (ja) * | 1987-06-19 | 1989-01-06 | ||
| JPH03117800A (ja) * | 1989-09-29 | 1991-05-20 | Sharp Corp | 危険ガス容器保管庫 |
| JPH05196535A (ja) * | 1992-01-18 | 1993-08-06 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 飛散防止カバー付き油漏れセンサー |
| US5417105A (en) * | 1994-02-18 | 1995-05-23 | Hughes Aircraft Company | Flow accelerator for leak detector probe |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO1999024809A1 (en) | 1999-05-20 |
| AR016419A1 (es) | 2001-07-04 |
| CN1278912A (zh) | 2001-01-03 |
| BR9814144A (pt) | 2000-10-03 |
| US6029506A (en) | 2000-02-29 |
| EP1031020B1 (en) | 2008-12-17 |
| CA2310013A1 (en) | 1999-05-20 |
| JP4293728B2 (ja) | 2009-07-08 |
| CN1200260C (zh) | 2005-05-04 |
| CA2310013C (en) | 2009-06-02 |
| DE69840366D1 (de) | 2009-01-29 |
| BR9814144B1 (pt) | 2010-08-24 |
| AU1284899A (en) | 1999-05-31 |
| EP1031020A1 (en) | 2000-08-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6345234B1 (en) | Fugitive emission sensing system | |
| US5507192A (en) | Automated gas measurement system | |
| US5563335A (en) | High flow rate sampler for measuring emissions at process components | |
| JP4293728B2 (ja) | サンプル回収システム | |
| CN112414630A (zh) | 氦罩法长距离管道漏点排查定位装置及排查方法 | |
| JP2003254878A (ja) | 排気ガス測定システム | |
| US6516676B1 (en) | Airborne emissions monitoring probe | |
| AU753085B3 (en) | Assembly and method for mixing gases | |
| EP1249695B1 (en) | Active pulsation cancellation device for diesel particulate sampling systems | |
| US11604179B2 (en) | Gas sensor testing system and method | |
| WO2002071030A1 (en) | Particulate and gaseous emission testing method and apparatus | |
| US11609144B2 (en) | Detection of leakage in an aspirating fire detection system | |
| EP1461597B1 (en) | Fugitive emission collection device | |
| KR101227807B1 (ko) | 누설 위치 감지 장치 및 누설 위치 감지 방법 | |
| CN210198650U (zh) | 包袋检测设备和泄漏检测系统 | |
| MXPA00004605A (en) | Sample retrieval system | |
| JP4789666B2 (ja) | ガスパイプライン監視設備 | |
| CN219675757U (zh) | 一种烟气处理设备的检测装置 | |
| US20240133344A1 (en) | Gas turbine fire detection system including cooling system upstream of aspirating smoke detector, and related method | |
| CN213985567U (zh) | “氦罩法”长距离管道漏点排查定位装置 | |
| US20240175776A1 (en) | Detecting fugitive emissions with a valve positioner | |
| JPS63302386A (ja) | 放射線計測装置 | |
| Dehne et al. | An automatic isokinetic sampler for particulate emissions from aircraft gas turbine engines. | |
| CZ8042U1 (cs) | Odběrová kompaktní sonda | |
| JPH02278151A (ja) | ガス純度測定装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20051024 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051024 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070828 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20071126 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20071205 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080227 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080408 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20080707 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20080714 |
|
| A524 | Written submission of copy of amendment under section 19 (pct) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A524 Effective date: 20081002 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20081111 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20090210 |
|
| A524 | Written submission of copy of amendment under section 19 (pct) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A524 Effective date: 20090218 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20090218 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090317 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090407 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120417 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120417 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130417 Year of fee payment: 4 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |